颗粒表面分析仪

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颗粒表面分析仪相关的厂商

  • 布鲁克纳米表面仪器部——表面分析测试设备领先者布鲁克纳米表面仪器部是全球领先的分析仪器公司布鲁克下属的一个事业部,前身是美国维易科(Veeco)公司纳米测试仪器部。布鲁克公司作为全球领先的分析仪器公司之一,拥有自成立五十多年以来,始终针对当今的分析需求,开发最先进的技术和最全面的解决方案。布鲁克公司的产品和服务遍布全球一百多个国家和地区。在五十多年的高速发展过程中,布鲁克公司凭借自身的科研优势,以独有的先进技术、科学的管理和市场导向的产品推动了全球的科学发展。布鲁克纳米表面仪器部作为作为表面观测和测量技术的全球领导者,一直着眼于研发新的表面计量、检测方法和工具,致力于为客户解决各种技术难题,提供最完善的解决方案。布鲁克纳米表面仪器部的设备都是同领域领先的设备,包括:1)用于表面理化性能纳米尺度表征和操纵的原子力显微镜,2)用于表面三维形貌及粗糙度快速测量分析的三维非接触式光学轮廓仪,3)用于表面三维形貌和台阶高度测量的接触式探针表面轮廓仪,4)用于材料摩擦磨损、润滑测试及涂层结合力测试的摩擦磨损测试仪,5)用于研究化学机械抛光的化学机械抛光测试仪,6)用于表征纳米尺度表面的机械性能、摩擦磨损和薄膜结合力的纳米压痕仪,7)用于生命科学前沿研究的超高分辨快速荧光/双光子显微镜等。这些设备从不同维度构成了表面表征测试的多种应用方案,适用于从高校研究所到工业领域的材料、化学、生命科学、物理、LED、太阳能、触摸屏、半导体、通信以及数据存储等领域进行科学研究、产品开发、质量控制及失效分析的准确、高效分析测试的要求。这些产品和应用方案帮助我们的客户在各自的表面测量测试应用中解决面临的问题,提升技术和工艺水平,提高研发效率,从而实现最大限度的回报。布鲁克纳米表面仪器部在中国的业务是布鲁克公司全球业务的重要组成部分,很早就在北京、上海和广州陆续设有产品演示中心,在北京还单独设立的客户关怀中心和备件仓库,大大方便了客户从购买设备之前的考察到售后阶段的各种需求。不论是售前还是售后服务,都获得了广大用户的好评。
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  • 东莞市凯盟表面处理技术开发有限公司(下简称“凯盟公司”)是一家以研发金属防锈和抛光材料为方向的集研发、生产、销售为一体的高新技术公司,总部位于中国工业核心区-东莞。公司为全国范围内的各类钢铁、金属制品企业提供技术领先、品质卓越的产品和高效率的服务。主要产品分为:不锈钢表面处理系列、铜铝表面处理系列和其它化学品。随着业务市场的不断扩大公司在宁波、苏州、佛山和重庆设有业务办事机构,销售网络辐射全国。在国内同行业中享有盛誉。 凯盟公司创立于2005年,原称“东莞市凯盟化工有限公司”。2012年10月更名为“东莞市凯盟表面处理技术开发有限公司”。注册资本为人民币200万元,现有在职员工50余名,其中大专以上学历人员约占40%%。拥有固定资产700余万元。公司分别与“华中科技大学”和“中南民族大学”等国内知名高校建立了良好的合作关系,具有一流的产品研发能力。汇聚专业的研发能力,我们坚持创新,公司陆续开发出一批具有自主知识产权的新型产品,获得发明专利4项,注册商标1件。尤其在钝化领域取得了长足的发展和优异的成果。目前公司产品在:家具、餐具、医疗器械、工程装备、核电、压力容器等领域取得了广泛应用,年产能1000余吨。在新产品的带动下,截至2011年止我司实现产值连续增长4番的优秀业绩。经过公司全体同仁几年的努力创新发展,“凯盟”牌系列产品领衔同行之首,受到了众多客户的认可和赞誉。“凯盟”已名副其实的成为了国内不锈钢表面处理方面行业的知名品牌和最具竞争力的企业之一。我司是“民营科技企业”和“科技特派员驻点企业”,2012年1月获得ISO9001:2008国际质量体系认证。 十年磨一剑,厚积薄发。铸就成为钝化防锈领域的高端知名企业俨然已成为我们新的挑战。我们将继续秉承“以【质】求胜、以【德】求存、可失于【利】、不失于【信】”的经营理念,以“为客户提供一流的产品”为使命,凝心聚力,开拓进取,我们坚信凯盟公司将成为一流的钝化防锈领域高端品牌!
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  • 中国第一台激光粒度仪、中国第一台干法激光粒度仪、中国第一台动态颗粒图像仪、中国第一台纳米激光粒度仪、中国第一台在线测试粒度仪在颗粒测试领域我们不但技术遥遥领先,而且引领着中国颗粒测试技术的发展方向企业简介   济南微纳颗粒仪器股份有限公司是专门研发、生产、销售颗粒测试相关仪器设备的高科技企业。公司的前身为山东建材学院颗粒测试研究所,研究激光粒度测试技术自上世纪80年代承担国家七五科技攻关项目开始,至今已有近30年的历史。微纳一直以“普及当代最先进的颗粒测试技术”为己任,研制的便携式、台式、干粉等类型的激光粒度仪均代表了国内最高水平,进入新世纪,更相继推出了“动态颗粒图像仪”“在线激光粒度仪”“光相关纳米粒度仪”等产品,引领中国颗粒测试的技术发展方向。将中国颗粒测试水平推向一个全新的高度。 济南微纳公司以高校为依托,培养了一流的技术开发团队,其中包括光学、电子、计算机、化工、材料各方面的专家和教授。公司的首席专家任中京教授是我国激光粒度分析技术的开创者,在颗粒测试领域享有极高声誉。微纳公司还与国内许多大学、研究机构建立了良好的合作关系,经常进行新技术的交流并合作进行大型科研项目的开发,增强了技术实力。以激光粒度仪为代表的微纳品牌颗粒测试系列仪器分为7大类近三十种产品可以满足各种用户的测试需求。不但畅销国内,还大量销往海外,以其过硬的质量和坚强的技术支持与服务获得广大用户的好评。获得中国业内最具创新实力的企业、中国颗粒测试技术的领航者等荣誉称号。被国际权威组织排入亚洲粉体企业50强。---------------------------------------------------------------------------专家介绍: 微纳公司董事长、首席专家任中京教授,1982年毕业于中国海洋大学物理系光学专业。1986年任山东建材学院颗粒测试研究所所长。从事激光颗粒分析理论与技术研究工作20余年间,主持并完成国家省部科技攻关项目4项。发表论文60余篇,其中收入美国工程索引(EI)研究论文20余篇,在国际颗粒学研究领域享有很高声誉。参与创建中国粉体技术杂志,任《中国粉体技术》常务副主编。中国颗粒学会务理事,颗粒测试专业委员会主任,历任山东颗粒学会理事长。