接触式数字厚度计

硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪，能够精确给出衬底厚度和厚度变化 （TTV)，也能实时给出超薄晶圆的厚度（掩膜过程中的晶圆），非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势，诸 多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的，非常容易测量，标准的测量空间分辨率可达50微米，更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法，对晶圆的厚度和表面形貌进行测量，可广泛用于：MEMS， 晶圆，电子器件，膜厚，激光打标雕刻等工序或器件的测量，专业为掩膜，划线的晶圆，粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计，同时，硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件，使用该探针系统后，硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆（植球晶圆），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV，同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness) 和凸点厚度（wafer pump height).，沟槽深度 （trench depth)。

薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪，可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器，可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪，比如标准吸收/透过率，反射率的测量，薄膜的测量，薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件：核心模块----光谱仪；外壳模块----各种精密精美的仪器外壳；工作面积模块----测量工作区域；光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件；测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型，不同光谱范围和光源，满足各种测量应用

specac_迷你等厚度薄膜制样套装 等厚度薄膜制样工具主要用于高分子材料的光谱测定。根据热压制膜原理，所得到样品是纯样品，谱图中只出现样品信息。Specac公司为满足客户的不同需求，提供了3种等厚度薄膜制样工具。不仅可以将较厚的聚合物变成更薄的薄膜，还可以将粒状、块状或板材等不规则形状的聚合物变成可以用光谱检测的薄膜。 视频：http://v.youku.com/v_show/id_XNDg3ODI1OTc2.html 点击观看视频

POINTPROBE-PLUS? ：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，轻敲，探针侧面：铝涂层，xy轴自动校直

uniqprobe?，统一质量的SPM探针，有2，3个不同的三角形悬臂，非接触式/轻敲模式/接触模式探针侧面：部分金涂层PLATINUM SILICIDE：硅化物涂层的非接触式SPM探针(非接触式/轻敲模式)探针针尖为硅化铂(硅化铂反射)Advanced TEC?：AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM硅SPM探针，硅悬臂非接触式/敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层

SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，SUPERSHARPSILICON针尖HIGH ASPECT RATIO：高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1，探针侧面：铝涂层

AKIYAMA-PROBE：Akiyama探针，动态模式原子力显微镜的自感应自动（自激）探针POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：APOINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 特殊类型：A，探针侧面：铝涂层SUPERSHARP SILICON：SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，特殊类型A，SUPERSHARPSILICONTM针尖

目标应用： 半导体薄膜（光刻胶） 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜（光刻胶） ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*（H90+H140）测试支架（配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘）测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm（标配，可以根据用户要求配置）样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标（THICKNESS SPECIFICATION）：产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1（厚度要求）N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量，实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅（500纳米）测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.

产品介绍:泰思泰克透过材料接触传热性测试仪根据ISO12127-2007及EN702设计研发并制造；该仪器通过加热筒在一定载荷下接触试样及热量计，测定一定温度下试样的传热性能；该仪器操作简单，数据准确，安全可靠，广泛应用于消防防护服相关公司及检测部门； 产品型号：TTech-ISO12127符合标准：ISO12127-2007 EN702技术参数1、 该设备由控制箱及不锈钢试验架台构成；2、 试样架自动升降，升降时速度 5mm±0.2mm/s3、 K型铠装热电偶，直径2mm，测温精度0.1℃；4、 加热桶温度大于500℃ 试样接触表面直径25.2±0.05mm5、 加热桶载荷重量 49N，可调节；6、 计时器 计时范围9999s 计时精度0.1s 7、 热量计固定盘直径25mm,厚度5mm 并装配铂电阻温度传感器；8、 支撑架材料为尼龙66；直径40mm 高度50mm 9、 试样直径80mm 10、 PLC 及触摸屏智能控制系统；11、 升温PID智能控制，系统自动采集温度数据；12、 试验数据系统自动计算，自动存储；可自由打印；13、 试验台尺寸：650mm x 350 mm x 650mm14、 电源 220V 50/60Hz, 功率800w

