塞热电效应测试仪

MMR SB100 变温塞贝克热电效应测试仪器 塞贝克热电效应测量系统允许用户可以通过从70 K到400 K温度范围内自动测量塞贝克效应在金属，半导体和其他电子导电样品的热电效应，也可从200K到730K。样品安装很简单，可实现样品的快速更换。该塞贝克系统兼容不同的计算机通过IEEE - 488（GPIA）或RS - 232接口。可编程塞贝克的混合测量系统包括了SB - 100可编程控制器塞贝克的K - 20可编程温度控制器，塞贝克热阶段和配件，计算机（PC），和MMR提供的软件. 塞贝克热电系统包括两个热电偶对。一对是形成了铜路口和已知的塞贝克电动势的参考。另一对是形成了铜路口及材料的塞贝克电动势。该系统采用更复杂的参数测量技术，能更精确，高重复性。 特征工作温度：70K至730K2个16bit A / D转换器分辨率：50nV测试精度：0.1％最小加热器步长：0.1mw自动读取：高达128软件支持所有测量样品长度：“2mm10mm电源输入：110V,60Hz和220V，50Hz

Seebeck Measurement System塞贝克效应测试仪Thermoelectric MeasurementsspecificationØ Small Sample SizesØ 2 mm to 10 m lengthØ 1 to 2 mm wide and highØ Specifications:Ø Resolution: 50nVØ Minimum step of power to heater to determine temp difference: 0.1 mWØ Max thermal range measured: +/- 3mVØ Internal standard to ensure error correction in measurementsØ ControllersØ Rack mountableØ GPIB OptionsØ USB ConnectionsØ Software for control and analysis providedØ Can be used with LabView ****

薄膜热电参数测试系统RS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。● 测试环境温度范围达到81K~700K。● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。● 真空度≤10Pa● 塞贝克系数测量范围：S≥8uV/K；分辨率≤±7● 采用四线法测量电阻率。● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。

美国MMR塞贝克效应系统 热电材料的研究在能量保存和能源替代方面有着重要的作用, 而热电系数是热电材料的主要参数之一. 通过研究不同温度下的热电系数并配合理论模型可得到载流子类型和能带结构信息等. 主要应用于能源效率, 替代能源, 汽车和燃料消耗等研究. 美国MMR塞贝克效应系统主要参数： 待测样品与参考样品增益不匹配度： 0.1%样品长度：2~10mm电压分辨率：50nV最多可重复测量次数: 128 (自动取平均值)温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选） 美国MMR塞贝克效应系统优势： 比较法测量，测量更准确温度连续可调，从低温到高温腔体体积小，可伸入到磁场 可增加霍尔效应测量模块

塞贝克效应测量系统SB1000数字塞贝克效应控制器在设计时考虑到用户和易用性，使用低温系统(液氮低温恒温器)或瞬态信号技术的热级系统，集成到真空环境中，为80 K - 700 K宽温度范围内的塞贝克系数测量提供了可靠的平台。以上翻译结果来自有道神经网络翻译（YNMT） 通用场景应用程序热电动势测量温度依赖导电样本提供的信息大部分航空公司的标志,电荷传导机制与合适的理论模型,材料的能带结构的信息。的知识塞贝克系数是一个关键因素优化热电材料和找到正确的应用程序。灵敏度高,结构变化使热电动势测量一个优秀的技术结构研究阶段条件对给定材料的电荷传输性质。特性高精度的塞贝克系数测量高信噪比和快速数据采集差分测量算法宽温度范围(80 K - 700 K)统计数据分析实时热电压瞬态测量用户友好的、自动测量设置典型变量温度塞贝克效应测量系统(SMS)一个典型变量温度塞贝克效应测量系统包括:DC600可编程温度控制器和SB1000塞贝克效应测量控制器液氮低温恒温器和集成放大电路到真空环境中聚酰亚胺薄膜(80 K - 400 K)或陶瓷(200 K - 700 K)样品安装阶段真空泵和真空配件用两个探针或四个探针测量技术测量电导率的四个焊接针Dell Optiplex 3000 Tower desktop com

一、产品概述：霍尔效应测试仪是一种用于测量材料霍尔效应的仪器，主要用于评估半导体和导体的电学特性。该设备能够准确测量材料在外部磁场下的电导率、霍尔电压和载流子浓度等参数，广泛应用于材料科学和电子工程领域。二、设备用途/原理：设备用途霍尔效应测试仪主要用于半导体材料的研究与开发、电气元件的性能测试以及材料的电学特性评估。它帮助研究人员了解材料的载流子类型、浓度及迁移率，为新材料的设计和应用提供重要数据支持。工作原理霍尔效应测试仪的工作原理基于霍尔效应现象。当电流通过材料时，施加垂直于电流方向的磁场会在材料中产生霍尔电压。通过测量霍尔电压和已知的电流及磁场强度，仪器能够计算出材料的霍尔系数、载流子浓度和迁移率等电学参数。这一过程通常涉及精密的电流和磁场控制，以确保测量的准确性和重复性。三、主要技术指标：1. 系统功能：用于测量半导体材料的电阻率/电导率、流动性、散装/片状载体浓度、掺杂类型、霍尔系数、磁阻、垂直/水平阻力比的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念，允许轻松升，该系统适用于各种材料，包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等2. 该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器，可扩展该系统温度范围从90K到500K3. 方块电阻量程：10-4 Ω/sq ~ 106Ω/sq4. 载流子浓度量程：106 ~ 1021 cm-35. 载流子迁移率量程：1 ~ 107 cm6. 四个微调探针座，探针直接形成ohm接触，无需焊线或制作PCB板7. 大样品测量直径：25mm

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

霍尔效应测试仪　　霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm　　仪器重量：6kg

韩国Ecopia 全自动变温霍尔效应测试仪 HMS-5300LTHVariable Temperature Hall Effect Measurement System (80K-573K)产品组成:1、主机系统恒电流源+范德堡(Van der Pauw)方法终端转换系统2、 AMP55TR 磁体组磁场强度：0.51T软件控制，自动换向3、 变温样品系统温度范围：80k-573k主要组成部分及技术规格：-马达控制的磁体组件及腔体；-数据传输电缆、温控电缆等；-变温样品板及弹簧夹具；-温控系统、热电偶；-0.51 特斯拉永磁体；-金属复合材质的高温样品板；-全自动温度控制范围：80-573k；-温控精度：0.5 摄氏度；-控温步长：1 摄氏度；-升温时间：约 30 分钟(常温至 300 摄氏度)；-样品尺寸：样品边长控制在 5mm - 20mm 长；4、常温测量弹簧夹具样品板及常温测量磁体盖板5、变温霍尔效应测量软件HMS-5300 变温霍尔效应测量仪软件主界面产品规格：1、 仪器主要参数2、 软件操作环境Windows10/ 8 / 7 环境下；3、实验结果体载流子浓度、表面载流子浓度；迁移率、霍尔系数；电阻率、电导率；磁致电阻；电阻的纵横比率；载流子浓度、迁移率、电阻率 vs 温度曲线；I-V 曲线，及不同温度下 I-V 曲线的对比图；4、仪器尺寸和重量主机尺寸：440×420×140 mm (W×H×D) / 8.5Kg；磁体 Kit 尺寸：680×220×110 mm (W×H×D) / 16Kg；5、 测量材料Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO),AlZnO, FeCdTe, ZnO 等所有半导体薄膜(P 型和 N 型)；

