当前位置: 仪器信息网 > 行业主题 > >

红外制样薄膜法

仪器信息网红外制样薄膜法专题为您提供2024年最新红外制样薄膜法价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括红外制样薄膜法参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的红外制样薄膜法您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合红外制样薄膜法相关的耗材配件、试剂标物,还有红外制样薄膜法相关的最新资讯、资料,以及红外制样薄膜法相关的解决方案。

红外制样薄膜法相关的耗材

  • 迷你薄膜制样套装
    迷你薄膜制样套装一款5分钟就能实现红外透射分析专用的聚合物薄膜制样机特点:液压机与加热压盘以及温控器一体化的设计体积小巧,方便存储,携带薄膜重现性好,使用快捷 无需化学品,成本低,6种不同的垫圈这种设计允许加热板先进行预加热,温度升高至样品所需的熔点,并保持这个温度。样品在被引入到预加热板之前,薄膜制样机就可以独立的为几克的样品准备好相应的载荷和合适的定型圈。当薄膜制样机达到预设温度并稳定后,通常使用0.5T负载转动丝杆来热压薄膜。一旦从热压机上移走,低温块体薄膜制备制样机可以在冷却板上快速冷却到室温,压制成型的薄膜可以移除。薄膜样品可被镶嵌在一个3×2英寸的自粘帖卡片(Specacard) 上以用于红外透射光谱分析使用。与传统方法相比,这个过程可缩短薄膜制备的周期,实际上,制作一个薄膜样品的周期可小于5分钟。如何制备薄膜样品放置好隔热板, 选择好定型圈和较小的铝膜,放到下方组件上。1) 将样品放到铝膜的中央位置,然后在上面覆盖上较大的铝膜和上方组件2) 将准备好的以上组件整体放置到预加热板平面间,再施加1T位的载荷。3) 一旦样品完成压缩从压片机取出,分开组件,小心的将铝膜从样品上剥离。4) 制成的薄膜放入Specacard,然后一同放置到光谱仪器中进行分析。 技术参数: 快速,可重复的制备薄膜样品 样品熔点范围从室温到260℃ 标准薄膜厚度15,25,50, 100,250和500μm 直径15mm 压力范围0-2吨 制样包包括液压机和集成的加热板 周期5分钟 加热压盘直径25mm 加热压盘最大功率:35W 温度控制器:双数字显示,精度1℃ 加热压盘可调距离0-20mm 独立冷却盘 重量5.7kg 订购信息 迷你薄膜制样套装 GS03970 迷你薄膜制样套装 备件及耗材 GS03971 迷你薄膜制样组件 (包括压板组件,隔热板, 下压板组件,定型圈组件) GS03972 定型圈(15, 25, 50, 100, 250 和500 μm GS03973 铝膜(200 对) GS03974 迷你薄膜制样机冷却板 GS03975 迷你薄膜制样机压板(包括上压板,隔热板,下压板) GS03800 Specacards (100包) 直径10mm的圆形通光孔 GS15628 不锈钢镊子
  • Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统
    Atlas™ 标准薄膜制样机与高温薄膜制样系统Specac的等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定,根据热压制膜原理,所得到的样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供三种等厚度薄膜制样工具,不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还能将粒状,块状或板材,如药包材料,包装材料,特殊包裹材料等不规则的聚合物变成可以检测的薄膜。 GS15800高温薄膜制样系统技术参数: 最高操作温度高达400℃ 满足高端科研的要求 一周期40分钟 通过CE安全认证 集成的供热制冷设备? 2T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 压力范围0-2吨 一体式加热盘系统 双数字显示,精度1度 安全切换装置:70℃ 切断加热希同/55℃ 重启加热系统 一体式冷却盘高温薄膜制样机P/N GS15800有一组加热板是嵌入到薄膜制样机中的,所以当P/N GS15800装载在压 片机上时, 是不需要额外的Atlas 加热压盘P/NGS15515的。订购信息GS15640标准薄膜制样机特点:独立加热压盘,满足不同直径薄膜需要独立冷却盘,可缩短制膜周期重现性哈,制备过程简单 制膜过程无需化学品,成本低6种不同厚度的垫圈,适合各种高分子材料技术参数: 操作温度高达300℃ 一周期30分钟 4T的载荷极限 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250, 0.500mm 薄膜直径29mm 双数字显示,精度℃ 可配套加热板P/N GS15515使用 冷却系统停止时切断加热系统 冷却水流速大于0.2/min时重启加热系统 独立冷却盒订购信息GS15640 Atlas™ 标准薄膜制样机包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250和0.500 mm 垫圈铝膜 直径40mm(200 片)Specacards 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架(20张)不锈钢镊子GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统包括: 0.015, 0.025, 0.050, 0.100, 0.250and 0.500 mm 垫圈铝膜直径40mm(200 片)制作铝膜样品杯的工具Specacards 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架(20张)不锈钢镊子高稳定性及高精度的温度控制器(400℃) 薄膜制样套装GS15631 Atlas™ 标准型薄膜制样套装1包括: 薄膜制样系统(GS15640) 加热板和加热压盘以及数字全自动温控器(300°C) (GS15515)GS15633 Atlas™ 标准型薄膜制样套装2包括: 薄膜制样系统(GS15640)加热板和加热压盘以及数字温控器(300oC) (GS15515)15T手动液压机(GS15011)(对于GS15800,GS15631和GS15633,请指定220V或110V电压和使用的国家。)