三光栅扫描单色仪

哪位用过自动扫描光栅单色仪啊?求帮助啊

大侠们，请问有用过WDP500-D自动扫描光栅单色仪测试气体成份的吗？能否提供一些建议、谢谢

发射谱，通常称为荧光谱。在特定激发波长情况下，一段发射波长和该波长荧光强度对应曲线。如果是扫描光谱仪，激发波长选择后，发射侧光栅扫描，发射单色仪的波长对应检测器强度的曲线；如果是CCD检测器，就是对应像素的波长和强度的关系。光栅可能也需要扫描来侧高分辨率的宽范围的图谱。测量时为了提高信噪比，可以在激发侧加带通滤光片来最大限度抑制杂散光，在发射侧添加高通滤光片（低通，上转换时候）来消除二次散射光。通常设定激发波长后，发射范围设定不要包括激发波长，当然，PLQY特殊测试要求除外。要考虑检测器的响应线性区间。

光谱仪简单说来就是通过光栅等分光器件，将光线按不同波长进行分离，形成按波长划分的光线能量分布。光谱仪用于纯光学特性分析，只需要测量和输出被测源的相对光谱能量分布。单色仪和光谱仪其实是一样的，只是根据使用目的不同而有不同的名称。摄谱仪只是在光谱基础上加上了感光底片，便于实时获得光谱图像，在现在电脑普及的情况下，图像已经不需要实时打印出来，摄谱仪不具有应用前景，但在地质勘探等领域仍有很大市场。分光光度计是能从含有各种波长的混合光中，将每一种不连续的单色光分离出来，用作采样反射物体或透射物体，并测量其强度的仪器。由于不同物体分子的结构不同，对不同波长光线的吸收能力也不同，因此，每种物体都具有特定的吸收光谱。可见，分光光度计实际上是包含光谱仪的系统，是光谱分析的应用，需要测量显示被测源光谱光度参数的绝对值。另外，分光光度计是对不同波长的光线进行扫描，速度比光谱仪要慢很多。这几种仪器其实原理基本相同，只是面向不同的使用范围而已。（来自网络，侵删）

大家好！我想请问一下问什么双单色仪能提供比单单色仪更高的光度值测量范围？是不是跟它有更低的杂散光水平有关？

[font=宋体]光栅作为分光器件的[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱仪[/color][/url]器所占比例很大，由于使用全息光栅，[/font][font=宋体][font=宋体]使光栅的质量大大提高，没有鬼线，杂散光很低，使光栅分光系统的光学性能有很大的提高。其中一种光栅分光系统采用精密波长编码技术的扫描技术，通过精密控制光栅的转动实现单色光的获取，如图[/font][font=Times New Roman]2-4[/font][font=宋体]所示；另一种技术路线是采用固定凹面光栅的同时配上多通道检测器，如图[/font][font=Times New Roman]2-5[/font][font=宋体]所示，检测器的不同通道单元接收不同波长的单色光，该方式改变了光谱扫描的方式，光谱读取的速度大大提高。上述两种光栅分光光谱仪器价格适中，对[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]技术的普及与推广起很大作用。其中采用阵列检测器的光栅光谱仪因为没有任何移动部件，一般认为仪器的稳固程度较高，非常适宜用于在线系统。[/font][/font][align=center][img=,228,183]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251642251485_5277_4070220_3.png!w397x413.jpg[/img][font=宋体] [/font][img=,229,183]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/06/202406251642298588_3148_4070220_3.png!w491x346.jpg[/img][/align][align=center][font=宋体][font=宋体]图[/font][font=Times New Roman]2-4[/font][font=宋体]光栅扫描型分光系统示意图图[/font][font=Times New Roman]2-5[/font][font=宋体]固定光栅[/font][/font][font='Times New Roman']—[/font][font=宋体]多通道传感分光系统示意图[/font][/align]

本人第一次接触HPLC检测器中单色仪的设计，请各位达人分享一下设计经验。[em0715]

