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自动化工业显微镜

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自动化工业显微镜相关的仪器

  • ? 自动化工业级原子力显微镜,带来线上晶片检查和测量Park Systems推出业内噪声最低的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体(尺寸200 mm和300 mm)提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Contact™ 模式,即便是在结构柔软的样品,例如光刻胶沟槽表面,XE-Wafer可以实现无损测量。? 现有问题目前,硬盘和半导体业的工艺工程师使用成本高昂的聚焦离子束(FIB)/扫瞄式电子显微镜(SEM)获取纳米级的表面粗糙度、侧壁角度和高度。不幸的是,FIB/SEM会破坏样品,且速度慢,成本高昂。? 解决方案NX-Wafer原子力显微镜实现全自动化的在线200 mm & 300 mm晶体表面粗糙度、深度和角度测量,且速度快、精度高、成本低。? 益处NX-Wafer让无损线上成像成为可能,并实现多位置的直接可重复高分辨率测量。更高的精确度和线宽粗糙度监控能力让工艺工程师得以制造性能更高的仪器,且成本显著低于FIB/SEM。? 应用l 串扰消除实现无伪影测量 独特的解耦XY轴扫描系统提供平滑的扫描平台 平滑的线性XY轴扫描将伪影从背景曲率中消除 精确的特征特亮和行业领先的仪表统计功能 卓越的工具匹配l CD(临界尺寸)测量出众的精确且精密纳米测量在提高效率的同时,也为重复性与再现性研究带来最高的分辨率和最低的仪表西格玛值。l 精密的纳米测量媒介和基体亚纳米粗糙度测量凭借行业最低的噪声和创新的True Non-ContactTM模式,XE-Wafer在最平滑的媒介和基体样品上实现最精确的粗糙度测量。l 精确的角度测量Z轴扫描正交性的高精度校正让角度测量时精确度小于0.1度。l 沟槽测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的腐蚀细节。l 精确的硅通孔化学机械研磨轮廓测量借助低系统噪声和平滑轮廓扫描功能,Park Systems实现了前所未有的硅通孔化学机械研磨(TSV CMP)轮廓测量。? Park NX-Wafer特点l 全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件,Park NX-Wafer让全自动图形识别和对准成为可能。l 自动测量控制自动化软件让NX-Wafer的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化,为您提供多位置分析。l 真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于专利的高强度Z轴扫描系统,XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力,而非相互排斥力。因此,在真正非接触模式下,探针与样品间的距离可以保持在几纳米,从而盖上原子力显微镜的图像质量,保证探针尖端的锋利度,延长使用寿命。l 解耦的柔性XY轴与Z轴扫描器Z轴扫描器与XY轴扫描器完全解耦。XY轴扫描器在水平面移动样品,而Z轴扫描器则在垂直方向移动探针。该设置可实现平滑的XY轴测量,让平面外移动降到最低。此外,XY轴扫描的正交性和线性也极为出色。l 行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面,Park推出行业本底噪声最低()的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时,在如下情况下测量系统噪声: 0 nm x 0 nm扫描范围,停在一个点 0.5增益,接触模式256 x 256像素l 选项高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能,自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据,自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能,成功率高达99%,高于传统的真空技术。设备前端模块(EFEM)实现自动晶体处理您可以为NX-Wafer加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证XE-Wafer用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。长距离移动平台,助力化学机械研磨轮廓扫描该平台带有专有的用户界面,可支持自动化学机械研磨轮廓扫描和分析。平面外运动(OPM)在样品为5 mm时小于2 nm;10 mm时小于5 nm;50 mm时小于100 nm离子化系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡,便可以稳定地离子化带电物体,且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。
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  • COPAN Cyclone自动化工业微生物解决方案——用于工业微生物实验室自动平板制备的仪器Cyclone&trade 是一种全自动仪器,用于在微生物样本测试中倾注平板法、螺旋划线和涂布的方法制备培养基平板。灵活的平台允许定制平板定制方案,包括样品容器类型、接种量、样品混合、稀释设置和琼脂类型。协议选择可以利用与任何LIMS系统的双向通信来自动识别样本、确定协议设置和报告样本状态。该系统能够管理高通量的样品稀释,并可以同时处理多种琼脂。Cyclone&trade 与智能培养和成像模块兼容,用于完整的平板培养管理,优化生长条件以更快地产生结果。
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  • ParkNX-3DM自动化工业级原子力显微镜助力高分辨率3D测量Park Systems推出的NX-3DM全自动原子力显微镜系统,专为垂悬轮廓、高分辨率侧壁成像和临界角测量设计。借助独有的XY轴和Z轴独立扫描系统和倾斜式Z轴扫描器,NX-3DM成功克服精确侧壁分析中的法向和喇叭形头所带来的挑战。在True Non-Contact&trade 模式下,NX-3DM可实现带有高长宽比尖端的柔软光刻胶的无损测量。 前所未有的精确度随着半导体越变越小,设计如今需要做到纳米级,但是传统的测量工具无法满足纳米级设计和制造所要求的精确度。面对这一行业测量挑战,Park原子力显微镜取得众多技术突破,如串扰消除,其可以实现无伪影和无损成像;全新的3D原子力显微镜,让侧壁和侧凹特征的高分辨率成像成为可能。前所未有的通量 受限于低通量,纳米级设计无法用于生产质量控制中,但原子力显微镜让这一切成为可能。随着Park Systems发布的高通量解决方案,原子力显微镜也得以进入自动化线上制造领域。这其中包括创新的磁性探针更换功能,成功率高达99%,高于传统的真空技术。此外,流程和通量优化需要客户积极配合,提供完整的原始数据。前所未有成本效益纳米测量的精确性和高通量需要搭配高成本效益的解决方案,才能够从研究领域扩展到实际生产应用中。面对这一成本挑战,Park Systems带来了工业级的原子力显微镜解决方案,让自动化测量更快、更高效,让探针更耐久!我们放弃了慢速又昂贵的扫描电子显微镜,转而采用高效、自动化且价格实惠的3D原子力显微镜,进一步降低线上工业制造的测量成本。现如今,制造商需要3D信息来表现沟槽轮廓和侧壁变异特征,从而准确找到新设计中的缺陷。模块化原子力显微镜平台实现快速的软硬件更换,从而是升级更划算,不断优化复杂且苛刻的生产质量控制测量。此外,我们的原子力显微镜探针使用寿命延长至少2倍,进一步减少购置成本。传统的原子力显微镜采用轻敲式扫描,这让探针更易磨损,但我们的True Non-Contact&trade 模式能够有效地保护探针,延长其使用寿命。——————————————————————————————————————侧壁和侧凹高分辨率成像侧壁和侧凹临界尺寸(CD)测量NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器设计让探针能够扫描到光刻胶的侧壁和侧凹结构。独有的XY轴和Z轴解耦扫描系统和倾斜式Z轴扫描器Z轴扫描器可在 -19到+19度和-38到+38度之间随意摆动法向高长宽比的探针带来高分辨率成像XY轴扫描范围可达100 μm x 100 μm高强度Z轴扫描器带来最大25 μm的Z轴扫描范围——————————————————————————————————————完整的侧壁3D测量高分辨率侧壁粗糙度借助超锋利的探针尖端,NX-3DM的倾斜式Z轴扫描器可接近侧壁,带来高分辨率的侧壁粗糙度细节。侧壁粗糙度测量精确的侧壁角度测量垂直侧壁的临界尺寸测量——————————————————————————————————————True Non-Contact&trade 模式实现无损临界尺寸和侧壁测量光刻胶沟槽临界尺寸测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的细节。业内最小的细节线上测量柔软光刻胶无损测量探针磨损更少,让高质量和高分辨率成像效果更佳持久无需轻敲式成像中的参数依赖结果——————————————————————————————————————Park NX-3DM的特点倾斜式Z轴扫描系统NX-3DM独具匠心地将Z轴扫描器倾斜设计,且通过专利的串扰消除原子力显微镜平台,XY轴与Z轴扫描器完全解耦。用户可以扫描到垂直侧壁以及各种角度的侧凹结构。与配有喇叭形头的系统不同,XE-3DM可使用高分辨率高长宽比的探针。全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件,Park NX-HDM让全自动图形识别和对准成为可能。自动测量控制自动化软件让XE-3DM的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化,为您提供多位置分析。真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于专利的高强度Z轴扫描系统,XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力,而非相互排斥力。因此,在真正非接触模式下,探针与样品间的距离可以保持在几纳米,从而盖上原子力显微镜的图像质量,保证探针尖端的锋利度,延长使用寿命。 行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面,Park推出行业本底噪声最低( 0.5?)的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。由于悬臂与样品表面接触,因此系统噪声是在如下条件下单点测量:扫描范围为0 nm x 0 nm,探针停留在一个点 0.5增益,接触模式256 x 256像素——————————————————————————————————————高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能,自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据,自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能,成功率高达99%,高于传统的真空技术。自动晶片装卸器(EFEM或FOUP)您可以在XE-3DM中加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证NX-3DM用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。离子化系统NX-3DM可搭载离子化系统,以有效消除样品的静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡,便可以稳定地离子化带电物体,且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。
