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手动精密定位系统

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手动精密定位系统相关的论坛

  • 【求助】安捷伦6890手动进样精密度问题

    我们现在做二硫化碳中苯系物,仪器是安捷伦6890,手动进样精密度一直不好,5%以上,为了解决这个问题,我们能更换的都更换了(垫子,衬管等),条件也试过很多,柱子是色谱科的Nukol系列,30m × 0.25mm × 0.25μm,极性柱,请问哪位高手有没有用过这个柱子的,做苯系物怎么样,谢谢指导!

  • 电动针阀和手动可变泄漏阀在超高真空度PID自动精密控制中的应用

    电动针阀和手动可变泄漏阀在超高真空度PID自动精密控制中的应用

    [size=16px][color=#000099]摘要:超高真空度的控制普遍采用具有极小开度的可变泄漏阀对进气流量进行微小调节。目前常用的手动可变泄漏阀无法进行超高真空度的自动控制且不准确,电控可变泄漏阀尽管可以实现自动控制但价格昂贵。为了实现自动控制且降低成本,本文提出了手动可变泄漏阀与低漏率电控针阀组合的解决方案,结合真空压力PID控制器可实现超高真空度自动控制。[/color][/size][align=center][size=16px][/size][/align][size=16px][/size][align=center][color=#000099]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/align] [b][size=18px][color=#000099]1. 问题的提出[/color][/size][/b][size=16px] 超高真空一般是指10-7Pa~10-2Pa范围的真空度,相应的超高真空技术应用也十分广泛,特别是对于芯片级原子钟(CSACs)、电容膜片规(CDGs)、显微镜、质谱仪和和新型金属有机化学[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url]沉积(MOCVD)等需要超高真空环境的设备,其真空度控制的稳定性通常非常重要。[/size][size=16px] 超高真空度控制的基本原理如图1所示,可采用开环和闭环两种控制形式,基本控制原理是固定真空泵的抽速,通过调节进气流量来实现不同真空度的控制。对于超高真空控制,要求进气量非常微小,所以一般采用可变泄漏阀(varible leakage valve)进行调节进气量。[/size][align=center][size=16px][color=#000099][b][img=01.超高真空度控制系统结构示意图和各种可变泄漏阀,650,493]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304272211542322_7977_3221506_3.jpg!w690x524.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#000099][b]图1 超高真空度控制的基本原理和各种可变泄漏阀[/b][/color][/size][/align][size=16px] 如图1所示,目前常用的可变泄漏阀有手动和自动两种形式,但在实际应用中存在以下两方面的问题:[/size][size=16px] (1)手动可变泄漏阀只能组成开环控制回路,需要人工调节泄漏阀开度并同时观察真空计读数进行超高真空度控制。这种开环控制方法很难实现真空度的稳定,气源和真空腔体内稍有扰动就会带来严重的波动,另外就是在多个真空度点控制时很难操作和控制。[/size][size=16px] (2)自动可变泄漏阀是在手动泄漏阀上配置了一个电子致动器和PID控制器,与真空计可构成闭环控制回路,可实现超高真空度的精密控制,但存在的问题是价格昂贵,自动可变泄漏阀要比手动泄漏阀贵三倍左右。[/size][size=16px] 针对目前可变泄漏阀具体使用中存在的上述问题,本文提出了如下解决方案。[/size][size=18px][color=#000099][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 解决方案的基本思路是采用价格相对较低的手动可变泄漏阀以提供微小的很定进气流量,然后再配备低漏率的电控针阀对此微小进气流量进行电动调节,以实现最终超高真空度的自动控制,由此构成的超高真空度控制系统结构如图2所示。[/size][align=center][size=16px][color=#000099][b][img=02.手动泄漏阀和电动针阀组合式超高真空度控制系统结构示意图,600,267]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/04/202304272212262679_3036_3221506_3.jpg!w690x308.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#000099][b]图2 手动泄漏阀和电动针阀组合式超高真空度控制系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 由图2所示的控制系统可以看出,整个系统由手动泄漏阀、电控针阀、真空计和PID真空压力控制器构成,并形成闭环控制系统。在具体控制过程中,首先将手动泄漏阀调节到某一固定位置使其保持恒定的微小进气流量,真空压力控制器根据采集到的真空计信号与设定值比较后对电控针阀进行动态调节。由于电控针阀自身有很小的真空漏率,所以电控针阀的开度变化相当于是对手动泄漏阀进气流量的进一步调节,由此电动针阀与手动泄漏阀配合可实现对进入腔体的流量进行调节而最终实现超高真空度的控制。[/size][size=16px] 在图2所示的控制系统中,真空计采用了组合式皮拉尼真空计,真空度测试范围可以从一个大气压到5×10-8Pa,全量程真空度对应的模拟信号输出为0~10V。此真空计信号可以直接被真空压力PID控制器接收,PID控制器具有24位AD、16位DA和0.01%最小输出百分比技术指标,并带有程序控制和RS485通讯功能,可很好的进行超高真空度的全量程自动控制。[/size][size=16px] 此解决方案除了可以满足小型真空腔室的超高真空度控制之外,也可以用于较大腔室的控制,所需的只是改变手动可变泄漏阀开度大小。[/size][align=center][size=16px][color=#000099]~~~~~~~~~~~~~~~~[/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#000099][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#000099][/color][/size][/align]

  • 气相、液相系统精密度

    气相、液相系统精密度

    http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/02/201702101356_01_2758828_3.jpg个人认为,这段内容表述了无论气相还是液相,系统精密度是每次进行批处理序列时都需要进行考察的的内容,请问关于系统精密度这个,大家都是怎么做的?是只在方法学考察里进行,还是日常监测也在做?还有,如果是气相外标法测定残留, 需要平行配置两个标准品进样吗?还是只配置一个就行?分别进几针?

  • 医用导管和球囊成型过程中的自动和手动精密压力控制

    医用导管和球囊成型过程中的自动和手动精密压力控制

    [align=center][img=球囊成型机压力控制,600,332]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301121420079811_2409_3221506_3.jpg!w690x382.jpg[/img][/align][color=#3366ff]摘要:在医用导管和球囊成型过程中对压力控制有非常严格要求,如高精度和宽量程的控制能力,需具备可编程、自动手动切换和外接压力传感器功能,还需具备可用于球囊泄漏、爆破和疲劳性能测试的多功能性。本文介绍了可满足这些要求的压力控制解决方案,解决方案的核心技术是采用超高精度的多功能压力控制仪,控制仪可根据不同的成型压力范围选择相应的型号规格,可达到很高的压力控制精度。解决方案的另一特点是多功能性和灵活性,除了可用于导管球囊成型压力控制和性能测试之外,也可以用于球囊成型机的温度控制。[/color][align=center][/align][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px][color=#3366ff][b]1. 医用导管和球囊成型压力控制要求[/b][/color][/size] 医用导管和球囊是人体血管和其他腔管疏通以及广泛使用的支架输送的关键器材,如图1所示,一般要求具有极高的抗爆性能,同时要求薄壁,柔软,可折叠。为达到这些要求,不仅要求所使用的聚合物材料具有极强的力学物理性能,同时对成型工艺提出很高的要求,成型设备必须准确高效的提供温度和压力控制。[align=center][color=#3366ff][b][img=医用导管球,500,250]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301121422416109_2224_3221506_3.jpg!w690x345.jpg[/img][/b][/color][/align][align=center][color=#3366ff][b]图1 医用导管球囊[/b][/color][/align] 在成型机的成型过程中,对压力控制的主要要求如下: (1)可编程程序控制:可按照设定程序进行压力变化控制,如设定不同的升降压速率和恒压时间,可存储多个设定程序满足在不同球囊成型工艺需要。 (2)宽范围和高精度:压力控制范围最高至5MPa,控制精度优于0.1%,以满足不同规格和壁厚的球囊成型及其性能测试需要。 (3)自动和手动功能兼顾:即可按照设定程序进行自动压力控制,也可采用手轮进行手动压力调节,以满足人工探索和优化成型压力参数的需要。 (4)可外接压力传感器:为了保证压力控制的准确性,除了压力控制仪自带的压力传感器之外,还能外接其他位置处的压力传感器。同时,外接传感器功能还能为实现导管球囊性能测试提供便利。 (5)多功能:对于单机结构的压力控制装置,除了可以连接到球囊成型机进行成型压力控制之外,希望还可以用来进行球囊质量测试评价,如可用来测试球囊的泄露、爆破和疲劳性能以及泄压时间等。 为满足上述导管球囊成型过程中的压力控制要求,本文提出了相应的解决方案,解决方案的核心技术是采用高精度的多功能压力控制仪,控制仪可根据不同的成型压力范围选择相应的型号规格,并可达到很高的压力控制精度。[b][size=18px][color=#3366ff]2. 解决方案[/color][/size][/b] 为实现医用导管球囊成型和性能测试过程中的压力控制,解决方案将采用VPC-2021系列多功能超高精度的PID控制器和不同压力范围的阀门调节器,解决方案的整体结构如图2所示。[align=center][b][color=#3366ff][img=医用球囊成型机压力控制系统结构示意,690,210]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301121423100632_8989_3221506_3.jpg!w690x210.jpg[/img][/color][/b][/align][align=center][b][color=#3366ff]图2 医用导管和球囊成型机压力控制系统结构示意图[/color][/b][/align] 解决方案的技术路线是在成型机上使用了多功能和超高精度的压力控制仪,压力控制仪的主要功能和特点如下: (1)压力控制仪主要由VPC2021系列PID真空压力控制器、压力传感器和压力调节器等组成,由此构成闭环控制回路对密闭容器进行压力控制,控制形式为外接高压气源进行减压控制。 (2)VPC2021系列PID真空压力控制器具有可编程控制功能,可存储多个控制程序曲线,采用了具有标准MODBUS协议的RS485通讯,并随机配备了控制软件,可在计算机上直接进行压力控制仪的调试和所有操作,图形化软件界面可直观显示压力变化过程,过程数据自动存储。 (3)VPC2021系列PID真空压力控制器采用了24位AD,16位DA和双精度浮点运算,最小输出百分比为0.01%。压力传感器精度为0.05%,可保证压力控制仪的控制精度达到0.1%。 (4)压力控制仪除可进行自动控制之外,同时还配备了手动调节功能,即通过控制仪面板上的手动旋钮进行操作,便于现场进行成型工艺压力参数的试验和优化。 (5)压力控制仪内已安装有压力传感器,但为了进行压力监视和进一步保证成型压力控制的准确性,压力控制仪也可以外接压力传感器。此外接压力传感器可以用作监控传感器,也可以用作控制传感器。 (6)压力控制仪的功能十分强大,除可以进行导管球囊成型机中的压力控制之外,也可以用作导管球囊与压力相关的性能测试,如泄露、爆破和疲劳性能测试以及泄压时间测量。[b][size=18px][color=#3366ff]3. 总结[/color][/size][/b] 本文解决方案尽管只涉及了医用导管和球囊成型过程中的压力控制,但其核心控制技术和软硬件装置还可以应用到温度和真空度控制,如上述压力控制仪中可以再添加一个VPC2021控制器就可实现对球囊成型温度的加热和冷却控制,由此组成完整的球囊成型机温压控制系统。 在各种医疗仪器和器械以及众多临床过程中,精密的真空、压力和温度控制一直是一项重要技术内容。本文首次尝试将我们在高精度真空压力控制方面所做的工作应用到医疗领域,以逐渐在医疗领域推广应用和产品迭代,后续还将不断推出可在医疗领域内应用的各种相关产品和解决方案。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • 全自动精密影像测量仪的优势

