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红外光波长检测器

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  • 【资料】633nm激光波长基准/副基准

    633nm激光波长基准/副基准比对报告中国计量科学研究院(100013)中国测试技术研究院(610021)中国第一航空集团公司第304研究所(100095)2007.3.23 北京1 概述1983年, 国际计量委员会(CIPM)推荐将碘稳定的633nm He-Ne激光辐射波长作为复现米定义的标准[1]。此后,根据国际上各实验室的研究和测量结果,1992年CIPM更严格地规定了激光系统的运行条件和主要技术参数,同时重新给出了其频率值、波长值及其不确定度标准[2]。在此基础上,2001年,CIPM向世界各国推荐了现行的技术参数和运行条件[3]。长度单位米是SI单位制中7个基本单位之一,也是较早以自然基准的方式复现的基本单位之一。在国际计量组织推荐的复现米定义的若干标准谱线中,碘稳定的633nm激光波长标准是目前世界上实用性最强、影响面最大、应用面最广、最受重视的长度基准。碘稳定激光系统的制作工艺特殊,装置组成较为复杂,即使是基本满足CIPM推荐的技术参数和运行条件,也不能完全保证达到国际频率(波长)值的不确定度标准。所以,不同国家的基准装置之间需要定期进行比对实验,确定不同装置间的系统偏差以及造成偏差的技术原因,以保证国际间的长度量值的准确和统一。自1983年新米定义实施以来,在世界范围内,围绕633nm激光波长基准装置的复现数据,在国际计量局和地区计量组织的倡导和组织下,各国或地区之间已经进行了无数次的多边或双边比对。通过比对实验,一方面保证了各国或地区之间的长度量值的准确和统一,为世界各国的工业标准化进程提供了有力的技术保障;另一方面也极大地促进了参加比对的国家和地区的计量技术水平的提高。在过去20多年的时间里,中国计量科学研究院就曾经代表中国多次参加这种比对实验。通过比对,不仅对外展示了中国长度计量基准的技术水平,而且利用比对期间与国外同行面对面的技术交流机会,促进了国内长度基准装置技术水平的提高。中国是较早开展碘稳定633nm He-Ne激光波长基准装置研究和应用的国家之一。经过近30年的不懈努力,不仅研制并建立了波长基标准装置系列,而且大体上完成了长度量值溯源体系的基本建设。这些工作的开展为中国的国民经济建设和产品质量的控制奠定了技术保障基础。可以毫不夸张的说,这一切源自于633nm波长基准装置的建立。目前我国现行有效的633nm国家长度基准和副基准装置共有3套,其中基准装置保存在中国计量科学研究院,副基准装置分别保存在中国测试技术研究院和中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所。3套装置的运行条件和相关的参数指标都应满足国际计量组织规定的技术要求,并且各自在不同的领域和地域履行长度量值溯源的职责。国家长度基准和副基准,担负着统一全国长度量值的大任,因此定期比对不仅是必要的,而且是必须的。然而,由于种种原因,自1983年新米定义开始实施以来,在三家单位的基准或副基准装置之间,从未进行过正式的比对实验,成为国内长度量值溯源体系建设和实施过程中的一大缺憾,势必危及长度量值的准确和统一。针对这种情况,受国家质量监督检验检疫总局的委托,中国计量科学研究院于2006年在国内组织了633nm 127I2稳定激光波长基准、副基准的比对工作。比对实验的负责单位是全国几何量长度委员会,主导实验室是中国计量科学研究院。参加比对实验单位的相关信息见表1。表1 比对实验单位的相关信息基准或副基准保管单位 联系人 地址 中国计量科学研究院(以下简称计量院)/基准 钱进 电话:010-64211631-3320传真:010-64211631-3320电子信箱:qianjin1000@yahoo.com.cn通信地址:北京北三环东路18号邮政编码: 100013 中国测试技术研究院(以下简称测试院)/副基准 黄晓荣 电话:028-84404885传真:028-84404885电子信箱:通信地址:成都市玉双路10号邮政编码:610021 中国航空工业第一集团公司北京长城计量测试技术研究所(以下简称304所)/副基准 张志权 电话:010-62457119传真:010-62462965电子:zhangzhiquan0112@sina.com.cn通信地址:北京1066信箱6分箱邮政编码:100095 表1中的三个单位,共有四套装置参加了比对实验。其中计量院两套,测试院和304所各一套。由于装置技术条件和实验室环境条件的限制,比对实验在北京和成都分三次进行。比对时间等信息见表2。表2 比对时间和地点安排实验序号 基准装置编号 所属单位 比对时间 比对地点 1 D1/NO.02 计量院/304所 06.03.02 -03.09 计量院 2 D1/C4 计量院/计量院 06.11.08 -11.14 计量院 3 C4/NIMTT-1 计量院/测试院 06.12.14-12.18 测试院 2. 实验条件在此次实验中,参加比对的所有基准装置均采用三次谐波(以下简称3f)锁定技术将激光频率稳定到127I2分子吸收谱线的11-5带R(127)的超精细结构吸收分量上。按照要求,有关参数和运行条件应与CIPM所推荐的条件相一致,即碘吸收室室壁温度 (25±5)℃碘吸收室冷指温度 (15.0±0.2)℃频率调制宽度(峰-峰值) (6.0±0.3)MHz谐振腔内单程光束的光功率 (10±5)mW实际情况是,由于比对实验中基准装置(以下简称激光系统)建立的年代和研制的单位不同,它们在相关技术参数和组成的细节方面存在较大差异,其中的一些技术参数与上述要求有一定出入。为了使实验能够顺利进行,比对实验在实施过程中采取了比较灵活的做法。表3中列出了这些激光系统的主要工作参数。表3 激光系统的主要工作参数单位 激光系统 腔长/mm 腔镜曲率半径及透过率 碘室 调制频率/kHz mm % mm* %* 长度/mm 气压/Pa 计量院 D1 300 500 0.5 1000 1.3 100 400 1.04 计量院 C4 260 600 1.1 ? 1.8 90 400 1.04 304所 NO.02 230 600 0.4 ? 1.2 90 400 1.04 测试院 NIMTT-1 365 ― - ― ― 110 ―

