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磁光克尔测量系统

仪器信息网磁光克尔测量系统专题为您提供2024年最新磁光克尔测量系统价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括磁光克尔测量系统参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的磁光克尔测量系统您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合磁光克尔测量系统相关的耗材配件、试剂标物,还有磁光克尔测量系统相关的最新资讯、资料,以及磁光克尔测量系统相关的解决方案。

磁光克尔测量系统相关的耗材

  • BBO普克尔盒
    BBO普克尔盒和BBO电光Q开关由由中国领先的进口光学精密仪器和器材旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口的BBO普克尔盒和BBO电光Q开关.BBO普克尔盒特点: ◎ BBO普克尔盒光谱范围250-1100nm ◎ BBO电光Q开关高消光比◎ BBO普克尔盒微弱的压电反应 ◎ BBO普克尔盒高损伤阈值 ◎ BBO电光Q开关高平均功率 BBO普克尔盒单晶体/双晶体配置任选BBO普克尔盒所用的BBO晶体与其他材料相比,光学质量好,双折射应力低,消光比高,波前畸变小,在紫外到近红外波段的光学吸收小,因而透过率高。BBO普克尔盒适用于较高的重复频率和平均功率。BBO普克尔盒和BBO电光Q开关在1-50KHz的重复频率范围内表现出可以忽略的压电反应。我们提供的BBO普克尔盒,BBO电光Q开关与激光脉冲选通系统匹配良好,非常应用于再生激光放大器的种子注入、选通、斩波和偏振旋转等应用。BBO普克尔盒的一个优点是它不会带来明显的压电效应。BBO普克尔盒,BBO电光Q开关所用的BBO晶体的有用光学波段是250-2100nm,在350-1100nm波段增透镀膜后的光学透过率可达98.5%。单块晶体的典型消光比可达1000:1@633nm(30db),单次波前畸变1/8波长@633nm,在较宽的温度范围内表现出优异的热稳定性。BBO晶体表现出轻微的吸湿性,因此必须对其密闭使用,当然,在干燥,洁净的空间内,您可以大胆地去使用。BBO普克尔盒,BBO电光Q开关的激光损伤阈值与RTP相当,大约为850MW/cm2 @10ns, 1064nm.对于激光脉冲的拾取/脉冲选通应用而言,当脉宽小于100皮秒时,损伤阈值大约为10GW/cm2.进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!BBO电光Q开关参数 : 更多BBO普克尔盒,BBO电光Q开关请浏览网页:http://www.fellesoptik.com/pockel-cell.html型号BBO1150-3BBO1150-4BBO1150-5BBO1150-6孔径/直径, mm3456半波延迟电压,KV @633nm @800nm @1064nm3.44.35.84.65.87.75.77.29.66.98.711.5晶体材料BBO透过率98% 400-1064nm消光比(全孔径)1000:1@633nm上升时间, 皮秒350电容,pf6峰值损伤阈值850MW/cm2 10ns, 10GW/cm2.100ps @350-1100nm
  • RTP普克尔盒
    RTP普克尔盒,RTP电光Q开关,RTP电光调制器RTP普克尔盒,RTP电光Q开关,RTP电光调制器.RTP普克尔盒采用了新晶体材料RTP晶体,它兼具KD*P和LiNb03两种晶体次材料的特点,同时还具有独特的优点:无压电效应产生,适合高重复频率应用(最大100KHz),RTP普克尔盒是高重复频率光电调制器和Q开关的良好选择,是最佳的RTP电光Q开关和RTP电光调制器。RTP普克尔盒,又称RTP电光Q开关,有效光学波长范围为350-4300nm. 400-1100nm波段的透过率在镀增透膜后可达98.5%,目前我们标准的镀膜是1064nm和700-900nm,其他波段的镀膜也可根据用户要求提供。RTP普克尔盒和RTP电光Q开关的消光比在633nm时测得的数值是200:1,波长畸变小于1/8波长。RTP电光调制器在较宽的温度范围内表现出优异的热稳定性,RTP电光Q开关电光系数在10-50摄氏度的范围内受温度影响很小。RTP电光调制器的激光损伤阈值大约为850MW/cm2 @10ns, 1064nm.对于激光脉冲的拾取/脉冲选通应用而言,对于脉宽小于100皮秒的激光脉冲,损伤阈值大约为10GW/cm2.我们提供的RTP普克尔盒和RTP电光Q开关的工作电压与相同孔径的KD*P和BBO普克尔的电压稍低。领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
  • 普克尔盒调节架
    普克尔盒定位台由孚光精仪进口销售,孚光精仪是中国领先的进口(光学)精密仪器旗舰型服务商! 孚光精仪(Felles Photonic Instruments) 提供各种普克尔盒的普克尔盒定位台,普克尔盒安装架用于各种普克尔盒的精密安装,定位.