并成为国际光学工程学会(SPIE)会员。1996年被授予国家有突出贡献专家称号。主要国家级成果: 国家七五科技攻关项目“水泥颗粒级配在线分析仪”负责人 山东八五科技攻关项目“JL9200便携式高分辨激光粒度分析仪”负责人 山东九五科技攻关项目“JL9300干粉激光粒度仪”负责人 国家教委仪器研究项目“YP750空间频谱演示仪”负责人---------------------------------------------------------------------------发展历史:1986年 济南微纳的前身“山东建材学院颗粒测试研究所”成立。 1990年 承担国家七五科技攻关项目,研制成功国内第一台激光粒度分析设备“水泥颗粒级配在线分析仪”。 1993年 “水泥颗粒级配在线分析仪”获得中国首届科技博览会金奖。 1994年 承担山东省八五科技攻关项目,研制成功“JL9200便携式高分辨率激光粒度分析仪”,同年获得国家专利。 1995年 “JL9200便携式激光粒度分析仪”列为国家级重点新产品 1996年 承担山东省九五科技攻关项目,研制成功“JL9300干法激光粒度分析仪” 该产品获得山东省科技进步三等奖。2000年 济南微纳公司正式成立。 2002年 微纳激光粒度分析仪产品通过国家标准物质研究中心定型鉴定。 2003年 微纳激光粒度分析仪获得山东省质量技术监督局计量器具新产品证书 2004年 全面通过中华人民共和国制造计量器具许可证CMC认证。 2005年 微纳公司搬迁至济南高新技术开发区。 2006年 微纳公司获得济南高新技术企业称号 2007年 微纳公司通过ISO9001:2000国际质量管理体系认证。2007年 研制成功我国第一台动态颗粒图像分析仪,通过济南市科技局的鉴定,专家评价为国内首创,达到国际先进水平 2008年 微纳研制的数字相关器CR128取得重大突破2009年微纳推出中国第一台使用数字相关器的“光相关纳米激光粒度分析仪”。销售热线:济南总部:0531-88873312、0531-88870139北京办事处:010-80767402 13683140751 公司网站:www.jnwinner.com 联系地址:济南总部:济南市高新区大学科技园北区F座东二单元 北京办事处:昌平区发展路8号中天科技园9号楼203
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颗粒表面分析仪相关的仪器

  • 仪器简介:仪器名称:Zeta电位分析仪 研究对象:纤维、薄膜、粉末、粒子、固体金属或非金属片等材料。 主要用途:测量材料的表面电荷,了解材料表面上的电荷状况,研究材料表面性能。 主要应用:材料表面改性 材料表面黏附、吸附、脱附等 材料组成 材料亲水性与疏水性 材料洁净处理等 表面活性剂相互作用 SurPASS 3固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪帮助科研人员在化学与材料科学领域内改善和调整表面特性,设计新型、特定性质的材料,如聚合物、纺织、陶瓷、玻璃、或表面活性剂等。 通过测量宏观固体物表面的流动电流或流动电压(电势),SurPASS 3固体电运动分析仪给出了Zeta 电位这样一个重要的信息。 Zeta 电位是一种界面特性,这对于理解固体材料在很多工艺技术处理方面非常重要。Zeta 电位给出了固体表面电荷、吸附性质等的信息。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪拓展丰富了表界面分析知识。 SurPASS 3 固体电运动分析仪/ 固体表面Zeta 电位仪对不同形状和尺寸的固体及粉末材料均适用。 在表面分析中,固体表面 Zeta电位分析仪SurPASS 3基于流动电势和流动电流测量法,从而研究宏观固体表面 Zeta电位。 它可以提供有关表面电荷和相关性质的信息,并可检测表面性质中最微小的变化。 Zeta电位: 范围:所用测量原理决定没有限制再现性:+/-0.5 mV 等电点: 再现性:+/-0.1 pH 平板固体: 最小 35 mm x 15 mm,厚度20 mm, 20 mm x 10 mm,厚度2 mm, 直径为 14 mm 或 15 mm 的圆片 纤维: 最少重量 100 mg 粉末: 最小粒径 25 μm 膜和过滤材料 生物材料 半导体工业 纤维、织物和无纺布 化妆品和洗涤剂 矿物 针对各种形状的固体 各种不同的测量池适用于天然的和人造的纤维和织物、颗粒样品、粗颗粒和平板样品。 突破极限-流动奥妙 快速测量: Zeta电位测量少于2分钟 表面Zeta电位直接分析: 适用于实际样品,无需使用示踪颗粒 主要特点:测量原理 : 在电化学双电流层的模型中,电荷分布形成固定层与可移动层。滑动层将这两层彼此分离。 Zeta 电位指定为在滑动层上固体表面与液相之间电势的衰减。电解质流动的外部力平行应用于固体与液体界面导致固定层与可移动层之间相对运动与电荷分离,由此得出实验的Zeta 电位。 流动电势的大小由液相的流动压差P决定。Zeta 电位即可定义为固体表面的固定层电荷与离子移动层之间的电势,相应的流动电势系数为dU/dP, Zeta 电位表示为: 固体表面特性,粘性,介电常数,电解质电导率K 等都影响Zeta 电位的大小。得出Zeta 电位值时,需要说明电解质溶液的类型,浓度,pH值。 稀释的电解质循环流经装有样品的测量池,由此产生一个压差,其电荷在电化学双电层中相对运动产生并增加流动电压,这个流动电压/ 流动电流(可选择)由置于样品两边的电极检测。SurPASS 3可同时测量出电解质的电导率,温度及pH值。
