质谱离子聚焦透镜

用于固定自聚焦透镜。其上的燕尾槽可与调整架上的燕尾座配合，装卸方便。

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

仪器描述 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）被称为自二十世纪以来激动人心的分析技术，具有检出限低、动态线性范围宽、干扰少、分析精度高、分析速度快、可进行多元素同时测定等分析性能，已成为痕量和超痕量分析为有效的分析手段之一。 钢研纳克针对 冶金、环保、地质、矿产、食品等领域对痕量分析技术的需求，以满足行业应用需求为目标，攻克了ICP射频电源、离子传输、四极质量分析器等关键技术，成功地研制了电感耦合等离子体质谱仪——PlasmaMS 300。 基于PlasmaMS 300，钢研纳克与国家环境分析测试中心、国家地质实验测试中心、北京矿冶研究总院、钢铁研究总院、北京市理化分析测试中心等权威测试机构合作，开发了适合各行业的分析测试方法，解决了环境介质中痕量重金属元素检测，地质矿产中稀土、稀有、稀散元素分析，二次资源中有价有害元素的分析，金属材料中的痕量化学成分及其分布分析，食品中有毒、有害元素不同形态、价态分析等技术难题。功能特点良好的可靠性和稳定 坚固耐用的射频电源，集成了紧急保护措施的真空系统和自动化控制系统，以及智能一键操作即可完成的仪器和分析流程设置，大程度的消除了人为干扰，保证了仪器工作的连贯性和重复性。 高超的分析功能 匹配功能卓越的固态光源，有效的限制了离子化过程中离子的扩散，保证了离子的聚焦性和极高的通过率。带偏转的离子光学系统保证了离子聚焦效果，有效的降低了背景噪声，提高了信噪比。 强大的联用技术 可便捷地与激光烧蚀进样系统（LA）及液相色谱（LC）联用。结合LA的功能，可实现了PlasmaMS 300固体直接进样，避免了复杂的样本制备过 程，提高了进样及测试效率，扩展了PlasmaMS 300的检测能力，可同时测定样品气溶胶中主、次、痕量元素的含量。与LC联用，可进行有机物中元素 的形态分析，进一步扩展了PlasmaMS 300的检测能力和效率，提供了更全面的应用解决方案。 人性化的操作流程 全中文的软件界面，符合中国人的思维习惯，“一键式”参数设置直观快捷，提高了用户的工作效率。能够根据客户要求自定义报告格式，同时提供了QC功能及LIMS的接口。 便捷的维护 易于拆装清洗的锥口系统、带偏转的离子透镜系统，减少了离子沉积，延长了仪器的维护周期。耐用的固态光源确保了仪器的长时间无故障使用。依托纳克遍布全国的服务网络，实现了仪器完善的售后服务。 应用领域 环境分析测试领域 PlasmaMS 300针对地表水、废水、土壤、沉积物、大气（废气）中颗粒物、固体废弃物等环境样品中重金属元素分析测试及检测的需求，建立了整体应用方案与分析方法。 地矿样品测试 PlasmaMS 300灵敏度高、精度好、抗干扰能力强，是地质样品多元素分析强有力的技术。满足了矿物三稀元素的多元素快速、准确分析的需求，为“三稀”矿物资源调查和有效利用提供技术支撑。 食品安全问题 PlasmaMS 300不仅能够有效的检测食品和接触性包装材料中多种金属元素的含量，与LC联用，还可以有效的分离某些特定元素存在的不同价态和形态，完全可以满足食品质量安全领域中的重金属残留分析，重金属形态分析，以及营养元素分析。 金属材料研究 PlasmaMS 300与自主研制的激光烧蚀进样系统（LA 300）联用，能够实现小规格异形非平面材料中痕量元素的成分分布和复杂材料体系的痕量元素原位统计分布分析表征。

电感耦合等离子体质谱仪 (简称ICP-MS），是20世纪80年代发展起来的一种新的微量（10-6）、痕量（10-9）和超痕量（10-12）元素分析技术。ICP-MS可测定元素周期表中大部分元素，且具有低的检出限、宽的动态线性范围、谱线简单、干扰少分析速度快等性能优势。ICP-MS2000系列是天瑞自主研发产品，目前有ICP-MS2000、ICP-MS2000B、ICP-MS2000E三款型号。ICP-MS2000系列仪器各项性能均优于国家规范，完全满足不同行业用户应用需求，性价比高；目前该产品主要应用于环境、食品、半导体、医药及生理分析、核工业领域等。ICP-MS2000系列具有仪器性能，高效的分析效果。仪器日常运行消耗器材均自主研发，性价比高。同时我们提供售后服务，10分钟响应、48小时内上门服务、客服中心随时跟踪服务、保证服务质量。1.ICP-MS 2000B性能特点稳健的固态电源保证仪器可运行多种模式（如常规模式、冷等离子体模式），并且在同一方法中允许运行多种模式，节约大量分析时间及方便研究。 先进的等离子体屏蔽技术，大提高仪器的灵敏度，改善低质量元素的检出限。保证冷等离子体模式等应用，无需使用碰撞/反应气，即可使K、Na、Ca、Mg、Fe等易电离元素检出限低至ng.L-1。2.ICP-MS 2000E性能特点变频等离子体，采用推挽互补技术消除传统等离子体中存在的电势差，消除等离子体二次放电现象，并产生较低、较窄的离子能量扩散，大提高仪器灵敏度。稳健的变频电源系统保证仪器可运行多种模式（如常规模式、碰撞反应模式、冷等离子体模式），并且在同一方法中允许运行多种模式，节约大量分析时间及方便研究。配置六极杆碰撞反应池，采用（H2+He）混合气既可以KED模式消除ArCl、CaCl对As的干扰；同时在无需切换气体等繁琐操作的情况下即可消除Ar、ArH、ArO等对K、Ca、Fe的干扰。配置250位全自动进样器，以太通信进口，定位精度小于500μm。ICP-2000系列电感耦合等离子体质谱仪同样均具有以下优异的性能及特点： 等离子体位置XYZ三维由计算机控制全自动调节，调节幅度至步进0.1mm；炬管为一体式石英同心炬管，避免拆卸式矩管的繁琐操作以及可能由此导致的损坏；敞开式进样系统结构，插入式安装，自我定位，维护方便；高稳定性带撞击球玻璃雾化室，雾化室标配半导体制冷，对雾化室制冷控温范围为-20℃-20℃，制冷迅速可在三分钟内由室温降至2℃，以适应不同基体的控温要求；接口室由采样锥、截取锥两部分组成。标准配置包含采样锥（锥孔1.1mm），和具有耐盐性能的截取锥（锥孔0.75mm）；另可根据用户实际需求选配高灵敏度截取锥；独特的活动接口门结构，无需泄真空即可装卸采样锥和截取锥，维护方便；配置高效率六极杆离子导向系统，在全质量范围内获得离子传输效率；由计算机控制全自动离子聚焦调谐过程。真空室内的透镜采用非对称安装，方便拆装定位；离子透镜包括提取透镜和偏转透镜，采用二次离轴设计，避免中性粒子和电子进入质量分析器，降低背景；离子透镜、六级杆和四级杆均为免拆洗维护设计，大地减少维护工作量；使用进口、超长的纯钼四级杆，为仪器提供佳的灵敏度及分辨率；长寿命ETP双模式检测器，分成两部分分列打拿极电子倍增器，由计算机控制自动进行数/模切换；友好的人机交互界面，符合国人使用习惯的全中文软件。提供自动控制仪器及其附件的能力，适应Windows 2000/XP/vista/win7(32位或64位)专业操作系统；全自动分析功能（启动关闭仪器，炬位调整，等离子体参数，离子透镜参数，检测器参数等）。

Thermo ScientificTM Ultra高分辨率同位素比质谱仪彻底改变了特殊位点的测定和分子耦合同位素比的分析方法。在气候研究、生物化学过程、法医学、石油和天然气勘探等方面，Ultra 质谱仪能够提供很多新的科学发现。Ultra 高分辨率IRMS，通过不断地技术创新，开启了同位素测量的新的发展潜力。● 高质量分辨率双聚焦扇形磁场质量分析器，采用可切换入射狭缝，可根据方法设定自动选择高、中和低的分辨率，在高分辨模式下，能将甲烷中质量数为17的13CH4+、12CH3D+ 、14NH3+、12CH5+和13CH4+有效分开。● 可变的接收器阵列，可根据应用安装多个法拉第杯和离子计数器。●轴向二次电子倍增器(SEM) 配备了我们专有的RPQ 阻滞透镜，可达到终极的丰度灵敏度，因而可以分析极小的信号。

产品背景 近年来，我国雾霾频发使大气能见度下降，严重影响人们的日常生活和身心健康。针对严重的气溶胶颗粒污染状况，聚光科技与德国吉森大学展开合作，引进国际领先的单颗粒气溶胶质谱技术，推出大气颗粒物质谱监测系统LAMPAS（Laser Mass Analyzer for Particles in the Airborne State)，其经历二十多年发展，并在欧洲多个地方展开环境实地监测。该系统可广泛用于环境监测站、气象局、科研院所等环境空气质量监测场所中气溶胶颗粒物粒径和化学成分在线监测及在线源解析。产品特点 现场实时在线监测、高时间分辨率，在线分析颗粒物污染来源； 实现单颗粒气溶胶直接进样与精确粒径测量； 可测量几乎所有种类的气溶胶颗粒； 颗粒物粒径和化学成分同时测量，多成分正负离子同时检测； 无需繁琐的前处理，获得单颗粒质谱信息，更准确反映颗粒物的真实信息； 强大的数据记录与处理功能； 体积小，结构紧凑，仪器稳定性和机动性强； 总打击率高。产品原理 LAMPAS-3.0由进样系统、测径系统、激光电离系统和飞行时间质谱仪（ TOF-MS）组成，气溶胶颗粒通过差分真空透镜加速准直进入真空室；随后在测径区，由两束测径激光测量其空气动力学直径，并同时触发电离激光器；激光电离产生的正、负离子通过双极TOF-MS检测其化学成分。LAMPAS-3.0可获得气溶胶单颗粒物粒径大小和化学成分信息，同时通过将颗粒物谱图进行分类处理，实现颗粒物在线源解析功能。应用领域 环境监测：大气细颗粒物源解析，新粒子生成与灰霾形成机制，颗粒物混合状态； 机动车辆排放监测； 生物领域； 医疗领域； 极端气候研究； 工业过程监测：粉末生产，半导体加工； 吸入毒理学研究