  • 微型普克尔盒
    微型普克尔盒,紧凑型普克尔盒,微型电光Q开关由中国领先的进口光学精密仪器和器材旗舰型服务商-孚光精仪进口销售,孚光精仪精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,中国工程物理研究院,航天3院,哈工大,南开,山东大学等单位提供优质进口的:微型普克尔盒,紧凑型普克尔盒,微型电光Q开关。Felles1145KD*P系列微型普克尔盒是专业为最新的微型激光制造而设计的微型电光Q开关. 它非常适合再生放大器中的Q开关、腔倒空和激光脉冲拾取等应用, 也适合偏振旋转,激光斩波和脉冲拾取等. 这款紧凑型普克尔盒适合大多数高功率激光应用的要求.这两款微型普克尔盒,紧凑型普克尔盒同样使用最优质的KD*P晶体制造而成, 晶体安装在配备熔炉石英窗口的密闭铝制外壳里, 也可使用折射率匹配的液体以减少内部光学界面的反射. Felles1145KD*P系列微型普克尔盒,紧凑型普克尔盒,微型电光Q开关参数型号:Felles1145KD*P系列孔径:8mm材料:KD*P晶体承受峰值功率密度: (650-1100nm,光束均匀无热点)750MW/cm^2 脉宽20ns10GW/cm^2 脉宽500ps20GW/cm^2 脉宽100ps透光范围:400-1100nm透过率:98℅ 400-1064nm四分之一波电压: 2.2KV@694nm, 3.4KV@064nm消光比:1000:1@633nm 上升时间:250ps电容:5PF重量:50g领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!全国统一联系方式:
  • 普克尔盒
    普克尔盒,电光Q开关由孚光精仪进口销售,孚光精仪是中国领先的进口(光学)精密仪器旗舰型服务商!精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,哈尔滨工业大学,中国工程物理研究院,山东大学等单位提供这种优质进口的:普克尔盒,电光Q开关。Felles1059KD*P系列普克尔盒一种性价比极高的电光Q开关,这款电光Q开关广泛应用于全世界的激光器生产公司、大学、研究所的各种激光器。这款电光Q开关早在1970年就在美国广泛使用,这么多年来,一直更新并改进技术,已经成为高峰值功率激光的最理想普克尔盒和电光Q开关。这个系列的电光Q开关使用的是同一类型的优质KD*P晶体、优质熔炉石英窗口、高损伤阈值的增透镀膜和高级密封装置。电光Q开关在制作时使用了高含量的重氢元素的KDP晶体,这种选择是因为KD*P晶体具有低残余双折射、低波前畸变和无应力的优点。同时我们充分考虑了机械和热温定问题,采用柱状环电极和热稳定和机械稳定外壳,还选择了无气泡和应变的上等熔炉石英作为窗口材料。这款普克尔盒具有良好的抗损伤阈值能力。对于快速脉冲选通应用,如果脉宽低于100皮秒,损伤阈值可达20Gigawatts/cm^2.对于Q开关应用,如果脉宽低于10纳秒,损伤阈值可达850MW/cm^2. 普克尔盒和电光Q开关参数 型号:Felles1059KD*P系列孔径:10mm或12mm材料:KD*P晶体(98.5%重氢元素的D-KDP)承受峰值功率密度: (光束均匀无热点)850MW/cm^2 脉宽10ns10GW/cm^2 脉宽500ps20GW/cm^2 脉宽 100ps透光范围:400-1100nm透过率:98℅ 350-1064nm四分之一波电压: 2.1KV@694nm, 3.2KV@064nm消光比:1000:1@633nm 上升时间:350ps电容:5PF重量:90g领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
  • 大口径普克尔盒
    大口径普克尔盒|大孔径普克尔盒由孚光精仪进口销售,孚光精仪是中国领先的进口(光学)精密仪器旗舰型服务商!精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,哈尔滨工业大学,中国工程物理研究院,,山东大学等单位提供这种大口径普克尔盒,大孔径普克尔盒,大孔径电光Q开关。1058系列大口径普克尔盒是大孔径电光Q开关用于光束直径高达20mm的高能激光应用. 1058系列大孔径普克尔盒最早用于红宝石激光和Nd:YAG医疗激光,目前,这些进大口径普克尔盒用于大功率的激光器中.这个系列大孔径普克尔盒具有良好的密封性,使用高质量的晶体材料和熔炉石英窗口以及高损伤阈值的镀膜,是高功率激光应用的良好选择.该Q开关长期以来在全球的激光市场销量遥远领先,在中国的中科院上海光机所,复旦大学,南开大学,哈尔滨工业大学,山东大学等单位大量广泛使用。1058系列大口径普克尔盒使用的是高质量的KD*P晶体, 这些晶体在选择时特别注意要求没有应力,裂纹,杂物,要求它们最低的双折射和波前畸变, 因此能够保证最高的激光束. 所有的晶体都配备了圆柱环形电极, 也是目前最为流行的结构,具有良好的通用性. 对于高峰值功率和平均功率的应用而言,我们还能够对大孔径普克尔盒提供650-1100nm范围内的高抗损伤阈值镀膜. 大口径普克尔盒产品参数: 型号:Felles1058-16孔径:16mm材料:KD*P晶体 (98.5%+Deuterated D-KDP)承受峰值功率密度: (光束均匀无热点)850MW/cm^2 脉宽20ns10GW/cm^2 脉宽500ps=20GW/cm^2 脉宽100ps透光范围:450-1100nm透过率:98℅ 400-1064nm四分之一波电压: 2.1KV@694nm, 3.2KV@064nm消光比:=1000:1@633nm 上升时间:350ps电容:=6PF重量:90g型号:Felles1058-20孔径:20mm材料:KD*P晶体 (98.5%+Deuterated D-KDP)承受峰值功率密度: (光束均匀无热点)850MW/cm^2 脉宽20ns10GW/cm^2 脉宽500ps=20GW/cm^2 脉宽100ps透光范围:450-1100nm透过率:98℅ 400-1064nm四分之一波电压: 2.3KV@694nm, 3.5KV@064nm消光比:=1000:1@633nm 上升时间:350ps电容:=6PF重量:90g大口径普克尔盒是大孔径电光Q开关用于光束直径高达20mm的高能激光应用,大孔径普克尔盒使用高质量的晶体材料和熔炉石英窗口以及高损伤阈值的镀膜,是高功率激光应用的良好选择.领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
  • X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统
    X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统 X-Cite® 荧光照明配件光功率测量系统的独特设计专门用于测量荧光显微设备的光功率,具有绝佳的精准性和易用性。它以瓦特为单位显示数据,不仅可用于实验,还可以用于设备的安装和故障排除。该系统包括X-Cite® XP750传感器,外形小巧别致,专门设计用于显微镜载物台。它具有多种功能,可以对 X-Cite® 照明器或其他任何落射荧光光源的输出功率进行测量。为了实现zui终的可重复性,X-Cite® XR2100会利用光导管输入端口或物体平面上的X-Cite® XP750光功率计获得的功率数据,来校准X-Cite® exacte照明器。 功能和优势:功能优势X-Cite® XP750 小巧的显微镜载玻片尺寸适合标准的显微镜压片夹,更方便的直接从物镜测光,无需移除或重新配置设备兼容灯泡,激光和 LED 光源不仅技术ling先,还能适配多种显微镜,更经济探测面积高达 – 10mm同时适用低倍和高倍物镜无聚焦要求快速精确测量宽广的波长和功率测量范围适合多样化的用途和显微镜配置根据NIST/NRC标准进行校对测量结果准确,深受用户信任* NIST指美国国家标准技术研究所( National Institute of Standards and Technology)**NRC指(美国)全国科学研究委员会(National Research Council)***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。