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热电参数测试系统

仪器信息网热电参数测试系统专题为您提供2024年最新热电参数测试系统价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括热电参数测试系统参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的热电参数测试系统您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合热电参数测试系统相关的耗材配件、试剂标物,还有热电参数测试系统相关的最新资讯、资料,以及热电参数测试系统相关的解决方案。

热电参数测试系统相关的仪器

  • MPC 20在线多参数通用控制器产品介绍MPC 20在线多参数通用控制器是基于赛默飞多年水质监测经验,针对中国用户使用习惯、响应“工业4.0”概念而研发的一台可连接多种探头的通用控制器。本产品可广泛应用在环境监测、市政污水、市政自来水、工业、养殖、系统集成等各类现场的多路显示、控制、数据远传等,完美实现一机多用的客户需求。产品特点:可同时使用10+N个传感器,降低每个测量点的成本;温度测量可用于所有传感器;IP66防护等级;可储存1年的数据和事件;可通过USB或LAN进行远程读数、控制、升级、下载数据等;6路模拟量输出,2路模拟量输入,6路继电器接口(4路可选有源/无源,2路固定有源);多种通讯协议便于远程控制测量、校正、设置和诊断:Modbus RTU, Modbus TCP
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  • 赛默飞全新Dionex Inuvion 离子色谱系统使离子分析比以往任何时候都更简单、更直观,能够满足繁忙分析测试实验室的需求--无论什么时间、哪个班次或者哪位操作人员,都能获得始终如一的出色结果。赛默飞全新Dionex Inuvion离子色谱仪系统使离子分析比以往任何时候都更简单、更直观。设计简洁,能方便地查看所有必要的组件、管路和耗材,以简化操作和日常维护。Dionex Inuvion离子色谱系统能够让您利用更多种类色谱柱和化学试剂来加快分析速度并提高结果质量,同时提供灵活、方便的电解抑制和自动电解淋洗液发生器。Dionex Inuvion离子色谱系统有三种配置:Dionex Inuvion Core离子色谱系统、Dionex Inuvion离子色谱系统和具有免试剂(RFIC)的Inuvion离子色谱系统。这一灵活、适应性强的平台旨在让您能够随时轻松地从Dionex Inuvion Core升级到Dionex Inuvion(带RFIC)。Dionex Inuvion离子色谱系统还具有多种用户可选配件,可通过添加这些配件以满足特定的应用需求。
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  • 五参数水质分析系统是ThermoScientificTM 采用 AquaPro 多通道控制器为操作平台,通过定制化内置模块,同时连接4个AquaSensors传感器。测量参数包括:pH、电导率、浊度、溶解氧和温度,也可以配置为其他测量参数,这是一个先进的通用控制器理念。通过此控制器可实现远程控制、配置、校准和诊断,满足不断发展的环保、工业在线监测的实际需求,配置灵活并且有效降低成本。1. pH测量差分pH电极Orion ROSS差分式pH电极可提供快速、准确的pH测量。可更换盐桥的双液接界设计,能有效延长电极的寿命,避免频繁更换电极;该ROSS电极极小的漂移量,使在线pH测量能更长时间地保持高精度和稳定性,低维护要求和长期的产品稳定性,降低运行和维护成本。2. 电导率测量电导率电极同轴电极结构有效降低干扰并提高耐久性,提供快速而高精度的自动温度补偿,另有多种电导池常数和多种主体材料可选。3. 溶解氧测量荧光法溶解氧电极RDO Pro 荧光法溶解氧测量探头特有的光学检测方法,无硫化氢“中毒”影响,可以有效的消除样品中 pH值波动、CO2、硫化物、硫化氢、硫酸盐、氯化物、氨氮、重金属的干扰,从而在更长的时间内提供更稳定、更准确的测量结果。RDO Pro无需透氧膜、无需补充电解液,维护量小;24位数字信号传输方式使读数更稳定。4. 浊度测量浊度电极浊度传感器使用 ISO7027 标准方法,同时测量 180 度的光径和 90 度光径,在光学测量中对粒子大小以及形状进行补偿。光源为红外光,避免了样品颜色的干扰;24位数字信号传输方式使读数更稳定。5. 温度测量温度电极所有测量探头内置温度传感器订购信息
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  • Thermo Scientific™ Eutech™ Expert 系列 pH测试笔Thermo Scientific™ Eutech™ Expert 系列 pH测试笔可以同时测量pH和温度值,袖珍式设计可提供方便、快速、准确的测量方案,应用范围包括水培养殖、园艺、水产养殖、农业、游泳池、实验室测量及其它水质应用场所。 功能特点? 同时测量、显示pH和温度,自动温度补偿功能保证测量结果时刻准确? 自动缓冲液识别和自动校准,现场可以简易、快速地进行校准? 容易读取的4位数双行显示器,并且有电池寿命、准备和校准指示。 ? 改善按键使操作界面更直观? 保护帽可作为样品杯使用,并可使测试笔站立在桌面上? 挂绳设计保证操作时不易脱手? IP67防护等级,可以漂浮在水面上? 8.5分钟无操作自动关机,节省电量 技术参数测量参数pH / oC / oFpH测量范围0.0 —14.0 pH分辨率0.1 pH测量精度 ± 0.1 pH校准点的数量1-3点校准温度测量范围0 — 50.0 oC分辨率0.1 oC测量精度±0.5 oC +1 LSD自动温度补偿有其他参数电源4节 A76 或 LR44 电池自动关机8.5 分钟无操作自动关机操作温度5 — 45 oC防护等级IP67尺寸规格17 x 4.5 x 3 cm (L*W*H)
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  • Thermo ScientificTM TranscendTM II 系统是目前效率最高的液相色谱(LC)解决方案,该系统具备两个极有价值的技术:(1)Thermo ScientificTM TurboFlowTM 技术。在进行UHPLC分离和MS分析之前,采用该技术对样品中复杂基质进行选择性的在线净化处理;(2)Thermo Scientific 多通路技术。该技术采用多个平行的UHPLC通路,增加了 MS 利用率,通量可提高数倍。 结合这两种技术,Transcend II 系统减少了样品制备时间、劳动力、成本和错误发生率,从而显著提高通量且不影响数据质量或灵敏度。 Transcend II 系统可以配置成运行TurboFlow方法进行在线样品净化,也可以配置成运行多通路HPLC或UHPLC方法实现最高样品通量,或者两种方法同时运行。Transcend II 系统可以在四个LC通道上运行一种方法,或者在各个独立LC通道上同时运行四种不同的方法。
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  • 热电材料器件转化效率测试系统 CEA 热电器件转化效率测试系统用于评估在不同的温度递度条件下热电器件的热能—电能转化效率。测量不同热面温度条件下热电器件发电功率与热面输入热流的比值;不同热面温度条件下的发电功率和发电电流;热电器件最大发电效率。得到P-I-T曲线组,Q-I-T曲线组,以及η- I-T曲线组。设备特点: 可以测试不同尺寸器件 热端温度快速调控 多组PID、AI人工智能调节APID控温,具有自整定、自学习功能,防热辐射屏实时智能 跟进温度递度,实现了流过模块的线性热流 热面最高温度可达800℃ 器件与样品架接触应力可精确调节 系统自动判断热流稳定程度,智能测试 技术参数测量值热电转换效率、发电功率、发电电流、最大发电效率的温度点测量原理一维稳态热流法样品尺寸20~30mm(长宽)×1~20mm(高)热面最高温度800℃接触面压力100- 2000N最大温差600℃气氛真空、惰性 应用实例放射性同位素热电发生器(RTG)1、RTG中使用的是二氧钚(钚-238)安装RTG到探测器2、探测器(新地平线号、好奇号)
