积分奖励对错题:决定纤维静电衰减速度的主要因素是材料的表面比电阻
‘有奖问答’对错题:决定纤维静电衰减速度的主要因素是材料的表面比电阻。( )
我分析测试中心是国家认可实验室,通过国家计量认可,拥有国内先进的电性能测试仪器:测量范围很广的高阻计,可以测试各种材料的电阻率、防静电性能、绝缘电阻等;介质损耗和电容率测试仪,可以在高频和音频下测量介质损耗因数和相对电容率(介电常数);击穿电压试验机可以在100KV范围内测量样品的电气强度和耐压性能等等。
功率衰减器是一种能量损耗性射频/微波元件,元件内部含有电阻性材料。除了常用的电阻性固定衰减器外,还有电控快速调整衰减器。衰减器广泛使用于需要功率电平调整的各种场合。电功率调整需要涉及到电流电压方面,而且要保证工作进程的连续性,所以必须用到衰减器!这是相对于电器而言的
绝缘电阻测试仪广泛应用于设备检测和故障排除。它广泛应用于电力检测行业。甚至可以说,电力设备离不开绝缘电阻测试仪设备。对于许多经验丰富的电力测试工人来说,[url=http://www.whfulude.cn/jieyuan/]绝缘电阻测试仪[/url]的常规测量范围和方法应该非常清楚。在本文中,我们将向一些新的电力测试工人介绍这两个问题。我希望他们能对你有所帮助! [b]一、绝缘电阻测试仪的测量范围[/b] 绝缘电阻测试仪的测量范围通常为0.1兆欧(MΩ)至1000兆欧(MΩ)之间。一些好的绝缘电阻测试仪甚至可以测量较低的电阻值,例如0.01兆欧元(MΩ)或者还要少。另外,有些仪器还具有较高的电压测量范围,能够满足不同设备的绝缘电阻测试要求。[align=center][img=绝缘电阻测试仪,484,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/12/202312272133194003_9946_6337156_3.jpg!w484x300.jpg[/img][/align] [b]二、绝缘电阻测试仪的测量方法[/b] 1、直接测量法 直接测量是最常用的绝缘电阻测试方法之一。在这种方法中,绝缘电阻测试仪通过高压电源和电阻对设备施加电压,并测量流过设备的电流。然后,根据欧姆定律计算设备的绝缘电阻值。直接测量方法的优点是易于使用,适用于大多数设备的绝缘电阻测试。 2、电流衰减法 电流衰减法是一种通过测量电流根据时间的变化来计算绝缘电阻的方法。在这种方法中,设备的绝缘电阻是由绝缘电阻测试仪在给设备施加一定的电压后,通过测量电流根据时间的变化率来计算的。电流衰减法的优点是可以测量较大的电阻值,并且对测试环境的干扰有很强的抵抗力。 3、脉冲法 脉冲法是一种通过向设备施加脉冲电压来测量绝缘电阻的方法。在这种方法中,绝缘电阻测试仪向设备施加一定幅度的脉冲电压,并测量设备上脉冲电压产生的泄漏电流。然后,仪器根据欧姆定律计算设备的绝缘电阻值。脉冲法的优点是可以测量较小的电阻值,并且可以防止设备在测试过程中受到电压的影响。 4、反接法 反向连接法是一种通过反向连接设备电源的正负极来测量绝缘电阻的方法。在这种方法中,绝缘电阻测试仪将设备的绝缘电阻反向连接到设备的电源的正负极后,通过测量流过设备的电流来计算设备的绝缘电阻。反向连接法的优点是可以避免设备在测试过程中受到电压冲击的影响,并在正常工作条件下测量设备的绝缘性能。 以上关于绝缘电阻测试仪常规测量范围和测量方法的介绍来自经验丰富的老电力人员的总结。我希望它能对你有所帮助!更多关于绝缘电阻测试仪的产品及相关信息,欢迎来武汉福禄德电力查看:http://www.whfulude.cn/jywd/165.html
关于对《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》《直流高压高值电阻器检定规程》3个 规程征求意见的通知 各位委员及专家、各有关单位: 根据2010年国家计量技术法规制修订计划,由全国电磁计量管理计量技术委员会负责立项的《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》与《直流高压高值电阻器检定规程》3个规程征求意见稿已完成,现开始征求意见。请各位委员、专家及有关单位尽快将《征求意见表》寄回或以电子邮件的形式反馈给起草单位或专业委员会秘书处。 联系人:邵海明 附件下载: 1.《冲击耐电压测试仪检定规程》2.《耐电压测试仪型式评价大纲》3.《直流高压高值电阻器检定规程》二○一一年三月三日
请教大师们哪位有GJB/J5972-2007非接触式静电电压表校准规范 和静电电压测试仪表校准规范这个规程。麻烦发一下给我。
有哪位老师知道哪里可以定做锂电池原位红外衰减全反射测试装置,求推荐,感谢!
