红外吸收背景测试

在硅片上沉积了膜，膜无法取下，现需要测试膜的吸收，考虑到膜有反射，希望测试透过率光谱及反射率光谱来得到膜的吸收。现在试了几种方法：1、用傅立叶变换红外光谱测试。透过率用空白双面抛光硅片做背景，测试透过率；以金镜为背景用镀金的积分球附件测试反射率。结果有些出现反射率?透过率大于100%。2、用显微红外光谱仪测试。以空气为背景，测试硅片透过率T1，假设硅片对红外光不吸收，其反射率R1=1-T1；以硅片做背景，测试硅片上镀膜反射率R2，样品实际反射率R＝R1*R2；以硅片做背景测试样品透过率T。样品吸收=1-T-R=1-T-(1-T1)*R2。结果也会出现反射?投射大于100%。若用显微红外测试以金镜做背景也会出现这种情况。各位老师帮我分析一下原因吧，还有测试基底上的膜中红外的吸收应该用什么仪器，用什么测试方法。谢谢谢谢

1、石墨炉[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]的背景面积多大算是有干扰？需要去除干扰2、我做了五个火锅料类的样子，硝酸微波消解，赶酸净干后测，进样量20uL，5uL硝酸钯，5uL硝酸铵炉程序：干燥110 20s，130 30s；灰化：850 35s；原子化1600 5s测试结果峰型很好，标准空白的吸光度0.12，测试样品的背景面积0.2-0.5之间3、不加基改测试上面的样品，峰型不太好，背景面积比加基改后更小，什么原因？不加基改的炉程序：干燥110 15s，130 30s；灰化：450 30s；原子化1600 5s4、加基改后测试鸡蛋等盐分较低的样品，测试值都是负值 ？求大神解答？

背景吸收是由分子吸收和光散射引起。分子吸收指在原子化过程中生成的气体分子、氧化物、氢氧化物和盐类等分子对光源发出的辐射的吸收。在AAS中常见的分子吸收有：碱金属卤化物在紫外区的强分子吸收；无机酸的分子吸收；火焰气体或石墨炉保护气体（N2）的分子吸收。光散射指在原子化过程中固体微粒或液滴对光的散射，使吸光度增加。消除背景吸收的方法主要有：改用火焰；分离或转化共存物；背景扣除（用非吸收线扣除、用其它元素的吸收线扣除；氘灯背景校正法和蔡曼效应背景校正法。

近期，小弟在做火焰原子吸收，测定钙镁含量，参考的标准都涉及到背景吸收的校正，但我看了些书，都有说明背景吸收产生的原因，但我还是不明白如何判断是否有产生背景吸收，是否是通过标准加入法绘制曲线来判定是否有基体干扰而产生背景吸收。忘大侠们帮帮忙，开导开导

[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]检测时这个背景值算高吗？正常情况下背景值应该在多少？造成背景高的原因有哪些？请各位老师指教[img=,690,920]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/07/202207071026321597_394_5391641_3.png[/img]

背景干扰主要有以下几种：1. 分子吸收 2. 光散射 3. 火焰气体的吸收和介质中无机酸的吸收。这两种原子化过程中的背景吸收都具有明显的波长特性，有两种表现方式：一种是连续背景（分子吸收和光散射） ，另一种是随波长而明显变化的结构背景，它主要由分子内部电子跃迁所产生。1．分子吸收当光源辐射通过原子化过程中生成的氧化物，卤化物，氯化物等气体时，会产生分子吸收所引起的干扰。它们通过分子能级的电子振动，转动光谱所组成的带状光谱。不同分子具有不同的吸收带。如CaOH(554nm), SrO(670nm,690nm), 在火焰中可以测得不同的背景吸收曲线，不同波长的背景吸收曲线不同，随波长的不同而有很大的差异，所以具有明显的波长特性。FAAS 中分子吸收取决于该分子是否在火焰中的解离和解离度。如低温火焰中测定容易原子化的元素时，也存在与火焰气体生成难解离的氧化物，氯化物等。在高温下（还原性火焰） ，分子数明显下降，灵敏度提高。所以 FAAS 中背景干扰较少，采用氘灯扣背景就够了。2．光散射光散射背景是指原子化过程中产生的固体微粒对光源辐射光的散射而形成的假吸收。 当基体浓度过大而热量又不足的情况下， 不能使基体物质全部蒸发， 存在固体微粒， 这样产生光散射引起的背景干扰。3．火焰气体吸收FAAS 还存在火焰气体的吸收及溶液介质中各种酸引起的分子吸收，这种干扰在紫外段较大。因此在测定紫外段区元素时采用氩－氢气，空－氢气火焰较好，也可以用空白液调零来消除干扰。FAAS 法中，火焰稳定，时间长，主要以氘灯扣背景较好，在校正背景时要满足以下三点：① 必须在分析线同一波长处测量背景② 测定[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]信号时同时测定背景吸收信号③ 要求两个光束完全重叠。

如何确定[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]中是否存在背景吸收? 如何消除背景吸收?

