近红外波前分析仪

为确保产品质量以及实现高效生产，在连续生产过程中进行实时样品监测是至关重要的。TruProcessTM 分析仪采用近红外光谱学技术，具有台式系统的功能，体积小，重量轻，是全局部署的理想之选。此分析仪不仅能快速提供可靠的实时过程分析结果，还可以增加产量，提高产品质量，降低生产成本。TruProcessTM 分析仪可与各种规模的加工设备相连接。它体积小，质量轻，具有完整的过程可扩展性，不仅可用于小规模实验室混合应用，也可用于中试生产，乃至大批量生产。 主要优点1. 无损测量：带有可编程采集触发的非接触式漫反射测量，可实现无损测量。 2. 快速准确的监控：此分析仪不仅具有无线通信、实时数据分析和存储功能，还能在五微秒内完成扫描，且混合转速高达25 rpms。 3. 先进的技术：微电子机械系统（MEMS）技术将传统的近红外光谱法转化为生产线近红外传感器。4. 可定制：该分析仪与&ldquo Thermo Scientific方法开发软件&rdquo 相兼容，可用于定性和定量分析，包括干燥，混合，湿度分析。

GaiaChem近红外高光谱分析仪整合了近红外成像光谱仪和高分辨率近红外光谱相机，采用推扫成像技术，可同时对大量的样品进行光谱和影像的测 量，也可对不同形状的样品进行光谱和影像的测量，提供待测样品的详细的光谱及影像信息以供研究人员进行化学成分、成分品质等的分析。 GaiaChem近红外高光谱分析仪是一个完整的影像光谱工作站，使用者只需要将待检样品放置在标准的样品台上，通过ChemaDAQ软件进行扫描控制，即可实时的进行光谱和影像信息的获取和保存。 GaiaChem近红外高光谱分析仪提供测试的样品的大小从10mm到100mm，可获得30&mu m-300&mu m的空间分辨率；光谱测量范围为：970nm-2500nm（900nm-1700nm），光谱分辨率可达10nm（6nm）。主要应用领域：◆ 农业科学研究，食品品质分析◆ 生命科学研究，脂肪含量分析◆ 医药科学研究，药品品质分析◆ 物质成分鉴别 主要技术规格参数表　GaiaChem-SWIRGaiaChem-NIR操作模式高速推扫型高光谱仪光谱范围(nm)970-2500900-1700光谱分辨率(nm)106光谱通道数256空间像素数(pixels/line)320空间分辨率(&mu m)30-300扫描范围(mm)10-100最大样品尺寸(mm)100× 100× 40(W× L× T)样品扫描速度100 hyperspectral line images/ s (max), corresponding to -3 mm/s with 30 micron pixel -30 mm/s with 300 micron pixel 样品扫描时间(s, 典型)3-10(@320× 320空间像素，256个光谱通道)光源 SPECIM&rsquo s diffused line illumination unit 数据格式 BIL file format, Evince and ENVI compatible 仪器校正光谱校正在出厂时已完成；反射光谱强度校正在每次样品测量时自动完成（比照仪器内部的标准反射板）应用实例：◆ 药品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的不同原料配比的药片的高光谱影像及光谱信息如下图所示，光谱范围为：1000-2500nm，伪彩表示了不同成分的影像信息，可获得256个通道的光谱信息，空间影像信息覆盖了320*430像素，整个采样时间仅需要6秒。 ◆ 农产品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的种子的高光谱影像及光谱信息如下图所示，光谱范围为：1000-2500nm，整个采样时间仅需要11秒。 由于农产品通常都有一定水分含量，在1000-2500nm范围内光源的热效应会造成水分的丢失，所以在这个范围内进行光谱测量时，测量时间显得尤为重要，必须要在尽可能短的时间内进行。GaiaChem在设计上充分考虑到这个因素的影响，通常一个样品的测试时间为十几秒，甚至几秒钟内即可完成，大大降低了光源烘干效应对样品的影响。 GaiaChem近红外高光谱分析仪信号采集及分析软件 ChemaDAQ软件为GaiaChem近红外高光谱分析仪标准的信号采集软件，可进行高光谱影像及光谱数据的采集和简单处理，数据存储格式可被多种第三方专业的数据分析软件调用，如ENVI和Evince数据分析软件，可进行3D图像分析等。

Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR【Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR简介】随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要特点160 × 120 高相位取样分辨率1550 nm 高性价比解决方案体积轻小便于光学系统内集成二、SID4-NIR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR是一款高性价比的高分辨率波前传感器，专门用于测量和对准1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透镜。 三、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR应用领域激光 |自适应光学及等离子体检测 |光学计量及光学系统对准四、Phasics近红外波前传感器/波前分析仪SID4-NIR主要规格波长范围1.5-1.6 μm靶面尺寸4.73 x 3.55 mm2空间分辨率29.6 μm取样分辨率160 x 120相位分辨率 11 nm RMS绝对精度15 nm RMS取样速度 60 fps实时处理速度 10 fps (全分辨率下)*接口种类FireWire IEEE1394B五、更多参数选型

PHASICS波前分析仪/波前传感器/波前相差仪/波前探测器关键词：分析仪，PHASICS波前分析仪，波前传感器，波前像差仪、传感器、波前测试仪、波前探测器、激光波前分析仪、哈特曼波前分析仪、虹膜定位、哈特曼波前传感器、波前象差、高分辨率波前分析仪、波前测量仪、激光光束及波前分析仪、夏克 哈特曼、镜头MTF法国PHASICS公司自主研发的波前传感器是基于四波横向剪切干涉技术。SID4系列波前分析相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简单等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！PHASICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。 法国PHASICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的SID4波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。图1 波前校正前与校正后对比 PHASICS波前探测器依据其四波横向剪切干涉专利技术，对哈特曼掩模技术进行了大的升级、改进。PHASICS波前传感器将400X300的超高分辨率和500um的超大动态范围完美结合在了一起。可以满足不同的客户的应用需求，可对激光光束进行光强、位相、PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差、M^2等进行实时、简便、快速的测量。 第一部 产品介绍 SID4 UV-HR高分辨紫外波前传感器PHASICS公司将 SID4的波前测量波长范围扩展到190nm-400nm。SID4 UV-HR是一款适用于紫外波段的高分辨率波前传感器,非常适用于光学元件测量（例如印刷、半导体等等）和表面检测（半导体晶片检测等）。特点：u 高分辨率（250x250）u 通光孔径大（8.0mmx8.0mm）u 覆盖紫外光谱u 灵敏度高（0.5um）u 优化信噪比 图2 SID4-UV波前分析仪 SID4 波前传感器可用于400nm-1000nm 的激光的波前位相、强度分布，波前像差，激光的M2，泽尼克参数等进行实时的测量及参数输出。特点：? 波长范围：400-1100nm? 分辨率高（160x120） ? 消色差 ? 测量稳定性高 ? 对震动不敏感 ? 操作简单 ? 结构紧凑，体积小 ? 可用笔记本电脑控制 图3 SID4位相检测 SID4-HR 波前相差仪可用于检测各种透镜，光学系统的检测，可以对透镜、光学系统的进行实时的PSF（点扩散函数）、MTF（调制传递函数）、OTF（光学传递函数）、波前像差测量及参数输出。相对于传统的透镜检测设备像：传函仪、干涉仪，具有操作简便，测量精度高，参数输出方便等优点，正在被越来越多的客户推崇。特点：u 波长范围：400-1100nmu 高性能的相机，信噪比高u 实时测量，立即给出整个物体表面的信息（120000个测量点）u 曝光时间极短,保证动态物体测量u 操作简单 图4 SID4-HR图5 SID4-HR传递函数检测 SID4 NIR 波前分析仪主要针对1550 nm（1.5um-1.6um）激光的检测，具有分辨率高高灵敏度、高动态范围、操作简便等独特的优势。可用于光学测量，SID4 NIR是测量红外物体和红外透镜像差、PSF、MTF和焦距及表面质量的理想工具。特点：2 高分辨率（160x120） 2 快速测量 2 性价比高 2 绝对测量 2 对振动不敏感 图6 SID4 NIR激光波前检测 SID4 DWIR 波前仪具有宽波段测量的特点。可以实时的检测3-5um 和8-14um的波前位相，强度分布等响应的波前信息。可以很好的满足红外波段客户的波前检测需求。特点：u 光学测量：SID4 DWIR是测量红外物体特性（热成像和安全视觉）或红外透镜（CO2激光器）的理想工具，输出结果包括MTF，PSF，像差，表面质量和透镜焦距。 u 光束测量：（CO2激光器，红外OPO激光光源等等）SID4 DWIR提供详尽的光束特性参数：像差，M2，光强分布，光束特性等u 高分辨率（96x72） u 可实现绝对测量u 可覆盖中红外和远红外波段 大数值孔径测量，无需额外中转透镜 u 快速测量 对振动不敏感 u 可实现离轴测量 u 性价比高 图7 SID4 DWIR SID4产品型号参数汇总型号SID4SID4-HRSID4 UV-HRSID4 NIRSID4 DWIRSID4-SWIR孔径尺寸（mm2）3.6 x4.88.9 x11.88.0 x8.03.6x4.813.44x10.089.6x7.68空间分辨率(um)29.629.63229.6140120测量点数160x120300x400250x250160x12096x7280X64波长范围350-1100 nm350-1100 nm190-400 nm1.5-1.6μm3-5μm 8-14μm0.9- 1.7μm精准度10nm RMS10nm RMS10nm RMS15nm RMS75nm RMS10nm RMS动态范围100μm500μm200um100μm/~100μm采样速度60 fps10 fps30 fps60 fps50 fps60fps处理速度10fps3 fps1fps10fps20 Hz10Hz 第二部 SID4波前分析仪控制软件 SID4波前分析仪控制软件SID4波前分析仪控制软件与SID4 波前传感器配套提供的是一款完整的分析软件，其集成了高分辨率的相位图与强度分布图，测量光强分布和波前信息。借助Labview和C++ 可编程模块数据库（软件二次开发工具包），客户能够根据自身的需要编写各种相位测量与编译模块。Adaptive Optics Loops将SID4 Wavefront Sensor结合您的应用，选配合适的可变形镜或相位调制器，提供整套的自适应光学系统。减小任何一个光学系统的相差从来都不是简单的，我们的产品能为激光光束和成像系统带来更可靠，高精度的解决方案。图8 SID4控制界面SID4光学测量软件KaleoPhasics基于剪切干涉的波前传感器与专门设计的光学测量软件Kaleo结合，可以测量球面镜和非球面镜的像差及MTF等信息。只需要几秒钟，我们的仪器为您呈现绝大部分的光学参数，如焦距，光腰，MTF，像差，Zernike系数，曲率半径，PSF等。 第三部 SID4波前分析仪与传统哈特曼波前分析仪比较 与传统哈特曼波前传感器测量结果对比： 技术参数对比：PHASICSShack-Hartmann区别技术剪切干涉微透镜阵列PHASICS投放市场时，已经申请技术专利，是对夏克-哈特曼技术的升级重建方式傅里叶变换分区或模式法夏克-哈特曼波前探测器，局域导数以微透镜单元区域的平均值来近似，误差大强度对强度变化不敏感对强度变化灵敏PHASICS测量精度高，波前测量不依赖于强度水平校准用针孔校准、方便快捷安装困难，需要精密的调节台PHASICS使用方便取样点SID4-HR达300X400测量点128X128测量点（多个微透镜）PHASICS具有更高的分辨率数值孔径NA：0.5NA：0.1PHASICS动态范围更高分辨率29.6μm115μmPHASICS具有更高的空间分辨率测量精度2nm RMS5nm RMSPHASICS更好的测量精度获取频率60fps30fpsPHASICS获取速度快处理频率10Hz30HzPHASICS可满足大部分处理要求消色差无需对每个波长进行校准需要在每个波长处校正PHASICS更灵活，可以测试宽波段，而不需要校准 第四部 应用领域 ? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M^2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域OKO 可变形镜数字波前分析仪XY系列向列液晶空间光调制器XY系列铁电液晶空间光调制器

