噪声自动测试系统

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噪声自动测试系统相关的厂商

  • 南京宇微系统集成有限公司,是一家专业的半导体晶圆测试技术服务公司,总部设在江苏南京,公司专注于射频微波及半导体器件领域,为半导体测试提供最佳的系统集成解决方案和技术支持服务。宇微系统集成是MPI在中国大陆的授权经销商,提供各种高精度的手动、半自动、全自动探针台及附件等测试设备,同时提供基于芯片晶圆测试的集成解决方案,并为客户量身开发自动测试软件。
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  • 深圳市中裕精密自动化有限公司是一家致力于为客户提高工厂生产效率,提升产品质量,降低生产成本的高科技公司。为客户量身定制整套自动化解决方案! 我公司是由一批有丰富设计经验的专业技术人才组成,汇聚控制系统开发、视觉检测、机械设计、售后服务等资深工程师。为广大客户提供高效、稳定、先进的自动化测试系统及设备奠定了坚实的后盾。涉猎范围包括测试测量系统集成、视觉检测识别、自动化测试编带设备等领域。 作为一家以市场为驱动,以客户为导向的公司,我们追求与客户紧密联系。为客户创造更高的价值是我们所追求,与客户一起成长是我们所期望。中裕精密将一如既往的凭借先进的技术优势、诚信务实的作风,致力于精密自动化领域,为客户成就更高的价值。 我们曾做过的项目:测试测量系统:压力传感器测试系统、音视频测试系统集成、扬声器自动测试系统、功放PCBA自动测试系统、NAVI整机在线检测系统、开关电源测试系统、生产线测试数据存储管理系统……视觉检测系统: 字符视觉检测系统、外观自动检测系统、螺丝尺寸视觉检测、印刷自动视觉检测系统、色彩机器识别系统……自动化设备:半自动编带机、全自动编带机、散料测试分选机、切脚成型机、贴片三极管测试编带机、轻触开关编带机、SMD元件测试打标编带一体机……代理测试仪表及附件:Agilent、Audio Precision、Hameg、ATB Precision、Stanford Research、KIKUSUI、California Instrument……
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  • 深圳市易商仪器有限公司成立于2005年,总部在深圳,在北京、上海、南京、成都、昆明、西安设置有派出机构。公司着重于微波测量、通讯测量和光测量,提供产品销售代理、综合测试系统开发与集成、仪表租赁、产品维修等综合服务。经过7年多的努力,目前已经成为中国电子测试领域领先的综合服务商。 在光测试领域:是安立公司(Anritsu)、法国Yenista的正式授权代理商。提供有源光产品和无源光产品的测试方案。提供包括:光谱仪、误码仪、SDH测试仪、光眼图仪、光电矢网、光调制器、可调谐光源、可调滤波器、光时域分析仪等仪表,提供整套的10G bit/s、40G bit/s、100G bit/s光通信测试方案,提供DWDM、CWDM、OADM、WSS等无源器件测试方案。 在微波及半导体器件领域:易商是美国CASCADE公司在中国大陆的授权代理商,提供各种手动、半自动、全自动探针台,提供基于晶元的器件测试方案,并为客户开发自动测试软件。 易商是美国MAURY公司在中国大陆的授权代理,代理销售微波测试附件、校准件、噪声源、负载调变器等,具备集成到110G微波参数测试、loadpull测量、噪声测量等测试系统的能力,是国内少数几家具备整合从微波到毫米波的功放及噪声在片测试能力的公司。 易商同时与全球很多仪器公司合作,包括LeCroy、Agilent、Tektronix、Aeroflex、GSI、FEI、Veeco等,我们还与国内许多大学、研究所合作,提供各种测试系统解决方案和器件的实际测量。公司开发了电源自动分析系统、半导体器件可靠性测试系统、手机天线失配仿真测试系统等。公司软件部门可协助客户提供定制功能的测试系统开发。 深圳市易商仪器提供2.5G/10G误码仪和眼图仪、光谱仪的租赁业务。2012年,与安立公司协作,重点推出LTE测试仪MT8820C的租赁业务,快速满足的不同需求。
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噪声自动测试系统相关的仪器

  • 联系电话: 产品简介HS5670B型积分声级计是在我厂主导产品HS5670的基础上创新研制的一种精密声学测量仪器,具有量程动态范围大、大屏幕液晶数显、自动测量存储各种数据等特点,外接滤波器能自动进行1/3及1/1频谱分析,通过RS232C串口,配套打印机能自动打印出测量结果与图谱,经接口通讯电缆可将测量数据输出传输到计算机中,实现声压级LP实时通讯输出及飞机噪声Lepn有效感觉噪声级测量计算。  HS5670B型积分声级计操作简单、使用方便、可靠性高,可广泛用于各种机器、车辆、船舶、电器等工业噪声测量和环境噪声测量,适用于工厂企业、环境保护、劳动卫生、交通、教学、科研等部门的声测试领域。技术指标  1、传声器:1/2英寸预极化测试电容传声器  频率:20Hz&mdash 20kHz  灵敏度:50mV/Pa  2、声级测量范围(以2× 10-5Pa为参考)  25dB~135dB(A)  35dB~135dB(C)  45dB~135dB(Lin)  3、频率计权与频率范围:A计权、C计权、Lin;线性,平坦频率响应。频率:20Hz&mdash 20k4、检波器特性:真有效值、峰值因素&ge 10  5、时间计权:F(快)、S(慢)、最大值保持  6、量程分档设置:最大动态范围70dB,自动指示超量程与欠量程。  量程1:5dB~75dB  量程2:35dB~105dB(参考量程)  量程3:55dB~125dB  量程4:75dB~145dB  7、自动测量功能:Leq、LAE、SD、Lmin、L95、L90、L50、L10、L5、Lmax、1/3及1/1频谱分析(外接滤波器)、混响时间T60、Lepn有效感觉噪声级(通讯软件)等数组,自动采集存储打印。  8、测量时间选择与时钟:Man(人工定时)、10S、1min、5min、10min、20min、30min、1h、8h、24h及时钟:年、月、日、时、分、秒  9、输出接口:  交流端口:最大有效值约7V,输出阻抗600&Omega   直流端口:0.25V~1.35V,0.1V/10dB  串行接口:RS232C  10、显示:40mm× 70mm大屏幕液晶数显4位LCD,分辨率0.1dB  11、校准:I型声级校准器或活塞发声器  12、精度:符合IEC60804或GB/T17181标准I型  13、电源:5&mdash 8V,5节LR6型高能碱性电池,并设有外接电源输入插孔  14、外形尺寸:310mm× 85mm× 70mm  15、重量:680g  16、工作环境:操作温度:&mdash 10℃~50℃  相对湿度:20%~90%RH  大气压:86kPa~106kPa 联系电话:
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  • 4600A型二次电池自动测试系统的设计理念是高性价比。该系统用于测试单体电池,价格经济但具有很高的性能。4600A配有测试电脑和软件,对用户来说是交钥匙系统,买来就能使用。4600A使用MACCOR标准测试软件,同时使用MACCOR在4000系列自动测试系统上研发的高精测试技术,因此4600A是目前用来做测试标准的理想产品。在测试过程中,用户可以自定义数据采集时间间隔,并且随时都能查看数据和输出数据制表制图。软件可以被设置成自动向公司数据库中加入关键测试数据,此外,软件也提供用户数据处理界面或用户界面选项。4600A配有MACCOR独创的凤凰式插座,可以非常方便的连接电缆或电池。每个桌面机箱配有32个测试位置,一个测试系统可以包含多个测试机箱。 标准特点和功能1. 可以测试各种尺寸和各种材料的电池2. 易于升级,对用户而言花费较少而测试能力倍增3. 容易使用,减少人工4. 可根据用户不用需求而定制5. 可以满足多种测试需要6. 每个测试通道可独立操作7. 用户可以编程实现恒流,恒压,恒电阻,恒功率测试8. MIMS提供不同类型的图表可以使得数据易于查看,不同的图表可以同时显示,并能将显示设置保存成模板。不同类型的测试数据可以在一张图表上覆盖显示,也可以并排显示。 规格说明电流量程:参考注释1电流精度:±0.05%满量程注释:电流量程可从下列选择:3.75A, 2.5A, 1A, 500mA, 250mA, 150mA, 20mA。每个电流量程可以配32个通道,但是所有通道只能选择一个电流量程。恒流模式初始时间电流超过满量程1%时:小于5mS注释:在恒压模式下,电流会逐渐减弱到满量程0.05%的噪声水平。电压测量范围:0-5V最小放电电压:0.2V或0.35*电流,以数值大的为准电压精度:± 0.05%满量程操作模式:恒流,恒功率,恒电阻,恒压,固定1KHZ交流阻抗测量时间最小工步时间:500mS控制,测量和调节:均为50mS
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  • IMAG像增强管自动测试系统图1 IMAG-A测试系统外观图自动化重要性像增强管是夜视设备中最重要的模块。它们由少数制造商大量生产(每年几十万)。像管通常在两个层面进行测试:1)裸管(包括小型化高压电源的电压优化),2)封装管(模块)。像管通常用4~5个独立的手动测试系统进行测试。用人力进行测试一定因素上限制了制造像管速度(测量一系列参数所需的时间)。这种手动主观的测试方法降低了像管参数测量的重复性和准确性,也增加了制造成本(至少5-6人组成的测试团队的工资)。Inframet是像管测试设备领域的全球领导者。基础的ITIP测试系统被世界上大多数像管制造商的研发团队使用。ITIP是计算机化的测试系统,可以测量像管几乎所有的重要参数,但仍然是需要人工操作的测试系统,需要训练有素的操作员。此外,对单个像管进行全面测试需要较长的时间。因此ITIP对于研发部门来说是合适的解决方案,但对于制造部门来说并不是最优的。产品介绍IMAG是针对像管生产部门优化的一种新型像管自动测试系统。该系统由一组4个半独立的自动工位的构建,和将测试管在工位间移动的机械子系统合作。IMAG系统可以24小时工作,只需要操作员接受最低限度的培训(置入待测的新管)。据估计,与手动操作的测试系统的经典方法相比,IMAG可以将测试速度提高至少5倍,因为需要更少的测试团队,IMAG还降低了成本。主要特点&bull 自动测试,只需极少操作员&bull 快速测量,像管全参数测量约为25min&bull 全面测试17个参数&bull 能够测试高达120lp/mm的高分辨率像管&bull 改进的测量不确定度(7%)&bull 分辨率重复性3%&bull 测试报告兼容ISO/IEC17025版本配置IMAG测试系统可提供三种不同设计和测试能力的基本版本选择:IMAG-A: 自动测试封装管IMAG-A+:自动测试封装管,手动测试裸管部分参数IMAG-B:自动测试封装管和裸管工作原理IMAG-A系统:从设计角度来看,IMAG-A由4个模块(IMAG1、IMAG2、IMAG3、IMAG4)组成。每个模块都是专门为一组参数设计的。像管在模块之间自动传输,以便通过管道传输器测量所有参数。无需操作员手动移动,只需将已装入容器的IIT装入管输入存储器。测试系统从弹匣中取出试管,测试后放回原位。IMAG-A的结构图如下图所示。每个模块由三个主要模块组成:一组图像投影仪、一组测量工具和计算机系统。投影仪将一些标准目标的图像投射到精确控制光通量的管光电阴极平面上。测量工具可以捕获被测II管输出图像的图像,并测量管屏幕上的输出光强。计算机系统对来自投影块和测量工具的数据进行处理,最后计算出被测像管的参数。模块分为以下几组:1. SNR:信噪比的测量,200um针孔2. 图像质量:测量分辨率,MTF,图像对齐和光电阴级与MCP的距离3. 屏幕质量:测量有效阴极直径,多模式噪声,多边界噪声,放大率,暗点,亮点,图像翻转4. 光度测量:测量亮度增益,EBI,最大输出亮度(MOB),电流消耗。IMAG-A+系统:该系统可以被视为IMAG-A系统的最小修改版本,可以对裸像增强管进行额外的手动光电阴极测试(测量光灵敏度和辐射灵敏度)。通过使用额外的手动操作的IMAG5模块来实现。结构图及外观如下图。IMAG-B系统:此版本可以自动测试封装管和裸管。这种扩展的测试能力是通过对原有IMAG-A系统进行以下更改实现的:1. 新的管输送机,既可以输送封装管,也可以输送裸管。2. 增加了一套专门的适配器,使裸管与高压电源连接。3. 增加HVP142C高压电源,使裸管所有通道通电。4. IMAG4模块升级为IMAG4EX版本,可以进行额外的光电阴极测试。注意:1. 裸机像管的机械尺寸和供电没有标准化,因此买家必须提供测试裸管的详细信息。2. 由于增加了安全调节高压的时间,自动裸管测试时间比标准IMAG-A版本略长。3. 在一个测量系列中只能测试一种类型的裸管。4. 操作员负责将裸管的电极连接到专用适配器的引脚上。在某些情况下可以半自动操作。光源:MIL标准建议使用2856K色温的校准钨丝灯作为辐射源。开发可靠、长寿命、2856K色温、能在大范围调节光强的钨丝光源技术较为困难,市场上提供的测试夜视设备的测试系统用单个单色LED光源构建。这些测试系统被校准为模拟特定类型的像管的2856K色温光源,通常是拍摄的第3代。当测试不同类型的像管时,测量精度会显着下降。IMAG测试系统采用更先进的理念建设,采用两种光源可在两种模式下工作:a) 2856K色温卤素灯泡光源;b)单色LED光源。光度参数测量时使用卤素光源;测量成像参数用单色LED光源。因此,IMAG系统可以精确测量所有类型设备的光度参数(如亮度增益,信噪比)。测试参数封装管:IMAG测试系统专为自动测试标准光电阴极尺寸(16/18/25mm)的典型磷光剂(P43, P45, P20)和任何一代(2,2+,3,3+,4)的封装管而设计。 裸管:和封装管相同。校准常规再校准周期为2年。IMAG可以使用CALIN校准套件在现场重新校准。不需要送回原厂进行检查。测试参数IMAG测试系统可测量(或检查)以下参数:序号模块参数测量范围相对不确定度1IMAG1SNR10-35 在 0.108 mlx8%2IMAG2分辨率4-120 lp/mm3%3MTF0-60 lp/mm0.010 在 0-10 lp/mm0.015 在 10-20 lp/mm0.025 在 20-30 lp/mm0.030 在 30-40 lp/mm0.040 在 40-50 lp/mm0.048 在 50-60 lp/mm4图像对齐0-1.5 mm10% 或 10m5Halo光电阴级与MCP的距离0.2-1.5mm10%6IMAG3有效阴极直径10-25 mm2%7多模式噪声0-20%10%8多边界模式噪声0-30%10%9暗点0.05 到 0.5 mm12%光斑:75µ m~150µ m8%光斑:151µ m~500µ m10放大率1 到 44%11输出亮度0.3-20 cd/m^25%12图像翻转0.1º -5º 0.2º (绝对值)13亮度非均匀性1:1 到 5:17%14IMAG4亮度增益1000到100 0008%15EBI0.02-2lx10%16最大输出亮度0.3-20 cd/m^24%17像管电流消耗1-100 mA1% 或 0.3mA18IMAG5或 IMAG4EX光电阴极光灵敏度200 到 2000 uA/lm7%19光电阴极辐射灵敏度10 到 100 mA/W7%条件:1. 客户提供测试裸管的详细机械/电气图纸。2. 封装管的种类不受限制。测试裸管适配器的最大数量为两个。