    [color=#2f2f2f]来源:http://www.dg[/color][url=https://links.jianshu.com/go?to=http%3A%2F%2Fbbs.elecfans.com%2Fzhuti_715_1.html]ti[/url][color=#2f2f2f]anze.com[/color]在精密影像检测仪器中,我们可根据仪器的具体影像将其划分为[url=http://www.dgtianze.com/www.dgtianze.com][b]二次元影像测量仪[/b][/url]和三坐标测量机两种,他们是在工业生产中常用的两种仪器,而客户在购买仪器时,只会根据自己的需要而选择一种,那么我们就要对每个类型的精密仪器再次的划分,那就是根据操作方式将其分为手动型和自动型两种。 在现在的精密影像检测行业中,不管是二次元还是三坐标,手动机台已经慢慢的被全自动影像仪所取代,那么,相比于手动,全自动在应用中有哪些优势呢? 不管是二次元等精密检测仪器,还是其他一些日常用品,我们对它们进行选择时,最终所要考虑的因素就是性价比,只有性价比最好的产品才能最终获得青睐,那么自动检测仪器的性价比与手动相比,好在哪里呢? 相比于手动机台,自动机台在价格上是无法去其相比的,一个手动的仪器,其价格仅仅是几万而已,而自动仪器的价格则是动辄几十万,因此自动机台在这方面是不具备优势的。那么我们就将二者的性能进行比较。手动与自动的操作方式不同,所以性能也有很大的区别,手动机台由于人为操作的因素,所以在检测过程中会产生很大的人为误差,这也手动二次元在检测中的精度就会大大的逊色与自动机型,再者手动机台由于需要手动进行控制,所以它的检测效率相比于自动机台,也是具有很大的差距,这样就无法满足相当大一部分客户的需求。 我们从以上可以看出,虽然自动机台的价格远远的高于手动型,可是自动二次元除了性能好之外,还能满足一些手动仪器所无法解决的问题。因此,综合这些因素,可以看出自动型仪器的性价比要优于手动型影像检测仪器,这也是为什么更多的人会选择自动影像测量仪的原因。 全自动影像测量仪是科溯源最新一代的高性能活动桥式测量机,它有着高稳定性的测量系统,可以快速有效的完成通用的检测需要,并最大程度的提高检测的效率。全自动影像测量仪具有以下的性能特点:1、单边活动桥式结构,显著提高运动性能,确保测量精度及稳定性。2、三轴导轨均采用高精度天然花岗岩,具有相同的温度特性及刚性。3、三轴导轨均采用自洁式预载荷高精度空气轴承,运动更平稳,导轨永不受磨损。4、应用范围广泛,可应用于汽车、电子、五金、塑胶、模具等工业行业中。

  • 化学精密仪器数据导入LIMS系统

    有没有老师实验室采用了LIMS系统,像常规的化学精密仪器[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/bp][color=#3333ff]GC-MS[/color][/url],ICP数据是如何导入系统?可以分享下大概流程吗?还有,一般在报告审核会看仪器导出的原始记录,这个会设定自动上传吗?

  • 直读光谱光学系统手动描迹的原理

    直读光谱光学系统手动描迹的原理

    【为什么要进行直读光谱光学系统的描迹功能】: 入射狭缝是分光系统的重要组成部分,由于环境的温度、湿度及震动的影响,引起入射狭缝的漂移,直接影响光谱仪的照度和分辨率。入射狭缝一般为20微米左右,通常安装在一个带有螺杆的驱动装置上,转动鼓轮带动螺杆移动,可将确定入射狭缝的中心位置。【直读光谱光学系统手动描迹的原理】: 转动描迹鼓轮,检测器记录下选定通道的光强,光强呈钟形分布(如图所示)。为定位更准确,不是直接找光强的最大值(Point1),而是选定距离最大值等距离的两点(Point3、Point4),然后计算平均值,确定入射狭缝的中心位置(Point6)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/01/201701191700_667443_1841897_3.png

  • 色谱精密度1

    色谱精密度能达到多少,手动尽样,自动尽样如何,小于铅粉之三?

  • 循环肿瘤细胞(CTCs)检测分选进样系统微小正负压精密控制的解决方案

    循环肿瘤细胞(CTCs)检测分选进样系统微小正负压精密控制的解决方案

    [align=center][img=压力驱动分选进样系统,690,371]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206231002395286_2664_3384_3.png!w690x371.jpg[/img][/align][color=#000099]摘要:在循环肿瘤细胞等细胞分选进样系统中,需要在一个标准大气压附近很小的正负压范围对压力进行精密控制,这就对控制方法、气体流量调节阀、压力传感器和控制器提出了更高的要求。本文将针对这些技术问题,提出高精度正负压精密控制解决方案,并详细介绍控制方法和其中软硬件的功能和技术指标,由此可实现0.5%的控制精度。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px][color=#000099]一、问题的提出[/color][/size]循环肿瘤细胞(Circulating Tumor Cells,CTC)分选已被认为是癌症诊断和预后的有效工具,要求相应的检测装置能够执行所有实验过程而无需任何人工干预的自动、快速且灵敏。对于一些基于压力驱动液体流动原理的进样系统,要求通过精确控制气体的压力, 确保进样过程中流量稳定并实现自动反馈调节,并需要气压供应装置提供正压和负压以使检测装置中的泵及阀门动作。但在目前的CTC检测装置进样系统中,气压的精密控制还存在以下几方面的问题需要解决:(1)现有的气压供应装置无法提供微小的气压,常会导致泵的薄膜破损而无法使用,且现有的气压供应装置亦无法提供常压,使泵的薄膜在检测过程中无法回到平坦状态,造成细胞破损,故需要有可以提供微气压及常压至检测装置的气压供应装置。为了解决此问题,给微流道芯片提供正压、负压或常压,专利CN 216499436U“气压供应装置”中提出了一种非常复杂的概念性解决方案,标称正压气体的压力大小调节至 1~6psi,负压气体的压力大小调节至?1~6psi,正负压微调节阀可以精密至±0 .01psi。但这些指标恰恰是微压力调节阀的关键,如果没有能达到这种技术指标的调节阀,所述方案根本无法实现。(2)上海理工大学王固兵等人在2020年发表的“基于气压驱动的循环肿瘤细胞分选进样系统的设计与实现“一文中,提出了一种采用德国tecno PS120000 比例电磁阀的技术方案。但这种工业用比例阀主要是用于高压气体的压力控制,口径也较大,控制精度显然不能满足微小正负压的精密控制,而且无法外接高精度压力传感器来提升控制精度,根本无法实现文中提出的达到压力输出精度为1mbar(0.015psi)的指标,相对于1bar大气压这相当于达到0.1%的控制精度,这个指标显然不切合实际。从上述报道可以看出,细胞分选进样系统的压力控制需要在一个标准大气压附近很小的正负压范围对真空压力进行精密控制,这就对控制方法、气体流量调节阀、压力传感器和控制器提出了更高的要求。本文将针对这些技术问题,提出高精度正负压精密控制解决方案,并详细介绍控制方法和其中软硬件的功能和技术指标,由此可实现0.5%的控制精度。[size=18px][color=#000099]二、解决方案[/color][/size]本文所提出的解决方案是实现在一个标准大气压附近±10psi(或±700mbar)范围内的正负压精密控制,控制精度达到0.5%。即提供一个可控气压源解决方案,采用双向控制模式的动态平衡法,结合高精度步进电机和微小流量电动针阀、高精度压力传感器和双通道PID控制器,气压源可进行高精度的正压、负压和一个大气压的可编程输出。微小正负压精密控制的基本原理如图1所示,具体内容为:[align=center][img=气压驱动分选进样系统,690,377]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206231005336655_4666_3384_3.png!w690x377.jpg[/img][/align][align=center]图1 微小正负压精密控制原理框图[/align](1)控制原理基于密闭空腔进气和出气的动态平衡法。这是一个典型闭环控制回路,2通道PID控制器采集真空压力传感器信号并与设定值进行比较,然后调节进气和抽气调节阀的开度,最终使传感器测量值与设定值相等而实现真空压力的准确控制。(2)控制回路分别配备了抽气泵(负压源)和气源(正压源),以提供足够的负压和正压能力。(3)为了覆盖负压到正压的所要求的真空压力范围(如-10psi至+10psi),配置一个测试量程覆盖要求范围内的高精度绝对压力传感器,绝对压力传感器对应上述真空压力范围输出数值从小到大的直流模拟信号(如0~10VDC)。此模拟信号输入给PID控制器,由PID控制器调节进气阀和排气阀的开度而实现压力精确控制。采用绝对压力传感器的优势是不受当地大气气压变化的影响,无需采取气压修正,更能保证测试的准确性和重复性。(4)当控制是从负压到正压进行变化时,一开始的进气调节阀开度(进气流量)要远小于抽气调节阀开度(抽气流量),通过自动调节进出气流量达到不同的平衡状态来实现不同的负压控制,最终进气调节阀开度逐渐要远大于抽气调节阀开度,由此实现负压到正压范围内一系列设定点或斜线的连续精密控制。对于从正压到负压压的变化控制,上述过程正好相反。[size=18px][color=#000099]三、方案具体内容[/color][/size]解决方案中所涉及的微小正负压力发生器的具体结构如图2所示,主要包括高压气源、电动针阀、密闭空腔、压力传感器、高精度PID控制器和抽气泵。[align=center][img=气压驱动分选进样系统,690,465]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/06/202206231006045409_5247_3384_3.png!w690x465.jpg[/img][/align][align=center]图2 微小正负压精密控制的压力发生器结构示意图[/align]在图2所示的微小正负压控制系统中,密闭空腔上的工作压力出口连接检测仪器,密闭空腔左右安装两个NCNV系列的步进电机电动针阀,此电动针阀本身就是正负压两用调节阀,其绝对真空压力范围为0.0001mbar~7bar,最大流量为40mL/min,步进电机单步长为12.7微米,完全能满足小空腔的正负压精密控制。在图2所示的控制系统中使用了两个电动针阀来实现正负压任意设定点的精确控制,也可以从正压到负压的压力线性变化控制,也可以从负压到正压的压力线性变化控制。对于循环肿瘤细胞(CTCs)检测仪器进样系统中的微小正负压控制,要求是在标准大气压附近的真空压力精确控制,如控制精度为±0.5%甚至更小,一般都需要采用调节抽气阀的双向动态模式,即通过双通道PID控制器,一个通道用来恒定进气口处电动针阀的开度基本不变,另一个通道根据PID算法来调节排气口处的电动针阀开度。除了上述恒定进气流量调节抽气流量的控制方法之外,循环肿瘤细胞(CTCs)检测仪器进样系统中的微小正负压的控制精度,主要由压力传感器、PID控制器和电动针阀的精度决定。本方案中的PID控制器采用的是24位AD和16位的DA,电动针阀则是高精度步进电机,因此本解决方案的测试精度主要取决于压力传感器精度,一般至少要选择0.1%精度的压力传感器。对于进样系统中的微小压力控制,往往会要求密闭容器在正负压范围内进行多次往复变化,因此采用了可存储多个编辑程序的PID控制器,设定程度是一条多个折线段构成的曲线,由此可实现正负压往复变化的自动程序控制。在本文所述的解决方案中,为实现正负压的精密控制,如图2所示,针对负压的形成配置了抽气泵。抽气泵相当于一个负压源,但采用真空发生器同样可以达到负压源的效果,负压源采用真空发生器的优点是整个系统只需配备一个高压气源,减少了整个系统的造价、体积和重量,真空发生器连接高压气源即可达到相同的抽气效果。[size=18px][color=#000099]四、总结[/color][/size]本文所述解决方案,完全可以实现循环肿瘤细胞(CTCs)检测仪器进样系统中微小正负压的任意设定点和连续程序形式的精密控制,并且可以达到很高的控制精度和速度,全程自动化。本方案除了微小正负压的自动精密控制之外,另外一个特点是系统简单,正负压控制范围也可以比较宽泛,整个系统小巧和集成化,便于形成小型化的检测仪器。本文解决方案的技术成熟度很高,方案中所涉及的电动针阀和PID控制器,都是目前上海依阳实业有限公司特有的标准产品,其他的压力传感器、抽气泵、真空发生器和高压气源等也是目前市场上常见的标准产品。本文所述解决方案,同样可以适用于各种其他基于气压驱动的微流控进样系统。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • 显微成像系统的真空压力和气氛精密控制解决方案

