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能量色散型荧光仪

仪器信息网能量色散型荧光仪专题为您提供2024年最新能量色散型荧光仪价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括能量色散型荧光仪参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的能量色散型荧光仪您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合能量色散型荧光仪相关的耗材配件、试剂标物,还有能量色散型荧光仪相关的最新资讯、资料,以及能量色散型荧光仪相关的解决方案。

能量色散型荧光仪相关的仪器

  • 能量色散X射线荧光光谱仪主要用途包括两个方面,元素成分定性及定量分析、涂覆层厚度分析。 ELIO是一款紧凑式的便携式能量色散X射线荧光光谱仪,针对一些珍贵的材质,可进行非接触式和无损性的元素分析。ELIO利用CUBE技术可获得准确的元素分布图,实现测量点的准确定位,拥有直观的硬件和分析软件,加快了XRF分析仪器的现代化进程。 1、ELIO设计简单精美,具有1毫米的激光定位分析点,内置相机和新型电子元件 2、测量头安装在带有两个电动平台的三脚架上,完成元素分布图的采集 3、设计狭窄的鼻部能够进入测量点 4、ELIO基于激发强度大,样品台可以快速移动的设计,从而检测速度fei常快,此外,控制软件还可进一步优化采集时间 5、采用先进CUBE技术的大面积硅漂移探测器(SDD) 6、采用先进的探测器技术,能量分辨率140eV(MnKα),并具有高输出计数率(OCR),可实现快速分析,同时保持能量分辨率 7、高电压50kV的X射线激发源与近距离检测的几何结构,可在数秒内实现非接触式检测 8、灵活更换X射线管阳,滤波片和准直器,为不同领域的应用提供更加优化的检测条件。 能量色散X射线荧光光谱仪携带便携 1、测量头安装在紧凑轻量的铝质三脚架上,使ELIOfei常适合移动使用 2、测量头的总重量为2.1千克 3、样本大小如何,三脚架上的ELIO都可以轻松地对其元素进行检测 4、多种三脚架可供选择,满足不同的用户要求 5、可选的电动XY平台,完成现场便携式的元素分布绘图 6、文物遗产研究---ELIO可以对考古研究,艺术 鉴定和保护的物体进行原位扫描,使用户免于运输,避免样品收到损害。 一、地质科学 分析大型钻芯部分或其他矿物样品,拥有先进的元素分布图和光谱解析功能,可帮助科学家了解岩土材料中元素含量以及分布信息。 二、材料科学 针对一些先进材料,可以通过移动扫描获得元素分布,从而扩展了这些材料的应用,从空间科学走向消费产品。 三、食品科学 植物中的元素分布图可以准确识别营养物富集的位置,直观地展示加工食品中强化剂的分布。 四、科学教育和研究 可作为教学和研究工具来分析田野,教室或实验室中的物体和材料.
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  • 仪器简介:EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击:http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 在几分钟内即可获得几乎任何样品的成分数据。Thermo Scientific&trade ARL&trade QUANT'X EDXRF 光谱仪提供最大范围的样品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析,包括大块固体、颗粒、粉末、薄膜和液体。这款全面的台式 EDXRF(能量色散 X 射线荧光)系统配备无标样软件和配件,可满足中心实验室、合同实验室以及环境监测、化工、采矿、法医、食品、电子、水泥以及金属行业的元素分析需求。 ARL QUANT′ X 能量色散 X射线荧光光谱仪有如下分析技术优势:1、快速分析氟(F)到铀(U)之间的元素;2、元素分析浓度范围从1ppm到100%;3、多元素同时测量时间10-60秒;4、可选多种进样器;5、使用CCD相机进行样品成像;6、可调的X射线光斑直径1- 15 mm,以便适应不同样品大小;7、高性能电制冷硅漂移探测器(SDD);8、多功能XRF应用软件;9、薄膜厚度测量与镀层分析;10、UniQuant专利技术,卓越的无标样多元素同时分析技术;11、多语言支持;12、优异的机械耐久性,可保证长时间无故障运行;13、可选TRACEcom,能够轻松与LIMS交互;14、设计紧凑,可以轻松移动;15、低噪音、得益于智能温控风扇;16、全面的自定义和现场应用方法建立功能;17、易于安装,更易于维护。与上一代产品相比,新型 ARL QUANT'X 结合了改进的电子器件、全新的探测器、增强的 X 射线管以及优化的几何结构,从而提高了灵敏度。如果要测定微量元素,除了需要提升灵敏度之外,光谱纯度也同样重要。ARL QUANT'X 经过精心设计,可消除探测器电子器件、分析室、光学器件和 X射线管产生的所有杂散干扰。
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  • 仪器简介:EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(SDD检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率,高精度?高速分析●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统(选配),与以往机型相比,实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时,大大提高了便捷性,可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式,真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究,从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统,提高各项分析性能高性能半导体探测器,高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合,获得超高灵敏度。与以往机型相比,重元素检测下限可提升5~10倍,可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性,提升分析结果的可靠性。2.轻松操作,自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护,安全可靠软件误操作提醒,仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂(选配)配备水平多关节机械手,85位自动进样系统,可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂,有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观;碰撞即停的设置,使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本,通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业
