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分辨率线阵探测器

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分辨率线阵探测器相关的耗材

  • SiLi探测器
    SiLi探测器是专业为X射线分析和探测而设计的一种电子制冷的硅锂探测器,不需要液氮制冷,因此可随时便携到现场使用,SiLi探测器非常适合各种X射线荧光分析仪,X射线光谱仪和X射线衍射仪等使用。 SiLi探测器产品特色: 不需要液氮冷却     高能量分辨率 超薄铍窗       任何空间方位都可探测 断电后的自动重启  长期持续工作能力 轻质紧凑设计,方便携带 硅锂探测器组成 SiLi探测器 气体连线 SiLi探测器参数 能量范围:1-60KeV 探测单元面积:20mm2 (可根据用户要求提供60mm^2面积的探测单元面积) 能量分辨率:能量为5.9keV时的分辨率: ■ 16μs的成峰时间:138keV ■ 1μs的成峰时间:268keV ■ 记数率为105cps,成峰时间1μs:275keV 峰值/背景比:4000 制冷时间:3小时 工作模式:连续工作 环境温度:-5~38摄氏度 探测单元尺寸重量:80x135x150mm, 1.8kg 压缩器尺寸重量:140x160x300mm, 7.5kg 功耗:60W 电源要求:200V AC, 50Hz http://www.f-lab.cn/radiation-detectors/sili.html
  • CdZnTe探测器
    这款CdZnTe探测器是专业为伽玛射线探测而设计的一种电子制冷的碲锌镉探测器,不需要液氮制冷。 非常适合各种伽玛射线探测使用,是理想的伽玛射线探测器。CdZnTe探测器产品特色: 不需要液氮冷却 CdZnTe探测器可更换数字脉冲处理高能分辨率高效率USB供电     更多伽玛线探测器,CdZnTe探测器碲锌镉探测器参数能量范围:20Kev-3MeV能量分辨率:   2.5%@662KeV, μSPEC60, μSPEC500 最大测量量:100kcps尺寸:25x25x70mm功耗:80g电源要求:USB供电,5.25V, 100mA
  • HR4000高分辨率光谱仪
    HR4000高分辨率光谱仪我们的新一代的高分辨率光谱仪,是全新的光学和电子学器件组合。适合应用于激光特征分析,气体吸光度测量和确定原子散射线等领域。HR4000配有全新的Toshiba3648像素CCD阵列探测器,光学分辨率可达0.2 nm(FWHM)。特点: 高分辨率,最高分辨率可达0.02nm(FWHM) 电子快门避免饱和度问题 板载微控制器 即插即用USB接口 光学平台 采样附件光谱分辨率(FWFM)可达0.02nmHR4000是我们新一代高分辨率的光谱仪,它采用了Toshiba的3648像元的线阵CCD,光学分辨率可达0.02nm(FWHM)。HR4000光谱范围为200-1100nm,具体的光谱范围和分辨率配置取决于实际光栅和狭缝的选择。HR4000适用于激光测量、气体吸收测量以及原子辐射线的测量等领域。电子快门避免饱和度问题软件中积分时间的可由用户设定,它类似于一个照相机的快门速度:积分时间值即是探测器“察看”所进入光子的总体时间。因为,Toshiba探测器有一个电子快门,你可通过软件设定最小积分时间到3.8毫秒,这样就允许你可以测量像激光脉冲如此短暂的事件。使光谱仪的积分时间缩短的能力也消除了在高光水平应用领域如激光分析的饱和度问题。 板载微控制器 HR4000的板载微控制器使得对光谱仪的控制非常方便。通过一个30针的连接器,您可以在软件中设置所有的光谱仪操作参数:控制光源、操作进程以及从外部对象获取信息等。配备有10个用于外部设备接口的用户可编程I/O端口、一个模拟输入和一个模拟输出接口,以及一个用于触发其它设备的脉冲发生器。 即插即用USB HR4000通过USB2.0或RS-232串口和PC、PLC或其它嵌入式系统相连。在串口模式下,HR4000需要额外的5伏供电电源(不包含在产品中)。每台光谱仪特有的参数被编程存储在系统的内存芯片中,可以非常方便地被光谱仪操作软件读取。光学平台 用户通常要求光谱仪可以适合他们的特殊需要,所以HR4000光谱仪可以根据您的应用需要配置光学平台。您可以选择狭缝尺寸,探测器,滤光片和光栅等。 采样附件 HR4-BREAKOUT 是一个被动模块,提供HR2000+不同功能的接口。BREAKOUT盒可与多种与光谱仪的连接如:外触发器、GPIO、光源、RS-232和模拟输入/输出。 Specifications
  • 硅漂移探测器
    这款硅漂移探测器(SDD,Silicon Drift Detector)专业为XRF光谱仪和SEM扫描电镜EDS能谱仪探测器应用而设计,提供窗口材料的选择,从铍(8μm)到薄型聚合物(用于轻型X射线透射),并提供10mm2至60mm2的传感器有源区域。 此外,所有或我们的SEM SDD版本都是无振动的。硅漂移探测器在与创新的基于以太网的数字脉冲处理器相结合时得到优化。 具体配置给每个客户,SDD硅漂移探测器在广泛的输入计数率下提供卓越和稳定的性能,以产生快速X射线图。硅漂移探测器规格 SDD探测器典型特征 传感器区域 窗口选项 分辨率eV(Mn K / C) 10mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤123-133 30mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤126-133 60mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤126-133 100mm2 光元件(AP3.3)或8μmBe ≤128-133