HMS-7000 光电霍尔效应测试仪相比于传统的变温霍尔效应测试仪，变温光模霍尔效应测试仪可以通过改变照射在样品上的不同波长范围的光源（红、绿、蓝光源），得出载流子浓度、迁移率、电阻率及霍尔系数等半导体电学重要参数随光源强度变化的曲线。 光学模块 通过HMS-7000主机及霍尔效应测试仪软件控制光源及马达自动完成测试，并绘制出载流子浓度、迁移率、电阻率及霍尔系数随光源强度变化的曲线如下：

Ecopia为全球霍尔效应测试仪的领导者。针对半导体材料的霍尔效应测试，Ecopia有多个系列、型号的产品推荐给不同要求的霍尔效应仪客户。 HMS-3300 / HMS-3500高温霍尔效应测试仪使用HMS-3000霍尔主机。HMS-3300 / HMS-3500高温霍尔效应仪的变温磁体包使用5500高斯的永磁体组，高温样品板通过温控仪手动控温，温度范围：常温 ~ 300摄氏度 (或500摄氏度)，磁体换向通过磁体组的手动平移实现。 总的来说，HMS-3300 / HMS-3500是一款手动调温的高性价比成熟霍尔效应测试仪。

塞曼效应实验，YMP-6101 简介YMP-6101塞曼效应实验以汞光源的546.1nm光谱线为研究对象，汞光源经过干涉滤光片后形成单色光，经过聚光透镜和偏振镜片，通过法布里-珀罗（F-P）标准具，形成干涉圆环，最后通过光学镜头和CMOS相机在电脑上形成干涉图像。本实验装置包含一个可调恒流电源和电磁铁，通过调节电流的大小控制磁场的强弱。在垂直于磁场方向，当磁场足够强时，汞原子内部的能级开始分裂，电子根据跃迁定则，产生新的谱线，在标准具产生干涉圆环，通过CCD相机和软件，我们就可以直观的观测到一个干涉圆环分裂成9个干涉圆环。而这些谱线是偏振的，通过旋转偏振器，可以在不同角度观测到不同数量的干涉圆环。而当平行于磁场方向进行观测时，可以观测分裂的谱线是圆偏振的。特点可进行垂直于磁场方向和平行于磁场的塞曼效应可调恒流源和电磁铁产生~1.2T的匀强磁场，保证运输和实验安全精度高达1/100λ的法布里-珀罗标准具，可获得K级至K-2级的9条分裂谱线，线条清晰锐利实验内容学习和掌握塞曼效应的原理和实验方法学习和掌握线偏振光概念和垂直于磁场方向的塞曼效应（Л分量 和σ分量）计算电子荷子比e/m学习和掌握圆偏振光概念和平行于磁场方向的塞曼效应学习和掌握特斯拉计的工作原理，使用特斯拉计和传感器测量电磁场与电流的关系通过塞曼效应测量电磁场强度激光原理实验实验，YTR-6301简介YTR-6301是一套全开腔结构的气体激光实验装置。通过调整谐振腔的光学元件，使它们处于同一光轴上，光将在谐振腔内振荡放大，从而输出激光。还可以验证激光的线偏振特性，以及通过F-P共焦球面扫描干涉仪观测不同长度谐振腔的纵模间隔。特点全开腔式结构设计，谐振腔的腔镜、激光管和谐振腔光程均可调，有助于学生们了解激光器的基本结构主激光管加装有机玻璃管，全面保护激光管和接线柱的安全按照工业级别要求设计生产的机械部件，保证输出激光和实验的稳定性光功率计用于调整和优化谐振腔，保证激光输出功率最大实验内容激光器的基本组成与结构的认识学会调节激光谐振腔并输出激光测量不同长度谐振腔下的纵模间隔激光偏振性的验证密立根油滴实验，YMP-6117简介YMP-6117密立根油滴实验通过控制均匀电场中的带电油滴，使用CCD成像系统，观察并测量带电油滴在均匀电场和重力场中的运动，从而计算得到整颗油滴的带电量。重复对许多油滴进行实验之后，密立根发现所有油滴的总电荷值皆为同一数字的倍数，因此认定此数值为单一电子的电荷：e = 1.602 x 10^-19 C。本实验装置按运动方式分类，油滴法测电子电荷分为平衡测量法和动态测量法。实验系统由主机、CCD成像系统、油滴盒、喷雾器等部件组成，其中主机包括可控高压电源、计时装置、A/D采样、数据通信等单元模块。特点采用高清高速的CCD成像系统实验主机和油滴盒分离，确保油雾与控制电路隔离实验软件可以显示电压、计时并自动处理实验数据实验内容学习用油滴实验测量电子电荷的原理和方法。验证电荷的不连续性以及测量基本电荷电量e。了解CCD光学成像系统的工作原理。通过对油滴的选择、耐心地跟踪和测量，培养学生严谨的态度和一丝不苟的科学实验方法。金属电子逸出功实验，YMP-6108简介YMP-6108型实验装置通过测量金属钨的电子逸出功，将钨丝作为“理想”二极管的阴极材料，阳极做成与阴极共轴的金属圆环，把阴极发射端限制在温度均匀的一定长度内而又可以近似的把电极看成是无限长的无边缘效应的理想状态。为了避免阴极的冷端效应（两端温度较低）和电场不均匀等边缘效应，在阳极两端各加装一个保护（补偿）电极，它们与阳极同电位但与阳极绝缘。当钨丝通电发光发热后，金属内部部分热电子获得大于逸出功的能量，从金属表面逃逸形成热电子发射电流。根据金属中电子能量遵从费米-狄拉克量子统计分布规律，获得热电子发射电流公式，从而计算逸出功（WorkFunction）。特点理想真空二极管透明直观阳极电流测量准确稳定，阳极电压输出高效精准增加螺线管线圈和配套电源可升级为理想真空二极管综合实验装置可升级为数字化实验实验内容了解费米—狄拉克量子统计规律理解热电子发射规律和掌握电子逸出功的测量方法用里查逊直线法分析阴极材料(钨)的电子逸出功拉曼光谱分析实验，YTR-6306简介拉曼光谱是分子振动的“指纹谱”，不同的物质分子具有不同的振动频率，因此常作为物质识别的重要依据。YTR-6306实验装置由多模窄线宽激光器出射激光，通过拉曼探头聚焦于样品，与样品作用后产生的拉曼信号由探头收集经光纤传输至光纤光谱仪后得到样品最终的拉曼光谱。特点模块化设计，更易于学生了解和掌握拉曼光谱系统的原理和组成按照工业和科研标准进行设计和生产，不但可以用于实验教学也可以用于科学研究专业的样品池和支架，易于学生操作专业的操作软件，引导式操作，简单易于掌握实验内容学习和掌握拉曼光谱的基本原理学习和掌握拉曼光谱测量的原理、基本组成和主要的工作原理和使用方法学习和掌握如何搭建和使用拉曼光谱测量系统学习和掌握如何测量CCl4溶液和乙醇样品的拉曼光谱学习和应用拉曼光谱对塑料样品进行鉴别测量和分析各类自备固体和液体样品的拉曼光谱更多详情,请关注！

