三维可变角色差计

X射线显微CT：先进的无损三维显微镜显微CT即Micro-CT，为三维X射线成像，与医用CT（或“CAT”）原理相同，可进行小尺寸、高精度扫描。通过对样品内部非常细微的结构进行无损成像，真正实现三维显微成像。无需样本品制备、嵌入、镀层或切薄片。单次扫描将能实现对样品对象的完整内部三维结构的完整成像，并且可以完好取回样本品！特点：先进的扫描引擎—可变扫描几何：可以提高成像质量，或将扫描时间缩短1/2到1/5支持重建、分析和逼真成像的软件套件自动样品切换器技术规范：X射线源：20-100kV，10W，焦点尺寸＜5μm@4WX射线探测器：1600万像素（4904×3280像素）或1100万像素（4032×2688像素）14位冷却式CCD光纤连接至闪烁体标称分辨率（放大率下样品的像素）：1600万像素探测器＜0.35um；1100万像素探测器＜0.45um，重建容积图（单次扫描）：1600万像素探测器，14456×14456×2630像素 1100万像素探测器，11840×11840×2150像素扫描空间：0-直径75mm，长70mm辐射安全：在仪器表面的任何一点上＜1 uSv/h外形尺寸：1160（宽）×520（深）×330（高）毫米（带样品切换器高440毫米）重量：150千克，不含包装电源：100-240V / 50-60Hz

仪器简介：用于对本身和可能在角度改变时显示出不同光谱反射率的材料，测量其选择性的参数。适合于对汽车的线 路板、音响设备、墨水、金属喷涂、塑料、LCD散射板、各种反光板和LCD背景光等等的测量。技术参数：光　　源 卤素灯，12V/50W 光学通道 全波长连续校正 被测物规格 最小：30x30mm；最大：150x150mm 光投射角度 反射：0?-70?步进5? 光接收角度 反射：-70?- +70?不含± 10?光投射角度 抖动角度 -70- +70? 旋转角度 自动旋转，步进：1?-5? 光接受元件 硅光电二极管 滤光片 400 - 700nm干涉滤光片，步进：20nm 灵敏度调节 四档：标准，1/10，1/50，1/500 PC连接 串口连接 RS-232C 外形尺寸 622宽x440深x421高mm 注：PC和RS-232C电缆不包括在内，需另外单独订购主要特点：光学系统： 自动旋转，三维测量光谱反射率：检测器：-70?- +70?；被测物体抖动角：-70?- +70? 控制软件： 特别的控制软件用于光谱测量和测量发光强度的分布选择件

仪器简介：当光的投射角度和光的接收角度变化时，用于测量反射光的分布变化，其以5?为步进，同时以± 80?的角度的方向自动旋转光接收元件测量被测物体的光谱反射系数，在入射光的投射角度为180?时，可进行投射测量。技术参数：光　　源 卤素灯，12V/50W，约6000H 光学通道 全波长连续校正 被测物规格 最小：30x30mm；最大：180x220mm 光投射角度 反射：0?- 80?步进5?；透射：180? 光接收角度 反射：-80?- +80?不含± 10?光投射角度 旋转角度 自动旋转，步进：5? 光接受元件 硅光电二极管 滤光片 400 - 700nm干涉滤光片，步进：20nm 灵敏度调节 四档，反射标准，1/4，1/10，1/200 透射标准，20，50，200 PC连接 串口连接 RS-232C 外形尺寸 340宽x520深x310高mm主要特点：光学系统： 角度可变的光学系统按设定步进自动旋转光接收器件接收角度，测量光谱反射系数。 控制软件： 特别的控制软件Windows兼容用于以在PC上显示的列表或图形的形式，控制光学系统和基于测量得到的光谱反射系数对应的计算参数，来计算颜色系统的多种参数。

特点：VSN-5型可变速三维圆周旋转摇床具有多种应用功能，包括混合和分散以及振荡，提供温和的动作，不产生泡沫。其采用阻燃的ABS材料，安全可靠。可变速度，速度范围5-40rpm，以20o倾斜角度三维旋转，可选择配备12.7×572.5px或20.3×507.5px的平台。性能参数：可变速度范围:5-40转/分倾斜角度：20o倾斜角度重量：4英镑（1.80kg）外观尺寸（cm）：14（高）×14.6（深）×12.7（宽）电源供应：220VAC,50/60Hz订货信息： 592500-00 VSN-5型可变速三维圆周旋转摇床

