手持长距离显微镜

日本西格玛长工作距离显微物镜可以使用于同轴观察系统或激光导入光学系统等，是无限共轭的长工作距离物镜。可用于显微镜观察，也可用于可见激光的会聚。?可见谱区（400?00nm）内校正色差。?EPL/EPLE物镜结构轻巧，用于自动对焦等，能够提高物镜驱动机构（SFS-OBL/SFAI-OBL）的响应速度。注意：?将物镜使用于激光加工时，请将入射光束直径（1/e2）扩展到瞳径的一半左右时使用。入射光束过细时，不能得到很小的聚光光斑，而且激光的能量密度会变高，还有可能损伤物镜。?使用物镜进行激光加工时，加工溅出的粉末可能会弄脏物镜的镜面。请确保充分的工作距离（WD）或插入薄的保护镜片，不要弄脏物镜。?倍率为使用f＝200mm成像镜时的数值。使用其他厂商的成像镜时，倍率有可能不同。首先要确认使用成像镜的焦距，从成像镜焦距和物镜焦距的比例来求出实际倍率。外形图技术指标透过率波长特性（参考数据）

产品优势为了解决传统显微镜工作距离短的问题，能够在现代科研中安全应对有毒有害、挥发性样品、真空观察、高速动态观察、整体样品的现场局部观察等情况，徕科光学推出的超长工作距离数码显微镜系统LK-CC6000，能够弥补传统短距离显微镜在实际应用中的不足。本型号超长工作距离数码显微镜系统LK-CC6000采用MAKSUTOV-CASSEGRAIN折反射原理，彻底突破显微镜的光学固有限制。可以在0.1米-2米之内得到样品的大景深图像。最高分辨率达到1μ。彻底解决传统光学系统大倍数与大景深和大工作距离不能共存的问题，超长工作距离数码显微镜系统LK-CC6000是常规镜头的景深的5倍（非合成景深）以上。可以轻松的对样品不同状态进行优质成像，得到平面优质图片，并通过测量模式，准确测量二维空间尺寸。在光学倍数放大范围内，不仅能够获得与电镜相同的超大景深和光学细节，还能提供电镜所没有的多种照明观察方法和真实色彩。在得到优质平面图像的同时。超长工作距离数码显微镜系统LK-CC6000选配还能实现超高速相机模式观察，达到每秒4000帧-20000帧的显微观察，实现对高速运动物体的微观尺度的量化检测。超长工作距离数码显微镜系统LK-CC6000拥有国产光学显微镜中的创新技术，其所具备的性能不逊于国际水平，但其价格却不足国际同类产品的一半，获得了我国众多科教机构、企业的好评，在提高科研效率的基础上，又降低了科研成本，极大提升了相关科研、教学、生产检测水平。下图产品实景图：下图为现场安装、培训实景图：下图为合作伙伴情况：下图为服务站分布图：产品介绍产品优势多种工作模式：低速长焦显微测试、高速图像冻结测试、高速显微全程测试、运动图像轨迹追踪。灵活的现场检测高倍长焦距距离可倾斜观察 （观察距离1cm-3cm)实验室自由状态显微观察（10cm-200cm）普通镜头多角度观察成像基础部件—CCD/COMS芯片组优质的成像系统是获得高清晰显微图片基础，优质的成像系统应包括：高分辨率，优质色彩还原，低噪音，良好的操作性以及动态图像HDR功能和匹配的图像获取速度（超高速相机）。超长工作距离数码显微镜系统LK-CC6000提供的CCD系统采用目前最先进的科学级高解晰度大面阵 CCD/CMOS图像传感器，由SONY制造提供，配合专业级DSP后端处理电路，以及顶级专业的高性能色彩引擎Ultra-FineTM数字优化处理技术、专利降噪技术和动态HDR功能使用户轻松体验到专业摄像产品的带来的效果，低成本的超高速相机方案，更是将试验手段提升至超高速微米量级的尺度。 无HDR功能局部高亮，细节丢失 有HDR功能，整体均匀，细节清晰先进的显微光电系统超长工作距离显微系统光路图电动变倍调节器及无线接收装置高分辨率超长工作距离显微镜系统镜头参数超长工作距离显微镜系统LK-CC6000参数(参数根据用户可定制)： 工作距离(W.D)：200mm------- 2000mm 视场范围(FOV)：0.65mmx0.4mm -- 6mmx4mm 最小视角：0.7° 最高分辨率： 3.5um （200mm工作距离) 视场大小 1MM） 7um （500mm工作距离) 视场大小 1.5MM） 15um （1000mm工作距离) 视场大小 3MM 设备仪器配置： ■ 超长工作距离显微镜镜体（蓝光窄带滤镜内置） ■ 动态图像标定测量系统（在任何距离上5秒钟确定标尺） ■ 高分辨率成像（USB3.0高速传输/HDMI高速传输/超高速相机） ■ 带拍照测量等功能操作软件 ■ 显示器或电脑 ■ 各类定制光源或减光板 ■ 电动变倍控制单元 ■ 各种可调节平台底座（根据客户要求选配）正确匹配的各类光源超长工作距离显微镜系统LK-CC6000所采用的照明装置，均为机器视觉系统所用光源。