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  • 追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析,保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化,有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级,降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管,有效提高高湿度地区光管使用寿命
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  • EDX2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。应用领域电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等超高硬件配置采用Fast-SDD探测器,125eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。高精度自动化的X、Y、Z轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。设计亮点上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,满足微小产品,台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台,微小密集型可多点测试,大大提高测样效率。自带数据校对系统。软件界面人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。曲线的中文备注,让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。
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  • 天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大屏幕触控电脑及全自动机械臂进样系统(选配),与以往机型相比,实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时,大大提高了便捷性,可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式,真正的做到了智能自动检测。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业产品特点配置高性能检测系统,提高各项分析性能高性能半导体探测器,高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合,获得灵敏度。与以往机型相比,重元素检测下限可提升5~10倍,可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性,提升分析结果的可靠性。轻松操作,自动便捷一体机式设计、一键测试功能、全匹配智能分析模式确保样品检测一个动作完成。多层防护,安全可靠软件误操作提醒,仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。全自动进样机械臂(选配)配备水平多关节机械手,85位自动进样系统,可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂,有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观;碰撞即停的设置,使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本,通过人机协作可提高50%的人工效率。
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  • JSX-1000S是日本电子在2014年3月在全世界同步推出的最新一款能量色散X射线荧光元素分析仪,软件设计简单,操作极为方便;灵敏度高、效率好;还未不同的应用专门设计的特色软件应对,实现了准确、高效的元素分析,应用范围极为广泛。 JSX-1000S由设计顶级设计团队设计外观,洋溢现代美感,充分体现了该仪器的高端气质。 主要技术指标:探测范围:标准配置Mg~U 选配Na~U X-射线发生装置:5~50 kV , 1mA靶材:Rh过滤器(最大九种):标准配置OPEN, ND, Cr, Pb, Cd ;选配Cl, Cu, Mo, Sb检测器:硅漂移探头样品室尺寸:300mmφ×80mmH样品室真空:标准配置(大气);选配真空样品室内观察系统:彩色相机分析软件:定性分析、定量分析、RoHS对应软件(Cd,Pb,Hg,Br,Cr)、简易分析软件、报告书软件、日常检查软件等
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  • XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用三重射线防护系统(软件联锁、硬件联锁、整机迷宫式设计),彻底杜绝各种工作情况下的辐射泄露。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用独创设计的组合式短光路光路盘,显著提高检测灵敏度,降低检测限。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪采用大型样品室,无需破坏和前期处理即可测量比较大的样品。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪软件工作站一键式操作,简单易用,使用方便,人机交互友好,无需专业知识。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪从S到U的快速元素分析,测量时间可调。XD-8010型能量色散X射线荧光光谱仪多达15组复合滤光片,X射线照射径从1mm到7mm可选。强大的自主定制分析报告格式功能,分析报告可保存为 PDF 和 Excel 两种格式,分析结果自动保存,可方便对历史数据进行查询及统计,只需一次点击即可输出数据。软件可视频观察样品的位置,并且对样品进行拍照,样品图片显示在测试报告中。可进行谱图比对,对不同元素含量的谱图进行比对,进行材料识别。采用经典的定性定量分析方法,全面保证测试数据的准确性。开放式校准曲线平台,可为客户量身定做有害物质检测方案。
