反射透射测量支架

求教_如何测量薄膜的绝对红外吸收（1-反射比-透射比）

[b][font='Times New Roman'][font=宋体]：[/font][/font][/b][font=宋体]参比光谱用来对比实际测得光谱信息，可以滤除光谱信息的不确定因素。因此无论漫反射还是透射测量，参比光谱最佳的使用方式是，与样品在同一时间，同一系统里面检测，但实际过程中是做不到这些的，只能做到先检测参比光谱，然后紧接着检测样品光谱，根据设备、环境的稳定性，可以在若干次的样品光谱检测中使用同一个参比光谱。[/font]

哪位大侠知道?物体的反射与透射到底是什么关系呢能不能从透射计算出反射呢

欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就材料红外光谱技术知识的相关问题进行探讨！活动时间：2014年07月16日——2014年07月25日【线上讲座241期】材料红外光谱透射比、反射比、发射率的高精度测量方法 主讲人：ppddppdd--IR版面专家 活动时间：2014年07月16日——2014年07月25日 热烈欢迎ppddppdd老师光临红外光谱版面进行讲座！http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif提要一、透射比绝对测量二、反射比绝对测量三、吸收比绝对测量四、发射率绝对测量五、透射，反射，吸收，发射的相对测量方法http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif欢迎大家前来与ppddppdd老师一起就红外光谱技术相关的内容进行探讨交流！以上资料为ppddppdd老师所著,未经ppddppdd老师和仪器信息网同意任何个人和单位禁止转载!!!提问时间：2014年07月16日--07月25日答疑时间: 2014年07月16日--07月25日特邀佳宾：IR / NIR版面版主、专家以及从事红外光谱分析的同行们参与人员：仪器论坛全体注册用户活动细则：1、请大家就材料红外光谱技术知识的相关问题进行提问，直接回复本帖子即可，自即日起提问截至日期2014年07月25日2、凡积极参与且有自己的观点或言论的都有积分奖励（1-50分不等），提问的也有奖励3、提问格式：为了规范大家的提问格式，请按下面的规则来提问 ：ppddppdd老师您好！我有以下问题想请教，请问：……http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif说明：本讲座内容仅用于个人学习，请勿用于商业用途，由此引发的法律纠纷本人概不负责。虽然讲座的内容主要是对知识与经验的讲解、整理和总结，但是也凝聚着笔者大量心血，版权归ppddppdd老师和仪器信息网所有。本讲座是根据笔者对资料的理解写的，理解片面、错误之处肯定是有，欢迎大家指正。http://img3.17img.cn/bbs/upfile/2009226105115.gif

如题分光光度计可以测试薄膜反射率和透射率吗？要光谱反射和透射的，其中透射需要可以测试漫透射材料，求推荐仪器，波长范围为400到1100

本人急需测量样品的微区紫外－可见－近红外反射（或者透射）光谱，样品为附着于基片（玻璃或者石英片）上的膜。微区大小为几十微米。请教各位大虾：有没有紫外－可见分光光度计可以测量微区的光谱性质，并且测量的波长范围可以达到近红外区。或者有哪种仪器具有相关的附件可以达到这种要求（本人现在采用的紫外－可见分光光度计是日立公司的UV-4100型。）请各位大虾指教。先谢过了！

请问红外光谱仪，吸收光谱很容易理解透射， 反射 呢？他们各自的原理是什么？谢谢

弱弱的问一下：红外透射、反射（漫反射？）、红外衰减全反射各自适用于什么情况呢？

声波具有能量，简称声能。 • 当声波碰到声屏障时，一部分声能被反射，一部分被吸收（主要是转化成热能），一部分穿透到另一空间。 [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252012_135441_1615922_3.gif[/img] [img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252016_135444_1615922_3.gif[/img]透射系数：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252017_135445_1615922_3.gif[/img] 反射系数：[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/02/200902252011_135440_1615922_3.gif[/img] 吸声系数： 不同材料，不同的构造对声音具有不同的性能。在隔声中希望用透射系数小的材料防止噪声。在音质设计中需要选择吸声材料，控制室内声场。 透射