具有光谱范围广，色彩真实，形态多样，长寿命（大于3万小时），根据不同用途，有多种结构设计，能组建复式照明技术，配合数字消光技术（HDR)，能完美展现样品细节。同轴(coax Light)漫反射(dome)落射（Ring Light)典型方案设计与实际作图1、实际样品位置2、现场实际工作图2、超长工作距离显微系统+高速摄影 用于高频捕捉典型应用-深凹坑顶部典型应用-有毒/有害/挥发性样品典型应用-试验机/真空腔体实时观测国内部分用户实际安装现场图 典型应用-液体实验实时观测高温燃烧室观察特种高温炉晶体生长观察材料试验机力学试验典型应用-试验机（某飞机研究所）实时观测留言或致电我们，获取更多方案。

u 采制多点无缝对接，自动化程度高。u 远近适宜，场景适应性强。u 人样分离，防人为干预。 适用范围主要适用于采样系统与制样系统距离较远或直接对接技术难度大的场合下的采制对接。 组成模块采制长距离对接主要由智能分矿封装系统、转运输送系统和智能上料系统组成。用户可根据不同的需求，选择不同的配置方案。 1.智能分矿封装系统。与采样系统对接，完成样品分矿集样、封装、称重、写码等功能。可选配采样端样桶转运单元，用于自动完成样桶的转运及暂存，并可与转运输送系统对接，实现样桶的自动转运。 2.转运输送系统。实现批量将存样桶从采样间输送到自动制样间，可选用小车转运及输送带转运两种方式。可根据采样间数量、距离灵活配置。转运小车可实现实时GPS定位、路径管理、视频监控、异常报警等功能，确保样桶转运过程中的安全性。 3. 智能上料系统。与转运输送系统进行对接，实现存样桶的自动运转、合样归批、暂存，并实现对归批后的样桶自动解锁开盖、翻转倒料等自动上料过程。 性能特点1.全自动完成，无人工干预。①从样品收集、封装，样品运转，合样归批，自动上料等过程全自动完成，效率高，监管有效；②全程无人参与，可有效避免样品在转运、存储过程中的安全问题。 2.安全性高，无管理盲点。①利用保密性强的存样桶作为煤样转运载体，确保样品的安全性；②样桶转运过程全程GPS定位转运小车，出现小车偏离行驶区域或异常停止情况，系统可自动报警；③样桶转运过程全程视频监控存样桶。 3.适应性强。①用户可根据需要，配置不同的方案；②样桶转运不受温度、湿度、气候等环境因素的影响；③样桶转运不受场地及空间条件限制；④长距离样品输送，适应性更广。

中图仪器SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪集光、机、电、计算机等技术于一体，利用激光干涉现象来实现非接触式测量，具有高精度、高分辨率、快速测量等优点。SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪结合不同的光学镜组，可实现线性测长、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度等几何参量的高精度测量。在SJ6000激光干涉仪动态测量软件配合下，可实现线性位移、角度和直线度的动态测量与性能检测，以及进行位移、速度、加速度、振幅与频率的动态分析，如振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等。产品配置SJ6000激光干涉仪系统具有丰富的模块化组件，可根据具体测量需求而选择不同的组件。主要镜组如下图所列，依次为线性镜组、角度镜组、直线度镜组、垂直度镜组、平面度镜组、自动精密转台。主要镜组图其中，线性镜组为标配，由线性干涉镜、线性反射镜和夹紧孔座构成。可满足线性位移设备的定位精度、重复定位精度、反向间隙的测量与分析，以及反向间隙修正和螺距补偿。