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烟道气体采样探头

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烟道气体采样探头相关的资讯

  • 路博新出烟气汞采样器符合现在新环境汞的采样
    LB-6030型 烟气汞综合分析仪 详细介绍1概述 LB-6030型 烟气汞采样器符合美国EPA Method 30B和HJ 543-2009标准的要求,可以用来采集污染源排气中的气态总汞,也可用来监测烟道气中气态汞浓度,烟气流速,烟气温度和含氧量等参数。该仪器主要用于监测燃煤电厂废气中气态汞的含量。广泛适用于环境监测、工矿企业、劳动卫生、科研机构等部门。2执行标准GB/T 16157-1996《固体污染源排气中颗粒物测定与气态污染物采样方法》EPA Method 30B《吸附管法测定燃煤污染源中气态总汞排放量》GB 13223-2011 《火电厂大气污染物排放标准》HJ 543-2009 《固定污染源废气 汞的测定 冷原子吸收分光光度法》3技术特点l 同时满足EPA Method 30B和HJ 543-2009采样要求;l 两气路均采用高性能超低音隔膜泵,使用寿命长;l 两路完全独立的采样通道,可分别设置采样时间,采样流量和单独启动;l 采用图形彩色触控显示屏,中文菜单化操作;l 采用双气室干燥器,得到干基标况气体;l 集成化采样探头,将S型皮托管、铂电阻和采样腔整合在一起;l 采样探头具有独立加热功能,精确控制采样腔温度,且温度可调;l 交直流两用,内置高能锂电池,可连续工作6小时以上;l 进口流量压力计,可实现恒流采样,流量控制精度高;l 自动折算实际流量、标况流量、实际体积、标况体积; l 具备USB接口,可通过U盘导出数据;l 高亮度触摸显示屏,图形化操作界面;l 采样过程中停电数据自动保护,来电继续采样;l 30B取样管具有恒温功能,精确控制采样腔温度,且温度可调;l 烟气采样管和软管全程恒温伴热,气路采用无吸附材质;l 有冰浴箱,可容纳14个大型气泡吸收瓶;l 故障检测自动保护l 自动检漏功能l 软件参数标定l 用户密码保护 4工作条件4.1工作电源: AD220V±10%, 50Hz4.2环境温度: -20 ~ 50 ℃4.3环境湿度: 0 ~ 85 %4.4 环境大气压 : 86 ~ 106 KPa4.5适用环境: 非防爆场合 5主要技术指标 主要指标参数范围分辨率准确度烟气流速2~45m/s0.1m/s±2.0%烟气温度0~ 200℃1℃±1.5℃计前温度-30~ 120℃1℃±2.0℃烟气静压-30~ 30KPa0.01KPa±1.5%烟气动压0~ 2500Pa1Pa±1.5%大气压60~110kPa0.01kPa±2.5%含氧量0~ 30%0.1%±2.0%取样管加热温度0~ 150℃0.1℃±1.5℃A路采样流量0.1~ 1.5L/min0.001L/min±2.0%B路采样流量0.1~ 1.5L/min0.001L/min±2.0%A路计前压力-30~ 0KPa0.01Kpa±1.5%B路计前压力-30~ 0Kpa0.01Kpa±1.5%A路采样时间1~ 999min1s±0.1%B路采样时间1~ 999min1s±0.1%电池工作时间(不带加热)6h主机尺寸W×D×H(419×229×341)mm主机工作电源AC220V或内置电池组主机重量5.5Kg取样管长度≥1.5m
  • 烟道气中二恶英前驱体在线分析仪研制
    table border=" 1" cellspacing=" 0" cellpadding=" 0" width=" 600" tbody tr td width=" 142" p style=" line-height: 1.75em " 成果名称 /p /td td width=" 506" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " strong 烟道气中二恶英前驱体在线分析仪 /strong /p /td /tr tr td width=" 142" p style=" line-height: 1.75em " 单位名称 /p /td td width=" 506" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " 中国科学院大连化学物理研究所 /p /td /tr tr td width=" 142" p style=" line-height: 1.75em " 联系人 /p /td td width=" 158" p style=" line-height: 1.75em " 关亚风 /p /td td width=" 161" p style=" line-height: 1.75em " 联系邮箱 /p /td td width=" 187" p style=" line-height: 1.75em " guanyafeng@dicp.ac.cn /p /td /tr tr td width=" 142" p style=" line-height: 1.75em " 成果成熟度 /p /td td width=" 506" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " □正在研发 √已有样机 □通过小试 □通过中试 & nbsp □可以量产 /p /td /tr tr td width=" 142" p style=" line-height: 1.75em " 合作方式 /p /td td width=" 506" colspan=" 3" p style=" line-height: 1.75em " √技术转让& nbsp & nbsp & nbsp □技术入股& nbsp & nbsp & nbsp □合作开发& nbsp & nbsp & nbsp □其他 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 成果简介: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 该联用装置由采样回路、吸附管、热脱附加热器、流路控制、二维气相色谱仪等构成。烟道气样品通过采样回路进入吸附柱,将其中的有机组分富集,再经过热脱附直接进入第一维气相色谱柱中进行分离。分离时在设定的时间窗口将目标组分切入第二维色谱做精细分离,用电子捕获检测器定量检出。二维气相色谱仪是在商品的一维气相色谱仪上改装而成,加装了样品处理单元、色谱柱切换单元和第二维色谱单元(自研)、标样切换、整机控制单元,技术成熟。相比于GC-MS分析,所研制的设备对目标组分的定性定量可靠性更高、设备成本低、运行成本更低,维护简单方便。对烟道气样品中的4种二恶英前驱体检测下线达到0.007~0.07 ppb。 br/ & nbsp & nbsp & nbsp strong 主要技术指标: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 采样量:100~200 mL/min br/ & nbsp & nbsp & nbsp 热脱附温度:350℃ & nbsp & nbsp & nbsp /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp 色谱进样模式:阀进样 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 二维气相色谱双炉箱单独温度控制 br/ & nbsp & nbsp & nbsp FID/ECD检测 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 检出限:5 ~ 60 ppb (V/V),多氯苯,FID检测; br/ & nbsp & nbsp & nbsp 总功耗:& lt 2300 W /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 应用前景: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 用于生活垃圾焚烧厂烟道气在线测监测,调整燃烧温度使二恶英排放最低,具有广阔的推广应用市场。 /p /td /tr tr td width=" 648" colspan=" 4" p style=" line-height: 1.75em " strong 知识产权及项目获奖情况: /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp 授权专利2项: br/ & nbsp & nbsp & nbsp 1)大气样品在线采样-富集-热脱附-色谱进样联用装置,200910219899.5 br/ & nbsp & nbsp & nbsp 2)一种无冷区低功耗的小型炉箱,201310196646.7 /p /td /tr /tbody /table p br/ /p
  • 您知道吗?我们可以为您的具体应用定制探头!
    随着相控阵超声技术在工业检测应用中的日益普及,奥林巴斯为了满足客户的需求,与时俱进,对自己的产品进行了改造和更新。我们继续拓展现有的制造和工程资源,以开发出有助于完成挑战性应用的定制相控阵(PA)探头和定制常规超声(UT)探头。定制超声探头,提供个性化服务为了帮助客户找到解决检测问题的方案并满足客户的要求,我们的专家直接与客户和工程团队合作,在美国设计和制造出每个定制探头。迄今为止,我们已经为航空航天、电力生产和石化行业设计和生产了用于制造、可再生能源和研究等应用的定制超声探头和相控阵探头。我们的定制探头多种多样,其中包括水浸式、矩阵式、接触式,以及与楔块整合在一起的探头。如果您的待测工件或部件具有复杂的几何形状,我们还可以为您设计特殊的探头和楔块,以克服在检测区域和尺寸方面的多种限制。电力生产行业的一个具有挑战性的检测案例沸水反应器(BWR)的喷嘴和部件可能会随着时间的推移而性能下降,一般的腐蚀到疲劳循环操作都会使其停止工作。在沸水反应器(BWR)中,有多个喷嘴需要检测。喷嘴的类型包括给水型、芯喷型、再循环型、主蒸汽型和排水型。喷嘴部分的裂纹可能会破坏完整性,并导致出现放射性污染,致使发电机意外停机,甚至发生灾难性事故。对喷嘴进行检测相当复杂,因为喷嘴上的焊缝由奥氏体钢和异种材料焊接,而且喷嘴不容易接触到,温度又很高,还有放射性物质泄漏的问题。独特的探头解决方案可以满足不同用户特定的检测要求我们的客户定制的探头符合多项规格,不仅包括声学要求,还具体到探头连接托架的方式。我们在设计探头时,力求满足客户所提出的所有规格要求,并研制出了一种装有弹簧的相控阵探头和固定装置。这种探头可以对沸水反应器(BWR)喷嘴的内壁同时在周向和径向上进行一发一收检测。我们还设计了一种采用常规超声(而非相控阵)技术的类似的探头,用于衍射时差(TOFD)检测应用。为客户定制探头产品,是一种可以满足客户较高期望的便捷方式。符合规格要求并超出客户期望的探头解决方案我们的核心使命是为客户提供满意的服务:无论为客户提供的是专业的仪器和探头,还是定制的解决方案。您是否要完成一项具有挑战性的检测应用?
  • 必达泰克公司推出新型光纤拉曼探头
    由于目前市面上现有的光纤拉曼探头只能简单的控制激光光路的开关,而无法控制采样检测,因此在实际的野外和现场检测采用手持采样时,往往需要一边将探头对准样品,一边在电脑上操作软件进行检测。为了克服这个缺点,必达泰克公司推出了一种新的拉曼光纤探头,在该探头上增加了一个电子触发开关,可以与本公司的全系列便携式拉曼光谱仪共同使用,直接利用该电子触发开关控制采样检测,从而使得手持采样更为方便稳定,大大提高了光纤拉曼探头在野外和现场检测的便利性和实用性,非常适用于考古,地质勘探,危险物检测或其他的野外和现场检测应用。   该探头需要在拉曼光谱仪上有一个控制接口,因此无法应用于本公司早前销售出的便携式拉曼光谱仪上,如要使用该探头需要对早期的拉曼光谱仪进行升级。如客户需要进行升级,请与必达泰克光电科技(上海)有限公司联系,电话: 021-64515208,Email: info@bwtek.cn
  • 美国ATI高效过滤器检漏系统新品重磅发布:iProbe Plus扫描探头介绍
    ATI自1961年以来,一直是HEPA过滤器、介质、滤芯、呼吸器和防护面罩专业测试设备的领先设计和制造商。此次全新推出的iProbe Plus扫描探头基于ATI著名的iProbe扫描探头全新研发版本,将以更多实用功能为广大客户带来不同凡响的检测体验。功能一质量管理——功能二数据加密——功能三使用便捷一、产品介绍市场调研:我们需要光度计具有什么功能?ATI经过长期市场调研得出结论,认为光度计应更关注质量管理,测试具有可追溯性;测试数据需得到严格保护;使用上更符合人体工程学。全新研发:iProbe Plus扫描探头针对市场调研结果,ATI对iProbe采样头进行了重新研发:新的探头具有4.3"大显示屏;设备自带大容量存储器,对检测数据进行加密并通过密码限制访问,最后新设计的外壳更加符合人体工程学,减少长时间检测的疲劳度。二、产品特点过滤器扫描可追溯性iProbe Plus通过要求输入关键ID信息,提供过滤器泄漏扫描可追溯性。数据完整性和密码保护扫描数据直接存储在设备内,不可编辑;数据可加密导出符合21 CFR Part 11要求。重要信息一目了然4.3"触摸幕上显示重要信息,如最大泄漏率%;过滤器ID;已扫描时间。业界独创“倒带”功能防止保存意外报警事件。按下倒带按钮后的最后10秒扫描数据将从摘要文件中排除,但不会从详细文件中排除。 报告将记录此操作次数。大容量存储及便携导出&bull 设备支持最多150000组检测记录存储。&bull 插入U盘选择起止日期即可导出数据,无需连接电脑或打印机。CSV/PDF数据导出格式&bull CSV文件包含使用相同信息扫描的所有过滤器的摘要。&bull 摘要PDF文件保存每个失败的报警事件。&bull 详细PDF文件保存每个扫描结果,包括倒带排除的结果。人体工程学设计&bull 设备外形设计更加符合人体工程学。&bull 设备后期的固件更新通过USB即可更新。三、适用人群对于检测人员,iProbe Plus可以做到:更直观的显示屏,检测数据一目了然更舒适的检测手感更流畅的检测流程,从开始检测到数据归档,一个手柄就可以实现更可靠的使用体验,设备经过多项机械测试和固件测试,保证足够安全对于质量人员,iProbe Plus可以做到:支持21 CFR Part 11,轻松应对检测挑战记录有效扫描速度和时间,保证测试计划充分执行保证数据无法编辑,管理员可以实现密码保护和数据加密对于项目经理,iProbe Plus可以做到:快速访问测试结果并生成报告,通过USB导出CSV或PDF文件快速追溯每个过滤器的检测信息查看每个过滤器的有效扫描时间和通过/失败数据通过USB快速更新固件
  • 无需探头设计 哈希公司MP测定仪在净水应用中实现了单手操作
    哈希公司最新推出MP测定仪。无需使用探头,可以快速测试pH、ORP(氧化还原电位)、电导率、电阻率、总溶解固体(TDS)以及温度。该仪器内置的采样量杯,可进行高效的、高通量的测试。 简便、可实现单手操作 MP测定仪操作简便,单手即可完成操作。无论是在实验室、水厂或是远程的现场监测,只需两步即可完成测量:1. 灌满采样量杯。2. 按下参数键进行读数。 校准频率低 无需频繁校准即可获得准确可靠的读数。 优异的准确度 MP测定仪具有优异的性能,准确度可达到± 1%,这主要归功于使用了先进的四电极电导率电池技术一个独特的可更换的pH/ORP传感器以及强大的微处理器电路。此外,每台仪器中都有三个预置的常见盐剖面程序,在测量各种不同介质的水样电导率、电阻率和总溶解固体时,可为您提供优异的准确度。 关于产品详细情况,请点击了解
  • 甘南藏族自治州疾病预防控制中心110.00万元采购粉尘采样器,照度计,气体采样器
    html, body { -webkit-user-select: text } * { padding: 0 margin: 0 } .web-box { width: 100% text-align: center } .wenshang { margin: 0 auto width: 80% text-align: center padding: 20px 10px 0 10px } .wenshang h2 { display: block color: #900 text-align: center padding-bottom: 10px border-bottom: 1px dashed #ccc font-size: 16px } .site a { text-decoration: none } .content-box { text-align: left margin: 0 auto width: 80% margin-top: 25px text-indent: 2em font-size: 14px line-height: 25px } .biaoge { margin: 0 auto /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 25px } .table_content { border-top: 1px solid #e0e0e0 border-left: 1px solid #e0e0e0 font-family: Arial /* width: 643px */ width: 100% margin-top: 10px margin-left: 15px } .table_content tr td { line-height: 29px } .table_content .bg { background-color: #f6f6f6 } .table_content tr td { border-right: 1px solid #e0e0e0 border-bottom: 1px solid #e0e0e0 } .table-left { text-align: left padding-left: 20px } 基本信息 关键内容: 粉尘采样器,照度计,气体采样器 开标时间: 2022-03-29 09:10 采购金额: 110.00万元 采购单位: 甘南藏族自治州疾病预防控制中心 采购联系人: 本海栋 采购联系方式: 立即查看 招标代理机构: 甘肃正煜项目管理有限公司 代理联系人: 本海栋 代理联系方式: 立即查看 详细信息 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目公开招标公告 甘肃省-甘南藏族自治州-合作市 状态:公告 更新时间: 2022-03-04 招标文件: 附件1 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目公开招标公告 2022年03月04日 15:25 公告信息: 采购项目名称 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目 品目 货物 采购单位 甘南藏族自治州疾病预防控制中心 行政区域 甘南藏族自治州 公告时间 2022年03月04日 15:25 获取招标文件时间 2022年03月07日至2022年03月11日每日上午:00:00 至 11:59 下午:12:00 至 23:59(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0 获取招标文件的地点 甘南州公共资源交易网(http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn) 开标时间 2022年03月29日 09:10 开标地点 登录甘南州公共资源交易中心“远程在线不见面开标系统”(网址:http://47.109.20.190)进行上传,逾期视为放弃投标 预算金额 ¥110.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 本海栋 项目联系电话 0941-8213281 采购单位 甘南藏族自治州疾病预防控制中心 采购单位地址 甘肃省甘南藏族自治州合作市西山坡33号 采购单位联系方式 0941-8213281 代理机构名称 甘肃正煜项目管理有限公司 代理机构地址 甘肃省兰州市城关区红星国际广场第B71002002幢2422室 代理机构联系方式 19909425678 附件: 附件1 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目公开招标公告 甘南藏族自治州疾病预防控制中心招标项目的潜在投标人应在甘南州公共资源交易网(http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn)获取招标文件,并于2022-03-29 09:10(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:GSZY-2022-GNYC001 项目名称:甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目 预算金额:110(万元) 最高限价:110(万元) 采购需求:第一包:新冠肺炎疫情防控应急能力建设采购:背负式蓄电池超低量喷雾器10台;柴油间接燃烧暖风机2台;卫生应急服10套,安全鞋28双,臂章50只;第二包:疫苗冷链能力建设:车载医用冰箱12台;75L医用小冰箱116台;第三包:职业病危害因素检测能力建设:高、中、低流量大气采样器各2台;高、中、低流量校准仪各2台;粉尘采样器、各型号采样头各2台;个体噪声剂量计(防爆)2台;脉冲积分声级计1台;声级计校准器1台;风速测定仪、温湿度计、空盒气压表、数字照度计、风速仪;便携式电化学探头复合气体检测仪1台;便携式非分光红外一氧化碳(CO)/二氧化碳(CO2)测定仪;电磁场测定仪、紫外辐射测定仪、WBGT测定仪 合同履行期限:国内产品签订合同后30日历天以内 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定:1.1 须提供具有统一社会信用代码的营业执照副本复印件加盖公章;1.2 法定代表人身份证(正、反面复印件加盖公章)、被授权人身份证(正、反面复印件加盖公章)、法人授权委托书(原件);1.3 提供近一个月的依法缴纳税收和社会保障资金的凭据(证);1.4 须提供本公司开户许可证或基本存款账户信息(复印件加盖公章);1.5 提供开户行出具的近一月的《资信证明》或近一年的《财务审计报告》:1.6 供应商须为未被列入“信用中国”网站( www.creditchina.gov.cn)“记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为”记录名单,方可参加本项目的投标(以获取招标文件后在“信用中国”网站查询结果为准,如相关失信记录已失效,供应商需提供相关证明资料,相关截图打印加盖投标人公章后装入投标文件)。 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:无 3.本项目的特定资格要求:3.1 供应商必须具有医疗器械生产许可证或经营许可证或第二类医疗器械经营备案凭证(复印件加盖公章);3.2 第二、三类医疗器械采购项目,须提供所投产品有效的《医疗器械注册证书》(复印件加盖公章)。 