布鲁克Bruker白光干涉光学轮廓仪 Contour X, 满足微纳米表面测量需要 简介: • 桌面型精巧款式• 采集数据,自动测量,分析和数据后处理,一气呵成的完备方案• 样品尺寸: • 150 mm x 150 mm x 92 mm • 最大承载 4.5 kg• 垂直分辨率: 0.01nm @ 所有视场下• 横向分辨: • 最佳0.3μm (±150nm) • AcuityXR 0.15μm (±75nm)• 基于白光干涉原理,结果可溯源 白光干涉技术内在优势 垂直分辨率 普适性,易于操作、各种样品类型与表面 计量 硬件,为性能所做优化 物镜,为挑战性测量专门设计 完备的自动化测量系统标准配置 独特的缝合功能针对不同应用下,提升效率 ContourX关键好处 最佳高质量计量作为桌面型轮廓仪 布鲁克白光干涉轮廓仪专为您的应用服务 • 从每日测试挑战到满足严苛要求,可靠的表面计量• 不同应用示例:展示布鲁克白光干涉独到之处 • 薄膜与镀层 • 精密加工 • 材料研究 • MEMS与传感器 • 光学元器件 • 半导体 • 摩擦学 薄膜与镀层:表面粗糙度与厚度,独特的准确性 表面粗糙度与平整度满足您的严苛要求 材料研究:表面纹理,揭示最微小的细节 MEMS和传感器 关键尺寸– 质量控制,匹配您的所有需求 关键尺寸– 质量控制,完备的自动化组件 光学元器件:全频谱密度的粗糙度信息 光栅与光学器件,亚微米计量 微型光学形貌表征 缺陷侦测 半导体:质量监控与工艺开发,匹配您的应用需求 质量监控与工艺开发,完备的软件平台 关键尺寸– 质量控制完备的自动化组件 摩擦学表面纹理与磨损体积(速率)满足您对准确性的需求
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