扫描显微分析装置

品牌： GATAN 名称型号：GATAN冷冻传输系统Alto2500制造商： GATAN公司经销商：欧波同有限公司 产品综合介绍： 产品功能介绍 扫描电镜工作者都面临着一个不能回避的事实，就是所有生命科学、石油地质学以及许多材料科学的样品都含有液体成分。很多动植物组织含水量达到98%，这是扫描电镜工作者最难对付的样品问题。冷冻传输设备是一种将经过冷冻制样后的样品置入 SEM 样品室内，并维持样品低温状态的一种设备。它综合了制样、维持样品低温真空环境、在不破坏 SEM 真空前提下安全传送样品至SEM。是冷冻扫描电镜不可或缺的利器！品牌介绍美国GATAN公司成立于1964年并于70年代末进入中国市场。GATAN公司以其产品的高性能及技术的先进性在全球电镜界享有极高声誉。 作为世界领先的设计和制造用于增强和拓展电子显微镜功能的附件厂商，其产品涵盖了从样品制备到成像、分析等所有步骤的需求。产品应用范围包括材料科学、生命科学、地球物理学、电子学，能源科学等领域， 客户范围涵盖全球的科研院所，高校，各类检测机构及大型工业企业实验室，并且在国际科学研究领域得到了广泛认同。经销商介绍欧波同有限公司是中国领先的微纳米技术服务供应商，是一家以外资企业作为投资背景的高新技术企业，总部位于香港，分别在北京、上海、辽宁、山东等地设有分公司和办事处。作为蔡司电子显微镜、GATAN扫描电子显微镜制样设备及附属分析设备在中国地区最重要的战略合作伙伴，公司秉承“打造国内最具影响力的仪器销售品牌”的经营理念，与蔡司，GATAN品牌强强联合，正在为数以万计的中国用户提供高品质的产品与国际尖端技术服务。产品主要技术特点： Alto 2500 是一款高分辨率的新一代冷冻传输系统，专为场发射扫描电镜（FE SEM）设计，是冷冻扫描电镜中的性能冠军。Alto 2500系统提供的制样技术包括快速冷冻（为了保持含水状态），真空传输（防止样品污染），冷冻断裂（展示内部微观结构），升华（净化非含水成分）和镀膜（允许高分辨表面成像和X-RAY分析）。Alto 2500冷冻前处理室 Alto 2500配备了专用的直接连在SEM上的前处理室。该高真空前处理室配有一个独立的且在工作中无振动产生的涡轮分子泵。前处理室高程度可视化有利于观察样品，同时室内装有灯管，配合双筒显微观察镜可以在处理样品过程中更好的观察样品。大容量一体式液氮冷肼设计，不仅保证看充足的低温供应和优异的低温环境，而且提供了无污染操作环境。冷肼上部装有一个冷台和防污染板，温度可分别达到-180℃和-190℃。利用样品台加热器可以使其升温，从而达到可控温度升华的目的。珀热电阻温度传感器能够灵敏的显示冷台和防污染板的温度。前处理室还配置了标准双功能冷冻断裂刀具，还可选配可控断裂深度的冷冻旋转断裂刀具。喷镀专为冷冻环境设计的磁控高性能喷镀单元，5nm的分辨率精度是获取高分辨率FEG-SEM图像的保证。该单元可选配互换式多点喷碳装置。真空传递装置 真空传递装置是一个紧凑而轻巧的装置，将经过快速冷冻工作台冷冻后的样品继续保持真空状态，并转移到前处理室和SEM样品室中。大面积玻璃窗保证了良好的可视性，可以让操作者顺利的将样品推送到冷台。 快速冷冻工作台冷冻工作台含有两个可制“液氮泥”的处理罐，不仅可以快速冷冻样品，而且还能装载预冷冻样品。可选配‘撞击式冻装置’。SEM冷台模块低温氮气高效冷却的冷台模块很易于SEM样品台楔合。利用内置可控温加热器和精确的温度感应器能轻易的控制温度在-185℃到+50℃之间。冷台模块冷气管具有一定的弯曲度，即使在通有冷却氮气的情况下冷台也可旋转一定的角度。在FIB+SEM中，可以设置最大倾斜角度。为了保证获得无污染的图像，在SEM样品室内配置了一个独立的根据不同SEM而定制的可显温度的防污染板。系统控制面板键盘控制器显示系统参数，只有手掌大小，操作简单。在使用过程中，控制器可以方便的放在任意方便的位置。安全特性整个系统提供了电子机械互锁，保证了操作者和显微镜的安全性。产品主要技术参数： 样品预处理装置液氮泥快速冷冻（-210℃）；多功能液氮泥工作站，有装载样品座的铰链式装置，可将冷冻预处理后的样品很方便的对接至真空传输装置上。前处理室的冷台由直接嵌入的液氮杜瓦直接冷却，确保最佳制冷效率和最低制冷速度；通过减震装置将分子泵直接耦合到前处理室上，确保最佳的抽气效率和样品室真空；冷源4-2-1 冷冻前处理室采用一体式液氮冷阱制冷，扫描电镜冷台采用过冷氮气气冷，分体式液氮杜瓦只需6 L液氮，可连续提供扫描电镜冷台3 h连续工作时间；高真空冷冻制备腔室，包括：前级机械泵，涡轮分子泵（70 L/S），工作时前处理室真空度优于10-6 mbar量级；多角度样品观察窗，×10倍和 ×20倍双目显微观察镜，气锁阀门控制真空传递装置连接，； 球阀与扫描电镜样品室连接，具有电动开关和电动机械安全锁；一体式液氮冷阱及防污染装置，防污染装置可设温度为 -190℃；样品制备腔室内部液氮冷冻台（-180℃ ～ +100℃）及防污染装置；样品处理包括断裂、升华、喷镀功能。标配冷冻断裂刀；可设定升华时间及温度，自动升华；标配Pt靶材磁控喷镀，可选其他靶材（Au/Pd, W , Ir 和 Cr），自动喷镀，提供高纯氩气供给连接组件；真空传输装置设计紧凑小巧，使用方便，密封效果好。扫描电镜冷台和防污染装置低温氮气气冷扫描电镜冷台（-185℃ ~ + 50℃），温度稳定度为1℃；根据扫描电镜类型定制防污染装置，可设温度为 -190℃或更低；扫描电镜样品室内配置LED照明灯。高集成按键式控制板，体积小，可方便的放置在触手可及的位置。 产品主要应用领域： ● 植物学、动物学和医学（如植物叶、根毛、花粉、冬虫夏草、动物器官组织等） ● 食品原料（如牛奶、酵母等）● 脂类、聚合体、油漆和化妆品（如面霜、雪花膏、牙膏等）● 光束或电子束灵敏的材料(如：照相感光乳剂)● 石油地质学(泥、泥浆、油母岩等)● 液体、半液体和泡沫（啤酒花、冰淇淋、酸奶等）● 热敏半导体材料(如：低K材料)喷镀前 喷镀后 真菌感染后的叶片表面 硅藻绿霉菌 冰淇淋 酸奶

IMEXT FTAFission Track Analysis System裂变径迹显微分析系统IMEXT FTA产品介绍IMEXT FTA裂变径迹分析系统Fission Track Analysis System1、 裂变径迹技术原理 Fission Track Principle矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA原理示意裂变径迹显微分析系统 IMEXT FTA样品示意图2、 高整合的自动分析系统 Automatic Analysis System系统高度集成智能显微镜、摄像机、电动扫描台等硬件设备；项目化管理、流程化操作；主要用于矿物裂变径迹分析。系统所配软件包，专为裂变径迹应用开发，可完成裂变径迹显微镜镜下互为镜像样品颗粒定位和查找、图片拍摄；可满足裂变径迹测量的各种需求。设备图：控制软件主界面图：测量分析流程：1) 新建样品项目，开始裂变径迹分析；或者打开已有样品项目，继续分析；2) 样品全貌图扫描；3) 样品光薄片/云母片定位；4) 样品观察方式配置；样品拍照模式配置；5) 目标颗粒选择；6) 目标颗粒Grain/Mice自动扫描；7) 目标颗粒裂变径迹参数测量；8) 裂变径迹数据统计；9) 专用裂变径迹分析报告；3、 样品全貌图扫描 Sample MAP 系统支持低倍物镜下快速扫描样品薄片，生成样品全貌图；包含光薄片Grain、云母片Mice、中间参考片。作为后续操作粗略定位薄片的参考。4、 样品定位&切换 Relocation & SWAP 系统支持样品粗定位和精细定位两种模式；确保500X、1000X下能准确观察目标颗粒。Relocation模块满足了对互为镜像云母片上的裂变径迹观察。在利用光学显微镜对云母片损伤产生径迹进行观察时，需要对2片互为镜像的光薄片/云母片上径迹进行对照分析，需要进行来回切换观察。该模块实现了自动化的寻找镜像及定位，让研究人员只需专注于径迹的观察。针对大量裂变径迹的观察，该模块提供了记录功能，可以记录下样品所有目标颗粒在光薄片和云母片上的位置，对目标颗粒进行重定位，方便下次观察和分析。5、 智能显微镜控制 Digtal Microscope Control 系统支持智能显微镜控制，支持透射/反射、明场/偏光等观察方式，与样品位置Grain/Mice随动，支持智能光强管理，支持不同倍率物镜中心位置矫正补偿。6、 目标颗粒选择 Object Grain Select 系统支持多种方式寻找和选择目标颗粒，用于后续拍照和测量。7、 自动目标颗粒扫描Auto Scanning/Snap支持单个颗粒断层扫描、保存Z-stack图像序列，支持单颗粒超景深照片合成；支持多颗粒批量扫描，提高工作效率。扫描过程照片自动抓拍、自动保存，进度状态实时可见；照片信息存入数据库，方便查询；提供图片浏览功能，可以实现颗粒定位回溯、重新拍照等功能；8、 径迹参数测量 Track Measurement支持多种径迹参数的自动测量和人工测量，包含径迹数量、面积、最大，最小卡规直径及其比率等颗粒参数，且可解决裂变径迹坐标、空间长度、角度、径迹数量、晶粒面积及径迹密度的数据测量问题。9、 径迹统计&报告 Statistics&Report支持多种径迹参数的标准统计，包含最大值、最小值、平均值、标准差等。10、 数字薄片 Digital Slice支持按照样品项目管理，扫描、存储薄片照片和径迹测量数据。从而实现薄片&目标颗粒的数字化，方便长期保存和后期分析，以及数据追溯。11、 用心服务放心使用全面的服务在于您的需要不只是一件产品，而在于您的企业或科研发展的同时，有我们对您的要求和需要一呼即应。良好长久的合作、使您领先便是我们成功之处。系统自问世以来，深受广大学及研究所等用户的信赖和支持；一旦获取，终生免费升级。