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  • 国仪量子比表面及孔径分析仪V-Sorb 2802TP全自动比表面及孔径分析仪 V-Sorb 2802TP 单模组多功能型系列产品,是我公司自主研发的比表面积及孔径分析仪器,采用静态容量法测量原理。产品技术通过机械工业联合会科技成果鉴定,专家一致评定达到国际先进水平。多款产品已被欧美高校科研实验室选购使用,获得用户的一致好评,树立了国产领导品牌形象。全自动比表面及孔径分析仪 V-Sorb2802TP 系列产品具备完全的自动化操作,操作界面人性化,简单易学。通过采用合资或进口零配件,大大提高了产品可靠性和使用寿命。同时V-Sorb2802TP 系列的高性价比有效保障了用户的投资利益,灵活的产品配置可满足用户的多样化需求。产品介绍1、嵌入式测试电脑,安全稳定,10寸电容触摸屏,平板电脑的操控体验2、每测试模组 2 样品管接头,1 个P0 管接头,P0 管可用于比表面测试设计,高性价比3、安全防护门,可防止误触碰低温液氮引发安全事故,并可消除环境因素对测试的影响4、独立 2 样品处理站,可与样品测试同时进行,提高测试效率5、4L 不锈钢内胆杜瓦瓶,克服玻璃杜瓦瓶易碎的缺点,高保温性确保连续 48h 以上测试需求6、滚珠丝杠一体式升降系统,步进电机控制,克服普通螺杆式易卡死等缺点 产品优势集装式真空管路系统一体化集装式真空管路系统 , 有效减少管路连接点 , 提高系统极限真空度紧凑型集装式系统,提高系统温度均匀性,减小死体积空间,可有效提高测试精度面板式配件安装模式,零配件可独立拆卸,有利于安装及后期维护 数字化压力测量及数据采集系统数字量输出的压力及温度传感器,比采用模拟量输出的同类产品精度提高一倍,抗干扰能力更强工业标准的 RS485 或 RS232 通讯模式,通讯总线上随需添加多只传感器,可扩展性高高精度数字量压力传感器,压力输出分辨率为 1 Pa,相比同行业普遍采用的 4 Pa 分辨率,有利于提高测试精度多量程压力传感器分段测量,高精度进口压力传感器,确保微孔测量区间低压力测量的准确性 高真空不锈钢微焊管路系统专为含分子泵系统(TP 系列)设计的高真空微焊管路系统,管路连接紧凑,死体积空间小采用金属面密封的 VCR 接口配件,克服 O 型圈密封在低真空下自身放气问题配套的 VCR 接口气动阀门,消除电磁阀局部发热引入的测量误差系统内管壁电抛光处理,确保高真空下漏气率达到1*10-10 Pa.m3/s 要求,充分发挥分子泵优势,确保微孔测试数据的准确性媲美国际品牌数据精度及权威认可 采用国际同类知名品牌一致的仪器检测及验收标准,确保测试数据与国际接轨测试过程中测量误差由软件动态消除,测试完成后无任何数据二次误差消除操作,确保不同操作人员测试结果的一致性和可靠性产品技术通过机械工业联合会组织的科技成果鉴定,达国际先进水平测试数据经多家权威国家级计量院计量认证,获得计量认可证书多款产品进入欧美高校测试实验室,与国际品牌竞争,获得客户的高度认可技术参数 测试原理:静态容量法; 测试功能:吸附及脱附等温线测定,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,t-plot图法外比表面积测定,BJH总孔体积及孔径分析,样品真密度测定,DR及DA填充理论,HK法微孔分析,SF法微孔分析,MP法微孔分析,T图法微孔分析; 测试范围:比表面积 0.0005(m2/g)及以上;0.35 nm-2 nm,微孔孔径分布分析;2 nm-500 nm( 中孔或大孔), 0.0001 cc/g及以上(总孔体积); 测试精度:比表面积重复精度≤±1.0%;最可几孔径重复偏差≤0.02 nm,真密度≤±0.04%;外表面积≤±1.5%; 测试模式:“单一氮气”和“氮气+氦气”两种测试模式结合,灵活切换,满足不同特性样品测试需求; 样品数量:同时测试2个样品以及同时进行2个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统相互独立,并且样品测试和样品脱气处理可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步提高测试的精度和仪器使用寿命 行业应用 电池材料石墨、磷酸铁锂、锰酸锂、钴酸锂、三元材料等正负极材料 石油化工炭黑、白炭黑、钛白粉,氧化铝,分子筛催化剂,树脂,碳纤维等 医药蒙脱石散,硬脂酸镁、微粉硅胶、滑石粉等润滑剂,淀粉类、糖类等稀释剂,氢氧化铝等药用辅料 环保材料松木、活性炭、竹炭化学炭各种碳材料,沸石分子筛等 纳米材料MOF材料,碳纳米管,石墨烯等 其他粉末、颗粒材料氧化镁,氧化锆,氧化钙,金属粉末,陶瓷,矿粉等
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  • 颗粒表面特性分析仪 400-860-5168转0927
    颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS---有效避免测量颗粒表征错误在分析复杂固-液和液-液配方时,传统的粒度测量方法是基于2个假设,第一个假设是所有颗粒都是球形和光滑的,但球形和光滑的颗粒在大多数工业材料中很少出现;第二个假设是粒子总是均匀一致的,这也并不准确。由于这些错误的假设,测量粒径和颗粒表面积可能会产生误导,从而导致后续工艺和使用过程中的出现误差。德国ORONTEC公司研发的颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS使用核磁共振NMR技术直接测量颗粒大小和形状,避免高成本的错误,具有以下的功能:●轻松区分大小相同但表面或形状不同的产品;●可以显示相同材料表面化学成分的差异得益于这些功能,MagnoMeter XRS能够为任何行业在配方或者制造过程的任何阶段提供一流的功能和分析性能。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS操作简单?无需样品制备:所有技术相关和行业相关的浓度均可直接测量,无需稀释?占用空间小:具有许多MagnoPod和控制模块的配置选项?测量实时进行:根据不同的样品,测量结果在1s内或最迟2min后得出?颗粒测量新技术:MagnoMeter XRS 为传统粒度测量、zeta 电位、BET 气体吸附和汞孔隙率测定分析提供了一种补充技术。颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS优点?颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS没有移动部件,不需要光学校准,通过简单的插件设置即可开始测量?温度控制MagnoPod与控制模块隔离,消除电子和热干扰?一个控制模块可以操作多个磁控振荡器,是隔离危险样品的理想选择?允许在空浓度范围内进行直接样品测量,具有出色的信噪比?可以用标准核磁共振管操作颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS适用领域颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS的用途非常广泛,无论是在研发、质量控制和保证方面,还是在过程控制实验室测量速度和可靠性方面,颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS都是一种高效的工具,广泛运用在以下的领域:?来料的质量控制?中间制造过程监控?成品质量保证?产品保质期确定客户举例欧洲分散技术中心The European Center for Dispersion Technologies(EZD)使用颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS进行颗粒表征分析。翁开尔是德国ORONTEC中国总代理,欢迎致电【400-6808-138】咨询更多关于颗粒表面特性分析仪MagnoMeter XRS产品信息,技术应用和客户案例。
