晶圆厚度测量系统

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

超级多功能量子效率测量系统配件成功问世，一套量子效率测试系统可以测量：薄膜厚度, 折射率，透过率，光学常数, 光谱响应，外量子效率和 内量子效率。 多功能量子效率测量系统配件是特别为太阳能光伏电池（器件）的测量而设计开发的新一代量子效率测试系统。它可以测量光伏器件的 光谱响应（Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率（External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率（Internal Quantum Efficiency, IQE,%） 多功能量子效率测量系统配件特色 ×光路全部采用光纤传导替代自由空间光系统（Free-Space Optics)， 从而可以保证用户长时间使用而不需要准直或调节光路，也不需要日常频繁地移动光学器件或维护，×光路传导系统也规避了周围环境光线对测量的影响。 ×快速测量EQE/IQE测量（5分钟内就可测量串联光伏电池的全部特性）； ×真正全部匹配各种光伏技术（C-Si,多晶硅,硅薄膜电池, CIS/CIGS,有机光谱电池等）； ×根据用户的需求提供订制化服务； ×集成其它光学测量功能，如”薄膜厚度测量“功能。 内量子效率测量系统测量方法 多功能量子效率测量系统配件由300-1100nm的光源和1/4m的单色仪构成。内部还配置电动的6位滤波片轮实现高精度地测量。而光电流（Photocurrent)测量是通过锁相放大器和数字控制的chopper实现的。 外量子效率测量系统的软件控制光源（LED), 使用高性能光电二极管作为参考，可对串联电池进行偏置测量（Biasing Measurement)。 多功能量子效率测量系统配件对于内量子效率（IQE)的测量是通过使用两个积分球与一个微型光谱仪联合实现的。其中微型光谱仪用于确定反射率和透过率，标定（校准）单色仪的输出光谱带宽。 对于我们还有重要的配件供用户选择：安装样品的温度控制基座和外部电压偏倚源共选择。 多功能量子效率测量系统配件的软件全天候控制这个套系统。该软件基于LABVIEW构建，不仅可以控制系统工作，处理电子和光谱测量，还具有极其广泛的拓展性。 软件采用”指导提示性”界面设计，指导用户一步步完成实验操作，从而大大方便用户的使用。即使没有使用经验的人员也能在软件的提示下工作。 量子效率测试系统软件提供如下两个工作模块： 1) EQE－模块用于测量外部量子效率，控制所有二级模块如温度和偏置测量等》 2) IQE－模块用于反射率和透过率，计算内量子效率，定义单色仪的输出带宽，不要激光和特殊校准配件和程序。

密度测量用全套便携系统，包括一支便携天平、固液体用密度套装及其附件，所有都采用定制携带式仪器箱。精密天平固液体用密度套件F1级200g校称砝码天平安装软件，用于对固体和液体进行自动校准LPC-313便携天平配有内置可充电电池和直径为135 mm的圆形风罩，以适配直径90 mm圆盘。携带式仪器箱：宽×深×高：370×480×150 mm重量：4.5 kg Delivery information: 交付信息：系统的携带式仪器箱中包括天平、圆形风罩、校称砝码、250 ml带刻度的量筒、250 ml带刻度的烧杯、模拟温度计、玻璃测锤、样品筐、吊臂和支承件。说明称重上限可读性包装规格VWR目录号密度测量系统310 g0,001 g1 KITVWRI611-3131v\:* {behavior:url(#default#VML) } o\:* {behavior:url(#default#VML) } x\:* {behavior:url(#default#VML) } .shape {behavior:url(#default#VML) }

Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表)，适合高性能的成像应用，比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263® M玻璃制造，这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工，具有170 ± 5 µ m的均匀厚度，能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷；我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨，厚度变得非常薄，处于85 - 115 µ m之间，适用于弱荧光或厚样品；它有方形和矩形的版本。精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)，公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨，达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263® M玻璃制成，这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此，这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意，Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

雾度测量仪配件能够精确测量在玻璃或硅晶圆衬底上薄膜的总透过率和漫透过率，根据公式Haze(λ)=DT(λ)/TT(λ)从而获得雾度值，测量光谱范围为400-900nm。薄膜的总透过率，总反射率，漫透过率对于太阳能光伏制造非常重要，雾度测量仪配件通过三个光谱仪测量400-900nm范围内的光谱，不需要移动或改变任何部件，保证测量精度和使用寿命。雾度测量仪配件采用模块化设计，具有高度的可拓展性，充分满足不同客户的多种需要。例如，自动光学窗口可更换，简化操作，减少用户的人工干预操作。还有厚度和反射率测量模块可集成，从而满足客户测量薄膜厚度和折射率的需求。除此之外，还可以根据用户的预算情况配备自动扫描或手动扫描的机制，可以适合任何尺寸的样品，包括面积大于1平方米的玻璃板。

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

基于SiO2/Si晶片的CVD石墨烯/CVD六方氮化硼异质结石墨烯/h-BN薄膜的性质：单层h-BN薄膜上的单层石墨烯薄膜转移到285nm（p掺杂）SiO2/Si晶片上尺寸：1cmx1cm 4片装每个薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的覆盖率约为98％薄膜是连续的，有小孔和有机残留物高结晶质量石墨烯薄膜预先单层（超过95％），偶尔有少量多层（双层小于5％）薄层电阻：430-800Ω/平方石墨烯薄膜以及h-BN薄膜通过CVD方法在铜箔上生长，然后转移到SiO2/Si晶片上。硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米 型号/掺杂剂：P /硼方向：100前表面：抛光背面：蚀刻