测试所需时间IMAG-A:对于封装管,测量在25分钟内完成。可以同时测试四个像管,每小时12个。如果不需要所有参数,可以缩短测试序列。封装管的所需时间表如下所示:序号模块种类测试时间 [min]1IMAG1-IPSNR42IMAG2-IP图像质量53IMAG3-IP屏幕质量64IMAG4-IP光度测量5测量全序列20每个像管总时间5IMAG-A+:封装管与IMAG-A版本相同。裸管约45min/个。测量在单个模块上手动执行。IMAG-B:封装管:与标准版相同。裸管约30min/个,可同时测试四个像管,每小时8个。如果不需要所有参数,可以缩短测试序列。封装管的所需时间表如下所示:序号模块种类测试时间 [min]1IMAG1-IPSNR62IMAG2-IP图像质量73IMAG3-IP屏幕质量84IMAG4-EX光度/光电阴极9测量全序列30每个像管总时间8注意:需要额外的时间来正确连接裸管引脚和专门的适配器。IMAG测试系统与普通的ITIP测试系统的比较IMAG和ITIP测试系统的主要区别在于测试的像管量。ITIP是手动操作的相同,操作者需要为测量设置像管,为待测参数选择合适的工具,确保投影仪和相机正确对焦,并通过测量软件导航。这需要花费大量的时间。一般来说,训练有素的观察者每次测试所有参数大约需要45分钟。IMAG将时间缩短了一半,只需25分钟。这意味着可以测试的数量增加了一倍。此外由于完全自动化,操作人员不受测试过程的束缚,可以自由地执行其他任务。对于ITIP来说,操作员需要在整个45分钟的过程中执行各种任务,IMAG不需要训练有素的观察者来执行测量,操作员的参与度小。即使是中等数量的像管,这也显著降低了人工成本。 测量过程自动化的额外好处是增加了测量的可重复性。从测量中消除了人为影响,始终以相同的方式进行测试,并且可以随时重新测试。通过保持测量条件不变,很容易检查被测参数的时间变化。计算机在执行平凡的任务方面表现出色,比如选择目标的边缘。与人工测量相比,提高了精度并改善了不确定性。市场情况IMAG代表了测试图像增强管的新一代系统。目前国际市场上还没有类似的测试系统。这一新系统提高了Inframet在iit测试设备领域的世界领先地位。
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    pH值自动测试工作站产品介绍:实现对pH值测试项目的全流程自动化检测,采用智能机器人、传感器等先进技术,全自动操作流程,提高工作效率,提升检验机构自动化水平,实现健康检验。应用领域:纺织品;合作客户:Intertek天祥、必维… 功能介绍:1、大:一天可检测108个样品,相当于3人工作量2、稳:设备运行稳定,采集数据稳定,工作状态稳定3、微:机械臂精准到0.01MM,加液、移液精准到0.1ML,pH值精准到小数点后三位4、智:强大的数据分析能力,可以对下一工作提供预计时间5、灵:适合市场上大部分的检测标准,满足各应用场所6、小:模块化设计,对现有实验改造较小强大的系统分析功能:如需观看产品作业视频,请来电咨询创新点:1、pH值智能化测试工作站采用机械臂、自动控制等先进技术,实现对pH值测试项目的全流程自动化检测。检测流程包含加液、摇床、取液、测试、清洗、样品数据导入导出、QC检测、线性校准等多个自动化模块,有效提高工作效率,实现检测数据全流程可追溯,提升检验机构自动化水平,实现高效无误检验。2、基于样机基础上,我们将单机械臂改为双机械臂,提高了使用操作的灵活性,整机的效率也大幅度提高。3、围绕不断提高实验室的检测效率、产能、缩短测试周期、减少人工参与及流动对检测过程带来的不稳定因素,从而规范其检测结果的重现性、稳定性以及合规性。 pH值自动测试工作站
  • 快速灵活强大丨HPROBE 磁性自动测试设备 开启晶圆测试新纪元
    在全球半导体产业高速发展的今天,中国正以其前瞻性的战略布局和政策支持,推动国内半导体行业的跨越式发展。随着物联网、大数据和人工智能驱动的新计算时代的发展,我国对半导体器件的需求日益增长,对器件可靠性与性能指标的要求也越发严格。晶圆测试:质量与效率的保障 晶圆测试是半导体制造过程中不可或缺的一步,它能够确保芯片在制造过程中的每一个阶段都能达到设计规格和性能要求。自动化和高精度的测试设备可以显著提高测试速度,缩短生产周期;通过精确检测,确保每一片晶圆的可靠性和一致性,降低不良品率;有效的测试可以减少返工和废品,从而降低生产成本。 在晶圆测试中,磁性器件需要在磁场扫描下测试,而传统的设备和方法较为耗时,会增加芯片的制造成本。在晶圆上方以高扫速改变磁场是工业化大批量生产正面临的挑战,今天要为大家介绍的Hprobe 磁性自动测试设备,其专利的磁场发生器技术,可以完美应对这项挑战。Hprobe 磁性自动测试设备 Hprobe 磁性自动测试设备是通过实现每个器件的快速测试时间,以更高的通量对晶圆在磁场下进行电探测。其专利技术3D磁场发生器和Hcoil-2T磁场发生器,能够满足大规模生产中对晶圆级电子探测的要求,独特设计的磁场发生器通过电源供电和空气冷却,不需要复杂的液体冷却。快速:更高的磁扫率,每秒高达10000件样品,实现高通量测试,并与批量生产的测试时间相匹配。灵活:具有独立可控空间轴的三维磁场,用于垂直和平面磁场的任意组合。强大:单一方向的超高强度磁场,结合更快的扫描速度,可在20微秒内达到2特斯拉。 Hprobe 磁性自动测试设备使用100-300mm自动晶圆探针台。集成了磁场发生器的测试头被置于晶圆探针台上。测试设备与以下自动探针台兼容:TEL (Tokyo Electron Limited)、ACCRETECH、Electroglas。技术原理 1、三维磁场发生器:三维磁场发生器能够产生三维磁场,其中每个空间轴可被独立驱动。该发生器具有多种组态,可在特定的1D、2D或3D方向上更大化磁场强度或表面覆盖。磁场的扫描速率在场强和角度上是可控的,扫描速率可达每秒10000件样品。 2、Hcoil-2T 磁场发生器:Hcoil-2T 磁场发生器是一种创新性的超紧凑型技术,能够以更快的扫描速度在单一方向产生超强磁场。利用这项技术,可以在不到20微秒的时间内达到±2特斯拉磁场。主要特点平面内和垂直方向的高磁场强度磁场的三维控制场强和角度扫描(旋转场)嵌入式校准传感器自动化测试程序MRAM参数提取软件可用于100至300 mm晶圆与标准探针卡兼容完整且可定制的软件,可创建测试序列和自动探测空气冷却测试设备1、测试头:磁场发生器集成在测试头中,后者被安装在自动晶圆探针台上,与单个直流或射频探针和探针卡兼容。 2、仪表架:测试设备使用高端控制和传感设备。测试设备的仪器组态可以按照用户需求而配置。3、磁场校准套件:磁场发生器配有磁场校准组件,由三维磁传感器和自动定位系统组成,用于在与被测设备完全相同的位置校准磁场。 4、软件:带图形用户界面GUI(graphical user interface)的软件,用于磁场的生成、校准,以及MRAM和磁传感器的自动化电测量。软件还包括晶圆厂自动化和生产控制功能。IBEX平台(用于MRAM测试) IBEX平台与200毫米和300毫米自动晶圆探针台兼容,专用于测试MRAM磁性隧道结,以及基于自旋转移矩(STT-MRAM)、自旋轨道矩(SOT-MRAM)和电压控制(VC-MRAM)技术的位单元。该系统能够在快速可变磁场和超窄脉冲信号下进行高通量测试。1、IBEX-P MRAM参数测试 IBEX-P系统以单通道或多通道配置运行,测试结构中包含过程控制和监控(PCM),因而可用于晶圆验收测试(WAT)时生产产量的统计过程控制(SPC)。 IBEX使用Hprobe的带有图形用户界面的专用一站式软件,既可在研发环节中手动操作,又可在全自动晶圆厂中自动操作。该软件包括专用于MRAM器件的更优化生产测试程序。 该系统采用Hprobe的磁场发生器专利技术,将磁场发生器集成到测试头中,后者安装在晶圆探针台上。 该测试设备由精选高端仪器驱动, 从而以更快的测试时间来表征MRAM磁性隧道结或位单元。