定向反射率测量仪

SGRM-200反射率测量仪--代理西格玛产品

SOC-100 半球定向反射率测量仪（HDR）及其应用软件具有独特的材料光学性能的表征和利用能力，是一套功能强大的半球定向反射率测量工具。配备Nicolet FTIR， SOC-100可提供FTIR所涵盖光谱区域10°到80°入射角的偏振反射和角漫反射测量。使用标准FTIR，所测量光谱区域为2-25μm，也可通过客户定制的FTIR扩展到50μm。同时还具备样品加热功能。测量材料漫反射率的传统技术是利用积分球捕捉漫散射的能量。但由于积分球的固有能量限制，有价值的数据被限制在18μm内。而SOC-100利用2π半椭球以700°C黑体照射样品。一个可移动的顶部反射镜捕获反射能量并准直到FTIR。SOC-100软件使用MS Windows® 界面，驱动FTIR并控制各种数据采集、进程管理、数据归档和报表生成。它与OMNIC软件兼容，还具有附加软件包，可进行光学常数的测定、漫反射涂层的设计、热量分析和红外场景模拟。测量数据：n 10°~80°之间的用户设定角度的平行、垂直及非偏振光束反射率n 测量漫反射和镜面反射，及0°入射的透射率n 温度达500℃和10°~80°角度下，定向发射率的角度-波长-温度函数n 总半球发射率的温度函数应用：n 支持红外图像模拟和红外材料的开发n 鉴定和测量表面污染n 散射和镜面反射检测n 测量散装和粉状物料的偏振反射数据，以计算其光学常数（n，k） n 提供热分析和热传导的温度-波长函数发射率数据n 提供角度至2π球面度的半球完全散射透射率数据软件功能：n 标准软件提供：仪器控制、项目和数据的基础管理；控制Nicolet FTIR的OMNIC软件n 可选的应用软件：光学常数测定、涂层设计分析、红外场景模拟、热分析用途： n 热量传导 n 特征分析 n 涂料研发 n 质量控制 n 定量分析 n 光学测试

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准 n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比技术参数410-Solar 便携式太阳能反射率仪符合标准ASTM E903、ASTM C1549测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法20°入射角的积分总反射比输出参数总反射，漫反射，和20°角的镜面反射波段7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm入射角20°法线入射角样品表面：任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面BEAM SPOT SIZE 0.250”直径，20°入射角BEAM ANGLE3°半锥角测量时间10秒/次；90秒预热VIS-NIR源钨灯测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

ATR1000自动透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，可给出光谱曲线，用于实时测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率和反射率。ATR1000采用一体化设计，采用内置固定光纤，光路稳定，样品仓可以完全封闭，把外界光的影响降到最低。软件操作简单，可通过设置阈值自动判断测试结果是否合格，广泛应用于光学玻璃、半导体等行业，测试毛糙样品时，可按照客户要求配备积分球。产品特点◆能对多点进行全自动定位测量，实时数据采集◆ 可以测量整段光谱，能选取六个光谱的透过率或反射率，设置阈值自动判定检测结果◆ 可根据样品要求配备积分球◆ 灵活搭配的透/反射测量方案◆ 操作简单，容易更换样品◆ 采用内置固定光纤，光路稳定应用领域半导体激光器腔面高反射涂层 太阳能电池 硅片、晶圆光学玻璃、薄膜 屏幕面板 涂料珠宝玉石 纺织品技术参数

410-Solar 便携式反射率测量仪内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。应用领域 航空工业 天文望远镜检查 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制仪器特点 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射 NIST标准 快速、便携 PDA触摸屏操作，内置SD卡 计算半球反射比技术参数 410-Solar 便携式太阳能反射率仪 符合标准 ASTM E903、ASTM C1549 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 20°入射角的积分总反射比 输出参数 总反射，漫反射，和20°角的镜面反射 波段 7个波段：335~380、400~540、480~600、590~720、700~1100、1000~1700、1700~2500nm 入射角 20°法线入射角 样品表面： 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 BEAM SPOT SIZE 0.250”直径，20°入射角 BEAM ANGLE 3°半锥角 测量时间 10秒/次；90秒预热 VIS-NIR源 钨灯 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