API公司提供多种Inmet衰减器,频率范围为 50 GHz (DC),功率处理功率高达 1000 瓦。这些产品可用于雷达/电子战、战术通信、航空电子设备以及 Wi-Fi 6 无线设备测试。 API — Inmet的8812KFF3-26型射频衰减器是一款同轴射频衰减器,由Spectrum Control Inc(API)的Inmet品牌生产。这款衰减器设计用于在射频(RF)系统中减少信号幅度,以达到所需的信号水平,从而保护电路组件,优化信号质量或进行校准。[align=center][img=QQ截图20240403090521.png]https://www.leadwaytk.com/public/ueditor/upload/image/20240403/1712106339276898.png[/img][/align] 这款衰减器的主要特点包括: 频率范围:高达26 GHz,意味着它可以在很宽的频率范围内工作,适用于多种高频应用。 同轴设计:同轴结构提供了良好的电磁屏蔽,有助于减少信号损失和干扰。 衰减量:具体的衰减量值可能因型号而异,需要查阅产品规格书或联系供应商获取。 射频偏置三通:这一特性允许衰减器在射频信号路径中提供偏置电压或电流的通道,这在某些应用中可能非常重要,如需要同时传输射频信号和直流偏置的应用。[font=微软雅黑][/font][color=#ff0000]目前,立维创展现货供应8812KFF3-26同轴衰减器,欢迎咨询,[font=-apple-system, BlinkMacSystemFont, &][size=15px]立即发货。[/size][/font][/color]
工艺性质测试仪器的分类 测试纤维长度、细度、卷曲性、纱线拈度、纱线毛羽和回潮率等工艺性质的仪器。有纤维长度仪、纤维细度仪、纤维卷曲仪、纱线毛羽仪、纱线拈度仪、回潮率测试仪等。 纤维长度仪:测试纤维伸直长度的仪器。中国测试棉纤维长度主要采用罗拉式长度测定仪,把一端整齐排列的纤维放在仪器上,按一定间距分组称重后求出重量加权平均长度和其他指标。羊毛纤维长度一般采用梳片式长度仪测定。生丝和化纤长丝的长度用一定周长的纱框测长仪测定。 纤维细度仪:这种仪器是根据分散于液流中的纤维在通过1毫米的激光时,激光的散射量与纤维直径成正比关系设计的。用这种仪器可测定单根纤维直径及其分布。 静电仪:有摩擦式和感应式两种。摩擦式静电仪是使试样摩擦生电后直接测定试样上的静电压;感应式静电仪是使试样在电场中感应带电后测定试样的静电压或半衰期。 摩擦系数测定仪:测定纤维摩擦系数的方法有多种,一般用绞盘法摩擦系数测定仪测定短纤维摩擦系数,这种仪器又称为罗德(R?der)法摩擦系数测定仪。用这种仪器不仅能测试纤维与纤维之间的摩擦系数,而且也能测试纤维与金属、纤维与其他材料之间的摩擦系数。此外,还有各种型式的纱线和长丝的摩擦系数测定仪。80年代以来国际上还制定了能自动测定和记录的动、静摩擦系数测定仪。 卷曲性测定仪:测定纤维单位长度上卷曲数的仪器。测定卷曲性的方法一般有目测法和投影法两种。日本生产的机械式卷曲弹性仪可测定卷曲率和卷曲弹性。中国研制的用光栅法测定位移的纤维卷曲弹性仪精度较高,对测定化纤短纤维的卷曲有一定特点。 纱线毛羽仪:测试短纤维纱线表面毛羽的仪器。这种仪器大多是采用光电计数原理设计的。日本生产的毛羽试验仪能自动统计毛羽数和毛羽长度,并能打印出结果。仪器可测定3000旦以下的短纤维纱,可测的毛羽长度为0~10毫米,纱速为30米/分。另外一种毛羽计数仪有两个传感器,可同时用于1500旦以下的短纤维纱和长丝。纱速为10~1500米/分,四位数字显示。还有采用暗视场检测毛羽的仪器,精度较高(0.2毫米),并可将毛羽长度分为 3、5、7毫米三档进行检测。中国80年代初研制出的光电式毛羽试验仪,性能较好。 纱线拈度仪:测试纱线单位长度内的拈度数和拈缩的仪器。测试纱线拈度的方法有完全退拈法和“退拈-加拈”法两种。完全退拈法适用于粗纱和股纱。测试单纱的拈度大多采用“退拈-加拈”法,使用的仪器是电动式拈度仪。 回潮率测试仪:有直接烘干和间接测量两种,直接烘干除了最常用的烘箱外,还有利用红外线、高频和微波的快速烘干仪。
我要做橡胶表面的衰减全反射红外光谱,我们单位的是PE的红外,用的附件中的衰减全反射的那个晶片的折射率太低了,做不出来,看到有介绍说可以用折射率大的,上次看到过,不知道是尼高的还是那个厂家的,忘了,有那位大哥帮忙推荐一下,并告知可以买到ATR晶片的地方吧,谢谢!
一、衰减器 衰减器是提供衰减的电子元件。它广泛应用于电子设备中。它的主要用途是:(1)调节电路中的信号大小;(2)在比较测量电路中,可用来直接读取被测网络的衰减值;(3)改善阻抗匹配。如果某些电路需要相对稳定的负载阻抗,可以在电路和实际负载阻抗之间插入一个衰减器来缓冲阻抗变化。编码器,解码器,转换器衰减器是用于在特定频率范围内引入预定衰减的电路。一般用引入衰减的分贝数和其特性阻抗的欧姆数来表示。衰减器广泛应用于有线电视系统中,以满足多端口的电平要求。例如控制放大器的输入和输出电平,以及控制支路衰减。衰减器有两种类型:无源衰减器和有源衰减器。有源衰减器与其它热敏元件配合构成可变衰减器,安装在放大器中,用于自动增益或斜率控制电路。无源衰减器包括固定衰减器和可调衰减器。 同轴衰减器是一种具有能量损耗性射频/微波元件,元件进行内部控制含有电阻性材料。除了一些常用的电阻性固定衰减器外,还有电控技术快速发展调整衰减器。衰减器广泛使用于企业需要提高功率电平调整的各种不同场合。 二、同轴衰减器技术指标 同轴衰减器的技术指标包括频带、衰减、功率容量、回波损耗等。 工作频带: 衰减器的工作频带是指在给定的频率范围内使用衰减器以使衰减器达到其目标值。调制解调器 -[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/3p][color=#3333ff] IC [/color][/url]和模块由于射频/微波结构与频率有关,不同频带的元件结构不同,不能一般使用。现代同轴衰减器的工作频带较宽,在设计和使用中应注意。 2、衰减量:无论学生形成一个功率进行衰减的机理和具体数据结构以及如何,总是我们可以用得到下图结果所示的两端口信息网络来描述衰减器。信号作为输入端的功率为P1,而输出端得功率为P2,衰减器的功率衰减量为A(dB)。若P1 、P2 以分贝毫瓦(dBm)表示,则两端设计功率间的关系为 P2(dBm)= P1(dBm)- A(dB)可以明显看出,衰减量工作描述系统功率主要通过衰减器后功率的变小一些程度。衰减量的大小由构成衰减器的材料和结构分析确定。衰减量用分贝作单位,便于提高整机技术指标体系计算。 3.功率容量:衰减器为耗能部件,耗电后发热。 可以想象,一旦确定了材料结构,就确定了衰减器的功率容量。 如果衰减器所受的功率超过该限制,则衰减器将烧毁。 功率容量必须在设计和使用中定义。 4.回波损耗: 回波损耗是衰减器的驻波比,衰减器的输入输出驻波比应尽可能小。模拟开关,多路复用器,多路分解器我们需要的衰减器是一个不影响两端电路的耗电元件,也就是说,它与两端电路匹配。在设计衰减器时应考虑这一因素。 三、同轴衰减器基本可以构成 构成同轴衰减器的基本信息材料是电阻性材料。通常的电阻是同轴衰减器的一种社会基本活动形式,由此可以形成的电阻衰减器网络环境就是集总参数衰减器。通过进行一定的工艺把电阻材料放置到不同工作波段的射频/微波电路产业结构分析中就形成了具有相应出现频率的衰减器。如果是大功率衰减器,体积肯定要不断加大,关键问题就是散热功能设计。随着中国现代企业电子数据技术的发展,在许多重要场合要用到经济快速及时调整衰减器。这种衰减器通常有两种方法实现教学方式,一是半导体小功率快调衰减器,如PIN管或FET单片集成衰减器 二是开关内部控制的电阻衰减网络,开关可以是电子设备开关,也可以是射频继电器。 四、同轴衰减器的主要用途 控制功率级: 在微波超外差收音机中,控制本机振荡器的输出功率,以获得最佳的噪音系数和频率转换损耗,从而达到最佳的接收效果。在微波接收机中,为了提高动态范围,实现了自动增益控制。 2.去耦元件:作为振荡器和负载之间的去耦元件。 3、相对重要标准:作为一个比较功率电平的相对安全标准。 4.雷达抗干扰中使用的跳跃衰减器:它是一种衰减可以突然变化的可变衰减器,平时不引入衰减器,但在受到外部干扰时突然增大衰减。 [b]创芯为电子[/b]主要从事各类[url=https://www.szcxwdz.com][b]电?元器件[/b][/url]的销售。提供[url=https://www.szcxwdz.com][b]BOM采购[/b][/url]服务,减少采购物料的时间成本,在售商品超60万种,原?或代理货源直供,绝对保证原装正品,并满?客??站式采购要求,当天订单,当天发货,免费供样!
