自动平整度检测仪

公路连续式八轮平整度仪是专业检测仪器，使用前务必仔细阅读说明书。并由专业实验人员操作，以避免操作不当引起的伤害。如需了解更多资料请与我公司客服人员联系。公路连续式八轮平整度仪由上海荣计达仪器科技有限公司提供，设备质保期一年，一年内产品如有质量问题，供方负责免费维修。如果因操作不当或者人为损坏，我公司亦应提供维修、更换服务，由此产生的费用我公司会酌情收取。公路连续式八轮平整度仪概述：该仪器在电子技术方面，采用了国内最为先进的微处理和大规模集成电路技术，提高了整机的集成度，减少了原仪器中许多不必要的接插件连接从而增加了系统工作的可靠性，使整机系统的各项性能更趋稳定，内部采用单CPU结构，负责显示、打印、计算、通信、采集数据等功能；采用中断方式采样数据，因而可连续进行测量，而不中断。一起自动计算距离，每测1000个点内存时，采样间距取0.1米，则可连续测25公里。公路连续式八轮平整度仪内含实时时钟，可显示时间和日期，并自动记录。显示器则采用了12寸触摸屏，蓝牙无线传输。控制器在车内，没有电池，控制器接在点烟器上，重型车架，可以设置，保存打印所有数据，可现实路面实时测量数据。公路连续式八轮平整度仪是目前国内的现代化路面平整度测量仪器，具有连续测量、自动运算、显示并打印路面平整度均方差的功能。因此本仪器和现行的三米直尺测量及其他同类测量仪器比较，不仅具有测量精度高、速度快、数据可靠、评定科学等优点，而且操作简单、工作可靠、同时大大降低了劳动强度，提高了工作效率和经济效益。适用于公路、城市道路、广场、机场跑道等路面的施工检查竣工验收和道路的养护，同时也可为教学、设计及科研单位提供可靠的路面分析资料，在国际沥青路面施工及验收规范(GBJ02－86)和交通部《养护技术规范》(JTJ073－85)重列出了此仪器为标准测量仪器。同时国家技术监督局批准该仪器为国家标准仪器、编号为(GB11816－89)。公路连续式八轮平整度仪技术功能：一、测量功能及精度1、可自动测定、运算、打印均方差。取样间距0.05m及0.1m两种，取样误差0.04mm，同一条件重复测试，其统计偏差小于0.2mm；2、由人工送数，可自动打印测试日期(　　年　　月　　日)及被测路段编号(道路号、里程桩号、取样、超差)每打印一次，小结序号自动加一。3、自动运算并打印被测路段的单项累计值H(单位：mm)。4、自动检测计算并打印被测路段长度值L(单位：m)误差小于1%。5、自动测定计算并打印正负超差数(K＋、K－)，超差标准使用可根据路面等级要求自行选定，限制在1－15范围内(mm)。6、可自动测定计算并打印测试速度值V(单位：km/h)。二、牵引方式及检测速度

TZY陶瓷砖平整度、直角度、边直度综合测试仪 TZY型陶瓷砖综合测定仪是用于测定各种墙面砖、地面砖尺寸及形状特性之仪器，其所测参数包括面砖的边直度、直角度、平整度等几项指标。测定时，只需一次放置被测试件，便能迅速、准确地测出以上几项指标数据。本产品符合：GB/T3810.2-2016， ISO 10545-2-1995《陶瓷砖－尺寸和表面质量的检验》的要求。它是陶瓷砖生产厂家和质量检测部门理想的检测仪器。主要技术参数：1.测量精度：±0.1（mm）2.测量范围：60×60～600×600（mm），～800×800（mm），～1000×1000（mm）供客户选择注明：以上仪器要配套下面标准板才能使用，标准板尺寸与样品尺寸一对一，标准板价格另算陶瓷砖检测用标准板（铝合金材质）1000×1000、800×800、600×600、500×500、400×400、300×300、200×200、300×200、300×152、250×250、152×152、240×60（mm）可按客户要求订制各种规格。上述标准板精度优于0.1mm，有计量检测部门检定证书。主要特点：可选用数显表或连接计算机。

一、超平地坪平整度测量仪RJD-6荣计达仪器概述超平地坪检测仪整体地坪现场验收通用方法相关要求进行研发生产。同时也满足美国ASTM E1155M标准。仪器由检测机架和平板电脑构成，组装维护方便；测试软件为全中文，符合国人使用习惯，简单易用；既可以直接读取当前测试的地坪剖面线的平整度FF和FL值，也可以对所有测试数据进行Excel数据表存档，便于后期分析。二、超平地坪平整度测量仪RJD-6荣计达仪器用途及规范 2.1用途地坪平整度包括地面的平整度和水平度，直接影响行驶其表面的叉车、货车以及其他货物装卸工具，平整度差的地面会使行驶车辆的抖动更大，操作人员更易产生疲劳，也会降低车辆的工作速度，影响工作效率。目前，国内地坪平整度检测主要有靠尺法和泼水观测法。靠尺法是采用2米或者3米靠尺和契形塞尺在地坪表面进行检测，具体做法是把靠尺放置在地坪表面然后找到靠尺和地面的最大间隙并用契形塞尺进行测试间隙的大小。这种方法既不科学也无法重复，同时测试效率低，费时费力；另外，这种方法由于采用了2m或者3m的靠尺，因此只能检测2m或者3m以内的地面平整度，基本不能检测更大范围的水平度。2.1规范地坪平整度F数值测试标准美国ASTM E1155M（地坪平整度FF和地坪水平度FL数值标准测试方法）F数值为美国混凝土协会(AmericanConcreteInstitute#117)及加拿大标准协会(CanadianStandardAssociation#A23.1)为规范及测量混凝土地坪平整及高差的标准。此规范包括两个F数值：FF为平整度，FL为高差值，平整度关系着地坪的隆起与凹陷；高差值关系着地坪的倾斜或高差。也就是说平整度FF表示地坪整体意义的起伏程度，水平度FL表示地坪整体意义的倾斜程度。愈高的F数值代表地坪的平整度愈佳。三、超平地坪平整度测量仪RJD-6荣计达仪器主要参数方向：Z向线性：±0.001%FS单步量程：300mm重复精度：0.1mm工作温度：0~+85通讯方式：WIFI无线连接液晶屏供电电压：DC12V主机供电电压：DC8.4V液晶屏：SEETEC WINCE高度：290mm材质：304不锈钢四、装箱单1、主机一台2、充电器一件3、平板电脑一台4、电脑充电器一件5、电脑数据线一件6、说明书一份7、合格证一份

概述烟用纸张平整度测量仪 SN-PZD300是一种用于检测 卷烟条盒包装纸平整度， 反映条盒纸上机适应性的 设备。 烟用纸张平整度测量仪给出与纸张平 整度相关的多个测量指标。测量速度快，可对纸张的平整度进行整体评 估。为企业检测烟用纸张的平整及翘边的程度，进而评估卷烟条盒包装时纸张的上机适应性提供有效的测试工具。技术参数 测量范围：500×500×300毫米 分辨率：0.01毫米 精度：0.1毫米

WD4000晶圆平整度翘曲度测量设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。产品技术1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、WD4000晶圆平整度翘曲度测量设备基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。 3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。 （3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。WD4000晶圆平整度翘曲度测量设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度，TTV，BOW、WARP、在高效测量测同时有效防止晶圆产生划痕缺陷。 部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

平整度测量计简介设备可以对样品的平整度进行精确测量。技术参数 尺寸 ASTM D4543 花岗岩基尺寸 200mmx300mmx50mm 最大样品高度 300mm(12英寸) 精度 +/-0.0001英寸 分辨率 0.01mm(0.0005英寸) 重量 20Kg