XP750规格规格内含物体平面功率传感器,配备电缆和连接器,适用于X-Cite® XR2100设备功率范围5μW-500mW测量分辨率0.01μW-1mW误差***±6%响应时间600ms(起始),3s(确保稳定显示)校准符合NRC** 标准波长范围320nm-750nm灯管类型/光源兼容性X-Cite® exacte,X-Cite® 120系列,汞/HBO,金属卤化物灯,氙灯,LED,激光物镜兼容性4X-63X,空气耦合,FOV直径小于10mm显示通过X-Cite® XR2100显示波长选择使用X-Cite® XR2100的上/下按钮或直接使用PC界面,以1nm为度量进行调节数据容量经X-Cite® XR2100PC控制查看/改变设置,确定波长,记录多个物镜的数据/滤光片/强度设置,下载/输出存储数据指令协议通过X-Cite® XR2100电源重量2.9oz (82g)尺寸(无盖)3″ x 1″ x 0.35″ (75mm x 25mm x 9mm)世界认证通过 X-Cite® XR2100质保一年X-Cite® 包含的技术受下列保护:US#6,437,861 US#7,335,901*NIST指美国国家标准技术研究所( National Institute of Standards and Technology)**NRC指(美国)全国科学研究委员会(National Research Council)***建议每12个月对 X-Cite® XR2100 和 X-Cite® XP750校准一次。Lumen Dynamics集团获得更多信息。
  • 超快普克尔盒
    超快普克尔盒,超快电光调制器是目前转换最快的电光Q开关. Felles1111KD*P普克尔盒使用一块晶体, 上升时间为40皮秒而Felles1112KD*P型具有两块晶体,上升时间为85皮秒.这两款超快普克尔盒,超快电光调制器专业为超快激光的脉冲斩波和拾取而设计, 尤其适合锁模激光器脉冲中拾取皮秒或飞秒激光脉冲. Felles1111KD*P型超快电光调制器的光程为15mm Felles1112KD*P型超快电光调制器的光程是22mm, 这样就最大程度地减小时间色散. 这两款超快普克尔盒,超快电光Q开关盒同样使用最优质的KD*P晶体制造而成, 晶体安装在配备熔炉石英窗口的密闭铝制外壳里, 也可使用折射率匹配的液体以减少内部光学界面的反射.超快普克尔盒超快电光Q开关产品参数: 型号:Felles1111KD*P材料:KD*P晶体晶体个数:1光程:15mm净孔径:2.5mm半波电压: 约6.5KV@1064nm反射系数tr=140ps: 5%上升时间:50ps终端阻抗: 50欧姆阻抗使用1米长50欧姆阻抗的线连接到调制器上尺寸:光束方向 83W x 48H x 50.8 L mm重量:312g型号:Felles1112KD*P材料:KD*P晶体晶体个数:2光程:22mm净孔径:2.5mm半波电压: 约3.3KV@1064nm反射系数tr=140ps: 5%上升时间:100ps终端阻抗: 50欧姆阻抗使用1米长50欧姆阻抗的线连接到调制器上尺寸:光束方向 83W x 48H x 50.8 L mm重量:312g超快普克尔盒,超快电光调制器,超快电光Q开关由孚光精仪进口销售,孚光精仪是中国领先的进口(光学)精密仪器旗舰型服务商!精通光学,服务科学,先后为北京大学,中科院上海光机所,哈尔滨工业大学,中国工程物理研究院,山东大学等单位提供这种优质进口的:超快普克尔盒,超快电光调制器,超快电光Q开关。
  • 任意波形普克尔盒驱动器
    任意波形普克尔盒驱动器是全球领先的任意波形普克尔盒电源,它能够给出任意波形驱动普克尔盒,任意波形普克尔盒驱动器广泛用于激光脉冲整形,产生平顶脉冲,特别适合增益放大器产生的激光整形和高增益再生放大器。任意波形普克尔盒驱动器特色广泛用于产生平顶脉冲,特别适合增益放大器产生的激光整形输出电压3.6KV可编程窗口高达7ns阶梯上升沿时间:300ps每个阶梯位置可编程达数个ps可通过RS23或网线接口下载百万个波形固态存储器随时查看3个波形任意波形普克尔盒驱动器参数脉冲输出:0-3.7KV into 50Ohm最大重复频率:40Hz抖动:40ps (10ps RMS)触发要求:5V 10ns 上升时间,50欧盟阻抗同步输出:3.9伏14ns脉宽,触发延迟:38ns功耗:25W
  • 9KV普克尔盒驱动器
    9KV普克尔盒驱动器是专业为大孔径普克尔盒驱动而设计的高压普克尔盒脉冲发生器,9KV普克尔盒驱动器提供高达9KV的高压脉冲,能够驱动30mm 孔径的DKDP普克尔盒。9KV普克尔盒驱动器是高能激光的常用器件,但是驱动大孔径普克尔盒需要超高电压,要求普克尔盒驱动器同时具有较短上升沿时间和较高电压。采用了FET电路技术,成为全面满足这种普克尔盒驱动应用的高压脉冲发生器。9KV普克尔盒驱动器参数输出脉冲:9KV 可调负载:50欧姆上升沿时间:4ns输出脉宽:12~60ns可调时间延迟:~400ns重复频率:10Hz
  • LED光电测量系统配件
    LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统,它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射,光度学,色度以及效率参数。为了测量各种光源,孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具,光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备,使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量,使用积分球可以更为有效地收集光辐射,而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置,以满足标准测量的要求,能够适应外部光源测量的需要,融入最好的输出功率等级和精度的测量工具,也可根据用户的要求提供定制系统,更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates(x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上,这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据,精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口,用户能以所需电压或电流范围扫描测试)×集合所有电学和光谱参数,用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标;*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成:光谱仪,光纤,积分球,样品台,仪表,数据接口,软件光谱范围:200-850nm或 350-1000nm探测器:2048像素Si CCD阵列采光周期: 1毫秒--65秒光谱分辨率:1.5nm(FHWM)电压源 测量范围:±5μV - ±200V电流源测量范围:±10pA - ±1A电源要求:110/230VAC,系统尺寸:320x360x180mm系统重量:9.8kg
  • 激光脉冲选通系统