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  • DHM数字全息显微镜总代理欧创科技-概述数字全息显微镜拥有极高的采集速度和兼容性,可同时实现快速检查、自动化工业质量控制和实验室创新技术研发。数字全息显微镜有其独特的技术实现高精度动态量化测试。 有三种可选配置,由激光源的波长数量决定:R-1000 系列:单激光源R-2100 系列:双激光源R-2200 系列:三个激光源数字全息显微镜可以使用自己的结构来固定或者仅作为头部模块安装在其他结构或生产线上。 与多种可选的电动载物台兼容, 具有提供定制和 集成OEM 系统的能力和灵活性。DHM数字全息显微镜总代理欧创科技-设备参数DHM数字全息显微镜总代理欧创科技-样机预约欧创(香港)科技发展有限公司作为DHM数字全息显微镜的总代理,为了更好的服务广大用户,在上海虹桥商务区恒基徐汇中心南区17-605建立了测试实验室,欢迎各位老师测样交流。DHM数字全息显微镜总代理-应用实例MEMS 加速度计和陀螺仪最常见的MEMS惯性器件是MEMS加速度计和陀螺仪。它们几乎可以在所有移动电子设备和汽车行业中找到。此类设备通常由移动部件组成,检测质量块、振动轮、梳状驱动器或其他具有平面内和平面外运动的传感部件。它们的表征需要位移、高频和大测量范围的终极分辨率。与激光多普勒测振仪 (LDV) 仅对预定义的网格/点进行少量测量不同,DHM 可对整个成像区域的每个像素进行即时和同步测量,从而可以将振动模式形状恢复到亚微米横向分辨率,使 DHM 成为理想的表征仪器,尤其适用于陀螺仪等复杂几何形状。描述:致谢:中国上海交通大学系统:DHM R2200模式:频闪模式设备:陀螺仪物镜:2.5x 高 NA
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  • ProScan 显微镜自动化系统制造厂商: 英国 Prior它为您的显微镜提供先进和精确的自动化系统这是高级成像的理想系统!平面式载物台(H101F)可保证高水平的精度。压电载物台(NZ200FCE)可以使样品在Z轴方向上精确移动,而对焦电机(PS3H122R)则能在更宽的Z轴范围内快速移动。用户可以使用该系统完成高质量的Z轴层叠应用。Lumen 200可为各种荧光基团提供高质量的荧光性能,同时Brightfield LED能为其他反差技术提供绝佳的照明。滤光片、光阑、载物台、明场和聚焦电机均通过ProScan III进行控制,从而实现了先进的成像技术和长时间的全自动实验。该系统包括电动载物台、荧光性能和明场照明,为您的显微镜提供先进的自动化。这是高级成像的理想系统!平面式载物台(H101F)可保证高水平的精度。压电载物台(NZ200FCE)可以使样品在Z轴方向上精确移动,而对焦电机(PS3H122R)则能在更宽的Z轴范围内快速移动。用户可以使用该系统完成高质量的Z轴层叠应用。Lumen 200可为各种荧光基团提供高质量的荧光性能,同时Brightfield LED能为其他反差技术提供绝佳的照明。滤光片、光阑、载物台、明场和聚焦电机均通过ProScan III进行控制,从而实现了先进的成像技术和长时间的全自动实验。 OptiScan III为寻求自动显微镜解决方案的用户提供了经济实惠的选择。ES111载物台适用于各种常用的正置显微镜,可为许多常规显微镜应用提供高度的重复性。这种载物台可根据具体的成像样品安装各种样品架。聚焦电机 (PS3H122R)可以安装在许多正置显微镜上,以提供Z轴方向的精确控制。
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  • 自动化工业级原子力显微镜,带来线上晶片检查和测量Park Systems推出业内超低噪声的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体(尺寸200 mm和300 mm)提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Contact&trade 模式,即便是在结构柔软的样品,例如光刻胶沟槽表面,XE-Wafer可以实现无损测量。现有问题目前,硬盘和半导体业的工艺工程师使用成本高昂的聚焦离子束(FIB)/扫瞄式电子显微镜(SEM)获取纳米级的表面粗糙度、侧壁角度和高度。不幸的是,FIB/SEM会破坏样品,且速度慢,成本高昂。解决方案NX-Wafer原子力显微镜实现全自动化的在线200 mm & 300 mm晶体表面粗糙度、深度和角度测量,且速度快、精度高、成本低。益处NX-Wafer让无损线上成像成为可能,并实现多位置的直接可重复高分辨率测量。更高的精确度和线宽粗糙度监控能力让工艺工程师得以制造性能更高的仪器,且成本显著低于FIB/SEM。* 应用串扰消除实现无伪影测量 独特的解耦XY轴扫描系统提供平滑的扫描平台 平滑的线性XY轴扫描将伪影从背景曲率中消除 精确的特征仪表统计功能CD(临界尺寸)测量出众的精确且精密纳米测量在提高效率的同时,也为重复性与再现性研究带来高的分辨率和低的仪表西格玛值。* 精密的纳米测量媒介和基体亚纳米粗糙度测量凭借行业超低噪声和创新的True Non-ContactTM模式,XE-Wafer在最平滑的媒介和基体样品上实现最精确的粗糙度测量。精确的角度测量Z轴扫描正交性的高精度校正让角度测量时精确度小于0.1度。沟槽测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的腐蚀细节。精确的硅通孔化学机械研磨轮廓测量借助低系统噪声和平滑轮廓扫描功能,Park Systems实现了前所未有的硅通孔化学机械研磨(TSV CMP)轮廓测量。 Park NX-Wafer特点全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件,Park NX-Wafer让全自动图形识别和对准成为可能。自动测量控制自动化软件让NX-Wafer的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化,为您提供多位置分析。真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于高强度Z轴扫描系统,XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力,而非相互排斥力。 因此,在真正非接触模式下,探针与样品间的距离可以保持在几纳米,从而盖上原子力显微镜的图像质量,保证探针针尖的锋利度,延长使用寿命。 解耦的柔性XY轴与Z轴扫描器Z轴扫描器与XY轴扫描器完全解耦。XY轴扫描器在水平面移动样品,而Z轴扫描器则在垂直方向移动探针。该设置可实现平滑的XY轴测量,让平面外移动降到超低。此外,XY轴扫描的正交性和线性也极为出色。行业超低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面,Park推出行业本底噪声超低( 0.5A)的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时,在如下情况下测量系统噪声: 0 nm x 0 nm扫描范围,停在一个点 0.5增益,接触模式 256 x 256像素选项高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能,自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据,自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能,成功率高达99%,高于传统的真空技术。设备前端模块(EFEM)实现自动晶体处理您可以为NX-Wafer加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证XE-Wafer用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。 长距离移动平台,助力化学机械研磨轮廓扫描该平台带有专有的用户界面,可支持自动化学机械研磨轮廓扫描和分析。平面外运动(OPM)在样品为5 mm时小于2 nm;10 mm时小于5 nm;50 mm时小于100 nm离子化系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡,便可以稳定地离子化带电物体,且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。
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  • 苏州汇光是专业的光学显微镜,工业显微镜厂家,我司供应的显微镜都是品牌显微镜,如奥林巴斯,舜宇,价格1000起,欢迎大家前来咨询选购.我们将有专业的技术人员根据您需求做出智能解决方案.目前,苏州汇光供应的视频显微镜种类齐全,根据其外观,性能不同可分为高清测量视频显微镜、高清检查视频显微镜、视频一体机、自动对焦视频显微镜、大视频检测视频显微镜、三维检查显微镜,万向支架视频显微镜,万向支架体视视频显微镜,三目视频显微镜,三目体视视频显微镜等。欢迎有需要的朋友前来咨询选购。苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年,是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像,自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。您如果想要购置金相显微镜,苏州汇光可以欢迎您带着样品来我公司实际体验观察效果,如果您不方便,可以将产品寄到我司,我们把效果调节好以后再拍照,或者邮件的形式发您查看,并把您的样品寄到您公司,如果您觉得该样品设计到机密问题,我们可以带着样机到您公司观察效果。总之,在不损害双方利益的前提下,苏州汇光都愿意配合您。【联系方式】电话:传真:产品详情: 地址:苏州市吴中区东方大道258号好得家产业园苏州工业园区汇光科技有限公司 欢迎大家前来咨询显微镜相关信息!!