  • SiLi探测器配件
    SiLi探测器配件是专业为X射线分析和探测而设计的一种电子制冷的硅锂探测器,不需要液氮制冷,因此可随时便携到现场使用。 SiLi探测器配件特色不需要液氮冷却     高能量分辨率 超薄铍窗 非常适合各种X射线荧光分析仪等使用      任何空间方位都可探测 断电后的自动重启  长期持续工作能力 轻质紧凑设计,方便携带 硅锂探测器组成 SiLi探测器 气体连线 SiLi探测器配件参数能量范围:1-60KeV 探测单元面积:20mm2 (可根据用户要求提供60mm^2面积的探测单元面积) 能量分辨率:能量为5.9keV时的分辨率: ■ 16μs的成峰时间:138keV ■ 1μs的成峰时间:268keV ■ 记数率为105cps,成峰时间1μs:275keV 峰值/背景比:4000 制冷时间:3小时 工作模式:连续工作 环境温度:-5~38摄氏度 探测单元尺寸重量:80x135x150mm, 1.8kg 压缩器尺寸重量:140x160x300mm, 7.5kg 功耗:60W 电源要求:200V AC, 50Hz
  • SpotOn CCD高分辨率位敏探测系统
    SpotOn CCD高分辨率位敏探测系统筱晓光子供应SpotOn CCD高分辨率位敏探测系统,光谱范围190-1550nm 、位置精度5um、可同时测量3束激光。该系列高分辨率位敏探测系统用于测量:激光中心及位移的测量、激光光束准直、光纤光学品质监控、平面度及准直性的校准、振动及缺陷的监控。ModelDescriptions SPOTCCD-VIS-USBSystem with USB interface, camera for VIS range 350-1100nmSPOTCCD-VIS-PCISystem with PCI interface, camera for VIS range 350-1100nmSPOTCCD-UV-USBSystem with USB interface, camera for VIS range 190-1100nmSPOTCCD-UV-PCISystem with PCI interface, camera for VIS range 190-1100nmSPOTCCD-IR1310-USBSystem with USB interface, camera for 350-1310nmSPOTCCD-IR1310-PCISystem with PCI interface, camera for 350-1310nmSPOTCCD-IR1550-USBSystem with USB interface, camera for1550nm±50nmSPOTCCD-IR1550-PCISystem with PCI interface, camera for 1550nm±50nm
  • HPGe探测器配件
    HPGe探测器配件是专业为X射线和伽玛射线探测而设计的一种电子制冷的高纯锗探测器,不需要液氮制冷,非常适合各种伽玛射线和X射线探测使用,是理想的伽玛射线探测器。 HPGe探测器配件特色不需要液氮冷却          任何空间方位都可探测 断电后的自动重启长时间持续工作能力 轻质紧凑设计高纯锗探测器配件: 探测部分:低温恒温器,高纯锗晶体,温度传感器,热交换器 气体压缩器制冷系统 高压气管 能谱仪器件 仿真分析软件 高纯锗探测器配件参数能量范围:40-3000KeV HPGe探测器效率:30% 能量分辨率: 0.9keV@122KeV, 1.9Kev@1.33MeV 探测单元尺寸重量:Dia114x350mm, 2.9kg 压缩器尺寸重量:445x357x281mm, 31.8kg 功耗:570W 电源要求:220V AC, 50Hz
  • HPGe探测器
    HPGe探测器是专业为X射线和伽玛射线探测而设计的一种电子制冷的高纯锗探测器,不需要液氮制冷,HPGe探测器非常适合各种伽玛射线和X射线探测使用,是理想的伽玛射线探测器。 HPGe探测器特色: 不需要液氮冷却          任何空间方位都可探测 断电后的自动重启  长时间持续工作能力 轻质紧凑设计 高纯锗探测器组成: 探测部分:低温恒温器,高纯锗晶体,温度传感器,热交换器 气体压缩器制冷系统 高压气管 能谱仪器件 仿真分析软件 高纯锗探测器参数: 能量范围:40-3000KeV HPGe探测器效率:30% 能量分辨率: 0.9keV@122KeV, 1.9Kev@1.33MeV 探测单元尺寸重量:Dia114x350mm, 2.9kg 压缩器尺寸重量:445x357x281mm, 31.8kg 功耗:570W 电源要求:220V AC, 50Hz http://www.f-lab.cn/radiation-detectors/hpge.html
  • AMPTEK X射线探测器FASTSDD大面积探测器 X光探测器