产品功能（1）可实现线性、角度、直线度、垂直度、平行度、平面度、回转轴等几何参量的高精密测量；（2）可检测数控机床、三坐标测量机等精密运动设备其导轨的线性定位精度、重复定位精度等，以及导轨的俯仰角、扭摆角、直线度、垂直度等；（3）可实现对机床回转轴的测量与校准；（4）可根据用户设定的补偿方式自动生成误差补偿表，为设备误差修正提供依据；（5）具有动态测量与分析功能，包括位移分析、速度分析、加速度分析、振幅和频率分析等，可进行振动分析、丝杆导轨的动态特性分析、驱动系统的响应特性分析等；（6）支持手动或自动进行环境补偿。在机床领域中的应用1.测量机床导轨的直线度和平行度。导轨是机床中的重要零部件，直线度和平行度的误差会直接影响机床的加工精度和稳定性。激光干涉仪可以通过测量导轨上的干涉条纹来确定其直线度和平行度的偏差，从而指导后续的优化和调整。2.测量机床工作台的平面度和垂直度。机床工作台的平面度和垂直度直接影响工件的加工精度和质量。通过激光干涉仪测量工作台上的干涉条纹，可以快速发现工作台的不平整和非垂直状态，并及时进行调整和修正，确保工件的加工精度和稳定性。3.测量机床主轴的同心度和轴向垂直度。机床主轴的同心度和轴向垂直度是决定机床加工精度的关键因素。通过激光干涉仪测量主轴上的干涉条纹，可以准确判断主轴的同心度和轴向垂直度是否达到标准要求，从而为后续的机床调整和校准提供依据。4.其它除了上述应用，激光干涉仪还可以用于测量机床各个部件之间的相对位置和尺寸关系，从而检测和纠正机床的装配误差。此外，激光干涉仪还可以用于检测机床在运行过程中的变形和振动情况，及时发现机床的故障和异常状态，保证机床的稳定性和可靠性。对数控机床进行螺距误差补偿在计量检定领域的应用1、测长机检定传统的测长机示值误差主要采用量块进行校准，受环境因素影响较大，校准条件要求高，且量程大于1m的测长机需要分段校准，效率低，而使用激光干涉仪进行校准，不仅可以提高效率，还可通过环境补偿单元对空气温度、压力、湿度和材料温度进行补偿，提高校准精度。2、三坐标测量机示值误差测量随着三坐标测量机技术的更新和发展，使用传统的量块、球板等已经难以满足大型三坐标测量机的检测要求，激光干涉仪测量准确度高，测量范围大，测量数据丰富，适合测量三坐标各项几何误差。3、位移传感器检定利用SJ6000长距离高精度长度激光干涉测量仪对位移传感器检定成为发展趋势,其特点是测量精度高、反应速度快、易于数字化测量。在测量中设计一个精密导轨,将反射镜同被测传感器放在一起同步检测,从而形成对比，位移传感器自动检定系统与SJ6000激光干涉仪(标准)对定长位移进行测试对比,得出往复测试实验结果。4、影像仪定位精度测量影像仪传统检测方法采用线纹尺比对法进行，存在着检测精度低、测量系统误差大、成因分析功能缺失、改善方向不精准、 检测效率低下等问题。使用激光干涉仪可以对影像仪的定位误差进行快速检测，对测量数据进行运算分析，利用软件生产补偿文件快速实施二维平面多点位补偿，可大大降低设备制造过程中的精度检测难度、提升检测效率及补偿效率。

长距离数字显示器RDD，任何需要显示霍尼韦尔压力传感器的数据的应用环境关键特性和优点在于★从*大50英尺距离直接接受传感器RS232输出端的数据。★工厂提供的电缆线路可以简化安装过程。★通过9pin D型电缆和连接器与PLC或PC连接。★可以进行平台或者面板安装。

模块化组件，通过 testo UltraRange 长距离无线电技术传输testo UltraRange 长距离无线电技术: 和传统无线电技术相比，具有卓越的无线电距离和信号稳定性可与testo Saveris 基站和网关自由组合，以达到最大的应用范围易于安装、维护和调试该组件是 testo Saveris Pharma 环境监测系统的一部分。模块化系统可以记录和分析您的关键环境参数，如果违反限值，将立即发出警报提醒您并帮助优化流程。详情产品描述通信模块使得 testo 150 数据记录模块可以与多种通信技术相结合。根据应用的不同，用户可以使用现有的基础通信设施如 WLAN 或以太网，也可以使用 testo UltraRange 长距离无线电通信技术。通过加密的专用无线电技术，确保在建筑内封闭空间环境传输时出色通信范围和信号稳定性。产品包含适用于 testo Saveris 基站 V3.0 的testo UltraRange 长距离通信模块和网关，包括说明书。