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  • 塞贝克系数/电阻分析系统 CTA-3S 郑重承诺:全球甄选知名供货商,保证系统品质达到完美! 坚决不做低价、减配、低品质的经济版本和精简版等系统,维护国内用户的最大利益! 热电材料测试系统CTA-3S系统是在CTA-3系统的基础上升级性能更加强大的硬件(数据采集、变压器、功率调控模块、温度调节器和电磁场屏蔽处理、温度控制方式等优化),提高了温度场控制精度和测量数据的准确性和重复性。 技术特点: 可控温场下可同步测量赛贝克系数和电阻率 标准配置进口高级商用吉时利(Keithley )数采仪表,避免电路板集成数据采集技术带来的干扰误差 Keithley技术: 100nV rms 噪音本底 直流电压灵敏度低至 10nV,基本精度为 0.002%(90天) 7ppm DCV 可重复性,基本 1 年 DCV 准确度:0.0028% 最大读取速度范围:2k 读数/秒; 温度分辨率:0.001℃; 交流电压分辨率:0.1μV 电阻分辨率:1 μΩ 电流分辨率:1nA 低功耗欧姆测量模式 弱电流电路测试功能 偏置补偿欧姆功能 检定低压元件又快又准确 提高测量精度的置信度 以低至 100μA 的源电流测量低阻抗,最大程度减少设备自发热 进行电阻测量时控制测试电压,避免击穿可能已形成的任何氧化物或膜 消除会在系统环境中进行低电平电阻测量时产生错误的热效应 提供更精确的低电阻测量 标配进口高级商用电流源(ADCMT),非电路板集成恒流源,避免无法精准输出小电流而产生热效应和测不准 恒流源参数:0.000-220mA;恒流设置分辨率:100nA;恒流稳定性:0.008+20nA/天 温度范围:RT up to 1150℃ 光波炉加热技术,洁净加热不污染样品和无挥发性,对操作者安全健康;整体水路设计和镀金处理,无水垢堵塞问题,终身免维护 控温速率:0.01 –100K/min,可以节约用户测试时间 配置垂直放样结构,上下样品支架夹持(三明治),精确控制温度差 测量范围:赛贝克系数:0.5μV/K-25V/K;电阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm 0-80K温差范围可任意设置温差值及温差点的个数 U-I曲线自动扫描,计算出合适的电流数值, 可以精确测量电导率;不会对大电阻样品产生误差 铂金大电极设计,和样品可充分接触,对于不均匀样品也可获得良好的导电测试 热电偶间距可以根据样品尺寸调节后固定,满足不同科研要求 精度:赛贝克系数:±7 %;电导系数:±10 %(热电材料测试,非康铜标样); 重复性:3% 高级应用程序控温技术,包括温差和测量步进等高级要求 自由升/降温、可精确控制温度程序,进行升温、恒温与降温过程中的数据测量 热电偶探针可选K、S、R型(无需铠装)配置,不会产生非常大的接触电阻 自动压力安全保护设计,进口美国航天级硬件配置,确保测试过程中不会发生爆炸 测量系统:柱状、片状、长方体、薄膜等系统技术规格温度范围RT up to 1150°C 控温速率0.01 – 100k/min控温精度+/-0.25K 测量方法赛贝克系数:静态直流电电阻系数:四端法测量范围赛贝克系数:0.5μV/K-25V/K电阻率:0.2μOhmm-2.5KOhmm分辨率赛贝克系数:10nV/K电阻率:10nOhmm精度赛贝克系数: ± 7 %电导系数:± 10 %重复性3%电流0 to 220 mA(可控精准≤0.005mA)恒流设置分辨率:100nA恒流稳定性:0.008+20nA/天数据采集100nV rms 噪音本底直流电压灵敏度低至 10nV,基本精度为 0.002%(90天)7ppm DCV 可重复性,基本 1 年 DCV 准确度:0.0028%最大读取速度范围:2k 读数/秒温度分辨率:0.001℃;交流电压分辨率:0.1μV电阻分辨率:1 μΩ电流分辨率:1nA气氛He、氧化、还原、真空真空度10E-3mbar样品尺寸直径或正方形:2 to 4 mm ;长度:6 to 22mm 应用1、2018年5月18日,世界顶级期刊《Science》发表了北京航空航天大学赵老师等学者在热电材料硒化锡应用方面的重大研究成果:三维电子/二维声子实现高ZT。祝贺赵老师课题组和其它合作课题组!文章内容链接: 2、2019年9月27日,《Science》杂志在线以全文Article的形式发表了北京航空航天大学材料科学与工程学院赵立东教授课题组在热电材料研究上取得的新进展:《High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09 crystals》发现并利用硫化锡(SnS)的多个能带随着温度的演变规律,通过引入Se优化调控了有效质量和迁移率的矛盾,在储量丰富、成本低廉、环境友好的SnS晶体材料中实现了高的热电性能 (Science365 (2019) 1418-1424.)。该工作通过温度梯度法合成出 SnS1-xSex 晶体结构,并实现三个分离电子能带之间相互作用的控制。Se 的引入实现电子传输(μ)和有效质量(m*)两大参数的同时优化。300 K 时,PF 值从 30 升至 50 mW cm?1 K?2 873 K 时,ZT 最大值和均值分别为 1.6 和 1.25。这种控制策略为优化热电性能提供了一条不同的途径。开发高性能SnS晶体是向低成本、地球资源丰富和环境友好型热电技术迈进的重要一步。文献链接:High thermoelectric performance in low-cost SnS0.91Se0.09crystals, 2019, Science, DOI:10.1126/science.aax5123. 以下附件不包含在CTA系统标准配置中,需要用户选配! 1、薄膜样品夹具 CTA-tff 薄膜样品夹具CTA-tff由不锈钢材料精加工和人工手工琢磨打造, 采用先进的分体式设计理念, 可以对不同长度样品夹持,可适配不同热偶间距(4、6、8 mm);应用顺滑螺丝紧固的方法, 可以对不同的样品紧固, 由于采用了金属作为导体接触电极块, 无需额外的金属片就可以良好接触电极导通。夹具可以匹配不同品牌的热电材料分析系统,方便国内用户的使用和更替。 技术参数 夹具材质:不锈钢(其它贵金属可定制) 夹持调节:分体式 夹持方式:螺丝紧固 样品厚度:≤1.80 mm (包含底衬) 样品宽度:≥4.00 mm 样品高度:依据探针热偶间距(4、6、8 mm) 2、视频测距系统 Vra 在测试热电材料的性能时,样品热偶间距的精确值对电导率测试的准确性非常重要;功率因子直接受电导率影响,进而影响热电优值。随着热偶的使用过程中, 需要不停的打磨热偶的金属头, 热偶的金属头和样品的接触点会不停的变化, 眼睛无法精准分辨接触点的实际位置,如果用游标卡尺去测量这个间距,每个人会得出不同的数值,那么如何确保测量准确的, 采用视频法测距是目前最可靠的方法之一。为此柯锐欧设计了视频测距系统(Vra),该系统由专业相机、镜头和视频软件、背景灯、支架、USB接口等组成, 可以自动快速、准确测量出样品热偶的间距,消除人眼测量误差和实际变化的固定距离带来的误差;配合CTA的高级软件, 可以自动输入测试实验参数栏,方便易用的设计,满足了CTA用户的需求。 同时该系统可以配置在其它品牌的热电测试系统上使用, 为国内的热电材料科研工作者提供服务!