    高重复频率(10KHz、20KHz、50KHz、100KHz)激光脉冲选通系统高速激光脉冲选通系统专门为再生激光放大种子注入和脉冲提取而设计,也适合激光脉冲拾取/斩波、锁模脉冲选通、Q开关和倒腔应用。该高速激光脉冲选通系统适合腔内和腔外两种应用,脉冲上升时间和下降时间短至3ns, 它提供了可靠、全固态、高电压开关设计和优良的电光普克尔盒方案。高速激光脉冲选通系统利用高速HV MOSFET开关电路和普克尔盒技术,提供了4种重复频率/电压范围,它使用方便,寿命长,可靠性强,无噪音。高速激光脉冲选通系统高压MOSFET开关模块比较适合RTP电光调制器在550&mdash 2000nm范围内的半波电压,也适合BBO电光调制器在200-532nm上的电压需求。用户只需要旋转控制器面板上的旋钮,就能使得系统在全部电压范围上工作---从小于四分之一电压到半波电压而损失其效率或改变上升和下降时间。与该高速激光脉冲选通系统相配备的电光调Q模块主要有两种:一种是1147型RTP普克尔盒,另一种是1150系列BBO普克尔盒。这两种普克尔和的资料在普克尔和专栏中给出。高速激光脉冲选通系统参数:光谱范围:200-2200nm最大输出脉冲@PRF: 10KHz, 20Khz, 50KHz, 100KHz上升时间:3-4ns光学脉宽:10ns-1ns输入输出脉冲延迟:50ns-1000ns输出脉冲抖动:1ns更多高速激光脉冲选通系统,激光脉冲选通系统,脉冲选通系统内容请浏览:
  • PSP1可编程普克尔盒驱动器
    PSP1可编程普克尔盒驱动器的激光脉冲斩波 300ps-1ns,波长为1064nm, 可调触发延迟装置,可用脉冲终结器,PSP1可编程普克尔盒驱动器在科学界的应用十分广泛。PSP1可编程普克尔盒驱动器参数: 输出振幅3.5kv为50? ,可调度70-100% 脉冲宽度可调 300ps-10ns,25ps步骤 触发延迟约31 ns 抖动 20ps s 由极大到极小 远程控制 通过RS232或以太网控制触发阈值可调 PSP1可编程普克尔盒驱动器本地或远程控制: 脉冲宽度 触发启用/禁用 振幅 远程状态监测就地控 EEPROM电源配置可编程 110 / 240V,交流电源 PSP1可编程普克尔盒驱动器规格:? 没有通道1 ?输出振幅约3.5kv,可调低70%,到50? ?脉冲长度 <300ps-10ns,约25ps步骤 ?上升时间 ≥150 ps ?下降时间 200ps +脉冲长度/ 10 ?触发延迟 固定约31 ns ?触发要求≥4V,脉冲振幅为50欧姆, <2ns的上升时间 ?最大重复率 ≥100Hz ?抖动 <20ps 从极高到极低 ?监视器输出成比例 约×1000衰减 ?触发同步输出 ?本地显示/控制LED指示灯电源 ?电源接通/断开由本机开关装置控制 ?本地/远程控制开关 ?使用LED和键盘进行本地控制? 触发启用/禁用 ?脉冲宽度设置 ?远程控制触发启用/禁用? 脉冲宽度设置 ?状态监测包括脉冲宽度读出 ?连接器输入电源,AC,110/240V ?脉冲输出 ?触发同步输出 ?成比例的监视器输出 ?触发输入 ?抑制输入 ?以太网
  • 多功能量子效率测量系统配件
    超级多功能量子效率测量系统配件成功问世,一套量子效率测试系统可以测量:薄膜厚度, 折射率,透过率,光学常数, 光谱响应,外量子效率和 内量子效率。 多功能量子效率测量系统配件是特别为太阳能光伏电池(器件)的测量而设计开发的新一代量子效率测试系统。它可以测量光伏器件的 光谱响应(Spectral Response, SR, A/W), 外量子效率(External Quantum Efficiency, EQE/IPCE,%) 和 内量子效率(Internal Quantum Efficiency, IQE,%) 多功能量子效率测量系统配件特色 ×光路全部采用光纤传导替代自由空间光系统(Free-Space Optics), 从而可以保证用户长时间使用而不需要准直或调节光路,也不需要日常频繁地移动光学器件或维护,×光路传导系统也规避了周围环境光线对测量的影响。 ×快速测量EQE/IQE测量(5分钟内就可测量串联光伏电池的全部特性); ×真正全部匹配各种光伏技术(C-Si,多晶硅,硅薄膜电池, CIS/CIGS,有机光谱电池等); ×根据用户的需求提供订制化服务; ×集成其它光学测量功能,如”薄膜厚度测量“功能。 内量子效率测量系统测量方法 多功能量子效率测量系统配件由300-1100nm的光源和1/4m的单色仪构成。内部还配置电动的6位滤波片轮实现高精度地测量。而光电流(Photocurrent)测量是通过锁相放大器和数字控制的chopper实现的。 外量子效率测量系统的软件控制光源(LED), 使用高性能光电二极管作为参考,可对串联电池进行偏置测量(Biasing Measurement)。 多功能量子效率测量系统配件对于内量子效率(IQE)的测量是通过使用两个积分球与一个微型光谱仪联合实现的。其中微型光谱仪用于确定反射率和透过率,标定(校准)单色仪的输出光谱带宽。 对于我们还有重要的配件供用户选择:安装样品的温度控制基座和外部电压偏倚源共选择。 多功能量子效率测量系统配件的软件全天候控制这个套系统。该软件基于LABVIEW构建,不仅可以控制系统工作,处理电子和光谱测量,还具有极其广泛的拓展性。 软件采用”指导提示性”界面设计,指导用户一步步完成实验操作,从而大大方便用户的使用。即使没有使用经验的人员也能在软件的提示下工作。 量子效率测试系统软件提供如下两个工作模块: 1) EQE-模块用于测量外部量子效率,控制所有二级模块如温度和偏置测量等》 2) IQE-模块用于反射率和透过率,计算内量子效率,定义单色仪的输出带宽,不要激光和特殊校准配件和程序。
  • 相干反斯托克斯拉曼光谱系统配件
    相干反斯托克斯拉曼光谱系统配件(Coherent Anti-Stokes Raman Spectroscopy )是一种可靠的温度和组分(species) 分析的激光诊断系统。它适用于燃烧系统(火箭发动机,飞机发动机,汽车发动机,其他燃烧)的光学诊断分析,尤其胜任传统测量技术无法测量的恶劣环境的测 量。相干反斯托克斯拉曼光谱系统配件使用一定能量强度的激光束聚焦到样品中,聚焦点探针体积内与共振分子反应,产生相干信号光束,该信号光束导入到光谱仪中,通过光谱仪分析光谱,从而取得燃烧温度和组分浓度结果。相干反斯托克斯拉曼光谱系统配件介绍在大型光学平台上搭建而成,我们已经将这种系统小型化,紧凑化,从而 更适合发动机,燃烧池等实际环境的测量使用。CARS系统是一种可靠的温度和组分分析的激光诊断系统,它适用于燃烧系统的光学诊断分析,尤其胜任传统测量技术无法测量的恶劣环境的测量。
  • R3系列反射光谱率测量系统
    R3 反射光谱测量系统 多角度反射率光谱测量 反射是光谱测量的基本手段,实现反射光谱测量通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品和测量软件等。对于不同种类的样品,为了获取最佳的光谱数据,反射这种基本模式又会演化为更多的形式。 复享科技为用户提供了以光谱仪为核心的反射光谱测量仪器,可以搭建个性化的光谱测量系统。复享科技R3反射光谱测量系统可以配置1个或者2个支架,用于固体和粉末样品的反射率测量。R3光谱测量支架也可以用来固定光纤探头和光源,具备高灵活性和强实用性。  更多优惠信息: http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=R3应用案例典型光谱测量系统示意图产品特点1、丰富的模块化附件方便用户自由组合配置。2、方便用户标准化测试方案,优化实验方案3、通过固定光纤,探头,光源和光谱仪减少用户占用资源。