在运行单色仪的时候，底部丝杠会发出很大的声响，也更换过不同尺寸的丝杠，但问题一直也没有解决，希望有这方面经验的达人指点一下，谢谢！[em0715]

忽然想到单色仪分光前置，然后光源使用氙灯等连续光谱光源，那么经过一级单色仪分光校正后得到单谱线光源，然后在经过原子化器，在到达二级单色仪检测.....[em09507]

现在EMCCD的使用越来越多，那么能够与EMCCD联用的单色仪都有哪些呢？价格如何？

有一个问题，小弟我不太理解双单色器杂散光低，大家都知道那双单色器是如何实现低杂散光的？欢迎大家讨论！

[img]http://www.instrument.com.cn/bbs/images/affix.gif[/img][url=http://www.instrument.com.cn/bbs/download.asp?ID=28318]单色仪要求.doc[/url]

产品技术特点说明：[B]光源[/B]垂直安装氙灯，避免水平安装的下垂、受热不稳定和短寿命。非球面反射镜能保证全部波长线形聚焦到狭缝，提高光源能量利用率，避免透镜聚焦的色差。稳态采用连续氙灯，磷光寿命采用变频闪烁氙灯的双光源自动控制灯室，给您最优化的数据。[B]狭缝[/B]软件自动控制，带宽0-30nm， 最小步进0.05nm，保证最大的分辨率和数据再现性。[B]激发单色仪[/B]经典的Czery-turner设计安装，采用非球面的反射镜，保证光栅衍射光斑适应狭缝高度。平面刻线光栅，330nm/750nm闪耀角保证紫外区到红外区（200-1100nm）的最大光能量。最高的杂散光抑制率1E-10，提供最好的固体及散光样品测量信号。双单色器耦合的双光栅单色器，专利的单驱联动控制双光栅技术，软件即可完成双光栅的波长校正。最小扫描步进0.02nm，提供最精细的扫描数据。所有光学元件来自SPEX工厂。它是哈勃望远镜的光学元件供应商。[B]光栅在轴扫描[/B]激发单色仪和发射单色仪都采用光栅在轴扫描设计，光栅表面和旋转轴处在一个平面，保证全波段准确性。[B]参比检测器[/B]一个光电二极管在激发光源到达样品前对光源强度进行监控，实时修正入射能量变化。带有NIST标准光源获取的校正文件。[B]样品仓[/B]样品仓提供几乎所有您需要的附件的安装。采用挡板隔离光学部件，避免粉尘和样品污染，延长仪器使用寿命。[B]发射单色仪[/B]所有激发单色仪的特点同样具备，500nm/1000nm闪耀波长保证可见和红外区的最大效率。采用NIST标准光源获取的校正文件，去除来自光栅和检测器的响应系数。[B]检测器[/B]采用光子计数检测器，保证极微弱信号的采集。出厂的优化设置，提供最大的计数速率，最大消除暗噪声。标准配置为R-928P光电倍增管，满足 200-850nm要求；室温使用，减少由于供电或环境造成的数据波动。红外区采用电子制冷R-10330-75P光电倍增管，满足950-1700nm（瞬态900-1700nm）的测试要求。都能够实现TCSPC荧光寿命的配置升级。[B]数据采集和处理[/B]采用FluoroEssence软件，对于主机可以进行完全的自动控制；整个控制软件耦合在最为著名的ORIGIN软件中，提供最强大的数据处理功能；[B]T型光学系统[/B]具有稳固而且双波长同时测定的特点[B]全反射聚焦光路[/B]：a)对波长无歧视，没有采用透镜造成的色差和波长损失。b)色差对固体样品测量的影响：固体属于表面荧光，由于色差，固体表面的不可移动性，不同波长入射，光斑大小及光学密度有变化，造成被测量样品不同的波长光斑覆盖范围不同，定量的光致发光量子产率会有较大的偏离。而且这种表观的荧光光谱是无法校正的。[B]荧光寿命拟合功能[/B]从2009年起，开放全部的拟合软件功能：软件来自IBH公司享誉全球多年的Datastation数据采集软件 和DAS6拟合软件。a)1-5 exponentialsb)Lifetime Distribution c)Fit to exponential series d)Anisotropy e)Froster-type Energy transfer f)Yokota-Tanimoto energy transfer g)Micellar Quenching h)Globals i)Batch Analysis

各大虾:我想向大家请教一个问题:分子荧光仪器,是采用滤光片的好,还是用单色仪或凌镜的仪器好?这个问题困惑我很长时间了,一直没法解决,望大家指点.谢谢!

