红外干涉差显微镜

日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”，该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”，通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务，与此同时，凭借不断创新积累的三维测量性能，实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。 在半导体、汽车、食品、医药品等产业领域的材料研究和开发方面，为了提高产品的性能与功能，对产品表面的粗糙度、凸凹不平、翘曲等表面形状的评估变得尤其重要。以往，表面形态的测量方法，一般是采用触针式粗糙度测量仪等进行二维测量（线＋高差），但近年来，伴随着材料的薄膜化和微细构造化的加速，需要获取更多的信息，因此，采用扫描型白光干涉显微镜*2和激光显微镜*3等进行三维测量（面＋高差）便得到了灵活应用。 此外，2010年制定了有关三维表面形态评估的国际标准ISO 25178，确立了评估方法，在这种背景下，实施三维测量的企业和研究机构等日益增多。因此，需要我们急切实现有关表面形态测量上的测量与分析的简单化以及应对多种样品的测量问题。 此次发售的“VS1800”产品， 搭配了符合ISO 25178标准的分析工具 “ISO 25178参数对比工具”。在ISO 25178标准中规定了评估表面性状的32个项目的参数，但在对比样品时，选择最适合评估的参数很难，成为分析业务的难题。“ISO 25178参数对比工具”，通过按差异程度大小顺序自动对测量的参数值进行依次排序，可轻松选出最适合对比样品的参数，从而支持客户的分析业务。 此外，“VS1800” 产品，通过光干涉方法*4除了可实现大视野测量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重现性外，亦通过日立高新技术科学自主研发的技术，继承了多层膜的无损伤测量等传统产品的高测量性能。此外，该产品还可搭配“大倾斜角测量选配 ”*6功能，通过捕捉大倾斜角斜面的微弱的干涉条纹变化，实现传统的光干涉方式无法实现的大倾斜角斜面测量，从而应对多种多样的样品表面性状的三维测量。 日立高新技术集团拥有可实现极微细样品的高分辨率测量的原子力显微镜、扫描电子显微镜直至大视野、高精度测量可能的“VS1800”等产品阵容，提供表面分析解决方案，从而满足客户的广泛需求。*1 ISO 25178：规定表面形态评估方法的国际标准。*2扫描型白色干涉显微镜：利用光干涉原理进行非接触式、无损伤的表面形态测量的测量设备。*3激光显微镜：将激光作为光源进行表面形态测量的测量设备。 *4光干涉方法：是利用两列或两列以上的光波相互叠加而出现光明暗（干涉条纹）现象（干涉）的检查方法。*5 0.01 nm的垂直方向分辨率为Phase模式时的性能。*6“大倾斜角测量选配”为选择项目。 【主要特点】(1)高测量性能?垂直方向分辨率：利用光干涉方法，通过独自的算法，实现0.01 nm*的垂直方向分辨率?重现性：利用干涉条纹测量凸凹的高度，通过将来自Z驱动机构的影响最小化，实现0.1 %以下的重现性?测量速度：由于不需要样品的前处理，只要将样品放置在样品台上即可完成测量准备。通过光干涉方法最 快5秒钟即可完成测量?测量视野：以从干涉条纹获取的信息为基础进行凸凹高度的测量，由此可实现广范围（One-shot最 大6.4 mm×6.4 mm）测量与高垂直方向分辨率的两者兼顾。此外，通过连接多个数据的图像，可进一步实现广范围的分析?无损伤测量：通过日立高新技术科学自主研发的技术，对玻璃和薄膜等透明多层结构样品进行测量时，无需对样品进行加工切割成截面，即可在无损伤的情况下，完成多层结构样品的各层厚度或异物混入状况的确认以及缺陷分析等 　* Phase模式时 (2) 易于使用的操作界面采用直观易懂的操作界面，能够轻而易举地进行图像分析处理前后的图像对比，从而支持分析时的最合适图像处理选择。此外，可简单地列出处理与分析的内容、创建独自的分析参数、重复使用分析参数等，并且还可批量处理数据，由此实现统一管理多个样品和分析结果，减轻繁琐复杂的后处理。 (3) ISO 25178参数对比工具 在对比多个样品时，通过将ISO 25178标准中规定的32项参数值按差异的大小顺序重新排列，从而在样品对比时能够轻松选取最适参数，支持客户的分析业务。 (4) 硬件升级按每一台XY样品台的驱动方式，设计了3个类型的产品，即基础模式的手动型Type 1、电动型Type 2、Type 3。从Type 1到Type 2、Type 3，均可根据不同的用途进行升级。

仪器简介：Nicolet Continuum红外显微镜是代表世界上最高水平的红外显微镜。首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术(Infinity Corrected Optics)，改变过去聚焦光为平行光，消除透镜产生的像差，使图像轮廓更清晰，同时如果在光路中加滤光片、偏振片时也不会产生象差。专利双光阑系统极大减小机械误差与衍射干扰，使得数据更精确，光谱更可靠。可选DIC(微分相衬)技术(Differential Interference Contrast)，通过偏振光的干涉即可以不同颜色、不同对比度区分样品的不同区域。技术参数：1.三筒目镜，既可摄像又可用眼观察；2.四位物镜，最多可同时放置四个不同的物镜；3.支持双检测器， 既可作中红外、也可作近红外；4.标配可以透射、反射及ATR 三种采样方式收集光谱；5.面扫描(Mapping)最小步长1微米,具有极高的可见光分辨能力。主要特点：1.首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术,改变过去聚焦光为平行光；2.利用二相色性的"True View"技术，可在扫描过程中同时观测被测区域；3.专利复合双光阑(Reflex Aperture)， 大大减小杂散光；4.同轴设计：可见光光路与红外光同轴；5.可变或固定厚度补偿物镜。

布鲁克始终致力于使任何技术水平的用户都能更轻松地使用先进技术。LUMOS II 傅立叶变换红外显微镜始终秉承这一信条。它的硬件、软件和用户界面都是围绕这个理念构建的，即使是初学者也可以在最短的时间内获得出色的结果。为什么？因为傅立叶变换红外显微成像技术的普遍适用性提供了太多的优点，这些优点即使使用复杂设备也很难获取。LUMOS II 使傅立叶变换红外显微和成像更快、更容易、更好 — 而且更有趣！技术事实焦平面阵列 (FPA) 检测器凭借无与伦比的速度和准确度，FPA 检测器在红外光谱成像方面奠定了最高基准。 PermaSure+ 优势PermaSure+ 可确保稳定的性能并持续监控所有光谱仪参数。此外，它通过逐像素激光波数校准（专利申请中）提高了仪器的效率。 可视化检查LUMOS II 令人印象深刻的是它的视野有 1490 x 1118 μm2,也提供了一种亚微米 0.6 μm /像素的空间分辨率。 检测器灵活性LUMOS II 配有三个检测器位置。TE-MCT 非常灵敏，不需要液氮。当然，也可以使用 DTGS 和液氮冷却的 MCT 检测器。 自动化为了实现最高精度，LUMOS II 完全由电机驱动，通过软件控制。只需单击一下即可切换光阑、检测器或测量技术，并确保您的硬件完全准备好进行分析。 无需吹扫在许多工作环境中供应干燥空气或氮气可能非常麻烦。LUMOS II 光学元件紧密密封，能够抵御环境变化，无需干燥空气吹扫。标准的 ZnSe 光 学元件使 LUMOS II 可以完全抵抗高湿度。 无需液氮也许并不是所有 FTIR 显微镜用户都能方便的使用液氮。这就是为什么LUMOS II 配备了 TE-MCT 检测器，它不需要液氮，但与DTGS相比仍然为灵敏的单点测量提供了卓越性能。 低功耗现代精密电子元件和硬件组件降低了 LUMOS II 的功耗和运行成本。各组件使用寿命长LUMOS II 只使用最高质量的材料。这就是为什么我们能为中央光谱仪组件（干涉仪、激光器、光源）提供延长保修的原因。 占用体积小，易于取放样品LUMOS II 不仅采用最新技术。此外，它还针对拥挤的实验室环境进行了优化，并提供了非常方便的取样进出通道。真正的通用抽样LUMOS II 提供了为显微镜制备样品所需的所有配件。即使是复杂而敏感的样品也可以快速进行分析。例如，特殊的锗半球可以获得特别粘稠、易脆或柔软材料的 ATR 成像。用不同类型的支架可以分析片剂、红外透明窗片、过滤片、层压板或非常大的样品。LUMOS II 可轻松处理高达 40 mm 的样品。由于可自由取放的样品台，您几乎可以将任何东西放在显微镜下，仍然可以获得完美的结果。除此之外，它还配备了标准的目视分析工具，如偏振器、暗场照明和其他对比度增强功能。FTIR 显微技术和成像的应用多样性非常显著。无论是产品开发，故障分析还是识别古代文物的成分，LUMOS II 都能以优雅和高效的方式完成所有工作。 符合药品法规LUMOS II 及其软件满足 cGMP、所有主要药典的严格要求，并遵循 ALCOA+ 原则。此外，广泛的用户和签名管理功能使管理变得简单，而所有数据都以其原始形式安全存储，并符合 21 CFR 第 11 部分。

是一种多功能新型光学显微镜，采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。可拆装机械式载物台，采用同轴无齿轮、齿条传动系统，使传动更平稳与安全。旋转摆入摆出式聚光系统，配置透射式微分干涉相衬装置，以实现透射微分干涉相衬等显微观察功能，模块化设计使功能置换十分方便。本仪器适用于对透明组织的显微观察，应用于科研院所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门。总放大倍数50X~400X聚光镜工作距离55mm，数值孔径0.30目镜平视场大视野目镜；视场：Ф22mm；目镜接口Ф30mm载物台移动范围77mm（纵向）X134.5mm（横向），移动尺可拆卸双目镜铰链双目，观察角度为45度，瞳距为53～75毫米调焦机构粗微动同轴调节，微动手轮格植：0.002毫米物镜微分干涉相衬物镜；明视场物镜；相衬物镜培养皿托板适配圆形培养皿Ф 87.5mm；可适配圆形培养皿Ф 68.5mm；转换器五孔转换器光源5W 白光（色温5000～5500K）LED照明器，输入电压3.9～4.0V