GS15800 Atlas™ 高温薄膜制样系统套装 包括: 高温薄膜制样系统(GS15800) 15T手动液压机(GS15011)(请指定220V或110V电压和使用的国家。)备件及耗材GS03800 卡夹式,圆形通光孔直径10mm,样品架 (100张/盒)GS03805 用于固定易伸缩薄膜样品的尼龙卡簧(20)GS03810 10mm x 25mm 矩形通光孔Specacards (100)GS03820 磁性薄膜样品架 圆形通光孔直径25mmGS15627 直径为40mm的铝膜(200)GS15641 冷却盒 用于标准薄膜制样系统 替换GS15642 标准薄膜制样压盘套装GS15629 标准薄膜制样机可替换的垫圈组件GS15805 高温薄膜制样机可替换的垫圈组件
  • 红外 (IR) 薄膜分光镜
    &bull 在 3-5µ m 范围平均分光比为 45/55(R/T)&bull 第二表面反射不产生鬼像&bull 消除光束位移&bull 另有可见光-近红外的薄膜分光镜可供选择通用规格涂层:Dielectric涂层规格:45/55 @ 3000 - 5000nm构造 :PellicleHousing:Black Anodized Aluminum折射率 nd:1.5反射/透射比 (R/T): 45/55基底:Nitrocellulose表面质量:40-20波长范围 (nm):3000 - 5000厚度 (μm):2 +0.3/-0.2 产品介绍红外(IR)薄膜分光镜的特点是将薄硝化纤维分光膜安装在铝制框架内,设计为3-5微米范围内45R/55T分光比。薄薄的硝化纤维膜消除了第二次表面反射和光束位移,同时最大限度地减少了光路长度的变化。 铝制框架的底部有安装孔,便于安装和集成到OEM系统中。红外线(IR)薄膜分光镜是中波红外(MWIR)应用的理想选择,包括 MWIR 成像、红外光谱、火焰探测以及与红外探测器的通用。请注意: 这些分光镜的硝化纤维膜非常薄且易碎。不应用手接触薄膜,只能用空气进行清洁。因为压缩空气的作用力可能会损坏薄膜,因此我们建议使用 气吹 进行清洁。订购信息CA (mm)Dia. (mm)反射/透射比 (R/T)基底波长范围 (nm)产品编码12.7 19.05 45/55 Nitrocellulose 3000 - 5000 19-28025.4 34.90 45/55 Nitrocellulose 3000 - 500019-28150.8 63.50 45/55 Nitrocellulose 3000 - 500019-28276.2 88.90 45/55 Nitrocellulose 3000 - 500019-283101.6 114.30 45/55 Nitrocellulose 3000 - 5000 19-284152.4 165.10 45/55 Nitrocellulose 3000 - 500019-285技术数据
  • 等厚度薄膜制样工具
    specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理,所得到样品是纯样品,谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求,提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜,还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频:http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频
  • 氧化硅薄膜窗-X射线用
    有需求请联系上海昭沅仪器设备有限公司! 021-35359028/29 氧化硅薄膜窗氧化硅薄膜窗RISUN推出新型二氧化硅薄膜窗系列产品。与氮化硅相比,氧化硅更易遭受化学侵蚀,且坚固性更差。但在X-射线显微镜中,由于没有N原子存在而倍受青睐。 氧化硅与氮化硅薄膜窗比较:相比氮化硅薄膜,氧化硅薄膜更适合用于含氮样本。在EDS研究中,如基片薄膜含氮,则会与样本造成混淆。 RISUN氧化硅薄膜窗特点许多研究纳米微粒,特别是含氮纳米微粒的人员发现此种薄膜窗格在他们实验中不可缺少。气凝胶和干凝胶的基本组成微粒尺寸极小,此项研究人员也同样会发现SPI氧化硅薄膜窗格的价值。 SEM应用中,薄膜背景不呈现任何结构和特点。 X射线显微镜中,装载多个分析样的唯一方法。 无氮 RISUN氧化硅薄膜窗规格 薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸型号50nm1.5X1.5mm5.0X5.0mmRISUN100nm1.5X1.5mm5.0X5.0mm200nm1.5X1.5mm5.0X5.0mm硅片厚度:200um、381um、525um; 定制系列RISUN也可以根据用户需求定制不同膜厚的氧化硅窗口。本产品为一次性产品,不建议用户重复使用;本产品不能进行超声清洗,适合化学清洗、辉光放电和等离子体清洗。 应用简介实际上,RISUN氧化硅薄膜应用范围非常广,但所有应用都有无氮要求(因样本中有氮存在):1. 惰性基片可用于高温环境下,通过TEM、SEM或AFM(某些情况下)对反应进行动态观察。2. 作为耐用(如“强力”)基片,首先在TEM下,然后在SEM下对同一区域进行“匹配”。3. 作为耐用匹配基片,对AFM和TEM图像进行比较。4. 聚焦离子束(FIB)样本的装载。5.用作Ti、V、Mo等滤光器基质;用于X-射线光学设备中,如分光器定制服务:本公司接受特殊规格的产品预订,价格从优。详情请咨询:admin@instsun.com
  • TEM/SEM用氧化硅薄膜窗