产品说明自聚焦透镜又称为梯度变折射率透镜，是指其折射率分布是沿径向渐变的柱状光学透镜，具有聚焦和成像功能。TVS-GL系列自聚焦透镜具有直径小（≤1 mm）、生物兼容性好、无毒、透过率高和分辨率高等优点，镀膜波段在430-650 nm和870-1030 nm高透，也可以根据用户需求定制。可应用在多种中继场景上，实现对深层生物组织的成像，如用于多光子深脑成像，将自聚焦透镜埋入生物脑组织或其它生物组织，可实现深层生物组织（4 mm）的高分辨成像。产品应用生物显微、医疗、荧光系统、微型光学系统、医用光学仪器、光学复印机、传真机、扫描仪等设备有着广泛的应用产品优势生物组织兼容性好：工作介质折射率设计与生物组织匹配无毒：圆周镀膜防止铊离子泄露分辨率高：可高效激发双光子效应视场恒定：中继成像无放大定制化：可根据用户需求定制不同长度、直径、波长的自聚焦透镜技术参数型号TVS-D1G0.5P-S定制化直径（mm）10.5~1波长（nm）920可定制节距0.5可定制长度（mm）4.84可定制工作距离0.20.2介质水水端面镀膜SiO2SiO2

光学像素的重新分配可实现转盘共聚焦超分辨率成像SoRa超分辨率转盘可助CSU-W1实现超分辨成像功能。相对于宽场成像，XY方向分辨率提升2倍同时增强分辨率与共聚焦层切能力提供普通共聚焦成像和SoRa超分辨成像两种成像模式XY分辨率可达120nm在提高放大倍率和使用微透镜进行光学处理后，可获得超过光学极限约1.4倍的分辨率，所得图像在进一步通过反卷积处理后，可实现约2倍的分辨率提升。宽场荧光SoRaSoRa DCV宽场荧光图像和1.4倍分辨率增强的SoRa原始图像以及2倍分辨率增强的反卷积（DCV）SoRa图像对比。光学像素重新分配非常适合快速成像无需特殊的图像计算或样品制备，即可在任何样品上以光学方式获取超分辨率图像。图像的拍摄仅受限于样品的信噪比和曝光时间，这也使得高速超分辨率成像成为可能。以适当的放大倍率对发射光针孔进行微透镜处理，可以抵消通过非无限小的发射光针孔时的同轴照明点扩散函数和共聚焦有效点扩散函数（照明和探测点扩散函数的乘积）的不匹配。 通过微透镜处理，单个点在针孔上的发射角减小了2倍，等效于无限小理想针孔，但是不会影响信号的亮度参考文献：T.Azuma and T.Kei “Super-resolution spinning-disk confocal microscopy using optical photon reassignment” Opt.Express 23, 15003-15011 (2015).宽场荧光SD 50µmSoRaSoRa DCV 宽场荧光图像，针孔尺寸为50um的转盘共聚焦图像，SoRa原始图像以及反卷积SoRa图像的对比。CSU-W1 SoRa：将共聚焦和超分辨率成像合二为一系统包含两个可通过软件轻松切换的转盘：一个支持光学层切的超分辨率转盘和一个标准的共聚焦成像转盘。这意味着CSU-W1 SoRa是一个同时拥有转盘式共聚焦和超分辨率成像的系统。共聚焦图像SoRa DCV规格CSU-W1 SoRaCSU‐W1CSU‐X1共聚焦扫描方式微透镜增强型 Nipkow disk 和在发射光针孔处增加了微透镜的SoRa转盘微透镜增强型 Nipkow disk最高转盘速度4,000 转/分钟5,000 或 10,000 转/分钟外部同步方式通过TTL输入信号同步扫描速度转盘单元一个50um或25um的共聚焦转盘，一个SoRa超分辨率转盘，全电动控制50um或25um（最多两个），全电动控制50um透镜切换光路1x, 2.8x, 以及 4x 中继放大透镜n/a明场成像n/a可选配电动控制明场光路视场61x57um @ 100x （SoRa 模式）71x67um@ 60x （SoRa 模式）最大 17x16mm10x7mm激发光波长405-640nm405nm-785nm405nm-647nm激光接入方式单模光纤激发光闸内建机械光闸二向色镜3孔位电动切换3孔位电动切换或1孔位手动切换荧光滤镜转轮10孔位6或12孔位外部控制接口RS‐232C显微镜接口直接与显微镜耦合通过C‐Mount耦合相机接口适配器C‐mount 1x (放大倍率可选以匹配不同尺寸的传感器)操作环境15‐35°C, 20‐75% 相对湿度15‐40°C, 20‐75% 相对湿度电源输入电源: 100‐240 VAC +/‐ 10%, 50/60 Hz兼容的显微镜Ti2系列, Ti系列Ti2系列, Ti系列, Ni系列, FN1系列

聚焦离子束（Xe）扫描电镜 FERA FERA3 GM是一款由计算机完全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简单的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述 软件标配：测量图象处理3维扫描硬度测量多图像校准对象区域自动关机时间公差编程软件定位投影面积EasySEMTM选配：根据实际配置和需求 技术规格 配件二次电子探头 背散射电子探头 In-Beam SE In-Beam BSE 探针电流测量 压差式防碰撞报警装置 可观察样品室内部的红外线摄像头 TOP-SIMS 二次离子探头 等，各种配件可供选择 图片 其他分析潜力 高亮度肖特基发射可获得高分辨率、高电流和低噪声的图像 选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像 三透镜大视野观察（Wide Field Optics™ ）设计提供了多种工作模式和显示模式，体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™ ）可模拟和进行束斑优化 成像速度快 低电压下的电子束减速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可获取高分辨率图像 （选配） In-Beam背散射电子探头，用于在小工作距离下得BSE图像（选配），甚至适合铁磁性样品 全计算机化优中心电动载台设计优化了样品操控 完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDX）、波谱仪（WDX）、背散射电子衍射仪（EBSD） 由于使用了强力的涡沦分子泵和干式前置真空泵， 因而可以很快达到电镜的工作真空，电子枪的真空由离子泵维持 自动的电子光路设置和合轴 网络操作和内置的远程控制/诊断软件 3维电子束技术提供实时立体图像 在低真空模式下样品室真空可达到500Pa 用于观测不导电样品 独特的离子差异泵（2个离子泵）使得离子散射效应超低 聚焦离子束镜筒内有马达驱动高重复性光阑转换器 聚焦离子束的标配包括了电子束遮没装置和法拉第筒 高束流下超高的铣削速度和卓越的性能 FIB切割、信号采集、3维重构（断层摄影术），3D EBSD、3D EBIC与集成3维可视化 成熟的SEM/FIB/GIS操作软件，图像采集、存档、处理和分析功能FERA3配置FERA3 GMH是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统(GIS)，在高真空模式下工作。FERA3 GMU是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统(GIS)，可在高真空和低真空模式下工作。

聚焦离子束（Xe）扫描电镜 FERA FERA3 XM是一款由计算机全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。 概述 软件 技术规格 配件 图片 其他分析潜力 高亮度肖特基发射可获得高分辨率，高电流和低噪声的图像 选配的In-Beam二次电子探头可获取超高分辨率图像 三透镜大视野观察（Wide Field Optics™ ）设计提供了多种工作模式和显示模式，体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™ ）可模拟和进行束斑优化 成像速度快 低电压下的电子束减速模式（Beam Deceleration Technology – BDT）可获取高分辨率图像（选配） In-Beam背散射电子探头，用于在小工作距离下得BSE图像（选配），甚至适合铁磁性样品 全计算机化优中心电动载台设计优化了样品操控 完美的几何设计更适合安装能谱仪（EDX）、波谱仪（WDX）、背散射电子衍射仪（EBSD） 由于使用了强力的涡沦分子泵和干式前置真空泵，因而可以很快达到电镜的工作真空。电子枪的真空由离子泵维持。 自动的电子光路设置和合轴 网络操作和内置的远程控制/诊断软件 3维电子束技术提供实时立体图像 低真空模式下样品室真空可达到500Pa用于观测不导电样品 独特的离子差异泵（2个离子泵）使得离子散射效应超低 聚焦离子束镜筒内有马达驱动高重复性光阑转换器 聚焦离子束的标配包括了电子束遮没装置和法拉第筒 高束流下超高的铣削速度和卓越的性能 FIB切割、信号采集、3维重构（断层摄影术），3D EBSD、3D EBIC与集成3维可视化 成熟的SEM/FIB/GIS操作软件，图像采集、存档、处理和分析功能FERA3配置FERA3 XMH是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统(GIS)，在真空模式下工作。FERA3 XMU是一款完全由计算机控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统(GIS)，可在高真空和低真空模式下工作。

聚焦离子束（Xe）扫描电镜 FERA 世界第yi个完全集成式Xe等离子源聚焦离子束扫描电子显微镜----FERA3，提供了超高离子束束流（zui高束流为2μA），其溅射速度比Ga离子源高50多倍。对于目前浪费时间或不可能进行的需要刻蚀的材料，FERA3型仪器是一个不错的选择。 新一代的聚焦离子束扫描电子显微镜为用户提供了zui新的技术优势，例如：改进的高性能电子设备使图像采集得速度更快，带有静态和动态图像扭曲补偿技术的超高速扫描系统，内置的编程软件等。 FERA3的设计适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求，其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为优xiu的分析工具。现代电子光路 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics™ ）设计提供了许多工作与显示模式，体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™ ），可模拟和优化电子束 全自动的电子光路设置与合轴 成像速度快 使用3维电子束技术可获取实时立体图像 三维导航高性能离子光路 高性能的等离子i-FIB设备使切片和材料的刻蚀既快又精que维修简单现在保持电镜处在优xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作电镜除了可以自动化设置外，还可进行聚焦、调节对比度/亮度等自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜控制、样品台控制、图像采集、处理与分析等。通过脚本语言用户还可以自定义自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 用户界面友好的操作系统基于Windows™ 平台，多用户和多语言操作界面 同时的FIB/SEM成像，易于操作 实时图像支持多窗口模式，可自定义实时图像参数 图像处理，报告生成，在线与离线图像处理 项目管理软件 内置的自动诊断（自检） TCP/IP远程控制，网络操作与远程进入/诊断 免费升级软件FERA3 GMFERA3 GM是一款由计算机完全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简单的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。FERA3 XMFERA3 XM是一款由计算机全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。