涉及的仪器包括Keysight、Tektronix和NI等品牌,并使用Hprobe的专有构架模块集成。2、IBEX-F功能测试 IBEX-F系统专用于测试位阵列和片上系统(SoC)嵌入式MRAM存储器。 测试系统以单点或多点配置运行,用于MRAM阵列的表征和测试。其目的是进行产品开发、验证和鉴定,并转入生产。它还可用于嵌入式MRAM器件的大规模生产环境,在后端(BEOL)过程中进行芯片探测(CP)的筛选和分级。 该测试设备由精选高端仪器驱动,从而以更快的测试时间来表征MRAM磁隧道结或位单元。涉及的仪器包括Keysight、Tektronix和NI等品牌,并使用Hprobe的专有构架模块集成。关于MRAM 测试 与传统采用电荷存储数据的半导体存储器不同,MRAM(磁阻随机存取存储器)是一种非易失性存储器,使用磁化(例如电子自旋)方向来存储数据位。 与现有的半导体技术相比,MRAM具有许多优点,因为它本质上是非易失性的(例如,当电源切断时能够保存数据),同时还表现出非常好的耐久性(例如读/写周期数)和较低的运行功率。全新一代的MRAM为pSTT-MRAM(垂直自旋转移矩随机存取存储器),已被业界选择取代28/22nm以下技术节点的嵌入式闪存,目前各大半导体代工厂均可提供该产品。LINX 平台(用于传感器测试) LINX平台与200mm和300mm自动晶圆探针台兼容,用于测试基于xMR(磁阻)和霍尔效应技术的磁性传感器。该系统能够在静态和快速变化的磁场下进行测试,磁场在空间任何方向可控。LINX-1–磁性传感器测试仪 LINX-1测试仪专用于磁性传感器芯片的晶圆级分选。 该产品使用Hprobes的带有图形用户界面的专用一站式软件,以单通道或多通道配置来生成和校准磁场,包括静态或动态模式下优化的磁场生成模式。该系统具有可编程功能,可与用户的测试平台集成。 LINX-1采用Hprobe专有的磁场发生器技术,与3轴自动化测试头集成。它可以使用手动或自动加载的探针卡进行操作。 磁场的产生由高性能仪器驱动,以实现稳定的静态磁场或高扫描率的可变场。 仪器组包括Keysight、Tektronix和NI等品牌,并使用Hprobe的专有构架模块集成。关于传感器测试 磁性传感器检测由磁铁或电流产生的磁场和地磁场的强度。它们将磁场或磁编码信息转换成电信号,供电子电路处理。磁性传感器正变得越来越流行,因为它们可以用于多种应用场合,如传感位置、速度或运动方向。磁性传感器有以下几种类型: 霍尔效应传感器 霍尔效应传感器由半导体衬底上的条形载流导体构成,当置于磁通量中时,通过霍尔效应产生垂直于电流方向的电压。霍尔效应传感器被广泛应用于汽车和工业领域。AMR传感器 各向异性磁阻(AMR)传感器由条形或带状磁性各向异性材料组成,其等效电阻与磁化方向和导电方向的夹角有关。与其他磁电阻传感器相比,AMR传感器具有相对较低的磁电阻(MR)率。它们被用于工业、商业和空间技术,作为位移或角度传感器以及地磁场传感器。GMR传感器 巨磁阻(GMR)传感器具有三明治结构,由被界面导电层隔开的磁性薄膜组成。该传感器有两种电阻状态:当两个磁性层磁化方向平行时,器件为低阻态;而当两个磁性层磁化方向相反时,器件为高阻态。GMR传感器是一种温度稳定性好的精密磁场传感器。它们已被广泛应用于硬盘驱动器(HDD)行业以及工业应用中。TMR传感器 隧道磁阻(TMR)传感器由被隧穿势垒层分离的铁磁多层膜组成。TMR器件的电阻与两铁磁层磁化方向的夹角有关。与其它种类的磁场传感器相比,TMR传感器具有更好的信噪比、更高的精度、以及更低的功耗。TMR传感器在温度和寿命方面具有可靠稳定的性能。因此,TMR传感器在要求苛刻的应用中是首选。 关于Hprobe 法国Hprobe公司成立于2017年,总部位于具有“法国硅谷”的美誉格勒诺布尔,是SPINTEC(全球领先的自旋电子学研究实验室之一)的一家衍生公司。 法国Hprobe基于独有的三维磁场发生器等专利技术,致力于为磁性器件和传感器的晶圆级表征和测试提供系统解决方案。目前产品提供的服务内容涵盖磁技术开发所有阶段,能针对性的为MRAM(STT、SOT、VCMA)和磁性传感器(TMR、GMR等)进行表征和测试提供专用设备和服务。 依托投资方的自身优势,普瑞亿科半导体事业部聚焦国内半导体产业工艺发展,与Hprobe协力打造国内领先的晶圆级表征和测试系统解决方案,致力于为中国半导体行业客户提供研究级和生产级的MRAM和磁检测解决方案和服务支持。

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  • 电子测量仪器及自动测试系统的新概念和新趋势

    [color=#333333]电子测量仪器及自动测试系统的新概念和新趋势[/color][color=#333333]进入21 世纪以来,科学技术的发展已难以用日新月异来描述。新工艺、新材料、新的制造技术催生了新的一代电子元器件,同时也促使电子测量技术和电子测量仪器产生了新概念和新发展趋势。本文拟从现代电子测量仪器发展的三个明显特点入手,进而介绍下一代自动测试系统的概念和基本技术,引入合成仪器的概念,以供读者参考。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333] 现代电子测量仪器的发展趋势[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  仪器性能更加优异[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  仪器的性能更加优异,测量功能更加强大,仪器的测量精度,测试灵敏度,测量的动态范围等都达到了前所未有的高度。例如,Agilent 公司的PSA 频谱分析仪的测量灵敏度高达—169dBm(接近物理界热噪声—174dBm) , PNA 网络分析仪的动态范围高达143dB , Agilent 83453A 高分辨率分光计分辨带宽=0.0001nm(亚皮米) (突破皮米分辨带宽的壁垒) ,Agilent 86107A 精密时基参考模块,对小于100ns 的时延,抖动为1.7ps RMS( 突破皮秒抖动瓶颈) ,DSO80000系列的示波 [/color][color=#333333][/color][color=#333333]器, 其单一A/D 芯片具有20GSa/s 实时高采样率,使之成为世界上采样率最快的示波器(40GSa/s 实时采样率,13GHz 带宽) 。另外,更多强大的测量功能被赋予单台仪表中,如Agilent 公司的8960系列无线综合测试仪(集移动手机和基站的射频测试与协议测试于一身) ; ESG/PSG矢量信号源可以灵活产生包括连续波/调幅/调频/调相/脉冲调制,全制式通信协议( GSM/EDGE/WCDMA/TD2SCDMA/CDMAOne/CDMA2000/CDMA20001X2EV/蓝牙/WLAN/PHS/PDC/NADC/DECT/TETRA等) ,任意波形及用于今后的其他信号;MSO 混合信号示波器(2/4 个模拟测量通道+16 个逻辑分析通道) 使单台仪器同时具备示波器和逻辑分析仪的功能; Infiniium示波器内装VSA 矢量信号分析软件后也成为世界上测量分析带宽最宽的矢量信号分析仪。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  仪器与计算机融为一体[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  仪器和计算机技术的前所未有的融合。