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颗粒表面分析仪相关的资讯

  • 全新颗粒表面特性分析仪上市正式进军颗粒科学与技术领域
    全新颗粒表面特性分析仪上市正式进军颗粒科学与技术领域8月12-14日,纽迈科技携新产品“颗粒表面特性分析仪”参加“中国颗粒学会第九届学术年会暨海峡两岸颗粒技术研讨会”,正式进军颗粒科学与技术领域。颗粒表面特性分析仪适用于在非破坏的条件下连续监测悬浮液状态下颗粒与溶剂之间的表面化学、亲和性、润湿性以及颗粒的比表面积。对于粉体(浆料,粉料)的分散性,稳定性,亲和性以及比表面积的分析测试快速有效准确的测量手段。 PQ001颗粒表面特性分析仪产品功能:1. 悬浮液体系颗粒比表面积2. 粒子分散性、稳定性3. 颗粒与介质之间亲和性4. 粉体质量控制、分散工艺研究试用范围如下:1、颗粒:SiO2、SiC、ZnO、Al2O3、BaCO3、石墨烯、活性炭、炭黑等一百多种;2、悬浮体系溶剂类型:水、乙醇、丁酮、甲苯等各类含H质子溶剂。应用领域:1)制陶术:湿式制程、加工工艺改善, 分散性的质控和研发2)纳米科技:纳米粒子表面的化学状态, 如: 吸附和脱附作用, 比表面积的变化 等3)电子材料:浓稠状浆料和研磨液 (CMP) 的开发及品管4)墨水:碳黑、颜料分散, 最适研磨条件, 表面亲和性及化学和物理状态5)能源:电池, 太阳能板等的碳黑, 纳米碳管和浆料的分散, 粒子表面的化学和物理状态6)制药:API湿润性、亲和性及吸水性的差异7)其他: 全部的浓稠分散悬浊液体, 纳米纤维, 纳米碳等.纽迈科技提供专业的颗粒应用解决方案,强大的研发生产能力,完善的售后服务能力,欢迎来电了解颗粒表面特性分析仪详细信息
  • 国际领先!理化联科iPore 400比表面积及孔径分析仪通过中国颗粒学会鉴定
    近期,由中国颗粒学会主持召开的“理化联科iPore400全自动比表面积及孔径分析仪技术鉴定会”在北京成功举办。iPore400得到了众位中国颗粒学会权威专家的高度评价,成功通过科技成果鉴定。鉴定会主席 岳光溪院士鉴定会主持人 陈运法理事长中国工程院院士、清华大学能源与动力工程系教授岳光溪担任会议主席,中国颗粒学会理事长、中国科学院过程工程研究所研究员陈运法主持了鉴定会。鉴定委员会专家组成员包括清华大学教授魏飞、中国计量科学研究院研究员王海、北京市理化分析测试中心研究员周素红、吉林大学研究员邹永存、中国科学院大连化学物理研究所邵建平以及中国科学院过程工程研究所研究员杨秀红、李长明。iPore400全自动比表面积及孔径分析仪“低比表面积/超低比表面积”样品的多孔性分析是一个具有挑战性的课题。近年来,锂电池行业发展迅猛,亟需精确地表征正负极材料的物理性能,将比表面积测试的长期稳定性控制在1%以内,对于锂电相关企业意义重大。理化联科(北京)仪器科技有限公司自组建以来,将公司骨干成员20多年来在颗粒和多孔材料表征领域的理论和经验转化为实践,立志面向国内外市场,根据中国用户的使用环境,克服小表面样品的测定难题,打造了BET比表面积测定重现性真正达到1%的物理吸附分析仪器——iPore 400型,并按照国际标准组织研发和生产物理吸附分析仪系列产品,取得了决定性突破。杨正红汇报项目研制过程和技术路线袁新华汇报检测报告及查新结果鉴定委员会实地考察仪器性能和使用会议期间,理化联科总经理杨正红就该项目的研制过程和技术路线做了详细报告;袁新华经理则汇报了仪器测试情况、第三方检测报告、既有用户的测定报告和查新结果等。与会专家还实地参观和考察了中科院过程所购置的iPore 400使用现场,并听取了用户意见。经过严格的审查和热烈地讨论,专家们给出如下鉴定结论:iPore 400全自动比表面积及孔径分析仪项目组针对传统氮气吸附物理吸附分析仪难以测量低比表面积及微量样品测量重现性差的技术难题,提出了全域恒温、压敏死体积恒定技术、本底扣除技术、等温体加热炉技术、32位电子电路系统新思路。经上述技术创新和改进,并经过实验多次验证,iPore 400比表面积及孔径分析仪性能达到:(1)脱气站精确控温到0.02℃,脱气温度高到600℃,并可以进行压力控制脱气;(2)仪器的比表面重复性偏差:0.1%;(3)仪器的比表面重现性偏差:优于1%;(4)氮吸附比表面测量标称下限值:0.005m2/g;(5)氮吸附测量下限:最低至P/P0 1×10-5。 鉴定委员会委员一致认为:理化联科iPore 400全自动比表面及孔径分析仪综合性能达到国际先进水平,在氮气静态物理吸附低比表面积的测量上达到国际领先水平。技术鉴定会现场
  • 多孔材料的比表面和孔分析理论及颗粒表征技术进展研讨会
    美国康塔仪器公司(Quantachrome Instruments),是国际著名的材料特性分析仪器专业制造商,在四十多年的发展历程中,始终致力于粉体及多孔物质测量技术的创新,硕果累累:1972年研制出世界第一台动态气体吸附比表面分析仪,同年又研制出世界第一台商用气体膨胀法真密度分析仪;1978年首次将连续扫描注汞技术应用到压汞仪中;1982年发明世界第一台多站自动比表面和孔隙度分析仪;至2005年,研制出最新一代、也是目前唯一一台可以进行静态和动态、物理和化学吸附、具有微孔分析能力的全自动比表面和孔隙度分析仪&mdash Autosorb系列。2010年3月1日,正式推出了至今最先进的双站微孔分析仪&mdash &mdash Autosorb-iQ。美国康塔,一直走在粉体及多孔物质分析技术的前列。 为了使广大用户更多地了解美国康塔仪器公司最前沿的测量技术,美国康塔仪器公司将于2012年11月29日在武汉市武昌区湖滨花园酒店举办&ldquo 粉体和多孔材料表征分析技术研讨会&rdquo ,欢迎光临指导。 日 期:2012 年11 月29日 时 间:9:00 ~ 17:00 地 点:湖滨花园酒店(武汉市武昌洪山区珞瑜路115号) 内 容:多孔材料的比表面和孔分析理论及颗粒表征技术进展背景知识、吸附理论气体吸附法测量比表面和孔径大小如何正确应用BET 理论计算微孔样品比表面孔分析模型及非定域密度函数理论在孔径分析中的应用新一代颗粒、形貌表征技术&mdash &mdash Occhio粒度粒形分析仪技术及应用 如有不详之处,敬请联系美国康塔仪器公司上海代表处 朱蕾娜:021-52828278, zhuleina@quantachrome-china.com

