搜索
我要推广仪器
下载APP
首页
选仪器
耗材配件
找厂商
行业应用
新品首发
资讯
社区
资料
网络讲堂
仪课通
仪器直聘
市场调研
当前位置:
仪器信息网
>
行业主题
>
>
薄膜反射测量系统
仪器信息网薄膜反射测量系统专题为您提供2024年最新薄膜反射测量系统价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括薄膜反射测量系统参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的薄膜反射测量系统您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合薄膜反射测量系统相关的耗材配件、试剂标物,还有薄膜反射测量系统相关的最新资讯、资料,以及薄膜反射测量系统相关的解决方案。
薄膜反射测量系统相关的资料
实验三用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度
实验三用反射椭偏仪测量折射率和薄膜厚度
GB/T 27583-2011 光学功能薄膜 反射眩光性能测试方法.pdf
GB/T 27583-2011 光学功能薄膜 反射眩光性能测试方法.pdf
薄膜吸收,透射和反射率的测定
薄膜吸收,透射和反射率的测定
光学级金刚石薄膜及金属薄膜的光弹调制差分反射方法研究
光学级金刚石薄膜及金属薄膜的光弹调制差分反射方法研究
反射光谱法计算薄膜厚度
反射光谱法计算薄膜厚度
反射光谱法计算薄膜厚度
反射光谱法计算薄膜厚度
纳米硅薄膜的镜反射红外光谱研究
纳米硅薄膜的镜反射红外光谱研究
单次反射ATR法测定高分子薄膜
单次反射ATR法测定高分子薄膜
反射光谱法计算薄膜厚度
反射光谱法计算薄膜厚度
GBT 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告.pdf
GBT 36053-2018 X射线反射法测量薄膜的厚度、密度和界面宽度 仪器要求、准直和定位、数据采集、数据分析和报告.pdf
GBT 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法.pdf
GBT 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法.pdf
GBT 27583-2011 光学功能薄膜 反射眩光性能测试方法.pdf
GBT 27583-2011 光学功能薄膜 反射眩光性能测试方法.pdf
GBT 26332.5-2022 光学和光子学 光学薄膜 第5部分:减反射膜基本要求.pdf
GBT 26332.5-2022 光学和光子学 光学薄膜 第5部分:减反射膜基本要求.pdf
GBT 26332.6-2022 光学和光子学 光学薄膜 第6部分:反射膜基本要求.pdf
GBT 26332.6-2022 光学和光子学 光学薄膜 第6部分:反射膜基本要求.pdf
HGT 5854-2021 光学功能薄膜 涂布型反射膜.pdf
HGT 5854-2021 光学功能薄膜 涂布型反射膜.pdf
使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法
使用光学干涉仪的薄的反射膜的残余应变测量的标准测试方法
微-纳米薄膜材料的热导率测量-薄膜热导率测试系统(TCT)-上海昊扩华东大区总代理
微-纳米薄膜材料的热导率测量-薄膜热导率测试系统(TCT)-上海昊扩华东大区总代理
GB/T 15053-2008 使用辐射显色薄膜和聚甲基丙烯酸甲酯剂量测量系统测量吸收剂量的标准方法
GB/T 15053-2008 使用辐射显色薄膜和聚甲基丙烯酸甲酯剂量测量系统测量吸收剂量的标准方法
采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA)附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA)附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
基于透射谱的GaN薄膜厚度测量.pdf
基于透射谱的GaN薄膜厚度测量.pdf
通用反射透射光谱测量系统
通用反射透射光谱测量系统
大面积薄膜太阳能电池量子效率测量系统
大面积薄膜太阳能电池量子效率测量系统
利用衰减全反射红外光谱检测聚合物薄膜中各组分的扩散系数
利用衰减全反射红外光谱检测聚合物薄膜中各组分的扩散系数
GBT 41894.2-2022 船舶与海上技术 通过测量轴变形量确定船舶推进系统轴功率 第2部分:光学反射法.pdf
GBT 41894.2-2022 船舶与海上技术 通过测量轴变形量确定船舶推进系统轴功率 第2部分:光学反射法.pdf
准动态测量法测量薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率 - 薄膜热电参数测试系统(MRS )- 上海昊扩华东大区总代理
准动态测量法测量薄膜材料的 seebeck 系数和电阻率 - 薄膜热电参数测试系统(MRS )- 上海昊扩华东大区总代理
椭偏仪SE200-MSP薄膜厚度测量系统
椭偏仪SE200-MSP薄膜厚度测量系统
GB∕T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法.pdf
GB∕T 31227-2014 原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法.pdf
薄膜生长原位监测掠入射小角散射(GISAXS)系统
薄膜生长原位监测掠入射小角散射(GISAXS)系统
GBT 31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法.pdf
GBT 31227-2014原子力显微镜测量溅射薄膜表面粗糙度的方法.pdf
微区XRF(X射线分析显微镜)对金属薄膜的快速厚度测量
微区XRF(X射线分析显微镜)对金属薄膜的快速厚度测量
相关专题
马尔文帕纳科超级品牌日
帕纳科革命性新品Zetium X射线荧光仪
传播火种的那群人——国仪量子五周年发布会
赛默飞世尔BCEIA 2011专题
默克密理博2014年生物制药培训课程报名表
几何量精密测量技术及应用
第四届进博会11月6日赛默飞超级品牌日
中国国际测量控制与仪器仪表展览会在京召开
防辐射服成“皇帝新装”——标准缺失,监管缺位
徕卡显微系统生命科学领域视频合集
厂商最新资料
相关方案
偏振调制红外反射吸收光谱法(PM-IRRAS)测量薄膜
用绝对反射率测量法评价抗反射膜
采用LAMBDA 950/1050 紫外/可见/近红外分光光度计与自动反射/透射分析仪(ARTA)附件的光学薄膜的全谱角分辨反射和透射
使用 VASRA 附件测量样品在不同角度和波长下的反射率、表征镜面以及测定薄膜的折光率和厚度
使用自动绝对反射率测量评估隐膜
光学薄膜的测量
MC方案:薄膜叠层厚度测量
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征