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图像法粒度分析仪

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图像法粒度分析仪相关的论坛

  • 动态颗粒图像分析仪的研制

    动态颗粒图像分析仪的研制摘要:本文论证了研制动态颗粒图像分析仪的必要性与背景, 介绍了winner100实现动态颗粒测试的方法以及技术特征。评价了动态颗粒图像分析仪的实用价值与科学意义。关键词.. 动态颗粒, 图像分析, 粒度与形状,3 维一、问题的提出颗粒是组成材料的基本单元, 影响材料的性能的不仅是颗粒的化学组成, 颗粒的大小与颗粒的形态对材料的性能影响巨大, 因此颗粒粒度与形态的检测越来越受到各行业的重视。目前检测颗粒大小和颗粒形态的方法有多种,激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度亦、颗粒图像分析技术是最常用的技术。激光粒度分析仪、沉降粒度仪、电阻法粒度仪, 只能检测颗粒大小, 不能检测颗粒形状;颗粒图像分析技术是一种不仅可以检测颗粒大小也可以检测颗粒形状对唯一方法, 但是由于此种技术有几个致命的缺点限制了它的进一步发展:1.样品制备困难。颗粒在载玻片上很难得到充分的分散, 由于颗粒粘连使得颗粒分析的准确性大受影响; 2.颗粒处于静态, 非球形颗粒的取向会对测试结果造成偏离;3.由于显微镜的视场有限, 被测得颗粒数目受到很大限制, 因此取样的代表性差, 重复性不好。由于以上问题, 颗粒测试中急需一种性能更加优越的测试装置, 能够获得颗粒的准确图像, 操作简便, 满足颗粒形状和颗粒粒度分析的更高要求。国际上荷兰安米德公司、德国新帕泰克公司、德国莱驰公司均推出了同时测定颗粒粒与形状的图像分析仪。国内尚无此种产品, 济南微纳公司通过3年的攻关研制的winner100 颗粒图像分析仪填补了此项空白。二、动态颗粒测试的方法与技术特征Winner100突破了传统的颗粒图像仪的工作模式, 采用超声样品分散系统分散颗粒, 高速摄像头对动态颗粒图像进行采集, 1微秒可以采集一幅颗粒图像, 用计算机对图像进行分析处理, 达到对颗粒粒度与形态进行三维同时测试的目的。其主要技术特征有:1.彻底改变了手工制样操作繁琐的局面, 样品制备操作非常简单, 分散效果好; 2.采用功能强大的动态颗粒图像分析软件, 具有高速采样、自动颗粒图像处理, 实时显示当前图像、实时分析粒度分布、连续统计分析结果, 处理策略自行编程, 多种粒径定义选择, 粒度统计、形状分析等多种功能。打印报告允许自行编辑。3.动态测试使颗粒采样数量无限增加, 统计结果真实可靠, 代表性好、重复性高;4.动态测试使颗粒不同侧面得到采样, 实现了三维测试, 彻底消除了二维测试的颗粒取向误差;粒度测试结果可以与激光粒度分析仪比美。5.winner100动态图像分析专用软件具有强大的图像处理功能;6.支持多种粒径选择和多种粒度分布, 具有多种图像处理功能及其集成处理, 支持图像采集间隔设定与实时显示颗粒形貌与当时粒度分布和累计粒度分布, 记录并显示粒度波动图, 可以输出多种分析图表, 高性能的软件使使用者的颗粒分析工作变得十分轻松方便。7.本成果不仅可用于实验室颗粒分析, 也适用于颗粒在线粒度与粒形监测。对杜会经济发展和科学进步的意义本项目突破了显微静态图像分析的局限, 在国内率先提出动态颗粒图像分析的概念;由于颗粒运动中测试, 克服了二维颗粒图像分析的弊病, 大大提高了采样代表性, 消除了颗粒取向误差, 使颗粒粘连问题彻底解决。本项成果克服了静态颗粒图像仪的缺陷, 提供了一种对运动颗粒同时进行粒度与形状分析的先进手段, 具有操作简单, 测试范围广, 代表性好, 准确可靠, 直观可视, 适用于1-6000微米的各种固体颗粒。可以广泛应用于建材、化工、石油、金属与非金属、环保、轻工、国防等众多领域的实验室和在线颗粒粒度与形状分析。无疑, 对于提高我国各行业颗粒测试水平和经济发展具有重要的实用价值。颗粒测试的基础是颗粒的表征, 本项成果提供了一种颗粒动态测试的实用手段, 因此颗粒的三维表征问题就提到了议事日程上来, 颗粒的三维表征对颗粒学的进步与发展具有重要的意义。[color=blac