长距离分布式光纤解调仪Vision Dual产品介绍DITEST光纤传感产品可快速准确地完成应变和温度测量。得益于其灵活的设置功能，DITEST测量系统能很好地适应各种测试和测量需求，具有BOTDA和BOTDR双模式。标准测量距离为60km，另有10km、20km、40km、80km可选。 产品特点高空间分辨率超长的测量距离超高的光学损耗预算BOTDA/BOTDR双模式产品参数BOTDABOTDR测量距离（每通道）60km（环路120km）45km（单端测量）内置通道数（可拓展）4通道，可外部拓展到20通道空间分辨率0.5~20m（可调）*1.5~20m（可调）距离采样间隔0.25m0.25m测量分辨率温度0.1℃，应变2με传感光纤标准单模光纤测量时间1~5分钟10~15分钟光学损耗预算14db（环路28db）10db工作温度0~45℃

开放式激光甲烷气体遥测仪是利用甲烷气体的近红外光谱吸收特征的仪器仪表，由激光收发装置 和反射装置组成。基于先进的开放式的可调谐半导体激光吸收光谱技术（TDLAS），主要原理是通过气体对特定波长光的吸收程度来实现对开放性的空间区域内气体浓度的检测。应用领域：广泛用于天然气开采平台、长输管站、集输场站、无人值守阀室、LNG接收站等长距离大范围 空间。项目参数检测气体甲烷、硫化氢检测技术可调谐半导体激光吸收光谱监测范围0~1000ppm*m检测距离可达2000m最低检出限甲烷：0.2ppmm（每100m光程）硫化氢：1ppmm（每100m光程）精确度±5%或±2%FS

XDS-2倒置生物显微镜配置长工作距离平场消色差物镜与大视野目镜与旋转摆入摆出式聚光镜，可拆卸式机械移动载物装置可以满足不同高度培养皿观察的需要。产品结构紧凑，操作部位设计合理，使观察者在操作仪器中感到轻松、舒适。产品适合于对细胞组织，透明液态组织的显微观察，也可以对培养皿中的培养组织进行动态显微观察。可应用于科研所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门。标准配置型号XDS-2目镜大视野WF10X(Φ20mm)物镜长距平场消色差物镜 PL L 10X/0.25长距平场消色差物镜PL L 25X/0.40长距平场消色差物镜 PL L 40X/0.60长距离平场消色差相衬物镜PL L 10X/0.25 PHP2目镜筒三目镜(倾斜30?,可全通光摄影) 调焦机构粗微动同轴调焦,粗动松紧可调,带锁紧和限位装置板,微动格值:2μm..转换器四孔(滚珠内定位)载物台双层机械移动式(尺寸:224mmX208mm,移动范围:112mmX79mm) 标本架适合放置Φ68mm或77mmX29mm培养器皿适合放置82mmX57mm培养器皿适合放置128mmX85mm的96孔培养器皿滤色片蓝滤色片绿滤色片磨砂玻璃拉板式相衬装置 对中望远镜10X拉板式相衬环板聚光镜升降可调, NA.=0.4,工作距离:50mm 光源6V 30W卤素灯,亮度可调选配件名称类别/技术参数编号 NO.目镜大视野WF16X(Φ11mm)1051016分划 10X(Φ20mm),格值0.1mm/格1120010转换器五孔(滚珠内定位)032001聚光镜超长工作距离,带滤色片座,工作距离:70mm 050006滤色片黄滤色片115003拉板式相衬装置 物镜长距离平场消色差相衬物镜PL L 25X/0.40 PHP22430125长距离平场消色差相衬物镜PL L 40X/0.60 PHP22430140拉板式相衬环板 25X/40X112005CCD接头 0.4X8120010.5X8120041X8120020.5X带分划尺,格值0.1mm/格812003摄像仪DV-1(带USB和Video输出DV-130 / 300 / 500 / 1000(带USB输出DV-380 / 520(带Video输出数码相机接头 CANON数码相机接头(A610,A620,A630,A640) 821001摄影装置 2.5X/4X变倍摄影装置带10X取景目镜 8400014X对焦摄影装置840002MD卡环840003PK卡环840004