ARL3460光谱强度下降很多,工程师对光源一微法电容检测没坏,透镜彻底清理后光强仍然不理想,最后通过对恒温室内衰减器板进行调整,光强恢复到了原先出厂强度。工程师不告诉我们原因,不让我们调。(注:我们的仪器没有装双衰减器板)请大家介绍下衰减器板的调整。 例如把P位置由原来的5-11调为现在的5-9,S由4-11调为4-9,这样跳是否合理,对光电倍增管会有什么样的影响?这些数字4,5,9,11分别代表什么?
做傅立叶衰减全反射时附件的晶体折射率太小,想要晶体是纯Ge材料的,不知哪个单位有这样的设备,而且是对外开放的。
关于对《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》《直流高压高值电阻器检定规程》3个 规程征求意见的通知 各位委员及专家、各有关单位: 根据2010年国家计量技术法规制修订计划,由全国电磁计量管理计量技术委员会负责立项的《冲击耐电压测试仪检定规程》、《耐电压测试仪型式评价大纲》与《直流高压高值电阻器检定规程》3个规程征求意见稿已完成,现开始征求意见。请各位委员、专家及有关单位尽快将《征求意见表》寄回或以电子邮件的形式反馈给起草单位或专业委员会秘书处。 联系人:邵海明 附件下载: 1.《冲击耐电压测试仪检定规程》2.《耐电压测试仪型式评价大纲》3.《直流高压高值电阻器检定规程》二○一一年三月三日
JDSU可编程衰减器是一种高分辨率,扩展范围,可编程衰减器,非常适合测试功率计以及一般测试和实验室工作。衰减器的分辨率为0.01 dB(0.001dB HA1系列)和100dB的扩展衰减范围,标准工作波长为1200-1700nm。(对于HA9W衰减器, 波长为750-1700nm,衰减范围为60 dB)HA1衰减器为单模、超高分辨率,以及可编程衰减器,适用于误码率测试和一般实验室工作。HA2系列可编程衰减器提供波长依赖性为±0.05 dB,输入功率高达 1W(30 dBm),HA2适用于各种应用包括放大器测试和DWDM系统特性。HA衰减器非常适合在苛刻的应用中使用。作为多通道AM系统和高比特率数字脉冲编码调制(PCM)系统,离散内反射最小化到60dB以上,几乎消除了空腔效应。所有HA衰减器均配有高回波损耗和低光谱纹波的有线电视AM系统。这些衰减器的固有线性设计,结合内置校准和偏移功能,允许用户在大功率范围内将显示器与光学功率计匹配,此功能在需要控制测试设备的绝对光功率的测试中很有用。内置光束阻断开关提供从任何衰减快速设置为无限衰减(90dB)。主要特点和优点:100dB范围0.01或0.001dB分辨率 ,0.01dB重复性精度为±0.1 dB ,典型极化相关损耗(PDL)0.03dB1200-1700 nm或750-1700 nm波长范围内置GPIB和RS232远程控制单模或多模光纤SCPI兼容命令集可选耦合器或开关1000mW大功率输入波长依赖性在1530-1625 nm范围内小于±0.05 dB.符合CE要求及UL3101-1和CAN/CSA-C22.2,编号1010.1应用:精密光功率控制, 功率计线性校准模拟传输测试, 误码率测试光纤链路损耗模拟, EDFA输出功率特性[img=,616,340]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/04/201904180910225483_1842_3388456_3.png!w616x340.jpg[/img][img=,690,295]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/04/201904180910238184_2549_3388456_3.png!w690x295.jpg[/img][img=,650,552]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/04/201904180910250685_5875_3388456_3.png!w650x552.jpg[/img]
衰减器的原理及用途 功率衰减器是一种能量损耗性射频/微波元件,元件内部含有电阻性材料。除了常用的电阻性固定衰减器外,还有电控快速调整衰减器。衰减器广泛使用于需要功率电平调整的各种场合。衰减器是在指定的频率范围内,一种用以引入一预定衰减的电路。一般以所引入衰减器分贝数及其特性阻抗的欧姆数来标明。在有线电视系统里广泛使用衰减器以便满足多端口对电平的要求。如放大器的输入端、输出端电平的控制、分支衰减量的控制。衰减器有无源衰减器和有源衰减器两种。有源衰减器与其他热敏元件相配合组成可变衰减器,装置在放大器内用于自动增益或斜率控制电路中。无源衰减器有固定衰减器和可调衰减器。 衰减器有以下基本用途: 1) 控制功率电平:在微波超外差接收机中对本振输出功率进行控制,获得 最佳噪声系数和变频损耗,达到最佳接收效果。在微波接收机中,实现自动增益控制,改善动态范围。 2) 去耦元件:作为振荡器与负载之间的去耦合元件。 3) 相对标准:作为比较功率电平的相对标准。 4) 用于雷达抗干扰中的跳变衰减器:是一种衰减量能突变的可变衰减器,平时不引入衰减,遇到外界干扰时,突然加大衰减。 从微波网络观点看,衰减器是一个二端口有耗微波网络。它属于通过型微波元件。
[size=3][b]衰减全反射红外光谱(ATR-FTIR)[/b][/size]请问北京哪里可以做衰减全反射红外光谱,谢谢。
[align=center][size=18px][color=#131b59][b]1、耐电压测试仪结构及组成[/b][/color][/size][/align][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](1)升压部分[/size][/font][/b][/size][size=14px]调压变压器、升压变压器及升压部分电源接通及切断开关组成。[/size][size=14px]220V电压通过接通,切断开关加到调压变压器上调压变压器输出连接升压变压器。用户只需调节调压器就可以控制升压变压器的输出电压。[/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](2)控制部分[/size][/font][/b][/size][size=14px]电流取样,时间电路、报警电路组成。