产品创新点上市时间：2019年3月(1)高测量性能 ，垂直方向分辨率高，重现性好，测量速度快，测量视野广，无损伤测量(2)易于使用的操作界面(3)ISO 25178参数对比工具(4)硬件全面升级产品简介日立高新技术科学公司于2019年3月起，在中国开始销售利用光干涉原理进行非接触式无损伤三维表面形态测量的纳米尺度3D光学干涉测量系统“VS1800”，该产品搭配有支持多目的表面测量国际标准“ISO 25178*1参数对比工具”，通过简单而准确的样品测量支持客户的分析业务，与此同时，凭借不断创新积累的三维测量性能，实现高精度、高分辨率的表面性状的测量。在半导体、汽车、食品、医药品等产业领域的材料研究和开发方面，为了提高产品的性能与功能，对产品表面的粗糙度、凸凹不平、翘曲等表面形状的评估变得尤其重要。以往，表面形态的测量方法，一般是采用触针式粗糙度测量仪等进行二维测量（线＋高差），但近年来，伴随着材料的薄膜化和微细构造化的加速，需要获取更多的信息，因此，采用扫描型白光干涉显微镜*2和激光显微镜*3等进行三维测量（面＋高差）便得到了灵活应用。 此外，2010年制定了有关三维表面形态评估的国际标准ISO 25178，确立了评估方法，在这种背景下，实施三维测量的企业和研究机构等日益增多。因此，需要我们急切实现有关表面形态测量上的测量与分析的简单化以及应对多种样品的测量问题。此次发售的“VS1800”产品， 搭配了符合ISO 25178标准的分析工具 “ISO 25178参数对比工具”。在ISO 25178标准中规定了评估表面性状的32个项目的参数，但在对比样品时，选择最适合评估的参数很难，成为分析业务的难题。“ISO 25178参数对比工具”，通过按差异程度大小顺序自动对测量的参数值进行依次排序，可轻松选出最适合对比样品的参数，从而支持客户的分析业务。 此外，“VS1800” 产品，通过光干涉方法*4除了可实现大视野测量、0.01nm的垂直方向分辨率*5、高重现性外，亦通过日立高新技术科学自主研发的技术，继承了多层膜的无损伤测量等传统产品的高测量性能。此外，该产品还可搭配“大倾斜角测量选配 ”*6功能，通过捕捉大倾斜角斜面的微弱的干涉条纹变化，实现传统的光干涉方式无法实现的大倾斜角斜面测量，从而应对多种多样的样品表面性状的三维测量。 日立高新技术集团拥有可实现极微细样品的高分辨率测量的原子力显微镜、扫描电子显微镜直至大视野、高精度测量可能的“VS1800”等产品阵容，提供表面分析解决方案，从而满足客户的广泛需求。*1 ISO 25178：规定表面形态评估方法的国际标准。*2扫描型白色干涉显微镜：利用光干涉原理进行非接触式、无损伤的表面形态测量的测量设备。*3激光显微镜：将激光作为光源进行表面形态测量的测量设备。*4光干涉方法：是利用两列或两列以上的光波相互叠加而出现光明暗（干涉条纹）现象（干涉）的检查方法。*5 0.01 nm的垂直方向分辨率为Phase模式时的性能。*6“大倾斜角测量选配”为选择项目。 【主要特点】(1)高测量性能a.垂直方向分辨率：利用光干涉方法，通过独自的算法，实现0.01 nm*的垂直方向分辨率b.重现性：利用干涉条纹测量凸凹的高度，通过将来自Z驱动机构的影响最小化，实现0.1 %以下的重现性c.测量速度：由于不需要样品的前处理，只要将样品放置在样品台上即可完成测量准备。通过光干涉方法最 快5秒钟即可完成测量d.测量视野：以从干涉条纹获取的信息为基础进行凸凹高度的测量，由此可实现广范围（One-shot最 大6.4 mm×6.4 mm）测量与高垂直方向分辨率的两者兼顾。此外，通过连接多个数据的图像，可进一步实现广范围的分析e.无损伤测量：通过日立高新技术科学自主研发的技术，对玻璃和薄膜等透明多层结构样品进行测量时，无需对样品进行加工切割成截面，即可在无损伤的情况下，完成多层结构样品的各层厚度或异物混入状况的确认以及缺陷分析等 　* Phase模式时 (2) 易于使用的操作界面采用直观易懂的操作界面，能够轻而易举地进行图像分析处理前后的图像对比，从而支持分析时的最合适图像处理选择。此外，可简单地列出处理与分析的内容、创建独自的分析参数、重复使用分析参数等，并且还可批量处理数据，由此实现统一管理多个样品和分析结果，减轻繁琐复杂的后处理。 (3) ISO 25178参数对比工具在对比多个样品时，通过将ISO 25178标准中规定的32项参数值按差异的大小顺序重新排列，从而在样品对比时能够轻松选取最适参数，支持客户的分析业务。 (4) 硬件升级按每一台XY样品台的驱动方式，设计了3个类型的产品，即基础模式的手动型Type 1、电动型Type 2、Type 3。从Type 1到Type 2、Type 3，均可根据不同的用途进行升级。

一、微分干涉金相显微镜仪器的主要用途和特点DMM-1200微分干涉金相显微镜（DIC)采用优质的无限远光学系统，微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好,是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用 可进行明场观察、落射偏光、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。DMM-1200C电脑型微分干涉金相显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像，并可随时拍摄记录金相图片,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。 二、大平台微分干涉金相显微镜仪器的主要技术指标金相显微镜组件及规格光学系统无穷远光学系统主机DMM-1200倒置金相显微镜主机目镜大视野WF10X(Φ22mm)WF15X(Φ16mm)WF20X(Φ12mm)平场分划10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长工作距离平场消色差放大倍数/数值孔径有效工作距离PL5X/0.1226.1PLL10X/0.2520.2PLL20X/0.48.8PLL40X/0.63.98目镜筒三目镜铰链式，倾斜30度，分光比：观察80% 摄影20%；或观察100% 摄影100%滤片组全系列滤色片物镜转换器五孔物镜转换器调焦机构同轴粗微动调焦机构,带锁紧和限位装置, 调焦范围30mm 微动格值0.8μm载物台台面尺寸：280mm*270mm 移动范围：横向（X）204mm，纵向（Y）204mm照明系统落射照明12V/50W，卤素灯，中心、亮度连续可调微分干涉可使用于5X、10X、20X 三、大平台微分干涉金相显微镜系统的组成1、金相显微镜DMM-1200　　　　　　 　　　 2、CCD适配镜3、彩色数字摄像机(CCD)4、计算机（选购） 四、大平台微分干涉金相显微镜选购部分1.金相分析软件 五 、大平台微分干涉金相显微镜同类仪器的比较1、DMM-1200C电脑微分干涉显微镜2、DMM-1200D数码微分干涉显微镜 六、大平台微分干涉金相显微镜相关设备金相设备 金相抛光机 金相切割机 金相砂纸 金相切割片 金相镶嵌机 金相预磨机 显微硬度计 端淬试验机

微分干涉金相显微镜WMJ-9760 一.产品简介高品质的部件设计，简单灵活的配置组合，强大的金相检测功能—WMJ-9760是观测大尺寸或较厚样品的推荐选择。性能特点 所有光学部件均经过特殊处理并镀有特殊膜层灵活紧凑的结构，适应各种环境下的显微观察长工作距专业金相物镜，高倍物镜采用半复消技术各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像 独立的金相检测系统 不同于传统的金相显微镜，无陌WMJ-9760选择了紧凑的结构设计，外观小巧轻便，操作更为灵活。B5大平板底座以及粗微调同轴托架，克服了常规金相显微镜无法观察较厚样品的限制。集成了明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用进行选择。大型设备的视觉系统集成多种观察方式及专业的金相显微技术，灵活精巧的设计使WMJ-9760成为可安装于大型机械设备中的专业金相显微镜。可作为大尺寸LCD面板或PCD线路板生产设备或检测设备的视觉系统。通过摄影摄像接口，可将图像输出至监视器或计算机，方便快速检测。 不同的照明器可供选择明场反射照明器：带可变视场光阑和可变孔径光阑，中心可调，带斜照明机构。明暗场反射照明器：带可变视场光阑和可变孔径光阑，中心可调。带明暗场切换机构。光源采用外置式15V150W卤素灯箱，并用光纤连接。 宽枧场铰链式三目观察筒正像铰链三目观察筒，所成像的方位与物体实际方位一致，物体移动的方向跟像面移动的方向相同，便于观察与操作。铰链式三目观察筒，采用紧凑型倒像光路设计，结构轻巧，便于安装与减轻机体重量。 超长工作距金相物镜全新设计的超长工作距物镜，采用半复消色差技术，并使用多层宽带镀膜技术，使整个视场内的成像清晰锐利，色彩自然，明亮舒适。超长的工作距离设计，50X的有效工作距离达到7.8mm， 100X物镜也达到了2.1 mm,大幅拓展了应用领域，5X、 10X、 20X 物镜的设计，通过精选材料及优化设计，使DIC微分干涉观察的性能非常出色。同步设计了全套明暗场两用物镜，暗场照明亮度比传统暗场物镜提高2倍以上。 摄影摄像附件在三目观察筒上，可以配接摄影摄像装置，将双目观察到的图像输出至监视器或计算机，进行图像分析、处理、保存或传送。使用专用的C接口与中继镜，可以和数码相机联接，快速进行拍照，并获取图像。 偏光及DIC附件将起偏镜及检偏镜插入照明器的插槽内， 即可进行简易偏光观察。在正交偏光的基础上，插入DlC棱镜，可进行DIC微分干涉相衬观察。DIC技术可以使物体表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，大幅提高图像对比度。 多种干涉滤色片可选LBD日光型滤色片，能将光线过滤成自然日光的颜色，图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要，可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节，以获得更好的图像效果。 二.参数配置型号WMJ-9760WMJ-9760BD可选观察方法明场/斜照明/偏振光/DIC明场/暗场/偏振光/DIC光学系统无限远色差校正光学系统目镜PL10X/22平场高眼点目镜物镜OLIP无限远长工作距明场金相物镜OLIPBD无限远长工作距明暗场金相物镜观察筒30°铰链式三目，分光比，双目：三目=100：0或50:50，单边视度可调±屈光度，瞳距调节范围54-75mm正像观察筒，25°铰链式三目，分光比，双目：三目=100：0或0:100，单边视度可调±5屈光度，瞳距调节范围54mm-75mm转换器5孔内倾式明场转换器，带DIC插槽5孔内倾式明暗场转换器，带DIC插槽底座B5大平板底座，底座320mmX260mmX16mm，立柱高280mm，直径32mm显微镜镜体粗微调同轴，粗调行程32mm，微调精度0.002mm,，带防止下滑的松紧调节装置反射照明器系统带可变视场光阑与孔径光阑，均可调中心；带滤色片插槽与偏光装置插槽；带斜照明切换拉杆带可变视场光阑与孔径光阑，均可调中心；带滤色片插槽与偏光装置插槽；带明暗场切换装置光源15V150W卤素灯冷光源电源箱，光强连续可调；单光纤软管（550mm/1000mm/1500mm）摄影摄像附件1/2CTV，1xCTV，均可调焦，数码相机及中继镜偏光及DIC附件起偏镜，固定式/360°旋转检偏镜，DIC插板

