固体粉末表面分析仪

现有一白色固体粉末，不溶于水，但可以悬浮于水中，测试33%的浓度（与蒸馏水1：2混合），电导1500μs/cm。想鉴定里面是否有明矾或鉴别里面有铝离子，如何简单快速定性分析？

Help！想测试有机纤维样品经处理后表面Zeta电位的变化，查了下只有安东帕公司的SurPASS固体表面ZETA电位测量仪和美国DelsaNano C电泳光散射固体及薄膜Zeta电位分布分析仪两款能测试纤维样品。大家有没有听说过这两台仪器？国内哪个地方购买了？附件是安东帕公司提供的一些测试事例。

[font=宋体]固体粉末的粒径会影响光谱的重现性，一般来讲，粒径越大，颗粒表面的反射光谱信息越多，而在光谱分析过程中，表面的镜面反射信息携带的光谱信息量较少，因此减小粒径尺寸，会有效减少样品颗粒的表面镜面反射，同时改善了样品的均匀性，光谱的重现性也就会更好。所以，在[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/1p][color=#3333ff]近红外光谱[/color][/url]分析中，务必[/font][font=宋体]执行统一的制样规范，无论[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]是校正样品、验证样品，还是待测样品，制成[/font][/font][font=宋体]的样品[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]粉末的含水率和粒度[/font][/font][font=宋体]必须[/font][font='Times New Roman'][font=宋体]保持一致[/font][/font][font=宋体]。[/font]

我想买一台显微镜，主要用于分析产品的结晶情况，产品是白色固体粉末。

我在固体合金粉末的表面镀了一层有有机膜。我想通过红外研究有机膜和金属作用的原理。想用红外实现，不知道用ATR还是散射，还是普通的红外。然后具体怎么准备样品。求教！

最近公司进了一批金属产品（约2.5KG/个），主要成分为不锈钢，另外还有一些其他金属。现在需要将其进行溶解，然后测定剩余固体粉末的重量！我们是这样做的：将样品粉碎，然后加入稀硫酸（1:3）（主要是去掉排在H+离子前面的金属），待反应完后，不溶固体粉末（粒度大概200目左右）约300g左右，现在不知道如何将其有效的进行过滤，试过抽真空，但过滤速度太慢了，而且过滤完后还需对滤渣进行洗涤。离心过滤没试过，因为需要回收的的固体粉末太少，不知是否可行！请问有什么比较快速过滤并可洗涤的方法，谢谢！

改性固体材料表面的磷酸根形态分析？拉曼可以吗？是碳铁改性材料，吸附了水里面的磷酸根磷酸都应该在表面的，和材料表面官能团形成了不同的物质，有可能以磷酸二氢根，磷酸氢根，磷酸根形式存在。各位大侠有什么高招吗？帮帮忙[img]http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09512.gif[/img]

请问一种易吸潮固体粉末如何测定密度？要测的样品很少，大约1克左右。常用密度计是测液体的。有没有测固体粉的？

请问能否详细介绍一下ICP固体粉末进样的特殊装置，哪些ICP仪器具有具备固体粉末进样的装置，具体厂家和仪器型号能否告知，谢谢！

X荧光分析仪基体效应的种类与分析 一、X荧光分析仪分析过程中误差来源分析 在使用X射线荧光检测分析中，基体效应已成为元素定量测定中分析误差的主要来源。基体效应：是指样品的基本化学组成和物理-化学状态的变化，对分析射线强度所造成的影响。样品的基本化学组成有分析元素在内的主量元素；样品的物理-化学状态，则应含有固体粉末的粒度、样品表面的光洁度或粗糙度、样品的均匀性以及元素在样品中存在的化学态等。 二、根据样品结构的组成可以将基体效应分为两大类 1、吸收与激发(增强)效应，都随着样品基体化学组成的差异而发生变化，其主要表现为： A、原级入射线进人样品时所受的吸收效应； B、荧光谱线出射时受样品的吸收或分析元素受样品中其它元素的激发效应； C、第三级的激发效应。 2、其它物理化学效应，会给分析线强度的测量带来重大误差，主要表现为： A、样品的均匀性、粒度和表面效应； B、化学态的变化对分析线强度的影响。 三、产生各种效应的基本特点介绍 1、[/font]吸收与激发效应 在使用X荧光分析仪分析测试样品时，检测过程中的所引起的吸收和激发效应，是由于原级入射线进入样品时所受到的吸收效应和不同性质特点的样品，当分析元素含量相同时，吸收和激发效应表现在对同一分析线的强度影响上，首先是由于样品对原级入射线和分析线的联合质量衰减系数的差异造成的。 2、粒度效应 经常测试的均匀样品，对于固体粉末样品来说是指粉末的粒度和化学组成完全相同的样品。经测试数据验证这种样品在给定的压紧份数下，粒度越小，荧光谱线的强度越高。对于给定的粒度来说，压力越大，即压紧份数越小，荧光谱线强度也越高。而不均匀样品则不同，在不均匀样品中，存在着各种不同的粒度或化学组成的颗粒，影响荧光谱线强度的因素会较复杂。 3、表面效应 样品表面状态和荧光谱线强度的关系至关重要。当样品是由磨料、锯料或锋料制成大小一定的块状物体时，其表面必须经过适当的磨平或抛光。荧光谱线强度不仅与样品的表面构造和纹沟的性质有关，而且也受样品位置、纹沟和进出X射线方向影响。对于后者，可以通过测量过程中同时转动样品减少或消除，如不能转动则应使纹沟的方向与入射和出射线所成的平面平行。 四、总结 当我们在选择使用X荧光分析仪，对测试样品元素含量进行测试分析测试时，应该选择将样品进行处理，特别是在生产过程中，已经造成表面受到创伤的样品，我们应该对其进行再处理操作，然后再进行分析检测，这样即可以降低分析过程中产生的不同效应影响，又可以有效的提升测试结果的准确度。