三、获取招标文件 时间:2022-03-07至2022-03-11,每天上午00:00至11:59,下午12:00至23:59 地点:甘南州公共资源交易网(http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn) 方式:免费获取 售价:0(元) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 时间:2022-03-29 09:10 地点:登录甘南州公共资源交易中心“远程在线不见面开标系统”(网址:http://47.109.20.190)进行上传,逾期视为放弃投标 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 ①甘南藏族自治州公共资源交易网:http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn/f ②信用中国”网站:https://www.creditchina.gov.cn ③中国政府采购网网址:http://www.ccgp.gov.cn/ 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1.采购人信息 名 称:甘南藏族自治州疾病预防控制中心 地 址:甘肃省甘南藏族自治州合作市西山坡33号 联系方式:0941-8213281 2.采购代理机构信息 名 称:甘肃正煜项目管理有限公司 地 址:甘肃省兰州市城关区红星国际广场第B71002002幢2422室 联系方式:19909425678 3.项目联系方式 项目联系人:本海栋 电 话:0941-8213281 × 扫码打开掌上仪信通App 查看联系方式 $('.clickModel').click(function () { $('.modelDiv').show() }) $('.closeModel').click(function () { $('.modelDiv').hide() }) 基本信息 关键内容:粉尘采样器,照度计,气体采样器 开标时间:2022-03-29 09:10 预算金额:110.00万元 采购单位:甘南藏族自治州疾病预防控制中心 采购联系人:点击查看 采购联系方式:点击查看 招标代理机构:甘肃正煜项目管理有限公司 代理联系人:点击查看 代理联系方式:点击查看 详细信息 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目公开招标公告 甘肃省-甘南藏族自治州-合作市 状态:公告 更新时间: 2022-03-04 招标文件: 附件1 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目公开招标公告 2022年03月04日 15:25 公告信息: 采购项目名称 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目 品目 货物 采购单位 甘南藏族自治州疾病预防控制中心 行政区域 甘南藏族自治州 公告时间 2022年03月04日 15:25 获取招标文件时间 2022年03月07日至2022年03月11日每日上午:00:00 至 11:59 下午:12:00 至 23:59(北京时间,法定节假日除外) 招标文件售价 ¥0 获取招标文件的地点 甘南州公共资源交易网(http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn) 开标时间 2022年03月29日 09:10 开标地点 登录甘南州公共资源交易中心“远程在线不见面开标系统”(网址:http://47.109.20.190)进行上传,逾期视为放弃投标 预算金额 ¥110.000000万元(人民币) 联系人及联系方式: 项目联系人 本海栋 项目联系电话 0941-8213281 采购单位 甘南藏族自治州疾病预防控制中心 采购单位地址 甘肃省甘南藏族自治州合作市西山坡33号 采购单位联系方式 0941-8213281 代理机构名称 甘肃正煜项目管理有限公司 代理机构地址 甘肃省兰州市城关区红星国际广场第B71002002幢2422室 代理机构联系方式 19909425678 附件: 附件1 甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目公开招标公告 甘南藏族自治州疾病预防控制中心招标项目的潜在投标人应在甘南州公共资源交易网(http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn)获取招标文件,并于2022-03-29 09:10(北京时间)前递交投标文件。 一、项目基本情况 项目编号:GSZY-2022-GNYC001 项目名称:甘南州疾病预防控制中心冬春季新冠肺炎疫情防控应急能力建设等设备采购项目 预算金额:110(万元) 最高限价:110(万元) 采购需求:第一包:新冠肺炎疫情防控应急能力建设采购:背负式蓄电池超低量喷雾器10台;柴油间接燃烧暖风机2台;卫生应急服10套,安全鞋28双,臂章50只;第二包:疫苗冷链能力建设:车载医用冰箱12台;75L医用小冰箱116台;第三包:职业病危害因素检测能力建设:高、中、低流量大气采样器各2台;高、中、低流量校准仪各2台;粉尘采样器、各型号采样头各2台;个体噪声剂量计(防爆)2台;脉冲积分声级计1台;声级计校准器1台;风速测定仪、温湿度计、空盒气压表、数字照度计、风速仪;便携式电化学探头复合气体检测仪1台;便携式非分光红外一氧化碳(CO)/二氧化碳(CO2)测定仪;电磁场测定仪、紫外辐射测定仪、WBGT测定仪 合同履行期限:国内产品签订合同后30日历天以内 本项目(是/否)接受联合体投标:否 二、申请人的资格要求 1.满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定:1.1 须提供具有统一社会信用代码的营业执照副本复印件加盖公章;1.2 法定代表人身份证(正、反面复印件加盖公章)、被授权人身份证(正、反面复印件加盖公章)、法人授权委托书(原件);1.3 提供近一个月的依法缴纳税收和社会保障资金的凭据(证);1.4 须提供本公司开户许可证或基本存款账户信息(复印件加盖公章);1.5 提供开户行出具的近一月的《资信证明》或近一年的《财务审计报告》:1.6 供应商须为未被列入“信用中国”网站( www.creditchina.gov.cn)“记录失信被执行人或重大税收违法案件当事人名单或政府采购严重违法失信行为”记录名单,方可参加本项目的投标(以获取招标文件后在“信用中国”网站查询结果为准,如相关失信记录已失效,供应商需提供相关证明资料,相关截图打印加盖投标人公章后装入投标文件)。 2.落实政府采购政策需满足的资格要求:无 3.本项目的特定资格要求:3.1 供应商必须具有医疗器械生产许可证或经营许可证或第二类医疗器械经营备案凭证(复印件加盖公章);3.2 第二、三类医疗器械采购项目,须提供所投产品有效的《医疗器械注册证书》(复印件加盖公章)。 三、获取招标文件 时间:2022-03-07至2022-03-11,每天上午00:00至11:59,下午12:00至23:59 地点:甘南州公共资源交易网(http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn) 方式:免费获取 售价:0(元) 四、提交投标文件截止时间、开标时间和地点 时间:2022-03-29 09:10 地点:登录甘南州公共资源交易中心“远程在线不见面开标系统”(网址:http://47.109.20.190)进行上传,逾期视为放弃投标 五、公告期限 自本公告发布之日起5个工作日。 六、其他补充事宜 ①甘南藏族自治州公共资源交易网:http://ggzyjy.gnzrmzf.gov.cn/f ②信用中国”网站:https://www.creditchina.gov.cn ③中国政府采购网网址:http://www.ccgp.gov.cn/ 七、对本次招标提出询问,请按以下方式联系 1.采购人信息 名 称:甘南藏族自治州疾病预防控制中心 地 址:甘肃省甘南藏族自治州合作市西山坡33号 联系方式:0941-8213281 2.采购代理机构信息 名 称:甘肃正煜项目管理有限公司 地 址:甘肃省兰州市城关区红星国际广场第B71002002幢2422室 联系方式:19909425678 3.项目联系方式 项目联系人:本海栋 电 话:0941-8213281
  • 合肥研究院研制出固体核磁共振静态探头
    p   近期,中国科学院合肥物质科学研究院强磁场科学中心研究员王俊峰课题组博士毛文平研制出了一种600mhz固体双共振静态探头。 /p p   固体 a title=" " href=" http://www.instrument.com.cn/zc/43.html" target=" _self" 核磁共振 /a (nmr)能够原位测定具有原子分辨率的分子结构和动力学信息,在材料表征、多相催化和结构生物学等领域有重要应用。强磁场有助于提高nmr检测灵敏度和谱图分辨率,但同时对探头设计也提出新的挑战:波长效应导致射频场(b1场)均匀度下降、射频电场相对强度过强导致b1场强度受限、含盐生物样品与强电场相互作用导致发热严重甚至失去活性。因此,开展高场下的低旋磁比四极核和生物大分子固体nmr研究,亟需能产生高均匀度和强度b1场、低电场探头,以提高nmr检测灵敏度、缩短谱图数据采集时间。 /p p   毛文平通过引入交叉线圈、平衡电路以及阻抗匹配网络优化技术,使得双共振静态探头获得了以下主要性能参数:1h通道b1场均匀度a810/a90约为96%,最大去偶场强度为132khz*80ms,含盐样品脉冲功率损耗为0.02mw· khz-2· mm-1(仅为螺线管线圈探头的10%,因此有利于降低含盐样品的发热效应,测试样品为浓度为0~1000mmnacl溶液) x通道可覆盖31p及以下所有larmor共振频率,b1场a810/a90约为83%,金刚烷静态cp实验4次累加灵敏度为88(相同条件下某商业4毫米双共振mas探头灵敏度为46)。 /p p   该探头将纳入合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心向用户开放。 br/ /p
  • 众瑞仪器发布ZR-D13E型 阻容式烟气含湿量测量仪新品
    详细介绍产品简介ZR-D13E型阻容式烟气含湿量测量仪是一款利用阻容法原理测量烟气湿度的设备。仪器能够适用于高温、高湿、高粉尘、高腐蚀、静电等复杂恶劣的测量环境。其主要应用于工业现场测量、火力发电、湿法脱硫检测、石油化工气体排放检测、热电气体排放检测、烟草工业、烘干箱、环境试验箱等。执行标准HJ836-2017固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 重量法GB/T 11605-2005 湿度测量方法 JJF1272-2011阻容法露点湿度计校准规范技术特点利用阻容法测量原理,采用进口传感器,确保测量准确性和稳定性,响应时间快。自主专利技术的抽取式测量,可单独使用,也可和其他在线测量设备或手持式设备配套使用。对测量探头进行特殊防护,可以适应高温高湿高粉尘、高腐蚀、静电等复杂恶劣的测量环境,确保测量精度,有效延长测量探头使用寿命。彩色触摸屏和按键双控操作,实时反馈,双重保障。采用316不锈钢管,标配有效长度1m,选配加长管适应不同厚度烟道。主壳一体化模具设计,方便快捷,稳定性高。具有存储、查询、蓝牙打印、USB导出, RS485通信功能,选配蓝牙通讯。带锂电池,方便随时查看、打印数据。创新点:1、利用阻容法测量原理,采用进口传感器,确保测量准确性和稳定性,响应时间快; 2、自主专利技术的抽取式测量,可单独使用,也可和其他在线测量设备或手持式设备配套使用; 3、对测量探头进行特殊防护,可以适应高温高湿高粉尘、高腐蚀、静电等复杂恶劣的测量环境,确保测量精度,有效延长测量探头使用寿命; 4、采用316不锈钢管,标配有效长度1m,选配加长管适应不同厚度烟道; 5、采样管全程伴热,有效防止传感器结露。 ZR-D13E型 阻容式烟气含湿量测量仪
  • 大方科技发布大方科技超低浓度烟尘连续监测系统新品
    一、系统组成 DCM-100系列超低浓度烟尘在线监测系统是专为超低浓度烟尘监测量身打造的一款系统,具有极高的灵敏度和系统可靠性,符合我国环保政策对超低浓度烟尘监测的相关要求。系统主要由采样探头、预处理单元、测量单元、二次仪表、风机单元等组成。烟道内烟尘经过采样探头单元抽取到测量单元以供分析,并将分析后的废气排回烟道。预处理单元主要为烟尘加热,使烟尘温度在露点温度之上,消除液态水滴对测量的影响。测量单元完成对抽取烟尘的分析计算。风机单元则主要是对射流泵提供动力。二次仪表箱与测量单元完成实时通讯,显示测量结果、系统运行状态、报警信息等,并控制整套系统的加热、标定等功能。 二、测量原理 DCM-100系列超低浓度烟尘在线监测系统采用抽取式技术路线,从烟道中抽取部分烟气,经过探杆取样管,进入加热室预热到140℃以上,预热后的测试气体被送入测量池进行测量,然后通过射流泵和探杆排气管回到原烟道。 测量采用激光前向散射原理,激光器发射的激光束经过测量池,激光束照射烟尘颗粒,产生散射,收集散射面特定角度的前向散射激光信号,该散射信号与烟尘浓度成函数关系,以此计算烟尘浓度。通过前向散射信号接收,可获得极高的烟尘浓度检测灵敏度。 三、系统特点 1.采用抽取预处理结合激光前向散射技术,具有极高的灵敏度和可靠性,适合湿烟气的超低浓度在线监测; 2.量程可调,0~10.0mg/m3,0~200.0 mg/m3根据需求设定; 3.抽取样气经过恒温预热,消除湿烟气冷凝引起的测量误差; 4.连续的清洁空气吹扫,保护内部光学器件不受污染; 5.高端智能控制技术使用,实现零点和满量程自动标定以及光学表面污染的自动监测和校正; 6.便利的人机交互功能,二次仪表采用7.0英寸,800×480图形点阵,64K色触摸屏,时尚大气; 7.运行数据可存储,仪表具有SD卡存储功能; 8.配备上位机软件,运行和维护极其方便; 9.简洁并人性化的界面设置,操作方便、功能强大。 四、行业应用 燃煤锅炉烟气脱硫下游粉尘排放测量; 垃圾湿式净化器和垃圾焚烧厂粉尘排放测量; 工业生产过程中湿废气的粉尘含量等。 创新点:1、本设备采用石英导光棒作为光信号收集方式和传输方式。相较于直接使用光纤耦合的光信号收集方式,本设备采用的导光棒对入射光的角度不敏感,光信号的接收面积更大,使得在相同的噪声背景、相同的粉尘浓度下信噪比更高。相较于使用环形或其他形式反光镜的光信号收集方式,本设备采用的导光棒能够更有效的采用吹扫气保护,而反光镜方式的反光镜面积更大,形状不规则不容易进行吹扫保护,更容易受到污染,导致可靠性降低。另外采用石英导光棒作为光信号收集方式调光更容易、简单,导光棒耐高温等性能优于光纤、反光镜。 2、本设备具有一种可折叠校准机构,可在设备运行时自动将校准机构移动至测量光路,从而完成对光路的污染情况检查,对设备的零点、量程自动校准,全过程无需人为干预。 大方科技超低浓度烟尘连续监测系统
  • 崂应发布崂应3012H-Y型 一体式烟尘/气采样仪新品
    崂应3012H-Y型 一体式烟尘/气采样仪一、产品概述 本仪器应用皮托管平行等速采样法采集固定污染源排气中的颗粒物,用过滤称重法测定烟尘质量,应用于各种锅炉、烟道、工业炉窑等固定污染源颗粒物的排放浓度、折算浓度、排放总量的测定;自动测量烟气动压、烟气静压、流速、流量计前压力、流量计前温度、烟气温度、含湿量、含氧量等参数。 产品广泛应用于环保、检测公司、工矿企业(电厂、钢铁厂、水泥厂、糖厂、造纸厂、冶炼厂、陶瓷厂、锅炉炉窑,以及铝业、镁业、锌业、钛业、硅业、药业,包括化肥、化工、橡胶、材料厂等)、卫生、劳动、安监、军事、科研、教育等领域。二、执行标准GB/T 16157-1996 固定污染源排气中颗粒物和气态污染物采样方法HJ/T 48-1999 烟尘采样器技术条件HJ 836-2017 固定污染源废气 低浓度颗粒物的测定 重量法JJG 680-2007 烟尘采样器DB13/T 2375-2016 固定污染源废气低浓度颗粒物的测定 重量法 三、产品特点皮托管模块化设计,可便捷拆卸,方便更换直径?47mm一体式钛采样头整体称重,自损耗低,专用拆装工具拆装快速便捷专利技术加热装置,加热效率高,加热温度可以设定并自动调节主机与取样管一体式可拆分设计,减少管路连接。体积小巧,便于携带具有激光测距功能,能自动计算测点位置,可根据取样管长度等参数计算出采样头探入深度具有角度检测功能,显示采样嘴偏离角度,确保采样精度尘气同采功能,同步测量含氧量仪器内置弹性气容(专利),提高采样流量稳定性采样气回流功能,避免造成二次环境污染,保护现场工作人员。降低对采样泵的工作负载要求,同时降低了能耗提供USB接口,可将采样数据文件导出,同时支持仪器软件升级预留物联网模块接口,可拓展联网功能选用蓝牙高速低噪音微型热敏打印机,轻松掌握实时数据仪器内置电子标签,可与仪器出入库管理平台软件配合实现仪器智能化管理 说 明:1、以上内容完全符合国家相关标准的要求,因产品升级或有图片与实机不符, 请以实机为准,本内容仅供参考。 创新点:1、皮托管模块化设计,可便捷拆卸,方便更换 2、直径Ø 47mm一体式钛采样头整体称重,自损耗低,专用拆装工具拆装快速便捷 3、专利技术加热装置,加热效率高,加热温度可以设定并自动调节 4、主机与取样管一体式可拆分设计,减少管路连接。体积小巧,便于携带 5、具有激光测距功能,能自动计算测点位置,可根据取样管长度等参数计算出采样头探入深度 6、尘气同采功能,同步测量含氧量 7、仪器内置弹性气容,提高采样流量稳定性 8、采样气回流功能,避免造成二次环境污染,保护现场工作人员。降低对采样泵的工作负载要求,同时降低了能耗 9、提供USB接口,可将采样数据文件导出,同时支持仪器软件升级 10、预留物联网模块接口,可拓展联网功能 11、仪器内置电子标签,可与仪器出入库管理平台软件配合实现仪器智能化管理 崂应3012H-Y型 一体式烟尘/气采样仪
  • 阿美特克RTC 156 干体炉在制药行业中的短支探头校准解决方案
    众所周知,温度数据的监测在制药行业里有举足轻重的地位,不论是产品质量保障、节能降耗还是合规要求,再或者药品研发、生产、包装、运输、存储的各个环节,都与温度息息相关,而且对温度参数的准确可靠有较高要求。而制药工艺过程中的温度传感器绝大多数都是卫生型短支传感器,它带有卡盘,这是卫生型的安装要求,而且往往插入深度比较短,校准这类特殊传感器会面临一定的困难和挑战。首先,干体炉的工作区在温场底部,而短支传感器的感温元件无法置于干体炉的工作区。其次,由于卡盘的限制,即使是定制特殊恒温块,仍然不能满足测试需要。最后,就是洁净的要求,制药行业对设备及其附属装置,包括温度传感器都有非常严格的洁净要求。对于这类卫生型短支传感器的校准,AMETEK于2002年便推出了专业的解决方案,配合JOFRA ATC系列干体炉配短支校准套件来实现,目前与之配合是新一代的RTC系列。JOFRA RTC系列干体炉,采用DLC动态负载补偿技术,配合双区加热及外接参考传感器控温,使得干体炉的工作区可以随着外接参考传感器的位置而动。虽然短支传感器无法插到温场底部,但我们可以将外接参考传感器与被检传感器保持同样的水平位置,这样就能精准控温到被检传感器的感温元件所处区域,同时在双区加热及动态负载补偿功能的作用下,充分补偿传感器及井口的热量损失,提供均匀稳定的温场,实现完美的校准。型号为JOFRA RTC-156干体炉,温度范围-30~155度,准确度为0.04度,可以满足制药行业绝大多数温度传感器的校准需求,加上短支校准套件,是卫生型短支传感器校准的理想选择。这一解决方案具有如下特点: 1 专业套件:定制套管保证与卫生型的卡盘传感器充分热平衡,补偿热损失,外接参考传感器与被检传感器位置保持一致,精准控温。 2 洁净:无液体介质,不易污染探头,校准完成后不用清洗,可直接使用。 3 高性能:双区加热配合DLC动态负载补偿,保证垂直温场均匀稳定,不受被检传感器插入深度影响。 4 便携:干体炉便于携带至现场,可以进行全回路校准,减少分离回路校准的附加误差。 5 安全:无液体挥发,不会对操作人员健康产生危害,也不会污染实验室工作空间 6 快捷:升降温速度远快于液槽,成倍提高工作效率关于Ametek Jofra 干体炉Ametek校准仪器是全球主要的温度、压力及电信号校准仪生产厂商之一,干体炉的发明者,能提供快速精准的温度校准方案。AMETEK干体炉有5大系列共50多个型号,温度覆盖-100~1205℃,满足各个行业的温度校准需求。根据应用情况提供多样的解决方案,实现实验室及现场的快速精准温度校准。
  • 明华电子发布青岛明华电子MH3102-2型油烟在线监控仪新品
    本仪器是一款集多项油烟检测技术、物联网感知技术、GPRS无线通信技术于一体的多功能在线式油烟监控设备。可同时完成油烟浓度、颗粒物浓度、非甲烷总烃浓度的在线监测。执法人员可通过本仪器及时、动态、准确地掌握全市的餐饮企业油烟排放情況,从而加强辖区内的环境监管工作,提高对突发事件的反应能力、处理能力。 执 行 标 准GB18483-2001《饮食业油烟排放标准》HJ212-2017《污染物在线监控(监测)系统数据传输标准》DB11/1488-2018《餐饮业大气污染物排放标准》SZDB/Z 254-2017《饮食业油烟排放控制规范》DB41T-1604-2018《餐饮业油烟污染物排放标准》DB12-644-2016《餐饮业油烟排放标准》CCAEPI-RG-Y-020-2011《饮食业油烟浓度在线监控仪》主 要 特 点高灵敏度油烟检测单元,检测精度高,数据重复性好;泵吸式采样法测量烟道污染物排放浓度,PID算法精准控制采样流量,避免烟道流速变化影响测量结果;可伸缩式采样探头,适应不同尺寸烟道;皮托管及前端采样管插拔式设计,方便运维时的清洗及更换;主机内部实现电、气分离,方便后期保养维护;采样气路与浓度测量模块全部动态加热控温,避免烟道水汽对测量数据的影响;全天候油烟浓度检测,无需现场采样、实验室分析;实时监测油烟、大气压、烟温、动静压、流速、排放量等数据;实时监测净化器和风机运行参数以及监控仪器自身的运行参数,并以日志形式发送至监控中心;内置GPRS无线通讯,检测数据实时远程传输;支持与平板电脑数据互联互通,方便现场源头数据直接调取取证;支持远程升级功能,支持用户核心重要参数远程调整设置功能;具有油烟浓度超标报警和油烟检测仪拆除报警功能,并自动上报至监控中心;现场采集数据在未联网情况下至少可以连续存储6个月(不低于50000组),通讯正常后自动上传缓存数据;可搭配油烟在线监测软件平台;电路输入、输出接口工业级光电隔离,提高系统在强静电环境中的抗干扰能力;监控主机一体化设计,将浓度采样测量模块与数采远传模块合二为一,方便现场的安装施工。 创新点:和传统油烟在线监测仪相比,本仪器除了可以监测油烟浓度,还可以对颗粒物浓度、非甲烷总烃浓度进行在线监测,一机多用。 青岛明华电子MH3102-2型油烟在线监控仪
  • 光谱仪小百科 | 光纤与探头日常维护的5个技巧