一、DMM-1100C电脑型微分干涉金相显微镜的特点和用途: DMM-1100微分干涉金相显微镜采用优质的无限远光学系统，配备长工作距离平场平场消色差物镜. DMM-11000正置金相显微镜可广泛应用于研究金属的显微组织，能在明场、偏光、微分干涉下进行观察和摄影，配备专用软件，更可同步进行测量分析。可供研究单位、冶金、机械制造工厂以及高等工业院校进行金属学与热处理、金属物理学、炼钢与铸造过程等金相试验研究之用。DMM-1100正置金相显微镜，选用优质的光学元件，配有超大视场目镜、落射照明器、平场无限远长工作距离物镜，可选用微分干涉（DIC）观测、获得高清晰的图像，使图像衬度更好，具有较强的浮雕感。是针对半导体晶圆检测、太阳能硅片制造业、电子信息产业、治金工业开发的，作为高级工业金相显微镜使用。可进行明场观察、落射偏光、透射观察、DIC观察，广泛用于工厂、研究机构、高等院校对太阳能电池硅片、半导体晶圆检测、电路基板、FPD、精密模具的检测分析。 二、DMM-1100C正置式电脑型微分干涉金相显微镜的技术参数规格技术参数目镜超大视野平场目镜WF10X(Φ22mm) WF15X(Φ16mm) WF20X(Φ12mm) 平场分划目镜10X/Φ20mm(0.10mm/格值)物镜无限远长距平场消色差物镜PL L 5X/0.12 WD:26mm无限远长距平场消色差物镜PL L 10X/0.25 WD:20mm无限远长距平场消色差物镜PL L 20X/0.40 WD:5mm无限远长距平场消色差物镜PL L40X/0.60 WD:3.98mm目镜筒铰链式，倾斜30度，分光比：或观察100% 摄影100%落射照明系统12V50W卤素灯，中心、亮度连续可调内置视场光栏、孔径光栏、(黄、蓝、绿、磨砂玻璃)滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器透射照明系统阿贝聚光镜 NA.1.25 可上下升降 蓝滤色片和磨砂玻璃 集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏) 12V 30W 卤素灯,亮度可调载物台双层机械载物台，带刻度，台面尺寸：210mm*140mm移动范围：移动范围：横向（X）75mm，纵向（Y）50mm，配置玻璃载物板转换器五孔物镜转换器(内向式滚珠内定位)调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置偏光系统插入式检偏镜，起偏器可360°旋转DIC 观察系统可使用于5X、10X、20X仪器主体正置式透反射金相显微镜主机，先进无限远光路系统CK-300摄像系统1X摄影接口，标准C接口CK-300彩色数字摄像机: 最高分辨率：2048X1536，采用USB供电，功耗小，连接简单：USB2.0接口 图像质量好 ,色彩还原性好 ,图像稳定，所有摄像机均经过长时间测试 ,体积小，安装方便，采集方式:连续采集 三、系统的组成 1、正置微分干涉显微镜DMM-1100　　2、电脑适配镜　 3、300万像素彩色数字摄像器

SENSOFAR公司作为干涉共焦显微镜的发明者，开创性地将共聚焦和干涉技术结合在一起，设计和制造了SNEOX系列的3D光学干涉共焦显微镜。无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切换。使客户无需花费高昂的费用就能同时拥有共聚焦显微镜和干涉仪。客户即拥有共聚焦技术的超高XY轴分辨率最高0.14um,又有干涉技术的亚纳米级Z轴分辨率可达0.1nm及高达0.1%的测量重复性。SENSOFAR在1999年创立之初，就是以三维表面形貌测量为主要研发方向，通过持续不断地研发和申请专利技术，在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品，积累了最丰富的技术实力。新型SNEOX主要技术优势如下：优势1第5代干涉共焦显微镜，更加精准易用新型Sneox是sensofar公司开发的第5代干涉共焦显微镜，在性能、功能、效率和设计方面远远优于现有的共聚焦显微镜或白光干涉仪。第5代Sneox系统的诞生，使得操作更易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量，可快速切换共焦、白光干涉和相位差干涉测量模式，满足从粗糙表面到平滑表面测量需求。优势2专利的Microdisplay共焦技术，可实现扫描头内无运动部件SENSOFAR专利设计的Microdisplay共焦技术（微型程控显示扫描共焦技术），做到了扫描头内无运动部件，解决了共聚焦扫描一直以来的问题---有部件要高速运动，实现了既能高速扫描，又能避免部件运动造成震动影响精度。优势3前所未有的扫描速度，数据采集速度高达180帧/秒新型Sneox作为第5代最新干涉共焦显微镜，通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机（500万像素相机），达到前所未有的速度。数据采集速度达180帧/秒。标准测量采集速度比以前快5倍。典型三维图片获取时间仅需3秒。优势4测量的可追溯性每一台Sneox皆为提供准确和可追溯的测量而精心制造。系统使用符合ISO25178标准的可追溯标准进行校准，包括：纵向精度、横向尺寸、平面度误差以及偏心度。可一键实现ISO25178和ISO4287粗糙度测量，无需复杂的粗糙度参数设置。优势5三合一的3D测量技术（共聚焦、干涉、多焦面叠加）Sensofar的三合一3D测量方法—只需点击一次，系统即可切换到适合当前测量任务的最合适技术。在Sneox传感器头中配置三种3D测量技术：共聚焦测量、干涉测量、Ai多焦面叠加测量，这些都为系统的多功能性做出了重要贡献，并有助于最大限度地减少数据采集中的噪点。Sneox是所有实验室环境的理想之选,适用范围广泛，适合粗糙，到光滑及超光滑表面3D测量。优势6Sensofar最新专利的共焦技术：连续共聚焦扫描技术针对一般共聚焦设备扫描速度慢的问题，Sensofar研发了世界专利技术的连续共聚焦扫描方式，即保证了扫描精度，提高了图像支架，又将扫描速度提高了3倍。优势7Sensofar最新专利的共焦技术：融合共聚焦测量SENSOFAR还推出了独特的融合共聚焦扫描模式，将共聚焦和多焦面叠加两种模式的优势结合，实现了可测最大86度的斜率并具有纳米级Z轴精度的三维测量。融合共聚焦能提供更好的测量效果，获取更好的图像质量，同时可获得比共聚焦和多焦面叠加更可靠的数据。优势8智能噪音检测—有效提高图像质量，消除噪点Sneox使用检测算法(SND)检测那些不可靠的数据像素。与使用空间平均的其他技术相比，Sneox在不损失横向分辨率的情况下逐像素处理。优势9高性能软件分析系统SensoViewSensoView是一种交互式分析工具，2D和3D的交互式视图提供多种缩放、显示和渲染选项。提供一套全面的工具，用于3D或2D测量的初步检查和分析。可以测量关键尺寸、角度、距离、直径，并使用新的注释工具突出显示特征。可实现剖面线上多段高度差测量；可测量剖面线多段高度信息，并实时显示在剖面线测量图上。

SENSOFAR公司作为干涉共焦显微镜的发明者，开创性地将共聚焦和干涉技术结合在一起，设计和制造了S NEOX系列的3D光学干涉共焦显微镜。无需插拔任何硬件就可以在软件内自动实现共聚焦、白光干涉和相位差干涉模式的切换。使客户无需花费高昂的费用就能同时拥有共聚焦显微镜和干涉仪。客户即拥有共聚焦技术的超高XY轴分辨率最高0.14um,又有干涉技术的亚纳米级Z轴分辨率可达0.1nm及高达0.1%的测量重复性。 SENSOFAR在1999年创立之初，就是以三维表面形貌测量为主要研发方向，通过持续不断地研发和申请专利技术，在全球范围内创造了数百种表面形貌测量应用产品，积累了最丰富的技术实力。新型S NEOX主要技术优势如下：优势1 第5代干涉共焦显微镜，更加精准易用新型 S neox 是sensofar公司开发的第5代干涉共焦显微镜，在性能、功能、效率和设计方面远远优于现有的共聚焦显微镜或白光干涉仪。第5代 S neox 系统的诞生，使得操作更易于使用、直观且更快速。即使是初学者，只需点击一下，即可操作测量，可快速切换共焦、白光干涉和相位差干涉测量模式，满足从粗糙表面到平滑表面测量需求。 优势2 专利的Microdisplay共焦技术，可实现扫描头内无运动部件SENSOFAR专利设计的Microdisplay共焦技术（微型程控显示扫描共焦技术），做到了扫描头内无运动部件，解决了共聚焦扫描一直以来的问题---有部件要高速运动，实现了既能高速扫描，又能避免部件运动造成震动影响精度。 优势3 前所未有的扫描速度，数据采集速度高达 180帧/秒新型 S neox作为第5代最新干涉共焦显微镜，通过采用新的智能和独特的算法以及新型相机（500万像素相机），达到前所未有的速度。数据采集速度达 180帧/秒。标准测量采集速度比以前快 5 倍。典型三维图片获取时间仅需3秒。 优势4 测量的可追溯性每一台 S neox 皆为提供准确和可追溯的测量而精心制造。系统使用符合ISO 25178 标准的可追溯标准进行校准，包括：纵向精度、横向尺寸、平面度误差以及偏心度。可一键实现ISO25178和ISO4287粗糙度测量，无需复杂的粗糙度参数设置。 优势5 三合一的3D测量技术（共聚焦、干涉、多焦面叠加）Sensofar 的三合一3D测量方法—只需点击一次，系统即可切换到适合当前测量任务的最合适技术。在 S neox 传感器头中配置三种3D测量技术：共聚焦测量、干涉测量、Ai 多焦面叠加测量，这些都为系统的多功能性做出了重要贡献，并有助于最大限度地减少数据采集中的噪点。S neox 是所有实验室环境的理想之选,适用范围广泛，适合粗糙，到光滑及超光滑表面3D测量。 优势6 Sensofar最新专利的共焦技术：连续共聚焦扫描技术针对一般共聚焦设备扫描速度慢的问题，Sensofar研发了世界专利技术的连续共聚焦扫描方式，即保证了扫描精度，提高了图像支架，又将扫描速度提高了3倍。 优势7 Sensofar最新专利的共焦技术：融合共聚焦测量SENSOFAR还推出了独特的融合共聚焦扫描模式，将共聚焦和多焦面叠加两种模式的优势结合，实现了可测最大86度的斜率并具有纳米级Z轴精度的三维测量。融合共聚焦能提供更好的测量效果，获取更好的图像质量，同时可获得比共聚焦和多焦面叠加更可靠的数据。 优势8 智能噪音检测—有效提高图像质量，消除噪点S neox 使用检测算法(SND) 检测那些不可靠的数据像素。与使用空间平均的其他技术相比，S neox 在不损失横向分辨率的情况下逐像素处理。 优势9 高性能软件分析系统Senso ViewSenso View是一种交互式分析工具，2D 和 3D 的交互式视图提供多种缩放、显示和渲染选项。提供一套全面的工具，用于 3D 或2D 测量的初步检查和分析。可以测量关键尺寸、角度、距离、直径，并使用新的注释工具突出显示特征。可实现剖面线上多段高度差测量；可测量剖面线多段高度信息，并实时显示在剖面线测量图上。

XJL-20BDDIC型倒置金相显微镜采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。模块化的功能设计，可以方便升级系统，实现偏振观察、暗视场观察、明视场微分干涉观察等功能。照明系统充分考虑散热性与安全性，可快速更换灯泡。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。可用于半导体硅晶片、LCD基板、固体粉未及其它工业试样的显微观察，是材料学、精密电子工程学等领域研究的理想仪器。

MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工 程学、电子学等研究的理想仪器。MJ33-DIC微分干涉相衬显微镜 性能特点采用优良的无限远光学系统，可提供卓越的光学性能。紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。内置式可切换偏光观察装置，起偏器可360°旋转。微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。MJ33 DIC 微分干涉相衬显微镜 标准配置项目规格/参数产品编码数量目镜大视野 WF10X(视场数Φ22mm)140100292物镜LMPlan5X/0.12 DIC 工作距离：18.2 mm140401781LMPlan10X/0.25DIC 工作距离：20.2 mm140401791LMPlan20X/0.35DIC 工作距离：6.0mm140401801PL L40X/0.60 工作距离：3.98 mm140400671目镜筒三目镜,倾斜30度,(内置检偏振片,可进行切换)1DIC 观察系统适用于 LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜140900011落射照明系统12v 50w,灯泡中心可调。含黄，绿，蓝，磨砂滤光片。内置视场光阑、孔径光阑、滤色片转换装置，推拉式检偏器与起偏器1起偏器偏振方向可调。1调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,带锁紧和限位装置1物镜转换器五孔(内向式滚珠内定位)1载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:75mmX50mm)1玻璃板97mm X 76 mm1透射照明系统阿贝聚光镜 NA=1.25 可上下升降1磨砂玻璃1蓝滤色片1集光器，卤素灯照明适用(内置视场光栏)。12v 30w 卤素灯，亮度可调，灯泡中心可调。1电源线1CCD接口标准1xC接口130600041内六角螺丝刀备用灯泡12v 50w，14150020112v 30w141500181保险丝250v 0.5A1