美国LUMETRICS公司自主研发的CLAS-2DTM系列波前分析仪（CLAS-2D™ , CLAS-XP™ , CLAS-HP™ , CLAS- NearIR-320™ , CLAS-NearIR-640™ ）能够快速、简单、准确的测量激光光束的波前相位参数，例如波前倾斜，峰谷误差，均方根波前误差，像散，球差，聚焦误差/准直。LUMETRICS公司的波前分析仪是集四波横向剪切干涉仪，光束质量分析仪，自准直仪和四象限探测器为一体的快速、紧凑型波前分析仪器。运用独特的算法能够精确测量三个波段的波前参数：300nm -1100 nm, 1100nm - 1700nm和8 um- 9.2 um。另外, 美国LUMETRICS波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统OA-SYS(Adaptive Optics Loops)，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求，为客户推荐最合适的波前传感器、可变形镜或空间光调制器、自适应光学系统操作软件等。波前分析仪产品特点：CLAS-2DTM系列波前分析仪具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析，眼科虹膜定位波前像差引导等提供了全新的解决方案！LUMETRICS波前探测器配套的软件界面友好，可直观的输出高分辨率相位图和光束强度分布图。波前分析仪应用范围：? 激光、天文、显微、眼科等复杂自适应光学系统波前像差检测? 激光光束性能、波前像差、M2、强度等的检测? 红外、近红外探测? 平行光管/望远镜系统的检测与装调? 卫星遥感成像、生物成像、热成像领域? 球面、非球面光学元器件检测 (平面, 球面, 透镜)? 虹膜定位像差引导? 大口径高精度光学元器件检测? 激光通信领域? 航空航天领域 CLAS-2DTM产品型号汇总 COMPLETE CLAS-XP System型号81000-0081000-4681000-4781000-4881000-4981000-50焦距（mm）2.02.0474.758.1915.4825.08灵敏度λ/30λ/30λ/50λ/100λ/150λ/200动态范围120λ120λ80λ60λ40λ30λ透镜尺寸（mm）0.0720.0720.1080.1440.1980.252透镜阵列102*102102*10268*6851*5137*3729*29 COMPLETE CLAS-HP System型号81000-2081000-2181000-2381000-24焦距（mm）4.987.7819.9229.62灵敏度λ/100λ/150λ/200λ/250动态范围211λ169λ105λ115λ透镜尺寸（mm）0.1120.1400.2240.280透镜阵列128*128102*10264*6451*51 COMPLETE CLAS-Near IR 320 System型号81000-3281000-3381000-3481000-3581000-3681000-27焦距（mm）25.6936.9911.4417.8725.749.3灵敏度λ/83λ/100λ/46λ/58λ/70λ/50动态范围44λ37λ78λ63λ53λ55λ透镜尺寸（mm）0.4000.4800.3200.4000.4800.225透镜阵列24*1920*1630*2424*1920*1671*56

法国Phasics公司波前分析仪 公司成立于2003年，从法国科学研究中心LULI实验室分拆出来，技术源于法国国家航天实验室。其独特四波横向剪切干涉技术，克服了夏克-哈特曼技术的限制，具有高分辨率、高动态范围、高稳定性、易使用、零色差等特点。 Phasics公司的波前分析仪结构紧凑，在没有中继光学器件的情况下可对激光进行直接测量：位相、泽尼克/勒让德系数、斯特列尔比、PSF、光斑直径、束腰位置、M2等全方位的激光参数信息。Phasics以客户为中心，关心满足所有需求：其强大的研发团队不断开发创新功能和探索新应用，并根据客户要求定制标准配置。 1、主要应用 激光 自适应光学及等离子体检测 光学元件及光学系统计量 微观材料检测 2、技术参数型号波段口径空间分辨率相位分辨率取样分辨率绝对精度采样速率实时处理速率SID4-UV-HR190-400nm13.8×10.88mm38.88um1nmRMS355x28010nmRMS30fps＞3fpsSID4-UV250-400nm7.4×7.4mm29.6um2nmRMS250x25010nmRMS30fps＞2fpsSID4-sC8400-1050nm16.61×14.04mm19.5um＜1nmRMS852x720NA40fps10fpsSID4-Bio400-1100nm11.84×8.88mm取决显微镜放大倍率＜1nmRMS400x300NANANAfpsSID4-HR400-1100nm11.84×8.88mm29.6um2nmRMS400x30015nmRMS10fps3fpsSID4400-1100nm4.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS40fps＞10fpsSID4-UHR400-1100nm15.16×15.16mm29.6um（可拓展至22.2um）2nmRMS512x512 (可拓展至666x666）15nmRMS8fps1fpsSID4-V400-11004.73×3.55mm29.6um＜2nmRMS160x12010nmRMS60fps＞10fpsSID4-SWIR900-1700nm9.6×7.68mm120um＜2nmRMS80x6415nmRMS30fps7fpsSID4-eSWIR900-2350nm9.6×7.68mm120um＜6nmRMS80x64＜40nmRMSNA10fpsSID4-SWIR-HR900-1700nm9.6×7.68mm60um2nmRMS160x12815nmRMS30fps7fpsSID4-DWIR3-5um 8-14um10.88×8.16mm68um25nmRMS160x12075nmRMS50fps＞10fpsSID4-LWIR8-14um16×12mm100um25nmRMS160x12075nmRMS24fps10fps3、Phasics还可以基于现有的波前分析仪根据客户要求定制各种测量系统。1）多色动态干涉仪Kaleo MultiWAVE主要特点：最高可以集成8个波长波长可以覆盖紫外到中远红外透射波前误差和反射波前误差均可测量纳米级相位分辨率＞500条纹数超高的动态范围 最高130mm的有效口径RMS重复精度＜0.7nm(＜λ/900)精度80nm PV动态范围500条纹数可测反射率范围4%-100%光学结构双通道波长数量1-2，最高至8波长范围193-14um有效口径130mm视场角对准±2°可调对角范围±2.5m2）全自动镜头质量检测工作站Kaleo MTF主要特点：同轴（＜1%）和离轴（＜2%）MTF精确测量大视场角测量（广角镜头、鱼眼… … ）汽车/移动物镜的轻松镜头定位适应生产环境全自动测量，一次采集可以得到完整的测试参数共轴OPD精度＜20nmRMS共轴重复精度＜0.5%离轴重复精度＜1%MTF最大截止频率1000lp/mmEFL重复精度0.5%共轴OPD重复精度＜5nmRMS光学设置有限到无限配置波长405-940nm,最高8波长入射直径最高8.8mmf#＞1.7焦距5-40mm法兰焦距8-33mmFOV可至±90°主射线角可至50°更多信息，请与我们联系！