  • 【资料】美国麦奇克公司推出新型S3500SI激光粒度粒形分析仪

    【资料】美国麦奇克公司推出新型S3500SI激光粒度粒形分析仪

    美国麦奇克有限公司(Microtrac Inc.)是世界上最著名的激光应用技术研究和制造厂商,其先进的激光粒度分析仪已广泛应用于水泥,磨料、冶金、制药、电子、石化、陶瓷、涂料、炸药等领域,并成为众多行业制定的质量监测和控制的分析仪器,作为专业激光粒度分析仪的领航者,1959年与Bell实验室合作,成立Leeds&Northrup公司, 成功推出第一台商用激光粒度分析仪(Micortrac 型号 7991)。以研究开发见长的美国麦奇克公司,首家引进“非球形”颗粒校正因子,保证了测量的准确性。 美国麦奇克公司位于风景优美的美国佛罗里达州,致力于与全球各地的代理商精诚合作,用户遍及世界86个国家和地区,其旗下所有产品均已通过ISO9001质量标准认证,GMP标准认证,欧洲EMC标准认证等。公司总部设有服务平台,应用实验室,保证24小时回复用户咨询。在中国设有技术服务中心,并有专家定期巡回访问,为用户提供及时周到的服务。 美国麦奇克公司产品线齐全:Microtrac激光粒度分析仪——从纳米到毫米的全量程解决方案;S3500SI激光粒度粒形分析仪——一台仪器,两种技术;S3500系列激光粒度分析仪——湿法、干法、干湿两用;Bluewave系列激光粒度分析仪——湿法、干法、干湿两用;Nanotrac 系列纳米粒度分析仪——可实现在线纳米粒度检测;Zetatrac 纳米粒度及Zeta电位分析仪——同时对纳米粒度和Zeta电位进行检测;Aerotrac喷雾粒度分析仪。 很多时候,客户对产品进行颗粒度测量时,既希望得到粒度分布信息,同时也希望得到粒形粒径信息。尤其是一些对颗粒形状要求很高的应用领域,实际粒形对产品质量影响巨大,但传统设备只能解决其中一种问题。如今,美国麦奇克公司在其经典热销的S3500系列激光粒度分析仪的基础上,创新性的推出融合图像分析技术的新型S3500SI激光粒度粒形分析仪。一台仪器,两种技术!同时解决您的两大困扰!S3500SI激光粒度粒形分析仪技术指标:激光粒度测量范围:0.02-2800um基本型 湿法 0.70 ~ 1000 um 高端型 湿法 2.75 ~ 2800 um 标准型 湿法 0.25 ~ 1500 um 特殊型 湿法 0.09 ~ 1500 um 扩展型 湿法 0.02 ~ 2000 um 增强型 湿法 0.02 ~ 2800 um 图像测量范围:0.75-2000um光 源: 激光衍射:专利的三激光技术,采用三个3mW 780nm固体二极管激光器; 图像分析:高性能频闪LED;分析时间: 激光衍射:10-30秒; 图像分析:1 分钟;检测系统: 激光衍射:接受角度: 0.02-163°; 检 测 器:151个检测单元,以对数方式优化排列的高灵敏硅光电二极管; 信号采集:无需扫描,实时接受全量程散射光信号; 图像分析:像素5M,图像分辨率245[