超低黏度适配器，测量范围从 1 mPas 开始使用 ViscoQC可用的多种转子和测量系统，在测定样品黏度时，每次测试最多可节省 15 秒。每个转子都包含磁力耦合器，并且所有转子和测量系统都可以自动识别—简化操作并避免人工错误。由于所有的转子和定子都由优质不锈钢（AISI 316L）制成，因此可以保证更佳的耐化学性。可选的转子护腿可在测量过程中保护 L/RH 转子，并由 ViscoQC 通过TruGuard&trade 进行溯源。灵活的杯架均可提供可重现的结果，不受操作影响。关键功能L/RH 转子符合 ISO 2555/ISO 1652 标准作为所谓的无限间隙系统，L/RH 转子是 VisoQC100/300 标准交付中的标配L型主机包含4个L型转子（L1-L4），而R型和H型则附带6个RH转子（RH2-RH7）。它们在开放的600 mL烧杯中使用，因此，如果要测量符合标准的样品，则至少需要500 mL的样品量。可选的 Pt100 传感器可用于对样品进行温度感应，可通过夹具轻松将它安装在烧杯上。使用灵活杯架可以确保更优的重现性，它保证不同的操作员在测量时始终让烧杯具有相同的测量位置。 固定间隙测量系统当需要绝对黏度值和样品体积（2 mL 至 18.5 mL）有限时，应选择同心圆筒（CC），双间隙系统（DG），超低黏度适配器（UL）和小量样品适配器（SSA）作为固定间隙的测量系统。要测量从1 mPas开始的低黏度样品，必须使用DG或UL。提供高精度的风冷帕尔贴温控设备。为了提高生产量并尽量减少清洗次数，建议在某些系统中使用一次性杯子。 低温黏度测定系统需要使用绝缘的 4B2 测量系统来根据 ASTM D2983/D8210 测定润滑油和机油的低温黏度。如果需要满足 ASTM D5133/D7110 的要求，使用L1D22 系统。两种系统均附带 100 个一次性铝杯，以减少清洁时间并提高通量。ViscoQC 300 上预先安装了具有 V-Curve 软件包的即用型方法，可立即启动，操作简单。 测量非流动样品的系统非流动性，高黏度样品（例如软膏、蛋黄酱和膨润土）需要特殊的测量技术。标准测量系统或转子会在测量时将空气通道引入样品中，导致黏度读数无意义，因为转子不被样品完全覆盖。如果不流动的样品不包含任何颗粒，则可以使用通过Heli-Plus控制T型转子或桨式转子进行测量。如果样品中的颗粒介于 0.1 mm 和 2 mm之间，则可以选择桨式转子：它们是高黏度的，因此可以直接在样品容器中进行测量。 技术规格典型样品量 [mL]样品中的粒径 [mm]L/RH 转子5000.1 至 2同心圆筒系统2 至 18.50.1*双间隙系统（DG）7.50.01超低黏度适配器系统（UL）160.01小量样适配器系统 (SSA)6.7 至 16.10.01**绝缘 4B2 系统200.1L1D22 系统16.10.1T-型转子5000.1 至 2桨式转子5000.1 至 2必须考虑样品的黏度以选择合适的转子/测量系统。有关更多详细信息，请参阅 ViscoQC 网站上的“常见问题解答”部分。* 如果在较大的杯子中使用较小的转子，则允许样品具有较大的粒径 ( 0.5 mm)** SC4-25、SC4-27、SC4-28、SC4-29、SC4-31、SC4-34 具有较大的测量间隙。

飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起，孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统，创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具，用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量，实现样品孔径可视化分析，并生成数据统计报告。应用该系统，可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作，提高工作效率- 无限制的图像采集，可轻松存储于网络或优盘，便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力，用户可以将试样最大程度视觉化

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 4片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100 前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统，它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射，光度学，色度以及效率参数。为了测量各种光源，孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量，使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求，能够适应外部光源测量的需要，融入最好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）×集合所有电学和光谱参数，用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标；*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件光谱范围：200-850nm或 350-1000nm探测器：2048像素Si CCD阵列采光周期： 1毫秒--65秒光谱分辨率：1.5nm(FHWM)电压源 测量范围：±5μV - ±200V电流源测量范围：±10pA - ±1A电源要求：110/230VAC,系统尺寸：320x360x180mm系统重量：9.8kg