MMAS-19微分干涉相衬金相显微镜测量分析系统适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色 差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。MMAS-19系统配备了研润自主研发的MMAS测量分析系统以及MOS高端光学系统。一、技术特点：1、观察系统：大三通光学系统，30度倾斜，自由切换目视观察与电脑摄像，可100%进行透光摄影。大视野平场广角目镜，视场范围直径22mm。2、机械载物台：双层机械式载物台，尺寸210*140mm；移动范围63*50mm。3、落射照明系统：12V，50W卤素灯，亮度可调。良好的散热性设计。4、微分干涉相衬观察系统：微分干涉组件与适配的物镜校正好干涉平面高度。干涉色的变化可通过精密丝杆的旋转调节而变化。5、透射照明系统：内置12V30W卤素灯照明装置，集光镜中内置视场光栏。5、选配件：5.1分化目镜：10X（直径22mm），格值0.1mm/格；5.2无限远长距物镜：PLL50X/0.7（工作距离3.68）、PLL60X/0.7（工作距离2.08）、PLL80X/0.8（工作距离1.25）、PLL100X/0.85（干式、工作距离0.4）；5.3转换器：四孔5.4适配镜：0.5X、1X、0.5带0.1mm/格分化尺；5.5数码摄像机；5.6黄、绿滤色片；二、技术参数：目镜大视野 SWF10X(Φ22mm)物镜（长距）无限远平场消色差物镜LMPlan5X/0.12DIC，工作距离：15mm无限远平场消色差物镜LMPlan10X/0.3DIC，工作距离：10.5mm无限远平场消色差物镜LMPlan20X/0.40DIC，工作距离：4.5mm无限远平场消色差物镜PL L40X/0.60，工作距离：3.98mm放大倍数50~400X目镜筒倾斜30度,三目镜，双目镜组落射照明系统12V50W卤素灯,亮度和灯泡位置可调内置视场光栏、孔径光栏、黄绿蓝滤色片和磨砂玻璃转换装置，推拉式检偏器与起偏器透射照明系统12V30W卤素灯,亮度可调，蓝滤色片和磨砂玻璃阿贝聚光镜NA1.25可上下升降，集光镜中内置视场光栏干涉观察系统适用于LMPlan5X/LMPlan10X/LMPlan20X DIC物镜调焦机构粗微动同轴调焦, 微动格值:2μm,粗动松紧可调，带锁紧和限位装置转换器五孔(内向式滚珠内定位)；载物台双层机械移动式(尺寸:210mmX140mm,移动范围:63mmX50mm)外形尺寸455*545*280配备系统主机+MMAS数据处理系统1套+MOS光学系统一套+电脑一套三、性能特点：1、采用优良的无限远光学系统，可提供出色的光学性能。2、紧凑稳定的高刚性主体，充分体现了显微操作的防振要求。3、符合人机工程学要求的理想设计，使操作更方便舒适，空间更广阔。4、内置式可切换偏光观察装置，起偏器可360°旋转。5、微分干涉相衬观察时图像清晰，干涉色均匀，具有较强的浮雕感。软件功能:MMAS金相显微测量分析系统的核心功能是根据金相图像进行级别评定。目前以具备400多个按国家及行业标准制作的专业功能模块。MMAS金相显微测量分析系统具备数十种图像处理功能、同时具备报告处理、几何测量、定倍打印、图像拼接等多种辅助功能。MMAS金相显微测量分析系统还可以定制图像共聚焦、三维光图等专业功能。MMAS金相显微测量分析系统是为从事金相检验的单位或个人专门开发的一套计算机软件系统，它的基本原理是：用视频采集卡或数码相机等硬件设备，采集到金相显微镜中的金相图片，再对该图片进行处理和分析，得到相关检验结果。1.自动评级：本软件以检验标准为依据，开发出了近百余个类别两百余种软件功能模块，用户可根据需要，选择检验项目，在本软件的帮助下，完成检验工作。2.新建报告：可按用户需求制作报告文档的录入界面、软件可自动生成电子报告文档，并提供报告的保存和打印功能。3.打开报告：打开并浏览已经保存的报告文件。4.几何测量：本软件提供了“直线”、“矩形”、“圆”、“多边形”、“角度”等多种测量工具及测量方法，可完成长度、面积、角度等测量工作。5.查看图库：用户可选择查看本软件收录的所有金相图谱，本软件金相图谱由用户提供原始资料，由我方录入。6.定倍打印：可一次装入多副图片，并可对其进行图像处理，设置说明文字和打印版面，进而生成一份适合各种行业特殊要求的报告文件。7.图像拼接：将采集到的不同视场图像拼接成一幅完整的图像。7.图像共聚焦：该功能模块的作用是：将拍摄对象相同、但焦距不同的几张照片，重合成一张清晰的照片。界面及重合效果.8.三维光图：

Vero原子力显微镜是Asylum推出的全新一代AFM，其利用正交相位差分干涉技术(QPDI)可以精确测量探针的真实位移。基于屡获殊荣的Cypher 平台打造，Vero继承了Cypher系列无与伦比的稳定性和超高分辨率；并凭着QPDI这项受专利保护的独特创新，使Vero能够获得更定量的、准确和可重复的结果。1、测量探针真实的位移QPDI直接测量真实的探针位移而不是悬臂梁角度，可提高许多AFM测量的定量化。2、改进测量灵敏度在许多悬臂梁上,QPDI可将悬臂梁检测噪声降低10倍或更多，提高了测量灵敏度。3、避免垂直和平面力之间的串扰只有QPDI测量纯粹的垂直探针位移，避免了ODB垂直和侧向偏转信号之间的大串扰。4、通过光的波长精确校准干涉检测避免了与OBD校准相关的假设和不确定性。

具有很高的精确度和可重复性您所查看的产品表面是否具有比较陡峭的坡度还是具有复杂的形貌？使用高清共聚焦显微镜能够实现2纳米的垂直分辨率。您所查看的产品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可从以下三种干涉测量模式中选择：垂直扫描干涉测量（VSI）；相移干涉测量（PSI）或者适用于分辨率高达0.1纳米的扩展相移干涉测量（ePSI）。如果您需要快速绚丽的高清二维图像，则Leica DCM8可提供明视场模式和暗视场模式。快速捕捉表面数据Leica DCM8采用创新性高清微显示扫描技术。由于传感器头部未使用运动部件，因此设备能够实现快速和可重现的捕捉数据。集成式高清CCD摄像头具有较大的视场，能够观察较大的样本面积。对于具有较大面积区域的样本来说，为获得无缝和精确的模型，只需要选择超快XY地形拼接模式即可。

BD-6R，金相显微镜，微分干涉显微镜，专业检测导电粒子压痕爆破

RX-MX6R各项操作根据人机工程学设计，极大限度减轻操作者的使用疲劳。其模块化的部件设计，可对系统功能进行自由组合。涵盖明场、暗场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。无限远铰链三通观察头ETTR 型正像铰链三目观察头，所成像的方位与物体实际方位一致，物体移动的方向跟像面移动的方向相同，便于使用者观察与操作。长工作距金相物镜全新设计的长工作距物镜，采用半复消色差技术，其使用的多层宽带镀膜技术，使整个视场内的成像清晰锐利，色彩自然，明亮舒适。长工作距设计，50X 物镜的有效工作距离 7.9mm，100X 物镜的有效工作距离也达到了 2.1mm，更有20X 超长工作距金相物镜，大幅拓展了 MX 机型的应用领域。同步设计了全套明暗场两用物镜，适用于 MX6R 机型，暗场照明亮度比传统暗场物镜提高 2 倍以上。高性能物镜转换器MX 机型的转换器采用精密轴承设计，转动手感轻巧舒适，重复定位精度高，物镜转换后的同心度也得到较好的控制，根据 MX 系列机型配置及功能的不同，可以选择不同型号的转换器。明暗场反射照明器带可变孔径光阑，视场光阑，中心均可调 ；带明暗场照明切换装置，适用于MX6R/MX6RT 机型。丰富的观察方式，满足您的检测需求明场观察：远心柯拉反射照明系统，配以全新设计的无限远长工作距平场消色差金相物镜，从低倍到高倍，都能得到清晰、平坦、明亮的高画质显微图像。暗场观察：将暗场照明拉杆拉到指定位置，即可使用暗场功能，可以观察物体表面的各种划痕、杂质点及其他细微缺陷。内置衰减片，减少明暗场切换时光线剧烈变换对眼睛的刺激。简易偏光观察：将起偏镜及检偏镜插板插入照明器的指定位置，即可进行简易偏光观察。检偏镜可分为固定式和 360°旋转式两种。DIC 微分干涉观察：在正交偏光的基础上 , 插入 DIC 棱镜，即可进行 DIC 微分干涉观察。使用 DIC 技术 , 可以使样品表面微小的高低差产生明显的浮雕效果，极大的提高图像的对比度。可匹配带 DIC 功能的物镜，使整个视场的干涉色一致，微分干涉效果非常出色 , 高倍物镜 DIC 效果也较好。种干涉滤色片可选使用 12V100W 卤素灯时照明时，可以选择 LBD 日光型滤色片，能将光线过滤成自然日光的颜色，图像背景柔和亮白。根据具体工业检测的需要，可以选择其他颜色的滤光片来对光线光谱进行调节，以获得好的图像效果。

Slynx紧凑型3D光学轮廓仪产品描述——紧凑、灵活、强大SensofarSlynx是一款专为工业和研究所设计的全新非接触式3D表面光学轮廓仪，用于工业和科研应用，其设计定位是一个紧凑和灵活的系统。它设计简洁、用途多样。光学轮廓仪Slynx能够测量不同的材质，结构，表面粗糙度和波度，几乎涵盖所有类型的表面形貌。它的多功能性能够满足广泛的高端形貌,测量应用。Sensofar的核心是将3种测量方式融于一体，确保了其*的性能。配合SensoSCAN软件系统，用户将获得难以置信的直观操作体验。主要应用l半导体晶圆应用l汽车零部件l消费电子l能源l材料表面l微电子lLEDl微体古生物学l光学镜片加工l模具加工l钟表制造l腐蚀表面结构l摩擦学表面结构主要功能1.共聚焦共聚焦技术可以用来测量各类样品表面的形貌。它比光学显微镜有更高的横向分辨率,可达0.10um。利用它可实现临界尺寸的测量。当用150倍、0.95数值孔径的镜头时，共聚焦在光滑表面测量斜率达70°（粗糙表面达86°）。专利的共聚焦算法保证Z轴测量重复性在纳米范畴。2.干涉白光垂直扫描干涉（VSI）是一种广泛用于测量表面特性（如形貌或透明薄膜结构）的功能强大的技术。它最适合测量从光滑到适度粗糙的表面，无论物镜的NA或者放大倍数变化，均可以提供纳米级的垂直分辨率。3.多焦面叠加多焦面叠加技术是用来测量非常粗糙的表面形貌。根据Sensofar在共聚焦和干涉技术融合应用方面的丰富经验，特别设计了此功能来补足低倍共聚焦测量的需要。该技术的最大亮点是快速(mm/s)、扫描范围大和支援斜率大（最大86°）。此功能对工件和模具测量特别有用。主要优势1.实时图像SENSOSCAN为您呈现*的共聚焦实时图像。我们的图像质量和速度进一步提升，在共聚焦照明模式下可达9帧/秒，在明场照明模式下高达30帧/秒。与此同时，还有多种实时图像模式选择。