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  • 五参数水质分析系统五参数水质分析系统是ThermoScientificTM 采用 AquaPro 多通道控制器为操作平台,通过定制化内置模块,同时连接4个AquaSensors传感器。测量参数包括:pH、电导率、浊度、溶解氧和温度,也可以配置为其他测量参数,这是一个先进的通用控制器理念。通过此控制器可实现 远程控制、配置、校准和诊断,满足不断发展的环保、工业在线监测的实际需求,配置灵活并且有效降低成本。 差分pH电极pH测量 测量方法ROSS差分式电极法Orion ROSS差分式pH电极可提供快速、准确的pH测量。可更换盐桥的双液接界设计,能有效延长电极的寿命,避免频繁更换电极;该ROSS电极极小的漂移量,使在线pH测量能更长时间地保持高精度和稳定性,低维护要求和长期的产品稳定性, 降低运行和维护成本。测量范围0.00~14.00 pH分辨率0.01 pH准确度0.1pH响应时间变化3pH单位,30秒达95%电导率电极电导率测量 测量方法电导池法 同轴电极结构有效降低干扰并提高耐久性,提供快速而高精度的自动温度补偿,另有多种电导池常数和多种主体材料可选。测量范围0 – 2000μS /cm分辨率4或5位有效数字准确度±1% F.S.响应时间30秒达90%荧光法溶解氧电极溶解氧测量 测量方法荧光法 RDO Pro 荧光法溶解氧测量探头特有的光学检测方法,无硫化氢“中毒”影响,可以有效的消除样品中 pH值波动、CO2、硫化物、硫化氢、硫酸盐、氯化物、氨氮、重金属的干扰,从而在更长的时间内提供更稳定、更准确的测量结果。RDO Pro无需透氧膜、无需补充电解液,维护量小;24位数字信号传输方式使读数更稳定。测量范围0.00~20.00 ppm;0~50℃分辨率0.01精度±0.1 ppm (8ppm)±0.2 ppm(8~20 ppm)响应时间t9030 秒(25℃时)温度补偿-5~50℃自动温度补偿浊度电极浊度测量 测量方法光检测法浊度传感器使用 ISO7027 标准方法,同时测量 180 度的光径和 90 度光径,在光学测量中对粒子大小以及形状进行补偿。光源为红外光,避免了样品颜色的干扰;24位数字信号传输方式使读数更稳定。测量范围0~4000 NTU ;-5~50℃分辨率0.1 NTU精度读数的 1%响应时间t9015 秒温度电极温度测量测量方法PT1000温度传感器 所有测量探头内置温度传感器测量范围-5~95℃分辨率0.1℃精度±0.1℃ 订购信息订货号说明AQF1C1AuqaPro 五参数水质分析仪系统(高配)包括:AquaPro 多通道控制器;含差分式PH/温度、电导率、RDO溶解氧、浊度电极各一根,均为数字化智能电极,与控制器通信采用RS485连接,支持ModBus RTU通信协议,电极线缆长度均为9米。订购信息订货号说明AQF1C2AuqaPro 五参数水质分析仪系统(低配)包括: AquaPro 多通道控制器;含差分式ROSS PH/温度、电导率、RDO 溶解氧、浊度电极各一根,与控制器通信采用RS485连接,支持ModBus RTU通信协议,电极线缆长度均为9米。Thermo Scientific 更多类型的产品,特殊需求请联系我们。
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  • 显微红外热点定位测试系统半导体器件作为现代科技社会的一大进步,却因为各种原因停滞不前,其中半导体器件故障问题一直是行业内的热点问题,多种多样的环境因素,五花八门的故障形式,使得制造商不知所措,针对此问题,金鉴实验室联合英国GMATG公司推出显微红外热点定位系统,采用法国的ULIS非晶硅红外探测器,通过算法、芯片和图像传感技术的改进,打造出高精智能化的测试体系,专为电子产品FA设计,整合出一套显微红外热点定位测试系统,价格远低于国外同类产品,同样的功能,但却有更精确的数据整理系统、更方便的操作体系,正呼应了一句名言“最好的检测设备是一线的测试工程师研发出来的!”。金鉴显微红外热点定位测试系统已演化到第四代:配备20um的微距镜,可用于观察芯片微米级别的红外热分布;通过强化系统软件算法处理,图像的分辨率高达5um,能看清金道与缺陷;热点锁定lock in功能,能够精准定位芯片微区缺陷;系统内置高低温数显精密控温平台与循环水冷装置校准各部位发射率,以达到精准测温度的目的;具备人工智能触发记录和大数据存储功能,适合电子行业相关的来料检验、研发检测和客诉处理,以达到企业节省20%的研发和品质支出的目的。金鉴实验室联合英国GMATG公司设立仪器研发中心,自主研发的主要设备有显微光热分布系统、显微红外定位系统和激光开封系统。产品获得中科院、暨南大学、南昌大学、华南理工大学、华中科技大学、士兰明芯、清华同方、华灿光电、三安光电、三安集成、天电光电、瑞丰光电等高校科研院所和上市公司的广泛使用,广受老师和科研人员普遍赞誉。性能卓著,值得信赖。红外显微镜系统(Thermal Emission microscopy system),是半导体失效分析和缺陷定位的常用的三大手段之一(EMMI,THERMAL,OBIRCH),是通过接收故障点产生的热辐射异常来定位故障点(热点/Hot Spot)位置。存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布,最终会导致局部温度增高。金鉴显微热分布测试系统利用热点锁定技术,可准确而高效地确定这些关注区域的位置。热点锁定是一种动态红外热成像形式,通过改变电压提升特征分辨率和灵敏度,软件数据算法改善信噪比。在IC分析中, 可用来确定线路短路、 ESD缺陷、缺陷晶体管和二极管,以及器件闩锁。该测试技术是在自然周围环境下执行的,无需遮光箱。金鉴显微红外热点定位测试系统优点:高灵敏度的锁相热成像缺陷定位配合电测,XRAY等对样品作无损分析选配不同镜头,可分析封装芯片及裸芯片对短路及漏电流等分析效果佳0.03℃温度分辨率,20um定位分辨率,可探测uW级功耗其他功能如真实温度测量,热的动态分析,热阻计算相对于其他缺陷查找设备(EMMI,THERMAL,OBIRCH),价格可承受与国外同类设备相比,金鉴显微红外热点定位测试系统优点显著:金鉴显微红外热点定位测试系统 VS OBIRCHOBIRCH广泛用于芯片级分析和中等短路电阻,但挑战性低于10欧姆金鉴显微红外热点定位系统一般具有较高的成功率金鉴显微红外热点定位系统可兼容大样品、微米级样品测试金鉴显微红外热点定位系统热点锁定功能可以显着扩大覆盖范围,降低漏电阻金鉴显微红外热点定位系统支持长期在线监测热点缺陷异常金鉴显微红外热点定位系统测试依据:GB/T 28706-2012 无损检测 金鉴显微红外热点定位系统可以对探测电源、芯片等短路漏电故障缺陷热点锁定(lock in)功能:温度最高点定位聚焦过程只需要一秒应用领域:PCBA短路热点失效分析、IC器件缺陷定位、升温热分布动态采集、功率器件发热点探测、集成电路失效分析、无损失效分析、细微缺陷探测、正向点亮漏电LED芯片,Vf偏低(左图)。反向测试芯片漏电流显示漏电流较大(右图)测试结果:显微红外热点定位热分布测试结果显示:漏电芯片上热分布不均,存在异常热点,热点即为芯片漏电缺陷点。span font-size:14px white-space:normal background-color:#bcd3e5 "="" style="color: rgb(102, 102, 102) font-family: Arial, Helvetica, sans-serif font-size: 14px text-align: justify white-space: normal "存在缺陷或性能不佳的半导体器件通常会表现出异常的局部功耗分布,最终会导致局部温度增高。金鉴显微红外热点定位热分布系统,利用新型高分辨率微观缺陷定位技术,可在大范围内高效而准确地确定关注区域(异常点)位置。图示为在金鉴显微红外热点定位测试布设备下LED芯片漏电图:LED芯片热点定位图在金鉴显微红外热点定位测试系统中,不同模式调色板下的芯片漏电图如图所示显示:不同调色板下的LED芯片热点定位图对于受损LED来说,缺陷引起的非辐射复合几率增加,在加压增强的情况下,局部的高电场或强复合所引起的红外辐射能量被金鉴显微红外探测系统所接收,可以看到明亮的发光点或者热斑,再经过CCD图像转换处理,将其与器件表面的光学发射像叠加,就可以确认漏电造成发光点的位置。可见光与红外双重成像技术精确定位细微缺陷!案例二:金鉴显微红外热点定位系统查找紫外垂直芯片漏电点客户反馈其紫外垂直芯片存在漏电现象,送测裸晶芯片,委托金鉴查找芯片漏电点。 可见光图和热成像图融合,精准定位LED芯片热点取裸晶芯片进行外观观察,发现芯片结构完整,无击穿形貌,表面干净无污染。通过金鉴探针系统对裸晶芯片加载反向电压后,在暗室中使用显微红外热点定位系统的热点自动搜寻功能定位到了芯片上若干热点。经过可见光与热成像双重成像融合后,可以清晰观察到热点所在,即为芯片漏电缺陷处。