    海洋光学的光纤附件、探头和配件可让用户在我们的光谱仪上传输和收集光。从现成的光纤跳线和定制光纤到专门设计的 OEM 附件,您的光纤选项和应用一样多种多样。以下是确保光纤和探头性能可靠、持久的一些技巧。 技巧1:做出明智的选择模块化光谱系统的优异性能取决于各个部分的总和。在选择光谱仪时要注意的方面应与选择光源、取样光学元件、光纤或探头相同。您是否在测量吸光度或反射率?您是否在测量低于 270 nm 的波长,在该波长下紫外线照射会使某些光纤受到曝晒?光纤将放置在您实验的什么位置?样品环境是否具有化学刺激性?确定这些标准将有助于我们指导您找到满足需求并适应样品条件的最佳组件(包括光纤)。技巧2:小心处理光纤连接器和末端如果保养不当,SMA 905 和其他光纤连接器可能会被划伤或损坏,从而影响测量。有时,客户甚至会因端部拉力过猛将连接器或套圈从光纤或探头上意外拉出。由于光纤端部磨损最大,设计了具有额外应力消除和护套保护的末端。但是,在取下端罩时要小心,用一只手握住连接器的光纤,用另一只手拉开端罩。海洋光学XSR 抗紫外老化光纤更进一步,它有一个端罩,用螺丝固定在光纤的末端 -- 无需拉动。技巧3:注意弯曲半径尽管光纤和探头在光谱仪周围移动光,但是这些组件可以承受的弯曲程度是有限的。光纤的弯曲半径表示在光纤发生损坏之前可以承受的弯曲程度。这种损坏程度可能会使光纤衰减和断裂,从而导致更严重的光损耗。这就是为什么定期检测光纤确保光传输的很好方法。光纤断裂,会使光停止传输。海洋光学报告了长时间弯曲半径(LTBR)和短时间弯曲半径(STBR)。LTBR 是存放条件下建议的最小弯曲半径。STBR 是光纤使用期间建议的最小弯曲半径。可见-近红外光、紫外-可见光、SR 和 XSR 光纤的弯曲半径技巧4:避免过热避免超过光纤材料的温度阈值:对于标准光纤,硅纤维的温度阈值为 300 °C,而环氧树脂和 PVDF 管的温度为 100 °C。对于高级光纤,整个组件的额定温度为 220 °C。包括不锈钢 BX 在内的护套可提供更好的保护,但最好咨询您的海洋光学代表,寻求在恶劣环境下的应用帮助。正如一位大学教授最近与我们分享的那样,他大一时化学实验室中的一些海洋光学光纤在初学化学家手中“存活”了 20 年。这些光纤可持续更长时间,但一些学生将这些光纤太靠近他们在测量的本生燃烧火焰,导致光纤护套和 PVDF 管熔化。耐化学性是您应用很重要的另一项标准。避免将光纤浸入可损坏石英、镍、钢、铝或环氧树脂的材料中。在恶劣的样品环境中,选择耐用的护套材料(包括硅胶单线圈或不锈钢 BX)是您不错的选择。定制套筒和套圈是另一种选择。技巧5:记住小东西虽然这并不总是可行,但在不用光纤连接器时,更换光纤连接器的端罩很有用。这有助于防止划伤,避免灰尘和指纹污染。此外,我们建议定期用透镜纸和蒸馏水、酒精或丙酮清洁光纤端部,避免划伤表面。本
  • 上海三思纵横研制成功增强烟道专用试验机
    7月8日,上海三思纵横自主研发的增强烟道专用试验机通过专家鉴定,正式交付用户使用。   烟道专用试验机用于工程质量检测方面对大截面的预制玻璃钢增强烟道进行抗压强度检测,在技术上达到了高要求、高标准。   接到用户订单后,公司研发部技术人员发扬创新精神,加班加点集中研讨,分部设计,只用5天时间就拿出了设计图纸,短短25天,两台国内首批增强烟道专用试验机就完成试制,正式交付用户。经过近两个月的使用,用户对其先进的技术性能和操控性能非常满意,认为达到了国内先进技术水平。   上海三思纵横的技术团队以徐卫栋董事长“把2010年做成上海三思纵横的产品创新年”的要求为目标,发挥上海三思纵横的技术优势,不断研制新产品,随着高强度、大尺寸螺栓强度专用万能试验机、多点加载试验机、大尺寸软绳拉力试验机……等一个个专用试验机的研制成功,上海三思纵横擅长制造国内没有的专用试验机的特长和优势正在得到发挥。越来越多的用户选择上海三思纵横为他们打造贴心的量身定做的试验方案和设备。
  • 哈希发布荧光法测溶解氧探头LDO II
    美国哈希公司近日发布最新一代荧光法测溶解氧探头LDO II. 该产品在拥有精准读数和可靠质量的同时无需校准,无需换膜,维护量极低。这些特性大大提升了测量效率因此也在迅速改变行业的传统测量方式。 来自南得克萨斯州的化工厂操作员Kevin G.说道:&ldquo 使用新LDO探头后我们取得了很大的进步。数据更加可靠和准确。我们用这些数据来控制过程中的溶氧量。&rdquo 溶解氧的测量在污水行业非常重要。因为污水厂的曝气,硝化反硝化,以及达标排放等过程都和溶解氧数值息息相关。通过准确的溶解氧读数来精确控制曝气量可大幅降低污水厂的运维成本。在2003年之前,人们还只能使用膜法技术测量溶解氧。但是膜法电极维护量大,维护成本高,读数不稳定,因此业内很多公司都在寻求新的解决方案。2003年,哈希发明荧光法测溶解氧,引领了行业解决方案。这项领先技术最近也被美国EPA作为NPDES (National Pollutant Discharge Elimination System)报告溶解氧的标准方法之一。 &ldquo 哈系的荧光法技术对行业来说是一项革命性的技术,&rdquo Toon Streppel,哈希全球过程仪器产品总监介绍说,&ldquo 现在我们拥有新一代的LDO产品,它比上一代更加准确可靠并且几乎不需要维护。&rdquo 哈希的荧光法技术是在LDO探头最前端的传感器罩上覆盖一层荧光物质,LED光源发出的蓝光照射到荧光物质上,荧光物质被激发并发出红光;一个光电池检测荧光物质从发射红光到回到基态所需要的时间。这个时间只和蓝光的发射时间以及氧气的多少有关。探头另有一个LED 光源,在蓝光发射的同时发射红光,做为蓝光发射时间的参考。传感器周围的氧气越多,荧光物质发射红光的时间就越短。据此计算出溶解氧的浓度 目前该系列产品已在发售,详细信息请登陆www.hach.com.cn获取。 更多详情请点击
  • 【干货】火电厂超低排放烟气在线监测技术探讨
    p   火电厂实施超低排放改造后,对污染物在线监测的精确性提出了更高要求。本文通过对比几种应用于二氧化硫、氮氧化物和烟尘的典型监测技术,提出了适用于超低排放改造的 a title=" " target=" _self" href=" http://www.instrument.com.cn/application/SampleFilter-S02005-T000-1-1-1.html" strong 烟气 /strong /a 在线监测系统优化配置方案,为火电厂超低排放改造中烟气在线监测系统的选型提供参考。 /p p   1引言 /p p   自《煤电节能减排升级与改造行动计划(2014-2020年)》(发改能源[2014]2093号)发布后,国家出台了一系列文件、措施和鼓励性政策支持火电厂实施超低排放改造,并在东部地区进行了试点。经过试点后,“十三五”期间将在全国范围内实施火电厂超低排放改造,改造后烟气排放限值执行标准为烟尘 10mg/m3、二氧化硫35 mg/m3、氮氧化物50 mg/m3。 /p p   火电厂实施超低排放改造后,烟气污染物浓度大幅降低,烟气水分含量增大,烟气特性发生了较大改变,对污染物在线监测的精确性提出了更高要求。因此,在现阶段总结超低排放试点电厂烟气在线监测系统(CEMS)的运行情况,分析对比各种烟气监测技术的性能特点,对于“十三五”火电厂超低排放改造中CEMS的选型具有积极作用。 /p p   2 火电厂烟气在线监测技术现状 /p p   2.1 非分散红外/紫外吸收法SO2和NOX监测技术 /p p   “十一五”和“十二五”期间,国内在脱硫和脱硝上应用最为广泛的是非分散红外吸收法监测技术,有少部分紫外吸收技术。这类技术是基于朗伯-比尔 (Lambert-Beer)吸收定律的光谱吸收技术,其基本分析原理是:当光通过待测气体时,气体分子会吸收特定波长的光,可通过测定光被介质吸收的辐射强度计算出气体浓度。即: /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/ba5ac4a7-c3d8-4993-9dac-f4185deda181.jpg" title=" 11.jpg" / /p p   式中:I—光被介质吸收后的辐射强度 /p p   I0—光通过介质前的辐射强度 /p p   K—待分析组分对辐射波段的吸收系数 /p p   C—待分析组分的气体浓度 /p p   L—气室长度(待测气体层的厚度)。 /p p   2.2 紫外荧光法SO2监测技术 /p p   紫外荧光法基于分子发光技术,在一定条件下,SO2气体分子吸收波长为190~230nm紫外线能量成为激发态分子,激发态的SO2分子不稳定,瞬间返回基态,发射出波长为330 nm的特征荧光。在浓度较低时,特征荧光的强度与SO2浓度成线性关系,即可通过检测荧光强度计算SO2浓度。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/f0f3e27d-62a0-4250-ba79-e190032bf99c.jpg" title=" 22.jpg" / /p p   2.3 化学发光法NOX监测技术 /p p   化学发光法是在一定条件下,NO与过量的O3发生反应,产生激发态的NO2。激发态NO2返回基态时,会产生波长为900nm的近红外荧光。在浓度较低情况下,NO与O3充分反应发出的光强度与NO浓度成线性关系,即可通过检测化学发光强度计算NO浓度。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/79153f86-4b97-4e01-a90b-e0dcc5971bfa.jpg" title=" 33.jpg" / /p p   2.4 烟尘监测技术 /p p   2.4.1 光透射法烟尘监测技术 /p p   光透射法技术基于朗伯-比尔定律,即光穿过含尘烟气时透过率与烟尘浓度呈指数下降关系。在实际应用中有单光程和双光程两种类型的仪器,光透射法的准确性受颗粒物粒径分布影响较大,且灵敏度不高,一般用于烟尘浓度高(大于300mg/m3)、烟道直径大且烟气湿度低的工况。 /p p   2.4.2 光散射法烟尘监测技术 /p p   光照射在烟尘上时会被烟尘吸收和散射,散射光偏离光入射的路径,散射光强度与烟尘粒径和入射光波长有关,光散射法就是采用测量散射光强度来监测烟尘浓度的。在实际应用中有前向散射、后向散射和边向散射三种类型。该技术灵敏度高,能够测量低至0.1mg/m3的烟尘浓度,最低量程可达到0-5mg/m3,适用于烟尘浓度低、烟道直径小的情况。但该技术同样容易受水汽影响,不适宜烟气湿度高的工况。 /p p   2.4.3电荷法烟尘监测技术 /p p   所有烟尘颗粒均带有电荷,颗粒物接触或摩擦时将产生电荷交换,电荷法就是用电绝缘传感探针测量探头和附近气流或直接与探头碰撞的颗粒物之间的电荷交换来测量烟尘浓度的。该技术除受烟尘粒径变化、组分变化和烟气湿度影响外,还受烟气流速影响,主要用于布袋除尘的泄漏检测和报警等定性测量,少在CEMS中应用 。 /p p   2.4.4 贝塔射线吸收法烟尘监测技术 /p p   & amp #946 射线具有一定穿透力,当它穿过一定厚度的吸收物质时,其强度随吸收物质厚度的增加逐渐减弱,通过测量穿过物质前后的& amp #946 射线强度,即可得出吸收物质的浓度。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/70107fe8-94e7-475f-826f-0bc4e290f1ef.jpg" title=" 44.jpg" / /p p   式中:I—通过吸收物质后的射线强度 /p p   I0—未通过吸收物质的射线强度 /p p   & amp #956 —待测吸收物质对射线的质量吸收系数 /p p   x—待测吸收物质的质量浓度。 /p p   该技术基于抽取式测量方式,不受烟尘粒径分布、折射系数、组分变化、烟气湿度等影响,可用于烟尘浓度低、烟气湿度大的工况。但抽取式测量属于点测量,不适合烟气流速变化大、烟尘浓度分层的场所。 /p p   2.5 烟气预处理技术 /p p   基于非分散红外/紫外吸收法技术的CEMS系统多数采用直抽法取样,为防止系统堵塞和水分对测量的干扰,需要对烟气进行除尘和除水处理。预处理装置的效果直接影响CMES的整体性能,通常以处理后的烟气露点作为重要指标来判定预处理的性能。 /p p   在实际应用中,“过滤+冷凝”的预处理方式较为广泛。其中烟气过滤除尘技术较为成熟,常用的有金属滤芯、陶瓷烧结滤芯和膜式过滤器。在采样探头处初步过滤,样气进分析仪前深度过滤,至少过滤掉0.5-1微克粒径以上的颗粒物。 /p p   烟气冷凝除水技术较为常用的有压缩机冷凝和半导体冷凝,可将烟气露点干燥至5℃。新兴技术中有高分子膜式渗透除水技术,采用高分子聚合亲水材料,具有高选择性除水性能,不改变烟气中SO2和NOX污染物因子成份,可将烟气露点干燥至-5℃以下。 /p p   3 几种烟气在线监测技术的性能比较 /p p   国内火电厂烟气在线监测产品众多,本文结合各种产品的运行情况,参考了拥有该种技术典型品牌产品的说明书,对超低排放较为关注的量程、精度等重要指标参数进行对比。其中最小量程指的是最小物理量程,而非软件迁移的量程。 /p p   3.1 SO2和NOX监测技术的比较 /p p   几种主要SO2测量技术的简单参数对比表见表1。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/0a6a0a06-ef1a-4c64-9c06-8ef7296c45d7.jpg" title=" 55.jpg" / /p p   几种主要NOX测量技术的简单参数对比表见表2。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/9a723c58-4207-4427-9a0b-c88d4ca6bf09.jpg" title=" 66.jpg" / /p p   根据《固定污染源烟气(SO2、NOX、颗粒物)排放连续监测系统技术要求及检测方法》(HJ/T76),按超低排放限值计算,SO2和NOX量程应不大于 175mg/m3和250mg/m3。 从表1和表2可以看出,传统非分散红外吸收法分析仪SO2和NOX的最小量程分别为286mg/m3和308mg/m3,不能满足超低排放污染物在线监测的要求。 /p p   非分散紫外吸收/差分法分析仪的最小量程满足HI/T76标准要求,但CEMS系统的整体性能不但与分析仪本身性能有关,还受烟气预处理系统性能的影响。预处理部分的比较将在后文专题论述。 /p p   从表1和表2还可看出,紫外荧光法和化学发光法测SO2和NOX的最小量程可达到0.1mg/m3,检出下限极低。紫外荧光法和化学发光法是分子发光气体分析技术,属于ppb级的气体分析技术。该种技术以分子发光作为检测手段,具有灵敏度高、选择性好、试样量少、操作简便等优点,已在生物医学、药学以及环境科学等方面广泛应用,也是EPA(美国环境保护署)认证中明确推荐的SO2和NOX浓度监测技术。该技术采用抽取稀释法(常用稀释比为100:1)对烟气进行预处理,避免了烟气水分、烟尘对测量的影响,在超低排放烟气监测上具有较好的适应性。 /p p   3.2 烟尘监测技术的比较 /p p   几种主要烟尘测量技术的简单对比表见表3。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/f0168a55-67d8-413e-84b8-0eb3052375e4.jpg" title=" 77.jpg" / /p p   在火电厂超低排放改造中,烟尘浓度一般要达到10mg/m3以下。尤其以湿式除尘改造为主要技术路线的烟气中水分含量较大,给烟尘的准确监测带来挑战。在实际应用中一般是将烟气等速抽取,经升温加热使水分雾化不出现液滴,再通过光散射等低浓度测量方法进行测量 另一种是将烟气等速抽取,将加热干燥的空气与其按一定比例混合稀释,从而降低烟气中的水分含量,再通过光散射等低浓度测量方法进行测量,结合混合气体的稀释比计算出烟尘浓度。这种方式采用低浓度测量原理,优化了烟气采样和预处理,有效解决目前超低排放改造中高湿低浓度烟尘在线监测的问题,在湿式除尘后已有广泛应用。 /p p   3.3 烟气预处理技术的比较 /p p   火电厂实施超低放改造后,烟气污染物浓度大幅降低,在线监测的适应性取决于系统的检出下限,而CEMS 的检出下限受分析仪本体和烟气预处理装置两部分制约。在实际应用的烟气预处理中,直接抽取+冷干法占70%,均采用冷凝除水技术。该技术在冷凝过程中,冷凝水会吸收携带部分SO2和NOX,以致在超低浓度工况下的监测数据严重失真甚至无检测数据,不能满足HJ/T76标准的技术要求。表4为不同水分含量下不同预处理方式对SO2测量影响的实验对比表。 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/2a5c2e14-a1a8-4109-8997-00c3fa7c0203.jpg" title=" 88.jpg" / /p p   注:标气SO2浓度500ppm,样气温度120℃,测量数值单位ppm。 /p p   从表4可看出,水分含量越高对测量结果影响越大,其中渗透膜除水技术对SO2测量的影响远小于其它除水技术,其除水效果优于其他技术。也可由此而知,在直抽法采用紫外吸收/差分法分析仪时,应同时选用除水效果更好的烟气预处理技术,否则监测数据可能严重失真甚至检测不出数据。 /p p   在稀释法取样中,预处理侧重于对稀释气体的处理,通常配备专门的压缩空气净化装置或者发生装置,经精密过滤和干燥,可将露点降至-40℃,不需要加热采样管线。在CEMS中,稀释抽取法通常与紫外荧光和化学发光技术配套使用。 /p p   4 结论与建议 /p p   (1)超低排放改造实施后,进出口烟气特性差异较大,烟气监测对CEMS的系统配置提出了更高、更具体的要求,建议在可研或技术规范书里明确各测点不同污染物对烟气取样方式、预处理、分析仪的测量原理、量程、检出下限等主要参数和选型的具体要求。 /p p   (2)在超低排放改造中,脱硫脱硝入口CEMS仍可采用常规的预处理装置和非分散红外技术测量SO2和NOX浓度,除尘器前可采用光透射法测量烟尘浓度。 /p p   (3)在脱硫脱硝出口特别是湿式除尘后,SO2和NOX的测量优先采用紫外荧光法和化学发光法技术 若采用直抽法非分散紫外吸收/差分法分析仪时,应同时配备除水性能更优越的膜渗透烟气预处理技术。 /p p   (4)在脱硫出口特别是湿式除尘后,优先采用抽取高温光散射法测量烟尘浓度。 /p
  • 风电齿轮机的无损检测,FLIR VS80有7种探头可选!
    随着风力发电的蓬勃发展,我们可以发现风电设备的停机检修的成本非常高,因此如何提高检修效率,缩短停机周期,减少或避免非计划停机,都是风电企业和运维公司面临的困难与挑战。风电齿轮箱在风电机组中占比较高也是比较容易出现故障的部分风电机组运行的时间越长齿轮箱的故障也会越来越频繁因此需要定期检查和维护今天就来给大家介绍一款风电检修师傅常备的检修工具FLIR VS80工业内窥镜套件!无损探伤,多种镜头可选风电机组的工作原理是,通过涡轮叶片转动来带动齿轮进行机械性转动,从而产生电力。但是齿轮在彼此咬合的过程中,由于工作环境的恶劣性与工况的复杂多变性,在运行过程中也会出现不同程度的损伤。当损伤达到一定程度时,可能会造成停机或者严重事故,因此预防性维护和定期检查非常重要。FLIR VS80的配备7种专业探头,探头小巧灵活,无需拆解损伤设备,可轻松进入齿轮箱、轴承、叶片等位置,还可360°旋转,观看任意位置和角度,VS80主机仅1.3kg,轻巧便携,可以让您根据实际情况灵活应对,帮您检查其他内窥镜无法检查的地方。高效耐用,画面清晰风电齿轮箱在非运转过程中,由于润滑不到位及齿轮箱内环境温度的变化会在齿轮箱内部产生冷凝水,这些水分积聚在齿轮齿面上,最终造成齿面上出现不同程度褐红色铁的氧化物,即齿面锈蚀,严重了会造成润滑剂污染及颗粒物增多,进而加剧对其他齿面的损坏。因此,要选择一款防水耐腐、能看清各个齿面锈蚀的工业内窥镜。FLIR VS80不仅探头尖端是IP67级防水,其显示屏也非常坚固耐用,可承受2米跌落、防溅(IP54级)。其可见光探头的视野深度从10mm到无限,能够轻松拍摄出高清图像。VS80配备可拆卸/可伸缩遮阳板,这样用户可以免受太阳炫光的干扰。当然无论选择哪种探头,都可以在7英寸超大显示屏上同时查看并排显示的实时探头图像和保存图像,轻松与上次检查对比,及时发现齿轮箱中的问题。记录分析结果,方便分享对于风电齿轮箱的检修,需要检测人员爬到七八十米的风轮机上,并且停机检修一次成本高昂,因此检修一次要拍摄大量图片和视频,因为齿轮箱内的齿轮和轴承形状都很相似,就算是拍照的检查人员光看图像也很难回忆出来具体的检测位置。因此最好要边检查边注释。检查结束后与同事及时分享检查结果,分析风电齿轮机的情况,及时定位故障点,避免突然停机事件的发生。工业内窥镜的整体效果,不仅要看硬件参数,更要看软件的处理效果,比如使用FLIR VS80,可采集最高可达1280×720分辨率的静态图像和视频(带音频),还能为视频录制语音注解,为保存图像添加文本记录。并且VS80还配备WiFi功能,搭配手机上的FLIR Tools Mobile应用程序,可实时查看VS80的检查结果,并轻松与客户或同事共享,尽快确定优先维修事项。FLIR VS80高性能视频内窥镜凭借配备的7款探头和良好性能不仅可以帮您检查风电设备故障在工业设备维护、暖通空调制冷设备检测建筑和汽车应用等领域应用也很广泛。
  • 质构仪在乳制品质地分析中的应用及探头选择
    呈固体块状的均质样品乳制品中的塑性粘性固体有人造黄油、黄油、奶油干酪、乳清干酪、乳化干酪等产品,此类产品关键物性特点是硬度即延展性、融化性与温度相关性、加工过程中的硬度变化、内聚性等。而蜡质和绵软弹性固体样品则主要是意大利干酪、荷兰干酪、羊乳酪、白乳酪、软质乳酪等,通过质构仪可分析其硬度、表面粘附性、成熟度、货架期、水分丧失引起的表面结构变化等。典型实例 1:奶油的铺展性分析(挤压/挤出实验) 该探头专业用于检测黄油、人造黄油的铺展性、蜡质性的特殊探头,通过实验可得到样品的硬度、粘附性、柔软度等指标。实验结果解读:如图所示为不同状态下黄油的测试曲线。曲线的正向峰值反映了黄油样品的硬度,可见 Dry 的黄油由于含水量少,故而在质地上较为坚硬,而 Wet 的黄油则硬度最小,Good 的黄油硬度处于二者之间,硬度的大小也反映了反映了产品的柔软度,硬度小则柔软度高,反之则柔软度差。从图中可见,太干或太湿的黄油在硬度上都会与“Good”产品存在明显的差异。典型案例 2:传统与素食奶酪产品的质地分析(穿刺实验)实验结果解读:用小直径的柱形探头做奶酪的穿刺实验,穿刺实验主要比较的是破裂力(正向峰值前面出现的小的峰)、硬度(正向峰值)、穿刺做功(正峰面积)、粘附力和粘附性。通过质构仪分析可见,素食产品在硬度和表面粘性上均小于传统奶酪,素食产品的内部均一性要优于传统产品(穿刺过程中力量基本不发生变化),而传统产的内部随着挤压的进行力量在缓慢的增大,可见其均一性不如素食产品,即脂肪含量的不同使得素食产品含水量较少且更脆,可见素食产品还需要在硬度、表面粘性、含水量等方便进行优化与改良。典型实例 3:黄油的硬度检测分析实验结果解读:人造黄油改善了黄油脂肪含量高的问题,为了使人造黄油在口感和质地上与黄油更加的接近,生产商需要了解二者在质地和口感上存在的差异具体表现在哪里。切线切割探头可以反应切割黄油时的平均力量(最大峰值),以及挤压做功(正峰面积),通过力量与做功的比较发现,人造黄油切割力与做功都远小于天然黄油,由此可见在质地上人造黄油更为柔软。
  • 高效率三共振/双共振固体核磁共振MAS探头由合肥研究所研制成功