  • 了解医药拉曼检测的,尤其是原辅料检测的请进----关于波长选择问题

    我想问一下,现在医药行业拉曼检测所选择的激光波长主流是785nm的,遇到荧光干扰的情况多吗?改为激光波长是1064nm,它的检测范围是不是更广一些呢?如果有激光波长为1064nm的便携式拉曼光谱仪,性能也不错,各位会选择使用吗?感觉其检测速度会更快,基本避免了荧光干扰。

  • 检测器的光源都有哪些?

    一、紫外检测器、DAD 1、氘灯 紫外光波长190nm~400nm 2、钨灯 可见光波长350nm~900nm 3、氘灯+钨灯 350nm ~400nm 二、蒸发光散射检测器 1、卤素灯 2、激光二极管 三、示差折光检测器 1、发光二级管(LED) 四、荧光检测器1、发光二极管以上的都对不,还有其它吗,检测器的灵敏度与采用不用的光源有关吗?

  • 荧光检测器的波长选择

    各位用荧光检测器时,如何确定最佳的激发和发射波长呢?我先固定了激发波长,扫最大的发射波长,然后固定发射波长去扫激发波长,分别找出了最佳的激发和发射波长,可是用这两个波长做出的图的峰高比原来的峰高要小很多。还有,如果我一个化合物选择225作为激发波长,可以选择320作为发射波长呢?还是说发射波长必须在可见光范围内呢?谢谢

  • UV检测器检定波长准确性和波长重复性讨论

    在检定规程中规定,在检定UV检测器的波长准确性和波长重复性时,将紫外标准溶液从检测器入口注入样品池中冲洗,并将样品池充满至示值稳定。我们现在测试波长稳定性和波长重复性的做法是将将紫外标准溶液从检测器入口注入样品池,然后将样品池两端用堵头堵住进行波长扫描。但是这样做感觉波长重复性不能达标(要求波长重复性不能大于0.1nm)。不知道各位大神用的是什么方法进行测试的。

  • 紫外检测器波长设置

    高效[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/5p][color=#3333ff]液相色谱[/color][/url]中的紫外检测器(型号为SPD-20A)只能用一个检测波长吗。问题:样品中有几种待测物质,但是他们的最大检测波长不一样。如果想要同时检测这几种物质并根据标准品溶液定性,可以设置多检测波长吗。听朋友说过DAD检测器可以同时设置几个检测波长并在这几个检测波长下分别出色谱图。哪个大神可以帮忙解答一下。

  • 【求助】2475 多波长荧光检测器,如何选择波长?