数字式密度计DA-650/DA-645/DA-640 Digital Density Meter 数字式密度计DA-650/DA-645/DA-640 主要特点: 1. 密度计测量精度高，测定速度快，样品量少。2. 自动粘度补正功能，不需输入样品的粘度值。3. 内置进样泵，自动进样、洗净和干燥测量池。4. 高亮度LED背景光源，方便直接观察测量池。5. 平滑接头，不会产生气泡和污染，方便清洗。6. 输入密度和浓度的对照表，换算试样的浓度。7. 可选购进样/清洗装置或多试样自动进样装置。8. 密度计可外接折光仪，同时测定密度和折光率。9. 符合GLP规范，存储测定结果、检查校正纪录。 数字式密度计DA-650/DA-645/DA-640 技术参数: 形式数字式密度计仪器型号DA-650DA-645DA-640测量方法U型振动管法测量范围0～3 g/cm3温度控制范围0～96°C (32～204.8°F) , 内置帕尔贴控温准确度密度±2x10-5 g/cm3±5x10-5 g/cm3±1x10-4 g/cm3温度±0.02°C±0.03°C±0.05°C重复性密度SD: 5x10-6g/cm3SD: 1x10-5 g/cm3SD: 5x10-5 g/cm3解析度密度0.0000010.000010.0001温度0.0010.010.01黏度修正有有有最少样品量1) 约1mL(注射器) 2) 约2mL(自动进样泵)测量时间1) 1～4分钟(手动) 2) 2～10分钟(自动)显示5.7英寸彩色液晶触摸屏, 分辨率640 x480显示密度、比重、相对密度、振动频率、温度、浓度和测量讯息进样方式1) 注射器手动进样2) 使用内置进样泵自动进样测量方法可储存100组不同的测量方法稳定度依据测量精度和时间有四种稳度定模式自动温度补正1) 输入密度对温度表或多项式, 自动换算至需求温度下的密度2) 内置ASTM石油测量表, 自动转换原油、燃料油或润滑油至15°C或60°F的密度自动浓度换算1) 输入密度对浓度表或多项式, 由密度或相对密度自动换算成浓度2) 内置糖度、酒精度、API度、酸碱液浓度换算表, 可自动换算成浓度值 统计计算1) 自动或手动计算平均值、标准差、相对标准差2) 重新计算、数据删除界面1) LAN: 电脑2) USB: U盘、键盘、条码机、打印机3) RS-232C: 打印机、自动进样清洗单元、多样品自动进样器选件1) 打印机: 针式打印机、热敏打印机2) 进样单元: 自动进样清洗单元、多样品自动进样器3) 软件: 数据采集软件数据输出/输入1) 使用U盘储存数据 2) 使用U盘提供应用资料 材质PTFE、硼硅玻璃、SUS304环境条件1) 温度: 5～35°C2) 湿度: 85%RH以下电源AC100～240V, 50Hz/60Hz(AC适配器)功率约40瓦(最大120瓦, 最小20瓦)尺寸320(W) × 362(D) × 272(H)mm重量约18公斤京都电子(KEM)中国分公司 客服热线: 400-820-2557

uniqprobe? ：uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层uniqprobe?接触模式统一质量SPM探针，探针侧面：部分铜涂层PLATINUMSILICIDE：导电硅化物涂层的非接触式/轻敲模式侧面和针尖为硅化铂（硅化铂反射） SPM探针Advanced TECTM：AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铂/铹涂层AdvancedTECTM SPM硅探针，接触式硅悬臂， 探针侧面和针尖：铜涂层

DIAMONDCOATED：金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂， 探针侧面 铝涂层导电金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，长悬臂， 探针侧面 铝涂层