聚焦离子束（Xe）扫描电镜 FERA 世界第yi个完全集成式Xe等离子源聚焦离子束扫描电子显微镜----FERA3，提供了超高离子束束流（zui高束流为2μA），其溅射速度比Ga离子源高50多倍。对于目前浪费时间或不可能进行的需要刻蚀的材料，FERA3型仪器是一个不错的选择。 新一代的聚焦离子束扫描电子显微镜为用户提供了zui新的技术优势，例如：改进的高性能电子设备使图像采集得速度更快，带有静态和动态图像扭曲补偿技术的超高速扫描系统，内置的编程软件等。 FERA3的设计适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求，其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为优xiu的分析工具。现代电子光路 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics™ ）设计提供了许多工作与显示模式，体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™ ），可模拟和优化电子束 全自动的电子光路设置与合轴 成像速度快 使用3维电子束技术可获取实时立体图像 三维导航高性能离子光路 高性能的等离子i-FIB设备使切片和材料的刻蚀既快又精que维修简单现在保持电镜处在优xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作电镜除了可以自动化设置外，还可进行聚焦、调节对比度/亮度等自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜控制、样品台控制、图像采集、处理与分析等。通过脚本语言用户还可以自定义自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 用户界面友好的操作系统基于Windows™ 平台，多用户和多语言操作界面 同时的FIB/SEM成像，易于操作 实时图像支持多窗口模式，可自定义实时图像参数 图像处理，报告生成，在线与离线图像处理 项目管理软件 内置的自动诊断（自检） TCP/IP远程控制，网络操作与远程进入/诊断 免费升级软件FERA3 GMFERA3 GM是一款由计算机完全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简单的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。FERA3 XMFERA3 XM是一款由计算机全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。

聚焦离子束（Xe）扫描电镜 FERA 世界第yi个完全集成式Xe等离子源聚焦离子束扫描电子显微镜----FERA3，提供了超高离子束束流（zui高束流为2μA），其溅射速度比Ga离子源高50多倍。对于目前浪费时间或不可能进行的需要刻蚀的材料，FERA3型仪器是一个不错的选择。 新一代的聚焦离子束扫描电子显微镜为用户提供了zui新的技术优势，例如：改进的高性能电子设备使图像采集得速度更快，带有静态和动态图像扭曲补偿技术的超高速扫描系统，内置的编程软件等。 FERA3的设计适应各种各样的SEM应用与当今研究和产业的需求，其高分辨率、高电流和强大的软件使TESCAN FIB-SEM成为优xiu的分析工具。现代电子光路 独特的三透镜大视野观察（Wide Field Optics™ ）设计提供了许多工作与显示模式，体现了TESCAN特有可优化电子束光阑的中间镜设计 结合了完善的电子光学设计软件的实时电子束追踪（In-Flight Beam Tracing™ ），可模拟和优化电子束 全自动的电子光路设置与合轴 成像速度快 使用3维电子束技术可获取实时立体图像 三维导航高性能离子光路 高性能的等离子i-FIB设备使切片和材料的刻蚀既快又精确维修简单现在保持电镜处在优xiu的状态很简单，只需要很短的停机时间。每个细节设计得很仔细，使得仪器的效率zui大化，操作zui简化。自动操作电镜除了可以自动化设置外，还可进行聚焦、调节对比度/亮度等自动操作。除此之外，电镜还有样品台自动导航与自动分析 程序，能明显减少操作员的操作时间。通过内置脚本语言（Python）可进入软件的大多数功能，包括显微镜控制、样品台控制、图像采集、处理与分析等。通过脚本语言用户还可以自定义自动操作程序。用户界面友好的软件与软件工具 用户界面友好的操作系统基于Windows™ 平台，多用户和多语言操作界面 同时的FIB/SEM成像，易于操作 实时图像支持多窗口模式，可自定义实时图像参数 图像处理，报告生成，在线与离线图像处理 项目管理软件 内置的自动诊断（自检） TCP/IP远程控制，网络操作与远程进入/诊断 免费升级软件FERA3 GMFERA3 GM是一款由计算机完全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简单的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。FERA3 XMFERA3 XM是一款由计算机全控制的Xe等离子聚焦离子束（i-FIB）场发射扫描电子显微镜，可选配气体注入系统 (GIS)，可在高真空和低真空模式下工作，其具有突出的光学性能、清晰的数字化图像、成熟和用户界面友好的SEM/FIB/GIS操作软件等特点。基于Windows™ 平台的操作软件提供了简易的电镜操作和图像采集，可以保存标准文件格式的图片，可以对图像进行管理、处理和测量，实现了电镜的自动设置和许多其它自动操作。设备咨询电话：（微信同号）；QQ：；邮箱：欢迎您的来电咨询！

赛默飞DFS高分辨率磁式气质联用仪 双聚焦磁式质谱仪 仪器介绍： 赛默飞世尔科技zui新的DFS高分辨双聚焦磁质谱 是一台不同于以往型号的高分辨磁质谱仪，堪称过去15年以来出现的第一台完全新型的双聚焦质谱仪。DFS采用了zui新的离子光学理论，将仪器提升到一个崭新的高度。DFS采用了新设计的水平和垂直方向双向弯曲的环形静电场，使电场系统不单在水平方向有能量聚焦作用，在垂直方向能校正离子束通过磁场后所产生的球状弯曲，极大地增强了在垂直方向对离子束的利用能力，可加大磁、电场的通过气隙，提高灵敏度。DFS具有新颖的磁场和电场分析器设计提供目标化合物的zui高灵敏度，使常规分析飞克数量级目标化合物变得容易实现。赛默飞DFS高分辨率磁式气质联用仪 双聚焦磁式质谱仪主要特点： ● 放射状的叠片磁体；● 基于场校准，也就是说质量校正不受扫描速度、离子极性和离子化方式的影响；● 高性能的环形ESA静电场；● 检测器系统通过转换倍增器电极和长寿命的二级电子倍增器能够高效检测离子；● 气动阀锁定真空功能，更换离子盒无需放真空；● 双Trace 1310配一个TriPlus RSH自动进样器，在一个进样序列里可以使用不同极性的气相色谱柱。样品可以自动从一个进样瓶取出进样到两个不同的气相色谱中；● 可移动离子盒， 易于离子源维护。DFS具有： 高灵敏度 高信噪比 高质量测量精度 低检出限 低定量限 高选择性最高的样品分析能力 完全自动化控制 节能，低噪音，安装时间短，可以迅速开始工作赛默飞DFS高分辨率磁式气质联用仪 双聚焦磁式质谱仪创新技术：1、新型分析器 DFS拥有第一款真正实现了无图像失真的新型分析器。通过一个极高精密度环形静电场分析器和一个精心改进的磁分析器，使它能完美地实现双聚焦。从而直接地提高了它的稳定性和重现性。创新性的分析器设计给常规的化合物分析提供了高灵敏度，低达法克水平。● 调谐高灵敏度时不影响已经设置好的分辨率● 全自动的离子源调谐● 自动设置质量分辨● 不需调整其它的离子光学器件● 质量校正完全独立于离子● 一次全质量校正适用于所有操作模式2、zui先进的电子技术DFS拥有全新的zui先进的电子技术。在所有电板上都安装有专用的微控制器，通过一个内连接主线，使电脑高效快速的控制和读取所有重要参数和电压值。磁场控制器快速而稳定，由于使用“power-on－demand”（根据需求供电）技术提供电源，所以非常节电。赛默飞DFS高分辨率磁式气质联用仪 双聚焦磁式质谱仪仪器应用： DFS在要求一万以上分辨率的二恶英分析和兴奋剂分析中成为灵敏度zui高的质谱，也在环保、农药残留如农药、二恶英、呋喃和多溴联苯类PBDE物质的分析，以及新药开发和研究，石油化工、化学成分分析等多种分析领域，成为强有力的GC/MS分析手段。