    透射电镜(TEM)用氧化硅薄膜窗格 氧化硅与氮化硅薄膜窗格比较: 相比氮化硅薄膜,氧化硅薄膜更适合用于含氮样本。在EDS研究中,如基片薄膜含氮,则会与样本造成混淆。 样本安置面:对多数用户来说,样本应安置在薄膜窗格的&ldquo 覆膜面&rdquo 而非&ldquo 蚀坑面&rdquo 。但我们也知道在一些特殊情况下,蚀坑面也可安置样本。除对样本进行原子力显微镜(AFM)观测外,蚀坑面本质上并非不可用于放置样本。实际上,没有一个显微镜的悬臂可以伸至蚀坑内&ldquo 看清&rdquo 薄膜表面。 产品规格: 氧化硅薄膜窗特点: 清洗:采用等离子清洗,无有机物残留,改善成像质量; 均匀性:减少了不同区域的不均匀性; 稳定性: 耐高温,1000℃; 良好的化学稳定性:图像分辨率和机械强度达到理想的平衡; 化学计量比的SiO2:可用于氮气环境下的EDX分析; 氧化硅薄膜窗规格 窗口类型薄膜厚度窗口尺寸框架尺寸框架厚度20nm2x1阵列,100X1500μmΦ3mm200μm40nm2x1阵列,100X1500μmΦ3mm200μm20nm3x3阵列,窗口100X100μmΦ3mm200μm40nm3x3阵列,窗口100X100μmΦ3mm200μm8nm窗口0.5x0.5mm,氮化硅薄膜200nm;24个网格,网格大小70x70μmΦ3mm200μm18nm窗口0.5x0.5mm,氮化硅薄膜200nm;24个网格,网格大小60x60μmΦ3mm200μm 40nm窗口0.5x0.5mm,氮化硅薄膜200nm;24个网格,网格大小50x50μmΦ3mm200μm 优点: SEM应用中,薄膜背景不呈现任何结构和特点。 x-射线显微镜中,装载多个分析样的唯一方法。 无氮 应用: 氧化硅薄膜应用范围非常广,甚至有时使不可能变为可能,但所有应用都有无氮要求(因样本中有氮存在): ● 惰性基片可用于高温环境下,通过TEM、SEM或AFM(某些情况下)对反应进行动态观察。 ● 作为耐用(如&ldquo 强力&rdquo )基片,首先在TEM下,然后在SEM下对同一区域进行&ldquo 匹配&rdquo 。 ● 作为耐用匹配基片,对AFM和TEM图像进行比较。 ● 聚焦离子束(FIB)样本的装载,我们推荐使用多孔薄膜,而非不间断薄膜。 氧化硅薄膜TEM网格操作使用: 如果正确操作,氧化硅薄膜将会拥有非常好的性能。相反,若用工具直接接触薄膜,则会即刻损坏薄膜。为防损坏,可用尖嘴镊子小心夹取,就像夹取其他TEM网格一样。 使用前清洁: 氧化硅薄膜窗格在使用前不需进行额外清洁。有时薄膜表面边角处会散落个别氧化物或氮化物碎片。由于单片网格需要从整个硅片中分离,并对外框进行打磨,因此这些微小碎片不可避免。尽管如此,我们相信这些碎片微粒不会对您的实验产生任何影响。 如果用户确实需要对这些碎片进行清理,我们建议用H2SO4 : H2O2 (1:1)溶液清洁有机物,用H2O:HCl: H2O2 (5:3:3)溶液清洁金属。 通常不能用超声波清洗器清洁薄膜,因超声波可能使其粉碎性破裂。 详细请咨询:021-35359028/ admin@instsun.com
  • FEP 薄膜/金属箔特氟龙耐酸碱薄膜材质可定制
    FEP薄膜:也叫特氟龙薄膜,聚全氟乙丙烯薄膜;其特征主要有:1、耐高低温:-200~205℃ ,外观透明如保鲜膜,使用方便,环保;2、具有不粘性,拼水,拼油:水接触角θ=114о 电可靠性,高绝缘,不漏电;3、高透明度:透明度参考家用保鲜膜,对紫外线、可见光有很好的穿透性;4、耐强酸强碱,耐各种有机及无机化学溶剂,丙酮、醇类等各种腐蚀性溶剂;5、多作为封口膜,用于密封一些强腐蚀型瓶口;隔离实验室的一些腐蚀性溶剂;6、典型用途实例:中科院地化所常用来野外考察收集样品时,接收雨水用,通常会配套我公司同系列的FEP 透明管使用;品名宽度(mm)厚度mmFEP薄膜 200-2500.02-0.0150.03-0.040.05-0.150.15-0.2可按照客户要求生产250-280250-300300-35050060080010001200 FEP材质其他产品FEP取样瓶、容量瓶、洗瓶、滴瓶、消解瓶、消解管、离心管、薄膜、移液管、透明管、烧杯、分液漏斗,其他实验室常用器皿耗材等等。
  • SE-1薄膜电极
    金/铂是惰性金属,不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制,稳定性和重现性较差,不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料(非金属/油墨印刷)制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便,节省时间 - 可以多次重复使用,成本低廉 - 尺寸小,提供了很好的可靠性和可重复性,性噪比(S/N)佳。 电极设计: 1、SE-1设计,应用于铂和金薄膜电极,工作电极(WE)直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极(IDRA),由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极(IDA),由2对交叉的12电极组成。 微电极设计,工作电极线宽和间隙都为10&mu m,和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器,使得薄膜(微)电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存:干燥环境,旁边可以放置硅胶
  • 超快薄膜偏振片
    超快薄膜偏振片1.适用于钛:蓝宝石和镱掺杂激光器2.高达0.3 J / cm2 @ 200 fs @ 800nm损伤阈值3.优化分散S和P的最小色散超快薄膜偏振片采用薄膜涂层技术,可在近红外波长范围内实现zui佳性能。这些偏振器具有高损伤阈值,非常适用于高功率激光器,包括Ti:蓝宝石和掺镱激光源。透射偏振器可在偏振器的两侧具有偏振涂层,而反射偏振器由输入面上的偏振涂层和输出面上的抗反射涂层组成。订购信息消声系数对比度 波长范围 (nm)透射率 (%) 20:1Tp:Ts20:1750 - 850Tp85 / Ts4#88-23560:1Rs:Rp60:1750 - 850-#88-23620:1Tp:Ts20:1980 - 1090Tp85 / Ts4#88-23760:1Rs:Rp60:1980 - 1090- #88-238技术数据