BT-2温湿度计/数字温湿度计/BT-2 数显温度计由上海书培实验设备有限公司为您提供，欢迎联系我们。 相关耗材：BT-2 数字温湿度计/温湿度计272-1干湿球温度计/金属壳干湿球温度计 BT-2 数显温度计产品介绍： BT-2数字显示温度计是工农业生产和科学实验测量空气相对湿度的必备工具，多年来一直是这个领域里面客户最青睐的一款温度计，价格便宜，质量上等。 BT-2 数显温度计功能特点： 两路温度测量，一路湿度测量，超大液晶屏幕，最高、最低温度、湿度记忆及记忆复位，摄氏、华氏转换，时钟及闹钟功能。BT-2 数显温度计技术参数：测量范围：内温：-30℃～+50℃（-22℉～+122℉）外温：-50℃～+70℃（-58℉～+158℉）湿度：20%～99%(RH)分辨率：温度：0.1湿度：1%精度：温度:±1℃湿度：±5%(25℃)电源：DC1.5V7#碱性电池一节（选配）整机尺寸：111×101×21.5(mm)显示尺寸： 81.5×64.5(mm) 适用范围： 适合冷库、仓储、居家、办公等场所使用，物美价廉，小巧方便，是您实验室必备的小东西。

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，特殊型号，探针侧面：短悬臂，探针侧面：铜涂层

产品介绍:泰思泰克防护服火接触传热性测试仪根据ISO9151及EN367设计研发并制造；该仪器在有火源条件下测定防护服的传热性能；该仪器操作简单，数据准确，安全可靠，广泛应用于消防防护服相关公司及检测部门； 产品型号：TTech-EN367符合标准：ISO9151-1995EN367-1992技术参数1、 该设备由控制箱及不锈钢试验架台构成；2、 铜热量计由99% 纯铜制成；直径40mm,厚度1.6mm,重量18g 康铜热电偶；3、 样品支撑架有1.6mm厚铜板制成：尺寸为150mmx150mm，中间开孔为50mm x 50mm 4、 热量计由铝板制成；尺寸为149mm x 149mm；厚度为6mm 中间开孔直径90mm；重量为264±13g 5、 试样支撑架有不锈钢制成；试样距喷灯口距离为50mm 6、 喷灯为进口美克尔喷灯；喷灯口直径38mm±2mm 7、 进口流量调节阀精确调节火焰燃烧热量8、 进口品牌压力表及调压阀；9、 金属隔热板置于喷灯及试样之间，可自由移开；10、 计时器精度0.1s 11、试样尺寸140mmx 140mm 12、配备金属板140mm x 140mm；13、 PLC及触摸屏智能控制系统；实现热量校准更加智能化；系统自动计算热量值；14、系统自动点火，自动计时；15、试验数据系统自动保存和调取，试验报告可自由打印；16、热电偶精度0.1℃；17、试验台尺寸：650mm x 350 mm x 650mm18、电源 220V 50/60Hz,19、工业丙烷：客户自备；

【产品通用名】：无菌接触碟（TSA）用途：用于洁净车间人员和设备表面浮游菌及沉降菌等微生物的测定以及实验室相关微生物指标的测定。检测菌种：金黄色葡萄球菌、枯草芽孢杆菌、铜绿假单胞菌、白色念珠菌、黑曲霉菌产品特点和优势：独家自密闭专利设计的培养皿1、上下皿吻合度高，不易脱离，在转运、培养过程中防止意外暴露，保证数据的完整性。符合新版GMP的原则——避免污染、交叉污染以及混淆差错等风险，保持持续稳定。2.预培养和培养过程中水分不易散失，灵敏度高，避免假阴性，确保了数据的准确性。3、密闭性好，起到很好的隔离效果，从而不易受到外界污染，避免假阳性。4.伽马射线辐照灭菌，避免了用环氧乙烷灭菌残留对培养基成份的破坏及对检测人员的危害。 【培养基原料】1、进口知名品牌BD、Merck 公司的培养基粉，或使用客户指定培养基粉2、品质稳定，灵敏度高，避免了假阴性的出现。3、颗粒小，透光性强，便于产品培养后观察。产品用途：用于设备、车间、人员，包装材料等表面做生物的测定【产品包装】1、外包装——采用高强度优质纸箱。2、内包装——采用三层包装。①三层均采用高品质的真空复合袋。②贴有辐照灭菌指示标签、产品标签。③可根据客户需求添加呼吸袋、密实袋或封口袋，方便采样和收集。 【产品无菌保障】培养平皿——底部印有产品的生产批号、生产日期、有效期。一重保障：自制空皿预先经过伽马射线辐照灭菌二重保障：培养基溶液湿热灭菌。三重保障：百级环境下无菌灌装。四重保障：成品培养基伽马射线辐照灭菌。五重保障：成品全部经过30～35℃48小时预培养，再进行一次全检方可出库。【仓储及物流】储存条件：2～25℃避光存放。物流：2～3天，可提供冷链运输方式。包装规格： 55mm:10皿/包30包/箱有效期：自辐照之日起6个月 联系人：曹经理 13533467655