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  • 能量色散X射线荧光(EDXRF)是一种常规的分析技术,广泛用于各种样品类型中主要元素及微量元素的半定量和精确定量分析。其广泛的实用性源于:快速、准确、无损的多元素分析;元素分析范围涵盖从钠(Na)至铀(U);含量分析范围从低的PPM级到高的百分含量(wt%)。 日本理学NEX CG功能多样,可以实现各种类型样品的常规分析。从均匀、低粘性的液态样品,到固态、金属、泥浆、粉末和胶状样品。特别适用于对成分完全未知的样品进行半定量分析。NEX CG欠打的分析能力,灵活、方便的使用性,使其在科研、工业及现场检测领域有着广泛的需求。 独立的2次靶光学系统、能为范围广泛的元素提供很好分析。钠 (Na) 、镁(Mg)、氯(Cl)等用EDX分析比较困难的元素也能用NEX CG进行分析。能量色散X射线荧光(EDXRF)分析的特点*检测样品完全无损*元素分析从钠(Na)至铀(U)*适用于固态、液态、粉末及稀薄样品*偏振式激发使检出限(LOD)更低*无需标准样品即可进行半定量分析*使用RPE-SQX软件减少对标样需求*独特的光谱重叠处理方法使误差降低*EZ分析程序用户界面简单
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  • 能量色散型X射线荧光分析仪 EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(高分辨率SDD)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。 另外,近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS2.0应对手段。 追求省时省力,高速筛选分折降低运行成本、减少日常维护量配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的 筛选分析功能配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义 深入浅出利用[筛选分析]画面、操作简单方便从主成分判定到条件选择全部实现自动处理 配备所有必备功能标准配备了RoHS/ELV分析所需的各种功能超大样品室,可直接测试大型样品 配备只针对RoHS法规有害5元素+氯元素所需的筛选分析功能 尽可能将需要荧光X射线分析知识的操作步骤自动化,可进行RoHS法规5元素+氯元素(选配)的高速筛选分析。EDX-LE从开始分析到得到结果只需要(根据样品)约1分钟。不仅可进行高速筛选分析,同时维持了高可信性的分析水平EDX-LE标准配备了RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能,用户无需购买特殊选购件,就可以获得RoHS/ELV/无卤素分析系统。 具体货期&价格请与客服咨询为准!谢谢
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  • 单色能量色散X射线荧光元素分析仪产品介绍: 单色能量色散X射线荧光元素分析仪能在更短的时间内检测更多的样品,能进行更为che底的分析 , 提高现场修复土地和土地分级。适用浓度范围宽,从20μg/kg至100%均适用;食品、药品、植物、 地下水、地表水以及工业污水中重金属的检测;可快速准确定量分析土壤及农作物中镉等重金属元素。应用方向:可提供针对农作物中多种重金属污染物定量分析,可直接测量>15种无机污染物, 是食品和农作物快检抽查工作的筛选综合工具;快速准确定量分析土壤及污水中镉等重金属元素以及快速准确定量分析污水中铅、砷、汞等重金属元素。适用于As、Ba、Cd、Co、Cr、Cu、Fe、Hg、Mn、Ni、Pb、Pd、Sb、Se、Sn、Ti、Tl、V、Zn等40余种元素快速检测;技术参数:测试时间(单位:S):30s-1200s检测元素范围:Al-U之间的40种元素探测器:Fast SDD 探测器应用方向:食品、药品、水质、土壤等电源:110-240 VAC工作温度:-5℃-50℃重量:<9 kg尺寸:30cmW*23cmL*26cmH
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  • 能量色散X荧光光谱仪 400-860-5168转2197
    产品名称:CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪 产品说明、技术参数及配置 CIT-3000SM能量色散X荧光分析仪,是先达公司2003年推出的达到世界先进水平、国内领先水平的全元素分析仪器,当年被科技部、质监总局、税务总局等五部委联合批准为&ldquo 国家重点新产品&rdquo ,同时被国家列入十五、十一五重点推广的科技项目。该仪器利用低能X光管进行激发,采用了国外最先进的半导体电制冷探测器进行探测,数字化谱分析技术,2048道多道脉冲分析器对射线光谱进行精细分析,一次性可以完成20多种元素的快速、准确分析。 适用范围 钢铁行业:生铁、炉渣、矿石、烧结矿、球团矿、铁精粉、铁矿石等各种成份分析; 耐火材料:各类样品成份分析; 有色行业:铝厂各类样品、铅锌矿、铜矿、银矿、钼矿等各种成份分析; 质检部门:工业产品、金、银等各种成份分析。 型号:CIT-3000SM 性能特点 采用数字化谱分析技术,计数率高,无漏计,稳定性好; 采用X光管激发样品,一次激发全部待测元素,韧致辐射型,功耗低、寿命长,对轻重元素均有较高的激发效率; 采用进口的电致冷Si-PIN半导体探测器,分辨率高,无需液氮制冷,使用方便。