首先,越来越多的仪器选用以Windows 软件和Intel 芯片为平台,采用Windows GUI 和基于军用标准的软件,用Windows 软件代替仪器内部操作软件,并易于与MS办公室应用软件连接,充分发挥其效能,如Agilent公司的仪器可用Word 语言捕获屏幕图像,用Excel语言绘制的波形数据,用Excel 语言捕获测量数据,易于自由地从互联网下载和升级最新的软件版本,利用Windows Help 提高了仪器操作学习的方便性;同时,触摸屏被广泛利用,话音控制可解决双手同时被占用时操作仪器的问题,通过网络控制仪器操作,并用基于MS Windows 和MS Visual Studio 实现测试自动化;另外,仪器内部的VBA 软件可有效地帮助实现生产过程中的测试自动化[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  其次,由于计算机技术被大量应用到仪器之中,使得仪器具备了更加先进的连通性,如Agilent 公司的仪器大都具备采用了USB 接口,LAN 接口,GPIB 接口。同时,也安装了标准光标指示器(鼠标、跟踪球、触摸键、操纵杆等)和其他部件(键盘、CD RW 驱动器、直接连结打印机的并行接口,用于外部监视器的VGA 输出,内部硬盘驱动器等) 。特别值得一提的是,在军工等特殊行业,测试数据的安全性和保密性要求格外重要,为此,Agilent 公司在仪器上设计了可卸出的硬盘(如PNA 矢量网络分析仪和Infiniium 示波器) ,使工作人员在实验室完成测试任务后,卸出硬盘,单独运输仪器至测试现场(如战地) ,再由操作人员取出随身携带的硬盘装入仪器,再进行现场测量,从而保证了数据的安全性和保密性。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  测试及仿真软件在仪器中广泛应用[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  随着计算机的运算速度和处理数据能力的不断增加,及计算机仿真技术的广泛应用,仪器的硬件和测试软件及仿真软件的结合越来越紧密。首先,硬件的模块化设计,使得通过不同的硬件模块组合配以不同的软件,从而形成不同功能的仪器和不同的测试解决方案,如Agilent 公司的DAC-J 宽带示波器86100C ,通过插入不同的模块并配以不同软件,该仪器可成为抖动分析仪,宽带示波器,数字通信分析仪,时域反射分析仪;此外,VXI 结构的测试仪器更加充分地解释了模块化结构仪器的灵活配置和应用。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  其次,软件无线电的概念已有了全新的解释和现实的应用,Agilent 公司的89601A 矢量分析软件是实现这一理念的最好例证,它利用计算机强大的数学运算和数据处理能力将大量的数字信号处理功能和数据分析功能充分展现在计算机软件之中,通过与不同的数据采集前端(如VXI 结构的矢量信号分析仪,频谱分析仪, Infiniium 数字示波器) 相结合,组合出不同功能的矢量信号分析仪。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333] 同时,其捕获的信号和数据分析的结果可以作为EDA 仿真软件(如Agilent 公司的ADS 高级设计仿真软件) 的数据输入来源,用于驱动ADS 高级设计仿真软件进行部件及系统级仿真;并且,ADS 高级设计仿真软件的仿真结果可送入Agilent 公司的ESG/PSG矢量信号源产生出信号通过VSA 矢量信号分析仪的捕获和分析,反过来可进行产品设计与真实产品之间的数据验证,即实现设计、仿真、测量和验证的有机结合。以Agilent ADS 高级设计仿真软件为代表的EDA 软件,通过与Agilent 公司测试仪器(包括:频谱分析仪,网络分析仪,信号源,示波器,逻辑分析仪等) 的动态链接,从而实现了测量域与仿真域的有机结合,在设计、仿真和验证之间架起了桥梁,从而加速设计,提高设计质量,完善系统及部件的半实物仿真手段,达到迅速拓展满足需要的测量解决方案的目的。 [/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  自动测试系统的发展历史和现状[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  随着测量仪器功能的不断提高和完善, [/color][color=#333333][/color][color=#333333]与其相关的自动测试系统(特别是军用ATS 测试系统) 的组建与发展也经历了从台式仪器ATS 系统到卡式仪器ATS 系统,从卡式仪器ATS 系统到卡式仪器与台式仪器混合的ATS 系统的发展过程。到目前为止,VXI 结构的仪器(主要对于大通道数的数字信号测量) 与GPIB 标准的台式仪器(主要对于性能要求严格的射频/微波信号测量) 相结合组建ATS 测试系统已成为军用ATS 测试系统普遍遵从的主流原则和典范。这与以美国为代表的军工用户在90年代提倡的采用COTS(Commercial Off-the-Shelf) 流行商用仪器来构建军用ATS 测试系统有很大关系,它可以极大地降低整个测试系统的组建、开发、维护、替换和升级的成本。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  但是,由于军工行业系统研制周期和认证周期相对较长,系统维护和需要支持的周期通常在10年至20年,而民用科技的发展日新月异,流行商用仪器的更新速度越来越快,一些COTS产品在军工行业被大规模全面使用之前就已废型和停产,对于已定型的测试系统的维护和支持成为军工客户面临的最大问题,特别是那些基于特定硬件而开发的测试软件(TPS) 的维护、支持和更新更是面临巨大的挑战。这一点在中国的客户群中也遇到了同样的问题。如何实现硬件的可互换性和软件的可互操作性成为保证整个系统生命力和生命周期的关键。与此同时,军用ATS 测试系统还要满足其可靠性、机动性和灵活性的要求,并尽可能地降低开发、维护的成本,节省人力资源,改进硬件的现场替换效率和维修中心替换效率,改进武器系统快速应对地区乃至全球支持的战略要求。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  下一代的自动测试系统[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  下一代测试技术及测试系统的标准[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  以美国为首的用户和仪器厂商近一年以来提出了一种新的测试仪器理念和技术以解决COTS 仪器带来的问题,并同时满足未来测试系统的发展要求。该技术称之为NxTest ,它就是基于LAN 的模块化合成仪器(Synthetic Instrument) 。安捷伦科技公司和VXI Technology 公司于2004年9 月为自动测试系统推出基于LAN 的下一代模块化平台标准化- LXI。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI (仪器的LAN 扩展) 不仅提供了机架和堆叠式仪器的嵌入式测量技术和PC 标准I/O 连接能力,还实现了基于插卡式仪器的系统的模块化特点并减小了体积。对于为航空/国防、汽车、工业、医疗和消费电子市场开发电子产品的研发和制造工程师来说,LXI 紧凑灵活的封装、高速输入/输出和可靠的测量功能有效地满足了他们的需求。VXI 总线为所有高密度高速度应用提供了理想的标准,LXI 则同时融合了VXI 和以太网的优势,为用户提供了一个良好的高性能仪器平台,满足VXI 通常没有满足的应用需求。LXI 基于LAN 的结构为例,为在航空和国防行业中长寿命仪器的实现奠定了基础。LXI 没有带宽、软件或计算机底板结构限制。它可以利用日益提高的以太网吞吐量,为面临下一代自动测试系统挑战的工程师提供理想的解决方案。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI 标准将由LXI 协会负责管理。