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  • 【求助】关于纳米颗粒的表面覆盖率

    【求助】关于纳米颗粒的表面覆盖率

    我在硅表面用spin coating覆盖一层了纳米颗粒,用AFM进行表面分析,图中白色为纳米颗粒,橘红色是硅片,我想知道颗粒在表面的覆盖率,请高人指点一下,应该用什么软件或者其他什么方法可以确定。不胜感激!!![img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2008123117438_01_1637435_3.jpg[/img]

  • 动态颗粒图像分析仪的研制

    动态颗粒图像分析仪的研制摘要:本文论证了研制动态颗粒图像分析仪的必要性与背景, 介绍了winner100实现动态颗粒测试的方法以及技术特征。评价了动态颗粒图像分析仪的实用价值与科学意义。关键词.. 动态颗粒, 图像分析, 粒度与形状,3 维一、问题的提出颗粒是组成材料的基本单元, 影响材料的性能的不仅是颗粒的化学组成, 颗粒的大小与颗粒的形态对材料的性能影响巨大, 因此颗粒粒度与形态的检测越来越受到各行业的重视。目前检测颗粒大小和颗粒形态的方法有多种,激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度亦、颗粒图像分析技术是最常用的技术。激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度仪, 只能检测颗粒大小, 不能检测颗粒形状;颗粒图像分析技术是一种不仅可以检测颗粒大小也可以检测颗粒形状对唯一方法, 但是由于此种技术有几个致命的缺点限制了它的进一步发展:1.样品制备困难。颗粒在载玻片上很难得到充分的分散, 由于颗粒粘连使得颗粒分析的准确性大受影响; 2.颗粒处于静态, 非球形颗粒的取向会对测试结果造成偏离;3.由于显微镜的视场有限, 被测得颗粒数目受到很大限制, 因此取样的代表性差, 重复性不好。由于以上问题, 颗粒测试中急需一种性能更加优越的测试装置, 能够获得颗粒的准确图像, 操作简便, 满足颗粒形状和颗粒粒度分析的更高要求。国际上荷兰安米德公司、德国新帕泰克公司、德国莱驰公司均推出了同时测定颗粒粒与形状的图像分析仪。国内尚无此种产品, 济南微纳公司通过3年的攻关研制的winner100 颗粒图像分析仪填补了此项空白。二、动态颗粒测试的方法与技术特征Winner100突破了传统的颗粒图像仪的工作模式, 采用超声样品分散系统分散颗粒, 高速摄像头对动态颗粒图像进行采集, 1微秒可以采集一幅颗粒图像, 用计算机对图像进行分析处理, 达到对颗粒粒度与形态进行三维同时测试的目的。其主要技术特征有:1.彻底改变了手工制样操作繁琐的局面, 样品制备操作非常简单, 分散效果好; 2.采用功能强大的动态颗粒图像分析软件, 具有高速采样、自动颗粒图像处理, 实时显示当前图像、实时分析粒度分布、连续统计分析结果, 处理策略自行编程, 多种粒径定义选择, 粒度统计、形状分析等多种功能。打印报告允许自行编辑。3.动态测试使颗粒采样数量无限增加, 统计结果真实可靠, 代表性好、重复性高;4.动态测试使颗粒不同侧面得到采样, 实现了三维测试, 彻底消除了二维测试的颗粒取向误差;粒度测试结果可以与激光粒度分析仪比美。5.winner100动态图像分析专用软件具有强大的图像处理功能;6.支持多种粒径选择和多种粒度分布, 具有多种图像处理功能及其集成处理, 支持图像采集间隔设定与实时显示颗粒形貌与当时粒度分布和累计粒度分布, 记录并显示粒度波动图, 可以输出多种分析图表, 高性能的软件使使用者的颗粒分析工作变得十分轻松方便。7.本成果不仅可用于实验室颗粒分析, 也适用于颗粒在线粒度与粒形监测。对杜会经济发展和科学进步的意义本项目突破了显微静态图像分析的局限, 在国内率先提出动态颗粒图像分析的概念;由于颗粒运动中测试, 克服了二维颗粒图像分析的弊病, 大大提高了采样代表性, 消除了颗粒取向误差, 使颗粒粘连问题彻底解决。本项成果克服了静态颗粒图像仪的缺陷, 提供了一种对运动颗粒同时进行粒度与形状分析的先进手段, 具有操作简单, 测试范围广, 代表性好, 准确可靠, 直观可视, 适用于1-6000微米的各种固体颗粒。可以广泛应用于建材、化工、石油、金属与非金属、环保、轻工、国防等众多领域的实验室和在线颗粒粒度与形状分析。无疑, 对于提高我国各行业颗粒测试水平和经济发展具有重要的实用价值。颗粒测试的基础是颗粒的表征, 本项成果提供了一种颗粒动态测试的实用手段, 因此颗粒的三维表征问题就提到了议事日程上来, 颗粒的三维表征对颗粒学的进步与发展具有重要的意义。[color=blac

  • 请问个SEM测试块体表面颗粒大小问题

    我用sol-gel方法制备了不同颗粒大小的 La0.7Ca0.3MnO3块体样品。想用SEM来测定颗粒的大小。由于块体较小,无法做金相,请问将块体的表面直接用砂纸打磨平整,然后用酒精清洗干净,是否就可以用来测试?测试表面如何确定平均颗粒大小?SEM有自带的软件来分析吗(需要专门的软件吗?)? 我的样品的电阻在2 欧姆厘米左右, 请问需要进行导电处理吗?制备样品和测试的时候需要注意什么呢? 非常着急,急切期待大家的帮助!

颗粒表面分析仪相关的耗材

  • 氧化钨, 氧化锆表面, (EA6000),颗粒, 0.85 to 1.7mm
    R14060.050G 氧化钨, 氧化锆表面, (EA6000),颗粒, 0.85 to 1.7mm 50gm R14060.100G 氧化钨, 氧化锆表面, (EA6000),颗粒, 0.85 to 1.7mm 100gm 用于CHNS、CHN、NCS、NC、C和S分析的燃烧试剂 我们的燃烧试剂被设计用于燃烧产物的完全氧化,并用于去除卤素、硫氧化物和相似干扰效应。我们独有的处理方法使得试剂具有很小的密度和较高的反应表面积。我们的燃烧试剂非常纯净,以致于消除了石英反应管的析晶(脱玻)现象 用于仪器: Thermo:EA1108,EA1110,NA1500Series1/2,NA2500,ThermoFlash EA1112 EA2000,EA1106 Perkin Elmer 2400 Elementar Vario EL, Sercon / Sercon EA, Costech ECS4010 Europa ANCA SL, ANCA GSL, Roboprep, Integra,, Eurovector EA3000 leco
