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光学调整架
仪器信息网光学调整架专题为您提供2024年最新光学调整架价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括光学调整架参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的光学调整架您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合光学调整架相关的耗材配件、试剂标物,还有光学调整架相关的最新资讯、资料,以及光学调整架相关的解决方案。
光学调整架相关的方案
多自由度可调节光学标准平面镜
多自由度可调节光学标准平面镜是专业为大型光学镜片调整设计的电动万向式镜架,可满足最大0.62米反射镜安装调整,非常适合天文光学和大型高功率激光实验系统使用。
维氏硬度计的水平调整
影响硬度值的因素:检测硬度计水平及如何调整
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
薄膜的光学表征——采用配备全能型测量附件的 Agilent Cary UV-Vis-NIR 分光光度计
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上[1]。精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
采用配有最新全能型测量附件的 Agilent Cary 5000 紫外-可见-近红外分光光度计对薄膜进行光学表征
该研究的详细情况首次发表在《应用光学》2012 年 1 月 10 日号(总第 51 卷,第二期)上。 精确测定薄膜和多层镀膜的光学参数(使用光学镀膜的逆向工程)对于生产高质量的产品至关重要。这些数据可以给设计和生产环节提供反馈。对每一层依次进行评估后得到的逆向工程结果可以用来调整沉积参数,重校监测系统,改善对各层的厚度控制。 通常是使用紫外-可见-近红外 (UV-Vis-NIR) 或傅里叶变换红外 (FTIR) 分光光度法进行光学表征,对透明基板上的薄膜样品垂直入射或接近垂直入射时的透射率 (T)和/或反射率 (R) 的数据进行分析。然而,基于垂直入射的透射率和反射率测量的光学表征以及基于垂直或接近垂直入射的透射率和反射率测量数据的可靠的逆向工程仍然十分困难。
zeta电位的测量帮助通过形成自组装单层膜调整工业和生物医药材料的表面性能
纳米尺寸的带功能化末端基的有机硅烷或硫醇涂层是一种在不改变材料厚度的情况下调整材料表面性能的灵活处理方法。通过混合烷基硫醇和不同功能化的末端基团,来调整表面电荷,从而进一步提高膜层的选择性。Zeta电位仪可以测量膜的表面电荷性能。
在方法开发中使用安捷伦方法筛选向导 (MSW) 软件自动进行磺胺类化合物分析参数筛选、方法调整与优化、方法
在分析方法开发中,传统的“尝试法”需要手动调整分析参数,不仅费时费力,还需要经验丰富的实验人员进行结果分析和进一步调整优化。安捷伦方法筛选向导 (Method Scouting Wizard, MSW) 软件具有多种参数筛选方式,自动化程度高,智能报告“一键”自动过滤筛选结果,从而得到最佳组合的分析参数。本文以磺胺类化合物的分析方法开发为例,介绍了 MSW 在方法开发流程各阶段中的应用,如分析参数的筛选、方法的优化与调整、方法的放缩与转移等。
在方法开发中使用安捷伦方法筛选向导 (MSW) 软件自动进行磺胺类化合物分析参数筛选、方法调整与优化、方法放缩与转移
在分析方法开发中,传统的“尝试法”需要手动调整分析参数,不仅费时费力,还需要经验丰富的实验人员进行结果分析和进一步调整优化。安捷伦方法筛选向导 (Method Scouting Wizard, MSW) 软件具有多种参数筛选方式,自动化程度高,智能报告“一键”自动过滤筛选结果,从而得到最佳组合的分析参数。本文以磺胺类化合物的分析方法开发为例,介绍了 MSW 在方法开发流程各阶段中的应用,如分析参数的筛选、方法的优化与调整、方法的放缩与转移等。
三维光学轮廓仪在光学领域的解决方案
光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证最终元器件的性能指标,是光学元件加工领域的关键问题之一。光学元件的加工精度包括表面质量和面型精度,这些参数会影响其对光信号的传播,进而影响最终器件的性能。此外,各种新型光学元件也需要检测其表面轮廓,比如非球面,衍射光学元件,微透镜阵列等。除了最终光学元件的加工精度以外,各种光学元件加工工艺也需要检测中间过程的三维形貌以保证最终产品的精度,包括注塑、模压的模具,光学图案转印时的掩膜版,刻蚀过程的图案深度、宽度等。
氦质谱检漏仪光学镀膜机检漏
光学镀膜是指在光学零件表面上镀上一层或多层金属 (或介质) 薄膜的工艺过程. 在光学零件表面镀膜的目的是为了达到减少或增加光的反射, 分束, 分色, 滤光, 偏振等要求. 镜片镀膜是其中的一种应用, 通过对镜片的镀膜, 可以实现镜片的防水, 防油, 防静电, 防紫外线, 防蓝光等功能. 其中减反射镀膜是镜片镀膜的基础. 反射率降低了自然透光率就会提升, 镜片也就变得更加通透.