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  • 产品描述智能化设计,智能化工作流程,智能化输出Smartzoom 5 - 一款智能型数码显微镜,适用于质量保证与控制领域的所有应用。快速简单的安装,全自动化的系统装配有质量控制领域的专用组件,使得操作十分简便,即使未经培训的人员也能快速上手。 如何简便?Smartzoom 5 拥有宏记录模式,使得同一类型样品重复分析工作流程的效率倍增。 智能化设计Smartzoom 5 数码显微镜运用了高度智能化质量控制 (QA/QC) 检验技术。数码显微镜集成了集变焦、全景照相和同轴照明三功能为一体的光学引擎。Smartzoom 5 可显示所有主要组件的状态信息,并具有自动校正偏差的功能。智能化工作流程Smartzoom 5 拥有宏记录模式,使得同一类型样品重复分析工作流程更加高效。集成了手势控制的 QA/QC 用户操作界面,支持从宏观到微观工作流程的无缝对接,轻松实现快速导航。图像预设和增强功能可以获得更高质量的图像。运用大量图像算法实现自动化测量。 智能化输出Smartzoom 5 对日常检测和失效分析提供快速可重复的QA/QC 检测结果。系统指导的工作流程结合校正的组件,支持用户独立完成测量检测工作。轻松注释图像并导出 word 格式的报告。 智能化设计Smartzoom 5 可选用能达到 10× 至 1,011× 放大倍率的三款不同物镜。通过触点为集成至物镜内的分段式 LED 环形灯供电,并能够单独从物镜上查看几何校正值。它的智能化安全功能绝不容小觑。例如,当物镜接触到样品或手时,电机会自动停止,以保护操作人员和样品。智能化工作流程Smartzoom 5 的集成 QA/QC 图形用户界面可以实现从宏观到微观工作流程的无缝对接,让快速向导更简单。因此,您可以使用独立的光学器件来记录整个样品表面,并立即查看样品的哪块区域需要执行显微检测。此外,系统还会记录工作流程中的所有步骤,以方便之后重复执行显微分析操作。使用出色图像或者如 HDR、噪声过滤、锐化、图像稳定等实时图像增强功能,为您呈现出色的演示效果。智能化工作输出您能够使用软件实时监测每个组件的工作状态,并将此类信息与图像一起保存。此外,Smartzoom 5 还配备用户管理系统,通过控制每位操作人员的权限来确保结果可重复。标注图像,然后创建报告并导出至 Word 模板中。
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  • 工业显微镜 400-860-5168转5919
    一、产品概述:工业显微镜是一种用于观察和分析材料表面及内部结构的精密光学仪器。它广泛应用于材料科学、电子制造和质量控制等领域,能够提供高倍放大率和清晰的图像,以帮助用户进行细致的观察和检测。二、设备用途/原理:设备用途工业显微镜主要用于金属、塑料、陶瓷等材料的表面缺陷检测、微观结构分析以及焊接接头的质量评估。它还被广泛应用于电子元件的检查和故障分析,确保产品的质量和可靠性。工作原理工业显微镜通过光学系统将样品的微小细节放大,使用高分辨率的镜头和照明系统,使得用户能够清晰地观察到样品的微观结构。显微镜通常配备有多种放大倍率和照明模式,能够适应不同类型的样品和检测需求。通过观察放大的图像,用户可以进行详细的分析和记录,为后续的研究和质量控制提供依据。三、主要技术指标: 1. 支持通过光学显微镜或图像测量仪(如Nikon NEXIV),对直径为6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的半导体晶圆的创新设计和材料进行全方位检测2. 超强的半导体晶圆装载机系列,能够将直径为6英寸(150mm)和8英寸(200mm)的晶圆转移到厚度为100微米(工厂制造选项)的尼康Eclipse L200N和LV150N显微镜或NEXIV VMZ-S视频测量仪器上3. NWL200系列与尼康NEXIV影像测量仪器集成在一起,可在半导体生产和检测过程中快速提供全精度和准确度支持半导体晶圆图案侧、后周边和中心区域检测。可自动或手动设置晶圆旋转速度和倾斜角度
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  • 原子力显微镜(工业型)产品简介基于专利的、源自德国的主动式针尖技术,百及纳米科技开发了下一代工业智能型原子力显微镜系统,针对工业领域应用提供快速、智能的样品形貌表征,适用于工业型检错、质量评定和量化测量等,尤其适用于检测大尺寸晶圆或光学晶圆。系统集成了大尺寸样品位移台、全自动光学导航系统和配套自动控制软件,可对大尺寸样品进行的光学成像定位,根据光学成像结果自动标定多个准确测量区域,并根据缺陷/待测结构的特点进行模式识别,智能选取原子力显微镜测量参数,在样品多个位置间自动移动,进行可重复的高分辨率测量,生成检测书面报告,整个过程无需人工参与,实现对大尺寸样品形貌的智能化、自动化的高速、高质量纳米级测量。产品特点: 顶级自动化功能、测量过程无需激光调节、即插即用式针尖更换方案、快速自动进针, 针对高深宽比的沟槽或孔洞结构,采用特制的长针尖提供微纳米结构的三维形貌准确测量, 可升级至多针尖并行测量模式,大幅提高微纳结构表征的范围和效率, 可升级为基于针尖光刻的微纳米结构高性能加工系统,大气环境下快速直写5nm以下结构。功能指标样品尺寸100 mm x 100 mm (4英寸) 至 300 mm x 300 mm (12英寸)成像分辨率优于1 nm (水平方向:0.3 nm, 垂直方向:0.2 nm)样品台定位精度运动精度优于1nm,重复精度优于10nm,采用闭环回路定位准确控制。单场扫描范围 (X, Y, Z)35μm x 35μm x 10μm (备选: 100μm x 100μm x 30μm)测量模式1. 非接触式(形貌、相位、误差) 接触式&力曲线2. 扩展模式(导电探针(C-AFM)、开尔文探针力显微镜 (KPFM)、磁力显微镜 (MFM)、扫描针尖光刻 (SPL)等)
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  • 系列 I WD-I1600L视频显微镜产品描述:该系列一体化液晶工业显微镜,是一款将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术和液晶屏幕技术完美结合的高科技产品。广泛用于PCB板、五金、接连器、FPC、纺织品、票证、种视觉工业检测、数码放大镜、医院研究、刑侦、教育等领域。特别适用于连接器、连接端子IC脚的平整度、平面共面度的在线监测。内置高清数码专用相机和数码录像机,设备支持HDMI高清数字信号输出,支持无线传输共享,支持USB高清视频流输出。轻松解放劳动强度,提高工作效率。产品特点:1. 高集成度:集拍照、录像、液晶显示于一体,无需连接PC,即可随时查看检测结果、轻松保留所需图片资料,提高研究分析效率;2. 高清显示:采用10.6寸全视觉IPS液晶屏;3. 高清相机:内置高清数字相机,支持高清拍照、录像;4. 倍率连续可调:0.7X~4.5X连续变倍;5. 多种测量功能:十字线、网络、带刻度等(可定制);6. 支持无线共享传输:可以通过APP下载设备的图片视频进行分享和后期数据处理;7. 宽大的平台:适合各种检测与操作任务,工作平台尺寸:380*260*20mm。产品WD-I200X工业视频显微镜WD-I200L工业视频显微镜WD-B1600L视频显微镜WD-I1600X视频显微镜WD-VM1600L视频显微镜WD-I1600L视频显微镜联系我们邮箱地址::