RT100透反射率测量仪支持透过率和反射率测量，给出光谱曲线，可用于测试样品的紫外到近红外波段（最宽可达200-2500nm）的透过率及反射率。采用一体式设计，样品仓可以完全闭合，把外界光的影响减到最低。软件简单易用，自动判断测量结果是否合格。RT100广泛地用于光学玻璃、薄膜、显示、触摸屏、手机盖板等行业。配备积分球，可用于具有毛糙表面的样品反射光谱和透射光谱测试，如聚光玻璃、毛玻璃等。仪器特点●灵活搭配的透/反射测量方案●极宽的光谱测量范围：200nm-2500nm； ●简单、易操作、易更换样品做测试●可以支持带积分球测量模式和不带积分球测量模式● 采用高精度光谱测量技术，精度高、测量速度快、稳定性好；● 自带校正及标定功能，方便用户自行校零和定标；●软件 可以测量整段光谱曲线，自动获取6个光谱位置透过率反射率数值，可设阈值自动判定结果。应用领域●固态样品 ●液态样品 ●汽车零部件 ●光学元件 ●镀膜 ●滤光片 ●珠宝 ●涂料 ●特种玻璃 ●各类薄膜 ●手机、平板各类型玻璃 ●聚光玻璃、毛玻璃、镜片主要参数●电源及插头：能在220V±10%，50Hz供电条件下连续工作。仪器设备的插头应符合中国国家标准，否则应提供适合仪器插头的插座。●工作环境：10-35℃、相对湿度10-80%（无结露）●光谱范围：380-1050nm（最宽可达200-2500nm，可以根据客户的要求定制范围）。●样品台尺寸：195 x 160 mm (W x D)。●带封闭样品仓，减少外界光线对测量结果的影响。●光源：高性能卤素灯（可根据光谱范围和样品特性定制光源）。●RT100软件：可以测量整段光谱曲线，可以自动获取6个光谱位置的透过率、反射率数值，设定阈值自动判断测量合格与否。

RLK651手持式红外发射率测量仪Portable Infrared Emissionratio MeterRLK651手持式红外发射率测量仪，采用先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，实现对材料红外波段（2-22um）发射率的贴近测量。产品针对工业现场使用条件设计，具有携带方便、操作简单等优点。RLK651手持式红外发射率测量仪，可广泛应用于各种工业材料发射率的测量，是材料红外特性研究的良好选择等。产品特点&bull 测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；&bull 测量波段：2-22um；&bull 重复性：±0.02；&bull 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；&bull OELD单色屏：一目了然，一键测量，操作简便；&bull 数据记录：最近32条测量记录，方便进行测量对比。 技术指标型号 RLK651测量波段2-22um工作界面预热/测量/校准显示分辨率±0.001测量精度±0.02显示屏2.42”，OLED点阵屏，单色测量时间 10秒(每次测量进行2次数据采集)预热时间90秒数据存储32条记录，EEPROM存储，关机保存供电方式 220VAC-12V@3A 电源适配器工作温度-10℃ ~ +45℃，非冷凝储存温度-30℃ ~ +65℃，非冷凝外形尺寸Φ94mm * 160mm(L) * 200mm(H)重量1.0Kg整体外形尺寸378mm * 360mm * 160mm（包装箱含电源适配器，标定片等）整体重量 2.5Kg产品外形 注：技术指标作产品介绍使用，仅供参考，以产品随机说明书为准，如有变更，恕不另行通知。

便携式反射率测量仪410-Solar介绍 便携式反射率测量仪410-Solar内置积分球、红外光源、探测器、微型控制处理器等，进行测量时，抠动扳机出发红外光源发射光线到样品表面，样品反射回来的光线经积分球处理后，由探测器及微控制处理器将光信号转换为电信号输出，获得反射率的数据。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。410-Solar 便携式反射率测量仪，可以实现在实验室以及野外现场金确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等。 应用领域n 航空工业 n 天文望远镜检查n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制仪器特点n 测量总反射、漫反射、20°角的镜面反射n NIST标准n 快速、便携n PDA触摸屏操作，内置SD卡n 计算半球反射比

便携式定向半球反射率仪410DHR介绍 便携式定向半球反射率仪410DHR是一款高金度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高金度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 仪器性能n 基于修正的积分球方法（与NRL和NIST合作）n 采用6个探测器测量0.9~12μm范围内6个波段的反射率n 20°和60°入射角测量反射率n 每个测量周期记录12个数据点n 便携，测量准确，软件操作方便主要特点n 光谱范围覆盖NIR-SWIR-MWIR-LWIRn 响应快速，测量准确n 高精度，测量头可更换n 电池操作，简单方便n 触摸屏可野外现场测量n 可同时提供十种设备运行信息n NIST校准