一、大规格陶瓷砖平整度测量仪简介:大规格陶瓷板表面平整度测量仪适用于大规格陶瓷板中心弯曲度、边弯曲度的自动测量。根据国家标准GB/T39156-2020 6.4 大规格陶瓷板技术要求及试验方法设计制造。计算机控制，配置高精度激光位移传感器。可以自动测量，自动保存并能打印结果报告。二、大规格陶瓷砖平整度测量仪技术参数:1、测量试样尺寸范围：600×600（mm）～1800×1200（mm）2、位移精度：±0.1mm3、基准平台规格： 2000×1400×800（mm）带水平尺4、基准平台精度：1 级5、轴滑台精度：1 级6、测量速度： 1～100mm/s； 7、移动方向：XY 轴移动控制8、驱动方式：步进电机9、仪器尺寸:2500mmx1400mmx880mm10、电源电压:220V 50Hz

一、大规格陶瓷板表面平整度测量仪简介:大规格陶瓷板表面平整度测量仪适用于大规格陶瓷板中心弯曲度、边弯曲度的自动测量。根据国家标准GB/T39156-2020 6.4 大规格陶瓷板技术要求及试验方法设计制造。计算机控制，配置高精度激光位移传感器。可以自动测量，自动保存并能打印结果报告。二、大规格陶瓷板表面平整度测量仪技术参数:1、测量试样尺寸范围：600×600（mm）～1800×1200（mm）2、位移精度：±0.1mm3、基准平台规格： 2000×1400×800（mm）带水平尺4、基准平台精度：1 级5、轴滑台精度：1 级6、测量速度： 1～100mm/s； 7、移动方向：XY 轴移动控制8、驱动方式：步进电机9、仪器尺寸:2500mmx1400mmx880mm10、电源电压:220V 50Hz

MX 102-6 102-8 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 100-150nm 及150–200mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪系列。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX102-6/8 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：100mm, 125mm, 150mm, 200mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：4次软件：MXNT

MX 1012 高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 200–300mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1012 非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 300mm测量准确度：±0.1 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

MX 1018高分辨率晶圆厚度和平整度测量仪应用：适用于 300–450mm 硅晶圆的高分辨率厚度和平整度 (TTV) 测量仪。适用于不同的厚度范围，几秒内即可完成测量，易于集成到自动机器人分拣系统中。MX1018非常适合研发、工艺鉴定以及厚度和平整度 (TTV) 的工艺控制，尤其是在磨削和研磨之后。一对电容式传感器对每个晶圆上的四个径向轮廓（45 度）进行采样，其中包含数百个局部厚度值。如果您的应用需要，也可以简单地增加四个标准扫描，以达到更高的测量覆盖范围。配备MX-NT 操作软件。测量类型：厚度、平整度(TTV)参数：晶圆尺寸：200mm, 450mm测量准确度：±0.3 µ m分辨率：10nm空间分辨率：1mm扫描次数：最多8次软件：MXNT

美国Akrometrix 热变形外貌检测仪 Akrometrix 于1994年成立，总部设于美国佐治亚洲亚特兰大。服务及合作伙伴遍及世界各地主要及发展中的微电子工业市场。全球著名的平整度特性测量与分析技术先锋 Akrometrix 是提供全面性测量解决方案的领导者，为全球微电子工业市场的OEM(原始设备生产)、CEM (合同设备生产)、SATS (半导体合约封装与测试服务)、及 PCB (线路板生产) 工业提供先进的基板及封装测量解决方案。Akrometrix 的 TherMoiré 及LineMoiré 设备系列能够提供广泛的平整度检测特性技术，适合于产品开发及生产应用。Akrometrix是温度效应测量技术的行业先锋；在全球二十大半导体生产商中，都采用了Akrometrix 的解决方案。新一代表面测量和分析技术Akrometrix的专利TherMoiré技术是行业领先的热变形翘曲分析技术。1998年第一次应用在实验室以来，当今的TherMoiré一代产品作为翘曲管理解决方案，服务于全球范围企业。研发/诊断/生产监控，无论你的客户是个体用户或是OEM，TherMoire帮助您取得卓越的客户满意度。随着技术的成熟,TherMoire技术可以模拟热加工工艺和操作环境条件、同时捕捉一个完整的历史翘曲位移表现。运用这一重要的信息,获得元器件/基板翘曲度的一致性(即翘曲变形规格)来直接影响一级和二级装配产量和提高产品的可靠性。TherMoiré AXP 产品特性：● 最大样品尺寸达400mmX400mm● 在2秒内获得140万个数据点● 最高每秒加热2摄氏度● 均匀对流加热和冷却来控制温度● 高分辨率测量小型样品● XY轴响应和CTE计算● 运用强力冷却系统提高实验能力● 支持从-55至150度可靠性测试和在280度下的回流仿真● 支持多样品同时测试，提高产量

产品简介中图仪器SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪基于白光干涉原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。 应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperVieW白光干涉表面粗糙度检测仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

HYJCG-1下接触式接触轨几何尺寸检测仪 行走式接触轨检测仪 便携式接触轨多功能检测装置 非接触式第三轨参数检测仪 便携式三轨图像测量仪 接触轨测量尺 三轨尺HYJCG-1行走式接触轨检测仪自动精确、非接触动态测量接触轨与走行轨的垂直高度和水平距离，保证接触轨设备的安装精度，减少安装过程中人员劳动强度，提高劳动效率；同时也为接触轨的日常维护提供真实准确的数据参考，保证集电靴与接触轨受流稳定可靠，对地铁列车安全稳定可靠运行具有重要的意义。功能介绍1、采用非接触式测量方式，自动连续检测接触轨几何参数、端部弯头、受流面磨耗值（选配）2、对接触轨受流面及周围防护罩区域可选高清录像，能够清晰反映受流面状态3、利用定位传感器，结合线路固有信息，数据库定位技术，精确定位接触轨故障点4、设备识别和测量的时延不超过2秒，速度更快5、结构特点：设备整体采用完全一体化结构，无需拼装，减少误差，盖板展开可立即使用，设备使用前后都无需组装、拆卸任何部件；检测小车采用航空铝材，强度高，重量轻，携带方便；设备可在不调转机体的情况下转换推行方向。技术参数接触轨类型：上接触式/下接触式检测速度：0-10km/h采样最小间隔：2mm测量技术：激光图像导高测量范围：195-210mm（可调整）测量精度：士2.0m（动态）拉出值测量范围：775-790mm（可调整）测量精度：士2.0mm（动态）分辨率：±0.5mm端部弯头坡度：1:30~1:70，1%绝缘罩导高、拉出值精度：±2mm（选配）接触轨接头平整度：大于1mm报警（选配）磨耗精度：±3mm（选配）膨胀接头：自动识别3mm宽度以上的膨胀接头（可选）工作方式：连续/TTL，≤1kHz控制：11档位可实时在线调节测量稳定性：全时感知，正反向功能≤1‰，≤2%RMS光纤耦合系统，IRS微调系统，双置3XLimW及自调节适配装置，AIO、L-sen、DiPro-Eh测量系统：全自动连续扫描式动态测量（非人工识别、非手动界面操作、非遥控按键等方式）；手推式检测小车，实时自动或定点测量，实时动态测量及显示数据、波形图、图像和二维坐标、超限分级、报警；“高速细化+激光图像测量+脉冲触发数据采集”二级触发系统绝缘：设备主体采用铝合金，两端尼龙轮耐压绝缘。和钢轨接触的两端绝缘电阻不应小于1MΩ，严格杜绝使用过程中出现红光带/紫光带现象，也不能触发计轴器计数。走行方式：人工推行（电动驱行可选）控制系统：笔记本电脑（三防平板电脑可选）工作时间：≥4h工作温度：-20℃～50℃储存温度：-30℃～70℃尺寸：1620x380x200mm重量：≤13kg