我想请教一下，背景吸收的值一般控制在多少为好？一定要小于样品的吸收值吗？还有，有时候没到原子化阶段时背景吸收的显示线就会有一个峰是怎么回事啊？疑惑了很久了：）

1 氘灯扣背景：氘灯的光斑要与元素灯的光斑大小跟光路重合么？检测器是分时分别检测氘灯信号跟元素信号还是两种信号能够一起检测并加以区别呢2 塞曼扣背景：光被分裂成两个偏振方向的光后，π只被待测元素吸收呢还是π光也会产生背景吸收？π与δ是同时检测还是分时检测，这两束光应该是同时到达检测器的吧请各位专家老师指教

大家好，新手求助。我们的原子吸收采取的是可调谐的激光光源，试验中没有去除背景吸收的装置，测量样品时波型总受影响，基线会出现无规律的杂峰，这该咋办呀？我是新手

原子吸收的背景总是搞不懂是什么意思，什么时候需要扣背景呢？为什么用氘灯可以扣呢？还有用氘灯和用元素灯进行扣背景的原理是什么呢？火焰法到底需不需要扣背景呢？

哪位有杨啸涛 《[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]分析中背景吸收及校正》一书非常感谢！

大家谈谈自己认为的"背景吸收"该是个如何的说法下面的主要是根据文献记载的不同背景吸收的说法 1.究竟是一种非选择性吸收(因为还有一种是选择性吸收---结构背景,是由基体成分或光源发射引起的背景吸收系数随波长而明显变化的.他是否也可以称为背景吸收).2.还是检测器测的待测物特征吸收以外的一切吸收信号,他包括各种分子吸收,光散射,光谱重叠干扰,集体原子对单色器通带内非待测元素特征辐射(连续辐射和光源其他辐射)的的吸收. 在AAS中，伴生物分子谱带重叠而引起的吸收与不挥发颗粒对辐射光的散射，实际上难以区分，并且采用同样的方法加以消除。通常将其并称为非特征衰减、非特征辐射损失或背景衰减，甚至叫做背景吸收（虽然散射不属于吸收现象）。从背景吸收的光谱特性来看，有两种表现形式：一种是连续背景，包括宽带分子吸收和光散射，虽有吸收峰，但在所采用的光谱通带范围内吸收值变化不大，它在AAS中更为常见；另一种是背景吸收系数随波长而明显变化的结构背景。这主要是由分子内部电子跃迁所产生的。另外，AAS中还存在着共存元素与分析元素谱线的重叠，以及基体对单色器通带内非待测元素特征辐射的吸收。由于这类光谱干扰通常叠加在背景吸收信号之上使表观吸光度增加，故有人在概念的实际使用时，将其也视为背景吸收，这在一定程度上引起了混淆。 FAAS中的分子吸收取决于该分子是否在火焰中解离及其解离度，如在较低温火焰中测定容易原子化的元素时，伴生物可能与火焰气体生成难分解的氧化物、氢氧化物或氰化物等。因此使用较高温度和还原性强的火焰，分子数目就会急剧下降。FAAS的背景吸收主要是气体分子颗粒散射所引起的，光散射服从瑞利散射定律，散射光的强度与单位体积内散射颗粒的数目和颗粒体积的平方成正比，与波长的4次方成反比。光散射在设计良好的预混合式燃烧器火焰中很少发生。因此总的说来FAAS中背景吸收干扰较少，而且主要是连续背景，所以除个别公司个别型号（如日立Z5000）以外，绝大多数仪器都采用氘灯连续光源校正FAAS背景，还有的采用了氘灯和自吸收法联合校正背景（如岛津AA6800）

TAS-990原子吸收上的氘灯扣背景和自吸扣背景在什么时候用，怎么用，求详解啊。

[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]方法中的自吸收扣背景与氘灯扣背景有啥区别？那个效果更好呢？

各位大侠有用岛津AA6300自吸收吸收扣背景的吗？？？不知道效果怎么样？机子氘灯扣背景测定铅效果不理想，想买个自吸铅灯。。。

大家好，单火焰的原子吸收，如果只有氘灯扣背景，没有自吸收扣背景，是不是测元素有局限性呢？是不是测铬和镉要用自吸收扣背景呢

我检测氧化铁黄，取0.2g样品，微波消解，赶酸，1%硝酸定溶。用普析990石墨炉原子吸收测铅。标准物质为灌木枝叶，检测时，灌木枝叶结果在正常范围，氘灯扣背景，背景值很小，测样品时，背景值很大，氧化铁黄的最终结果为负值。很可能是铁干扰，请问该怎么办？

在原子化过程中，由于样品的基体产生分子吸收和光散射，对原子化过程造成干扰。一般采用背景扣除的方式消除干扰。 目前原子吸收光谱仪采用最多的是塞曼效应、氘灯校正和自吸校正三种。不同扣背景方式的工作原理和适用范围差别较大。讨论：1、除过这三种扣背景方式，还有其他的扣背景方式吗？2、这三种扣背景方式的工作原理和适用范围分别是啥？3、大家在实验中扣背景时，最常见的问题有哪些？欢迎大家讨论！