针对高反射率（R99.7%）的光学样品，德国 IPHT Jena研发了光腔衰荡光谱法（Cavity Ring-Down Spectroscopy,CRDS）反射率测量测量系统, 它通过对指数型腔内衰荡信号的检测，去掉了传统检测方法中激光能量起伏所引起的误差, 大大提高了测量精度。测量原理当一束脉冲激光沿着光轴入射到光腔内，忽略衍射及散射损耗，单色脉冲光在两个腔镜之间往返振荡，每经过一次循环透射出部分光，探测器通过接收光脉冲信号得到其以单指数形式衰减。τ为衰荡时间，指光子出射脉冲光强衰减为初始光强的1/e时经历的时间。C代表光速，L是代表腔长，RM是两个腔镜的几何平均反射率，散射V和吸收系数α忽略不计。则，衰荡时间τ表示为从公式上可知:1)腔内损耗越小，反射率越高，衰荡时间越长。2)在已知参考片的反射率Rref 前提下，可求得要待测样品的反射率R。一、 德国IPHT CRD高反射率测量系统1. CRD系统介绍系统包含1. 激光光源2. 光学零部件3. A/D转换器4. 探测系统系统要求详细说明激光器波长范围400nm-1064nm内常见激光波长激光器工作模式脉冲测量角度范围标准0°；45°选配反射率测量范围99.9%-99.995%测量精度反射率精度取决于待测样品反射率，精度为（1-R）*10%样品类型平平/平凹镜(凹面的曲率半径≥500mm),平面抛光，凹面镀高反，反射率R在99.9%...99.995%范围内样品尺寸要求标准即1英寸；半英寸/50mm可选（直径要求可根据客户需求定制）标准厚度：1/4英寸（5-7mm可选）应用：准确检测高反射率激光腔镜的反射率，尤其对于反射率大于99.9%的腔镜测量具有更好的效果。

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 总反射比 输出参数 绝对反射比 波段 6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm 入射角 20°和60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR源 Kanthal合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃； 操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

简单介绍美国15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB便携式镜面反射率计基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。详细介绍美国D&S公司生产的15R-USB便携式镜面反射率计是专门针对野外或实验室内应用设计的，可以测量平面或曲面样品的镜面反射率，15R-USB便携式镜面反射率计采用可充电电池供电，每次充电完成后可连续测量15个小时。反射计设计小巧，高约15cm，直径12.7cm，重量1.0kg，测量时间约每分钟2~6次并自动记录和存储数据。具有USB接口可进行数据下载、数据维护和固件升。这些特点对于现场太阳反射镜的测量、检测、生产过程中的质量控制、热控制涂层的维护等应用域非常理想。具有如下优点： （1）电池操作，野外便携 （2）重复性：±0.002 （3）质量控制和检测的理想应用产品原理介绍15R-USB便携式镜面反射率计使用660nm的LED光源，通过校准光学部件产生10mm直径光束源。反射的光束穿过3个孔中的1个，标准接收角度为15、25和46mrad，提供7mrad可选孔径。15R-USB基座上有两个可调节的支承点，可用来调准反射光束与接收光学系统。支撑点中间具有停止位，可以根据反射镜厚度来调节；为了确认对准，可旋转检测器，通过15R-USB顶部的目镜查看光学路径和反射光束。LED光源通过电子截光并同步测量反射光束以去除杂散光误差。同时，光源通过参比检测器监测以减少热漂移。增益调节可将测量值准确到0.001。在仪器的底部，提供个封装的标准体。测量反射率时，只需将15R-USB置于待测量的反射镜上，并调节支撑点到液晶屏显示的大读数。15R主机包含：15R-USB控制软件，USB连接线，反射率标准体，镍镉电池，电池充电器，操作手册，维护手册，技术说明和运输箱。技术参数测量描述：测量15度入射角、10mm入射光源的镜面反射率，光束发散为5.0mrad。光源：高灵敏度红光LED 660nm，90HZ截光去除杂散光；可选570nm绿光LED。光学：LED光源固定于小光圈内确保提供点光源，并通过会聚透镜校准；内置光学进行过防尘处理。标准体：提供封装的镜面反射标准体，安装在仪器底部。重复性：±0.002分辨率：LCD显示反射率0.1%，增益调节旋钮可进行标准体校准。操作温度：0~50℃耗电：可充电电池提供15个小时连续测量，通用100-240VAC电源适配器。重量：1.0kg物理尺寸：如图