    匠心艺术之作70mm2 FAST SDD Amptek最新研发了一款TO-8封装的70mm2 FAST SDD探测器。它的封装和Amptek其他所有探测器封装一样。这样使得70mm2 FAST SDD成为非常方便的替代品。在同样性能下,计数率是25mm2SDD探测器的3倍。特性 l 70mm2有效面积准直到50mm2l 123ev FWHM @5.9keVl 计数率2,000,000cpsl 高峰背比-26000:1l 前置放大器上升时间60nsl 窗口:Be(0.5mil) 12.5um或C2(Si3N4)l 抗辐射l 探头晶体厚度500uml TO-8封装l 制冷ΔT 85Kl 内置多层准直器 应用l 超快台式和手持XRF光谱仪l SEM中EDS系统的样品扫描或测绘样品l 在线过程控制l X射线分拣机l OEM FASTSDD-70规格参数 通用探头类型硅漂移探头(SDD)探头大小70mm2准直到50mm2硅晶体厚度500um5.9keV处55Fe能量分辨率峰化时间4us时,分辨率为123-135eV峰背比20000:1(5.9keV与1keV计数比)探头窗口Be:0.5mil(12.5um)或C2(Si3N4)准直器内部多层准直器电荷灵敏前置放大器CMOS增益稳定性20ppm/℃外壳尺寸XR-100FastSDD-703.00 x 1.75 x 1.13 in (7.6 x 4.4 x 2.9 cm)重量XR-100FastSDD-704.4盎司(125g)总功率XR-100FastSDD-702W质保期1年使用寿命取决于实际使用情况,一般5-10年仓储和物流长期存放:干燥环境下10年以上仓储和物流:-40℃到+85℃,10%到90%湿度,无凝结工作条件-35℃到+80℃TUV 认证认证编号:CU 72101153 01检测于:UL61010-1:2009 R10.08 CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1输入前放电源 XR-100FastSDD-70 OEM 配置±8V@15mA,峰值噪声不超过50mV。 PA210/PA230或X-123:±5V探头电源 XR-100FastSDD-70-100到-180V@25uA,非常稳定,变化0.1%制冷电源电流电压 最大450mA最大3.5V,峰值噪声100mV注: XR-100FastSDD-70包含它自身的温度控制器输出前放灵敏度 极性输出上升时间反馈 典型的3.6mV/keV(不同的探头灵敏度不同)正输出信号(最大1KΩ负载)60ns复位型温度监控灵敏度根据配置不同而变化当使用PX5,DP5,或X-123时,直接通过软件读取开尔文温度 FastSDD-70 探头可用于Amptek所有的配置中
  • 混合像元探测器
    这款混合像元探测器是全球领先的基于Medipix2/Timepix technology技术的像素探测器,它能够实现零背景噪音成像,非常适合粒子追踪和X射线成像等应用。由位于瑞士的欧洲核子研究组织CERN的17个研究所75个科学家联合研究完成。 这款混合像元探测器采用世界领先的无界Medipix2/Timepix芯片传感器 (CERN),仅仅2平方分米的尺寸,具有一流的读取电路,提出最佳性能。统的CCD或CMOS成像技术以模拟方式积分入射辐射能量的总和进行成像,而这款探测器数字化单光子计数入射光子或粒子,直接转换成可探测的电信号被进一步处理,这种技术不仅实现零噪音成像,而且实现超高亮度和锐度的图像。 致电离辐射探测需要对CCD或CMOS相机探测器配备闪烁材料做成的荧光屏,这种结构的探测器在分辨率,灵敏度和帧频等指标上存在限制。这种革命性的辐射成像探测器就克服了诸多限制,它提供256x256个像素阵列,单个像素可达55x55微米,可当个像素成像,具有如下工作模式:单光子计数模式:当个像素每秒记录高达100000光子数(100000cps).整个探测器的计数能力高达65亿cps,而且能量阈值可以设定。能量模式(TOT):每个像素测量单个光子能量,非常适合全谱X射线成像和辐射监测,不仅可以对辐射粒子的轨迹成像,还可以测量粒子能量,非常适合辐射监测,因为粒子轨迹的形状对于不同辐射类型而言是独特的,这种技术也颠覆了现在辐射监测的方法。 到达时间模式(TOA)单个像素计算入射时间,非常适合辐射粒子追踪和时间飞行测量。 产品特点 高对比度高动态范围无噪音实时监测256x256像素单光子计数阵列传感器面积14.1x14.1mm^2单个像素55um超大面积 产品应用天文学,粒子物理,医学成像,光谱成像,粒子追踪,电子显微镜,无损检测,质谱学,X射线成像,X射线衍射,X射线荧光光谱
  • Timepix 探测器
    这款单光子计数探测器是使用Medipix2技术和Timepix技术的单光子探测器,是全球领先的基于Medipix2/Timepix technology技术的像素探测器,它能够实现零背景噪音成像,非常适合粒子追踪和X射线成像等应用。由位于瑞士的欧洲核子研究组织CERN的17个研究所75个科学家联合研究完成。 这款单光子技术探测器,单光子探测器采用世界领先的无界Medipix2/Timepix芯片传感器 (CERN),仅仅2平方分米的尺寸,具有一流的读取电路,提出最佳性能。统的CCD或CMOS成像技术以模拟方式积分入射辐射能量的总和进行成像,而这款探测器数字化单光子计数入射光子或粒子,直接转换成可探测的电信号被进一步处理,这种技术不仅实现零噪音成像,而且实现超高亮度和锐度的图像。 致电离辐射探测需要对CCD或CMOS相机探测器配备闪烁材料做成的荧光屏,这种结构的探测器在分辨率,灵敏度和帧频等指标上存在限制。这种革命性的辐射成像探测器就克服了诸多限制,它提供256x256个像素阵列,单个像素可达55x55微米,可当个像素成像,具有如下工作模式:单光子计数模式:当个像素每秒记录高达100000光子数(100000cps).整个探测器的计数能力高达65亿cps,而且能量阈值可以设定。能量模式(TOT):每个像素测量单个光子能量,非常适合全谱X射线成像和辐射监测,不仅可以对辐射粒子的轨迹成像,还可以测量粒子能量,非常适合辐射监测,因为粒子轨迹的形状对于不同辐射类型而言是独特的,这种技术也颠覆了现在辐射监测的方法。 到达时间模式(TOA)单个像素计算入射时间,非常适合辐射粒子追踪和时间飞行测量。 产品特点 高对比度高动态范围无噪音实时监测256x256像素单光子计数阵列传感器面积14.1x14.1mm^2单个像素55um超大面积 单光子探测器产品应用天文学,粒子物理,医学成像,光谱成像,粒子追踪,电子显微镜,无损检测,质谱学,X射线成像,X射线衍射,X射线荧光光谱