品牌：卡尔蔡司型号：Axio Imager M2m制造商：德国卡尔蔡司公司经销商：北京普瑞赛司仪器有限公司产地：德国 ZEISS一百多年的骄人历史从发明世界上首台显微镜开始。一个世纪后的今天，ZEISS仍致力于为用户研发最具创造力的显微镜系列产品及其解决方案。通过我们不断改进的显微分析技术，我们正在为全世界的用户开拓一条探索微观分析世界的道路。 总体描述蔡司最新推出的裂变径迹显微分析系统，实现智能自动化操作，对两个样本对应区域进行自动镜像精准定位、对比统计；能自动完成矿物颗粒分析、径迹数目统计、测量径迹与C轴角度、测量Dpar、Dper值，依据自发径迹密度和诱发径迹密度计算裂变径迹表观年龄。系统还可为客户提供岩矿分析等其他研究工作。 产品特点 ◆最佳优化的操作理念 ◆拥有更高衬度和更高分辨率的新型光学系统◆全自动Z轴自动聚焦模块 ◆保证最大稳定性和免振动工作的创新设计 ◆统计辐照单矿物的裂变径迹数，分析计算矿物表观年龄，并模拟地质体热演化历史 技术参数硬件光学系统：ICCS光学系统1、 专业分析物镜：5X、10X、20X、50X、100X2、 自动扫描台：行程130X85mm，步距为 0.1μm，重复精度小于1.0μm3、 变倍转换器：1.25X,1.6X4、 图像采集：彩色数码冷CCD:500万像素，信实时采集，同步捕捉图像，传输速度快，同时显示。5、 分析系统：自动识别待测对象，自动定位及查找功能，自动完成颗粒数目统计、测量径迹与C轴角度、能测量Dpar、Dper值等。所有的测试及结果（图片、表格、报告）均自动保存至数据库，可随时调用并返回当时的测量参数，保证可追溯测定结果；用途矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。 组成蔡司全自动科研级显微镜蔡司Axio vision强大分析软件 自动扫描平台 Relocation功能自动物镜转换器 ManualMeasure功能自动模块盒 AutoMeasure功能自动光强控制管理 应用矿物中所含微量铀的自发裂变的衰变引起晶格的损伤产生径迹，测定矿物的铀含量和自发裂变径迹密度、数量和长度、角度，可以确定矿物的年龄。此法用样量少，可用样品种类多，测年范围可由数年到几十亿年，特别是在5万～100MA年期间内，测年效果较其他方法为好，是第四纪地质年代测定的重要方法之一。其中，统计受热中子照射的磷灰石、锆石等单矿物的裂变径迹数，可计算地质体的退火年龄；测量自发裂变径迹长度，统计裂变径迹长度分布，可计算地质体热演化历史；并用于观察透明或不透明矿物、岩石、包裹体的结构等岩相学特征。 原理1.理论依据根据矿物中 U、Th放射性同位素自发裂变碎片的径迹而计时的一种方法。径迹数目与矿物年龄成正比。矿物中能产生裂变径迹的重核有 238U、235U和232Th。它们的自发裂变半衰期分别是 1.01×1016年、3.5×1017年和大于1021年。所以天然样品中238U的裂径迹约占99.97%以上，而235U和232Th的裂变径迹在年龄测定中可忽略不计。 若假定自发裂变径迹在矿物中的分布是均匀的，则单位体积内的裂变径迹数目(C)与U含量、矿物存在时间及U的自发裂变常数成如下关系裂变径迹法式中238U为每立方厘米样品中238U的原子数,λf为238U的自发裂变常数（6.85×10-17/年），λ为U的总衰变常数,t为矿物年龄。 自然状态的裂变径迹非常细小。通过选择适当的化学试剂在一定条件下对矿物磨光面进行腐蚀处理(蚀刻)，蚀刻后的径迹,在显微镜下可放大到200～1000倍。若自发裂变径迹和诱发裂变径迹（即通过热中子照射产生的径迹）的蚀刻条件完全相同，则裂变径迹法计算年龄的公式为裂变径迹法式中ρs为在蚀刻表面观察到的径迹密度,ρi为蚀刻后看到的诱发裂变径迹密度,σ 为235U的热中子诱发裂变截面(582×10-24平方厘米),Φ为热中子剂量，I=238U/235U=137.88。 应用此公式计算年龄时须满足下列要求：①自发裂变的半衰期是恒定的；②238U/235U比值是一个常数 ③所有的自发裂变径迹是238U产生的,而所有的诱发裂变径迹都是235U经热中子照射诱发产生的 ④自发裂变径迹和诱发裂变径迹的蚀刻条件相同；⑤样品形成以后保持封闭体系。 裂变径迹法测定年龄的样品适应性广，只要样品中产生的自发裂变径迹密度大于1～10／平方厘米,均可选用。如磷灰石、榍石、锆石、白云母等。 2. 解决方案（1）ZEISS显微镜所配的AxioVision软件具有强大的图像拍摄和处理功能，可完成裂变径迹显微镜镜下图片拍摄。（2）AxioVision软件模块中的FissionTrack模块，专为裂变径迹应用开发，可满足裂变径迹测量的各种需求。该模块包含三大功能：针对互为镜像样品定位和查找问题，Relocation功能可以实现自动化的样品镜像定位。针对裂变径迹长度、角度等数据的测量问题，ManualMeasure功能实现简单高效的在线测量功能，并自动将测量数据按照指定格式，导出为EXCEL表格。针对裂变径迹颗粒数量、面积等数据的统计问题，AutoMeasure功能实现自动化的统计，包含数十项可选的颗粒数据描述。

XDS-200C倒置显微分析系统 一、倒置显微分析系统用途特点: 倒置显微分析系统 XDS-200C是倒置显微镜和彩色数字摄像机组成。XDS-200C倒置生物显微镜是一种载物台在物镜上面的生物显微镜，由于配有长工作距离的聚光镜，长工作距离平场消色差物镜及相衬装置，故可使用各种培养皿和培养瓶，特别适用于对活体细胞和组织，流质，沉淀物等进行显微研究，该仪器可供科研，高校，医疗，防疫，农牧等部门使用。 倒置显微分析系统 XDS-200C既可人工观察显微图像,又可以在计算机显示器上很方便地适时观察显微图像，并可随时捕捉记录观察图片,从而对观察图像进行分析,处理等,还可以保存或打印出高像素图像照片。二、仪器主要技术参数:名 称参数规格观察筒转轴式三目观察筒，30°倾斜，100%通光摄影。瞳距调节范围：55-75mm目镜大视野目镜WF10X(Ф20mm)长工作距离平场消色差物镜平场物镜PLL10X/0.25工作距离：8.8mmPLL20X/0.40工作距离：4.8mmPLL40X/0.60工作距离：3.5mm平场相衬物镜(PHP2)PLL10X/0.25 PHP2工作距离：8.8mm转换器四孔物镜转换器(滚珠内定位) 调焦系统粗微动同轴调焦机构，微动格值:0.002毫米，左调焦带锁紧装置,右调焦带限位装置.载物台双层机械载物台,尺寸：200mm x 140mm；移动范围：75mm x30mm载物板⑴Ф68mm载物板⑵尺寸：77.5X34mm载物板，可配圆形培养皿尺寸:Ф68.5mm聚光镜插板式相衬聚光镜,工作距离30mm相衬装置对中目镜10X插板式相衬环板透射照明系统6V20W 卤素灯（亮度可调）蓝色、磨砂玻璃滤色片电脑摄像系统CK-5001X标准接口，CK-500彩色摄像机: 最高分辨率：2560×1920，采用5V供电，功耗小，连接简单：USB接口， 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集,图像大小可调,增益调节,曝光时间调整,增益调。显微软件可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。节,亮度调节等。可在图像上添加文字、放置比例尺等。 仪器尺寸仪器尺寸：43×20×44（cm） 包装尺寸：30×38×50（cm） 重量净重：9.5kg，毛重：12kg三、仪器装箱单：序号名 称数 量单 位附 注1倒置生物显微镜主机1台XDS-200C2三目镜筒1套310X目镜1对410X长距平场消色差物镜1个520X长距平场消色差物镜1个640X长距平场消色差物镜1个7对中望远镜1个 810X相衬物镜1个PHP29相衬环板1个10聚光镜1个11载物板2块12滤色片2片13防尘罩1个14卤素灯灯泡1个6v20w15电源线1根16彩色数字摄像机CK-5001个17摄像机接口1个18USB数据线1根19测微尺1块0.01mm20保修卡1份21出厂合格证1份22使用说明书1份

传统原位载台仅能够提供样品表面在拉伸或压缩情况下结构的变化，而搭载在X射线显微分析系统的原位拉伸载台则能够提供样品内部结构及物理性能变化的过程，通过结合X射线显微分析系统和具备原位加热或冷冻耦合功能的拉伸压缩系统则能够提供样品在力场及温度场条件下独特的三维原位分析能力。该系列原位载台系统专为X射线显微分析系统开发，能够提供拉伸及压缩功能，同时覆盖几N到20kN载荷范围，同时可以提供100Nm的扭转功能。低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。该系列载台依旧可以提供3点及4点弯曲夹具，以及压缩夹具选择。通过采用基于Windows操作系统的软件进行精准控制，载台与控制电脑通过USB或RS-232接口进行连接。同时也可以提供单独加热或冷冻载台，该类载台可以用来分析冷冻样品或进行原位变温实验。l 加载范围 20kN/0.1KNml 拉伸，压缩，扭力l 加热&冷却l 液体&气体氛围腔室应用领域：低载荷载台应用领域覆盖纸张/包装材料、纤维材料、泡沫高分子材料、生物材料，高载荷载台则可满足金属材料、人工关节、汽车及引擎叶片等各类坚硬材料分析。在石油化工领域则可以用来分析岩心样品，我们的用户还进行了液体环境下岩心样品分析。CT5000原位载台系统在地质材料中的应用作为UGCT联合创始人的Veerle Cnudde教授领导的地质材料多尺度孔隙结构分析课题（PProGRess），其研究组利用该技术对地质材料中多尺度孔隙结构变化过程的研究来进行岩石在地质运动及成藏反应中显微结构的变化及演进过程分析。UGCT实验室的X射线显微分析系统搭载了Deben CT5000原位拉伸/压缩载台，得益于该载台能够让Veerle Cnudde教授的实验方案得以实施。咨询Veerle Cnudde教授为什么选择Deben的CT5000原位载台，其回答到：“CT5000系列原位X射线载台系统作为为数不多的原位载台系统，其强大的适配性能够完美满足我们不同类型的实验需求，目前该载台能够实现在高载荷条件下岩石不会炸裂开，结合提供多种定制化夹具设计能力，则能够提供满足不同尺寸及不同拉伸距离所需的样品夹具，这是也目前为什么UGCT实验室两台X射线显微分析系统均配备CT5000系列原位载台系统的原因。”CT20kN开放式拉伸载台系统在奥本大学安装测试成功美国阿拉巴马州奥本大学安装了Deben开放式原位拉伸载台，该载台可以实现拉伸、压缩和扭转测试，能够施加高达20kN的力，专为同步加速器和X射线显微成像系统设计的，该大学将开放式原位拉伸载台与其Pinnacle型号PXS-500/90 CT系统集成在一起，并已经计划在新的开放框架系统上运行一系列原位载荷测试。CT5000原位载台系统在均质材料研究中的应用Fredrik Forsberg博士是瑞典吕勒奥理工大学工程科学与数学系的副高级讲师，他在X射线显微成像实验室的研究目标是开发新的方法和新的分析工具来帮助更好地了解异质材料以及它们在不同环境和不同空间尺度下的物理行为。Forsberg博士描述了他最近使用这种实验装置的一个项目：“我们非常自豪的分享最近的一项对微尺度雪晶体的3D定量原位成像研究，以及它们对压缩载荷测试的反应。这项研究相当具有挑战性，需要大量的仔细规划，但目前实验结果非常好。如果没有Deben公司CT5000TEC原位载台系统，这些测量将很难实现，因为它们需要精确、同时控制机械负载和温度（冷冻能力）。以前，我们主要使用自己构建的测试载台，但是这些都没有温度控制，同时使用Deben原位载台系统的另一个巨大好处是非常方便使用不同载荷传感器，这些载荷传感器可以根据材料强度和应用需求进行选择。此外，该软件界面易于使用，并得到蔡司Scout and Scan软件的支持，该软件用于控制型号为Versa的X射线显微镜。”