完美地结合了高清晰度可见光区观察和高质量红外谱图测量两大性能，在保证高品质显微研究的同时，也为用户提供了极其舒适的操作体验。由于所有活动部件（包括 ATR 晶体）均为机械智能化设计，LUMOS 成为了目前自动化程度很高的红外显微镜。即使是在ATR模式下，您都只需通过软件操作来完成所有的硬件设置及测量步骤。直观易懂的软件操作系统将协助您逐步完成微型样品的所有分析流程。在每一个实验步骤完成后，用户界面会显示下一步可选的操作，引导您继续实验。所有的测量结果会被自动记录在一个文件中，该文件包括可见光图像、光谱数据、样品信息和实验参数等。您还可以利用软件中强大、直观的化学成像功能将显微数据和光谱信息完美结合，对样品进行全方位视图化分析和评估。LUMOS 新颖的设计为广大用户（包括非专业人士）提供了更加轻松简易的操作体验，而同时它也将和布鲁克公司其他光谱仪产品一样，继续为您的日常检测分析或科研实验提供高质量的测量结果。 产品特色 独立式、全自动傅立叶变换红外显微镜 操作舒适、简单 自动化ATR 晶体（ATR = 衰减全反射） 透射、反射和 ATR 模式下的全自动测量 充裕的样品操作空间及采样距离 红外测试与可见光区成像的性能俱佳 小巧美观、节省您宝贵的实验室空间 LUMOS是一款全自动的独立式红外显微镜，它将红外光谱仪与显微镜的光学设计完美结合。所有部件都实现了自动化控制并配以电子编码。LUMOS采用了自动化控制ATR晶体，该创新设计确保了用户无需任何手动操作便可实现从透射到反射到ATR模式的自动切换，或是ATR模式下背景和样品的自动转换和测量 。 带有压力控制的全自动GeATR晶体 自动控制透明刃边光阑 自动控制聚焦镜 自动控制可见光起偏器和解偏器（可选） 自动控制样品台（可选） 自动控制Z方向驱动 自动控制红外测量模式与可见观察模式的切换 自动控制红外测量模式和可见观察模式的数值孔径 电子识别样品台 出众的光学系统LUMOS配有一个可用于透射、反射和ATR模式的8倍物镜。LUMOS的光学系统和此物镜的优化匹配，保证了高质量成像。为了满足可见光成像模式下更大的景深和红外模式下更高的灵敏度，LUMOS会在切换这两个模式时自动调节数值孔径，达到最佳效果。o 透射、反射、ATR模式自动测量的8倍物镜o 放大倍数最大可达32倍o 高数值孔径下的超大视野o 独立的白光LED光源，用于透射和反射模式下的可见光照明o “柯勒式孔径”提供优秀的图像对比度o 高分辨率的数字CCD图像采集 智能设计LUMOS设计紧凑，占用的空间要比传统的红外显微镜少很多。然而它却提供了一个超大的置样空间，即使40mm厚的样品也能直接分析。宽敞的样品台，使用户能很方便的操作和更换样品。 强大的FTIR技术 干涉仪是红外光谱仪的心脏。LUMOS采用了布鲁克公司专利设计、永久准直的RockSolidTM干涉仪，彻底消除了镜面倾斜、振动、热效应等影响。o Permanent aligned cube corner interferometer for highest stabilityo 永久准直的立体角镜干涉仪拥有极高的稳定性o 光损失小的全镀金光学镜面o 防潮耐用的红外ZnSe分束器及透光材料o 超长寿命红外光源，寿命不低于五年o 超长寿命固体激光器，寿命不低于十年o 高灵敏度的MCT检测器，也可选配DTGS检测器 大样品附件尽管LUMOS是一款独立式红外显微镜，但连接MACRO UNIT大样品附件后，也可分析各种较大尺寸样品。同时，ALPHA型红外光谱仪上的所有QuickSnapTM智能模块都适用于MACRO UNIT，因此可以分析固体、液体和气体样品。 应用LUMOS在拥有超高空间分辨率的同时，依然可以保证清晰的可见光图像和高质量的红外分析谱图。也正因为如此，LUMOS在很多应用领域都能大显身手。 鉴定细小颗粒l 电子元器件l 药物配方l 光学器件 分析缺陷物和污染物◆ 聚合物和橡胶◆ (精细) 机械部件◆ 电子元器件◆ 药物片剂◆ 各种涂层 表面分析◆ 各种涂层◆ 纸张上的油墨 在法政鉴定或刑侦领域，通过红外显微镜精确分析纤维物、化学残留和碎片等等可以为犯罪事件提供有力的线索。此外，纸张上墨迹的红外显微分析有助于鉴定仿造文书和伪钞。通过Mapping扫描技术，LUMOS可以对多层聚合物、多层涂料或生物组织切片等不均匀结构进行化学组分成像，该技术广泛应用于工业界研发和科学研究中。 多层结构的剖析◆ 包装材料◆ 层压式聚合物材料◆ 颜料、油漆碎片及清漆层 鉴定纤维◆ 刑侦或法政鉴定◆ 纺织品 确定合成样品的化学组成◆ 生物组织切片◆ 药物片剂

产品简介产地类别国产价格区间5万-10万目镜10X配备图像分析系统是物镜5X,10X,20X，50X，100X应用领域地矿,建材,纺织皮革,航天,汽车总放大倍率50X-1000XX偏光金相显微镜ML70M采用UIS无限远校正光学系统，配合长工作距离复消物镜，物镜发挥着优异的性能。提供出色的图像质量。配合全新升级的柯拉照明系统，使得每一个倍率下都能呈现清晰明亮的显微图像。详细介绍偏光金相显微镜ML70M产品介绍：金相显微镜MTW-ML70是可以实现明视野、暗视野、微分干涉、简易偏 光观察的金相显微镜。可连接数字式相机，可以构筑多种功能的观察研究系统的型号科研级正置系统金相显微镜。近红外外透射反射观察用显微镜，5X到40X红外镜头，像差校正本涵盖从可见光到近红外整个波段晶圆，化合物半导体的内部，封装芯片内部以及CSPbump观察适宜。偏光金相显微镜ML70M主要特点：1、UIS无限远校正光学系统，配合长工作距离复消物镜，物镜发挥着优异的性能。提供良好的图像质量。2、人机工程学的进一步改善，使操作更为舒适。3、多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要。4、透反两用研究系统显微镜，涵盖所有观察方式。5、新的光路设计，LED光源。6、明场，暗场，偏光，微分干涉相衬，荧光观察方式可选。7、可连接多种胶片或数字照相系统。8、对应明视场、暗视场、微分干涉和简易偏振光观察。明暗视场的切换，仅用手边的一个拨杆就能完成。9、明视野显微镜图像质量。10、优秀的荧光观察功能，LED灯的有效光强比原来增加二倍。11、解像度和对比度鲜明的诺曼斯基微分干涉衬比法观察。12、放大倍率50×~1000×。13、高刚性的Y形镜体结构提供高的稳定性及系统灵活性。14、易于连接数码照相及视频成像设备。

一, ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µ m的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和连接器维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。软件会自动指示端面的半径和角度。为了进一步简化检查过程，ProView XD可以设置为“通过/未通过”模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了角度和半径检查外，ProView XD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。ProView XD-用于连接器，提供预装支架SMA、FC/PC、ST/PC或LD80连接器支架。还有一个可选的通用v形槽夹具组件可用于检查裸光纤。可根据需要提供定制的支架或夹具。ProView XD设计紧凑，是生产台的理想选择，可与切割机、抛光台、超声波清洁器和其他准备工具并排使用。ProView XD通过USB 3.0电缆连接并供电，由外部PC（不包括在内）托管。ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um),ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于连接器 光纤包层直径220-1200um)产品特点For end fac适用于直径为 220 至 1200 μm 的端面2D 和 3D 地形PC 控制器 GUI 的条纹和检查模式通过自动角度估计，检测速度非常快可选择使用通过/失败半径和角度指示检查端面特性，如平面度、垂直度、锯齿和污染抓取并保存 2D 和 3D 图像以及连接器数据通用参数技术参数尺寸:86(宽) x 127(长) x 93(高) mm86(宽) x 140(长) x 97(高) mm (包括， 对焦旋钮和橡胶脚)重量:1.2 kg电源供应:通过USB端口接口:超高速USB (USB 3.0) Type-A, 2米数据线环境:工作温度:10℃~ 40℃存储温度:-20℃~ 50℃湿度:5% ~ 95% RH(无冷凝)光纤直径:220 µ m – 1200 µ m视野:~ 1300 µ m分辨率:2560 x 1920 (4.92 MP)传感器:互补金属氧化物半导体(单色) 图像文件格式:JPEG, PNG, TIFF, GIF系统采集范围和精度高度, 峰谷波值:15 µ m角度, 220 µ m 光纤:高达 3.9°角度, 400 µ m 光纤:高达 2. 1°角度, 720 µ m 光纤:高达 1.2°角度, 1200 µ m 光纤 :高达 0.7°jue对精度 : (1)0.03°标准偏差 (400 µ m, ROI = 90%)0.02° 标准偏差 (400 µ m, ROI = 90%)相对精度: (1)5% 高达 2°(1) 采用软件标定补偿。系统要求电脑:装有英特尔i5(或更高版本)的个人电脑USB: (2)一个免费的USB 3.0接口(超高速)内存:4GB内存(推荐16GB内存)磁盘空间:100 MB (建议500MB)操作系统:Windows 8/8. 1/10 64位(使用,net Framework 4.8或更高版本)显卡:支持3D图形(推荐专用GPU)显示分辨率1920 x 1080 (推荐双监控系统)输入设备:键盘和三键滚轮鼠标(或同等设备)(2) 仅使用直接连接到 PC 主板的 USB 3.0 端口（即不带内部延长线的端口）。型号及包装产品型号 #数量NorthLab ProView&trade XD –用于SMA 连接器IF-12-01001NorthLab ProView&trade XD – 用于FC/PC 连接器IF-12-01002NorthLab ProView&trade XD – 用于ST/PC 连接器IF-12-01003NorthLab ProView&trade XD – 用于LD80 连接器IF-12-01004标准包装USB 3.0线缆N/A1用户手册和PC软件N/A1配件和备件通用v形槽夹IF-90-01004SMA 连接器座IF-90-01010FC/PC 连接器支架IF-90-01011ST/PC 连接器支架IF-90-01012LD80 连接器支架IF-90-01013显微镜视图 ,干涉仪视图角度图视图 ,曲线图视图3D 模型视图 ,3D 模型视图二, ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)ProView XD是一款高度先进的干涉仪，用于精确测量和检查直径为220至1200µ m的光纤端面。干涉仪是专门为生产线设计的，在生产线中需要简单、快速和非常准确的端面检测。但ProView XD也非常适合研发环境和光纤切割机维护目的。在许多情况下，干涉条纹图案可以非常复杂地进行分析和理解。为了便于使用和优化检查速度，ProView XD包括高度先进的全自动功能，用于端面表面的2D和3D地形分析。该软件自动指示端面的角度、平面度和坡度方向。为了进一步简化检查过程，ProView XD可以设置为“通过/未通过”模式。此功能允许操作员通过图像上的颜色代码简单地确定端面质量。除了劈裂角检查外，ProView XD还可用于测量其他一些特性，如光纤直径和定义点之间的距离等。ProView XD-用于光纤支架的产品配有通用v形槽夹具组件，该组件可容纳FITEL或藤仓的标准光纤支架，但也允许使用裸光纤。还有可选的支架可用于检查标准SMA、FC/PC、ST/PC或LD80连接器。可根据要求提供定制夹具或适配器。ProView XD设计紧凑，是生产台的理想选择，可与熔接机、切割机和其他准备工具并排使用。ProView XD通过USB 3.0电缆连接并通电，由外部PC（不包括在内）托管。ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um),ProView&trade XD 光纤端面质量检测干涉仪/显微镜 (用于光纤支架 光纤包层直径220-1200um)产品特点适用于 220 至 1200 μm 的光纤包层直径2D 和 3D 地形PC 控制器 GUI 的条纹和检查模式通过自动角度估计，检测速度非常快可选择使用通过/失败切割角度指示检查端面特性，如平面度、垂直度、锯齿和污染抓取并保存 2D 和 3D 图像以及切割数据通用参数技术参数尺寸:86(宽) x 127(长) x 93(高) mm86(宽) x 140(长) x 97(高) mm (包括，对焦旋钮和橡胶脚)重量:1.2 kg电源供应:通过USB端口PC 接口:超高速USB (USB 3.0) Type-A, 2米数据线环境:工作温度:10℃~ 40℃存储温度:-20℃~ 50℃湿度:5% ~ 95% RH(无冷凝)光纤直径:220 µ m – 1200 µ m视野:~ 1300 µ m分辨率:2560 x 1920 (4.92 MP)传感器:互补金属氧化物半导体(单色)图像文件格式:JPEG, PNG, TIFF, GIF系统采集范围和精度高度, 峰谷波值:15 µ m角度, 220 µ m 光纤:高达 3.9°角度, 400 µ m 光纤:高达 2. 1°角度, 720 µ m 光纤:高达1.2°角度, 1200 µ m 光纤:高达0.7°jue对精度: (1)0.03° 标准偏差(400 µ m, ROI = 90%)0.02° 标准偏差(400 µ m, ROI = 90%)相对精度: (1)5% 高达 2°(1) 采用软件标定补偿。系统要求电脑:装有英特尔i5(或更高版本)的个人电脑USB: (2)一个免费的USB 3.0接口(超高速)内存:4GB内存(推荐16GB内存)磁盘空间:100 MB (500 MB recommended)操作系统:Windows 8/8. 1/10 64位(使用,net Framework 4.8或更高版本)显卡:支持3D图形(推荐专用GPU)显示分辨率:1920 x 1080 (推荐双监控系统)输入设备:键盘和三键滚轮鼠标(或同等设备)(2) 仅使用直接连接到 PC 主板的 USB 3.0 端口（即不带内部延长线的端口）。型号及包装产品型号 #数量NorthLab ProView&trade XD – 用于光纤支架IF-12-01000标准包装FITEL (S712) F/H 平台IF-90-010011FITEL (S713) 和 Fujikura F/H 平台IF-90-010021垫片（100、400、600、800、1000 um）IF-90-010031USB 3.0 电缆N/A1用户手册和 PC 软件N/A1配件和备件通用V型槽夹具IF-90-01004SMA 连接器支架IF-90-01010FC/PC 连接器支架IF-90-01011ST/PC 连接器支架IF-90-01012LD80 连接器支架IF-90-01013FITEL/FUJIKURA纤维支架平台显微镜视图 ,高度图视图 ,干涉仪视图 以及三维模型视图三, ProCoater 超紧凑型光纤涂覆机ProCoater 是一款超紧凑型光纤涂覆机适用于各种纤维直径和涂层化合物。ProCoater 专门用于设计时考虑到易用性和灵活性，使其成为生产和研究的理想选择开发应用程序。 可用于方形塑料或硅基模具，具体取决于树脂类型。 塑料模具设计用于适应最常见的高指数树脂，尺寸有 250、400、500、600 和 900 µ m。 可根据要求定制尺寸。 硅模具的设计可容纳低指数树脂，尺寸有 250、400、550、650 和 750 µ m。 为了确保非常快的循环时间，ProCoater 使用高功率和波长适应的紫外线阵列LED 的典型固化时间小于 3秒。 ProCoater 可以编程为四种不同的重涂程序，可通过触摸面板轻松选择。 重涂程序和所有常规设置均可通过外部 PC 程序访问和修改。 由外部电源供电电源或内部可充电电池。重涂机超紧凑的设计和电池供电使其非常适合便携式使用或空间有限的地方。ProCoater 超紧凑型光纤涂覆机,ProCoater 超紧凑型光纤涂覆机产品应用不一样的方形塑料和硅基适用于高指数和低指数树脂的模具灵活性、纤维直径范围广轻质、超紧凑的设计非常快的固化时间 3 秒使用内置可充电电池或外部电池供电电源通用参数技术参数尺寸125(W) x 65(D) x 62(H) mm重量0.8 Kg电源内置可充电电池或外部电源（100 - 240 V AC，50/60 Hz）固化方法紫外光@ 365nm纤维涂层塑料模具 250—900um硅胶模具 250—750um订购信息:ProCoater 交付时不带模具，模具根据树脂类型和情况单独订购涂层直径。塑料模具：塑料模具是消耗品，作为完整的预组装套件交付。 操作员可以在几分钟内轻松更换塑料模具。硅模具：为了能够使用硅模具，需要硅模具支架和合适的光纤导向器（这些不是消耗品）。 硅胶模具是消耗品，以 10 个模具的包装交付。 操作员可以在几秒钟内轻松更换硅模具。型号及包装NorthLab ProCoater，不包括。 模具RC-10-10000标准包装电源 x1CL-90-90002欧盟电力电缆 x1TBA美国电力电缆 x1TBAUSB电缆 x1TBA六角扳手 1.5 毫米 x1RC-01-01020硅胶垫（5片） x1RC-01-01030用户手册（pdf塑料模具（全套）模具 250μm，塑料RC-01-01001模具 400μm，塑料RC-01-01003模具 500μm，塑料RC-01-01004模具 600μm，塑料RC-01-01005模具 900μm，塑料RC-01-01008硅胶模具支架和光纤导轨硅胶模架RC-10-10050光纤导管，250um（1 对）RC-10-10051光纤导管，400um（1 对）RC-10-10052光纤导管，550um（1 对）RC-10-10053光纤导管，650um（1 对）RC-10-10054光纤导管，750um（1 对）RC-10-10055硅胶模具（10个/包）模具250um，硅胶（1包）RC-01-01011模具400um，硅胶（1包）RC-01-01013模具550um，硅胶（1包）RC-01-01014模具650um，硅胶（1包）RC-01-01015模具750um，硅胶（1包）RC-01-01016塑料模具，完整的光纤导轨 、模具支架、硅胶模具四, 光纤线性拉伸测试仪(拉力试验机) 适用包层直径范围80-400umNorthLab线性拉伸测试仪是一款适用于包层直径在80-400µ m之间的光纤的自动拉伸测试仪。光纤夹可容纳直径高达1000µ m的涂层。它结合了简单的单按钮纤维加载和自动拉伸测试过程。内置LCD报告可接受的“合格”结果和张力测试期间施加到纤维上的Max. 张力，单位为牛顿（N）或Kpsi。它还支持通过拉伸和显示实现的Max. 张力进行破坏性测试。内置的LCD和键盘确保了独立操作，并在10个用户可选择和自定义的张力程序中为操作员提供了轻松访问软件可调节的夹紧压力、Max. 张力、张力速率和验证测试保持时间的机会。这些特点与紧凑的设计相结合，可在实验室或生产环境中使用，具有极高的便携性和灵活性。它包括一个通用的AC-12V DC电源，不需要额外的外部连接，例如用于操作的空气或用于配置的PC。可用的RS-232端口提供了更新固件的能力，并支持从任何适当配置的计算机进行数据选择。光纤线性拉伸测试仪(拉力试验机) 适用包层直径范围80-400um,光纤线性拉伸测试仪(拉力试验机) 适用包层直径范围80-400um产品特点电动夹紧系统无需外部供气易于维护的台式设计内置图形 LCD 控制（无需 PC）最多可存储 10 个程序通用参数规格尺寸240(W) x 187(D) x 142(H) mm重量5,2 Kg电源100 - 240 V AC, 50/60 Hz支持的光纤缓冲器:160 - 1000 μm拉伸试验:25 N分辨率(Resolution)0,1 N牵引速度：200—1000 μm/sec产品及包装型号NorthLab 线性拉伸试验机RCT-01-0001标准包装电源 x1SPT-01-1243电源线 x1FPU-02-003五, ProCleave&trade LD II 大直径自动光纤切割机 (适用于光纤直径125-550um)ProCleave LD II 是一种自动且高度先进的光纤 用于直径达 550μm 的大直径光纤的切割刀。 切割刀是专门设计用于易于使用、处理速度和 高产量至关重要的生产线。 切割刀同时非常适 合研发环境。 ProCleave LD II 可生成非常平坦的端面和低劈裂 角度（典型0.5°）具有高重复性。 为了实现z佳的切割性能和一致性 自动监测和控制关键参数。 ProCleave LD II 具有不一样的通用夹具 根据所应用的纤维直径自动调节的机构， 无需外部零件或附件。 ProCleave LD II 可以编程为四种不同的 切割程序，可通过触摸面板轻松选择。 ProCleave LD II由外部电源供电或内置 充电电池ProCleave&trade LD II 大直径自动光纤切割机 (适用于光纤直径125-550um),ProCleave&trade LD II 大直径自动光纤切割机 (适用于光纤直径125-550um)产品特点自动切割过程可实现z佳切割质量和可重复性通用光纤夹紧机构专为125 至550 的光纤包层直径而设计低切割角，端面非常平坦，典型值0.5°可用电池或外部电源供电支持Fujikura、Fitel、3SAE 或不使用光纤支架的可用平台通用参数技术规格尺寸:150(W) x 90(D) x 60(H) mm150(W) x 90(D) x 80(H) mm （包括杠杆）重量:1.1 kg电源:内置可充电锂离子电池或外部电源电源（100 - 240 V AC，50/60 Hz）支持光纤包层:125 - 550μm支持纤维涂层:250 - 900μm型号与包装型号NorthLab ProCleave LD II CL-01-01000标准包装电源CL-90-90002 1Fitel/Fujikura 光纤支架平台 CL-01-010011裸光纤适配器 * CL-01-01002 1工具包CL-01-010041用户手册（pdf）-可选组件备用金刚石刀片CL-90-90001推荐用于裸光纤。 要放置在Fitel/Fujikura 光纤支架平台 (CL-01-01001)。六,ProCleave HS 高强度电子光纤切割刀 (适用于80-250um直径的光纤切割)ProCleave HS 是一款先进的电子光纤切割刀，适用于 纤维直径可达 250μm。 该切割刀专门设计用于生产 线易于使用、处理速度快、精度高产量也至关重要。 同时切割刀也很适合研发环境。 ProCleave HS 采用先进的超声波金刚石划线技术可实现z佳的切割性能和一致性。 切割刀生成非常平坦的端面，低切割角度（典型 0.5°）刀片侵入Min. 。 为了易于使用并考虑处理速度，ProCleave HS 具有专门设计的夹紧机构。由外部电源供电或内置充电电池,可与熔接机的光纤支架一起使用 （适用于所有主要熔接机品牌*）。ProCleave HS 高强度电子光纤切割刀 (适用于80-250um直径的光纤切割),ProCleave HS 高强度电子光纤切割刀 (适用于80-250um直径的光纤切割)产品特点电子切割工艺可实现z佳切割质量和可重复性专为80 至250 µ m 的光纤包层直径而设计低切割角，端面非常平坦，典型值 0.5°（125µ m，SMF28）可用电池或外部电源供电附带支持 Fujikura、Fitel 和 3SAE 光纤支架的平台通用参数技术规格尺寸:150(W) x 94(D) x 47(H) mm150(W) x107(D) x 51(H) mm（包括杠杆和橡胶脚重量:0.91 kg电源:内置可充电锂离子电池或外部电源电源（100 - 240 V AC，50/60 Hz）支持光纤包层:80 – 250* μm支持纤维涂层:取决于光纤支架* 光纤包层直径从 ~180 – 250μm 可能需要可选的 LD 夹具 (CL-03-01002)型号与包装型号NorthLab ProCleave&trade HSCL-03-01000标准包装电源 + 电源线 欧盟/美国CL-90-900051工具包CL-03-010011USB 2.0 电缆N/A1用户手册和 PC 软件（USB记忆棒)N/A1可选组件备用金刚石刀片CL-90-90001LD夹具 用于光纤包层 ~180 – 250μmCL-03-01002典型的切割角分布 250 次切割的测试系列（125µ m，SMF28）