    p & nbsp & nbsp 中国科学院合肥物质科学研究院强磁场科学中心研制出高效率三共振/双共振固体核磁共振魔角旋转(Magic Angle Spinning, MAS)探头,可实现在双共振/三共振模式或不同谐振频率间的切换,主要用于四极核材料、膜蛋白以及锂电池/超级电容的固体NMR研究。 /p p style=" text-align: justify " & nbsp & nbsp 固体核磁共振(NMR)在研究有序或无序材料、不可溶生物分子的原子尺度结构和动力学信息中发挥着重要的作用。固体或半固体样品中,化学位移、偶极耦合以及核四极相互作用的各向异性导致固体NMR谱图分辨率远低于液体NMR。MAS和偶极去耦是固体NMR实验中常用的提高谱图分辨率的基本方法。 /p p style=" text-align: justify " & nbsp & nbsp 不同的实验和应用体系,对MAS探头的要求和功能,如射频场强度和均匀度、脉冲功率-射频场强度的转换效率、MAS转速、射频通道数、通道调谐范围、变温范围以及原位检测等,有不同的要求。因此,探头是NMR波谱仪中需要特别设计和定制的部件。继2015年底研制出固体双共振静态探头后,强磁场中心研究员王俊峰课题组博士毛文平在三共振3.2mmMAS探头研制方面又取得新的突破。 /p p style=" text-align: justify " & nbsp & nbsp 3.2mmMAS转子和定子的设计和加工均在国内完成。经过多次设计-优化后,研究人员联合国内陶瓷加工厂商试制出的转子能够在2380mBar的驱动气压下以21kHz的转速稳定地旋转。为了增大X或Y通道调谐范围,阻抗匹配网络被设计制作成一系列可快速插拔的PCB插件,方便用户在双共振/三共振模式或不同谐振频率间的切换。该探头的主要性能参数为:(1)1H B1场均匀度A810/A90约为96%,三共振模式下B1强度为108kHz@210W;(2)13C B1场均匀度A810/A90约为88%,三共振模式下B1强度为88kHz @ 169W,双共振模式下为111kHz@169W;(3) 三共振模式下15N B1强度为50kHz@269W,双共振模式下为75kHz@269W;(4)双共振时X通道可覆盖39K~31P范围内所有Larmor共振频率。 /p p style=" text-align: justify " & nbsp & nbsp 三共振3.2mm MAS探头主要用于四极核材料、膜蛋白以及锂电池/超级电容的固体NMR研究,将与双共振静态探头一并纳入合肥战略能源和物质科学大型仪器区域中心向用户开放。 /p p br/ /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/c29cecf9-bdcd-4c3d-a8f2-35c730ff8d19.jpg" title=" 5.png" / /p p style=" text-align: center " MAS转速表 /p p style=" text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201807/insimg/e0428ad4-aa99-46b1-99ba-88ea4d50b228.jpg" title=" 6.png" / /p p style=" text-align: center " 金刚烷的线型测试 /p p br/ /p
  • 扫描电镜的探头新解——安徽大学林中清32载经验谈(6)
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " 【作者按】形貌衬度、Z衬度、晶粒取向衬度、二次电子衬度、边缘效应、电位衬度等是形成扫描电镜表面形貌像的几个重要衬度信息。对这些衬度信息的接收离不开探头。本文将就扫描电镜两种主要探头的构造、工作原理及其接收的样品信息进行详细探讨。 /span /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) " 一、二次电子探头 /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 目前教科书的观点认为:二次电子探头接收的样品表面信息主要是二次电子。真实情况是否如此呢? /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " strong 1.1二次电子图像所拥有的特性 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " A) 二次电子能量很低(低于50ev),从样品表面溢出的深度浅,在样品中的扩散范围小。适合用于表现样品表面形貌像的极细小细节(小于10nm)。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/3edeb286-6abb-4bf7-8b3a-008c9ab1551f.jpg" title=" 1.png" alt=" 1.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " B)二次电子能量低,在样品表面的溢出量容易受到静电场(荷电)的影响,出现图像局部或全部异常变亮、磨平、变暗并伴随图像畸变的现象,即样品图像的荷电现象。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/fb564107-ab21-4b67-9812-18699dec50be.jpg" title=" 2.png" alt=" 2.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " C)二次电子的产额受平面斜率影响较大,边缘处产额最高,形成所谓的二次电子衬度及边缘效应。这些衬度信息会形成信息的假象,也有助于分辨某些特殊的样品信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 0em " span style=" text-indent: 2em " /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/51c0d3a0-49ba-412e-96ee-f789a068425d.jpg" title=" 3.png" alt=" 3.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" text-indent: 2em " D) 二次电子图像的Z衬度一般表现较差。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/9d2c7e97-f6a9-4de1-b054-9b8e5101f0f5.jpg" title=" 4.png" alt=" 4.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " strong 1.2二次电子探头的组成及工作原理 /strong /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子能量弱(低于50ev),要想获取二次电子信息就必须采用高灵敏探头。利用敏感度极强的荧光材料接收弱信号,再以光电倍增管对弱信号做百万倍的放大,将能量极弱的二次电子信息转化为能被电子线路处理的电子信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 这种设计是目前解决这一难题的最佳方案。二次电子探头的基本构造正是以这个思路为基础来设计。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.2.1 Everhart-Thornley探测器的结构组成 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 由金属网收集极、闪烁体、光导管、光电倍增管和前置放大电路组成的探测器被称为Everhart-Thornley探测器。一直以来都是各厂家用于接收二次电子的主流探测器。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/2f6dd144-afab-427d-99c2-96f6565bc641.jpg" title=" 5.png" alt=" 5.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.2.2 Everhart-Thornley探测器的工作原理 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 位于探头最前端的收集极是由金属网构成,其上加有200V的正偏压以捕获更多的二次电子。进入收集极的二次电子由加载在闪烁体金属铝膜上的10KV电压加速在闪烁体上产生一定数量的光子。由闪烁体产生的光子经过光导管的全反射进入光电倍增管阴极,在阴极上转换成电子。这些电子由打拿极的不断倍增,经阳极输出高增益低噪音的电信号。该信号由紧贴阳极的前置放大器放大后,从探测器输出。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 探测器本身无法将到达探测器的高能量背散射电子从低能量的二次电子中分离,但通过改变收集极偏压可以将低能量的二次电子给阻绝在探头外面。其接收的信息特性完全取决于到达探头的信息组成,如果信息中二次电子含量大则图像偏向于二次电子的图像特性,如果背散射电子含量大则结果偏向于背散射电子的图像特性。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 将探头的收集极变成负偏压,则我们可以获得偏向于背散射电子的图像。但是图像信号衰减较多,图像质量较差。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 1.3二次电子探头的位置与成像特性 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 高分辨场发射扫描电镜中,二次电子探头(ET探头)往往被置于仪器的两个位置:镜筒及样品仓。虽然各电镜厂家探头的具体位置有差异,但其结构是基本一致。探头位置不同,获取的图像性质差异也非常大。下面就以日立冷场电镜S-4800二次电子探头的位置设计为例来加以说明。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.3.1& nbsp S-4800二次电子探头的位置设计 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 在冷场扫描电镜S-4800中标配了两个二次电子探头。这两个探头的结构和性能完全一致,仅仅在电镜中安装的位置有所差异。一个位于样品仓,另一个位于物镜的上方。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 如下图所示: /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6b4fc92d-a161-48eb-938a-cdc27b8be3a5.jpg" title=" 6.png" alt=" 6.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 1.3.2 上、下探头的工作过程及获取图像的特性 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 1.3.2.1上探头接收的样品信息 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 扫描电镜EXB系统的结构是在物镜磁场(B)上方正对着上探头设计一个电场(E)。该电场的作用是将物镜磁场吸上来的背散射电子、二次电子混合信息中能量较弱的二次电子分离出来,推向上探头。这个过程如同碾米机进行米、糠分离时吹风机的作用一样。故上探头获取信息是较为纯正的二次电子。背散射电子也可以通过位于物镜内的电极板转换成二次电子被上探头接收,通过调节电极板上加载的电压来选择到达上探头的信息特性。这种间接接收的背散射电子有其一定的特点,但损耗大,大部分情况下信号量不足。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 下面组图为上探头接收的四种信息特性。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/312e9fc9-364e-47b7-aa0f-f4a6759f8a69.jpg" title=" 7.png" alt=" 7.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/6ccf7e3c-4ea6-4df7-a35f-702c3461675e.jpg" title=" 8.png" alt=" 8.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 1.3.2.2上探头的工作过程 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 高能电子束轰击样品产生各种电子信息被物镜磁场吸收送往物镜上方。工作距离越小被物镜俘获的样品电子信息越多,其中二次电子和背散射电子是呈现扫描电镜表面形貌信息的主要信号源,将被拿出来单独讨论。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 二次电子和背散射电子混合信息被物镜磁场送到位于物镜上方的电场,能量弱的二次电子受电场影响从混合信息中被分离出来并推送到位于物镜上方的上探头,背散射电子由于能量较强,电场对其影响较小,将穿过电场轰击位于电场上方的电极板,产生间接二次电子也会被上探头接收到,但其含量较小不是主要信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 位于物镜中的电极板通过调整加载电压来选择进入物镜的信息类型。低角度(LA)背散射电子可由电极板转换成二次电子被上探头接收,形成所谓间接的LA背散射电子像。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 电极板加载+50V电压,将吸收低角度的二次电子和背散射电子,抑制低角度电子信息进入镜筒(U)。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 电极板加载0V,将由其转化成二次电子的低角度背散射电子和低角度二次电子信息都送入镜筒。上探头接收的是各种角度二次电子和低角度背散射电子的混合信息。其混合比例将随着电极板电压的降低,背散射信息逐渐增多(U,LA0)。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " -150V时,二次电子被全部压制,此时上探头接收到的是纯的低角度背散射电子所激发的二次电子信息(U,LA100)。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 位于镜筒内的能量过滤器,会将二次电子以及低角度背散射电子所形成的二次电子给抑制,此时上探头或顶探头接收的是高角度背散射电子信息(U,HA)。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 图像特性:Z衬度充分,其他都不足。由于高角度背散射电子产额少,对样品及束流的要求都较高。目前在束流较低的冷场扫描电镜中取消这个功能,只在束流较高的regulus8200系列冷场电镜中保留顶探头设计。但适用的样品并不多。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/54aea59e-1225-4703-a62d-324fa54bf35c.jpg" title=" 9.png" alt=" 9.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 1.3.2.3下探头的位置及其图像特性 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp 下探头位于场发射扫描电镜样品仓位置。示意图如下: /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/17380253-5429-4944-af61-5caa22457c69.jpg" title=" 11.png" alt=" 11.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 下探头位于样品仓中,因此也称样品仓探头。它与样品之间没有任何阻碍物,激发出来的样品信息可以不受影响的到达该探头。下探头本身不能对到达探头的背散射电子信号加以甄别,其图像特性取决于到达探头的信息特征。二次电子居多,就偏向二次电子的图像特性;背散射电子居多,则偏向于背散射电子的图像特性。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp 样品仓探头接收的样品信息以低角度信息为主,背散射电子含量占主导。对样品信息的接收效果取决于探头与样品之间形成的固体角,样品的位置十分关键,存在一个最佳工作距离。各厂家的最佳工作距离各不相同,日立电镜是15mm。下探头位于样品的侧向,图像特性:形貌衬度好,立体感强;荷电影响小;Z衬度好;细节易受信号扩散影响,高倍清晰度不足,10纳米以下细节很难分辨。& nbsp /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 不同厂家的样品仓探头位置不同,因此最佳工作距离以及探头、电子束、样品之间的夹角都会略有不同。形成的图像在空间感及高分辨能力上存在差异。样品仓真空度也是样品仓探头分辨力的主要影响因素之一。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 日立冷场扫描电镜下探头的成像实例: /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/b5917c9d-9e59-41fb-82c6-4c3fd3475cab.jpg" title=" 12.png" alt=" 12.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/decfd495-8ec1-490e-b6e8-c6735f4f5ad9.jpg" title=" 13.png" alt=" 13.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 1.3.2.4上、下探头的图像特性对比实例 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 上、下探头结构一致,仅仅由于安装位置不同导致其成像特性也不一样,充分掌握这些差异将有利于你选择正确的测试条件。下面将通过几组对照图来加以阐述: /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c911ae27-5aac-4936-a791-5f3f37126870.jpg" title=" 14.png" alt=" 14.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/7388deb2-be2f-472d-9c96-52b873fb089c.jpg" title=" 15.png" alt=" 15.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/169e28be-1208-4ae4-ace5-96820e80cb8b.jpg" title=" 16.png" alt=" 16.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 从以上各组对照图可以清晰看到,上探头二次电子信息特征极为强烈,而下探头偏重背散射信息。这些特点使得该两种探头获得的样品信息差异较大,各自都有适合的样品及所表现的样品信息。在各自适用的范围内对方都无可替代。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 根据个人多年的测试经验,下探头获取的样品信息虽然在10纳米细节观察上有所欠缺,但获取的信息更为充分。本着初始图像以信息量是否充分为主的原则,15mm工作距离选用下探头测试,常常被用做扫描电镜测试时的初始条件。以该条件下获取的形貌像为参考,依据样品的信息需求以及对上、下探头成像特性的正确认识,再做进一步调整。 /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" font-size: 18px color: rgb(0, 176, 240) " 二、背散射电子探头 /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.1背散射电子的图像特性 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 高能电子束受样品原子核及核外电子云的库仑势影响,发生弹性和非弹性散射后溢出样品表面,形成样品背散射电子。其特点是:能量大(与入射电子相当),产额受样品原子序数、密度以及晶体材料的晶体结构及晶粒取向影响较大,是形成样品Z衬度和晶粒取向衬度信息的主要信号源。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 背散射电子按信号溢出角分为高角度和低角度两种类型。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 高角度背散射电子的Z衬度更为明显,但整体产额很低,仅在束流较大的场发射扫描电镜上配置了接收该信息的探头。探头位于镜筒中物镜的正上方(或称T),适用样品并不多。扫描电镜日常采集的主要是低角度背散射电子。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 高角度背散射电子相较于低角度背散射电子,Z衬度更为明显,但其产额较低。由于该信息最佳接收位置在样品正上方,探头、样品以及入射电子束在一条线上,故空间形貌较差。低角度背散射电子Z衬度略弱,但产额大,形貌像更好。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 要充分接收低角度背散射电子信息,探头需要与样品形成一定角度。相对于高角度背散射电子,低角度背散射电子形成的图像空间感好,表面形态及细节信息较充分,但Z衬度略差,不如高角度背散射电子明显。以下是分别以二次电子和高、低角度背散射电子为主所形成的形貌像比较。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/cf857ded-2b46-4cfa-b30e-df25d2f6cbcb.jpg" title=" 17.png" alt=" 17.png" / /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong style=" text-align: center text-indent: 0em " 碳复合金颗粒的二次电子、高角度背散射电子、低角度背散射电子对照 & nbsp & nbsp & nbsp /strong span style=" text-align: center text-indent: 0em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 2.2背散射电子探头的构造及工作原理 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 环形半导体背散射电子探头是最经典的背散射电子探头。该探头采用环状硅基材料做成,构造形式是半导体面垒肖特基结二极管或p-n结二极管,如下图: /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/c6983a61-7f15-42c3-849e-c0b3f78c0f4f.jpg" title=" 18.png" alt=" 18.png" / /p p style=" text-align: center text-indent: 0em " strong 图片节选自《微分析物理及其应用》 丁泽军 /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 背散射电子在硅基探测器中激发大量的电子-空穴对。同样加速电压下,电子-空穴对的产量和背散射电子强度形成一定的对应关系。