产品介绍Videometer Mic是一款新型、功能强大且性价比较高的将显测量技术与多光谱技术结合的成像测量系统。通过控制系统就可进行高分辨率显微多光谱成像。基础模块包括标配10个散射波段，波长范围为280-1050nm。可固定摄像头或移动摄像头。Videometer Mic显微多光谱成像系统是一款自动多光谱显微成像系统，集成了多光谱相机传感器，安装在xyz平台上，可实现达30mmX30mm的样品自聚焦和扫描，可以测量较小的样品，比如拟南芥种子等小植株、用多孔板培养的植物、多孔板里的叶圆片、以及植物的种子等，分析软件功能强大。Videometer Mic显微多光谱测量系统通过测量样品在10种不同波长的LED频闪光下的成像来获取有用的信息。这些图像可以独立分析使用，也可以叠加起来合成高分辨率的彩色图像。Videometer备选模块包括滤波轮，用于荧光相关研究测量。Videometer Mic也可用于食品样品成像分析测量领域如海鲜品质评估、肉类品质评估、肌肉、脂肪和肉色测量、肌肉和脂肪分布、果品和蔬菜品质检测、琼脂平板菌落计数、质构分析、颗粒涂层分析、孔隙结构分析等；可专用于寄生虫检测。Videometer已经有成熟的针对颗粒例如种子的研究方案，这些形态、表型成像技术，完全可在显微镜下使用，尤其是显微镜下的多光谱特征，是一个全新的探索领域，例如多光谱显微分析法还可用于植物组织、颗粒研究，如小麦、水稻。产品特点5-10秒钟内实现光谱成像和定量分析10种不同波长/光源1.4百万像素图片标准设备包括使用设备校准与传统RGB技术相比具有先进的彩色测量功能根据应用需求可自动切换动态范围光源寿命长、可达10万小时少有LED光源技术稳定性增强研究用强大探索软件易用常规应用配方构建模型（建模）多光谱荧光备选应用领域肌肉、脂肪和肉色测量菌落鉴别寄生虫分析海鲜品质评估肌肉和脂肪分布植物病害肉类品质评估果品和蔬菜品质检测质构分析孔隙结构分析测量参数细微尺寸细微形状细微颜色细微形态纹理光谱质构与细微表面化学相关的光谱成分计数应用案例水稻雄性不育是水稻杂种优势利用的基础。长期以来，显微镜下的细胞学证据是判别水稻雄性不育系花粉细胞败育程度和区分不同雄性不育细胞质的较主要依据之一。法碘化钾染色是较简单的方之一。该方法是基于水稻在花粉发育过程中，正常发育的花粉积累大量淀粉，能被碘—碘化钾染色且着色深而均匀；败育花粉不能正常积累淀粉、不能被染色或染色较浅。但是，在发育过程中有些水稻雄性不育系的花粉也能积累少量淀粉。花粉败育过程中的复杂性，降低了碘—碘化钾染色法鉴别水稻花粉育性的可靠性，有时其结果很可能反映不出花粉生活力的真实情况。另外也有用醋酸洋红等其它染色方法进行的各种研究报道。这些传统的常规方法存在植物雄性不育是水稻等农作物利用杂种优势的理论基础。在农作物遗传育种的研究领域中，一个基础性的研究课题就与水稻的雄性不育的有关。研究可利用Videometer Mic多光谱显微成像系统，比较观察水稻花药发育的全过程以及两水稻不育系花粉败育的不同特征。技术参数标准：5-10秒钟内实现光谱成像和定量分析光源寿命长：可达10万小时光源：具有10个高功率LED 灯源，波段范围从280 nm-1050 nm图像尺寸： 图1.4M 分辨率：1~5 μm /像素 样品尺寸：3 x 3cm分析时间：每个样品5-10秒室温：操作: 5 - 40℃，储存；-5 – 50℃环境湿度：20-90 % RH相对湿度，非冷凝电源：100-240V AC，50/60HZPC 要求：较低配置: Intel i7或较高，16GB RAM，USB2端口，USB3高速端口，千兆以太网软件：Microsoft Windows 7 Professional, 64 bit, 全新windows版本硬件备选：滤波轮（用于荧光）可选软件：图像处理工具盒（IPT）、光谱成像工具盒（MSI）、斑点工具盒

扫描型近接场光学显微分光系统NFS series▼概要日本分光株式会社生产的可以分光测定的扫描型接近场光学显微镜NFS系列，世界一流。这台装置能10-100nm左右的空间分解力进行显微分光测量。能在微小的领域观测光谱强度变化以及波峰变换可更好的对物质特性描述。◆特征?世界第一台一体化扫描型近接场光学分光显微镜?数十～百nm高空间分辨率测量显微分光。?使用日本分光制的探头可准确使用特定大小的近接场光。?可同时测量样品表面微小的凹凸形状。和原子力显微镜（AFM）类似的用法。? illumination（透过）、collection、 illumination－collection测量方式。◆近接場光学显微分光装置对于微小领域的表征方法有利用电子线的电子显微镜形态观察、 X线微分析仪，扫描型探头电镜表面形状观察。这些分析方法可以得到高空间分辨率的画像、但是得不到样品表面的化学信息。另外，虽然、显微FT/IR分光、显微光激发光分光、显微拉曼光等可以得到表面化学信息，但是因为空间分辨率有限度、所得到的信息也停留在微米量级。原因是光的衍射是有限度的不能超过使用波长范围。◆新开发光纤制作技术NFS系列光纤前端约为数十～百nm开口的探头用于近接场光产生或者近接场光集光。日本分光的开口技术以神奈川科学技术科学院（KAST）的研究成果基础上开发的、特定尺寸的开口，再现性好。开口的尺寸用电子显微镜高度的控制。◆NFS series产品种类丰富主要有以下种类。重点介绍近接场显微红外分光系统。别的型号详细请咨询。?室温型／低温型　近接场光照射装置（NFS-220/320）?室温型／低温型近接场用扫描装置（NFS-210/310）?室温型／低温型　近接场蛍光／光激发光分光装置（NFS-230/330）?近接场显微镜近红外分光装置（NFS-220FT/320FT）?近接场显微红外分光装置（NFIR-200/250）?近接场纳米碳素管评价装置（NFS-230C/330C、特殊定制）?近接场时间分解分光装置（NFS-230TR/330TR、特殊定制）◆NFIR-200/250　近接场显微红外分光系统 近接场显微红外分光装置红外分光法代表的振动分光法、不论有机?无机应用于各种分析领域。但是，现有的红外显微分光系统空间分辨率受光的衍射现象的影响，限度为10μm左右。近接场分光法、可以超过这个衍射限度、可见光区域应用于从亚微细米到纳米规模的光分析，红外区域由于光纤探头吸收的原因不能进行分光分析。红外领域通过采用漫反射型近接场光学系统、实现了从近红外到中红外领域的亚微细米空间分辨率的分光测量。通过照射到探头前端的红外光产生红外近接场光、检测近接场光和样品共鸣漫反射结果信号、测量红外近接场光谱。空间分辨率不受红外波长影响、由探头前端产生近接场光的实际尺寸决定、大约探头前端径大小。因此，红外分广发可用于亚微细米以下领域测量。▼特征和系统略图?漫反射型近接场光学装置可除去光纤探头吸收的影响。?环保配置。?NFIR-250的FT部装有大型测量用的样品室，可对应一般的红外测量。 ▼NFIR-200/250规格机种NFIR-200/250测量方式杂散光测量方式、光学调整方式、探头位置调整方式检测器设置数量：最大２种标准检测器：液体氮气冷却MCT检测器选项检测器：液体氮气冷却InSb检测器切换方式：电动样品台范围竖×横20×20μm、高16μm傅里叶变换型分光系统测量波长范围：4000～1000 cm-1 (MCT使用时） 5000～2000 cm-1 (InSb使用时)分辨率：400px-1干渉計：45°入射迈克尔逊干渉计分速器：Ge/KBr微型样品室装备（NFIR-250）控制用PCOS：Windows XP、通信：16bit AD/DA板、软件反馈信号显示器及映射测量软件 3次元表示软件、探头观察用CCD画像表示软件映射解析软件、光谱解析软件尺寸?重量W1000 x D900 x H1300 mm、280kg（NFIR-200、含防振台） W1600 x D750 x H1300 mm、300kg（NFIR-250、含防振台）电源AC100V±10% 250VA（本体）、150VA（FT）、100VA（PC）其他必要的工具防振台用空气源：氮气或空气源　0.3～0.8MPa

XDS-600C倒置荧光显微分析系统一、仪器的主要用途介绍: 倒置荧光显微分析系统XDS-600C是由倒置显微镜和落射荧光系统、彩色数字摄像机组成。采用无放大率色差的无限远平场消色差荧光物镜和大视野目镜,光学系统成像清晰、明亮,视野广阔。符合人机工程学要求的机体设计，使您在操作过程中更加舒适与轻松。倒置显微镜还配有特长或超长工作距离聚光镜，同时配有相衬装置及特长工作距离平场相衬物镜，倒置显微镜具有在培养瓶或培养皿内进行显微观察的特点,可以观察不经染色的透明活体 落射荧光显微适用于荧光显微术。该仪器特别适用于对活体细胞和组织、流质、沉淀物等进行显微研究，是生物学，细胞学，肿瘤学，遗传学，免疫学等研究工作的理想仪器。可供科研、高校、医疗、防疫和农牧等部门使用。 本系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察荧光图像，从而对荧光图像进行分析，打印出分析结果。二、倒置荧光显微分析系统主要特点：1.采用优良的无限远光学系统，提供卓越的光学性能，设计紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜的防震要求。2.可旋转摆入摆出式聚光镜筒，可对高培养皿或圆筒状培养瓶进行细胞培养观察3.载物台配置高品质透明载物台板，使物镜转换可视化，可排除以往物镜转换不可识别的烦恼4.无齿条式机械载物台，采用同轴高强度挠性钢丝传动，载物台移动更平稳，移至极限位置时有自动保护功能，使载物台精度得到保证，配置三种不同规格的培养皿托板5.后置式摄影设计，使摄像系统拍摄图像时不再干扰目镜观察三、仪器的主要参数:名 称参数规格光学系统无限远光学系统目镜筒铰链式双目镜筒(倾斜45&ring ,可100%通光摄影)；瞳距调节范53mm~75mm目镜大视野目镜 10X(φ22mm) ,带目镜保护圈。对中望远镜物镜转换器六孔物镜转换器(滚珠内定位)无限远长工作距离平场消色差物镜物镜类型物镜倍率数值孔径工作距离mm盖玻片厚度（mm）无限远物镜10X0．258.31.220X0．408.01.240X0．653.51.2无限远相衬物镜(PHP2）10X0．258.31.220X0．408.01.240X0．653.51.2聚光镜聚光镜 特长工作距离聚光镜（带转盘式相衬装置）：工作距离 55mm聚光镜升降可调，旋转摆入摆出式聚光镜，提供更高的工作距离载物台可拆卸式载物台，尺寸227mmX208mm,移动范围:横向114mm，纵向：77mm培养皿托板①长129.5mm 宽86mm培养皿托板，适合放置直径87.5mm圆形培养皿 ②长77.5mm 宽34mm培养皿托板，适合放置直径68.5mm圆形培养皿 ③长82mm 宽57mm方形培养皿托板；④透明玻璃载物板，尺寸：直径118mm调焦机构带限位和调节松紧装置的同轴粗微动调焦系统，微动手轮格值为 0.002 mm防霉内置防霉片透射照明系统转盘式相衬聚光镜，工作距离55mm6V30W卤素灯，亮度可调 落射荧光照明 系统荧光电源箱：100W宽电压恒功率荧光控制箱,带计时器.,荧光遮光板落射荧光光源 100W 超高压直流汞灯，汞灯位置可调灯箱荧光激发滤色片组: 紫外光UV , 激发波长 320~380 nm,发射波长435nm；紫光V, 激发波长 380~415 nm， 发射波长475nm； 蓝光B, 激发波长 450~490 nm，发射波长515nm；绿光G，激发波长 495~555 nm，发射波长595nm；防霉内置防霉片荧光专用摄像机CKS500TCKS500T荧光专用摄像机，1X摄影接口，标准C接口；采用索尼CMOS芯片，灵敏度可以与CCD芯片为同一量级，图像色彩还原度大大提高。最高分辨率：2448X2048， 芯片尺寸：2/3"，USB3.0连接,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CKS500T摄像机介绍）。显微软件专业图像处理及拍摄软件，实时图像拼接及实时景深熔合，可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观，可在图像上添加文字、放置比例尺，是显微图像测量与分析的有效工具。六、仪器装箱单：序号名 称数 量单 位附 注1倒置显微镜主机1台XDS-600C2双目镜筒1套310X目镜1对4无限远平场物镜10X、20X、40X 各1个5对中目镜1个 6无限远平场物镜10X、20X、40X各1个相衬物镜7载物板1组8圆玻璃载物板1块9滤色片2片蓝、磨砂10带相衬聚光镜1个11荧光激发块2块B/G/V/UV12汞灯控制器1个13汞灯灯箱1个14汞灯灯泡1支100W15卤素灯灯泡1个6V30W16电源线2根17螺丝刀1把18荧光专用摄像机CKS500T1个19摄像机接口1个20USB3.0数据传输线1根21防尘罩1个22产品保修卡1份23出厂合格证1份24使用说明书1份