  • Timepix 探测器 pixel text
    这款Timepix探测器是使用Timepix技术的混合像元探测器,是全球领先的基于Medipix2/Timepix technology技术的像素探测器,它能够实现零背景噪音成像,非常适合粒子追踪和X射线成像等应用。由位于瑞士的欧洲核子研究组织CERN的17个研究所75个科学家联合研究完成。 这款Timepix探测器,混合像元探测器采用世界领先的无界Medipix2/Timepix芯片传感器 (CERN),仅仅2平方分米的尺寸,具有一流的读取电路,提出最佳性能。统的CCD或CMOS成像技术以模拟方式积分入射辐射能量的总和进行成像,而这款探测器数字化单光子计数入射光子或粒子,直接转换成可探测的电信号被进一步处理,这种技术不仅实现零噪音成像,而且实现超高亮度和锐度的图像。 致电离辐射探测需要对CCD或CMOS相机探测器配备闪烁材料做成的荧光屏,这种结构的探测器在分辨率,灵敏度和帧频等指标上存在限制。这种革命性的辐射成像探测器就克服了诸多限制,它提供256x256个像素阵列,单个像素可达55x55微米,可当个像素成像,具有如下工作模式:单光子计数模式:当个像素每秒记录高达100000光子数(100000cps).整个探测器的计数能力高达65亿cps,而且能量阈值可以设定。能量模式(TOT):每个像素测量单个光子能量,非常适合全谱X射线成像和辐射监测,不仅可以对辐射粒子的轨迹成像,还可以测量粒子能量,非常适合辐射监测,因为粒子轨迹的形状对于不同辐射类型而言是独特的,这种技术也颠覆了现在辐射监测的方法。 到达时间模式(TOA)单个像素计算入射时间,非常适合辐射粒子追踪和时间飞行测量。 产品特点 高对比度高动态范围无噪音实时监测256x256像素单光子计数阵列传感器面积14.1x14.1mm^2单个像素55um超大面积 Timepix产品应用天文学,粒子物理,医学成像,光谱成像,粒子追踪,电子显微镜,无损检测,质谱学,X射线成像,X射线衍射,X射线荧光光谱
  • Medipix2探测器
    这款Medipix2探测器是使用Medipix2技术的混合像元探测器,是全球领先的基于Medipix2/Timepix technology技术的像素探测器,它能够实现零背景噪音成像,非常适合粒子追踪和X射线成像等应用。由位于瑞士的欧洲核子研究组织CERN的17个研究所75个科学家联合研究完成。 这款Medipix2探测器,混合像元探测器采用世界领先的无界Medipix2/Timepix芯片传感器 (CERN),仅仅2平方分米的尺寸,具有一流的读取电路,提出最佳性能。统的CCD或CMOS成像技术以模拟方式积分入射辐射能量的总和进行成像,而这款探测器数字化单光子计数入射光子或粒子,直接转换成可探测的电信号被进一步处理,这种技术不仅实现零噪音成像,而且实现超高亮度和锐度的图像。 致电离辐射探测需要对CCD或CMOS相机探测器配备闪烁材料做成的荧光屏,这种结构的探测器在分辨率,灵敏度和帧频等指标上存在限制。这种革命性的辐射成像探测器就克服了诸多限制,它提供256x256个像素阵列,单个像素可达55x55微米,可当个像素成像,具有如下工作模式:单光子计数模式:当个像素每秒记录高达100000光子数(100000cps).整个探测器的计数能力高达65亿cps,而且能量阈值可以设定。能量模式(TOT):每个像素测量单个光子能量,非常适合全谱X射线成像和辐射监测,不仅可以对辐射粒子的轨迹成像,还可以测量粒子能量,非常适合辐射监测,因为粒子轨迹的形状对于不同辐射类型而言是独特的,这种技术也颠覆了现在辐射监测的方法。 到达时间模式(TOA)单个像素计算入射时间,非常适合辐射粒子追踪和时间飞行测量。 产品特点 高对比度高动态范围无噪音实时监测256x256像素单光子计数阵列传感器面积14.1x14.1mm^2单个像素55um超大面积 产品应用天文学,粒子物理,医学成像,光谱成像,粒子追踪,电子显微镜,无损检测,质谱学,X射线成像,X射线衍射,X射线荧光光谱
  • LN2探测器
    LN2探测器是美国进口的高性能固态能量色散X射线能谱仪探测器。 SiLi探测器可用于所有应用,也可用于特殊的多元件设计。低能量响应LN2探测器提供优异的轻元素X射线响应。 低能x射线在硅中不会渗透很远,因此大多数事件发生得非常接近晶体的前接触,其中电荷的分数容易损失。 这可能导致峰值变宽,拖尾甚至能量转换。 ILN2探测器特殊前接触技术对于最小化这些影响至关重要,从而获得了卓越的光谱性能,直到铍K X射线。最终,在光谱低能量端的X射线检测器的效率取决于入口窗口的选择。 IXRF提供全面的检测器窗口,以适应所有应用。高能量响应诸如X射线荧光(XRF)的应用通常在宽范围的能量下需要良好的光谱响应。 IXRF系统的Si(Li)晶体可根据应用使用不同的有源厚度。 在更高的X射线能量下,更深的晶体更有效。 IXRF的Si(Li)晶体即使在高能量下也保持了优异的背景峰值和低尾部性能。 SiLi探测器的典型规格 有效面积(mm2) 10 30 50 80 分辨率[MnKa](eV) 127 133 139 148 峰值:背景 20000:1 20000:1 15000:1 10000:1
  • 超低暗计数(< 0.01cps)超导单光子探测器