    显微成像系统的真空压力和气氛精密控制解决方案

    [align=center][b][img=显微镜探针冷热台的真空压力和气氛精密控制解决方案,600,484]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311021102101876_7960_3221506_3.jpg!w690x557.jpg[/img][/b][/align][size=16px][color=#333399][b]摘要:针对目前国内外显微镜探针冷热台普遍缺乏真空压力和气氛环境精密控制装置这一问题,本文提出了解决方案。解决方案采用了电动针阀快速调节进气和排气流量的动态平衡法实现0.1~1000Torr范围的真空压力精密控制,采用了气体质量流量计实现多路气体混合气氛的精密控制。此解决方案还具有很强的可拓展性,可用于电阻丝加热、TEC半导体加热制冷和液氮介质的高低温温度控制,也可以拓展到超高真空度的精密控制应用。[/b][/color][/size][align=center][size=16px][color=#333399][b]====================[/b][/color][/size][/align][size=16px][color=#333399][b][/b][/color][/size][size=18px][color=#333399][b]1. 问题的提出[/b][/color][/size][size=16px] 探针冷热台允许同时进行样品的温控和透射光/反射光观察,支持腔内样品移动、气密/真空腔、红外/紫外/X光等波段观察、腔内电接线柱、温控联动拍摄、垂直/水平光路、倒置显微镜等,广泛应用于显微镜、倒置显微镜、红外光谱仪、拉曼仪、X射线等仪器,适用于高分子/液晶、材料、光谱学、生物、医药、地质、 食品、冷冻干燥、 X光衍射等领域。[/size][size=16px] 在上述这些材料结构、组织以及工艺过程等的微观测量和研究中,普遍需要给样品提供所需的温度、真空、压力、气氛、湿度和光照等复杂环境,而现有的各种探针冷热台往往只能提供所需的温度变化控制,尽管探针冷热台可以提供很好的密闭性,但还是缺乏对真空、压力、气氛和湿度的调节及控制能力,国内外还未曾见到相应的配套控制装置。为了实现探针冷热台的真空压力、气氛和湿度的准确控制,本文提出了相应的解决方案,解决方案主要侧重于真空压力和气氛控制问题,以解决配套装置缺乏现象。[/size][size=18px][color=#333399][b]2. 解决方案[/b][/color][/size][size=16px] 针对显微镜探针冷热台的真空压力和气氛的精密控制,本解决方案可达到的技术指标如下:[/size][size=16px] (1)真空压力:绝对压力范围0.1Torr~1000Torr,控制精度为读数的±1%。[/size][size=16px] (2)气氛:单一气体或多种气体混合,气体浓度控制精度优于±1%。[/size][size=16px] 本解决方案将分别采用以下两种独立的技术实现真空压力和气氛的精确控制:[/size][size=16px] (1)真空压力控制:采用动态平衡法技术,通过控制进入和排出测试腔体的气体流量,使进气和排气流量达到动态平衡从而实现宽域范围内任意设定真空压力的准确恒定控制。[/size][size=16px] (2)气氛控制:采用气体质量流量控制技术,分别控制多种工作气体的流量,由此来实现环境气体中的混合比。[/size][size=16px] 采用上述两种控制技术所设计的控制系统结构如图1所示。[/size][align=center][size=16px][color=#333399][b][img=显微镜探针冷热台真空压力和气氛控制系统结构示意图,690,329]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/11/202311021103195907_6925_3221506_3.jpg!w690x329.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#333399][b]图1 真空压力和气氛控制系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 如图1所示,真空压力控制系统由进气电动针阀、高真空计、低真空计、排气电动针阀、高真空压力控制器、低真空压力控制器和真空泵组成,并通过以下两个高低真空压力控制回路来对全量程真空压力进行精密控制:[/size][size=16px] (1)高真空压力控制回路:真空压力控制范围为0.1Torr~10Torr(绝对压力),控制方法采用上游控制模式,控制回路由进气电动针阀(型号:NCNV-20)、高真空计(规格:10Torr电容真空计)和真空压力程序控制器(型号:VPC20201-1)组成。[/size][size=16px] (2)低真空压力控制回路:真空压力控制范围为10Torr~1000Torr(绝对压力),控制方法采用下游控制模式,控制回路由排气电动针阀(型号:NCNV-120)、低真空计(规格:1000Torr电容真空计)和真空压力程序控制器(型号:VPC20201-1)组成。[/size][size=16px] 由上可见,对于全量程真空压力的控制采用了两个不同量程的薄膜电容真空计进行覆盖,这种薄膜电容真空计可以很轻松的达到0.25%的读数精度。真空计所采集的真空度信号传输给真空压力控制器,控制器根据设定值与测量信号比较后,经PID算法计算后输出控制信号驱动电动针阀来改变进气或排气流量,由此来实现校准腔室内气压的精密控制。[/size][size=16px] 在全量程真空压力的具体控制过程中,需要分别采用上游和下游控制模式,具体如下:[/size][size=16px] (1)对于绝对压力0.1Torr~10Torr的高真空压力范围的控制,首先要设置排气电控针阀的开度为某一固定值,通过运行高真空度控制回路自动调节进气针阀开度来达到真空压力设定值。[/size][size=16px] (2)对于绝对压力10Torr~1000Torr的低真空压力范围的控制,首先要设置进气针阀的开度为某一固定值,通过运行低真空度控制回路自动调节排气针阀开度来达到真空压力设定值。[/size][size=16px] (3)全量程范围内的真空压力变化可按照设定曲线进行程序控制,控制采用真空压力控制器自带的计算机软件进行操作,同时显示和存储过程参数和随时间变化曲线。[/size][size=16px] 显微镜探针冷热台内的真空压力控制精度主要由真空计、电控针阀和真空压力控制器的精度决定。除了真空计采用了精度为±0.25%的薄膜电容真空计之外,所用的NCNV系列电控针阀具有全量程±0.1%的重复精度,所用的VPC2021系列真空压力控制器具有24位AD、16位DA和0.01%最小输出百分比,通过如此精度的配置,全量程的真空压力控制可以达到很高的精度,考核试验证明可以轻松达到±1%的控制精度,采用分段PID参数,控制精度可以达到±0.5%。[/size][size=16px] 对于探针冷热台内的气氛控制,如图1所示,采用了多个气体质量流量控制器来对进气进行精密的流量调节,以精确控制各种气体的浓度或所占比例。通过精密测量后的多种工作气体在混气罐内进行混合,然后再进入探针冷热台,由此可以准确控制各种气体比值。在气氛控制过程中,需要注意以下两点:[/size][size=16px] (1)对于某一种单独的工作气体,需要配备相应气体的气体质量流量控制器。[/size][size=16px] (2)混气罐压力要进行恒定控制或在混气罐的出口处增加一个减压阀,以保持混气罐的出口压力稳定,这对准确控制校准腔室内的真空压力非常重要。[/size][size=18px][color=#333399][b]3. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 综上所述,本解决方案可以彻底解决显微镜探针冷热台的真空压力控制问题,并具有很高的控制精度和自动控制能力。另外,此解决方案还具有以下特点:[/size][size=16px] (1)本解决方案具有很强的适用性和可拓展性,通过改变其中的相关部件参数指标就可适用于不同范围的真空压力,更可以通过在进气口增加微小流量可变泄漏阀,实现各级超高真空度的精密控制。[/size][size=16px] (2)本解决方案所采用的控制器也可以应用到冷热台的温度控制,如帕尔贴式TEC半导体加热制冷装置的温度控制、液氮温度的低温控制。[/size][size=16px] (3)解决方案中的控制器自带计算机软件,可直接通过计算机的屏幕操作进行整个控制系统的调试和运行,且控制过程中的各种过程参数变化曲线自动存储,这样就无需再进行任何的控制软件编写即可很快搭建起控制系统,极大方便了微观分析和测试研究。[/size][size=16px] 在目前的显微镜探针冷热台环境控制方面,还存在微小空间内湿度环境的高精度控制难题,这将是我们后续研究和开发的内容之一。[/size][size=16px][/size][align=center][size=16px][color=#333399][b]~~~~~~~~~~~~~~~[/b][/color][/size][/align]