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数 ET100 便携式红外发射率测量仪 符合标准 ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比 波段 6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

一、概述 RT-V 系列反射透射测量仪，采用进口氘卤二合一光源，结合高性能分光光谱仪，可测量获得紫外到近红外光谱范围内薄膜的反射率和透射率光谱，并进一步计算获得样品色坐标，以及薄膜厚度、光学常数等信息。 ■ 高性价比穿透率、反射率测量解决方案 ■ 色坐标计算和薄膜特征解析 ■ 模块化定制，支持在线集成应用二、产品特点■ 采用高性能进口氘卤二合一光源，光谱范围覆盖可见光到近红外范围；■ 支持全光谱范围反射率高精度量测，基于薄膜层上下界面反射光干涉原理，轻松解析单层至多层薄膜特征；三、产品应用 RT系列反射透射测量仪，可实现各种透明、低对比度、高反射率样品反射率和穿透率光谱快速精准测量，并进一步计算获得样品色坐标、薄膜样品厚度及光学常数。广泛应用于各种滤光片、滤镜、镜头、玻璃、染色液、薄膜的测量。技术参数

简要描述：本太阳光谱反射率测量仪配备不同的太阳能测量光谱范围可选。SSR能够准确测量漫反射和镜面反射材料的太阳能吸收率和反射率，甚至还可测透明材料透射率(zui厚可测 6.4mm)。太阳能反射率或吸收率的精度为，重复精度在0.003。主要优势：使用控制器面板上的按钮，操作者可以选择显示读出相应太阳光谱的吸收率还是反射率。另外六个探测器所对应的光谱，其吸收率和反射率也能独立地显示出来。仪器的校准和调试可以通过控制器上的一个按钮一键完成。可以zui多保存五组不同标准的校准数据在控制器里，同时还允许客户自己使用另外的标准来使用仪器。可选配件：自定义适配器: 适配器可用来测量非平坦表面的反射率和吸收率。专门测量圆柱体的适配器可用来测量直径zui小到13mm的圆柱体表面。仪器的测量头处有一个专门的连接口可连接各种适配器，且不会影响仪器的正常使用。适配器是用来匹配不同的测量表面，且该表面可对应 重复测量的测量端口。同样，我们也为适配 器提供了校准标准和仪器控制器上的校准指令。对于平面的检测和非平面的检测，其操 作方法都是一样的。手持装置: 当我们必须手持本仪器来对准 样品时我们可以选本配置。12V手持便携式电源:使D&S Solar Spectrum Reflectometer Model SSR-ER变 成手持式的, 另外配备一个可选的电池组。电池组附带自己的可充电电池,充电系统和手提箱。当SSR-ER连接12v电池组时可连续用5个小时。 透过率部件:D&S透过率部件SSR-T是可以 直接插入SSR-R反射率测量仪上的，这样可 使该仪器能够测量总太阳能透过率。技术参数：测量光谱:为了匹配不同的太阳光谱，我们配 置了六个经过高精度标定的探测器来对应不 同的光谱范围。通过创建一个自定义加权法 来配置每个仪器,仪器对太阳光谱的匹配得 到了优化，而我们的仪器之间的差异也缩减 到zui小。DS太阳光谱反射率测量仪精度: 对一个较典型太阳能光谱范围，偏差大 约为±0.002，标准差大约为0.005。漂移: 5分钟预热后, 漂移小于 +/- (读数的1%+ 0.003)每小时。温度：zui大工作温度电子控制器zui大可耐140 F (60 C). 测量头和透射率附件zui大可耐 120F (50 C).湿度: 存储和工作湿度zui大80%校准标准:提供漫反射和镜面反射标准。这些 是二级标准，校准标准可溯源至NBS标准 (2019和2023)。标准的校准数据被编程在电 子封装中的只读存储器中，并提供在校准记 录上。测量端口:反射率测量端口直径为1英寸 (2.54cm)。将样品放置在一个特氟龙垫片 上，这个垫圈可以保护样本表面避免在测灯: 可替换卤钨灯分辨率:4位数的液晶显示结果代表了我们所 测量的反射率，吸收率和透射率都能达到 0.001级别的分辨率。重复性: +/- 0.003 单元电源要求: 100-240 VAC, 50 to 60 Hz, 通用 电源适配器并配备模块化的电源线。手提箱:手提箱可放置测量头、电缆、标准手 册、备件和其他选项(不包括透射附件)。电缆:软性电缆用于连接仪器测量头和控制 器。标准电缆长度是5英尺(1.5米)。可选的电 缆长度32英尺(10米)。重量:测量头,2磅。(0.9公斤) 电子控制器4 磅。(1.8公斤),透射附件10磅。(4.5公斤)