  • IDA薄膜阵列电极
    金/铂是惰性金属,不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制,稳定性和重现性较差,不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料(非金属/油墨印刷)制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便,节省时间 - 可以多次重复使用,成本低廉 - 尺寸小,提供了很好的可靠性和可重复性,性噪比(S/N)佳。 电极设计: 1、SE-1设计,应用于铂和金薄膜电极,工作电极(WE)直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极(IDRA),由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极(IDA),由2对交叉的12电极组成。 微电极设计,工作电极线宽和间隙都为10&mu m,和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器,使得薄膜(微)电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存:干燥环境,旁边可以放置硅胶
  • chemplex426样品薄膜
    美国Chemplex公司专业从事样品前处理设备、XRF耗材研发和生产,是X荧光光谱仪XRF配件耗材领域的全球知名厂商。美国Chemplex样品杯和样品膜广泛应用于X荧光光谱仪XRF的样品制备和分析检测过程,Chemplex样品膜薄膜张力特性佳,与Chemplex样品杯组合使用,可盛放各类金属重物、液体、浆状或粉末样品,适用于所有品牌厂家的X荧光光谱仪XRF。产品介绍:独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的高密度聚乙烯! 样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令;2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染;6、低微量元素杂质。 产品规格:序号CAT.No薄膜材料厚 度1426Prolene® 4.0 μ 0.00406mmChemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO:106麦拉膜、CAT.NO:150麦拉膜、CAT.NO:250麦拉膜、CAT.NO:256麦拉膜、CAT.NO:257麦拉膜、CAT.NO:416麦拉膜,美同达提供原装进口chemplex产品,具体货期以及产品信息请电话咨询
  • 3M 固相萃取薄膜片制品
    【固相萃取薄膜片用分流器】 薄膜片尺寸品 名内  容Cat.No.47mm单式分流器组件阀断流栓×1、单式分流器×1 5010-3300190mm3连式分流器组件阀断流栓×3、3连式分流器×15010-33002共 通6连式分流器组件阀断流栓×6、6连式分流器×15010-3300347mm用玻璃水口300mL玻璃漏斗×1、Kel-F屏×1  夹子×1、玻璃支撑基座×1 5010-33005单式分流器 玻璃水口套件单式分流器×1、玻璃水口(47mm)×15010-330113连式分流器 玻璃水口套件3连式分流器×1、玻璃水口(47mm)×35010-330126连式分流器 玻璃水口套件6连式分流器×1、玻璃水口(47mm)×65010-3301390mm用玻璃水口1200mL 玻璃漏斗×1、Kel-F屏×1  夹子×1、玻璃支撑基座×15010-33006单式分流器 玻璃水口套件单式分流器×1、玻璃水口(90mm)×15010-330216连式分流器 玻璃水口套件6连式分流器×1、玻璃水口(90mm)×35010-33022注) 固相萃取装置与另售的真空控制器(真空流量仪表与调整阀)Cat.No.5010-33071组合使用的话,可以简单地完成对流量的调整。【EmporeTM 玻璃水口用更换部件】品  名薄膜片尺寸47mm用薄膜片尺寸90mm用Cat.No.Cat.No.玻璃漏斗 300mL5010-33056―玻璃漏斗 1000mL5010-33057―玻璃漏斗 1200mL―5010-33062不锈钢筛(内装6个)5010-33058―Kel-F筛5010-330595010-33063夹子5010-330605010-33064玻璃支撑基座5010-330615010-33065
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜3018#
    X射线荧光膜、土壤样品杯膜、X-RAY样品膜、Prolene膜、ROHS测试膜、XRF有方形托架的圆片薄膜--美国Chemplex--3018# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:3018产品信息:Prolene膜,厚度4.0μm,直径63.5mm,100片/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • IDRA薄膜环形阵列电极
    金/铂是惰性金属,不容易发生氧化、水解和其它表面反应。普通金/铂电极制作需要反复抛光磨制,稳定性和重现性较差,不利于生物传感器的小型化和商品化。 Micrux公司采用100%金属材料(非金属/油墨印刷)制作的铂和金薄膜电极 - 适用于修饰和研发传感器或生物传感器 - 前处理方便,节省时间 - 可以多次重复使用,成本低廉 - 尺寸小,提供了很好的可靠性和可重复性,性噪比(S/N)佳。 电极设计: 1、SE-1设计,应用于铂和金薄膜电极,工作电极(WE)直径为1mm. 2、交叉指环型阵列电极(IDRA),由2对交叉的12电极组成。 3、交叉阵列电极(IDA),由2对交叉的12电极组成。 微电极设计,工作电极线宽和间隙都为10&mu m,和SE-1设计一样应用于铂和金薄膜电极。 电极适配器,使得薄膜(微)电极易于操作。 电极通过连接器可与各品牌电化学工作站匹配。 电极保存:干燥环境,旁边可以放置硅胶