中图仪器VT6000粗糙度显微镜检测仪即为激光共聚焦显微镜，是以共聚焦技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等，测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。产品功能(1)设备具备表征微观形貌的轮廓尺寸及粗糙度测量功能；(2)设备具备自动拼接功能，能够快速实现大区域的拼接缝合测量；(3)设备具备一体化操作的测量与分析软件，预先设置好配置参数再进行测量，软件自动统计测量数据并提供数据报表导出功能，即可快速实现批量测量功能；(4)设备具备调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能；(5)设备具备粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)设备具备一键分析和多文件分析等辅助分析功能，可实现批量数据文件的快速分析功能；VT6000粗糙度显微镜检测仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等，提供依据ISO/ASME/EUR/GBT四大国内外标准共计300余种2D、3D参数作为评价标准。应用领域对各种产品、部件和材料表面的面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、平面度、粗糙度、波纹度、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：应用场景1、镭射槽测量晶圆上激光镭射槽的深度：半导体后道制造中，在将晶圆分割成一片片的小芯片前，需要对晶圆进行横纵方向的切割，为确保减少切割引发的崩边损失，会先采用激光切割机在晶圆表面烧蚀出U型或W型的引导槽，在工艺上需要对引导槽的槽型深宽尺寸进行检测。2、光伏在太阳能电池制作工程中，栅线的高宽比决定了电池板的遮光损耗及导电能力，直接影响着太阳能电池的性能。共聚焦显微镜可以对栅线进行快速检测。此外，太阳能电池制作过程中，制绒作为关键核心工艺，金字塔结构的质量影像减反射焰光效果，是光电转换效率的重要决定因素。共聚焦显微镜具有纳米级别的纵向分辨能力，能够对电池板绒面这种表面反射率低且形貌复杂的样品进行三维形貌重建。 3、其他部分技术指标型号VT6100行程范围X100mmY100mmZ100mm外形尺寸520*380*600mm仪器重量50kg测量原理共聚焦光学系统显微物镜10× 20× 50× 100×视场范围120×120 μm~1.2×1.2 mm高度测量宽度测量XY位移平台负载10kg控制方式电动Z0轴扫描范围10mm物镜塔台5孔电动光源白光LED恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

产品简介中图仪器SuperVieW3D表面粗糙度轮廓检测仪基于白光干涉原理，用于对各种精密器件及材料表面进行亚纳米级测量。可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。它是以白光干涉技术为原理、结合精密Z向扫描模块、3D 建模算法等对器件表面进行非接触式扫描并建立表面3D图像，通过系统软件对器件表面3D图像进行数据处理与分析，并获取反映器件表面质量的2D、3D参数，从而实现器件表面形貌3D测量的光学检测仪器。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。应用领域 SuperVieW3D表面粗糙度轮廓检测仪可对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：性能特色1、高精度、高重复性1）采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施 在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。5、双通道气浮隔振系统既可以接入客户现场的稳定气源也可以接入标配静音空压机，在无外接气源的条件下也可稳定工作。SuperVieW3D表面粗糙度轮廓检测仪可广泛应用于半导体制造及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、微纳材料及制造、汽车零部件、MEMS器件等超精密加工行业及航空航天、科研院所等领域中。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。部分技术指标 型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

德瑞检测 三坐标检测仪器DR-YX-2010机台型号DR-YX-2010FDR-YX-3020FDR-YX-4030FDR-YX-5040FX、Y测量行程（mm）200*100300*200400*300500*400Z测量行程（mm） 200(可定制至400mm)外形尺寸（mm）1250*580*16001450*680*16001650*780*16001750*1120*1700工作台尺寸(mm)350*250450*350550*450650*550玻璃尺寸(mm)240*140340*240440*340540*440机台重量（kg）150230350 420工件限重（kg）30基座材质00级精密花岗石底座机构材质特制碳合金工作台、精密级花岗石立柱X 、Y轴测量精度(μm)2+L/200Z轴测量精度(μm)5+L/50重复精度（μm）3操作方式手动传动方式无牙螺杆＋V型导轨光栅尺0.0005mm密封玻璃光栅 影像系统高清彩色数字成像系统（高清图像，大小自由切换）放大倍率20～260X工作电源220V单相50Hz工作环境温度20℃±2℃，湿度30～80%德瑞检测 三坐标检测仪器DR-YX-2010三坐标测量仪是一类效率高、新式化、高精密度的测量仪器。三坐标测量仪被广泛运用在注塑模具、工装夹具、五金配件、电子器件、机械设备、汽车零配件、航空航天等制造行业内产品工件的测量与量测。三坐标测量仪可对产品工件外形尺寸、样式和轮廓度开展测量；对各种各样平整度、垂直度、平行度、同轴度开展测量；可对弧面开展扫描取得弧面数据信息；能够 根据测量仪器将测量数据信息返回到CAD系统软件中，对制作加工和生产加工的机器设备修正。德瑞检测 三坐标检测仪器DR-YX-2010作用1.解决了繁杂样式的量测。三坐标测量仪能够 对垂直度、平整度、圆柱度、圆锥度、同轴度、同轴度、轴向跳动、径向跳动等基本的几何图形原素开展高精密度量测与评定。此外，三坐标测量仪还能解决繁杂样式表面层轮廓外形尺寸的量测，比如厢体零件的钻孔大小与孔位、叶片与传动齿轮、汽车与飞机等的外廓外形尺寸测量。2.提升了测量精度。运用先进的铝制工艺，横粱与Z轴运用表面层硬质阳极处理航天铝合金，减少了活动零部件的品质和测量仪在高速运转时的惯性力，确保髙速高精密度。三坐标测量仪的三轴直线导轨均运用高精密度、自清洁式空气轴承，在量测全过程中更稳定。三坐标测量仪的X向运用高精密60度三角梁发明专利，相比较矩形横粱，重心点更低，品质刚度比较佳，活动更为靠谱。三坐标测量仪的Y轴运用总体燕尾式直线导轨，在减少机器设备净重的同时，有效的解决了活动扭摆，确保了测量精度和稳定度。三坐标测量仪的Z向，采用取得专利的气动平衡工艺，运用柔性悬架系统，防止了轴向活动和传动装置相互之间的干涉问题，提升了三坐标测量仪的稳定度和测量精度。3.提升了量测效率。近年来测量仪自动化的发展趋势，许多 量测的工艺程序都能够交给测量仪来进行。

弗莱贝格的MDPpro（晶圆片/晶锭寿命检测仪）系列主要用于测量少子寿命、光电导率、电阻率和样品平整度及p/n检查等，其非接触式检测和无损成像（μPCD /MDP(QSS)）的设计完全符合SEMI标准PV9-1110。这也使得该仪器在晶圆切割、炉内监控和材料优化等领域被广泛应用。可以说，MDPpro是晶锭生产商以及晶体炉技术生产商的标准仪器。特性&优势▼u 无接触和无破坏的半导体检测；u 特殊“underneath the surface”寿命测量技术；u 对不可见缺陷的可视化测试具有很高灵敏度；u 自动设置硅錠切割标准；u 空间分辨p/n电导型变换检测；u 多项数据同时自动检测扫描，5幅测量图形同时绘制；u 坚固耐用的设计和易于设置的性能。安装，仅需要电源。 应用实例▼1.日常寿命测量，质量控制和检验高产量：240块/天或720片/天测量速度：对于156x156x400mm标准晶锭，4分钟良品率提升：1mm切割标准为156x156x400mm标准晶锭质量控制：用于过程和材料的质量监控，如单晶硅或多晶硅沾污检测：起源于坩埚和生产设备的金属(Fe)可靠性：模块化和坚固耐用的工业仪器，更高可靠性，运行时间 99%可重复性: 99.5%电阻率：可做面扫描，不需经常校准2. 精密材料研发a.铁浓度测定b.陷阱浓度测定c.硼氧测定d.依赖于注入的测量等