并由此形成对应的电信号,经处理后在显示器形成样品的背散射电子图像(Z衬度像或晶粒取向衬度像)。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp & nbsp & nbsp 硅基材料形成电子-空穴对,需要信号激发源有一定的能量(肖特基结对5KV以下电子有大增益,P-N结对10KV电子才有大增益),能量较小的二次电子很难在该探头上产生信息,故探头形成的图像带有强烈的背散射电子图像特性。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 为了获取低能量的背散射电子信息,背散射电子探头改用YAG晶体或在探头上做一层薄膜如FEI的CBS,这些改变都对探头获取低能量背散射电子有利,形成的图像细节更丰富。但探头灵敏了,干扰也会增多,Z衬度也会减弱。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/a6b2de85-8984-486a-8940-122ff5311cf1.jpg" title=" 19.png" alt=" 19.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" text-indent: 2em " 2.3各种探头接收背散射电子信息的结果对比 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 传统硅基P- N结背散射电子探头对加速电压的要求高(10KV以上),它获取的背散射电子信息不易受低能量信息的干扰。Z衬度分明,荷电影响极小,但图像的细节呆板,表面细节信息缺失严重,较高倍时图像的清晰度差。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 钨灯丝扫描电镜,电子枪本征亮度差,要获得高质量形貌像所需的电子束发射亮度,加速电压必须在10KV以上。P-N结背散射电子探头正好与其互相匹配,故被广泛使用。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 场发射扫描电镜本征亮度大,低加速电压下进行高分辨形貌像测试是常态,P-N结背散射电子探头与其匹配度差。而CBS和YAG探头的功能和样品仓探头比起来Z衬度优势并不明显,二次电子的接收效果又不如,个人认为完全可以用样品仓探头来完美的替代背散射电子探头。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 如前所述,二次电子探头也能接收大量背散射电子。它所获取的图像性质取决于到达探头的信息组成,如果背散射电子信息居多,它就偏向背散射电子的图像特征,二次电子居多就偏向二次电子图像特征。二次电子探头适合在不同加速电压(几百伏到30KV)下获取背散射电子图像。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 低加速电压有利于取得是浅表层信息;高加速电压有利于取得较深层信息。探头的适用范围越广,测试条件的选择越充分,获取的样品信息越完整。 /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/de1afe4f-f593-4e4e-88d0-92b7ec8a573e.jpg" title=" 20.png" alt=" 20.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 背散射探头通过电子-空穴对的转移来传递信息,运行速度较二次电子探头(光电转换)慢很多。在进行聚焦、像散、对中操作时,图像对操作的反应滞后严重,须在慢速下调整。整个操作麻烦,精确的高倍调整更为困难。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 背散射电子探头往往置于样品与物镜之间,推进推出操作麻烦且易引发探头和样品间碰撞,对探头造成损伤。对该位置的占有,也会给后期分析设备安装带来麻烦。随着能谱仪、EBSD性能的突飞猛进,背散射电子探头对成分及结构组成分析的作用大大衰减,且成本不低,信息量少,使用率低。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 个人观点:背散射探头连鸡肋都算不上,基本可以抛弃。 /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-size: 18px " strong 结束语 /strong /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 探头是扫描电镜获取样品表面形貌信息的关键部件。其性能高低对形成样品高质量、高分辨的表面形貌像至关重要。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 探头主要有两大类:二次电子探头、背散射电子探头。传统的观点认为:二次电子探头主要用来接收样品的二次电子信息,背散射电子探头接收的是背散射电子信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 实践经验告诉我们这个观点并不正确。二次电子探头的图像性质取决于到达探头的信息组成。到达探头的信息以背散射电子信息为主则图像倾向背散射电子图像特性,二次电子信息为主则是二次电子的图像特性。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 高分辨场发射扫描电镜常规设计有两个二次电子探头,分别位于样品仓和镜筒内部。不同位置的探头获取样品表面形貌信息的组成差异很大。镜筒内探头获取的基本都是二次电子信息,样品仓探头则是以背散射电子为主的混合信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 改变工作距离对探头获取样品信息的影响极大,工作距离越小越有利于上探头获取样品的二次电子信息,大工作距离有利于样品仓探头获取样品的混合信息。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 工作距离对样品仓探头接收样品信息的影响并不是越大越好,而是有一个最佳工作位置。最佳工作位置设计的越合理,你获取的样品信息也就会越丰富。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 传统的半导体背散射电子探头由于需要较大的激发能,故能量较弱的二次电子很难在探头上产生信号,该探头获取的背散射电子图像较为纯净。早期的硅基P-N结半导体背散射探头激发能要求较高(10KV)所以它形成的图像呆板,细节分辨差,表面信息少,但Z衬度强烈,不易受荷电影响。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 高加速电压对充分获取样品表面信息不利,为了提高探头获取表面信息的能力,出现许多低电压背散射探头(CBS\YAG)。但个人认为:低电压背散射电子探头的成像效果不如样品仓探头来的细腻,设计合理的样品仓探头完全可以替代背散射探头的功能。 /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 要掌握好仪器设备,对各功能部件的充分认识是基础。希望通过本文,能和大家一起对扫描电镜的信息接收系统有个重新认识。对探头以及工作距离的正确选择必定会为你带来更为丰富的样品信息。 span style=" text-indent: 2em " & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 参考书籍: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《扫描电镜与能谱仪分析技术》张大同2009年2月1日& nbsp span style=" text-indent: 2em " 华南理工出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 & nbsp & nbsp & nbsp 2009年1月& nbsp span style=" text-indent: 2em " 中科大出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《自然辩证法》 & nbsp 恩格斯 & nbsp 于光远等译 1984年10月& nbsp span style=" text-indent: 2em " 人民出版社& nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 《显微传》 & nbsp 章效峰 2015年10月& nbsp span style=" text-indent: 2em " 清华大学出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " 日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍 span style=" text-indent: 2em " & nbsp 高敞 2013年6月 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 作者简介: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " img style=" max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 75px height: 115px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202003/uepic/741ca864-f2b8-4fc3-b062-2b0d766c5a7b.jpg" title=" 扫描电镜的探头新解-林中清.jpg" alt=" 扫描电镜的探头新解-林中清.jpg" width=" 75" height=" 115" border=" 0" vspace=" 0" / 林中清,87年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累,渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论,使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案,在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破,其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。& nbsp & nbsp /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong 延伸阅读: /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong /strong /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200218/522167.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 二次电子和背散射电子的疑问(下)——安徽大学林中清32载经验谈(5) /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200114/520618.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 二次电子和背散射电子的疑问[上]-安徽大学林中清32载经验谈(4) /span /a /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong /strong /span /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191224/519513.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 电子枪与电磁透镜的另类解析——安徽大学林中清32载经验谈(3) /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191126/517778.shtml" target=" _self" style=" text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜放大倍数和分辨率背后的陷阱——安徽大学林中清32载经验谈(2) /span /a /p p style=" text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20191029/515692.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) border: none text-decoration: underline " span style=" color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜加速电压与分辨力的辩证关系——安徽大学林中清32载经验谈 /span /a /p
  • 好不好探头说了算--记锻件近表面缺陷的超声检测技术研究
    p style=" line-height: 1.75em " span style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 1 锻件的检测技术要求 /span span style=" line-height: 1.75em " & nbsp /span br/ /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 随着现代科学技术的发展,对产品质量的要求越来越高,特别是航空、航天、核电等重要场合的产品。超声检测作为工件内部缺陷检测的有效手段,以其可靠、灵敏度高等优点,在现代无损检测领域占有重要地位。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 锻件超声检测时,近表面缺陷容易漏检,原因主要是探头盲区,探头盲区与近表面检测有关。此次研究的目标就是寻求解决减小盲区提高近表面缺陷检测灵敏度的技术方法。 br/ /p p style=" line-height: 1.75em text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/3a7dc7d4-132d-4167-832c-0c12ec4466e9.jpg" title=" PT160309000023OlRo.jpg" width=" 450" height=" 287" border=" 0" hspace=" 0" vspace=" 0" style=" width: 450px height: 287px " / /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 2 检测近表面缺陷的实验器材& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 由超声检测知识可知,检测近表面缺陷的常用方法有:双晶探头法、延迟块探头法和水浸法。根据检测方法准备了以下实验器材:& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp strong (1) 超声波探伤仪1台;& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp (2) 探头: /strong /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 双晶直探头,规格为10P10FG5; /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 延迟块探头,规格为10P10; /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 水浸聚焦探头,规格为10P10SJ5DJ。 /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 选用以上探头检测近表面小缺陷,是因为:& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 探头频率高,分辨力好,波长短及脉冲窄,有利于发现小缺陷;& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 探头尺寸小,入射能量低,阻尼较大,脉冲窄,有利于发现小缺陷。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp strong (3) 试块:& nbsp /strong br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 在航空、航天、核电等领域中,重要锻件一般是高强钢,如A-100钢和300M钢,钢的组织都较为均匀。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 如果声速相同、组织相近,超声检测用对比试块可以使用其他的钢种进行代替。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 资料显示,A-100钢的声速约为5750mm/s,300M钢的声速约为5800mm/s。我们现有的超声波试块,实测声速约为5850mm/s,声阻抗与A-100钢和300M钢的声阻抗较为接近。因此,可使用现有的试块进行实验和研究。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 试块编号为:1#,2#,3#;各试块的俯视图均如图1所示,图中的孔均为平底孔,1#,2#,3#试块上的孔到上表面的距离分别为1,2,3mm。试块尺寸见图1。& nbsp br/ /p p style=" line-height: 1.75em text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/470f585e-beef-4c52-8ac2-b3f3a68fadef.jpg" title=" 图1.jpg" / /p p style=" line-height: 1.75em text-align: center " 图1 试块的俯视图示意& nbsp /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 3 实验方法& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 3.1 实验1& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 使用10P10FG5双晶探头分别对1#、2#、3#试块进行测试。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 实验结果可见,使用双晶探头能成功检测出2#试块上Φ1.6mm,Φ2mm的平底孔与3#试块上所有的平底孔;但2#试块上Φ0.8mm的平底孔,以及1#试块上所有的平底孔都未能有效地检出。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 从图2分析可知,双晶探头聚焦区限制了2#试块上Φ0.8mm及1#试块上所有平底孔的检出。& nbsp br/ 可以发现:& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 1、只有当缺陷位于聚焦区内,才能得到较高的反射回波,容易被检出。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 2、当缺陷位于聚焦区外,无法被声束扫查到,所以得不到缺陷的回波,因此就很难发现此类缺陷。 br/ /p p style=" line-height: 1.75em text-align: center " img src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201603/insimg/aa5f1d2e-551e-4702-8026-323dbda22753.jpg" title=" 图2.jpg" / /p p style=" line-height: 1.75em text-align: center " 图2 双晶探头聚焦区示意图& nbsp /p p style=" line-height: 1.75em " & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 3.2 实验2& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 为解决实验1中,由于双晶探头聚焦区限制造成的,对2#试块上Φ0.8mm及1#试块上所有平底孔无法检出的问题,改用无聚焦的10P10延迟块探头,对2#试块上Φ0.8mm及1#试块上所有平底孔进行测试。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 实验结果显示,使用延迟块探头能成功检测出2#试块上Φ0.8mm及1#试块上所有的平底孔。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 3.3 实验3& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 实验1和实验2都是利用直接接触法进行检测,实验3使用10P10SJ5DJ水浸聚焦探头,利用水浸法分别对1#、2#、3#试块进行测试,结果未能检测出1#、2#、3#试块上所有的平底孔。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 究其原因是因为:水/钢之间介质的声阻抗不同,造成水/钢产生界面波;并且超声波从水中经过,水对超声的衰减,造成了超声能量的降低;这样,需要提高脉冲发射强度来解决。但脉冲发射强度提高的同时,脉冲自身又变宽了,造成近场干扰加大;因此,在声束由水进入钢时声束又会形成发散,无法分辨接近表面的小缺陷,也就未能检测出试块中的平底孔。& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 4 总结& nbsp br/ & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp 总结一下,我们发现:对于近表面小缺陷的检测,为了兼顾检测灵敏度和检测盲区,采用高频窄脉冲延迟块探头的检测效果最佳。高频窄脉冲延迟块探头才是近表面小缺陷检测的紧箍咒,使它无所遁形。 br/ /p p style=" line-height: 1.75em text-align: right " 节选自《无损检测》2015年第37卷第5期 br/ /p p br/ /p
  • 海洋光学R1000-4探头改善了有色及浑浊环境中的pH响应