    超低暗计数(0.01cps)超导单光子探测器所属类别: ? 探测器/光子计数器 ? 单光子计数器 所属品牌:俄罗斯Scontel公司 产品简介超低暗计数(0.01cps)超导单光子探测器 超低暗计数超导单光子探测器 ----最低暗计数低于0.01cps,是量子密钥分发应用的最理想选择! 俄罗斯SCONTEL公司作为世界领先的超导单光子探测器制造商,其开发出的超低暗计数超导纳米线单光子探测器彻底颠覆了常规超导单光子探测器的技术指标,最低暗计数低于0.01cps,是量子密钥分发单光子探测的理想选择。超低暗计数单光子探测器,超导单光子探测器, SSPD, 超导单光子计数器, 俄罗斯Scontel公司, Superconducting Nanotechnology,红外单光子计数器,高灵敏度单光子计数器;超导纳米线单光子探测器,SNSPD,超导纳米线,低温超导单光子探测器 超导纳米线单光子探测器应用: 超导纳米线单光子探测器技术优势:光量子计算 超低暗计数:0.01cps光子相关性测量 高探测频率:100MHz-500MHz量子密码 超高时间分辨率: 25ps-45ps自由空间通信 死时间: 2ns-10ns激光雷达 超宽探测范围:600nm~1700nm时间分辨荧光寿命测量 无后脉冲单量子点/单分子荧光特性 1~4通道可选皮秒级集成电路检测分析 全程服务支持光学断层摄影 超低暗计数超导纳米线单光子探测器的冷却系统有两种类型: a.外接低温液氦杜瓦瓶 b.闭合循环冷藏室 相关产品 超高量子效率超导单光子探测器(65%@500~1700nm) 纠缠光子对发生器(纠缠光子源) 超导单光子探测器(SSPD) 400~1700nm 时间相关单光子计数器(TCSPC)
  • 扫描电镜探测器配件
    扫描电镜探测器配件是全球领先的BSE探测器或背散射电子探测器,为扫描电子显微镜提供最佳的信噪比和超高的分辨率,是SEM探测器中的最新产品。 扫描电镜探测器配件特点适合全球所有的商用扫描电镜,采用独立设计理念,具有标准的安装法兰接口,非常方便用户的安装和使用 采用YAG:Ce单晶闪烁体 采用闪烁晶体和光电倍增管,提供极佳的图像质量 全球最佳的超低能量镀膜技术,灵敏度可到0.5Kev 优异的信噪比 无限的探测器寿命 HV+LV+ESEM工作模式 电动可回缩高精密导臂 波纹管密封高真空系统 完全用户订制化的SEM连接系统扫描电镜探测器配件性能 YAG:Ce闪烁体探测器提供最佳效率和最小余光afterglow, decay time 衰减时间为75ns @30光子/Kev YAG:Ce闪烁探测器外径15mm ,内孔6mm, 4mm, 2mm 或1.2mm任选,它限制视场大小。 独特的技术确保0.5keV的超高灵敏度,高达1pA电子束 外部尺寸406x100x72mm 适合真空环境使用 0.01mm的重复精度 适合所有SEM的法兰接口 部分测量结果案例
  • 激光传感器组件 红外探测器
    液氮制冷红外探测器具有灵敏度高、空间分辨率好、动态范围大、抗干扰能力强以及能在恶劣气候下昼夜工作等特点。液氮制冷红外探测器经过制冷,设备可以缩短响应时间,提高探测灵敏度。液氮制冷红外探测器的信号带宽最高可以达到50MHz ,波长响应范围2~14μm,光敏面积典型值为1×1mm2,也可以按照需求进行定制,窗片材质可选ZnSe或CaF2,可以应对不同波长和使用环境的需求,如有特殊需求欢迎来电咨询。液氮制冷红外探测器各种杜瓦设计可供选择,提供楔形窗以消除干涉的影响。 液氮制冷红外探测器的优点:? 液氮制冷的制冷方式可以达到更低的温度,更稳定,极大地降低了热噪声;? 响应波长范围广,对2~14μm的中红外光谱波段光波敏感;? 高性价比,我们可以提供高速频率带宽定制服务。液氮制冷红外探测器工作原理:液氮制冷红外探测器参数指标:响应波长范围2~14μm峰值响应度典型值100~100000V/W光敏面积典型值1×1mm2(定制可选)信号带宽最高50MHz输出阻抗20~100ΩD*(cmHz1/2W-1)≥2.0E+10,最高≥1.0E+11窗片材质ZnSe或CaF2供电电压±5VDC(探测器模块);220VAC(电源模块) 各种杜瓦设计可供选择,提供楔形窗以消除干涉的影响。
  • X射线探测器 X射线探测器
    X射线探测器是一种位置灵敏性的探测器 (Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射仪探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术,而不是基于传统微光子技术,它不需要维护,不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology,这种技术的探测器噪音较大,而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题,法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器,使用钢合金替代原有材料,使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。 这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。
  • 金颗粒标样30 - 300nm,低加速电压分辨率测定标样