案例三:客户送测LED芯片,委托金鉴在指定电流条件下(30mA、60mA、90mA)进行芯片热分布测试。其中60mA为额定电流。点亮条件:30mA、60mA、90mA环境温度:20~25℃/40~60%RH不同加载电流下LED芯片热分布图灯珠正常使用时,额定电流为60mA。金鉴通过显微热分布测试系统发现,该芯片在额定电流下工作,芯片存在发热不均匀的现象,其负极靠近芯片边缘位置温度比正电极周围高10度左右。建议改芯片电极设计做适当优化,以提高发光效率和产品稳定性。该芯片不同电流下(30mA、60mA、90mA)都存在发热不均的现象,芯片正极区域温度明显高于负极区域温度。当芯片超电流(90mA)使用时,我们发现过多的电流并没有转变成为光能,而是转变成为热能。案例四:某灯具厂家把芯片封装成灯珠后,做成灯具,在使用一个月后出现个别灯珠死灯现象,委托金鉴查找原因。本案例,金鉴发现该灯具芯片有漏电、烧电极和掉电极的现象,通过自主研发的显微热分布测试仪发现芯片正负电极温差过大,再经过FIB对芯片正负电极切割发现正极Al层过厚和正极下缺乏二氧化硅阻挡层。显微热分布测试系统在本案例中,起到定位失效点的关键作用。对漏电灯珠通电光学显微镜观察:金鉴随机取1pc漏电灯珠进行化学开封,使用3V/50uA直流电通电测试,发现灯珠存在电流分布不均现象,负极一端处的亮度较高。LED芯片光分布图对漏电灯珠显微红外观察:使用金鉴自主研发的显微热分布测试系统对同样漏电芯片表面温度进行测量,发现芯片正负电极温度差距很大,数据显示如图,负极电极温度为129.2℃,正极电极温度为82.0℃,电极两端温差30℃。LED芯片热分布图死灯芯片正极金道FIB切割:金鉴工程师对死灯灯珠芯片正极金道做FIB切割,结果显示芯片采用Cr-Al-Cr-Pt-Au反射结构,金鉴发现: 1.Cr-Al-Cr-Pt层呈现波浪形貌,尤其ITO层呈现波浪形貌,ITO层熔点较低,正极在高温下,芯片正极ITO-Cr-Al-Cr-Pt层很容易融化脱落,这也是金鉴观察到前面部分芯片正极脱落的原因。2.芯片正极的铝层厚度约为251nm,明显比负极100nm要厚,而负极和正极Cr-Al-Cr-Pt-Au是同时的蒸镀溅射工艺,厚度应该一致。3.在芯片正极金道ITO层下,我们没有发现二氧化硅阻挡层。而没有阻挡层恰好导致了正负电极分布电流不均,电极温差大,造成本案的失效真因。LED芯片正极金道FIB切割及截面形貌观察案例五:委托单位送测LED灯珠样品,要求使用显微热分布测试系统观察灯珠在不同电流下表面温度的变化情况。对大尺寸的倒装芯片进行观察:开始时样品电流为1A,此时芯片表面温度约134℃;一段时间后,电流降低到800mA,温度在切换电流后的2s内,温度下降到125℃,随后逐渐下降到115℃达到稳定;紧接着再把电流降低到500mA,10s后,温度从115℃下降到91℃。加载电流变化下大尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图对小尺寸的倒装芯片进行观察:样品在300mA下稳定时,芯片表面温度约为68℃;电流增加到500mA,10s后温度上升到99℃;随后把电流降低到200mA,13s后温度下降到57℃,此时把电流增加到400mA,芯片表面温度逐渐上升,在20s后温度达到稳定,此时温度约为83℃;最后把电流降低到100mA后,温度逐渐下降。加载电流变化下小尺寸倒装芯片的温度-时间曲线图案例五:电源失效分析之热点定位委托单位电源出现失效现象,委托金鉴查找电源失效原因。在该案例中,金鉴使用显微红外热点定位测试系统对电源进行测试,定位到电源结构中的R5电阻在使用时发热严重,经测温发现该电阻温度高达90℃。厂家建议碳膜电阻在满载功率时最佳工作温度在70℃以下,而该电源中R5碳膜电阻在90℃温度下满载工作,长期使用过程中导致R5电阻失效。电源热分布图及热点定位案例六:测试原理:PCB器件存在缺陷异常或性能不佳的情况下,通常会表现出异常局部功耗分布,最终会导致局部温度升高。金鉴显微红外热点定位系统利用新型高分辨率微观缺陷定位技术进行热点锁定(lock in) ,可快速而准确地探测细微缺陷(异常点)位置。 室温24.5℃条件下,对待测区域施加5V电压,此时导通电流为20mA。使用显微热点定位系统测试PCB板热点。如红外热点定位图所示,其中红色三角形标识处即为热点所在,红外-可见光融合图可观察到热点在PCB板上的位置,该热点位置即为PCB板漏电缺陷位置。局部漏电PCB样品红外热点定位测试 红外热点定位图 可见光图(测试区域) 红外-可见光融合图
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  • 热电转换效率测量系统PEM 产品介绍:热电转换效率测量系统PEM被设计用来测定热电转换效率η。通过对热电材料模块提供大温差500℃,可得到一维热流量Q和大发电功率P,从而测定热电转换效率η。 产品特点:◆ 通过高精度的红外线金面反射炉可完成快速性能评估和耐力测试;◆ 上下表面能提供高500℃的温度梯度;◆ 可进行热穿透测量;◆ 加热过程中,通过气缸机制可以保持接触表面的热阻稳定;◆ 完成测试仅需设置软件,包括温度稳定性的判断;自动调节热电发电模块的负载以及自动控制温度测量。 应用方向:◆ 用于测量热电材料的热电转换效率; ◆ 通过热循环实验测试模块的预期寿命。参数配置:测量数值热电转换效率,发电量,热流量测试方法 一维热流输入法 模块大小 方形20mm或30mm或40mm x 5-30mmT加热表面温度 MAX.800℃接触表面压力 2MPa(在方形30mm样品) 气氛惰性气体 设备概念图: 设备结构图: 上部加热炉 下部水冷系统设备软件: 部分测试数据:方形30mm样品测试结果 附:热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备发表文章1. H. Nakatsugawa et al. / Journal of Elec Materi 49, 2802–2812 (2020) 2. X. Tang et al. / Energy Environ. Sci., 2018,11, 1520-1535 3. J. He et al. / Energy Environ. Sci., 2020,13, 2106-2114 4. L. Chen et al. / Nat Commun 6, 8144 (2015)用户单位:中国科学院上海硅酸盐研究所中国科学院大连化学物理研究所中国科学院福建物质结构研究所武汉理工大学南方科技大学深圳大学
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  • 小型热电转换效率测量系统Mini-PEM 产品介绍:小型热电转换效率测量系统Mini-PEM可测量热电材料的产生的电量及热电转换效率η。热电转换效率η可以通过产生的电量和热流来获得(电量是通过四探针法获得;热流是通过热流计获得)。 应用方向:◆ 发电量和热流量的测量;◆ 计算热电材料模块的热电转换效率;◆ 测量单一热电材料发电量及热流;◆ 热电材料性能和寿命评估。设备概念图:设备特点:◆ 可以实现通过自动测量热流量和发电量来获得热电转 换效率;◆ 可以实现对小型材料块体2-10mm x 1-20mmH测量;◆ 高温面可以加热到500℃; ◆ 操作简单;参数配置:可测内容热电转换效率,发电量,热流量在高温面的可控温度范围 50-500℃ 气氛 真空样块大小 方形2-10mm x 1-20mm设备结构: 分析软件:样品准备与测试数据: 碲化铋: 附:热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备发表文章1. P. Jood et al. / J. Mater. Chem. A, 2020,8, 13024-13037 2. Z. Ge et al. / Chemical Engineering Journal 2020, 126407 3. X. Hu et al. / Journal of Electronic Materials Volume 44, pages 1785–1790 4. Y. Takagiwa et al. / ACS Appl. Mater. Interfaces 2020, 12, 43, 48804–48810用户单位:清华大学南方科技大学中国科学院物理研究所昆明理工大学太原理工大学