XDS-600C倒置荧光显微分析系统一、仪器的主要用途介绍: 倒置荧光显微分析系统XDS-600C是由倒置显微镜和落射荧光系统、彩色数字摄像机组成。采用无放大率色差的无限远平场消色差荧光物镜和大视野目镜,光学系统成像清晰、明亮,视野广阔。符合人机工程学要求的机体设计，使您在操作过程中更加舒适与轻松。倒置显微镜还配有特长或超长工作距离聚光镜，同时配有相衬装置及特长工作距离平场相衬物镜，倒置显微镜具有在培养瓶或培养皿内进行显微观察的特点,可以观察不经染色的透明活体 荧光系统采用LED荧光激发模组，光源与滤色片组采用联动式设计，使不同滤色片组之间切换更快捷、安全、有效。 该仪器特别适用于对活体细胞和组织、流质、沉淀物等进行显微研究，是生物学，细胞学，肿瘤学，遗传学，免疫学等研究工作的理想仪器。可供科研、高校、医疗、防疫和农牧等部门使用。二、倒置荧光显微分析系统主要特点：1.采用优良的无限远光学系统，提供卓越的光学性能，设计紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微镜的防震要求。2.可旋转摆入摆出式聚光镜筒，可对高培养皿或圆筒状培养瓶进行细胞培养观察3.荧光系统采用LED荧光激发模组，光源与滤色片组采用联动式设计，使不同滤色片组之间切换更快捷、安全、有效。 4.无齿条式机械载物台，采用同轴高强度挠性钢丝传动，载物台移动更平稳，移至极限位置时有自动保护功能，使载物台精度得到保证，配置三种不同规格的培养皿托板。5.后置式摄影设计，使摄像系统拍摄图像时不再干扰目镜观察。标配荧光专用相机。三、仪器的主要参数:名 称参数规格光学系统无限远光学系统目镜筒铰链式双目镜筒(倾斜45&ring ,可100%通光摄影)；瞳距调节范53mm~75mm目镜大视野目镜 10X(φ22mm) ,带目镜保护圈。对中望远镜物镜转换器五孔物镜转换器(滚珠内定位)无限远长工作距离平场消色差物镜物镜类型物镜倍率数值孔径工作距离mm盖玻片厚度（mm）无限远物镜10X0．258.31.220X0．408.01.240X0．653.51.2无限远相衬物镜(PHP2）10X0．258.31.220X0．408.01.240X0．653.51.2聚光镜聚光镜 特长工作距离聚光镜（带转盘式相衬装置）：工作距离 55mm聚光镜升降可调，旋转摆入摆出式聚光镜，提供更高的工作距离载物台可拆卸式载物台，尺寸227mmX208mm,移动范围:横向114mm，纵向：77mm培养皿托板①长129.5mm 宽86mm培养皿托板，适合放置直径87.5mm圆形培养皿 ②长77.5mm 宽34mm培养皿托板，适合放置直径68.5mm圆形培养皿 ③长82mm 宽57mm方形培养皿托板；④透明玻璃载物板，尺寸：直径118mm调焦机构带限位和调节松紧装置的同轴粗微动调焦系统，微动手轮格值为 0.002 mm防霉内置防霉片透射照明系统转盘式相衬聚光镜，工作距离55mm5W高亮度LED照明，亮度及色温连续可调落射荧光照明 系统5W高亮度LED高锐高截至荧光滤色片组 DAPI（标配） , 激发波长 365/35nm,发射波长450/65nm；FITC（标配）, 激发波长 475/40nm， 发射波长535/45nm； TRITC（标配）, 激发波长 525/45 nm，发射波长595/60nm；TEXASRED（选配），激发波长 560/55 nm，发射波长645/75nm；CY5（选配），激发波长 607/75 nm，发射波长695/55nm； 防霉内置防霉片荧光专用摄像机CKS500TCKS500T荧光专用摄像机，1X摄影接口，标准C接口；采用索尼CMOS芯片，灵敏度可以与CCD芯片为同一量级，图像色彩还原度大大提高。最高分辨率：2448X2048， 芯片尺寸：2/3"，USB3.0连接,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CKS500T摄像机介绍）。显微软件专业图像处理及拍摄软件，实时图像拼接及实时景深熔合，可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观，可在图像上添加文字、放置比例尺，是显微图像测量与分析的有效工具。四、仪器装箱单：序号名 称数 量单 位附 注1倒置显微镜XDS-600主机1台无限远光学系统2双目镜筒1套310X目镜1对4无限远平场物镜10X、20X、40X 各1个5对中目镜1个 6无限远平场物镜10X、20X、40X各1个相衬物镜7载物板1组8圆玻璃载物板1块9滤色片2片蓝、磨砂10带相衬聚光镜1个11荧光激发块3组12透射灯箱1组5WLED13落射灯箱1组5WLED14电源线2根15螺丝刀1把16荧光专用摄像机CKS500T1个17摄像机接口1个18USB3.0数据传输线1根19U盘1个20防尘罩1个21产品保修卡1份22出厂合格证1份23使用说明书1份

正置荧光显微分析系统DFM-66C一、 荧光显微分析系统主要用途和特点： 荧光显微分析系统DFM-66C是由落射荧光显微镜、彩色数字摄像机组成。 DFM-66系列荧光显微镜是一种多用途光学仪器，采用无放大率色差的无限远平场消色差荧光物镜和大视野目镜,光学系统成像清晰,视野广阔。激发光源采用大功率高亮度单色LED模块组，透射光源采用大功率高亮度白光LED模块，照明亮度可调，照明装置功耗小，使用寿命长，具有安全、舒适等操作性能。是生命科学领域研究、疾病预防与免疫检测的理想仪器，可供科研、高校、医疗和疾控防疫等部门使用。本系统是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的数码成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。可以在计算机上很方便地观察荧光图像，从而对荧光图谱进行分分析，评级等对图片进行输出、打印。☆ 观察系统 铰链式观察筒：双目观察筒，单视度可调，镜筒30°倾斜，舒适美观。三目观察筒，可连接摄影、摄像装置。目镜：WF10X大视野平场目镜，视场范围Ф20mm，提供了宽阔平坦的观察空间。☆ 落射荧光照明系统 本仪器的光源采用不同波段的LED灯。分为蓝（B）、绿(G)或紫(V)、紫外（UV）两种波段，采用转盘式转换，要根据所选择的荧光激发滤色片组的类型，选择相匹配的LED光源。☆ 透射照明系统 阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降，3W 高亮白光LED，亮度可调，集光器适应于LED照明（内置视场光栏）☆ 功能扩展通过配置相衬观察附件、摄像观察附件，可以扩展多种观察方式，以满足不同研究工作的需要。二、仪器主要技术参数：名 称参数规格光学系统无限远色差校正光学系统观察筒转轴式三目观察筒，倾斜30度，100%通光摄影；瞳距调节范围：53-75mm，适度可调。目镜大视野目镜WF10X (Ф20mm)带目镜保护圈物镜转换器五孔物镜转换器，滚珠内定位内弯式无限远平场消色差物镜PL 4X/0.10PL 10X/0.25PL 100X/1.25（弹簧，油）无限远平场消色差荧光物镜PL FL20X/0.65（选购）PL FL40X/0.85（弹簧）调焦机构粗微动同轴调焦机构，带锁紧、限位装置，微动格值：0.002mm载物台双层机械式载物台，平台尺寸210X140mm，移动范围：50X75mm落射荧光照明系统荧光挡板5W高亮单色LED转盘式荧光激发组滤色片组，LED发光波长为：紫外光(UV）320nm~380nm, 发射波长435nm；（选购）紫光（V））380nm~415nm，发射波长：475nm（选购）蓝光（B）410nm~490nm，发射波长：515nm绿光(G）475nm~550nm，发射波长：595nm透射照明系统阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降蓝滤色片和磨砂玻璃 集光器，LED照明适用(内置视场光栏)3W 高亮度LED,亮度可调电脑摄像系统CK-500CK-500彩色摄像机: 最高分辨率：2560×1920，功耗小，连接简单：USB接口 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集,图像大小可调,增益调节,曝光时间调整,增益调。显微软件可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观。是显微图像测量与分析的有效工具。节,亮度调节等。可在图像上添加文字、放置比例尺等。 三、仪器装箱单：序号名 称数 量单 位附 注1正置荧光显微镜主机1台DFM-66C2三目镜座1套3大视野目镜10X1对4无限远平场消色差物镜4X、10X、100X（oil）各1个5荧光物镜FL40X1个6透射LED光源1组已装入主机7落射照明器（带四组激发组）1套B/G8荧光灯箱1组9插板式滤色片1块磨砂10荧光挡光板1块11 遮光板1片12电源线1根13香柏油1瓶14防尘罩1个15内六角扳手2个16彩色数字摄像机CK-5001个17摄像机接口1个18USB数据传输线1根19 软件光盘1张20产品保修卡1份21出厂合格证1份22使用说明书1份

