哪位大侠知道?物体的反射与透射到底是什么关系呢能不能从透射计算出反射呢
如题分光光度计可以测试薄膜反射率和透射率吗?要光谱反射和透射的,其中透射需要可以测试漫透射材料,求推荐仪器,波长范围为400到1100
请问红外光谱仪,吸收光谱很容易理解透射, 反射 呢?他们各自的原理是什么?谢谢
http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/04/201104111741_288260_2193245_3.jpg 电致变色(Electrochromic, EC)是指材料的光学属性(透射率、反射率或吸收率)在外加电场作用下产生稳定的可逆变化的现象,在外观上表现为颜色和透明度的可逆变化。具有电致变色性能的材料称为电致变色材料。用电致变色材料做成的器件称为电致变色器件。 例如电致变色智能玻璃在电场作用下具有光吸收透过的可调节性,可选择性地吸收或反射外界的热辐射和内部的热的扩散,减少办公大楼和民用住宅在夏季保持凉爽和冬季保持温暖而必须消耗的大量能源。 德国Zahner公司作为著名的电化学工作站生产厂家,在其著名的CIMPS基础上,推出了测试电致变色动态透射和反射DTR技术。 CIMPS-DTR系统可以在样品上施加可调制的电压信号,同时接受不同波长的光照射射,样品前面或后面有一个静态光强校准计,记录透射光、反射光信号,并反馈给电化学工作站。DTR技术可以测试以下几种特性:- 动态透射和反射和频率的关系- 静态透射和反射和电流的关系- 静态透射和反射和电压的关系- 静态透射和反射和时间的关系
弱弱的问一下:红外透射、反射(漫反射?)、红外衰减全反射各自适用于什么情况呢?
一。全内反射的基本理论 (摘自:浅谈全内反射荧光显微术及其在生物学中的应用 基础医学院2004级生物物理专业刘昭飞)http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/01/201101091048_272852_1786353_3.jpg图1 全内反射现象 全内反射现象是生活中的一种常见现象,如钻石的色彩斑斓和光纤的光线传播等。如图1所示 ,当一束平面光波从折射率为n1的介质进入到折射率为n2的介质中。入射光在两介质接触面一部分发生反射,一部分发生折射。入射角θ1和透射角θ2之间满足关系式 n1sin θ1=n2 sin θ2 (1) 若n1大于n2,由公式(1)可以看出当入射角增大时,透射角也增大。假设增大到临界角θc[c
声波具有能量,简称声能。 • 当声波碰到声屏障时,一部分声能被反射,一部分被吸收(主要是转化成热能),一部分穿透到另一空间。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252012_135441_1615922_3.gif[/img] [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252016_135444_1615922_3.gif[/img]透射系数:[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252017_135445_1615922_3.gif[/img] 反射系数:[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252011_135440_1615922_3.gif[/img] 吸声系数: 不同材料,不同的构造对声音具有不同的性能。在隔声中希望用透射系数小的材料防止噪声。在音质设计中需要选择吸声材料,控制室内声场。 透射
固体紫外在什么情况下测试透射率呢? 和在什么情况下测试反射率呢 在cary300里,即使是测透射也可以转换成反射的(自带软件可以相互转换的。。。。) 在论坛里,很多帖子都在强调测试的是固体透射还是反射? 所以搞不清楚,到底什么情况下测透射呢?什么情况下测反射?
求教_如何测量薄膜的绝对红外吸收(1-反射比-透射比)
碰到一个客户要求测试布料的UV光还有近红外光反射和透射能力测试,有谁知道哪里可以做这个测试?谢谢!
[b][font='Times New Roman'][font=宋体]:[/font][/font][/b][font=宋体]参比光谱用来对比实际测得光谱信息,可以滤除光谱信息的不确定因素。因此无论漫反射还是透射测量,参比光谱最佳的使用方式是,与样品在同一时间,同一系统里面检测,但实际过程中是做不到这些的,只能做到先检测参比光谱,然后紧接着检测样品光谱,根据设备、环境的稳定性,可以在若干次的样品光谱检测中使用同一个参比光谱。[/font]
吸收光谱,透射光谱,反射光谱三者的区别与联系是什么?
我在文献上看到 了 红外透射光谱,红外发射光谱,红外漫反射光谱,以及DRIFT和衰变光谱等.不知道这些指的是不同种类的仪器,还是不同的红外光谱分析方法.有什么区别,有什么用途?请教大家了.
欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就材料红外光谱技术知识的相关问题进行探讨!活动时间:2014年07月16日——2014年07月25日【线上讲座241期】材料红外光谱透射比、反射比、发射率的高精度测量方法 主讲人:ppddppdd--IR版面专家 活动时间:2014年07月16日——2014年07月25日 热烈欢迎ppddppdd老师光临红外光谱版面进行讲座!http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、透射比绝对测量二、反射比绝对测量三、吸收比绝对测量四、发射率绝对测量五、透射,反射,吸收,发射的相对测量方法http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就红外光谱技术相关的内容进行探讨交流!以上资料为ppddppdd老师所著,未经ppddppdd老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间:2014年07月16日--07月25日答疑时间: 2014年07月16日--07月25日特邀佳宾:IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员:仪器论坛全体注册用户活动细则:1、请大家就材料红外光谱技术知识的相关问题进行提问,直接回复本帖子即可,自即日起提问截至日期2014年07月25日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励(1-50分不等),提问的也有奖励3、提问格式:为了规范大家的提问格式,请按下面的规则来提问 :ppddppdd老师您好!我有以下问题想请教,请问:……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明:本讲座内容仅用于个人学习,请勿用于商业用途,由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结,但是也凝聚着笔者大量心血,版权归ppddppdd老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的,理解片面、错误之处肯定是有,欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif
以前,由于工作的原因,我经常能接触到傅里叶变换红外光谱仪,压片机等等,当然有时候也能接触到ATR反射附件,这次我就把接触到的反射附件以及扫描的光谱图给大家分享一下。首先来看反射附件,不得不说国外的做工确实很精细,有些细节做的很贴心,这些就需要国内的厂商学习了。打开红外预热30分钟左右(一般情况下我预热20到30分钟,有的时候测量的精度需要的很高,预热的时间相应增加),然后用红外直接扫描两次空背景,得出一个100%线,由于扫描次数设定的是1次,所以并不是像测量信噪比时那样。而后,先不放反射附件扫描一次空的背景,然后小心翼翼的放入反射附件扫描,得到的结果是,通过反射附件以后能量衰减到原来的55%左右,通过两个镀铝的反射镜和一个镀金的反射镜能量衰减到原来的55%,这样的结果还是可以接受的。然后仿照红外直接扫描两次空背景的方式,在放入反射附件后扫描两次,得到一个反射的100%线,结果同红外直接扫描的100%基本上一样,这就说明反射附件做的很好,也就像资料里说的那样:采用衰减全反射(A TR ) 分析就可以方便地克服这些困难。该方法应用范围广泛、制样简单、无需前处理、不破坏样品就可以直接进行红外分析, 所测得的红外光谱与透射光谱的谱带位置、形状完全一致, 不存在干涉条纹, 特征谱带清晰。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160946_190270_1610706_3.gif[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160947_190272_1610706_3.gif[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160948_190275_1610706_3.gif[/img]
[align=center][size=18px]准确测定MXene二维材料的晶胞参数--反射透射XRD数据同时精修 [/size][/align][align=center][size=16px]Precise measurement of the lattice parameters for MXene 2D materials – Simultaneous refinement to reflection and transmission XRD data[/size][/align][align=center][size=16px]Tony Wang [/size][/align][align=center][size=16px]Central Analytical Research Facility, Queensland University of Technology, Brisbane 4001, Australia [/size][/align] [size=16px]0.摘要 本文介绍了二维材料MXene的基本结构以及透射模式XRD对二维材料层内原子排列周期性的重要性,并运用TOPAS精修软件中的同模型多数据精修功能,通过对反射模式XRD数据和透射模式XRD数据的同时精修,批量准确测定了MXene样品的晶胞参数,解决了当前文献中MXene样品的层内晶胞参数普遍测量困难的问题。 1. 介绍 MXene材料是继石墨烯Graphene之后的二维材料研究热点。