更多信息访问:http://www.ideaoptics.com/.clear{ clear:both } .right{ width:717px } .shang{ margin-bottom:20px font-size:12px } .shang tr td{ padding:10px 0px line-height:24px } a:link { text-decoration: none } a:visited { text-decoration: none } a:hover { text-decoration: none } a:active { text-decoration: none } #nav li{ font-size:12px } /*New Nav Style*/ #nav_wrap { width:710px margin:20px auto } #nav{ background:url(images/nav_bg.gif) repeat-x height:39px position:relative width:710px margin:0px auto } #nav .l{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px 0px width:2px float:left} #nav .r{ background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -4px 0px width:2px float:right} #nav .bt_qnav { float:right } #nav .bt_qnav a{ width:31px line-height:39px display:block padding:9px 2px 0 0 } #nav .c{ float:left margin:0 padding:0} #nav li { float:left list-style:none } #nav li .v a{ width:100px line-height:33px text-align:center display:block color:#FFF background:url(images/navnbg.gif) no-repeat -87px 6px font-family:"Microsoft Yahei" } #nav li .v a:hover,#nav li .v .sele{background:url(images/navnbg.gif) no-repeat 0px -52px color:#116406 line-height:42px font-size:14px} #nav .kind_menu { line-height:24px top:39px position:absolute color:#656565 border:1px solid #cccccc width:708px left:0px font-size:12px } #nav .kind_menu tr td { padding:0px 10px font-size:12px } #nav .kind_menu table{color:#656565 margin:20px auto display:block font-family:"宋体" left:0px } #nav .kind_menu span { font-size:10px color:#cecece line-height:30px *line-height:26px float:left } #tmenu{ margin:20px } .bt{ color:#0099FF font-size:14px font-weight:bold } .yi,.er,.san,.si,.wu,.liu{ background-color:#e9f4fe padding:0px 10px height:80px margin-bottom:15px line-height:20px } .clear{ clear:both } .xbt{ background-color:#ecf6ff padding:5px 10px margin-bottom:15px } .xbt a{font-size:14px font-weight:bold color:#333333 width:80px border-right:1px solid #cccccc text-align:center float:left } .xbt a:hover{color:#0066FF } .cpgs,.xlxh,.yyaj,.cptd,.gjjs,.cpxn{ display:block border-bottom:1px dashed #cccccc font-size:12px font-weight:bold color:#FF6600 padding:10px margin-bottom:10px }
  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 孔径测量系统
    飞纳孔径统计测量分析系统将飞纳电镜和孔径测量统计分析系统结合在一起,孔径的可视化分析变得非常容易。快速、操作简单并能得到高分辨率图像的飞纳电镜集成孔径分析系统,创造出统计分析孔洞数据的强大工具。孔径测量系统应用领域- 电池薄膜行业- 制药行业- 过滤行业- 筛网行业- 生物行业- 化工行业- 造纸行业- 烟草行业- 纺织行业- 陶瓷行业- 食品行业- 有孔材料行业孔径测量系统功能孔径统计分析测量系统是基于飞纳电镜的孔径分析工具,用户直接从飞纳电镜获取拍摄的图片并对孔洞直径、面积等一系列参数进行统计测量,实现样品孔径可视化分析,并生成数据统计报告。应用该系统,可以在建模、研发和质量控制中有新的发现和创新孔径测量系统优势- 直接从飞纳电镜获取图片- 快速生成分析图像- 便捷的操作,提高工作效率- 无限制的图像采集,可轻松存储于网络或优盘,便于共享、交流- 附有高清图片的统计学数据- Phenom的易用性和对环境的良好适应力,用户可以将试样最大程度视觉化
  • 激光脉冲选择器 Felles5046Q
    我们提供的这款进口激光脉冲选择器是一种性能高度可靠,完全固态化的激光脉冲提取器。这款激光脉冲拾取器的上升和下降时间快到3ns, 非常适合再生放大器的开关,激光脉冲的选择控制,锁模脉冲选通,腔倒空以及Q开关应用。该激光脉冲选择器具有可靠,最低辐射噪音,固态,高电压开关等优点,适合内腔和外腔应用这套激光脉冲提取器由电光调制器(普克尔盒)和高速高压Q开关驱动电路构成,通过选择合适的普克尔盒,它可以覆盖300-2000nm的光谱范围。同时,激光脉冲拾取器还可以选配不同的硬件满足多种应用。例如,可以配备Q开关驱动电路和普克尔盒电源,时间发生器。这套激光脉冲选择器可以选配我们的系列普克尔盒产品: KD*P普克尔盒:1):可选孔径为10mm,16mm,20mm,可提供单晶体和双晶体两种配置; 2):孔径8mm, 外部尺寸: 19mm x 25mm (DxL) 3):10mm, 12mm净孔径;高平均功率和高峰值功率的应用,通常使用标准的KD*P 类普克尔盒,它的光谱范围在500-1100nm之间,晶体表面镀增透膜,在脉宽小于10ps的激光而言,它的损伤阈值可达10-20GW/cm2 RTP普克尔盒:这种晶体做成的普克尔盒不会对透射光束产生叠加的光弹性环,这款RTP调制器Q开关系统使用两块晶体,这种配备可以保证在低工作电压时提供良好的热补偿和稳定性;BBO普克尔盒:孔径为3,4,6mm, BBO晶体的压电响应低,可以耐受高平均功率激光并可以在紫外波段工作。这些普克尔盒都与我们的激光脉冲提取器配备使用。激光脉冲拾取器可以为KD*P综场调制器提供1000nm时约为7KV的半波电压。这个激光脉冲选择器前部面板安装有高压控制旋钮,您只需要轻松旋转就可以使得它提供四分之一波电压而不损失系统效率也不增加上升或下降时间。这套激光脉冲拾取器的最大重复频率由普克尔盒的电容和高压决定。例如对与KD*P普克尔盒,它的电容是5pf,工作电压是7KV,重复频率的上限大约是5KHz。领先的进口精密激光光学器件旗舰型服务商--孚光精仪!