MMAS-19微分干涉相衬金相显微镜测量分析系统适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。MMAS-19系统配备了研润自主研发的MMAS测量分析系统以及MOS高端光学系统。一、技术特点：1、观察系统：大三通光学系统，30度倾斜，自由切换目视观察与电脑摄像，可100%进行透光摄影。大视野平场广角目镜，视场范围直径22mm。2、机械载物台：双层机械式载物台，尺寸210*140mm；移动范围63*50mm。3、落射照明系统：12V，50W卤素灯，亮度可调。良好的散热性设计。4、微分干涉相衬观察系统：微分干涉组件与适配的物镜校正好干涉平面高度。干涉色的变化可通过精密丝杆的旋转调节而变化。5、透射照明系统：内置12V30W卤素灯照明装置，集光镜中内置视场光栏。5、选配件：5.1分化目镜：10X（直径22mm），格值0.1mm/格；5.2无限远长距物镜：PLL50X/0.7（工作距离3.68）、PLL60X/0.7（工作距离2.08）、PLL80X/0.8（工作距离1.25）、PLL100X/0.85（干式、工作距离0.4）；5.3转换器：四孔5.4适配镜：0.5X、1X、0.5带0.1mm/格分化尺；5.5数码摄像机；5.6黄、绿滤色片；二、技术参数：目镜大视野 SWF10X(Φ22mm)物镜（长距）无限远平场消色差物镜LMPlan5X/0.12DIC，工作距离：15mm无限远平场消色差物镜LMPlan10X/0.3DIC，工作距离：10.5mm无限远平场消色差物镜LMPlan20X/0.40DIC，工作距离：4.5mm无限远平场消色差物镜PL L40X/0.60，工作距离：3.98mm放大倍数50~400X目镜筒倾斜30度,三目镜，双目镜组落射照明系统12V50W卤素灯,亮度和灯泡位置可调内置视场光栏、孔径光栏、黄绿蓝滤色片和磨砂玻璃转换装置，推拉式检偏器与起偏器透射照明系统12V30W卤素灯,亮度可调，蓝滤色片和磨砂玻璃阿贝聚光镜NA1.25可上下升降，集光镜中内置视场光栏干涉观察系统适用于LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,粗动松紧可调，带锁紧和限位装置转换器五孔(内向式滚珠内定位)；载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:63mmX50mm)外形尺寸455*545*280配备系统主机+MMAS数据处理系统1套+MOS光学系统一套+电脑一套三、性能特点：1、采用优良的无限远光学系统，可提供出色的光学性能。2、紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。3、符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。4、内置式可切换偏光观察装置，起偏器可360°旋转。5、微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。软件功能:MMAS金相显微测量分析系统的核心功能是根据金相图像进行级别评定。目前以具备400多个按国家及行业标准制作的专业功能模块。MMAS金相显微测量分析系统具备数十种图像处理功能、同时具备报告处理、几何测量、定倍打印、图像拼接等多种辅助功能。MMAS金相显微测量分析系统还可以定制图像共聚焦、三维光图等专业功能。MMAS金相显微测量分析系统是为从事金相检验的单位或个人专门开发的一套计算机软件系统，它的基本原理是：用视频采集卡或数码相机等硬件设备，采集到金相显微镜中的金相图片，再对该图片进行处理和分析，得到相关检验结果。1.自动评级：本软件以检验标准为依据，开发出了近百余个类别两百余种软件功能模块，用户可根据需要，选择检验项目，在本软件的帮助下，完成检验工作。2.新建报告：可按用户需求制作报告文档的录入界面、软件可自动生成电子报告文档，并提供报告的保存和打印功能。3.打开报告：打开并浏览已经保存的报告文件。4.几何测量：本软件提供了“直线”、“矩形”、“圆”、“多边形”、“角度”等多种测量工具及测量方法，可完成长度、面积、角度等测量工作。5.查看图库：用户可选择查看本软件收录的所有金相图谱，本软件金相图谱由用户提供原始资料，由我方录入。6.定倍打印：可一次装入多副图片，并可对其进行图像处理，设置说明文字和打印版面，进而生成一份适合各种行业特殊要求的报告文件。7.图像拼接：将采集到的不同视场图像拼接成一幅完整的图像。7.图像共聚焦：该功能模块的作用是：将拍摄对象相同、但焦距不同的几张照片，重合成一张清晰的照片。界面及重合效果.8.三维光图：

日本电子JEOL场发射电子探针显微分析仪 JXA-iHP200FJXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。该仪器能更加有效地进行观察分析和操作，是更先进的一体化集成FE-EPMA。 产品规格：检测元素范围：WDS: Be＊1 / B to U, EDS: Be to U检测X-ray 范围：波长范围WDS: 0.087 to 9.3 nm能量范围EDS: 20 keV谱仪数：WDS: 最多5个可选, EDS: 1个最大样品尺寸：100 mm × 100 mm × 50 mm (H)加速电压：1 to 30 kV (0.1 kV steps)探针电流范围：1 pA to 3 μA探针电流稳定性：± 0.3％ / h, ± 1.0％ /12 h＊2二次电子像分辨率（观察模式）：2.5 nm二次电子像分辨率（分析模式下）： 20 nm（ 10 kV, 10 nA） 50 nm（ 10 kV, 100 nA）扫描放大倍率：×40 to 300,000 (W.D. 11 mm)扫描图像分辨率：Maxium 5,120 × 3,840产品特点：电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域，作为研究开发和品质保证的分析工具被广泛使用，其用途越来越广。此外，在学术领域 ，地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用，矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等，期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作，是更先进的一体化集成场发射EPMA。* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称◇ [Setting] 自动定位，准确安装样品台！迅速找到想观察的点！进样和获取样品台导航像一键完成。从导航像能够指定分析区域。◇ [Analysis] 充分的自动功能，谁都可以拍到高级的SEM像繁琐的设定也能对应，EPMA立马进行元素分析光学显微镜的自动聚焦功能与配备高精度/高速化新系统的SEM自动功能相结合，任谁都可以拍到高级的SEM像。【live Analysis】通过【live Analysis】能够在观察中进行筛选分析。初学者也能操作的【简单的EPMA】。用【EPMA-XRF integration】在XRF数据的基础上能够进行EPMA的条件设定。用【WD/ED integration】能够缩短分析时间。SEM、EDS、XRF、WDS、光学像的集成一体化提高了仪器的操作性能。 通过WD/ED integration，分析时间缩短的例子integration：用这些仪器推定的元素在一体化EPMA上可以一键设定分光晶体的组合◇ [Self Maintenance] 内置18种类校正样品，有效进行校正配置【分光器校正功能】减轻了定期进行分光器校正的作业而且也避免了校正样品设定时的人为失误；利用夜间对仪器进行校正，提高了工作效率。按照【维护通知功能】，在必要时期对仪器进行自我维护，保持设备最佳状态。 维护通知功能【客户支持工具】◇ 标配场发射电子枪能够在高倍率下获得高空间分辨率的SEM像和分析结果。在大电流下保持长时间稳定的热电子枪在短时间内分析微量元素的时候、整夜运行分析大量样品的时候显示出它的威力。

alpha300 RS – 原位关联的拉曼和扫描近场光学图像 对于拥有挑战性实验要求的用户来说，alpha300 RS将共聚焦拉曼图像及突破光学衍射极限的扫描近场光学显微镜结合在一起。Alpha 300RS在一台设备上继承了所有的Alpha 300R显微拉曼功能，Alpha 300S扫描近场光学显微镜功能和许多AFM操作模式。 Alpha 300S扫描近场光学显微镜主要特点l 所有alpha300 R (拉曼) 和alpha300 S (近场) 的性能集成到一个显微镜系统内l 优异的原位化学组分分析（拉曼）和超高分辨率表面成像（近场）的结合l 只需要转动物镜转盘即可在两种技术间轻松切换l 两种测量间无需移动样品 Alpha 300S扫描近场光学显微镜应用实例 剥离石墨烯的表面拓扑结构VS拉曼图像左图：表面拓扑结构及沿蓝线的轮廓曲线右图：石墨烯G峰沿红线的强度变化曲线 Alpha 300S扫描近场光学显微镜性能通用拉曼操作模式l 拉曼光谱成像：连续扫描的拉曼高光谱全谱成像，每个样品点都能获得完整的拉曼光谱l 平面2D和包含深度Z方向的3D成像模式l 快速和慢速时间序列l 单点及Z方向深度扫描l 光纤耦合的UHTS 系列光谱仪，专为弱光应用的拉曼光谱设计l 共聚焦荧光显微镜功能l 明场显微镜功能 近场显微镜操作模式l 扫描近场光学显微镜模式：底部激发顶部收集（远场激发近场收集）模式，顶部激发底部收集（近场激发远场收集）模式，探针收集（近场激发近场收集）模式l 共聚焦(CM)模式：透射，反射，荧光（可选）l 近场-原子力联用：Alpha 300A的所有模式均可选l 固定底部透射照明l 全内反射照明模式（可选） 原子力显微镜操作模式l 接触模式l 横向力模式l 其他可选 各类拉曼升级选项（如true surface等）l 多种激光可选择l 多种光谱仪可选择l 自动共聚焦拉曼成像l 自动多区域多点测量l 可升级超快拉曼图像模式(需配置EMCCD和Piezo样品台，可获得每秒1300张光谱的速度)l 可升级落射荧光照明l 自动聚焦功能l 显微镜观察法可选，如暗场，像差，偏光，微分干涉等 超高通光量UHTS光谱仪l 各类透射式波长优化谱仪可选 (UV, VIS or NIR)，均为弱光拉曼光谱设计l 光纤耦合，70%超高光通量l 优异的成像质量，光谱峰形对称无像差 控制电脑WITec控制和数据采集，处理软件

皮肤镜多少钱一台？医用皮肤镜价格？医用CBS医用皮肤镜数码显微分析仪厂拿货价多少？国内专业医疗器械供应商-金鑫谷科技，可大量提供医用皮肤镜，皮肤镜，皮肤检测仪，皮肤显微镜，cbs数码显微分析仪等，售后服务体系完善，证件齐全，可授权招标，您来电可免费获得产品彩页小册子等资料。现在很多权威的医院皮肤美容科室和美容机构，都会购置一台医用皮肤镜，这是为什么呢?首先：促进业务转化，提升业绩1、促进医生与患者的沟通和信任；2、对治疗项目的媒介和引导；3、治疗效果的验证；第二：使用专业医用皮肤镜可以减少误判、规避风险 是寻常痣、还是恶性黑色素瘤？ 是红血丝局部病变还是非色素性基底细胞癌？ 是血痣、蜘蛛痣还是血管瘤？ 是日光性黑子还是恶性黑色素瘤？ 是普通的过敏还是慢性湿疹第三：数码显微分析仪对于常见色素斑的有效评估如雀斑、黄褐斑、咖啡斑、颧部褐青色痣等的有效甄别有助于在诊治中进行有针对性的诊治（不同性质的治疗方案）第四：美容项目的评估痤疮发炎情况、红血丝分布、瘢痕面积测量，毛孔的大小、皮肤油分含量、水分、色素含量，皮肤颜色变化、胶原蛋白纤维评估第五：面部常见损容性疾病的辅助诊断雀斑、日光性黑子、黄褐斑、咖啡斑；先天性痣、太田痣、颧部褐青色痣、恶性雀斑样痣；色素痣、 脂溢性角化、基地细胞癌等；血管瘤、扁平疣、日光性角化；其他：激素依赖性皮炎、白癜风、黑皮病等；CBS-908医用皮肤检测仪产品简介CBS-908医用皮肤镜是国内最先获得注册证的数字化皮肤检测仪，鄂械注准:20152222204，CBS-908医用皮肤镜采用偏振光技术，使用高清交叉偏振光技术对病患进行观察,有效地排除了皮肤表面反射光的干扰，可以观察到表皮、表皮真pi交界处和真浅皮层内的厚度变化、颜色发展变化等等。目前临床上运用的广泛、科学、严谨，并且经过国家食药监局检测通过的设备，以50X交叉偏振光技术为主要检测手段，皮肤各类疾病，以及大部分色素恶性瘤的诊断，都为以此技术拍摄的图片为诊断依据。目前CBS皮肤毛发镜，交叉偏振光可高达220X。皮肤镜组成：1. 数码显微分析仪组件2. CBS皮肤影像管理系统V1.03. 触摸电脑工作站4. 金属转向台车5. 彩色打印机更多产品信息，欢迎您致电咨