SuperViewW中图仪器国产3d轮廓仪光学检测仪以白光干涉技术为原理，3D非接触式测量分析样品表面形貌的关键参数和尺寸，可测各类从超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。典型结果表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等等）；几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和体积，特征图形的位置和数量等等）。性能特色1、高精度、高重复性1）SuperViewW中图仪器国产3d轮廓仪光学检测仪采用光学干涉技术、精密Z向扫描模块和3D重建算法组成测量系统，保证测量精度高；2）隔振系统，能够有效隔离频率2Hz以上绝大部分振动，消除地面振动噪声和空气中声波振动噪声，保障仪器在大部分的生产车间环境中能稳定使用，获得高测量重复性；2、环境噪声检测功能具备的环境噪声检测模块能够定量评估出外界环境对仪器扫描轴的震动干扰，在设备调试、日常监测、故障排查中能够提供定量的环境噪声数据作为支撑。3、精密操纵手柄集成X、Y、Z三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦、找条纹等测量前工作。4、双重防撞保护措施在初级的软件ZSTOP设置Z向位移下限位进行防撞保护外，另在Z轴上设计有机械电子传感器，当镜头触碰到样品表面时，仪器自动进入紧急停止状态，最大限度的保护仪器，降低人为操作风险。针对完成样品超光滑凹面弧形扫描所需同时满足的高精度、大扫描范围的需求，中图仪器SuperView W1的复合型EPSI重建算法，解决了传统相移法PSI扫描范围小、垂直法VSI精度低的双重缺点。在自动拼接模块下，只需要确定起点和终点，即可自动扫描，重建其超光滑的表面区域，不见一丝重叠缝隙。产品功能(1)设备提供表征微观形貌的粗糙度和台阶高、角度等轮廓尺寸测量功能；(2)测量中提供自动对焦、自动找条纹、自动调亮度等自动化辅助功能；(3)测量中提供自动拼接测量、定位自动多区域测量功能；(4)分析中提供校平、图像修描、去噪和滤波、区域提取等四大模块的数据处理功能；(5)分析中提供粗糙度分析、几何轮廓分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能；(6)分析中同时提供一键分析和多文件分析等辅助分析功能。 应用领域SuperViewW中图仪器国产3d轮廓仪光学检测仪对各种产品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波纹度、面形轮廓、表面缺陷、磨损情况、腐蚀情况、孔隙间隙、台阶高度、弯曲变形情况、加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。应用范例：部分技术指标型号W1光源白光LED影像系统1024×1024干涉物镜标配：10×选配：2.5× 5× 20× 50× 100×光学ZOOM标配：0.5×选配：0.375× 0.75× 1×物镜塔台标配：3孔手动选配：5孔电动XY位移平台尺寸320×200㎜移动范围140×100㎜负载10kg控制方式电动Z轴聚焦行程100㎜控制方式电动Z向扫描范围10 ㎜主机尺寸（长×宽×高）700×606×920㎜恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

FVH-400X手持式光纤端面检测仪产品简介FVH-400X手持式光纤端面检测仪是一款手持式仪器，可以将光纤端面放大200倍或400倍，从而清晰判断光纤端面的状况，如端面平整度、划痕和脏污。FVH-400X光纤端面检测仪采用3.5英寸22万像素的TFT高清晰液晶显示器，一次充电后可以连续工作8个小时以上。全系列的适配器接口可以满足各种场合光纤端面检查的需求。FVH-400X手持式光纤端面检测仪技术参数项目参数图像放大率400倍或200倍视频信号格式PAL功耗3W显示器3.5" TFT使用温度-10~50℃储存温度-20~50℃供电方式内置12V充电电池或外接电源一次供电工作时间8小时显示终端尺寸显示器 205mm*94mm*25mm 端面检测仪主机尺寸 23mm*160mm重量500gFVH-400X手持式光纤端面检测仪特点更长的使用寿命，成像质量更好FVH-400X手持检测仪内部结构经过重新设计，提供了更长的使用寿命。无论使用环境如何恶劣，内部光学器件都不会劣化，成像质量始终如一。 升级版图像采集卡以及升级图像采集软件FVH-400X采用了新式的图像采集卡，免除了驱动安装并能够兼容更多的系统环境（包括Windows 8及以上）。图像采集软件也推出新版，提供清晰图像的同时还将会引入智能软件算法对图像进行分析（可选）。同时，FVH-400X手持式光纤端面检测仪还保留了使用转接线输出至台式显示器的功能。（可选配转接线）多种产品检测功能，可检测MT产品FVH-400X可配备多种适配器接口，可以满足检测各种光纤连接器，光收发模块，TOSA和ROSA组件等产品的测试要求。新增加的MT接口能够检测MPO、MTP产品，例如MPO、MTP适配器，40G，100G光模块等产品；可充分满足下一步高密度数据中心的维护任务。 显示器分辨率 型号125um纤芯在8寸屏的显示尺寸在8寸屏的观测范围125um纤芯在3.5寸屏的显示尺寸在3.5寸屏的观测范围在3.5屏的分辨率FVH-200XΦ44 mm340.9~454.5umΦ20 mm312.5～425um2.5umFVH-400XΦ58 mm258.6~344.8umΦ26 mm240～327um1.5um