3.3um的中红外光谱仪（单色仪）有哪些厂家提供OEM或销售？

光谱仪工作原理光谱分析方法作为一种重要的分析手段，在科研、生产、质控等方面都发挥着极大的作用。无论是穿透吸收光谱，还是荧光光谱，拉曼光谱，获得单波长辐射是不可缺少的手段。由于现代单色仪可具有很宽的光谱范围（UV-IR），高光谱分辨率（0.001nm），自动波长扫描，完整电脑控制功能，极易和其它周边设备配合为高性能自动测试系统，使用电脑自动扫描多光栅光谱仪已成为光谱研究的首选。在光谱学应用中，获得单波长辐射是不可缺少的手段。除了用单色光源（如光谱灯、激光器、发光二极管）、颜色玻璃和干涉滤光片外，大都使用扫描选择波长的单色仪。尤其是当前更多地应用扫描光栅单色仪，在连续的宽波长范围（白光）选出窄光谱（单色或单波长）辐射。　　当一束复合光线进入光谱仪的入射狭缝，首先由光学准直镜准直成平行光，再通过衍射光栅色散为分开的波长（颜色）。利用不同波长离开光栅的角度不同，由聚焦反射镜再成像于出射狭缝。通过电脑控制可精确地改变出射波长。光栅基础　　光栅作为重要的分光器件，他的选择与性能直接影响整个系统性能。为更好协助用户选择，在此做一简要介绍。　　光栅分为刻划光栅、复制光栅、全息光栅等。刻划光栅是用钻石刻刀在涂有金属的表面上机械刻划而成；复制光栅是用母光栅复制而成。典型刻划光栅和复制光栅的刻槽是三角形。全息光栅是由激光干涉条纹光刻而成。全息通常包括正弦刻槽。刻划光栅具有衍射效率高的特点，全息光栅光谱范围广，杂散光低，且可作到高光谱分辨率。光栅方程　　反射式衍射光栅是在衬底上周期地刻划很多微细的刻槽，一系列平行刻槽的间隔与波长相当，光栅表面涂上一层高反射率金属膜。光栅沟槽表面反射的辐射相互作用产生衍射和干涉。对某波长，在大多数方向消失，只在一定的有限方向出现，这些方向确定了衍射级次。如图1所示，光栅刻槽垂直辐射入射平面，辐射与光栅法线入射角为α，衍射角为β，衍射级次为m，d为刻槽间距，在下述条件下得到干涉的极大值：mλ=d（sinα+sinβ）　　定义φ为入射光线与衍射光线夹角的一半，即φ=（α-β）/2；θ为相对与零级光谱位置的光栅角，即θ=（α+β）/2,得到更方便的光栅方程：　　mλ=2dcosφsinθ　　从该光栅方程可看出：　　对一给定方向β，可以有几个波长与级次m相对应λ满足光栅方程。比如600nm的一级辐射和300nm的二级辐射、200nm的三级辐射有相同的衍射角。　　衍射级次m可正可负。　　对相同级次的多波长在不同的β分布开。　　含多波长的辐射方向固定，旋转光栅，改变α，则在α+β不变的方向得到不同的波长。