  • 【分享】图像分析仪在金相分析中的应用3

    二、图像分析仪在金相分析中的应用  (一)晶粒度测定  测量晶粒度是金相检验工作中经常进行的检验项目。传统的方法是参照有关标准(GB6394-2002)中的标准图片,采用与标准图片相比较的方法评定出晶粒度级别,此方法简便、速度快,但主观上的误差也比较大。若采用GB6394中规定的另外两种方法,即面积法和截点法(仲裁方法),虽然可获得准确的测量结果,但这两种方法使用起来很不方便,其繁琐程度令人望而生畏。如果使用图像分析仪采用截点法进行晶粒度测定,则可以直接而迅速地求出晶粒度级别。  截点法是通过统计给定长度的测量网格上的晶界截数来测定晶粒度的,其晶粒度级别指数G的计算公式为:  G=-3.2877+6.6439lg(M×N/L)  式中:L-所使用的测量网格长度(mm)  M-观察用的放大倍数  N-测量网格L上的截点数  L、M为已知数,只需测得N,图像分析仪就可以得出晶粒度级别。在实测工作时,由于晶粒内部可能存在各种析出物以及因腐蚀控制不当而造成晶界断裂,给准确测定带来一定的困难,需采用图像分析仪中的腐蚀与膨胀功能,去除晶粒内的析出物和对晶界进行重建,以得到完整的晶粒图像。

  • 网络讲堂:11月6日 3D颗粒图像分析技术及应用案例(最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者主讲)

    http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif3D颗粒图像分析技术及应用案例(最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者主讲)讲座时间:2014年11月06日 10:00主讲人:Dr. Terje JorgensenDr. Terje Jorgensen 专业从事动态颗粒图像研究超过30年,最新3D颗粒图像PartAn 3D分析仪开发者 全英文讲解,中文同声翻译http://img3.17img.cn/bbs/upfile/images/20100518/201005181701392921.gif【简介】2014年麦奇克全新推出拥有专利技术的3D颗粒图像分析仪,实现动态颗粒图像实时分析,提供多于30种不同的形态参数,本次网络讲堂邀请到3D颗粒图像技术主研发者Dr. Terje Jorgensen 亲自讲解3D图像分析技术及应用案例。颗粒的大小形状与颗粒材料的结构和产生颗粒时的工艺工程有关,复杂的颗粒形状对粒径测量方法会产生很大的影响。目前,基于激光散射原理的颗粒测量仪器被广泛应用,适合不同类型的干法/湿法样品分析。但是,由于该方法是典型的统计分析方法,颗粒的散射信号由多元光电探测器接收,经过数学模型处理后得到相应的粒度分布结果,而不能得到颗粒的实际形状信息,而且,其粒度直径D定义为等效球形的光学当量体积直径。但实际上我们所测的颗粒形状千差万别,在很多对颗粒形状有要求的应用领域,例如,在磨料涂料,建筑材料,食品工业,矿物加工,制药原料,石油石化等领域会产生较大的影响。通常,一般采用显微镜法来观察颗粒的形貌和测量颗粒的大小,所谓“眼见为实”,但是所能测量的样品量极少(约0.01g),而且必须经过一定的样品制备程序,所以美国Microtrac推出了最新的动态颗粒图像分析方法,配合先进的3D图像分析技术,实时统计并显示颗粒图像及粒度分布信息,提供描述每个颗粒30多种的大小和形状的参数(直径,周长,面积,体积,圆度,球度,凹凸度,延伸度以及长宽比等),为颗粒的分析提供了最全面的参数分析。-------------------------------------------------------------------------------1、报名条件:只要您是仪器网注册用户均可报名参加。2、报名并参会用户有机会获得100元手机充值卡一张哦~3、报名截止时间:2014年11月06日 9:304、报名参会:http://www.instrument.com.cn/webinar/meeting/meetingInsidePage/12225、报名及参会咨询:QQ群—231246773

  • 激光粒度分析仪注意事项

    [font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广,与传统方法相比,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一:测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作,电路中的电子元件都有一个关键的技术参数,元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化,温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以,粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示,一般而言,用户在粒度分析仪头一次的开机过程中,关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二:系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三:系统参数设置。技术人员表示,在激光粒度分析仪的主菜单界面,操作人员应用鼠标左键单击“设置”,屏幕上弹出“设置”子菜单,在该栏上输入:样品名称、测试人等项内容,才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四:样品准备。据悉,样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