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。 Hall8686可说是一套功能强大、应用广泛的系统，Hall8686是在Hall8800的基础上增加了温度控制的功能，成为部分高端科研客户的理想选择。SWIN一直秉承平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。目前广泛应有于台湾半导体厂商。主要特点1、高精密度电流源 输出电流之精确度可达1nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。 2、高精密度电表 使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。 3、外型精简、操作简单 外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。 4、I-V曲线 采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。 5、单纯好用之操作画面 使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。 6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。技术参数磁场强度：0.53T 温度测试范围：77K-423K，77K-623K可选， 温度准确度+/-0.5度；输出电流：1nA-100mA 迁移率(cm2/Volt-sec):1-107 阻抗(Ohms.cm):10-5 to 107 载流子浓度(cm-3):107 - 1021 样品尺寸：5-15mm，厚度1mm样品夹具：Hall8686弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)； 测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量) 仪器尺寸(WxDxH)：400*360*200 mm仪器重量：15kg

iSD-300冲击波毁伤效应测试仪 针对战斗部冲击波超压毁伤效应测试需求开发，将ICP恒流源调理、A/D转换器、大容量存储器、可充电锂电池、SOC单元及数据通讯单元等集成一体，可独立工作，直接接驳ICP型冲击波压力传感器，放置于测点附近，自动采集存储冲击波毁伤效应数据；内置GPS定位授时单元和无线通信单元，实现分布式多点无线同步测量及远程无线遥测功能。产品特点 ■ 仪器小巧、坚固、轻便，可独立工作，现场一键设置；■ 采样率最高1MSps，满足冲击波超压测试需求；■ 内置ICP恒流源，可直接接驳IEPE型冲击波压力传感器；■ 采用高精度GPS/北斗授时，支持分布式同步触发测量，多点同步时差μs 级；■ 自带电池供电，可置于测点附近，自动完成数据采集和存贮；■ 内置大容量数据存储器，可记录多次试验数据，16段连续采集，防止误触发；具有数据断电保护功能；■ 充电通信接口，一键下载所有设备数据；■ 可采用无线/有线通信方式，远程监测多个设备状态，设置参数，读取数据；■ 近距离（80米内）可通过WiFi应用控制设备，获取状态，读取数据及结果，远距离（5km内）可通过Lora应用控制设备，获取状态及特征值；■ 配套软件可设置参数，显示超压P-T曲线及测试结果，保存试验数据，生成测试报告等。技术指标型号：iSD-300通道数：1/2通道内置调理单元：ICP恒流源 采样率：最高1MSpsAD分辨率：16Bit量程：±10V直流精度：≤±0.3%内置数据存储空间：16 GB，eMMC续航时间：内置可充电锂电池，电池续航时间不低于4H防护等级：防水防尘等级 IP67尺寸、重量：直径：50mm 高：110mm 重：330g工作温度：-20℃～70℃抗冲击：100g更多详细信息，请咨询：四川拓普测控科技有限公司

热电材料的研究在能量保存和能源替代方面有着重要的作用, 而热电系数是热电材料的主要参数之一. 通过研究不同温度下的热电系数并配合理论模型可得到载流子类型和能带结构信息等. 主要应用于能源效率, 替代能源, 汽车和燃料消耗等研究。主要参数：1. 待测样品与参考样品增益不匹配度： 0.1%2. 样品长度：2~10mm3. 电压分辨率：50nV4. 最多可重复测量次数: 128 (自动取平均值)5. 温度：70~730K；80~580K；70~580K；80~730K；室温~730K（可选）