如何选择光栅选择光栅主要考虑如下因素：刻槽密度G=1/d，d是刻槽间隔，单位为mm。闪耀波长　　闪耀波长为光栅最大衍射效率点，因此选择光栅时应尽量选择闪耀波长在实际需要波长附近。如实际应用在可见光范围，可选择闪耀波长为500nm。光栅刻线　　光栅刻线多少直接关系到光谱分辨率，刻线多光谱分辨率高，刻线少光谱覆盖范围宽，两者要根据实验灵活选择。光栅效率　　光栅效率是衍射到给定级次的单色光与入射单色光的比值。光栅效率愈高，信号损失愈小。为提高此效率，除提高光栅制作工艺外，还采用特殊镀膜，提高反射效率。光栅光谱仪重要参数：分辨率（resolution）　　光栅光谱仪的分辨率R是分开两条临近谱线能力的度量，根据瑞利判据为：　　R==λ/Δλ　　光栅光谱仪有实际意义的定义是测量单个谱线的半高宽（FWHM）。实际上，分辨率依赖于光栅的分辨本领、系统的有效焦长、设定的狭缝宽度、系统的光学像差以及其它参数等。　　R∝M.F/WM－－光栅线数　　F－－谱仪焦距　　W－－狭缝宽度色散　　光栅光谱仪的色散决定其分开波长的能力。光谱仪的倒线色散可计算得到：沿单色仪的焦平面改变距离χ引起波长λ的变化，即：Δλ/Δχ=dcosβ/nF　　这里d、β、F分别是光栅刻槽的间距、衍射角和系统的有效焦距，n为衍射级次。由方程可见，倒线色散不是常数，它随波长变化。在所用波长范围内，改变化可能超过2倍。根据国家标准，在本样本中，用1200l/mm光栅色散的中间值（典型的为435.8nm）时的倒线色散。带宽　　带宽是忽略光学像差、衍射、扫描方法、探测器像素宽度、狭缝高度和照明均匀性等，在给定波长，从光谱仪输出的波长宽度。它是倒线色散和狭缝宽度的乘积。例如，单色仪狭缝为0.2mm，光栅倒线色散为2.7nm/mm，则带宽为2.7*0.2=0.54nm。波长精度、重复性和准确度　　波长精度是光谱仪确定波长的刻度等级，单位为nm。通常，波长精度随波长变化，本样本中为最坏的情况。　　波长重复性是光谱仪设定一个波长后，改变设定，再返回原波长的能力。这体现了波长驱动机械和整个仪器的稳定性。卓立汉光的光谱仪的波长驱动和机械稳定性极佳，其重复性超过了波长精度。　　波长准确度是光谱仪设定波长与实际波长的差别。每台单色仪都要在很多波长检查波长准确度。F/#　　F/#定义为光谱仪的直径与焦距的比值。这是对光谱仪接收角的度量，这是调整单色仪与光源及探测器耦合的重要参数。当F/#匹配时，可用上光谱仪的全部孔径。但是大多数单色仪应用长方形光学部件。这里F/#定义为光谱仪的等效直径与焦距的比值，长方形光学件的等效直径是具有相同面积的园的直径