LXI 协会是一家由主要测试测量公司组成的非营利机构。该集团的目标是开发、支持和推广LXI 标准。安捷伦科技公司和VXI Technology 公司利用其拥有悠久历史的模块化仪器设计,推出LXI 平台,这是测试系统使用的开放式标准仪器发展中必然的可行一步。由于几乎每台电脑中都内置了以太网(LAN) ,以太网已经成为业界广泛认同的通信接口。互联网硬件价格正不断下降,速度正不断提高,局域网提供了其它点到点接口标准中没有提供的对等通信。测试和测量工程师日益认识到使用高速局域网替代专有测试测量接口(如GPIB) 的好处,业内需要更低成本、更高带宽和更快的数据传送速率,这给专有测试测量接口提出了挑战。 [/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI 测试测量模块是为用于设计检验或制造测试系统而优化的。连接局域网的能力使得各模块可以装在世界上任何地方,并从世界上任何地方访问模块。与采用昂贵电源、底板、控制器和MXI 卡和电缆的模块化组件不同,LXI 模块自带处理器、局域网连接、电源和触发输入。LXI 模块可以采用全宽或半宽,高度为一个机架单位或两个机架单位,实现了非常简便的混配功能。信号输入和输出位于正面,局域网和输入交流电源则位于每个LXI 模块的背面。LXI 模块由计算机控制, 不要求传统机架和堆叠式仪器配备的显示器、按钮和拨号装置。LXI模块采用标准网络浏览器诊断问题,使用IVI-COM驱动程序进行通信,简化了系统集成。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LXI 仪器的特点[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333] LXI 仪器具备了以下五大特点:[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](1) 开放式工业标准[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]LAN 和AC 电源是业界最稳定和生命周期最长的开放式工业标准,也由于其开发成本低廉,使得各厂商很容易将现有的仪器产品移植到该LAN-Based仪器平台 [/color][color=#333333][/color][color=#333333]上来。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](2) 向后兼容性[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  因为LAN-Based 模块只占1/2 的标准机柜宽度,体积上比可扩展式(VXI/PXI) 仪器更小。同时,升级现有的ATS 不需重新配置,并允许扩展为大型卡式仪器(VXI/PXI) 系统。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](3) 成本低廉[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  在满足军用和民用客户要求的同时,保有现存台式仪器的核心技术, 结合最新科技, 保证新的LAN-based 模块的成本低于相应的台式仪器和VXI/PXI 仪器。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](4) 互操作性[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  作为合成仪器(Synthetic Instruments) 模块,只需30~40种左右的通用模块即可解决军用客户的主要测试需求。如此相对较少的模块种类,可以高效且灵活地组合成面向目标服务的各种测试单元,从而彻底降低ATS 系统的体积,提高系统的机动性和灵活性。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333](5) 新技术及时方便的引入 [/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  由于这些模块具备完备的I/O 定义文档(由军标定义) ,所以,模块和系统的升级仅需核实新技术是否涵盖其替代产品的全部功能。如此看来,合成仪器(Synthetic Systems) 将实现下述五大目标: ①非常长的产品和系统支持周期,应用软件将不再依赖于特定的硬件。②很小的系统体积,仪器不包含多余的显示、输入和其它美学设计部分。③应用清晰明确,仪器界面一致,升级快捷方便。④系统生命周期与产品生命周期保持一致。⑤供应商独立,测量硬件与测量技术没有直接联系。[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  展望未来[/color][color=#333333][/color][color=#333333][/color][color=#333333]  综上所述,21 世纪的电子测量仪器随着芯片技术和DSP 技术的发展将达到前所未有的高性能,随着计算机技术与仪器的进一步融合, 仪器的易操作性,易升级性,测量能力,数据处理和分析能力,都得到了大幅度提高。与此同时,软件无线电正越来越多地被应用到各个领域, 仿真技术将为用户的设计和验证提供了更加强大和方便的工具。自动测试系统经历了从GPIB 系统到VXI 系统,从VXI 系统到VXI 与GPIB 混合系统的发展历程, 越来越多的军工用户希望拥有一种长寿命且高性能的系统标准体系来承担日益复杂的测试压力和维护成本的压力,面对未来的挑战,LXI 仪器将在继承现有测试技术的基础之上,为下一代测试技术和测试仪器,特别是ATS 测试系统的革新带来新的希望。[/color][color=#333333] [/color]

  • LCR 自动测试系统NSAT-5000

    [font=&][size=13px][color=#888888]*测试仪器:LCR数字电桥、绝缘电阻测试仪、绝缘耐压测试仪、直流电源[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#888888]*被测产品:电阻、电容、电感[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#888888]*测试项目:电感值、电容值、损耗角正切、漏电流、内阻、ESR等效串联电阻、阻抗、电阻值[/color][/size][/font][font=&][size=13px][color=#888888][b]1.系统优势[/b]可以实现对电容值、损耗正切角、漏电流、内阻、阻抗以及ESR的自动化测试。电容值、损耗正切角、漏电流、内阻、阻抗以及ESR在被测试过程中的数据进行实时采集和显示。系统中测试参数的配置可根据测试项目的不同进行相应的设置。自动生成测试报告,用户可根据需要定制报告模板。[b]2.系统概述[/b]系统控制测试终端为LCR数字电桥、绝缘电阻测试仪、绝缘耐压测试仪、直流电源。系统的被测产品为电容、电阻、电感。系统电容的测试项目有电容值、损耗正切角、漏电流、内阻、阻抗以及ESR;电阻的阻值;电感的电感值。[b]3.兼容仪器[/b][/color][/size][/font][align=center][img=测试仪器.png,700,200]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6373663171985921061311855.png[/img][/align][b][font=微软雅黑, &][size=14px][font=微软雅黑]4.