  • 【分享】图像分析仪在金相分析中的应用

    图像分析仪在金相分析中的应用近年来,随着计算机技术和体视学的发展,图像分析仪被广泛地应用于金相分析中,使传统的金相分析技术从定性或半定量的工作状态逐步向定量金相分析方向发展。 金相工作者多年来一直从金相试样抛光表面上通过显微镜观察来定性地描述金属材料的显微组织特征或采用与各种标准图片比较的方法评定显微组织、晶粒度、非金属夹杂物及第二相质点等,这种方法精确性不高,评定时带有很大的主观性,其结果的重现性也不能令人满意,而且均是在金相试样抛光表面的二维平面上测定,其测量的结果与三维空间真实组织形貌相比有一定差距。现代体视学的出现为人们提供了一种由二维图像外推到三维空间的科学,即将二维平面上所测定的数据与金属材料的三维空间的实际显微组织形状、大小、数量及分布联系起来的一门科学,并可使材料的三维空间组织形状、大小、数量及分布与其机械性能建立内在联系,为科学地评价材料提供了可靠的分析数据。 由于金属材料中的显徽组织和非金属夹杂物等并非均匀分布,因此任何一个参数的测定都不能只靠人眼在显微镜下测定一个或几个视场来确定,需用统计的方法对足够多的视场进行大量的统计工作,才能保证测量结果的可靠性。如果仅靠人的眼睛在显微镜上进行目视评定,其准确性、一致性和重现性都很差,而且测定速度很慢,有些甚至因工作量过大而无法进行。图像分析仪以先进的电子光学和电子计算机技术代替人眼观察及统计计算,可以迅速而准确地进行有统计意义的测定及数据处理,同时具有精度高、重现性好,避免了人为因素对金相评定结果的影响等特点,而且操作简便,可直接打印测量报告,目前已成为定量金相分析中不可缺少的手段。 图像分析仪是对材料进行定量金相研究的强有力工具,也是日常金相检验的好帮手,可以避免人工评定带来的主观误差,从而也避免了扯皮现象。虽然在日常金相检验中,不可能也不必每次都使用图像分析仪,但当产品质量出现异常或金相组织级别处于合格与不合格之间而无法判别时,则可以借助图像分析仪对其进行定量分析,得出准确结果,确保产品质量。图像分析仪在金相分析中的应用,拓展了金相检验的检测项目,促进了检测水平的提高,对于提高检测人员的素质也是十分有益的。 图像分析仪的系统由金相显徽镜和宏观摄像台组成的光学成像系统,其用途是使金相试样或照片形成图像。金相显微镜可直接对金相试样进行定量金相分析;宏观摄像台适用于分析金相照片、底片及实物等。 为了能用计算机存贮、处理和分析图像,首先需将图像数字化。一帧图像是由不同灰度的一种分布所组成,用数学符号表示为j=j(x,y),x、y为图像上像素点的坐标,j则表示其灰度值。所以,一帧图像可以用一个m×n阶矩表示,矩中每个元素对应于图像中一像素点,aij的值即表示图像中属于第i行第j列的像素点的灰度值。CCD摄像机(电荷耦合器件摄像机)就是一种图像数字化设备。金相试样上的显微特征经过光学系统后在CCD上成像并由CCD实现光电转换和扫描,然后作为图像信号取出,由放大器进行放大,并量化成灰度级以后贮存起来,从而得到数字图像。 计算机根据数字图像中需测量特征的灰度值范围,设定灰度值阈值T。对于数字图像中任何一个像素点,若其灰度大于或等于T,则用白色(灰度值255)来代替它原来的灰度;若小于T则用黑色(灰度值0)来代替原来的灰度,可以把灰度图像转化为只有黑、白两种灰度的二值图像,然后再对图像进行必要的处理,使计算机能方便对二值图像进行粒子计数、面积、周长测量等图像分析工作。若采用伪彩色处理,则可把256个灰度级转换成对应的彩色,使灰度很接近的细节和其周围环境或其他细节易于识别,从而改善图像,更利于计算机处理多特征物图像。 图像分析仪通常都具有下列基本图像处理、分析功能:图像采集。 图像增强和处理:包括阴影校正,伪彩色处理,灰度变换,平滑、锐化;图像编辑等。 图像分割。 二值图像处理:包括形态学处理(腐蚀、膨胀、骨胳化等),二值图像的算术运算、联接、自动修补等。 测量:包括特征物统计,对其周长、面积、X/Y投影、轴长、取向角等参数进行统计测量。 数据输出。