MINITEST600-N 涂镀层测厚仪 一、 MiniTest 600涂层测厚仪产品名录 MiniTest 600 系列涂层测厚仪产品主要包括两种小类型：MiniTest 600B和MiniTest 600，每种小类都可分为F型、N型、FN型三种，因此600系列测厚仪共有6种机型供选择。600B型与600型的最大区别就是600B是基本型，没有统计功能。 涂层测厚仪MiniTest600型号选择 MiniTest 600BF3(铁基体基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600BN2(非铁基体基本型，无统计功能和接口) MMiniTest 600BFN2(两用基本型，无统计功能和接口) MiniTest 600F3(铁基体统计型) MiniTest 600N2(非铁基体统计型) MiniTest 600FN3(两用统计型) 二、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量原理及应用 F型测头是根据磁感应原理设计的，主要测量钢铁基体上的非磁性涂镀层。例如：铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等，也适用于合金和硬质钢。 N型测头是根据电涡流原理设计的，主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如：铝、铜、铸锌件上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的，一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。 三、 MiniTest 600涂层测厚仪的测量中的相关注意事项 测量前一定要在表面曲率半径、基体材料、厚度、测量面积都与被测样本相同的无涂层的底材上较零，才可以保证测量的精确性； 每次测量之间间隔几秒钟以保证读数的准确性； 喷砂、喷丸表面上的涂层也可以测量，但要严格按照说明书的校准步骤进行校准； 不要用力拽或折测头线，以免线断； 严禁测量表面有酸、碱溶液或潮湿的产品，以免损坏测头； 测量时测头轴线一定要垂直于被测工作表面； 每次测量应有大于3秒的时间间隔。 四、 MiniTest 600涂层测厚仪的技术参数 测量范围 F型 0-3000um N型 0-2000um FN型（两用型） 0-3000um（F），0-2000um（N） 允许误差 ± 2um或± 2-4％读数 最小曲率半径 5mm（凸）、25mm（凹） 最小测量面积 &Phi 20mm 最小基体厚度 0.5mm（F型）、50um（N型） 测量单位 Um-mils可选 显示 4位LED数字显示 校准方式 标准校准、一点校准、二点校准、基础校准（华丰公司内） 统计数据 平均值、标准偏差、读数个数、最大值、最小值 接口 RS-232（不适合B型） 电源 2节5号碱性电池 仪器尺寸 64mmX115mmX25mm 测头尺寸 &Phi 15mmX62mm 五、 MiniTest 600涂层测厚仪的标准配置 主机和指定型号的测头一体； 5号碱性电池两节； 零板和厚度标准箔； 中英德文操作手册各一本； 六、 MiniTest 600涂层测厚仪的可选配置 便携箱； 橡胶套； 打印机MiniPrint 4100； RS-232数据接口电缆； 精密支架 数码显示器背光照明。 七、MiniTest 600涂层测厚仪的符合标准 DIN 50981，50982； ASTM B499，E367，D1186，B530，G12 BS5411 DIN EN ISO 2178，2361 八、 MiniTest 600涂层测厚仪的关于校准 标准校准：适合平整光滑的表面和大致的测量。 一点校准：置零，不用标准箔。用于允许误差不超过4％的场合。 两点校准：置零，用一片标准箔。用于误差范围在2-4％之间的测量 特殊的基础校准：此校准只能在华丰公司进行。 九、 MiniTest 600涂层测厚仪的一般维修 如果出现E03、E04、E05则一般要换探头系统+PCB板； 如果主板不上电，在排除电池原因后一般要更换主板或更换键盘； 测值不稳定，可认为探头系统频率不稳定，一般要更换探头系统； 在显示系统不能正常显示时，可更换显示系统； 更换电缆时，一定要保证电缆长度不小于1m；

一、产品介绍 1、非损伤微测系统专用流速传感器（组织样品专用传感器8-10um） 型号：XY-CGQ01 价格：68元/支，10支起订 本传感器适用于测定组织样品的所有离子传感器，特别针对Cl-、NO3-、NH4+测试时信号采集不稳定而开发出的新型传感器，使得测定上述三种离子时，信号的稳定性大大提高。 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：8-10微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米2、非损伤微测系统专用流速传感器（组织样品专用传感器4-5um） 型号：XY-CGQ-01 价格：68元/支，10支起订 用于非损伤测量组织样品专用的流速传感器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：4-5微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米3、非损伤微测系统专用流速传感器（细胞样品专用传感器1-2um） 型号：XY-CGQ-02 价格：79元/支，10支起订 用于非损伤测量细胞样品专用的流速传感器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：1-2微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米4、膜电位专用流速传感器 型号：XY-CGQ-03 价格: 51元/支，10支起订 专门用于测量膜电位的流速传感器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 导液丝：有 长度：50毫米 尖端直径：1-2微米 末端直径：外径1.5毫米/内径0.84毫米 管壁厚度：0.33微米 响应时间：300毫秒 空间分辨率：5微米5、离子交换剂微容器(LIX Holder 载体) 型号：XY-LIX-01 价格: 34元/支，10支起订 装载离子交换剂的微量容器 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：35-45微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米 6、膜电位专用流速传感器 型号：XY-CGQ-04 价格: 34元/支，10支起订 用于传感器动态校正 技术参数： 材料：硼硅酸盐玻璃微管 长度：50毫米 尖端直径：10微米 末端直径：外径1.5毫米/内径1.05毫米 管壁厚度：0.225微米

锡箔纸SA999902 直径35mm 厚度0.010mm100片/盒 Tin disc 35 mmthickness 0.010 mm | 100/pack OEM equivalent parts:Thermo 252 08018