控制部分当收到启动信号,仪器立即在接通升压部分电源。当收到被测回路电流超过设定值及发出声光报警立即切断升压回路电源。当收到复位或者时间到信号后切断升压回路电源。[/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px](3)显示[/size][/font][/b][/size][size=14px][b][font=微软雅黑, &][size=14px]电路[/size][/font][/b][/size][size=14px]显示器显示升压变压器输出电压值。显示由电流取样部分的电流值,及时间电路的时间值一般为倒计时。[/size][size=14px]以上是传统的耐电压试验仪的结构组成。随着电子技术及单片,计算机技术飞速发展 程控耐电压测试仪这几年也发展很快,程控耐压仪与传统的耐压仪不同之处主要是升压部分。程控耐压仪高压升压不是通过市电由调压器来调节,而是通过单片计算机控制产生一个50Hz或60Hz的正弦波信号再通过功率放大电路进行放大升压,输出电压值也由单片计算机进行控制,其它部分原理与传统耐压仪差别不大。[/size][align=center][/align][align=center][size=18px][color=#131b59][b]2、耐电压测试仪的选用[/b][/color][/size][/align][size=14px] 选用耐压仪最重要的是2个指标,最大输出电压值及最大报警电流值一定要大于你所需要的电压值和报警电流值。一般被试产品标准中规定了施加高压值及报警判定电流值。如果施加的电压越高,报警判定电流越大,那么需要耐压仪升压变压器功率就越大,一般耐压仪升压变压器功率有0.2kVA、0.5kVA、1kVA、2kVA、3kVA等。最高电压可以到几万伏。最大报警电流500mA-1000mA等。所以在选择耐压仪时一定要注意这2个指标。功率选太大就会造成浪费,选的太小耐压试验不能正确判断合格与否。根据IEC414或(GB6738-86)中规定选择耐压仪的功率方法,我们认为是比较科学的。[/size][size=14px]“首先将耐压仪的输出电压调到规定值的50%,然后接上被试品,当观测到的电压降小于该电压值的10%时,则认为耐压仪的功率是足够的。[/size][size=14px] 也就是如果某一产品的耐压试验的电压值为3000伏,先把耐压仪的输出电压调到1500伏后接上被试品,如果此时耐压仪输出电压下降的值不大于150伏,那么耐压仪的功率是足够的。被试品的带电部分与外壳之间存在分布电容。电容存在一个CX容抗,当一个交流电压施加在这CX电容两端就会引成一个电流。这个电流的大小与CX电容的容量成正比与施加的电压值成正比,当这个电流大到或超过耐压仪最大输出电流时,这台耐压仪就不能正确判别试验合格与否。[/size]
[font=宋体][font=宋体][/font][/font][size=3][font=宋体]我在做[/font][font=Times New Roman]GC[/font][font=宋体]分析时,遇到了比较奇怪的色谱峰衰减的问题,请各位高手、前辈帮分析一下,具体情况如下:[/font][/size][size=3][font=宋体]我要检测的目标物是邻苯二甲酸二丁酯([/font][font=Times New Roman]DBP[/font][font=宋体])和邻苯二甲酸([/font][font=Times New Roman]2-[/font][font=宋体]乙基己基)酯([/font][font=Times New Roman]DEHP[/font][font=宋体])。色谱条件如下:所用的柱子是[/font][font=Times New Roman]HP-5[/font][font=宋体],[/font][font=Times New Roman]FID[/font][font=宋体]检测器。进样口温度[/font][font=Times New Roman]25[/font][font=宋体]0[/font][font=宋体]℃[/font][font=宋体],检测器温度300℃,升温程序:初始60℃保持1min,然后以20℃/min升至220℃保持1min,再以5℃/min升至280℃,在300℃后运行30min。进样量1ul,为不分流进样。[/font][/size][font=宋体][size=3]目标物的标准曲线的浓度为0,1,5,10,15ug/ml,线性能达到3个9,但是测定样品时发现色谱峰不断衰减,衰减幅度较大。如10 ug/ml的标样,中间测2针样品,其峰面积发生衰减,偏差达到了8.91%-13.44%。此时色谱条件不变,柱子也没有老化,再去测了2轮标准曲线,发现相同浓度标样之间的色谱峰没有衰减。同时也对仪器进行了精密性的检测,用10 ug/ml的标样连续进6针,DBP的RSD值为1.96%,DEHP的RSD值为2.85%。从以上的测试结果我推断仪器没有问题,我的标样也没有问题。现在我怀疑是不是我的样品前处理有问题呢?或者是我所选用的柱子跟我处理出来的样品不匹配?但是很多文献,包括国家标准方法和EPA都是用HP-5的柱子测这两种物质,不过不是测鱼体样品的文献,这些文献的都是检测水体和土壤的。[/size][/font][font=宋体][size=3]接下来我准备换柱子,因为我有个师姐做PAHs,她的前处理方法和我的一样,都是用快速溶剂萃取仪在线净化萃取鱼肉内的污染物。她用的是DB-17的柱子,发现她所测样品中的PAHs色谱峰很正常。于是我用她的DB-17(因为我们的前处理一样),用她的色谱条件去检测我的要检测的目标物DBP和DEHP。同样发现上述的问题,单独测标样很正常,一但测样品就发现色谱峰衰减的现象。补充一点,用两种类型的柱子都发现DEHP的色谱峰衰减的比较厉害。[/size][/font][font=宋体][size=3]由此我推断是鱼肉样品前处理提取出来的某些物质在色谱柱中干扰了我要检测的目标物,导致目标物的色谱峰发生衰减。不知道我的推断是否正确?请各位高手指点。现在我实在是没有办法了,请有关这方面经验的各位高手、前辈帮忙分析一下,提出一些改进的方法,小弟在这里拜谢各位了![/size][/font]
仪器信息网组织编写的《气相色谱百问精编》说到查看衰减值、设置衰减值(P195-196),请问怎样查看及设置衰减值?谢谢!