Transcan C是由先临三维基于高精度3D数字化技术最新研发的一款主打“可变分辨率”的彩色3D扫描仪。高品质彩色三维数据，可用于产品设计，虚拟展示，数据存档等多个应用领域。 1200万像素彩色专业相机，高度还原物体色彩纹理信息 可调节扫描范围，灵活切换扫描范围，匹配不同物体扫描需求 可变混合分辨率，高中低三种模式自由选择，重现物体精致细节多范围自由切换 机身采用滑轨结构设计，支持150 mm x 96 mm、300 mm x 190 mm 两种扫描范围的切换，满足不同物体的扫描需求。可变混合分辨率 在同一扫描范围下，用户可在Transcan C 扫描软件中自由选择高、中、低三种分辨率 来适配扫描任务，无需额外更换镜头组件， 就可捕获不同精细度的扫描数据；并且支持 同一个扫描物体不同部位，选择不同分辨率 进行数据采集，提升整体扫描效率。高保真品质色彩 搭载两个彩色相机，可以输出高达1200万像素的纹理贴图， 高度还原物体色彩信息。高精度扫描数据 单幅扫描精度≤0.05 mm，准确还原实物的尺寸信息， 充分满足产品开发人员的设计需求。微细节纤毫毕现 在150 mm x 96 mm扫描范围下， 空间点距最小可达0.0375 mm， 清晰重现物体精致细节。 自动化智能易用 全自动扫描转台，搭配混合分辨率拼接算法，无需手动干预， 便可实现高品质三维数据的高效获取。 友好的软件界面、引导式的操作流程，简单方便易掌握。

产品简介：ST500型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，采用国际领先的白光共聚焦线光源技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度超快测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，主要用于测量大尺寸样品表面的三维表面形貌。产品原理：采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 - 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。 - 位于白光光源的对称位置上的超灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。 - 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的光，从而得到这个点距 离透镜的垂直距离。- 再通过点扫描的方式可得到一条线上的坐标，即X-Z坐标 - 最后以S路径获得物体每个点的三维X-Y-Z坐标- 最后将采集的三维坐标数据交给专业的三维处理软件进行各种表面参数的分析。 - 软件能够自动获取用户关心的表面形貌参数。产品特性：- 采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率- 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高- 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、 合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)； - 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 - 不受环境光的影响 - 测量简单，样品无需特殊处理 - Z方向测量范围大：为27mm主要功能： - 可创建任意区域的2D曲线图或2D等高线分布图；- 可创建任意区域的3D图像；- 自动得到样品的一维线粗糙度参数（Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku）； - 自动得到样品的二维面粗糙度（Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku）； - 可得到样品的平整度，波纹度等参数； - 自动校准功能，例如粗糙度，一般情况下对于曲面样品，首先展平，然后自动给出粗糙度的参数；- 具有尺寸测量：长度，宽度，角度，深度,台阶高度；- 可测孔洞磨损面积，磨损体积等参数；- 具有功率谱密度测试功能； - 具有分形统计功能； ...... 主要技术参数:- XY全自动最大扫描范围：400×300（mm）- XY扫描步长：0.1μm- 最大扫描速度：200mm/s- Z方向最大测量范围：27mm- Z方向测量分辨率：2nm 产品应用： MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

产品介绍SIRIUS Unique Scan 5M工业级高性能三维光学扫描仪高端的技术, 满足您最苛刻的3D 数字化扫描需求。SIRIUS Unique Scan 铭宇蓝光扫描仪系列为您提供高速的扫描/ 测量速度, 针对形状复杂的零件提供高分辨率的细节呈现。测量原理：SIRIUS Unique Scan 借助光栅智能投影单元将具有相位编码信息的条纹投影到工件的表面，两个高分辨率的工业CCD进行同步数据采集，通过立体相机测量原理进行相位计算与三维分析，SIRIUS Unique Scan 在极短的时间内可以获得工件表面的三维点云数据。ScanTEK Software 专业测量软件以参考点作为基准，对不同位置/ 角度的点云进行自动拼接与对齐,从而获得完整的高精度、高密度的三维扫描结果。产品特点：采用ScanTEK Software 获得完美的解决方案, 在进行数据采集与处理的同时, 可以让您高效快捷的操作；可生成用于单独分析的色差对比图和测量报告；符合人体工程学的设计, 确保用户在长时间使用中不易疲劳, 获得最佳的使用体验；整套设备操作简单, 即使缺乏经验的新手也可以快速的生成可靠的测量结果。