车辆识别号码检验系统配件是全球领先的车辆识别码检测仪器,VIN码检验仪器，快速鉴别伪装涂改的车辆识别号码，快速识别被盗车辆，也可用于二手车辆交易中的被盗车辆。车辆识别号码检验系统配件特点采用计算机控制，采用USB3.0的手持式相机，手持式显微镜，油漆厚度测量，涡流检测系统等组成快速的车辆号码检测识别系统。采用特制VIN检测软件采用VIN检测软件,可以即时对车辆识别号码进行解码，提供有关世界上的生产厂家，车型，发动机型号，车型和序列号信息，快速评估车辆的原产地和合法性。车辆识别号码（VIN）是一种用于汽车行业，以确定个人的机动车，挂车，摩托车和轻便摩托车的唯一序列号。VIN由17个字符字母数字代码组成。不使用字母I和O，以避免与数字1和0混淆.VIN位于车辆的不同部位，基本的检测是看号码是否合法地标记在车身，以及每个VIN车牌数目之间的比较和一致性。VIN检测软件通过比较车的型号、制造商、序列号诸如此类，能够在几秒钟内识别并解码VIN，执法人员能够立即评估车辆是否为合法车辆。软件特点：VIN解码细节；世界生产商，车型，发动机类型，车型，序列号，用户友好型界面；自动生成报告，常规更新。车辆识别号码检验系统配件采用VIN重建软件VIN重建软件用于对VIN号码相机，手持式显微镜,油漆厚度装置获取的图像进行可视化和分析，通过图像分析和重建，这个软件可以评估VIN车牌是否以任何方式修改过，最后找回原车牌号码。覆盖，清除，拆除，更换，重新粉刷，抓痕等机械或化学方法可以用来修改VIN车牌号，作非法用途，这会阻碍刑事案件的跟踪。通过使用微型相机，手持式显微镜和铁漆测量装置检测图像，该图像分析软件即使不能恢复到原车牌号，至少能探测到VIN车牌进行了非法修改。像素的均匀性（图像分析）可以反应奇怪的，不一致的字符或车牌上使用了化学试剂，而测量涂料厚度则可以识别是否有涂层（覆盖和复写字符的情况下，厚度较大）或缺口，（当字符被机械式删除，划伤，或挫掉时，厚度较少）。在大多数情况下，通过这种分析可以获得原号码。当号码被很精细地修改时，该分析技术也能识别出车牌的修改，但需要与涡流测量装置结合使用，才能还原车牌原号码。车辆识别号码检验系统配件采用 VIN检测参考指南VIN检查系统工具包还有一个非常有用的参考指南，提供有关车辆识别号码的编码的更多信息，其中，有改变车牌号码的方法和如何使用此工具包来识别和评估非法修改的实例。采用检测装置2.1. VIN 像机这是一个变焦相机（可更换60倍，100倍和150倍物镜）拍摄车辆和VIN板的照片，之后通过USB或SD存储卡连接到PC上，软件对图片进行分析。有多重功能，如内置的LED照明和自动对焦，使画面在不同的范围，提供了研究微观主体的新方法。使用“完全可调照明”（8个内置白光LED）专利，VIN相机可以快速准确对焦。规格和工具包内容VIN相机模块包括。 NB-4L锂离子电池 佳能IXUS870平台0厘米工作距离和LED环形照明提供60X，100X和150X物镜相机的NB-5L锂离子电池锂离子电池的电池充电器2 GB和32 MB的SD卡乳胶接触环校准标签（2张30标签）2.2. 手持便携式显微镜工具包内包括一个手持便携式显微镜，用于特别小的和困难的VIN车牌检查。手持便携式显微镜重量轻，体积小，便于携带，可在现场使用，获得可以放大到200倍的高品质图像。有自配的可调LED环形灯对检测区域进行照明，不需要额外光源。这种显微镜只需要通过USB连接到PC，使用非常容易。特点： 可调焦距，放大倍率：5X - 200X@17“监测全屏视图，光学格式：1/3“CMOS传感器（4：3）视场：最小：2.35mmx1.75mm@17mm工作距离（200x-2.8微米/像素）（每平方毫米0.48632MP）最大：100mmx 10076mm@ 300mm的工作距离（5×） 图像传感器：200万像素视频采集分辨率1600x1200,1280x960,640x480颜色：24位RGB或YUV或MJPG镜头：高精度显微镜镜头聚焦范围：手动8mm至300mm白平衡：自动/曝光时间：自动光源：集成可调的LED环形照明灯长度：122mm/直径：36mm输出：USB-模式：USB流媒体视频电源：USB端口的DC5V2.3. 涂料厚度测量装置（铁）和涡流分析仪它是一种手持式，电子测量仪，对所有金属上的涂层进行快速准确的非破坏性的厚度测量。操作原理是，将测量涂层厚度两个探针和涡流分析结合：F-探针使用磁原理来测量铁类金属上的无磁性涂层厚度，N-探针使用涡电流原则来测量有色金属上的非导电涂层厚度。该电子测量仪非常小型，对VIN车牌上的涂层进行手持式便携分析，无论检查材料的本性质，是磁性/非磁性，导电/非导通，铁/非铁材料的，都能分析该电子测量仪特别适用于：粉末涂层， 漆膜应用， 膜和胶贴， 金属支架上的压痕，划痕，挫痕和楔形。特点：快速，可重复的测量，最需要的应用程序无需校准，ZERO功能用于粗糙面或曲面，没有零基准可用时，有方便的RESET功能，坚固，耐磨，红宝石尖探头，独特的翻转显示，可以右侧向上观看，置于任何位置，声音和可视测量指示，探头有V型槽，对圆柱形零件定位， 密耳/微米可转换单元，每个计的背面都有基本说明，内置腕带，使用更加方便和安全，保修2年车辆识别号码检验系统配件规格： 操作系统 正版Windows® 7家庭高级版 快速开机。此版本包含所有产品更新（SP1) 显示屏 12.1“LED背光高清（HD）（1366×768）屏幕 CPU 英特尔® 凌动™ D525（双核，1.8GHz的）处理器 芯片组 英特尔® NM10高速芯片组 记忆 DDR3，1个SO-DIMM，1GB/2GB / 4GB（最大4GB） 存储 2.5“SATA250GB/320GB硬盘，500GB 无线数据网络 WLAN 802.11 b/g/n@2.4GHz*1 蓝牙V3.0（可选） 摄像机 130万像素摄像头 音频 高清晰度音频解码器，立体声扬声器，高品质麦克风 接口 1 x VGA 连接口 1 x USB 2.0 2 x USB 3.0 1 x LAN RJ-45 1 x HDMI 2个音频插孔（耳机/麦克风输入） 1个读卡器：SD / SDHC/ SDXC/ MMC 电池 6块2.6Ah（57.72Wh）锂离子电池 尺寸大小 297 x 204 x 28.67 mm （宽×深×高） 重量 1.5 Kgs（W /6块电池） 颜色 亮光；黑色；白色

测量传感器induSENSOR-DTA的滑动轴承上安有活塞，并配有回位弹簧，测量探头可以使用市售的测量探头更换。测量传感器induSENSOR-DTA的测量探针主要用于测量与检查工件的几何量（长度，宽度，直径，厚度，深度，高度等）。测量传感器induSENSOR-DTA规格 测量范围 (mm): 1 | 3 | 5 | 10 最大线性0.003mm 最高可重复性 0.15μm 恶劣环境下有着超高精确度 长期稳定 传感器设计坚固 多种验证过的测量原理