[color=#ff0000]摘要:针对传统的气泡法检漏技术,本文详细介绍了气泡法的基本原理、气泡法中的两种标准方法——加压法和真空法以及对应的标准规范,并对这两种气泡法进行了对比分析。本文还对气泡法的技术特点进行了分析,指出了气泡法检漏技术的局限性,由此引出和介绍了更先进的自动化高精度的检漏测试技术——压力衰减法。[/color][align=center]~~~~~~~~~~~~~~~[/align][size=18px][color=#ff0000][b]1. 气泡泄漏检测方法概述[/b][/color][/size] 气泡泄漏检测(bubble leak test)一般简称为气泡排放检测(bubble emission test)、浸没泄漏检测(submersion leak test)、水下浸没泄漏检测(underwater immersion leak test)或“浸泡检测(dunking test)”,是一种通过排放气泡来检测和定位被测物泄漏的试验方法。 如图1所示,气泡捡漏法的基本原理是设法使浸泡在水介质中的被检对象内外产生压力差,如果存在泄漏,则高压气体通过泄漏点向低压流动,在低压侧可以观察到泄漏气体在水中产生的气泡,由此来检测泄漏,具有操作简便、快捷和低成本的特点。[align=center][img=气泡泄漏检测基本原理图,500,343]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301172050596927_5663_3221506_3.jpg!w690x474.jpg[/img][/align][align=center][color=#ff0000]图1 气泡泄漏检测方法基本原理[/color][/align] 气泡泄漏检测方法的灵敏度受压力差、加压气体和起泡溶液的影响。目前气泡泄漏检测方法主要依据以下两种技术和相应方法: (1)加压技术:给被检对象内部直接用气体加压,在被检对象外部直接施加起泡溶液或将被检对象直接浸入溶液,根据泄漏气体通过液体时形成的气泡,确定被检对象是否泄漏及漏孔位置。相应标准为 ASTM F2096“通过内部加压检测医用包装严重泄漏的标准试验方法”。 (2)真空技术,适用于检测时不能直接加压设备的泄漏检测方法。在被检设备壳体局部区域施加起泡溶液,然后通过真空罩使这一局部区域两侧形成一定的压力差,如有泄漏发生,则会在压力低的一侧产生气泡,从而可以确定泄漏产生的部位。相应标准为 ASTM D3078“通过气泡排放测定软包装渗漏的标准渗漏试验方法”。 国家标准 GB∕T 34637“无损检测 气泡泄漏检测方法”将上述两种方法进行了汇总,对于刚性容器的检漏也有相应标准 ASTM D4991"用真空法测试空刚性容器泄漏的标准试验方法“,但基本原理都相同。本文将对这种气泡泄漏检测方法进行分析,介绍相应的特点和局限性,由此引出后续将介绍的目前气体泄漏检测新技术。[b][size=18px][color=#ff0000]2. 两种气泡法检漏装置简介[/color][/size][/b] 依据上述气泡法的测试系统是一种能够检测、定位和一定程度上量化气泡排放泄漏的装置,检漏装置主要由两部分组成。第一个组件是一个在被检对象内外之间产生压力差的装置,该压力差将开始驱使对象的内部气体通过泄漏路径从较高压力(对象内部)流向较低压力(对象外部)。这种压差的形成通过两种方式实现: (1)通过插入或连接压力探针(加压管线)进行内部加压。这意味着内部压力大于环境空气压力。 (2)通过将被检对象放置在真空室中来抽真空。这意味着对象内部的压力是大气环境压力,而对象外部的压力小于环境压力。 检漏装置的第二个组成部分是浸没液体介质。这种介质(在大多数情况下是水)将使操作者能够检测到从泄漏的被检对象中发出的气泡。浸没液体介质有时可以是油、酸浴或其他液体物质,该液体主要是充当能够视觉检测气泡的介质。[color=#ff0000] (1)采用内部加压技术的检漏装置(ASTM F2096)[/color] 在采用加压技术的检漏装置中,对于柔性被检对象的检漏,理想方法是通过插入皮托管式静态探针对被检对象进行内部加压,或直接通过刚性被检对象的管路和接口进行内部加压,如图2所示。该装置需要一个压力控制系统,该系统由压力源、高精度压力控制器和压力计组成,可实现较宽范围的精确压力控制以满足柔性和刚性被检对象的加压捡漏需求。 对于柔性被检对象,内部加压方法有时需要静态探针刺穿被检对象,以便进行内部加压。内部加压方式可以更好地控制压力,处理被检对象,如在测试过程中转动或旋转袋子。[align=center][color=#ff0000][img=气泡法加压检漏装置结构示意图,600,353]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301172051374796_2780_3221506_3.jpg!w690x407.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#ff0000]图2 气泡法内部加压检漏装置结构示意图[/color][/align][color=#ff0000] (2)采用外部真空技术的检漏装置(ASTM D3078)[/color] 在采用外部真空技术的检漏装置中,最理想的是丙烯酸塑料(亚克力)材料制成的真空室,如图3所示。因为丙烯酸塑料是透明的,能够在测试过程中看到漏气过程的全貌。就检测准确性而言,它也是最具成本效益和最划算的。[align=center][color=#ff0000][img=气泡法检漏装置亚力克真空箱,450,526]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301172051518809_7707_3221506_3.jpg!w609x713.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#ff0000]图3 气泡法外部真空检漏装置[/color][/align] 该真空室必须与真空泵连接,该真空泵可以是旋转叶片泵或文丘里泵。旋转叶片泵由电力驱动,将产生更高的真空,并且不需要加压供气来运行。另一方面,文丘里泵不需要电力,将产生较低的真空,且需要压缩空气源。[b][size=18px][color=#ff0000]3. 两种气泡检漏法的对比分析[/color][/size][/b] 对于上述内部加压和外部真空这两种气泡检漏法在实际应用中的选择,往往并没有明确的答案。选择哪一种气泡检漏法要根据被测对象的具体情况而定。表1列出了两种检漏方法对比。[align=center][color=#ff0000][img=两种气泡法检漏技术对比,690,209]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301172052182542_7313_3221506_3.jpg!w690x209.