HIGH ASPECT RATIO：高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比≥ 5:1 倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 5:1，倾斜补偿为13°高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比≥ 10:1 倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 10:1，倾斜补偿为13°高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 5:1，探针侧面：铝涂层倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 5:1，倾斜补偿为13°，探针侧面：铝涂层高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖， 纵横比 ≥ 10:1，探针侧面：铝涂层倾斜补偿高纵横比探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式，高纵横比针尖，纵横比 ≥ 10:1，倾斜补偿为13°，探针侧面：铝涂层DIAMONDCOATED ：金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 探针侧面：铝涂层导电金刚石涂层探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式， 探针侧面：铝涂层

PPP ROTATED：POINTPROBE?SPM加硅探针，接触式硅悬臂，针尖旋转180度，探针侧面：铝涂层3PLATEAU：SPM探针针尖最高点的材质为硅，接触式硅悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅，接触式硅悬臂，探针侧面：铝涂层

POINTPROBE-PLUS? ：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铂/铹涂层，针尖/铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铜涂层PLATEAU：SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 ，长悬臂，探针侧面：铝涂层TIPLESS：小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术

Thorlabs提供一系列精密盖玻片、显微镜载玻片和荧光载玻片(见右表)，适合高性能的成像应用，比如全内反射荧光(TIRF)显微、活细胞成像和生物化学应用。精密盖玻片盖玻片由Schott D 263® M玻璃制造，这种玻璃具有透明、无色、低自发荧光的特性。#1.5H盖玻片经过精密加工，具有170 ± 5 µ m的均匀厚度，能够最大程度地减少因球面像差引起的图像缺陷；我们提供方形、矩形和圆形的版本。#0盖玻片经过研磨，厚度变得非常薄，处于85 - 115 µ m之间，适用于弱荧光或厚样品；它有方形和矩形的版本。精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)精密盖玻片，厚度#1.5H(170 µ m)，公差±5 µ m推荐与高数值孔径的物镜配合使用提供方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)版本Thorlabs的精密盖玻片经过研磨，达到170 ± 5 µ m的均匀厚度。它们由Schott D 263® M玻璃制成，这是一种透明、无色、具有低自发荧光特性的玻璃。均匀的厚度和一致的光学特性减少了由球面像差造成的图像缺陷(详情请看规格标签)。因此，这些盖玻片非常适于与高数值孔径的物镜配合使用。 这些盖玻片有方形(22 mm x 22 mm)、矩形(24 mm x 50 mm)和圆形(Ø 12 mm和Ø 25 mm)的版本。请注意，Ø 12 mm盖玻片无法与MS15C1和MS15C2样品腔载玻片一起使用。

高增益不接触式破碎探头 必能信高增益不接触式破碎探头采用封闭式、不接触样品处理方法进行破碎，样品放在玻璃试管或其他密封的容器里，从而避免了探头的直接接触。 凹型漏斗式的特殊设计使探头产生高强度的空穴效应，从而作用于需处理的样品中，形成强有力的破碎效果。 这种设计不仅能破碎多种细胞，也可进行多种前处理，如：乳化、分散、脂质体的制备、均质、脱气等。 典型运用： 血液化学 脂质体制备前处理 药片的分散、溶解 HPLC前脱气 颜料的分散 悬浮液的均质 易传染性样品的前处理