1. 测量原理：定向半球反射（DHR） , 20°±1°入射2. 测量波段:双波段，3-5卩m & 8-12pm3. 重复性：＜ 0.014. 便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好5.彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然，一键测量，操作简便6.数据存储：Micro SD卡，最大2048条记录，分8组，TXT文件格式，方便在PC机上后续数据分析国内商用化产品产品经过工程化考验隐身涂覆材料红外特性硏究飞机、舰船、车辆红外隐身性能现场评估RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用先进的光电检测技 术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学设计技术，新型 的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段 （3-5um和8-12um）发射率的贴近测量。产品针对野外、移动试验条件设 计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品的技术与特点，具有携带方便、 操作简单、等优点，测量结果保存在SD卡中。可广泛应用于飞机、舰船、车辆的红外隐身性能现场评估、红外隐身涂 覆材料的研究等，是现代科研与军事研究不可或缺的光电检测仪器。销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司联系方式：029-81870090型号ModelRLK650原理 Principle定向半球反射（DHR）, 20° ±1°入射测量波段 Spectral Response双波段3-5pm & 8-12pm工作模式Work Mode发射率/反射率重复性 repeatabilityW 0.01显示分辨率 Display Resolution0.001显示屏 Screen Type3.5” TFT LCD 触摸屏测量时间Measurement Time1。秒（每次测量进行2次数据采集）预热时间Stanby Time 90秒数据存储Data StoreMicro SD卡（8Gbyte）,最大2048条记录，分8组数据下载Data Download下载操作后，2048条记录，分8个TXT文件格式，保存在MicroSD卡中供电方式Power SupplyLi电池，18V3AH,持续工作时间＞3小时，可更换工作温度Working Temperature0P~+45P,非冷凝储存温度 Store Temperature-30P~+65P,非冷凝外形尺寸Dimension246mm * 290mm * 108mm（测量头）重量Weight2.3Kg（测量头）整体外形尺寸 Total Dimension480mm *410mm* 200mm（包装箱含电池、充电器、标准片等）整体重量Total Weight6.4Kg（包装箱含电池、充电器、标准片等）销售商：西安立鼎光电科技有限公司 生产商：西安中川光电科技有限公司 联系方式：029-818700902\

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪 测量参数 定向半球反射比 (DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 发射率 波段 2个波段：3~5、8~12μm 入射角 20°法线入射 样品表面： 任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面 测量时间 10秒/次；90秒预热 IR 源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计，测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境： -25~70℃； 操作环境：0~40℃，非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg，含电池

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准 n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比技术参数ET100 便携式红外发射率测量仪符合标准ASTM E408测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法波段范围内积分总反射比 输出参数总发射比波段6个波段：1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm入射角20°&60°法线入射 样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