  • 粉尘粒度分析仪咨询

    [color=#333333] 粉尘粒度分析仪采用斯托克斯原理和比尔定律测定粉尘粒度分布(分散度)。与常规方法相比省去天平称重和显微镜数数等繁杂工作。读数直观,测定结果自动储存,也可由用户根据需要选择,把结果通过显示屏或打印机输出。仪器具有掉电保护功能,可储存40 次粒度分布数据,储存的数据可根据用户意图进行清除。是粉尘实验室使用的理想仪器。[/color][color=#333333]主要技术指标:粉尘粒度分布测定范围:0~150µ m(测定粉尘累积质量筛上分布,粉尘粒度分级为150、100、80、60、50、40、30、20、10、8、7、6、5、4、3、2、1µ m)测定误差:d40µ m时,粉尘粒度分布重复测定误差≤10%,粉尘粒度测量误差(120004a微粒标准物质为试验粉尘):d50=10~13μm[/color][color=#333333][/color][color=#333333]网上查到的如MD-1型粉尘粒度分析仪的性能如何?[/color]

  • 同一样品(金刚石线锯微粉),马尔文、库尔特、图像分析仪的对比

    同一样品(金刚石线锯微粉),马尔文、库尔特、图像分析仪的对比

    [b]这段时间做金刚石线锯微粉的质量控制工作,对马尔文、库尔特、图像分析仪的检测情况都研究了一下,有一点小心得,抛出来和大家讨论下。[/b]以下是我总结的报告:马尔文、库尔特和图像分析仪是线锯微粉质量检验中最常用的三种手段。马尔文是激光法,使用的是光散射理论,所测粒径一般认为是等效体积径;库尔特则是基于小孔电阻原理,所测粒径是等效电阻粒径;图像分析仪属于图像法,是利用电子技术、数字图像处理技术的一种测试方法,所测粒径是等效圆直径。[color=#ff0000]1、检测结果对比[/color]测试小样粒度6/12,是线锯专用金刚石微粉。图1是图像分析仪检测的显微图片,图2是对应的图像分析报告。从图1可以很清晰地看到磨粒的形貌、透明度、粒度分布等信息。图2是对图1采集的磨粒图像信息所做的分析报告,包括粒度分布图、粒度特征值、颗粒形状组成三部分,通过量化分析,可以方便地进行微粉的质量检验控制。显微图片和分析报告互为佐证,可以全面地反映微粉产品质量。[align=center][img=金刚石微粉,690,370]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708231602_01_2747413_3.bmp[/img][/align][align=center]图1 金刚石微粉颗粒形貌显微图片[/align][align=center][img=金刚石微粉,640,627]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708231604_01_2747413_3.bmp[/img][/align][align=center]图2 金刚石微粉图像分析报告[/align][align=left]图3是样品库尔特检验结果,图4是样品马尔文的检验结果。可见,无论库尔特和马尔文,只能反映粒度分布,不能对微粉形状组成(形貌)进行检测,这对微粉质量控制不利。[/align][align=center][img=金刚石微粉,690,655]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708231607_01_2747413_3.jpg[/img][/align][align=center]图3 金刚石微粉库尔特检测报告[/align][align=center][/align][align=center][img=金刚石微粉,690,383]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708231608_01_2747413_3.jpg[/img][/align][align=center]图4 金刚石微粉马尔文检测报告[/align][align=left][color=#ff0000]2、结果分析[/color][/align]对比三种检测结果,如表1所示。可见:D50的检测结果,按大小排序依次是图像法>激光法>电阻法;分布宽度的检测结果,按大小排序依次是激光法>电阻法>图像法。显然,以激光法检测粒度分布是不可取的。现在普遍认知是使用激光法检测D50,电阻法检测粒度分布,这也是有一定道理的。