1.恒奥德压电效应及逆压电效应演示仪,压电与逆压电效应仪 型号H17987 【实验目的】 演示压电与逆压电效应的应用。 【实验原理】 电介质中有类其分子的电偶矩不为零，即它是有分子。在由分子构成晶体时，其 具有定对称性的排列使这种电介质晶体作为个整体不表现出电性来，宏观电偶矩为零，原因是多个分子的电偶矩的矢量和为零；但当电介质晶体受到外力（应力不为零）而有形变时（应变不为零），其晶胞中分子电偶矩的矢量和不再为零，从而出现宏观电化现象，即岀现宏观电偶矩，电介质的表面会出现化电荷，这种现象称为压电效应。反之，把压电晶体放在电场中它也会出现定的形变，内产生应力应变，这种现象称为逆压电效应。本实验用的元件是压电陶瓷片，它具有压电性，把它放在声场中，声波的机械振动通过压电效应在压电陶瓷片的电上激起化电荷变为音频电信号，经放大可为人们所听到。逆压电效应可被用来利用电场控制细微的密机械运动，如扫描隧道显微镜的探针的控制就是由逆压电效应通过压电陶瓷片实现的。 【实验步骤】 1、打开放大器电源开关，将转换开关置于压电端； 2、将压电片紧贴马蹄表，调节放大器音量，即可听到钟表走时声； 3、将转换开关置于逆压电侧，即可观察到逆压电现象。 【注意事项】 使用毕后妥善保管仪器，以免组件丢失。 【实验拓展】 压电效应实质上是由于电介质分子结构而产生的联系力学和电学量的效应，试设想它有什么用途。2.智能数显磁力电热套 磁力搅拌器 数显恒温搅拌加热套 型号H17988 智能数显磁力电热套：容量有：100ml、250ml、500ml、1000ml、2000ml、3000ml、5000ml、10000ml，多种型号规格供客户选择。电热套具有受热面积大、均匀、升温快的特点， 产品特点 1.采用电热套加热，具有受热面积大、均匀、升温快的特点，温问度380℃。 2.控温采用模糊PID控制算法，双屏数字显示，自整定能，具有测量度，冲温小，单键轻触操作，内、外热电偶测温，可控硅控制输出，160-240V宽电压电源，并有断偶保护能。 3.可对50-20000ml标准或非标准反应瓶行加热搅拌。 4.采用直流无刷电机，性能稳定，噪音小，寿命长，无火花产生。 5.数显转速能。 6.内设温保护能。 7.斜面操控面板适合坐位和站位视角。 8.低速平稳，速强劲。 术参数 电 源：～220∨，50Hz 调速范围：100-2500转/分,数字显示转速 电机率：40W，DC14-24V 搅拌容量：50、100、250、500、1000、2000、3000、5000、10000、20000ml 加热率：180-2200W 3.触摸屏书刊装订强度测试仪 型号：HAD-SKL-03 HAD-SKL-03触摸屏测控系统适用于拉伸和压缩试验仪的测试和控制，设计标满足标对拉伸、压缩、剥离等测试软件的要求HAD-SKL-03主要参数：1．力值测量范围：20~500N2．示值度：±1%3．较大夹持书页长度：310mm4．较小夹持书页宽度：100mm5．数字显示：4位直读6．打印结果：4位有效数字7．夹具移动速度：2—60mm/min8．速度度：±5%8．电源：交流220V9．仪器重量：约60kg 1.显示区域：实时显示并刷新软件读取到的当前力、大力、回位时间、测试时间等数值，并在程序行测试时显示力/时间的曲线图。2.菜单区域：菜单主要有试样资料、测试方案、显示设置、系统设置，详细能参见对应章节。3.控制区域：控制区主要包含开始测试、停止、测试结果等常用按钮，各按钮的能如下；（1）开始测试按钮：点击此按钮即可行测试，测试成后自动结束测试并自动回位。（2）停止按钮：点击此按钮即可结束测试，也可停止上升下降的动作。（3）测试结果按钮：点击此按钮即可入测试结果页面。（4）清零按钮：点击此按钮可将力、时间等参数行手动清零。（5）停止按钮：点击此按钮会停止当前动作，如果测试状态会停止测试后自动回位。（6）上升按钮：点击此按钮会行上升动作。（7）下降按钮：点击此按钮会行下降动作。 4.面团成型机 型号DF100 、产品概述及特点 概述：DF100面团成型机是实验室中制备成型面团的设备。将针式和面机制备的面团经本设备压片和滚条后，可以制成适用于面包、蛋 糕、饼干、馒头、面条等产品的面团。 特点：t能多，可以试验压片、赶气、滚条成型等能 t面团成型机将经过发酵或醒发后的面团置于可调间距的两压片辊之间滚压，可有效排除体积较大的气泡 t面团成型机各辊表面都经过了不粘处理 t面团成型机间距调节灵活，并配有脚踏开关，便于操作 二、产品术参数 1、仪器作条件：电源电压：电压交流AC220±10V，频率50/60HZ；环境温度：15℃-45℃；环境相对湿度：10%～85% 2、电机率≤180W 3、具有压片和成型能 4、采用对辊挤压压片； 5、压片辊具有轧距调节能，辊距调节范围2-10mm 6、采用三辊辊压成型 7、成型面团长度可调 8、压片辊和成型辊均采用聚四氟乙烯处理 9、压片辊规格：φ95mmX150mm 10、成型辊规格：φ70mmX330mm 11、配有安操作开关，便于操作，保证安 配套设备：面团成型机1台、面铲（橡胶）1个、毛刷1把、不锈钢托盘2 恒温磁力搅拌器/磁力搅拌仪 型号:HAH01-3 HAH01-3恒温磁力搅拌器 特点 特　　点：无刷直流电机驱动，特强磁力，适用于粘度大容量液体搅拌， 恒温型，配电接点水银温度计可自动控温，加热率无可调，电压表显示加热电压 5.HAH01-3恒温磁力搅拌器主要术参数 电　　源：AC220V±10% 50Hz 搅拌转速：100～1800 r/min 搅拌容量：10000ml 电机转矩：25mNm 加热率：800W内可调 加 热 盘：￠175mm 控温范围：室温～250℃ 控温度：±1℃ 外形尺寸：280×175×145（mm） 注：电接点水银温度计用户自备 6.五合pm2.5粒子检测仪/pm2.5检测仪 型号：HAD-GP主要术标测试粒子数：0.3μm、2.5μm 1 0μm测试粒子质量：PM2.5 、PM 10光 源：激光二管流 量：500ml采样时间：35 秒测试方式：浓度（每升）电 源：Li-ion 锂离子电池（7.4V/1000mAh）或AC/DC 适配器（AC 输入：100～240V，50/60Hz，DC 输出：9V，1.5A）电池作时间：连续测试时间约为 3 小时外形尺寸：201 * 92 * 36 mm环境条件：作环境：5～45℃, ＜90%RH 储藏环境：–20～50℃, ＜90%RH标准附件：AC/DC 适配器，便携式保护箱 7.悬浮物测试仪/水质在线悬浮物分析仪/在线悬浮物测定仪 型号:HAD-MLSS4210 应用l 海洋，地面，自来水，市废水，废水处理艺等l 化，药，食品加，纸业各种业过程配套，材质可特殊订做。 能l 报警限值可以设定，声光报警用开关信号输出0/5V信号,驱动30mA 和光电隔离的晶闸管触发电路（额定电压400V,电流1A）l 现场配2×16 LCD液晶显示数据，配1个扒插式4x5键盘 l 自动温度软件补偿(ATC) l 标定能允许用户利用配制的浓度范围标样建立多至4个点,也允许纯水单点调零，2点标准样品标定（DKA,在线性量程内）。l 输出1路0-2.5/5V,0/4-20mA线性标准信号。可直接用于显示器，记录仪，或做PID闭环控制。能可设计。 性能l 电路测试度0.05%FSl 外接电源DC 12-24V, 率:1.40 W, 基本测试耗500mW. l 防水设计: NEMA 4x。 测量范围: R1000: 0-2000mg/L 准确度: ±2-5% FS 重复度: ±1%R 分辨率:0.1mg/L 使用温度: 0-50℃ 压力:10 kgf/cm2 8.烟气湿度仪/烟气水分仪/温湿度仪 型号:HAD-H900 产品概述HAD-H900烟气湿度仪采用口温湿度传感器，湿度仪采用数字电路与微机处理术测量温环境湿度，并行温度补偿，可快速准确行检测，采用自导流流体力学结构，抗化学腐蚀，抗粉尘，具有自洁能，并可选配自动吹扫能。 应用域 可广泛应用于冶金，钢铁炉煤气，电力，印染，纸张，石膏，陶瓷，化等行业烟气湿度分析。 术标 检测量程 0- 确度 ±2.0%FS重复性 ≤±2%FS 零点漂移 ≤±2%FS/6h输入电源 AC220V 跨度漂移 ≤±5%FS/6h 响应时间 T90≤10S 样品温度 -20～300℃采样方式 插入导流式 信号输出 4-20mA或RS485 报警方式 触点输出 接点容量 1A/220VAC或1A/24VDC 耗 ≤300W 插入深度 300/500/800mm 9.玻璃表面张力测定仪 型号:HII-1200 本仪器装置采用玻璃丝收缩法测定软化温度范围内的表面张力。 主要术参数 1.立式管状电炉，炉管尺寸Ф30×300mm。 2.温度1200℃ ，使用温度1000℃。 3.K型分度号测温热电偶。 4.炉膛控温≤±1℃，炉内均温区长：100mm。 5.可控硅调压，智能温度控制仪，实现PID调节，程序升温，可意设定程序段，保温时间。 6.试样制备：用玻璃棒拉成直径圆形，粗细均匀，直径误差不大于0.05mm，通过试验来确定长度。 7.带数显，可配软件，带电脑输出。（按用户需求） 主要配置： 1、测试主机 台 2、测试软件 套 3、数据采集系统 套 4、喷墨打印机 台 10开口闪点测定仪 型号 DP-K02 该仪器用于测定石油产品开口闪点值，液晶屏幕中文人机对话显示界面，菜单导向式输入，符合GB/T3536-83、GB/T267-88标准，是理想的口仪器替代产品 适用GB/T3536-83、GB/T267-88标准 特点1、液晶屏幕中文人机对话显示界面 2、具有中文误操作软件提示修改能 3、配有试验日期、试验时间等参数提示能 4、自动校正大气压强并计算修正值 5、系统偏差自动修正 6、扫描、点火、检测、打印试验数据微机自动成 7、可检测抗燃油闪点 8、电子点火，强制风冷 量程室温-400℃ 重 复 性≤4℃ 再 现 性 ≤6℃ 分辨率 0.1℃ 环境温度10—40℃ 相对湿度﹤85% 供电电压 AC220V±20% 50HZ±2.5 HZ 率小于300W 本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 本产品价格仅为配件价格，由于检测参数不同对仪器的终要求也不同，所展示的价格并非产品终价格，如给您带来不便请谅解请您在购买前联系我们客服人员，我们会给你确认产品信息，术参数以及报价，我们会以优惠的价格，诚恳的态度为您服务，期待您的来电！