  • 固相萃取薄膜片专用吸引分流装置
    产品信息:固相萃取薄膜片专用真空管装置固相萃取薄膜片通过使用专用的真空管装置,即可实现简便的操作。根据检体的数量,可以从单式、3连、6连型中作出选择。如果使用6连型的,则可以在30分钟内对6个检体同时实施1L的固相萃取处理。另外,上部玻璃水口部分配备有相应的更换部件,其中有47mm专用和90mm专用两种可对应选择。如为90mm玻璃水口,单式可同时使用1套,3连可同时使用2套,而6连则可同时使用3套。至于安装有薄膜片的支撑屏,则可以从无金属的Kel-F屏及无有机物的不锈钢屏(仅47mm)中选择。3连式分流器 47mm玻璃水口套件固相萃取薄膜片专用吸引分流装置仅为带断流阀的本体的基本组件。本组件可组合47mm、90mm的任一种玻璃水口。订货信息:固相萃取薄膜片专用吸引分流装置薄膜片尺寸品 名组 件 内 容Cat.No.47、90mm共通单式分流器组件断流阀×1、单式分流器本体5010-330013连式分流器组件断流阀×3、3连式分流器本体5010-330026连式分流器组件断流阀×6、6连式分流器本体5010-33003
  • 硫化仪、门尼和自动进样硫化仪卷状尼龙薄膜
    硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 23µ m厚 卷状尼龙薄膜硫化仪、门尼和自动进样硫化仪 130mm 宽600mm长 25µ m厚 卷状尼龙薄膜
  • 薄膜、样品膜、光谱仪膜、麦拉膜416#
    X-RAY样品膜、XRF測試用的Prolene膜、XRF样品膜、ROHS测试膜、迈拉膜--美国Chemplex 416# 现货供应:XRF样品膜、XRF薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。 品名:XRF样品膜Sample Film目录编号CAT. NO:416产品信息:Prolene膜,卷轴,厚度4.0 μm,宽7.6cm x 长91.4m,1卷/盒品牌:美国Chemplex Industries.Inc.(原装进口)货期:现货起订量:1盒以上。 产品详细信息:Pre-Perforated Thin-Film Sampel SupportsPROLENE® FILMCAT. NO:416Gauge:0.00016”,4.0 μm;0.16mil,40,640ATypical Impurities,PPM:Ca, P, Fe, Zn, Cu, Zr, Ti, AlChemplex® INDUSTRIES,INC.ROLL:3” x 300’ (7.6cm x 91.4m); Lot No:082176。 现货供应:XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜、样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜、美国Chemplex样品膜、CAT.NO:106、CAT.NO:150、CAT.NO:250、CAT.NO:256、CAT.NO:257、CAT.NO:416、CAT.NO:426、CAT.NO:3014样品膜、Sample Film。
  • 硫化仪和门尼聚酯薄膜
    硫化仪和门尼聚酯薄膜,125 x 125 mm, 23 µ m,1000张/盒硫化仪和门尼聚酯薄膜,80 x 80 mm, 23 µ m,1000张/盒
  • 美国英思科iTX外置采样泵
    美国英思科iTX外置采样泵,美国英思科iTX外置采样泵,美国英思科iTX外置采样泵,美国英思科iTX外置采样泵,美国英思科iTX外置采样泵,美国英思科iTX外置采样泵iTX泵18104646iTX泵iTX传感器17101213iTX 传感器, 氧气 (O2)17105719iTX 传感器 LEL / 甲烷17101064iTX 传感器, 一氧化碳17101080iTX 传感器, 一氧化碳 (大型)17101072iTX 传感器, 一氧化碳/抗氢气 (CO/H2 Low) (大型)17101114iTX 传感器, 硫化氢 (H2S)17101130iTX 传感器, 硫化氢 (H2S) (大型)17101197iTX 传感器, 二氧化硫 (SO2)17101205iTX 传感器, 二氧化硫 (SO2) (大型)17101247iTX 传感器, 氯气 (Cl2)17101049iTX 传感器, 二氧化氯(ClO2)17100900iTX 传感器, 氨气 (NH3) (大型)17101163iTX 传感器, 二氧化氮 (NO2)17101171iTX 传感器, 二氧化氮 (NO2) (大型)17100884iTX 传感器, 一氧化氮 (NO) (大型)17100892iTX 传感器, 一氧化氮 (NO) 17100926iTX 传感器, 氢氰酸 (HCN)17100934iTX 传感器, 氯化氢 (HCl)17101023iTX 传感器, 磷化氢 (PH3)17100967iTX 传感器, 氢气 (H2)17101106iTX 传感器, 一氧化碳/硫化氢 (CO/H2S)
  • Struers 碳化硅砂纸(带薄膜)
    为确保施加精确的力度并正确加液,我们建议您使用与设备配套的Struers耗材。这是因为每种机器和耗材被设计成适于配合使用,以控制研磨过程的所有参数,例如以合适的数量和有效的分布添加磨料和悬浮液。这是充分利用您投资的理想方式。 MD-System先进的MD-System包括与金属基座研磨盘和抛光布结合的磁性支撑盘。由于这些研磨盘均匀地磨削试样中的硬相和软相,因此能够实现恒定的高材料磨削率和最大平整度。制备时间和成本也显著减少。 只有Struers耗材才能充分发挥Struers设备的优势。请点击此处,登录耗材商城查看碳化硅薄膜的详细型号和应用。
  • Chemplex样品薄膜迈拉膜