本人需要测量粉末材料的透射及反射，请问如何实现？

固体紫外在什么情况下测试透射率呢？ 和在什么情况下测试反射率呢 在cary300里，即使是测透射也可以转换成反射的（自带软件可以相互转换的。。。。） 在论坛里，很多帖子都在强调测试的是固体透射还是反射？ 所以搞不清楚，到底什么情况下测透射呢？什么情况下测反射？

以前，由于工作的原因，我经常能接触到傅里叶变换红外光谱仪，压片机等等，当然有时候也能接触到ATR反射附件，这次我就把接触到的反射附件以及扫描的光谱图给大家分享一下。首先来看反射附件，不得不说国外的做工确实很精细，有些细节做的很贴心，这些就需要国内的厂商学习了。打开红外预热30分钟左右（一般情况下我预热20到30分钟，有的时候测量的精度需要的很高，预热的时间相应增加），然后用红外直接扫描两次空背景，得出一个100%线，由于扫描次数设定的是1次，所以并不是像测量信噪比时那样。而后，先不放反射附件扫描一次空的背景，然后小心翼翼的放入反射附件扫描，得到的结果是，通过反射附件以后能量衰减到原来的55%左右，通过两个镀铝的反射镜和一个镀金的反射镜能量衰减到原来的55%,这样的结果还是可以接受的。然后仿照红外直接扫描两次空背景的方式，在放入反射附件后扫描两次，得到一个反射的100%线，结果同红外直接扫描的100%基本上一样，这就说明反射附件做的很好，也就像资料里说的那样：采用衰减全反射(A TR ) 分析就可以方便地克服这些困难。该方法应用范围广泛、制样简单、无需前处理、不破坏样品就可以直接进行红外分析, 所测得的红外光谱与透射光谱的谱带位置、形状完全一致, 不存在干涉条纹, 特征谱带清晰。[img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160946_190270_1610706_3.gif[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160947_190272_1610706_3.gif[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2009/12/200912160948_190275_1610706_3.gif[/img]

碰到一个客户要求测试布料的UV光还有近红外光反射和透射能力测试，有谁知道哪里可以做这个测试？谢谢！

测试薄膜的透射率是怎么测量的？用分光光度计测试的透射率包含基体的透射率吗？我在不同的实验室做薄膜透射率时，有的老师告诉我可以在参比池放一个空白的基板作参考，这样可以测出透射率为薄膜的透射率，有的老师告诉我不可以这样做，因为对于高反膜这样的后果是薄膜的透射率将高于1。我想问一下大家是怎么测试薄膜的透射率的！

[font=宋体]透射测量一般用于液体，需要注意尽量保证光路的准直性，减小散射、反射现象的发生，获得足够高的光谱信噪比。同时对于液体样本，还需要注意环境温度的影响，必要时可增加温度控制装置。同时对于复杂的液体，例如有悬浮颗粒的液体，还需要保证悬浮液体的均匀性，这样获得的光谱信息才具备代表性。[/font]

吸收光谱，透射光谱，反射光谱三者的区别与联系是什么？

我在文献上看到 了 红外透射光谱,红外发射光谱,红外漫反射光谱,以及DRIFT和衰变光谱等.不知道这些指的是不同种类的仪器,还是不同的红外光谱分析方法.有什么区别,有什么用途?请教大家了.