法国Phasics推出真空环境兼容波前分析仪SID4-V 为满足广大客户在真空环境中对激光光束质量，气流，等离子体密度测量分析，以及光学系统装配的需求。法国phasics推出了新型高精度波前分析仪sid4-v，是目前市场上仅有一款可应用于真空度在10-6 mbar环境中的波前分析仪，广泛应用于高功率激光测试中。产品特点：可适用于＞10-6mbar真空环境高分辨率160×120相位像素光谱范围从400 nm到1100 nm可测量发散光束热和机械真空不改变测试结果真空循环下无任何性能下降真空和常压下均可使用 产品参数：真空相容性10-6mbar波长范围400 - 1100 nm通光孔径3.6 x 4.8 mm2空间分辨率29.6 μm采样点（相位/强度）160 x 120 ( 19 000 points)相位相对灵敏度 2 nm rms相位精度10 nm rms动态范围 100 μm采样频率 100 fps实时分析频率 10 fps (full resolution)数据接口giga ethernet尺寸(w x h x l)54 x 46 x 75.3 mm重量~250 g关于phasics：法国phasics公司自主研发的波前传感器是基于其专利的四波横向剪切干涉技术。相较传统的夏克-哈特曼波前探测器具有高分辨率、消色差、高灵敏度、高动态检测范围、操作简便等独特的优势。为波前像差、波前畸变的检测以及激光光束及波前的测量、分析等提供了全新的解决方案。 法国phasics波前传感器生产厂家具有雄厚的技术研发实力，能为客户提供的各种自适应光学系统oa-sys，制定个性化解决方案。可根据客户的应用需求。波前分析仪主要应用领域：1. 激光光束参数测量：相位（2d/3d），m2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形3. 元器件表面质量分析：表面质量（rms，ptv，wfe），曲率半径4. 光学系统质量分析：mtf, psf, efl, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制5. 热成像分析，等离子体特征分析6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像SID4 V VacuumPhasics is innovating by proposing the first off-the-shelf vacuum compatible wavefront sensor on the market. The SID4 Vis designed to perform wavefront measurements under high vacuum. the wavefront measurement is realized in-situ in the same condition as the experiment. Our new SID4 V vacuum wavefront sensor is also used to characterize laser beams after compression inside the compressor vessel. Finally, gas jet and plasma density are now measured as close to the target as possible.BENEFITS: With Phasics’s unique strategy it’s now possible to correct the aberrations of every single optical element up to the target location inside the vacuum chamber.Key FeaturesVACUUM COMPATIBLE & HIGH RESOLUTION | DESIGNED FOR VACUUM DOWN TO 10-6 mbarVacuum compatibility 10-6 mbarHigh resolution 160 x 120 phase pixelsSpectral range from 400 nm to 1100 nmDiverging beam compatibleInvariant to thermal and mechanical vacuum constraintsTolerates vacuum-cycles without any performance decreaseBoth functional under vacuum and atmospheric pressureLow outgassing SpecificationsVacuum compatibility 10-6 mbarWavelength range400 - 1100 nmAperture dimension4.73 x 3.55 mm2maximum NA (optional software necessary)0.2Spatial resolution29.6 μmPhase & intensity sampling160 x 120Accuracy15 nm RMSResolution (Phase)2 nm RMSAcquisition rate60 fpsReal-time processing frequency7 Hz (full resolution)InterfaceGiga EthernetMTBF 10 yearsDimensions (w x h x l)54 x 46 x 75.3 mmWeight~ 250 g SID4 Density softwareIntroductionSID4 DENSITY software package supports the whole process to measure gas and plasma electron density. It calculates density maps from phase acquisition. It also offers various options for acquisition and data analysis.SpecificationsWORKING CONDITIONSApplicationAny axisymmetric monoatomic gas jet/plasma for inverse-Abel transform analysisProbe sourceWhite light (halogen), LED, laser or fs-laserPressureFrom 2 to 300 barsPlasma lengthDepends on the imaging system (typically 2 mm long and diameter of 0.2 mm)SOFTWAREAcquisitionReal Time, programmed, triggerSettingsWavelength, magnification, jet direction, gas typeAnalysisDensity map & profiles, Symmetrization, filtersPerformances such as the spatial resolution or the density resolution entirely depend on both the optical set-up (imaging system, probe source) and the injected gas (molar refractivity). Please contact us for an estimation of specifications for your set-up. As an example, for an laser produced plasma using an Argon gas jet at working pressure between 2 and 300 bars, the lowest measured Argon density in a single shot is: 1017 particles/cm3 with a nozzle of 1.5 mm diameter.

瞬态(近红外)激光波前畸变检测干涉仪是将空间位相调制的共路剪切干涉技术与数字化波面高新计算技术相结合研制的新颖干涉系统，是浙江大学光电系现代光学仪器重点实验室、杨甬英等教授集多年基础、数年攻关完成的目前国内首台利用干涉方法仅需单幅干涉图就可以高分辨率检测各类高、低功率的脉冲激光、连续光波前畸变、检测各类高精度大口径精密表面的面形、动态检测各种流体的变化等。仪器抗噪、抗干扰性好特别适合于现场的实时检测。波前及面形的检测分辨率高，可高精度测量较大的波前畸变量，可以用于瞬态图象高速采集及检测。波前检测软件输出信息量丰富、可适用于不同波段的可见光、红外波段的检测。经权威单位与ZYGO干涉仪比对测试，近红外脉冲激光波前畸变检测的波前均方根已优于1/15波长。瞬态激光波前畸变检测干涉仪已达到国际先进、国内领先的先进水平。仪器技术指标：1、应用波长：从紫外、可见光至中远红外波段（波长可根据用户不同要求确定）；2、光束接收口径：F10mm ～用户任定口径；3、仪器精度及重复性：波前均方根优于1/15波长；4、测量范围：波前畸变检测量可达50 mm；5、可用于脉冲光、连续光、各类精密表面面形测量：测量脉冲激光的脉宽可达1ns；6、光学系统具有高激光损伤阈值；7、高分辨率数据采集系统:科学级CCD相机，空间分辨率至1024× 1024以上或用户定；8、仪器利用共路剪切干涉技术，抗振动性好,可放于任何工作台现场使用；9、光束波前诊断软件包：给出检测波前位相（可以是光束波前、面形或流体的形变等）的三维图形、等高图、波前畸变的PV 值、均方根值、波面梯度值等；给出表征光束能量分散度的Streh1比；光学系统象差的评价参数OTF和PSF；软件具有友好的图形工作界面，工作于Windows 2000以上平台，软件有各类数据图象及数据输出功能。应用范围：本仪器是动、静态皆可检测的系统，可应用于航空、航天、航海及国民经济诸多领域：1. 配备高速的CCD与图象转换系统，可以检测具有较大畸变、快速变化的气体折射率密度场、高速绕流流场，获取高速飞行体在各个瞬间状态的三维流场的相关参数。并且可以应用于流体显示技术、空气动力学方面的研究。2. 良好的抗振性特别适合于在车间、现场进行各类精密表面面形的分析测量、不同尺寸的光学元件、硅片、金属表面面形、非球面等各类元件的精密检测。3. 可以检测各类高能激光系统的静态、动态波前畸变，特别为1053nm的近红外脉冲波前检测提供一个高精度、高分辨率的检测结果。系统配备标准近红外光源，可以检测1053nm 波段的各类光学材料的透射特性参数。图2是系统软件输出界面。图3是已实际用于纳秒级高能脉冲波前检测的干涉图。图4是纳秒级高能脉冲波前重构的三维图。

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

仪器简介：美国Unity科技公司的SpectraStar 2400 系列近红外分析仪是新一代扫描型近红外分析仪，可广泛用于农业、食品、烟草、制药和工业样品的精确分析。 近红外（NIR）分析是一种非破坏性的，无需样品前处理的分析方法。在简便易用的基础上发展起来的SpectraStar 2400具有极高的通用性和灵活性，同时NIR方法由于不需要使用化学试剂，因此还具有很高的安全性。 为了有效地兼容老的NIR系统， SpectraStar 2400的扫描范围为1200 至2400nm。全新的设计保证了其准确性和精密度远高于以往的NIR系统。SpectraStar 2400 的准确度可以达到湿化学方法的标准，而精密度更高。 SpectraStar 2400可以提供旋转抽屉(2400D)和顶部窗口 (2400W) 两种型号。两种结构都可以提供最大的检测面积和最小的测量时间。系统内置PC 和大触摸屏。使用InfoStar分析软件可以很快地显示出检测结果。整套系统非常耐用，性能可靠，操作简单。 用户可以通过Unity公司得到额外的应用支持。专业的NIR队伍保证了标准曲线的准确并由此得到准确的分析结果。不论是用于原料监控、质量控制还是过程监控，你都可以迅速地得到分析结果。SpectraStar 2400将适合你的各种需求。技术参数：预扫描单色器可支持不同带宽（通常为10nm） 光源：平均故障率为10,000小时的卤素钨丝灯， 光栅：1200nm至2400nm 检测器：InGaAs（不受温度影响） 扫描时间：小于8秒/次 分析时间：10-60秒 数据间隔：1nm（提高数据平滑度） 光度计范围：3.0Abs @ 1200-2400 nm 光度计噪音：20微AU（1640nm） 扫描面积：225 mm2 用户界面 操作系统：Windows 2000 显示器：10寸VGA触摸屏 软件：预置InfoStar并提供备份 选项：键盘、鼠标 样品设置 2400D旋转抽屉：通常用于大颗粒样品，如整颗小麦或混合样品。 2400W顶部窗口:通常用于小颗粒样品。 尺寸 2400D ：WxHxD: (336mm x 343mm x 406mm) (13.2"x13.5"x16.0") Weight:15.9kg,35lbs 2400W ：WxHxD: (330mm x 368mm x 381mm) (13"x14.5"x15.0") Weight: 13.6 kg, 30 lbs 电源 电压,频率 : 100-240vac, 50/60hz.功率:75VA 取样杯 SpectraStar 2400D version 可使用Unity Scientific 、Foss 、或Bran+Luebbe 的样品杯。 SpectraStar 2400W version 可使用杯子、塑料袋、瓶子、和培养皿。主要特点：SpectraStar 2400的优势 适合网络工作 SpectraStar 2400可以通过网络或调制解调器进行远程技术支持、软件升级和仪器工作状态分析。 高精度、高准确性和高的稳定性 SpectraStar 2400采用专利技术的自动波长扫描。相对于老的PbS检测器，SpectraStar 2400的InGaAs能够提供更好的固体样品检测性能、更高的信噪比、更低的漂移和更好的稳定性。每次扫描可以得到更宽的检测范围。 简便的标准曲线转换 SpectraStar 2400使用扫描波长1200nm至2400nm 之间建立的MLR方程，可以在Bran-Luebbe、Perten 、DICKEY-JOJN及其它品牌的近红外仪器方便自由地传递数据。 不同近红外仪器的数据传递容易 TranStar软件能容易、快速传递您目前使用的近红外的数据到SpectraStar 2400。如： FOSS、Bran+luebbe 、NIRSystems、BrikerBuchi Nicolet 使用简单 SpectraStar 2400基于Windows操作系统，标准配置为两个USB接口和一个网络接口 （RJ 45接口）。 低的维护工作量 SpectraStar 2400优化设计的灯具有很长的使用寿命，平均故障时间为10,000小时。 全新设计的光栅具有更高的稳定性。 占用体积小 内置PC和大面积的触摸显示屏。