被测产品及测试项目[/font][/size][/font][/b][align=center][img=电容电阻电感测试项目图.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6371166068490950051909981.png[/img][/align][font=微软雅黑, &][size=14px][b]5.系统流程图[/b][/size][/font][font=微软雅黑, &][size=14px][b] [/b][/size][/font][align=center][img=LCR 自动测试系统软件流程图.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6371166069776887553105944.png[/img][/align][font=微软雅黑, &][size=14px][b]6.系统界面[/b][/size][/font][align=center][img=LCR测试系统界面,800,442]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6373663191262483568854890.jpg[/img][/align][b][font=微软雅黑, &][size=14px]7.应用场景[/size][/font][font=微软雅黑, &][size=14px] [/size][/font][/b][font=&][size=13px][color=#888888][/color][/size][/font][align=center][img=场景部署.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6373887795149983567045209.png[/img][/align]

  • 射频无源器件自动测试系统NSAT-1000

    * 测试仪器:矢量网络分析仪* 被测产品:射频连接器、射频线缆、滤波器、功分器、天线、放大器、衰减器、混频器、耦合器、屏蔽材料、石墨烯* 测试项目:S参数、增益、损耗、阻抗、平坦度、隔离度、驻波、介电常数等[b][font=微软雅黑,][font=微软雅黑,][font=微软雅黑,]1. [/font][b][font=微软雅黑,]系统优势[/font][/b][/font][b][/b][/font][/b][font=微软雅黑,]改进传统测试工序复杂、测试合格率不稳定的问题[/font][font=微软雅黑,]一键完成各类测试,自动生成各类测试报告[/font][font=微软雅黑,]提高测试效率50倍[/font][b][font=微软雅黑,]2. [/font][b]系统概述[/b][/b][font=微软雅黑,]系统控制测试终端——矢量网络分析仪。[/font][font=微软雅黑,]系统可自动测量射频无源器件包括射频连接器、射频线缆、滤波器、功分器、天线、放大器、衰减器、混频器、耦合器、屏蔽材料等被测产品的各项指标。[/font][font=微软雅黑,]射频器件的主要测试项目有S参数、增益、损耗、阻抗、平坦度、隔离度、驻波、介电常数(同轴法、波导法)等。[/font][font=微软雅黑,][/font][align=center][img=NSAT-1000射频无源器件测试系统概述图.jpg,550,346]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6369915216595145855887322.jpg[/img][/align][b] 3. [b]兼容仪器[/b][/b][align=center]射频无源器件自动测试系统NSAT-1000兼容仪器品牌.jpg" width="650" height="387" style="background:url(https://yibanbianji.com/libs/ueditor/themes/default/images/word.gif) no-repeat center center border:1px solid #ddd" / [/align][b] 4. 兼容品牌仪器和型号[/b][align=center][img=image.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6374597255761635655378639.png[/img][/align][b][font=微软雅黑,]5. 被测产品及[/font][b]测试项目[/b][/b][align=center][img=被测产品和测试项目新.png,550,342]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6375150260976336997356951.png[/img][/align][b][font=微软雅黑,]6. 系统流程图[/font][/b][align=center]射频无源器件自动测试系统流程图.jpg" width="550" height="602" style="background:url(https://yibanbianji.com/libs/ueditor/themes/default/images/word.gif) no-repeat center center border:1px solid #ddd" /[/align][b][font=微软雅黑,]7. 系统界面[/font][/b][align=center][img=产品界面.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6374727404073462467567890.png[/img][/align][font=微软雅黑,][b] [/b][/font][b][font=微软雅黑,][b][font=微软雅黑,]8. 应用场景[/font][/b][font=楷体, 楷体_GB2312, SimKai][b][font=微软雅黑,][/font][/b][/font][font=楷体, 楷体_GB2312, SimKai][b][font=宋体][/font][/b][/font][/font][/b][align=center] [/align][align=center][img=多射频组件自动化测试系统.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6373662655490608568567681.png[/img][img=射频组件测试.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6373662656803108567057920.png[/img][/align][align=center][font=微软雅黑,] [/font]射频无源器件自动测试系统应用场景.png" style="background:url(https://yibanbianji.com/libs/ueditor/themes/default/images/word.gif) no-repeat center center border:1px solid #ddd" /[font=微软雅黑,] [/font][img=射频组件测试应用排布.png]http://www.namisoft.com/UserFiles/Article/image/6373662659457796065481262.png[/img][/align]

噪声自动测试系统相关的耗材

  • HS5671+噪声测试频谱分析仪