扫描隧道显微镜，YMP-6113 描述扫描隧道显微镜(STM)，使人类首次能够实时地观察单个原子在物质表面的排列状态和与表面电子行为有关的物化性质，并因此获1986年诺贝尔物理学奖。YMP-6113扫描隧道显微镜采用特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动，使仪器性能更加稳定可靠。特点特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动独特的USB视频显微监控系统，可实现微探针操作与进给过程的可视化高精度压电陶瓷扫描传感器，保证扫描图像的保真性强大的图形软件与功能，支持纳米级三维立体成像和截面线显示功能操作便捷、高速扫描、高稳定性与抗干扰能力黑体辐射实验装置，YMP-6115简介黑体是一种完全的温度辐射体，其辐射能力只与本身温度有关。YMP-6115黑体辐射实验装置使用稳压溴钨灯光源模拟黑体，通过改变电源电流，获得不同色温下的黑体辐射。利用近红外光栅光谱仪测量不同色温的黑体辐射曲线，从而验证维恩位移定律、普朗克定律和斯忒藩-玻尔兹曼定律。采用开放式的结构设计，学生可以直观的观看内部光路和结构组成，帮助学生理解和掌握实验原理。同时采用铟镓砷探测器，确保在800nm-2500nm光谱范围内具有较高的信噪比和灵敏度。特点模块设的设计，方便学生掌握设计原理和测量原理；设计使用了高品质铟镓砷探测器和高性能的电路系统，使整套实验装置具有很好的信噪比和灵敏度；智能化的软件设计，每个实验模块按照实验原理和流程引导式的操作，让学生将主要精力用于实验本身，而非学习软件操作。实验内容理解和掌握光栅光谱仪的基本原理以及建立传递函数的原理和方法，并为光栅光谱仪建立传递函数。理解、掌握和验证普朗克定律理解、掌握和验证验证斯特潘-玻尔兹曼定律理解、掌握和验证验证维恩位移定律测量一般光源的辐射能量曲线（拓展）光电效应实验装置，YMP-6104系列简介YMP-6104型光电效应实验以高压汞灯作为实验光源，利用汞灯5条特征谱线（365nm、405nm、436nm、546、577nm），经过干涉滤光片后变成单色光，然后通过选择不同的光阑（2mm、4mm、8mm）后，最后转化为一束固定光斑大小的窄带单色光。这束单色光照在光电管上，在光电管的阳极与阴极之间加载直流电压后产生光电流，然后经过微电流放大器对所产生的光电流进行检测放大。通过研究不同的光照波长，光阑孔径和光强三者之间的关系，从中验证爱因斯坦的光电效应理论。特点采用一体化左轮设计滤光片-光阑采用窄带干涉滤光镜片滤出真正的单色光采用光学导轨和光学滑座，保证光路的同轴性实验方式多种多样：手动记录、USB通信、蓝牙通信和WIFI通信实验内容测量光电管在不同频率的光照下的截止电压，通过截止电压与频率的关系计算得到普朗克常数h。通过改变不同滤光片、不同光阑、不同距离，来研究光电管的伏安特性。弗兰克赫兹实验装置，YMP-6102系列简介YMP-6102弗兰克-赫兹实验证明原子内部结构存在分立的定态能级，这个事实直接证明了原子具有玻尔所设想的那种“完全确定的、互相分立的能量状态”，是对玻尔的原子量子化模型的第一个决定性的证据。直接证明了原子发生跃变时吸收和发射的能量是分立的、不连续的，证明了原子能级的存在，从而证明了玻尔理论的正确。因而获得了1925年诺贝尔物理学奖。本实验装置通过含有氩原子的四级真空电子管在旁热式灯丝的加热下产生大量的电子云，电子云通过第一栅极的筛选，然后在加速级的加速下，与氩原子发生碰撞，进行了能量交换，并且激发氩原子的能级跃迁，剩余有较大能量的电子还能冲过第二栅极反向拒斥电压而达到板极形成板极电流，该电流被微电流放大器测量得到，从而获得电流与电压的变化曲线。特点使用氩气管，无需加热；波形数6个，使用寿命超过2000小时弗兰克=赫兹管的安装方式有多个版本可供选择，使得实验更加直观可视。实验方式多种多样：手动记录、传感器采样、USB通信、蓝牙通信和WIFI通信。可升级为数字化实验实验内容记录氩原子的弗兰克-赫兹曲线计算普朗克常量h核磁共振实验装置，YMP-6105简介YMP-6105型核磁共振实验装置通过边限振荡器，将测试样品放在探测线圈中，样品和探测线圈都置于电磁场中。当边限振荡器的振荡频率接近样品的共振频率时，射频磁场能量被样品所吸收，边限振荡器停止振荡，振荡器的输出信号会突然降低，因此我们可以探测到核磁共振信号并且得到样品的g因子。特点强度可调的匀强电磁场实验共振信号清晰采用光学轨道结构，探头二维可调可拓展测量自备样品实验内容了解核磁共振的基本原理观察液体样品中氢核及固体样品中氟核共振现象利用扫场法核磁共振实验计算氢核和氟核的g因子更多精彩内容，请关注下方！

X射线显微分析仪（μXRF）XGT-9000应对外来物质分析和元素分布检测的解决方案。运用强大的“快速分析模式”和“细节分析模式”，对外来物质分析，XGT-9000作为单一一台仪器即能迅速完成筛查和形状确认。 1外来物质分析的新生解决方案快速扫描结合图像处理的颗粒增强技术让外来物质分析非常容易。快速分析模式能够迅速筛查外来物质，细节分析模式进一步确认外来物质的形状。2快速、清晰、生动的元素分布成像检测时间的缩短和低背景元素分布分析成像大幅减少的总的分析时间3光学观察系统和X射线束独特的同轴设计确实保证了精确的微区分析新设计的光学系统具备两种照明方式—环状照明和同轴照明。无论是镜面样品还是凸凹不平的样品，通过这两种照明方式都能进行清晰的观察。细节摄像机可以调整工作焦距，像印刷电路板这样具有很大高度差表面的样品也能清晰地观察。4多种分析模式丰富的图像处理手段能够帮助获得精确地元素分布信息。通过多重元素分布像的叠加可以轻松获得共存元素及多种元素的分布图像。5XGT-9000技术规格

产品详情JXA-iHP100 电子探针显微分析仪 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 产品规格：检测元素范围WDS：(Be)*1 /B～U, EDS：B～UX射线检测范围WDS检测的波长范围: 0.087～9.3nm,EDS EDS检测的能量范围: 20keV分光谱仪数量WDS: 1～5道可选、EDS: 1台最大样品尺寸100mm × 100mm × 50mm（H）加速电压0～30kV（以0.1 kV为步长）束流电流范围10-12 ～ 10-5 A束流电流稳定度5%/h, ±0.3%/12h（W）二次电子分辨率6nm（W）, 5nm（LaB6）*2（W.D. 11mm, 30kV）扫描倍率×40 ～ ×300,000（W. D. 11mm）扫描图像分辨率最大 5,120× 3,840彩色显示器EPMA分析用: LCD 1,280 × 1,024SEM操作、 EDS分析用: LCD 1,280 × 1,024光学显微镜分辨率～1um焦深1um真空系统机械泵、分子泵、离子泵 *2真空度样品室: 优于8.0 x 10-4Pa,电子枪: 优于9.0 x 10-5Pa 产品特点： 可以安装通用性强、使用方便的能谱仪X射线探测器，组合使用WDS和EDS，能提供无缝、舒适的分析环境。 日本电子新开发出的EPMA （电子探针）秉承近半个世纪的EPMA的发展历史，JXA-iHP100具备用户友好的操作、通过新式简单易用的PC 用户界面提供完整范围的高精度、快速分析，这是JEOL长年来对高可靠性硬件不断改良的结果。JXA-iHP100电子探针是下一代能完全满足多种需求的强力分析工具之一。 EPMA快速启动 点击任何一点，就能开始预设的EDS定性、定量分析或WDS分析。 用户菜单（User recipes） 能保存或调用经常使用的各种不同类型的样品分析条件，菜单中包括了全部的电子光学参数、EDS和WDS参数在内。 EDS 的性能 数字化脉冲处理器 全谱面分布(WD/ED, 样品台和电子束扫描) 无风扇SDD (选配)

产品描述灵活的探测，4步工作流程，高级的分析性能将高级的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。用于清晰成像的灵活探测利用先进探测术为您的需求定制 Sigma，表征所有样品。利用 in-lens 双探测器获取形貌和成份信息。利用新一代的二次探测器，获取高达50%的信号图像。在可变压力模式下利用 Sigma 创新的 C2D 和 可变压力探测器，在低真空环境下获取高达85%对比度的锐利的图像。自动化加速工作流程4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。使用工作流程的一步，将结果可视化。高级分析型显微镜将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。基于成熟的 Gemini 技术Gemini 镜头的设计结合考虑了电场与磁场对光学性能的影响，并将场对样品的影响降至更低。这使得即使对磁性样品成像也能获得出色的效果。Gemini in-lens 的探测确保了信号探测的效率，通过二次检测(SE)和背散射(BSE)元件同时减少成像时间。Gemini 电子束加速器技术确保了小的探测器尺寸和高的信噪比。用于清晰成像的灵活探测利用新的探测技术表征所有的样品。在高真空模式下利用创新的 ETSE 和 in-lens 探测器获取形貌和高分辨率的信息。在可变压力模式下利用可变压力二次电子和 C2D 探测器获取锐利的图像。利用 aSTEM 探测器生成高分率透射图像。利用 BSD 或者 YAG 探测器进行成份分析。配件SmartEDX为您带来一体化能谱分析解决方案如果单采用SEM成像技术无法全面了解部件或样品，研究人员就需要在SEM中采用能谱仪（EDS）来进行显微分析。通过针对低电压应用而优化的能谱解决方案，您可以获得元素化学成分的空间分布信息。得益于：优化了常规的显微分析应用，并且由于氮化硅窗口优的透过率，可以探测轻元素的低能X射线。工作流程引导的图形用户界面极大地改善了易用性，以及多用户环境中的重复性。完整的服务和系统支持，由蔡司工程师为您的安装、预防性维护及保修提供一站式服务。 拉曼成像与扫描电镜联用系统完全集成化的拉曼成像在您的数据中加入拉曼光谱及成像结果，获得材料更丰富的表征信息。通过扩展蔡司Sigma 300，使其具备共聚焦拉曼成像功能，您能够获得样品的化学指纹信息，从而指认其成分。识别分子和晶体结构信息可进行3D分析，在需要时可关联SEM图像、拉曼面扫描成像和EDS数据。完全集成RISE让您体验由先进的SEM和拉曼系统带来的优势。

SU-70电子显微镜是一种新概念扫描电子显微镜，它采用了日立经过实地验证的 "semi-in-lens"超高分辨率技术以及肖特基热场发射电子枪技术。除了具有超高分辨率（1.0 nm/15 kV，1.6 nm*/1 kV）的特点外，它还借助声名远播的SuperExB功能可观察减轻荷电图像，成分构成对比图像，超低加速电压图像*。肖特基场发射电子枪的探针电流为100 nA，可进行各种各样的分析操作（X 射线能谱仪*, X射线波谱仪*,电子背散射衍射系统*等）。

美国CRAIC 20/30 PV显微分光光度计，是CRAIC公司的新型号，集成了紫外－可见－近红外光谱仪、拉曼光谱仪、成像系统于一身，根据产品不同，可以做紫外-可见-近红外（200-2500nm）的光谱分析，还可以集成显微拉曼系统，同时科研级光谱仪和高分辨彩色数字成像系统都使用了新的显微镜光路系统及科研级光学接口。结合显微学和光谱学的优势，用于微小样品或样品的微小区域的光谱和色度分析，并通过对样品的反射、透射、荧光及偏振光谱、拉曼测量，完成微量物样分析。具有科研级高分辨探测器（CCD），半导体制冷探测器，增强稳定性；科研级光学接口，高分辨彩色成像系统。新的操作系统，应用软件使用简单，操作方便。 开创性20/30 PV系列显微微分光度计为全光谱显微谱学设立了新的标准。具有前沿科技水平的20/30 PV系列可在样品采样区域进行吸收、透射、反射、荧光以及拉曼等光谱数据采集和成像。光谱范围从紫外到近红外，具有自动化控制的光谱和图像分析软件，拥有自动化、简便性和长时间稳定性的特性。20/30 PV系列可应用的领域包括材料科学、工业显微观测、法医痕迹鉴证、生物样品分析测试等。 高灵敏度固体阵列探测器使用热电冷却，具有较高的信噪比和长时间稳定性。高分辨数字成像系统通过CCD收集深紫外和近红外照射后样品的高分辨彩色图像。完善而强大的软件功能不仅控制显微镜、光度计和数字成像，还能提供先进的分析处理能力，如薄膜厚度测量等。主要参数：光谱范围200-2500nm成像深紫外到近红外荧光光谱范围300-1000nm荧光激发250-546nm采样面积1-100um光谱分辨率1-15nm可调检测器CCD、InGaAs检测器制冷热电扫描时间（全光谱）4ms测量结果：1、透射光谱/成像 2、反射光谱/成像 3、荧光光谱/成像 4、磷光光谱/成像 5、偏振光谱/成像 6、拉曼光谱 7、膜厚测量、色度测量、折射率测量Apollo II 拉曼显微光谱激发源波长（nm）405、532、638、785、830带宽0.02nm可输出功率50-100mW光谱仪光谱范围50-3000cm-1光谱分辨率10cm-1采样区域1um（10X@785nm） 石墨烯样品拉曼显微光谱 主要特点l 稳定、可靠、高性能l 紫外-可见-红外 吸收、反射、荧光光谱及成像l 可集成1-3个激发源l 可升级共聚焦显微镜l 可选高空间分辨率拉曼光谱Mappingl 可选拉曼动态显微镜l 提供NIST可追溯样品