    海洋光学新型R1000-4反射探头将极大提高pH测定效率。R1000-4与海洋光学非侵入式反射pH感应补丁搭配使用,可以克服使用单一方式检测的弊端,在浑浊或有色环境中实现精确的pH反应。 海洋光学的光学pH传感系统由具有pH反应补丁的光纤探头、光源、光谱仪和软件组成。从酒精和溶剂等清澈浅色的样本,到泥浆和地表水等浑浊且光密质样本,指示材料补丁和探头可充分优化各种样本和环境中的pH值监控过程。传感补丁可以直接用于光纤探针,比色皿以及其他基片上。 在食品、饮料和环境检测情况下,通常有色或浑浊溶液对pH测定制造了挑战。R1000-4探头设计极大地增强了反射式pH补丁的背反射率,提高了信噪比,以提供更精确的结果。将R1000-4探针与海洋光学反射式补丁相结合,可实现精确的非侵入式pH测量,其用途包括啤酒和葡萄酒的发酵监控,以及湖水和河水的检测。 关于海洋光学(Ocean Optics)和豪迈(HALMA): 总部位于美国佛罗里达的海洋光学(www.OceanOpticsChina.cn)是世界领先的光传感和光谱技术解决方案提供商,为您提供测量和研究光与物质相互作用的先进技术。海洋光学在亚洲与欧洲设有分部,自1992年以来,在全球范围内共售出了近20万套光谱仪。海洋光学拥有庞大的产品线,包括光谱仪、化学传感器、计量仪器、光纤、薄膜和光学元件等等。洋光学的产品在医学和生物研究、环境监测、科学教育、娱乐照明及显示等领域应用广泛,公司隶属英国豪迈集团。创立于1894年的豪迈(HALMA www.halma.cn)是国际安全、健康及传感器技术方面的领军企业,伦敦证券交易所的上市公司,在全球拥有3700多名员工,约40家子公司。豪迈目前在上海、北京、广州、成都和沈阳设有代表处,并且已在中国开设多个工厂和生产基地。
  • 新品来袭!Cobra扫查器A25 DLA焊缝探头闪亮登场~
    新探头和楔块系列发布~用于扩展Cobra扫查器在难以穿透的材料中使用对于难以检测、耐腐蚀的材料,如奥氏体或其他粗晶合金,一种新的双线性阵列相控阵解决方案已推出。此方案可以解决小管径焊缝检验,兼容Cobra扫查器,包括一个新的探头(A25)和新的楔块系列(SA25)。该探头在同一个外壳具有两个线性阵列,配合具有特定屋顶角的不同弧度的楔块,有助于在薄壁材料中更有效地聚焦声束。使用纵波一发一收(TRL)技术使它可以检查不能使用标准A15探头脉冲回波探测解决方案的材料。探头和楔块将可用SetupBuiler创建聚焦法则。该解决方案将兼容OmniScan SX,Omniscan32:128以及任何Omniscan PR模块。
  • 新品发布|苏州纽迈冻土高灵敏内置探头新品发布,邀您见证!
    3月28日,苏州纽迈分析于2024年第八届全国岩石物理学术研讨会举行冻土高灵敏内置探头新品发布。会议现场,我们有幸与各位岩石物理方向的参会代表共同见证纽迈成长,详细介绍了冻土高灵敏内置探头新产品。产品介绍:纽迈分析在原有一英寸夹持器探头的基础上深度研发。相比传统的外置探头,针对一英寸样品将夹持器探头线圈的内径从70mm缩减到32mm,大幅度提高信噪比,同时节省测试时间,能够满足一些特定的样品例如冻土,煤炭等低温常压的测试需求。应用范围:适用于短弛豫,弱信号的冻融循环、冻结损伤实验。显著优势:1.信噪比提高五倍,节省大量测试时间;2.最短回波时间从120μs缩减为60μs;3.温度平衡(-25-30℃)时间从45min降低到30min。
  • 梅特勒托利多第四代光纤探头全新上市
    梅特勒托利多推出第四代光学界面全新设计的AgX光纤探头DS系列。DS系列性能优异,使用方便,能灵活与ReactIR™ 和MonARC™ 系统连接,在化学反应体系中进行原位测量,提供有价值的信息帮助化学家进行定量和定性分析。   DS系列卤化银 (AgX) 光纤探头有以下优点:   • 无需光路调准,即插即用   • 可选钻石和硅,氧化锆或者硫化锌ATR传感器   • 配合用户需求,提供多种尺寸   • 适用于多种化学反应条件,低温、高压、气相等   • 整合RTD监测器进行原位实时温度测量   更多信息,请登入www.mt.com/autochem   梅特勒托利多中国
  • 易轻忽之肯綮:扫描电镜工作距离与探头的选择(下)——安徽大学林中清32载经验谈(10)
    p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " strong 【作者按】 /strong 前文【 a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200616/551389.shtml" target=" _self" strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px color: rgb(0, 176, 240) " 扫描电镜工作距离与探头的选择(上) /span /strong /a 】我们通过实例展示并探讨了:工作距离与探头的不同组合与样品表面形貌像的分辨力之间存在怎样的关系,列表对比了不同工作距离和探头组合的优缺点。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 本文将进一步以实例来展现并探讨,正确的工作距离和探头的选择,将会对扫描电镜的测试结果和状态的维持产生怎样的影响。给大家在进行扫描电镜测试工作时,对于工作距离及探头的选择,提供一定参考。 /span /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" font-family: 宋体, SimSun color: rgb(0, 176, 80) font-size: 18px " 一、工作距离和探头的选择与表面形貌像的形成 /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 如前面一再强调,形成扫描电镜表面形貌像的基础在于反映表面形貌高低差异的形貌衬度。形成形貌衬度的因素,取决于探头对样品信号的接收角度,而形成这个接收角度的主要因素,依据样品特性及信息需求的不同分为两个层面。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 第一个层面:低倍,观察的样品表面形貌起伏较大(大于20纳米)。要表达这类信息,需要相应的形貌衬度也较大。只有在探头、样品和电子束之间存在一定角度,所形成的形貌衬度才能充分展现这种位置上的差异。 strong 此时样品仓探头(L)将作为接收样品信息的主体 /strong 。不同的形貌衬度,要求这三者之间形成的最佳接收角不同,需要进行不停的调整。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 实际操作时,由于探头和电子束中轴位置是固定的,因此这个角度的改变就落实在样品位置的调整上。工作距离和样品台倾斜角的改变是进行这个角度大范围调整的唯二之法。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 第二个层面:高倍,观察区域缩小,样品表面起伏减弱,形貌高低位置的差异也将削弱,样品电子信息的溢出角度所形成的形貌衬度足以呈现样品表面高分辨形貌特征。因观察的细节小,小于10纳米,信息扩散对这些细节的干扰将左右最终结果。用小工作距离、镜筒内探头来获取充分的二次电子信息是最佳方案,此时形成高分辨表面形貌像的关键点在于 strong 镜筒内探头(U)能否充分获取样品的低角度电子信息 /strong 。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 在扫描电镜的实际测试过程中,所要获取的样品表面形貌信息,绝大部分都落实在第一个层面中。因此充分利用样品仓探头来形成样品的表面形貌像,就应当成为日常测试工作的主要选择。以此为基础,依据样品所表现出的特性及所需获取的样品信息,来改变测试条件,将会使得测试工作真真做到有的放矢,获取的样品信息也更充分。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 十分可惜,由于认识上的偏差,对工作距离和探头的选择思路往往与此背道而驰。将小工作距离做为获取高分辨像的唯一途径,进而推广为常规测试条件,这容易形成样品信息不充分、假象多、压缩样品操作空间、增加镜筒污染和样品损伤几率的结果。这些事例都将在本文中给予充分的体现。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 要使表面形貌像含有充足的样品信息,关键是如何调控样品仓探头(L)和镜筒内探头(U)对样品信息的获取。而这个调控工作的关键点又在于工作距离的选择 /span /strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 下面将以工作距离的改变为主轴,从表面形貌像的信息量、样品荷电的应对、磁性材料的观察这几个方面来探讨不同的工作距离和探头选择究竟能带来怎样的测试结果。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.1& nbsp 工作距离的改变与表面形貌像的获取 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 利用扫描电镜对样品的表面形貌进行观察,其过程和我们对日常事物的观察并无不同。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 要充分观察一个物体,在这个物体与眼睛离开一定距离时,获取的信息最多。太远,无法分辨;太近,虽然看的细致,但往往只能观察到局部,获取的信息精细但贫乏。即所谓鼠目寸光,可明察秋毫,也容易以偏概全、以点代面。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 获取一个物体信息的过程都始于全貌观察。由整体到局部、远观到近考。近考是以远观为基础,而物体的大部分信息都是在一定距离下从各种不同角度去观察来获得。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 对于扫描电镜来说也是如此:探头如同人的眼睛,工作距离就如同物体所处的观察位置。大量的样品信息都应当在一个特定的工作距离上,从侧面(样品仓探头)和顶部(镜筒内探头)来获取。少量的细节信息( strong & lt 10nm /strong )需要靠近样品,用镜筒内探头,小工作距离来观察。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 这个特定的工作距离各电镜厂家都不相同,个人认为日立冷场扫描电镜是15mm。下面将从各种不同工作距离获取的信息对比开始,用实例来展示各种工作距离和探头组合的优劣,同时分享我在测试时对其选择的流程,供大家参考。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.1.1图像的清晰度和辨析度 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 清晰度:是指影像上各细部纹理及其边界的清晰程度。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 辨析度:是指影像上各细部纹理及其边界的分辨程度。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 瑞利判据:一个爱里斑中心与另一个爱里斑的第一级暗环重合时, 刚好能分辨出是两个像。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 依据瑞利判据,图像辨析度要求的是图像足够清晰而并不追求绝对清晰。在获取扫描电镜图像时常常发现,图像的高清晰并不一定带来高分辨。许多高清晰的图像其细节分辨并不好,而某些图像虽然清晰度较差,但并不影响对微小的细节信息进行分辨。辨析度高才能带来高分辨能力,这种情况在对不同放大倍率和采用不同测试条件获取的表面形貌像进行对比时会经常出现,前面有充分的实例给予展示。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 193px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/74932b14-2635-4e9f-9673-707661babbbf.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择1.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择1.png" width=" 395" height=" 193" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 186px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/3d61fa9f-335d-4a6c-bbbf-6fdb80bff7c4.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择2.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择2.png" width=" 395" height=" 186" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 关于扫描电镜图像的清晰度与辨析度,以后还有专文探讨。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.1.2样品仓探头的最佳工作距离 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 各电镜厂家的样品仓探头位置设计不同,因此它们的最佳工作距离也不相同,日立冷场电镜在15mm。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 如上篇的实例所示:样品仓探头在工作距离小于8mm时接收到的样品信息较少,小于4mm基本接收不到样品信息。大于8mm接收到的样品信息逐渐增多,15mm达到最佳的成像效果,大于15mm接收效果及图像立体感缓慢减弱。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 236px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/b4abd10c-402d-4db3-825b-afe30e288b80.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择3.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择3.png" width=" 395" height=" 236" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 依据样品仓探头对样品信息的接收效果,可将工作距离大于8mm称“大工作距离”,小于4mm称为“小工作距离”。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 小工作距离下,对样品信息的接收局限在镜筒内探头,接收到的样品信息较为单调。虽有利于在高倍时呈现小于10nm的样品细节信息,但不利于全面获取样品的表面信息。故将样品至于样品仓探头的最佳工作距离就十分必要。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品仓探头位置设计的越合理,利用探头组合来改变表面形貌像中SE2:BSE的比值和信息接收角度的范围就越大,同时样品的可操控范围也越大。这将使得图像中的各种衬度信息更能得到充分的展现,形貌像的信息内容也越多。& nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 下面将从图像的分辨能力、信息量、倍率变化范围以及样品操控等几个方面来对比大、小工作距离测试的优劣。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " A)大工作距离与图像细节的分辨能力 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 对于图像细节分辨力,目前在认识上存在一种简单的单调思维方式。所谓简单的单调思维方式就是用部分代替整体。如某测试条件在高倍时对极细小的细节拥有非常好的测试效果,就想当然的认为在低倍时也会拥有非常好的测试结果。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 实际情况往往并非如此,高倍有好的细节分辨力,不代表这个测试条件就一定能在低倍获得良好的结果。这在上篇有充分的展示,本文将再以一个实例来介入该问题的探讨。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 二氧化硅介孔样品。选择小工作距离、镜筒探头这组测试条件有利于对孔道信息的展现。但是否在低倍观察二氧化硅颗粒的整体信息时,也有同样的表现?请看以下这一组图片: /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 546px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6242e319-3fc5-4cfa-9265-f8cab4995494.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择4.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择4.png" width=" 395" height=" 546" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 上述实例可以看到,图像分辨力的主要影响因素是动态变化的。随着样品特性以及信息需求的变化,形成形貌像的主导因素也会发生改变。因此测试条件也应随之变更,否则将无法获得充分的样品信息和图像的高分辨力。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 不少样品表面形貌细节的高分辨观察并不需要用小工作距离来进行。在大工作距离下就可以获取非常优异的高分辨像,且高分辨像的空间伸展更加充分。如下图:& nbsp & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " /span /p p style=" text-align: center " img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 264px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6a4a204e-120c-43f4-83ce-37a47487776c.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择5.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择5.png" width=" 395" height=" 264" border=" 0" vspace=" 0" / span style=" font-family: 宋体, SimSun text-align: justify text-indent: 2em " & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 仪器性能优异,即便是介孔样品的介孔信息,在大工作距离下采用镜筒内探头或混合探头,该信息也并非无法观察。但因上探头的接收效果变差,图像整体清晰度及信号量有所减弱,但介孔却可被明确分辨,且能保证一定的图像质量。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 539px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/17ae15f9-81ab-4e92-8e5c-5b4df1f6d027.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择6_看图王.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择6_看图王.png" width=" 395" height=" 539" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " B)大工作距离获取的图像,空间信息更充分 /span /strong /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 301px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/bc5317f4-233a-496d-95ba-0fb5e2424ad9.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择7.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择7.png" width=" 395" height=" 301" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 高分子膜和二氧化硅小球,左图采用大工作距离,下探头从侧向接收样品信息,图像的形貌衬度充分,空间立体感强烈,信息更丰富。右图小工作距离,只能是镜筒内探头从顶部接收样品信息,形貌衬度薄弱。图像如同被压扁,空间信息贫乏,整体分辨力不足。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " C)大工作距离有较大的倍率变化空间 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 采用大工作距离测试,获得图像的倍率变化空间大。有利于在原位从低倍到高倍进行倍率的大范围改变,获取样品的信息更全面,形成的样品信息系统性更为优异。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 336px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/2a84df37-7a41-498a-af58-38005c84c34c.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择8.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择8.png" width=" 395" height=" 336" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 小工作距离的起始倍率较高,对低倍获取样品的全貌有所限制,特别是应对那些体积较大的样品。