  • 滨松MEMS-FTIR微型光谱仪C12606
    MEMS-FTIR(傅里叶转换红外光谱)光谱仪是一个紧凑的,低成本的傅里叶转换红外光谱仪,一个迈克尔逊干涉仪以及红外探测器都打包在一个小小的光谱仪中。通过USB连接到电脑上能够进行光谱测量以及吸光度测量。滨松MEMS-FTIR光谱仪能够广泛的应用于环境分析、食品分析、医疗等领域。MEMS干涉仪SEM图像:详细参数:
  • 应变应力测量系统
    JHYC应变应力测量系统应用范围1.适用于测点相对集中,被测物理量缓慢变化的试验中。2.主要用于静态结构应力分析及静载荷强度研究中测量结构件及材料任意点的静态应力应变及残余应力。3.广泛应用于桥梁、建筑物、飞机、船舶、车辆、起重机械、压力容器等结构静载荷测试、安全和健康状态测试。4.接入不同的传感器,可对力、荷重、压力、扭矩、位移、电压、电流等进行采集。5.可用于实验性测量,也可用于长期监控测量。JHYC应变应力测量系统功能特点1.全数字电路,精度高,稳定性好,具有极强抗干扰性能力仪器采用全数字电路,每通道独立AD、独立MCU,所有通道同步采样,仪器检定指标达到0.1级,显示精度0.1。采用独特的硬件隔离技术,系统具有极强的现场抗干扰性能力。2.配合不同传感器实现多种物理量测量,功能强大,性价比高。仪器通过软件选择不同的输入类型即可轻松接入不同传感器,实现你所需要的物理量的测测量,操作简单方便。3.具有多种补偿方式,能适应各种环境下的测量要求仪器具有桥路、长导线、公共,软件多种补偿方式,稳定性好。尤其是公共补偿方式,可方便快捷的对模块上10个通道进行同时补偿,避免了繁琐的桥路补偿,节约测量成本和时间。4.简洁的面板设计,闪烁式通道及状态指示灯仪器面板简洁大方,省掉一切不必要的端口,简化了测量接线难度。每个模块的状态和通道状态用高亮指示灯闪烁指示,一目了然。5.设置简单,操作方便快捷,海量存贮适合各种应变花和传感器,仪器桥路和配置采用菜单式设计,只需选择测量类型,软件控制仪器完成自动配置和清零,全量程自动平衡,不损失测量范围,无需复杂专业的测前设置。应变片和仪器连接简单方便,主机与计算机usb接口连接,即插即用。可进行不间断或间断性长时间在线测量,数据存储量取决于计算机硬盘大小。 6.具有掉电自动保存测量数据功能在测量过程中,如出现意外断电,仪器可自动保存断电前的所有测量数据,并自动形成测量文件,防止意外丢失测量数据。JHYC应变应力测量系统软件功能1.软件操作、自动识别、显示方式灵活仪器设置全软件操作,所有功能嵌与同一软件内。具有自动识别系统配置,程控设置仪器的量程、测量类型、滤波及采样参数,完成信号的实时采集、处理、分析等功能,具有多种显示方式。2.应变实时显示,被测物理量直接显示多通道应变值实时显示,实时绘制时域曲线。根据传感器的输出灵敏度,完成被测物理量单位量纲的归一化,并直接显示被测物理量。3.数据实时保存,自动生成报表,功能多样软件可对历史数据回放浏览,具有多样的浏览工具、截图工具,浏览中可对数据进行去直流、去趋势、数据统计、数据的截取、删除、另存、导出、数字滤波器等操作。并自动生成测试报告,在线打印。4.每个通道都可根据测量需求选择测量类型,简单方便可根据每通道接入的传感器类型,各通道选择不同的输入类型、工程单位、标定值、调零、补偿方式等。实现对不同物理量的实时同步测量。5.任意通道间X-Y绘图功能,可实时显示相关物理量间的关系曲线6.提供分析功能软件具有时域和频谱分析功能,对历史数据进行滤波,微分和积分计算,数据统计等数据处理功能。南京聚航科技是应变仪生产商,种类多样,型号齐全,欢迎广大客户咨询!
  • 全光纤麦克尔逊干涉仪MFI
    全光纤迈克逊干涉仪-MFI Michelson Fiber Interferometer产品介绍:量青光电提供的美国Optiphase公司全光纤迈克逊干涉仪(Fiber Michelson Interferometer)不但可以用来作为精密的测试测量仪器,还可以应用在精密的干涉传感系统。光纤干涉仪内部采用PZ1小尺寸光纤拉伸器(参见 PZ1光纤拉伸器产品资料),内置的PZT通过前面板的BNC连接器驱动。全 光纤迈克逊干涉仪标准产品的工作波长从1064nm到1550nm。每个光纤干涉仪都具有“零米”光路偏差的设计,用于方便用户根据不同的测试应用来改变 光路延迟长度。标准产品的延迟光纤长度为50米,我们能够根据用户的实际要求提供各种定制的光纤干涉仪,请联系我们的销售人员.产品参数:参数单位指标产品型号MFI-10-50MFI-13-50MFI-15-50工作波长nm106413101550调制常数rad/V2.52.01.6两臂光路失配长度(无延迟)m0m0m0m两臂光路失陪长度偏差cm+/-10cm+/-10cm+/-10cm调制器接口BNCBNCBNC光纤类型HI-1060(或指定)SMF-28eSMF-28e光路接口FC/APCFC/APC FC/APC最大功率承受能力mW250250250封装尺寸(长x宽x高)mm260x160x90260x160x90260x160x90重量kg~2.7~2.7~2.7可定制的延迟范围m0.5m ~1000m标准产品的延迟长度m50光纤连接器FC/APC产品应用:激光器相位噪声测试激光器频率噪声测试干涉型光纤传感系统模拟科研实验室应用应用列举:1. 激光器相位/频率噪声测试(1)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。OPD-4000解调输 出电压应用到PZ1光纤拉伸器的BNC接口上,作为PZ1光纤拉伸器的驱动电压。OPD-4000的相位解调输出可以选择数字信号输出或者模拟信号输出, 数字信号输出通过PC进行后续处理,模拟信号通过信号分析仪进行分析。2. 激光器相位/频率噪声测试(2)被测试的激光器经过衰减器后输入到光纤干涉仪,干涉仪的光路失配(光路差)可以由用户选择采用或者控制延迟线圈(延迟线圈)来设定。通过为PZ1型光纤拉伸 器BNC接口提供控制电压保持其处于正交偏置(Quadrature Bias)。输出光信号由光接收机接收处理,输出信号进一步处理。3.光纤干涉仪传感器模拟(3)输入光信号代表干涉型光纤传感器的光源。选择合适的延迟光纤线圈,延迟长度作为需要模拟的传感器的长度。输出光信号通过光接收器件到信号分析仪进行处理分析。订货信息:MFI-10-50: 1064nm光纤迈克逊干涉仪MFI-13-50: 1310nm光纤迈克逊干涉仪MFI-15-50: 1550nm光纤迈克逊干涉仪