长距离粘度计XL7-LR优点：我们了解远距离测量。安装具有各种形状和大小，并且储罐中的液位会发生巨大变化。因此有时我们会拉伸一些（或很多）以达到稳定。从微小的改动到几米的延伸。通过使用您现有的工厂布局，我们的设计师可以利用他们的知识和专业知识来打造完美的配合。这是一个常规过程，可提供开箱即用的粘度计。具有成本效益的解决方案我们使用先进的CAD和CFD（计算流体动力学）设施，根据您的应用信息和性能目标设计出经济高效的解决方案。无论挑战有多大，我们的设计团队都具有使“粘度计适合工厂”的丰富经验。像所有Hydramotion粘度计一样，它从开始就易于安装，节省时间和金钱并提供有价值的数据。卫生设计卫生粘度计对于卫生和无菌环境或存在污染风险的任何环境都是必不可少的：食品工业生物技术和制药业化妆品油漆和涂料系统材料符合1935/2004 / EC。至少所有湿部件均由316（1.4401）不锈钢制成。其他材料，包括耐腐蚀镍合金是可选的。还提供专业涂料，例如含氟聚合物。施工全焊接实心传感器杆具有开放式结构，易于清洁并消除了污染物收集器。焊缝光滑无裂纹。传感器表面的光洁度达到Ra 0.4？m。就地清洁所有XL7粘度计都是就地清洁（CIP）兼容的。过程连接XL7粘度计随附过程配件，以匹配设备上已经存在的连接。这包括任何尺寸或类型的卫生配件，包括快速释放的三夹固定装置，RJT，IDF，DIN，SMS，Varivent？和别的。经过认证：“ EX”认证每种类型的XL7粘度计都可作为本安（IS）版本提供，适用于北美的Div1 1类A组，符合：ATEX指令2014/34 / EU IECExEx ia IIC T1… T6 GaEx ia IIIC T135C Da（防尘认证）通过IS认证可以比防火安装更简单。Ex’ia’证书甚至允许在危险的0区环境中操作换能器。而且，由于传感器和安全区域之间的所有信号都是数字信号，因此两者之间的连接很简单，电缆可以很长的走线，并且只有一个安全屏障。规格：XL7 – LR规格性能范围在10个型号中，从0 – 1cP到0 – 10 9 cP测量时间1秒准确性读数的1％或+/- 1位数重复性读数的0.3％或+/- 1位数温度标准范围-50°C至150°CHT范围-50°C至400°C扩展范围温度高于150/400°C需订购*压力标准范围处理配件扩展范围订购极压*过程连接标准配件任何过程配件–所有法兰，螺纹，夹具，卫生特殊配件非标准过程连接到订单*电气连接电缆长度根据需要–不受长1000m的电缆长度的影响电缆类型任何标准仪器电缆功率VP处理器供电安全认证危险区域适用于防爆危险区域，爆炸性环境的所有仪器Ga Ex ia IIC T1… T6施工全焊接，无缝隙材料头SS316（EN 1.4401）配件按要求传感器标配SS316（EN 1.4401）和SS316L（EN 1.4404）传感器/配件选项合金C22（EN 2.4602）合金C276（EN 2.4819）S32750双相钢（EN 1.4410）特殊材料：非标材料订购*表面处理标准N6 0.8镭完成选项含氟聚合物电抛光电镀的特殊表面处理非标准面漆选项和涂料订购*防护标准IP67软件ViscoLink数据查看和记录PC软件*特别行动我们专门的特种操作部门常规提供仪器规格和尺寸的定制变体由于Hydramotion的政策是持续开发和改进其产品，因此某些规格可能会更改，恕不另行通知。