仪器简介：Nicolet Continuum红外显微镜是代表世界上最高水平的红外显微镜。首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术(Infinity Corrected Optics)，改变过去聚焦光为平行光，消除透镜产生的像差，使图像轮廓更清晰，同时如果在光路中加滤光片、偏振片时也不会产生象差。专利双光阑系统极大减小机械误差与衍射干扰，使得数据更精确，光谱更可靠。可选DIC(微分相衬)技术(Differential Interference Contrast)，通过偏振光的干涉即可以不同颜色、不同对比度区分样品的不同区域。技术参数：1.三筒目镜，既可摄像又可用眼观察；2.四位物镜，最多可同时放置四个不同的物镜；3.支持双检测器， 既可作中红外、也可作近红外；4.标配可以透射、反射及ATR 三种采样方式收集光谱；5.面扫描(Mapping)最小步长1微米,具有极高的可见光分辨能力。主要特点：1.首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术,改变过去聚焦光为平行光；2.利用二相色性的"True View"技术，可在扫描过程中同时观测被测区域；3.专利复合双光阑(Reflex Aperture)， 大大减小杂散光；4.同轴设计：可见光光路与红外光同轴；5.可变或固定厚度补偿物镜。

仪器简介：Nicolet Continuum红外显微镜是代表世界上最高水平的红外显微镜。首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术(Infinity Corrected Optics)，改变过去聚焦光为平行光，消除透镜产生的像差，使图像轮廓更清晰，同时如果在光路中加滤光片、偏振片时也不会产生象差。专利双光阑系统极大减小机械误差与衍射干扰，使得数据更精确，光谱更可靠。可选DIC(微分相衬)技术(Differential Interference Contrast)，通过偏振光的干涉即可以不同颜色、不同对比度区分样品的不同区域。技术参数：1.三筒目镜，既可摄像又可用眼观察；2.四位物镜，最多可同时放置四个不同的物镜；3.支持双检测器， 既可作中红外、也可作近红外；4.标配可以透射、反射及ATR 三种采样方式收集光谱；5.面扫描(Mapping)最小步长1微米,具有极高的可见光分辨能力。主要特点：1.首次在红外显微镜中采用无限校正光学技术,改变过去聚焦光为平行光；2.利用二相色性的"True View"技术，可在扫描过程中同时观测被测区域；3.专利复合双光阑(Reflex Aperture)， 大大减小杂散光；4.同轴设计：可见光光路与红外光同轴；5.可变或固定厚度补偿物镜。

选购倒置金相显微镜,欢迎您来苏州汇光，这款高倍显微镜是苏州汇光供应的档次较高显微镜，采用无限远光学系统，明场、暗场、偏光、微分干涉、五孔转换器，加上智能ECO绿色环保节能系统； 进口的品质国产的价格，广泛应用于铸造、冶金、热处理、原材料检验或材料处理的研究与分析。理想型倒置金相显微，操作更简单，解决方案更多样。下面简单为大家介绍一下倒置金相显微镜的特点：1、ICX40M倒置金相显微镜 采用全新设计的无限远光学系统，可广泛应用于铸造、冶炼、热处理的研究，原材料检验或材料处理分析。2、为满足用户长时间的观察需求，ICX40M倒置金相显微镜使用低手位操作模式，配备了360°旋转观察筒，充分符合人体工程学原理。3、添加以环保、经济为理念的ECO红外感应系统，在显微镜长时间无操作的情况下，系统会自动关闭电源或重新开启，以节省能耗。4、前置物镜倍率显示功能，通过内置的倍率传感器，将当前倍率显示在仪器正前方，使研究工作更加便捷。您有什么不明白的吗,苏州汇光科技欢迎有需要的朋友前来我司咨询哦,我们有专业的业务人员根据您需求定制智能解决方案，谢谢。

Bruker布鲁克纳米红外光谱nanoIR3，是一款基于原子力显微镜（AFM）的纳米表征工具。布鲁克nanoIR 3-s AFM红外原子力显微镜采用光热诱导共振技术（PTIR，也称AFM-IR），使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限，提高至10纳米级别。为揭示纳米尺度下的表界面红外光谱信息提供了可能。该技术曾荣获2010年度美国R&D100大奖。光热诱导技术实现10nm超高化学分辨率和高信噪比纳米红外光谱高性能纳米级 FTIR 光谱只有 布鲁克nanoIR 3-s AFM红外原子力显微镜 能够提供：高性能纳米级 FTIR 光谱高性能红外近场光谱，采用目前先进的纳米红外激光源纳米级 FTIR 光谱，采用集成式DFG，可与宽带同步辐射光源集成适用于光谱和化学成像的多芯片 QCL 激光源点光谱技术POINTspectra 激光器可执行多个波长的光谱分析和高分辨光学成像。nanoIR3-s让测试更加简单：在 AFM 图像中选择要测量的特征测量样品的波谱，选择感兴趣的波长采集高分辨光学属性图根据对多个波长的干涉图的快速测量，获得空间分辨率达到 10nm 的振幅和相位图像 实现 10nm 分辨率Tapping AFM-IR，用于独特的互补性红外光谱分析。

Park NX-Hybrid WLIAFM 和 WLI 技术集成系统用于 200mm至 300mm 晶圆的全自动工业化 AFM-WLI 系统是业内最快捷、最准确、最通用的半导体计量工具。Park NX-Hybrid WLI 是迄今为止首个内置白光干涉仪轮廓测量的 AFM 系统，可用于半导体元件的研发计量、过程控制和制造质量保证。Park NX-Hybrid WLI 使用 WLI 模块在相当大的区域提供高吞吐量成像，并使用 AFM 在感兴趣的区域提供亚埃高度分辨率的纳米尺度计量。Park NX-Hybrid WLI 提供了从大面积扫描到纳米级计量的终极解决方案，适用于各种应用，包括质量保证、自动缺陷检测、前端半导体工艺控制和后端先进封装。Park NX-Hybrid WLI 无缝集成了自动化工业 AFM 系统和 WLI 轮廓仪。与前两种单独的工具解决方案相比，它能有效地节约成本、减少设备占用空间并能提供全新的最佳计量解决方案。Park NX-Hybrid WLI可测量亚埃级精度的台阶高度WLI 和 AFM半导体计量的两种最佳互补技术WLI白光干涉测量是一种光学技术，具有成像区域广、速度快、吞吐量高的优点。AFM原子力显微镜是一种扫描探针技术，对所有样品材料（包括透明材料）都能提供最精确的纳米级分辨率测量。

日本岛津AIM-9000傅立叶变换红外光谱仪傅里叶变换红外光谱仪和显微镜联用，组成显微红外系统，干涉红外光被高精度地聚焦在待测样品的微小区域，直接测试该特定部位的化学结构，从而得到高质量的红外谱图。该技术灵敏度高，实现微区、微量样品分析，对于微小样品可以给出准确的结果。 对于主机无法检测的微小样品以及常规红外光谱法预处理繁琐的样品，使用红外显微镜可以方便快捷地进行检测，得到灵敏度较高的结果。 应用领域：目前红外显微镜被广泛应用于医药、电子、材料、公安、生命科学、环境、食品、化工、地矿等领域。 目前，国家药品监督管理局国家药品包装容器（材料）标准《YBB00342002-2015 多层共挤输液用膜、袋通则中》规定使用红外显微镜对多层膜进行定性分析。 除此之外，公安部使用红外显微镜对刑侦中遇到的及其微小的样品进行定性分析，为刑侦提供工作可靠依据。电子企业由于异物污染会导致芯片失效，红外显微镜可以帮助客户查找异物来源等等。红外显微镜的应用越来越多，仪器的市场需求也越来越大。 产品特点：(1) 信噪比优于30000:1(200px-1 分辨率,2 分钟扫描,100X100μm 光阑,峰-峰值)(2) 从大视野(大视野相机,10X13mm)到显微尺寸(显微镜相机,30X40μm)的330倍连续放大能力(3) 测量点位置自动识别,光阑自动设定,所有测量点的红外光谱测量可以自动完成(4) 异物红外光谱的自动解析程序(5) 高速mapping化学成像 岛津公司红外光谱产品60周年之际发布了一款全新力作AIM-9000红外显微镜，让“全自动红外显微分析”的理念更进一步。从观察，定义测量位置，到进行测量，再到鉴别结果的给出，红外显微分析所需的全部操作都能由仪器软硬件自动执行，同时提供高灵敏度的测试数据。 岛津独具匠心的在标准物镜之外，提供了大视野相机的选项。从而实现从宏观目视尺寸（10x13mm）到显微异物尺寸（30x40μm）的330倍连续放大，极大地提高了样品观察、定位的效率和可靠性。 同时，基于数字图像识别算法的异物（测量）位置识别功能，让充满经验的专家系统在1秒钟之内帮助分析新手决定哪些位置才是需要进行测试的。高速的XYZ三轴自动化样品台，为微小样品专门优化的高灵敏度MCT检测器，配合高性能的岛津红外光谱仪主机和高效光路系统，实现了多个样品的超快速自动测量。 并能结合特征峰、光谱相似度和多变量分析等功能，实现高质量的红外光谱化学成像（mapping）。对所测得的显微红外光谱数据，通过岛津独有的异物（混合物）分析程序，可以快速自动判断可能的主要成分和次要成分，而不需要用户预先知道具体的组分数量。 让真正的自动化异物分析系统成为可能。 货期&价格请与客服咨询为准！谢谢！

