全椭圆偏光测厚仪

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

产品特点： ? 椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。? 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。? 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。产品规格： 膜厚测量范围0.1nm~波长测量范围250~800nm（可选择350～1000nm）感光元件光电二极管阵列512ch（电子制冷）入射/反射角度范围45～90o电源规格AC1500VA（全自动型)尺寸1300（H）×900（D）×1750（W）mm重量约350kg（全自动型） 应用范围： ■半导体晶圆?电晶体闸极(Gate)氧化薄膜、氮化膜，电极材料等?SiO 2、SixOy、SiN、SiON、SiNx、Al 2 O 2、SiNxOy、poly-Si、ZnSe、BPSG、TiN?光阻剂光学常数(波长色散)■化合物半导体?AlxGa (1-x) As多层膜、非结晶矽■平面显示器?配向膜?电浆显示器用ITO、MgO等■新材料?类钻碳薄膜(DLC膜)、超传导性薄膜、磁头薄膜■光学薄膜?TiO 2、SiO 2、多层膜、抗反射膜、反射膜■平版印刷领域?g线(436nm)、h线(405nm)、i线(365nm)、KrF(248nm)等于各波长的n、k值评价 应用范例： 非线性最小平方法比对NIST标准样品(SiO 2)膜厚精度确认

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

产品特点： ? 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。? 自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。? 采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。? 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。? 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。产品规格： 样品对应尺寸100×100mm测量方式偏光片元件回转方式入射/反射角度范围45～90o入射/反射角度驱动方式反射角度可自动变更波长测量范围300～800nm分光元件Poly-chrometer尺寸650（H）×400（D）×560（W）mm重量约50kg

仪器简介：在近代科学技术的许多领域中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速的测定给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要。在实际工作中可以利用各种传统的方法测定光学参数，如：布儒斯特角法测介质膜的折射率，干涉法测膜厚，其它测膜厚的方法还有称重法、X射线法、电容法、椭偏法等。由于椭圆偏振法具有灵敏度高、精度高、非破坏性测量等优点，因而，椭圆偏振法测量已在光学、半导体、生物、医学等诸多领域得到广泛应用。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：薄膜厚度范围：1nm-300nm； 折射率范围：1-10 测量最小示值：≤1nm 入射光波长：632.8nm 光学中心高：80mm 允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm 偏振器方位角范围：0°- 180°读取分辨率为0.05° 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：±1nm和±0.01 主机重量：25kg 入射角连续调节范围：20°- 90°精度为0.05°主要特点：仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及方便测量等特点； 光源采用氦氖激光器，功率稳定、波长精度高； 仪器配有生成表、查表以及精确计算等软件，方便用户使用。

总览我们的椭圆芯PME1300-10光纤提供了高偏振消光和对弯曲和扭转应力不敏感。与传统的PM光纤不同，椭圆波导的双折射具有较低的热依赖性(比Panda低10倍)。由于椭圆芯的几何形状，与传统的圆芯光纤(SMF、Panda)之间的耦合是有损耗的，圆形-全椭圆光纤耦合的拼接损耗是-0.5dB，椭圆到圆形的损耗为2.5 dB。低双折射旋转光纤 600-900nm,低双折射旋转光纤 600-900nm通用参数产品特点：高消光比低耦合损耗低温依赖性产品应用：光纤陀螺仪.光学电流传感器.光纤放大器技术参数：型号LB650LB1060LB1300LB1300RCPME1300-10工作波长600 - 900 nm900 - 1100 nm1300 - 1600 nm 11300 - 1600 nm1300 - 1600 nm截止波长 580 nm 915 nm 1280 nm 1280 nm 1280 nmBeatlength 拍长4 mm7 mm13 mm13 mm9 mm自旋周期3 mm3 mm3 mm3mm-衰减6 dB/km6 dB/km4 dB/km5 dB/km8 dB/km模场直径6 um8 um9 um9 um13 x 8 um包层直径125 um125 um125 um80 um125 um涂层直径250 um250 um250 um200 um250 um芯包同心度 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um 0.5 um包层偏移量 5 um 5 um 5 um 5 um 5 um涂层材料丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂丙烯酸脂拉力测试100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi100 kpsi弯曲半径 20 mm 20 mm 20 mm 12 mm 20 mm

全自动化&高集成度&可视化光斑一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计，操作简单，可在几秒钟内完成全自动测量和分析，并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。1主要特点1. 液晶调制技术，无机械转动部件，重复性，信噪比高2. 技术成像系技术，所有样品均可成像，对于透明样品,自动去除样品的背反射信号,使得数据分析更简单.3. 反射式微光斑，覆盖全谱段，利于非均匀样品图案化样品测试4. 全自动集成度高，安装维护简便5. 一键式操作软件，快速简单6. 自动MAPPING扫描，分析样品镀膜均匀性2技术参数1. 光谱范围：450-1000 nm2. 多种微光斑自动选择3. 光斑可视技术，可观测任何样品表面4. 自动样品台尺寸：200mmX200mm；XYZ方向自动调节 Z轴高度35mm5. 70度角入射6. CCD探测器相关推荐椭圆偏振光谱入门手册——测量膜厚、光学常数的强大工具您可了解：1. 椭圆偏振光谱的概念及应用领域2. 适用的样品及可获取的信息3. 常见的椭偏仪类型及优势分析4. 测量、数据分析时的常见问题