HL9900 霍尔效应测试仪应用程序通过霍尔效应测量，可以确定以下特性:电阻率/电导率流动性散装/单张载体浓度掺杂类型霍尔系数磁阻垂直/水平阻力比特性Van der Pauw, Hall Bar和Bridge测量符合ASTM F-76标准简单的探针系统，方便，快速的样品吞吐量紧凑的工作台设计宽电流范围，包括自动电流装置，以尽量减少样品加热用户自定义电场限制，以避免低温下的冲击电离效应可选的高阻抗缓冲放大器/电流源扩展片电阻率测量到1011 Ω/平方HL9950 -可变温度单元Van der Pauw, Hall Bar和Bridge测量符合ASTM F-76标准简单的探针系统，方便，快速的样品吞吐量紧凑的工作台设计宽电流范围，包括自动电流装置，以尽量减少样品加热用户自定义电场限制，以避免低温下的冲击电离效应可选的高阻抗缓冲放大器/电流源扩展片电阻率测量到1011 Ω/平方

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.5T3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 %10年内磁场变化＜±0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K和300K3-4电阻率范围：1 μ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm 3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：1 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：±10V3-9-2电压分辨率：1μV4.仪器特点：4-1Automatic or manual current selection自动或手动模式(电流控制磁场模式)4-2Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-3Routine and enhanced software常规和增强软件4-4Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-5Electromagnet电磁体4-6Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-7Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-8Automatic field calibration自动现场标定4-9Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-10Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-11Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-12Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统)4-13Van der Pauw and bar shape (bridge-type) Hall samples支持范德堡和霍尔巴法测试霍尔5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module, the magnet power supply and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、磁场电源、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。6软件界面

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.45T 永磁体3-2-2磁场类型：永磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜±1 %10年内磁场变化＜±0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K(液氮温度)或室温3-4电阻率范围：1 μ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：2.5 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：±10V3-9-2电压分辨率：1μV4.仪器特点：4-1Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-2Routine and enhanced software常规和增强软件4-3Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-4Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-5Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-6Automatic field calibration自动现场标定4-7Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-8Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-9Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-10Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统)5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。6软件

MMR Hall Effect Measurement System controlled continuously variable temperature MMR可控连续变温霍尔效应测试系统1. 功能描述： 测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数2. 测试范围： Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、 迁移率、电阻率、霍尔系数等参数。3. 磁场强度： 0.5T 电磁场，磁场强度可以定制选择4. 温度区域: 70K ~730K； 80K ~580K； 80K ~730K； 300K ~730K5. 电阻率范围：10-6~1013 Ohm*cm6. 电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms7. 载流子浓度：102~1022cm-38. 迁移率: 10-2~109 cm2/volt*sec 仪器优点：1. 采用van der Pauw法测试 2. 最大可测25mmX25mm样品，提供两种样品装载方式：弹簧探针、引线治具，以及两个杜瓦瓶：全封闭和带玻璃窗口各一 个 3. 配备电脑和相应的控制软件，测试过程以及设备内各个单元均由软件控制,永磁体需要手动翻转样品，电磁场测试过程全自 动。测试数据能够方便的储存和导出 4. 模块化设计，可升级到温度范围更广、磁场更大的系统，也可升级成塞贝克测量系统 5. 测试过程中，由于致冷或加热所引起的样品振动幅度在um量级或更优 6. 在同一个样品室下进行变温霍尔效应的测试，最大变温范围70K~730K。避免更换样品室给测试带来的不方便性和不连贯 性，其他品牌低温和高温需要在高温和低温两个样品室下测试7.允许在一定气体环境下测试8.提供石英透明窗口，可以测试光激发下电阻率