可以一次性完成对多种元素的探测; 高压电源:电压 0V-50kV连续可调;电流0-lmA连续可调,数码显示,精度高,无故障操作; 样品种类:固体、粉末、液体均可,压片无需添加任何试剂; 腔内环境:空气或真空; 真空环境测量,提高了轻元素的激发效率和测量范围; 2048道多道谱仪实时测量显示,对样品X光谱进行精细分析,系统可自动识别谱线,方便了解样品的组成; 可一次性实现20多种元素的快速、无损、准确分析; 自动稳谱,消除谱峰漂移影响,确保仪器长期稳定; 专业的分析软件,可以实现模式识别,自动分类,开放式软件系统,用户可以根据自身需要建立库文件; 全中文Windows应用软件,操作简单。 技术指标 分析元素:Mg-U,主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、As等 分析范围:1ppm-99.99% 同时分析:20多种元素同时分析 能量范围:1-30keV 测量时间:1-2分钟可以完成全部待测元素的含量分析 探测器的分辨率:150ev 管电压:0-50Kv 管电流: 1~1000 &mu A 仪器的分析精度:标准偏差&le 0.08% 分析误差:优于国家标准要求 辐射剂量:25&mu sv/h. 工作环境:温度10~35 ℃ 湿度30~70%RH 電源:AC 220 V± 10 %、50/60 Hz 仪器配置 仪器主机一台 控制面板 进口电制冷半导体探测器 X光管(1KV-40KV) 高压电源 计算机一台 激光打印机一台 真空泵一台 压片机一台 制样模具一套 稳压电源一台 测试软件一套
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  • 仪器简介:EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击:http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm×D320mm×H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用“筛选分析”画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 仪器简介:EDX-LE是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(Si-PIN检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。 根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,最近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS第二阶段应对手段。现面向全国 诚招代理商 详情请点击:http://www.instrument.com.cn/show/news/045392.shtml技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备电子制冷检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 能量色散X射线荧光光谱仪 X射线荧光光谱(XRF)分析法是对各种各样材料进行元素测定的一种现代化的通用分析方法。不管是块状样品、粉末样品还是液体样品,位于元素周期表上从4号元素铍(Be)到92号元素铀(U)之间的几乎所有元素都可以进行精确的定性、定量和无标样分析。根据不同的应用要求,其分析浓度范围可从0.1ppm到100%,而且即使高至100%的元素浓度也能直接进行测量而无须进行稀释。XRF分析法具有样品制备简单、测定元素范围广、测定精度高、重现性好、测量速度快(30s-900s)、无环境污染、不破坏样品等特点。 XRF法广泛应用于环保、地质、矿物、冶金、水泥、电子、石化、高分子、食品、药物以及高科技材料等领域,在产品研究开发、生产过程监控与质量管理等方面起着重要的作用。具体应用见以下说明: ●电子、塑胶、五金材料:各种电子元件、五金件、塑胶原料及制品、线路板等。●纸张及纸原料:纸原料、各种纸张、调色剂、油墨等。●石油、煤炭:石油、润滑油、重油、高分子聚合物、煤炭、焦炭等。●陶瓷、水泥:陶瓷、耐火材料、岩石、玻璃、水泥、水泥原料和生料、熟料、石灰石、高岭土、粘土等。●农业、食品:土壤、农药残留物、肥料、植物、各种食品等。●有色金属:铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等。●钢铁:生铁、铸铁、不锈钢、低合金钢、高合金钢、特种钢、铁合金、铁矿石、炉渣、电镀液、铸造砂等。●化学工业:无机有机物及制品、化妆品、洗涤剂、橡胶、调色剂、催化剂、涂料、颜料、药品、化学纤维等。●环境:各种废弃物、工业废物、大气粉尘、工业废水、海水、河水等。●生物科学:有机体、辅助物等。 X射线荧光分析基本原理各种元素的核外电子轨道位能互不相同,因此,受激发后发出的X射线光子能量互不相同,即每种元素发射该元素原子所特有能量的X射线,代表了该元素的特征,因此称作该元素的特征X射线。每种元素的特征X射线具有其特定的能量,检测到此种能量的X射线,即可以确定物质样品中有该元素存在。 能量色散X射线荧光仪器原理X光管加高压产生的原级X射线经过滤光片适当过滤后照射到样品上,激发样品中所含元素的特征X射线(称为X射线荧光),使用具有高能量分辨率的X射线探测器,得到X射线荧光能谱,不同的元素在谱图上形成不同的谱峰。谱峰的强度与样品中元素的含量成正比关系,通过计算机对探测器检测到的能谱进行解析,以谱峰位置和形状对样品中含有的元素种类进行定性,用谱峰强度对元素成分进行定量分析。 能谱仪简介:能量色散X射线荧光光谱仪是采用能量色散X荧光分析技术,同时测量多种元素的分析仪器,根据用户应用要求可配置为从Na到U的任意多种元素的分析测定。该仪器可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业。是企业质量控制的理想选择。 整机性能:●Si(PIN)或SDD半导体制冷探测器探测器的分辨率是评价能量色散X荧光光谱仪性能的主要指标之一 分 辨 率 145eV (分辨率越低则灵敏度越高)计 数 率 1000/S晶体面积 15平方毫米铍窗厚度 = 0.025mm探测功率 1.2W ●多道脉冲幅度分析器(俗称谱仪能量刻度)通道数:2048道 ●电源控制器系统电源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制 400 VDC ●低功率小型侧窗X射线发生器(俗称X光管)经过内部嵌铅特殊处理的X光管进行全范围屏蔽,只留侧窗X射线出口区。 罐绝缘油用于高压绝缘和冷却,0.005英寸铍窗标准窗口,额定功耗为50瓦、额定电压为50千伏。设计使用寿命15000小时。 ●高压发生器输 入:85~265Vac,47~63Hz,功率因数校正。 