高端型8M-H三维扫描仪 SIRIUS Unique Scan 8M-H高端的技术, 满足您最苛刻的3D 数字化扫描需求。SIRIUS Unique Scan 铭宇三维蓝光扫描仪系列为您提供高速的扫描/ 测量速度, 针对形状复杂的零件提供高分辨率的细节呈现。 产品介绍SIRIUS Unique Scan 8M-H工业级高性能三维光学扫描仪高端的技术, 满足您最苛刻的3D 数字化扫描需求。SIRIUS Unique Scan 系列为您提供高速的扫描/ 测量速度, 针对形状复杂的零件提供高分辨率的细节呈现。测量原理：SIRIUS Unique Scan 借助光栅智能投影单元将具有相位编码信息的条纹投影到工件的表面，两个高分辨率的工业CCD进行同步数据采集，通过立体相机测量原理进行相位计算与三维分析，SIRIUS Unique Scan 在极短的时间内可以获得工件表面的三维点云数据。ScanTEK Software 专业测量软件以参考点作为基准，对不同位置/ 角度的点云进行自动拼接与对齐,从而获得完整的高精度、高密度的三维扫描结果。产品特点：采用ScanTEK Software 获得完美的解决方案, 在进行数据采集与处理的同时, 可以让您高效快捷的操作；可生成用于单独分析的色差对比图和测量报告；符合人体工程学的设计, 确保用户在长时间使用中不易疲劳, 获得使用体验；整套设备操作简单, 即使缺乏经验的新手也可以快速的生成可靠的测量结果。

高端型8M三维扫描仪 SIRIUS Unique Scan 8M为高端的技术, 满足您最苛刻的3D 数字化扫描需求。SIRIUS Unique Scan 系列为您提供高速的扫描/ 测量速度, 针对形状复杂的零件提供高分辨率的细节呈现。产品介绍SIRIUS Unique Scan 8M工业级高性能三维光学扫描仪高端的技术, 满足您最苛刻的3D 数字化扫描需求。SIRIUS Unique Scan 系列为您提供高速的扫描/ 测量速度, 针对形状复杂的零件提供高分辨率的细节呈现。测量原理：SIRIUS Unique Scan 借助光栅智能投影单元将具有相位编码信息的条纹投影到工件的表面，两个高分辨率的工业CCD进行同步数据采集，通过立体相机测量原理进行相位计算与三维分析，SIRIUS Unique Scan 在极短的时间内可以获得工件表面的三维点云数据。ScanTEK Software 专业测量软件以参考点作为基准，对不同位置/ 角度的点云进行自动拼接与对齐,从而获得完整的高精度、高密度的三维扫描结果。产品特点：采用ScanTEK Software 获得完美的解决方案, 在进行数据采集与处理的同时, 可以让您高效快捷的操作；可生成用于单独分析的色差对比图和测量报告；符合人体工程学的设计, 确保用户在长时间使用中不易疲劳, 获得使用体验；整套设备操作简单, 即使缺乏经验的新手也可以快速的生成可靠的测量结果。

蓝光三维扫描仪是一款高精度光学测量系统，专为工业级三维数字化检测而研发制造，适用于待测物体几何形状的全尺寸三维蓝光三维扫描仪具有工业级高精度和高稳定性，在严苛的环境下仍可提供高精度测量数据。蓝光三维扫描仪，专为工业级三维数字化检测而研发制造，适用于成型部件形状的全域数字化处理，具备高精度的细节测量性能和工业级的稳定性，适用于各种严苛工业环境下的高精度数据测量。-高精度3D测量，适用于高要求的测量任务-专为工业应用设计形成系统的高稳定性与高精度-支持多种自动拼接方式，确保数据拼接精度和测量效率-数字化自适应全色差投影将测量结果直接展示于对象表面-测量完成后，CAD数据偏差以彩色图样显示在物体表面-无论在测量室内或是生产环境下实行测量，都能满足质量检测及逆向工程领域的高要求AutoScan Inspec三维扫描仪是一款轻便易携带的高精度扫描设备。采用结构光3D扫描原理，该设备可实现 ≤10μm 的高精度三维扫描。该设备扫描区域为 100*100*75mm，轴数为 3 轴，相机分辨率为 2x5.0 MP。此外，AutoScan Inspec 三维扫描仪采用蓝光光源，工作温度范围为 10°C~30°C，电源为 DC24V。数据输出格式为 .stl，适用于 Windows 10, 64位 操作系统。 AutoScan Inspec三维扫描仪具有出色的数据细节表现能力和计量级精度，可以满足您高精度扫描的需求。全自动高效扫描功能可以大大提升您的工作效率。智能软件支持让您可以轻松地进行数据处理和编辑，让您的工作更加便捷高效。同时，该设备重量仅为 7.5kg，非常轻便易携带，适合于各种场合的使用。

产品简介HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm主要技术参数扫描范围：400mm×600mm(最大可选600mm*600mm)扫描步长：5nm扫描速度：1m/sZ方向测量范围：27mm方向测量分辨率：2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发主要用于--生产现场三维形貌测试的理想选择 --高速三维表面形貌检测

产品简介 HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm主要技术参数扫描范围：400mm×600mm(最大可选600mm*600mm)扫描步长：5nm扫描速度：1m/sZ方向测量范围：27mm方向测量分辨率：2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发主要用于--生产现场三维形貌测试的理想选择--高速三维表面形貌检测