霍尔效应测试仪，是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 Hall8800霍尔效应测试仪介绍　　该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。　　主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则 　　仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。　　除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。　　Hall8800可说是一套功能强大、应用广泛的系统，再加上平实的价格， 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。　　目前广泛应有于半导体厂商。　　主要特点　　1、高精密度电流源　　输出电流之精确度可达2nA，如此微小之电流可用于半绝缘材料之量测，即高电阻值材料之量测。　　2、高精密度电表　　使用超高精度电表，电压量测能力可达nV等级，上限可达300V，极适合用于量测低电阻值材料。　　3、外型精简、操作简单　　外型轻巧、美观大方，磁铁组之极性更换也很灵活容易，独特之液氮容器设计，可确保低温量测之稳定性最佳。　　4、I-V曲线　　采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压曲线，藉此评判样品的欧姆接触好坏。　　5、单纯好用之操作画面　　使用者只需在同一张操作画面中，就可以完成所有的设定，实验结果由软件自动计算得到，并在同一张画面中显示出来，省却画面切换的麻烦，结果可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、等重要实验数据。　　6、自行开发之弹簧样品夹具，特殊设计之弹簧探针，其强度加强可改善探针与接触点之电气接触，提高量测之可靠度。　　技术参数　　磁场强度：0.65T/1T 　　常温和液氮温度(77K)下测量 　　输出电流：2nA-100mA 　　迁移率(cm2/Volt-sec):1-107　　阻抗:10-6 to 107　　载流子浓度(cm-3):107 - 1021　　样品夹具：　　Hall8800弹簧样品夹具(免去制作霍尔样品的麻烦)；　　测量材料：所有半导体材料包括Si,ZnO,SiGe,SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量)　　仪器尺寸(WxDxH)：260*220*180 mm 　　仪器重量：6kg

PHYS TECH GmbH RH2035 霍尔效应测试仪器1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.技术参数：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：1T 电磁体3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜± 1 %10年内磁场变化＜± 0.2%3-3温 度：3-3-1温度区域：77K(液氮温度)或室温3-4电阻率范围：1 µ Ohm*cm ~10 M Ohm*cm3-5电阻范围：0.1 m Ohms ~10 G Ohms3-6载流子浓度：107~1021cm-33-7迁移率：10-2~107 cm2/volt*sec3-8输入电流：3-8-1电流范围：1000 pA~10mA3-8-2电流解析度：25 pA (lowest range)3-8-3电流精度：2%3-9输入电压：3-9-1电压范围：± 10V3-9-2电压分辨率：1&mu V 4.仪器特点：4-1Automatic contact check自动接触检查(欧姆接触)4-2Routine and enhanced software常规和增强软件4-3Differential resistivity measurements by I/V-curvesI/V曲线测试电阻率差异4-4Misalignment voltage compensation失调电压补偿4-5Correction of slow sample drift voltage, especially for ZnO,修正慢样品漂移电压，特别是氧化锌4-6Automatic field calibration自动现场标定4-7Large concentration and resistivity range大浓度和电阻率范围4-8Flexible, modular hardware灵活的模块化硬件4-9Support of various magnets, for example BioRad HL 5200支持多样磁场4-10Support of various temperature controllers支持各种温度控制器(支持客户自行升级变温系统) 5硬件5-1The standard system consists of a bench top electronic system, a small magnet and a sample stage for room temperature and LN2 measurements.标准系统包含电子测试系统、磁场和两个温度区域的测试平台（室温和液氮温度）5-2The electronics include the current source, the voltage measurement part, the contact switching module and the IEEE or RS232 interface. It is completely micro processor controlled.电子测试系统包括由单片机控制的电流源、电压测试、接触开关模块、IEEE或RS232接口5-3The contact switching module is designed to allow all possible measurement configurations.接触开关模块支持所有用户用于其他的配置(用户可以采用制冷机做变温霍尔测试)5-4The current source has adjustable limits for voltage and/or power. {+++}电流源具有可调电压和/或电源的限制5-5Voltage measurement provides different input amplifiers optimized for either low current or low voltage applications.电压测量提供了不同的输入放大器或低电流或低电压应用的优化。

1.设备名称：霍尔效应测试仪2.功能描述：测量半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3.设备明细：3-1测试范围：Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN (N Type & P Type)等材质的半导体薄膜中载流子类型、载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等参数3-2磁场：3-2-1磁场强度：0.5T 电磁体 （0.5T 永磁体 / 1.4T 电磁体 两种磁场可选）3-2-2磁场类型：电磁体3-2-3磁场均匀性：磁场不均匀性＜± 1 %3-3测试样品：3-3-1样品测试仓：全封闭、带玻璃窗口3-4温 度：3-4-1温度区域：80K ~730K3-4-2温控精度：0.1K3-4-3温控稳定性：± 0.1 K3-5电阻率范围：10-6~1013 Ohm*cm3-6电阻范围：10 m Ohms~ 10G Ohms3-7载流子浓度：102~1022cm-33-8迁移率：10-2~109 cm2/volt*sec3-9输入电流：3-9-1电流范围：0.1 pA~10mA3-9-2电流精度：2%3-10输入电压：3-10-1电压范围：± 2.5V,最小可测到6× 10-6V3-10-2电压分辨率：3× 10-7V3-10-3电压精度：2%

便携式塞曼效应汞分析仪产品介绍： 便携式塞曼效应汞分析仪采用高频塞背景校正技术（ZAAS-HFM），基于原子蒸气对254nm共振发射线吸收的原理，进行汞分析检测。 便携式塞曼效应汞分析仪可配备不同模块，实现固、液、气多种样品检测，适用于分析/监测大气、水、土壤、烟道气、应急泄露事故、有害废物、生物材料、职业环境检测等。相关检测方法符合国际标准方法：美国EPA METHODsw-846 ，EPA 1631方法，欧盟标准EN 1483,13806，EU15852,国家标准GB 7468-87，EPA Method 7473燃烧热解法，EPA Method 30B吸附管法，美国ASTM D7622-10标准。 产品简介： • RA-915M分析仪用于监测室内外环境空气和天然气中的汞含量• 该分析仪可用于解决环境问题，石油矿田勘探，工程工艺控制，职业健康安全及科学研究等领域中中的汞检测分析• RA-915M可通过添加模块化分析附件，使分析仪可以方便地测定烟道气、饮用水、天然水和废水、土壤、食品、饲料、生物样品、石油及其加工产品中的汞含量产品特点： • 操作简单，全自动化，自行校准• 通用型设计，满足实验室内的常规检测和野外的动态检测• 检出限低，抗干扰力强• 实时检测大气和天然气• 固体，液体直接进样（需附件），无需前处理，无需金丝富集，无需试剂及压缩气体• 多样化友好界面，可通过自带操作面板使用，也可连接电脑使用• 宽泛检测范围，可达四个数量级• 配备内置存储器，储存可长达122小时的数据• 内置电池满足8小时的连续检测需求 应用领域： • 生态调查 对环境空气和大气中汞含量的监控 对居住地及工作地环境中的汞的监测 汞排放源和污染区域的生态调查• 脱汞方法监测 连续监测模式，可在移动状态下连续监测室内外汞含量 实时监测各种方法或试剂的脱汞过程 脱汞方法和过程的质量保证• 地质和地球化学调查 自然界汞循环的研究 矿藏勘探