    Chemplex样品薄膜、麦拉膜、迈拉膜、XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品薄膜、EDX薄膜、样品薄膜、ROHS测试膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品薄膜、CAT.NO:106麦拉膜、CAT.NO:150麦拉膜、CAT.NO:250麦拉膜、CAT.NO:256麦拉膜、CAT.NO:257麦拉膜、CAT.NO:416麦拉膜、CAT.NO:426麦拉膜、3014麦拉膜、欢迎咨询 美国Chemplex 杯膜 XRF样品杯,又名X荧光光谱仪样品杯、XRF样品杯、X-ray光谱仪样本杯、ROHS专用样品杯、高纯度聚脂测试杯,是应用于X荧光光谱仪XRF上的一次性量杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品类型:XRF样品杯Sample Cups 品 牌:美国Chemplex型 号:所有型号(欢迎来电索取产品目录)产 地:美国 产品介绍: Chemplex XRF样品杯用于RoHS、WEEE专业测试仪器盛放小颗粒固体,粉末,液体,适用于各种品牌的X射线荧光光谱仪。对特别配制的塑料和保持其物理和化学属性一致性的特别关注,使得Chemplex XRF样本杯在XRF物质成分分析应用范围和性能上无与伦比。Chemplex的许多XRF样本杯被列为新颖独特的设计和应用,并被美国专利商标局授予知识产权地位。 Chemplex独有的SpectroCertified? X荧光光谱仪(XRF)样本杯的质量始于一种特别配置的聚乙烯! Chemplex样本杯由专为该应用配制的专用高密度聚乙烯注模制成。该材料的特点有:1、符合RoHS指令; 2、不含有可能影响X射线数据的“白化”因子;3、光滑,能够促进薄膜样本支撑窗口的光滑和稳固附着;4、耐热和抗辐射的物理性能特点;5、能抵抗与无法确定的样本材料物质接触时产生的化学污染; 6、低微量元素杂质。 Chemplex Industries有限公司专业从事样品前处理设备、耗材研发和生产的公司,是X射线光谱仪(XRF)配件耗材领域的全球知名厂商。从产品研发和设计新概念,在内部生产,Chemplex工业公司是形成了样品制备方法的基础的重大贡献。样本杯的设计始于一个开发一种用于承装和处理X射线分析的液体和粉末状样本物质的方法的创意。 谱飞科技作为美国Chemplex公司的中国代理商,提供Chemplex所有系列用于对应欧盟ROHS和WEEE环保检测仪器——X射线荧光光谱仪(XRF)的检测实验消耗产品!主要有:高纯度聚脂样品杯,铝制样品杯,样品薄膜等。 我们不仅提供各种尺寸和属性的XRF样本杯、样品薄膜,还能根据您的样品类型和仪器品牌/型号为您选择合适的样品杯、样品薄膜。 二、XRF样品杯尺寸、属性和仪器兼容性: 为了对样本杯与仪器提供的样本夹持设备(金属样本杯、旋转盘、滑动平台、固定台等)进行匹配,购买样本杯前请告知您使用的X荧光光谱仪品牌和型号,或请直接测量仪器样本夹持设备的内径、高度和孔径。 我们列出了各种类型的样本杯的属性以更好地服务于应用,有需要的客户请联系本公司。本公司免费为客户提供包括样品杯的式样、尺寸、价格、编号、适用仪器型号等信息的产品目录。 适用仪器: 德国斯派克Spectro、英国牛津Oxford、日本堀场Horiba、飞利浦/帕纳科Philips/Panalytical、德国布鲁克Bruker、美国赛默飞世尔科技(热电)Thermo,瑞士ARL及日本理学Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma,Venus 200,Valley等生产的X荧光光谱仪(XRF)。 (适用X射线荧光光谱仪品牌型号:所有X射线荧光光谱仪包括:尼通(NITON):Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ;伊诺斯(Innov-X):AlPHA6000;牛津(Oxford):Met-5000;帕纳科(Panalytical):Minipal4、Minipal2;精工(Seiko):SEA1000A;斯派克(Spectro):XEPOS、 MIDEX M;热电(Thermo):ARL Quant’X;日本电子(JEOL)JSX-3400R;Horriba等。) 三、Chemplex产品系列: 注册商标有:Chemplex、SpectroCertified、SpectroSulfur?、SpectroMicro?、TrimLessTM、ThermoPlasticTM、TrimLessTM、FunnelShapeTM等XRF样品杯。 四、产品系列:1000系列带有紧固套的单和双开口32和40mm薄膜支撑样品杯,和带有紧固盖和排气室的45mm样品杯 1300系列带有旋转咬合盖和咬合圈的双开口32和40mm样品杯 1400系列带有排气和小样品管的单开口32和40mm样品杯 1500系列带有多孔薄膜和咬合附件的双开口32和40mm样品杯 1545系列适用于样品表面水平和样品表面倾斜的XRF系统的样品杯 1700系列带有咬合排气和排气室的单开口32和40mm样品杯 1800系列带有排气装置和排气室的单开口32和40mm样品杯 1080,1085,1850系列带有排气装置和排气室的单和双开口47mm样品杯。 1、1000系列:TRIMLESS?套筒样本杯与SPECTROSULFUR?分析仪杯,TRIMLESS?套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L* 特长单开口端。4、1500系列:双开口端XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。产品编号:1530 双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540 双开口端。5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1730 咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。产品编号:1830 ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2 双开口端。10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。产品编号:2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形)样本杯技术。产品编号:3106、3110、3115、3120。更多信息咨询美同达科技