1kV~5kV的型号符合UL85~250Vac输入标准电压变动率:无负载到满负载,输出电压的0.01%电流变动率:0~额定电压,输出电流的0.01%纹 波:输出电压的0.25%峰-峰 温度系数:电压或电流调定,0.01%/℃ 稳 定 性:预热半小时后,0.05%/8小时 ●滤光片自动转换系统滤光片自动转换系统:6种滤光片自动选择并自动转换(滤光片作用:改善激发源的谱线能谱成分,在进行多元素分析时,用来抑制高含量组分的强X射线荧光,提高待测元素的测量精度)。 ●安全防辐射系统1、重新设计的低辐射X射线管经过特殊处理(从源头做起)2、全封闭铅板双层防辐设计(从设计结构做起)3、全自动铅板滤光片自动屏蔽装置4、样品盖意外开启X射线强制中断装置 5、延时测试与X射线警示系统 ●针对ROHS指令限制使用有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限Cd、Pb、Cr、Hg、Br的检出限为2ppm ●强大的分析软件工作站1.一键式的操作软件,简单易用,无需专业知识。2.人性化的人机界面3.各种测试参数无需操作人员设定,强大定制报告功能。4.测试数据自动存储,具有历史查询功能。5.最前沿的定性定量分析方法。6.可同时分析几十种元素。7.元素分析快速,分析时间从30秒到900秒可调。8.长时间待机不用,自动降低管压、管流,延长X光管寿命。9.对X射线管进行温度管控,保护X射线管并延长它寿命。10.实时监测仪器运行状态,轻易维护仪器。11.防止在测试样品时打开样品盖的误操作,软件有警示操作提示,同时关闭高压电源。
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  • Thermo Scientific ARL QUANTX EDXRF 光谱仪提供出色的痕量分析灵敏度,打破了1纳米的检测限瓶颈。专为满足实验室和制造环境中极具挑战性的分析需求而设计,ARL QUANTX EDXRF 光谱仪的功能和灵活性可zui大程度提高各种元素分析应用的分析量。能量色散 X 射线荧光 (EDXRF) 分析技术可通过简易的样品制备,实现主量、次量和痕量元素分析,所分析样品范围广泛,可以是固体、颗粒、粉末、薄膜和所有形式的液体。ARL Quant’X 荧光能谱仪具有广泛的应用如:ROHS-WEEE电子废弃物中重元素分析,各种合金及贵金属成分分析,环境污染气溶胶的测度, 考古文物保护,刑侦痕量分析,营养品分析,磁性介质和半导体的薄膜渡层厚度分析,各种油品中成分分析,纳米至微米镀层厚度测量,土壤,催化剂,矿石,原材料等.用于材料的无损分析可选择液氮致冷或电致冷Si(Li) 探测器 从氟至铀的多元素分析测定的浓度范围一般可以从ppm级至百分之百技术参数
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  • 微谱科技5E-XRF2510高性能能量色散X射线荧光光谱仪5E-XRF2500 X射线荧光光谱仪凭借其紧凑的尺寸,优异的分析性能,超高的测试效率,可以精准测试从F到U的所有元素。广泛应用于水泥、采矿、金属冶炼、玻璃陶瓷、化妆品、催化剂、石化等行业。基本参数:元素范围:F-U,视含量而定含量范围:ppm-99.99%光管:最大功率50w,最大电压50kV,最大电流1000uA探测器:超薄石墨烯窗SDD探测器,计数率优于1000000cps,分辨率≥123eV气氛模式:3种可选,空气,真空,氦气触屏大小:10寸产品特点:操作简单在测试过程中,可随时查看仪器运行状态:管压、管流、光管温度、光谱室真空度、各类传感器状态、探测器温度信息,随时全面掌握仪器的工作信息样品旋转通过样品旋转,增加样品测试面积的同时提高代表性,使样品测试结果更加准确高性能能量色散X射线荧光光谱仪,从灵敏度,分辨率和稳定性体现更高的灵敏度微谱科技5E-XRF2500设备采用石墨烯SDD探测器,更加紧凑型的光路,微型测试腔、创新性的解谱算法,计数率高于1000000cps,使得从F到U的所有元素都可获得最佳的灵敏度。例如,通过上述创新性技术,可以使用熔融制样方法对样品中的钠元素进行准确定量分析,以前只有价格昂贵的WDXRF才可以完成的任务,而现在使用微谱科技的EDXRF就可以完成更高的分辨率5E-XRF2500采用了最先进的超薄石墨烯硅基漂移探测器和创新的解谱算法,分辨率可低至123eV@Mn Kα线,因此微谱科技的EDXRF有着更高的光谱分辨率,可清晰区分领进谱线,减少谱线重叠现象,从而可以从容应对复杂样品和轻元素的定量分析,如地质矿物以及金属合金样品的分析。更高的稳定性5E-XRF2500创新性的采用微型测试腔体设计,紧凑型测试光路,高真空度光谱室,样品自旋技术,创新性的稳谱技术。使得微谱科技的EDXRF具有极高性能的长期稳定性。
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  • 仪器简介:EDX-LE Plus是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷(SDD检测器)检测器,因此在实现降低运作成本和更易维护的同时,以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成,所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外,针对检测有害元素Cl和无卤素要求、以及Sb的检测分析,该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为欧盟和中国RoHS2.0筛选分析手段。技术参数:1. 测定原理 X射线荧光分析法2. 测定方法 能量色散型3. 测定对象 固体、液体、粉状4. 测定范围 13Al -92U5.样品室尺寸 最大W370mm× D320mm× H155mm6. 制冷方式 电子制冷7. 一次滤光片 5种+OPEN自动交换8. 软件 筛选分析、定性分析、定量分析主要特点:●利用&ldquo 筛选分析&rdquo 画面,操作简单方便●从主成分判定到条件选择全部实现自动处理●标准配备了RoHS/ELV分析所需要的必要功能●提升筛选效率,高精度?高速分析●拥有大容量样品室,可以直接测定大型样品●配备高能量分辨率电子制冷SDD检测器,将日常维护量控制到最小程度●配备保护功能,限制条件或数据的变更●配备筛选轻松设定功能,能够根据管理方法轻松自定义
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  • 能量色散X荧光光谱仪 400-860-5168转4275