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#ff0000]表1 两种气泡法检漏技术对比[/color][/align] 当涉及到标准测试方法指导文件时,方法会有所不同。外部真空法和内部加压法分别以ASTM D3078和F2096为依据。外部真空法需要真空源,如采用真空泵或压力驱动的文丘里泵,内部压力法需要压力源和压力调节设备,不要求在真空法泄漏测试期间刺穿被检对象,而内部加压法则需要用探针刺穿样品以充入空气。在真空室内进行测试时,不能旋转或处理样品,这可以通过内部加压方法来实现。另外,加压法的压差更高、压力控制更好和更精确,因为可以更精确地控制压力。真空系统更复杂,因为内部腔室是气密和密封的,以便能够抽真空,且压差较小。[b][size=18px][color=#ff0000]4. 气泡法检漏特点分析[/color][/size][/b] 通过上述对气泡法检漏装置的介绍和对比,概括地说,气泡法检漏测试有如下特点优点。 (1)经济且有效的密封性能测试:涉及到产品的密封性能测试评价,没有比水浸气泡法泄漏测试更好的方法了,而事实上,比气泡法更好的方法要贵一两个数量级。 (2)简单易行的泄漏测试:将测试样品放入水浴中,抽真空或加压,寻找气泡,这是一种非常简单的检测和定位泄漏的方法。这在实际应用中非常便利,操作人员不需要太多的技术培训就可以进行检漏测试。 (3)泄漏小袋和包装的实际测试:所有需要仅是一个丙烯酸塑料箱和一个真空泵来进行检漏测试,对于大多数商业和医疗包装来说,测试的准确性也相当不错。 (4)包装泄漏的视觉检测和定位:泄漏可以在几秒钟内可通过视觉进行检测和定位。 (5)快速样品制备:许多被测样品无需太多准备,这意味着测试流程可以非常顺利地进行。 (6)通用测试方法:气泡泄漏测试可用于各种形状和大小的被测对象。 气泡法作为一种最传统的检漏技术,仍然在众多领域得到应用。然后根据研究表明,当结果依赖于人工视觉检查时,近30%的泄漏被遗漏,且通常检测效率和灵敏度低,需要操作人员目视识别泄漏。其面临的挑战主要包括: (1)如不加精密的真空压力控制,难以保持一致的测试条件。 (2)水很容易被污染。 (3)粘性物质可以掩盖测试过程中的泄漏。 (4)由于测试时间长、测试后清洗和干燥被检对象。 (5)对于较大尺寸的被检对象,大型水箱和吊装装置会占用场地和空间。 气泡法检漏测试的具体缺点是: (1)破坏性测试:即使包装的内部没有被水损坏或破坏,气泡法泄漏试验也被认为是破坏性试验,皮托管式静压探头的插入会在包装上造成一个穿孔。 (2)主观泄漏检测方法:气泡排放需要测试人员的参与,这给测试方法带来了主观性。测试操作员必须参与测试,否则可能会出现问题。 (3)密封被检对象的制备和处理:必须清洁被检对象,并为泄漏试验做好准备。此外,有些人可能不喜欢处理潮湿对象所带来的不便。 (4)测试程序取决于被检对象:对水敏感的被检对象,如电子设备,可能不适合这种测试方法。泄漏无法量化,没有办法知道泄漏的大小,只能知道泄漏在哪里。[b][size=18px][color=#ff0000]5. 气泡法检漏技术的局限性[/color][/size][/b] 气泡法检漏中产生气泡的唯一原因是因为在被检对象的内部和外部之间存在压力差,气体被从较高压力的环境驱入较低压力的环境,由此所带来的局限性如下: (1)最小可检测漏率 真空泄漏测试专家的共识是气泡法测试的最小可检测泄漏率为每秒0.001标准立方厘米,这意味着在每秒0.001标准立方厘米的漏率下,1立方厘米的泄漏大约需要100秒。 (2)渗透性材料的气泡泄漏试验 气泡泄漏测试不能在可渗透材料上进行,因为气泡泄漏测试开始时,数百个气泡开始从材料中冒出,这将使得定位和精确定位漏洞几乎不可能。 (3)气泡视觉检测的主观性 当我们研究气泡出现的频率和大小时,这种测试方法的主观性也受到质疑。假设在气泡泄漏实验中肉眼可以合理看到的最小气泡直径约为1mm,并假设一个直径为1mm的完美气泡球,因此气泡的体积为0.000524标准立方厘米。这意味着在0.001scc/s的泄漏率下,被检对象每秒钟将放出约2个气泡。 (4)内部真空法导致有限空气滞留 真空法的另一个局限性是,被检对象的起始压力一般是一个大气压,被检对象内部的空气量有限。在检漏过程中被检对象中存在的空气越来越少,因此压力越来越低,这意味着在低空气体积下,没有足够的空气从样品中排出用于适当的检测。 (5)加压法和真空法的不同 最后,如果被检对象已经加压到高压,真空室可能就没有太大的意义。我们这里假设被检对象已经被加压到200psi的绝对压力,然后浸入一个气泡测试槽中。漏率由以下公式得到:[align=center][img=漏率公式,200,67]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2023/01/202301172053406932_1785_3221506_3.jpg!w294x99.jpg[/img][/align] 式中:Q代表漏率;P1代表试样内部压力;P2代表试样外部压力;R代表气体常数;V代表体积;t代表时间。从公式可以看出,这仅仅意味着压差乘以常数乘以体积随时间的变化决定了漏率大小。为了更直观的说明问题,假设R、V和 t 都是1: 若被检对象已加压到200psi,标准大气环境压力为15psi,那么漏率为200–15=185。 若这个加压对象浸入一个水箱容器并抽真空,压力差将是200psi,即漏率为200–0 = 200。 由此可见漏率测量值只提高了7.5%,这意味着会看到多了7.5%的泡沫。如果被检对象可以采用加压法检漏,那么将具有这种内部加压的对象放入真空气泡泄漏箱就没有多大意义。 另一方面,在真空法检漏中,如果被检对象在15psi的标准大气环境压力下密封,浸入一个水箱容器并抽真空,压力差最大也只能是15psi,即漏率为15–0 = 15。由此可见,压差越大,漏率越大,则可观察到的气泡越明显,说明加压法要比真空法的测量灵敏度更高。[b][size=18px][color=#ff0000]6. 压力衰减法检漏技术[/color][/size][/b] 为了进一步解决上述气泡法检漏中的局限性,在气泡法基础上发展起来的压力衰减法泄漏检测技术逐渐成为当今最常用的方法。它的简单性使其易于自动化并集成到生产和装配过程中。 简而言之,压力衰减法测试是用空气填充被检对象直到达到目标压力,切断气源以隔离压力,并测量该压力在设定时间段内的衰减(损失),任何压力损失都表明存在泄漏。压力衰减法的灵敏度是测试部件尺寸和测试时间的函数,大多数测试都可以相当快速地执行,并获得高度准确的结果,但零件越大,获得准确测试结果所需的周期时间就越长。压力衰减法具体方法包括: (1)压力衰减的dP和dP/dT微分法。 (2)压力衰减的泄漏标准校准法。 (3)压差衰减的dP和dP/dT微分法。 (4)压差衰减的泄漏标准校准法。 (5)体积填充(密封设备)捡漏法。 以上压力衰减法详细内容将在后续文章中进行详细介绍。因为压力衰减法的应用可实现检测自动化,给检漏测试带来以下几方面的改进: (1)自动化泄漏测试节省时间和金钱 在制造过程中自动进行空气泄漏测试可以节省时间、金钱和工时。