    【产品详情】标准的金球或锡球分辨率测定标样不适用于低加速电压下或者老旧仪器中的测试,可能导致此问题的原因是低加速电压下采用高计数率和小束斑直径测样时得到的分辨率较差、信噪比过低。较大的标样粒径(30 - 300nm)在分辨率测试时可以在保留图像细节的同时确保较高的对比度,此特性使得此标样可以在非理想条件下使用。可镶嵌于Zeiss,FEI,TESCAN,JEOL和Hitachi扫描电镜各自的样品台上。 此分辨率测试标样粒径分布为30-300nm,与标样AGS168相比,更大的金粒尺寸允许此标样用于低加速电压下的分辨率校准。生长于石墨衬底上的金颗粒之间有间隙,尺寸不一,可以实现非理想操作条件下的分辨率测试,基于此特性,此标样也可以用于高分辨率测试条件下的灰度校准。理想条件下,高分辨率扫描电镜可以给出高质量的间隙分辨率测试和灰度校准结果。搭配中等分辨率的电镜使用此标样可获得尚可使用的间隙分辨率,但灰度区分不明显,只能呈现4-5级。因为标样颗粒的几何形状不规则,二次电子模式下的差分信号采集会导致灰度对比出现。大颗粒之的细小颗粒和间隙,可以用于更准确地评估电镜的成像质量。评估二次电子成像质量时,将标样倾斜,与二次电子收集装置成30°角时可得到质量最好的像。采集背散射电子时样品台的倾角则由探测器的位置决定。但若样品与探测器之间的倾角大于35°,标样上大块的金粒会产生较大的投影,会遮蔽标样上较小的金粒,因此不推荐。此外,测量金粒之间的间隙尺寸时须注意样品的倾角会影响图像的放大倍数。当放大倍数在2,000倍以上时金粒可见,最佳工作距离是7-8mm。使用钨灯丝电镜时,先用20kV的加速电压观察样品,再逐步降低加速电压和束斑直径聚焦调节至合适的聚焦状态和明度。工作时需确保电子枪、灯丝、光阑孔准直,电子束须汇聚、明度适当、束流稳定。当线扫描分辨率调至最高、测试时间较长时(在部分仪器中此时间可达10min)可得到较高的信噪比。 【技术详情】标样粒径分布金颗粒标样30-300nm产品详细价格及资料,请登录电镜耗材在线商城网站查看。
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
  • 亮度探测器 PMA2133
    仪器简介: PMA2133是一款符合CIE适光光谱响应的便携式亮度探测器。该探测器的光谱响应类似于人眼对适光区域的视觉响应。 适光光谱发光效率曲线峰值在555nm,并在该波长规格化为1。亮度就是在一个特定照射方向每单位面积的发光强度。亮度的标准单位为cd/m2(烛光每平方米),另外一个通常用到的亮度单位是fL(英尺-朗伯),1 fL = 3.426 cd/m2。 PMA2133依据适光光效率曲线来对亮度进行测量。技术参数:光谱响应遵循CIE 明视光谱照明效率曲线(400-700nm) Figure 1 视场角8° 范围0 - 6,800 cd/m2 0 - 2,000 fL 显示分辨率 0.01 cd/m2 or 0.01 fL 操作环境32 to 120 °F (0 to +50 °C)电缆 5' .(1.5 m) 直径 1.6" (40.6 mm)高度 3.2" (81.3 mm) 重量3.9 oz. (110 grams)主要特点: 高灵敏度 宽动态范围 卓越的长期稳定性 余弦修正 NIST 可溯源校准 应用:CRTs质量控制 显示器检测
  • X射线探测器
    X射线探测器是一种位置灵敏性探测器 (Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术,而不是基于传统微光子技术,它不需要维护,不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology,这种技术的探测器噪音较大,而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题,法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器,使用钢合金替代原有材料,使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。 这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。http://www.f-lab.cn/radiation-detectors/psddector.html
  • 工业平板探测器
    产品简介3D CT、实时成像、PCB检测、航空级铸件、胶片成像替换、管道焊接、便携式成像、 F1……这些只是万睿视影像X射线平板探测器的一小部分应用。我们的探测器尺寸完备,范围从12cmx7cm至43cmx43cm,总有一款适合您的应用。何不利用万睿视影像的技术优势,比如动态增益(动态范围增强),低噪声与高分辨率像素架构,固有的高耐辐射性,或者是客户化的高达每秒数百帧的模式需求。万睿视影像是X射线探测器技术领域无可争议的行业领导者。 产品规格产品名称平板尺寸像素矩阵像素大小(μm)能量范围(kV)1207 NDT12 x 7 cm1536 × 86474.812 - 160 kV1308DX13 x 8 cm1024 x 640 512 x 32012740 - 160 kVp1308DXT13 x 8 cm1024 x 640 512 x 32012740 - 160 kVp1313DX13 x 13 cm1024 x 1024 512 x 51212740 - 160 kVp1313DXT13 x 13 cm1024 x 1024 512 x 51212740 - 160 kVp1508 DXT15 x 8 cm1152 x 630 576 x 32012740 - 160 kVp1512NDT15 x 12 cm1944 × 153674.812 - 160 kV1515DXT-I15 x 15 cm1152 x 1152 576 x 576 12740 - 225 kVp2315NDT23 x 15 cm3072 × 194474.812 - 225 kV2520DX-I25 x 20 cm1,536 x 1,920 768 x 960 12740 - 225 kVp2530C25 x 30 