  • 土壤颗粒分析吸管分析仪 吸管法
    土壤颗粒分析吸管分析仪 吸管法由上海书培实验设备有限公司提供,产品规格齐全,土壤颗粒组成(粒径分布)比重计法测定装置土壤分析土壤颗粒分析(吸管法)测定装置使用说明书型号:FX-1 编号:P880780 土壤基质中含有不同数量的各级土粒,完善的表达方式是用粒径分布曲线,一般用对数坐标。曲线的横坐标为粒径 d(mm),纵坐标为单位质量土样小于某一粒级土粒含量的累积百分数,如以粘土、粉砂壤土和砂壤土为例,图示:一、分析原理 粒径分析目前zui为常用的方法为吸管法和比重计法。吸管法操作虽然繁琐,但精确度较高,计算也比较简单。无论是采用吸管法还是比重计法,土粒的粒径分析大致分为分散、筛分和沉降三个步骤。1、土粒的分散 田间或自然土壤,除风砂土和碱土外,绝大部分或全部都是相互团聚成粒径不同的团粒,微团粒是粘粒直接凝聚而成,粗团粒则主要由腐殖质和某些情况下土壤的石灰物质、游离铁的作用胶结而成。在中性土壤中主要是交换性 Ca2+起作用,在酸性土壤中还有交换性 Al3+的作用,土壤溶液中盐类溶质浓度高也促使粘粒团聚。因此传统的分散处理包括用 H2O2-HCl 处理和添加含 Na+的化合物作为分散剂。H2O2的作用是为了破坏有机质,稀 HCl 的作用是为了溶解游离的 CaCO3和其他胶结剂,并用 H +代换有凝聚作用的 Ca2+、Al3+ 等离子和淋洗土壤溶液中的溶质。交换性 H +也有凝聚作用,必须用分散粘粒的 Na+代换之,所用 Na+的数量不能过多,不能超过土壤的交换量。 凡此种种,不仅手续繁杂费时,且在稀 HCl 淋洗中,也可能淋出一部分粘粒的组分,如无定形的二三氧化物和水合氧化硅等。因此需要收集稀 HCl 淋洗液进行化学分析测定。更重要的是腐殖质和碳酸盐也是土壤固相的一部分,若去除它们则与田间情况不一致。因此近年来常对供分析的土样直接投入可固定 Ca2+、 Al3+离子的 Na 盐,通常是酸性土壤加氢氧化钠,中性土壤加草酸钠,碱性土壤加六偏磷酸钠。然后用各种机械的方法进行搅拌,使其分散完全。常用的方法是煮沸法,也有用震荡法或高于大气压的气流激荡的方法。 2、粗土粒的筛分 粒径大于 0.6mm 的粗土粒,用孔径粗细不同的筛,相继筛分经分散处理的土样悬液,可得到不同粒径的土粒数量。根据标准筛的情况,筛孔>o.6mm 允许 5%的筛孔偏离规定值,筛孔孔径在 O.6mm~0.125mm 之间为 7.5%,筛孔孔径<O.125mm 则可高达 10%。所以,常规粒径分析应该只对>0.25mm 的土粒进行筛分,但由于>0.1mm 的土壤颗粒在水中沉降速度太快,用吸管吸取悬液常常得不到较好的结果,因此筛分范围可放宽到 0.1mm,即对>0.1mm 的土粒进行筛分。 3、细土粒的沉降分离 无法筛分的细土粒(<0.1mm=依据司笃克斯(G.G.Stokes)定律,按土粒在水中沉降的快慢区分不同粒 2 径的土粒。颗粒在真空中沉降不受任何阻力,只是受重力作用而呈现自由落体运动。在水中沉降除重力作用外,还受与重力作用方向相反的摩擦力作用。摩擦力 Fr 应等于:Fr=6πηrυ 式中:η-水的粘滞度(g/cms);r-颗粒半径(cm);υ-颗粒沉降速度(cm/s) 颗粒开始沉降,沉降速度随时间增大,摩擦力 Fr 也随之增加,当颗粒所受摩擦力与所受重力在数量上相等时,这时沉降速度不再增加,颗粒以均速(沉降速度)沉降,这时的沉降速度称为终端速度。颗粒所受重力 Fg 可由下式计算:Fg=4/3 πr 3 (ρs-ρf)g 式中:4/3 πr 3 是球体颗粒的体积;ρs为颗粒密度(g/cm3 );ρf为流体(水)的密度(cm/s3 ) g 为重力加速度(981cm/s2 )。当 Fr=Fg 时可得:υt=d 2 (ρs-ρf)g / 1800η 式中:υt为终端速度;d 为颖粒直径(mm) 假定沉降速度几乎在终端过程一开始就立即达到,则可计算一定直径颗粒沉降到深度 L(cm)所需时间 (s):t=1800Lη / d 2 (ρs-ρf)g 利用沉降法进行颗粒分析,应注意以下几点假设:(1) 颗粒是坚固的球体且表面光滑; (2) 所有颗粒密度相同; (3) 颗粒直径应大到不受流体(水)布朗运动的影响;(4) 供沉降分析的悬液必须稀释到颗粒沉降互不干扰,即每一个颗粒的沉降都不受相邻颗粒影响;(5) 环绕颗粒的流体(水)保持层流运动,没有颗粒的过快沉降引起流体的紊流运动。 以上几点:除(3)、(4)可以大致满足外,(5)很难完全保证,(1)、(2)两条根本无法满足。细土粒不是球形的(大多为扁平状),表面也不光滑,其密度也不相同,只有大多数硅酸盐的密度在 2.6~2.7 之间,其他重矿物和氧化铁的密度可达到 5.0g/cm3或更高,所以粒径分析只能给出近似的结果。 具体测定各级细土粒的方法,可根据司笃克斯定律,按以上公式计算某一粒径的土粒沉降到深度 L(L 一般取 10cm)所需的时间。在测定前用特制的搅拌棒均匀地搅拌颗粒悬液(见测定步骤),在沉降一开始记时,按以上公式计算的沉降时间用移液管在深度 L 处缓缓吸取一定容量的悬液,烘干称重,由此可计算小于某一相应粒径土粒的累积量。两次测定的累积量相减可得某一粒径范围的土粒量。二、试剂配置 1、氢氧化钠溶液[c(NaOH)=0.5molL -1]:20g 氢氧化钠(NaOH,化学纯)溶于水,稀释至 1L(用于酸性土壤);2、草酸钠溶液[c(0.5Na2C2O4)=0.5molL -1]:35.5g 草酸钠(Na2C2O4,化学纯)溶于水,稀释至 1L(用于中性土壤); 3、六偏磷酸钠溶液{c[1/6 (NaPO3)6]=0.5 molL -1}:51g 六偏磷酸钠[(NaPO3)6,化学纯]溶于水,稀释至 lL(用于碱性土壤);4、盐酸溶液[c(HCl)=o.2molL -1]:16.6mL 浓盐酸稀释至 1L; 5、盐酸溶液[c(HCl)=o.05molL -1]:4.2mL 浓盐酸稀释至 1L;6、盐酸溶液[φ(HCl)=10%]:10mL 浓盐酸稀释至 100mL;7、过氧化氢溶液[ω(H202)=6%]:200mL 过氧化氢[ω(H202)=30%]稀释至 1L;8、氢氧化铵溶液[φ(NH40H)=10%]:10mL 氨水稀释至 100mL; 9、硝酸溶液[φ(HN03)=10%]:10mL 硝酸(HN03,ρ=1.42gcm -3)稀释至 100mL; 10、乙酸溶液[φ(CH3COOH)=10%]:10mL 冰乙酸稀释至 100mL;11、草酸铵溶液{ρ[(NH4)2C2O4]=40gL -1}:4g 草酸铵[(NH4)2C2O4,化学纯]溶于水稀释至 lOOmL; 12、硝酸银溶液[ρ(AgN03)=50gL -1]:5g 硝酸银(AgN03,化学纯)溶于水稀释至 100mL; 13、异戊醇[(CH3)2CHCH2CH2OH,化学纯];14、浓硫酸(工业用)(H2S04,ρ≈1.84gL -1)。