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  • 华中区销售工程师 周钟平电话:邮箱: 热电参数测试系统采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。热电参数测试系统产品特点拥有独立知识产权,获得多项技术专利。采用动态法测量Seebeck系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确。热电偶不直接和样品接触,避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。炉壳过温报警,自动断电保护。友好的软件界面,操作简单,实时显示采集数据、测试状态和结果,采用智能化数据存储及处理算法。热电参数测试系统测试实例  1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比  2、Namicro-3L、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比  3、Namicro-3L、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比  4、Namicro-3L、ZEM-3对MgSi测试结果对比(太原理工提供样品)热电参数测试系统技术参数热电参数测试系统样品要求块体:具备平整上下端即可若样品表面有腐蚀或氧化等杂质层覆盖,需对样品表面抛光,使材料裸露出来,保证接触良好热电参数测试系统技术原理动态测量法测试过程中给试样两段施加一微小的连续变化的温差,测量样品两端热电势变化,温差?T和热电势之间呈线性关系,其斜率即为seebeck系数。四探针法即四点接触法,电流的路径如右图所示,但测量电压使用的是另外两个接触点。相比二探针法,四探针法测量电阻率有个非常大的优点:不需要校准;有时用其它方法测量电阻率时还用四探针法校准,因而测量精度更高。 热电参数测试系统采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。 热电参数测试系统主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。
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  • 薄膜热电参数测试系统RS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器,采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定,拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。● 测试环境温度范围达到81K~700K。● 采用动态法测 量Seebeck系数,避免了静态测量在温差测量上的系统误差,测量更准确。● 真空度≤10Pa● 塞贝克系数测量范围:S≥8uV/K;分辨率≤±7● 采用四线法测量电阻率。● 卡箍设计,方便进行样品更换,提高效率。● 软件操作简单,智能化可实现全自动模式。
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  • 大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM 产品介绍: 大气环境下热电材料性能评估系统F-PEM可以在大气环境下,对负荷温差的热电材料产生的发电量和热流量进行测量,热电转换效率可以通过大发电量和热流量计算出。同时,该系统还可以长时间运行热循环测试,运用于热电新材料的开发,以及商用组件在负载和温度下的耐久性测试。 型号:F-PEM设备特点: 1、热电模块的输出特性可以在大气环境下,高温持续加载来评估; 2、重复测量Pmax是可能的,在持续的时间间隔内,持续地应用负载; 3、可以在与实际的热电模块使用环境相一致的恒定常量负载下执行测量。 应用方向:1、在空气和负荷下测量热电模块的大发电和热流量;2、通过大发电量和热流量计算出热电转换效率;3、通过长时间测量对热电模块的耐久性进行评价。 设备参数: 型号F-PEM测量数值热电转换效率,发电量,热流量样品大小 方形40mm-sqr*5-30mmT气氛 空气温度范围 室温到600℃(加热部分)外形尺寸 W600*D600*H1700mm 重量 大约120kg 电源 单相交流AC200V,5KW(主机) 单相交流AC100V,1KW(PC) 设备概念图:发电量 P = V I 穿透热流量Q = C (Tout –Tin) v C: 水比热容v: 水流量 热电转换效率η = P / ( P + Q )设备结构: 恒压弹簧(大160kgf):确保热电模块与加热和冷却部分充分接触,增加测量热流量的准确性。 设备软件: 初始界面温度监控界面温度设置界面测量条件界面 热流量测量界面 发电量测量界面 测试结果: TEG发电量测试结果TEG热流量测试结果 TEG热电转换效率测试结果 附:热电材料/器件测试设备热电材料测试设备热电转换效率测试设备
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  • 热电偶、热电阻全自动校准系统产品概述 采用ISOTECH公司的干体校验炉,精密温度表TTI-7,转换开关954和958,以及标准探头,加上约克仪器公司开发的中文全自动温度测试和校验件,您可以获得一个完全自动的热电偶和热电阻的全自动校验系统。系统根据用户需要进行配置,实现全自动校验,提高工作效率。全自动校验系统中文软件也可使用液槽对玻璃温度计等需要人工读数的温度计进行记录,使测量范围更为广泛。 热电偶、热电阻全自动校准系统产品特点 采用ISOTECH公司的干体校验炉,精密温度表TTI-7,转换开关954和958,以及标准探头,加上约克仪器公司开发的中文全自动温度校准软件,您可以获得一个完全自动的热电偶和热电阻的全自动校验系统。系统根据用户需要进行配置,实现全自动校验,无人值守。★系统自动升温,降温,恒温,自动测量及自动存储测量数据。★一次实现以下被检器的校准:PT100热电阻、Cu50热电阻及B、C、D、E、J、K、N、R和T型热电 偶,并可混合校验。★实时观看升温曲线及详细的温度波动曲线,系统状态进程,并配有按键可随时强制退出、强制测量等,每一次的检定测量结 果都可直接观看。检定结束后智能降温,打印实验记录表并可按用户要求保存。★系统自动保存测量结果和打印固定格式报告。测量数据可查询。★系统可检定温度范围为-45℃*1200℃,检定温度点可设定为温度范围内任意整数温度。★采用低热电势转换开关954和958,可分别校准热电偶和热电阻温度计,可同时校验8支温度计。★软件经过严格测试,安全可靠,建标准数据库和被检数据库及使用人员设备信息数据库,可随时查询。★测量系统采用RS232接口控制。采用握手方式,传输可靠,传输速度快 热电偶、热电阻全自动校准系统产品使用方法 1、系统安装2、系统自动检测3、检查标准器**步:打开“系统管理”,**步:标准器参数设置,第三步:启动自动校4、数据报表、证书管理5、校准工作 “开始”按钮——开始实验;系统开始控温,定时监测标准器读数,不断判断温度是否合乎恒温要求,一旦达到,即开始该温度点的测量,并记录数据。测量完成后进行下一个温度点。系统自动升温,降温,恒温,自动测量及自动存储测量数据。一次实现以下被检器的校准:PT100热电阻、Cu50热电阻及B、C、D、E、J、K、N、R、和T型热电偶的校验工作。实时观看:温度设定点、标准温度、测量时间、升降温曲线以及其它所需数据。系统自动或按需保存测量结果或打印固定格式报告。数据处理、报表、证书输出自动化,系统组态灵活。主要参数 YK2000-C热电偶、热电阻全自动校准系统-基本配置(可适要求选择)
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  • MMR SB100 变温塞贝克热电效应测试仪器 塞贝克热电效应测量系统允许用户可以通过从70 K到400 K温度范围内自动测量塞贝克效应在金属,半导体和其他电子导电样品的热电效应,也可从200K到730K。样品安装很简单,可实现样品的快速更换。该塞贝克系统兼容不同的计算机通过IEEE - 488(GPIA)或RS - 232接口。可编程塞贝克的混合测量系统包括了SB - 100可编程控制器塞贝克的K - 20可编程温度控制器,塞贝克热阶段和配件,计算机(PC),和MMR提供的软件. 塞贝克热电系统包括两个热电偶对。一对是形成了铜路口和已知的塞贝克电动势的参考。另一对是形成了铜路口及材料的塞贝克电动势。该系统采用更复杂的参数测量技术,能更精确,高重复性。 特征工作温度:70K至730K2个16bit A / D转换器分辨率:50nV测试精度:0.1%最小加热器步长:0.1mw自动读取:高达128软件支持所有测量样品长度:“2mm10mm电源输入:110V,60Hz和220V,50Hz