摘要：杂散光是光栅的重要技术指标,它直接影响光栅的信噪比,紫外波段的杂散光对光谱分析尤为不利.为了考察平面刻划光栅用于光谱仪器时产生的杂散光,采用标量衍射理论数值分析了杂散光产生的原因.数值模拟结果表明,紫外平面刻划光栅刻槽周期随机误差以及刻槽深度随机误差是杂散光的主要来源,而光栅杂散光对光栅表面小尺度随机粗糙度并不敏感.提出了平面光栅光谱仪出射狭缝相对宽度的概念,数值分析了仪器出射狭缝高度及出射狭缝相对宽度与杂散光强度的关系,从而分别为在光栅制作工艺中从根源上降低光栅杂散光以及在光栅应用过程中从使用方法上降低光栅杂散光提供了理论依据.最后,为了与采用滤光片法测得的光栅杂散光实验值进行比较,给出了理论求解杂散光总强度的求和公式,并对4个不同波长的杂散光进行了多次测量.结果表明,当刻槽周期随机误差、刻槽深度随机误差和表面随机粗糙度分别取0.8 nm、 0.5 nm和1.2 nm时,理论值和实验值的相对误差可控制在13%左右地址：http://bbs.instrument.com.cn/download.asp?ID=272139

http://www.instrument.com.cn/show/Breviary.asp?FileName=C27892%2Ejpg&iwidth=200&iHeight=200 上海科哲生化科技有限公司 的 KH-3100型全能型薄层色谱扫描仪(KH-3100型)已参加“国产好仪器”活动并通过初审。自上市以来，这款产品已经被多家单位采用，如果您使用过此仪器设备或者对其有所了解，欢迎一起聊聊它各方面的情况。您还可以通过投票抽奖、参与调研等方式参与活动，并获得手机电子充值卡。【点击参与活动】 仪器简介： KH-3100型全能型薄层色谱扫描仪 ——中药指纹图谱专家 全球首创含量谱图、图像、相似度判定三者合一 中药是我国的传统优势，中药指纹图谱是中药现代化的重要组成，是中药研究的热点，与使用HPLC-DAD、HPLC-MS的中药指纹研究方法相比，薄层色谱法成本低、速度快、样品前处理少、直观性强，具有巨大的优势，是真正能普及的中药指纹图谱分析方法。上海科哲公司是中国唯一的薄层色谱扫描仪生产商，中国薄层色谱仪器的领导者，KH-3100型全能型薄层色谱扫描仪专为中药指纹图谱分析而打造，是中国第一台具有专业中药指纹图谱功能的薄层色谱扫描仪，创造性的将全波长薄层色谱扫描仪、图像系统、中药指纹图谱软件三者集成在一起，功能在全球处于领先地位，可使中药指纹图谱研究人员独辟蹊径，获得强大的竞争优势，更快地出文章、出标准、出效益； KH-3100中药指纹图谱功能： 1、 可进行薄层板高精度快速定量， 标准样品RSD值≤1%； 2、 可进行图像拍摄，得出薄层板图像，用于快速检测； 3、 扫描仪可任意调用图像数据，进行扫描轨迹跟踪，为全球首创； 4、 具有强大的指纹图谱功能，进行相似度比对，得出中药质量信息； 5、 可将薄层图像转化为三基色色谱曲线，再进行快速相似度判定； 6、 可得出样品成分的紫外-可见光谱，使指纹特征性进一步提高； 7、 带有样品图形同图平行比较功能，使不同批次的产品差异一目了然； 8、 带有薄层点样软件，使点样精确，位置容易确定； KH-3100主要特点 1、 自动光源能量标定，提醒更换能量不足光源； 2、 自动对灯，使光源始终保持最强状态； 3、 自动校正光栅单色仪，保持波长的准确性； 4、 氘灯-卤钨灯自动切换，可进行氮气吹扫避免臭氧干扰； 5、 带有紫外光谱扫描功能，可分析未知物质，优化扫描波长； 6、 USB数据传输，数据传输量大，传输速度快； 7、 工作站性能强大，仪器全计算机控制，自动化程度高； 8、 光源可提供200nm~850nm连续紫外-可见光谱，波长范围宽； 9、 单色仪使用1200条/mm的全息光栅，分辨率与光谱纯度高； 10、 工作站可进行样品、方法、操作者管理，符合GMP/GLP要求； 11、 工作站预置了2000版与2005版所有中药定量分析方法，调出即用； KH-3100主要优点 1、仪器具有光电与图像两个检测器，可同时得到扫描与图像数据，世....【了解更多此仪器设备的信息】