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " D)大工作距离有利于样品做大范围移动 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 工作距离越大样品的可移动范围也越大,越有利于我们从多个侧面来对样品进行观察。特别是对空间差异较小的样品,大角度的倾斜,可改变探头获取样品信息的角度,将有利于充分展现样品的空间形态,减少误判。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width: 100% max-height: 100% width: 395px height: 212px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6b060682-9fe3-4a92-bcd3-caad054258a4.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择9.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择9.png" width=" 395" height=" 212" border=" 0" vspace=" 0" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 以上多个实例,充分展示大工作距离测试所带来的强大优势,下面将对大工作距离、样品仓探头组合做重点探究。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.1.3大工作距离、样品仓探头组合的测试优势 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品仓探头在大工作距离测试时,如同从侧上方观察样品,获取的样品表面形貌衬度要远大于从样品顶部采用镜筒内探头所获取的结果。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 形成表面形貌像的优点:空间信息丰富,立体感强,样品信息更充分,可减少假象的形成,低倍时图像的分辨能力强,Z衬度更优异,受荷电影响极小。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/0adc0222-c481-4f28-b16b-2c48174c697e.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择10.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择10.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/f57a85d1-c7fd-4ee6-9c89-080d03abda74.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择11.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择11.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品仓探头(下探头)获取的图像形态对工作距离、样品倾斜角度、加速电压的改变都比较敏感,这为充分获取样品信息提供足够的保障,可以多维度展现样品的形貌特征。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " A)工作距离的改变对下、上探头接收样品信息的影响 /span /strong /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/90c24635-fbff-4738-8b75-e7266d0ce577.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择12.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择12.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/a76b631c-75f0-4fe5-8b91-d4cb2b251d97.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择13.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择13.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " B)样品倾斜对下、上探头接收样品信息的影响 /span /strong /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/7a00753c-32a0-4541-9a54-31ebcb1df725.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择14.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择14.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/041513de-536d-41ce-9892-254c4612bbe9.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择15.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择15.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/85154b75-b112-4a41-b918-0adf46978691.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择16.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择16.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " C)加速电压的变化对上、下探头接收样品信息的影响 /span /strong /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/2c486494-f5cf-49e0-8105-9654120bd323.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择17.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择17.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.1.4& nbsp 大工作距离、样品仓探头组合的测试劣势 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 下探头位于样品侧上方,直接面对的是低角度电子信息。低角度位置上分布的主要是背散射电子,故以下探头为主形成的表面形貌像,容易受背散射电子在样品中扩散的影响。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 结果是:高倍图像的清晰度不足,十纳米以下的细节容易被掩盖,随着镜筒内探头被添加进来,此现象所改善。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品仓探头对以二次电子为主导的电位衬度及二次电子衬度信息的展现较差。具体实例如下: /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/23d449e2-83bf-48f6-83fe-1848a196b968.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择18.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择18.png" / /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/45799b39-6caa-4e64-afc4-ad88cad42370.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择19.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择19.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.1.5大工作距离测试有利于材料的缺陷分析 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 通过对以上大工作距离下各种探头组合的优、缺点展示可见:无论哪种组合都有局限,很难用一种条件包打天下。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 大工作距离条件下,可轻松切换上、下探头,对比不同探头获取的不同样品讯息,可得到单一探头组合所无法展现的异常现像,这将有利于对材料进行缺陷分析。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 如:在大工作距离条件下,切换上、下探头,获取样品表面的电位衬度不同。通过对比因不同的电位衬度所展现的图像形态差异,可以得到样品表面局部被污染或氧化的信息。下面是两个我遇到的非常成功案列。 /span /p p style=" text-align:center" span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/d203ac91-933a-4634-bc34-aba2b70f6678.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择20.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择20.png" / /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.2工作距离和探头的选择与样品荷电的应对 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品荷电现象指的是:样品中由于电荷累积形成荷电场,该荷电场对样品表面信息的正常溢出产生影响,在形貌像上叠加形成异常亮、异常暗或细节磨平的现象。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " & nbsp & nbsp 不同能量的电子信息受到荷电场的影响程度也会不一样。能量弱小的二次电子极容易被荷电场所影响,使得由其为主形成的表面形貌像上,荷电现象显得较为严重。如果减少二次电子的含量,表面形貌像上的荷电现象将会减轻。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 采用混合探头进行测试时,加大工作距离可减少形貌像中二次电子信息的含量,有效改善荷电的影响。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " & nbsp /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/98dc7be3-89b7-4746-b791-20c77add4ded.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择21.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择21.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " & nbsp & nbsp /span br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 下探头接收的主要是背散射电子。应对样品荷电,大工作距离下单选下探头常常是一个极其有效的方法。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/ee2e6d7a-1c62-4111-8aa3-a7b13975e33b.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择22.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择22.png" / /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品的荷电现象及应对方式,后面将有专文加以探讨。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1.3磁性样品的观察 /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 物质的磁性来自核外轨道电子自旋。因此严格来说,所有物质都带有一定磁性,都可被称为:磁性材料。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 原子核外都是成对电子,电子之间的磁矩相互抵消,所以无论物质进不进入磁场都对外不显露磁性,称“反磁性”。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 原子核外有不成对电子,不成对电子在热扰动影响下杂乱排列,形成原子或分子间磁矩相互抵消。进入磁场后,不成对电子受磁场作用克服热扰动的影响,按磁场方向有序排列,对外表现出磁性。取消外加磁场,不成对电子在热扰动影响下又进入杂乱排列状态,显现的磁性消失,这就是“顺磁性”。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 将不成对电子换成“磁畴”,所谓“磁畴”指的是多个同方向电子的集合,这类物质进入磁场后表现出的磁性非常强。外加磁场达到一定值,撤除磁场,热扰动无法使磁畴恢复无序状态,形成极强的磁滞现象。这就是“铁磁性”。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 高分辨扫描电镜为了使镜筒内探头获取更多的样品表面电子信息,物镜磁场对样品仓做一定量的泄露,称“半内透镜物镜”设计。这种类型的物镜,当具有“顺磁”或“铁磁”等性质的样品靠近时,会被物镜的漏磁磁化并吸入物镜,污染镜筒并干扰磁透镜的磁场。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 采用大工作距离观察,在样品远离物镜达到一定值以后,这种影响将会减弱直至消失,镜筒也很难被其污染。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 顺磁及铁磁性物质的表面细节都比较粗大,用样品仓探头在大工作距离条件下获取的表面信息往往更优异也更充分。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 如果扫描电镜在大工作距离上有强大的成像能力,可轻松获取高质量的几十万倍高分辨形貌像,则对这些材料的表面形貌测试将不会受到任何限制。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 关于物质的磁性及磁性物质的区分,以及在扫描电镜测试时该如何应对,这些都将在下一篇经验谈中有详细探讨。 /span /p p style=" text-align:center" strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/de374333-8a9e-44df-a56b-15ef53770d09.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择23.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择23.png" / /span /strong /p p style=" text-align:center" strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/257f0ab6-4546-4706-a3b8-b2ce7ba015a4.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择24.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择24.png" / /span /strong /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) " 二、大、小工作距离对样品热损伤的影响 /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 大工作距离,电子束的离散度较大,会使得电子束能量也发生较大程度的离散,对样品的热损伤也会减少。应对容易被热损伤的样品,采用大工作距离测试也是重要方式之一。 /span /p p style=" text-align:center" img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/6d474a4f-8cd6-424b-bc86-8378e70bd334.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择25.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择25.png" / /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) " 三、大工作距离与仪器状态的维持 /span /h1 p br/ /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 没有好的仪器状态,仪器调整的再优异都无济于事。要保持良好的仪器状态,维持样品仓、镜筒环境的真空是基础。由于清洁镜筒极为困难,故对其环境的维持也最为关键。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 镜筒污染除了物质的磁性质,还来自以下两个方面: /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 1. 样品中含有的各种挥发物。因此扫描电镜测试对样品的要求是:样品尺寸尽可能的小,固定样品所用的胶体尽可能少,样品表面尽可能地处理干净、干燥。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 2. 电子束从样品表面轰击出来的各种极性或非极性物质,这类物质在镜筒表面的吸附性超强。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 减少镜筒污染,控制样品是一方面,更关键的是将样品远离物镜。样品靠镜筒越近,进入镜筒的污染物会成倍增加,更不用说那些所谓的磁性物质。无论那种类型物镜,长期在小工作距离下测试,仪器状态都无法得到保证。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 本人的S-4800使用十几年了,测试量很饱满,长期坚持大工作距离测试,同时对样品严格控制,因此从09年仪器安装至今,灯丝未更换、仪器也从未做过专门的大保养,但却一直都能保持极佳的工作状态。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 下面以一组拍摄于2019年,用各种低电压、大工作距等较差的测试条件,拍摄的碳球高分辨图像来结束本章节。& nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align:center" strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/36ce59dc-a082-44a5-88fa-d060a32c294f.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择26.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择26.png" / /strong /p p style=" text-align:center" strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/844c4116-35ce-491a-8fab-009e54f4e3d4.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择27.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择27.png" / /strong /p p style=" text-align:center" strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/b8494443-4a3c-451c-bbbf-da813c4e2337.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择28.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择28.png" / /strong /p p style=" text-align:center" strong img style=" max-width:100% max-height:100% " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/e4c326c7-d26c-464f-b986-51f56c1082f7.jpg" title=" 扫描电镜工作距离与探头的选择29.png" alt=" 扫描电镜工作距离与探头的选择29.png" / /strong /p h1 label=" 标题居中" style=" font-size: 32px font-weight: bold border-bottom: 2px solid rgb(204, 204, 204) padding: 0px 4px 0px 0px text-align: center margin: 0px 0px 20px " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 18px color: rgb(0, 176, 80) " 四、结束语 /span /span /h1 p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品仓探头和镜筒内探头是从不同角度来获取样品信息。它们获取样品信息的侧重点不同,所适合应对的样品及展现的样品信息特征也不一样。