[align=center]表1 图像法、电阻法、激光法微粉检测结果对比[/align][table][tr][td][align=center] [/align][/td][td][align=center]D10[/align][/td][td][align=center]D50[/align][/td][td][align=center]D90[/align][/td][td][align=center]分布宽度[/align][/td][td][align=center]测试仪器[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]图像法[/align][/td][td][align=center]8.62[/align][/td][td][align=center]9.65[/align][/td][td][align=center]10.86[/align][/td][td][align=center]23.2%[/align][/td][td][align=center]KBKL-Ⅱ图像分析仪[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]电阻法[/align][/td][td][align=center]6.608[/align][/td][td][align=center]7.391[/align][/td][td][align=center]9.594[/align][/td][td][align=center]40.4%[/align][/td][td]Beckman Coulter Multisizer 3[/td][/tr][tr][td][align=center]激光法[/align][/td][td][align=center]5.897[/align][/td][td][align=center]8.389[/align][/td][td][align=center]11.864[/align][/td][td][align=center]71.1%[/align][/td][td][align=center]Hydro 2000MU(A)[/align][/td][/tr][/table][align=left]注:分布宽度(%)=(D90-D10)×100/D50[/align][align=left]库尔特是将所有颗粒等效为同体积的标准球形颗粒,以标准球形颗粒的粒径表示被测颗粒的粒径。适用于粒度分布窄的磨粒检测,样品浓度、分散等都会影响检测结果。库尔特最理想的情况是颗粒一个接一个通过,但实际上会出现多个颗粒同时通过的情况,还有一些颗粒通过感应区域时可能发生水平或垂直翻转的现象,这些不利于颗粒计数,测试值将小于真实值。马尔文是最常用的激光粒度仪,但目前用户对激光粒度仪的认识有一个误区,认为激光粒度仪检验结果稳定准确。其实激光粒度分析法法是一种拟合近似分析方法,而且不可校准,溯源性、可比较性差,分辨率低,对D50粒径的分析还比较准,但对D5、D10、D90 、D95粒径的分析误差就比较大,已不能满足磨料粒度分析的要求。因此激光粒度仪经常将不合格品检验成合格品,也经常将合格品检验成不合格品,所以,用户在利用激光粒度仪进行质量检验时,要特别引起注意。尤其是对于最终用户,不推荐用激光粒度仪作为磨料粒度质量把关的手段。[/align][color=#ff0000]3、感想[/color] (1)马尔文对D50粒径的分析较准,可用于对中值粒径D50检测。但由于并不反映粒度实际组成,更不能反映颗粒形貌,当微粉粒度,特别是形貌发生变化时,是无法有效发现的,而形貌变化将直接影响线锯微粉的上砂,库尔特同样不能有效反映微粉形貌的变化,所以不建议将马尔文、库尔特作为主要的微粉质量把关手段。 (2)微粉质量控制,需要制定产品质量标准,马尔文、库尔特由于无法反映形貌,可量化指标较少,无法依据它们制定有效的质量标准。带有高级图像分析功能的图像分析仪(如本试验所用仪器KBKL-Ⅱ图像分析仪),可以对粒度分布、粒度特征值、微粉形状组成等全面分析量化,以此制定质量标准,可有效控制产品质量。 (3)马尔文、库尔特测量速度快,重复性好,操作简单,但微粉变化时可靠性差,可作为常规检测手段。图像分析仪直观可靠,可作为微粉质量检测的主要手段。

  • 【原创】粒度分析仪的概念含义

    粒度分析仪,当被测颗粒的某种物理特性或物理行为与某一直径的同质球体(或其组合)最相近时,就是把该球体的直径(或其组合)作为被测颗粒的等效粒径(或粒度分布)。粒度测量实质上是通过把被测颗粒和同一种材料构成的圆球相比较而得出的;不同原理的仪器选不同的物理特性或物理行为作为比较的参考量,例如:沉降仪选用沉降速度、激光粒度仪选用散射光能分布、筛分法选用颗粒能否通过筛孔等等;将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时,有时能找到一个(或一组)在该特性上完全相同的球体(如库尔特计数器),有时则只能找到最相近的球体(如激光粒度仪)。由于理论上可以把“相同”作为“近似”的特例,所以在定义中用“相近”一词,粒度分析仪使定义更有一般性;将待测颗粒的某种物理特性或物理行为与同质球体作比较时,有时能找到某一个确定的直径的球与之对应,有时则需一组大小不同的球的组合与之对应才能最相近。

  • 颗粒度分析仪有德国的牌子?