  • 薄膜按键
    溶氧仪配件 tp351-003 薄膜按键
  • 高温纸垫薄膜 其他物性测试仪配件
    高温纸垫薄膜
  • ChemplexXRF测试薄膜
    XRF样品膜、XRF测试薄膜、、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜、X-RAY样品膜、ROHS测试膜、X-ray样品膜、X荧光光谱仪样品膜、光谱仪样品膜、迈拉膜、麦拉膜、Mylar膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜XRF样品膜、XRF测试薄膜、EDX样品膜、EDX薄膜样品薄膜美同达提供chemplex各种样品薄膜和样品杯,如有需要,请。 Chemplex样品杯是使用方便简捷,无污染的测试用样品杯,广泛应用于牛津、斯派克、岛津、热电、帕纳科、日本理学等各种品牌的XRF光谱仪。 产品详情: 1、1000系列:样本杯与SPECTROSULFUR分析仪杯,TRIMLESS套筒能套住薄膜样本支撑窗并清除过量剪屑。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix,Panalytical Venus 与Rigaku(日本理学株式会社)仪器。 产品编号:10601双开端、1065单开端、1070双开端、1075单开端、1080双开端、1083单开端、1085单开端、1095双开端带通风盖与球形柄。 2、1300系列:可重复密封的可通风式XRF样本杯,集成外部溢流储液槽,并可选择使用集成的薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1330双开端、1330-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1340双开端。 3、1400系列:单开端可通风XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1430单开口端ThermoPlastic?密封排气、1430-SE、1440单开口端密封排气、1440L*特长单开口端。 4、1500系列:双开口端XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix等仪器。 产品编号:1530双开口端、1530-SE直接固定环带有集成的薄膜修整器、1540双开口端。 5、1600系列:狭缝通风样本杯盖,适用于1500系列XRF样本杯。 样品编号:1630样本杯盖、1640样本杯盖。 6、1700系列:集成的咬合式通风XRF样本杯。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1730咬合式通风、1730-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1740Snap-Post通风。 7、1800系列:单开口端XRF样本杯,集成的外部溢流储液槽,通风装置;与可选用的集成薄膜样本支撑窗修整器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器。 产品编号:1830ThermoPlastic?密封通风、1830-SE直接固定环拥有集成的薄膜修整器、1840ThermoPlastic?密封通风。 8、1850系列:单开口端SPECTROSULFUR?分析仪样本杯,Thermoplastic Seal?通风 ,集成外部溢流储液槽和排泄装置,适用于X射线光学系统“SINDIE?”仪器与其它硫分析仪。 9、1900系列:双开口端XRF样本杯,顶部样本注入与可选用的集成薄膜样本支撑窗修剪器。 适用仪器:适用于Spectro & SpectroAsoma Xepos, X-Lab 2000, Xepos Low S, 200, 200T Titan, Phoenix仪器;适应于Oxford Lab-X仪器。 产品编号:19301双开口端、1930-SE1直接固定拥有集成的薄膜修整器、19401双开口端、1940L2双开口端。 10、1935-OX系列:双开口端XRF样本杯与通风盖,适用于牛津分析仪。用作替换的腔室和盖子,适用于牛津CK-100,耗材元件,零件编号54-CK-100。 11、2100系列:双开口端TRIMLESS?套筒XRF样本杯、内部溢流储液槽,通风的直接固定盖,TRIMLESS?套筒薄膜样本支撑窗附着。 产品编号:2132 、2135、2140、2143、2144、2145、2146、2195。 12、3100系列:SPECTROMICRO?样本杯,采用“FUNNELSHAPE?”(漏斗形) 样本杯技术。 产品编号:3106、3110、3115、3120。
  • XRF支撑薄膜
    成卷的或预先切成方形或圆形的Prolene,超聚酯,聚丙烯,Mylar,聚碳酸脂和聚酰亚胺样品支撑薄膜。 成卷的薄膜(7.6cm×15.2m) 正方形薄膜(63.5mm×63.5mm) 圆形薄膜(直径63.5mm) 多孔聚丙烯薄膜(6.4cm×5.1m)
  • XRF 样品杯薄膜窗片防化学腐蚀试纸
    XRF Sample Cup Thin-film Window Chemical Resistance Test PaperXRF 样品杯薄膜窗片防化学腐蚀试纸 产品货号描述若干圈/包6150化学防腐蚀薄膜窗口试纸500
  • Smart SAGA 亚微米薄膜进行掠入射分析附件 0033-197