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  • 奥立龙(Orion)是美国一家电化学分析仪器开发制造商,现归于赛默飞世尔科技公司(Thermo Fisher Scientific)旗下的水质分析部门(Water Analysis),现在一般称其Thermo Scientific Orion。它的前身为成立于1956年的热电公司(Thermo Electron Corporation),故也有人称奥立龙为热电奥立龙(Thermo Orion)。代表产品:酸度计、离子浓度计、电导率仪、溶解氧测量仪、COD测量仪、比色法水质分析仪、快速酸碱滴定仪、全自动电位滴定仪、卡氏水分析仪、在线水质监测仪(钠表、氯表、氟表、钙表、溶解氧表、硅表、pH表、电导率表等),气相色谱加速仪、微量/超微量天平、培养箱、自动取样器等。40余年来,奥立龙公司一直致力于电化学传感器的研究开发。迄今为止奥立龙公司已开发出近30种离子选择性电极,实现了离子浓度快速、简便、准确的离子选择性电极测量方法的飞跃。同时奥立龙开发生产的在线水质监测仪,因其优越的稳定性、更低的检出限而成为同行业中的楚翘,是电力行业水质监测仪的龙头。AQ4000 精密防水型多参数比色计主要特点:功能强大 预设校正曲线,可测试多至189 种参数 选配COD 消解器和试剂,可作COD 的**测量 用户*多可自定义10 种测量方法 独有的测量程序网络下载功能,不断更新测量程序, 保证仪器永不淘汰 100 组测试数据贮存,RS232 数据接口,IP67 防尘防水,2500 小时(4×1.5 V 碱性电池)电池寿命,是实验室和户外测量的理想选择 智能化Auto-IDTM 功能 使用带条形码的安瓿瓶进行测试,仪表可自动识别试剂、自动选择波长、自动选取测量方法、并自动显示测量结果 测量快捷简单,无需按键,2 步轻松完成测量 标准试剂自动吸入样品,并混合均匀 标准试剂插入比色槽,自动测量读取结果 良好的兼容性 可接受13,16 或24 mm 的测试比色瓶 AQ4000精密防水型便携式多参数水质分析仪技术参数波长420 nm,520 nm,580 nm,610 nm波长精确度±2 nm波长选择方式自动 光度计线性±0.002A(0 - 1A)光度计重现性±0.005A(0 - 1A)光度计精确度±0.005A @ 1.0 ABS散射光400 nm 时 1.0%光源发光二极管(LED)检测器发电二极管带宽10±2 nm 环境要求操作温度0.0 - 45.0℃ 湿度50.0℃时zui大90%防水等级IP67输入键盘12 个双功能触摸按键RS232有样品比色瓶24 mm,16 mm,13 mm Auto-TestTM 自动识别仅13 mm 比色瓶 显示LCD单位mg/L,ppm,μg/L,Abs,%T低电量提示有 软件功能测量程序自带190 个,用户自定义10 个数据存储100 组 计时器有零点和空白校正有待机模式有下载新程序有电源电源4 节AA 电池 电池寿命2500 小时(碱性电池) ,10000 小时(锂电池)断电保护内存有 订购信息货号产品描述标准配置AQ4000AQ4000 精密防水型 便携式多参数水质分析AQ4000 仪表AQ4ZER 零点校正套件选购附件AQ40FKAQ4000 便携工作箱AQ4CBLRS232 数据线及 25 针 -9 针转换接口AQ4ZER零点校正套件AC2V1616mm 比色瓶(10 个)AC2V2424mm 比色瓶(12 个)
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  • MPC 20在线多参数通用控制器产品介绍MPC 20在线多参数通用控制器是基于赛默飞多年水质监测经验,针对中国用户使用习惯、响应“工业4.0”概念而研发的一台可连接多种探头的通用控制器。本产品可广泛应用在环境监测、市政污水、市政自来水、工业、养殖、系统集成等各类现场的多路显示、控制、数据远传等,完美实现一机多用的客户需求。产品特点:可同时使用10+N个传感器,降低每个测量点的成本;温度测量可用于所有传感器;IP66防护等级;可储存1年的数据和事件;可通过USB或LAN进行远程读数、控制、升级、下载数据等;6路模拟量输出,2路模拟量输入,6路继电器接口(4路可选有源/无源,2路固定有源);多种通讯协议便于远程控制测量、校正、设置和诊断:Modbus RTU, Modbus TCP
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  • 技术参数:HWX-Ⅱ(恒功率平面热源法)智能热物理参数测试仪 本仪器测试方法基于&ldquo 恒功率平面热源法&ldquo 。可用于测试导热系数和导温系数。 主要技术参数 1、导热系数范围:0.015~10w/m&bull k(或0.035~20w/m&bull k) 2、可以完成恒功率平面热源法测试,仪器提供了对实验温度实现可控状态下的测试。 3、仪器实现数字化及测温程度优于0.2级,室温自动电子补偿; 4、测量准确度± 3%,,精确度± 2%,重复性:± 2%; 5、计量加热功率不小于35W± 1%。 6、由上位机实际自动测试,在稳态条件下3分钟测试一组数据。 7、可显示实验参数、曲线,并实现数据打印输出。 8、试样尺寸:试材1:200× 200× 65mm;试材2:200× 200× 22mm;试材3:200× 200× 90mm。 9.测试装置由试件及试件夹具、加热系统和单片机数据采集及处理三部分组成。 10.实验条件:(1)被测试样均匀各向同性且其物性为常数;(2)试样长宽各为厚度的8-10倍即试样是半无限大,而且具有均匀一致的初始温度;(3)恒功率平面热源;(4)加热器热容量为零。 11..系统硬件由传感器、前置放大电路、通道控制电路、模数转换电路、键盘显示及控制电路、打印驱动及控制电路、单片机系统、系统监控及后备保护电路、系统及加热器供电电源、加热器、试样夹卡等部分组成。 12.采用AD590集成温度传感器对热电偶冷端进行补偿。 13.模数转换电路采用高精度双积分A/D转换器。 14. 软件系统包括系统管理模块、数据运算、打印机管理、参数设置、数据采集滤波、热电偶热电势&mdash 温度变换、中断处理、时钟管理等模块。通过系统管理模块按一定的层次结构把它们有机地结合起来,便可完成各项功能。
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  • 买家必读:厂家自销,支持非标定制,欢迎来电~MC-6052A热电偶性能测试台(设备参考图)设备介绍: 本公司生产的热电偶性能测试台符合《家用燃气用具的通用试验方法(GB16411-2007)》中规定的技术要求而研发设计的一款针对燃气具所用热电偶性能测试的一款测试机。本机适合生产企业质检部门对产品进行性能测试和抽检检验。热电偶性能测试仪的动作机构采用气动组件,实现热电偶在设定温度的火焰里工作、脱离火焰全部过程。控制测试电路部分均采用PLC加触摸屏数据采集系统,配合灵活的人机界面使操作简单、使用便捷。
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  • THERMO ORION奥立龙COD测量系统AQ4000比色计配合COD 试剂和COD165 消解器即可完成COD 测量功能特点 COD 微回流铬法(重铬酸钾作氧化剂)是美国环保署(EPA)认可及被广泛使用的废水COD 测试标准方法 重铬酸钾对水中有机物的氧化效率比高锰酸钾的氧化效率高,可达80% 以上,而高锰酸钾的氧化效率最大为70% 功能强大的AQ4000 比色计,不仅可测量COD,还可作为多参数比色计测量多达189 种参数 100 组数据贮存,IP67 防尘防水设计,10000 小时电池寿命,不仅可用于实验室分析,还更可用于户外测量,真正的一机二用 预先制备的三档量程COD标准试剂(0-150mg/L,0-1500mg/L,0-15000mg/L),满足绝大部分水体的测量需求,并且使工作人员与腐蚀性和有毒性化学物质的接触减到最小 预设消解程序,并可灵活设定消解温度和时间 消解完全的COD 消解器,可同时消解25 个样品 操作过程简单:添加样品于试剂瓶中→消解样品→比色计测量结果 分析时间短,只需消解半小时THERMO ORION奥立龙COD测量系统参数COD 测量量程0-150mg/L0-1500mg/L0-15000mg/L检测限1.5mg/L15mg/L150mg/LAQUAfast COD165 消解器技术参数 电源100-220V/50-60Hz功率400W重量3.6kg尺寸155×95×275mm温度调节P.I.D. 微电子控制器温度传感器Pt100(A 级)可选消解温度100℃,120℃,150℃,160℃,165℃可选消解时间30-60-120- 无限分钟升温时间10 分钟(20-165℃)温度稳定性±0.5℃温度精度±1℃消解孔直径16mm×25过温度保护功能有THERMO ORION奥立龙COD测量系统订购信息订货号产品描述标准配置AQ4000 比色计COD165 消解器AQ4001AQ4001 COD 测量系统COD165COD 消解器(25 孔 x 16mm)