LTQ Orbitrap Velos参考技术参数一、质谱性能：质量分辨率与采集速度：分辨率≥60,000 (FWHM)，m/z 400，每秒采集一张谱图zei低分辨率≥7,500（FWHM）zei高分辨率：100,000 （FWHM），m/z 400质量精确度（MS和MS/MS）： 3 ppm 外标法； 1 ppm 内标法动态范围： 5000 一张谱图中灵敏度： ESI MS/MS（LTQ Velos）： 100 fg利血平，S/N ≥ 100:1MSn 级数： n=1~10ETD选项：3 uL/min注射1 pmol/uL Angiotension I溶液，产生ETD离子碎裂效率15%线性离子阱和电轨道质谱可同时在线检测m/z范围：50～2000 amu，200 ~ 4000 amu二、LTQ Velos双压线性离子阱高性能Ion Max ESI和APCI离子源x、y、z三方向档位调节的离子喷针，可根据样品情况使用不同的位置优化喷雾具有吹扫气技术可使用非挥发性缓冲溶液，降低化学背景噪音大口径全金属传输管，金属块0~400℃加热，防止气化的离子冷凝堵塞传输管具有真空锁定装置，可在不停机状态下清洗和维护离子传输管；ESI源喷口性能：流速1 uL～1ml/min，100 %H2O 不需分流APCI源喷口性能：流速50 uL～2ml/min，100 %H2O 不需分流可选配vMALDI源S-透镜逐步间隔的叠环离子透镜（S-lens）S-透镜是一个射频装置，可有效捕获及聚焦离子，成为一束紧凑的离子束在电极之间的大的可变空间，可获得更好的真空、提高系统稳定性自动调谐程序，可优化离子传输离子传输先进的离子传输光学高稳定性、高离子传输率双压线性离子阱高压阱（HPC），5 mTorr压力，用于提高捕获效率，从而提高灵敏度；同时提高碎裂效率，获得更好的MSn 碎裂谱图碎裂后的MSn 碎片，快速地送入低压阱 低压阱（LPC）， 1 mTorr压力，获得更快的速度，并具有更高的分辨率，低压阱侧面有两个出口狭槽用于径向离子检测采集谱图的速率（Duty Cycle）：5张谱图/秒真空系统差动抽气真空泵系统，真空度达10-5 Torr分流分子涡轮泵控制真空在三个区域双机械泵配置铝质高真空分析器腔体检测器专利的双转换打拿极两个离轴连续打拿电子倍增器，扩展动态范围数字电子噪音消除集成的数控切换阀集成的蠕动进样泵三、Orbitrap质谱无气体的多极离子传输透镜气体（氮气）浓度在C-Trap中升高高传输率离子传输透镜带HCD同轴场的直多极碰撞池Orbitrap质量分析器使用Peltier帕尔贴元素进行活性温度控制差分抽气真空系统旋转叶片泵作为前级真空泵，一个水冷60升分子涡轮泵，两个水冷210升分子涡轮泵zei终操作条件下的真空度： 4× 10-10 Torr通过活动Pirani gauge真空规和冷离子规来控制真空低噪音检测倍增器14比特信号数字化超快速实时数据采集和仪器控制系统由仪器控制软件自动校正所有传输和Orbitrap参数 四、选项H-ESI II加热的ESI电喷雾源，提高离子化效率，从1 uL/min ~ 2000 uL/minESI源喷口性能：流速1 uL～1ml/min，100 %H2O 不需分流纳喷雾源支持静态喷针和动态喷雾，流速从50 nL/min ~ 2 uL/minAPCI源喷口性能：流速50 uL～2mL/min，100 %H2O 不需分流APCI/APPI源喷口性能：流速50 uL～2mL/min，100 %H2O 不需分流金属喷针（Metal Needle）选项，用于高流速和低流速分析五、数据系统主流计算机，WindowsXP操作系统Xcalibur数据处理和仪器控制软件FT-Programs软件工具：蛋白质计算器和离线重新校正六、操作模式：实时相关决定树（Data Dependent Decision Tree）——建立在多肽电荷、m/z等特性上的，自动选择优化的碎裂技术，可获得zei高的碎裂效率，可进行各种先进的实时数据相关实验在高速率下进行高分辨、精确质量扫描在线性离子阱中进行母离子分离和CID碎裂，在Orbitrap中获得高分辨精确质量的MS/MS和MSn谱图实时相关数据处理扫描：根据用户设定的要求，在LC/MS实验中，自动选择母离子进行各种MS/MS及MSn实验（在线性阱和Orbitrap中均可进行）实时数据相关MS/MS平行采集能力，同时在线性阱中进行多个MSn扫描，在Orbitrap中获得一张全扫描高分辨率谱图Ion Mapping能力：在一次LC/MS/MS实验后，自动产生一个三维MS/MS谱图，提供母离子、子离子和中性丢失等多种分析信息，寻找并解析它们之间的各种关系。Ion Mapping，中性丢失Ion Mapping，母离子Ion Mapping，用于选择的动态排除能力，N级Triple Play实验，实时数据相关的离子树实验，总离子图（Total Ion Map）实验 具有实时数据相关的离子树Data Dependent&trade Ion Tree&trade 实验，每个MS/MS扫描可自动解离25个离子具有实时数据相关的MS3中性丢失扫描能力，鉴定翻译后修饰。七、可选应用软件Proeome Discoverer——蛋白质科学研究的质量信息学平台Prosight PC——自上而下（top down）鉴定和表征包括翻译后修饰的蛋白MetWorks——用谱图树和精确质量进行自动代谢物鉴定Mass Frontier——序列预测软件，进行谱图解析和分类，用于鉴定未知物PEAKS——强大易用的de novo从头测序软件SIEVE——自动分析差分表达谱，用于蛋白质组学和代谢组学ProMass Deconvolution——天然蛋白直接分析软件 八、独有技术在线性阱中进行母离子选择，在新型HCD碰撞池碎裂，在高分辨高质量准确度Orbitrap中检测PQD脉冲碰撞诱导解离技术，消除传统离子阱1/3效应，获得更丰富的低质量碎片信息具有AGC自动增益控制，自动优化阱内离子数目，保证任何多级质谱的高分辨率动态排除能力：在分析复杂的共流出物时，在采集了某些离子的MSn信息后，将其列入临时的排除离子表上，而继续给出其它相对信号较弱的共流出物离子的结构信息宽带激化能力：对于某些容易失水或失NH3的分子，优化碰撞能量时自动向低质量端施加　-20 Da的共振能量，结果可得到断裂丰富、完全的特征MS/MS“指纹”谱图碰撞能量归一化：质谱能量自动补偿，使串联质谱的碎片谱图（CID碎裂和HCD碎裂）按同一能量裂解，得到稳定重现谱图，利于谱库检索阶梯的碰撞能量归一化（CID和HCD）：考虑到MS/MS实验中可变的碰撞能的归一化实验多阶激发（MSA）实验，在用户设定的中性丢失基础上，实验中自动获得MS/MS和MS3的组合谱

Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束专为自动化冷冻电子断层扫描成像样品的制备而设计。用户可以稳定地在原位制备厚度约为 200nm 或更薄的冷冻薄片，同时避免产生镓 (Ga) 离子注入效应。与目前市场上的其他 cryo-FIB-SEM 系统相比，Arctis Cryo-PFIB 可显著提高样品制备通量。与冷冻透射电镜和断层成像工作流程直接相连通过自动上样系统，Thermo Scientific&trade Arctis&trade Cryo-PFIB 可自动上样、自动处理样品并且可存储多达 12 个冷冻样品。与任何配备自动上样器的冷冻透射电镜（如 Thermo Scientific Krios&trade 或 Glacios&trade ）直接联用，省去了在 FIB-SEM 和透射电镜之间的手动操作载网和转移的步骤。为了满足冷冻聚焦离子束电镜与透射电镜应用的低污染要求，Arctis Cryo-PFIB 还采用了全新的高真空样品仓和经过改进的冷却/保护功能。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束电镜的主要特点与光学显微镜术关联以及在透射电镜中重新定位"机载"集成宽场荧光显微镜 (iFLM) 支持使用光束、离子束或电子束对同一样品区域进行观察。 特别设计的 TomoGrids 确保从最初的铣削到高分辨率透射电镜成像过程中，冷冻薄片能与断层扫描倾斜轴始终正确对齐。iFLM 关联系统能够在电子束和离子束的汇聚点处进行荧光成像。无需移动载物台即可在 iFLM 靶向和离子铣削之间进行切换。CompuStage的180° 的倾转功能使得可以对样品的顶部和底部表面进行成像，有利于观察较厚的样品。TomoGrids 是针对冷冻断层扫描工作流程而特别设计的，其上下2面均是平面。这2个面可防止载样到冷冻透射电镜时出现对齐错误，并始终确保薄片轴相对于透射电镜倾斜轴的正确朝向。 利用 TomoGrids，整个可用薄片区域都可用于数据采集。厚度一致的高质量薄片Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜可在多日内保持超洁净的工作环境，确保制备一致的高质量薄片。等离子体离子束源可在氙离子、氧离子和氩离子间进行切换，有利于制备表面质量出色的极薄薄片。等离子体聚焦离子束技术适用于液态金属离子源 (LMIS) 聚焦离子束系统尚未涉及的应用。例如，可利用三种离子束的不同铣削特性制备高质量样品，同时避免镓注入效应。系统外壳的设计考虑到了生物安全，生物安全等级较高的实验室（如生物安全三级实验室）可选用高温消毒解决方案。Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜的紧凑型样品室专为冷冻操作而设计。由于缩小了样品室体积，操作环境异常干净，最大限度减少水凝结的发生。通过编织套管冷却样品及专用冻存盒屏蔽样品，进一步提升了设计带来的清洁度，确保了可以进行多日批量样品制备的工作环境。 自动化高通量样品制备和冷冻断层扫描连接性自动上样器可实现多达 12 个网格（TomoGrids 或 AutoGrids）的自动上下样，方便转移到冷冻透射电镜，同时最大限度降低样品损坏和污染风险。通过新的基于网络的用户界面加载的载网将首先被成像和观察。 随后，选择薄片位置并定义铣削参数。铣削工作将自动运行。根据样品情况，等离子体源可实现高铣削速率，以实现对大体积材料的快速去除。自动上样系统为易损的冷冻薄片样品提供了受保护的环境。在很大程度上避免了可能会损坏或污染样品的危险手动操作样品步骤。 自动上样器卡槽被载入到与自动上样器对接的胶囊中，可在 Arctis 冷冻等离子体聚焦离子束扫描电镜和 Krios 或 Glacios 冷冻透射电镜之间互换。

仪器介绍 电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）具有检出限低、动态线性范围宽、干扰少、分析精度高、分析速度快、可进行多元素同时测定等优异的分析性能，已成为痕量和超痕量分析最为有效的分析手段之一。可广泛用于环境、食品、药品、化妆品、轻工玩具、材料等行业，是痕量元素分析的重要手段。 应用领域环境分析测试领域 PlasmaMS 300型ICP-MS针对地表水、废水、土壤、沉积物、大气（废气）中颗粒物、固体废弃物等环境样品中重金属元素分析测试及检测的需求，建立了整体应用方案与分析方法。食品安全问题 PlasmaMS 300型ICP-MS不仅能够有效的检测食品和接触性包装材料中多种金属元素的含量，与LC联用，还可以有效的分离某些特定元素存在的不同价态和形态，完全可以满足食品质量安全领域中的重金属残留分析，重金属形态分析，以及营养元素分析。轻工玩具可迁移元素 ICP-MS和离子色谱-ICP-MS联用可以解决2019年11月执行的欧盟进口玩具标准EN71-3中可迁移六价铬超低限量的检测需求，通过IC-ICP-MS联用有效地分离三价铬和六价铬，检出限做到了0.006ng/mL,成为能够满足欧盟玩具EN71-3极低检出限要求。中药重金属检测 中国药典2020修订，其中对药材重金属的含量限制有新的要求。钢研纳克电感耦合等离子体质谱能够有效的检出中药重金属含量，多元素同时检测，检出限低，检测速度快，为药品安全保驾护航。金属材料研究 PlasmaMS 300与自主研制的激光烧蚀进样系统（LA 300）联用，能够实现小规格异形非平面材料中痕量元素的成分分布和复杂材料体系的痕量元素原位统计分布分析表征。地矿样品测试 PlasmaMS 300灵敏度高、精度好、抗干扰能力强，是地质样品多元素分析最强有力的技术。满足了矿物三稀元素的多元素快速、准确分析的需求，为“三稀”矿物资源调查和有效利用提供技术支撑。 仪器特点 极佳的可靠性和稳定 坚固耐用的射频电源，集成了紧急保护措施的真空系统和自动化控制系统，以及智能一键操作即可完成的仪器和分析流程设置，最大程度的消除了人为干扰，保证了仪器工作的连贯性和优异的重复性。 高超的分析功能 匹配功能卓越的固态光源，有效的限制了离子化过程中离子的扩散，保证了离子的聚焦性和极高的通过率。带偏转的离子光学系统保证了最佳的离子聚焦效果，有效的降低了背景噪声，提高了信噪比。 强大的联用技术 可便捷地与激光烧蚀进样系统（LA）及液相色谱（LC）联用。结合LA的功能，可实现了PlasmaMS 300固体直接进样，避免了复杂的样本制备过程，提高了进样及测试效率，扩展了PlasmaMS 300的检测能力，可同时测定样品气溶胶中主、次、痕量元素的含量。与LC联用，可进行有机物中元素的形态分析，进一步扩展了PlasmaMS 300的检测能力和效率，提供了更全面的应用解决方案。 未来可升级为实现与多种前处理装置联用系统，如石墨消解，超级微波消解等装置。人性化的操作流程全中文的软件界面，符合中国人的思维习惯，“一键式”参数设置直观快捷，提高了用户的工作效率。能够根据客户要求自定义报告格式，同时提供了QC功能及LIMS的接口。便捷的维护 易于拆装清洗的锥口系统、带偏转的离子透镜系统，减少了离子沉积，延长了仪器的维护周期。耐用的固态光源确保了仪器的长时间无故障使用。依托纳克遍布全国的服务网络，实现了仪器完善的售后服务。