布鲁克三维光学轮廓仪在光学领域的一些应用
光学元件在各个领域都有广泛应用,对光学元件的表面加工精度提出越来越高的要求。如何检测光学元件的加工精度,从而用于优化加工方法,保证最终元器件的性能指标,是光学元件加工领域的关键问题之一。
隔振光学平台实现精密光学的稳定基础
在当今的科技领域,光学平台扮演着至关重要的角色。它们在各种科学研究与应用中,如物理、化学、生物医学以及人工智能等,都发挥着举足轻重的作用。本文将简单带您了解光学平台的魅力以及其在实际应用中的作用。
5塑料材料的光学特征检测
塑料是一种高度透明的、耐用的光材料。塑料材料的光学性能,主要通过透射率特性、颜色和透明度来评价,并使用专业仪器分光光度计测量透射光谱和反射光谱。这些测量不仅提供光学信息,这些光学信息也可以反映这些材料的紫外线和红外线的防护水平。本文使用 日立UH4150型分光光度计检测不同的塑料材料的透过率光谱。UH4150是测试光学材料方面的专家级仪器,具有平行光束,低偏振等性能,可以提供适合不同应用领域检测的检测器和附件。在线PDF阅读
光学操控解决方案
光学操控指的是使用外加光源对生物学样本(尤其是活细胞)进行照射,通过光源与生物、化学分子间的特定相互作用,实现相应的功能。与活细胞相关的光学操控主要有:FRAPP,FRET,光活化,光转换,光遗传学,光学解笼,光学消融,DNA损伤。
利用OAMII执行流变光学测试
流变光学是指将光学技术应用于变形系统的结构、取向和压力测量。光学测量可以是对流变力学测试的一个重要的补充,因为他们可以帮助理解表现在聚合物和胶体材料上的机制控制的流动性能。光学分析模块OAMII采用偏振测定或测量光的偏振,以确定在主体流动和变形材料的折射率的各向异性。与流变仪相反,光学方法不需要接触材料,且可以专注于极小体积的材料的测试。
激光驱动光源(LDLS)用于光学系统标定
Energetiq Technology的激光驱动光源(LDLS™)技术是光学元件测试和校准应用的理想选择。本应用说明将描述为什么美国宇航局戈达德太空飞行中心的科学家选择EQ-400 LDLS来校准高光谱望远镜上的探测器,该望远镜将用于观测我们星球的海洋。
量子光学成像解决方案
量子光学成像级分析作为量子科学的主要组成部分,一直是科学研究的热点之一。与量子光学成像相关的科研工作包括冷原子成像及量子关联成像。
Ag-ITO-Ag多层导电薄膜的光学性能研究
Ag/ITO/Ag导电薄膜的光学性质决定着透反射式LCD的性能, 其光学性能的评价尤为重要。因此,利用UH4150对Ag/ITO/Ag导电薄膜的光学性质进行了评价
日立紫外UH4150在塑料板光学特性检测中的应用
本文向您介绍如何使用日立高新固体分析分光光度计专家UH4150分光光度计分析检测多种塑料板(包括PMMA,PVC,PET,PC)在330 - 2500 nm波长范围内的光学特性。UH4150采用升级版棱镜-光栅双单色器光学系统,实现更低噪音测定。此外,扩容后的UH4150大型样品室能够处理更大体积样品,操作者无需任何塑料板前处理切割操作,可直接检测样品,灵活使用附件,更好的提升了操作性。高精度的光学系统测定,使得不同塑料板紫外吸收谱图清晰易懂,一目了然。
智能手机镜头中光学元件透过率的测定
刚刚发布的华为P30手机因后置拍照评分高登上 DXO榜首,随后三星发微博表示不服,并称其S10+手机拍照总分高。可见,手机/数码相机以及摄像机中光学元件的微型化和先进性已取得重大进展。但是要获得还原度高的图像,就需要精确评估镜头中微透镜和滤光片的光学特性。日立UH4150不仅拥有独特的光学系统,大型的样品室,还可以进行专属定制,是测量相机中光学元件的理想工具。
涂层光学晶片的自动分光光度空间分析
频繁且经济有效的光谱表征对于开发具有竞争力的光学薄膜涂层非常重要。完全自动化且无人值守的光谱测量有助于降低每次分析的成本、提高分析效率,还有助于扩展质保程序。在生产过程中,满负荷运转的沉积室中常会涂覆大面积、通常呈圆形的衬底晶片。高效的光学表征工具必须能够在晶片被切割之前从用户指定的晶片表面的特征 点获得准确且有意义的信息。专为 Cary 7000 全能型分光光度计 (UMS) 和全能型测量附件包 (UMA) 设计的安捷伦固体自动进样器可容纳直径达 200 mm (8"") 的样品,并提供 UV-Vis 和NIR 光谱范围内的角度绝对反射率和透射率数据。此前的研究已经证明,将 Cary 7000 UMS 与自动进样器相结合,能够对 32x 样品支架上的多个样品进行自动化、无人值守的分析,并对氧化锌锡 (ZTO) 涂层的线性能带隙梯度进行空间测绘。本研究使用配备自动进样器的 Cary 7000 UMS 对直径 200 mm 晶片上的涂层均匀性进行了自动化的角度分辨测绘。