薄层层析微晶纤维素板, F254, 200*100 mm, 涂层厚度: 0.2±0.02mm, 微晶纤维素粒径: ≥300目, 10片/盒

显微薄膜测量仪配件是一款超级紧凑而功能多样的薄膜测试仪系统，可以结合显微镜测量薄膜的吸收率，透过率，反射率以及测量点的荧光。薄膜测试仪通过反射率的测量，测量点处的薄膜厚度，薄膜光学常量（n &k)以及thick film stacks都能在瞬间测量出来。整套显微薄膜测量仪的组成是：光栅光谱仪（200-1100nm)+显微镜目镜 适配器+软件+显微镜（可选）。其中目镜适配器包含镜头，可增加光的收集。标准的40X物镜可做到测量点直径约200微米。更高倍数的物镜的测量点更小。整套薄膜测量仪和薄膜测试仪到货即可使用，仅仅需要用户准备一台计算机提供USB接口即可，操作非常方便。 安装到显微镜上的薄膜测量仪照片 薄膜测试仪SiO2薄膜测量结果（20X物镜）薄膜厚度测试仪配件软件 这款薄膜测试仪配备专业的仪器控制，光谱测量和薄膜测量功能的软件，具有广阔的应用范围。该薄膜厚度测试仪软件能够实时采集吸收率，透过率，反射率和荧光光谱，并且能够能够快速计算出结果。对于吸收率/透过率模式的配置，所有的典型参数如 A, T可快速计算出来。其他的非标准参数，如signal integration也能测量出来。对于反射率测量，该薄膜厚度测试仪软件能够精确测量膜层小于10层薄膜厚度（《10nm到100微米）， 光学常量（n & k)。 薄膜厚度测试仪配件参数 可测膜厚： 10nm-150微米； 波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 光源：使用显微镜光源 光斑大小：由显微镜物镜决定 计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口； 尺寸：120x120x120mm 重量：1.2kg 薄膜厚度测试仪配件应用 测量薄膜吸收率,透过率 测量化学薄膜和生物薄膜测量 光电子薄膜结构测量 半导体制造 聚合物测量 在线测量 光学镀膜测量

薄膜溶解测量仪用于实时监测薄膜在液体过程中的薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化，是全球领先的薄膜溶解测量仪和薄膜溶解测试仪。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意为薄膜溶解测量仪研发了Teflon样品池用于测量薄膜样品，使用一种岔头探针水平安装在Teflon 样品池的外部，距离玻璃窗口非常接近，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据。另外，根据需要，我们还能够在测量区域下安装搅拌装置stirrer，提供力学激励振动。孚光精仪还特意为薄膜溶解测量仪提供垂直的样品夹具，以固定小尺寸的硅样品或3' ' ，4' ' 直径的Si 晶圆。根据溶解过程的不同，如溶解速度的不同，它能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。还能够测量几十个纳米厚度的光致抗蚀剂和聚合物薄膜堆的溶解过程，而且还可以测量薄膜的膨胀等特殊现象。对于薄膜厚度的测量，薄膜溶解测厚仪需要光滑，具有反射性的衬底，对于光学常数测量，平整的反射衬底即可满足测量需要。如果衬底是透明的，衬底的背面不能具有反射性。能够给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量，已经成功应用于测量反射衬底（Si晶圆）上各种光滑，透明或轻度吸收薄膜的溶解过程，可研究的薄膜包括SiO2薄膜,SiNx薄膜,光致抗蚀剂薄膜，聚合物薄膜层等。薄膜溶解测量仪参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5% 分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：15kg 电力要求：110/230VAC薄膜溶解测量仪应用：聚合物薄膜光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 在线测量光学镀膜测量 能够以实时或离线的方式测量，反射率数据都能够存储下来以便后续处理使用。

JHYC应变应力测量系统应用范围1.适用于测点相对集中，被测物理量缓慢变化的试验中。2.主要用于静态结构应力分析及静载荷强度研究中测量结构件及材料任意点的静态应力应变及残余应力。3.广泛应用于桥梁、建筑物、飞机、船舶、车辆、起重机械、压力容器等结构静载荷测试、安全和健康状态测试。4.接入不同的传感器，可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。5.可用于实验性测量，也可用于长期监控测量。JHYC应变应力测量系统功能特点1.全数字电路，精度高，稳定性好，具有极强抗干扰性能力仪器采用全数字电路，每通道独立AD、独立MCU，所有通道同步采样，仪器检定指标达到0.1级，显示精度0.1。采用独特的硬件隔离技术，系统具有极强的现场抗干扰性能力。2.配合不同传感器实现多种物理量测量，功能强大，性价比高。仪器通过软件选择不同的输入类型即可轻松接入不同传感器，实现你所需要的物理量的测测量，操作简单方便。3.具有多种补偿方式，能适应各种环境下的测量要求仪器具有桥路、长导线、公共，软件多种补偿方式，稳定性好。尤其是公共补偿方式，可方便快捷的对模块上10个通道进行同时补偿，避免了繁琐的桥路补偿，节约测量成本和时间。4.简洁的面板设计，闪烁式通道及状态指示灯仪器面板简洁大方，省掉一切不必要的端口，简化了测量接线难度。每个模块的状态和通道状态用高亮指示灯闪烁指示，一目了然。5.设置简单，操作方便快捷，海量存贮适合各种应变花和传感器，仪器桥路和配置采用菜单式设计，只需选择测量类型，软件控制仪器完成自动配置和清零，全量程自动平衡，不损失测量范围，无需复杂专业的测前设置。应变片和仪器连接简单方便，主机与计算机usb接口连接，即插即用。可进行不间断或间断性长时间在线测量，数据存储量取决于计算机硬盘大小。 6.具有掉电自动保存测量数据功能在测量过程中，如出现意外断电，仪器可自动保存断电前的所有测量数据，并自动形成测量文件，防止意外丢失测量数据。JHYC应变应力测量系统软件功能1.软件操作、自动识别、显示方式灵活仪器设置全软件操作，所有功能嵌与同一软件内。具有自动识别系统配置，程控设置仪器的量程、测量类型、滤波及采样参数，完成信号的实时采集、处理、分析等功能，具有多种显示方式。2.应变实时显示，被测物理量直接显示多通道应变值实时显示，实时绘制时域曲线。根据传感器的输出灵敏度，完成被测物理量单位量纲的归一化，并直接显示被测物理量。3.数据实时保存，自动生成报表，功能多样软件可对历史数据回放浏览，具有多样的浏览工具、截图工具，浏览中可对数据进行去直流、去趋势、数据统计、数据的截取、删除、另存、导出、数字滤波器等操作。并自动生成测试报告，在线打印。4.每个通道都可根据测量需求选择测量类型，简单方便可根据每通道接入的传感器类型，各通道选择不同的输入类型、工程单位、标定值、调零、补偿方式等。实现对不同物理量的实时同步测量。5.任意通道间X-Y绘图功能，可实时显示相关物理量间的关系曲线6.提供分析功能软件具有时域和频谱分析功能，对历史数据进行滤波，微分和积分计算，数据统计等数据处理功能。南京聚航科技是应变仪生产商，种类多样，型号齐全，欢迎广大客户咨询！