产品概述EXPEC 5281 GC-QTOF是谱育科技经历多年的研发投入，采用自主创新的质谱技术，完全自研、智造的气相色谱-四极杆飞行时间串联质谱仪。EXPEC 5281 GC-QTOF具有准确的全谱质谱数据，卓越的灵敏度和高选择性，超高的质量分辨率和质量精度，突出的采集速率和更高的性价比，创新的产品带来了更佳的性能。产品性能创新的EI离子源和离子光学系统创新高性能合金电离源，提高电离效率，避免干扰新增源内离子束聚焦，有效提升样品电离效率卓越的分辨率产品采用DCQ & Einzel透镜，有效提升离子传输效率，减少离子空间发散 ，从而提高仪器分辨率全新设计的垂直引入反射式TOF，大大提高TOF分辨率采用超高响应的MCP检测器，满足皮秒量级信号分辨时间，实现超高分辨率检测搭配高位数高速采集卡，实现高动态范围和高分辨时间高稳定高压脉冲信号，保证高分辨率，高灵敏度出色的灵敏度全新设计的Tri-Step Scan离子传输技术，有效提升离子传输效率创新的轴向加速碰撞池技术，减小离子驻留时间及质量歧视效应，有效降低离子的碰撞反应损失超大有效面积的MCP检测，搭配检测器聚焦透镜，有效提高束流利用效率无场聚焦电极，实现束流轴向聚焦，提升检测器单位面积的离子数量 优异的稳定性高效高温去溶剂离子源和离子接口，增加系统耐受性，延长维护周期创新的双路射频电源闭环自适应调整技术，提升质量轴的稳定性创新的抗温湿度交变技术，提高仪器对复杂环境的适应能力Mass Expert质谱工作站Mass Expert质谱控制软件和分析软件，操作简单，具备一键自动调谐和质量校准功能智能的高分辨二级谱库匹配功能，使得定性分析简单、高效；可定制化的报告模板，满足不同应用领域用户的使用需求 应用领域适合环境科学、环境污染物监测、石油化工、法医毒理学、药物分析、科研院所、食品安全、园林园艺、生命科学等需要高仪器灵敏度及高通量非靶向筛查的领域。

钢研纳克检测技术股份有限公司是国内最早使用和开发ICP-MS的科研单位之一，依托国家钢铁材料测试中心，培育了一批ICP-MS应用和仪器专家，20多年来起草已经并发布ICP-MS国际标准1项，国家标准8项，粮食行业标准1项。钢研纳克是重大科学仪器专项《ICP痕量分析仪器的研制》牵头单位，ICP-MS仪器计量检定规程GB/T 34826-2017 起草单位。30年ICP-MS方法开发经验，免费培训，解决客户应用方法的难题，让您ICP-MS用的更好！央企品牌，上市公司，品质之选！ 仪器介绍 电感耦合等离子体质谱仪（ICP-MS）具有检出限低、动态线性范围宽、干扰少、分析精度高、分析速度快、可进行多元素同时测定等优异的分析性能，已成为痕量和超痕量分析最为有效的分析手段之一。可广泛用于环境、食品、药品、化妆品、轻工玩具、材料等行业，是痕量元素分析的重要手段。应用领域--环境分析测试领域 PlasmaMS 300型ICP-MS针对地表水、废水、土壤、沉积物、大气（废气）中颗粒物、固体废弃物等环境样品中重金属元素分析测试及检测的需求，建立了整体应用方案与分析方法。--食品安全问题 PlasmaMS 300型ICP-MS不仅能够有效的检测食品和接触性包装材料中多种金属元素的含量，与LC联用，还可以有效的分离某些特定元素存在的不同价态和形态，完全可以满足食品质量安全领域中的重金属残留分析，重金属形态分析，以及营养元素分析。--轻工玩具可迁移元素 ICP-MS和离子色谱-ICP-MS联用可以解决2019年11月执行的欧盟进口玩具标准EN71-3中可迁移六价铬超低限量的检测需求，通过IC-ICP-MS联用有效地分离三价铬和六价铬，检出限做到了0.006ng/mL,成为能够满足欧盟玩具EN71-3极低检出限要求。--中药重金属检测 中国药典2020修订，其中对药材重金属的含量限制有新的要求。钢研纳克电感耦合等离子体质谱能够有效的检出中药重金属含量，多元素同时检测，检出限低，检测速度快，为药品安全保驾护航。--金属材料研究 PlasmaMS 300与自主研制的激光烧蚀进样系统（LA 300）联用，能够实现小规格异形非平面材料中痕量元素的成分分布和复杂材料体系的痕量元素原位统计分布分析表征。--地矿样品测试 PlasmaMS 300灵敏度高、精度好、抗干扰能力强，是地质样品多元素分析最强有力的技术。满足了矿物三稀元素的多元素快速、准确分析的需求，为“三稀”矿物资源调查和有效利用提供技术支撑。仪器特点--极佳的可靠性和稳定 坚固耐用的射频电源，集成了紧急保护措施的真空系统和自动化控制系统，以及智能一键操作即可完成的仪器和分析流程设置，最大程度的消除了人为干扰，保证了仪器工作的连贯性和优异的重复性。 --高超的分析功能 匹配功能卓越的固态光源，有效的限制了离子化过程中离子的扩散，保证了离子的聚焦性和极高的通过率。带偏转的离子光学系统保证了最佳的离子聚焦效果，有效的降低了背景噪声，提高了信噪比。 --强大的联用技术 可便捷地与激光烧蚀进样系统（LA）及液相色谱（LC）联用。结合LA的功能，可实现了PlasmaMS 300固体直接进样，避免了复杂的样本制备过程，提高了进样及测试效率，扩展了PlasmaMS 300的检测能力，可同时测定样品气溶胶中主、次、痕量元素的含量。与LC联用，可进行有机物中元素的形态分析，进一步扩展了PlasmaMS 300的检测能力和效率，提供了更全面的应用解决方案。 未来可升级为实现与多种前处理装置联用系统，如石墨消解，超级微波消解等装置。--人性化的操作流程全中文的软件界面，符合中国人的思维习惯，“一键式”参数设置直观快捷，提高了用户的工作效率。能够根据客户要求自定义报告格式，同时提供了QC功能及LIMS的接口。--便捷的维护 易于拆装清洗的锥口系统、带偏转的离子透镜系统，减少了离子沉积，延长了仪器的维护周期。耐用的固态光源确保了仪器的长时间无故障使用。依托纳克遍布全国的服务网络，实现了仪器完善的售后服务。

仪器描述 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）被称为自二十世纪以来激动人心的分析技术，具有检出限低、动态线性范围宽、干扰少、分析精度高、分析速度快、可进行多元素同时测定等分析性能，已成为痕量和超痕量分析为有效的分析手段之一。 钢研纳克针对 冶金、环保、地质、矿产、食品等领域对痕量分析技术的需求，以满足行业应用需求为目标，攻克了ICP射频电源、离子传输、四极质量分析器等关键技术，成功地研制了电感耦合等离子体质谱仪——PlasmaMS 300。 基于PlasmaMS 300，钢研纳克与国家环境分析测试中心、国家地质实验测试中心、北京矿冶研究总院、钢铁研究总院、北京市理化分析测试中心等权威测试机构合作，开发了适合各行业的分析测试方法，解决了环境介质中痕量重金属元素检测，地质矿产中稀土、稀有、稀散元素分析，二次资源中有价有害元素的分析，金属材料中的痕量化学成分及其分布分析，食品中有毒、有害元素不同形态、价态分析等技术难题。功能特点良好的可靠性和稳定 坚固耐用的射频电源，集成了紧急保护措施的真空系统和自动化控制系统，以及智能一键操作即可完成的仪器和分析流程设置，大程度的消除了人为干扰，保证了仪器工作的连贯性和重复性。 高超的分析功能 匹配功能卓越的固态光源，有效的限制了离子化过程中离子的扩散，保证了离子的聚焦性和极高的通过率。带偏转的离子光学系统保证了离子聚焦效果，有效的降低了背景噪声，提高了信噪比。 强大的联用技术 可便捷地与激光烧蚀进样系统（LA）及液相色谱（LC）联用。结合LA的功能，可实现了PlasmaMS 300固体直接进样，避免了复杂的样本制备过 程，提高了进样及测试效率，扩展了PlasmaMS 300的检测能力，可同时测定样品气溶胶中主、次、痕量元素的含量。与LC联用，可进行有机物中元素 的形态分析，进一步扩展了PlasmaMS 300的检测能力和效率，提供了更全面的应用解决方案。 人性化的操作流程 全中文的软件界面，符合中国人的思维习惯，“一键式”参数设置直观快捷，提高了用户的工作效率。能够根据客户要求自定义报告格式，同时提供了QC功能及LIMS的接口。 便捷的维护 易于拆装清洗的锥口系统、带偏转的离子透镜系统，减少了离子沉积，延长了仪器的维护周期。耐用的固态光源确保了仪器的长时间无故障使用。依托纳克遍布全国的服务网络，实现了仪器完善的售后服务。 应用领域 环境分析测试领域 PlasmaMS 300针对地表水、废水、土壤、沉积物、大气（废气）中颗粒物、固体废弃物等环境样品中重金属元素分析测试及检测的需求，建立了整体应用方案与分析方法。 地矿样品测试 PlasmaMS 300灵敏度高、精度好、抗干扰能力强，是地质样品多元素分析强有力的技术。满足了矿物三稀元素的多元素快速、准确分析的需求，为“三稀”矿物资源调查和有效利用提供技术支撑。 食品安全问题 PlasmaMS 300不仅能够有效的检测食品和接触性包装材料中多种金属元素的含量，与LC联用，还可以有效的分离某些特定元素存在的不同价态和形态，完全可以满足食品质量安全领域中的重金属残留分析，重金属形态分析，以及营养元素分析。 金属材料研究 PlasmaMS 300与自主研制的激光烧蚀进样系统（LA 300）联用，能够实现小规格异形非平面材料中痕量元素的成分分布和复杂材料体系的痕量元素原位统计分布分析表征。