PLATEAU:SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 SPM探针针尖最高点的材质为硅，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层 TIPLESS:小针尖硅悬臂基于POINTPROBE?的技术SUPERSHARP SILICON:SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖SUPERSHARPSILICONTM-SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式SUPERSHARPSILICONTM 针尖

带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪特点和优势：以°C或°F的形式显示热量测定读数简单的点射红外技术可通过口袋大小的仪器而实现特别适合用来确认仪器热量测试值，其中包括GC进样端口和检测器测定值、恒温LC瓶以及酶水解浴规格型号MiniTemp MT温度范围-18至400°C（0 - 750 °F）间距与光斑大小之比（D:S）8:1响应时间500 m/sec发射率预设为0.95准确度±2%或±2°C（±3 °F）（以准确度更高的数值为准）与目标光斑的典型距离不超过1.5 m（4 ft）激光对准与否是受欢迎的MiniTemp MT4也具有用以辅助瞄准的单点激光对准功能。本品附带9伏电池。不需要进行再校准。带激光瞄准功能的MiniTemp MT4非接触式温度测量仪订货信息：产品描述部件编号MiniTemp MT4N9306074基础工具包产品描述部件编号装在工具箱中以便于储存和使用的工具N9301327本品包括：开口扳手套装（6件）、螺丝刀套装（6件）、可调式扳手（6英寸）、链用钳（窄）、剪钳和剥线器。豪华工具包产品描述部件编号运输时装在一个塑料工具箱内以便于储存N9301328本品包括：开口扳手套装（6件）、螺丝刀套装（6件）、可调式扳手（6英寸）、链用钳（窄）、剪钳、剥线器、滑动接口钳（6英寸）、5号长鼻不锈钢镊子（4-3/8英寸）、针式锉刀套装（6件）、艾伦扳手套装（11件、英制规格）和艾伦扳手套装（9件、公制规格）。

一次性无菌培养基接触碟无菌包装，操作简单，使用方便。γ射线灭菌，无有毒有害物质残留。选用美国OXOID和英国BD培养基，品质保证。三层真空包装，延长保质期。高精度蠕动泵灌装，重复性好。节省人工成本，使用成本低，效率高。 用于洁净厂房表面微生物的取样。用于医院手术室墙壁和无菌衣的表面取样。用于机械设备表面微生物的取样。用于无菌服装表面微生物取样。用于手袖套表面微生物取样。

HL-6326土壤PH/湿度检测仪 土壤酸碱度湿度检测仪 本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度. 土壤酸度计技术参数： PH范围：3-8 PH；水分范围：1-8% PH精度：± 0.2PH；水分精度：± 1% 环境温度：5-50℃ 可测深度：2-30cm 使用方法: 第一次使用时, 把探头在土里插几次, 去掉上面的油和杂质, 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里, 大约10分钟后读取PH值, 按下旁边的白色按钮, 仪表将显示水份. 使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极 不要将仪器和磁性材料放在一起, 不要一直放在土壤里超过1小时.用完后把电极洗干净. 如何测量湿度 1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系； 2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果； 3．读取结果； 4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障； 5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。 如何读取结果 1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。 2．浇灌次数（参考说明书）： &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3．特殊水分要求 以下数字代表： i 每天向叶面洒水； ii 不要让土壤变干； iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿； iv 土壤应始终保持湿润； v 在浇灌间隙可令土壤变干； vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干； vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量； viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。 如何测量土壤pH值 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水） 为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。 3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。 4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好； 5．等待60秒后读取数据。 6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据 7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面； - 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净； - 应使探棒远离其他金属物质； 此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤） * 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态（仅限于盆栽土壤） * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒

HTC-1温湿度计/温湿度计/HTC-1 数字显示温度计由上海书培实验设备有限公司为您提供，欢迎联系我们。 相关耗材：BT-2 数字温湿度计/温湿度计272-1干湿球温度计/金属壳干湿球温度计 HTC-1温湿度计产品介绍与技术参数：大屏幕显示温湿度计温度测量范围：-50℃～70℃（23°F-122°F）/-10℃～50℃温度测量准确度：＋1℃（1.8F）相对温度测量范围：10%-99%KH外形尺寸：111mm×108mm×23mm送电池一个 HTC-1温湿度计特点：一：C/F温度显示：时钟及日历显示。二：整点报时及每日闹钟功能。三：MAX/MIN温湿度计忆功能。