唐海红 13120400643 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 准确、坚固、耐用、防水 人体工学设计： 手提式操作，亦可肩挂或腰悬；内置探头存储室，方便携带 系统完整：已预接电导和温度探头，备有多种电缆长度可供选择 四纯镍电极探头：准确度高、维护量小，无需镀铂黑 无需校准：仪器出厂前已经预校妥当，开机即可读数 自动量程选择：确保任何高低读数均一致准确，省却了往返调拨之苦 自动温度补偿：可选择显示电导系数,参考温度和温度补偿系数可按需调整 特大液晶显示屏：另有背景加光功能，即使在昏暗的环境下仍能清晰读数 应力舒缓电缆接头：减少接线处的物料疲劳，有效延长电缆的使用寿命 坚固防水外壳：适用于野外的严峻环境，仪器即使掉入水中亦可自动浮起；探头外置不锈钢套，坚固耐用更易于沉入水中 全电池操作：工作寿命长达100小时（碱性电池）；另有低电量显示 YSI 30型 盐度、电导、温度测量仪 不带内存 备有3米、7.5米和15米三种电缆长度可供选择 YSI 30M型 盐度、电导、温度测量仪 带内存，可储存50组数据 使用非散失性存储器，读数不会因断电而丢失 备有3米、7.5米、15米和30米四种电缆长度可供选择 YSI 30/30M 系统规格 测量参数技术指标 参 数 测量范围 分辨率 准确度* 电导率 0至499.9微西门子/厘米 0至4999微西门子/厘米 0至49.99毫西门子/厘米 0至200.0毫西门子/厘米 0.1微西门子/厘米 1.0微西门子/厘米 0.0毫西门子/厘米 0.1毫西门子/厘米 量程之± 0.5%*+ 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 量程之± 0.5%* 盐 度 0至80ppt 0至80 ± 2%或± 0.1ppt* 温 度 -5℃至+95℃ 0.1℃ ± 0.1℃(± 1 lsd)* 注：* 仪器规格包括仪表和探头的总误差 + 若电缆长度超过15米，样本的比电导度需大于0.1毫西门子/厘米 其它技术指标 导管常数 5.0/厘米± 4% 参考温度 +15℃至+25℃（可调节） 温度补偿系数 0至4%（可调节） 适用水体 淡水、海水、污水或绝大部分其它溶液 工作温度 -5℃至+95℃ 防水性能 超过IP65标准 电 源 9伏 直流 （6节5号碱性电池） 尺 寸 24.1厘米（长）× 8.9厘米（宽）× 5.6厘米（厚） 重 量 0.77公斤 选购指南 仪 器 30-10 30-25 30-50 30M-10 30M-25 30M-50 30M-100 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪，3米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪，7.5米电缆 YSI 30型 电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪，3米电缆（带内存） YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪，7.5米电缆（带内存） YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪，15米电缆（带内存） YSI 30M型 电导、盐度、温度测量仪，30米电缆（带内存） 配 件 5050 5520 携带箱，硬体 塑料便携箱（能容纳7.5米电缆） 电导标准液 3167-1 3168-1 3169-1 电导标准液，1毫西门子/厘米（475毫升） 电导标准液，10毫西门子/厘米（475毫升） 电导标准液，50毫西门子/厘米（475毫升）

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 4片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 8片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

基于SiO2/Si晶片的双层CVD石墨烯薄膜将两层单层CVD石墨烯膜转移 到285nm p掺杂的SiO 2 / Si晶片上 尺寸：1cmx1cm 8片将每个石墨烯膜连续转移到晶片上我们的石墨烯薄膜的厚度和质量由拉曼光谱控制该产品的石墨烯覆盖率约为98％石墨烯薄膜是连续的，具有小孔和有机残留物每个石墨烯薄膜主要是单层（超过95％），偶尔有少量多层（低于5％的双层）由于没有A-B堆叠顺序。石墨烯薄膜彼此随机取向。薄层电阻：215-700Ω/平方硅/二氧化硅晶圆的特性：氧化层厚度：285nm颜色：紫罗兰色晶圆厚度：525微米电阻率：0.001-0.005欧姆 - 厘米型号/掺杂剂：P /硼方向：100前表面：抛光背面：蚀刻应用：石墨烯电子和晶体管导电涂料航空航天工业应用支持金属催化剂微执行器MEMS和NEMS化学和生物传感器基于石墨烯的多功能材料石墨烯研究