这个问题困扰了我好几天了。我不是学物理的，对光学更是@#￥%@#￥%。我工作的单位有一台多功能读板机，或者，叫酶标仪（就是一种高通量的分光光度计）。据工程师说，它的分光原理是采用两块光栅级联进行分光的，可以保证射到样品上的光更纯。本着打破沙锅问到底的精神，我查了好几天资料，发现有几个问题让我极度困扰。1、光栅光谱的谱级分离问题。根据光栅公式可知，光栅分出来的不同级次的光会有重叠。这是光栅本身的性质和光的波长决定的。一级光谱的800 nm的光、二级光谱的400 nm的光以及三级光谱的267 nm的光谱出射角是一样的，它们仨是叠在一起的。这样的三束光再入射到下一级光栅，那出射角不是还一样吗？怎么能把它们仨分开啊？说得具体点，这种光谱仪是怎么得到800 nm的光的？2、我在网上看到很多地方都说，光栅单色器多数使用的是滤光片+光栅的分光模式。还用上面那个例子，如果想要得到800 nm的光，只需要用滤光片去掉800 nm以下的光就行了。这个我可以理解。但为什么现在的高级光谱仪都弃用了这种设计？比如岛津的UV2700就是使用的双光栅单色器。双光栅单色器相比于滤光片+光栅的单色器有什么优点，同时又有什么缺点。

杂散光是光学系统中所有非正常传输光的总称，杂散光对光学系统性能的影响因系统不同而变化。因此，在光学设计中，杂散光成为光学设计工作中的一个重要指标.在UV仪器中，杂散光产生的原因比较复杂，有暗室密封程度引起的漏光和透射镜面残余反射引起的杂散光，反射镜老化发生漫反射后产生的杂散光和光栅老化产生的部分反射光等引起的杂散光还有光栅分光倍频产生的杂散光等等。 对于UV仪器，杂散光对于测量高浓度样品时会产生很大的误差。因为比尔定律是严格按照单色光实现的，杂散光只贡献不需要的光能量，造成吸光度与样品浓度不成比尔定律，因为测量高浓度样品时透过率很低，透过样品的单色光能量很低，而此时杂散光可能相对能量较高，造成此时的吸光度与样品浓度不成比尔定律，引起较大误差。 所以仪器档次不同，杂散光指标不同，可用于测量的吸光度范围就不同。 比如：UVmini-1240 杂散光指标 小于0.05% 可用吸光度范围 -0.3-3.0Abs UV-2450 杂散光指标 小于0.0015% 可用吸光度范围 -4-5Abs UV-3600 杂散光指标 小于0.00008% 可用吸光度范围 -6-6Abs 仪器老化后，引起杂散光升高，造成测量吸光度不准。 杂散光指标对UV是一个很重要的指标。

杂散光是所有光学仪器系统中固有的一种有害的非检测光，对仪器的测量精度影响很大。对于光谱分析仪系统而言，杂散光的影响更加不可忽略。在光谱仪中，杂散光是形成系统背景光谱的主要原因，若背景光谱较强，则可能影响到微弱光信号的检测，大大地降低系统的信噪比，同时会直接影响测量信号的准确度及单色性。 　　目前市场上大多数光谱仪制造商所提供的快速CCD光谱仪分光都采用平面光栅与多块聚光镜的组合，会产生极大的杂散光，对测量结果影响很大。新一代CMS-3S快速光谱分析仪，采用世界先进的全息凹面衍射光栅和东芝高性能的线性CCD陈列探测器。优化了高性能CCD与全息凹面平场衍射光栅的匹配设计，通过求解关于不同像差项的非线性方程组来达到消除具体像差、补偿像面的目的，只需一个光学元件，很好的解决了大多数厂家对快速光谱仪测试过程中产生极大杂散光，使光学匹配更完美，系统所获得的光谱更纯，线性更好。　　杂散光的控制远远达不到用全息凹面平场衍射光栅只需一个光学元件的超低效果。除了低杂散光，采用全息凹面平场衍射光栅对提高其热稳定性也有很好的帮助。在很宽的温度范围内测量结果几乎没有波长漂移, 并且光谱谱峰有良好的保持效果。

1.功能扫描隧道显微镜STM 原子力显微镜AFM自动进针功能 真三维图形处理功能深度和宽度定标功能自动保存扫描参数WINDOWS 9X操作系统的控制软件2.特点整机自动化自动记录参数图象数据定标配图象处理软件3.技术指标分辨率 横向：≥0.1nm 纵向：≥0.01nm；扫描范围 3μm×3μm；18μm×18μm；扫描频率 1Hz~100Hz步进电机及丝杠控制 10nm精度光栅扫描旋转角度 0~360º样品台大小 10x10x10mmD/A精度：16bit,32通道；A/D精度：16bit,10通道偏置电压 0~10V隧道电流预置 0.5nA~10nA图像分辨率 512×512灰度等级 256计算机 优于P42.0G/256M/40G4.整套仪器的其他附件、连接电缆、软件确保仪器正常操作和日常维护，满足基本功能和以上技术参数。

我看了一文后收获颇多,但是不明白分光光度计什么是固定光栅型和扫描光栅型?求高人详细解答一下,谢谢!