博恩科技SupNIR近红外仪博恩科技刘芳一、博恩科技SupNIR近红外仪简介：博恩科技新一代近红外分析仪采用全息数字式光栅扫描和高灵敏度铟镓砷检测器（TEC制冷恒温）相结合的光学设计，基于漫反射方式进行样品分析，通过外置电脑和RIMP软件实现固体颗粒、片状、粉末样品的快速无损检测。整套系统操作简单，只需要将样品盘放在样品台上，点击测量，仪器自动完成检测分析。RIMP软件全中文显示、用户界面友好、操作简单，可一键化操作仪器进行样品分析。该软件集仪器控制、测量分析及数据管理与建模三大模块于一体，配合已有的成熟粮食、面粉、麸皮、次粉分析模型，可快速进行定量及定性分析，满足谷物收购、面粉生产、饲料生产等领域质量监控和品质管理要求。 二、主要用途：快速测定各种整粒小麦、面粉、麸皮、次粉以及挂面等样品的质量指标。 三、博恩科技SupNIR近红外仪在面粉企业的作用：1.小麦收购：快速测定小麦的水分，灰分、面筋、蛋白、硬度、W值等指标，建立以质论价的收购体系，吸引好的粮源，好的粮源才能生产出好的面粉，比别人多2厘收购的小麦一斤能多加水，也能产出好质量的面粉。 2.小麦搭配：小麦搭配的好坏，决定面粉品质的好坏，快速测定小麦的水分、灰分、面筋、蛋白含量，可以快速判断小麦品质，指导小麦搭配和加水量。 3.入磨水分：快速测定入磨水分，考核加水控制效果和指导磨粉工艺参数调整。 4.粉路测定：检测1000吨的生产线只需要2个小时，快速判断筛理效果和确定粉路搭配方案是否合理。 5.配粉：快速确定配粉方案和检验配粉效果是否达标。 6.成品检验：实时监控成品质量，及时调整，确保质量的稳定性。 四、博恩科技SupNIR近红外仪的优点：1. 全中文分析软件，简单易操作，人工和自动校正均可自由转换；无需较高的专业知识； 2. 检测速度快：仪器采用漫反射测量方式，结构设计紧凑，只需10秒即可出数据，准确度高，重复性好。 3. 维护成本低，仪器与电脑分离，可以在多台电脑上免费安装分析程序，避免因为电脑故障造成仪器不能使用的问题，开放式平台网络软件，实现远程数据传输（双向），远程监控和故障诊断。 4. 大容量圆形开放式装样器，能适应各类样品，小麦无需粉碎，旋转连续扫描，每秒采集6次光谱，清除样品不均匀的误差，此仪器采用光栅扫描分光设计，仪器稳定性好。 5. 自带建模分析软件（与同类产品相比，节约购买开发软件的3万元费用），一键建模和启发式建模，可以让普通操作人员学会开发新的模型，可同时安装无限量的检测模型，每个模型的检测参数可随时扩展，适合企业多产品、多领域的应用。 6. 数据分析专家，自动生成专业的质量趋势图，统计最小值、平均值、标准差，便于数据查询和分析。 7. 光源寿命：此光源寿命大于2万个小时，仪器出厂自带两个光源，可以节约采购光源成本3-5万。内置标准物质，自动实现波长漂移诊断和校正功能，提供更稳定的光谱。 以上七大优点是专为适应中国市场而设计，符合近红外仪的国家标准，充分考虑了中国用户的习惯，性价比国内无与伦比！ 五、博恩科技SupNIR-2720近红外光谱分析仪技术参数适合小麦、面粉、麸皮、次粉的快速分析仪1、*波长范围：1000nm-1800nm；波长间隔1nm，波长校准采用专用参比板参比，保证仪器测量结果长期的稳定性；2、*波长准确性 ±0.2nm； 3、*波长重复性 ±0.01nm；4、*光谱分辨率 10nm；5、*杂散光 0.1%；6、*预测时间 30秒（带装样时间）；正常检测一个样品少于3秒；7、*同时预测性质数 ：不限；8、*通信接口 USB2.0；9、*光学系统：全息数字式光栅，光栅扫描分光设计，光谱仪后分光式，光路自准直，自校正,上照式光学设计测量样品。 10、*日常操作软件：RIMP软件，全中文操作界面、用户界面友好、操作简单及将仪器操作、建模和数据处理整合一体的专业软件，该软件支持业内主流化学计量学技术包括用于定量分析的PLS偏最小二乘法回归分析，ANN神经网络法，及用于定性分析的SIMCA法，聚类分析等算法。通过数据库实现测量数据存储、查看、交换、统计和报表输出等功能。 可联网操作，通过直观的图形操作和用户引导界面，用户可以方便的进行光谱处理、建模操作、数据管理等功能。11、*检测器： TEC制冷恒温（Ex_InGaAs）高灵敏度铟镓砷检测器。12、*噪声水平：指标小于5E-5。13、*光源：低功耗光源，5V,10W；可不用拆开仪器主机，外围自由拆卸更换光源。14、*工作环境：温度范围 5℃～35℃；湿度范围 5%～85％；15、*工作方式：上照式设计，真正无接触、敞开式近红外漫反射方式检测，样品和光源间没有石英窗片等阻隔。16、*装样附件： 铝合金旋转样品盘，配置有不同大小样品盘以及旋转样品托盘，满足从10mL到160mL样品量的检测需求。17、*样品方式：可检测颗粒状、片状、粉末状、膏状等样品。旋转样品盘测样方式，可增强不均匀样品的代表性、提高测量结果的准确性。18、*检测指标：*小麦：水分、灰分、面筋、蛋白、硬度、W值*入磨小麦：水分*面粉：水分、灰分、面筋、蛋白、吸水率、沉降值、破损淀粉*麸皮：水分、灰分、粗纤维*次粉：水分、灰分、粗纤维*长条挂面：水分19、*联网功能：可加入RIMP网络系统，实现数据传输，仪器维护，远程诊断，模型升级服务等功能。20、*仪器内置标准物质，具有自动诊断和故障提示功能，可自动弹出。21、*尺寸（长×宽×高）： 约400mm ×420mm ×360mm。22、*重量：约20KG。六、质量保证及质保期限：博恩公司保证所供应的产品设备是全新的、原产地、原包装、手续合法完整、渠道正规的产品，完全符合国家质量认证标准及该产品设备的出厂标准。质量保证及期限：设备安装调试验收完毕签字日起质保期为 贰 年，在质保期内发生的产品质量问题（非使用方人为）我公司予以免费更换或维修。 安装、调试及售后服务：该种机型享受终身免费软件升级和相应的分析模型使用；供方免费提供设备的安装、调试、培训。需方对供货的质量和技术标准问题提出异议期限为30天。 运输: 运输过程和质量及到达交提货地点期间所有费用由供方负责承担,无论在何种运输方式下，供方包装应保证货物完好地安全运抵目的地。在需方签收货物前供方应对由于包装不适当所致的任何损坏和费用负责。

S430近红外光谱分析仪S430近红外光谱分析仪是一款光栅型近红外光谱仪。仪器基于液体透射方式进行样品分析，主要用于液体样品的快速无损检测。分析过程极为便捷，只要将比色皿装满样品，放入仪器样品台上，点击仪器操作软件，一分钟左右即可得出样品的近红外光谱数据，结合相应近红外数据模型，可同时得出被测样品多种成分的分析结果。这款近红外分光光度计可广泛应用于油料、酒类、饮料等液体品质的快速无损分析，可实时可靠地分析液体原料、半成品、成品等的品质成分。仪器特点l 操作简单，无需样品前处理，不破坏样品。l 超宽光谱范围，分析速度快。1分钟内可同时检出多项成份指标。l 核心进口品质，主要零件性能均为先进水平。l 软件操作简单，界面直观，权限管理功能可满足不同场合的使用需求。l 结合中国农业大学近红外光谱分析软件（CAUNIRS），可建立权威专业的近红外定量、定性 分析模型。l仪器结构紧凑小巧，方便用于现场测试。技术参数 测量方式透射样品池光谱带宽8nm波长范围900~2500nm波长准确性≤0.2nm波长重复性≤0.05nm杂散光≤0.1%吸光度噪声≤0.0005Abs分析时间约1分钟（可调节）数据传输方式USB2.0尺寸，重量360×460×240mm，12kg