光化学反射指数(PRI)测量仪可在近地面对植物冠层光化学反射指数（PRI）进行长期定位监测，是研究植物冠层水平叶黄素循环的理想手段。PRI测量仪制作工艺考究、坚固耐用，可在各种恶劣天气条件下正常工作；其体积小巧，安装简易方便；性价比高，适合多处布点。 工作原理光化学反射指数（PRI）是由冠层对532nm的反射率与570nm的反射率之差比上两者之和计算得到，因此需同时安装向上和向下两个传感器来计算冠层对这两个波长的反射率。向上的PRI传感器检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自天空的入射光强度。传感器经过了余弦校正，具有半球视场。安装时须保证视场内只有天空，没有冠层和其他地物。向下的PRI传感器也是检测532nm和570nm的光照强度。测量结果代表了来自冠层的反射光强度。传感器的视野范围被限定在35°以内，这种限定使得传感器可以准确朝向待测冠层。产品特点耗电量低性价比高支持SDI-12通讯协议自动测量、收集数据，校准信息保存在传感器内环氧树脂密封工艺，防水，耐受恶劣天气，可在野外长期布设若使用ZL6数据采集器，可通过互联网终端实现远程数据查看和下载应用领域研究植物冠层光能利用效率估算生态系统总初级生产力研究碳通量的空间分布研究冠层干旱、疾病或其他胁迫 技术参数校准系数（灵敏度的倒数）逐个传感器校准，数据存储在固件中校准不确定性± 5 %波长范围绿光检测器 532 nm，半峰宽（FWHM）10 nm黄光检测器 570 nm，半峰宽（FWHM）10 nm测量范围2倍全日照测量重复性 1 %长期漂移每年 2 %响应时间 0.6 s视场范围S2-421-SS (向上): 180°S2-422-SS (向下): 35°方向（余弦）响应± 2 % @ 45°, ± 5 % @ 75° 天顶角温度响应 0.1 % 每 ℃输出SDI-12供电5.5 ~ 24 V DC外壳带有丙烯酸散射盖的阳极铝IP防护IP68工作环境-40 ~ 70 ℃ 0 ~ 100 % RH尺寸S2-421-SS (向上): 直径30.5 mm, 高37 mm；S2-422-SS (向下): 直径23.5 mm, 高43 mm重量（包含5米缆线）S2-421-SS (向上): 140 g；S2-422-SS (向下): 110 g缆线5米屏蔽双绞线；TPR护套（高耐水性、高紫外线稳定性、在寒冷条件下的灵活性）；引线；不锈钢（316），ZL6立体声接口兼容数采（须另购）METER EM60 系列, ZL6 系列, ZSC, ProCheck, Campbell Scientific订购指南传感器：S2-421-SS向上半球视野传感器，S2-422-SS向下视场光阑传感器数采：ZL6数据采集器。另有归一化植被指数(NDVI)传感器可选购。相关产品SRS-NDVI 归一化植被指数测量仪产地与厂家：美国METER公司

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。仪器性能 n 基于修正的积分球方法（与NRL和NIST合作）n 采用6个探测器测量0.9~12μm范围内6个波段的反射率 n 20°和60°入射角测量反射率n 每个测量周期记录12个数据点n 便携，测量准确，软件操作方便 主要特点n 光谱范围覆盖NIR-SWIR-MWIR-LWIRn 响应快速，测量准确n 高精度，测量头可更换n 电池操作，简单方便n 触摸屏可野外现场测量n 可同时提供十种设备运行信息n NIST校准技术参数410DHR 便携式定向半球反射率仪测量参数定向半球反射比(DHR)测量方法总反射比输出参数绝对反射比 波段6个波段：0.9-1.1、1.9-2.4、3.0-4.0、3.0-5.0、4.0-5.0、8.0-12.0μm入射角20°和60°法线入射样品表面任何表面，6”半径凸面，12”半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR源Kanthal合金测量探头模块化设计，测量头可更换 操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境：-25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

反射率测定仪校准标准板 1.校准范围：90±5；80±5；70±5；60±52.材质：陶瓷 3.规格：?50mm，厚度5mm符合JJF 1232-2009《反射率测定仪》校准规范要求，用于基于白色、浅色颜料对比率测量的反射率测定设备的校准。上海标卓科学仪器有限公司是仪器仪表行业的新锐企业，检测仪器设备的生产、销售、维修、计量管理于一体的综合型公司。公司生产整套完整的精密测量仪器及相关解决方案，并代理、经销国内外几百家的检测仪器和机械设备。主要涉及：机械设备检测仪器、长度类、力学类、电学类、试验类、光学类、精密量仪类、无损测试、理化分析、教学仪器、专用量仪及环境试验设备仪器等等系列，销售产品达成千上万多种，为企业质量管理及企业认证提供完善硬件设备的服务。

便携式红外发射率测量仪ET100介绍 发射率测量仪ET100采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。 ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角，6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场金确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。 应用领域 n 航空工业n 涂层领域n 太阳能领域优化太阳能利用性能n 节能建筑n 光学材料质量控制 主要特点n 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数n NIST标准n 快速、便携n 电池操作非常方便n 测量标准和60°入射角的定向热发射比n 计算半球热发射比