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  • Park NX-Hybrid WLIAFM 和 WLI 技术集成系统用于 200mm至 300mm 晶圆的全自动工业化 AFM-WLI 系统是业内最快捷、最准确、最通用的半导体计量工具。Park NX-Hybrid WLI 是迄今为止首个内置白光干涉仪轮廓测量的 AFM 系统,可用于半导体元件的研发计量、过程控制和制造质量保证。Park NX-Hybrid WLI 使用 WLI 模块在相当大的区域提供高吞吐量成像,并使用 AFM 在感兴趣的区域提供亚埃高度分辨率的纳米尺度计量。Park NX-Hybrid WLI 提供了从大面积扫描到纳米级计量的终极解决方案,适用于各种应用,包括质量保证、自动缺陷检测、前端半导体工艺控制和后端先进封装。Park NX-Hybrid WLI 无缝集成了自动化工业 AFM 系统和 WLI 轮廓仪。与前两种单独的工具解决方案相比,它能有效地节约成本、减少设备占用空间并能提供全新的最佳计量解决方案。Park NX-Hybrid WLI可测量亚埃级精度的台阶高度WLI 和 AFM半导体计量的两种最佳互补技术WLI白光干涉测量是一种光学技术,具有成像区域广、速度快、吞吐量高的优点。AFM原子力显微镜是一种扫描探针技术,对所有样品材料(包括透明材料)都能提供最精确的纳米级分辨率测量。
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  • 工业测量显微镜 400-860-5168转0769
    仪器简介:德国UHL高端工具测量显微镜VMM300技术资料参数规格如下:●测量精度:1.8+0.005Lum●二轴或三轴测量,手动或电动控制测量●光电测量系统,读数精度显示分辨率0.1um●X,Y轴测量范围:350X200mm或420X300mm●垂直测量范围:150mmUHL工具测量显微镜包含VMM全系列、徕卡Leica系列北京德华公司提供的工具测量显微镜综合参数规格如下:操作方式:手动、自动测量可选;测量精度:1.8+0.005L可选;读数精度:0.1um显示分辨率X,Y测量行程:50X50到350x200,420x300等并可定制。Z轴测量范围:50mm,100mm,150mm,200mm等可选工业测量显微镜为滚柱轴承导轨,光电测量系统,钢制校准光栅尺。光纤冷光源,亮度可调,功率范围:30W---250W高亮度照明;带视频接口0.4倍,1.2倍& hellip & hellip 连接黑白摄像头、彩色CCD。德国UHL徕卡工具测量显微镜VMM300主要特点:●采用沉稳一体化铸铁机身,测量精度高,最佳的再现性、可重复性●专业滚珠轴承导轨测量工作台,粗精调控制,特殊测量需求可订制●全系列工具测量显微镜光源采用一体化同轴照明光学系统●采用徕卡无限远焦心光学系统专用测量物镜,景深大分辨率高,光学测量的准确性的保障●工具测量显微镜采用的分析软件可进行几何尺寸精确测量与表面分析,自动巡边,自动对焦等功能完备
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  • 让检测工作更简单:用于日常检测和失效分析的自动化数码显微镜智能化设计、智能化工作流程、智能化输出蔡司工业显微镜代表着出色的光学质量和卓越性能,且为您的工作注入智能。应用案例分析:Smartzoom5是一款智能型数码显微镜,适用于工业领域的质量保证应用。设置快速简便、全自动化且配备有专业质量保证和控制组件。操作简单,即便是未接受过培训的人员也能快速上手,轻松获得出色的检测结果。蔡司Smartzoom 5 为工业质保注入智能。更简单、更智能、更高度集成智能化设计Smartzoom 5标配智能化质量保证和控制分析(QA/QC)技术。其智能化程度如何?它采用独一无二的专业 QA/QC 硬件设计,包含大量集成化组件。例如,光学系统还将变焦、全景相机和同轴照明技术集成至单个组件中。所有组件均置于一套轻质、便捷式系统内,易于组装和安装,无需专业知识或专用工具。Smartzoom 5 可以一直显示所有主要组件的状态信息,并能自动校正组件偏差。这就是智能化设计。智能化工作流程Smartzoom 5配备了一系列智能化功能及工作流程向导的应用软件,让您的检测工作更加顺畅。其高效程度如何?它能够通过宏记录和学习模式来逐步增强同一类型样品重复分析工作流程的效率。内置 QA/QC 图形用户界面结合手势控制,以支持从宏观到微观工作流程的无缝对接,轻松实现快速导航。Smartzoom 5 系统集上述功能于 一体,操作简单,即便是未接受过培训的人员也能快速上手。图像预设和增强功能是您获取最佳图像的好帮手,运用大量图像算法实现自动化测量。这就是智能化工作流程。智能化输出Smartzoom 5性能可靠稳定,能够为日常检测和失效分析任务提供快速且可重复的 QA/QC 测量。其可靠程度如何?由校准组件指导的工作流程让用户独立获取检测结果。此外,系统还配备了几项全自动化功能,在全面提升效率的同时实现了快速且可靠的分析。这就意味着,Smart-zoom 5 可以随时让您生成高品质的图像。简单标注图像,然后创建报告并导出至 Word 模板中。这就是智能化输出。洞察产品背后的科技智能化设计Smartzoom 5包含大量智能化集成组件。最少的线缆配置,且完全置入系统内以消除杂波干扰。光学系统是显微镜的核心,它集变焦、全景相机和同轴光照明技术于一体。系统装配仅需 1 分钟,且无需专业知识或专用工具。Smartzoom 5 可选用能达到 10× 至 1,011× 放大倍率的三款不同物镜。* 它们均配有卡口式镜头座,方便物镜快速更换及电源连接。通过触点为集成至物镜内的分段式LED 环形灯供电,并能够单独从物镜上查看几何校正值。它的智能化安全功能绝不容小觑。例如,当物镜接触到样品或手时,电机会自动停止,以保护操作人员和样品。智能化工作流程Smartzoom 5的集成 QA/QC 图形用户界面可以实现从宏观到微观工作流程的无缝对接,让快速向导更简单。因此,您可以使用独立的光学器件来记录整个样品表面,并立即查看样品的哪块区域需要执行显微检测。然后,在触摸屏或控制单元上使用手势移至相应位置。您还可以设置一个坐标系来执行后续组件检测。以清晰直观的结构显示记录的图像和使用的工具,从而让您对整个检测工作流程一目了然。此外,系统还会记录工作流程中的所有步骤,以方便之后重复执行显微分析操作。凭借自动特征探测功能,Smart-zoom 5 可以基于预设值的参数自动识别和测量样品。使用最佳图像或者如HDR、噪声过滤、锐化、图像稳定等实时图像增强功能,为您呈现最佳的演示效果。 智能化输出至于倾角和物镜,所有 Smartzoom 5 组件均是编码或电动控制的。因此,您能够使用软件实时监测每个组件的工作状态,并将此类信息与图像 一起保存。此外,Smartzoom 5 还配备用户管理系统,通过控制每位操作人员的权限来确保结果可重复。标注图像,然后创建报告并导出至Word 模板中。技术参数