伊伊西科技(北京)有限公司致力于为企业严控产品质量，降低运营成本，提高生产效率．助力客户成功．仪器简介：波通公司在谷物质量检测方面具有首屈一指的地位，已经有30年生产近红外分析仪的经验。Inframatic9500是Inframatic系列中最新的一款型号，准确度度高，性能可靠，坚实耐用，可以一机多用，在同一台设备上无需额外添加配置，一分钟内可同时测定谷物籽粒样品或粉末状样品的水分、蛋白、脂肪、容重、淀粉、灰分等多项参数。仪器特点：采用工业标准化设计，同时在很多地方都有创新和改进，结果更加准确稳定，基本不需要维护。一体化的光学模块 单色器与单独金属模块固定为一体，具有其它仪器没有的坚固结构，光路不受震动和温度变化的影响，因此仪器更准确，同时不需要组装部件也确保了每台仪器性能的一致性，精度更高，又便于维护，故障率低，而且一体化光学模块既经济又耐用。NIST波长校准 所有仪器出厂前都与NIST（美国国家标准与技术研究院）进行标准波长校准，这样保证每台仪器的波长准确真实，对同一样品的分析可获得相同的检测结果。颗粒状标准参比样品 通过定期采用参比样品校准仪器，可以确保仪器硬件性能的稳定良好，提供可追溯的性能记录。曲线模型和标准 波通公司在近红外曲线建模方面已有30多年的经验，我们有最佳的工具和经验丰富的专家开发、维护和升级全球的曲线。每台仪器出厂时都安装有常用的标准曲线模型，并在今后提供终身的免费升级服务。仪器优点： Inframatic 9500plus采用内置高分辨率检测器，密闭的光源设计，稳定的扫描光栅光学部件和可靠的曲线校准确保每次分析达到最佳的检测结果。采用最先进的高精度一体化光学模块设计，1024步进控制技术，双光束自动调整光路系统，更换光源灯后仪器可自动进行光路调整。长寿命光源灯，设计寿命超过10000小时，配有光源灯自检功能，适时提醒进行光源灯的更换。内置SSD固态硬盘，具有低功耗，无噪音、低热量、体积小、工作温度范围宽，不但抗震，而且可以储存无数多样品的数据。内置远程控制软件，能够对设备进行远程故障诊断、远程数据读取及技术支持等工作。非接触式装样方式，自动装样，只需选择样品，仪器自动调整到最合适的透射光程全自动完成测定，适合检测各种颗粒大小的谷物。自动将所测样品分为16个子样品，顺序测量所有子样品成分，保证对不均匀样品检测的准确性，粉状样品采用专用模块检测。光谱软件具有中文汉化工作界面，简单易操作：只需要选择分析的谷物类型，倒入样品即可，无需手动设置和修改。内置网卡，支持局域网接入功能，能够加入到近红外品质分析仪标准网络和自动收粮系统中，控制每台仪器使用的曲线以及实时监控其分析效果。全球有很多Inframatics仪器实现网络化管理。光学部件采用固化模块式生产，确保所有仪器完全相同，模型可以在仪器之间完全无缝转移，结果完全相同，波长校准采用NIST参比，结果可全部追溯到相应标准。技术规格：分析样品：小麦、大麦、大豆、玉米、稻米等各种整粒谷物及面粉等粉状样品分析参数：水分、蛋白、脂肪、容重（可选）、淀粉、纤维、灰分、面筋、沉降值等分析时间：全部检测时间≤25秒／样品（扫描10个子样品）样品数量：整粒样品50-800mL，600mL（容重检测时）；粉状样品2-5g子样品个数：16个/每份样品分析原理：连续扫描光谱，透射法检测波长范围：570-1100nm光谱精准度：光谱重复性≤0.02nm，光谱准确性≤0.05nm工作环境：环境温度5-40℃；相对湿度：10-85%内置PC计算机：工业级计算机嵌入式Windows 操作系统，抗干扰能力强，稳定性好，断电可自行恢复系统，1个互联网接口，4个USB接口显示：12寸全角度可旋转彩色触摸显示屏，方便多角度使用查看防护等级：工业级密闭设计，防灰尘防潮防震，噪音小于70分贝，适合收购现场使用电压：220-240V/50-60Hz体积（WxDxH）：485x390x370mm；485x390x510mm（带容重检测单元）重量：34kg（40kg，带容重检测单元）9500plus 样品测定单元

仪器简介：波通公司在谷物质量检测方面具有首屈一指的地位，已经有30年生产近红外分析仪的经验。Inframatic9500是Inframatic系列中最新的一款型号，准确度度高，性能可靠，坚实耐用，可以一机多用，在同一台设备上无需额外添加配置，一分钟内可同时测定谷物籽粒样品或粉末状样品的水分、蛋白、脂肪、容重、淀粉、灰分等多项参数。仪器特点：采用工业标准化设计，同时在很多地方都有创新和改进，结果更加准确稳定，基本不需要维护。一体化的光学模块 单色器与单独金属模块固定为一体，具有其它仪器没有的坚固结构，光路不受震动和温度变化的影响，因此仪器更准确，同时不需要组装部件也确保了每台仪器性能的一致性，精度更高，又便于维护，故障率低，而且一体化光学模块既经济又耐用。NIST波长校准 所有仪器出厂前都与NIST（美国国家标准与技术研究院）进行标准波长校准，这样保证每台仪器的波长准确真实，对同一样品的分析可获得相同的检测结果。颗粒状标准参比样品 通过定期采用参比样品校准仪器，可以确保仪器硬件性能的稳定良好，提供可追溯的性能记录。曲线模型和标准 波通公司在近红外曲线建模方面已有30多年的经验，我们有最佳的工具和经验丰富的专家开发、维护和升级全球的曲线。每台仪器出厂时都安装有常用的标准曲线模型，并在今后提供终身的免费升级服务。仪器优点： Inframatic 9500plus采用内置高分辨率检测器，密闭的光源设计，稳定的扫描光栅光学部件和可靠的曲线校准确保每次分析达到最佳的检测结果。采用最先进的高精度一体化光学模块设计，1024步进控制技术，双光束自动调整光路系统，更换光源灯后仪器可自动进行光路调整。长寿命光源灯，设计寿命超过10000小时，配有光源灯自检功能，适时提醒进行光源灯的更换。内置SSD固态硬盘，具有低功耗，无噪音、低热量、体积小、工作温度范围宽，不但抗震，而且可以储存无数多样品的数据。内置远程控制软件，能够对设备进行远程故障诊断、远程数据读取及技术支持等工作。非接触式装样方式，自动装样，只需选择样品，仪器自动调整到最合适的透射光程全自动完成测定，适合检测各种颗粒大小的谷物。自动将所测样品分为16个子样品，顺序测量所有子样品成分，保证对不均匀样品检测的准确性，粉状样品采用专用模块检测。光谱软件具有中文汉化工作界面，简单易操作：只需要选择分析的谷物类型，倒入样品即可，无需手动设置和修改。内置网卡，支持局域网接入功能，能够加入到近红外品质分析仪标准网络和自动收粮系统中，控制每台仪器使用的曲线以及实时监控其分析效果。全球有很多Inframatics仪器实现网络化管理。光学部件采用固化模块式生产，确保所有仪器完全相同，模型可以在仪器之间完全无缝转移，结果完全相同，波长校准采用NIST参比，结果可全部追溯到相应标准。技术规格：分析样品：小麦、大麦、大豆、玉米、稻米等各种整粒谷物及面粉等粉状样品分析参数：水分、蛋白、脂肪、容重（可选）、淀粉、纤维、灰分、面筋、沉降值等分析时间：全部检测时间≤25秒／样品（扫描10个子样品）样品数量：整粒样品50-800mL，600mL（容重检测时）；粉状样品2-5g子样品个数：16个/每份样品分析原理：连续扫描光谱，透射法检测波长范围：570-1100nm光谱精准度：光谱重复性≤0.02nm，光谱准确性≤0.05nm工作环境：环境温度5-40℃；相对湿度：10-85%内置PC计算机：工业级计算机嵌入式Windows 操作系统，抗干扰能力强，稳定性好，断电可自行恢复系统，1个互联网接口，4个USB接口显示：12寸全角度可旋转彩色触摸显示屏，方便多角度使用查看防护等级：工业级密闭设计，防灰尘防潮防震，噪音小于70分贝，适合收购现场使用电压：220-240V/50-60Hz体积（WxDxH）：485x390x370mm；485x390x510mm（带容重检测单元）重量：34kg（40kg，带容重检测单元）9500plus 样品测定单元

N500近红外分析仪是一台漫反射式近红外光谱仪，用于对样品进行多组分的快速无损分析。通过采集样品反射的光谱信息，并应用相应样品的模型，给出检测结果。仪器采用了基于MEMS技术微型FPI器件的近红外光谱传感器，集成度高，一致性好，保证了整机优良的可靠性和稳定性。N500近红外分析仪主要应用于饲料、粮食、食品等领域，快速检测样品的主营养成分指标含量。仪器特点一致性好，采用基于MEMS技术的NIR传感器，台间差小，准确度高。扩展性好，支持多种样品测量附件，如液体和粉末类样品测量附件；还可根据客户需求定制不同样品的附件，以方便用户拓展不同应用。N500近红外分析仪软件通过图文配合操作，易学习，易操作。可很直观的完成添加模型、光谱测量、定量测量等功能；只需手指轻点屏幕即可完成测量功能。界面友好、操作简便N500近红外分析仪软件集成模型加载、结果测量、权限管理等所有功能于一体。内置模型具有查询历史数据，打印数据，确保测量数据不丢失，方便查找。权限管理可设置不同用户权限，方便实验室数据管理，确保数据安全。仪器技术参数工作模式：漫反射检测器类型：InGaAs波长范围：1750-2150nm。波长分辨率（FWHM）：≤20nm（工作波长的1%）波长准确度：±1nm信噪比：≥3000样品测量时间：＜30秒光源寿命：5000小时操作电脑：Surface平板电脑附件：可配备光纤附件尺寸规格：主机外形尺寸（长×宽×高）：395mm×280mm×215mm重量：5.5kg

Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR产品负责人：姓名：沈工(Max)电话：（微信同号）邮箱：【Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR简介】 随着光波波前探测技术的发展，各种波前传感器应运而生。从测量原理上可以分成两类：一类是根据几何光学原理，测定波前几何像差或面型误差，主要有Shack－Hartmann 波前传感器，曲率传感器和Pyramid 波前传感器等；另一类是基于干涉测量原理，探测波前不同部分的干涉性，来获取波前信息，主要有剪切干涉仪波前传感器和相位获取传感器等。剪切干涉仪波前传感器不需要精确的参考标准镜 它们结构简单，抗干扰能力强，条纹稳定。它是测量光学元件和光束波前质量的一种很好的替代传统干涉仪的方法。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。【关于Phasics】Phasics是一家专注于高分辨率波前传感技术的法国公司。Phasics公司凭借其在测量方面的专业经验与独特的波前测量技术为客户提供全面的高性能波前传感器。 一、Phasics高分辨率紫外波前传感器/ 波前分析仪SID4-UV-HR主要特点 低至190nm波长感光灵敏1 nm RMS高相位灵敏度355 x 280超高相位取样分辨率二、SID4-UV-HR 波前传感器产品功能波前像差测量基于四波剪切技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供完整的激光诊断：波前像差、强度分布、激光光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何一点，无论光束是准直的还是发散的。作为低可至波长250 nm的高分辨率波前传感器，SID4-UV非常适合于紫外光学测量，包括用于光刻或半导体应用紫外激光表征，以及透镜和晶圆的表面面型检测。 三、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR应用领域紫外光学测量| 光刻或半导体应用紫外激光表征| 透镜和晶圆的表面面型检测| 自适应光学四、Phasics高分辨率紫外波前传感器/波前分析仪SID4-UV-HR主要规格波长范围190 - 400 nm靶面尺寸13.8 x 10.88 mm2空间分辨率38.88 μm取样分辨率355 x 280相位分辨率1 nm RMS绝对精度10 nm RMS取样速度30 fps实时处理速度 3 fps (全分辨率下)*接口种类CameraLink五、更多参数选型