[B][size=4]杂散光(stray light)介绍[/size][/B] [B]一。杂散光的定义[/B] 杂散光的定义在不同的文献中不不同的定义。 文献12中给出的杂散光的定义是“不该有光的地方有光，这就是杂散光。” 赵本山的“关东大先生”中，贝勒爷评价关东大先生，”关键他不按套路出牌“ (暗台词就是他很难对付)，杂散光也是这样，很难对付，所以，不妨给杂散光起个新定义-----------“不按套路出牌的光，就叫杂散光”。[B]二。杂散光产生的原因[/B] 文献12中，给出杂散光的产生原因有：1. 灰尘玷污光学元件（如光栅、棱镜、透镜、反射镜，滤光片等），如图5.1.1。 [center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/08/200908012029_163034_1786353_3.gif[/img][/center]2. 光学元件产生的其他缺陷（如光栅、透镜、反射镜、棱镜材料中的气泡等），如图5.1.2。3. 光学元件被损伤，如图5.1.3。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/08/200908012030_163035_1786353_3.gif[/img][/center]图5.1.4是由于机械制造误差引起的杂散光从透镜边缘射入。4. 单色器的内壁黑化处理不当。 如果打开分光光度计，你会发现，里面的部件、盒子都是黑色的，尤其是单色器黑匣子，黑化的目的就是捕获“不按套路出牌”逃逸出来的光。5. 狭缝的缺陷。本来光通过狭缝时，“套路”应该是直线传播，如图5.1.5 中的A情况；可是由于狭缝的“单缝衍射作用”，光线偏离直线方向传播。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/08/200908012031_163037_1786353_3.gif[/img][/center]6. 准直系统内部或有关隔板边缘的反射。7. 热辐射或荧光引起的二次电子发射。8. 光束孔径不匹配。9. 光学系统的像差。[center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/08/200908012033_163038_1786353_3.gif[/img][/center] 图5.1.6是入射光线由于透镜上反射，引起杂散光。图中红线是正常传播光线，蓝线和绿线由于透镜的反射偏离正常传播路径，变成杂散光，引起鬼影(ghost reflection)。 据文献12中介绍，光栅是杂散光的主要来源。它产生的杂散光占总杂散光的80%以上。[B]三。杂散光产生和传播的过程[/B][center][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/08/200908012034_163040_1786353_3.gif[/img][/center]以图5.1.7为例，定性说明一个杂散光产生和传播的过程。杂散光产生和传播过程： 假设图5.1.6中的光源辐射5条带四种颜色帽子的白光(复色光)，2条戴橙色帽子，1条戴蓝色帽子，1条戴红色帽子，1条黑色帽子。以下简称小橙哥俩，小蓝，小红，小黑。a. 小橙哥俩 小橙哥俩的行进路线（称为A路线）是按正常的“套路出牌的”，如图5.1.7中的2条橙色线，这是设计者的初衷，为理想情况。b. 小蓝。 小蓝行进路线（称为B路线）：M0--- M6--- 单色器内壁。 小蓝自光源出发，经M0反射，入射到反射镜M6上，由于M6的某种缺陷（比如上面说的灰尘、损伤），小蓝偏离了正常的反射路径，被散射到单色器的内壁上，由于单色器内壁都做了黑化处理，所以，小蓝被捕获（把单色器内壁想像成宇宙中的黑洞也是不错的）。c . 小红。 小红行进路线（称为C路线）：M0--M5---M4---M8---M10---M12---参比池---M13--M14--检出器。小红在遇到反光镜M4之前，都在按正常的路径前进，当遇到M4后时，由于M4的某些缺陷，造成小红直接从M4上反射到M8上，未经G2光栅色散，然后经过多个反射镜的反射，到达检出器，显然这违背了设计者的初衷，未按"套路出牌"，造成测量误差。d. 小黑。 小黑行进路线（称为D路线）：M0--M6--M1--G1--M2--G1--M1--G1--M2--M7--M11--M9--M16--M15--检出器。小黑在反射镜M1之前都是按正常路径前进，但是由于光栅G1的某种缺陷（如刻痕损伤、灰尘）造成小黑在G1上多次衍射，正常的只能衍射一次，所以小黑也未能"按套路出牌"，也引起测量误差。