  • 【求助】请教Agilent 6890 气相色谱的精密度调试

    各位同仁,想请教一下:我安捷伦6890[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp]气相色谱仪[/url]FPD检测器测农药时,仪器的精密度不好,主要有哪些影响因素,怎么调?希望能给个比较详细的答复,非常感谢。备注:进样口隔垫、密封圈、衬管都换过,且衬管是去掉玻璃棉的,用的是不分流进样,程序升温,自动进样,只是检测器不能自动点火,每次需要手动点火。希望高人指点,谢谢。

  • 气密真空冷热台的真空度精密控制

    气密真空冷热台的真空度精密控制

    [align=center][img=冷热台真空度控制,690,451]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/03/202203071147131858_3924_3384_3.png!w690x451.jpg[/img][/align][color=#990000]摘要:针对气密真空冷热台目前存在的真空度控制精度差和配套控制系统价格昂贵的问题,本文介绍采用国产产品的解决方案,介绍了采用数控针阀进行上游和下游双向控制模式的详细实施过程。此方案已经得到了应用和验证,可实现宽范围内的真空度精密控制,真空度波动可控制在±1%以内,整个控制系统具有很高的性价比。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px][color=#990000]一、问题的提出[/color][/size]气密真空冷热台是同时可用于真空和气密环境的精密温控冷热平台,具有加热和制冷功能,适合显微镜和光谱仪等应用对样品在可控的真空度环境下进行精确加热或制冷。根据用户要求,针对目前的各种气密真空冷热台,在真空度控制方面,还需要解决以下几方面的问题:(1)无论是进口还是国产真空冷热台,真空度测量和控制还采用皮拉尼真空计,使得配套的控制系统无法实现真空度的精密控制,如无法满足研究和模拟冷冻干燥过程的精度要求。(2)气密真空冷热台普遍体积较小,在宽泛的真空度范围内,实现精确控制一直存在较大难度,真空度的波动性较大,而真空度的波动性又反过来影响温度的稳定性。(3)进口配套的真空度控制系统,不仅控制精度达不到要求,而且价格昂贵。针对气密真空冷热台存在的上述问题,本文将介绍采用国产产品并具有高性价比的解决方案,并介绍了详细的实施过程。[size=18px][color=#990000]二、解决方案[/color][/size]气密真空冷热台真空度精密控制系统的整体结构如图1所示,整个系统主要包括真空计、数控针阀、PID控制器和真空泵。[align=center][color=#990000][img=冷热台真空度控制,690,396]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/03/202203071148328248_6901_3384_3.png!w690x396.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#990000]图1 冷热台真空度精密控制系统结构示意图[/color][/align]为提高真空度测控精度,采用了测量精度更高(可达满量程0.2%)的电容式真空计,可覆盖0.01~760Torr的真空度区间。如果需要更高真空度环境,也可以同时采用皮拉尼真空计进行测控。为实现全宽量的真空度控制,将两只数控针阀分别安装在冷热台的进气口和排气口。通过分别采用上游和下游控制模式,可实现全量程波动率小于±1%的精密控制。控制器是精密控制的关键,方案中采用了24位A/D和16位D/A的高精度PID控制器,独立的双通道便于进行上游和下游气体流量调节和控制。总之,通过此经过验证的真空度控制方案,可实现高性价比的精密控制。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • 【原创】Zigbee定位系统开发套件

    Zigbee定位系统开发套件 无线ZigBee定位开发系统经济性型是采用ZigBee 2006网状网络技术的经济型ZigBee定位开发系统,采用TI公司的CC2430和CC2431片上系统结合TI公司的ZigBee兼容协议栈Z-Stack。 达泰公司经济型无线ZigBee定位开发系统可实现最高精度0.35米的精确无线定位分辨率。可用来开发煤矿井下人员定位系统、监狱人员管理系统、集装箱运输跟踪系统、车辆管理系统、人员管理系统、运动会运动员的计时计圈系统、城市公交智能站台、车辆调度的智能管理系统、列车/车厢自动抄号、调度管理系统、小区门禁系统等。:例1 是一个点对点及串口通信的实验程序,可以了解 CC2430的串口工作过程及编程方法;例2 一个是基于Zigbee2004协议栈DS18B20温度采集实验,对于精简协议可以深入了解;另一个是基于Zigbee2006协议栈DS18B20温度采集实验,是ZStack-1.4.2使用例程,它是Zigbee2006协议的一个成熟版本。例3是一个实用的 CC2430芯片测试程序,可以直接用于测试DTD243 C模块,有说明您看一下吧。例4 无线定位系统,可以了解定位原理和开发过程。有上位机软件支持,所有程序均提供测试通过的源代码。★ 实用方案DTD243A_Demo-10配置清单:配备10个Zigbee开发模块,不仅可以学习、了解、测试Zigbeede开发过程及基本功能,还可以熟悉测试zigbee的组网功能及其各种拓扑结构,快速开发产品。更精确的了解工程中定位系统的应用,适合于Zigbee产品开发单位及电子工程师。1、DTD243 B无线zigbee 模块8块,(其中一块作为协调器用,其他作为固定节点)。 2、DTD2431B无线Zigbee模块2块,(作为移动节点)3、DTD243 A_Demo开发、调试、编程模板2块4、USB电缆,串口线5、产品光盘一张(含说明书、编程实例,一些学习资料、协议栈软件等)6、[font=Times