    各位专家,我们公司想采购一台颗粒度分析仪,进行气体颗粒度的分析,但是价格比较贵,听说德国的性价比比较高,不知道有什么比较好的牌子推荐下。谢谢~~~

  • 【原创】购买粒度分析仪

    我们单位打算购买粒度分析仪,主要做药品,经费还是够的,希望大家推荐。另外请教个问题:因为药品粉末都是微溶于水,因此干法测定是否回比湿法更准确些。

  • 激光粒度分析仪四个使用注意事项

    [font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项一:测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作,电路中的电子元件都有一个关键的技术参数,元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化,温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以,粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示,一般而言,用户在粒度分析仪头一次的开机过程中,关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项二:系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项三:系统参数设置。技术人员表示,在激光粒度分析仪的主菜单界面,操作人员应用鼠标左键单击“设置”,屏幕上弹出“设置”子菜单,在该栏上输入:样品名称、测试人等项内容,才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项四:样品准备。据悉,样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/size][/font]

  • 激光粒度分析仪使用注意事项

    [font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广,与传统方法相比,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项一:测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作,电路中的电子元件都有一个关键的技术参数,元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化,温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以,粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示,一般而言,用户在粒度分析仪头一次的开机过程中,关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项二:系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项三:系统参数设置。技术人员表示,在激光粒度分析仪的主菜单界面,操作人员应用鼠标左键单击“设置”,屏幕上弹出“设置”子菜单,在该栏上输入:样品名称、测试人等项内容,才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/size][/font][font=微软雅黑][size=10.5pt][color=#333333]注意事项四:样品准备。据悉,样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/size][/font]

  • 激光粒度分析仪使用注意四大事项

    [font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广,与传统方法相比,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一:测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作,电路中的电子元件都有一个关键的技术参数,元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化,温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以,粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示,一般而言,用户在粒度分析仪头一次的开机过程中,关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二:系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三:系统参数设置。技术人员表示,在激光粒度分析仪的主菜单界面,操作人员应用鼠标左键单击“设置”,屏幕上弹出“设置”子菜单,在该栏上输入:样品名称、测试人等项内容,才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四:样品准备。据悉,样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

  • 【分享】图像分析仪在金相分析中的应用

    近年来,随着计算机技术和体视学的发展,图像分析仪被广泛地应用于金相分析中,使传统的金相分析技术从定性或半定量的工作状态逐步向定量金相分析方向发展。  金相工作者多年来一直从金相试样抛光表面上通过显微镜观察来定性地描述金属材料的显微组织特征或采用与各种标准图片比较的方法评定显微组织、晶粒度、非金属夹杂物及第二相质点等,这种方法精确性不高,评定时带有很大的主观性,其结果的重现性也不能令人满意,而且均是在金相试样抛光表面的二维平面上测定,其测量的结果与三维空间真实组织形貌相比有一定差距。现代体视学的出现为人们提供了一种由二维图像外推到三维空间的科学,即将二维平面上所测定的数据与金属材料的三维空间的实际显微组织形状、大小、数量及分布联系起来的一门科学,并可使材料的三维空间组织形状、大小、数量及分布与其机械性能建立内在联系,为科学地评价材料提供了可靠的分析数据。

  • 激光粒度分析仪操作使用注意事项

    [align=center][color=#333333][/color][/align][font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广,与传统方法相比,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一:测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作,电路中的电子元件都有一个关键的技术参数,元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化,温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以,粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示,一般而言,用户在粒度分析仪头一次的开机过程中,关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二:系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三:系统参数设置。技术人员表示,在激光粒度分析仪的主菜单界面,操作人员应用鼠标左键单击“设置”,屏幕上弹出“设置”子菜单,在该栏上输入:样品名称、测试人等项内容,才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四:样品准备。据悉,样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font][color=#333333][/color]

  • 激光粒度分析仪使用注意事项

    [font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广,与传统方法相比,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一:测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作,电路中的电子元件都有一个关键的技术参数,元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化,温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以,粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示,一般而言,用户在粒度分析仪头一次的开机过程中,关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二:系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三:系统参数设置。技术人员表示,在激光粒度分析仪的主菜单界面,操作人员应用鼠标左键单击“设置”,屏幕上弹出“设置”子菜单,在该栏上输入:样品名称、测试人等项内容,才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四:样品准备。据悉,样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