1.便携式有机挥发物检测仪/挥发性有机化合物测定仪 型号；HAD-HF 产品描述 HAD-HF袖珍型四合一气体检测报警仪是一种可以灵活配置的单种气体或多种气体检测报警仪，它可以配备氧气传感器，可燃气体传感器，和有毒气体传感器或任选四种气体传感器或任选单种气体传感器．HAD-HF拥有非常清晰的大液晶显示屏，背光照明，声光报警提示，保证在非常不利的工作环境下也可以检测危险气体并及时提示操作人员预防． 特点&bull 小巧、轻便、坚固&bull 进口传感器&bull 声、光、震动报警&bull 大屏幕数字、字符显示、瞬时值、峰值、最小值显示&bull 开机或需要时对显示、电池、传感器、声光报警功能自检&bull 安全提示：定期闪灯、声音提示&bull 出众的音频声音报警&bull 维护费用很低&bull 可以支持1、2、3或4种的气体检测 技术参数检测气体：空气中的有机挥发物 量程：0-1000ppm基本误差：＜±5%（F.S）最小读数：0.1ppm响应时间：≤120秒传感器寿命：24个月传感器类型：电化学电池：3.6V锂离子充电电池电池工作时间：连续工作大概200小时左右2.土壤振筛机/土壤振筛仪 型号；HAD-TRX-6 土壤振筛仪产品说明：HAD-TRX-6标准筛振筛机是与φ200毫米试验筛配套使用，对颗粒物料进行分级筛分的设备，可代替人工筛分操作，并具有两种功能，一种为摇动和振击，另一种为纯摇动筛分。并广泛用于地质、冶金、化工、煤炭、国防、科研、砂轮制造、水泥生产等部门化验室。主要技术性能：匹配筛子直径：φ200毫米 (选配)振动频率：221次/分振击频率：147次/分回转半径：12.5毫米电机型号、功率：1A07124，370瓦重　　量：107公斤外形尺寸：550×380×735毫米 3.水中银在线分析仪/在线水中银分析仪 型号:HA/Y 系统概述:水中银在线监测仪是技术上基于中国国家标准方法而研制的新一代全自动水中银在线分析仪，。经过预处理的水样由注射泵注入到一特殊反应器中进行水样的前期预处理，反应后的水样通过高选择性的合成物质及特殊传感器检测具有与水中银含量成线性关系的电学信号，根据电学变化的程度，就可以计算出水样中银的含量。 系统特点1.水中银在线实时监测仪。2.水样预处理装置采用免维护设计，可确保预处理装置维护周期超过半年时间。3.测定过程及结果即可满足国家标准和环保行业要求。4.微量进样技术保证了试剂的低消耗。5.全进口器件及创新的分析流路设计和试剂配方保证了极高的测量重现性，目前测量重现性可达到3%。6.全自动运行，无需人员值守，可实现自动调零、自动校准、自动测量、自动清洗、自动维护、自我保护、自动恢复等智能化功能。7.在线监测方式多样化，可实现人工随时测量、自动定时测量、自动周期性测量等测定方式。 技术参数：● 测试量程：0—0.5\1\2\5mg/L● 检测下限：0.05mg/L● 准确度：10%读数● 重现性：3%读数● 响应时间（90%）：约20min● 测试方法：定时测量、等间隔测量、手动随时测量● 校正方式：自动定时校正● 预处理维护：自动反冲清洗● 日常维护：自动维护，用户维护间隔1个月● 自检系统：自我监测泄漏；仪器状态自我诊断● 模拟输出：4---20mA模拟输出● 继电器控制：2路24V 1A继电器高低点控制● 数据传输方式：RS232，RS485，GPRS● 显示：5.7寸大屏彩色LCD显示，触摸屏，分辨率320×240● 数据存储：一年有效数据● 工作温度：+5～40°C● 电 源：220 ±10% VAC；50-60Hz● 功 耗：约50 VA● 尺 寸：500mm×750mm×300mm重 量：约70Kg 4.亚硝酸盐氮在线分析仪/在线式亚硝酸盐氮分析仪 型号:HAD-YO 系统概述 亚硝酸盐氮在线分析仪是基于中国国家标准方法而研制的新一代全自动在线分析仪，该产品是在多年水质分析类产品研究基础上推出的一款免维护在线检测仪器。水样中的亚硝酸盐氮在一定的酸性条件下与4-氨基苯磺酸胺反应生成重氮盐，该重氮盐再与特性显色剂发生偶联反应生成红色溶液，溶液颜色的深浅与样品中的亚硝酸盐氮的含量成正比，仪器通过光电比色便可以直接测定出水样的亚硝酸盐氮的含量。 系统特点1.水样预处理装置采用免维护设计，可确保预处理装置维护周期超过半年时间。2.化学消解时间可以调整，测定过程及结果完全满足相关国家标准GB7493-873.全进口器件及创新的分析流路设计和试剂配方保证了极高的测量重现性，目前测量重现性可达到3%。4.全自动运行，无需人员值守，可实现自动调零、自动校准、自动测量、自动清洗、自动维护、自我保护、自动恢复等智能化功能。5.在线监测方式多样化，可实现人工随时测量、自动定时测量、自动周期性测量等测定方式。6.自动漏液报警功能，当出现试剂泄露时，仪器自动报警，提示用户进行维护。技术参数● 测试方法：光电比色法● 测试量程：0～0.2\2\5\10\100\200mg/L● 检测下限：0.2mg/L● 准 确 度：＜5%● 重 现 性：＜3%● 响应时间（90%）：5min● 测试方式：定时、等间隔、手动● 试剂消耗：更换一次试剂可使用半年● 维护方式：自维护，用户维护间隔5个月● 自我监测：自我监测泄漏；仪器状态自我诊断● 模拟输出：4---20mA模拟输出● 继电器控制：2路24V 1A继电器高低点控制● 数据传输方式：RS232，RS485，GPRS● 显示：5.7寸大屏LCD触摸屏，分辨率320×240● 数据存储：一年有效数据● 试剂更换：试剂重复利用● 工作温度：+0～40°C● 电 源：220 ±10% VAC；50-60Hz● 功 耗：约100 VA● 尺 寸：500mm×750mm×321mm● 重量：约70Kg 5.红外二氧化碳检测仪/在线式二氧化碳检测仪 型号:HAD-CO2 产品特性&bull 先进的微处理器技术&bull 防爆设计，快速，可信，稳定。&bull 12-30V直流电源供电&bull 现场浓度显示，声光报警&bull 输出信号 用户可根据实际要求而定。 1．标配三线制4-20mA模拟信号输出 2．二线制4-20mA模拟信号输出（选配） 3．继电器输出（选配） 4．RS485总线输出（选配）&bull 反应速度快，测量精度高&bull 最佳的性能和较低的安装费用&bull 维护费用低 技术参数检测气体：空气中的二氧化碳(CO2)量程：0-5%VOL 精度：0.01%VOL 响应时间：≤25秒传感器寿命：24个月传感器类型:红外 电源： 12-30V直流电源供电检测方式：扩散式工作方式：长期连续工作输出信号：标配三线制4-20mA模拟信号输出 二线制输出,继电器输出或RS485输出（选配）连线方式：G1/2阳螺纹防爆软管电缆规格：型号RVVP3×1.0mm2信号传输距离：≥1000米结构材料：压铸铝防爆标志：Exd II CT6防护等级：IP65工作温度：-20～50℃工作湿度：≤90%RH尺寸/135*125*116mm 无安装支架 167*145*126mm 带支架7.透射式黑白密度计 黑白密度计 底片黑度计 型号：HAD-XK-800 1.型号: HAD-XK-8002.被测密度范围: D=0.00~5.50；3.读数稳定度: ±0.024.光孔大小直径: 2 mm5.显示方式: 3为数显6.工作环境温度: 0°C-40°C7.不准确度: 0.00~3.00≤0.02D 3.00~5.50≤0.04D8.采样时间: 0.5s9.整机功耗: ≤8W10.尺寸 (mm): 255×115×9511.相对湿度 (RH): ≤85%12.电源要求: 220V±10% 50~60Hz13.重量: 1.3 kg 8.粉末压片机/手动压片机 型号HAD-769YP-15A HAD-769YP-15A手动粉末压片机产品介绍：粉末压片机主要应用红外分光光度计固体样品制样及各种小型粉末压片成型。广泛应哟应用于催化、硅酸盐、电池及粉末冶金等行业技术指标：压力范围：0～15吨（0～25MPa）活塞直径：Φ87mm活塞行程：20mm工作空间：94×94×150mm压力稳定性：≤1MPa/5min重量：36公斤外形尺寸：280×210×500mm 9.波筋仪/平整度测量仪/钢化玻璃平整度仪/玻璃平整度检测仪 型号:HAD-1 钢化玻璃存在波形翘曲，并且是周期性的，目前钢化玻璃都是这样，而这个值的大小就决定了钢化玻璃在后续再加工的利用率啦，波形翘曲越小，说明钢化玻璃品质就越高，本仪器就是一款新产品，玻经检测仪，仪器小巧，精致，方便携带，可以随时、随地，不分大小实时检测钢化玻璃的玻形翘曲大小，精度等级0.01/0.001mm, 量程范围0. 001~5mm，可检测钢化炉辊距5mm~300mm的炉型产品玻璃波形度。 10.食品微生物采样箱/食品细菌检测箱 型号:HA/WSW1 食品微生物采样箱适用于食物中毒样品中致病菌的快速筛查，常规样品中卫生指标菌与致病菌的日常监测以及检测样品的采集。 微生物检测箱配置清单品名 规格 数量/单位微型电子天平 0.1-200g 1台可调移液器 1.0-5.0ml 1把枪头 1-5.0ml 20支酒精灯 玻璃制 1个酒精瓶 100ml 2个消毒棉球 50g 1包采样罐 250ml 3个样品袋 10个/包 5包无菌注射器 5ml 2支一次性塑料培养皿 20个/包 1包采样勺 不锈钢 2个采样镊 不锈钢 2把剪刀 不锈钢 1把一次性手套 100支/包 1包试管架 不锈钢材质 1个带盖试管 10ml 12个一次性吸管 20支/包 1包标签纸 100个/包 1包记号笔 普通型 2支 以上参数资料与图片相对应重量/小于等于1KG 无安装支架 小于等于1.4KG需支架 6.空气微生物浓缩采样器 微生物浓缩采样器 浓缩采样器 型号：HAD-KW-1 其特点有： l 触摸屏控制，屏幕可手动校准；l 双路同时采集，流量实时显示；l 可设定定时采样、定体积采样、手动控制采样；l 采样时间、平均流量等数据保存和回放，断电不丢失；l 上一次采样参数自动保存；l 流量可手动校准；l 配备可升降云台，可根据现场情况调节采样头高度（最高2米）二 主要技术指标l 总气路流(110～130) l/min可调，允许误差±5%；l 浓缩气路流量7-9 l/min可调，允许误差±5%；l 总气路流量及浓缩气路流量重复性误差±２%l 浓缩度:优于10倍:l 输入气路负载能力（接分离器）： ≥2KPa；l 浓缩气路负载能力（接生物采样器）：≥50KPa；l 接口： PM10级切割器接口，浓缩气溶胶生物收集器接口，其余气溶胶收集接口；前端接PM10双分离切割器，可浓缩1.0～ 10µ m 生物样品）l 定时功能:1～600 min