可自动按照设定确定是否符合泄露标准,一旦出现问题泄漏测试仪将通知生产线操作人员,可更快地发现产品缺陷,最大限度地缩短周转时间。 (2)精确和可重复的精密制造方法 与传统的水浸气泡法相比,自动化空气泄漏测试可提供更高准确度和可重复性的精确结果。 (3)可扩展的自动检漏系统符合您的要求 制造过程中使用的数字泄漏测试系统允许扩大生产规模并提高质量保证测试的速度。多种类型的泄漏测试仪可满足不同的需求,不同方法和规格的自动泄漏测试系统可满足大多数需求。 (4)适用于任何行业制造的自动化泄漏测试方法 随着制造方法变得更加自动化、先进和数字化,生产的各个方面都必须跟上步伐。制造过程中使用的自动泄漏测试是在满足需求的同时认证产品质量的绝佳方式。自动化泄漏测试最大限度地提高了各行业的效率,但在制造业尤其有用,典型应用领域有医疗设备和部件、药物、汽车零部件、航空航天部件、消费品和电子产品、包装等应用。 (5)制造过程中的自动空气泄漏测试创造了更高效的系统 制造过程中使用的自动空气泄漏测试将提高应用系统的整体效率,同时提高最终产品的质量。压力衰减法泄漏测试是非破坏性的,因为它使用干燥的空气来检查缺陷,并且具有较小的物理足迹。[align=center]~~~~~~~~~~~~~~~[/align]
简介: 本仪器符合SATRA—TM240、EN-344、GB/T 4386、ANSIZ41标准,用于测试成品鞋或者鞋材的电阻,以了解试样对静电的分散效果。 档位:100V/50V/500V可选; 量程:1×103~2×1010欧姆 原理: 在干燥的环境中调节后测量导电鞋的电阻 在干燥的环境中调节后测量防静电鞋的电阻 装置: 测试仪器(XK-3062防静电测试仪) 当施加(100±2)V直流电压时,能测量电阻到±2.5%的精度 内电极:由总质量4kg、直径5mm的不锈钢珠组成。钢珠应符合GB/T308要求。应采取措施防止或除去钢珠和铜板的氧化,因为氧化可能影响它们的导电性。 外电极:由一块铜接触板组成,使用前用已乙醇清洗 测量导电涂层电阻的装置 由三个导电金属探针组成,探针半径为(3±0.2)mm,安装在一块底板上。两个探针相距(45±2)mm并由一根金属带连接。第三个探针与另两个探针连线的中点相距(180±5)mm且与它们绝缘 试样调节的制备 制备 如果鞋装有活动垫,测试时应保留。用乙醇清洗鞋底表面以除去所有脱模剂的痕迹,用蒸馏水冲洗并在(23±2)℃环境中干燥。鞋底表面不应摩擦或磨损,也不应使用对鞋底有伤害或使鞋底膨胀的有机材料清洗 湿调节的特殊制备 在鞋底上涂一层面积为200mm×50mm的导电涂层,涂层面包括后跟和鞋前掌。干燥后测量涂层的电阻值小于1×103欧 将鞋内装满干净钢珠并放在XK-3062防静电测试仪的金属探针上,使外底前掌区域由两个相距45mm的探针支撑,后跟区域由第三个探针支撑,用测试仪器测量前段探针和第三个探针之间的电阻值 调节 根据被测试鞋的功能,按下列条件之一对制备好的试样进行调节 干燥条件,(20±2)℃、相对湿度(30+5)%。(放置7d) 潮湿条件,(20±2)℃、相对湿度(85+5)%。(放置7d) 如要测试不能在调节的环境中进行,则应在试样移出环境后5min内完成测试 步骤 用总质量4kg的干净钢珠装满试样,如有必要,可用一块绝缘材料增加鞋帮高度。将装满钢珠的样品放在铜板上,在铜板和钢珠之间施加(100±2)V直流测试电压,时间1min并计算电阻值 鞋底的能量不应超过3W。如果考虑3W的限制而降低电压,则应在测试报告上记录实际电压值
[size=3][font=宋体]我在做[/font][font=Times New Roman]GC[/font][font=宋体]分析时,遇到了比较奇怪的色谱峰衰减的问题,请各位高手、前辈帮分析一下,具体情况如下:[/font][/size][size=3][font=宋体]我要检测的目标物是邻苯二甲酸二丁酯([/font][font=Times New Roman]DBP[/font][font=宋体])和邻苯二甲酸([/font][font=Times New Roman]2-[/font][font=宋体]乙基己基)酯([/font][font=Times New Roman]DEHP[/font][font=宋体])。色谱条件如下:所用的柱子是[/font][font=Times New Roman]HP-5[/font][font=宋体],[/font][font=Times New Roman]FID[/font][font=宋体]检测器。进样口温度[/font][font=Times New Roman]25[/font][font=宋体]0[/font][font=宋体]℃[/font][font=宋体],检测器温度300℃,升温程序:初始60℃保持1min,然后以20℃/min升至220℃保持1min,再以5℃/min升至280℃,在300℃后运行30min。进样量1ul,为不分流进样。[/font][/size][font=宋体][size=3]目标物的标准曲线的浓度为0,1,5,10,15ug/ml,线性能达到3个9,但是测定样品时发现色谱峰不断衰减,衰减幅度较大。如10 ug/ml的标样,中间测2针样品,其峰面积发生衰减,偏差达到了8.91%-13.44%。此时色谱条件不变,柱子也没有老化,再去测了2轮标准曲线,发现相同浓度标样之间的色谱峰没有衰减。同时也对仪器进行了精密性的检测,用10 ug/ml的标样连续进6针,DBP的RSD值为1.96%,DEHP的RSD值为2.85%。从以上的测试结果我推断仪器没有问题,我的标样也没有问题。现在我怀疑是不是我的样品前处理有问题呢?或者是我所选用的柱子跟我处理出来的样品不匹配?但是很多文献,包括国家标准方法和EPA都是用HP-5的柱子测这两种物质,不过不是测鱼体样品的文献,这些文献的都是检测水体和土壤的。[/size][/font][font=宋体][size=3]接下来我准备换柱子,因为我有个师姐做PAHs,她的前处理方法和我的一样,都是用快速溶剂萃取仪在线净化萃取鱼肉内的污染物。她用的是DB-17的柱子,发现她所测样品中的PAHs色谱峰很正常。于是我用她的DB-17(因为我们的前处理一样),用她的色谱条件去检测我的要检测的目标物DBP和DEHP。同样发现上述的问题,单独测标样很正常,一但测样品就发现色谱峰衰减的现象。补充一点,用两种类型的柱子都发现DEHP的色谱峰衰减的比较厉害。[/size][/font][font=宋体][size=3]由此我推断是鱼肉样品前处理提取出来的某些物质在色谱柱中干扰了我要检测的目标物,导致目标物的色谱峰发生衰减。不知道我的推断是否正确?请各位高手指点。现在我实在是没有办法了,请有关这方面经验的各位高手、前辈帮忙分析一下,提出一些改进的方法,小弟在这里拜谢各位了![/size][/font]
如题 。 轴向及轴向衰减轴向衰减相对于轴向,衰减比例是多少呢? 纵向及纵向衰减纵向衰减相对于纵向,衰减比例是多少呢?