仪器只有氘灯扣背景和自吸收扣背景什么情况下用氘灯扣背景，什么情况下用自吸收扣背景？各位同仁，能给个建议吗？　谢谢

[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]背景扣除方法有3种，如何选择呢？每一台仪器扣除背景的方法是不是已经固定了？

针对[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原吸[/color][/url]检测自来水中金属元素,塞曼扣背景与自吸收扣背景哪种较好

2.0背景吸收信号扣除不完全. 2. BG=BG'的可能性极小。 3. 由于光源、分光元件在不同波长区域的能量差异，使两束光能量平衡 时的信噪比有很大的差别 4. 元素原子性质的差异性，样品共存物的多样性使得原子吸收信号和背 景吸收信号以及两种吸收信号之间的关系变得十分复杂，背景校正能 力不可能满足一切要求。几种背景校正的主要优缺点：1. 氘灯背景校正 目前商品仪器中唯一使用双光源的背景校正技术。 1.1 空心阴极灯与氘灯光源成像光斑大小不同，即使 光斑的同心度调整得好，两者通过样品的原子化区仍 有不同，会影响背景校正的效果。 1.2 氘灯辐射的连续光谱波长范围是200-400nm，对于 分析波长位于长波区的元素无法使用。（但常见的盐 类共存物的背景吸收多位于短波区） 1.3 辐射光能量的损失在几种常用的背景校正装置中是比 较小的 1.4 背景吸收的校正技术不依靠原子光谱线的变异，因而 原子吸收信号的损失是最小的。2. 自吸效应背景校正 2.1 较其他背景校正装置来说是最简单的。既不需要第二 光源，也不需要复杂的磁场系统与偏振装置，是利用 了空心阴极灯供电特性来形成原子光谱的自吸收效 应。 2.2 不用任何附加装置而实现全波段背景校正。双束光 中其一是对应待测元素原子的空心阴极灯用宽脉冲低 电流供电产生的正常原子光谱，另一束则是空心阴极 灯用窄脉冲高电流供电导致谱线展宽，并产生自吸收 效应的同一原子光谱线。例如瑞利公司的WFX-210 中灯电源供电方式，100Hz窄方波脉冲+400Hz宽方波脉 冲 2.3 不同元素原子特性不同，产生自吸收效应的差异很 大，对于自吸收效应小的元素，原子吸收信号损失较 大。 2.4 两束光的光斑大小相同而且光路完全一致，不需要调 整。 2.5 不因背景校正而增加新的光学元件，光能损失是最小 的。3. 塞曼效应背景校正： 3.1 由于需要很高的磁感应强度，装置体积很大也很复 杂，并且使置身其中的原子化器结构也相当复杂。 3.2 横向磁场塞曼效应背景校正技术需用偏振棱镜分离不 同偏振方向的光束，使光能损失较大，但纵向磁场并 不是说就一定比横向磁场好。 3.3 不同元素原子的塞曼分裂光谱结构差异很大，对于塞 曼分裂光谱结构复杂的原子，其原子吸收信号的损失 比较大，而且有时产生校正过度的情形。 3.4 只用待测元素空心阴极灯为光源，实现全波段背景校 正毫无问题，但能量损失大，对一些谱线发射强度弱 的元素的空心阴极灯提高辐射光强有特别的要求。 3.5 目前加在原子化器的磁场系统只有横向恒磁场可以在 火焰原子化器与石墨炉原子化器上同时使用，其他形 式的磁场系统只能用于石墨炉原子化器。例如，瑞利 公司的WFX-810，就是使用了横向恒磁场。 如有错误还请各位大虾回帖指正，不吝赐教。 如果觉得归纳得还行，还请各位大虾多多回帖，小弟谢了！

请教各位专家，[url=https://insevent.instrument.com.cn/t/Wp][color=#3333ff]原子吸收[/color][/url]的自吸收扣背景和氘灯扣背景有何不同？

扣背景技术分为三种：塞曼扣背景、氘灯扣背景、自吸扣背景，而自吸收扣背景不知道如何使用，请大侠们讨论一下

做样品时铅元素的背景吸收比校准吸收高太多，该怎么处理这背景呀，加入基改磷酸二氢铵也没多大用

关于测铅扣背景吸收问题：1、铅吸收方式测试，为什么空白吸光度-0.001A, 样品吸光度-0.001A, 而样品浓度则0.609mg/L?2、同上一样品测试, 为什么采用了扣背景吸收方式后, 空白吸光度-0.102A, 样品吸光度-0.015A, 样品浓度反之为0.000 mg/L 同样, 重复测试的空白吸光度-0.102A, 样品吸光度-0.086A 样品浓度0.000 mg/L 再重复测试空白吸光度-0.102A, 样品吸光度0.035A, 样品浓度为什么突然变成了4.033mg/L? 请网友同行指教。