仪器简介：产品特点： 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器，功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接，配套软件功能齐全，具有多样数据采集及处理方式，适用于不同用户的需要。技术参数：规格与主要技术指标： 测量范围：1nm-4000nm 折射率范围：1-10 测量最小值：≤1nm 入射角：20°- 90°精度≤0.05° 度盘刻度：每格1度 允许样品尺寸：φ10-φ140mm，厚度≤16mm 偏振器方位角范围：0°- 180° 外形尺寸：680*390*310mm 测量膜厚和折射率重复性精度分别为：0.5nm和0.005 主机重量：26kg 仪器测量精度：±0.5nm（薄膜厚度在10-100nm时） 光学中心高度：80mm 成套性：主机、电控系统、USB接口、配套软件 成套性：主机、电控系统、USB接口、配套软件（需配计算机）主要特点：产品特点： 仪器采用消光法自动测量薄膜厚度和折射率，具有精度高、灵敏度高以及自动控制等特点。光源采用氦氖激光器，功率稳定波长精度高。 仪器采用USB接口与电脑连接，配套软件功能齐全，具有多样数据采集及处理方式，适用于不同用户的需要。

J.A.Woollam椭圆仪M-2000产品型号：M-2000产品介绍：M-2000系列椭圆偏振仪专为满足薄膜表征的各种需求而设计。先进的光学设计、宽光谱范围和快速数据采集结合在一个 强大和多功能的工具中。M-2000 兼具速度和准确性。我们获得专利的 RCE 技术将旋转补偿器椭圆偏光仪与高速 CCD 检测相结合，可在几分之一秒内通过各种配置收集整个光谱（数百个波长）。M-2000 是一款擅长从现场监测和过程控制到大面积均匀性映射和通用薄膜表征的所有方面的椭圆仪。没有其他椭圆仪技术能够更快地获取全光谱。性能特点：◆先进的椭圆仪技术M-2000 利用我们获得专利的 RCE（旋转补偿器椭偏仪）技术来实现高精度。◆快速光谱检测RCE 设计与先进的、经过验证的 CCD 检测兼容，可同时测量所有波长。◆宽光谱范围收集从紫外线到近红外的 700 多种波长——全部同时进行。◆灵活的系统集成M-2000 采用模块化光学设计，适合直接连接到您的处理室或配置在我们的任何桌面底座上。◆准确性先进的设计可确保对任何样品进行准确的椭圆偏光测量。参数：◆光谱范围D：193-1000 nmX-210：210-1000 nmX：245-1000 nmU：245-1000 nmV：370-1000 nm+I：增加 1000-1690 nm◆波长数D：500个波长X-210：485个波长X：470个波长U：470个波长V：390个波长+I：增加190个波长◆探测器：感光元件◆入射角45°-90°（自动角度底座）20°-90°（立式自动角度底座）65°（固定角度底座）65°（测试底座）◆数据采集率（完整频谱）：0.05 秒（典型值为 2-5 秒）◆max基材厚度：18mm◆电源要求：100/240 伏交流电，47-63 赫兹，1 安培◆产地：美国应用：M-2000是一款多功能的光谱椭偏仪，适用于多种不同的样品类型。涂层可以是电介质、有机物、半导体，甚至是薄金属。◆光学镀膜◆化学/生物学◆导电有机物◆半导体◆光伏◆原位

Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 仪器用途简介：汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐（易拉罐内壁）等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 技术参数：测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)测量范围:0.1～10μm反复再现性:0.01μm以下测量面积:518×36mm(椭圆)尺寸・ 重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kgKurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 主要特点：三点定位，独特光源，精确精确再精确。本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪最理想的硬件。&bull 小型、轻量自由携带,可测量钢板上的任意位置。内置打印机因内部设置了打印机，数据的整理变得极为简单。

1. 产品概述SENTECH SENresearch 4.0 使用快速 FTIR 椭圆偏振法分别测量高达 2,500 nm 或 3,500 nm 的近红外光谱。它提供宽的光谱范围、佳的信噪比和高的可选光谱分辨率。可以测量厚度达 200 μm 的硅膜。FTIR椭圆偏振仪的测量速度与二管阵列配置相比，二管阵列配置也可选择高达1,700 nm。2. 主要功能与优势宽的光谱范围和高的光谱分辨率SENTECH SENresearch 4.0 椭圆偏振光谱仪覆盖从 190 nm（深紫外）到 3,500 nm（NIR）的宽光谱范围。该器件具有高光谱分辨率，可使用 FTIR 椭圆偏振法分析厚度达 200 μm 的厚膜。无运动部件，符合 SSA 原理在数据采集过程中没有移动的光学部件，以获得佳测量结果。步进扫描分析仪 （SSA） 原理是 SENresearch 4.0 光谱椭偏仪的一个功能。通过创新的 2C 设计实现全 Mueller 矩阵通过创新的 2C 设计扩展了 SSA 原理，可以测量完整的 Mueller 矩阵。2C 设计是一种可现场升且经济高效的配件。3. 灵活性和模块化电动金字塔测角仪的角度范围为 20 度至 100 度。光学编码器确保了高精度和角度设置的长期稳定性。光谱椭圆仪臂可以独立移动，以进行散射测量和角度分辨透射测量。该工具根据步进扫描分析仪 （SSA） 原理运行。SSA将强度测量与机械运动分离，从而可以分析粗糙的样品。在数据采集过程中，所有光学部件都处于静止状态。此外，SENTECH SENresearch 4.0 包括用于映射和原位应用的快速测量模式。SENresearch 4.0 的定制椭圆仪可以针对标准和高应用进行配置。例如介电层堆栈、纹理表面以及光学和结构 （3D） 各向异性样品。为各种应用提供了预定义的配方。