产品简介JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。采用白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点。产品原理：采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 - 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。 - 位于白光光源的对称位置上的超灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。 - 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的光，从而得到这个点距离 透镜的垂直距离。 - 再通过点扫描的方式可得到一条线上的坐标，即X-Z坐标 - 然后以S路径获得物体每个点的三维X-Y-Z坐标 - 然后将采集的三维坐标数据交给专业的三维处理软件进行各种表面参数的分析。 - 软件能够自动获取用户关心的表面形貌参数。产品特性： - 采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 - 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高 - 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、 合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)； - 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 - 不受环境光的影响 - 测量简单，样品无需特殊处理 - Z方向测量范围大：27mm主要功能： - 可创建任意区域的2D曲线图或2D等高线分布图； - 可创建任意区域的3D图像； - 自动得到样品的一维线粗糙度参数（Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku）； - 自动得到样品的二维面粗糙度（Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku）； - 可得到样品的平整度，波纹度等参数； - 自动校准功能，例如粗糙度，一般情况下对于曲面样品，首先展平，然后自动给出粗糙度的参数； - 具有尺寸测量：长度，宽度，角度，深度,台阶高度；- 可测孔洞磨损面积，磨损体积等参数；- 具有功率谱密度测试功能； - 具有分形统计功能； ...... 主要技术参数:- XY全自动扫描范围：50×50（mm）- XY扫描步长：0.1μm- 扫描速度：20mm/s - Z方向测量范围：27mm - Z方向测量分辨率：2nm 产品应用： MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

EinScan H2双光源手持彩色3D扫描仪，是先临三维基于前代产品精心升级打造的一款专业级三维扫描仪。采用LED白光和红外VCSEL激光两种光源，兼顾细节与效率，可适应多种扫描场景需求。软硬件焕新升级后，大幅提升了H2的色彩还原、细节捕捉、光环境及材质适应等能力，使其成为艺术人像创作、产品设计、元宇宙数字资产生产、线上展示等领域的有力创作工具。核心优势传承经典，焕新升级EinScan H2搭载500万像素高清纹理相机，具有出色的色彩捕捉能力，可轻松重现物体全彩信息；配备3组高品质VCSEL红外激光投射器，场景和材质兼容性更强，搭配超大扫描幅面，可满足多尺寸、多材质、多场景的扫描需求；0.2mm-3mm可调点距，优化算法，兼顾扫描细节与效率。最高精度可达0.05mm，可充分满足人体、艺术品及家具等中大型物体的高品质数据要求，质量更有保障。艺术人像定制EinScan H2凭借其强大的色彩还原能力及细节捕捉能力，可以快速获取高质量真彩人像三维模型，为基于人像3D数据的实物创作提供可靠的数据支撑。→ 真人3D手办→ 蜡像定制→ 人像雕塑虚拟数字人EinScan H2可精确捕捉真实人物的容貌特征、体态信息，打造更逼真的视觉外观；相较传统流程，建模门槛更低，效率更高。→ 虚拟model→ 虚拟主播→ 影视数字替身→ 数字人游戏角色精准医疗EinScan H2焕新升级，测量精度更高（最高精度高达0.05mm），抗干扰能力更强，立体构建图像更逼真，与三维设计、3D打印技术相结合，形成完整的3D数字化链条解决方案，深度应用于数字骨科、医疗整形、康复器械定制等领域。→ 术前方案规划 → 手术模型预演→ 术后效果跟踪 → 康复器械定制→ 医疗教学模型数智赋能，点亮设计灵感简单快捷的使用模式、流畅丝滑的扫描体验、高度还原的色彩信息、精准完备的数据品质，让EinScan H2成为线上展示、元宇宙、数字资产生产、产品设计等领域的有力创作工具。一键上传，多端浏览采集到的高精度真彩三维数据，可上传至先临三维数字云，无需下载软件或APP，即可在电脑端、移动端无死角浏览优质3D内容。*先临三维数字云是一款操作简单、支持在线协作的Web3D轻量化模型 互动展示平台，为广大3D内容创作者提供在线存储、3D互动展示、轻量化输出以及模型窗口内嵌展示等功能。

产品简介ST400型三维表面形貌仪是一款多功能的三维形貌仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品，并具有多种选项，包含360°旋转工作台，原子力显微镜模块，光学显微镜，特征区域定位等多种功能模块。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm主要技术参数扫描范围：150mm×150mm(最大可选600mm*600mm)扫描步长：0.1μm扫描速度：20mm/sZ方向测量范围：27mm方向测量分辨率：2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。

产品简介PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm主要技术参数扫描范围：50×50（mm）扫描步长：0.1μm扫描速度：20mm/sZ方向测量范围：27mmZ方向测量分辨率：2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm主要技术参数扫描范围：50×50（mm）扫描步长：0.1μm扫描速度：20mm/sZ方向测量范围：27mmZ方向测量分辨率：2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