锡箔纸SA999902 直径35mm 厚度0.010mm100片/盒 Tin disc 35 mmthickness 0.010 mm | 100/pack OEM equivalent parts:Thermo 252 08018

POINTPROBE-PLUS?：POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铂/铹涂层，针尖：铂/铹涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面和针尖：铜涂层POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铜涂层POINTPROBE-PLUS?:POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 探针侧面：铝涂层，XY轴自动对齐POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 超高压应用程序高质量因素，探针侧面：铝涂层PPPROTATED:POINTPROBE?-加硅SPM探针，硅悬臂非接触式 /敲击模式 针尖旋转180度，探针侧面：铝涂层

2i是现在最先进的，创新的，用户界面友好的便携式气溶胶数字光度计。非常轻便，理想的用于现场检测过滤系统完整性的仪器。新型的2i的扫描探头可以提供主机的全部操作功能。 创新的用户界面2i主机采用4.3英寸的LCD,用主题驱动型界面，容易使用。气溶胶的测量，真空泵的取样速度在LCD上都有明显的显示，很容易看到 同时选择的报警类型，报警点，选择的气溶胶原液，显示在LCD下面的菜单上 在LCD顶部显示有连接状态的，报告类型，和减噪等参数。 iProbe 扫描探头扫描头iProbe通过电路连接来作为一个主机的延伸，所有主机的状态，选择的图标都在iProbe上显示，通过按键还可以编辑测试位置。 数据报告2i 有三个独立的报告功能，Continuous连续模式提供与以前ATI光度计相同地输出以确保能向后兼容 Monitoring监控模式由用户设定的时间间隔下长时间的取样 Summary小结模式将给出实际的报告，包括过滤器位置等内容可通过热敏打印机输出以便客户保存。 性能保证确保在所有的应用和海拔下能得到一致性的结果，取样流速用高精度的脉冲幅度模块来控制泵 2i 已被独立的测试和验证，以符合电子和安全标准要求。 2i Portable Photometer Specifications2i便携式数字光度计规格大小: 25.7 cm × 33.0 cm × 15.2 cm重量:21.8Kg，其中主机8.6Kg电源:100-250V，50/60Hz ，0.25 amps @ 240V自动归零: 启动时自动零读数报警: 超过设置点时，有声音、视觉和震动报警流速控制: 宽脉冲调节能使流速控制在1cfm (28.3lpm) +/- 10%气溶胶设置: PAO-4, DOP, Ondina, PEG, Krydol, Corn Oil, Mineral Oil, Paraffin动态范围: 最高到600微克/升灵敏度: 读数的1%（读数在0.01% 到100%之间）重复性: 读数的0.5%（读数在0.01% 到100%之间）光源: 稳定的固态光源数据输出: USB报告: 连续、摘要和监控模式打印机附件: 热敏打印机提供摘要报告和端口