MCK-50MC科研级正置金相显微镜一、仪器的主要用途和特点: MCK-50MC全新研究级金相显微镜集蔡康多项首创于一身，从外观到性能都紧跟国际领先设计风向，致力于拓展工业领域全新格局。MCK-50MC秉承CAIKON不断探索、不断超越的品牌设计理念，为客户提供完善的工业检测解决方案。 MCK-50MC研究型科研级显微镜是将精锐的光学显微镜技术、先进的光电转换技术、尖端的计算机成像技术完美地结合在一起而开发研制成功的一项高科技产品。既可人工观察金相图像,又可以在计算机上很方便地适时观察金相图像，并以随时捕捉下来,从而对金相图谱进行分析,评级等,还可以保存或打印出高像素金相照片。●多档分光比观察头设计全新MCK-50MC系列观察筒，采用宽光束成像系统设计，支持26.5mm世界领先的超宽视野观察，带给您全新的大视野体验。两档式正像铰链三目观察筒，保证样品的移动方向与您通过目镜观察到的方向一致，使操作更加得心应手。三档式铰链三目观察筒，在成像光线100%用于双目观察或三目摄影的基础上，增加一档20%用于双目观察，80%用于显微摄影，方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察●偏振系统偏振系统包括起偏器和检偏器，可做偏光检测，在半导体和PCB检测中，可消除杂光，细节更清楚。检偏器分为固定式检偏器和360度旋转式检偏器。360°旋转式检偏器可在不移动标本的情况下，方便的观察标本在不同偏振角度光线下呈现的状态。可在偏振系统的基础上加载蔡康全新研发微分干涉器，建立诺曼尔斯基微分干涉衬比系统。●诺曼尔斯基微分干涉衬比系统（选购功能）全新研发的U-DICR微分干涉组件，可以将明场观察下无法检测的细微高低差，转化为高对比度的明暗差并以立体浮雕形式表现出来，如LCD导电粒子，精密磁盘表面划痕等。●中性密度滤色镜连动明暗场观察设计照明器前端的拨杆可使明暗场观察切换更加方便，并带有中性密度滤色镜（ND50）联动功能。由于暗场观察时通常需要将光源开得比明场观察更亮，此功能设计可以避免用户在由暗场切换至明场时，眼睛不会受到强光的刺激，提高使用的舒适性。●物镜转换器，多孔可选多孔物镜转换器可以对同一个标本的观测点进行连续的更加合理的低、中、高放大倍率观察。全新的物镜转换器将光轴与转动轴之间的夹角降低到15°，提高了对中精度和齐焦精度，且外观更加紧凑。●专业无限远长工作距离半复消色差金相物镜 明暗场物镜只需一个镜头就能胜任明场、暗场、偏光、微分干涉观察。暗场图像亮度得到增强，提供了样品的检出能力；系列物镜严格挑选高透过率的镜片和先进的镀膜技术，真实还原样品的自然色彩；明暗场物镜采用铝制外壳，大大减轻了重量，对防止环境污染，改善物镜转换的操控性做出了贡献；长工作距离物镜广泛适用于各种检测领域，轻松实现无损检测三、金相显微镜MCK-50MC主要技术参数：名 称参数规格光学系统无限远色差校正光学系统观察方式明场/暗场/偏光观察筒30°倾斜，正像，无限远铰链三通观察筒，瞳距调节：50mm~76mm，两档分光比双目:三目=100：0或0:100目镜高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，带单刻度十字分划板，视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，带单刻度十字分划板，视度可调高眼点大视野平场目镜PL10X25mm，带单刻度十字分划板，视度可调物镜转换器明暗场5孔转换器，带DIC插槽无限远长工作距离平场明暗场消色差物镜物镜倍率数值孔径工作距离（mm）盖玻片厚度（mm）5X0.1513.5010X0.309.0020X0.502.5050X0.8010照明系统12V100W超长寿命灯箱，采用PHILIPS型卤素灯，透、反射通用，预定中心。调焦机构低手位粗微同轴调焦机构。粗调行程25mm,微调精度0.001mm。带有防止下滑的调节松紧装置和随机上限位装置。主机架透反两用机架, 低手位粗微同轴调焦机构。内置100-240V宽电压系统,双路电源输出，采用数字调光，具有光强设定与复位功能、反射/透射光切换开关,内置透射光滤色镜（LBD、ND6、ND25)聚光镜摇出式消色差聚光镜（N.A.0.9）载物台4英寸机械平台，右手位操作，行程105mmx102mm，带Y轴锁定机构，可带透射系统挡光板，带玻璃载物台板反射照明器明暗场反射照明器，带可变孔径光阑，视场光阑，中心可调；带明暗场照明切换装置；带滤色片插槽，带起偏镜/检偏镜插槽测微尺0.01mm电脑摄像系统CKC2000CKC2000高清彩色摄像机，采用索尼CMOS芯片，灵敏度可以与CCD芯片为同一量级，图像色彩还原度大大提高。最高分辨率：5496×3672， 芯片尺寸：1"，USB3.0连接,图像稳定，有多种图像处理方式（详细参数见CKC2000摄像机介绍）显微软件专业图像处理及拍摄软件，实时图像拼接及实时景深熔合，可对图像中的点、线、圆、圆弧、角度、矩形及任何图形几何参数的测量。测量工具使用方便直观，可在图像上添加文字、放置比例尺，是显微图像测量与分析的有效工具。

全自动高分辨纳米红外成像与光谱系统 ——10nm以下空间分辨红外成像与光谱采集用于化学分析和材料成像的纳米红外光谱系统Park FX200-IR 有效融合了崭新的红外光谱技术、美国Molecular Vista 的光诱导力显微镜（PiFM)以及行业前沿的 Park AFM技术。PiFM 红外光谱采用非接触式检测技术，在空间分辨率、测量可靠性和样品安全性方面皆优于现有的光谱技术，包括轻敲PTIR(光热诱导共振）。Park FX200-IR 中的 PiFM不仅能够进行高分辨率红外光谱分析，还能进行高质量的红外吸收材料成像，以进行准确的化学成分测量。高分辨率红外光谱与传统的FTIR(傅里叶变换红外）光谱保持着密切的相关性。此外，Park FX200-IR 还可以通过检测技术、直接驱动和边带双峰检测的变化提供不同深度的有价值的材料信息。FX200-IR纳米红外依托于原子力显微镜平台，利用光诱导力显微镜（Photo-induced Force Microscope, PiFM)技术，结合波长可调的红外光源，从而实现10nm以下空间分辨红外成像与光谱采集，无需远场光学接收器及干涉仪。 FX200-IR纳米红外所采集的PiFM红外光谱与标准FTIR光谱高度吻合，这使得科研人员可以将PiFM纳米红外光谱与FTIR红外光谱图库中的数据进行对比分析。样品为聚醚砜薄膜(Polyethersulfone, PES film)FX200 IR 纳米红外成像与光谱案例光诱导力显微镜突破性的采用检测探针与样品之间的偶极交互(dipole interaction)，使其不受到样品横向热膨胀对于空间分辨率带来的负面影响。因此，基于光诱导力显微镜的纳米红外能真正意义上的实现10nm以下空间分辨纳米红外成像！下图PS-PMMA嵌段共聚物纳米红外成像与光谱案例，红色和绿色分别代表PMMA与PS的分布情况。摘自“Nanoscale chemical imaging by photoinduced force microscopy，Sci. Adv. 2016”基于光诱导力显微镜的纳米红外不仅适合有机高分子材料，也适合无机材料。下图为不同Si/Al比的ZSM-5沸石分子筛的纳米红外骨架振动峰在1100cm-1处的蓝移及劈裂情况，以及通过碳氢化合物在1480cm-1的C=C伸缩振动峰来反映ZSM-5参与甲醇制碳氢化合物（MTH)催化反应后结焦的分布情况。

产品优势徕科光学LK-JX系列高倍金相观察显微镜包含LK-JX-04，LK-JX-06，LK-JX-08，LK-JX-12四个型号的高倍金相观察显微镜，均具备玻璃平台Z手动同轴对焦控制。产品采用多档分光比观察头设计，三档式铰链三目观察筒，在成像光线100%用于双目观察或三目摄影的基础上，增加一档20%用于双目观察，80%用于显微摄影，方便用户同时对镜下图像与视频图像进行对比观察，适用于高倍显微观察和精密测量领域。在国货崛起的今天，徕科光学研发的LK-JX系列高倍金相观察显微镜依靠着科技感和创新感双强的研发力量，能够以稳扎稳打的专业核心技术为不同客户制定出高性价比的解决方案和内核稳定的售后方案，其所呈现出的效果与进口设备的毫无差别，但其价格仅为进口设备的三分之一左右，真正成为了一款“小价格、大惊喜”的产品。依靠着科技感和创新感双强的研发力量，可以根据不同客户的需求定制出高性价比的产品方案；作为专业服务保障团队，具备内核稳定的售后方案，7*24小时响应，提供安装培训 一体化互动，更加直接且高效地为客户做好售前、售中、售后服务保障。经过十余年的研发服务，已积累千万客户，并在多地区投建服务部方便与客户的沟通互动。下图为LK-JX系列高倍金相观察显微镜产品实景图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍1、光路：采用国际领先的无限远双重校正光路设计（UISC）下图左图为有限远光路，右图为无限远光路下图为同一物体在有限远光路（左图）与无限远光路（右图）下观察到的情况对比：2、光源：明暗场反射照明器为12V100W卤素灯照明，并带有光强预设功能，可快速切换到预设亮度，带明暗场切换机构；透射光源为单颗大功率5W白色LED，并带有NA0.5聚光镜。透射照明与反射照明可独立控制，即透反照明可同时开启，亦可单独开启。传统卤素光源 传统卤素光源+色温平衡滤片3、观察方法：明场观察( 透射 )、暗场观察、DIC微分干涉观察明场观察( 透射 )：明场图例：暗场观察：暗场图例：DIC微分干涉观察：DIC微分干涉图例：4、智能化图像处理方法：5、图像测量功能6、可实现实时景深叠加和实时多视场拼图功能： 实时景深叠加(EFI) 实时多视场拼图(MIA)7、产品特点：●Z轴粗微调手动精准对焦（同轴控制） ●标配明暗场物镜和明暗场光路（可按需选择明场物镜及光路），LED照明系统，上下光源●可选配手动鼻轮或电动鼻轮 ●可支持长工作距离物镜进行对接 ●配备4寸/6寸/8寸/12寸XY机械平台（可选配旋转平台） ●全系列均支持长工作距离物镜和超长工作距离物镜图例1：图例2：图例3：产品参数产品型号LK-JX-04LK-JX-06LK-JX-08LK-JX-12对应检测尺寸4寸6寸8寸12寸平台移动范围mm150×105158×158210×210310×310选配旋转平台支持支持支持支持LED光源上下光源上下光源上下光源上下光源光学系统无限远色差校正光学系统物镜明暗场5孔转换器(带DIC插槽) 明暗场半复消色差金相物镜(标配：5X、10X、20X、50X,选配100X)观测方法明场、暗场CCD摄像机高清数字相机(USB3.0-630万/1200万可选)图像软件功能观察、拍照存储、录像、二维尺寸简易量测、标注、数据导出、扫描上传、大图拼接等等DIC微分干涉(选配)便于颗粒、裂纹、空洞、凸起等判断照明装置明暗场透反射照明器，带可变孔径光阑，视场光阑，中心可调；LED照明灯室，透、反射通用，预定中心XY平台操控方式XY低手位粗微调同轴操控Z轴操控方式同轴粗微调手动调焦机器电源220v±10%/110v±10%(AC) 50Hz留言或致电我们，获取更多方案。