标准型5M-H三维扫描仪 SIRIUS Unique Scan 5M-H 三维光学扫描仪高端的技术, 满足您最苛刻的3D 数字化扫描需求。SIRIUS Unique Scan 铭宇三维光学扫描仪系列为您提供高速的扫描/ 测量速度, 针对形状复杂的零件提供高分辨率的细节呈现。测量原理：SIRIUS Unique Scan 借助光栅智能投影单元将具有相位编码信息的条纹投影到工件的表面，两个高分辨率的工业CCD进行同步数据采集，通过立体相机测量原理进行相位计算与三维分析，SIRIUS Unique Scan 在极短的时间内可以获得工件表面的三维点云数据。ScanTEK Software 专业测量软件以参考点作为基准，对不同位置/ 角度的点云进行自动拼接与对齐,从而获得完整的高精度、高密度的三维扫描结果。产品特点：采用ScanTEK Software 获得完美的解决方案, 在进行数据采集与处理的同时, 可以让您高效快捷的操作；可生成用于单独分析的色差对比图和测量报告；符合人体工程学的设计, 确保用户在长时间使用中不易疲劳, 获得使用体验；整套设备操作简单, 即使缺乏经验的新手也可以快速的生成可靠的测量结果。

精确、快速、便携应用领域：金属，复合材料，织物等材质表面的划痕，裂纹，磨损，刮擦、凹坑、凿击、腐蚀等表面缺陷的现场检测和分析；铆接，焊接，接缝等阶差和凹凸量的三维检测；三维面粗糙度测量分析；划窝孔，槽深，圆弧，倒角等几何尺寸测量； 测量原理：德国GFM公司基于激光条纹相位投影技术和DSP高速图像处理芯片研制的便携式三维光学表面划痕测量仪，用于现场表面质量特性的检测，具有测量速度快，测量准确，便携性等优点。 仪器特点：便携式现场检测大型零件表面划痕缺陷,阶差等表面几何特性参数；三维测量表面划痕缺陷，通过拓扑色差图直观检测出划痕缺陷最深的部位；专业的划痕测量分析软件，多种滤波方式：包含了多项式滤波，高斯滤波，均值滤波等，有效消除曲面轮廓，倾斜，噪音信号，毛刺，灰尘等因素对测量结果的影响；大倾角光路设计，以及蓝光LED光源，测量不受高反光曲面的影响；SDK软件包，开放仪器接口，可二次开发；仪器附件 测量范围X/Y/Z：13X8X5 mm测量示值误差： (2+L/1000)μm L单位μm深度方向分辨力：1um聚焦距离： 107mm测量扫描时间: 3秒；扫描点云：36万点/幅使用环境温度：5-40°C符合国标校准规范的计量校准溯源

3D细胞培养技术以其独特的优势在生物医学研究和药物研发中发挥着越来越重要的作用。已广泛应用于药物筛选、疾病研究、组织工程等多个领域，展现了其巨大潜力和价值。（一）功能应用在3D细胞培养过程中，该三维细胞培养系统在微重力和低剪切应力方面，各自扮演着重要的角色。首先，关于微重力：模拟太空环境：微重力可以模拟太空中的生理环境，这对于研究太空生物学和生命科学具有重要意义。特别是在研究宇航员在太空中的健康问题、提高太空任务的安全性和成功率方面，微重力培养细胞提供了有力的实验手段。加速细胞衰老：微重力可以加速细胞的衰老过程。例如，在国际空间站上培养的大脑、心脏和乳房等类器官，微重力条件可以加速这些类器官的衰老，有助于科学家们确定衰老是如何发生的，并设计相应的预防措施。药物筛选与优化：在微重力环境下，细胞对药物的反应可能会发生变化，这有助于研究人员筛选和优化药物，揭示药物的新作用机制和潜在疗效。 接下来，关于剪切力：模拟体内环境：剪切力是生理条件下内皮细胞功能的关键调节因子。在模拟流体生理条件下体外培养内皮细胞时，施加剪切力可以模拟体内细胞不断暴露于血流摩擦力的环境，有助于研究细胞形态的变化、肌动蛋白应力纤维的形成以及稳定性粘附连接和紧密连接（屏障形成）等。细胞感知与响应：剪切力由细胞表面的流量传感器感应，并通过细胞骨架元件传递到各种细胞内位点，导致细胞功能和表型发生变化。这对于研究细胞如何感知和响应外部机械刺激具有重要意义。 （二）产品特点及优势3D细胞培养系统能够更好地模拟生物体内细胞存活的自然环境，保持细胞间相互作用和更逼真的生化和生理反应。即使在简单的球体模型中，也能形成氧气、营养物质、代谢物和可溶信号的梯度，形成多样化的细胞群体。由于3D细胞培养更接近真实生理状态，因此研究结果更贴近实际情况，提高了实验的可靠性和准确性。它能够更好地模拟细胞之间的相互作用、细胞的形态和功能，以及药物对细胞的影响。 3D细胞培养系统具有更高的标准化和可控制性，可以减少实验误差，提高实验的可重复性。通过优化3D培养条件，可以进一步提高实验的可靠性和稳定性。 3D细胞培养系统可以更好地模拟人体对药物的反应，从而提高药物筛选的效率。通过3D培养，可以更准确地评估药物的毒性、药效和代谢过程，为新药研发提供更有价值的参考。 3D细胞培养系统可以模拟多种疾病的发生和发展过程，为疾病研究提供新的手段和方法。通过实现持续灌流和恒定剪切力，可以研究疾病细胞与正常细胞之间的差异，探索疾病的发病机制，为新的治疗方法提供依据。