HL-6321土壤湿度/酸度检测仪 二合一园艺检测仪本款仪器是园艺的好帮手,可以测试土壤的PH值(酸碱度),土壤湿度无需电池. 使用方法: 测土壤PH值和湿度时,先将探头尽量深地插到土里,探头上面部分留大约1厘米. 拨动笔上的按键到MOIST, MOIST是水份键,对应表上的是MOIST, DRY是干, WET是湿,数值1-3(红色部分)说明需要浇水, 4-7(绿色部分)是合适的,请根据植物的品种调整浇水时间, 8-10(蓝色部分)说明太湿了. 拨动笔上的按键到PH, PH是酸碱度键,对应表上的是8-3.5数值, ALKALINE是碱, ACDIC是酸,数值7基本是中性,数越小说明酸度越大,请根据植物的品种调整土壤酸碱度.使用时注意插电极时不能碰到石头,不要用力过猛,否则容易伤害电极.用完后把电极洗干净. 如何使用你的土壤pH值分析计 1. 先移去被测土壤表土约5厘米；然后向下将土壤捣碎至13厘米深。并清理土壤中一切会影响测试结果的有机杂质，如叶子、根系等；将土壤用水浸透，调匀成泥状。（最好使用雨水） 为了达到较准确的分析结果，你可以从被测土壤中采集一部分土，清除石子及有机碎屑物，然后把土壤碾碎成粉末状，并从中取出2杯的样土；准备一个干净的玻璃或塑料容器，倒入2杯蒸馏水或去离子水，再加入样土，搅拌使他们充分混合并压实，倒掉多余的水。 2. 使用购买时随附的清洁棉擦拭探棒约10-12厘米。应小心避免探头接触其它金属表面；再使用棉制品或纸将探棒抹净，每次应从探头擦至探棒尾部。 3．将探棒垂直插入湿润的土壤约10-12厘米深；若探棒不容易插入，请换一个新位置重试。任何情况下都不应强行插入探棒，以免损伤探头。 4．在指间按顺时针、逆时针方向转动探棒若干次，确认潮湿的土壤表土已在探棒周围分布好； 5．等待60秒后读取数据。 6．如果测试结果大于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。擦拭探棒后，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。 在指间转动探棒2-3次，30秒后读取数据 7．如果测试结果小于pH 7：从土中拔出探棒，擦掉探棒表面的土壤颗粒。不要擦拭探棒，将其重新插入土壤中新的位置再测试一次。在指间转动探棒2-3次，60秒后读取数据。 仪器注意事项 - 探棒插在土壤中的时间不宜过长，以免损坏探棒金属表面； - 确认在存放仪器前，探棒应干燥、干净； - 应使探棒远离其他金属物质； 此仪器只用于测试土壤，请不要将探棒插入水中。 问题及解决方法 指针摇摆不定 * 石子或有机质影响仪器电极 * 土壤样土未完全压实（盆栽和重量较轻的土壤） * 清洁探棒后，有金属颗粒附着探棒 * 土壤在探棒周围分布不均匀 * 探棒距盆壁或盆底过近 * 测试时间离重新装土入盆的时间太近 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 指针迟钝或没有反映 * 需要清洁探棒 * 样土过干 * 探棒受损 极端pH值状态（仅限于盆栽土壤） * 因过量施肥而带来的养分增加 * 探棒贴近肥料棒或肥料颗粒 如何测量湿度 1．将探棒尽量垂直插入被测土壤中。在测试盆栽植物土壤时，不要使探棒离植物过近，以免伤及植物根系； 2．在探棒插入被测土壤的过程中，你会发现刻度盘内指针所指位置不稳定，这是因土壤湿度不均匀所至。所以请测试两遍以最终确定结果； 3．读取结果； 4．将探棒从被测土壤中取出，请不要拉、拽白色连接线，以免使用时出现接触不良等故障； 5．用棉布将探棒完全擦净，以备下次使用。 如何读取结果 1．湿度标度尺上的数字1-10代表湿度的逐渐递增。没有任何植物可以长时间在1和10代表的两种湿度环境下正常生长。在附表中为您提供了所列植物的湿度环境要求。如果所测结果高于表中规定要求，在此情况下您不需继续浇水；若结果低于规定要求，提醒您应立即浇水。 2．浇灌次数（参考说明书）： &mdash * 1周需检查一次 &mdash ** 每4到5天需检查一次 &mdash *** 3天需检查一次仪器读数表 3．特殊水分要求 以下数字代表： i 每天向叶面洒水； ii 不要让土壤变干； iii 保持土壤湿润，但不应过于潮湿； iv 土壤应始终保持湿润； v 在浇灌间隙可令土壤变干； vi 在浇灌前4到5天应使土壤变干； vii 在植物休眠期间应逐渐减少施水量； viii 将水倒入盆栽托盘中；不需洒水在叶子表面。