以上问题有三个答案,请问哪个对?答：答案1：色散率是光栅刻痕数、光栅面积和焦距的综合指标，光栅刻痕数越多，光栅面积越大，焦距越长，仪器的色散率越好。 (回答者：本网VIPbinfu) 答案2：仪器的色散率正比于光栅线数和谱仪焦距，反比于狭缝宽度，与光栅面积无关。光栅面积与光通量有关，光栅面积大则通光孔径大，光能量强。色散率和光通量都是单色器的重要指标。 (回答者：本网VIPzhujx) 答案3：我不同意回答2的答案. 参见binfu老师的答案,这才是科学的:在实际工作中用线色散率dl/dλ表示。对于平面光栅，线色散率为: d l /dλ＝ nf / d cosβ式中，f为会聚透镜的焦距。β为闪耀角。光栅的分辨率R等于光谱级次n与光栅刻痕总数N的乘积，即R= nN例如，对于一块宽度为50mm，刻痕数N为1200条/mm的光栅，在第一级光谱中（即n＝1），它的分辨率为 R＝nN＝l×50 mm × l200/mm ＝60000可见，光栅的宽度越大，单位宽度的刻痕数越多，分辨率就越大。

1.灰尘沾污光学件（如光栅、棱镜、透镜、反射镜、滤光片等）2.光学元件被损伤，或光学元件产生的其他缺陷。（如光栅、棱镜、透镜、反射镜材料中的气泡等）3.准直系统内部或有关隔板边缘的反射。4.光学系统屏蔽不好。5.热辐射或荧光引起的二次电子发射。6.狭缝的缺陷。7.光束孔径不匹配。8.光学系统的相差。9.单色器内壁黑化处理不当。其中，光栅是杂散光的主要来源，它产生的杂散光占总杂散光的80%以上。

[size=16px][b]首先让我们了解什么是杂散光[/b]：[b][font=宋体]杂散光是[/font][font=宋体]指非吸收光的其它波长的入射光[/font][font=宋体]。由于光源[/font][font=宋体]发出的光经过单色器[/font][font=宋体]时有可能从单色器舱内及其它光学[/font][font=宋体]元件表面发生反射[/font][font=宋体]，从光学元件表面以及大气[/font][font=宋体]中的灰尘[/font][font=宋体]也可以发生散射，这些都会产生杂散光。比方说，现给定波长为450纳米，那么其它不是450纳米的光对于450纳米，就是杂散光。[/font][/b][/size][b] 现有检定规程对该指标的检定是很不完善的，对于[font=宋体]棱镜型可见分光光度计，只在420纳米处检定杂散光，[b][font=宋体]对于[font=宋体]光栅型可见分光光度计，只在360纳米处检定杂散光，对于紫外可见的，另再在220纳米处检定杂散光。很显然是不完备的，按理也应该每一100纳米，检定一次杂散光。当然现今也受到标准物质的限制。[/font][/font][/b][/font][font=宋体][b][font=宋体][font=宋体] 按理应该是办法总比问题多，关键是对问题的重视与否！[/font][/font][/b][/font][/b]

请教杨老师:光栅刻痕\面积\焦距,哪个更能反映单色器性能,色散率是否为综合指标? 能量因子可否作为光学系统综合指标?