[align=center][size=18px]准确测定MXene二维材料的晶胞参数--反射透射XRD数据同时精修 [/size][/align][align=center][size=16px]Precise measurement of the lattice parameters for MXene 2D materials – Simultaneous refinement to reflection and transmission XRD data[/size][/align][align=center][size=16px]Tony Wang [/size][/align][align=center][size=16px]Central Analytical Research Facility, Queensland University of Technology, Brisbane 4001, Australia [/size][/align] [size=16px]0．摘要 本文介绍了二维材料MXene的基本结构以及透射模式XRD对二维材料层内原子排列周期性的重要性，并运用TOPAS精修软件中的同模型多数据精修功能，通过对反射模式XRD数据和透射模式XRD数据的同时精修，批量准确测定了MXene样品的晶胞参数，解决了当前文献中MXene样品的层内晶胞参数普遍测量困难的问题。 1. 介绍 MXene材料是继石墨烯Graphene之后的二维材料研究热点。其在存能量储（即电池和超级电容器）、EMI屏蔽、析氢反应的催化剂、改善聚合物复合材料机械性能、及在气体和湿度中的应用传感器等许多应用中有广阔的前景。 MXene材料是化学式M[sub]n+1[/sub]X[sub]n[/sub]T或M[sub]1.33[/sub]CT的一系列材料的统称。它们已经是拥有最大成员规模的二维材料。它们主要是通过从具有化学式M[sub]n+1[/sub]AX[sub]n[/sub]的母体MAX相中溶解掉A原子层而获得，其中M代表低原子系数过渡金属，A主要是第13或14号元素，X代表C和（或）N。T表示溶解时附着到MXene表面的各种终端基团。添加-ene后缀是为了突出其二维(2D)性质。 第一个MXene材料是由Naguib和同事于2011年通过溶解纳米层状三元碳化物Ti[sub]3[/sub]AlC[sub]2[/sub]中的Al层而获得的Ti[sub]3[/sub]C[sub]2[/sub]T[sub]z[/sub][sup]1[/sup]。继这一发现之后，人们用类似的方法，使用了除HF之外的不同类型的酸腐蚀不同的三元碳化物、氮化物或碳氮化物（MAX相）的中间原子层，制得了多种MXene材料[sup]2[/sup]。 MXene材料在化学组成上具有显着的可调性。M和X位的不同原子以及空位，都会调节层内原子排列的尺寸，如六方晶胞的a轴长度。类似于其他二维材料, 如可膨胀粘土矿物等, MXene材料也具有层间离子、分子可交换特性。不同尺寸的层间离子或有机分子，乃至不同的T终端基团都会改变MXene材料的层间距，如六方晶胞的c轴长度。 X射线粉末衍射方法是准确测定晶胞参数的常用方法。然而实验室湿法制备的MXene材料经干燥后常为微米级厚度的自支撑薄膜，很难粉碎为常规意义上的粉末。文献中常见的MXene材料的XRD数据均只采用了常规的反射模式XRD数据，所得数据质量低并且全部存在严重的择优取向，从而无法准确测定面内晶胞参数[i]a[/i]。如图1所示，对完全择优取向的二维材料来说反射模式XRD对二维材料堆叠方向的层间距（[i]c[/i]轴长度）敏感，而透射模式XRD对层内的晶面间距（[i]a[/i]或[i]b[/i]轴长度）敏感。[/size] [align=center][img=,690,376]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161521085462_2132_1986542_3.png!w690x376.jpg[/img][/align][align=center]图1. 使用XRD的(a)反射模式和(b)透射模式分别测定MXene二维材料的(a)层间距和(b)层内晶面间距[/align][align=center]Fig.1. Using XRD in (a) reflection and (b) transmission mode to measure (a) interlayer distance and (b) intralayer lattice parameters[/align] [size=16px]本文展示了XRD的批量透射工作模式，在实验室批量测定了大量MXene样品的面内XRD数据，通过TOPAS软件的同模型多数据同时精修功能准确测量了大量的MXene样品的六方晶胞参数[i]a[/i]和[i]c[/i]。[/size] [size=16px] 2. 实验： 反射模式XRD测量方法与常规XRD方法相同，下面只介绍透射模式XRD仪器及光路配置： ? 布鲁克D8 Advance ? 钴靶X光管线聚焦（也可采用铜靶，但角度分辨率会有牺牲） ? 平行光抛物面聚焦镜（也可采用聚焦光双曲面聚焦镜） ? 索拉狭缝2.5度分别位于初级光路和次级光路 ? 自动进样旋转样品台及侧边防散射刀片 ? LynxEye XE-T能量分辨位敏探测器一维扫描模式 透射模式XRD扫描参数： ? Offset Coupled 2Theta/Theta扫描, Omega 90度 ? 2Theta扫描范围5 – 100度，步长0.05度 ? 