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  • Thermo Horizon雾化测试仪介绍不管您选择遵循哪个标准,在对原材料进行VOC试验时,您都可使用Horizon雾化仪,从而满足您的需求。无论您测试的是皮革、乙烯、纺织品或塑料,您的结果都是一致、准确的。可靠性:为了确保从一个样品到另一个样品可靠的温度稳定性,设计的系统采用了坚固耐用的组件。一致性:保持一致的试验条件,在分批试验中生成可重复的结果,确保程序每次重复,且满足DIN、ISO和SAE标准。性能:不管您是否需要基本温控、匀变编程或数据分析,您都可选择最适合您需求的控制器。 Thermo Horizon雾化测试仪产品特点:可存放6个烧瓶的大容量槽能让您每次做更多的试验,节省了大量宝贵的时间和金钱易于使用主要表现为灌注口在设备上方,排放口在设备前面;可通过循序渐进的指示安装设备易于查看液位指示器,确保保持正确的液位密封浴槽表面防止浴液在玻璃板上冷凝设计坚固耐用的泵,可确保得到相同的样品温度 Thermo Horizon雾化测试仪技术参数:特性PC-FTS规格环境温度+13℃至200℃●加热能力3.0kW加热器●20℃时230V/50HZ压力泵/抽吸泵●20℃时1150V/60HZ2kW多功能遥感器和USB端口●20℃时1.2kW语言包括中文的多语言系统冷却能力500W匀变编程●工作温度范围-25℃至200℃多重信息/数据显示器●温度稳定性+/-0.01℃快速导航键区●泵大型彩色LCD显示屏●总压力940mbar2年保修●最大流量24lpm符合CE/WEEE/RoHS●储液器容量10L外形尺寸(高×宽×深)42.5×59×1500px设备重量36kgPC-FTS语言:英语、德语、法语、西班牙语、意大利语、中文、日语外形尺寸(高×宽×深)74.87×27.3×1207.5px符合性CSA/UL,CE,WEEE,RoHS 订货号 描述159-8005 PC FTS雾化仪主机096-451 重量法启动套件不含热油333-0285 冷却盘Cooling plates 333-0276 玻璃烧杯Glass beakers 333-0286 金属环Metal rings 333-0278 密封圈 002-1658 支持环Support rings 333-0443 圆形玻璃片333-0442 铝箔Round foils 999-0062 切样器333-0284 Set of covers
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  • RealKent 3020采用专利技术,由伺服电机、标准偶、高精度测温仪及软件系统组成。是全新概念、智能化的热电偶检定炉自动测试系统,自动直线/旋转移动和高精度测试相结合。除装炉外,自动实现直线/旋转移动,计算检定结果和打印证书等全部工作。系统具有智能化、自动化、高精度和抗干扰能力强等特点,可广泛应用于计量院所、军工计量站、民营检定机构、检定炉子生产企业及广大检定炉较多的大型计量用户。特 点n 无线传输/控制距离不小于50米(涉密单位可选择有线数传型号)n 智能化:自动选择检定炉种类,除装炉外,完全实现自动化测试n 便捷化:特殊装炉方法,方便快捷n 自动化:轴向温场和径向温场同时测试n 精度高:标准热电偶+7位半数字表n 稳定时间和移动时间系统自动控制n 系统适时显示炉温测试结果,并可设置不合格报警n 系统自动判断测试结果并打印证书或报告n 冷端自动处理n 运算及采样速度快:16~32次/秒采样速率,0.01秒/通道;技术指标:n移动精度:轴向≤0.2mm, 径向≤0.5mm;n温度扫描速度:0.01秒/通道n测温准确度:0.1℃/年(1000℃) /年; n电学准确度:DC 100mV :0.005%RD+0.0003%F.S /年,分辨率:0. 1 u V;n外形尺寸:≤750*400*400mmn重量:≤22kg
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  • 聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统ZEM-d日本ADVANCE RIKO公司塞贝克系数与电阻测量系统ZEM系列在全球销售量超过300台,广获全球科研及工业用户的赞誉,成为热电材料领域应用广泛的测试设备。2019年,在此前的成功基础上,ADVANCE RIKO公司推出了专门用于评价聚合物厚度方向上热电性能的全新设备ZEM-d。与之前ZEM系列产品(ZEM-3/ZEM-5)不同,新型号ZEM-d主要测量聚合物薄膜厚度方向上的塞贝克系数和电阻率,可以测量的样品薄为10μm。此外,ZEM-d与采用激光闪光法测量薄膜的热扩散率/导热系数测量方向一致,其测量结果可广泛应用于薄膜热电材料的性能评价。ZEM-d测量原理现存测试方法ZEM-d(厚度方向测量)电阻率测量原理塞贝克系数测量原理ZEM-d技术参数测量参数 塞贝克系数,电阻率温度范围 高200℃(样品表面)样品尺寸 截面:Φ20mm(Max),长度:0.01-20mm测量氛围 空气或惰性气体软件界面测试数据铜合金的塞贝克系数测量结果
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  • 五参数水质分析系统是ThermoScientificTM采用 AquaPro 多通道控制器为操作平台,通过定制化内置模块,同时连接4个AquaSensors传感器。测量参数包括:pH、电导率、浊度、溶解氧和温度,也可以配置为其他测量参数,这是一个先进的通用控制器理念。通过此控制器可实现远程控制、配置、校准和诊断,满足不断发展的环保、工业在线监测的实际需求,配置灵活并且有效降低成本。1. pH测量差分pH电极Orion ROSS差分式pH电极可提供快速、准确的pH测量。可更换盐桥的双液接界设计,能有效延长电极的寿命,避免频繁更换电极;该ROSS电极极小的漂移量,使在线pH测量能更长时间地保持高精度和稳定性,低维护要求和长期的产品稳定性,降低运行和维护成本。2. 电导率测量电导率电极同轴电极结构有效降低干扰并提高耐久性,提供快速而高精度的自动温度补偿,另有多种电导池常数和多种主体材料可选。3. 溶解氧测量荧光法溶解氧电极RDO Pro 荧光法溶解氧测量探头特有的光学检测方法,无硫化氢“中毒”影响,可以有效的消除样品中 pH值波动、CO2、硫化物、硫化氢、硫酸盐、氯化物、氨氮、重金属的干扰,从而在更长的时间内提供更稳定、更准确的测量结果。RDO Pro无需透氧膜、无需补充电解液,维护量小;24位数字信号传输方式使读数更稳定。4. 浊度测量浊度电极浊度传感器使用 ISO7027 标准方法,同时测量 180 度的光径和 90 度光径,在光学测量中对粒子大小以及形状进行补偿。光源为红外光,避免了样品颜色的干扰;24位数字信号传输方式使读数更稳定。5. 温度测量温度电极所有测量探头内置温度传感器订购信息
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  • TEGeta 多功能热电材料测量系统 TEGeta—热电材料研究利器:TEGeta 是德国 PANCO 公司新研制的一款高精度多功能的热电性能测量设备。它的工作原理是通过热端和冷端在材料中形成温度梯度,然后高精度测量样品中的热流、电流和热电势,通过不同外阻的匹配测量出材料的大热电功率,是热电材料研究的必备利器。 TEGeta 应用领域: 材料的热电效率、热电材料的性能、材料的热导率 基础技术参数: 测量范围温度: 高可达 900°C 电压: 0-60V +/- 1% 电流: 0-30A +/- 2% 加热功率: up to 800W +/- 10% TEG大面积50 mm × 50 mm (典型) 80 mm × 80 mm (可定制) 可测量参数热流、平均 Seebeck 系数、平均热导率、平均电阻、输出功率、效率等
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  • 赛默飞全新Dionex Inuvion 离子色谱系统使离子分析比以往任何时候都更简单、更直观,能够满足繁忙分析测试实验室的需求--无论什么时间、哪个班次或者哪位操作人员,都能获得始终如一的出色结果。赛默飞全新Dionex Inuvion离子色谱仪系统使离子分析比以往任何时候都更简单、更直观。设计简洁,能方便地查看所有必要的组件、管路和耗材,以简化操作和日常维护。Dionex Inuvion离子色谱系统能够让您利用更多种类色谱柱和化学试剂来加快分析速度并提高结果质量,同时提供灵活、方便的电解抑制和自动电解淋洗液发生器。Dionex Inuvion离子色谱系统有三种配置:Dionex Inuvion Core离子色谱系统、Dionex Inuvion离子色谱系统和具有免试剂(RFIC)的Inuvion离子色谱系统。这一灵活、适应性强的平台旨在让您能够随时轻松地从Dionex Inuvion Core升级到Dionex Inuvion(带RFIC)。Dionex Inuvion离子色谱系统还具有多种用户可选配件,可通过添加这些配件以满足特定的应用需求。