TESA2000是在TEMP 2000A基础上增加光谱半球反射率测定功能，光谱范围250 nm to 2500 nm ，主要用于材料太阳光谱吸收、反射特性测试。 AZ Technology' s TESA 2000 Portable Emissometer/Reflectometer and Solar Reflectometer, is compact, lightweight, rugged, and ergonomically engineered for ease of use in the field or in the laboratory to determine ambient temperature total emittance and solar reflectance of test surfaces.The TESA 2000 can be conveniently used in a laboratory setting (top right image) where samples can be sat atop the instrument and left while repeated measurements are being taken, or as a portable unit (bottom right image).The TESA 2000 provides in a single unit:1) A portable emissometer/reflectometer that performs optically integrated total hemispheric reflectance measurements from less than 3 to greater than 35 micrometers wavelength. Thus, performing the same measurement as the TEMP 2000A (the recognized replacement for the no longer produced Gier Dunkle DB-100 IR Reflectometer**), providing improved emittance determination performance and maintainability, and in accordance with the ASTM E408 standard.2) A portable solar reflectometer that performs optically integrated total hemispheric reflectance measurements.The TESA 2000 optical system has been designed to minimize losses, to facilitate and maintain optical alignment, and to utilize the features of AZ Technology' s patented ellipsoid collector (Patent Number 5,659,397) that allows compactness for portability, efficiency, and measurement accuracy. The instrument is fully portable and can be used in the most remote locations. The instrument is available with carrying cases (which will fit in the overhead bin of most jet aircraft), rechargeable batteries, battery charger, instrument inspection head, display unit, and an operator vest.The table below lists specifications for the TESA 2000.Emittance wavelength3um to 35um (not limited by filters, windows, etc.)Reflectance wavelength250 to 2500 nmMeasurement accuracy (for specular and diffuse samples)- ± 1% of full scale for gray samples - ± 3% of full scale for non-gray samplesRepeatability- ± 0.5% of full scale or betterSample typeAny Sample, including foils, insulators, etc.Sample size and geometry-Flat Surfaces: &ge 0.4 inches (1 cm) diameterSample temperatureRoom Temperature, AmbientReadouts-Digital LCD panel meter-Selectable solar reflectance solar absorption and IR reflectance/emittance displayMeasurement range (reflectance)0.05 to 1.00Dimensions-Optical Head: 5" diameter x 8" long-Control and Display Unit: 7.5 x 5.5 x 3 inches-Battery Box: 7.5 x 6.25 x 4.0 inches-Carry Case: 12.5 x 17 x 11 inchesWeight-Optical Head: 6 pounds-Control and Display Unit: 3.25 pounds-Battery Box: 11 pounds-Carry Case: 9 poundsWarranty1 year parts and labor*Note: terms reflectance, emittance and absorptance and terms reflectivity, emissivity and absorptivity are often used interchangeably. **The TESA 2000 represents an excellent option for replacing a Gier Dunkle DB100 while adding more capabilities and increased portability

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500-°K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 n 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数n 对于不透明物体：Emissivity = 1- reflectancen 软件简单易用，具有强大的测量和数据处理功能n 液晶触摸屏PDA图文操作界面n 可同时提供十种设备运行信息n NIST标准 n 快速、便携n 电池操作非常方便应 用n 为红外相机提供发射率参数 n 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪测量参数 定向半球反射比 (DHR)测量方法波段范围内积分总反射比输出参数发射率波段2个波段：3~5、8~12μm入射角20°法线入射样品表面：任何表面，6” 半径凸面，12” 半径凹面测量时间10秒/次；90秒预热IR 源铬铝钴合金测量探头模块化设计，测量头可更换操作界面触摸式液晶屏软件界面工作环境储存环境： -25~70℃；操作环境：0~40℃，非冷凝供电两块可充电镍氢电池重量2.1Kg，含电池产地：美国