三、仪器结构该测定装置主要由吸管、吸管架、沉降筒(1000ml 量筒,直径约 6cm,高约 45cm)、分样筛(2mm)、洗筛 (直径约 6cm,筛网孔径 0.2mm)、两通活塞、小漏斗、搅拌棒、橡皮头玻棒、真空泵等组成。四、测定步骤1、样品处理(1) 大于 2mm 石砾的处理:称取一定量原始土样 3 份,将大于 2mm 石砾按不同粒级(见附表,不同分级制有不同分法)分开,分别放入蒸馏水煮沸若干次,直至石砾上的附着物完全去净。将石砾移至称量瓶中,放入烘箱烘干称重。(2) 吸湿含水率的测定:称取 6 份(如作脱钙处理,需称取 7 份)过 2mm 筛的定量风干土样(根据测定前对土样质地的估计,通常粘土用 10.00g,其他质地 20.00g 或更多),其中 3 份放人 105℃~110℃的烘箱烘至恒重(至少 6h 以上),计算土样吸湿含水率。(3) 去除有机质:对有机质含量较高的土样,分散前应去除有机质。将 4 份风干土样(如不作脱钙处理则为 3 份)分别放人 250mL 的高型烧杯中,加少量蒸馏水使土样湿润。然后加入过氧化氢(试剂 7)20mL,用玻璃棒搅拌,使有机质充分与 H202接触反应。反应过程中会产生大量气泡,为防止样品溢出可加异戊醇消泡。过量的 H202用加热方法去除。(4) 去除 CaCO3 :根据粒级分析的不同目的,也可用 HCl 脱钙。小心加入 c(HCl)=0.2 molL -1溶液于土样中,直到无气泡发生。HCl 脱钙过程中应随时除去样品上面的清液,以保证盐酸的浓度。如样品碳酸钙含量高,可适当加大 HCl 的浓度。 经 c(HCl)=0.2 molL -1溶液处理的样品,需再用 c(HCl)=0.05 molL -1溶液淋洗 Ca2+。为缩短淋洗时间,每加入一定量 c(HCl)=0.05 molL -1稀溶液,待滤干后再加入少量稀 HCl 继续淋洗。取淋洗液 5mL 于小试管中,滴入氢氧化铵溶液(试剂 8)中和,再加数滴乙酸溶液(试剂 10)成微酸性溶液,加入几滴草酸铵溶液(试剂 11)稍稍加热。若有白色 CaC204沉淀,说明样品中仍有 Ca2+存在,需继续加稀 HCl 淋洗,直至没有 CaC204沉淀为止。 去掉 Ca2+的土样,还需用蒸馏水淋去多余的 HCl 和其他氯化物。为此,再取少量(5mL)淋洗液于小试管中,加入硝酸溶液(试剂 9)数滴使滤液酸化,再加入硝酸银溶液(试剂 12)l 滴~2 滴,若有白色 AgCl 沉淀, 4 则需继续淋洗,直至无白色沉淀为止。 用蒸馏水淋洗样品,随电解质的淋失,土壤趋于分散,滤液渐趋混浊,说明这时土样中的 C1-含量已极微,可立即停止淋洗,以免土壤胶体损失,影响分析结果。 取一份上述处理过的样品于已知重量的容器(如烧杯)中,先在电热扳上加热蒸干水分,再放人烘箱,在 105℃~110℃下烘至恒重,称重计算 HCl 洗失量。2、制备悬液 将上述处理后的另 3 份样品(如不需去除有机质和 CaCO3,直接用过 2mm 筛的定量风干土样)全部转移到 500mL 三角瓶中,根据土壤的酸碱度,每 10g 样品,酸性土壤可加 c(NaOH )=0.5 molL -1溶液 10mL,中性土壤可加 c(0.5Na2C2O4)=0.5 molL -1溶液 10mL,碱性土壤可加 c[1/6 (NaPO3)6]=0.5 molL -1溶液 10mL。浸泡过夜,然后加蒸馏水至 250mL,盖上小漏斗,将悬液在电热板上煮沸,在沸腾前应经常摇动三角瓶,以防止土粒结底,保持沸腾 1h。煮沸时特别要注意用异戊酵消泡,以免溢出。 分散好的样品转移到 1000mL 的沉降筒中。转移前,沉降筒上置一直径 7~9cm 的漏斗,上面再放一直径 6cm,孔径 0.2mm 标准筛,将分散好的土样全部过筛,并用橡皮头玻璃棒轻轻地将土粒洗擦,用蒸馏水冲洗标准筛,全部样品转移后,将标准筛放入事先装有适量蒸馏水的大烧杯中上下荡涤,确认小于 0.2mm 直径的土壤颗粒全部转移到沉降筒中。特别注意冲洗到沉降筒的水量不能超过 1000mL,然后加蒸馏水到沉阵筒中定容 1000mL 备用。 在小于 0.2mm 孔径的土样颗粒全部转移到沉降筒后,将洗筛上的土粒转移到小烧杯中,倾去清水,在电热板上蒸干,放入 105℃~110℃烘箱中烘至恒重;称量计算 2mm~0.2mm 土粒含量。3、细土粒的沉降分析 测量实验室当时的水温,按水温计算 0.02mm、0.002mm 土粒沉降至 10cm 处所需的时问。用搅拌棒搅拌悬液 1min,搅拌悬液时上下速度要均匀,一般速度为上下各 30 次。搅拌棒向下时一定要触及沉降筒底部,使全部土粒都能悬浮。搅拌棒向上时,有孔金属片不能露出液面,一般至液面下 3~5cm 即可,否则会使空气压入悬液,致使悬液产生涡流,影响土粒沉降规律。沉降时间以搅拌结束为起始时间。 用吸管吸取悬液操作,事先应反复练习,以避免实际操作时的失误。 吸取悬液的负压气源以-0.05MPa 为宜,有各种稳压装置,这里不再介绍,zui简单的方法是用洗耳球代替。吸液时,应在吸取悬液前 20s 将吸管放入沉降筒规定的深度,在吸液时间前 10s 接通气源。 吸管中悬液全部移入 50mL 的小烧杯内,并用蒸馏水冲洗吸管壁,使附着在吸管壁上的土粒全部冲入小烧杯内,然后将小烧杯内的悬液在电热板上蒸干(特别小心防止悬液溅出),再移至 105℃~110℃的烘箱内烘至恒重,称量(感量 0.0001g)并计算各粒级的百分比。4、分散剂空白测定吸取 10mL 分散剂,放人沉降筒中,定容至 1000mL,搅匀,和样品同样吸取 25mL 于已知质量的 50mL 烧杯中,蒸干,烘至恒重。五、结果计算一般以烘干土为计算基础,但对有机质、碳酸盐较高的土壤,可用经盐酸、双氧水处理过的烘干土为计算基础,其洗失量不包括在各级颗粒含量之内,另列一项供参考。