    Smart SAGA 亚微米薄膜进行掠入射分析附件Thermo Scientific Smart SAGA 适用于对金属基上的亚微米薄膜进行掠入射分析。Smart SAGA(高光带孔掠射角)极易操作,性能优异,样品区辨识能力极高。 只需将样品平放在水平采样台上,用激光雕刻隔栅进行定位,如需要则转动转轮以设置孔尺寸,然后扫描。掠射角反射系数是用以分析薄涂层或沉淀物的选择性方法,因为高入射角可以增大穿过感兴趣材料的红外光束的光程长度,从而大大改善灵敏度。 由于高入射角和选择性偏极化,因此可获取单层灵敏度。描述80° 固定入射角全金反射光学器件可以分析 10 埃 至 0.5 微米的薄膜永久性固定的偏光镜可以大大减小无益于表面光谱数据的‘S’偏光,从而可以改善灵敏度和采样速度独特的内部滑孔组件可快速调节至四种不同的样品定义形状与尺寸,无需设置孔径。采样板上的激光雕刻隔栅便于在进行定量分析时,重复进行样品定位和遮盖。SpecificationsAngle of Incidence: 80° 平均固定角度Sampling Area两个圆形活动区域: 5mm和 8mm一个椭圆形活动区域: 16 × 8mm开束Optics: 金反射器件Sample Positioning: 样品台上的激光雕刻测量隔栅Polarizer: 锗超薄涂层金属基上的被吸附物润滑剂表面污染物残留物分子单层订货信息:货号类型0033-197For Nicolet Avatar0033-199Specular Reflectance00331XXSmart SAGA
  • 固相萃取薄膜片专用真空管装置
    固相萃取薄膜片专用真空管装置玻璃水口套件在真空管装置本体组件中标准安装了47mm、90mm 玻璃水口的固相萃取薄膜片起动机组件。如果您是初次使用固相萃取薄膜片,我们推荐您使用这一起动机组件。薄膜片尺寸品   名组 件 内 容Cat.No.47mm专用47mm玻璃水口玻璃漏斗+Kel-F屏+夹子+支撑基座+样品瓶5010-33005单式分流器玻璃水口套件玻璃水口×1+单式分流器组件5010-330113连式分流器玻璃水口套件玻璃水口×3+3连式分流器组件5010-330126连式分流器玻璃水口套件玻璃水口×6+6连式分流器组件5010-3301390mm专用90mm玻璃水口玻璃漏斗+Kel-F屏+夹子+支撑基座+样品瓶5010-33006单式分流器玻璃水口套件玻璃水口×1+单式分流器组件5010-330216连式分流器玻璃水口套件玻璃水口×3+6连式分流器组件5010-33022
  • XRF荧光光谱仪薄膜标准样品
    XRF荧光光谱仪薄膜标准样品B47型单元素薄膜标准样品3000奥富森提供的XRF薄膜标准样品综合了多种高真空镀膜技术进行制备,能够制备单元素、多元素、化合物以及土壤混合物等类型的薄膜标准样品。具有膜层厚度控制精确,厚度均匀,性能稳定等优点,元素纯度可达99.9%以上;同时综合ICP和XRF等检测技术,可精确标定薄膜标样的负载量。并提供具有朔源性的第三方检测报告。 《HJ 830-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》以及《HJ 829-2017 环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》均要求使用薄膜标样建立仪器的工作曲线。XRF薄膜标准样品分SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2)五个负载量系列,其他负载量的产品可根据客户实际需求定制。在实际的空气监测应用中,根据《HJ830-2017环境空气颗粒物中无机元素的测定波长色散-X射线荧光光谱法》和《HJ829-2017环境空气颗粒物中无机元素的测定能量色散-X射线荧光光谱法》所测得的数据通常偏低;而传统薄膜标准样品的浓度跨度较大,负载量偏高,不利于标定曲线的建立以及低浓度无机元素的精确测量。 为解决这一问题,奥富森公司针对《HJ830-2017》、《HJ829-2017》和最新《HJ1329-2023》推出了空气监测专用系列薄膜标准样品(AtmosphereMonitoringSeries),分为S(0.4-1.6μg/cm2)、SM(2-4μg/cm2)、M(8-12μg/cm2)、LR(17-23μg/cm2) 、R(40-60μg/cm2)五个负载量。这一系列样品经过特别优化,其负载量较低,更加符合空气监测的实际应用需求。可供应的XRF单元素薄膜标准样品的元素如下:老款:SL(0.5-2μg/cm2)、VL(3-5μg/cm2)、L(15-25μg/cm2)、R(40-60μg/cm2)、H(80-120μg/cm2), 新款:S(0.4-1.6μg/cm2)、SM(2-4μg/cm2)、M(8-12μg/cm2)、LR(17-23μg/cm2) 、R(40-60μg/cm2)Na (NaCl)GeZn (ZnTe)Mg (MgF2)Rb (RbI)As (GaAs)AlY (YF3)SeSi (SiO2)Zr (ZrF4)Sr (SrF2)P (GaP)Nb (NbF5)Br (CsBr)S (CuSx)Mo (MoO3)Cd (CdSe)Cl (NaCl)InBa (BaF2)K (KCl)La (LaF3)PbCa (CaF2)Ce (CeF3)SnSc (ScF3)Pr(PrF3)Tm (TmF3)TiNd (NdF3)Yb (YbF3)VSm(SmF3)Lu (LuF3)CrEu (EuF3)W (WO3)MnGd (GdF3)Hg (HgCdTe)FeTb (TbF3)BiCoDy (DyF3)AgNiHo (HoF3)SbCuEr (ErF3)XRF薄膜标准样品的安装形式:1、 安装环尺寸(厚度为1.5mm的亚克力玻璃) 圆形:代码外径(mm)内径(mm)252517323225363629474739 推荐47号尺寸。方形: 50x50mm方形尺寸,内置ø 32mm的圆环,代码50。2、 支撑膜材料代码支撑膜材料备注NNuclepore® polycarbonate气溶胶核孔膜M6.36.3μm厚度麦拉膜(Mylar)M3.53.5μm厚度麦拉膜(Mylar)推荐N型材料。3、 镀膜方式:代码镀膜位置排列A安装环-元素膜-支撑膜B元素膜-支撑膜-安装环推荐B模式。具体型号请咨询厂家联系电话:18611477178联系人:谢充电子邮件:xc1977@126.com
Instrument.com.cn Copyright©1999- 2023 ,All Rights Reserved版权所有,未经书面授权,页面内容不得以任何形式进行复制