法国Phasics 公司利用革新的技术研发的SID4 波前探测器，具有如下独特技术优势：●高分辨率的相位图，最高分辨率可达400ｘ300。●具有直接测量高发散光束的能力●消色差，匹配CCD整个探测范围，用于不同波长光而无需额外校准。应用方向：●激光束质量分析●自适应光学●光学元件表面测量●生物成像●热成像，等离子体表面物理法国Phasics波前传感器主要型号相关参数如下： 型号SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV SID4 UV-HR 孔径3.6 × 4.8 mm2 8.9 × 11.8 mm2 13.44 × 10.08 mm2 9.6 × 7.68 mm2 3.6 × 4.8 mm2 7.4 × 7.4 mm2 8.0 × 8.0 mm2 空间分辨率29.6 μm 29.6 μm 68 μm 120 μm 29.6 μm 29.6 μm 32 μm 采样点/测量点160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 250 × 250 250 × 250 波长400 nm ~ 1100 nm 400 nm ~ 1100 nm 3 ~ 5 μm , 8 ~ 14 μm 0.9 ~ 1.7 μm 1.5 ~ 1.6 μm 250 ~ 450 nm 190 ~ 400 nm 动态范围 100 μm 500 μm N/A ~ 100 μm 100 μm 200 μm 200 μm 精度10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS 15 nm RMS 20 nm RMS 10 nm 灵敏度 2 nm RMS 2 nm RMS 25 nm RMS 3 nm RMS ( 高增益） 1 nm RMS ( 低增益） 11 nm RMS 2 nm RMS @ 250 nm, 2 μJ/cm2 0.5 nm 采样频率 60 fps 10 fps 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率10 Hz ( 高分辨率) 3 Hz ( 高分辨率) 20 Hz 10 Hz ( 高分辨率）10 Hz 2 Hz ( 高分辨率）1 Hz 尺寸54 × 46 × 75.3 mm 54 × 46 × 79 mm 85 × 116 × 179 mm 50 × 50 × 90 mm 44 × 33 × 57.5 mm 53 × 63 × 83 mm 95 × 105 × 84 mm 重量250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 450 g 900 g

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

Phasics生产及销售世界最高分辨率的波前传感器。Phasics专利技术产品--4波横向剪切干涉，是在哈特曼基础上的进一步测试优化，这种技术可以直接测量以无与伦比的分辨率和高动态可调范围，可以测量任意波前。此项革新性的技术及产品已经被越来越多的行业所应用，其产品可用于激光光束质量分析，光学产品的EFL,曲率半径、MTF、PSF等各项指标的测量。如能对此类产品感兴趣，欢迎与我们取得联系。波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪波前分析仪+波前测试仪+波前传感器 剪切干涉仪 PHASICS波前探测器 Phasics公司利用革新的技术研发的SID4波前探测器，该仪器能够提供高分辨率的相位图，可直接测量高发散光束，光路调整方便等特点。1. 技术特点 ◆高分辨率（高达300 x400个采样点)◆消色差◆高动态范围◆高灵敏度◆操作简便◆设计简洁紧凑◆高性价比 2.技术优势◆高分辨率的相位图能够提供高分辨率的相位图。标准分辨率为160ｘ120个采样点，最高分辨率可达400ｘ300。高分辨率的探测器能精确测量镜片像差，并能做到较高的测量重复性。 ◆具有直接测量高发散光束的能力我们的波前探测技术具有直接测量光路系统相差的能力，并且无需额外的过渡镜（参见下图）。校准后的光束通过镜片后直接测试。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。尽管有极大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。 SID4波前探测器 测试条件下光路系统

概述：近红外光谱分析技术是一项基于近红外光谱技术与化学计量学分析模型技术的综合分析技术，可实现对含有C-H、N-H、O-H等有机官能团的样品进行快速、无损、定性/定量分析，是现场快速筛查和加工过程实时监测的理想手段。NIRMagic 2300是北京伟创英图科技有限公司全新推出的一款的一款台式近红外光谱分析仪。特点：※　样品无需前处理即可测量※　快速测量—多个参数同时检测，每次检测时间不超过15秒※　体积小巧，重量轻－便于携带，可兼顾现场与实验室※　全中文操作系统，操作简便，只需简单培训，用户即可轻松操控仪器※　仪器具备自检功能，用户可实时了解仪器运行状态，保证每一次测量结果更加可信※　强大的化学计量学软件功能，具备定性鉴别，定量预测，谱图匹配，谱图检索等功能※　测量稳定性好 典型应用：※　炼油厂生产过程质量控制，产品质量管理※　油库的入库，出库产品质量控制※　特种燃料检测※　油品研究或生产厂的分析实验室

环科易能近红外油品综合分析仪是一款基于傅里叶变换近红外光谱测量技术的快速油品综合分析仪，能够快速、准确地测量车用汽油、柴油、原料油、尿素、添加剂中的重要组分。该仪器既能够用作实验室油品质量快速检测分析工具，还能够集成到成品油移动检测平台（快速检测车），用于成品油抽检工作。汽油模块：研究法辛烷值、抗爆指数、馏程、MTBE、烃类、苯、甲苯、硫、磷、氯、硅、锰、铅、氧含量、饱和蒸气压、密度、胶质、乙醇柴油模块：十六烷值、十六烷值指数、残炭、多环芳烃、灰分、酸度、馏程、冷滤点、氧化安定性、总污染物、润滑性、密度、闪点尿素模块：尿素含量、碱度、密度、醛类、缩二脲添加剂模块：氮含量等仪器主要技术参数1）*分辨率：优于2cm-1；2）谱区范围：11,500-4,000cm-1；3）波数精度：优于0.04 cm-1；4）波数准确度：优于0.1cm-1；5）透光率精度：优于0.1%T；6）*傅里叶变换干涉仪：采用优秀的角镜干涉仪或其它优秀设计，设计紧凑、密封干燥的光学台，内置系统校验功能。7）化学计量学软件：配置的化学计量学软件具备中文版本，油品检测含偏最小二乘法（PLS）校正算法，具有光谱数据的收集、存储分析和计算功能；具有模型建立、提供多种光谱预处理方法和验证选择，并保障定标模型预没的可靠性和特异性样品的识别；软件具备和可实现数据库远程后台管理，数据库密保功能。

产品概述：PDA-7350是一款在线近红外分析仪，用于谷物、油脂、面粉和饲料加工领域的在线检测分析。这款仪器可以实时检测提供生产过程中的产品信息，无需等待实验室的检测分析结果，全程追溯整个生产过程。PDA-7350采用了全封闭式设计，减少了外界对仪器的干扰，减少操作麻烦。适合检测粉末状、颗粒状、整粒谷物等所用通过过程传输的产品。分析仪附带有便于安装和检测的安装板和检测室。安装板方便仪器安装在容器上、传送带旁或者其他任何可以随时检测样品的仪器旁边。检测室适合安装在任何谷物加工车间中，谷物通过仪器的方式可靠，重复性好，满足近红外分析的要求，能确保分析的重复性和准确性。 性能特点 二极管阵列技术能够实时进行全光谱检测，防止检测图像模糊，最适合用来进行流动样品的检测，光学系统中没有移动部件，提高了系统的稳定性。仪器镜头采用了高硬度防划伤材质，延长仪器寿命，提高仪器测量性能，不必经常定期维修。采用工业级标准通讯接口，能够方便整合到客户现有的控制系统中，仪器配备OPC服务，所有控制系统需要和仪器通讯都可以通过它实现。采用线性光源，将波长轴回归到起点，能够在特定波长的最高峰值处发射光，波长的准确性和稳定性都非常好，提高了曲线转移的性能和实验室检测结果与在线仪器的检测结果的一致性。仪器自带双光源，并能够在第一个光源达到使用寿命时自动无缝切换到第二个光源，防止出现故障以及繁琐的维修工作。保修期和售后服务承诺自安装调试结束之日起一个月后计算，保修期12个月。为用户终身免费提供技术支持，协助方法开发以及针对特定产品的整体技术服务。安装调试、维修和保养服务安装调试：所购佩克昂产品的客户，佩克昂技术支持部将根据合同约定的安装调试时间，在客户具备安装调试环境及条件的基础之上，24小时内安排工程师为客户提供安装调试服务。安装调试内容主要包括：在用户实验室免费安装、培训，人员数量用户安排决定。培训内容：仪器的使用、日常维护保养、安全注意事项。安装培训后签署验收报告。维修：佩克昂技术支持部自接到客户电话起，能解答的问题当场电话指导用户如何解决，如需详细解答操作中遇到的问题，技术支持部将在12小时内做出书面答复。对于疑难问题，确保24小时内提出解决方案。如有必要上门提供服务，我公司将派出技术支持部工程师，在24小时内到达现场。对于不能维修的故障，更换损坏的配件，直到达到仪器最佳的工作状态。技术支持：提供贴心专业的技术支持，根据用户特定样品免费提供或协助客户开发试验方法。全国24小时客服热线：4008 055 000