胶塞穿刺力测试仪穿刺力测试仪是一种专门用于测试各种材料的穿刺强度的仪器，其在医疗药品、制药方面有着广泛的应用。在医疗药品领域，穿刺力测试仪常被用于测试药品瓶的胶塞、注射针针尖、针灸针等材料的穿刺力强度。这些材料需要具备一定的穿刺强度，以确保它们在使用过程中的安全性和可靠性。穿刺力测试仪主要由测试头、传感器、数据采集系统和控制系统组成。测试时，将待测样品放在测试头上，通过控制系统调整穿刺力度和速度，传感器感知穿刺力值并将其转化为电信号；数据采集系统对电信号进行分析和处理，得出穿刺力值。控制系统可以对测试过程进行精确控制，以确保测试结果的准确性和可靠性。穿刺力测试仪在制药方面也有着广泛的应用。在药品生产过程中，需要对原材料、半成品和成品进行物理性能的检测。其中，穿刺力测试是关键的测试项目之一，它可以有效地检测材料的物理性能和安全性能。例如，对于注射剂药品，需要对注射针的针尖进行穿刺力测试，以确保其在使用过程中的安全性和可靠性；对于包装材料，需要对输液瓶的胶塞进行穿刺力测试，以避免包装材料受到污染。穿刺力测试仪是一种非常重要的测试仪器，在医疗药品、制药方面有着广泛的应用价值。通过测试材料的穿刺力强度，可以有效地检测材料的安全性能和物理性能，为产品的质量和安全性提供保障。 技术参数测量范围 0-300N （其他量程可定制）测量误差 ±1%测量速度 1-500m/min无极调速速度误差 ±2%误差外形尺寸 310mm×400mm×560mm (长宽高)重量 26Kg环境要求环境温度 15℃-50℃相对湿度 ≤80%，无凝露 工作电源 220V 50Hz 标 准GB/T10004、YBB00322004-2015、YBB00102005-2015、YBB00342002-2015、YBB00112005-2015、YBB00242004-2015 配 置标准配置：穿刺仪主机、微型打印机、穿刺力夹具选购件：测试软件、通讯线缆 胶塞穿刺力测试仪此为广告

霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。ECOPIA公司的HMS系列霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、低温(77K)测量系统及磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，是一套非常成熟的仪器系统。同时HMS系列仪器获得多项霍尔效应测量系统、测量方法的专利，代表了霍尔效应测量的全球品质及合理的产品价格，并为全球客户所认可。该产品2004年7月通过CE认证。产品特点：1、 可靠的精度及重现性恒电流源(1nA~20mA)采用六级电流范围设置，将可以接收的误差降到最低；范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声；软硬件有针对性的设计，确保每个实验数据均为多次测试的平均值，使仪器拥有非常好的数据重现性。2、 产品小型化及操作简单化小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统(77K)，确保仪器操作非常简单；两种不同尺寸的传统样品板(20*20mm、6*6mm)及带弹簧夹片的样品板(SPCB)，使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量，区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。3、 I-V曲线及I-R曲线测量采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压及电流-电阻关系，并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。4、 多样的实验结果实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)、电阻的纵横比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。产品组成：主机(精密恒电流源+范德堡法则终端转换器) / 磁体包(包括样品板) / 软件等。[HMS-3000软件界面一][HMS-3000软件界面二(I-V和I-R曲线测量)] 产品规格：1、 主要仪器参数 输入电流：1nA ~ 20mA；电阻率：10exp(-5) ~ 10exp7 Ω.cm；载流子浓度：10exp7 ~ 10exp21 cm-3；迁移率：1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec；磁场强度：0.37T, 0.55T, 1T, 0.25~1T变场磁体；样品测量板：PCB样品板，SPCB弹簧样品板，晶圆样品板等；样品尺寸：5mmX5mm ~ 20mmX20mm (可选配30mm或2inch大样品板)；测量温度：常温，77K液氮浴；2、 软件操作环境 XP / Win7 / Win8 / Win10环境下3、 实验结果体载流子浓度、表面载流子浓度；迁移率 霍尔系数；电阻率,方块电阻；磁致电阻；电阻的纵横比率；4、 仪器尺寸和重量主机尺寸：360×300×105 mm (W×H×D) 磁体Kit尺寸：200×120×110 mm (W×H×D)；净重：7.7千克；5、 测量材料Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)；参考用户：HMS-3000霍尔效应仪国内科研用户超过了100台。 清华大学、北京大学、复旦大学、上海交大、中国科大、浙江大学、哈工大、电子科大、西北工大、湖南大学、中南大学、上海大学、中科院物理所、半导体所、长春光机所、兰州化物所、上海技物所、苏州纳米所、华南理工、天合光能...

Thermo Horizon雾化测试仪介绍不管您选择遵循哪个标准，在对原材料进行VOC试验时，您都可使用Horizon雾化仪，从而满足您的需求。无论您测试的是皮革、乙烯、纺织品或塑料，您的结果都是一致、准确的。可靠性：为了确保从一个样品到另一个样品可靠的温度稳定性，设计的系统采用了坚固耐用的组件。一致性：保持一致的试验条件，在分批试验中生成可重复的结果，确保程序每次重复，且满足DIN、ISO和SAE标准。性能：不管您是否需要基本温控、匀变编程或数据分析，您都可选择最适合您需求的控制器。 Thermo Horizon雾化测试仪产品特点：可存放6个烧瓶的大容量槽能让您每次做更多的试验，节省了大量宝贵的时间和金钱易于使用主要表现为灌注口在设备上方，排放口在设备前面；可通过循序渐进的指示安装设备易于查看液位指示器，确保保持正确的液位密封浴槽表面防止浴液在玻璃板上冷凝设计坚固耐用的泵，可确保得到相同的样品温度 Thermo Horizon雾化测试仪技术参数：特性PC-FTS规格环境温度+13℃至200℃●加热能力3.0kW加热器●20℃时230V/50HZ压力泵/抽吸泵●20℃时1150V/60HZ2kW多功能遥感器和USB端口●20℃时1.2kW语言包括中文的多语言系统冷却能力500W匀变编程●工作温度范围-25℃至200℃多重信息/数据显示器●温度稳定性+/-0.01℃快速导航键区●泵大型彩色LCD显示屏●总压力940mbar2年保修●最大流量24lpm符合CE/WEEE/RoHS●储液器容量10L外形尺寸（高×宽×深）42.5×59×1500px设备重量36kgPC-FTS语言：英语、德语、法语、西班牙语、意大利语、中文、日语外形尺寸（高×宽×深）74.87×27.3×1207.5px符合性CSA/UL,CE,WEEE,RoHS 订货号 描述159-8005 PC FTS雾化仪主机096-451 重量法启动套件不含热油333-0285 冷却盘Cooling plates 333-0276 玻璃烧杯Glass beakers 333-0286 金属环Metal rings 333-0278 密封圈 002-1658 支持环Support rings 333-0443 圆形玻璃片333-0442 铝箔Round foils 999-0062 切样器333-0284 Set of covers