cm1792 x 217613940 - 160 kVp2530DX25 x 30 cm1792 X 2176 896 x 108813940 - 160 kVp2530HE25 x 30 cm1792 X 2176 896 x 108813920 kV - 16 MV2923NDT29 x 23 cm3888 × 307274.812 - 225 kV3030DX-I30 x 30 cm1536 x 1536 1516 x 151619440 - 225 kVp4343HE42.7 x 42.7 cm3072 x 307213930 kV - 16MVXRD 0822 xO/xP20 x 20 cm1024 × 102420020 kV – 15 MVXRD 1611 xP41 x 41 cm4096 × 409610040 kV – 15 MV (XRD 1611 AP) 20 kV – 15 MV (XRD 1611 CP)XRD 1620 xN CS41 x 41 cm2048 × 204820040 kV – 15 MV (XRD 1620 AN CS) 20 kV – 15 MV (XRD 1620 CN CS)XRD 1621 xN ES41 x 41 cm2048 × 204820040 kV – 15 MV (XRD 1621 AN ES) 20 kV – 15 MV (XRD 1621 CN ES)XRD 1622 AO, AP41 x 41 cm2048 × 204820020 kV – 15 MVXRD 1642 AP41 x 41 cm1024 × 102440020 keV – 15 MVXRD 302530 x 253008 x 251210020 - 225 kV (G-22) 20 - 450 kV (G-45)XRD 4343CT43 x 43 cm2880 × 2880150XRpad 433643 x 36 cm4320 x 355610020 – 150 kVXRpad 4343 F43 x 43 cm4318 × 432010020 - 150 kVXRpad2 302530 x 25 cm3004 x 250810020 - 150 kVXRpad2 433643 × 35 cm4288 × 352410020 - 150 kVXRpad2 434343 x 43 cm4288 x 428810020 - 150 kV关于万睿视影像科颐维电子是美国万睿视影像(Varex Imaging)中国区授权经销商。万睿视影像(前瓦里安影像部件事业部)深耕影像行业五十余载,基于多年累积的技术经验和行业专识,致力于为医疗、科技、工业、安防、货物安检行业的全球客户提供世界顶级的影像部件。我们为世界装备了获取射线影像的最佳工具,保护我们的港口和家园。作为影像部件领域的领导者,帮助客户提升竞争力,加速产品入市,进而成为世界级的系统供应商是我们的不懈追求。
  • 光量子/光合有效辐射探测器 PMA2132
    光子能量与其频率成比例因而相反地对波长成比例。为了产生与光子通量(量子数单位面积每秒)成比例的信号,探测器的光谱功率响应(Amps/[W/cm2]必须相反的与光子频率成比例并因此与波长成比例。传统上量子通量单位为micro-moles(也叫micro-Einsteins)每秒每平方米。转换因子如下: 1mE/s/m2 = 1mmole/s/m2 = 6.02*1017 quanta/s/m2 PMA2132探测器的角响应经过余弦校正,适于散射辐射或者长光源测量。技术参数:光谱响应量子响应 (400-700nm) Figure 1 角响应5% for angles 80° 范围20,000 uEinsteins/second/m2 显示分辨率0.1 uEinsteins/second/m2 操作环境 -40 to 120 °F (-40 to +50 °C) 室外 温度系数0.15%/°C 电缆 50ft (15m) or optional 1ft retractable 直径1.6" (40.6 mm) 高度1.8" (45.8 mm) 重量7.1 oz. (200 grams)主要特点:PMA2132量子探测器可以对400-700nm光子通量进行测量。PMA2132具有防水外壳,可在室外或者潮湿环境操作。在400-700nm光子吸收数和植物的光合作用率有着成比例的对应关系。 高灵敏度 高动态范围 卓越的长期稳定性 余弦修正 NIST 可溯源校准 密封外壳 应用:农业 光生物学 气象气候 环境监测 教学
  • 新型激光地雷探测器配件
    新型激光地雷探测器配件使用LIBS技术,大大提高排雷的速度和准确度,是全球领先的激光地雷探测仪,新型激光地雷探测器配件是专业为扫雷,排雷等工作地雷的探测而研发,是欧洲防务系统中明显产品。激光地雷探测器实物图地雷的探测与排查依然是现代社会的一个难题。多数情况下,人们对地雷的排查和探测依靠简单的排查戳探杆(Mine searching prodder),排雷人员通过寻找其前面的土壤电阻异常来排查地雷。这种方法当然可以百分之百寻找到地雷,但是,这种办法存在极高频率的错误报警问题,导致排雷速度非常缓慢。 一种防步兵地雷为了减少传统排雷方式中的极高的误报警问题,我们提供了一种新型的高科技激光地雷探测仪。这种激光地雷探测器是在一种激光诱导击穿光谱传感器前加上光纤传感 器,可以与传统的排雷方法一起使用。遇到隐藏在地面下的不明物体时,排雷人员可以使用这种新型的激光地雷探测器向不明物体表面发出激光束,激光地雷探测仪 通过分析不明物表面反射的光谱信息就可以分辨出是地雷还是铁块,从而大大提高排雷的速度和准确度。中国领先的进口精密光谱仪器旗舰型服务商--孚光精仪!