伊伊西科技(北京)有限公司致力于为企业严控产品质量，降低运营成本，提高生产效率．助力客户成功．IM9520近红外面粉分析仪(产品介绍) 波通仪器（Perten Instruments）为磨粉机提供分析仪器已有50多年的历史。IM9520型仪器是我们最新推出的近红外仪器，专为细面粉和粗面粉设计。它可提供简单、快速的常规台式分析。在不到30秒的时间内，它即可准确并可重复地完成灰分，水分，蛋白质和其他关键成分的测量。 Inframatic系列以其坚固可靠的设计而闻名，IM9520也不例外。它适用于实验室及在线操作。样本处理和分析非常简单而直接。IM 9520使用标准的近红外传输来分析样品。其单块光学元件经久耐用，使用寿命长，具备可靠性和经济性。 所有仪器在制造过程中均与NIST（美国国家标准与技术研究院）波长标准相匹配。这意味着所有仪器都使用真实的波长范围，并且校准可以跨仪器使用，无需任何修改。IM 9520可提供真正的网络功能，基本上可以实现（分析）结果无限存储，可与Windows连接，持有成本低。 特点与性能专用性。IM9520是波通（Perten）仪器公司久经考验的Inframatic系列的新成员。它是专门为对精细面粉最重要成分进行分析而设计的。 易于使用。凭借直观的菜单和大型彩色触摸屏，该仪器便于任何人操作。比色皿加注站可使样本的多次呈现变得更加简单，并且消除了作为误差重要来源的操作员偏差。分析后，比色皿很容易用刷子清洗。磨粉效率。IM 9520可提供高质量的数据用来对产量进行监测和优化。对灰分和蛋白质进行分析的快速结果，使您基本上可对工艺实时地改进。 面粉质量。面粉质量对所有烘焙产品都是至关重要的。对于交货方和接货方而言，提供符合规格的面粉都是至关重要的。在磨粉厂，使用IM 9520可确保磨出的面粉能够满足客户的需求，并减少退货和索赔。在面包店使用IM 9520则可确保您的投资物有所值，并可对该仪器进行必要的调整。校准随时可用。凭借在NIR和校准开发方面积累的30多年经验，我们拥有开发，维护和更新全球校准的工具和专业知识。我们的即用型校准技术涵盖了各种品种的小麦和面粉。 Inframatic 95系列使用的校准数据库是多年来从众多谷物进行校准所得结果的积累。购买仪器的同时也购买了校准技术。 远程仪器管理。由波通仪器公司（Perten Instruments）提供的基于Web的报告和NetPlus网络平台，可随时随地远程访问该仪器。只需登录网站并查看单台或多台仪器的结果即可。生产经理在家，在办公室或者在路途中均可对生产是否处于目标和范围内进行验证。质量经理可以跟踪交付情况，以验证是否符合规范。附件 参考颗粒检查样品参考颗粒检查样品验证IM 9520符合工厂标准。每个参考样品都经过Perten认证，并提供官方限值。随时立即确认分析仪的状态。样本可以用作检查样本，并提供可追溯的表现记录。产品规格 产品：小麦粉，粗麦粉，黑麦粉，麦麸等参数：水分，蛋白质，灰分，湿面筋，颜色等等分析时间：~25秒分析原理：扫描光栅，透射率波长范围：570-1100 nm尺寸（宽x深x高）：485 x 370 x 335毫米重量：34kg回归选项：PLS（偏最小二乘），ANN（人工神经网络），HR（Honigs回归），分类接口：以太网，4个USB端口显示器：12“LCD彩色触摸屏保护：防尘和防潮

FT-NIR Rocket傅立叶变换光谱仪 FT-NIR Rocket是采用光纤红外扫描方式的傅立叶变换光谱仪，在NIR波段非常灵敏。这一新光纤FTIR模块的设计紧凑而坚固耐用。得益于它内置的固体参考激光和密封的自补偿干涉仪，该新一代FT-NIR-Rocket光谱仪极少需要维护。它使用独特的微控多层光栅与独立的光电二极管探测器配合工作，干涉仪系统由一台能提供精确可靠操作的激光器控制，独立的光电二极管探测器确保了最高的动态范围和信号质量。同时，该光谱仪也不会受到二阶或者三阶衍射的影响，通常光栅式光谱仪都有鬼影光谱干扰。 FT-NIR Rocket光谱仪系统基于光纤设计，由USB供电，便于携带。它具有极高的波长和强度稳定性，非常适合要求高重复性的化学计量分析。主要特点：1、波长和强度稳定性高（没有基线漂移）；2、波长精度高（适合波峰探测）；3、没有基线漂移（得益于特殊的结构和原理）；4、高分辨率（1~9nm）；5、USB供电；光纤系统（NIR多模光纤）；6、波长范围大（0.9~2.6μm）；7、无二阶衍射干扰；8、性价比极高（单像元NIR光电二极管） 优势：一、自补偿干涉仪原理：1、多通道自补偿干涉仪优化配置，利于小型化。2、由于干涉仪的对称性，它对温度变化和振动稳定性高。器件的对准简单。3、固体激光器控制利于器件小型化，还能减少维护费用。不许He-Ne激光器的高电压。二、光学参数：可变增益和分辨率优化测量参数。三、价格优势：FT-NIR Rocket使用相对低成本技术的小元件，性价比最高。 主要应用：1、食品、饮料和奶制品；2、脉冲激光器测量；3、太阳能电池特性；4、农业；5、气体探测；6、环境监测；7、安全和防卫；8、化妆品；9、纺织品；10、工艺控制（太阳能电池特性、化学品检测、药品生产）。 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

意大利SpotOptics夏克-哈特曼波前传感器Spot Optics 夏克-哈特曼波前传感器可覆盖超宽光谱多波长，包括紫外（157nm-400nm）、可见近红外（400-1064nm）、短波红外（900-1700nm）、中波红外（2-5.4μm）和长波红外（8-14μm）。测量时不受口径限制（如果扩束系统受限，用准直物镜确保与传感器NA匹配）；实现轴上和轴外波前测量，甚至扫描全视场，以及多视场同时测量；可测量多种出瞳形状：圆形、椭圆形、带中心遮拦（中心孔）、六边形等；提供Single Pass、Double Pass两种测量光路来已满足不同应用要求；IOPTINO系列波前传感器+电子自准直仪双通道，结构紧凑，尺寸仅150x100x50mm, 重量400g；电子自准直仪可用于光路调试。Spotoptics波前传感器中的微透镜阵列可自行更换，以满足不同波长的测量需求。 Spotoptics OMI系列波前传感器灵活多变用于研发、还有Optino、OPAL300、5 Stars、STELLA系列等波前测量系统应用于快速量产； 应用范围激光方面：可进行激光光束波前及光束质量分析，mW～MW，支持10.6um CO2激光；可替代光束质量分析仪使用，获得比光束质量分析仪更完整的激光波前信息；天文望远镜：用于大型天文望远镜共位相误差测量，自带主动温度补偿；美国6.5米毫米波望远镜使用puntino测量波前；高速测量：实时显示测量结果，较高速波前采集频率达到8000 Hz，可应用于分析ms级响应的液体镜头；还可进行变温下FFL变化量测试；变温下MTF测量；其他应用：用于主动光学系统、自适应光学系统；光学元件均匀性测量，非球面等；非破坏性光学元件折射率测量，非球面测量等。 对比试验数据（测试波长：632.8 nm）：

ASC 1800 近红外光谱分析仪谱绿ASC1800是上海谱绿科技最新研制推出的光栅加积分球技术全光谱分析仪，提供多领域、多元化应用的定标模型， 可广泛应用于农业、饲料、牧草、宠物食品、食品加工、乳品、酒类及土壤等样品的精准分析。一台仪器，一个专业高效的实验室 快检先锋一分钟结果分析！！定标校准10-20个样品，1-3月投入使用！！进口核心器件，国际领先性能水平&bull 操作简单，无需样品前处理，不破坏样品。&bull 700nm - 2500nm超宽光谱范围，分析速度，快1分钟 内可同时检出如水分、脂肪、蛋白质和氨基酸等多项 成份指标。&bull 积分球漫反射系统，旋转样品台及大光斑技术以确 保样品采集光谱的无损均匀吸收及良好的重现性。&bull 仪器出厂采用行业推荐NIST可溯源的标准品及方法 进行校准、鉴定和验证，保证良好的模型传递。内置 优质PTFE参比模块和聚苯乙烯波长标准片，自动参 比校正和监控波长，确保波长准确度及测量结果稳 定。&bull 可选择多种样品杯配置及附件，满足颗粒，粉状，液 体，浆状等样品。&bull 专业Ascstar操作软件，操作界面简单，多用户等级功 能菜单，结果编辑及导出一目了然。&bull 仪器实时监控环境及温度等运行参数并保存，实时 查看及调整结果，仪器结构紧凑小巧，便于携带及维 护。&bull 专业的技术服务，迅速的服务响应，专业的定标软件 及全程跟踪的定标开发与升级服务。进口核心部件&bull 仪器核心器件如钨灯、光片、镀金光栅、全波长制冷型铟镓砷检测器等均采用国际领先品牌产品，从每一个环节保证仪器的高品质 高标准。 宽波长范围&bull 仪器覆盖700-2500nm(14000-4000cm-1)全谱段超宽波长范 围，可以全面反映含N-H,S-H,C-H,C=O等化学键振动吸收信息， 适合各类样品多种指标的同时分析。 高波长精度&bull 每台仪器采用多种可溯源的标准物质进行波长校准，校准点均匀 分布于整个波长范围，确保多台仪器之间一致的波长准确度。 测量重现好&bull 仪器配有积分球漫反射采样系统，多角度收集漫反射光线，更有 利于提高不均匀样品的测量重现性。 &bull 仪器采用前分光技术，样品在测试过程中不会产生温度波动的噪 音影响，有效保证测量重现性。 模型无缝传递&bull 仪器优秀的性能指标加上严谨的制造工艺水平，是模型传递的可 靠保证。经过实践模型验证，多台仪器间能够进行良好的模型传 递，大大降低模型推广成本。 专业软件&bull 分析软件 ASCstar 操作简单，功能强大。一键操作分析多种指标。ASCstar具有权限管理功能，可使用不同级别的用户账户登陆软件从而实现权限管理。管理员可以进行产品及模型的建立、模型升级、模型校准、方法设计等多种高级功能的使用。操作者可以调用已建立好的产品进行扫描等其他基本功能操作仪器。权限管理功能可以保证用户的数据安全，有效防止误操作。ASCstar还具备审计追踪功能，可自动记录仪器的各种操作信息。 &bull 建模软件ASCdata 拥有模型建立、评价、优化和维护功能，可简便快速的为用户建立专业的近红外定量分析模型。独特的数字化偏最小二乘法技术，支持建立定性识别分析模型，如真假判别，产品分级判定等。 &bull 网络软件 ASCnet 是一款多功能，多用户，多级别的网络端近红外管理软件。其功能包括仪器端各种数据（指标结果、光谱、仪器自检等）的自动采集、同步、展示及共享。产品及模型的新建、编辑、校准、更新推送等功能。可实时监控各分公司或车间的产品检测指标结果及仪器运行状态。ASCnet具有强大的数据接口（API）功能可针对企业内部的各种系统进行有效的数据对接（LIMS、SAP、NC等）近红外光谱分析仪谱绿ASC1800应用领域解决用户对质量控制和品质分析的需要，能够快速准确的无损分析原料及成品，应用领域如下：相关国家标准ASC1800 近红外光谱分析仪数据库建立参考相关国家标准(部分):GBT 18868-2002 饲料中水分、粗蛋白质、粗纤维、粗脂肪、赖氨酸、蛋氨酸快速测定近红外光谱法GBT 5009.9-2008 食品中淀粉的测定GB/T 10781.1-2006 浓香型白酒国家标准GB/T 26760-2011 酱香型白酒国家标准GB1535-2003 大豆油国家标准专业化务团队持续的近红外定标应用开发与维护支持方案上海谱绿科技服务有限公司秉承服务为主， 为用户提供仪器安装使用，定标校准，近红外技术应用、 模型建立，开发与维护升级等一站式服务，专业的技术咨询培训服务。针对特定行业或者特殊产品用户需求量身定制，全程为用户提供近红外定标支持服务。近红外光谱分析仪谱绿ASC1800仪器参数指标