1. 产品概述SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。2. 主要功能与优势亚埃精度稳定的氦氖激光器保证了 0.1 &angst 的精度，用于超薄单层的薄膜厚度测量。高速SENTECH SE 401adv 激光椭偏仪的测量速度使用户能够监测单片生长和终点检测，或绘制样品的均匀性图谱。测量的椭圆角具有高稳定性和再现性原位椭偏仪 SE 401adv 可用于监测反射样品表面不同环境因素的生长和蚀刻过程。它测量椭圆角度 Ψ 和 Δ 的时间依赖性，并实时计算厚度和折射率 3. 灵活性和模块化SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪可用于从可选的、特定于应用的入射角表征单个薄膜和基板。自动准直望远镜可确保在大多数具有平坦反射表面的吸收性或透明基材上进行精确测量。集成的多角度测量支持（40° – 90°，步长为 5°）可用于确定层堆叠的厚度、折射率和消光系数。SENTECH SE 401adv是用于超薄单膜厚度测量的激光椭偏仪。SENTECH SE 401adv 原位激光椭偏仪的选件支持微电子、光伏、数据存储、显示技术、生命科学、金属加工以及更多沿技术中的应用。SENTECH SE 401adv 通过映射高达 200 毫米的液体单元、用于原位测量的液体单元、摄像机、自动对焦、模拟软件和经过认证的标准晶圆，可根据您的需求进行调整。

Horiba 相位调制型椭圆偏振光谱仪 UVISEL Plus基于最新的电子设备，数据处理和高速单色仪，FastAcqTM技术能够为用户提供高分辨及快速的数据采集，双单色仪系统可达到0.1-2 nm。AutoSoft软件界面以工作流程直观为特点，使得数据采集分析更加简便，易于非专业人员上手操作。速度提升1.5倍UVISEL Plus集成了最新的FastAcqTM快速采集技术，可在3分钟以内实现高分辨的样品测试（190-2100 nm），校准仅需几分钟。灵敏度提升2倍基于25年经验，UVISEL Plus相位调制椭偏仪提供纯正有效的偏振调制，可用于各种样品的精确测量，最新的FastAcqTM速采集技术使得测试灵敏度提高至原有的两倍，从而能获得面薄膜和纳米级低衬度衬底样品的更多信息。灵活拓展UVISEL Plus椭偏仪模块化设计，可灵活拓展，以适应的应用及预算需求。相较于其他供应商，UVISEL Plus统的可升级性能将更好的满足您未来的应用需求。卓越的性能UVISEL Plus基于相位调制技术，相位调制与高质量消色差光学设计的特有结合提供了无可匹的膜厚测试效果。• 信号采集过程无移动部件• 光路中无增加元件• 高频调制 50 kHz• 测试全范围的椭偏角，Ψ (0-90，Δ (0-360)规格项目内容光谱范围UVISEL Plus：190 - 885 nmUVISEL Plus NIR：190 - 2100 nm光源75 W 氙灯标准光斑尺寸 3 mm (90º)手动平台150 mm, 手动调节高度 (20 mm) 和倾斜角入射角手动：55º - 90º，步长5ºFUV-VIS范围高灵敏度光电倍增管检测器&低杂散光NIR范围InGaAs检测器

油膜测厚仪红外膜厚仪仪器用途简介：汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐（易拉罐内壁）等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量油膜测厚仪红外膜厚仪技术参数：测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)测量范围:0.1～10μm反复再现性:0.01μm以下测量面积:518×36mm(椭圆)尺寸・ 重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kg油膜测厚仪红外膜厚仪主要特点：三点定位，独特光源，精确精确再精确。本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪最理想的硬件。&bull 小型、轻量自由携带,可测量钢板上的任意位置。内置打印机因内部设置了打印机，数据的整理变得极为简单。

1. 产品概述SENTECH SE 500adv结合了椭圆偏振法和反射法，消除了测量透明薄膜层厚的模糊性。它将可测量的厚度扩展到 25 μm。因此，SE 500adv 扩展了标准激光椭偏仪 SE 400adv 的功能，特别适用于分析较厚的电介质、有机材料、光刻胶、硅和多晶硅薄膜。2. 主要功能与优势明确的厚度测定椭圆偏振法和反射法的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速、明确地确定透明薄膜的厚度。大的测量范围激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到 25 μm 或更多，具体取决于所选的光度计选项。突破激光椭圆偏振仪的限多角度手动测角仪具有优秀的性能和角度精度，可以测量单片和层叠的折射率、消光系数和膜厚。 3. 灵活性和模块化SENTECH SE 500adv 可用作激光椭偏仪、膜厚探头和 CER 椭偏仪。因此，它提供了标准激光椭偏仪无法达到的大灵活性。作为椭圆仪操作，可以执行单角度和多角度测量。当作为膜厚探头操作时，透明或弱吸收膜的厚度是在正常入射下测量的。SE 500adv 中的椭圆偏振法和反射仪 （CER） 组合包括椭偏仪光学元件、测角仪、组合反射测量头和自动准直望远镜、样品平台、氦氖激光源、激光检测单元和光度计。