驻留时间1秒/步, 全谱扫描时间30分钟 ? 样品自转15 转/分 样品制样： ? 若MXene自支撑薄膜强度足够可直接安装于透射样品架上 ? 若MXene自支撑薄膜太薄，可夹在双层Kapton膜中间，再安装再透射样品架上 ? 若使用了Kapton膜，其在透射模式和反射模式下的散射贡献需单独测定 [/size] [size=16px]3. XRD数据分析 3.1. Kapton膜背景的扣除 扣除XRD数据的非样品背景，并不是直接的数据相减，而是对背景数据进行模型拟合，并将拟合所得的背景模型带入到所有样品数据的拟合中。图2为TOPAS软件中使用Peak Phase多峰模型，对Kapton薄膜在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合。[/size] [align=center][img=,690,388]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161558515996_1884_1986542_3.png!w690x388.jpg[/img][/align][align=center]图2. TOPAS中分别对Kapton膜背景在反射模式和投射模式下的背景贡献的拟合[/align][align=center]Fig. 2. Using peaks phase in TOPAS to model Kapton backgrounds in reflection and transmission mode[/align] [size=16px]3.2. MXene样品晶胞参数的精修 在TOPAS中，将两种模式所测数据下的[i]hkl_Is[/i]模型中的晶胞参数用参数名连接成为相同的精修参数。对反射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强0 0 1择优取向矫正，同理对透射模式下的[i]hkl_Is[/i]模型使用强1 1 0择优取向矫正。精修结果如图3和表1：[/size] [align=center][img=,690,387]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2024/08/202408161601302894_6250_1986542_3.png!w690x387.jpg[/img][/align][align=center]图3. TOPAS中精修相同的hkl_Is模型同时拟合反射模式和透射模式的XRD数据[/align][align=center]Fig. 3. Lattice parameter refinement of a single hkl_Is model from both reflection and transmission XRD data.[/align] [align=center]表1 本方法所测定的某MXene材料的晶胞参数。 Table 1. Lattice parameters of a MXene material measured using the proposed method [table][tr][td]双数据全谱精修所得的晶胞参数 Refined lattice parameters[/td][td][align=center][i]a[/i] (?)[/align][/td][td][align=center][i]c[/i] (?)[/align][/td][/tr][tr][td][align=center]MXene 样品sample #13[/align][/td][td][align=center]3.0394(4)*[/align][/td][td][align=center]26.990(15)*[/align][/td][/tr][/table]*括号内数字为数据最后一位的精修误差 * The numbers in brackets stand for refinement error for the last digit place[/align] [size=16px] 4. 结论 当前文献中关于MXene的XRD数据少见全谱精修分析。其原因是常规的反射模式XRD数据无法准确获得二维材料层内原子排列的周期性。本文使用的反射模式XRD数据与透射模式XRD数据的同时精修方法解决了这一难题。本方法除对MXene二维材料有效外，几乎可用于所有二维材料的晶胞参数测定。 5．参考文献 1. Naguib, M., Kurtoglu, M., Presser, V., Lu, J., Niu, J., Heon, M., Hultman, L., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2011). Adv. Mater. 23, 4248-4253. 2. Ghidiu, M., Lukatskaya, M. R., Zhao, M.-Q., Gogotsi, Y. & Barsoum, M. W. (2014). Nature 516, 78-81. [/size] [size=16px]本贴视频: D8 Advance最大90样品位批量透射XRD扫描模式 Video: D8 Advance running in high throughput transmission mode for max. 90 sample positions[/size]