哈特曼波前测试仪 　　WFS150系列Shack-Hartmann波前测试仪，提供了精确、快速的波前测量和光束的强度分布。该仪器是通过分析经微透镜阵列成像于CCD的光斑场的位置和强度进行测量的。使用Thorlabs提供的Shack-Hartmann波前测试仪，可以动态的优化激光波前、测量光学元件波前差，为自适应光学控制提供实时的反馈。 　　Shack-Hartmann波前测试仪由前端带微透镜阵列的高精度的USB2.0（1.3M 像素）CCD相机和软件包组成。全功能的控制和分析软件具有良好的用户界面，菜单包括相机设置、标定、分析和显示项等。CCD相机SM1螺口可方便固定ND滤光片以防CCD像素饱和，及透镜套管以减少散射光，并可用于其他元件的固定。 WFS150系列特点： 实时照射和相位测量 CW或脉冲光源 CCD相机指标： 型号：DCU224M 分辨率：1280× 1024 快门速度：83-1460ms 最大帧率：15帧/秒 尺寸：34× 32× 48.3mm 接口：USB2.0 软件特点： 计算参量 照射和相位分布 模式或区域的重建波前 波前RMS 斜度、聚焦、像散，慧差、球差及高阶像差等Zernike和傅立叶表示 显示/输出： 初始点场成像 强度分布 重建3D波前 表列高度输出 微透镜阵列特征 型号 微透镜阵列有效焦距 特点 WPS150 MLA150-7AR .7mm AR膜（400-900nm） WPS150C MLA150-5C 5.2mm 铬掩模（200-1100nm） 　　Thorlabs提供两种型号的Shack-Hartmann波前分析仪。WPS150，带400-900nm增透膜微透镜阵列，适合对反射敏感的应用领域。WPS150C，由铬掩模微透镜阵列组成，阻止透镜间光传输，具有很宽的光谱范围（200-1100nm），但表现出较强的光反射。

产品概述：近红外分析仪PD-9600是用于谷物样品中水分、脂肪、蛋白质、纤维、灰分和氨基酸等多种物理和化学成分的快速分析仪器。由于其无需对样品进行预处理、不破坏样品、无污染，结合计算机技术的应用，能在一分钟内快速检测出多达十余项指标，在各领域得到广泛应用。 性能特点 采用最先进的电子器件和最精确的光学元器件，结合先进的化学计量学技术，确保分析结果准确设备结构坚固可靠，使用寿命长光学室用金属精密加工而成，确保所有仪器的一致性，所有设备测试相同样品的结果相同波长采用NIST校准，测量标准可追溯大触摸彩屏和直观的菜单式操作，仪器操作和读取数据都很方便分析快速安全，使用者只需要选择分析的谷物类型，倒入样品分析即可，无需进一步的人为设置和修改保修期和售后服务承诺自安装调试结束之日起一个月后计算，保修期12个月。为用户终身免费提供技术支持，协助方法开发以及针对特定产品的整体技术服务。安装调试、维修和保养服务安装调试：所购佩克昂产品的客户，佩克昂技术支持部将根据合同约定的安装调试时间，在客户具备安装调试环境及条件的基础之上，24小时内安排工程师为客户提供安装调试服务。安装调试内容主要包括：在用户实验室免费安装、培训，人员数量用户安排决定。培训内容：仪器的使用、日常维护保养、安全注意事项。安装培训后签署验收报告。维修：佩克昂技术支持部自接到客户电话起，能解答的问题当场电话指导用户如何解决，如需详细解答操作中遇到的问题，技术支持部将在12小时内做出书面答复。对于疑难问题，确保24小时内提出解决方案。如有必要上门提供服务，我公司将派出技术支持部工程师，在24小时内到达现场。对于不能维修的故障，更换损坏的配件，直到达到仪器最佳的工作状态。技术支持：提供贴心专业的技术支持，根据用户特定样品免费提供或协助客户开发试验方法。全国24小时客服热线：4008 055 000

近红外食品分析仪/进口食品分析仪/食品分析仪/近红外谷物分析仪/进口谷物分析仪/进口近红外食品分析仪 Series 3000近红外食品分析仪是一款近红外透射分光光度计， 在1分钟内即可测得肉类，乳制品，生面团，奶粉等样品中的蛋白质，脂肪，水，糖，酒精和其他化合物的含量。 Series 3000近红外食品分析仪使用了一个可旋转的样品测量池来分 一个宽范围的物质原料，颗粒，粉末，液体，泥浆，乳胶，, 薄膜和固体。旋转的样品池在一个宽范围区域上收集了NIT 光谱，然后平均这些光谱，给出更准确的结果。样品能被 装载到Lexan器皿或一次性塑料培养皿中。Series 3000食品 分析仪使用了一个触摸屏运行我们的NTAS(近红外技术 分析软件)成套程序。 特点 优点 NIR 透射技术 使用一个仪器即可提供泥浆,面团，洗液，粉末和颗粒, 的测量 宽的光谱范围 720-1100nm 多重要素分析 最佳的PLS 校准 1st 和2nd 衍生的光谱数据 定性和定量分析 无可活动的光学部件 不受震动影响 独立的定向 结实，稳定，小巧 触摸屏 储存校准和预测要素 使用 alpha/数字字母储存结果 RS232 串联端口, USB 储存器 提供了一个上传储存数据到PC或下载校准到仪器的方便方法 旋转的样品池 5mm 样品池 &ndash 粉末 10mm 样品池- 肉类，乳制品，生面团 90mm 直径培养皿支架 小巧机型 空间占用小 技术规格 扫描范围 720-1100nm 像素 38 扫描速度 2-4 seconds 电源 110/240VAC, 19VDC 重量及尺寸 Weight 18.3kg, Dimensions: 355 x 355 x 355mm 应用 肉类 蛋白质，脂肪和水分 乳制品 蛋白质，脂肪，水分和乳糖 生面团 蛋白质，油和水分 甜食 蛋白质，油和水分 冰激凌 脂肪，固体和糖

近红外谷物分析仪澳大利亚NI近红外谷物分析仪，型号CROPSCAN3000B ,近红外谷物分析仪1.主机内置并可以脱离计算机独立完成常规的分析检测、定标校准、数据储存等功能。2.仪器需采用专业的NTAS技术软件，具有光谱采集，光谱数据预处理，建立.bin格式定标等功能 3. 大的液晶显示器160mmx260mm便于操作和观察测试结果，触摸屏控制，自动进行模型选择和成分测量，系统内置STM系统，具有异常值剔除功能。澳大利亚NI近红外谷物分析仪，型号CROPSCAN3000B ,近红外谷物分析仪1.支持.CSV格式的数据出处，以及支持.bin格式的定标文件，便于转移至其它近红外分析仪中。定标算法：PLS偏最小二乘法。移动扫描次数可以进行设置，设置范围1-30 2.支持多种样品模块，可适应各种整粒谷物样品的分析3.无可移动部件的光学系统4.探测器：Si二极管阵列检测器5.像素：38位6.扫描模式：透射采样7.支持RS232以及USB端口进行数据以及定标模型的传输。8.光谱范围：720 nm -1100nm；9.光程自动马达调节，根据模型的不同，自动优先选择8,16,24,30mm光程。自动光程选择，扩展了测量样品的范围。同时满足样品池外部口径采取广口设计，便于均匀采样。10.统具有小麦、大麦、玉米、大豆、燕麦、油菜籽等模型，分析蛋白质含量，水分，油分等11. 重量：12kg 尺寸大小：400×400×330mm