1. 产品概述SENTECH SENpro 椭圆偏振光谱仪具有操作简单、测量速度快、不同入射角椭偏振测量的组合数据分析等特点。它的测量光谱范围为 370 nm 至 1,050 nm。该工具的光谱范围与先进的软件 SpectraRay/4 相结合，可以轻松确定单片薄膜和复杂层叠的厚度和折射率。2. 主要功能与优势离散入射角SENTECH SENpro 光谱椭圆仪包括一个角测角仪，其入射角以 5° 步长 （40° – 90°） 进行，以优化椭圆测量。步进扫描分析仪原理SENpro具有的步进扫描分析仪原理。在数据采集过程中，偏振器和补偿器是固定的，以提供高精度的椭圆测量。速度和准确性该工具注于测量薄膜的速度和准确性，无论它们应用于何处。应用范围从 1 nm 的薄层到高达 15 μm 的厚层。 可重复且准确的结果经济高效的台式 SENTECH SENpro 包括 VIS-NIR 椭圆仪光学元件、5° 步进测角仪、样品平台、激光对准、光纤耦合稳定光源和检测单元。SENpro 配备光谱椭圆仪软件 SpectraRay/4，用于系统控制和数据分析，包括建模、模拟、拟合和数据呈现。即用型应用程序文件使操作变得非常容易，即使对于初学者也是如此。SpectraRay/4 支持计算机控制的均匀性测量映射。

Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 仪器用途简介：汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐（易拉罐内壁）等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 技术参数：测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)测量范围:0.1～10μm反复再现性:0.01μm以下测量面积:518×36mm(椭圆)尺寸・ 重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kgKurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 主要特点：三点定位，独特光源，精确精确再精确。本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪最理想的硬件。&bull 小型、轻量自由携带,可测量钢板上的任意位置。内置打印机因内部设置了打印机，数据的整理变得极为简单。

1. 产品概述SENTECH SENDIRA 为红外 （FTIR） 而设计。这款紧凑的台式仪器包括吹扫椭偏仪光学元件、计算机控制的测角仪、水平样品平台、自动准直望远镜、商用 FTIR 和 DTGS 或 MCT 检测器。FTIR 在 400 cm-1 至 6,000 cm-1 （1.7 μm – 25 μm） 的光谱范围内提供出色的精度和高分辨率。2. 主要功能与优势测量灵活性SENTECH SENDIRA 椭圆偏振光谱仪可测量散装材料、单层和多层堆叠的薄膜厚度、折射率、消光系数和相关特性。该工具可用于覆盖在可见范围内不透明的层下方的层，使其可用于测量。可以分析材料的组成以及较大分子基团和链的取向。椭圆振动光谱利用红外光谱中分子振动模式的吸收带分析了薄层的组成。此外，载流子浓度可以用这种FTIR光谱椭偏仪测量。适用的傅里叶变换红外对于 Thermo Fisher Scientific 光谱仪的商用 FTIR iS50，安装了红外椭偏仪光学元件。它也可用于一般振动光谱法。精确的测量和准确的结果SENTECH SENDIRA注于薄层的振动光谱分析。应用范围从介电薄膜、TCO 和半导体到有机层。SENDIRA 由 SpectraRay/4 软件操作。另外还提供FTIR软件。

日本分光制的椭圆计配有日本分光专利产的PEM双重锁定方式和光伺服?光参考方式，实现高速性和高安定性。由于偏光素子的轴配置适合特别薄的膜和微小的偏光测量，所以主要用于向高集积化和高精细化发展的半导体及高机能光学薄膜等材料的评价。◆规格型号M-210M-220M-230M-240M-550ELC-300测量方法PEM双重锁定方式、光伺服/光参照控制方式分光器-双单色器 自动波长驱动装置双单色器（260～900nm） 单单色器（900～1700nm） 自动波长 驱动装置单单色器 自动波长 驱动装置双单色器 自动波长 驱动装置测量波长He-Ne激光 (632.8nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源(240～700nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (26～900nm) 卤素灯(900～1700nm)Xe光源 (350～800nm)He-Ne激光 (632.8nm) Xe光源 (260～860nm)入射 　角范围40゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）45゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）40゜～ 90゜ 连续自动设定 （0.01゜间隔）膜厚测量范围0～99999?测量时间1msec以上20μsec～16sec测量准确度*屈折率　±0.01膜厚　±1?消衰係数　±0.01*准确度是指测量时间100msec以上。另外、根据表面状态、膜质不同准确度也不同。样品室样品垂直放样品水平放样品垂直放检测器检光子（Glan-Taylor棱镜） 紫外可见区域：光电子倍増管　近红外区域：InGaAs-PIN光电二极管（M-240）

SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中，SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序，并测量该过程产生的消光比（PER）。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间，并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转，保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外，SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件，如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性：确定偏振状态 （SOP），包括所有四个斯托克斯参数、PER（偏振消光比）、偏振度 （DOP）、椭圆度等。USB 2.0 供电设备（控制、数据传输和电源）在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容，包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域：耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下，保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态，然而在实际中，保偏光纤会在很小程度上影响偏振态，如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等，这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比（PER） 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射，即光纤偏振轴（也称为慢轴和快轴）如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准，见下右图。对于两个偏振轴，传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时，辐射会分成两个垂直分量，分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处，传播速度的差异会导致相移，这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度，则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移，则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示，如下图所示。在该图中，线性 SOP 位于球体的赤道上，圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η，偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量，对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点，即圆的中心，通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步：1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态，以引起出口极化波动。然后，一个圆圈自动拟合到数据点上，并显示平均值和PER（min）。在所示示例中，庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整，并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间，光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时，达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量，揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量，激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件，例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器，通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光，右旋圆偏振光位于北极，左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数：光纤偏振态测量仪配置选项：光纤偏振态测量仪交付标准：SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件： SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7， WINDOWS 10， WINDOWS Vista/XP （32/64 bit）DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

YLY-05玻璃数显偏光应力仪-广州标际关键词：数显偏光应力仪，偏光应力仪，智能偏光应力仪，广州标际 产品用途：YLY-05数显偏光应力仪适用于制药企业、玻璃制品厂、实验室作测量光学玻璃、玻璃制品及其它光学材料的应力值，仪器可定性和定量测试玻璃内应力，彩色液晶屏自动读取结果。 专业技术：l 定性、定量两种试验模式, 试验空间可调,适用范围广l 采用高精度对式角度编码器进行测量，测量精度优于2.0nml 彩色液晶屏显示，可同时显示测量角度及光程差数值，使测量直观易读l 暗视场无需校准，采用了对式编码器，偏振场的暗视场总是处于零角度点，因此无需用户校对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差l 绿色节能，采用了更加节能环保的LED光源，相对传统光源节能80%以上l 配备微型打印机，方便打印输出试验数据 测试原理 ：用于应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于偏光应力仪备有灵敏色片，并应用1／4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或半定量的测量玻璃的光程差，配合壁厚测厚仪可以准确定量的测量出玻璃内应力数值。 YLY-05玻璃数显偏光应力仪-广州标际测试标准：该仪器符合多项国家标准：JJG196-2006《常用玻璃量具检定规程》GB/T4545 《玻璃瓶罐内应力检验方法》 GB/T12415 《药用玻璃容器内应力检验方法》 YBB00032005-2005 《钠钙玻璃输液瓶》YBB00332002-2015 《低硼硅玻璃安瓿》 技术指标： 型号项目YLY-05数显偏光应力仪仪器示值0.1nm测量精度2nm偏振场直径150mm检偏振片旋转角度-180 ~+180度光场边沿亮度＞120cd/m 2起偏镜至检偏镜间可调范围280mm(毫米)光场的光亮度不少于800勒克司外形尺寸220mm（L）×310mm（W）×580mm（H）重 量8Kg工作电源220V 50Hz 广州标际包装设备有限公司专业从事包装检测仪器及其软件的研发、生产、销售、服务，主要产品有透湿仪、透气仪、透氧仪、颗粒物过滤机、细菌过滤效率机、封管机、气调保鲜箱、拉力机、热封仪、密封仪等包装检测仪器。已经40多个国家地区超过10000家企事业单位提供了具有竞争力的实验室建设方案。服务遍布国家质检药检机构、科研院校、包装、印刷、食品、医药、日化、化工、新能源、新材料等领域。 广州标际部分荣誉资质：公司被授予“广东省软件企业”；广州标际检测中心，通过CNAS国家实验室认证；公司是亚太地区专家研制出透湿、透气、透氧标准物质单位，为阻隔性能检测提供判定标准和标定依据；公司拥有100余项，与科研院校合作，专注于包装检测技术创新；公司通过ISO9001:2008认证，产品通过3C、3Q、CE、FCC等认证。 注意： 广州标际始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格亦会相应改变。上述情况恕不另行通知，本公司保留修改权与解释权。

Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 仪器用途简介：汽车钢板上的防锈油、滚轧润滑油等涂油量的测量耐指纹、润滑性钢板等有机油膜厚度的测量铝罐（易拉罐内壁）等有机膜涂布量的测量彩色钢板的底漆厚度及背面涂布量的测量其他金属上有机膜涂布量的测量Kurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 技术参数：测量方法:红外反射吸收方式(旋转过滤器方式)测量范围:0.1～10μm反复再现性:0.01μm以下测量面积:518×36mm(椭圆)尺寸・ 重量:100(W)×210(D)×145(H)、约1.5kgKurabo红外油膜钝化膜测厚仪NR-2100IB 主要特点：三点定位，独特光源，精确精确再精确。本产品深得钢铁业、铝业客户厚爱。如果把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象。从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚。并且,采用本公司独自的P偏光入射方式。消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪最理想的硬件。&bull 小型、轻量自由携带,可测量钢板上的任意位置。内置打印机因内部设置了打印机，数据的整理变得极为简单。