    如果是一种新物质,以前不知道最大吸收在什么位置,怎么通过荧光检测器的3D扫描知道它的最大吸收?我知道紫外检测器遇到这种情况是用紫外分光光度计进行全波长扫描来确定最大紫外吸收,但是荧光检测器我就不是很明白,请求各位网友不吝赐教!

  • 通过荧光发射波长的红移可以计算检测限吗?

    通过荧光发射波长的红移可以计算检测限吗?

    本人最近在做荧光识别方向的研究,材料在吸附阴离子后荧光颜色发生了变化,通过测粉末的荧光测得了发射波长的随吸附离子量的变化的荧光数据,但是苦于找不到如何通过荧光波长红移计算检测限的方法,所以请教高手,如何才能通过吸附不同浓度阴离子导致的荧光发射波长的变化计算检测限?注:材料是测试的粉末荧光,不能通过溶解后进行测试。材料在吸附离子后荧光无明显增强或淬灭现象,因此无法通过荧光强度变化计算检测限。[img=吸附后荧光变化,276,300]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/06/202006241318276690_7515_3318794_3.png!w276x300.jpg[/img][img=在不同浓度吸附下发生波长的变化,570,420]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2020/06/202006241320449434_2866_3318794_3.png!w570x420.jpg[/img]

  • 【原创】关于二极管阵列检测器波长问题

    我知道:紫外-可见光(UV-VIS)检测器 原理: 基于Lambert-Beer定律,即被测组分对紫外光或可见光具有吸收,且吸收强度与组分浓度成正比。很多有机分子都具紫外或可见光吸收基团,有较强的紫外或可见光吸收能力,因此UV-VIS检测器既有较高的灵敏度,也有很广泛的应用范围。由于UV-VIS对环境温度、流速、流动相组成等的变化不是很敏感,所以还能用于梯度淋洗。一般的液相色谱仪都配置有UV-VIS检测器。用UV-VIS检测时,为了得到高的灵敏度,常选择被测物质能产生最大吸收的波长作检测波长,但为了选择性或其它目的也可适当牺牲灵敏度而选择吸收稍弱的波长,另外,应尽可能选择在检测波长下没有背景吸收的流动相。  二极管阵列检测器(diode-array detector, DAD): 以光电二极管阵列(或CCD阵列,硅靶摄像管等)作为检测元件的UV-VIS检测器.它可构成多通道并行工作,同时检测由光栅分光,再入射到阵列式接受器上的全部波长的信号,然后,对二极管阵列快速扫描采集数据,得到的是时间、光强度和波长的三维谱图。与普通UV-VIS检测器不同的是,普通UV-VIS检测器是先用单色器分光,只让特定波长的光进入流动池。而二极管阵列UV-VIS检测器是先让所有波长的光都通过流动池,然后通过一系列分光技术,使所有波长的光在接受器上被检测。二极管阵列检测器可以获得全波长的样品信息,而且可以根据吸收光谱辅助定性。但相对来说,专门的紫外检测器灵敏度能高一些。二极管阵列检测器是检测的全波长,但是我做的产品需要打印特定波长下的谱图。现在我只会一个一个在离线下改波长。但我听说lc solution是可以在一开始做样前改方法的,不知道怎么弄,希望前辈能指点!谢谢!

  • 【讨论】物质的紫外最大吸收波长是否可以作为荧光激发波长?

    【讨论】物质的紫外最大吸收波长是否可以作为荧光激发波长?