    1.能量色散X荧光光谱仪应用领域: 1.1.ROHS\无卤检测指令 1.2.合金分析领域(特别是轻元素) 锌铝合金成分分析 铝合金成分分析 铜合金牌号判定、成分分析 不锈钢成分分析(抽真空轻元素检测) 铸铁成份分析等 1.3.镀层成分分析 镀层厚度分析 镀层环保检测 1.4.能量色散X荧光光谱仪仪器规格 仪器腔尺寸:400mmX340mmX80mm 仪器外观尺寸:700mmX510mmX336mm 仪器重量:56kg 1.5.工作条件: ●工作温度:15-30℃ ●相对湿度:40%~70% ●电源:AC:220V±5V、 1.6.技术性能及指标: 1.6.1.元素分析范围从钠(Na)到铀(U); 1.6.2.元素含量分析范围为1PPm到99.99%; 1.6.3.测量时间:100-300秒(可调); 1.6.4.RoHS指令规定的有害元素(限Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl)其检测限度达1PPM; 1.6.7.能量分辨率为129±5电子伏特; 1.6.8.温度适应范围为15℃至30℃; 1.6.9.电源:交流220V±5V(建议配置交流净化稳压电源); 1.7.产品特点 1.7.1HM-550,配置了真空测试系统,增加了元素测试范围,探测器配备SDD的测试系统,对于矿石间各元素进行检测,减少元素间干扰 1.7.2整体结构化设计,仪器美观大方。 1.7.3采用美国最新型的SDD硅飘移探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。 1.7.4采用自主研发的SES信号处理系统(数字多道),有效提高峰背比,让测量更精准。 1.7.5一键式自动测试,使用更简单,更方便,界面更人性化。 1.7.6七种光路校正准直系统,根据不同样品自动切换。 1.7.7多重防辐射泄露设计,辐射防护级别属于同类产品Highest。 1.7.8优化一体化散热设计,使整机散热性能得到更大提高,确保X射线源的运行安全。 1.7.9独有的机芯温度监控技术,确保射线源的安全可靠运行,有效延长其使用寿命,降低使用成本。 1.7.10多重仪器配件保护系统,并可通过软件进行全程监控,让仪器工作更稳定、更安全。 1.7.11专用真空测试软件,是否抽真空可自由选择,真空度实时显示,标准视窗设计,界面友好,操作简便,所有控制均在轻点鼠标之间。 1.7.12本机采用USB2.0接口,有效保证数据准确高速有效的传输。 1.7.13独有的全自动真空系统,彻底屏蔽空气对轻元素测试的影响,极大提高了轻元素的检出限,同时也扩大了检测范围。 1.7.14一体化真空腔体设计,有效地保证了符合测试要求的真空度,同时提高了设备的可维性。 1.7.15抽真空测试和不抽真空测试转换简单,方便客户使用;同时开盖即解除真空,安全、简单实用。 2.仪器硬件部分主要配置 2.1SDD电制冷探测器: 2.1.1.SDD电制冷探测器;分辨率:145±5e电子伏特 2.1.2.放大电路模块:对样品特征X射线进行探测;把探测采集的信息,进一步放大。 2.2X射线激发装置: 2.2.1.灯丝电流输出MAX:1mA; 2.2.2.属于半损耗型部件,使用寿命大于5000小时 2.3高压发射装置: 2.3.1.电压输出MAX:50KV; 2.3.2.电压输出MIN:5KV,可控调节 2.3.3.自带电压过载保护 2.4一体化真空系统 2.4.1具有低震动、低噪音、自保护及抽速快等优良性能的真空泵系统; 2.4.2几何抽速:60L/min(50Hz) 2.4.3压力:6.7×10-2Pa 2.5数字多道分析器: 2.5.1.将采集的模拟信号转换成数字信号,并将处理结果提供给上位机软件; 2.5.2道数MAX:4096; 2.5.3包含信号增强处理功能; 2.65光路过滤模块 2.6.1降低X射线光路发送过程中的干扰,保证探测器接收信号准确; 2.6.2将准直器与滤光处整合; 2.7准直器自动切换模块 2.7.1多达7种选择,口径分别为8-1#,8-2#,8-3#,8-4#,6#,4#,2#。 2.8滤光片自动切换模块 2.8.1五种滤光片的自由选择和切换。 2.9准直器和滤光片的自由组合模块 2.9.1多达几十种的准直器和滤光片的自由组合。 2.10工作曲线自动选择模块 2.10.1自动选择工作曲线,摒弃手动选择,避免人为操作失误,将自动化和智能化 演绎得更完美,使操作更人性,更方便。 3.专用软件JPSPEC-FP 3.1.1软件简介 专门针对金属材料元素成份检测而开发(含真空控制功能),对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。 3.1.2功能介绍 ※应对不同矿产材料可调式数据,测量时间为100-300秒(可调) ※操作界面简洁直观,使用方便,无需专业人士操作
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  • 超高性能X射线荧光光谱仪,无语伦比的通用性——EDX-8100 致元素分析的您 无需液态氮! 使用电子冷却方式的高性能SDD检测器 高灵敏度!高速!高分辨率! 大幅提升传统产品的分析性能 软件使用简便! 同时配备简易型分析软件PCEDX-Navi与专业型软件PCEDX-Pro 彻底追求通用性的硬件! 检测元素范围C~U、可开展真空分析及氦气置换分析 元素检测范围氦气置换分析优势可测试不适用真空、适用氦气置换分析的样品:液体,潮湿固体和粉末,微细粉末(小于微孔膜孔径),多孔且内含较多气体的固体1、3、5、10mmΦ的4种准直器自动切换根据样品尺寸的不同,照射直径可有4种不同的选择。微小异物分析和失效解析时采用1mmΦ,少量样品时采用3mmΦ或5mmΦ,根据样品的形状可以选择最适合的照射直径。自动切换5种一次滤光片使用一次滤光片降低X射线管产生的特性X射线和连续X射线,从而提升检测灵敏度。尤其分析微量元素时有效。EDX-8100搭载5种(含OPEN共6种)一次滤光片,可以实现软件操控自动切换准直器和一次滤光片独立驱动,无限制自由组合。可以选择6种×4种=24种组合。同时,所有组合均可对应FP法进行定量分析。 能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100信息由岛津企业管理(中国)有限公司/岛津(香港)有限公司为您提供,如您想了解更多关于能量色散型X射线荧光分析装置EDX-8100报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。