产品简介：PS50型三维表面形貌仪是美国NANOVEA公司推出的一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际前沿的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品原理：采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率 - 利用白光点光源，光线经过透镜后产生色差，不同波长的光分开后入射到被测样品上。 - 位于白光光源的对称位置上的超灵敏探测器系统用来接收经被测点漫反射后的光。 - 根据准共聚焦原理，探测器系统只能接收到被测物体上单点反射回来的特定波长的光，从而得到这个点距离透镜的垂直距离。 - 再通过点扫描的方式可得到一条线上的坐标，即X-Z坐标 - 然后以S路径获得物体每个点的三维X-Y-Z坐标 - 然后将采集的三维坐标数据交给专业的三维处理软件进行各种表面参数的分析。 - 软件能够自动获取用户关心的表面形貌参数。产品特性： - 采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的三维表面形貌分辨率 - 测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高 - 测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合 成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)等材料的三维表面形貌； - 尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面 - 不受环境光的影响 - 测量简单，样品无需特殊处理 - Z方向测量范围大：为27mm主要功能： - 可创建任意区域的2D曲线图或2D等高线分布图；- 可创建任意区域的3D图像；- 自动得到样品的一维线粗糙度参数（Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku）；- 自动得到样品的二维面粗糙度（Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku）；- 可得到样品的平整度，波纹度等参数；- 自动校准功能，例如粗糙度，一般情况下对于曲面样品，首先展平，然后自动给出粗糙度的参数；- 具有尺寸测量：长度，宽度，角度，深度,台阶高度；- 可测孔洞磨损面积，磨损体积等参数；- 具有功率谱密度测试功能； - 具有分形统计功能； ...... 主要技术参数:- XY全自动扫描范围：50×50（mm）- XY扫描步长：0.1μm- 扫描速度：20mm/s - Z方向测量范围：27mm - Z方向测量分辨率：2nm 产品应用： MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

PS50型三维表面形貌仪是一款科研版的三维表面形貌测量设备，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器性价比高，可用于取代传统的探针式表面形貌仪与干涉式表面形貌仪。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛 光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm主要技术参数扫描范围：50×50（mm）扫描步长：0.1μm扫描速度：20mm/sZ方向测量范围：27mmZ方向测量分辨率：2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能、摩擦磨损、汽车、腐蚀、砂纸、岩石等。

产品详情 美国NANOVEA 三维表面形貌仪HS1000型 产品简介 HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。 产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿… )；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm 主要技术参数扫描范围：400mm×600mm(最大可选600mm*600mm)扫描步长：5nm扫描速度：1m/sZ方向测量范围：27mm方向测量分辨率：2nm 产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发主要用于--生产现场三维形貌测试的理想选择 --高速三维表面形貌检测美国NANOVEA HS1000型三维表面形貌仪 产品简介 HS1000型三维表面形貌仪是一款高速的三维形貌仪，最高扫描速度可达1m/s,采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器可用于测量大尺寸样品或质检现场使用。 产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿… )；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响测量简单，样品无需特殊处理Z方向,测量范围大：为27mm 主要技术参数扫描范围：400mm×600mm(最大可选600mm*600mm)扫描步长：5nm扫描速度：1m/sZ方向测量范围：27mm方向测量分辨率：2nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发 主要用于--生产现场三维形貌测试的理想选择 --高速三维表面形貌检测

产品简介JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响Z方向,测量范围大：为27mm扫描范围：25×25（mm）扫描步长：0.1μm扫描速度：20mm/sZ方向测量范围：27mmZ方向测量分辨率：3nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。