  • 水下UVB 探测器 PMA 2104
    仪器简介: PMA2104 探测器可对日光以及人造光源的生物权重紫外辐射进行精密测量,也被称为晒伤紫外辐射(SUV)。其光谱响应跟红斑作用光谱相接近。技术参数:光谱响应Follows erythema action spectrum Figure 1 角度响应15% for angles 50° 范围20 [MED/Hr], 1,17 [μW/cm2] 显示分辨率0.001 [MED/Hr], 0.01[μW/cm2] 操作环境32 to 120 °F (0 to +50 °C) no precipitation 温度系数1% /°C for solar radiation 电缆35ft, (10.6m) Waterproof 7pin keyed 直径W/O Cable5.5" (139.7 mm) 高度3.5" (88.9 mm) 重量W/O Cable48 oz. (1360 grams)主要特点:PMA2104是用于透过淡水或者盐水的UVB测量的探测器。由PMA2104测得的值可以与浸入水中的分光辐射计测得的值相媲美。该探测器采用防水设计,可以浸入水下100m。其外壳可以承受严酷的环境,并且易于操作。外壳底部有两个#10-32 taped的孔,有助于用户安装固定探头位置附件。探测器的重量也适于下沉。
  • PELCO AFM 探针分辨率测试标样, 含样品座
    PELCO AFM 探针分辨率测试标样, 含样品座
  • PELCO AFM 探针分辨率测试标样, 含样品座
    PELCO AFM 探针分辨率测试标样, 含样品座
  • 0872F1结冰探测器
    通过超声波轴向振动管检测积冰状态,相应的频率变化通过RS-232或数字电流环数据链路完成通讯。通过探头上的质量负重探测结冰状态当探头表面结冰,探头质量增加,其固有频率下降通过RS232将频率输出到采集器。通过用户自定义的结冰设定,加热器激活并除冰(可选项)传感器目前广泛应用在气象研究产品程序如美国国家气象局自动表面观测系统(ASOS),加拿大气象环境服务自动气象站程序以及北美、欧洲和亚洲的各种试验程序。 用途:协助城乡道路维护(如 融雪盐)、示警机动车司机因结冰可能发生的潜在危害以及道路条件信息等主要应用案例:1. 极端恶劣环境条件下应用2. 液态向固态转变过程的沉降测量3. 为强烈且持久性冰暴测量而设计4. 接近冰冻温度条件下分辨雨与冻雨5. 可探测厚度达0.13mm(0.0005 inches)的结优势特点:1. 已经极端恶劣环境条件下使用验证2. 传感技术可消除错误信号3. 自融冰/排水功能4. 连续BIT测试验证传感器功能技术规格:供电需求115 VAC, ±10%, 60Hz功耗探测模式:10 W (0.087 Amps) ;除冰模式:385 W (3.35 Amps) RS232配置8个数据位,1个停止位,无奇偶校验,全双工,配置为数据终端设备(DTE)测量范围0 – 2.5 mm 精度0.13 mm 分辨率± 4Hz工作温度-50°C to +50°C工作湿度限值74% RH @ 35°C -- 100% RH @ 25° C重量5.7kg防护等级IPX4产地:美国
  • 闪烁探测器阵列
    这款欧洲设计的大面积闪烁探测器阵列是一种高性能闪烁体列阵探测器。这款闪烁探测器阵列可采用YAP:Ce, YAG:Ce, LuAG:Ce, BGO等闪烁体材料,获得最佳效率,可广泛用于大面积中子探测,中能(10-100MeV/u)重离子核反应前角度测量等应用。这款进口的闪烁探测器阵具有全球最佳的紧凑设计,像素之间距离可控制到小于0.05mm, 最大像素可达到0.3mm x 0.3mm, Detection matrices and bars can be used for position sensitive detection. YAP:Ce, YAG:Ce, LuAG:Ce, BGO, CRY19 and others are the scintillation materials used for this purpose. The size of detection elements ranges from several tenths of mm up to several mm depending on the scintillation material and on the design of the array. Our special production technology enables very compact designs with distance between pixels of less then 0.050 mm. The minimum pixel size is 0.3 mm x 0.3 mm我们根据用于的要求进行特别设计,请联系我们:
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