  • 覆盖高真空、低真空和正压的全量程综合校准系统精密控制解决方案

    覆盖高真空、低真空和正压的全量程综合校准系统精密控制解决方案

    [size=16px][color=#6666cc][b]摘要:针对工作范围在5×10[font='times new roman'][sup]-7[/sup][/font]~1.3×10[font='times new roman'][sup]6[/sup][/font]Pa,控制精度在0.1%~0.5%读数的全量程真空压力综合测量系统技术要求,本文提出了稳压室真空压力精密控制的技术方案。为保证控制精度,基于动态平衡法,技术方案在高真空、低真空和正压三个区间内分别采用了独立的控制方法和不同技术,所涉及的关键部件是微小进气流量调节装置、中等进气流量调节电动针阀、排气流量调节电动球阀、正压压力电子调节器和真空压力PID控制器。配合相应的高精度真空压力传感器,此技术方案可以达到控制精度要求,并已得到过试验验证。[/b][/color][/size][align=center][img=全量程真空压力综合测量系统的高精度控制解决方案,690,384]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121052314254_1235_3221506_3.jpg!w690x384.jpg[/img][/align][size=16px][/size][b][size=18px][color=#6666cc]1. 项目概述[/color][/size][/b][size=16px] 真空压力综合测量系统是一个用于多规格真空传感器测量校准的高精度动态真空压力测量系统,主要由一套真空稳压室、一套电容薄膜真空测量模块、一套冷阻复合真空测量模块、一套高精度真空测量模块,其技术要求如下:[/size][size=16px] (1)真空稳压室体积为1L;[/size][size=16px] (2)真空稳压室含有10路VCR转接接头;[/size][size=16px] (3)真空稳压室加热烘烤温度范围:室温到200℃;[/size][size=16px] (4)冷阻复合真空测量模块量程为(5×10[font='times new roman'][sup]-7[/sup][/font]~1×10[font='times new roman'][sup]5[/sup][/font])Pa;[/size][size=16px] (5)冷阻复合真空测量模块含有通讯接口,提供0~10V电压信号;[/size][size=16px] (6)电容薄膜真空测量模块量程为10Torr,测量精度为0.5%;[/size][size=16px] (7)电容薄膜真空测量模块接口为8VCR接口;[/size][size=16px] (8)电容薄膜真空测量模块含有通讯接口,提供0~10V电压信号;[/size][size=16px] (9)高精度真空测量模块量程为0.1~10000Torr;[/size][size=16px] (10)高精度真空测量模块测量精度为读数的0.1%;[/size][size=16px] (11)配备高精度真空测量模块的控制器,满足真空测量模块的使用要求,包含通讯接口。[/size][size=16px] 从上述技术要求可以看出,整个系统的真空压力范围覆盖了负压和正压,具体的全量程覆盖范围用绝对压力表示为5×10-7~1.3×106Pa,其中包含了高真空(5×10[font='times new roman'][sup]-7[/sup][/font]~1.3×10[font='times new roman'][sup]-1[/sup][/font]Pa)、低真空(1.3×10[font='times new roman'][sup]-1[/sup][/font]~1.3×10[font='times new roman'][sup]5[/sup][/font]Pa)和正压(1.3×10[font='times new roman'][sup]5[/sup][/font]~1.3×10[font='times new roman'][sup]6[/sup][/font]Pa)的精密测量和控制,更具体的是要在一个稳压室内实现三个真空压力范围的不同测量和控制精度。以下将对这些技术要求的实现,特别是对真空压力的精密控制技术方案和相关关键配套装置给出详细说明,其他通用性的装置,如机械泵和分子泵则不进行详细描述。[/size][size=18px][color=#6666cc][b]2. 高精度宽量程真空压力控制技术方案[/b][/color][/size][size=16px] 真空压力控制系统的技术方案基于动态平衡法控制原理,即在一个密闭容器内,通过调节进气和出气流量并达到相应的平衡状态来实现真空压力设定点的快速控制。在动态平衡法实际应用中,只要配备相应精度的传感器、执行器和控制器,可以顺利实现设计精度的控制。为此,针对本项目提出的技术指标,基于动态平衡法,本文所提出的具体技术方案如图1所示。[/size][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=01.真空压力综合测量控制系统结构示意图,690,410]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121043350021_6971_3221506_3.jpg!w690x410.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图1 高精度全量程真空压力控制系统结构示意图[/b][/color][/size][/align][size=16px] 对应于项目技术指标中的高真空、低真空和正压压力控制要求,图1所示的真空压力控制系统由三个相对独立的控制系统来实现项目技术要求,具体内容如下:[/size][size=16px][color=#6666cc][b]2.1 高真空度控制系统[/b][/color][/size][size=16px] 基于动态平衡法原理,对于高真空控制,需要采用上游控制模式,在分子泵全速抽气条件下,需要在上游(进气端)通过精密调节微小进气流量,来实现高真空范围内任意真空度设定点的恒定控制。如图1所示,高真空控制系统主要包括了冷阻真空计、微量进气调节装置和真空压力控制器,这三个装置构成一个闭环控制系统,它们的精度决定了高真空度的最终控制精度。[/size][size=16px] 需要说明的是高真空和低真空控制系统公用了一套机械泵和分子泵,高真空控制时需要分别使用机械泵和分子泵,而在低真空控制时仅使用机械泵。[/size][size=16px] 对于高真空传感器而言,可根据设计要求选择相应量程和测量精度的真空计,其测量精度最终决定了控制精度,一般而言,控制精度会差于测量精度。[/size][size=16px] 在高真空控制中,关键技术是精密调节微小进气流量。如图1所示,微量进气调节装置有电动针阀、泄漏阀和压力调节器组成,可实现0.005mL/min或更低的微小进气流量调节。[/size][size=16px] 微量气体调节时,首先通过压力调节器来改变泄漏阀的进气压力,使泄漏阀流出相应的微小流量气体,然后通过调节电动针阀来改变进入真空稳压室的气体流量。压力调节器和电动针阀的控制则采用的是24位AD、16位DA和0.01%最小输出百分比的双通道真空压力PID控制器。[/size][size=16px][color=#6666cc][b]2.2 低真空度控制系统[/b][/color][/size][size=16px] 基于动态平衡法原理,对于低真空控制,则需要分别采用上游(进气端)和下游(排气端)两种控制模式。如图1所示,两种控制模式的具体内容如下:[/size][size=16px] 在低真空的0.01~10Torr范围内,需要采用10Torr量程的电容真空计,并在机械泵全速抽气的条件下(电动球阀全开),通过动态改变电动针阀的开度来调节进气流量以实现设定真空度的精密控制。同时在电动针阀的进气端增加一个压力调节器以保证电动针阀进气压力的稳定。[/size][size=16px] 在低真空的10~760Torr范围内,需要采用1000Torr量程的电容真空计,并在固定电动针阀开度和机械泵全速抽气的条件下,通过动态改变电动球阀的开度来调节排气流量以实现设定真空度的精密控制。[/size][size=16px] 同样,在低真空控制系统中也同样采用了高精度的双通道真空压力控制器,两路输入通道分别接10Torr和1000Torr的薄膜电容真空计,两路输出控制通道分别接电动针阀和电动球阀,由此可实现两个低真空范围内的真空度精密控制。[/size][size=16px] 尽管电容真空计可以达到0.2%的测量精度,但要实现项目0.5%的控制精度,需要电动针阀和电动球阀具有很快的响应速度,电动针阀要求小于1s,而电动球阀要求小于3s,另外还要求真空压力控制器也同样具有很高的测量和调节精度,这些要求同样适用于高真空度控制。[/size][size=16px][color=#6666cc][b]2.3 正压压力控制系统[/b][/color][/size][size=16px] 对于正压压力控制采用了集成式动态平衡法压力调节器,并采用了串级控制方法。如图1所示,正压控制系统由压力调节器、压力传感器和真空压力控制器构成的双闭环控制回路构成。采用相应精度和量程的压力传感器和压力调节器可实现0.1%以内的控制精度。[/size][size=18px][color=#6666cc][b]3. 低真空控制解决方案考核试验和结果[/b][/color][/size][size=16px] 对于低真空精密控制解决方案,我们进行过相应的考核试验。低真空上游和下游控制考核试验装置如图2和图3所示,其中分别采用了10Torr和1000Torr薄膜电容真空计。[/size][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=02.上游控制模式考核试验装置,550,371]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121044011178_1432_3221506_3.jpg!w690x466.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图2 上游控制模式考核试验装置[/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=03.下游控制模式考核试验装置,550,338]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121044250558_2395_3221506_3.jpg!w690x425.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图3 下游控制模式考核试验装置[/b][/color][/size][/align][size=16px] 上游和下游不同真空度设定点的控制结果如图4和图5所示。[/size][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=04.上游低真空度考核试验曲线,550,333]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121044433769_7471_3221506_3.jpg!w690x418.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图4 低真空上游考核试验曲线[/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=05.下游低真空度考核试验曲线,550,327]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121045002696_1848_3221506_3.jpg!w690x411.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图5 低真空下游考核试验曲线[/b][/color][/size][/align][size=16px] 上游和下游不同真空度设定点的恒定控制波动率如图6和图7所示。[/size][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=06.上游模式低真空度恒定控制波动度,550,309]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121045233797_3751_3221506_3.jpg!w690x388.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图6 上游模式低真空恒定控制波动度[/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=07.下游模式低真空度恒定控制波动度,550,340]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121045436717_8569_3221506_3.jpg!w690x427.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图7 下游模式低真空恒定控制波动度[/b][/color][/size][/align][size=16px] 通过上下游两种控制模式的考核试验,可得出以下结论:[/size][size=16px] (1)配备有目前型号电动针阀、电动球阀和 PID 控制器的低真空控制系统,在采用了薄膜电容真空计条件下,恒定真空度(压强)控制的波动率可轻松的保持在±0.5%以内。[/size][size=16px] (2)由于真空控制系统中进气或出气流量与真空度并不是一个线性关系,因此在整个测控范围内采用一组 PID 参数并不一定合适,为了使整个测控范围内的波动率稳定,还需采用 2 组或2组以上的 PID 参数。[/size][size=18px][color=#6666cc][b]4. 正压压力控制解决方案考核试验和结果[/b][/color][/size][size=16px] 对于正压压力控制解决方案,同样进行过相应的考核试验。正压压力精密控制考核试验装置如图8所示,其中采用了测量精度为0.05%的压力传感器。[/size][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=08.正压压力考核试验装置,600,336]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121046014855_1011_3221506_3.jpg!w690x387.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图8 正压压力考核试验装置[/b][/color][/size][/align][size=16px] 考核试验的压力范围为表压0.1~0.6MPa,选择不同的设定点进行恒定控制并检测其控制的稳定性。全量程的正压压力控制结果如图9所示。[/size][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=09.正压压力考核试验曲线,600,337]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121046261180_1880_3221506_3.jpg!w690x388.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图9 正压压力考核试验曲线[/b][/color][/size][/align][size=16px] 为了更直观的演示正压压力控制精度,将每个压力设定点时的控制过程进行单独显示,以检测测定正压压力的稳定性,图10显示了不同正压设定点恒定控制时的正压压力和控制电压信号的变化曲线。[/size][align=center][size=16px][color=#6666cc][b][img=10.不同正压设定点恒定控制时的压力和控制电压试验曲线,690,555]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/06/202306121046471416_4804_3221506_3.jpg!w690x555.jpg[/img][/b][/color][/size][/align][align=center][size=16px][color=#6666cc][b]图10 不同正压设定点恒定控制时的压力和控制电压试验曲线[/b][/color][/size][/align][size=16px] 通过所用的正压压力精密控制解决方案和考核试验结果,证明了此解决方案完全能够实现0.1%高精度的正压压力控制,具体结论如下:[/size][size=16px] (1)采用串级控制和模式,并结合后外置超高精度(0.05%)的压力传感器和真空压力控制器,完全可以有效提高压力调节器的压力控制精度,可实现0.1%超高精度的压力控制。[/size][size=16px] (2)如果选择更合适和狭窄的压力控制范围,还可以达到0.05%的更高控制精度。[/size][size=16px] (3)高精度0.1%的压力控制过程中,真空压力控制器的测量精度、控制精度和浮点运算是决定整体控制精度的关键技术指标,解决方案中采用的24位ADC、16位DAC和高精度浮点运算0.01%的输出百分比,证明完全可以满足这种高精度的控制需要。[/size][size=18px][color=#6666cc][b]5. 总结[/b][/color][/size][size=16px] 针对真空压力综合测量系统对高真空、低真空和正压精密控制的技术要求,解决方案可以很好的实现精度为0.1%~0.5%读数的精密控制,考试验证试验也证实此控制精度。[/size][size=16px] 更重要的是,解决方案提出了高真空度的精密控制方法和控制系统配置,这将解决在高真空度范围内的任意设定点下的恒定控制难题,为高真空度范围的计量校准测试提供准确的标准源。[/size][align=center][size=16px]~~~~~~~~~~~~~~~~~[/size][/align][size=16px][/size]

  • 精密仪器溯源方法的研究

    这是我在做的毕业设计:请问大家怎么做呢?谢谢内容要求:(包括规定阅读的文献、应完成的程序、图纸、实验、说明书等)1、查阅量值溯源体系系统与精密仪器溯源方法等相关的期刊文献资料。2、论述精密仪器的各种常用溯源方法。3、针对存在国家基准的某种精密仪器加以论述。4、针对不存在国家基准的某种精密仪器加以论述。5、试进行溯源方法的不确定度评定。6、按要求写出毕业论文。

  • 泽攸精密携手松山湖材料实验室成功研制出电子束光刻系统

    [color=#000000]国产电子束光刻机实现自主可控,是实现我国集成电路产业链自主可控的重要一环。近日,松山湖材料实验室精密仪器联合工程中心产业化项目研发再获新突破:项目团队成功研制出[b]电子束光刻系统[/b],在全自主电子束光刻机整机的开发与产业化过程中取得阶段性进展,初步实现了电子束光刻机整机的自主可控,标志着[b]国产电子束光刻机研发与产业化迈出关键一步。[/b][/color][color=#000000]电子束光刻是利用聚焦电子束对某些高分子聚合物(电子束光刻胶)进行曝光并通过显影获得图形的过程,而产生聚焦电子束并让聚焦电子束按照设定的图形扫描的仪器就叫做电子束光刻机。它是推动我们当前新材料、前沿物理研究、半导体、微电子、光子、量子研究领域的重要手段之一。此前,全球电子束光刻机市场高度集中,主要由美日企业垄断,我国尚未掌握该领域核心技术,装备长期依赖进口。[/color][color=#000000]松山湖材料实验室精密仪器研发团队作为首批入驻实验室的团队之一,专注于材料和半导体领域的精密加工、表征和测量设备研发。团队负责人许智已从事相关研究近20年,参与承担多项国家重点研发计划专项工作及国家重大科研装备研制项目,近5年带领产业化团队研发的精密仪器成果转化填补多项国产空白,产值超亿元,产品出口美国、英国、德国、澳大利亚。[/color][color=#000000]为了研制具有自主知识产权的电子束光刻机整机,精密仪器研发团队在松山湖材料实验室完成一期项目研发并成立产业化公司后,带资回到实验室进入“滚动发展”模式:产业化公司东莞泽攸精密仪器有限公司与实验室共同投资2400万元进行第二阶段研发,目标是打造集科研与产业化为一体的电子束装备技术创新基地。通过深入开展电子束与新材料交叉领域的前沿技术研发,实现关键装备和共性技术的自主可控,切实提升我国在电子束加工与制备领域的整体创新能力和产业竞争力。[/color][color=#000000]目前,东莞泽攸精密仪器有限公司已基于自主研制的扫描电镜主机,完成电子束光刻机工程样机研制,并开展功能验证工作。通过对测试样片的曝光生产,可以绘制出高分辨率的复杂图形,朝着行业先进水平稳步前进。该成果标志着泽攸科技在电子束光刻机关键技术和整机方面的自主创新能力获得重大提升。下一步,团队及产业化公司将持续完善电子束光刻机的性能指标,使其达到批量应用及产业化的要求。[/color][来源:松山湖材料实验室][align=right][/align]

  • 常用的精密检测仪器有哪些?