嘉绎科技有限公司使用激光抄数机扫描现有模型，获取三维轮廓数据，并配合的逆向工程软件进行模型重构。许多企业在产品开发中，经常遇到一些非常复杂的表面特征，此时，可以找到抄数公司解决，三维数据模型可以准确地在计算机屏幕上三维数字重现，使用支持三维设计应用软件，可以为人员提供简单、快速、可靠的数据支持。我公司主要从事抄数机三维抄数逆向建模设计服务，其主要产品和业务领域包括制造设备（成型机、3D反向建模复制设计的打印机及周边设备工艺品)，freeform计算机雕刻笔销售配套服务，手持三维扫描仪和高精度摄影三维扫描仪主要用于产品反向建模设计VR现实等，现在已经有完善的解决方案br3D逆向建模复制设计服务的主要目的是收集物体的三维数据，然后将三维数据用于逆向工程（逆向建模、逆向设计）、二次创建、产品设计、三维测试（质量测试领域），主要用于这些领域及三维周边服务，如三维扫描后续处理，其中包括逆向设计，全尺寸检测服务，和三维定制解决方法。br抄数机三维抄数逆向建模设计服务流程：br（1）扫描数据预处理。将扫描数据导入Solidworks/PROE等逆向软件中，对扫描数据进行坐标摆正。br（2）根据扫描的三维数据进行逆向建模，获得可编辑加工的STP图纸br（3）扫描数据与CAD数模佳拟合对齐。根据重新逆向的图纸进行检测对比，验证画图的公差控制范围。br广泛用于比较规则的机壳类产品如：机器设备、小家电、小商品，日化用品、数码电子等塑胶五金产品。除此之外，我们还有FreeForm触觉设计：3D立体雕刻建模绘图，STL格式图档，外观造型+结构设计，根据图纸、图片、样品等资料，通过计算机三维软件构建出来的3D立体图型，此设计软件广泛用于不规则浮雕花纹产品如：玩具、工艺礼品、人物、动物、值物、 等产品雕塑造型画图设计。br我们的抄数机三维抄数逆向建模设计服务saomiao3dcn流程：1.需求沟通：描述您想要生产的产品并发送3D我们将推荐您的设计图纸（推荐）或工程图草图。如果没有3D设计图纸需要付费设计，将平面图草图转换为3D文件。2.报价支付：确定加工工艺和报价，并支付加工费用。我们将在加工过程中随时更新进度我们的公司实力：我们配备有多台高精度三维扫描仪，包括手持式三维扫描仪跟拍照式三维扫描仪；多台进口高精度3d打印机配备进行逆向建模产品加工使用；多台freeform电脑雕刻笔供工艺品设计以及多位逆向建模设计人员，服务于需要产品设计的客户。为客户提供三维扫描数字化服务，拥有的现场扫描团队和内部建模抄数团队，按您的需求提供数据结果。所以我们长期提供三维扫描解决方案：如三维扫描后续处理，其中包括逆向设计、全尺寸检测服务、和三维定制等解决方案；及各种高精度3D打印服务br我们的三维逆向建模抄数设计服务案例：

JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响Z方向,测量范围大：为27mm扫描范围：25×25（mm）扫描步长：0.1μm扫描速度：20mm/sZ方向测量范围：27mmZ方向测量分辨率：3nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。

一、产品简介三维混合机是通过混合筒空间上的三维运动，来消除物料因离心力作用产生的比重偏析，分层，积聚现象，实现多种物料之间相互流动，扩散，从而达到快速、均匀地混合物料。目前各类混合设备中，三维混合机是各方面性能较理想的先讲产品。二、应用广泛应用于制药、化工、食品、轻工、电子、机械、矿冶、国防工业以及各种科研单位的粉状、颗粒状物料的高效混合。三、产品特点●三维混合机筒体装料率大，最高可达80~90% (普混合机为40~50%)；●三维运动混合机筒体结构紧凑，装料、卸料方便直观；●物料混合均匀度高，混合时间短，能量消耗低一高效节能；●三维混合机不锈钢制作，外形美观，可冲洗，便于用户在大生产中清场；●三维混合机筒体各部均为圆弧过度，经过多工序精密抛光达到无死角，不滞料、易出料、易清理；●由于混合料筒作多方向运动，物料基本无离心力作用，无比重偏析及分层、积聚现象。●除本身的不锈钢材质混料罐，此型号还可更换混料罐的材质，如: 尼龙，聚氨醋，聚四氮，刚玉，氧化锆，玛瑙等材质。 四、主要技术参数

产品简介JR25型三维表面形貌仪是一款便携式表面形貌测量仪，采用国际领先的白光共聚焦技术，可实现对材料表面从纳米到毫米量级的粗糙度测试，具有测量精度高，速度快，重复性好的优点，该仪器的测量探头可以任意旋转，适合精密测量 不可移动样品表面形貌，同时适合进行野外测试。产品特性采用白光共聚焦色差技术，可获得纳米级的分辨率测量具有非破坏性，测量速度快，精确度高测量范围广，可测透明、金属材料，半透明、高漫反射，低反射率、抛光、粗糙材料(金属、玻璃、木头、合成材料、光学材料、塑料、涂层、涂料、漆、纸、皮肤、头发、牙齿…)；尤其适合测量高坡度高曲折度的材料表面不受样品反射率的影响不受环境光的影响Z方向,测量范围大：为27mm扫描范围：25×25（mm）扫描步长：0.1μm扫描速度：20mm/sZ方向测量范围：27mmZ方向测量分辨率：3nm产品应用MEMS、半导体材料、太阳能电池、医疗工程、制药、生物材料，光学元件、陶瓷和先进材料的研发。