其在存能量储(即电池和超级电容器)、EMI屏蔽、析氢反应的催化剂、改善聚合物复合材料机械性能、及在气体和湿度中的应用传感器等许多应用中有广阔的前景。 MXene材料是化学式M[sub]n+1[/sub]X[sub]n[/sub]T或M[sub]1.33[/sub]CT的一系列材料的统称。它们已经是拥有最大成员规模的二维材料。它们主要是通过从具有化学式M[sub]n+1[/sub]AX[sub]n[/sub]的母体MAX相中溶解掉A原子层而获得,其中M代表低原子系数过渡金属,A主要是第13或14号元素,X代表C和(或)N。T表示溶解时附着到MXene表面的各种终端基团。添加-ene后缀是为了突出其二维(2D)性质。 第一个MXene材料是由Naguib和同事于2011年通过溶解纳米层状三元碳化物Ti[sub]3[/sub]AlC[sub]2[/sub]中的Al层而获得的Ti[sub]3[/sub]C[sub]2[/sub]T[sub]z[/sub][sup]1[/sup]。继这一发现之后,人们用类似的方法,使用了除HF之外的不同类型的酸腐蚀不同的三元碳化物、氮化物或碳氮化物(MAX相)的中间原子层,制得了多种MXene材料[sup]2[/sup]。 MXene材料在化学组成上具有显着的可调性。M和X位的不同原子以及空位,都会调节层内原子排列的尺寸,如六方晶胞的a轴长度。类似于其他二维材料, 如可膨胀粘土矿物等, MXene材料也具有层间离子、分子可交换特性。不同尺寸的层间离子或有机分子,乃至不同的T终端基团都会改变MXene材料的层间距,如六方晶胞的c轴长度。 X射线粉末衍射方法是准确测定晶胞参数的常用方法。然而实验室湿法制备的MXene材料经干燥后常为微米级厚度的自支撑薄膜,很难粉碎为常规意义上的粉末。文献中常见的MXene材料的XRD数据均只采用了常规的反射模式XRD数据,所得数据质量低并且全部存在严重的择优取向,从而无法准确测定面内晶胞参数[i]a[/i]。如图1所示,对完全择优取向的二维材料来说反射模式XRD对二维材料堆叠方向的层间距([i]c[/i]轴长度)敏感,而透射模式XRD对层内的晶面间距([i]a[/i]或[i]b[/i]轴长度)敏感。[/size] [align=center][img=,690,376]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161521085462_2132_1986542_3.png!w690x376.jpg[/img][/align][align=center]图1. 使用XRD的(a)反射模式和(b)透射模式分别测定MXene二维材料的(a)层间距和(b)层内晶面间距[/align][align=center]Fig.1. Using XRD in (a) reflection and (b) transmission mode to measure (a) interlayer distance and (b) intralayer lattice parameters[/align] [size=16px]本文展示了XRD的批量透射工作模式,在实验室批量测定了大量MXene样品的面内XRD数据,通过TOPAS软件的同模型多数据同时精修功能准确测量了大量的MXene样品的六方晶胞参数[i]a[/i]和[i]c[/i]。[/size] [size=16px] 2. 实验: 反射模式XRD测量方法与常规XRD方法相同,下面只介绍透射模式XRD仪器及光路配置: ? 布鲁克D8 Advance ? 钴靶X光管线聚焦(也可采用铜靶,但角度分辨率会有牺牲) ? 平行光抛物面聚焦镜(也可采用聚焦光双曲面聚焦镜) ? 索拉狭缝2.5度分别位于初级光路和次级光路 ? 自动进样旋转样品台及侧边防散射刀片 ? LynxEye XE-T能量分辨位敏探测器一维扫描模式 透射模式XRD扫描参数: ? Offset Coupled 2Theta/Theta扫描, Omega 90度 ? 2Theta扫描范围5 – 100度,步长0.05度 ? 驻留时间1秒/步, 全谱扫描时间30分钟 ? 样品自转15 转/分 样品制样: ? 若MXene自支撑薄膜强度足够可直接安装于透射样品架上 ? 若MXene自支撑薄膜太薄,可夹在双层Kapton膜中间,再安装再透射样品架上 ? 若使用了Kapton膜,其在透射模式和反射模式下的散射贡献需单独测定 [/size] [size=16px]3. XRD数据分析 3.1. Kapton膜背景的扣除 扣除XRD数据的非样品背景,并不是直接的数据相减,而是对背景数据进行模型拟合,并将拟合所得的背景模型带入到所有样品数据的拟合中。图2为TOPAS软件中使用Peak Phase多峰模型,对Kapton薄膜在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合。[/size] [align=center][img=,690,388]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161558515996_1884_1986542_3.png!w690x388.jpg[/img][/align][align=center]图2. TOPAS中分别对Kapton膜背景在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合[/align][align=center]Fig. 2. Using peaks phase in TOPAS to model Kapton backgrounds in reflection and transmission mode[/align] [size=16px]3.2. MXene样品晶胞参数的精修 在TOPAS中,将两种模式所测数据下的[i]hkl_Is[/i]模型中的晶胞参数用参数名连接成为相同的精修参数。