[font=system-ui, -apple-system, BlinkMacSystemFont, &][size=16px][color=rgba(0, 0, 0, 0.9)] 耐电压测试仪又叫电气绝缘强度试验仪或叫介质强度测试仪。将一规定交流或直流高压施加在电器带电部分和非带电部分(一般为外壳)之间以检查电器的绝缘材料所能承受耐压能力的试验。电器在长期工作中,不仅要承受额定工作电压的作用,还要承受操作过程中引起短时间的高于额定工作电压的过电压作用(过电压值可能会高于额定工作电压值的好几倍)。在这些电压的作用下,电气绝缘材料的内部结构将发生变化。当过电压强度达到某一定值时,就会使材料的绝缘击穿,电器将不能正常运行,操作者就可能触电,危及人身安全。[/color][/size][/font]
[font=宋体][font=Calibri]Custom[/font][/font][font=宋体] [/font][font=宋体][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]的[/font][/font][url=http://www.leadwaytk.com/article/4867.html]CMD285C3[/url][font=宋体][font=宋体]是[/font][font=Calibri]DC[/font][font=宋体]至[/font][font=Calibri]20GHz[/font][/font][font=宋体] [/font][font=宋体][font=Calibri]GaAs[/font][/font][font=宋体] [/font][font=宋体][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]吸收式电压可变衰减器[/font][font=Calibri](VVA)[/font][font=宋体],采用导线表面贴装技术封装,特别适合国防军事、空间和通讯系统。[/font][font=Calibri]CMD285C3[/font][font=宋体]应用两个在[/font][font=Calibri]-5V[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]0V[/font][font=宋体]之间改变的模拟控制电压来调节[/font][font=Calibri]35dB[/font][font=宋体]动态范围内[/font][font=Calibri]RF[/font][font=宋体]信号幅度。[/font][font=Calibri]CMD285C3[/font][font=宋体]在[/font][font=Calibri]10GHz[/font][font=宋体]时具备[/font][font=Calibri]3.2dB[/font][font=宋体]低插入损耗,并且使用[/font][font=Calibri]50[/font][font=宋体]Ω适配设计,不需要射频端口适配。[/font][/font][font=宋体]特征[/font][font=宋体]光纤宽带性能[/font][font=宋体]低插入损耗[/font][font=宋体]宽衰减系数范围[/font][font=宋体]高线性度[/font][font=宋体][font=宋体]满足[/font][font=Calibri]RoHS[/font][font=宋体]标准化的无铅化[/font][font=Calibri]3x3mmSMT[/font][font=宋体]封装[/font][/font][font=宋体]应用领域[/font][font=宋体][font=宋体]电子战([/font][font=Calibri]EW[/font][font=宋体])[/font][/font][font=宋体]雷达探测[/font][font=宋体]空间[/font][font=宋体][font=宋体]卫星通讯([/font][font=Calibri]Satcom[/font][font=宋体])[/font][/font][font=宋体]测试与测量[/font][font=宋体]相控阵技术[/font][font=Calibri]Custom MMIC[/font][font=宋体]成立于[/font][font=Calibri]2006[/font][font=宋体]年,是一家无晶圆射频和微波[/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]的设计公司,受到政府和军工[/font][font=Calibri]oem[/font][font=宋体]的委托,承担他们最大的微波电路挑战。[/font][font=Calibri]CUSTOM MMIC[/font][font=宋体]帮助客户使用同类中最好的[/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]优化用户的微波信号链。[/font][font=Calibri]CUSTOM MMIC[/font][font=宋体]是一个完整的[/font][font=Calibri]ISO[/font][font=宋体]认证设计师和同类最佳[/font][font=Calibri]MMICs[/font][font=宋体]供应商。[/font][font=Calibri]CUSTOM MMIC[/font][font=宋体]提供快速增长的高性能射频[/font][font=Calibri]/[/font][font=宋体]微波[/font][font=Calibri]MMIC[/font][font=宋体]产品系列。[/font][font=Calibri]QORVO[/font][font=宋体]作为美国著名的微波与毫米波领先生产商,为全世界用户提供最高标准的[/font][font=Calibri]GaN[/font][font=宋体]和[/font][font=Calibri]GaAs[/font][font=宋体]产品,[/font][font=Calibri]Qorvo[/font][font=宋体]在[/font][font=Calibri]2020[/font][font=宋体]年完成[/font][font=Calibri]Custom MMIC[/font][font=宋体]的收购。[/font][font=宋体]深圳市立维创展科技拥有稳定的供货渠道,优势提供[/font][font=Calibri]Custom MMIC/Qorvo [/font][font=宋体]陶瓷封装[/font][font=Calibri]IC[/font][font=宋体]和裸芯片产品,并大量备有现货库存,欢迎咨询。[/font][font=宋体]详情了解[/font][font=Calibri]Custom MMIC[/font][font=宋体]请点击:[/font][url=http://www.leadwaytk.com/brand/2.html][font=Calibri]http://www.leadwaytk.com/brand/2.html[/font][/url]
绝缘子测试仪是一种理想的运行线路试验设备,主要用于交流线路10~500kV的带电测量过线塔的绝缘子串电压分布值。随着科学的发展,绝缘子测试仪走进了实验室,主要用于试验室内各种35kV以及交流电压绝缘子的电压分布测量。绝缘子测试仪是一种理想的保障线路运行安全的电力检测设备和带电作业辅助工具。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2014/01/201401071254_486962_2781177_3.jpg 随时科技的不断进步,绝缘子测试仪的样式与种类也越来越多,但其在原理上基本上是一样的:测量绝缘子两点之间电位差,将被测电压变成电场进行测量。因而阻抗高,对于被测量系统的影响最小。被测出的信号经内部放大处理,最后以电压值的形式,由LCD数字显示输出。 如果某一片绝缘子的电位差为 O 时 , 则该片绝缘于为零值绝缘子。如测试中某一节是标准值 50% 时说明其是劣化绝缘子。最后根据所测的数据还可以绘制绝缘于分布电压图,通过绝缘子电压分布图就可以很方便的绝缘子的优劣或者使用状态。从绝缘子测试仪的测试原理来看,整个测量过程是非常简单的。 下现以三新电力旗下产品SX-15绝缘子带电测试仪为例说明其使用方法 用M8螺丝将SX-15表装于绝缘操作杆上,杆的长度应符合带电作业的规定。调整接头,使接触杆与被测绝缘子的悬挂方式对应,能顺利地接触到被测绝缘子两端的金属部分。连接好插头,打开开关,有液晶显示便可工作,读数的单位为kV。 测量过程中有两需要注意:第一,本测试仪采用了独特的升压方式,即晶体震荡,再通过特殊的频率脉冲分配电路,产生脉动脉冲信号,整流滤波后得到高压。5000V直流电压容易受到外界环境的影响而改变,特别是环境湿度的影响,一般情况下,高压应在4000V至6000V之间;第二“电源开关”打开后,不要用手直接接触“测试杆”,以免高压静电伤人。
JJG795-2004耐电压测试仪检定规程中交直流输出电压最大为15kV,为什么这个图片中可以到30kV。[img=,690,24]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2019/09/201909301122560931_1042_1791505_3.png!w690x24.jpg[/img]
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