光谱反射率及颜色测量 描述反射和透射一样是物品的基本光学特性，也是光谱测量的基本内容。对于不同种类的样品，为了获取最佳的光谱测量数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。物体表面的反射主要有镜面反射和漫反射两种。光在完美的平整表面上的反射是镜面反射。光在毛糙表面上的反射是漫反射。光在大多数物体表面的反射则介于两者之间。反射测量可以用于测量元件的反射率，测量物体的反射颜色和化学样品中的成分信息。当我们对物体进行反射测量时，判断物体表面主要是哪种反射类型是非常重要的。那些看上去非常晃眼的或者非常光亮的样品表面大多数是镜面反射，因反射光相对入射光而言，角度改变了180度，所以可用光纤来进行取样测量。特点样品放置方便，无须定制样品夹具操作简便、重复性好、检测快速可实时读取透过率值，数据可重复导入读取、使用方便读取反射率值通过积分球采样，还可进一步测量材料的表面颜色典型测试数据不同颜色纸张的光谱反射率光纤型光谱反射测量套件应用测量平整表面的镜面反射材料的光谱反射率。配置清单积分球型光谱反射率测量套件应用适用于平面或曲面材料的漫反射或镜面反射测量，系统经过相对强度定标后，还可进一步测量材料的表面颜色。配置清单更多精彩内容，请关注下方！

ET10 高精度便携式发射率测量仪，可测量任何不透明材料的发射率；获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时，不同温度下的反射率与波长是不变的，所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来，ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

自动绝对反射率测量系统可以测量绝对反射率和透射率，也可同时改变样品的入射角。 适用于测量太阳能电池元件、半导体、薄膜、光学元件、光学器件等各种固态样品的光谱特性和膜厚。 通过旋转样品台来设置入射角，通过滑动积分球来控制光接收角。 此外，入射角和接收角可以在异步模式下单独设置。 此外，还可以通过指定 P 和 S 偏振并任意设置偏振片的角度来研究样品的偏振特性。&bull 样品室及内部结构图中显示了自动绝对反射率测量单元的内部图 1 和图 2。 通过旋转样品台和检测器，可以改变入射角和光接收角， 样品台和检测部分由PC控制，透射率和绝对反射率可以在同一系统中进行评估。&bull 防窥视膜的视角测量随着在智能手机或其他设备屏幕上的防窥膜具有盲人状结构，其中透明层和遮光层交替排列，因此无法从左右、顶部和底部等看到屏幕。 由于这种结构，视角会随着着色层的高度和间距而变化。 评估此类结构的视角和透射率的最佳方法是使用绝对反射率测量单元，该单元可以将样品旋转到指定角度并测量光谱。在这里，我们介绍了测量智能手机防窥视膜透射光谱的角度依赖性的结果（产品规格：65度视角）。 图 4 显示了以 60 度间隔对入射角 &minus 60~20度进行光谱测量获得的间隔数据，图 5 显示了 550 nm 处透射率的角度依赖性。 从图4可以看出，在±32.5度左右的薄膜标称视角下，透光率约为5%，几乎没有透光

SOC410DHR 是一款高精度手持式DHR反射率测量仪，可进行现场测量，提供高精度、高质量测量数据，并可以更换多个测量头进行测量。410DHR 具有内置PDA和触摸屏，并由显示屏上的软件按键来控制测量；可测量6个光谱范围的材料光学常数，进行测量时，进行测量时，将仪器对准测量样品表面，按下扳机即可记录数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计，内置积分球、红外光源、微型控制处理器等，采用电池供电、触摸屏显示，具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时，只需将仪器对准物体表面，扣动扳机后，自动进行反射率测量，测量完成后，会在显示屏上显示测量结果，同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内，可供用户后续处理和分析数据，测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样，并可提供NIST可溯源标定。

SSR-ER太阳光谱反射率仪提供准确的材料漫反射和镜面反射测量，材料样品最小厚度可至6.4mm，太阳反射比和吸收比精确到0.001，重复性达到0.003。采用钨丝提供漫反射光源，测量4个滤光探测器、20度近法线入射角的样品辐射反射。探测器主要覆盖紫外、蓝光、红光和IR光谱范围。2个额外的探测器用来重采样低色温情况下红光和IR光源。SSR 漫反射和镜面反射标准体随机提供，标准体通过美国National Bureau of Standards Materials 标定，仪器经过标准体定标后即可开始测量。默认操作模式下，仪器每完成一个测量循环的时间为8秒钟，钨灯亮6秒的同时并记录检测器偏移值，灯亮两秒钟后6个探测器进行反射率测量并存储，计算太阳反射比并显示在LCD上，然后关闭光源。通过键盘可切换6个探测器的反射比或吸收比显示。