    在现代工业的生产中,我们经常会用到各种各样的检测仪器,精密测量仪器就是其中的主要仪器。测量仪器是为了取得目标物某些属性值而进行衡量所需要的第三方标准,测量仪器一般都具有刻度、容积等单位。而在精密测量仪器中,又有许多的检测仪器,如二次元影像测量仪等,下面,我们就介绍一下,在我们的认知中常用的精密检测仪器有哪些?首先,我们所熟知的精密测量仪器,第一个就是二次元影像测量仪,又叫影像测量仪、二次元影像仪,简称二次元,是精密测量仪器中使用最为广泛的仪器之一。所谓二次元影像测量仪,从字面上我们可以看出,是以检测工件的二维数据为主的影像测量仪器。由于二次元影像测量仪主要应用在二维检测上,所以我们就在二次元的基础上研发生产了三次元,这就是我们常说的三坐标测量机或三坐标测量仪,它在长宽检测的根本上增加了高度检测的功能,是模具检测等主要的检测仪器。在二次元影像测量仪和三坐标测量机的使用过程中,我们会根据仪器的操作方式,进而将它们分为手动型和自动型的二次元、三坐标,而在现今的市场上,我们使用更为普遍的是CNC二次元与CNC三次元,因为它们能够更为精准的检测出我们所需的参数与数据,操作也更加的方便。在精密测量仪器的常用仪器中,除了二次元影像仪和三次元测量仪之外,还有一种特殊的高精度测量仪,这就是介于二次元与三坐标之间的2.5次元,它是在二次元的基础上加装了探针,以此来实现简单的三维检测的功能,这也是我们称之为2.5次元的原因。无论是MUMA二次元、NV全自动影像测量仪或者CMF全自动三次元,亦或2.5次元,它们的根本功能就是为了更好地检测工件,为产品的安全生产提供保障,所以我们说,精密测量仪器是现代工业生产中必不可少的检测仪器。

  • 【分享】正解精密度、正确度、精确度

    1.精密度 计量的精密度(precision of measurement),系指在相同条件下,对被测量进行多次反复测量,测得值之间的一致(符合)程度。从测量误差的角度来说,精密度所反映的是测得值的随机误差。精密度高,不一定正确度高。也就是说,测得值的随机误差小,不一定其系统误差亦小。 2.正确度 计量的正确度(correctness of measurement),系指被测量的测得值与其“真值”的接近程度。从测量误差的角度来说,正确度所反映的是测得值的系统误差。正确度高,不一定精密度高。也就是说,测得值的系统误差小,不一定其随机误差亦小。 3.精确度 计量的精确度亦称准确度(accuracy of meas-urement),系指被测量的测得值之间的一致程度以及与其“真值”的接近程度,即是精密度和正确度的综合概念。从测量误差的角度来说,精确度(准确度)是测得值的随机误差和系统误差的综合反映。

  • 方法的精密度

    方法的精密度精密度(precision)是指用一特定的分析程序在受控条件下重复分析均一样品所得测定值的一致程度,它反映分析方法或测量系统所存在随机误差的大小。极差、平均偏差、相对平均偏差、标准偏差和相对标准偏差都可用来表示精密度大小,较常用的是标准偏差。在讨论精密度时,经常要遇到如下一些术语:1. 平行性平行性系指在同一实验室中,当分析人员、分析设备和分析时间都相同时,用同一分析方法对同一样品进行双份或多份平行样测定结果之间的符合程度。2. 重复性重复性系指在同一实验室内,当分析人员、分析设备和分析时间三因素中至少有一项不相同时,用同一分析方法对同一样品进行的两次或两次以上独立测定结果之间的符合程度。3. 再现性再现性系指在不同实验室(分析人员、分析设备、甚至分析时间都不相同),用同一分析方法对同一样品进行多次测定结果之间的符合程度。方法精密度用变异系数(C.V.)表示。 CV =标准偏差/平均值 X 100% 根据Horwity方法,实验室内和实验室间分析方法的变异系数范围如表7-5。表7-5 残留分析方法的实验室间和实验室内变异系数分析浓度C.V(%)实验室间实验室内10 mg/kg1171 mg/kg1611100μg/kg231510μg/kg32211μg/kg45300.1μg/kg6443

  • 精密度、正确度、精确度三者之间关联

    1.精密度 计量的精密度(precision of measurement),系指在相同条件下,对被测量进行多次反复测量,测得值之间的一致(符合)程度。从测量误差的角度来说,精密度所反映的是测得值的随机误差。精密度高,不一定正确度(见下)高。也就是说,测得值的随机误差小,不一定其系统误差亦小。 2.正确度 计量的正确度(correctness of measurement),系指被测量的测得值与其“真值”的接近程度。从测量误差的角度来说,正确度所反映的是测得值的系统误差。正确度高,不一定精密度高。也就是说,测得值的系统误差小,不一定其随机误差亦小。 3.精确度 计量的精确度亦称准确度(accuracy of measurement),系指被测量的测得值之间的一致程度以及与其“真值”的接近程度,即是精密度和正确度的综合概念。从测量误差的角度来说,精确度(准确度)是测得值的随机误差和系统误差的综合反映。 图1是关于计量的精密度1正确度和精确度的示意图。 设图中的圆心O为被测量的“真值”,黑点为其测得值,则 图(a):正确度较高、精密度较差; 图(b):精密度较高、正确度较差; 图(c):精确度(准确度)较高,即精密度和正确度都较高。 通常所说的测量精度或计量器具的精度,一般即指精确度(准确度),而并非精密度。也就是说,实际上“精度”已成为“精确度”(准确度)的习惯上的简称。至于精度是精密度的简称的主张,若仅针对精密度而言,是可以的;但若全面考虑,即针对精密度、正确度和精确度三者而言,则不如是精确度的简称或者本意即指精确度更为合适。因为,在实际工作中,对计量结果的评价,多系综合性的,只有在某些特定的场合才对精密度和正确度单独考虑。那么,为何不去简化(如果说是“简化”的话)一个常用术语,而偏要去简化一个不常用的术语呢!再说,就大多数计量领域和计量工作者来说,已经习惯于“精度”来表示“精确度”或准确度了,何不顺其自然呢?

  • 关于期间核查仪器的精密度和仪器检出限

    pe的仪器,按照美泰的glop7409和Optima系列ICP-OES用戶培訓手冊这两份材料里面介绍精密度和检出限测法都是把replicates设为10次,然后软件自动算出RSD值大家试过不设置replicates,分别读10次溶液,然后手动计算10次的结果算出RSD值吗?还有,大家的期间核查有哪些项目?我的有重复性,仪器检出限,稳定性