我的样品是由单分散胶体球形成的有序排列的胶体晶体，呈固态块状，各面在自然光下有反射光泽，但是因为样品较厚不透光，因此不能用透射谱测，所以请教各位，哪里有可以测量不透光材料反射谱的UV-VIS分光光度计，最好是在北京，谢谢大家！

最近试验中遇到一个棘手问题，就是透明样品的法向发射率测量问题。样品其实就是硅片。目前的实现方案： 硅片压在加热器上加热（例如300度），测量其发射光谱，利用该光谱和标准黑体比较计算发射率。问题： 从理论上讲，硅片是透红外光的，因此加热器的背景辐射也透了过来，这就导致了测量得到的发射率偏高。虽然加热器的背景辐射很容易测量出来，但无法知道样品此时的反射率和透射率（似乎目前国内有测量高温反射率的地方，但还没有测量高温透射率的机构）因此，无法进行计算。不知道大家有没有什么高招啊？

各位大侠，我在玻璃基底上镀了一层薄膜，用TU-1901双光束紫外分光光度计测量透射率，在有些波段测量结果居然大于100%。不知是什么原因，各位给点意见吧。顺便问一下，是不是得先测量一下空白基底的透射率？玻璃片的厚度是1mm。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2011/06/201106121138_299348_1744788_3.gif

如题，X射线衍射仪通常我们都是用反射模式下做的，不知道透射模式的哪些型号可以做呢？另外，我不太理解反射模式和透射模式在本质上有什么区别？透射模式是否可以有一些独特的优势，比如说测什么透射模式能做，而反射模式不能做呢？请高手给解释一下，最好能推荐一些介绍透射模式的参考资料，多谢啦

红外分析中，散射、反射和折射都会对样品的分析结果产生影响，给谱的解析和定量带来困难和误差，而消除这些因素对测量结果的影响就要在制样阶段做很多的工作，大家讨论一下如何通过制样来消除这三方面的影响吧。

总结了一下透射电镜目前的液氮制冷Si（Li）晶体的能谱仪存在的不足，如下：1.需要消耗液氮，每周两次，透射的能谱位置较高，添加液氮非常不方便。2.由于透射能谱大都水平安装，大家都知道能谱加满液氮重量非常大，因此能谱底座需要支架支撑。3.Si（Li）探测器对于输入信号有严格要求，信号强了一般10000cps，快门会自动关闭，因此做透射电镜能谱的时候需要寻找薄区，套光阑，往往做一个样需要话很长的时间去调整测试条件。4.快门装置易损坏，不是很稳定。5.死时间，透射电镜一般信号都很强在能谱分析的时候会死时间很大效率低。6.对于高分辨电镜，液氮灌里的极小的冰块也会产生很大的噪音，造成图象震颤。7.分辨率，Si（Li）的分辨率一般在1k~3kcps的低输入计数下测量，分辨率标准是138ev,好一点的晶体可以达到133的标准。如果能有一款电制冷的SDD透射电镜能谱，那好处是显而易见的，如下：1.无需液氮消耗，无需任何消耗品，当然电是需要的2.电制冷的SDD探测器仅2.5公斤左右，小巧，美观，无需支架，不会造成镜筒倾斜。3.最大的好处是SDD电制冷能允许高达700，000cps的输入计数，因此在做能谱分析的时候无需苦苦寻找适合分析的薄区。4.因为允许700000cps的输入计数，因此无需快门自动保护，减少了易损的机械部件，当然也就更稳定了。5.由于采用SDD晶体加上专门定做的高速信号处理器，死时间大大减少，效率提高很多。6.无需任何冷媒和机械制冷装置，因此不会产生震动，非常适合高分辨电镜。7.分辨率，SDD电制冷透射能谱的分辨率保持在133ev以内，测试条件是150,000cps以内的任何计数下。综上，如果价格相差不是特别悬殊的情况下，您还会选择液氮制冷的能谱吗？

请教大家一个问题，比如一个光学玻璃元件镀了增透膜或减反膜，设计反射率＜0.1%，那么这种极低反射率如何测量呢？

使用紫外分光光度计测量玻璃的透过率和反射率，发现特定波长下的透过率加反射率100%，请教高手解释，万分感谢：）