更快、更亮、更多功能CSU-X1是CSU系列的高速型号，被广泛认为是活细胞成像的强大工具扫描速度高达2,000 fps微透镜增强Nipkow磁盘扫描带六个滤镜位置的滤光轮（高端型号）可更换的分色镜块和发射滤光片3种配置：单相机型号、双相机型号、明视野型号CO2排放量减少40%微透镜增强Nipkow转盘扫描技术的原理一个包含约20,000个针孔的Nipkow转盘和一个包含相同数量微透镜的转盘（用于将激发激光聚焦到每个对应的针孔中）用电机进行机械固定，旋转时，用约1,000束激光快速光栅扫描视场。针孔和微透镜图案采用横河电机的专有设计，以优化光栅扫描。使用CSU-X1进行多光束扫描不仅可以提高扫描速度，还可以显著降低光漂白和光毒性，因为多次激发只需要样品上较低水平的激光功率即可完全激发荧光。详细介绍更快扫描速度高达2,000fps横河电机专有的具有六个滤镜位置的滤光轮以33毫秒的速度移动到相邻位置，这是世界上名列前茅的速度。更亮 使用新开发的光束整形透镜，可将激发功率效率提高一倍*1，允许使用较低功率的激光器，并可以减少相机曝光时间。通过将背景噪声降低三分之一，可将信噪比提高三倍*1，扩展真正微光成像的能力。通过使用非常高效的分色镜和发射滤光片，图像显著变亮*1。更多功能 - 双相机选项*1用户可以使用两个相机同时对两个不同的发射范围进行成像，也可以选择性地使用安装的最适合当前实验要求的两个相机之一。对于每个相机端口，用户可以选择安装高速滤光轮（可选）。除了标准的C-mount适配器外，还提供用于8X8 EMCCD相机和F-mount相机的适配器（可选）。更多功能 - 明视野路径选项*2它允许用户使用一台相机通过CSU-X1进行共焦成像和通过旁路光路进行明视野（非共焦）成像。更多功能 - 可更换镜块和可更换滤光片易于更换的分色镜块和发射滤光片。*1 需要使用用户选择的市售分色镜进行同步多色成像。 *2 由于空间干扰，明视野选项不适用于某些显微镜设置。请提前咨询其适用性高端型号（6位滤光轮）高端型号（12位滤光轮基本型号 主机*1主机 +明视野*2主机 +双相机*2共焦扫描方式微透镜增强Nipkow转盘扫描扫描速度选择：1,500～5,000rpm（标准）1,500～10,000rpm（高速）*3外部同步通过脉冲信号实现扫描速度同步输入：TTL 300Hz ～ 2KHz对应于Nipkow转盘旋转速度1,500～10,000rpm*3激发波长405～647nm第二个端口-明视野双相机分色镜可选*4分色镜切换自动3通道（可更换分色镜块）激光束输入AFC连接器（抛光8度）光纤横河电机的标准单模保偏光纤*5滤光轮（发射侧）带六个滤镜位置的滤光轮发射滤光片可选*4操作面板打开/关闭激光快门外部控制经由控制单元的RS-232C接口显微镜支架C -mount适配器操作环境15～40℃ / 20～75%相对湿度能耗（主机）24VDC 最高1A能耗（AC适配器）输入：100-240VAC±10％, 50或60Hz±3Hz, 最高75W输出：24VDC 最高2.5A外形尺寸 *6175(W)×328.5(H)×301.5(L)mm175(W)×328.5(H)×301.5(L)mm175(W)×328.5(H)×301.5(L)mm重量*78.9kg11.7kg13.0kg*1 提供一个控制单元（用于滤光轮）和一个滤光轮。*2 提供两个控制单元（滤光轮和明视野各一个）和一个滤光轮。*3 可选*4 不包括滤光片（激发滤光片、发射滤光片、分色镜）。如有需要，请提前咨询。*5 随每个CSU-X1主机一起提供。*6 不包括突出部分。包括滤光轮。 主机*1主机 +明视野*2主机 +双相机*2共焦扫描方式微透镜增强Nipkow转盘扫描扫描速度选择：1,500～5,000rpm（标准）1,500～10,000rpm（高速）*3外部同步通过脉冲信号实现扫描速度同步输入：TTL 300Hz ～ 2KHz对应于Nipkow转盘旋转速度1,500～10,000rpm*3激发波长405～647nm第二个端口-明视野双相机分色镜可选*4分色镜切换自动3通道（可更换分色镜块）激光束输入AFC连接器（抛光8度）光纤横河电机的标准单模保偏光纤*5滤光轮（发射侧）带12个滤镜位置的滤光轮发射滤光片可选*4操作面板打开/关闭激光快门外部控制经由控制单元的RS-232C接口显微镜支架C-mount适配器操作环境15～40℃ / 20～75%相对湿度能耗（主机）24VDC 最高1A能耗（AC适配器）输入：100-240VAC±10％, 50或60Hz±3Hz, 最高75W输出：24VDC 最高2.5A外形尺寸 *6258(W)×329.8(H)×213.4(L)mm259(W)×374.3(H)×248(L)mm 309.8(W)×329.8(H)×392(L)mm重量*77.8kg10.6kg12.2kg*1 提供一个控制单元（用于滤光轮）和一个滤光轮。*2 提供两个控制单元（滤光轮和明视野各一个）和一个滤光轮。*3 可选*4 不包括滤光片（激发滤光片、发射滤光片、分色镜）。如有需要，请提前咨询。*5 随每个CSU-X1主机一起提供。*6 不包括突出部分。包括滤光轮。 主机 *1主机 +明视野*2主机 +双相机*2共焦扫描方式微透镜增强Nipkow转盘扫描扫描速度选择：1,500～5,000rpm （标准）1,500～5,000rpm （高速）*3*41,500～10,000rpm （高速）*3*4外部同步可选*4激发波长405～647nm第二个端口-明视野双相机分色镜可选*5分色镜切换手动1通道（可更换分色镜块）激光束输入AFC连接器（抛光8度）光纤横河电机的标准单模保偏光纤*112(W)×226(D)×100(H)重量1.9 kg

Thermo LTQ Velos离子阱质谱LC/MS系统 Thermo LTQ Velos离子阱质谱LC/MS系统被《仪器市场展望》评选为2009美国质谱年会的"明星产品"。 基于强大的创新传统，Thermo LTQ Velos可提供显著改善的复杂样品分析性能。双重压力离子阱和S -离子透镜相结合，以提供 高的离子传输水平以及 高效率的离子俘获和分裂，带来对几乎所有应用领域来说都是 快和 敏感的离子阱质谱。LTQ Velos 是LTQ系列线性离子阱质谱仪家族中的超新成员。它提供了显着改善的数据采集速率、灵敏度和质量分辨率。Thermo LTQ Velos离子阱质谱LC/MS系统主要优势：S -离子透镜提高离子传输并缩短离子阱填充时间，提高了仪器的 敏度和数据采集速率。更有效的双重压力离子阱，同时增加扫描的速度和质量分辨率自动增益控制预测功能降低了循环时间，提高了数据采集速率灵敏度和质量分辨率的改善为低浓度分析物的指认 增信心综合性能的提高使复杂样品中同时进行识别，结构鉴定和定量成为可能支持升级到提供超高分辨率和出色的质量精度的OrbitrapTM技术Thermo LTQ Velos离子阱质谱LC/MS系统将具有高质量精度和超高分辨率的Orbitrap质量分析器与具有 高 敏度和更短循环时间的LTQ Velos相结合，提供了高性能的组合质谱。Thermo LTQ Velos离子阱质谱LC/MS系统具有高质量精度，提高了复杂样品中蛋白质鉴定的速度和可靠性， 大程度地降低了假阳性率。 高分辨率使得完整蛋白质的分子量测定和同分子量物质的深入分析成为可能，并获得可靠分析结果。这些性能确保研究者能以更高的序列覆盖率、更为可靠地鉴定更多蛋白质。Thermo LTQ Velos离子阱质谱LC/MS系统的全新高能碰撞（HCD）池效率更高，有利于同质量标记肽的定量分析，包括那些需要串联质量标签（TMT）的应用。电子转移解离（ETD）可为高度灵敏的翻译后修饰和从头测序分析提供补充信息。在代谢应用中，LTQ Orbitrap Velos为研究者提供了高分辨率和高精度的质谱数据，使结构鉴定更加可靠。由于具有以上特点，Thermo Scientific LTQ Orbitrap技术成为 全面的结构鉴定质谱仪，也是蛋白质和代谢物的鉴定、表征和定量 可靠的选择。这两款LTQ Velos质谱仪的分析速度使其非常适合与 高效液相色谱系统（U-HPLC）联合使用，研究者能在更短时间内鉴定更多化合物。【谱质分析检测技术（上海）有限公司】谱质分析检测技术（上海）有限公司是位于国内二手分析仪器行业领头狮，二手分析仪器租赁，公司由原厂致力于产品研发的工程师、为客户提供技术支持与销售服务的市场人员和商业 人士组成。在国内二手分析仪器领域不断为用户提供着世界上主流仪器 与服务。 专注于生物、化学、 环境、农残、第三方检测、实验室等行业分析仪器。主要从事 品牌安捷伦、Waters、岛津、PE、Thermo赛默飞、热电等二手色谱、质谱和光谱等设备的翻新、销售和售后。 提供多种分析仪器，包括：液相色谱仪、气相色谱仪、单四级杆质谱仪、三重四级杆质谱仪、离子肼质谱仪、飞行时间质谱仪、液质联用仪、气质联用仪、原子吸收光谱仪、等离子体发射光谱仪、傅立叶变换红外光谱仪、生命科学仪器、核磁共振波谱仪、色谱耗材配件、顶空进样器、气相色谱/质谱仪、液相色谱/质谱仪等分析仪器，以及Q/TOF、TSQ、LCT、ICP/MS、GC/MS等联用仪。 经营品牌有Agilent（安捷伦）、Waters（沃特世）、Thermo（赛默飞）、AB sciex、Perkin Elmer（珀金埃尔默）、Dionex（戴安）、SHIMADZU（岛津）等品牌仪器，力求达到您的不同需求。关于谱质的服务： 1.仪器经过工程师维修测试，具备可以与新机相的性能状态，使您的科学实验流畅运行！ 2.二手仪器价格让您不为实验室建设资费不足而烦恼，节省出的经费则可以投入重要的实验项目！ 3.原厂的售后技术服务标准为您解决后顾之忧，团队为您的仪器提供长期维修支持！ 4. 仪器库存，无论是液相色谱、气相色谱、液质联用、气质联用以及仪器的维修配件，均能现货供应！【谱质分析检测技术（上海）有限公司】联系人：李先生联系地址：上海市嘉定区金园四路501号东锦国际大厦14F