唐海红 13120400643 YSI 85盐度、电导、溶解氧、温度测量仪 YSI 85/85-D型便携式溶氧仪 原 产 地：美国YSI 技术参数： 多参数测量：溶氧、温度、盐度、电导率 溶解氧测量：自动温度补偿、自动盐度补偿、可编气压补偿，自动空气校准 使用5906型盖式薄膜：换膜快捷，方便无误 电导测量：使用四纯镍电极，性能稳定，很少需要维护 全自动电导量程选择：快速调整有效量程，以达到最高的准确度 针对野外测量而设计的特点 完全按照人体工学设计，不论手持、阅读、操作还是携带等细节上均考虑到野外测试的特殊需要 特大液晶显示屏，另有背景加光功能，在昏暗的环境下仍能清晰读数 探头使用不锈钢制造，电极端外加塑料保护套，确保坚固耐用；另外金属的重量让探头更易于沉入水中 所有电缆接头均装有应力舒缓器，减少接线处的物料疲劳，有效延长电缆的使用寿命 内置探头存贮室，方便携带并保存探头的正常工作状态，亦可作溶解氧的校准室 全按键式操作，一切运作均由微处理器操控 自动功能检查：确保开机时系统均正常工作 内置非散失性存储器，可储存50组数据，读数不会因断电而丢失 YSI 85型 溶解氧、盐度、电导、温度测量仪： 一体溶解氧/电导/温度探头 使用整合式探头和电缆； YSI 85D型 溶解氧、盐度、电导、温度测量仪：功能与85型相同，使用可更换式&ldquo D型&rdquo 探头和电缆，可根据不同应用所需随时更换不同长度的电缆 ，使用MS（军方规格）式接头，防雨防尘，可在野外拆卸和维护。 注：主机不带接头和电缆，需另配D型探头和电缆 YSI 85 系统规格 测量参数技术指标 溶解氧 空气饱和度：0至200%，分辨率： 0.1%空气饱和度，准确度： ± 2%空气饱和度* 溶解氧： 0至20毫克/升 ，分辨率：0.01毫克/升 ，准确度：± 0.3毫克/升* 电导率 范围： 0-499.9&mu S/cm 0.1&mu S/cm，准确度： 量程之± 0.5% 范围：0-4999&mu S/cm，分辨率： 1&mu S/cm，准确度：量程之± 0.5% 范围：0-49.99mS/cm，分辨率： 0.01mS/cm，准确度： 量程之± 0.5% 范围：0-200.0mS/cm，分辨率： 0.1mS/cm，准确度： 量程之± 0.5% 盐 度： 0至80ppt 0.1ppt ± 2%或± 0.1ppt* 温 度： -5至+65℃ 0.1℃ ± 0.1℃（± 1 lsd）* * 仪器规格包括仪表和探头的总误差 其它技术指标 电缆长度： 3米、7.5米、15米和30米 温度补偿： 全自动 盐度补偿： 0至80ppt 高度（气压）：补偿 0至3,000米 电导参考温度： 15至25℃（可调） 电导温度补偿因子： 0至4%（可调） 量程选择 溶解氧：全自动；电导：自动或手动设定 电 源： 6节5号碱性电池，操作寿命约100小时；附低电量显示 防水性能： 超越IP65标准 尺 寸： 24.1厘米（长）× 8.9厘米（宽） × 5.6厘米（厚） 重 量： 0.77公斤（3米电缆） 选购指南 仪 器 85-10 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，3米电缆 85-25 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，7.5米电缆 85-50 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 85-100 YSI 85型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪，15米电缆 85D YSI 85D型 溶解氧、电导、盐度、温度测量仪（不带探头） D型探头 85D-12 可拆卸式溶解氧/电导/温度探头，3米电缆 85D-25 可拆卸式溶解氧/电导/温度探头，7.5米电缆 85D-50 可拆卸式溶解氧/电导/温度探头，15米电缆 85D-100可拆卸式溶解氧/电导/温度探头，30米电缆 配 件 5050 携带箱，硬体 5520 塑料便携箱（能容纳7.5米电缆） 薄 膜 5906 盖膜（6个，带氯化钾） 电导标准液 3167-1 电导标准液，1毫西门子/厘米（475毫升） 3168-1 电导标准液，10毫西门子/厘米（475毫升） 3168-1 电导标准液，50毫西门子/厘米（475毫升） 5580-1 酸碱度、电导、ORP多参数检查液（475毫升）

聚合物薄膜测厚仪配件用于测量聚合物薄膜、有机薄膜、高分子薄膜和 光致抗蚀剂薄膜, 光刻胶膜,光刻薄膜,光阻膜在加热或制冷情况下薄膜厚度和光学常量（n, k)的变化。为了这种特色的测量，孚光精仪公司特意研发了专业的软件和算法，使得该聚合物薄膜测厚仪能够给出薄膜的物理化学指标：例如玻璃化转变温度 glass transition temperature (Tg)，热分解温度，薄膜的厚度测量范围也高达10nm--100微米。聚合物薄膜测厚仪配件在传统薄膜测厚仪的基础上添加了加热/制冷的温度控制单元，使用白光反射光谱技术（WLRS)，实时测量薄膜厚度和折射率，并通过专业软件记录下这些数据，能够快速实时给出薄膜厚度和薄膜光学常量等物理化学性能数据，并且能够控制薄膜加热和制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。干膜测厚仪所使用的软件也适合薄膜的其他热性能研究，例如：薄膜的热消融/热剥蚀thermal ablation研究，薄膜光学性质随温度的变化，薄膜预烘烤Post Apply Bake，光刻过程后烘烤 Post Exposure Bake对薄膜厚度的损失等诸多研究。对于薄膜的厚度测量，这款聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪要求薄膜衬底是透明的，背面是不反射的。它能够处理最高4层薄膜的膜堆layer stacks，给出两个参数：例如两个薄膜的厚度或一个薄膜的厚度和光学常量。这套聚合物薄膜测厚仪,薄膜热特性测厚仪已经成功应用于测量不同聚合物薄膜的热性能，光刻薄膜的热处理影响分析，Si晶圆wafer上的光致抗蚀剂薄膜分析等。聚合物薄膜测厚仪配件参数 可测膜厚： 5nm-150微米；波长范围：200-1100nm 精度：0.5%分辨率：0.02nm 测量点光斑大小：0.5mm可测样品大小：10-100mm计算机要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg 电力要求：110/230VAC聚合物薄膜测厚仪配件应用聚合物薄膜测量光致抗蚀剂薄膜测量化学和生物薄膜测量，传感测量光电子薄膜结构测量 半导体薄膜厚度测量在线测量光学镀膜测量聚合物薄膜厚度测量polymer films测量测量有机薄膜厚度测量光致抗蚀剂薄膜测光刻胶膜测厚测量光刻薄膜厚度测量光阻薄膜测厚测量光阻膜厚度