  • 【转帖】数字化精密量仪的发展趋势

    数字化测量技术是数字化制造技术中的关键技术之一。开发亚微米、纳米级高精度测量仪器,提高环境适应能力,增强鲁棒性,使精密测量装备从计量室进入生产现场,集成、融入加工机床和制造系统,形成先进的数字化闭环制造系统,是当今精密测量技术的发展趋势。 (1)数字化精密测量仪器的新动向——进入生产现场,非接触扫描测量倍受重视   三坐标测量机作为精密测量仪器的基本型主导产品,继续在机械制造业中得到重视和发展。以三坐标测量机为代表的精密测量仪器进入车间、服务于生产现场是发展的一个重要趋势。例如,LEITZ公司的精密三坐标测量机在车间用于测量大型齿轮就是一例。将数字化测量系统集成到数控加工机床上是另一个发展趋势。例如,秦川机床厂的CNC成型齿轮磨床集成了在机齿轮测量系统。与光学/激光非接触式扫描测量技术相结合,实现多功能、多种传感器的集成和融合,使坐标测量技术的应用更加丰富,更适用于生产现场。   ①汽车大型覆盖件的非接触扫描测量精确而快速   配备有光学/激光式非接触扫描传感器的水平臂三坐标测量机实现了对汽车大型覆盖件的快速精密检测。德国ZEISS公司和瑞典HEXAGON集团等世界著名三坐标测量机制造厂在该领域进行了开发。瑞典HEXAGON集团所属DEA公司的PRIMA   C1系列水平臂测量机在CW43L型连续伺服关节测座上,可配备触发式测头、连续扫描测头、光学或激光扫描测头等多种测头,以适应不同测量环境和任务的要求。德国ZEISS公司的PROR Premium坐标测量机配备有EagleEye导航系统和可控测座,能够在汽车车身大型覆盖件尤其是车身分总成的质量过程控制中,对工件的几何参数、表面和边缘的特征点、间隙和贴合性等实施高速精密测量。   ②带激光扫描测量系统的便携式柔性关节臂测量机功能增强   美国CIMCORE公司推出了配备有先进激光扫描测量系统的关节臂测量机。该仪器采用碳纤维材料制造,重量轻而刚性好,其中INFINITE系列的还具有无线通讯功能。仪器采用PC-DMIS软件,测量功能强。配上管件测量系统附件,还可实现对管件的长度、弯曲度、回弹等多种数据的测量和比较。测量范围为1.2m的仪器点测重复精度达0.010mm,空间精度达0.015mm。用于反求工程时,不仅测量速度快,而且可实现测量过程的实时显示和补漏测量数据的无缝拼接。该仪器可用于三坐标测量、三维造型、产品测绘、反求工程、现场测量以及模具设计制造等涉及到设计、制造、过程检测、在线检测以及产品最终检测等测量工作。美国FARO技术公司的FaroARM系列便携式三坐标测量臂具备类似的技术指标和性能。我国西安爱德华测量机公司2005年也公开展示了自主开发的柔性关节臂测量机的样机。   ③轴类零件光电非接触测量仪器发展迅速   汽车制造业的需求大大推进了轴类精密零件非接触测量技术的发展。瑞士TESA公司的TESA   Scan系列轴类零件快速扫描测量仪采用2个线阵CCD组件,通过工件的回转和轴向移动对工件进行投影扫描,可实现对轴类零件位置误差和形状误差的精确检测、对截面形状和轮廓度的评估比较以及统计质量分析,还能对零件的局部(如过渡曲线、微小沟槽等)进行放大测量。由于工件立柱可以倾斜,因而能对螺纹、蜗杆、丝杆等进行全参数精度的精确测量,这是该仪器PLUS系列的一大特色。仪器在直径方向上的分辨力为0.0003mm,精度2+(0.01D) µ m,重复性0.001mm。德国SCHNEIDER的WMM系列轴类及工具测量仪操作简单、测量速度高,特别适用于车间检查站。仪器采用高分辨力的 Matrix摄像头,可以快速获取测量数据。仪器数显分辨力为0.0001mm,长度测量不确定度为E2=(2.0+L/200)µ m(L单位为mm)。   ④中小尺寸平面类精密零件的二维、三维非接触测量仪器应用广泛   带CCD数字摄像头、激光测头、触发测头的多传感测头光学坐标测量仪器得到了快速发展。除德国MAHR公司的MARVISION系列三维光学坐标测量机、瑞士TESA公司的三坐标成像测量系统TESA SIO、德国SCHNEIDER公司的SKM系列3D多测头坐标测量机等典型产品外,美国OGP公司等著名厂商也有相应产品展示。日本三丰公司CNC视像测量系统系列产品中的SV350-pro型测量机采用了自制的超高精度、高分辨力、低膨胀玻璃光栅基准尺,仪器分辨力0.01µ m,X、Y轴测量精度为(0.3+L/1000)µ m,Z轴测量精度为(1+2L/1000)µ m。三丰公司的Hyper   MF型测量显微镜的X、Y轴测量精度超过日本标准规定的0级,达±(0.9+3L/1000)µ m,仪器分辨力0.01µ m,是用于精密模具、精密切削刀具以及超小半导体电子元件(如芯片和集成电路等)精密检测的理想选择。国内西安爱德华、东莞万濠、苏州怡信、深圳鑫磊以及北京天地宇等公司也开发了类似产品。贵阳新天光电公司近年注重新品开发,2004年成功推出了JX13C图像处理万能工具显微镜,采用金属光栅和高分辨力的CCD摄像头,仪器测量精度达到(1.0+L/100)µ m,采用半导体激光导向快速确定测量位置。JX15A/B型视频测量显微镜同样采用了CCD数字成像技术,将采集到的被测工件图像送入计算机进行处理,进行相应几何精度的检测,产品技术指标和水平上了一个档次。深圳智泰公司VMT系列的3D影像量测仪,在CCD视觉测量系统上配备上高精度触发式测头,实现了多功能测量。 (2)数控机床精度检测用激光测量技术的新进展   为确保数控切削加工的质量,除了在加工过程中和加工完成后对数控切削加工系统(包括工件在内)进行可行的监控检测外,在加工前对数控机床的精度和性能进行检测,以便确切了解掌握机床质量现状,进而进行必要的调整补偿,使其达到最佳运行性能,是一项非常重要的质量控制措施。   众所周知,国外著名厂商Renishaw、API及HP等公司生产的激光干涉仪测量系统和球杆仪等在数控机床的几何精度和运动精度的检测和监控中,无论在机床制造厂还是机床使用厂,都得到了广泛的应用。Renishaw公司的金牌M10激光干涉测量系统,配备了高精度、高灵敏度的温度、气压、湿度传感器及EC10环境补偿装置,在工作环境下测量精度得到进一步提高;API公司的Rmtea六维激光测量系统可同时测量6个数控机床精度项目的误差,缩短了检测时间,为生产现场数控机床的检测和诊断提供了更为快速高效的精密测量手段。成都工具研究所的MJS系列双频激光干涉仪,分辨力0.01µ m,测量软件覆盖了我国和世界主要工业国的数控机床精度标准评定方法和指标,动态采样功能可用于自动补偿。   美国光动(Optodyne)公司近年推出的基于体对角线的激光矢量测量技术是快速测量和补偿数控机床、加工中心三维空间位置误差的一个新途径。该技术由美国光动公司发明并获得专利,它遵循了ASME B5.54   (1)和ISO0230-6(2)机床测量标准中对体对角线误差测量的要求。对于构成(X,Y,Z)直角坐标系的三轴机床的21项几何误差,采用传统激光干涉仪等来进行检测相当费时。基于分步体对角线矢量测量原理,光动公司采用专利的激光多普勒位移测量仪,借助大平面反射镜完成四条对角线空间位置误差的测量,获得12组数据。通过计算确定机床12项基本误差(3项位移误差,6项直线度误差和3项垂直度误差),最终得到数控机床三维空间位置(定位)误差。该公司曾介绍了在加工中心上进行实际测量和补偿的应用实例,借此表明该测量新技术在数控加工机床的精度检测和精度补偿上的可行性。对该项测量技术的认识、推广应用的实际效果和前景值得行业关注。 结束语   数字化制造技术是先进制造技术的基础。在数字化制造技术的基础上,通过计算机技术、通讯技术将数控机床、数控刀具、数控测量仪器和加工对象(工件)以及相应的信息集成融合在一起,构成了的一个数字化闭环切削加工系统。可以认为这是CIMS理念中的一种具体实施形式。CIMS应该具有多样性,即具有不同水平和不同层次。从近年数控刀具闭环制造系统和圆柱齿轮、锥齿轮制造闭环系统的发展,可以得到启示:应结合实际,大处着眼,小处着手。专项(产品)数字化闭环制造系统也许是当前CIMS领域的一条切实可行的发展途径。   要提高我国机床工具行业的技术水平,增强竞争力,根本途径就是提高自主创新能力,发展具有自主知识产权的产品和技术。从近几届我国举办的国际机床展览会来看,我国精密工具行业的创新意识不断加强,创新能力不断提高,创新技术成果和产品不断出现。但是,我国精密工具制造行业的发展相比于我国机床制造行业数控机床的发展,无论在规模上还是技术先进程度上都差距较大,远远不能满足和适应先进制造行业如轿车制造业、航空航天制造业、微电子制造业等的需求。工具行业需要紧跟机床制造行业,加强合作,加快发展。

  • 显微镜冷热台真空度的精密控制

    显微镜冷热台真空度的精密控制

    [align=center][img=真空冷热台,500,326]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/03/202203060829340674_8408_3384_3.png!w690x451.jpg[/img][/align]摘要:针对气密真空冷热台目前存在的真空度控制精度差和配套控制系统价格昂贵的问题,本文介绍采用国产产品的解决方案,介绍了采用数控针阀进行上游和下游双向控制模式的详细实施过程。此方案已经得到了应用和验证,可实现宽范围内的真空度精密控制,真空度波动可控制在±1%以内,整个控制系统具有很高的性价比。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px]一、问题的提出[/size]气密真空冷热台是同时可用于真空和气密环境的精密温控冷热平台,具有加热和制冷功能,适合显微镜和光谱仪等应用对样品在可控的真空度环境下进行精确加热或制冷。根据用户要求,针对目前的各种气密真空冷热台,在真空度控制方面,还需要解决以下几方面的问题:(1)无论是进口还是国产真空冷热台,真空度测量和控制还采用皮拉尼真空计,使得配套的控制系统无法实现真空度的精密控制,如无法满足研究和模拟冷冻干燥过程的精度要求。(2)气密真空冷热台普遍体积较小,在宽泛的真空度范围内,实现精确控制一直存在较大难度,真空度的波动性较大,而真空度的波动性又反过来影响温度的稳定性。(3)进口配套的真空度控制系统,不仅控制精度达不到要求,而且价格昂贵。针对气密真空冷热台存在的上述问题,本文将介绍采用国产产品并具有高性价比的解决方案,并介绍了详细的实施过程。[size=18px]二、解决方案[/size]气密真空冷热台真空度精密控制系统的整体结构如图1所示,整个系统主要包括真空计、数控针阀、PID控制器和真空泵。[align=center][img=真空冷热台,690,396]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/03/202203060828037872_2582_3384_3.png!w690x396.jpg[/img][/align][align=center]图1 冷热台真空度精密控制系统结构示意图[/align]为提高真空度测控精度,采用了测量精度更高(可达满量程0.2%)的电容式真空计,可覆盖0.01~760Torr的真空度区间。如果需要更高真空度环境,也可以同时采用皮拉尼真空计进行测控。为实现全宽量的真空度控制,将两只数控针阀分别安装在冷热台的进气口和排气口。通过分别采用上游和下游控制模式,可实现全量程波动率小于±1%的精密控制。控制器是精密控制的关键,方案中采用了24位A/D和16位D/A的高精度PID控制器,独立的双通道便于进行上游和下游气体流量调节和控制。总之,通过此经过验证的真空度控制方案,可实现高性价比的精密控制。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~~[/align]

  • 【转帖】日本地震对我国精密测量和计量产生影响

    这次日本地震的震级达到了9.0级,释放的能量较大,其低频振动分量传递较远,对我国高精密计量仪器有显著的影响。 据了解,高精密测量和计量仪器对环境振动的要求极高。美国环境科学和技术研究院经过大量的理论和实验研究推荐:微米级的测量要求1~100赫兹频带内的环境振动控制在12.5微米/秒以下(VC-C级),否则无法保证精密测量的测量精度。例如,1000倍的精密显微镜,要想保证其测量精度,必须对环境振动进行严格控制,否则就会出现丢失像素,甚至丢失整帧图像的问题;而对于测量精度更高的扫描电子显微镜和透射电子显微镜,则要求环境振动控制在VC-D级(即1~100赫兹频带内的环境振动控制在6微米/秒以下);对于纳米级的精密测量,例如半导体线宽、三磷酸腺苷及DNA测量,对环境振动的要求更高。美国国家标准和技术研究院(NIST)还针对纳米尺度的计量开展了大量研究,制定了纳米计量需要满足的环境振动标准。 据蔡晨光介绍,由于日本地震的影响,中国计量科学研究院的环境振动远远超出了精密计量所需要控制的量级。“虽然计量院昌平基地的一些精密实验室位于地下14米,可以隔离掉一部分地表传播的地震波,但是对于深度传播的低频地震波却无法进行有效衰减,致使高精密测量仪器无法正常工作。”他举例说,由于地震的影响,精密质量比较仪会长时间内无法稳定,致使高精度的质量量值无法传递和溯源;纳米尺度的精密测量仪器也会受影响而导致无法正常工作。 蔡晨光说,目前中国计量科学研究院昌平基地还没有建立起环境振动的实时监测系统,还无法实时、有效、准确地评估日本大地震这类偶发事件对高精度计量溯源系统的具体影响。“我国现在急需建立环境振动的实时监测系统。”