一、产品简介三维混合机是通过混合筒空间上的三维运动，来消除物料因离心力作用产生的比重偏析，分层，积聚现象，实现多种物料之间相互流动，扩散，从而达到快速、均匀地混合物料。目前各类混合设备中，三维混合机是各方面性能较理想的先讲产品。二、应用广泛应用于制药、化工、食品、轻工、电子、机械、矿冶、国防工业以及各种科研单位的粉状、颗粒状物料的高效混合。三、产品特点●三维混合机筒体装料率大，最高可达80~90% (普混合机为40~50%)；●三维运动混合机筒体结构紧凑，装料、卸料方便直观；●物料混合均匀度高，混合时间短，能量消耗低一高效节能；●三维混合机不锈钢制作，外形美观，可冲洗，便于用户在大生产中清场；●三维混合机筒体各部均为圆弧过度，经过多工序精密抛光达到无死角，不滞料、易出料、易清理；●由于混合料筒作多方向运动，物料基本无离心力作用，无比重偏析及分层、积聚现象。●除本身的不锈钢材质混料罐，此型号还可更换混料罐的材质，如: 尼龙，聚氨醋，聚四氮，刚玉，氧化锆，玛瑙等材质。四、主要技术参数

产品介绍NSZ818科研级平行光体视荧光显微镜的变焦倍率比可达 1：18，高数值孔径（NA）提供了优秀的图像清晰度，平行光学系统提高了体视显微镜的灵活性和适用性。多方面进行结构改良，人体工程学设计，提供较好的用户体验。 此款体视显微镜能够为生命科学研究和工业测量观察提供优秀的解决方案。实现从宏观到微观的无缝连接 变焦倍率比达到 1：18 的体视显微镜、NSZ818 能够实现0.75-13.5X 的变倍范围，10X目镜可达7.5X-135X放大倍数。多种观察方式可供选择 可选配明场、暗场、荧光、OIC 照明、同轴照明等多种观察附件。确保成像的准确度和可信度 全新开发的光学系统及高性能物镜，对色差的充分校正使其具有高色彩还原度，能够显示出明艳亮丽的图像。 NSZ818复消色差平行光体视显微镜主要特点 ：科研级平行光体视，手动变焦1、倾角为20°的三目镜筒（100/0，0/100）2、连续变焦显微镜镜体：变焦比18：1，变焦范围：0.75x-13.5x；3、1X平场复消色差物镜，NA0.15；4、内装式配重和聚焦机构，粗、微调同轴；5、多功能LED薄底透射光底座：内置OCC照明器。可实现观察方式：明场、暗场、简易偏光、荧光、倾斜照明观察NSZ818复消色差平行光体视显微镜优势：1、国内同行尚无同类产品；2、内置OCC斜射光照明，增强不均匀样品对比度，有效照明面积：直径60mm；3、高分辨率500LP/mm复消色差1X物镜，NA0.15；4、内置孔径光阑；5、目镜视野下具备三维立体观察和超景深扩展；6、可扩展性强，实现荧光、暗场、偏光等观察。 NSZ818科研级平行光体视荧光显微镜的光学系统均采用了多层镀膜的高性能光学透镜，0.75X-13.5X的变倍物镜配合全新设计的 1X PLAN APO大物镜，变焦倍率比达到 1:18，在 10X目镜下能够实现 7.5X-135X的变倍范围，让您既可以在低放大倍率下进行高质量的整体观察，又可以快速放大以进行微米级的细节观察。1:18 连续变焦比0.75X-13.5X的变倍物镜，变焦倍率比达到 1:18，一套系统即可同时观察低倍成像和高倍成像，减少样本转移耗费的时间。观察高、厚、不规则样品，避免了碰撞工业样品，例如线路板等，往往凹凸不平且十分厚重，NSZ818 在确保高放大倍率的情况下，保证了 60mm 的工作距离，与传统显微镜相比大大增加了样品与镜头之间的距离，减少观察时的碰撞，既保护了显微镜，也保护了样品。 落射荧光组件采用长寿命、高亮度的 LED 荧光照明，复眼透镜保证即使在低倍率的视场范围内也能保持均匀的照度，高透过率、高截至深度、高陡度的滤色片，实现的信噪比和清晰的荧光图像。