  • 激光粒度分析仪使用四个注意事项

    [font=微软雅黑][color=#333333]激光粒度分析仪适用范围广、测量粒径范围广,与传统方法相比,测试过程不受温度变化、介质黏度,试样密度及表面状态等诸多因素的影响,只要将待测样品均匀地展现于激光束中,就能给出准确可靠的测量结果。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项一:测量单元预热。由于力度分析仪采用精密电子元件制作,电路中的电子元件都有一个关键的技术参数,元件通电工作时会随着时间的延长而产生温度变化,温度的变化所产生的技术参数变化的误差越小越好。所以,粒度分析仪需要通电预热。技术人员表示,一般而言,用户在粒度分析仪头一次的开机过程中,关机超过半小时再重复开机时需要进行预热处理。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项二:系统对中。系统对中就是把粒度分析仪激光束的中心与环形光电探测器的中心调成一致。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项三:系统参数设置。技术人员表示,在激光粒度分析仪的主菜单界面,操作人员应用鼠标左键单击“设置”,屏幕上弹出“设置”子菜单,在该栏上输入:样品名称、测试人等项内容,才能确保设备的正常运行和责任人。[/color][/font][font=微软雅黑][color=#333333]注意事项四:样品准备。据悉,样品准备是指从待测的粉体材料中有代表性地取出适当的数据作测量样品,选取适当的悬浮液和分散剂,将样品与悬浮液混合,并让样品颗粒在悬浮液中充分分散,而又不与悬浮液和分散剂发生化学反应的过程。[/color][/font]

  • 激光粒度分析仪具体操作流程

    大家好,我们新买了马尔文的激光粒度分析仪,我之前没有接触过这个仪器,仪器八月份安装好调试好之后只进行了一个简单的现场培训,今天下午送了一个样品来测量粒径,发现培训的知识全忘记了,现在不知道如何入手?有谁在用马尔文的激光粒度分析仪的,我想电话咨询一些问题,不胜感激。 另外分散介质一般都怎么选择?建立一个新的sop是需要设置哪些参数? 好苦恼啊,一头雾水。

  • 【分享】激光粒度分析仪

    [size=6][b]激光粒度分析仪[/b][/size]   光在传播中,波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制,以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射,衍射和散射的光能的空间(角度)分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源,光为波长一定的单色光后,衍射和散射的光能的空间(角度)分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射,各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小,各特定角光能量在总光能量中的比例,应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型,进而研制仪器,测量光能,由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。

  • 激光粒度分析仪要注意哪些问题?

    激光粒度分析仪是一种常用的分析仪器,产品具有性能稳定、测量范围宽、可靠性高、维护简便等优点。用户在选购激光粒度仪过程中需要注意哪些问题呢?下面小编就来具体介绍一下激光粒度仪的选购要点,希望可以帮助用户更好的应用产品。激光粒度分析仪的选购要点1.粒度丈量范围:粒度范围宽,适合的应用广。不仅要看仪器所报出的范围,而是看超出主检测面积的小粒子散射(0.5μm)如何检测。最好的途径是全范围直接检测,这样才能保证本底扣除的一致性。不同方法的混合测试,再用计算机拟合成一张图谱,肯定带来误差。2.激光光源:一般选用2mW激光器,功率太小则散射光能量低,造成灵敏度低;另外,气体光源波是非,稳定性扰于固体光源。检测器:由于激光衍射光环半径越大,光强越弱,极易造成小粒子信/噪比降低而漏栓,所以对小粒子的分布检测能体现仪器的好坏。检测器的发展经历了圆形,半圆形和扇形几个阶段。3.通道数:在激光粒度分析仪中不象计数器中存在通道的概念,它实际为检测受光面积数,它有一个理念与实际的最优化值﹕偏少﹕接受的散射光不充分,正确度差﹕偏多﹕灵敏度太高,导致重现性差。4.是否使用完全的米氏理念:由于米氏光散理念非常复杂,数据处理量大,所以有些厂家忽略颗粒本身折光和吸收等光学性质,采用近似的米氏理论,造成适用范围受限制,漏检几率增大等题目。5.正确性和重复指标:越高越好。采用NIST标准粒子检测。

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