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  • EDX-6000D 测金仪能量色散X荧光光谱仪黄金检测专家Simply the Best准确:精准测量千足金万足金和K金快速分析: 最快10秒出结果无损:测量完全不会破坏样品无需每天重复标定,快速分析,简单易用一次分析所有贵重金属元素金,银,铂,钯,铑杂质及有害元素测量包括镍,铜,锌,铅,铱等极高的性价比EDX6000D 贵金属XRF分析仪-黄金检测专家考虑到当前黄金的高价值,对黄金的纯度的控制比以往任何时候都更为关键。无论您是购买黄金,出售或生产珠宝,制造金属还是回收废金属,都需要一种快速而可信赖方法来确定样品含金量,以进行质量控制和定价。EDX6000D结合目前最先进的XRF能量色散光谱技术和FP(基本参数法)软件,为用户提供了一种高效,准确的分析方法。应用领域:1、首饰加工厂 2、金银珠宝首饰店3、贵金属冶炼厂 4、质量检验部门 5分析测试中心 6、典当行检测对象: 黄金、铂金、钯金、K金、K白金等产品特点 :快速无损直观操作简单快速区分真假贵金属快速区分千足金,万足金高清内置摄像头,清晰地显示仪器所检测的样品部位黄金珠宝首饰检测专家EDX6000D仪器参数仪器外观尺寸: 380*372*362(mm)样品腔:310*280*60(mm)仪器重量: 30Kg元素分析范围:K19-U92钾到铀可分析含量范围:1ppm- 99.99%探测器:AmpTek 高分辨率电制冷Si-Pin多道分析器: 4096道DPP analyzer 分析器X光管:50W高功率铍窗光管高压发生装置:电压最大输出50kV,自带电压过载保护电压:220ACV 50/60HZ环境温度:-10 °C 到35 °C仪器配置标准配置可选配置纯Au初始化标样交流净化稳压电源戒指样品夹黄金标样USB数据线电源线测试薄膜仪器出厂和标定报告保修卡测试谱图18K黄金XRF光谱可定制化测试报告连续稳定性测试报告Au96%黄金样品及时而专业的售后服务 对客户方操作人员进行技术培训现场安装、调试、验收服务产品终身维修免费提供软件升级提供最高效的技术服务,在接到用户故障信息后,8小时内响应,如有需要,48小时内工程师上门维修和排除故障
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  • 天瑞仪器在累计万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种需求高水平融于一体的X荧光分析装置—EDX3800。仪器配置电子制冷的高性能半导体检测器、超近低损耗测试光路、高功率高管压激发光源、独立通道散热风路、智能一键测试模块、大面积触控电脑及全自动机械臂进样系统(选配),与以往机型相比,实现更高灵敏度、高准确度、高智能化、高效率。仪器在控制运行成本、提升维护性能的同时,大大提高了便捷性,可选择手动进样及自动机械臂进样两种模式,真正的做到了智能自动检测。仪器可以应对从RoHS/ELV指令/玩具指令等的管控法规限制的产品管理到普通材料分析的日常研究,从电子电气材料到金属成分分析、汽车机械检测、石油化学研究、医药食品管控等多行业领域。产品的特点1.配置高性能检测系统,提高各项分析性能高性能半导体探测器,高速数字处理多道及高功率高管压激发光源与分析光路配合,获得超高灵敏度。与以往机型相比,重元素检测下限可提升5~10倍,可应对高要求的检测需求。独立通道散热风路确保仪器在高功率运转下具有更好的稳定性,提升分析结果的可靠性。2.轻松操作,自动便捷 一体机式设计、一键测试功能、全匹配分析模式确保样品检测一个动作完成。3.多层防护,安全可靠软件误操作提醒,仪器三维迷宫式设计、电子互锁感应、机械隔离安全锁防护、软件异常中断等多重 X射线防护措施确保使用人员安全。4.全自动进样机械臂(选配)配备水平多关节机械手,85位自动进样系统,可实现多达 85个样品的无人值守自动测试 。工业级四轴机械臂,有别于传统机械臂形态的创新轻巧外观;碰撞即停的设置,使机械臂可在无防护的状态下与人安全协作而无需围栏。直驱技术应用节约50%的设备成本,通过人机协作可提高50%的人工效率。应用领域RoHS检测分析、有害元素分析地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定黄金、铂、银等贵金属和各种首饰的含量检测主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和首饰加工行业、首饰销售和检测机构、电镀行业
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  • EDX-7000/8000/8100 能量色散型X射线荧光分析装置采用高性能的SDD检测器,确保硬件优化,具有前所未有的高灵敏度高速分析和高分辨率。可以进行超轻元素分析(EDX-8000/8100)。采用电子制冷,无需液氮冷却。具有X射线管自动老化功能。 范围 测定对象:固体、液体、粉末 测定范围:11Na-92U(EDX-7000) 6C-92U(EDX-8000/8100) 一次滤光片:5种+OPEN自动交换 分析气氛:大气、真空、氮气 软件:定性、定量分析、FP法、薄膜FP法、背景FP法 样品室尺寸:可达W300mm x D275mm x H100mm(不包括R部分)
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  • 当前价格是定金,准确货期&实际价格请与客服咨询为准!谢谢 追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200ü无损分析,保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量 更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低 更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例 新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样) 新升级———降低分析成本————l阈值算法优化,有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级,降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管,有效提高高湿度地区光管使用寿命
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  • 追求高速高灵敏度高精度新型能量色散X射线荧光光谱仪EDX-7200 ü无损分析,保持固体/粉末/液体原始状态 ü宽广的元素定量浓度范围 (Na-U/ppm-%) ü可进行无标样定量更高灵敏度———检出下限最大提高6倍————l显著提升金属中微量元素的分析效果 l铜合金、焊锡、铝合金中的检测下限相比于以往机型大幅降低更高速———处理能力最大提高30倍 ————l无铅锡焊分析案例新功能———磷(P)的筛选分析————l应对美国TSCA对磷的管控要求l选配真空附件可进一步提高P的灵敏度l同时新增锡(Sn)筛选分析套件(含标样)新升级———降低分析成本————l阈值算法优化,有效减少法规相关(如RoHS)分析时间 l氦气置换系统升级,降低氦气消耗量 l新增防潮X射线光管,有效提高高湿度地区光管使用寿命