  • PASCO 光电门/滑轮系统 ME-6838A
    带滑轮的光门ME-6838A测量线性运动和旋转运动。详细描述带滑轮的光门是用一个光门端头监控低阻尼滑轮的旋转,是一套结构简单且功能多样的传感器。可计算小车及其他重物的位置, 速度和加速度并作出曲线。该带滑轮的光门具有所有灵巧滑轮所具有的功能。此外,滑轮可以拆除,以便用光门进行光门实验。该装置也可与PASPORT接口系统,数字适配器一 同使用。典型应用研究匀速运动测量自由下落的物体研究沿斜面的运动研究抛体的速度研究小车的加速度性能规格滑轮:转动惯量: 1.8 x 10-6 kg m2摩擦系数: 7 x 10-3直径:5 cm,重物: 5.5 g光门: 宽:7.5 cm,下降时间: 500 ns 空间分辨率: 1 mm时间分辨率:0.1 毫秒 (使用ScienceWorkshop)连接器:立体声耳机插口
  • VWR便携密度测量系统
    密度测量用全套便携系统,包括一支便携天平、固液体用密度套装及其附件,所有都采用定制携带式仪器箱。精密天平固液体用密度套件F1级200g校称砝码天平安装软件,用于对固体和液体进行自动校准LPC-313便携天平配有内置可充电电池和直径为135 mm的圆形风罩,以适配直径90 mm圆盘。携带式仪器箱:宽×深×高:370×480×150 mm重量:4.5 kg Delivery information: 交付信息:系统的携带式仪器箱中包括天平、圆形风罩、校称砝码、250 ml带刻度的量筒、250 ml带刻度的烧杯、模拟温度计、玻璃测锤、样品筐、吊臂和支承件。说明称重上限可读性包装规格VWR目录号密度测量系统310 g0,001 g1 KITVWRI611-3131v\:* {behavior:url(#default#VML) } o\:* {behavior:url(#default#VML) } x\:* {behavior:url(#default#VML) } .shape {behavior:url(#default#VML) }
  • 安东帕旋转粘度计ViscoQC测量系统超低黏度适配器转子
    超低黏度适配器,测量范围从 1 mPas 开始使用 ViscoQC可用的多种转子和测量系统,在测定样品黏度时,每次测试最多可节省 15 秒。每个转子都包含磁力耦合器,并且所有转子和测量系统都可以自动识别—简化操作并避免人工错误。由于所有的转子和定子都由优质不锈钢(AISI 316L)制成,因此可以保证更佳的耐化学性。可选的转子护腿可在测量过程中保护 L/RH 转子,并由 ViscoQC 通过TruGuard&trade 进行溯源。灵活的杯架均可提供可重现的结果,不受操作影响。关键功能L/RH 转子符合 ISO 2555/ISO 1652 标准作为所谓的无限间隙系统,L/RH 转子是 VisoQC100/300 标准交付中的标配L型主机包含4个L型转子(L1-L4),而R型和H型则附带6个RH转子(RH2-RH7)。它们在开放的600 mL烧杯中使用,因此,如果要测量符合标准的样品,则至少需要500 mL的样品量。可选的 Pt100 传感器可用于对样品进行温度感应,可通过夹具轻松将它安装在烧杯上。使用灵活杯架可以确保更优的重现性,它保证不同的操作员在测量时始终让烧杯具有相同的测量位置。 固定间隙测量系统当需要绝对黏度值和样品体积(2 mL 至 18.5 mL)有限时,应选择同心圆筒(CC),双间隙系统(DG),超低黏度适配器(UL)和小量样品适配器(SSA)作为固定间隙的测量系统。要测量从1 mPas开始的低黏度样品,必须使用DG或UL。提供高精度的风冷帕尔贴温控设备。为了提高生产量并尽量减少清洗次数,建议在某些系统中使用一次性杯子。 低温黏度测定系统需要使用绝缘的 4B2 测量系统来根据 ASTM D2983/D8210 测定润滑油和机油的低温黏度。如果需要满足 ASTM D5133/D7110 的要求,使用L1D22 系统。两种系统均附带 100 个一次性铝杯,以减少清洁时间并提高通量。ViscoQC 300 上预先安装了具有 V-Curve 软件包的即用型方法,可立即启动,操作简单。 测量非流动样品的系统非流动性,高黏度样品(例如软膏、蛋黄酱和膨润土)需要特殊的测量技术。标准测量系统或转子会在测量时将空气通道引入样品中,导致黏度读数无意义,因为转子不被样品完全覆盖。如果不流动的样品不包含任何颗粒,则可以使用通过Heli-Plus控制T型转子或桨式转子进行测量。如果样品中的颗粒介于 0.1 mm 和 2 mm之间,则可以选择桨式转子:它们是高黏度的,因此可以直接在样品容器中进行测量。 技术规格典型样品量 [mL]样品中的粒径 [mm]L/RH 转子5000.1 至 2同心圆筒系统2 至 18.50.1*双间隙系统(DG)7.50.01超低黏度适配器系统(UL)160.01小量样适配器系统 (SSA)6.7 至 16.10.01**绝缘 4B2 系统200.1L1D22 系统16.10.1T-型转子5000.1 至 2桨式转子5000.1 至 2必须考虑样品的黏度以选择合适的转子/测量系统。有关更多详细信息,请参阅 ViscoQC 网站上的“常见问题解答”部分。* 如果在较大的杯子中使用较小的转子,则允许样品具有较大的粒径 ( 0.5 mm)** SC4-25、SC4-27、SC4-28、SC4-29、SC4-31、SC4-34 具有较大的测量间隙。
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 差分吸收激光雷达系统配件