X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统 X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率，具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据，不仅可用于实验，还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器，外形小巧别致，专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能，可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现zui终的可重复性，X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据，来校准X-Cite® exacte照明器。 功能和优势:功能优势X-Cite® XP750 小巧的显微镜载玻片尺寸适合标准的显微镜压片夹，更方便的直接从物镜测光，无需移除或重新配置设备兼容灯泡，激光和 LED 光源不仅技术ling先，还能适配多种显微镜，更经济探测面积高达 – 10mm同时适用低倍和高倍物镜无聚焦要求快速精确测量宽广的波长和功率测量范围适合多样化的用途和显微镜配置根据NIST/NRC标准进行校对测量结果准确，深受用户信任* NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750规格规格内含物体平面功率传感器，配备电缆和连接器，适用于X-Cite® XR2100设备功率范围5μW-500mW测量分辨率0.01μW-1mW误差***±6%响应时间600ms（起始），3s（确保稳定显示）校准符合NRC** 标准波长范围320nm-750nm灯管类型/光源兼容性X-Cite® exacte，X-Cite® 120系列，汞/HBO，金属卤化物灯，氙灯，LED，激光物镜兼容性4X-63X，空气耦合，FOV直径小于10mm显示通过X-Cite® XR2100显示波长选择使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面，以1nm为度量进行调节数据容量经X-Cite® XR2100PC控制查看/改变设置，确定波长，记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置，下载/输出存储数据指令协议通过X-Cite® XR2100电源重量2.9oz (82g)尺寸（无盖）3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)世界认证通过 X-Cite® XR2100质保一年X-Cite® 包含的技术受下列保护：US#6,437,861 US#7,335,901*NIST指美国国家标准技术研究所（ National Institute of Standards and Technology）**NRC指（美国）全国科学研究委员会（National Research Council）***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。

FTIRATR成像升级针对Spotlight系统的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 ATR成像升级适用于Spotlight系统 L1860319 推荐用于能方便地对厚度达10mm的样品成像的Spotlight400或 400N。大型精确校准晶体能对400&mu m的区域进行采样，让您能快速获取关于样品的更多信息。 特色和优势 Ø 高质量光学和机械组件带来最佳性能 Ø 校准工具提高操作速度，改善数据质量 Ø 最大区域尺寸能让您从ATR样品中获得更多信息 Ø 灵活的成像区域尺寸实现高效的数据采集 Ø 综合软件助手指导操作流程，将错误减到最少 Ø 强大的软件数据处理功能可快速提取ATR图像信息 ATR成像附件供应品 备用锗晶体 1 L1860317 ATR成像样品支持配件 10 L1860318 微型ATR目镜升级套件 本套件可升级Spotlight 400和无ATR 目镜的显微镜系统，使之具备微型ATR 功能。它包括一个由卡塞格林系统、支座和带支座的锗微型ATR晶体组成的ATR目镜。它的范围是5,500 &ndash 600cm-1。我们还提供一个备用锗晶体和支架。另有一个工作范围为7,800 &ndash 800cm-1的硅晶体备选。 微型ATR物镜升级 用于Spotlight 400系统 L1860334 微型ATR物镜 用于AutoIMAGE系统 L1860275 微型ATR物镜 用于Multiscope系统 L1860298 备选/备用带支架硅晶体 L1860269 备用带支架锗晶体 L1860268 微量采样工具 PerkinElmer为您精心选择了一系列工具和产品，为您的红外显微分光样品制备工作提供便利。 微量采样套件 N1870151 包括: 解剖镊子 N9302610 辊式刮刀 N9302619 微型标本镊子 N9302609 直微型探针 N9302605 铝制探针手柄 N9302622 针手钳 N9302603 显微镜供应品 13mm采样盘 支架L1861634 13mm采样盘 支架L1860409 包括金制反光镜 基本显微镜载玻片 N9302600 光学优质玻璃,1 x 3英寸,厚度1mm 适用于可见观察(每盒72片) 低辐射显微镜载玻片 L1272249 带红外反射镀层的光学优质玻璃1 x 3英寸,厚度1mm 适用于可见观察和红外反射测量(每盒25片) 金刚石压缩池 L1272282 该池由两个包含一对金刚石窗片的哈氏合金板构成，能将样品压缩至理想的厚度供透射测量使用。它的螺旋式压缩系统能产生一个无旋转的均匀压力作用于整个样品，大透明光阑是进行大量进样的理想选择。适用于MultiScope.，AutoIMAGE系统和Spotlight 系统。 晶体压缩池 N1870185 本仪器用于压平软质材料和保持样品扁平，与盐窗片有光学接触。它可与厚度为1和2mm、外径为13mm的窗片配套使用。随产品附带两个KBr窗片(2mm厚)。该池可以在不转动(从而不会划损)窗片的情况下施加压力。适用于MultiScope.，AutoIMAGE系统和Spotlight 系统。 红外窗片 红外窗片使您能够用显微镜对微量样品进行红外分析。所有窗片直径为 13mm。有如下材料的红外晶体供您选择。 氟化钡 13 x 1mm N9302611 氟化钡 13 x 2mm N9302612 氯化钠 13 x 2mm N9302614 溴化钾 13 x 2mm N9302615