对反射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强0 0 1择优取向矫正,同理对透射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强1 1 0择优取向矫正。精修结果如图3和表1:[/size] [align=center][img=,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161601302894_6250_1986542_3.png!w690x387.jpg[/img][/align][align=center]图3. TOPAS中精修相同的hkl_Is模型同时拟合反射模式和透射模式的XRD数据[/align][align=center]Fig. 3. Lattice parameter refinement of a single hkl_Is model from both reflection and transmission XRD data.[/align] [align=center]表1 本方法所测定的某MXene材料的晶胞参数。 Table 1. Lattice parameters of a MXene material measured using the proposed method [table][tr][td]双数据全谱精修所得的晶胞参数 Refined lattice parameters[/td][td][align=center][i]a[/i] (?)[/align][/td][td][align=center][i]c[/i] (?)[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]MXene 样品sample #13[/align][/td][td][align=center]3.0394(4)*[/align][/td][td][align=center]26.990(15)*[/align][/td][/tr][/table]*括号内数字为数据最后一位的精修误差 * The numbers in brackets stand for refinement error for the last digit place[/align] [size=16px] 4. 结论 当前文献中关于MXene的XRD数据少见全谱精修分析。其原因是常规的反射模式XRD数据无法准确获得二维材料层内原子排列的周期性。本文使用的反射模式XRD数据与透射模式XRD数据的同时精修方法解决了这一难题。本方法除对MXene二维材料有效外,几乎可用于所有二维材料的晶胞参数测定。 5.参考文献 1. Naguib, M., Kurtoglu, M., Presser, V., Lu, J., Niu, J., Heon, M., Hultman, L., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2011). Adv. Mater. 23, 4248-4253. 2. Ghidiu, M., Lukatskaya, M. R., Zhao, M.-Q., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2014). Nature 516, 78-81. [/size] [size=16px]本贴视频: D8 Advance最大90样品位批量透射XRD扫描模式 Video: D8 Advance running in high throughput transmission mode for max. 90 sample positions[/size]
本人急需测量样品的微区紫外-可见-近红外反射(或者透射)光谱,样品为附着于基片(玻璃或者石英片)上的膜。微区大小为几十微米。请教各位大虾:有没有紫外-可见分光光度计可以测量微区的光谱性质,并且测量的波长范围可以达到近红外区。或者有哪种仪器具有相关的附件可以达到这种要求(本人现在采用的紫外-可见分光光度计是日立公司的UV-4100型。)请各位大虾指教。先谢过了!
[img=middle]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/07/201007062216_229098_1896367_3.jpg[/img]本来想测量半导体薄膜的透射谱从而获得超晶格对400-1700cm-1波段的吸收情况(还有一个对比片),谁知道这一段基本全被反射了!我要怎么样才能比较精确的获得它的吸收情况?(对比片的光谱和超晶格相比基本没有差别!)
如题,X射线衍射仪通常我们都是用反射模式下做的,不知道透射模式的哪些型号可以做呢?另外,我不太理解反射模式和透射模式在本质上有什么区别?透射模式是否可以有一些独特的优势,比如说测什么透射模式能做,而反射模式不能做呢?请高手给解释一下,最好能推荐一些介绍透射模式的参考资料,多谢啦
遇到一台紫外可见分光光度计,在用[u][color=#800080]透射比标准滤光片[/color][/u]计量时候发现投射比的偏差大于国家规定的2%,检查仪器的波长准确度 和稳定性都是正常的,饿光斑也正常灯也是正常的。滤光片和反射镜也是正常的。不知道这种情况主要出在哪里,有没有知道的啊。
大家好。单位考虑买一台场发射的透射电镜。要带stem和eels,最好还带能量过滤。请朋友们推荐。基本在jeol和fei之间选。由于没有用过场发射的透射。请大家提供参考意见。还有就是要买哪些附件。比如等离子清洗。低温双倾台。特别请用过的朋友发表高见。因为看厂家的广告不太好判别。如果可能的话,我们可能会到贵单位调研一下。谢谢大家了!