NS3500三维激光共聚焦显微镜NS-3500是一种精确、可靠的三维(3D)测量高速共焦激光扫描显微镜(CLSM)。通过快速光学扫描模块和信号处理算法实现实时共焦显微图像。在测量和检测微观三维结构，如半导体晶片，FPD产品，MEMS设备，玻璃基板，材料表面等方面拥有无可比拟的解决方案。 Features & Benefits（性能及优势）：高分辨无损伤光学3D测量 自动倾斜补偿实时共焦成像 简单的数据分析模式多种光学变焦 双Z扫描大范围拼接 半透明基材的特征检测实时CCD明场和共聚焦成像 无样品准备自动聚焦 Software (软件）：Application field（应用领域）：NS-3500是测量低维材料的有前途的解决方案。可测量微米和亚微米结构的高度，宽度，角度，面积和体积，例如-半导体:IC图形，凹凸高度，线圈高度，缺陷检测，CMP工艺- FPD产品:触摸屏屏幕检测，ITO图案，LCD柱间距高度- MEMS器件:结构三维轮廓，表面粗糙度，MEMS图形-玻璃表面:薄膜太阳能电池，太阳能电池纹理，激光图案-材料研究:模具表面检测，粗糙度，裂纹分析Specifications：ModelMicroscope NS-3500备注Controller NS-3500E物镜倍率10x20x50x100x150x观察/ 测量范围 水平 (H): μm140070028014093垂直 (V): μm105052521010570工作范围: mm16.53.10.540.30.2数值孔径(N.A.)0.300.460.800.950.95光学变焦x1 to x6总放大倍率178x to 26700x观察/测量光学系统 针孔共聚焦光学系统高度测量测量扫描范围精细扫描 : 400 μm (and/or) 长扫描 : 10 mm [NS-3500-S]注 1长扫描 : 10mm [NS-3500-T]显示分辨率0.001 μm重复率 σ0.010 μm注 2宽度测量显示分辨率0.001 μm重复率 3σ0.02 μm注 3帧记忆像素1024x1024, 1024x768, 1024x384, 1024x192, 1024x96单色图像12 bit彩色图像8-bit for RGB each高度测量16 bit帧速率表面扫描20 Hz to 160 Hz线扫描~8 kHz自动功能自动增益激光共焦测量光源波长 405nm输出~2mW激光等级Class 3b激光接收元件PMT (光电倍增管)光学观察光源灯10W LED光学观察照相机成像元件1/2” 彩色图像 CCD 传感器记录分辨率640x480自动调整增益, 快门速度, White balance数据处理单元专用 PC电源电源电压100 to 240 VAC, 50/60 Hz电流消耗500 VA max.重量显微镜Approx. ~50 kg(Measuring head unit : ~12 kg)控制器~8 kg隔振系统有源隔离器Option精细和长距离扫描仪的双重扫描模式仅适用于NS-3500-S（单镜头类型）。 注1:精细扫描由压电执行器（PZT）执行。注2 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（步长1μm）进行100次测量。 注 3 :以100×/ 0.95物镜对标准样品（5μm间距）进行100次测量。Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜信息由上海巨纳科技有限公司为您提供，如您想了解更多关于Nanoscope system NS3500三维激光共聚焦显微镜报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

磁滞回线实验，YGP-6230简介YGP-6230型磁滞回线实验是一款专门用于测量磁性材料磁学性能的实验项目。它主要利用电磁感应法，通过测量铁磁材料在外加磁场下的磁化特性，来确定磁滞回线、饱和磁感应强度、矫顽力等参数。磁滞回线是铁磁材料最明显的特征，根据磁滞回线的形状，可将铁磁材料分成软磁和硬磁两类（前者磁滞回线狭长，矫顽力、剩磁和磁滞损耗均较小；后者磁滞回线较宽，矫顽力大，剩磁强）。特点采用高稳定性和准确度的DDS信号发生器采用高精度频率显示器采用编码器调节频率，经久耐用提供两种不同的实验样品实验内容理解磁性材料的磁滞回线和磁化曲线的原理。测绘磁性材料的基本磁化曲线和磁滞回线。计算磁性材料的饱和磁感应强度Bs、剩磁Br和矫顽力Hc。研究比较不同频率的磁滞回线。