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  • UltraMicroscope Blaze自动化的光片显微镜全新视野开启光片成像 探索全新的专为多样品或超大样品亚细胞结构成像设计的全自动光片显微镜UltraMicroscope Blaze。用与众不同的显微成像开启您的研究项目并为开启崭新视野奠定基础。我们开创性的UltraMicroscope 技术与先进的光片光学技术、样品制备技术的完美结合,为完美成像效果提供保障。全自动令操控更简单 UltraMicroscope Blaze 基于十年来的经验积累,专为加速您的研究项目而诞生。用户的反馈和需求是我们创造这款UltraMicroscope 新产品的驱动力。上样和不同放大倍数镜头之间的转换从未如此轻松。随UltraMicroscope Blaze 一起步入研究快车道,为获得新发现奠定基础。多样品成像功能新的UltraMicroscope 遵循一个简单原则:“ 以较简单的操作,实现对大样本或多样本的较高质量成像”。现在,您可以省去耗时费力的样品转换工作,还可以避免传统切片带来的伪信号,从而获取高质量的数据。一次放置好所有样品,运行预设的过夜扫描程序即可。UltraMicroscope Blaze将为您完成一切工作,第二天清晨高质量3D 数据就已获取完备了。更深层次的光片成像 我们成功研发的UltraMicroscope 技术与先进的光片技术的完美结合,为获得理想数据提供了保障。MI Plan 系列物镜及其平视野校正功能,更能满足大样本高分辨率成像的需求。与此同时,镜头兼容从水到高折射指数的有机成像试剂。一起来体验超宽的放大选择,无论从0.66× 的整体成像还是30× 的亚细胞结构成像,均可实现。UltraMicroscope Blaze 采用先进的光学照明方法,从侧分别以微倾的三束光片照明,并以瑞利(Rayleighlengths)覆盖整个视野。所谓瑞利长度,就是光信号得到检测的区域,此处光片的厚度最薄,有助于获得均一的照明效果和较高的成像质量。以优质的光学片层为您的样品提供优质的成像效果。获得生物学新视野只需三步: 凭借前沿的光学技术,工程学方法和智能的界面设计,UltraMicroscope Blaze 通过其设计和工作方式,呈现了一个完美的有机整体。 不费吹灰之力,观察生物系统复杂的三维结构得益于自动化的图像处理功能。 完善的样品制备是整个工作流程的关键起始步骤,Miltenyi Biotec 提供完备的解决方案,包括经验证的抗体及荧光素偶联的抗体,还有简单易用的透明化试剂盒。选择正确的工具开始实验,方可取得理想的实验结果。
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  • TAKEDA-RIKA竹田理化工业DKK Toa制造的“转盘TTT-710”DKK Toa制造的“转盘TTT-710” ・ 可连接台式水质 计 可选配纯水 喷淋清洗、化学溶液清洗、吹气清洗 - 电极清洗槽和电极储存槽位于正面。 JP18 可选配带有恒温水箱的转盘, 能够在恒温下测量多个样品,例如测量水的电导率(需要单独的外循环恒温器) - 可连接的台式水质计。 X系列防止内存数据被他人篡改或删除 有安全管理功能,管理用户,防止
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  • 全新DP系列相机具备能够简化工业显微镜成像的一系列智能功能和精准的色彩精确度。具有4K分辨率的DP28相机能够提供无噪点的高分辨率图像,而DP23相机则在全高清分辨率与便捷功能之间实现平衡,几乎对所有工业成像应用均可实现出色的价值。 显微镜相机用于检查制造材料的质量,确保其不存在缺陷。清晰的图像和准确的色彩还原是用户能够发现细微缺陷的必备关键性能。奥林巴斯DP28和DP23相机所具备的出色图像质量和智能功能有助于快速高效执行成像任务。(DP28拍摄) 以舒适的方式在屏幕上查看图像DP系列显微镜相机让用户不必通过显微镜目镜观察,而是以舒适的方式在屏幕上观看图像。为了获得平滑、超清晰的4K图像,DP28相机配备了890万像素CMOS传感器和全局快门。640万像素的DP23相机在进行快速样品扫描时能够以每秒60帧的速度拍摄高清图像,并可提供高达FN25的视场,让用户一次即可查看更多样品,并用很短时间就可将小尺寸图像拼接在一起。* 智能功能让分析和检查工作得到简化这款相机的功能让普通成像任务更加轻松,用户只需将注意力集中在屏幕上,不必花费时间进行调整。关键功能包括可在长时间曝光成像期间以高帧率在弱光条件下获得出色图像质量的快速实时功能,以及快速识别样品哪些区域处于聚焦状态的聚焦峰值功能。* 高效的远程协作包括图像、注释和分析数据的所有关键数据均可在本地或远程显示和共享。另外这两款相机还可与奥林巴斯Stream™ 2.4.4版软件兼容进行复杂或高级图像分析,从而进一步简化您的工作流程。** 强悍的功能、精准的色彩精确度以及更宽视场的4K(DP28)或全高清(DP23)分辨率让DP28和DP23相机能够提供高质量的图像并快速高效完成常规成像任务。*在与0.35X TV(DP23)配合使用时。**奥林巴斯Stream与远程共享功能不兼容。
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  • 系列 I WD-I1600X视频显微镜产品描述:该系列一体化液晶工业显微镜,是一款将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术和液晶屏幕技术完美结合的高科技产品。广泛用于PCB板、五金、接连器、FPC、纺织品、票证、种视觉工业检测、数码放大镜、医院研究、刑侦、教育等领域。特别适用于连接器、连接端子IC脚的平整度、平面共面度的在线监测。内置高清数码专用相机和数码录像机,设备支持HDMI高清数字信号输出,支持无线传输共享,支持USB高清视频流输出。轻松解放劳动强度,提高工作效率。产品特点:1. 高集成度:集拍照、录像、液晶显示于一体,无需连接PC,即可随时查看检测结果、轻松保留所需图片资料,提高研究分析效率;2. 高清HDMI输出:可以外接投影仪、显示器,支持USB高清视频流输出;3. 倍率连续可调:0.7X~4.5X连续变倍;4. 多种测量功能:十字线、网络、带刻度等(可定制);5. 支持无线共享传输:可以通过APP下载设备的图片视频进行分享和后期数据处理;6. 使用寿命长:LED照明持久耐用。 产品WD-I200X工业视频显微镜WD-I200L工业视频显微镜WD-B1600L视频显微镜WD-I1600X视频显微镜WD-VM1600L视频显微镜WD-I1600L视频显微镜联系我们邮箱地址::
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  • 7.5到货库存;RKC理化工业 67-2538-16 仅数字温度计主体 DP-350C-A特征简单易操作的通用型小巧轻便的设计,可放入口袋中可由 2 节 AA 电池供电规格输入:热电偶 K测量范围:-200~1200℃、-199.9~199.9℃(0.1℃显示范围)精度:±(示值的0.2%+1位数字)或±2°C以内*-100°C以下±4°C以内采样周期:约0.3秒显示:液晶显示附加功能:测量值保持、峰值保持、自动断电、断线、电池报警电源:2节AA电池允许环境温度:0~50℃