现有一固体有机粉末样品，想采用GC-MS做定性分析，应该怎样分析？粗略判断该样品为有机过氧化物GC-MS分析样品一般能分析沸点在多少以下的物质？

最近想用荧光光度计做固体粉末的光致发光谱，但是我们这里都是测溶液的，没有人测过固体粉末的，不知道粉末样品如何制样。恳请有经验的大侠指点一下样品如何准备！还有检测粉末时的注意事项！不胜感激!我们这里的仪器是日立F-7000。

[size=16px][font=arial][color=#222222]近日，中国[/color][/font][font=arial][color=#222222]科学院[/color][/font][font=arial][color=#222222]大连化学物理研究所研究员侯广进团队利用高压原位固体核磁共振（NMR）技术，揭示了部分还原氧化铈催化剂表面上非解离吸附活化双氢物种的独特化学状态。相关成果发表在《美国化学会志》上。 [/color][/font] 氢气在固体催化剂表面的吸附活化是合成氨、合成气转化、储氢等诸多能源化工过程的关键步骤，这引发了研究人员对于催化剂表面氢物种化学状态及催化功能的研究兴趣。然而，受限于表面氢物种环境敏感的特点及固体催化剂表面结构复杂性问题，对催化剂表面氢物种的实验观测存在挑战。因此，亟需发展对表面氢物种的原位、高分辨分析方法，以研究其吸附位点、电子与几何结构、与催化剂的相互作用及对催化反应的影响等重要科学问题。 固体核磁共振技术是高分辨研究催化剂表面吸附物种的重要谱学技术。然而，常规的非原位固体核磁共振方法难以研究表面氢物种在内的气氛敏感的活性物种的真实化学状态。侯广进团队前期克服技术挑战，开发出了高温高压原位固体核磁共振技术，该技术具有较宽的压力和温度操作窗口，并用于固、液、气等多相体系的原位固体核磁共振研究中，揭示了材料合成机制、气体吸附、主客体相互作用、催化反应路径及动力学等关键科学问题。 本工作中，研究人员利用高压原位固体核磁共振技术，研究了氧化铈催化剂表面氢物种的化学状态。团队通过引入HD气体，原位动态下采集二维J耦合2H-1H相关谱，发现并证明了部分还原氧化铈表面存在非解离吸附的双氢物种。团队进一步通过精准测量其J耦合常数及运动弛豫的NMR分析，确定了该双氢物种的活化吸附状态，揭示了HD分子吸附在催化剂表面，H-D键被活化拉长。随后，团队与西安交通大学常春然教授理论计算团队合作，结合不同还原程度的氧化铈吸附氢气的原位1H NMR观测及DFT计算结果，证实了该双氢物种的吸附状态，及其与氧化铈表面氧空位缺陷之间的关联。此外，研究人员借助乙烯加氢的探针反应，利用原位NMR技术观测到了该物种的催化转化过程。 该工作有助于加深对固体催化剂表面氢气吸附活化过程的认识，相关研究分析方法也有望拓展用于研究其它气体的吸附转化过程，从而指导相关催化剂和催化过程的精准设计。[/size]