    HS5671+噪声测试频谱分析仪 产品介绍 概述HS5671+型噪声频谱分析仪既是一种测量指数时间计权声级的通用声级计,又是能测量时间平均声级的积分平均声级计和测量声暴露的积分声级计,它还能测量累计百分声级(统计声级),其性能符合GB/T17181-1997和IEC61672-2002标准对1级声级计的要求,同时也符合IEC1260和GB/T3241对1/1倍频程滤波器和的要求,对射频场敏感度属X类。 本噪声测试仪器采用了先进的数字检波技术,具有可靠性高、稳定性好、动态范围宽等优点。本仪器采用128× 64点阵式液晶显示器带背景光显示,全中文界面,显示内容丰富,操作界面采用菜单方式,有汉字提示功能,用户操作简便,电池供电,测量结果可长期保存在仪器内,通过内置RS-232接口在现场或事后用微型打印机打印出来或送到计算机中去处理。 本仪器结构紧凑、造型美观、功能多、自动化程度高,可用于环境噪声的测量,也可用于劳动保护、工业卫生及各种机器、车辆、船舶、电器等工业噪声测量,还可以用于实验室进行噪声分析。 二 主要技术性能 1 传声器:&Phi 12.7mm(1/2&Prime )予极化测试电容传声器,灵敏度约30mV/Pa 频率范围:20Hz~20kHz, 2 测量范围:25dB~130dB(A) 30dB~130dB(C) 35dB~130dB(L) 3 频率范围:10Hz~20 kHz 4 频率计权:A、C、Lin计权 5 参考方向为电容传声器的轴向 6 参考声压级:94dB 7 时间计权:快(F)、慢(S) 8 检波器特性:数字检波,真有效值 9 仪器类型:1级 10 级量程分高、中、低三档:高量程 H 70dB~130 dB 中量程 M 50dB~110 dB 低量程 L 25dB~90 dB每档线性范围&ge 60dB。以中量程为参考量程。 11 测量时间设定:Man (人工)、10s、1min、5min、10min、15min、20min、30min、1h、8h、24h、24h整时。 12 设置时钟:提供年、月、日、时、分、秒。关机及停电均不影响运行。 13 自动测量功能:Lp、Leq、LAE、LN(L5、L10、L50、L90、L95)、SD、Lmax、Lmin、Ld、Ln、Ldn、Tr及滤波器自动测量等。 14 测量数据存储:可存储3000组滤波器自动测量结果或3000等效连续声级 15 显示器:128× 64点阵式液晶数显,具有动态模拟表针显示、测量方式显示、测量时间及时钟显示,夜间背光照明等功能。 16 输出接口: 1)交流输出:0V~1.5V 2)数据输出:RS-232 波特率:9600。 17 电源:4× LR6(5#) 高能碱性电池,也可使用6V外接电源。满容量电池在正常工作方式下能连续工作24小时。 安装电池时外接电源和内部电池不可同时使用。 18 外形尺寸:L× B× H(mm) 230× 72× 30 19 质量:400g(含电池)
  • HS6298C型多功能噪声测试仪
    HS6298C型多功能噪声测试仪 HS6298C型多功能噪声测试仪是一种袖珍式高智能化的噪声测量仪器,它集积分声级计、噪声统计分析仪、噪声采集器、数字式记录等几种仪器功能于一体,在设计和功能上都有许多创新,能满足多种测量要求。 本仪器具有128× 64点阵式液晶片带背景光显示,显示内容丰富,有汉字提示功能,操作界面采用菜单方式,用户可很快掌握操作。测量结果可长期保存在仪器内,通过内置RS-232C接口在现场或事后用微型打印机打印出来或送到计算机中去。 本仪器结构紧凑、造型美观、功能多、自动化程度高,可用于环境噪声的测量,也可用于劳动保护、工业卫生及各种机器、车辆、船舶、电器等工业噪声测量。 二 HS6298C型多功能噪声测试仪主要技术性能 1 传声器:&Phi 12.7mm(1/2&Prime )驻极体测试电容传声器,灵敏度约25mV/Pa,频率范围:20Hz~12.5kHz 2 测量范围:30dB~130dB(A) 35dB~130dB(C) 35dB~130dB(Z) 3 频率范围:20kHz~10kHz 4 频率计权:A、C、Z计权 5 时间计权:快(F)、慢(S) 6 检波器特性:数字真有效值检波,峰值因数3 7 级量程分高、中、低三档,每档线性范围&ge 60dB。 8 测量时间设定:10s、1min、5min、10min、15min、20min、30min 、1h、8h、24h。24h整时,Man (人工)。 时钟:年、月、日、时、分、秒自动运行。 9 自动测量功能:Lp、Leq、LAE、LN(L5、L10、L50、L90、L95)、SD、Lmax、Lmin, Ld、Ln、Ldn等 10 测量数据自动存储: 3000组。 11 可采集瞬时声级,储存并输出到计算机进行处理,可计算机场噪声测量中的LEPN,显示和打印结果。 12 显示器:128× 64点阵式液晶数显,具有模拟表针、测量方式、测量时间及时钟、背光源显示等功能。 13 输出接口: 交流输出:0V~3V RS-232C接口输出 14 电源:4× LR6(5#) 高能碱性电池,也可使用9V外接电源。 15 外形尺寸:l× b× h(mm) 230× 72× 30 16 质量:400g(连电池) 17 工作使用温度:-10℃ ~ 50℃、相对湿度20% ~ 90% 18 延伸电缆(视用户要求可配5米、10米、15米、20米)
  • HS6298B+噪声测试频谱分析仪
    HS6298B+噪声测试频谱分析仪 产品介绍 HS6298B+型噪声频谱分析仪既是一种测量指数时间计权声级的通用声级计,又是能测量时间平均声级的积分平均声级计和测量声暴露的积分声级计,它还能测量累计百分声级(统计声级),其性能符合GB/T17181-1997、GB/T3785和IEC61672-2002标准对1级声级计的要求,同时也符合IEC1260和GB/T3241-1998对1级倍频程滤波器的要求,适用于各种工业环境噪声测量及环境噪声普查测量,尤其适用于对噪声进行频谱分析。对射频场敏感度属X类。 主要功能和特点 1. 具有内置1/1倍频程滤波器。可手工及自动扫频测量。自动扫频测量数据可自动保存12组。 2. 有积分及统计功能,单组测量数据储存可达800组,整时测量可达6天。储存的数据可以调阅及打印。整时测量暂停时 可以检查已采数据。 3. 采用数字检波技术替代以往一些传统的数字声级计,稳定性和可靠性大大提高。 4. 采用大屏幕显示,显示清晰直观。有动态刻度显示。 5. 可以通过RS-232接口与计算机或打印机连接,数据可显示、打印输出,也可送计算机进行分析处理。 主要技术性能 1 传声器:Ф12.7mm(1/2&Prime )测试电容传声器 2 频率范围:10Hz~20kHz 3 频率计权:A计权、C计权、Lin(线性) 4 测量范围:25dB~130dB(A) 5 量程控制:手动,分三档,线性范围&ge 60dB。 6 量程范围:25dB &ndash 90dB(动态刻度显示10-100) 50dB &ndash 110dB(动态刻度显示30-120) 70dB &ndash 130dB(动态刻度显示50-140) 7 仪器精度:符合IEC61672 1级或GB3785 1型 8 时间计权:快(F)、慢(S)对数平均及线性平均 9 混响测量 0.1 &ndash 15.0 秒 10 滤波器: 内置1/1倍频程滤波器。 11 显示:大屏幕动态液晶显示,瞬时声级,具有模拟电表显示。 12 输出接口:交流信号输出、RS-232接口。 13 校准:使用1型声级校准器或活塞发声器。 14 电源:内部用LR6(5#)碱性电池,可连续工作24小时。外接电源6V50mA。 15 外形尺寸:l× b× h(mm):230× 72× 30 16 质量:300g(连电池) 17 使用条件:-10℃~50℃
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