玻璃输液瓶偏光应力测试仪_注射剂瓶内应力试验仪_偏光内应力玻璃输液瓶偏光应力测试仪_注射剂瓶内应力试验仪_偏光内应力适用于制药企业、玻璃制品厂、实验室做测量光学玻璃、玻璃制品及其它光学材料的应力值，仪器可定性和定量测试玻璃内应力，彩色液晶屏自动读取结果。玻璃输液瓶偏光应力测试仪_注射剂瓶内应力试验仪_偏光内应力产品特征定性、 定量两种试验模式，试验空间可调，适用范围广仪器可存储200组数据，每组数据 50个测量值采用高精度绝对式角度编码器进行测量，测量精度优于2.0nm5寸彩色触摸屏，可同时显示测量角度及光程差数值，用户可直观获得所需数据，使测量直观易读暗视场无需校准，采用了绝对式编码器，偏振场的暗视场总是处于零角度点，因此无需用户校对零点，避免了人为校对暗视场造成的误差配备微型打印机，方便打印输出试验数据配备USB接口，可接PC软件控制仪器运行自动保存历史试验记录，本地查询，并可导出至电脑端EXCEL格式保存触屏端操作用户满足GMP要求的多级权限设置玻璃输液瓶偏光应力测试仪_注射剂瓶内应力试验仪_偏光内应力测试原理用于应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于偏光应力仪备有灵敏色片，并应用1/4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或定量的测量玻璃的光程差，配合壁厚测厚仪可以准确定量的测量出玻璃内应力数值。测试标准该仪器符合国家标准：GB/T 12415-2015、GB/T 4545-2007、GB/T 15726-2021、YBB00162003-2015、YBB00332002-2015测试应用基础应用适用于玻璃输液瓶、玻璃管制（模制）药瓶、管制（模制）注射剂瓶、安瓿瓶、口服液体瓶等偏光内应力测试适用于啤酒瓶、白酒瓶等玻璃容器内应力测试技术指标指标参数仪器示值0.1 nm测量精度2 nm偏振场直径150 mm捡偏振片旋转角度360°光场边沿亮度＞120 cd/m² 光场的光亮度≥800 lux数据保存200 组外形尺寸220 mm（L）× 350 mm（W）× 580 mm（H）电源AC 220V 50Hz净重12 kg产品配置标准配置：主机、微型打印机选购件：专业软件、通讯电缆

SEMILAB-全光谱椭偏仪GES5E (Spectroscopic Ellipsometer)SEMILAB成立于1989年，总部位于匈牙利布达佩斯，为生产、研发中心，客户遍布全球。在欧洲、和亚洲主要国家都设有分支机构, 在美国设有工厂和研发中心。SEMILAB拥有全球zui优秀的电学和光学表征技术，产品被广泛应用于光伏、半导体、科研以及平板测试领域。凭借先进的测试设备，为客户的生产和质量监控提供一套完整的测试方案，在行业中始终处于领xian地位。公司建成后迅速发展, 自2004年以来相继收购了包括SemiTest、SSM、Sopra、QC Solution、AMS、SDI和Todival Solar在内的业内知名测试公司，同时囊获了IBM的JPV、AMAT的Boxes Cross、以及德国Basler公司的zhuan li技术。随着市场的不断扩张，SEMILAB于2000年进入中国市场，6年后成立代表处，并于2009年在上海成立全资子公司“瑟米莱伯贸易（上海）有限公司”。子公司成立以来，业务量发展迅猛，于2010年成立了TSS寄售维修中心，并于次年在无锡新增了售后服务中心，上海公司随之成为亚洲最大的销售及售后服务中心。公司秉承专ye、团队、激情的文化理念，始终坚持为客户提供最hao的测试方案和完善的售后服务。 产品描述 GES5E全光谱椭偏仪基于椭圆偏振测试技术，采用先进的旋转补偿器，结合光纤专li技术将偏振光信号传输至分段光谱优化的高分辨率单色仪或阵列式多通道摄谱仪，测得线偏振光经过样品反射后的偏振态变化情况，并通过样品光学模型的建立，计算出单层或多层薄膜结构的厚度、折射率和消光系数，实现精确、快速、稳定的宽光谱椭偏测试。GES5E是Semilab针对科研院所和企业研发中心推出的多功能桌面型旗舰产品。为了满足科研院所及研发中心对于复杂薄膜材料和复杂多层薄膜结构的综合型测试需求，GES5E采用了模块化的设计，可自由组合多种扫描和真空变温样品台，多种从135nm深紫外光谱至2400nm近红外光谱的探测器，多种测试光斑尺寸，并可拓展FTIR红外光谱测试模组、EPA薄膜孔隙率测试模组、涡电流法非接触方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、反射干涉测试模组、透射率和反射率测试模组等多种功能，为方便用户合理配置，Semilab支持绝大部分模组的后续升级服务。 产品特点业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准非接触、无损测试所测样品无损伤的测量业界最宽测试光谱范围，选配135nm-25um，并可自动切换快速探测模式和高精度探测模式测试功能延展性强，并支持后续升级服务定期免费升级SOPRA材料数据库开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单主要应用光伏行业：晶硅电池减反膜、薄膜电池透明导电膜、非晶硅微晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、有机电池、染剂敏感太阳能电池半导体行业：High-K、Low-K、金属、光刻工艺、半导体镀膜工艺、外延工艺平板显示行业：TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片光电行业：光波导、减反膜、III-V族器件、MEMS、溶胶凝胶主要技术指标测试速度：＜1 sec （快速测试模式） ＜120 sec （高分辨率测试模式）测量光谱分辨率：＜0.5nm@633nm （高分辨率测试模式） ＜0.8nm@633nm （快速测试模式）最大样品尺寸： 300mm厚度测量范围：0.01nm-50um厚度测试精度：0.02nm @120nm SiO2 on Si折射率测试精度：0.002 @120nm SiO2 on SiSE1000 全光谱椭偏仪(TABLE TOP SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETER)产品描述SE-1000型椭偏仪采用手动变角装置来设定测试的入射角，样品台也采用手动方式，在测试的准确性和灵活性与SE-2000保持一致的情况下，为客户提供了一款极具竞争力的椭偏测试设备。另一方面，SE-1000型全光谱椭偏仪采用了最新设计的光学部件以及最新版本的测试分析软件（SAM/SEA），极大地提高了设备的运行稳定性和数据处理能力 与SE-2000平台一样，SE-1000全光谱椭偏仪同时也是一个多功能测试平台，采用模块化的设计，可集成FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、电子迁移率表征模组、LBIC光诱导电流测试模组、反射干涉测试模组等多种功能，用户可根据测试需求合理选择搭配功能产品特点业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准针对研发及实验室测试设计，能降低测试成本模块化设计，可综合监控样品光学和电学特性定期免费升级SOPRA材料数据库开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单主要应用业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准针对研发及实验室测试设计，能降低测试成本模块化设计，可综合监控样品光学和电学特性定期免费升级SOPRA材料数据库开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单主要技术指标手动变角范围：45°-75°（最小步进5°）光谱范围：245-990nm最大样品尺寸： 200mm厚度测量范围：0.01nm-50um（取决于样品类型）技术关键词应用关键词