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  • DM6 B 全自动研究级显微镜全自动万能生物显微镜。是生物医学研究和临床实验应用的理想之选,显著提升工作效率通过自动化功能和便捷的软件简化工作流程利用 19-mm sCMOS 摄像头成像端口轻松摄取画质媲美出版物的图像LAS X Navigator - 显微成像的导航系统: 快速生成样品全景图,瞬间识别目标所在点!灵活选择功能多样的附件,如卤素或 LED 照明花更少时间看到更多内容图像摄取时间缩短,意味着您有更多的时间放在核心内容上。下面仅罗列提高您日常工作效率的新产品功能:充分利用 sCMOS 摄像头的优势,如Leica DFC9000!19 mm 视场摄像头端口良好匹配通用 sCMOS 传感器的尺寸。快速地以高分辨率查看载玻片。选择适合您应用目的的物镜 – 有 300 多种卓越的光学器件可供选择,如可选用独特的 1.25 倍概览物镜,实现出色的概览效果。显微镜操作智能自动化,节省更多精力投入到试验中!让您专注于想要实现的结果,不再为实现的过程大伤脑筋。智能自动化的作用就在于此:只需按下一个按钮就能完成多个步骤,显著简化您的工作流程,节省您宝贵的时间,将更多精力投入到试验中,而不是显微镜上。按下一个按钮即可更改对比度 – 一切所需轻松搞定任意选择卤素或 LED 照明,轻松摄取画质达到出版要求的图像使用照明(光强)和对比度管理功能简化您的工作 – 例如,用于荧光图像的荧光光强管理系统 (FIM) 和荧光激发管理系统 (ExMan),或用于Koehler 图像的 Koehler 照明管理。
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  • LeicaDM6 M进行全自动材料分析,实现最高精确度和可复制性的检查系统。● 2-齿轮手动调焦驱动器● 6位或7位电动物镜转盘● 手动或电动扫描平台● 触屏控制● 照明管理系统● 对比度管理器● LED照明装置可实现所有对比度模式● 相称模式:明场、暗场、微分干涉相衬、偏振、荧光● Leica Application Suite X (LAS X)软件完整记忆所有设置您可轻松调用之前的显微镜设置并通过软件特殊的“保存和调用”功能”(Store and Recall) 即时复制成像参数,且适用于任何类型的样本。一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果 — 始终如一。“可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、晶粒度评级、相位或颗粒分析等应用中,可复制性至关重要。Leica DM4 M 和 Leica DM6 M 工业测量显微镜系统值得您的信赖,获得可复制的结果,始终如一!选择您需要的组件Leica Application Suite (LAS) 软件平台将显微镜、软件和摄像头集成在一个软件包中,全面兼顾界面操作、功能和工作流程各个方面的效率。轻松快捷Leica DM6 M 全自动工业正置显微镜上的 Leica SmartTouch 触控屏或者 Leica DM6 M 和 Leica Smart Move 遥控上的可自由编程的各功能按钮,均可加速您的工作流程。无忧照明LED照明有助于结果的可复制 — 无论是以明场 (BF)、高动态暗场 (HDF)、微分干涉相衬 (DIC)、荧光 (FL) 还是偏振 (POL) 状态工作。精准细致凭借全自动微分干涉相衬 (DIC) 和 1.25 倍全景物镜,即使最微小的细节徕卡工业测量显微镜也能检测到。
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  • Leica DM6 M 直立式材料显微镜“可复制”意味着“可靠”在诸如钢铁夹杂物比例测定、晶粒度评级、相位或颗粒分析等应用中,可复制性至关重要。Leica DM4 M 和 Leica DM 6 M 工业正置显微镜系统值得您的信赖,获得可复制的结果,始终如一!一键式“智能自动化”可让您轻松搞定重复性工作。这些具有记忆功能的显微镜可帮您减少培训时间、改进工作流程和获得出色的成像结果 — 始终如一。节省宝贵时间:凭借照明管理器 (Illumination Manager) 和相衬管理器 (Contrast Manager),徕卡DM系列工业正置显微镜能够自 动识别所选的相衬方法和正在使用的物镜,准确打开或关闭孔径光阑和视场光阑,且自动调整光线强度。共享和比较您的结果 — 随时随地!通过 Leica 显微镜副助手 (Leica Microscope Assistant,Leica LAS “保存和调用”模块) 保存和调用显微镜设置和摄像头参数。它们随图像一同保存和归档,并可随时恢复。Leica DM6 M 全自动工业正置显微镜可根据不同需求添加不同功能的模块选择您需要的组件选择满足您需求的个性化图像分析系统:Leica Application Suite X (LAS X) 软件平台将显微镜、软件和摄像头集成在一个软件包中,全面兼顾界面操作、功能和工作流程各个方面的效率。通过 Leica DM6 M,您可使用附加的模块,例如钢铁专家 (Steel Expert)、清洁度专家 (Cleanliness Expert)、晶粒专家 (Grain Expert) 和相位专家 (Phase Expert)。工业正置显微镜 徕卡DM4 M&徕卡DM6 M工业正置显微镜无论您需要的是快速概览样品还是详细检查样品的显微镜 一 Leica DM4 M 和 Leica DM6 M 工业正置显微镜总能以恰当的设置满足您的需求。使用 Leica DM4 M 进行手动例程检查使用 Leica DM6 M 进行全自动材料分析Leica SmartTouch 触摸屏轻松快捷!通过 Leica DM6 M 全自动工业正置显微镜上的 Leica SmartTouch 触控屏或者 Leica DM6 M 和 Leica Smart Move 遥控上的可自由编程的各功能按钮,均可加速您的工作流程。Leica DM4 M 手动工业正置显微镜配备的布局清晰的显示屏令所有显微镜设置一览无遗。六个功能键帮助轻松操作各种常用功能 — 无需从样品查找。无忧照明!LED 照明有助于结果的可复制 — 无论是以明场 (BF)、高动态暗场 (HDF)、微分干涉相衬 (DIC)、荧光 (FL) 还是偏振 (POL) 状态工作。可在任何显微镜设置下以恒定的色彩温度查看您的样品:无需每次亮度改变时都重置摄像头或调节白平衡。选择一种或多种可用的相衬观察方法,在样品上检测出更多的瑕疵和缺陷。节省能源和成本:LED 照明可节省能源,使用寿命长达72,000 小时,从而使因更换灯泡而导致的显微镜停机成为过去。精准细致!凭借全自动微分干涉相衬 (DIC) 和 1.25 倍全景物镜,即使最微小的细节徕卡工业正置显微镜也能检测到:无需费力,轻松达成您的目标:只需按下一个按钮,Leica DM6 M 的所有系统组件 (例如检偏器、起偏镜和适当的棱镜) 便会自动移至光路径,同时每一个物镜的微调都得以保存。1.25 倍全景物镜,出色呈现样品的概览。凭借 Leica DM4 M,以出色的景深精准观察每一个细节。
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  • 宏集灵活多变模块化工业路由器HJ-MRX一、产品特点:1、设计自由:模块化结构可根据您的应用进行量身定制的组合。2、简单的远程访问和设备更新:借助icom 路由器管理和 icom 连接套件,用户可以快速轻松地实现集中设备管理或将设备连接到VPN 服务。3、灵活的扩展性:只需添加带有扩展卡 (MRcard) 的接口,HJ-MRX 即可提供的灵活性和未来的安全性。4、丰富的路由功能:HJ-MRX系列具有广泛的路由功能,例如多个本地IP网络、RSTP以及与并行VPN的连接。5、通用广域网技术:HJ-MRX 支持所有常见的互联网接入技术,无论是 LTE/DSL/光纤还是 LAN2LAN。冗余组合启用后备级别(故障转移)。6、高IT安全性:得益于强化的icom OS 操作系统,HJ-MRX 路由器将功能性和安全性结合在一起,从而确保稳定、安全的数据通信。7、多样应用程序接口:由于其模块化,HJ-MRX 系列提供多达 17 个以太网端口以及串行接口以及数字和模拟 I/O。8、物联网适用:HJ-MRX系列可以在本地处理数据,并轻松连接到物联网平台和云系统。二、产品参数:
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  • 7.5到货库存;RKC理化工业温度传感器ST-32L-K-1000-3C/ARika Kogyo ST-32L-K-1000-3C/A*L 用于 DP-350 的固定表面温度传感器【图片仅供参考】【关于发货日期】 本产品的发货日期需要每次确认。请在下订单前联系我们,因为交货时间可能会很长。如果我们无法在您下订单后 7 天内发货,我们将单独向您发送一封电子邮件以供进一步咨询。■固定式表面温度传感器DP-350 ST-32L-K-1000-3C/A*L的特点用于金属表面测量的温度传感器,最高工作温度为600℃头部由不锈钢制成,具有出色的耐用性。连接 DP-350 的插头类型响应时间:约0.7秒(金属表面)精度:±0.5% ±1℃ * 在100℃测量铜金属表面时L型K热电偶电缆长度:1000m蓝色硅胶涂层电缆有外壳*如果没有外壳,则型号末尾不添加“*L”。制造商: 理化工业 (RKC)
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  • 徕卡工业显微镜Leica DM ILM倒置金相材料显微镜模块化设计的徕卡DM ILM 倒置金相显微镜可以快捷并出色地完成所有的常规工业日常观察和测量任务。高性能光学设计提供锐利,清晰的明场反射光,偏光以及荧光的高分辨率和反差效果。徕卡 DM ILM 适用于进行大工件或样品的观察,并节省时间,尤其当客户需要进行系列观察和大量样品检查时。 为您带来的优势适合特殊应用强大的图像获取和分析软件可以支持客户对金相样品的特殊观察要求。 六种观察镜筒可供选择可以选择包括人及工程学可变观察角度镜筒 Ergotube (0° 到 35°调节范围) 使得显微镜前的观察工作变得非常舒服。内置电源控制系统内置 6V/35W 的卤素灯源便于光亮度调节同时节省试验桌面空间。 徕卡(Leica)显微系统,作为一家创新的显微镜厂家,从成立之初即致力于最 大程度地服务于用户的使用需求,发展徕卡的高科技精密系统与用户的微观分析。徕卡显微系统的产品组合,包括超高分辨率显微镜、光学显微镜、共聚焦显微镜、手术显微镜、立体显微镜及宏观显微镜、数字显微镜、显微镜软件、显微镜照相机和电子显微镜样品制备,不仅在生物技术和医药方面,还在原材料和工业质量保证的研究与发展中有广泛应用。
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  • 徕卡工业显微镜Leica DM750 M正置金相显微镜徕卡DM750 M是一台理想地适用于基础材料应用的工业实验室或材料科学的光学设备。它的万 能载物台和反射光系统适合几乎所有的样品来获取高品质图像。机械载物台可以同时适配于透射光和反射光的应用。它可以装配多种样品夹来固定不通直径尺寸的试样。独特的LED 反射光照明提供了明场,偏振光和倾斜光照明模式。这可以让客户在同一台显微镜上可以观察多种不同的样品。 为您带来的优势完美照明LED照明同时适用于透射光和反射光,提供给系统平均超过20年使用寿命的白色冷光,节省了未来20年更换灯泡的成本。高达1000倍的放大倍数拥有4孔或5孔物镜转盘的机座,可以装备全系列的物镜组,放大倍数从50倍到1000倍。反射光照明器带有LED 切边技术的照明光阑可广泛适应明场,偏光,4段倾斜光的日常实验室快速便捷的是用需求。在最 好状态下操作万 能 "工业级" 平面移动载物台配25到30毫米的样品夹,适合反射光和透射光的应用。方便使用,人机工程学设计4 款不同的观察镜筒让用户可以舒适地选择,我们也可以提供20毫米视野的10倍目镜。徕卡图像技术多种的徕卡显微镜专用数码摄像头包括全高清的观察。不同的摄像头均可提供高清同步的影像。徕卡(Leica)显微系统,作为一家创新的显微镜厂家,从成立之初即致力于最 大程度地服务于用户的使用需求,发展徕卡的高科技精密系统与用户的微观分析。徕卡显微系统的产品组合,包括超高分辨率显微镜、光学显微镜、共聚焦显微镜、手术显微镜、立体显微镜及宏观显微镜、数字显微镜、显微镜软件、显微镜照相机和电子显微镜样品制备,不仅在生物技术和医药方面,还在原材料和工业质量保证的研究与发展中有广泛应用。
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  • 徕卡工业显微镜Leica DM1750 M正置金相显微镜当我们集中于材料实验室或科学研究的任务时,全新的徕卡 DM1750 M 是一台设计用于迅速,精确分析出结果的显微镜,即使是在粗陋的周围环境中。使用徕卡 DM1750 M ,您会发现, 显微技术是多么简单而可靠。它的设计包含了一个优 秀的光路,即是针对较大的样品,也可以通过明场,倾斜光或者偏光进行观察。 整个反射光光源采用强力LED照明, w还可以通过不同照明角度来观察,特别适用于检查微观划痕,或获取样品高度方面的信息。为您带来的优势完美照明LED 照明配合内置可调节光阑,提供了可达20年使用寿命白色的冷光,从而节省了未来20年更换灯泡的成本。精确的放大倍数切换6- 或者 7-位置物镜转盘用来快速便捷地改变物镜放大倍率,并可容纳最 高达80毫米的样品。高度精 准的物镜转盘机械精度保证了所有被使用物镜的对中性。通过倾斜光可以观察更多通过直接的操作在薄膜按键上,四盏 LED灯就能最 大效能地发挥倾斜光照明在您样品上功能。超硬陶瓷载物台表面我们工业载物台的表面采用了全新的高科技陶瓷材料,达到了前所未有的硬度标准。可以承受多年的繁重工业日常试验要求,节省您许多时间和费用。徕卡(Leica)显微系统,作为一家创新的显微镜厂家,从成立之初即致力于最 大程度地服务于用户的使用需求,发展徕卡的高科技精密系统与用户的微观分析。徕卡显微系统的产品组合,包括超高分辨率显微镜、光学显微镜、共聚焦显微镜、手术显微镜、立体显微镜及宏观显微镜、数字显微镜、显微镜软件、显微镜照相机和电子显微镜样品制备,不仅在生物技术和医药方面,还在原材料和工业质量保证的研究与发展中有广泛应用。
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  • 徕卡工业显微镜Leica DM2700 M LED正置金相显微镜通用 LED 照明沐浴在日光中极度明亮的大功率 LED 照明为明场、暗场、干涉差、偏振光以及倾斜照明法提供了4500o K的恒定色温。它为所有亮度级提供了真正的彩色图像。由于 LED 寿命长、耗能低,因此节省能源的潜能极大。所有显微镜对比法灵活的选择,更低的成本徕卡 DM2700 M 灵活的正置显微镜系统在所有对比法中均使用了 LED 照明:明场(BF)、暗场(DF) 、微分干涉差(DIC)、定性偏振 (POL)或荧光 (FLUO)应用。它还提供了内置式倾斜照明,能够提高表面形貌和缺陷的可视度。徕卡 DM2700 M 金相显微镜还能够根据情况装配透射光轴。可选择三种显微镜物镜转轮 - 外加一个0.7x的宏物镜,您能通过它一眼看见约40mm长的一个样本,是进行快速定位和概览的理想选择。能够从徕卡显微镜载物台的完备产品线中,为大小达到100 x100mm的样本(例如箔片、晶片和 PCB)以及厚度达到80mm的样本(例如机械元件)找到一种理想的载物台进行检查。可靠的材料分析显微镜,针对多种应用检查电子元件为满足快速准确地对硅片或 MEMS 进行检查、程序控制以及缺陷分析的要求,徕卡 DM2700 M 提供了高光学分辨率,能够在样本上检测出哪怕细微的缺陷。