产品概述EXPEC 5800 LC-QTOF是谱育科技经历多年的研发投入，采用自主创新的质谱技术，完全自研、制造的液相色谱-四极杆飞行时间串联质谱仪。EXPEC 5800 LC-QTOF具有准确的全谱质谱数据，卓越的灵敏度和高选择性，超高的质量分辨率和质量精度，突出的采集速率和更高的性价比，创新的产品带来了优异的性能。性能优势创新的双正交E -Spray离子源和离子光学系统双正交E -Spray离子源，具有稳定高效的离子化效率和基质干扰能力创新的四极杆离子导引技术和飞行时间质量分析器技术，保证有效离子的高效传输和质量轴长期稳定 卓越的分辨率采用DCQ & Einzel透镜，有效提升离子传输效率，减少离子空间发散 ，从而提高仪器分辨率垂直引入反射式TOF，大大提高TOF分辨率搭配高位数高速采集卡，实现高动态范围和高分辨时间高稳定高压脉冲信号，保证高分辨率，高灵敏度出色的灵敏度全新设计的Tri-Step Scan离子传输技术，有效提升离子传输效率创新的轴向加速碰撞池技术，减小离子驻留时间及质量歧视效应，有效降低离子的碰撞反应损失超大有效面积的MCP检测，搭配检测器聚焦透镜，有效提高束流利用效率无场聚焦电极，实现束流轴向聚焦，提升检测器单位面积的离子数量优异的稳定性高效高温去溶剂离子源和离子接口，增加系统耐受性，延长维护周期创新的双路射频电源闭环自适应调整技术，提升质量轴的稳定性创新的抗温湿度交变技术，提高仪器对复杂环境的适应能力Mass Expert质谱工作站Mass Expert质谱控制软件和分析软件，操作简单，具备一键自动调谐和质量校准功能智能的高分辨二级谱库匹配功能，使得定性分析简单、高效；可定制化的报告模板，满足不同应用领域用户的使用需求应用领域广泛适合于临床医学研究、法医毒理学、药物分析、科研院所、食品安全、公安司法鉴定、化工合成、石油化工、园林园艺、生命科学、环境污染物在线监测等需要高仪器灵敏度及高通量非靶向筛查的诸多领域。

BSTS93002–视觉系统透镜-8倍变焦镜头 The Best scientific 微型变焦范围涉及用于那些为了节省空间难以达到的地方。可变焦距镜头允许用户在不改变图像点的情况下改变样品的放大倍数。在200mm的工作距离3X和8倍的都可以使用。产品特性厂家 Best Scientificl 型号: BSTS93001 - 3X Zooml 焦距 : 21.99mm - 72.44mml 相机芯片格式: 1/2 inchl 最小工作距离: 200mml 最大孔径比: F/7.5l 最大图像格式: 6.4 x 4.8mm (8mm diagonal)l 相机接口: C-Mountl 聚焦：是的l 光阑：无l 应用：低工作距离时提供辅助透镜增加MAGl 直径：29mml 镜头长度：99mml 镜头重量：100g

BSTS93001–视觉系统透镜-3倍变焦镜头The Best scientific 微型变焦范围涉及用于那些为了节省空间难以达到的地方。可变焦距镜头允许用户在不改变图像点的情况下改变样品的放大倍数。在200mm的工作距离3X和8倍的都可以使用。 产品特性l 厂家 Best Scientificl 型号: BSTS93001 - 3X Zooml 焦距 : 27.19 mm - 58.82mml 相机芯片格式: 1/2 inchl 最小工作距离: 200mml 最大孔径比: F/7.5l 最大图像格式: 6.4 x 4.8mm (8mm diagonal)l 相机接口: C-Mountl 聚焦：是的l 光阑：无l 应用：低工作距离时提供辅助透镜增加MAGl 直径：28mml 镜头长度：71.5mml 镜头重量：48g

BSTS93001视觉系统透镜-3倍变焦The Best scientific 微型变焦范围涉及用于那些为了节省空间难以达到的地方。可变焦距镜头允许用户在不改变图像点的情况下改变样品的放大倍数。在200mm的工作距离3X和8倍的都可以使用。 产品特性 l 厂家 Best Scientificl 型号: BSTS93001 - 3X Zooml 焦距 : 27.19 mm - 58.82mml 相机芯片格式: 1/2 inchl 最小工作距离: 200mml 最大孔径比: F/7.5l 最大图像格式: 6.4 x 4.8mm (8mm diagonal)l 相机接口: C-Mount l 聚焦：是的 l 光阑：无 l 应用：低工作距离时提供辅助透镜增加MAG l 直径：28mm l 镜头长度：71.5mm l 镜头重量：48g

业界最宽的视野，视野比传统扫描仪宽4倍CSU-W1共焦扫描仪单元是横河电机视野最宽的共焦扫描仪，为成像系统提供最清晰的图像分辨率。该系统具有可实现全自动实验的切换机制，以及一个新设计的磁盘单元，以提高厚样本的图像清晰度宽广且清晰近红外（NIR）端口：高达785nm3种配置：单相机型号、双相机型号、分割视图型号新明视野路径（标准）可选针孔尺寸：25针孔盘、50针孔盘或双盘外部光路10位滤光轮（单相机型号、双相机型号）使用电动开关机构进行全自动实验宽广 最宽的共焦视野，视野比传统扫描仪宽4倍。清晰新设计的磁盘单元提供更高的图像质量。由于针孔串扰显著减少，CSU-W1可以更深入地观察厚样品，而且图像清晰。传统型号XY MIPXZ SliceCSU-W1XY MIPXZ Slice小鼠胚胎干细胞群荧光探针：H2B-EGFP（激发波长：488nm） mCherry-MBD-NLS（激发波长：561nm）物镜：60x 硅树脂Z 截面/堆栈：100um（0.4m/251枚)由大阪大学微生物疾病研究所生物反应遗传分析中心的Jun Ueda博士和Kazuo Yamagata博士提供 灵活可灵活选择的功能，以满足多种应用。高共焦针孔（可选组件） 除了传统的50um针孔尺寸外，还提供具有更高共焦度的25um针孔尺寸。用户可以选择一种或两种针孔尺寸，具有易于使用的电动磁盘交换机制。新明视野通过路径（标准）将磁盘移出光路的新机制使共焦和非共焦图像（如相衬）的投影变得更加容易。同步双色成像机制（T2和T3型号） CSU-W1除了双相机型号外，还提供单相机分割视图型号，该型号比CSU-X1型有很大改进。由于视野较宽，即使是分割视图也能提供比旧型号宽2倍的图像区域。通过使用各种分色镜，可以选择各种染色组合，用于双相机型号和分割视图型号的双色成像*1。详细介绍CSU-W1提供三种基本配置、两种针孔尺寸、近红外观察和可用于光漂白等多种应用的外部光路选项，而明视野光路现在是标准功能。CSU-W1中的所有开关机构都是全电动的，因此可以进行自动化实验。基本配置 CSU-W1共提供三种多色成像的基本配置：1) 一台相机和一个滤光轮的连续成像，2) 两台相机的同时双色成像，以及 3)2条光路共享的一台相机的分割视图双色成像。安装后所有功能均可升级。滤镜选项oRa磁盘 使用基于转盘共焦技术的超分辨率技术，光学分辨率提高了大约1.4倍。此外，通过反卷积，最终实现了大约两倍于光学极限的分辨率。CSU-W1升级：CSU-W1 SoRa 均化器最适合CSU-W1照明均匀性的选项。对整个宽视野进行均匀高效的照明。关于均化器：更多信息 近红外（NIR）端口NIR端口提供高达785nm的激发能力，以实现微创深度成像。近红外激光通过专用光纤引入，方式与可见激光相同。可以在CSU-W1单元内结合NIR和可见激光，以允许同时激发。外部光路外部光路提供直接路径，绕过转盘进入显微镜。通过该端口引入外部光扫描仪，可以实现多种应用，如光激活。镜头切换器 新设计的两个中继镜头之间的电动镜头切换器可用于匹配CSU-W1图像尺寸和各种相机类型，也可在不更换物镜的情况下轻松改变放大率。可变光圈可变光圈可改变激光照射区域，从而改变CSU-W1的成像区域，有助于最大限度地减少样品中的激光损伤。可选项选项单相机型号双相机型号分割视图型号近红外端口×外部光路×可变光圈×不适用相机端口镜头可选择0.83x、1x可选择0.83x、1x（单相机）可选择0.83x、1x（双相机）可选择0.83x、1x镜头切换器的附加镜头可选择0.83x、1x、2x不适用双相机型号、单相机型号分割视图型号*1 双相机型号　 *2 双相机型号和分割视图型号*3 单相机型号和双相机型号 　*4 正在开发外形尺寸显微镜设置蔡司 Axio Observer尼康 ECLIPSE Ti奥林巴斯 IX83莱卡 DMi8一般规格型号单相机型号（T1）双相机型号（T2）分割视图型号（T3）共焦扫描方式微透镜增强Nipkow磁盘扫描转速1,500rpm - 4,000rpm，最高200fps外部同步通过脉冲信号同步扫描速度 输入/输出：TTL 300Hz - 800Hz磁盘单元最多可选择两个磁盘，从50um（高倍率）到25um（低倍率）电动开关明视野共焦和明视野之间的电动交换有效视野17×16mm激发波长405nm-785nm激光引入横河电机标准光纤*1 VIS激光端口 (405-647nm)[可选]NIR激光端口（685-785nm）观测波长420nm-850nm分色镜切换电动3通道（可更换分色镜块）发射滤光轮10位滤光轮滤镜尺寸φ25mm切换速度*2：最大100毫秒（标准模式） 最大40毫秒（高速模式）6位滤光轮滤镜尺寸φ25mm切换速度*2：最大100毫秒外部控制RS-232C （CSU-X1指令上位兼容）显微镜支架横河电机原创相机适配器 C mount 1x（可变放大率：0.83x）光导入口[可选]光漂白等操作环境15-30oC、20-75%相对湿度，无冷凝能耗输入：100-240 VAC ±10% 50-60Hz 最高250VA外形尺寸主机327.1(W)x251.5(D)x475.1(H)mm471.6(W)x251.5(D)x475.1(H)mm420.8(W)x251.5(D)x373.6(H)mm电源225.4(W)x 151.9 (D)x 378.3(H)mm重量主机17kg20.5kg18kg电源4.5kg可连接的显微镜奥林巴斯IX系列，尼康ECLIPSE Ti，蔡司Axio Observer，莱卡DMI系列*3 *1 每个CSU-W1主机都在工厂使用其光纤进行了优化。如有必要，请询问光纤交换情况。*2 相邻位置*3 一些显微镜/选项可能会限制CSU-W1的视野或与CSU-W1的连接，请事先咨询。