1. 产品概述多角度激光椭偏仪 SE 400adv PV 在 HeNe 激光波长为 632.8 nm 时，在纹理单晶和多晶硅片上提供抗反射单膜的膜厚度和折射率。可更换晶圆支架允许在多晶硅片和碱性纹理单晶硅片上进行测量。2. 主要功能与优势粗糙表面分析高灵敏度和超低噪声检测允许在非理想的、引起杂散光的表面上进行测量，这些表面是纹理化单晶硅和多晶硅太阳能电池的典型特征。非凡的准确性由于稳定的激光光源、温度稳定的补偿器设置和超低噪声检测器，SENTECH SE 400adv PV 激光椭偏仪的主要特点是具有非凡的高稳定性和准确性。精密涂层评估SENTECH SE 400adv PV激光椭偏仪可以特别分析SiN涂层x、ITO、TiO2和SiO的薄钝化层2和 Al2O3.可以在光滑的基板上分析双层堆叠。该工具是一款紧凑的仪器，可快速启动和运行。SENTECH易于使用，以配方为导向的软件包括一个全面的预定义应用程序包，可满足生产环境中的研发和质量控制要求。

一、产品介绍： 椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块主要用于检定、校准系列圆度仪仪器的放大倍数。我公司在生产过程中采用了特殊工艺，结构简单合理，形状为正椭圆柱，尺寸测量带稳定，表面光洁度高，只需一次调心找正后即可多次重复测量。 国家质量技术监督局在2000年8月发布的《国家计量检定规程JJG429-2000圆度、圆柱度测量仪》中，将其列为主要检定工具之一。二、产品特点：1、正椭圆柱；2、长短轴之差公称尺寸为：1μm、2μm、4μm、8μm、10μm、20μm；3、热处理HRC60-64，冷处理，时效，尺寸稳定；4、椭圆柱工作面三、结构图：标准椭圆柱别名：椭圆标准器组\标准椭圆柱\圆度/圆柱度标准块

偏光应力仪是按国家标准的规定,可广泛应用于安瓿瓶、口服液瓶、西林瓶、输液瓶、酒瓶、调味品玻璃瓶、罐头瓶等玻璃制品的内应力测定。 测试原理：应用偏振光干涉原理检查玻璃内应力或晶体双折射效应的仪器。由于偏光应力仪备有灵敏色片，并应用1／4波片补偿方法，因此本仪器不仅可以根据偏振场中的干涉色序，定性或半定量的测量玻璃的光程差，配合壁厚测厚仪可以准确的测量出玻璃内应力数值。应用范围：产品图片产品名称适用范围安瓿瓶用于新版药包材要求的各容量安瓿瓶内应力值偏光测定。药用玻璃瓶满足新版药包材标准要求的测试各类玻璃西林瓶、输液瓶、口服液瓶等内应力大小的定量测量。玻璃器皿可用于各类玻璃质酒杯、水杯等器皿内应力定性和定量测量。酒瓶用在啤酒瓶、白酒瓶及饮料瓶等玻璃制酒类容器内应力测试。设备参数：规格名称技术参数仪器示值0.1nm测量精度≤2nm复零误差 ≤ 2nm光程差示值0.1nm光程差可测范围不小于560nm角度示值0.1°偏振场直径150mm检偏镜旋转角度 360°（±180°）视场光亮度＞120cd/m² 偏振场间距调整范围80-320mm光场的光亮度≥800lux数据保存不小于200组每组数据50个测量值环境温度10℃-40℃相对湿度最高80%,无凝露外形尺寸220mm (L) × 350mm (W) × 580mm (H)电源AC220V 50Hz净重12kg技术指标： ■ 设备采用7寸彩色液晶显示屏操作。 ■ 定性试验模式，快速判定有无应力。定量试验模式，数字显示光程差，量化评定应力。 ■ 可据实验室环境进行调整光场亮度。 ■ 智能化操作，无需通过检偏镜角度人工换算光程差。 ■ 输入试件厚度值，可自动计算平均厚度光程差值。 ■ 液晶显示屏具有权限管理功能。标 准：YBB00332002-2015玻璃瓶内应力的检测方法YBB00162003-2015 内应力测定法GB/T 12415-2015药用玻璃容器内应力检验方法GB/T 4545-2007 玻璃瓶罐内应力试验方法ASTM C148玻璃容器偏振检验的标准试验方法ASTM D4093透明或半透明塑料双折射和残余应变光弹性测量的标准试验方法 ASTM F218玻璃中应力分析的标准试验方法 配 置：标准配置：偏光应力仪主机、微型打印机选购件：测试软件、通信电缆

SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台(Spectroscopic Ellipsometer Metrology Station)产品描述SE2000全光谱椭偏测试平台基于椭圆偏振测试技术，采用先进的旋转补偿器，结合光纤专li技术将偏振光信号传输至分段光谱优化的高分辨率单色仪或阵列式多通道摄谱仪，测得线偏振光经过样品反射后的偏振态变化情况，并通过样品光学模型的建立，计算出单层或多层薄膜结构的厚度、折射率和消光系数，实现精确、快速、稳定的宽光谱椭偏测试。 SE2000全光谱椭偏测试平台是Semilab针对产线和实验线推出的多功能高速测试平台。模块化的设计，可选配300mm样品台或350*450mm平板样品台，Robot上片系统，图形识别系统和数据通信系统，实现高速在线监控。在测试功能方面，可自由组合多种从190nm深紫外光谱至2400nm近红外光谱的探测器，并可拓展FTIR红外光谱测试模组、涡电流法非接触式或4PP接触式方块电阻测试模组、Mueller Matrix各项异性材料测试模组、Raman结晶率测试模组、电子迁移率表征模组、LBIC光诱导电流测试模组、反射干涉测试模组等多种功能，使SE2000成为光学和电学特性表征综合测试系统。产品特点业界第yi家光谱型椭偏仪测试设备厂商业界标准测试机构定标设备，参与发布中华人民共和国椭圆偏振测试技术标准业界最宽测试光谱范围，选配190nm-25um，并可自动切换快速探测模式和高精度探测模式配置实时对焦传感器，实现高速测量选配Robot上片系统，图形识别系统和数据通信系统，实现在线监控独特的样品台结构设计，优化固定大尺寸的柔性材料模块化设计，可综合监控样品光学和电学特性定期免费升级SOPRA材料数据库开放光学模型拟合分析过程，方便用户优化测试菜单主要应用光伏行业：薄膜电池透明导电膜、非晶硅微晶硅薄膜电池、CIGS薄膜电池、CdTe薄膜电池、有机电池、染剂敏感太阳能电池半导体行业：High-K、Low-K、金属、光刻工艺、半导体镀膜工艺、外延工艺平板显示行业：TFT、OLED、LTPS、IGZO、彩色滤光片光电行业：光波导、减反膜、III-V族器件、MEMS、溶胶凝胶主要技术指标测试速度：＜1 sec （快速测试模式） ＜120 sec （高分辨率测试模式）测量光谱分辨率：＜0.5nm@633nm （高分辨率测试模式） ＜0.8nm@633nm （快速测试模式）最大样品尺寸： 300mm厚度测量范围：0.01nm-50um厚度测试精度：0.02nm @120nm SiO2 on Si折射率测试精度：0.002 @120nm SiO2 on Si

QXLC系列椭圆齿轮流量计是用来测量液体流量的精密仪表。系直读累积式仪表，是计量流经管道内液体流量总和的容积式流量计。椭圆齿轮流量计可选用机械显示表头和电子显示表头两种计数机构，显示表头具有显示累积流量、瞬时流量及回零功能，可实现现场显示和远传控制。对于不同的测量介质酸、碱、有机液、油品、食品等，流量计可以选用不同的材料铸钢、不锈钢和316制造，适用于化工、石油、医药、电力、冶金和食品等工业部门的流量计量工作。带发讯功能的椭圆齿轮流量计能与本公司的QX -908系列流量积算仪等仪表配套，便于集中检测，输出标准信号，作自动控制和数据处理等用，并可直接与计算机联网。产品特点：1、测量精度较高：0.2级与0.5级；2、机构简单、坚固、运行可靠；3、特别适合于测量粘度较高的介质，而且对被测量液体粘度的变化不敏感；4、安装容易。流量计前后不需直管段，即使流量计靠近阀门、弯管、缩管、扩大管，也无需加装直管段。5、QX LC-a型铸铁椭圆齿轮流量计，广泛用于各种油品及对铸铁不腐蚀液体介质的计量6、QX LC-e型铸钢椭圆齿轮流量计，用于高压、低腐蚀性介质的计量7、QX LC-b型广泛用于有较强腐蚀性液体介质，如酸、碱、盐及有机化合物等的计量8、为了防止流量计的齿轮被杂质卡死，在流量计的上游必须安装过滤器9、防爆等级：ExiaIICT6◆技术数据

我公司生产的椭圆齿轮流量计，适用于对管道中的液体流量进行连续的高精度计量。具有结构简单、使用可靠、准确度高、量程范围大、压力损失小、粘度适应性强、能测量高温高粘度液体、标定方便、安装简易、被测介质的粘度范围很宽广等特点。为容积式流量计的代表产品，特别适用于油品燃油的计量。我公司生产的椭圆齿轮流量计，装有现场指针显示、字轮累积计数器等装置。可以直接显示管道内的液体累积流量。广泛应用于石油、化工、医药、交通、船舶、食品等工业及商业部门的液体流量检测。