如何测量固体粉末的密度？？有客户要求我们提供一款色素产品的密度指标。但因为我们这款产品是固体粉末状的，也没有什么设备，该怎么测量呢？

X射线荧光光谱分析中的粉末压片制样法摘　　要 本文是一篇关于XRF光谱分析中粉末压片制样法的综述。根据70多篇文献和一些常见的资料, 作者从样品制备、方法应用、理论校正等三个方面介绍了粉末压片制样法的现状和进展。 1　前言 　　作为一种比较成熟的成分分析手段，XRF光谱分析在地质、冶金、环境、化工、材料等领域中应用广泛。它的分析对象主要是块状固体、粉末、液体三种，其中，固体粉末是分析得最多的一种。因为很多试样如水泥、煤、灰尘等本身就是粉末，对于形状不规则的块状固体，由于直接分析技术还不成熟，往往也粉碎成粉末。液体试样可放入液体样品杯中分析，但由于不能抽真空等原因，有时将液体转变为固体，一些预分离、富集的结果也常是粉末，因此，粉末试样的制样技术是XRF光谱分析中的重要研究课题。 　　XRF光谱分析粉末样品主要有两种方法：粉末压片法和熔融法。［1,2］对于样品量极少的微量分析，还有一种薄样法，这里拟不介绍。熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点：因样品被熔剂稀释和吸收，使轻元素的测量强度减小；制样复杂，要花费大量时间；成本也较高。粉末压片法的优点是简单、快速、经济，在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍，也常用于痕量元素的分析。从中国理学XRF光谱仪协会和中国菲利浦X射线分析仪器协会的最近两本论文集［3-4］来看，采取粉末压片制样的文章占了很大的比例。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中，粉末压片仍是一种应用很广泛的XRF制样法。 　　近年来，有关XRF及其应用的综述或评论很多［5-13］，其中包括样品制备方面的内容，还有一些专门介绍制样法的文章［14-15］。本文根据收集到的70多篇文献，从样品制备、方法应用、理论校正等方面阐述粉末压片法的现状与进展。

粉体/粉末/颗粒分析仪器

众所周知的是，在使用紫外可见分光光度计测量液体样品的含量时，标准样品也是不同浓度的液体样品，这个较为容易配制（将标准母液稀释定溶即可）。可是当样品为固体粉末样品时，虽然可以使用积分球和粉末样品盒来检测，但是标准如何选定呢？如何将标准制作成不同浓度含量的粉末标准呢？

将要测的固体粉末样品，有毒，我该如何处理？直接用双面胶粘到载波片上，可以吗？还是需要其他处理方法？请指教。

请问用icp测量白炭黑（Si.nH2O）粉末中的重金属时（固体粉末直接进样），用什么作空白扫描。还有白炭黑会不会被离子化，光谱中有没有si或OH的特征峰。本人菜鸟，希望大虾尽量解释详细一点，或者给点参考资料也好，非常感谢！

做固体粉末的分子荧光，峰很宽，这正常吗？另外，有虑光片时有峰，没有滤光片时没有峰，这是什么原因？到底什么时候要滤光片，什么时候不要滤光片啊？请教高手指点啊

有没有 直接测量固体粉末的icp 能不能介绍一下

固体核磁需要粉末,但有些样品无法制备或合成为粉末状,有的是凝胶状,有的是有一定韧性的薄片状,也无法研磨.想请教各位大侠如何处理类似的样品?是否有粉碎样品的设备?谢谢!

想测量固体粉末密度，粉末粒度较小，30微米以下，请问各位有没有什么好的测量办法？

白色粉末固体，可溶于水，是一个良好的胺化试剂，文献上只提了合成方法，没有提到具体的定量方法，请教各位大侠。

我做的是金属材料表面改性，现在想看看表面膜层化合物结构，主要看氢键的结合情况。学校没有固体核磁。有没有办法将膜层溶解下来？但是又担心膜层含量太少（纳米级厚度），而且溶解时基体金属可能会反应。怎么解决呢？欢迎讨论~

概要：想用顶空-[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Mp][color=#3333ff]气相[/color][/url] 检测固体粉末中的残留溶剂（主要是异丙醇等醇类）内容：1）由于样品不溶于冷水和任何溶剂，所以使用液体溶解后再进顶空有点难 2）用过加水后蒸馏对溶剂进行收集后再用顶空或者直接进样，但是过程太繁琐各位老师有没有使用粉末样品直接加入到顶空瓶中，里面不加水或者任何溶剂，然后进行检测，数据是否可以稳定和准确

rt，请各位达人指点一下，北京哪里有可以测量固体粉末量子效率的地方，可以付费测量。谢谢。bow

请问专家，我现在要处理的样品是比较脆的固体，要分析固体表面的金属杂质，（固体本身是耐酸碱的）。请问可以用微波消解来处理样品吗？？？

大家好！我的样品是镀铜的涤纶，但是不知道是哪种铜，猜测是无机铜。我用苯酚跟四氯乙烷的混合物把涤纶给溶解了，发现有红色的固体物质沉淀下来。我就把上层溶液抽去，用无水乙醇把有机物洗去，得到红色的物质，干燥后用XPS测试，但是测试结果只能测出有机物质，老师说可能是有机物把固体粉末给包裹起来了。所以测不出来。现在是我不知道怎么把有机物洗去。或是大家有没其他的办法帮我测出金属铜及其价态呢？急急急！请大家帮忙想想看。谢谢啦！