产品简介WD4000半导体晶圆厚度Warp检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI 等参数，同时生成 Mapping 图；采用白光干涉测量技术对 Wafer 表面进行非接触式扫描同时建立表面 3D 层析图像，显示 2D 剖面图和 3D 立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关 3D 参数；基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；红外传感器发出的探测光在 Wafer 不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量 Bonding Wafer 的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。产品应用WD4000半导体晶圆厚度Warp检测设备自动测量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。使用光谱共焦对射技术测量晶圆 Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI 等参数，同时生成 Mapping 图可广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C 电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS 器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。产品优势 1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000半导体晶圆厚度Warp检测设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。 5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。应用案例1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，WD4000半导体晶圆厚度Warp检测设备将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

产品简介：该分析系统用于汽车零部件样件进行清洁度的检测，可以自动对滤膜上杂质颗粒的种类、尺寸、数量进行统计、分析，并按尺寸等级归类。能够满足VDA19，ISO16232,NAS1638、ISO4406、ISO4407大众、宝马、福特、奔驰、通用等动力总成工厂对于零部件清洁度检测的规范要求，并出具符合上述规范的标准数据报告，并具备定制数据报告的能力。系统构成：日本奥林巴斯金相显微镜.高精度三轴电动扫描平台.专业清洁度分析软件.高清相机.高性能电脑设备技术参数：1、单张滤膜扫描及评判时间应控制在5分钟内（5倍物镜的条件下，总放大倍率不低于50倍）。2、能够准确区分金属颗粒、非金属颗粒、纤维；以便有标准的数据依据进行判定。3、为了解决滤膜表面不平整导致扫描过程中，无法采集到全部聚焦清晰图像的问题。系统采用多点分散式全自动识别聚焦的方式；无需人员事先手动选点聚焦；以此实现全自动焦距补偿功能。4、软件界面可中英文切换。5、设备自动调节光强、自动聚焦、多视场自动扫描、自动采集图像、自动颗粒统计分析；6、设备扫描同一区域内的大颗粒和小颗粒能够准确自动对焦并进行尺寸计算；7、能按长度等级依据ISO16232-2018、VDA19-2015、NAS1638、ISO4406、ISO4407及企业自定义标准进行归类和判定等级，并能计算滤膜上纤维的总长度。8、根据顾客要求可对大小5-1000μm及以上的不同尺寸颗粒能进行分级统计、评价。9、按照ISO16232/8等级设定，重复检测10次同一张滤膜，颗粒总数偏差10%以下；10、对于颗粒直径在2mm以上的大颗粒也能准确判别，该系统还能自动测量并计算出单个颗粒的面积、宽度、内切圆等尺寸。11、报告内所需体现功能项目操作员可在软件自由添加、软件自动记忆功能；舍弃传统方式的选择对应模板的方式；12、滤膜在扫描后应具有自动统计颗粒、自动阈值、自动判别颗粒的能力、无需人员干预以减少误操作；但保留扫描结果可手动修改，可切分或关联任意形状的颗粒的功能。13、图像采集装置：彩色高清摄像头，可配合自动显微镜进行自动色彩平衡，自动扫描，自动采集图像；14、系统应具备还原颗粒色彩的能力；以便肉眼识别区分不同的金属色泽颗粒；15、在一次扫描评判后软件应具有重新选择分析区域进行再次分析的能力（该动作不应再次扫描滤膜）、以便对滤膜边缘可能损失的颗粒进行提取；16、配备自由行程高精度自动扫描载物台，有自动、手动控制方式。最终通过标准块来控制扫描台及设备的总体精度和检测结果。17、清洁度分析报告应包含产品型号、顾客名称、检验要求、检验日期、检验设备型号、检验员、检查图片、评判结果等。清洁度分析报告能保存和打印。18、依据VDA19-2015对评价结果提出的每滤膜污染物总数、单个零件污染总数、1000cm2推算面积内污染物总数作出评价，且以报告形式体现；19、软件能自动拼接扫描图像，并存储整张滤膜的扫描图像；已存储的滤膜图像可随时调取，并进行重新分析、储存及自动导出office、word报告；报告模版中颗粒等级可按用户需要进行设定。20、配备滤膜专用托架，滤膜放入后无需重新定位，可直接扫描，并能适用于Ф47mm到Ф50mm滤纸规格。21、对于尼龙网格编织膜的扫描数据表现同于表面滤膜的扫描数据，结果不受网格影响。

薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪无纺布材料厚度检测仪是一种专业设备，用于精确测量无纺布以及其他薄型材料的厚度。这类仪器设计精密，确保在生产、质量控制和研究中提供准确的厚度数据。以下是基于通用参数和功能的详细介绍：薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪基本参数与特点：测量范围：0～2 mm（标准量程）（0-6mm，0-12mm可选，其它行程可订制）。分辨率：高精度仪器的分辨率可达到1微米（um），确保测量的细微差异也能被捕捉。测量原理：采用接触式测量技术，接触式通常通过压头轻触材料表面。重复性：高质量的检测仪重复性误差小于0.5%，保证每次测量的一致性。显示与操作：配备清晰的LCD显示屏，显示即时测量结果，操作界面简单直观，便于快速读取和操作。兼容标准：设计符合GB/T 3820等国家标准，确保测试结果的标准化和可比性。适用材料：不仅限于无纺布，还适用于薄膜、纸张、金属箔、纺织品等薄型材料。稳定性与耐用性：具有良好的稳定性和耐用性，适合在实验室和生产线上长期使用。数据处理：部分高级型号可能支持数据存储、输出至电脑，便于数据分析和记录管理。校准功能：内置校准机制，确保长期使用的准确性，用户可定期进行校准以维持测量精度。薄膜测厚仪 金属箔片厚度测量仪 无纺布材料厚度检测仪操作流程：准备样品：确保无纺布样品平整无皱。放置样品：将样品置于测量区域，保持稳定。启动测量：按下测量按钮，仪器自动进行厚度读取。读取结果：显示屏上显示即时的厚度数据。记录与分析：根据需要记录数据，进行进一步的质量评估或分析。

西恩士自动清洁度检测仪/清洁度检测设备/汽车零部件分析仪高效、稳定、可追溯一站式清洁度检测系统

中图仪器WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备采用白光光谱共焦多传感器和白光干涉显微测量双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立表面3D层析图像，实现Wafer厚度、翘曲度、平面度、线粗糙度、总体厚度变化(TTV)及分析反映表面质量的2D、3D参数。兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。中图仪器WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。 1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。应用领域中图仪器WD4000晶圆厚度翘曲度粗糙度检测设备广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。测量各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。应用场景1、无图晶圆厚度、翘曲度的测量通过非接触测量，将晶圆上下面的三维形貌进行重建，强大的测量分析软件稳定计算晶圆厚度、粗糙度、总体厚度变化(TTV)，有效保护膜或图案的晶片的完整性。2、无图晶圆粗糙度测量Wafer减薄工序中粗磨和细磨后的硅片表面3D图像，用表面粗糙度Sa数值大小及多次测量数值的稳定性来反馈加工质量。在生产车间强噪声环境中测量的减薄硅片，细磨硅片粗糙度集中在5nm附近，以25次测量数据计算重复性为0.046987nm，测量稳定性良好。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术（1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。 3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。