凯戈纳斯:近场光学显微镜与传统光学显微镜的对比介绍
近场探测原理,悬臂式光纤探针等.介绍光纤探针的制作方法,科学界把探针与样品之间的距离小于几十纳米的范围称为近场,而大于这个距离的范围叫做远场。显然,STM、AFM 等利用探针在样品表面的扫描的方法属于近场探测,而对于光学显微镜、电子显微镜等远离样品表面进行观测的方法称为远场方法。
光学法车载道路积尘快速测定仪
用途用于连续测量道路积尘负荷。2、 工作原理采用光学法测量车轮扬起来的颗粒物的浓度,乘以换算系数,得到实时的道路积尘负荷。3、 主要配置车体改装、车载测量系统控制器、GPS定位装置、无线通讯装置、车信息通讯装置、光散射法颗粒物浓度测试仪、光学法抽气气路等
等效350米光学望远镜的长基线光学干涉成像
长基线光学干涉仪是地面观测站在高分辨率、可见光和红外波长下研究宇宙的仪器。干涉仪的工作原理与传统成像望远镜是不同的。星光用一些小望远镜捕捉到,这些望远镜之间的间距可达几百米。每个望远镜的输出都是一个直径约10cm的准直光束。这些光束被中继到集中实验室,尺寸缩小直径约1cm,然后与来自其它望远镜光束结合在探测上形成干涉条纹,通过对多对组合光束的条纹图形分析,可以重建被观察目标的图像。
光学法设备配备3D形貌模块——针对粗糙度校正接触角
将表面粗糙度与接触角结合能够排除接触角测试过程中粗糙度对其在浸润和粘附行为中的影响。在不同类型的表面改性,包括表面化学改性和表面粗糙度改性等方面有重要作用。直到现在,接触角和粗糙度还是使用光学法和粗糙度测量设备分别测试。配备3D形貌模块的Attension Theta Flex光学法设备,见表1,可通过XYZ自动样品台的移动满足同一位置粗糙度和接触角自动测量。在OneAttension软甲哪种,表面粗糙度和粗糙度校准接触角能够自动计算。
光学接触角仪在木材/塑料复合物粘附的应用
木材/塑料复合材料(WPCs)由三种组分构成:回收的热塑性塑料,木材填充和黏胶。木材/塑料复合材料是一种新式的复合材料,在户外装饰,室内装潢,家居都有广泛使用。它也是一种环保的材料,不需要太多维护。本文介绍了结合3D形貌的光学接触角测量仪检测木材/塑料复合材料的表面疏水性。
光学晶体氟涂层分析
近年来,在质量控制和研发方面,获得物质外表面的信息的需求不断增加,表面分析的重要性与日俱增。表面分析的方法有很多种,各种方法可分析的元素和分析深度存在差异,需要根据测定对象选择合适的方法。XPS(X射线光电子能谱分析法:X-ray Photoelectron Spectroscopy)是一种测量固体表面受到软X射线照射时发射的光电子能量的表面分析方法,可进行物质表面元素的定性和定量分析、化学键状态分析。XPS的分析深度为自表面10nm左右,可以获得物质外表面的化学状态信息。本报告中为您介绍使用XPS分析光学晶体上薄膜键合状态的案例。同时,为您介绍不同的分析方法所带来的元素定性、定量结果的差异。
使用光学麦克风通过表面波进行材料表征的无接触检测
直接测量与频率相关的声波速度是评估结构力学性能的一种强大方法。波浪传播的变化可能预示着即将发生的结构破坏。色散测量的现有技术是使用压电换能器作为超声源,以及使用激光多普勒振动计对超声传播进行空间分辨成像。前者需要与样品进行机械接触,后者对其表面性质施加限制。在这里,我们提出了一种非接触式系统,用于确定成分和表面性质变化很大的材料中的声学色散。它将超声波的激光激发与使用光学麦克风对泄漏或传输波的机载检测相结合,光学麦克风对10 Hz至2 MHz的声学频率敏感。
捷克供电公司使用FLIR306光学气体红外热像仪检测六氟化硫(SF6)泄漏
六氟化硫(SF6)是高压电输送所使用的一种绝缘气体,可用于更紧凑的变电站设备。但SF6也是一种烈性温室气体。因此设备发生的泄漏不仅危害配电的连续性,而且对环境也造成了不良影响。为了确保配电连续性,减少对环境的影响,供电公司可以使用光学气体红外热像仪来检测SF6气体泄漏。使用光学气体红外热像仪的其中一家公司是总部位于捷克布拉格的?EPS公司。
在清洁度分析领域,光学显微镜的检测方法存在哪些问题?
金属颗粒的识别是清洁度分析的重要要求。近年来,金属颗粒的光学检测通常是通过光泽度进行的。根据实验室经验,我们发现光学显微镜分析通常会导致错误的分类,这可以通过使用扫描电镜和能谱(SEM+EDX)的检测方法进行材料分析,轻松避免金属颗粒的误识别。
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北京新卓博宇光机电设备有限公司
上海霖迈实业有限公司
上海安驭机电设备有限公司
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