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  • 微谱科技WEPER XRF2601超大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2601可以精准测试从Mg到U的所有元素。350mm×345mm×85mm大腔体,是无损分析的能手,适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能,精准定位并记录检测点。可选配12位样品自动进样系统,提高测试效率。基本参数:元素范围:Mg-U,视含量而定含量范围:ppm-99.99%光管:最大功率50w,最大电压50kV,最大电流1000uA探测器:超薄石墨烯窗SDD探测器,计数率优于1000000cps,分辨率≥123eV气氛模式:空气触屏大小:台式电脑 产品特点:超大腔体350mm×345mm×85mm超大腔体,适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品,可直接在样品上执行测量。无人值守WEPER XRF2601可选配12位样品自动进样系统,提高了测试效率先进分析技术微谱科技WEPER XRF2601设备采用石墨烯SDD探测器,计数率高于1000000cps, 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内
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  • S2 PUMA 仪器为台式能量色散型X 射线荧光(EDXRF) 光谱仪,它采用了激发和检测技术的最新成果。该仪器运行稳定,操作简便,对整个元素周期表中的元素均具备的分析性能。S2 PUMA光谱仪依靠各种软件模块(用于处理先进的无标分析Smart-Quant,地质样品专用软件Geo-Quant,水泥样品专用软件Cement-Quant和符合法规要求)增强其功能,是一款经济实惠、高度灵活的分析工具,适用于各种应用场合。S2 PUMA Series 2 – Single单样品位手动进样的S2 PUMA Series 2与S2 PUMA Series 2 XY Autochanger以及S2 PUMA Series 2 Carousel具有同样的技术优点。在样品量较少时,采用简单的进样方式。通过快速的HighSense&trade 探测器和按照人体工程学设计的TouchControl&trade (触屏控制)分析样品。如果没有配置触摸屏,可通过远程控制,或外部PC上的SPECTRA.ELEMENTS软件分析样品。- 小批量样品,高分析性能&bull 大功率50W X射线光管和10位自动滤光片转换器,优化样品激发&bull HighSense探测器:布鲁克新一代硅漂移探测器(SDD),具有超高计数率和出色的能量分辨率,可明显缩短测量时间&bull 方便且具有失效保护的进样系统- 操作简便,仅需短时间培训&bull 直观明了的TouchControl(触屏控制)软件,简单培训后,任何人员都能掌握操作方法(支持9种语言)&bull 集成式触摸屏,可以戴手套操作,无需外部PC就可进行日常分析测量任何样品仅需几分钟时间:固体、熔片、压片、松散粉末、液体、块状样品 – 使用EasyLoadTM样品托盘装入批量样品,或者将块状样品直接放入样品室。S2 PUMA Series 2为您提供了最大的样品室:450 x 420 x 100 mm。其旋转式样品托盘可混装各种样品,最多装入12个直径为32、40或51.5mm的样品,或最多18个直径为40mm的样品。S2 PUMA Series 2 Carousel是台式EDXRF分析仪中,适用于各种类型、各种尺寸样品的全能仪器。S2 PUMA Series 2 – Carousel- 适用于各种类型的样品&bull 固体、粉末、液体、&bull 块状样品,整体测量或制备后测量- 微区分析&bull 采用准直器面罩可以分析大样品中细小的颗粒&bull 光斑尺寸:1至34mm&bull 高清摄像头:样品定位和确认- SMART.QUANT FP&bull 元素分析的一键式无标样解决方案&bull 算法强大,可快速可靠地获得结果S2 PUMA Series 2 Automation是唯一一款可以专业的方式集成到全自动实验室的台式EDXRF。它可全天候(24/7)为您提供元素分析结果。通过传送带或机械臂连接样品制备模块。进样接口位于仪器的背面,因此您可充分发挥X-Y Autochanger(自动进样器)的功能。除EasyLoadTM XY样品托盘外,仪器内部的缓冲样品位可确保您随时轻松处理在线样品和离线样品。布鲁克是全球X射线荧光光谱分析仪器及软件的主要供应商之一。分析仪器主要应用于科学的研究和发展、工业过程控制以及半导体材料的物性测量领域。可为客户提供量身定制的无损分析解决方案,用以分析表征广泛的产品,例如石化产品、塑料和聚合物、环境、医药、采矿、建筑材料、研究与教育、金属、食品和化妆品等多个行业领域。
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  • 微谱科技WEPER XRF2600大腔体/无损能量色散X射线荧光光谱仪WEPER XRF2600可以精准测试从Mg到U的所有元素。315mm×225mm×62mm大腔体,是无损分析的能手,适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。标配样品观察功能,精准定位并记录检测点。基本参数:元素范围:Mg-U,视含量而定含量范围:ppm-99.99%光管:最大功率4w,最大电压50kV,最大电流200uA探测器:超薄石墨烯窗SDD探测器,计数率优于1000000cps,分辨率≥123eV气氛模式:空气触屏大小:10寸 产品特点:大腔体315mm×225mm×62mm大腔体,适用于各种类型、各种尺寸样品重元素的检测。无损检测不需要破坏样品,可直接在样品上执行测量。先进分析技术微谱科技WEPER XRF2600设备采用石墨烯SDD探测器,计数率高于1000000cps, 分辨率可低至123eV@Mn Kα线超快速度大部分样品的测试时间再60-600s以内
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