研究比较不同磁性材料的磁滞回线形状居里温度实验，YMP-6118简介YMP-6118型居里温度实验装置是一种专门用于测量磁性材料居里点的实验仪器。对于铁磁物质来讲，由于有磁畴的存在，因此在外加的交变磁场的作用上将产生磁滞现象，磁滞回线就是磁滞现象的主要表现。如果将铁磁物质加热到一定的温度，由于金属点阵中的热运动的加剧，磁畴遭到破坏时，铁磁物质将转变为顺磁物质，磁滞现象消失，铁磁物质这一转变温度称为居里点。本实验装置就是将环形铁磁材料，其上绕有两个线圈N1和N2，其中N1为励磁线圈，给其中通入交变电流，提供使环形样品磁化的磁场。将绕有线圈的环形样品置于温度可控的温控装置中以改变样品的温度，通过观察样品的磁滞回线是否消失来判断其铁磁性消失，或者通过测定次级积分电路感应电动势随温度变化的曲线来推断其铁磁性消失，从而确定样品的居里温度。特点采用高稳定性和准确度的DDS信号发生器采用数字编码器调节频率，经久耐用提供多种不同的实验样品温控系统利用半导体制冷片进行加热及制冷，可以快速升温和降温开放式设计，提供多个通用的温度插孔，用户可用来测量多种温度传感器，具有很好的拓展性。实验内容理解磁性材料的磁滞回线和磁化曲线的原理。了解铁磁物质由铁磁性转变为顺磁性的微观机理。学习测定居里温度的原理和方法。测定铁磁样品的居里温度。巨磁电阻效应实验装置，YMP-6110简介巨磁阻效应是指磁性材料的电阻率在有不同大小外磁场作用时存在巨大差异的现象。巨磁阻是一种量子力学效应，它产生于层状的磁性薄膜结构，它是由铁磁材料和非铁磁材料薄层交替叠合而成。当铁磁层的磁矩相互平行时，载流子与自旋有关的散射最小，材料电阻最小。当铁磁层的磁矩为反平行时，与自旋有关的散射最强，材料电阻变大。YMP-6110巨磁电阻实验装置包含4个实验模块：巨磁电阻基本特性测量模块、巨磁电阻测量电流模块、巨磁电阻角位移测量模块和巨磁电阻磁卡读写模块。学生可以通过此实验的学习了解并掌握巨磁阻效应原理及常见应用。特点丰富的实验模块，涵盖巨磁阻效应原理学习及巨磁电阻常见应用学习采用通用实验电源，操作简便可升级为数字化实验实验内容了解GMR效应的原理；测量GMR模拟传感器的磁电转换特性曲线；测量GMR的磁阻特性曲线；测量GMR开关（数字）传感器的磁电转换特性曲线；学习巨磁电阻传感器定标方法，计算巨磁电阻传感器灵敏度；用GMR传感器测量通电螺线管的磁场分布曲线；用GMR传感器测量导线电流；用GMR梯度传感器测量齿轮的角位移，了解GMR转速（速度）传感器的原理；了解通过GMR传感器实现磁卡记录与读出的原理。微波光学综合实验，YMP-6112简介微波是一种频率范围在300MHz-3000GHz的电磁波，具有波的特性。本实验装置通过微波的衍射、干涉和偏振等特性，来研究微波的波动特性。YMP-6112微波光学综合实验装置正是利用微波的产生、传输和接收，配合分光计结构以及一些附件来进行微波波动特性的研究。从信号源发出的微波，经过中心平台上的单/双缝，偏振板等结构后，出现衍射、干涉和偏振等现象，再由接收器接收信号，验证微波的波动特性。特点丰富的实验内容几乎囊括波动特性的所有实验氧化发白的铝型材框架结构设计，易于安装和拆解，且方便安装各种实验模块采用数字式微波功率计，测量精准便捷设计采用cm级别的微波，提升了尺度，便于实验的观测和分析微波功率衰减器，可自主调节微波发射强弱采用小功率微波，确保实验安全实验内容通过微波的反射实验来学习与掌握微波的波动理论微波的单缝衍射实验微波的干涉特性和波长计算实验微波的驻波和波长计算实验微波的折射和材料的折射率计算实验微波的偏振实验微波的劳埃德镜测波长实验微波的布里-珀罗干涉和波长计算实验微波的迈克尔逊干涉和波长计算实验微波的偏振特性和布儒斯特角实验微波的布拉格衍射的实验微波在纤维中的传播特性实验原子力显微镜，YMP-6114描述原子力显微镜（AFM）采用对微弱力极其敏感的微悬臂作为力传感器（微探针），利用针尖与样品之间相互作用的原子力，最终获得样品表面的微观形貌。YMP-6114原子力显微镜采用特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动，使仪器性能更加稳定可靠。特点特有的卧式探头结构，克服了原有粗调与微调逼近机构的垂直蠕动稳定的三轴压电扫描器，保证扫描图像的保真与快速成像优化的检测与控制系统，获得更高的扫描分辨率、更好的重复性和更佳的图像质量完善的软件界面与功能，支持三维立体成像与纳米标注操作便捷、高速扫描、高稳定性与抗干扰能力应用同时适用于科学研究、本科生和研究生的教学实验及纳米技术产品的检测，广泛适用于各种金属/非金属、导体/非导体、磁性/非磁性材料样品的扫描检测。更多详情,请关注！