(1) 吸湿水%=(m1-m2)/m2 × 100(2) 洗失量%=(m2-m3)/m2 × 100(3) 3.2mm~0.2mm 颗粒含量%=m4 /m2 × 100(4) 0.02mm~0.002mm 颗粒含量%=(m5-m6)×ts /m2 × 100(5) <0.002 颗粒含量%=(m6-m7)×ts /m2 × 100(6) 0.2mm~0.02mm 颗粒含量%=100%一[(2)十(3)十(4)十(5)]%式中:m1 —— 风干土质量 gm2 —— 烘干土质量 gm3 —— 经盐酸双氧水处理后烘干土质量 g 5m4 —— 2mm~O.2mm 颗粒质量 gm5 —— <002mm 颗粒与分散剂质量 gm6 —— <O.O02mm 颗粒与分散剂质量 gm7 —— 分散剂质量 gts —— 分取倍数 1000/25 = 40测定允许误差:吸管法允许平行误差:粘粒级<1%;粉砂粒级<2%。附表: 各种土壤粒级划分方案 注意:本图中水银压力表已改用真空压力表显示调压指示表已改装直管式水银压力表显示配 置 清 单1、 机械分析吸管架 1 套2、 吸管(易损件,多配备用) 2 支3、 真空泵 1 台4、 水银压力表(已改用真空压力表显示) 1 套5、 调压指示表(已装直管式水银压力表) 1 套6、 缓冲瓶(5000ml,配橡皮塞) 1 只7、 真空瓶(2500ml,配橡皮塞) 1 只8、 保险瓶(2500ml,配橡皮塞) 1 只9、 洗气瓶(500ml) 2 只10、两通活塞(易损件,多配备用) 2 只11、洗筛(0.2mm) 1 只12、沉降筒(1000ml,多配备用) 8 只13、搅拌棒 1 支14、橡皮头玻棒 1 支15、三叉玻管 4 只16、三角漏斗(80x140,Φ7mm) 1 只17、管夹 6 只18、塑料连接管(6x9mm) 1 套19、橡胶连接管(6x9mm) 1 套20、土壤筛(2mm,含底盖) 1 只21、使用说明书 1 份自备件:蒸馏水下口瓶 1 只、秒表 1 只、温度计 1 支、烧杯(50ml) 10 只、水银 150g、墨水(红蓝)
  • 纳米颗粒分析仪配件
    纳米颗粒分析仪配件用于观测和分析液体中的微小颗粒的布朗运动速率与尺寸分布相关,采用纳米颗粒跟踪分析(NTA)技术,通过激光散射装置(纳米观测)与超显微镜ultra-microscope和NTA软件的相结合,生成纳米颗粒图像,是全球领先的纳米粒度分析仪。纳米颗粒分析仪配件 纳米观测原理 纳米颗粒分析仪使用纳米透视Nano-Insight 激光散射模块,可以通过顶眼超显微镜观测到液体中的纳米粒子。采用不同激光散射颗粒在矩阵中表现为模糊点。模糊点根据其各自的布朗运动而移动。液体中有不同的布朗运动粒子。小粒子比大粒子受到相邻粒子的影响更少。因此,在超显微图像中,较大的粒子有大的模糊外观。 NTA能够追踪粒子的相应路径。 纳米观测模块 纳米观测模块的设计,可以使其安装在超显微镜,顶眼纳米的底板。可以通过Mishell软件来控制该模块。Mishell软件控制着纳米观测模块以及照相机。根据应用决定在纳米观测模块装备一个或多个激光器。激光器以一种特殊的方式排列。左侧图片上展示的是纳米观测图。较小的粒子比较大的粒子移动更快。我们用摄像机同时跟踪每个粒子。 顶眼超显微镜 顶眼超显微镜将进入模糊点的散射光可视化。用适当的时间分辨跟踪,模糊云可被分配并与各自的粒径相关。粒子的布朗运动图像是唯一的。下面将给出例子。每个模糊点代表单个粒子。 NTA 软件 上图展示的是NTA分析的典型图像。散射激光被捕获到模糊点,要根据时间函数跟踪模糊点。我们跟踪每个模糊点。跟踪每个粒子的方法,得到的技术结果是高分辨率。我们正在寻找与图像相关的量,当我们知道相关的量后,我们就可以极其精确地确定各种粒子的浓度。该技术将会带起许多可能的应用。例如,可能也可以使用荧光激光器。使用荧光激光器,可以瞄准复杂的基质里的一个粒子。该技术带来的好处是,用户可以在视觉上检查并且通过观察相应图像验证所有可能的应用。 MiNan是Mishell® 内的一个模块- 扩展图像分析软件包,被认为是市场上最先进的图像分析软件。MiNan是一个子程序,可以进行Morphious纳米粒子分析的全部描述。 MiNan是自带Morphious纳米系统的软件,研发用于纳米粒子的可视化以及纳米粒子的大小、形状(形态)和浓度的测量。每个粒子是一个个体,但通过观测扩散同时被分析。这种一个粒子后接一个粒子的方法产生高分辨率的结果,即粒子的尺寸分布和浓度分辨率高,同时视觉验证让用户对数据有了额外的信心。当荧光模式检测标记粒子时,粒子尺寸和浓度,蛋白质聚集和粘度都可以被分析。 纳米颗粒分析仪配件应用 ? 在制药或复合产业研发药物 ? 用于病毒筛查 ? 用于开发纳米生物标记物或毒物筛查 ? 用于蛋白质聚集的动力学模型研究 ? 用于通过膜泡的表征研究疾病 ? 用于促进纳米复合材料的发展 纳米颗粒分析仪配件特色 ? 在同一时间多粒子高通量表征 ? 实时视觉展示粒子,允许用户评估试验,无需额外复杂性 ? 方便和易于使用的软件,允许用户通过宏设置任何实验 ? 添加像高通量自动采样器,泵或加热和制冷配件 ? 自适应模块化系统构建任何复杂的应用程序,操作轻松舒适 ? 超级高效和购买成本低 ? 该系统提供高分辨率的粒度特性来研究复杂的多分散矩阵 ? 激光波长可选择 ? 通过给过滤器添加电动轮,得到自适应荧光分析 纳米颗粒分析仪配件参数 ? 尺寸 10 nm - 2000 nm* ? 浓度 106 - 109 粒子/ mL ? 荧光检测 纳米颗粒分析仪配件规格 温度范围 15-40 °C 电源 230V AC/115V AC, 50/60 Hz 摄像机 USB3 CMOS分辨率:1936x1216 161帧/秒,像素尺寸5.86μm:颜色校准模块 功耗 18W 激光波长 405nm(紫色),488nm(蓝),532nm(绿),642nm(红色) 尺寸范围 从10 nm到2000 nm (取决于材料) 焦点 电脑控制电动调焦 个人计算机 SDD亿康 II SDSSDHII-120G-G25HDD 西数蓝WD10EZEX1 TB|主板千兆字节 GA-Z97X-UD3H|内存金士顿骇客神条怒黑| HX318C10FBK2/1616 GB DDR3-RAM 处理器 英特尔® 酷睿™ i7 i7-4790K四核4×4.0 GHz 显卡 PNY VCQK2200-PB 4GB 电源 酷冷至尊 G750M 750w 机箱 酷冷至尊黑 软件 Windows® &(或更高).由Mishell® 供电 Mishell是Microptik BV公司的注册商标。 Windows是微软公司的注册商标。 MiNan尖端程序在Mishell下运行,以充分体现由Morphious纳米获得的纳米粒子 尺寸(长×宽×高) 20 x 18 x 30 cm 重量 10.5 kg
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