扫描电容显微镜（SCM）是一种表征材料纳米电学性质的原子力显微镜（AFM）成像技术，它使用微波射频（RF）信号来探测半导体和其它种类样品中的电荷，载流子的位置，掺杂水平和掺杂类型（p型和n型）等。全新快速扫描电容显微镜 SCM可以在牛津仪器的 Asylum Research 的快速扫描 Cypher 和 Jupiter XR AFM 平台上使用。牛津仪器Asylum Research SCM模式的独特之处在于，它不仅可以测量微分电容（dC/dV），还可以测量分辨率低至1aF的电容，而且是可以直接测量电容。与传统的SCM相比，它具有更高的分辨率和更快的扫描速度。更高的灵敏度允许探测金属和绝缘体，以及传统半导体器件以外的非线性材料——包括那些不形成自然氧化物层的材料。图1 静态随机存储 （SRAM） 样品。所有通道同时获得了29μm扫描区域：a：形貌；b：dC/dV振幅（与掺杂浓度成反比）；c：dC/dV相位（蓝色表示p型掺杂，红色表示n型掺杂）；d：电容（与掺杂浓度有线性关系）；电容，而不仅仅是dC/dV传统的SCM模式只能提供微分电容（dC/dV）数据，这大大限制了用户从测量数据中得出的结论。牛津仪器Asylum Research全新设计的SCM模式具有独特的能力，可以提供dC/dV和电容数据，因此可以获得更完整的材料表征。电容通道对掺杂水平提供线性响应，并检测电容的变化，分辨率可达1 aF。全新的SCM模式是一个强大的工具，可以用于材料的纳米电子特性描述。更快的成像牛津仪器Asylum Research全新的高带宽SCM电路允许以高达26 Hz的扫描频率采集高质量的dC/dV和电容数据。传统的SCM模式的带宽要低得多，并且在扫描速率为1 Hz时数据质量明显退化。全新的SCM模式在高达26Hz的扫描频率下几乎没有信息丢失。这种更快的成像改进了用户体验并大大提高了工作效率。不同扫描速度比较的SRAM样品。微分电容（dC/dV）振幅图像给出了相同的5μm区域内扫描率从1 Hz到26 Hz的结果。以最快的速度数据质量几乎保持不变，但是图像只需要1秒就可以获得，而传统的SCM需要5-10分钟。图2 微分电容（dC/dV）振幅图像更高的分辨率牛津仪器Asylum Research全新设计的SCM模式显示出更高的灵敏度，因此可以获得更高的分辨率的图像。以前被认为使用SCM模式由于信号弱难以图像的样品，现在可以常规地获得图像。右侧图中，采用全新的SCM模式对单壁碳纳米管（CNT）进行成像，横向分辨率约为25 nm。图3 绝缘基板上碳纳米管的电容数据与3D形貌叠加图样品是绝缘基板上的碳纳米管。电容数据叠加在3D形貌图上。图像范围2 μm。样品由Harvard Center for Nanoscale Systems的 B.Wilson和J.Tresback提供。二维材料研究SCM在表征二维材料独特物理和电子特性有着广泛的应用前景。右边的图像是沉积在硅上的CulnS，电容信号与剥离材料厚度的具有很高的相关性，因此利用SCM模式分辨二维材料层厚度具有良好的潜力。图4 CulnS沉积在硅上的电容数据和3D形貌叠加图样品CulnS沉积在硅上，电容数据叠加在在3D形貌图上，扫描范围20μm，样品由Northwestern的University M. Cheng和V. Dravid教授提供。电池材料研究能量存储是SCM可以提供重要信息的另一个研究领域。右图中给出了一个电池的测试电极，在电容通道中可以观察到明显的对比。单个晶粒和晶界处的电容信号的变化为了解电子传导提供了依据。这些数据可以与导电AFM和电学应变显微镜相关联，以进一步了解结构和功能特性。图5 测试电池的电极，扫描范围30μm。a：形貌图；b：电容图；技术指标

是一种多功能新型光学显微镜，采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。可拆装机械式载物台，采用同轴无齿轮、齿条传动系统，使传动更平稳与安全。旋转摆入摆出式聚光系统，配置透射式微分干涉相衬装置，以实现透射微分干涉相衬等显微观察功能，模块化设计使功能置换十分方便。本仪器适用于对透明组织的显微观察，应用于科研院所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门。总放大倍数50X~400X聚光镜工作距离55mm，数值孔径0.30目镜平视场大视野目镜；视场：Ф22mm；目镜接口Ф30mm载物台移动范围77mm（纵向）X134.5mm（横向），移动尺可拆卸双目镜铰链双目，观察角度为45度，瞳距为53～75毫米调焦机构粗微动同轴调节，微动手轮格植：0.002毫米物镜微分干涉相衬物镜；明视场物镜；相衬物镜培养皿托板适配圆形培养皿Ф 87.5mm；可适配圆形培养皿Ф 68.5mm；转换器五孔转换器光源5W 白光（色温5000～5500K）LED照明器，输入电压3.9～4.0V

视频影像和数据的同步采集是该仪器的亮点。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。超宽光谱显微分光光度计TIDAS MSP 400 TIDAS MSP 系统适用范围: - 在透射模式下可以测量光纤的紫外/可见光光谱-关于反射率（明/暗场）所有应用程序，偏振或荧光，取决于所选择的配置-获取时间小于1秒-通过J&M TidasVISION软件在线视频图像和光谱的同步采集-灵活可调的控光装置-灵活运用于法医学(MSP 400/800)，岩相学(MSP 200)，材料学和生物学(MSP 200/400)-光电倍增器或 CCD 探测器-可适应不同制造商的显微镜 概述 有机发光二极管（OLED）正在开发的下一代显示器和光源。TIDAS J&M MSP400/800显微分光光度计在OLED/TFT/LED研究领域中广泛，目的是衡量和比较的光谱输出，每个常用的OLED器件的微观像素的亮度和颜色的一致性。有机发光二极管（OLED）有一个发光的电致发光层，在支持矩阵有机分子组成。显示，这层是形成有序的行和列数以百万计的微观像素。由于不同的有机物是用来产生不同的颜色，与不同的有机化合物像素可以产生全彩色，高分辨率显示的不同颜色。 OLED显示单元，不像传统的液晶显示器（LCD），最大的优点是像素结合光源和颜色源。这意味着，OLED显示屏更轻更薄，比一个液晶显示屏，使用更少的电力。然而，强度和颜色的光发射器件上的一致性是至关重要的。这是TIDAS J&M MSP400/800分光光度计得到使用的关键。TIDAS J&M MSP400/800是一种附加在显微镜上的分光光度计。它允许用户获取的图像和微观样本地区迅速，并迅速获得的光谱。当添加到适当的显微镜或探针台，TIDAS J&M MSP400/800可以用来衡量一个OLED显示屏的每个像素的颜色和强度。像素可以进行比较的强度和色彩的一致性或地图，可为每个设备生成。如TIDAS J&M MSP400/800可以获取几毫秒的时间顺序上的光谱仪器，整个OLED显示器可以快速，准确地映射。这将确保色彩和整个装置的强度，以及从设备到设备的一致性。以及在平板显示器领域，用来检查红、绿、蓝点阵的薄膜厚度和杂质水平。同时TIDAS J&M MSP400/800在半导体工业领域，可以用来发现能发荧光的微小污染物，以及在硅片被切成芯片前测量硅衬底上薄膜的厚度。J&M 公司已在欧洲、美国、南非和亚洲安装了许多系统。 TIDAS MSP 400 使用J&M的TIDAS MSP 400你可测量在透射模式下光纤的VIS光谱和在反射模式下（明场和暗场）光纤与涂料的VIS光谱。光谱仪的波长范围是360 nm到780 nm。对于偏振实验，补偿的偏光板可嵌入到光纤束中。偏振光谱受限于光学显微镜，从450 nm 到 700 nm。在反射模式下，光谱范围为360 nm 到 780 nm。荧光测量和多套滤波器都是可用的（紫外光，蓝光和绿光激励是正常标准）。此外，快速扫描的单色光源（260 nm 到 680 nm）也是可用的。全光谱（240 nm 到 900 nm）通常可在小于1秒内获取。噪声和采集速度取决于所选择的领域，由灵活可调测量隔膜给出。使用40X物体时，最小光斑区域是2μm到2μm的。如果显微镜提供紫外光能力，MSP 400可升级到MSP 800。 软件和配件J&M的软件可方便仪器的控制。附加可用的软件包提供数据处理、文档编制、导出选项和存储的多种功能。您可以创建你自己的谱库为有效的库搜索。该仪器采用了CIE色彩评估体系，并能够产生互补的色度坐标值（CCC认证）。波长和光度计的精度可通过灰色或钬滤波器实现简易的检查，这作为配件。 与蔡司显微镜连接 汽车现代化的效果涂料摄影图片 样品图样应用- 在VIS 范围检验光纤- 在 VIS 范围分析微粒- 文件的谁- TFT显示器的质量控制- LED的分析视频成像在线视频影像和数据的同步采集是该仪器的亮点。可灵活调节的测量膜片标记你感兴趣的样本图像区域。 TIDAS MSP 200 适用于岩相学、材料学与生物学 TIDAS MSP 400 适用于法医学、材料学与生物学 TIDAS MSP 800 适用于法医学

激光扫描共聚焦成像模块 CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块的创新之处主要体现在两点： 1）与市场同类产品相比，CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块具有更简洁的光路设计。通过光路的重新设计优化，减少了光学元件的使用数量和信号传递的步骤。信号传递环节的减少，使荧光信号的损失降到ZD，进而提高了模块的检测灵敏度。简洁的光路同时提高了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本； 2）与市场同类产品相比，CSIM 110共聚焦扫描成像模块优化了信号的探测类型，获得更为高效的信号采集。自主开发的信号采集电路，重新设计了信号的探测频次和和方式，显著提升了信号增益，以更低的照明强度获得了更好的信噪比和动态范围。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块，是桑尼基于多年高速光学扫描振镜和激光打标系统的开发经验，全新自主研发的产品。用户可将其搭配在原有的倒置荧光显微镜上，即可方便、快速地把倒置荧光显微镜升级为激光扫描（单点）共聚焦显微镜，获取高质量的共聚焦图像。CSIM 100/110共聚焦扫描成像模块通用性好，适配各品牌显微镜使用标准C型接口，无需额外配件即可与显微镜连接，搭建单点扫描共聚焦成像系统。使用进口配件 保障成像质量配置高性能Semrock滤光片、Coherent长寿命固态激光器、滨松多碱PMT，获取高分辨率图像。可定制升级 加载各种功能模块如：CCD/SCOMS相机接口、电动Z轴扫描模块、DIC（微分干涉）模块、适用于活细胞成像的超高灵敏度探测器等。光路设计简洁用最少的光学元件实现共聚焦成像功能，既减少了荧光信号的损失，提高了模块的检测灵敏度，又增强了模块的稳定性和可靠性，降低了维护成本。信号采集稳定自主设计开发的信号采集电路，优化了信号增益，提高了图像的信噪比和动态范围。激光器直调 超长使用寿命使用COHERENT OBIS 固体或半导体激光器，通过外部调节激光器功率和开关，延长激光器使用寿命，有效降低售后成本。激光器稳定性好，8小时功率变化＜2%。即开即用，操作方便，可同时搭载4个激光器。高灵敏度PMT标配Hamamatsu新一代高性能多碱PMT，量子效率超过25%，相比国外前代共聚焦产品，灵敏度提高超过一倍。可升级为磷砷化镓（GaAsP），进一步提高图像的信噪比： GaAsP 的量子效率可达45%。Sunny XY描振镜高速扫镜使用本公司生产制造的XY高速扫描振镜，响应速度快、重复精度高、发热量低、温度漂移小。其他配件：共聚焦/宽场切换接口接口可同时连接共聚焦和相机，可自由选择共聚焦成像或相机成像。电动Z轴马达使手动显微镜实现自动调焦功能，实现XYZ三维扫描。 DIC功能可定制升级，加载DIC（微分干涉）模块。软件功能全中文界面，简单易用全软件控制完成多维图像采集，实现多通道扫描、时间序列和Z轴序列成像多色荧光、DIC图像叠加，添加标尺全软件控制数据记录，支持成像参数管理导出支持多种图像输出格式