一．用途浪涌测试满足测试标准 IEC 60601-1:2005 (Issue 3) Figure 10 (IEC 60601-1 Figure 50 旧版本)； 满足标准 60601-1:2005 Figure 11 IEC 60601-2-34 Issue 2(可选) IEC60601-2-34Issue 3(包含) IEC 60601-2-49 EC-13 EC-53 和新标准要求 IEC 60601-2-25:2011 和 IEC60601-2-27:2011（含修正 1）。除颤效应防护测试 (共模， 差模)和节能测试。 所有这些测试都使用相同的 5000V 信号源，但输出波形不同。 DFT60包含各种测试所需的不同电路。二．特点和性能规格1、剩余电压自动测量：解决外接示波器测试过程中被干扰导致数据错误的问题2、自动切换导联和输出参数不用频繁去人工切换导联和输出参数，全部软件自动和选择，极大提高了测试效率和安全性。3、充电电压 ： 0 - 5500 V ±1%4、主电容 ： 32 uF ±5%电感 ： 500uH 和 25 mH ±5%5、内阻：10Ω，11Ω 根据标准自动切换或者设置。6、主电阻 ： 100 Ω， 50 Ω and 400 Ω ±1% 无感7、内部信号：5vPP±5%；20vPP±5% 10Hz±1%8、电压控制：数字设置9、极性控制 ： 正极和负极， 数字设置10、电压显示 ：7寸液晶触摸屏11、电压表分辨率 ：1V12、电压表精确度 ： ±1%13、占空比 ： 脉冲间隔 20s，±1%100电阻档， 可达 70脉冲14、脉冲间隔 12s，+1%/-5% 100 电阻档， 连续运行15、线性电压 ：120V AC，50/60Hz *可选不同的线性电压16、能量测试：- 仅工作时 ： 25mH 电感 (符合节能测试要求)- 显示分辨率值 ：1焦耳- 重复性 ： ± 2 焦耳，（脉冲之间）三．工作条件1）工作温度： 15-28 º C，相对湿度范围 ： 0-90% 不凝结2）电源电压: 单相 220V ±10%，220V+/-10%，50-60 Hz

霍尔效应测试仪主要用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、导电类型等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应测试仪是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。ECOPIA公司的HMS系列霍尔效应测量系统主要由恒电流源、范德堡法则终端转换器、低温(77K)测量系统及磁场强度输入系统组成，拥有研究半导体材料霍尔效应所有的部件和配置，是一套非常成熟的仪器系统。同时HMS系列仪器获得多项霍尔效应测量系统、测量方法的专利，代表了霍尔效应测量的全球品质及合理的产品价格，并为全球客户所认可。该产品2004年7月通过CE认证。产品特点： 1、 可靠的精度及重现性恒电流源(1nA~20mA)采用六级电流范围设置，将可以接收的误差降到最低；范德堡法则转换使用非接触装置有效降低仪器噪声；软硬件有针对性的设计，确保每个实验数据均为多次测试的平均值，使仪器拥有非常好的数据重现性。2、 产品小型化及操作简单化小尺寸的磁场强度输入系统使用永磁体和液氮低温测量系统(77K)，确保仪器操作非常简单；两种不同尺寸的传统样品板(20*20mm、6*6mm)及带弹簧夹片的样品板(SPCB)，使得不同尺寸不同材料的薄膜样品更容易测量，区别于传统样品板的弹簧夹片样品板使得霍尔电极制作更方便且对样品损伤更小。3、 I-V曲线及I-R曲线测量采用图表的方式，测量探针四点(A、B、C、D)间电流-电压及电流-电阻关系，并以此评判样品的欧姆接触好坏、了解样品的基本的电学特性。4、 多样的实验结果实验结果由软件自动计算得到，可同时得到体载流子浓度(Bulk Carrier Concentration)、表面载流子浓度(Sheet Carrier Concentration)、迁移率(Mobility)、电阻率(Resistivity)、霍尔系数(Hall Coefficient)、磁致电阻(Magnetoresistance)、电阻的纵横比率(Vertical/Horizontal ratio of resistance)等等。 产品组成：主机(精密恒电流源+范德堡法则终端转换器) / 磁体包(包括样品板) / 软件等。[HMS-3000软件界面一] [HMS-3000软件界面二(I-V和I-R曲线测量)]产品规格： 1、 主要仪器参数 输入电流：1nA ~ 20mA；电阻率：10exp(-5) ~ 10exp7 Ω.cm；载流子浓度：10exp7 ~ 10exp21 cm-3；迁移率：1 ~ 10exp7 cm2/Volt.sec；磁场强度：0.37T, 0.55T, 1T, 0.25~1T变场磁体；样品测量板：PCB样品板，SPCB弹簧样品板，晶圆样品板等；样品尺寸：5mmX5mm ~ 20mmX20mm (可选配30mm或2inch大样品板)； 测量温度：常温，77K液氮浴；2、 软件操作环境 XP / Win7 / Win8 / Win10环境下3、 实验结果体载流子浓度、表面载流子浓度；迁移率 霍尔系数；电阻率,方块电阻；磁致电阻；电阻的纵横比率；4、 仪器尺寸和重量主机尺寸：360×300×105 mm (W×H×D) 磁体Kit尺寸：200×120×110 mm (W×H×D)；净重：7.7千克；5、 测量材料Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)；参考用户： HMS-3000霍尔效应仪国内科研用户超过了100台。清华大学、北京大学、复旦大学、上海交大、中国科大、浙江大学、哈工大、电子科大、西北工大、湖南大学、中南大学、上海大学、中科院物理所、半导体所、长春光机所、兰州化物所、上海技物所、苏州纳米所...