我广东省核工业地质局二九二大队中心实验室须采购智能化、透反射偏光显微镜,请供应商尽快和我单位联系。1.Leica DM4500P 智能化偏光显微镜 1台2.LV100POL 透反射偏光显微镜 1台 LV200POL 透反射偏光显微镜 1台3.BX41-P 透反射偏光显微镜 1台BX51-P 透反射偏光显微镜 1台注:2、3透反射偏光显微镜,除标准配置外,其他所需配置(或选购件):反射(全相)5x、10x、20x、100x 透射偏光物镜:5x、10x、20x、50x CCD摄像机,像素500~600像素 电脑适配镜,计算机(电脑成像系统) 偏光分析软件 物镜测微尺,透反射照明系统 目镜测微尺,滤光系统 物台移动尺, 石英补偿器等具体事宜,电话联系:0762-3391206联系人:王宝源(经济管理科科长)、简顺娥(经济管理科科员);联系电话:0762-3391206;传真:0762-3391168;qq:83260665通信地址:广东省河源市十八号信箱;邮编:517001;E-mall:ningxue66@126.com
筹建实验室,位于上海高校咨询并预备购买一台透射电子显微镜(非高分辨),预算经费在250万左右另求购一台光学显微镜,透射,反射,偏光,1000倍放大,可通过适配器配消费级数码相机代理请回帖,再进一步联系
1.光谱仪IS-10,用透射法测同一晶片,为什么前后两次所测出来的谱图的透射率不一样?2.压片法,试样和KBr研磨不均匀是否对结果影响很大?3.透射法和反射法各有什么优点?以上请各位高手帮忙!
透明固体材料,用分光光度计测透射率和反射率之和在106%,谁知道是怎么回事?
本人需要测量粉末材料的透射及反射,请问如何实现?
现在在使用的6°相对反射支架用石英校准后空侧反射率高达80%是怎么回事?以前好的时候在10%左右。怎么调整支架都不能降低。哪位大侠知道请教了。
红外光谱这方面,我是一点了解都没有的,完全门外汉。现在的情况是,自己做出来的谱图,完全不知道对不对啊。。。不知道取样方法和分析方法是否正确,然后出来了谱图,完全不知道这是什么玩意啊~~。。每次有样品了,我做了反射如果可以再做个ATR,如果行,还做个透射啊。我就想知道我做的对不对啊。可是为什么出来的图不一样呢?尤其是ATR和反射,反射和透射的图还行。有图有真相啊,大家帮忙看看对不对啊~我是用透过率还是用吸光度做Y轴啊?不管是吸光度还是透过率吧,出谱图的时候Y轴到底多少才算可以啊?例如透过率最大峰到80%或者吸光度到0.7?为什么有时候透过率都超100%了啊?我们自己的库还在建,问题来了,我大部分还是用的ATR在做库的谱图,合理吗?分辨率取多少合适啊?我用谱图去检索的时候,到底应该全波检索还是只要1300-4000啊?我就是那些忧伤的图啊。。。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503271129_539869_2834039_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503271131_539870_2834039_3.jpghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/03/201503271132_539871_2834039_3.jpg感觉不会再爱了。。问题太多了。。见谅见谅。谢谢谢谢 大家了
大家好,请问一下如何利用Hitachi U3900H测试薄膜透射率呢?如果利用薄膜支架测试薄膜透射率,对薄膜质量或者衬底有什么要求呢(薄膜镀在FTO上的)?薄膜的大小需要完全遮盖样品槽孔?还有就是为什么镀在FTO上的薄膜不能测试紫外部分的光吸收或者透射率呢?在什么情况下选择用积分球测试薄膜透射率呢?用积分球测试薄膜透射率又该怎么测试呢?
如题,想了解一下国内大概有多少台透射电镜。刚进入这行不久,对国内发展现状还一片懵懂。目前实力较强的都有哪些单位呢?又都在做些什么呢?请大家不吝赐教!PS,我们组主要做原位透射电镜,这个在国内还是比较新的。国外做原位TEM的比较多,原位测力效应、电效应、热效应、光效应、磁效应都有在做的。测力的有名的是一家Hysitron公司,不过卖的东西也挺贵的,感兴趣的可以去看看他们家的样品杆。电与热是做的比较多的,原位加电场一般采用Nanofactory公司的样品杆,我知道美国和日本有很多家。加热杆就更普遍了。相对来说,光与磁还比较少。磁场在TEM中原位研究有天然缺陷,与励磁线圈冲突。先写这么多。头次发帖,请大家帮顶一下下呀!