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  • 近年来,对可再生能源技术的需求越来越大,可替代化石资源的优化也达到了上限。热电技术提供了将热能直接转化为电能的途径,是一种利用工业过程、车辆排气系统甚至来自人体热量中尚未消耗的废热的发电方法。LINSEIS TEG-Tester 是一种用于热电器件(TEGs)温度相关转换效率评估的测量系统。该模块位于热板和冷板之间,其中热板连接到可调节加热器,冷板连接到恒温控制的液冷散热器。通过集成的电机自动调节接触压力(根据温度调整压力稳定性)。通过设置不同的温度来对热电装置施加温度梯度,并测量通过参考试块计量棒而进入TEG的热流。在不同的点对产生的电压和电流进行扫描,得到I-V曲线,或可观测到在动态负载下运行的TEG。利用扰动和观测法来计算效率和跟踪最大功率点。应用方向:l 热电模块的性能测试l 评估热电材料的热电转换效率 l 在负载及热循环条件下测试热电模块的预期寿命特点: l 自动机械负载压力补偿l 不同的操作模式(CC、CV、FOC、MPPT、P&O)型号TEG TESTER样品尺寸40 mm x 40 mm (其他需求可定制)样品厚度≤ 30 mm 测厚精度± 0.1% (50% 量程) / ± 0.25%(100% 量程)温度范围RT 至 300°C (热端) / –20 至 300°C温度准确度0.1°C电压范围0-60 V (DC)电压准确度0.3 %电压分辨率2.4 μV电流范围0-25 A (DC)电流准确度0.3 %电流分辨率1 μA损耗功率≤250 W评估参数热流赛贝克系数平均值热导率平均值模块电阻平均值输出功率接触压力范围0 至 8 MPa (根据样品尺寸)接触压力准确度+/- 1% 尺寸675 mm H x 550mm W x 680 mm D冷却装置外部冷却器(与附加加热装置结合使用)加热装置电阻加热器*价格范围仅供参考,实际价格与配置等若干因素有关。如有需要,请拨打电话咨询,我们定会将竭尽全力为您制定完善的解决方案。
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  • THERMO EUTECH 优特 PCS TESTR 35测试笔THERMO EUTECH 优特 PCS TESTR 35测试笔功能特点PCSTestr 35 使用一个电极模块就可简单测量pH、电导率、总溶解固体量TDS、盐度和温度,测量范围广,可放入口袋。新型Testr 35 系列自动选择测量范围,符合IP67 防水等级,电极模块可更换,使用寿命长,是工业水和废水快速测量的理想选择。一个电极模块可测5个参数,无需更换电极模块pH测量分辨率达0.01 pH3个电导率 / TDS测量范围,可以测量纯水多个盐度测量范围,高达10.00 ppt或1.00%多达5点pH校正和3点电导率校正TDS因子和温度系数可调THERMO EUTECH 优特 PCS TESTR 35测试笔技术参数测量参数测量参数pH / 电导率 / TDS / 盐度 / ℃pH量程0.00-14.00 pH分辨率0.01 pH相对精度±0.01pH校正点多达5 点(自动)自动缓冲液识别是电导率量程0.0-199.9 μS/cm / 200-1999 μS/cm/ 2.00-20.00 mS/cm分辨率0.1 μS/cm / 1 μS/cm / 0.01 mS/cm相对精度全量程±1%校正点3 点自动,3 点手动温度补偿系数0.0-10.0% / ℃标准温度25.0 ℃自动选择量程是TDS量程0.0-99.9 ppm / 100-999 ppm /1.00-10.00 ppt分辨率0.1 ppm / 1 ppm / 0.01 ppt相对精度全量程±1%校正点多达3 点(手动)TDS 系数0.40-1.00盐度量程0.0-99.9 ppm / 100-999 ppm /1.0-10.00 ppt / 0.0-1.00%分辨率0.1 ppm / 1 ppm / 0.01 ppt / 0.01%相对精度全量程±1% 校正点1 点(自动,高于1.00 ppt)温度量程0-50.0 ℃分辨率0.1 ℃相对精度0.5 ℃仪表功能温度补偿方式自动 / 手动电极类型pH / 电导率 / TDS / 盐度 / 温度数据断电保护是自动关机8.5 分钟不操作自动关机(可取消)LCD 显示双行LCD(2.1×2.7 cm)电源4×1.5 V 钮扣电池电池寿命> 150 小时仪表尺寸/ 重量单机16.5×3.8 cm / 90 g包装包装18.5×6.5×5 cm / 200 g
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  • 关于INSTEMS系统原位透射电子显微分析方法是实时观测和记录位于电镜内部的样品对于不同外场如力、热、电等激励信号的动态响应过程的方法,是当前物质结构表征科学中最新颖和最具发展空间的研究领域之一。受限于透射电镜样品室狭小的空间及特殊的结构,目前商业化的透射电镜原位力学样品杆多采用探针式力场加载,无法实现双轴倾转,大大限制了研究者从原子尺度下原位研究材料的力学行为及变形机制。针对这一世界性技术难题,百实创公司专项开发的INSTEMS系列透射电镜用原位原子尺度双轴倾转力、热、电一体化综合测试系统拥有独特创新设计的MEMS芯片以及与之相匹配的微驱动系统,保证了样品在透射电镜毫米尺度空间内实现力场与热场或电场耦合加载条件下,同时具备大角度正交双轴倾转功能,进而实现在多场耦合加载下材料原子尺度显微结构及其性能演化的原位观察与记录。该系统可实现1200℃高温下力热耦合加载,最大驱动力大于100mN,驱动行程大于4μm,最小驱动步长低于0.5nm,达到国际领先水平,极大的扩展了透射电子显微镜在材料科学原位研究领域的应用。本系统与各大品牌电镜有优异的机械及电磁兼容性,稳定性高,保证电镜原有的分辨能力。整合了独特创新设计的MEMS芯片与微型驱动器的高集成Mini-lab原位样品搭载平台,保证了不同形状、性质的样品在TEM中有稳定的力、热、电加载实验环境,并能精确控制参数变量;通过更换不同Mini-lab实验台,可以灵活的实现力、热、电单场或任意两场耦合加载,并能做到互不干扰。精密的结构设计保证样品能在场加载条件下实现大角度双倾,结合皮米级超高精度控制系统,确保显示的原子像无抖动、分辨率高。功能强大,操作便捷的控制软件提供了丰富的加载模式,并实时收集与处理数据,满足用户不同条件下的实验与测试设计要求。可实现多场耦合加载:ISTEMS系列产品具有高度集成的可定制化微型实验系统。通过更换不同功能的微型实验台(Mini-lab),该系列可灵活施加力、热、电等多种外场组合。Mini-lab独特的MEMS芯片设计和新颖的集成策略解决了小区域多场耦合加载兼容性难题。可独立控制多场加载,避免相互干扰。 原子尺度分辨率:INSTEMS系列结构紧凑的微型实验台和特殊设计的β轴倾转机构完美融合了多场耦合施加和双轴倾转功能,可轻松实现原子尺度分辨的动态观察。 高精度控制与测量:超灵敏微型驱动器稳定的四电极MEMS芯片 可靠的电学连接无干扰的电路布局 强大的高精度多通道源表确保INSTEMS系列产品可同时实现高精度加热、pm级驱动控制和pA级电信号测量。 适用范围极宽、功能易于扩展:INSTEMS系列适用于多种形态尺寸的材料(适用于块体以及一维、二维纳米材料);可实现多种类型的多场耦合施加(热-力-电耦合);加载灵活,可对样品进行拉伸加载、压缩加载、弯曲加载,也可进行纳米压痕实验;同时可根据用户需求进行功能扩展。适用于大部分固体无磁材料的研究。 关键技术指标与参数:热场指标温度范围室温~1200℃*加热速率>10000℃/s温度精度≥98%测温方式四电极法EDS兼容性√力场指标驱动精度<500pm最大驱动力>100mN最大位移4μm电场指标最大输出电压±50V电流测量范围1pA-1A*电压测量范围100nV-50V双倾指标α角倾转范围±25°β角倾转范围±25°*驱动精度<0.1°分辨率极限稳定性<50pm/s*空间分辨率≤0.1nm* * 列出参数取决于Mini-lab型号与电镜状态。 硬件说明:样品杆部分包含双轴倾转样品杆与配套的Mini-lab实验台,MET型号样品杆可兼容所有类型的Mini-lab实验台。软件控制:力、热、电三场都具有丰富的加载模式可供选择:力场可选择单向拉/压加载或循环加载;电场拥有7种可供选择的波形加载;热场可自由设置温控程序。 应用范围1. 高温环境下的力学行为在力场与热场条件下原位实时观察材料原子像,并能获取成分信息。可应用于加速蠕变、高温相变、元素扩散、高温塑性变形、再结晶、析出相与位错的关系等方面的研究。原位原子尺度研究高温合金相在高温下(1150℃)的形变机理原位观察超级合金在400℃与750℃下塑性变形过程2. 高温环境下的电学行为 在热场与电场条件下原位实时观察材料原子像,并获取电场数据。可应用于热电材料、半导体、相变存储、电场可靠性分析、介电材料等领域的研究。 热电耦合条件下SnSe原位原子尺度失效分析3. 力与电场的交互行为在力场与电场条件下原位实时观察材料原子像,测量和控制样品电信号。可应用于压电材料、铁电材料、锂离子电池、柔性电子器件等领域的研究。 4. 力场、热场、电场单场条件下的材料组织变化可定量的控制单力场、热场、电场施加于样品,并实时原位的观察样品原子像及成分信息。高熵合金900℃条件下观察元素扩散
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