    差分吸收激光雷达系统配件的工作波长是1.4-4.2微米,这是大气中污染物吸收的波段,因此差分吸收激光雷达系统配件非常适合大气中污染气体的排放探测和其他科学研究,如:天然气排放检测,大气气溶胶云映射等。激光雷达,差分雷达,激光差分雷达,气溶胶,LIDAR,中红外雷达 差分吸收激光雷达系统配件:激光发射器:包括电光Q开关脉冲Nd:YAG激光器, 可调谐OPO单元,光束扩展器,标定单元,电光Q开关驱动器,可编程高压模块,步进电机驱动器 差分吸收激光雷达系统配件功能: 光束扩展器:用于光束准直和大气湍流的差分补偿 接收器: 是一个牛顿式望远镜,接收反射的地形目标信号。望远镜的直径是300mm,焦距是1386mm。 旋转台:是一个可旋转的安装平台,接收望远镜和发射器安装在这个平台上。 观察模块:是一个CCD相机用于观察目标。 差分吸收激光雷达系统配件参数: 激光器类型:Nd:YAG+OPO 激光波长:1.44-1.68um 2.9-4.1um 脉冲能量:10-30mJ (受激光波长决定) 脉冲线宽:3-3.5cm-1 重复频率:20Hz 波长飘逸: 0-12cm-1 脉冲宽度: 20ns 探测范围:2-5Km(甲烷) 探测灵敏度:1ppm (积分距离,甲烷) 距离测量精度:100m 平台的水平旋转角:+/-30度(60度) 平台的垂直旋转角:-10----25度 平台定位精度:0.8mrad 尺寸:750x1500x1250mm 重量:250Kg 寿命:4000小时
  • 差分吸收激光雷达系统
    ?这套差分吸收激光雷达的工作波长是1.4-4.2微米,这是大气中污染物吸收的波段,因此差分吸收激光雷达系统非常适合大气中污染气体的排放探测和其他科学研究,如:天然气排放检测,大气气溶胶云映射等。激光雷达,差分雷达,激光差分雷达,气溶胶,LIDAR,中红外雷达 差分吸收激光雷达系统,DIAL激光雷达主要部件:激光发射器:包括电光Q开关脉冲Nd:YAG激光器, 可调谐OPO单元,光束扩展器,标定单元,电光Q开关驱动器,可编程高压模块,步进电机驱动器 差分吸收激光雷达系统,DIAL激光雷达功能:光束扩展器:用于光束准直和大气湍流的差分补偿接收器: 是一个牛顿式望远镜,接收反射的地形目标信号。望远镜的直径是300mm,焦距是1386mm。旋转台:是一个可旋转的安装平台,接收望远镜和发射器安装在这个平台上。观察模块:是一个CCD相机用于观察目标。差分吸收激光雷达,DIAL激光雷达技术参数:激光器类型:Nd:YAG+OPO 激光波长:1.44-1.68um 2.9-4.1um 脉冲能量:10-30mJ (受激光波长决定)脉冲线宽:3-3.5cm-1 重复频率:20Hz波长飘逸: 0-12cm-1脉冲宽度: 20ns探测范围:2-5Km(甲烷)探测灵敏度:1ppm (积分距离,甲烷)距离测量精度:100m 平台的水平旋转角:+/-30度(60度)平台的垂直旋转角:-10----25度 平台定位精度:0.8mrad 尺寸:750x1500x1250mm重量:250Kg寿命:4000小时
  • 飞秒激光直写光刻系统配件
    秒激光直写光刻系统配件是专业为微纳结构的激光蚀刻而设计的激光直写光刻机,基于多光子聚合技术,适合市场上的各种光刻胶,能够以纳米精度和分辨率微纳加工各种三维结构。秒激光直写光刻系统配件特点激光光刻机3D模型制备直写光刻机直接激光刻划 激光光刻机整套系统到货即可使用激光光刻机提供100nm-10um的分辨率直写光刻机超小尺寸 激光光刻机3D模型的制备 这套三维光刻机由激光微加工系统软件控制,简单的3D模型通过这种软件即可生成,对于比较复杂的3D模型,用户可以通过Autodesk, AutoCAD等软件制作,然后导入到三维光刻机的软件中,这个软件支持.stl, dxf等格式的文件用于3D结构的制造。 激光光刻机激光直接读写 这套激光光刻机由飞秒激光光源,精密的3轴定位台和扫描镜组成。首先,待刻录的图形通过激光光刻机精密的激光聚焦系统直接从CAD设计中导入到光刻胶上。聚合物的双光子或多光子吸收用于形成高质量表面的3D结构。100nm的尺寸可自形成结构,200nm-10um尺寸的结构可以控制并重复,这套激光蚀刻机提供纳米尺度分辨率和对聚合物的广泛选择,从而可以适合微纳光学,微流体,MEMS,功能表面制作等各种应用. 与CAD设计等同的3D结构形成后,未固化的光刻胶剩余物由有机溶剂洗掉,这样只留下蚀刻的微纳结构呈现在基板上。 激光光刻机后续工序: 在所需的微纳结构形成后,它被浸入到几种不同的溶剂中,以除去蚀刻过程中留下的液态聚合物。激光光刻机全部过程都是自动化的,重要参数可以根据要求而设定:浸入时间,温度等.对于特殊的样品或加工对象,可以使用紫外光或干燥机处理。秒激光直写光刻系统配件应用 ?激光光刻机用于纳米光子器件(三维光子晶体) ? 三维光刻机用于微流控芯片 ? 三维光刻机用于微光学(光学端面微结构制作) ? 激光光刻机制作机微机械 ?激光蚀刻机制作微型光机电系统 ? 激光光刻机,三维光刻机用于生物医学
  • 透反射测量支架 如海光电 透/反射光谱
    SA-Stage-RT透反射测量支架 关键词:反射/透射/漫反射光谱 1 产品简介SA-Stage-RT透反射测量支架是一个新型的,能满足透射和反射测量的采样支架。适用于分析如硅、金属、玻璃和塑料等一类的材料。SA-Stage-RT与如海光电的光纤光谱仪、光源、积分球有多种组合方式。可以同时满足客户对于反射光谱测量和透射光谱测量的需求。 2 产品功能示意图3 产品参数产品参数SA-Stage-RT底座尺寸φ150mm样品区域尺寸宽度<100mm样品通光口径(透射测量)直径10mm调节高度~150mm(其他长度可以定制)准直镜波长范围200~2500nm台体材料阳极氧化铝反射积分球用于连接38毫米积分球(另外选配)用途 专为透反射光纤测量而设计,能有效固定光纤,防止因抖动等人为因素影响检测效果
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