  • 准确度?正确度?精密度?还在为此凌乱吗。。。。。。

    准确度?正确度?精密度?还在为此凌乱吗。。。。。。

    实验室的化验人员经常需要进行准确度试验,如检验设备(包括采样设备、制样设备、化验设备以及新研制的设备)的投入使用,新检验方法(包括标准方法、非标准方法以及新研制的方法)的验证等都需要进行准确度试验,准确度试验包括正确度试验和精密度试验。任何一个设备或测量方法都应验证其正确度和精密度是否符合预期用途的要求。但很多化验人员对三者之间的区别和关系还存在一些模糊的认识,经常把正确度当做准确度来使用,今天小编抽空整理了一些资料,关于准确度、正确度、精密度到底有哪些区别和联系呢?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512091921_577114_2961690_3.jpg综上所述,准确度包括了正确度和精密度。而正确度是准确度的各重要的组成部分。为评价(度量)准确度而进行的试验称为准确度试验,准确度试验同样也包括了正确度试验和精密度试验这两部分。在日常实验室工作中,我们会遇到这样的情况:比如用ICP 测同一元素含量,实验室内同一实验员不同重复间的误差、不同实验员间的误差、不同实验室间误差应控制在什么范围?其实,这就涉及到了中间精密度验证的问题了。在一组测量条件下的测量精密度,包括相同测量程序、相同操作者、相同测量系统、相同操作条件和相同地点,并且在短时间段内对同一或相似被测对象重复测量。简单地说中间精密度是处于重复性条件与再现性条件之间的条件下得到的精密度。精密度可以从三个层次来考察:重复性、中间精密度、重现性重现性:指不同实验室之间不同分析人员测定结果的精密度。当分析方法将被法定标准采用时,应进行重现性试验。重复性:配制6份供试品溶液(不添加杂质对照品溶液,为准确度提供依据),由1个分析人员在尽可能相同的条件下进行测试,所得6份供试品溶液中的杂质含量,其相对标准差应不大于15%。重复性测定可在规定范围内,至少用9次测定结果进行评价,如制备3个不同浓度的试样,各测定3次,或100%的浓度水平,用至少测定6次的结果进行评价。中间精密度:是指在同一试验室,由于实验室内部条件改变,如时间、分析员、仪器设备、测定结果的精密度。验证设计方案中 变动因素一般为日期、分析人员、设备。配置6份供试品溶液(一般为0.1%),分别由不同分析人员、不同日期、不同仪器进行测试,所得12个杂质含量数据的相对标准差应不大于20%。简言之。。。。见下图http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512091921_577115_2961690_3.jpg精密度计算http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512091922_577116_2961690_3.jpg中间精密度试验时应考察不同日期、不同分析人员、不同仪器下对精密度的影响,有关物质中间精密度的结果评价及可接受标准可以看一下2010版中国药典附录V D高效液相色谱法,附录第30页!有详细的描述!1)含量低于0.5%,RSD%应小于10%。2)含量在0.5%-2%,RSD%应小于5%。3)含量大于2%,RSD%应小于2%。中间精密度的验证:分别考察同一实验室不同人员、不同时间、不同仪器设备测定结果之间的精密度。具体操作:①、对照品溶液的配制:同⑵。②、供试品溶液的配制:同⑵。分别精密量取相同体积的上述各溶液进液相,按外标法以峰面积计算不同的分析人员在不同的时间、不同的仪器设备上测得的供试品溶液中被测成分的含量(可算其相对于制剂标示量的百分含量),计算组内的平均含量及含量的RSD,并与另一组(不同的分析人员、不同时间、不同仪器设备)测得的结果比较,计算组间的RSD,应小于2%。这时候,仿佛应该插个题外话,那就是检测限和定量限的问题了(其实这个话题咱们说过很多了),今天呢, 不废话,直接说精华。1.检测限系指试样中的被分析物能够被检测到的最低量,但不一定要准确定量。该验证指标的意义在于考察方法是否具备灵敏的检测能力。因此对杂志限度试验,需证明方法具有足够低的检测限,以保证检出需控制的杂质。直观法直观评价可以用于非仪器分析法,也可用于仪器分析方法。检测限的测定是通过对一系列已知浓度被测物的试样进行分析,并以能准确、可靠检测被测物的最小量或最低浓度来建立。信噪比法用于能显示基线噪音的分析方法,即把已知低浓度试样测出的信号与噪声信号进行比较,计算可检出的最低浓度或量。一般以信噪比为3:1时相应的浓度或注入仪器的量确定检测限,其他方法有基于工作曲线的斜率和响应的标准偏差进行计算的方法等。无论用何种方法,均应用一定数量的试样,其浓度为近于或等于检测限,进行分析,以可靠地测定检测限。2.定量限http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/12/201512091922_577117_2961690_3.jpg我们来举个例子说吧!以GC为例,分析方法中间精密度验证中,要求不同的分析人员采用相同的分析方法、在不同的时间、使用不同的仪器进行测试,以确认方法的适用性。问题是,不同的仪器参数设置一般是不同的,除了检测器温度、进样器温度、柱温能保持不变外,其它如分流比(有的仪器有,有的没有),载气流速等似乎不能保证完全一样,这种情况下做出来的中间精密度数据有效吗?我觉得中间精密度验证不一定要求仪器参数完全一样,甚至平时操作的时候可能用到跨品牌的仪器,只要方法一致就有可比性,用分流的就都用分流的,用不分流就都用不分流,用恒流模式就都设定为恒流模式的,不要求使用完全一模一样的仪器。为什么要做精密度和回收率试验? 测量方法确认技术分成以下几类。 (1)正确度试验(标准物质分析试验、回收率试验、不同方法的比对试验。 (2)精密度试验(室内重复性、中间精密度、协同试验、极差试验。 (3)检出限的确定。 (4)测量范围试验。 (5)影响结果因素的系统评价。 (6)结果不确定度的评价。根据测量方法预期用途的特定要求,选用以上至少两项确认试验或评价技术,以便得到与特定要求相关的技术指标。在没有系统偏差或系统偏差不显著时,精密度好,则正确度高。否则精密度好,正确度不一定高。方法精密度好,才可能采用最少的重复测定次数得到准确的结果。从这个意义上说,方法的精密度对正确度有很大影响。因此,测量方法的精密度要优于正确度的限量,才能满足测量方法正确度的要求。实践中通常把残留分析检测方法的精密度试验简化为高(略低于检测方法的最高限量)、中(检出限的两倍)、低(略高于检出限)3个浓度各进行不少于10次的测试。应用线性回归原理进行测量的方法一般在线性范围内选择包括检测低限、检测高限在内的6个质量水平样品分别进行不少于3次的测试。检测结果经统计应满足拟确认测量方法精密度的要求。化学分析方法一般采用Horwite方程:cM=2(1-0.5lgc)(%)(c为浓度水平,1,10,100,1000,,)评价方法的精密度。 对于组成不十分清楚的试样, 常采用加入回收法。在试样中加入已知量的被测组分与等量的另一份相同的试样平行进行分析, 求得加入的被测组分的回收率, 由回收率检查系统误差的大小。提高试验精密度和采用回收试验,都是为了尽可能减少实验误差,使得试验更准确。简单而言:就是准确度用回收率试验,精密度用测定6次结果进行rsd评价。

  • 光谱分析仪精密度差产生的原因

    在光谱分析仪测定过程中,精密度是重要指标之一,与光谱仪本身、方法设置、分析测试人员水平有关系,没有高精密度的方法,就无法保证数据的准确性。操作者在工作中会经常碰到测试数据波动大,常量分析ESD%大于2%等故障现象。这种现象就是数据精密度差的表现,也就是专业上所说的信号噪声大。上面阐述了等离子炬形成的条件,下面[url=http://www.huaketiancheng.com/][b]原子发射光谱仪[/b][/url]小编从环境因素、光源系统。试样引入系统和光学系统详细分析数据光谱分析仪精密度差产生的原因。  在环境因素中,环境温度没有在规定范围内时会发生谱峰偏移;排风量不稳定会使“火焰”跳跃。例如,排风口与阵风方向相对或者快速开关实验室推拉门,容易导致排风量忽大忽小。ICP光谱仪巨力振动源(如车间)、强磁场(光电直读光谱仪)接近,会导致数据不稳定。可以采取控制环境因素的办法来保证,它是保证光谱分析仪数据精密度的必要条件之一。  光谱分析仪开机后,光室温度变化应小于±1°C,若光谱分析仪温度未稳定在该值,光室内光学元素由于受温度影响,各光学元件的相对位移产生变化,导致待分析谱线位置漂移和分析数据失真。因此仪器主要应充分预热,在光室温度稳定在其仪器额定值时才可以进行测定。  在光源系统中,等离子炬温度也会影响其精密度变化,影响因素有载气流量。载气夜里、频率和输入功率和低点离电位的释放及。载气流量增大,中心部位温度下降;温度随载气气压的降低而增加;频率和输入功率的增大激发温度随之增高;引入低点离电位的释放剂的等离子体,其温度将增加。RF功率不稳定会影响数据精密度,如果RF功率有1%的漂移,元素强度值就能发生1%的变化,其原因是因为氩气不纯或者循环水温度突然发生变化造成的,可以用氩线的稳定性来检测。  在光谱仪试样引入系统中,首先要检测样品溶液是否均匀,比如容量瓶定容是否摇匀;查看仪器登记记录,检查等离子气的流量和压力、雾化气体的流速和压力及试液提升量等指标是否和上次一致,这是因为气体压力和流量的变化会影响到原子化效率和基态原子的分布导致数据精密度变差;由于仪器长时间进行检测工作,蠕动泵管弹性变差。蠕动泵管的经常挤压部位颜色变暗时,蠕动泵管则需要更换。上节所述进样系统毛细管、泵管、雾化器和中心管发生堵塞或者炬管太脏,会使雾化效率降低导致数据精密度表差,可采用延长冲洗时间,试样盒硝酸溶液(1+5)间隔进样等两种方式来解决,有机样品用煤油解决。泵夹优化不好,或者泵管泵夹松动,致使进样不均匀导致光谱强度值发生改变,可重新设置泵速,调节泵管,并且经常要给泵柱和轴承上油保持其润滑。  影响光谱分析仪的其他方面,分析谱线的选择不合适,多数靠近CID边缘20个像素的谱线强度通过较低也会导致数据精密度变差,尽管它们有的谱线没有光谱干扰,但是位于紫外区波长190nm元素谱线以下的建议少用,如果要用,应用99.999%的氩气吹扫检测器8h以上。快门故障或者狭缝积灰导致部分元素数据精密度变差,其特点是长波谱线、短波谱线要么分别变差要么同时变差。此故障可以采取延长积分时间来应急,等待维修人员维护。谱线积分时间不会增加信号的强度,但可以改善精密度与检出限。不过太长的积分时间将影响的分析速度。  对于用光电倍增管做检测器的光谱分析仪,还应该注意曝光很差也会影响数据的精密度,故障现象可以分为全部元素差和部分元素差。如果发生全部元素差的现象,操作者可以通过一次检查高压电源输出是否稳定,实验灯是否接触不了,高压插头是否没有插牢和积分箱输出控制芯片是否失效。光电倍增管座是否损坏,高压衰减器拔盘开关是否完好以及该元素的积分拨盘是否完好等方面确认故障。

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