    荧光检测器是高压液相色谱仪常用的一种检测器。用紫外线照射色谱馏分,当试样组分具有荧光性能时,即可检出。其特点是选择性高,只对荧光物质有响应;灵敏度也高,最低检出限可达10-12g/ml,适合于多环芳烃及各种荧光物质的痕量分析。也可用于检测不发荧光但经化学反应后可发荧光的物质。如在酚类分析中,多数酚类不发荧光,为此先经处理使其变为荧光物质,而后进行分析。荧光属于光致发光,需选择合适的激发光波长(Ex)以利于检测。激发波长可通过荧光化合物的激发光谱来确定。激发光谱的具体检测办法是通过扫描激发单色器,使不同波长的入射光激发荧光化合物,产生的荧光通过固定波长的发射单色器,由光检测元件检测。最终得到荧光强度对激发波长的关系曲线就是激发光谱。在激发光谱曲线的最大波长处,处于激发态的分子数目最多,即所吸收的光能量也最多,能产生最强的荧光。当考虑灵敏度时,测定应选择最大激发波长。1、很多版友都因为没有荧光分光光度计而无法得到荧光扫描光谱,不知道如何选择激发波长,那么是否可以通过紫外扫描图谱的最大吸收波长来选择呢?2、荧光激发波长与荧光发射波长之间存在什么样的关系,发射波长又要如何选择呢?http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/11/201011191150_260635_1638724_3.jpg

  • 【原创】近红外波长瓦斯浓度检测技术

    近红外波长瓦斯浓度检测技术 检测在煤炭、化工、石油和其它工业,尤其在矿物质的开采中极为重要。瓦斯气体是一种可燃、可爆性气体,其爆炸上限为15Vol%,下限为5Vol%。 其引发的事故在矿山开采历史上造成了极大的危害。很久以来各国科学工作者对瓦斯浓度的测量作了不懈的努力。现已研制出的干式、湿式气敏元件、热电阻瓦斯传感器、半导体气敏元件等都在瓦斯浓度检测中起到了良好的作用,大大降低了瓦斯事故发生率。 近几年来,光导纤维传感技术在世界上逐渐兴起。光纤传感器具有一些常规传感器无可比拟的优点,如灵敏度高,响应速度快,动态范围大,防电磁干扰,超高绝缘,无源性,防燃防爆,适于远距离遥测,体积小,可灵活柔性挠曲等,很适于在恶劣和危险环境中应用,因而得到广泛重视。光纤瓦斯传感器的研究起步较晚,直到上世纪八十年代才有人报导了光纤瓦斯检测的实验。现在瓦斯检测的方法主要有两种,一是利用瓦斯气体的光谱吸收检测浓度;二是利用瓦斯浓度和折射率的关系用干涉法测折射率。 单波长吸收比较型 吸收法的基本原理均是基于光谱吸收,不同的物质具有不同特征吸收谱线。单波长吸收比较型属吸收光谱型传感器,根据Lambert定律:I=I0e-μcL 其中I,I0为吸收后和吸收前射线强度 μ为吸收系数 L为介质厚度 c为介质的浓度 从上式可以看出,根据透射和人射光强之比,可以得知气体的浓度。单波长吸收比较型的原理图见图1。 选择合适波长的光源。脉冲发生器使激光器发出脉冲光,或采用快速斩波器将连续光转变成脉冲光(斩波频率为数KHz),经透镜耦合进入光纤,并传输到远处放置的待测气体吸收盒,由气体吸收盒输出的光经接收光纤传回。干涉滤光片选取瓦斯吸收率最强的谱线,由检测器接收,经锁相放大器后送入计算机处理,根据强度的变化测量瓦斯浓度。 窄带谱线吸收型 瓦斯传感系统中,检测器所检测的光,其谱线宽度一般为0.02μm-0.1μm,而瓦斯气体的吸收谱线远窄于0.02μm。瓦斯在波长1.6μm-1.7μm的吸收谱线如下图所示。 由于检测谱线宽度远大于吸收谱线,即光谱中被吸收的成份很小,不利于高灵敏度检测。如果选择瓦斯吸收峰的窄带波长,则可获得大的检测对比度。但是选择单一波长则会由于模式噪声造成严重的干涉噪声,为了避免这个问题可以采用梳状滤波器来选择多个瓦斯峰位谱线,以降低光源的相干性,降低模式噪声。

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