特点非球面聚光透镜，相比球面透镜具有更大的光圈和更高的数值孔径提供13种不同直径，范围从10至75毫米数值孔径从0.52至0.79可选择无镀膜或镀有350 - 700纳米或650 - 1050纳米的抗反射膜采用B270光学冕牌玻璃（380 - 2100纳米）制造高效率照明应用光线收集/聚光投影检测 我们的非球面聚光透镜相比球面透镜具有更大的光圈、更高的数值孔径和更低的f/#比率。因此，这些透镜非常适合高效率照明应用或从灯、LED或类似光源准直光线。聚光透镜并非设计或推荐用于在相机传感器上形成图像，这一需求更适合使用我们的消色差双合透镜或三合透镜，或管透镜来解决。我们的聚光透镜直径从10到75毫米不等，可提供380-2100纳米无镀膜版本，或提供350-700纳米（-A镀膜）或650-1050纳米（-B镀膜）的抗反射镀膜版本。-A镀膜不能完全抵消基底在350纳米至380纳米之间的吸收特性。镀膜版本的反射率曲线可通过点击右侧表格中的图形图标找到。由于焦距较短且f/#比其他透镜低，聚光透镜可以彼此靠近使用，或与其他光学元件一起使用，这使得它们非常适合将光线聚焦到检测器或其他光线收集元件上。透镜表面在非球面侧进行精密模压，而平面或球面凸面则进行研磨和抛光。为了获得最佳性能，透镜的较平一侧应面向光源。请注意，尽管B270基底在380-2100纳米范围内具有透光性，但这些透镜是为可见光波长设计的；其他波长的性能在以下表格中为每个透镜提供了焦距偏移图。我们提供带有SM05（0.535"-40）、SM1（1.035"-40）和SM2（2.035"-40）螺纹的加厚保持环，这些保持环在安装这些透镜时为扳手提供了额外的间隙（有关更多信息，请参阅镜头安装指南标签）。对于要求更高的应用，我们推荐使用我们的CNC抛光精密非球面透镜（可提供N-BK7、S-LAH64或UV熔融石英基底），它们在设计波长下提供衍射极限性能。我们还提供在非球面侧带有抛光扩散表面的非球面聚光透镜。要了解哪种类型的透镜最适合您的应用，请参阅我们的透镜教程页面。来自M530L4 530纳米LED的光通过ACL5040U-A非球面聚光透镜聚焦到磨砂玻璃扩散器上。然后光束通过第二个ACL5040U-A透镜进行大致准直。LED的方形图像可以在扩散器表面看到。经过扩散器后，光束变得均匀。两个聚光透镜都安装在SCL04自定心透镜架上。 非球面聚光透镜，无涂层型号ACL108UACL1210UACL12708UACL1512UACL1815UACL2018UACL 2520UACL25416UACL3026UACL4532UACL 5040UACL50832UACL7560U直径（mm）10.0 12.012.715.018.020.025.025.430.045.050.050.875.0焦距 （mm）8.010.58.012.015.0 18.120.116.026.032.140.032.060.0焦点转移（原始数据） f/#b0.890.970.700.890.931.010.890.70 0.960.790.890.700.89通光孔径 9.010.811.413.516.218.022.522.927.040.545.045.767.5后焦距（mm）473.77 1013127.31821261740数值孔径0.610.540.780.610.570.520.600.790.550.600.600.760.61中心厚度（mm） 5.85.87.58.08.28.012.014.011.918.521.025.030.0边缘厚度（mm）2.11.91.62.42.01.82.81.22.12.22.61.92.3非球面平凸透镜平凸透镜球面凸透镜平凸透镜平凸透镜平凸透镜 平凸透镜球面凸透镜平凸透镜球面凸透镜 平凸透镜球面凸透镜平凸透镜建议的镜头卡口 LMR10(/M)LH1(/M)LMR05(/M)LMR15(/M) LMR18(/M)LMR20(/M)LH1(/M)LMR1(/M)LMR30(/M)LMR45(/M)LH2(/M)LMR2(/M)LMR75 (/M)参考图纸这些透镜的焦距公差为±8%。这是制造公差，而不是波长依赖的焦距偏移。f/#定义为焦距除以透镜的清晰孔径。数值孔径（NA）是根据边缘光线角度的正弦值计算得出的。由于透镜的厚度，近轴近似不适用于确定边缘光线的路径。型号描述 ACL108U非球面聚光透镜，Ø 10 mm，f=8 mm，NA=0.61，无涂层ACL1210U非球面聚光透镜，Ø 12 mm，f=10.5 mm，NA=0.54，无涂层ACL12708U非球面聚光透镜，Ø 1/2“，f=8 mm，NA=0.78，无涂层ACL1512U非球面聚光透镜，Ø 15 mm，f=12 mm，NA=0.61，无涂层ACL1815U非球面聚光透镜，Ø 18 mm，f=15 mm，NA=0.57，无涂层ACL2018U非球面聚光透镜，Ø 20 mm，f=18.1 mm，NA=0.52，无涂层ACL2520U非球面聚光透镜，Ø 25 mm，f=20.1 mm，NA=0.60，无涂层ACL25416U非球面聚光透镜，Ø 1“，f=16 mm，NA=0.79，无涂层ACL3026U 非球面聚光透镜，Ø 30 mm，f=26 mm，NA=0.55，无涂层ACL4532U非球面聚光透镜，Ø 45 mm，f=32.1 mm，NA=0.60，无涂层ACL5040U非球面聚光透镜，Ø 50 mm，f=40 mm，NA=0.60，无涂层ACL50832U非球面聚光透镜，Ø 2“，f=32 mm，NA=0.76，无涂层ACL7560U非球面聚光透镜，Ø 75 mm，f=60 mm，NA=0.61，无涂层 非球面聚光透镜，AR涂层：350-700nm型号 ACL108U-AACL1210U-AACL12708U-AACL1512U-AACL1815U-AACL2018U-AACL2520U-AACL25416U-AACL3026U-AACL4532U-AACL5040U-AACL50832U-A ACL7560U-A直径（mm）10.012.012.715.0 18.020.025.025.430.045.050.050.875.0焦距（mm）8.010.58.012.015.018.120.116.0 26.032.140.032.060.0焦点转移（原始 数据）f/#b0.890.970.700.890.931.010.890.700.960.790.89 0.700.89通光孔径9.010.811.4 13.516.218.022.522.927.040.545.045.767.5后焦距（mm）473.77101312 7.31821261740数值孔径0.610.540.780.610.570.520.600.790.550.600.600.760.61中心厚度（mm）5.85.87.5 8.08.28.012.014.011.918.5

CIMA高光谱共聚焦显微镜 CIMA是专为研究人员开发下一代纳米材料而设计的，例如用于细胞成像的上转换纳米粒子。 CIMA独特的平台在400纳米到1700纳米之间提供卓越的光谱分辨率：在可见光范围内低于0.2纳米，在红外范围内低于0.6纳米。搭载一个市场上速度最快、灵敏度最高的相机，振镜扫描头以高于每秒300光谱的采集速度而自豪。 CIMA提供三种采集模式：共聚焦高光谱成像、多光谱荧光成像和反应杯中样品的发射光谱。 Photon公司提供最先进的光学分析解决方案。其基于布拉格光栅的滤波专利技术主要应用于其高光谱成像平台，并创造了覆盖可见光和近红外光谱范围的宽谱可调谐滤波器。从太阳能电池到活体细胞，其快速高光谱成像系统为最具挑战性的工业问题提供了解决方案，并让研究人员获得光学和光子仪器的最新创新。除了公认的高光谱显微镜和宽场系统外，Photon公司还开发了独特的近红外相机，特别适合工业应用。作为高光谱成像和滤波领域的先驱者，Photon公司是由其客户对超越测量和分析极限的愿望所驱动的。文献资料 [1] Emissivity retrieval from indoor hyperspectral imaging of mineral grains[2] Regional variation in human retinal vessel oxygen saturation [3] Nonrigid registration with free-form deformation model of multilevel uniform cubic B-splines: application to image registration and distortion correction of spectral image cubes [4] Modified fuzzy c-means applied to a Bragg grating-based spectral imager for material clustering [5] Evaluation of unmixing methods for the separation of Quantum Dot sources如需索取更多资料请联系佰泰科技有限公司电子邮件联系电话：或直接联系 常经理

特性模块化的变焦透镜系统，用于机器视觉和其它成像应用6.5X系统可以提供0.09到18.0倍的放大倍率（核心透镜具有6.5倍的放大调节范围）12X系统可以提供0.07到28.0倍的放大倍率（核心透镜具有12倍的放大调节范围）工作距离为36 - 356毫米可以兼容我们的C安装座CCD和CMOS相机0.15 - 91毫米的视场（请参看视场标签了解细节）这些变焦透镜机器适合高放大率的机器视觉和成像应用，它们能够良好地在光学性能和大变焦范围之间取得平衡。我们的模块化变焦透镜系统包含一个0.7 - 4.5X的变焦镜头（6.5X变焦范围）或一个0.58 - 7X的变焦镜头（12X的变焦范围），0.50X、0.67X、1X、1.33X和2X伸缩套筒以及可选的0.25X、0.5X、0.75X、1.5X和2.0X放大透镜转接件。这些元件组合在一起构成6.5X透镜系统后，放大率为0.09 - 18，放大调节范围为6.5X，而构成12X系统后，放大率为0.07 - 28，放大调节范围为12X。 在调节放大倍率（变焦）时，只需旋转透镜套筒上的旋转环即可，即便透镜安装在V形压块中亦可以调节。请注意，每次只能使用一个放大镜头附加透镜。放大率计算系统的净放大率M（M=像尺寸/物尺寸）等于放大镜头附加透镜的放大率、变焦透镜（根据实际设置值）的放大率和伸缩套筒的放大率的乘积。例如，如果在最大放大倍率7X时使用12X变焦镜头、2X透镜框和一个2X伸缩套筒，最大系统放大率为2× 7× 2=28。请参看规格标签了解每个透镜组合的最大和最小放大率。在使用这些镜头时，我们也提供C安装座转接件（单独出售），可以兼容我们的C安装座CCD和CMOS相机，或任何其它标准C安装座相机。我们还提供带一个F卡口安装座的2X伸缩套筒。请注意，变焦透镜必须与一个伸缩套筒一起使用（否则图像不能被聚焦），而放大透镜转接件则是可选用的。 示例图像这里显示的图像都是用Thorlabs公司的DCC1224C彩色CCD相机、MVL20A伸缩套筒、MVL12X3Z变焦透镜和MVL12X20L放大透镜框拍摄的。 点击放大智能手机上LCD屏幕的像素（213微米× 170微米的视场，放大率为28X，LCD屏幕分辨率为326像素/英寸） 点击放大Damaged end of a 位于陶瓷套管中的一根Ø 50微米纤芯多模光纤的损伤末端，放大倍率为28X（倾斜照明）。 点击放大2.56毫米 x 2.05毫米的视场（2.32X的放大率），同轴照明CCD传感器和Thorlabs公司DCC1224C相机周围电路板的远视点击放大267微米 x 213微米的视场（~22X的放大率），同轴照明CCD传感器和Thorlabs公司DCC1224C相机周围电路板的近视