LED 照明的恒定色温使您总能在相同色彩下观察样本。在实验室中检查样本实验室工作意味着长时间使用显微镜。徕卡 DM2700 M 金相显微镜的直立人体工学设计帮助您防止肌肉紧张、疲劳,让日常工作尽可能地舒适和省力。显微镜所具备的直观操作,让即使不熟练的人员也能更顺利使用。编码色环辅助系统在用户操作期间提供指导,减少产生错误的风险。在钢检验中筛选表面工业质控和缺陷检查的工作环境总是充满挑战,徕卡 DM2700 M 结实的支架和坚固耐用的设计使其适合变化多端的工作环境。通过高质量的显微镜物镜看到明亮的图像您无法承担低劣产品带来的后果显微镜的精髓在于它的光学元件。对于当今的数字世界来说,这是无法撼动的真理。徕卡显微系统的高质量显微镜物镜通过高分辨率和优化的像场,将亮度与强对比结合在一起。徕卡 DM2700 M 能够装配先进的配件,例如放大倍数从5x到100x、提供平像场和大范围工作距离的 N PLAN 消色差物镜系列。0.7x的宏物镜让您能够一眼看见几乎40mm长的样本,帮助您更快地定位和获得样本的概览。人体工学右手操作模式到左手操作模式的快速转换徕卡DM2700 M材料分析显微镜能够恰到好处地适合每位用户,帮助预防肌肉紧张,不良姿势等造成的健康损害。到左手操作模式左手用户能够在短时间内轻易地将控制元件转到显微镜左侧。无需为左手用户提供特殊的附件。操作省力,感受舒适Lecia DM2700 M正置金相显微镜采用三齿轮聚焦旋钮功能细化,改善质量三齿轮聚焦旋钮让您能够在细调、中档和粗调测微尺之间进行转换。使用高放大倍数物镜能够得到极为精确敏感的聚焦,有助于您轻松获得可靠结果。最 高有限对焦和可调节载物台的有限高度防止您在专心观察时损坏样本和显微镜物镜。可调节的聚焦旋钮徕卡DM2700 M正置金相显微镜的人体工学设计符合用户的体形,有助于长时间保持放松姿势。徕卡DM2700 M可调节高度的聚焦旋钮为个人提供了定制化的选项,短时间内便可适应用户手的大小。可调节的目镜可调节的目镜能够很容易地改变倾斜角度,让您以舒适地姿势进行工作,并保持正确地工作距离。结果是:即使长时间工作,一个直立的舒适坐姿提高了专注程度和工作质量。编码色环辅助系统(CCDA)使用编码色环辅助系统(CCDA)能够简单快捷地对分辨率、对比度和景深进行基础设置。CCDA 让操作简便直观,只需要最 短的定位时间,避免出现操作错误,并能够有助于提供可靠结果 - 无论是在常规检查还是复杂分析中。高效可靠因此它可以帮您节省了在显微镜设置上花费时间,将精力完全集中在您的应用上,极大地加快您工作流程。徕卡(Leica)显微系统,作为一家创新的显微镜厂家,从成立之初即致力于最 大程度地服务于用户的使用需求,发展徕卡的高科技精密系统与用户的微观分析。徕卡显微系统的产品组合,包括超高分辨率显微镜、光学显微镜、共聚焦显微镜、手术显微镜、立体显微镜及宏观显微镜、数字显微镜、显微镜软件、显微镜照相机和电子显微镜样品制备,不仅在生物技术和医药方面,还在原材料和工业质量保证的研究与发展中有广泛应用。
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  • 无论您从事金相学、医疗设备制造还是微电子领域,速度都显得至关重要。您可根据自身需求定制徕卡这款高度模块化的工业显微镜。它将徕卡优异的光学品质、丰富的对比度模式以及直观易用的软件集于一身,有助于加速您的工作流程。徕卡DMi8工业显微镜助您加速工作流程徕卡DMi8工业显微镜可以为您节省时间和资金。区别于正立式显微镜,您可直接将样品置于载物台对其表面对焦一次,然后在所有放大倍率下对焦,并对后续样品进行操作。由于物镜位于载物台下方,与样品发生碰撞的危险大大降低。节省时间您切换样品的速度将加快四倍您可获得更宽敞的工作空间,轻松放置大而重的样品可观察重量最高 30 kg 的样品细致入微地观察样品您需要观察大尺寸样品并进行详尽分析吗?徕卡显微系统(Leica Microsystems)提供的宏观*物镜可令您在更短的时间内观察更多样品细节。只需单击一下,即可从宏观模式 (35 mm) 切换到纳米模式 (200 nm)。DMi8工业显微镜宏观物镜可提供 4 倍于标准物镜的视场 (以 0.7 倍放大倍率观察 35.7 mm 样品的概况)。 您可在不同的放大倍率间切换: 0.7x、5x、10x、 20x、 50x 、100x ,并从不同角度照亮样品。3 档调焦驱动器可在不同放大倍率下实现灵敏可调的对焦,从而提高您的样品检测效率。您可针对自己的工作需要打造完美工具对系统进行量身定制,使其符合您的预算、应用需求和偏好。现在就为您工作所需的特性进行投资 – 并为未来需要做好准备。更大的自由度 您可升级自己的系统,以满足未来所需 在手动、编码和自动功能之间进行选择 您可使用丰富的对比度模式,满足所有应用需求一次击键即可轻松完成再现和存档Leica Application Suite (LAS) 软件提供一系列专家级模块以减轻您的工作负担,例如: Steel Expert Phase Expert Grain Expert定期更新和升级 LAS 软件可确保您始终走在竞争前列。UC-3D 照明装置观察更多细节徕卡显微系统(Leica Microsystems)独家提供超对比度 3D 照明装置。它可从不同角度对样品进行照明,以帮助您获得更多表面结构信息,并实现更高的对比度。因此您可在更短的时间内观察到更多样品细节。令观察更深入 内置照明解决方案带来更轻松的使用体验 无需额外成本,获得更多样品信息 您可选择徕卡手动或电动版本图像摄取:Duplex Steel 3140 BF 20x.jpgDuplex Steel 3140 DIC + UC-3D 照明装置 20x以个性化功能支持您的工作流程按照个人偏好对功能键进行个性化设置,并使用编码组件和照明控件。在向导式工作流程的帮助下,您可更快地获取结果并流畅地使用显微镜工作。 按下 1 个按钮即可激活宏观模式,迅速观察样品概况 对比度模式与放大倍率同步切换 (如从 10x HDF 到 50X DIC) 将某个功能键编程为使用摄像头摄取图像,实现存档目的
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  • PCB切片分析,是苏州汇光科技专业的金相显微镜分析软件,目前苏州汇光供应的PCB切片分析显微镜有多种,如HGO系列切片分析显微镜,CX系列切片分析显微镜,RX系列切片分析显微镜,您可根据自身需求选择,如果您不确定选择那台显微镜比较合适,也可以咨询我们技术,他们讲根据您检测产品需求为您定制智能解决方案哦。苏州工业园区汇光科技有限公司成立于2003年,是一家专业从事以显微光学、显微视觉、数码成像,自动化测量以及非标智能检测类为核心的各种工业用光学检测分析仪器和设备的研发、生产与销售。 产品主要服务于各类电子工业研发制造领域,通讯电子领域,IC芯片制造领域,LCD显示技术领域,半导体封装测试领域,手机及触摸屏、半导体集成电路、LCD液晶面板、太阳能光伏、柔性电路板等电子类、元器件类以及光学与材料类相关新兴制造行业,汽车部件研发制造领域,新能源新材料研究分析领域,教育教学等等领域;公司在华东乃至全国拥有各类制造业客户,包括世界500强企业与各种知名民营私企。公司全体员工秉承专注、创新、坚持、担当的职业精神与理念,为客户提供高品质的产品及优质的服务;愿成为国内外广大客户的忠实合作伙伴,为科技与工业的发展努力!
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