中图仪器WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备通过非接触测量，将晶圆的三维形貌进行重建。它采用的高精度光谱共焦传感技术、光干涉双向扫描技术，完成非接触式扫描并建立3D Mapping图，能实现晶圆厚度、TTV、LTV、Bow、Warp、TIR、SORI、等反应表面形貌的参数。WD4000晶圆检测设备自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、三维形貌、单层膜厚、多层膜厚。1、使用光谱共焦对射技术测量晶圆Thickness、TTV、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI等参数，同时生成Mapping图；2、采用白光干涉测量技术对Wafer表面进行非接触式扫描同时建立表面3D层析图像，显示2D剖面图和3D立体彩色视图，高效分析表面形貌、粗糙度及相关3D参数；3、基于白光干涉图的光谱分析仪，通过数值七点相移算法计算，达到亚纳米分辨率测量表面的局部高度，实现膜厚测量功能；4、红外传感器发出的探测光在Wafer不同表面反射并形成干涉，由此计算出两表面间的距离（即厚度），可适用于测量BondingWafer的多层厚度。该传感器可用于测量不同材料的厚度，包括碳化硅、蓝宝石、氮化镓、硅等。WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘曲wafer、测量晶圆双面数据更准确。广泛应用于衬底制造、晶圆制造、及封装工艺检测、3C电子玻璃屏及其精密配件、光学加工、显示面板、MEMS器件等超精密加工行业。可测各类包括从光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物体表面，从纳米到微米级别工件的厚度、粗糙度、平整度、微观几何轮廓、曲率等。测量功能1、厚度测量模块：厚度、TTV(总体厚度变化)、LTV、BOW、WARP、TIR、SORI、平面度、等；2、显微形貌测量模块：粗糙度、平整度、微观几何轮廓、面积、体积等。3、提供调整位置、纠正、滤波、提取四大模块的数据处理功能。其中调整位置包括图像校平、镜像等功能；纠正包括空间滤波、修描、尖峰去噪等功能；滤波包括去除外形、标准滤波、过滤频谱等功能；提取包括提取区域和提取剖面等功能。4、提供几何轮廓分析、粗糙度分析、结构分析、频率分析、功能分析等五大分析功能。几何轮廓分析包括台阶高、距离、角度、曲率等特征测量和直线度、圆度形位公差评定等；粗糙度分析包括国际标准ISO4287的线粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全参数；结构分析包括孔洞体积和波谷。产品优势1、非接触厚度、三维维纳形貌一体测量WD4000晶圆翘曲度厚度粗糙度表面形貌检测设备集成厚度测量模组和三维形貌、粗糙度测量模组，使用一台机器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三维形貌的测量。2、高精度厚度测量技术 （1）采用高分辨率光谱共焦对射技术对Wafer进行高效扫描。（2）搭配多自由度的静电放电涂层真空吸盘，晶圆规格最大可支持至12寸。（3）采用Mapping跟随技术，可编程包含多点、线、面的自动测量。3、高精度三维形貌测量技术（1）采用光学白光干涉技术、精密Z向扫描模块和高精度3D重建算法，Z向分辨率高可到0.1nm；（2）隔振设计降低地面振动和空气声波振动噪声，获得高测量重复性。（3）机器视觉技术检测图像Mark点，虚拟夹具摆正样品，可对多点形貌进行自动化连续测量。4、大行程高速龙门结构平台（1）大行程龙门结构(400x400x75mm)，移动速度500mm/s。（2）高精度花岗岩基座和横梁，整体结构稳定、可靠。（3）关键运动机构采用高精度直线导轨导引、AC伺服直驱电机驱动，搭配分辨率0.1μm的光栅系统，保证设备的高精度、高效率。5、操作简单、轻松无忧（1）集成XYZ三个方向位移调整功能的操纵手柄，可快速完成载物台平移、Z向聚焦等测量前准工作。（2）具备双重防撞设计，避免误操作导致的物镜与待测物因碰撞而发生的损坏情况。（3）具备电动物镜切换功能，让观察变得快速和简单。 WD4000可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。部分技术规格品牌CHOTEST中图仪器型号WD4000系列测量参数厚度、TTV(总体厚度变化)、BOW、WARP、LTV、粗糙度等可测材料砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、 铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、氮化镓、玻璃、外延材料等厚度和翘曲度测量系统可测材料砷化镓 氮化镓 磷化 镓 锗 磷化铟 铌酸锂 蓝宝石 硅 碳化硅 玻璃等测量范围150μm~2000μm扫描方式Fullmap面扫、米字、自由多点测量参数厚度、TTV(总体厚度变 化)、LTV、BOW、WARP、平面度、线粗糙度三维显微形貌测量系统测量原理白光干涉干涉物镜10X(2.5X、5X、20X、50X,可选多个)可测样品反射率0.05%~100粗糙度RMS重复性0.005nm测量参数显微形貌 、线/面粗糙度、空间频率等三大类300余种参数膜厚测量系统测量范围90um(n= 1.5)景深1200um最小可测厚度0.4um红外干涉测量系统光源SLED测量范围37-1850um晶圆尺寸4"、6"、8"、12"晶圆载台防静电镂空真空吸盘载台X/Y/Z工作台行程400mm/400mm/75mm恳请注意：因市场发展和产品开发的需要，本产品资料中有关内容可能会根据实际情况随时更新或修改，恕不另行通知，不便之处敬请谅解。如有疑问或需要更多详细信息，请随时联系中图仪器咨询。

深芬仪器CSY-JAZ真菌毒素快速定量检测仪应用时间分辨荧光竞争抑制免疫层析的原理，当将样品滴加在加样区时，样品中的待测物与结合垫中的荧光微球标记抗体结合并通过毛细作用向前层析，当达到检测区后，检测线 T 线上固定的抗原与剩余的部分荧光微球标记抗体结合，检测线 T 线上结合的荧光微球标记抗体的量与样品中待测物的量成反比，质控线 C 线结合的荧光标记物样品中待测物的量无关，其它荧光标记物继续层析达到吸收区。层析结束后，用CSY-JAZ读取 T 线和 C 线的荧光强度并计算 T/C 值，通过仪器内置的标准曲线即可计算出样品中待测物的含量。 真菌毒素快速定量检测仪组成：CSY-JAZ检测仪主机、一体化拉杆箱包装、台式电子天平、可调移液器、移液枪头、计时器、离心机、粉粹机、涡旋振荡器、取样勺、采样瓶、离心管、镊子、留样密封袋、标签纸、合格证/保修卡、说明书、定量检测卡等。 产品优势：1.仪器使用寿命长：采用高性能LED光源，金属丝杆设计，非连续工作模式，使用寿命可达10年；2.液晶触摸屏7英寸中文显示，人性化操作界面，读数准确、直观；3.本仪器具备数据储存功能，接口方式采用USB、RS232等设计，方便数据的存储和相关处理；4.自动保存检测结果，数据存储量大，内置微型打印机，可实时打印检测结果；5.支持网络通信（wifi、网络端口），可以进行数据传输功能（选配定制功能）；6.内置双通道试剂温度生化培养装置，解决不同区域温度对数据的影响；7.封闭式检测仓门设计，避免灰尘进入仪器内部，延长仪器使用寿命；8.配置齐全：所需设备、试剂、耗材一站式提供，开箱即检；9.内置标准曲线，通过ID卡导入标准曲线，无需检测时再做标准曲线，既节省了成本，也避免了操作人员与霉菌毒素的接触，保护操作人员的安全；10.整机支持按客户要求定制（ODM加工及OEM项目合作） 技术参数：1.激发光谱中心波长：365nm2.接收光谱中心波长：610nm 3.准确度：CV值≤1% 4.吸光度重复性：±0.0055.通 讯 接 口： USB、RS232、网口/wifi（选配）6.电 源：电源适配器（输入120～240VAC，频率： 50～60HZ；输出DC15V5A）7.仪器工作环境: 7.1温度： 5～40℃。7.2湿度： 5%-80%，无凝结。7.3大气压力：86.0Kpa-106.0Kpa。7.4仪器放置于平整操作台上周围无强磁场、电场干扰。8.检测结果报告：可准确报告出检测项目、被测物质的浓度、检测单位、被检查单位、检验员、检测时间、检测限等信息可在触摸屏上显示，可通过仪器内置打印机输出 以上是CSY-JAZ真菌毒素快速定量检测仪的产品信息，如果您想了解更多有关于CSY-JAZ真菌毒素检测仪产品资料；请致电深圳市芬析仪器制造有限公司