NANOS是一款全面且高性价比的台式扫描电子显微镜（SEM）。它采用最新技术进行设计，提供快速高质量的SEM成像和元素分析。它的设计先进且现代，非常适合科学研究、产品研发和工业用户使用。主要技术特色：标配高性能二次电子及4分割背散射探头一体集成式EDS探头，成像同时采集EDS结果标配低真空模式成像功能全自动马达控制及优中心倾转设计样品台配备性能优化灯丝直观友好用户界面设计低维护成本

蔡司EVO系列总述模块化的SEM平台适用于直观操作、例行检测和研究应用EVO系列将高性能的扫描电镜和直观的、友好的用户界面体验结合在一起，同时能够吸引经验丰富的用户以及新用户。无论是在生命科学，材料科学，或例行的工业质量保证和失效分析领域，凭借广泛的可选配置，EVO都可以根据您的要求量身定制。ü显微镜中心或工业质量保证实验室的多功能解决方案ü不同的真空室大小和可满足所有应用要求的载物台选项-甚至是大型工业零部件样品ü使用LaB6灯丝，能够得到优异的图像质量ü对不导电和无导电涂层的样品的成像和分析性能出色ü可以配置多种分析探测器用于满足各种显微分析应用的需求产品优势1.便捷的可用性SmartSEMTouch可以通过使用您的指尖与其进行交互式工作流程控制。它简单易学，大大减少了培训所付出的努力和成本，甚至新用户在几分钟内也能够捕捉令人惊叹的图像。此用户界面还支持需要自动化工作流程以执行可重复检查任务的工业操作员。2.优异的图像质量EVO擅长于对未经处理和没有导电涂层的样品获取高质量的数据。EVO还允许样品保留其原始状态，维持含水和重污染样品的数据质量。此外当成像和微量分析面临挑战时，选用LaB6灯丝则能够给予更好的分辨率、对比度和信噪比。3.EVO能够与其它设备相关联EVO可以作为半自动、多模式工作流程的一部分，通过重新定位感兴趣区域，并以多种方式收集数据，形成信息的完整性。将光学和电子显微镜图像合并起来进行材料表征或零件检验，或者将EVO与蔡司光学显微镜相关联，进行关联颗粒度分析。4.适合更多用户操作对于经验丰富的以及新手用户操作都很方便。在实际的实验室环境中，SEM的操作通常是显微镜专家的专属领域。但是对于非专家级用户来说，操作SEM就变得具有挑战，比如学生、受训者或质量工程师，他们往往也需要从SEM获取数据。EVO则同时考虑了这两类用户的需求，用户界面选项既能满足有经验的显微镜专家也能满足非专业用户的操作需要。专家用户优选用户界面:SmartSEM专家用户可以获取以及设定高级的成像参数和分析功能。SmartSEM:为有经验用户使用的控制界面新手用户优选用户界面:SmartSEMTouch新手用户可以使用预定义的工作流程和常用的一些参数-非常适合初学者。

以场发射 (FE) 电子枪为特色的JEOL电子探针显微分析仪（ EPMA），带来了表面分析世界。JXA-8530F在继承了JXA-8500F的强力硬件（包括 FE 电子枪、电子光学系统和真空系统）的同时，采用电脑操作进行数据的采集和分析，实现了微区分析。友好的PC控制操作环境，使得在极高的放大倍数下能够便利地进行快速、便捷的分析。 - PC平台操作 - 用FE电子枪进行高空间分辨率成像 - “Click Point Analysis”功能和用户菜单（User,s recipe） - 先进的操作 - WD/ED组合系统

R10扫描探针显微镜控制器继美国RHK Technology公司推出的革ming性扫描探针显微镜控制器R9取得大成功之后，其研发团队通过升其软硬件和功能隆重发布了新一代R10扫描探针显微镜控制器。相比于R9控制器，R10扫描探针显微镜控制器性能提升主要包括： 全新的FPGA固件构架大地提高了配置灵活性 对于高测量提供了60多个可用的数据通道 数据流和扫描速度均提高5倍 优化的高压输出电路板，噪声水平降低到R9控制器的1/4 两个扫描探针控制系统 可设置任意密度的网格点进行图谱测量R10扫描探针显微镜控制器产品特点全集成SPM控制平台：模式和测量之间的所有连接都是通过数字域中的软件进行的，提供了大的灵活性和信号纯度。获得的图形硬件和实验设置系统允许快速方便的定制。数字锁定放大器：多2个PLL和6个锁定放大器可配置为立工作或连接在一起以跟踪多个谐波。可以生成并解调1 Hz到10 MHz以上的参考频率。解调带宽从10mHz到100kHz。方法允许跟踪边带，即使参考频率快速移动。反馈回路：增添至9个。在200 kHz时计算反馈回路。开尔文探测：测量多频KPFM。反馈回路测量接触电势。所有交流和直流模式可用。多速率数据通路：革ming性的方法提供同步的高速（16位@100 MHz）和高精度（22位@25 kHz）测量和的同步。探针防护装置/锁防护装置：基于时间的数据采集二次扫描发生器和反馈回路快速、故障安全提示接近，接近在输入设定点检测的5μs内停止。锁定防护装置停止扫描，并在超出范围参数的5μs内取出探头。返回范围后自动继续扫描。基于时间的数据采集：所有数据和事件都会在时间基础上进行捕获，以供以后检查。对测量参数（如扫描速度、反馈回路设定点、偏置电压）的更改以亚像素精度存储在数据文件中，并显示在存储的图像上。二次扫描发生器和反馈回路：一套R10控制器可控制2个立的扫描系统。这可以是带有两个扫描仪（大范围和小范围）的单个扫描头，也可以是两个立的扫描头。数据安全：所有数据都存储在每个扫描线末端的HDD中，以防止断电时数据丢失。所有数据类型（地形、光谱、FFT、示波器记录道）的后100个文件存储在硬盘上，以供将来分析。显微镜诊断工具：瞬态记录器：检测短至10ns的瞬态。瞬态记录器：100 MS/s采集，持续1秒。50MHz带宽FFT；4通道示波器@50kHz；数据记录器多可记录五天的数据。访问所有I/O信号：可配置控制路由和60+I/O信号采集。IHDL/Inventor SDK：交互式硬件开发语言：用户自定义的例程。支持LabVIEW VIshh、MATLAB、Python等，无需添加软件模块。内置偏置调制：用小到10μV的正弦波直接调制输出偏置DAC。调制频率高达10兆赫。Z位置调制多频调制与检测：直接调制输出DAC，正弦波小至10 pmR10扫描探针显微镜控制器基本参数Analog InputsUltra-high speed input channelsSample rate100 MS/sQuantityUp to 2Analog bandwidth17 MHzInput range± 10V, ± 1V switchable under software controlInput impedance50 Ω, 1 M Ω switchable under software controlEffective Resolution16 bit @ 100 MHz , 18 bit @ 6.25 MHz, 20 bit @ 390 kHz, 22 bits @ 25 kHz, 24 bit @ 1.5 kHzProgrammable gainUp to 512x at full bandwidthInput offsetInput signal can be offset via software to correct for errors in external signal amplifiers.Programmable AD/DC couplingInput signal can be AC or DC coupled as defined in software configuration.Analog Inputs (Continued)High speed input channelsSample rate1 MS/sQuantityUp to 6Input range± 10VAnalog bandwidth1 MHzEffective Resolution24 bit @ 200 kHz, 26 bit @ 12 kHzAnalog OutputsUltra-high speed output channelsOutput rate100 MS/sQuantityUp to 2Analog bandwidth17 MHzOutput range± 1V/ , ± 10V on separate outputsEffective Resolution16 bit @ 100 MHz , 18 bit @ 6.25 MHz, 20 bit @ 390 kHz, 22 bits @ 25 kHz, 24 bit @ 1.5 kHzProgrammable attenuationUp to 1024x at full bandwidthOutput offsetOutput signal can be offset via software to correct for errors in external signal amplifiersHigh speed output channelsSample rate1 MS/sQuantityUp to 10Analog bandwidth100 kHzEffective Resolution20 hbit @ 1 MHz , 22 bit @ 62 kHz, 24 bit @ 3.9 kHzDigital pulse countingFour channels @ 100 MHz count rateDigital Input/Output32 DIO linesR10扫描探针显微镜控制器设备构造前面板后面板高压放大器内部构造测试数据利用R10采集扫描隧道谱图，允许实时显示10条阈值谱线，且谱线的每个像素点可以单显示和分析。用户单位部分用户名单（排名不分先后），科研成果以及用户评价：清华大学、中科院物理所、中国科学技术大学、华中科技大学、国防科技大学、浙江大学......

Phenom Pro_6石油煤炭领域扫描电子显微镜石油化工产业是国家的重要支柱产业，从石化原料的开采、炼制到石化产品的生成加工，每一步都与国防、国民经济和人民生活息息相关。随着石油资源的消耗，油气开采重点也转移到了页岩油方向，高质量的压裂支撑剂可以提供更好的油气渗透率，实现油气增产。绿色低碳的发展理念也促使相关企业展开高效环保的石化催化剂、高附加值、高性能石化产品的研制。在石化产品的开采、炼制、生成过程中，复纳科技可以提供以下全面的石油石化行业解决方案：石化产品形貌分析石化产品成分分析压裂支撑剂显微分析岩芯微孔分析石化催化剂分析页岩

OPTM显微分光膜厚仪R&D ！ QC ！ 植入设备！ 都可简单实现高精度测量！测量目标膜的绝对反射率，实现高精度膜厚和光学常数测试！ （分光干渉法）OPTM显微分光膜厚仪特 长　Features膜厚测量中必要的功能集中于头部通过显微分光高精度测量绝对反射率（多层膜厚、光学常数）1点只需不到1秒的高速tact实现了显微下广测量波长范围的光学系（紫外～近红外）通过区域传感器控制的安全构造搭载可私人定制测量顺序的强大功能即便是没有经验的人也可轻松解析光学常数各种私人定制对应（固定平台，有嵌入式测试头式样）测量项目　Measurement item绝对反射率测量膜厚解析光学常数解析（n：折射率、ｋ：消光系数）构成图式 样Specifications※ 上述式样是带有自动XY平台。※ release 时期 是OP-A1在2016年6月末、OP-A2、OP-A3预定2016年9月。＊ 膜厚范围是SiO2换算。