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 镜筒内探头获取的样品信息以二次电子为主,对尺寸小于20nm的样品细节影响小,故图像清晰度高,二次电子衬度及边缘效应充分,电位衬度明显。但由于是从顶部通过物镜来获取样品信息,形貌衬度不足,使得其对于较粗大的样品细节(20nm以上)信息获取效果不佳,荷电应对能力差。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 样品仓探头获取的样品信息是背散射电子和二次电子的混合信息,背散射电子为主导。由于背散射电子的影响,高倍图像清晰度不足,对20nm以下的样品细节分辨影响较大,几纳米的样品细节几乎无法分辨。但该探头从样品的侧上方获取样品信息,形貌衬度及Z衬度充足。对低倍下观察表面起伏较大的细节信息(大于20nm)有极其明显的优势。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 改变工作距离的主要目地就是为了调控样品仓探头和镜筒内探头对样品表面信息的接收,形成最佳的效果。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 工作距离越小,越有利于镜筒内探头对样品信息的获取。过小的工作距离,样品仓探头接收不到样品信息,整个表面形貌像的特征都由镜筒内探头来决定。有利于展现10纳米以下的细节,但低倍时图像效果差,信息类型较为单一。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 大工作距离有利于样品仓探头对样品表面信息的接收,同时也能兼顾镜筒内探头接收样品信息。两个探头信息的合理组合,将使获取的形貌像内容更加充实。各种衬度信息的组合越合理,获取的样品信息越丰富,形貌分析的手段更多样,形成的表面形貌假象也越少。大工作距离测试的缺点是镜筒探头接收效果不佳,10纳米以下细节质量退化较严重。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 加大工作距离会使得电子束的离散度增加,从而降低样品热损伤的程度。但对图像清晰度有影响,超过一定值(过度)也会影响到图像细节分辨。该影响也会遵循适度性的原则,不同样品、不同的形貌细节,影响程度不同。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 在工作距离与探头的选择中,工作距离的选择是基础。只有工作距离合适了,探头的作用才能发挥出来。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 扫描电镜的每次测试都会有一个初始工作距离的选择,个人认为这个值应满足以下条件:1. 样品信息尽可能丰富,能为后续调整指明方向;2. 样品的操作空间尽可能大,使得样品能够充分移动;3. 图像的信息尽可能多,使得后续调整更容易;4. 尽可能兼顾样品分析;5. 离物镜尽可能远,保护镜筒,远离样品磁性及污染物的影响。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 对日立的冷场扫描电镜来说这个工作距离应该是15mm。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 加速电压、束流、工作距离、探头这四个测试条件的正确选择是获取高质量扫描电镜测试结果的基础。在工作距离和探头的选择上,目前存在的曲解极其严重,不利于充分获取样品信息。希望本文能给大家提供一个全新的视野。 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 参考书籍: /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 《扫描电镜与能谱仪分析技术》 张大同 2009年2月1日& nbsp /span span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 华南理工出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 《微分析物理及其应用》 丁泽军等 2009年1月& nbsp /span span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 中科大出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 《自然辩证法》 恩格斯 于光远等译 1984年10月& nbsp /span span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 人民出版社& nbsp & nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 《显微传》 章效峰 2015年10月& nbsp /span span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 清华大学出版社 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun font-size: 16px " 日立S-4800冷场发射扫描电镜操作基础和应用介绍& nbsp /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 北京天美高新科学仪器有限公司& nbsp /span span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 高敞 2013年6月 /span /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " img style=" max-width: 100% max-height: 100% float: left width: 85px height: 131px " src=" https://img1.17img.cn/17img/images/202007/uepic/4d9b5e9c-3ce3-4651-9e2d-ceb0eb6b94de.jpg" title=" 林中清.jpg" alt=" 林中清.jpg" width=" 85" height=" 131" border=" 0" vspace=" 0" / 作者简介: /span /strong span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 林中清,1987年入职安徽大学现代实验技术中心从事扫描电镜管理及测试工作。32年的电镜知识及操作经验的积累,渐渐凝结成其对扫描电镜全新的认识和理论,使其获得与众不同的完美测试结果和疑难样品应对方案,在同行中拥有很高的声望。2011年在利用PHOTOSHIOP 对扫描电镜图片进行伪彩处理方面的突破,其电镜显微摄影作品分别被《中国卫生影像》、《科学画报》、《中国国家地理》等杂志所收录、在全国性的显微摄影大赛中多次获奖。& nbsp /span strong span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " & nbsp /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " strong span style=" font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " 延伸阅读: /span /strong /p p style=" text-align: justify text-indent: 2em " span style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " strong span style=" color: rgb(0, 176, 240) font-family: 宋体, SimSun text-indent: 2em " a href=" https://www.instrument.com.cn/news/20200616/551389.shtml" target=" _self" style=" color: rgb(0, 176, 240) text-decoration: underline " 易轻忽之肯綮:扫描电镜工作距离与探头的选择(上)——安徽大学林中清32载经验谈(9) /a /span /strong /span /p
  • 电导率方法转换的桥接试验:从使用台式仪和探头转换为使用自动化的Sievers M9 TOC分析仪
    究目的本研究的目的是证明使用配置了电导率选项的Sievers® M9总有机碳(TOC)分析仪和使用台式仪表和探头来测量《中国药典》2020版通则与USP 规格样品水第1阶段电导率这两种方法同样有效,并帮助用户从使用台式仪表和探头转换为使用配置电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪。制药用水的电导率是指样品水在已知电势差上传导因离子运动而形成电流的能力值。电导率的计算方法是用电流强度除以电场强度。可以用离线的台式仪表和探头或者在线的电导率传感器来测量电导率1。随着温度和pH值变化,水分子自然离解成离子,从而使样品水具有可计算的电导率。外来离子也会影响样品水的电导率,并对样品水的化学纯度以及样品水在制药应用中的适用性产生较大影响。因此,国际通用的药典都有关于测量制药用水电导率的专论,给出了水的纯度和适用性的接受标准。USP 还对测量电导率的仪器规定了具体要求,并规定了具有不同接受标准的三个测量阶段,以帮助用户进行在线或离线测量。第1阶段测量的接受标准最严格,但此阶段最容易实施。第2和第3阶段测量则要求实验室人员进行离线的、耗时的实验台操作。对于制药商而言,最想进行的测量是离线或在线的第1阶段测量。根据USP ,如果要进行离线测量,测量就必须在合适的容器中进行。离线测量电导率所使用的合适容器的制造材料,不可以在与样品接触时浸出离子。传统的硼硅酸盐玻璃瓶会在样品水中浸出钠离子和其它离子,因此不适用于测量制药用水。Sievers电导率和TOC双用途瓶(DUCT,Dual Use Conductivity and TOC)的瓶体、瓶盖、垫片的测试表明,即使用DUCT瓶保存样品长达5天,也不会对样品的TOC和电导率产生明显的贡献。2,3目前许多制药商在测量制药用水的电导率时使用台式仪表和探头离线进行第1或第2阶段测量。这种测量方法有几个无法避免的缺点,比如数据不安全、样品的安全性不足、样品暴露于空气中、资源的使用效率低等。测量制药用水电导率的先进方法应当是进行自动化的第1阶段电导率测量,而存放和传输数据的电子安全数据库应完全符合21 CFR Part 11法规和最新的数据完整性法规。配置了电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪就为用户提供了这种理想的第1阶段电导率测量方法。以下路线图显示如何从使用台式仪表和探头来离线测量第1阶段电导率,转换为使用配置了电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪来自动测量第1阶段电导率。料配置了电导率选项的Sievers M9便携式TOC分析仪(SN#0043)配置了InLab 741 ISM电导率探头的梅特勒-托利多SevenCompact 仪(Mettler Toledo SevenCompact Meter)一盒Sievers DUCT电导率和TOC双用途样品瓶(HMI 77500-01)两套Sievers 100 μS/cm KCl电导率校准标样(STD 74470-01)(如果适用)一瓶500毫升Ricca 100 μS/cm KCl标样,25°C(CAT#5887-16)10毫升和1000微升移液器和吸头析步骤01通过DataPro2(请见下图)中的“样品电导率校准(Sample Conductivity Calibration)”系统任务,或者用M9的触摸屏,用100 μS/cm标样组(STD 74470-01)来校准M9分析仪,确保校准正确。02用100 μS/cm标样组(STD 74470-01)来校准梅特勒-托利多SevenCompact仪和InLab 741 ISM电导率探头,确保校准正确。请务必选用正确的电导率校准值。对于梅特勒-托利多SevenCompact仪,请选择以下校准标样路径:菜 单(Menu)/校准(Calibration),设置(Settings)/校准标样(Calibration Standard)/定制标样(Customized Standard)。输入100 μS/cm KCl标样,25°C。03为了最大程度上减少样品在传送过程中或转移到二级容器过程中被空气中的二氧化碳所污染,所有标样都应直接制备在DUCT样品瓶中² 。请采用正确的样品制备技术,用100μS/cm KCl储备溶液分别制备30毫升DUCT瓶装的100、75、50、25、12.5、10、5、2.5、1.25、1 μS/cm浓度的标样² 。最佳做法是按从高浓度到低浓度的顺序来制备标样,这样就可以在制备和分析各种敏感的低浓度标样之间花费最短的时间。所需要的稀释体积,请参考表1。04低浓度电导率标样非常敏感,因此必须先运行最低电导率标样,最后运行最高电导率标样,方法条件如图1所示。M9分析仪报告原始电导率、温度、温度补偿电导率。USP 指出,对未知水样的所有阶段1的电导率测试是非温度补偿的。在进行校准、确认、比较研究时,应使用已知化合物的纯标样。例如,上述校准标样在25°C时为100 μS/cm KCl。为了正确地将测量值与此标准值进行比较,必须将电导率测量值补偿回参考温度25°C时的标准值。同样,由于是在两个电导率测量平台上测量这些纯净的已知标样,因此必须进行温度补偿以确保进行正确的比较。05采用正确的取样技术,用100 μS/cm KCl储备溶液分别制备DUCT瓶装的100、75、50、25、12.5、10、5、2.5、1.25、1.00 μS/cm浓度的标样,用于台式仪表和探头测量。低浓度标样非常敏感,因此必须最先在仪表和探头上运行最低电导率标样,最后运行最高电导率标样,方法条件如图1所示。确保将探头完全浸入DUCT瓶中。样品水在转移时可能会洒出来,因此建议将样品瓶放在二次容器(即防洒容器)中,以便在操作过程中用二次容器接住洒出来的水。06对于梅特勒-托利多SevenCompact仪表,确保选择25°C作为参考温度,并对测量值进行温度补偿。在仪表和M9上选择准确的补偿曲线和参考温度,这一点非常重要。KCl在低浓度时有非线性温度校正曲线,因此建议在仪表上选择非线性补偿曲线。测量时请将探头放入样品中,然后按“读取(Read)”键。待测量稳定后,表会提示“保存(Save)”或“退出(Exit)”。所有样品的测量数据都会记录在仪表上,然后导出用于分析。结果和讨论图2是配置了InLab 741 ISM电导率探头的梅特勒-托利多仪测量的电导率数据,包括实测响应和预期响应的数据对比。响应值连成直线,可以看到R² 值和斜率,便于进行方法比较。图2中的数据显示,配置了InLab 741 ISM电导率探头的梅特勒-托利多仪的电导率线性非常适用于测量制药用水的第1阶段电导率。图3是Sievers M9 TOC分析仪测量的电导率数据,包括实测响应和预期响应的数据对比。响应值也连成直线,可以看到R² 值和斜率,便于进行方法比较。图3中的数据显示,Sievers M9 TOC分析仪的电导率线性也适用于测量制药用水的第1阶段电导率。表2是配置了InLab 741 ISM电导率探头的梅特勒-托利多仪和配置了电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪的线性方法对比数据。这两种不同设备的实测响应数据显示,Sievers M9的R² 和斜率响应均略优于配置了InLab 741 ISM电导率探头的梅特勒-托利多仪的R² 和斜率响应。本研究中的数据不仅确认了这两种设备方法都可以有效地测量电导率,更进一步证明了配置电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪更具优势。用这两种设备方法的结果差异,部分归因于样品与周围空气能否有效隔离。当使用Sievers M9 TOC分析仪时,电导率和TOC标样都装在DUCT样品瓶里进行分析,从而有效地隔离了空气。而当使用梅特勒-托利多仪和探头时,需在测量过程中打开样品瓶的盖子以便插入探头。打开瓶盖后,空气中的二氧化碳就会污染样品。在测量电导率时,Sievers M9分析仪比传统的台式仪表和探头有更好的线性、斜率响应、样品处理。除此之外,Sievers M9分析仪还有其它优势。台式仪表和探头测量的数据通常以txt或csv格式存放在仪表上。这都不是安全的数据格式,容易被审计机构审查。而Sievers M9分析仪采用安全的数据文件格式,数据不会受到机构审查。此外,在使用台式仪表和探头时,通常需要用USB设备来从仪表向电脑传送数据,而使用USB来传送数据时,容易被审计机构审查数据完整性。M9分析仪的数据可以通过以太网自动导出到LIMS系统、SCADA系统、或其它数据管理平台。最后,台式仪表和探头需要专门的操作人员来制备和运行样品,费时费力。由于对温度、搅拌、测量稳定性的要求,每份样品的第2阶段电导率测量时间需长达30分钟。而将自动进样器和配置了电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪一起使用时,就可以实现自动化的样品分析和数据采集。考虑到Sievers M9 TOC分析仪的上述诸多优点,及其卓越的分析结果,那么制药商放弃使用传统的台式仪表和探头,转而使用配置了电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪来自动测量电导率,就成为非常明智的选择。两种设备方法的优缺点比较,请见表3。结论改变现行的分析方法通常是复杂的过程,而从传统的台式分析转换为自动分析可能更加复杂。本研究旨在说明如何从使用台式仪表和探头转换为使用配置了电导率选项的Sievers M9 TOC分析仪来测量电导率。本研究证明了台式设备和自动设备在测量USP 第1阶段电导率时具有同等分析性能,从而证明了从台式分析转换为自动分析的可行性。本研究还显示,用户可以相对容易地完成这一转换。最后如表3所示,当使用Sievers M9分析仪代替台式仪表和探头来测量电导率时,可以有诸多优点,例如数据可靠性、样品完整性、自动化运行等,这就使得从台式分析到自动分析的转换对寻求精益工艺流程的制药商极具吸引力。参考文献Sievers Lean Lab: Simultaneous Stage 1 Conductivity and TOC Lab Testing of Pharmaceutical Water (300 40030).DUCT Vial Performance and Stability (300 00297).Reserve Sample Bottles for Conductivity and TOC (300 00299).Low Level Linearity Conductivity Study on the Sievers M9 TOC Analyzer (300 00339).◆ ◆ ◆联系我们,了解更多!
  • 全新FLIR VS290 :狭窄区域检测专用“神器”,更多探头帮您解锁新场景!
    感谢宋工,上次介绍的那款FLIR VS290-32红外内窥镜套件,解决了我很多麻烦!确实,那款机型能到达难以接触的狭窄空间,延伸了我们的检查区域。今天还要告诉你个好消息,它更新啦~去年FLIR VS290-32横空出世占领了狭窄空间红外检测的市场今年,为了满足更多更细分的客户Teledyne FLIR对它进行全面升级新推出了FLIR VS290-21和FLIR VS290-33两种全新专业探头它们具体有哪些新功能呢?让小菲来给您详细述说下~,时长01:43FLIR VS290系列产品视频详细解析VS290细分产品线,致力扩大应用“版图”FLIR VS290是一款工业红外视频内窥镜系统,旨在帮助专业人士快速安全地发现不便位置的隐患。VS290搭载一个160×120真热像仪和 FLIR MSX® (多波段动态成像)技术*(专利号:201380073584.9),可以帮助用户在安全距离内看到并准确测量肉眼不可见的热点,提前检测到问题点,防止设备发生灾难性的故障。全新FLIR VS290红外成像内窥镜套件,目前可搭配三种专业探头:★ FLIR VS290-33红外视频内窥镜套件,配备2MP可见光摄像头和带工作灯的19毫米圆形侧视探头,可在黑暗的空间提供FLIR MSX热图像。2米的圆形侧视探头可以深入到您通常无法检查的区域,让您能够准确、安全地评估潜在问题。★ FLIR VS290-21是圆形前视探头,它采用1米长的探头,19毫米圆形探头,以及160×120分辨率的热像仪。该视频内窥镜探头足够小巧,可伸入墙壁内部、电机内部或其他狭小空间的地方。非常适合建筑检测(搜寻虫害,检查绝缘层是否缺失,或定位墙壁内的电线和管道等)、设施维护或机械检查。★ 还有去年推出的FLIR VS290-32带矩形侧视探头的工业红外视频内窥镜套件,旨在帮助用户在安全位置查找地下配电库等难以接近位置的隐患。使用配备可见光相机和热像仪以及内置LED灯的2米探头,您将能够检查危险、黑暗或难以接近的区域,从而提高工作效率并缩短诊断时间。全新FLIR VS290,性能可靠易使用
  • iCMR 2017厂商报告:高性能探头用于具有挑战性的样品
    p style=" TEXT-ALIGN: center" strong 第一届磁共振网络会议(iCMR 2017)厂商报告 /strong /p p style=" TEXT-ALIGN: center" strong 高性能探头用于具有挑战性的样品 /strong /p p style=" TEXT-ALIGN: center" img title=" 123.jpg" src=" http://img1.17img.cn/17img/images/201711/insimg/78f096e4-839f-4dd7-9cb4-1baba0597e43.jpg" / /p p style=" TEXT-ALIGN: center" strong 单璐 博士 /strong /p p style=" TEXT-ALIGN: center" strong 布鲁克核磁应用专家 /strong /p p   strong  报告时间: /strong 2017年12月5日 /p p    strong 报名链接: /strong a title=" " href=" http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCMR2017/" target=" _self" http://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/iCMR2017/ /a /p p    strong 报告摘要: /strong /p p   聚焦于低温探头(氦气和氮气),产品线,性能和应用实例 /p p    strong 报告人简介: /strong /p p   单璐博士,毕业于中国科学院生物物理研究所。博士期间主要从事蛋白质溶液三维结构研究。单璐博士2005年加入布鲁克,目前担任核磁应用专家。 /p p & nbsp /p
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