1.恒奥德仪器在线式氦气检测仪 固定式氦气测定仪配件型号：HAD-17899产品名称：业在线式氦气浓度分析仪检测气体：氦气(He)检测原理：热导式原理检测方式：管道式，扩散式量程选择：0-5、10、20、50、99、100VOL检测分辨率：0.01%VOL（0-5、10%VOL） 0.1%VOL（0-50、99、100）测量度：±2%F.S温度补偿：带温度补偿（可选）。显示方式：清LCD液晶背光显示 。输出信号（可选如下种）：a、数字信号RS485+1继电器。b、模拟信号4～20mA+1继电器c、模拟信号0～5/10V+1继电器。d、频率信号+1继电器e、模拟信号+数字信号+1个继电器 2.北京厂 片剂硬度仪/片剂硬度测试仪 型号:HAD-YD1 片剂硬度仪是用于测量片剂的压碎硬度。适用标准：JB/T20104-2007 术标:△ 硬度测试范围：2-200N 0.2KG-20KG △ 分辨率：0.1N 0.01Kg△ 硬度测量度：量程±0.5%△ 片剂测试直径：2-20mm△ 整机率：10W△ 外形尺寸：长*宽*（280mm *180mm *110mm） 3.新货供应温湿度计 便携式湿湿度仪 型号：HAD817 测量范围 温度：-10℃~50℃温度测量误差±1.5℃ 湿度：5.0%RH~98%RH湿度测量误差：± 5%（5-40%） ± 4%（41-80%）分辨率：0.1℃/ 0.1%RH单位转换：有底电提示能：有数据保持能 有电源：AAA*3节电池 尺寸：153*48*27mm 4.智能原油快速脱水仪 型号： HXYTS-6 （1）次可脱原油量：1000-3000mL（脱样量过3000ml可定做）（2）脱水时间为20-60min(根据原油稀、稠、含水量多少而定)（3）脱水毕自动降温报警。（4）脱水作中不冲样、不流失轻组份、不改变原油的物性。（5）微电脑控制，键成作程序。（6）作状态显示（6型数码管显示、8型液晶屏显示配备自动打印）（7）报警类型文字显示（8）原油温度显示（9）作时间显示（10）防冲温度显示（11）作毕报警显示 5.经济型钢筋位置检测仪 保护层厚度测定仪 型号：S71 保护层厚度适用范围（mm） ? 6～Ф50测试量程（mm） 量程：1～90；二量程：5～185 保护层厚度允许误差（mm） ±1 1～70 ±2 60～100 ±4 80～180 直径测量适用范围（mm） ? 6～Ф50 6.界面张力检测仪 型号：HAD-JMZL ★操作系统：FreeRTOS ★ 测量方法：圆环法★ 灵 敏 度：0.1mN/m★ 测量范围：1～200mN/m★ 准 确 度：±0.2 mN/m★ 电 源：AC220V±5% 50Hz±2.5%★ 率：50W★ 环境温度: 5℃～40℃★ 环境湿度: ≤85% 7.便携式林格曼黑度检测仪 型号：HAD-Y300L 量程 0~5级（林格曼黑度等级） 示值误差 ≤0.25级（林格曼黑度等级） 重复性 ≤0.2级（林格曼黑度等级） 分辨力 0.05级 响应时间 小于1s 续航时间 大于8小时 供电 12V，5000mAh 8.真空过滤装置 玻璃砂芯过滤器 型号：HAD-LC1 仪器特点：1. 取样量≤400ml，滤杯带确刻度，方便取放样品。特殊规格可以定做。2. 易清洗、温消毒，耐酸碱，耐腐蚀。3. 滤膜规格（直径）：50mm，特殊规格可定做。4. 真空抽滤泵采用无油双活塞设计，附带负压表可调节负压 9.瓶坯厚度测定仪 玻璃瓶厚度测定仪 型号：HAD-G200厚度测定仪是用于测量PET瓶坯厚度的仪器。简易可靠及恒定的测量压力使用得缺少经验的操作人员也能行测量。厚度测定仪是由测量夹具 数显百分表组成。仪器符合GB/T4547-1991标准 测量范围0-10mm分度0.01-0.001mm 注意事项使用时应避免百分表的测量头受剧烈冲击，以免影响读数的准确性使用毕应将仪器擦拭干净 10四气路大气采样器 型号：HAD-4S 流量范围： 0.1～1.5L/min×4；（流量可选） 抽气负压：23500Pa 流量准确度：±5% 稳定性：≤5％ 定时度：≤±0.1％ 作噪音：55dB 环境温度：－5～40℃ 相对温度：95% 充电电流：500mA 连续、断续作时间：4～24小时 　本公司主营 不锈钢采水器，弯曲测量装置，鼓风干燥箱，色度计，化学试剂沸点测试仪，提取仪，线缆探测仪，溶解氧测定仪，活性炭测定仪，磁导率仪，比浊仪，暗适应仪，旋转仪，酸度计，硅酸根测定仪，过氧化值测定仪，腐蚀率仪，电阻率测定仪，耐压测定仪，污泥比组测试仪，粉体密度测试仪，机械杂质测定仪，运动粘度测试仪，过氧化值酸价测定仪，噪声源，土壤腐蚀率仪，直流电阻测试仪，厌氧消化装置，耐压测试仪，甲醛检测仪，硅酸根测试仪，PH酸度计，测振仪，消解仪，读数仪，空气微生物采样器，，双波长扫描仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，钢化玻璃表面平整度测试仪，腐蚀率仪，凝固点测试仪，水质检测仪，涂层测厚仪，土壤粉碎机，气体采样泵，自动结晶点测试仪，凝固点测试仪，干簧管测试仪，恒温水浴箱，汽油根转，气体采样泵，钢化玻璃测试仪，水质检测仪，PM2.5测试仪，牛奶体细胞检测仪，氦气浓度检测仪，土壤水分电导率测试仪，场强仪，采集箱，透色比测定仪，毛细吸水时间测定仪，氧化还原电位计 测振仪，二氧化碳检测仪，CO2分析仪，示波谱仪，黏泥含量测试仪，汽车启动电源，自动电位滴定仪，，干簧管测试仪，电导率仪，TOC水质分析仪，微电脑可塑性测定仪，风向站，自动点样仪，便携式总磷测试仪，腐蚀率仪，恒温水浴箱，余氯检测仪，自由膨胀率仪，离心杯，混凝土饱和蒸汽压装置，颗粒强度测试仪，斯计，自动涂膜机，，气象站，动觉方位仪，，气味采集器，雨量计，四合气体分析仪，乳化液浓度计，溶解氧仪，温度测量仪，薄层铺板器，温度记录仪，老化仪，噪音检测仪，恒温恒湿箱，分体电阻率测试仪，初粘性和持粘性测试仪，红外二氧化碳分析仪，氢灯，动觉方位仪，冷却风机，油脂酸价检测仪，粘数测定仪，菌落计数器，气象站，雨量计，凯氏定氮仪，荧光增白剂，啤酒泡沫检测仪，发气性测试仪，低频信号发生器，油液质量检测仪，计数器，漏电流测试仪，标准测力仪，毛细吸水时间测定仪，大气采样器，流速仪，继电器保护测试仪，体积电阻率测试仪，侧面光检测仪，照度计，体化蒸馏仪，涂布机，恒温加热器，老化仪，烟气分析仪 注：页面价格只是配件价格或产品库存数量，并非产品价格 具体价格面议 以上参数资料与图片相对应