A-5XC倒置金相显微镜是一款经济实用型显微镜，其性价比高，在国内、外得到广泛的应用。l 使用专业的金相物镜及平场目镜，成像质量好，分辨率高，观察舒适；l 长距离平场消色差物镜，物镜距样品的距离长，不和样品干涉；l 最大放大倍数：1000倍(干镜头)；l 低手位粗、微调同轴调焦机构，带有粗调松紧调节装置；l 独有的超大机械移动平台；l 照明系统：落射式柯拉照明器，可变孔径光阑以及中心可调视场光阑；l LED照明，高亮度，长寿命；l 齐全的摄影摄像附件，对观察图像进行采集和保存，配合金相分析软件进行金相图像分析 l 操作简便，附件齐全。技术规格光学系统 有限远色差校正系统 观察筒 铰链式三目，45°倾斜，双边±5屈光度可调，瞳距调节范围：54-75mm，固定式分光比，双目:三目=80%:20% 目镜 高眼点大视野平场目镜PL10X/18mm 高眼点大视野目镜WF15X/13 （选件）高眼点大视野目镜WF20X/10mm （选件）金相物镜 长工作距平场消色差专业金相物镜：5X，10X，20X，50X、100X（100X为选件） 转换器 内定位四孔转换器 内定位五孔转换器 （选件）调焦机构 低手位粗微调同轴调焦机构，粗动每转行程38 mm；微调精度2um，带松紧调节机构 载物台 三层机械移动平台，面积180mmX155mm，右手低手位控制，行程:75mm×40mm 金属载物台板，中心孔直径φ12mm 照明系统 反射式柯拉照明，带可变孔径光阑和中心可调视场光阑，自适应90V-240V宽电压 6V30W卤素灯（可选配单颗3W LED灯），光强连续可调 偏光装置 起偏镜和检偏镜均可移出光路，检偏镜插板可360°旋转 （选件）摄像装置 0.5X C型摄像接筒 物镜：长工作距平场消色差金相物镜 数值孔径NA工作距离mmLMPL5X 0.13WD15.5mmLMPL10X 0.25WD8.7mmLMPL20X 0.40WD8.8mmLMPL50X 0.60WD5.1mmLMPL100X （选件）0.80WD2.0mm仪器成套清单⑴仪器主机1台⑷目镜2个⑺柯拉照明系统1套⑽国标电源线1根⒁ 仪器防尘罩1个⑵目镜筒1组⑸测微尺1片⑻0.5X C型接口1个⑾备用灯泡1个⒂随机文件档案1套⑶物镜 4个⑹载物台板1片⑼滤色片4片⒀ 备用保险丝1支选配件A.目镜和物镜：各种放大倍率B.金相图像分析测量软件（基本型）C. 金相自动评级软件（专业型）D.电脑及打印机

自动化工业级原子力显微镜，带来线上晶片检查和测量Park Systems推出业内超低噪声的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体（尺寸200 mm和300 mm）提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Contact&trade 模式，即便是在结构柔软的样品，例如光刻胶沟槽表面，XE-Wafer可以实现无损测量。现有问题目前，硬盘和半导体业的工艺工程师使用成本高昂的聚焦离子束(FIB)/扫瞄式电子显微镜(SEM)获取纳米级的表面粗糙度、侧壁角度和高度。不幸的是，FIB/SEM会破坏样品，且速度慢，成本高昂。解决方案NX-Wafer原子力显微镜实现全自动化的在线200 mm & 300 mm晶体表面粗糙度、深度和角度测量，且速度快、精度高、成本低。益处NX-Wafer让无损线上成像成为可能，并实现多位置的直接可重复高分辨率测量。更高的精确度和线宽粗糙度监控能力让工艺工程师得以制造性能更高的仪器，且成本显著低于FIB/SEM。* 应用串扰消除实现无伪影测量 独特的解耦XY轴扫描系统提供平滑的扫描平台 平滑的线性XY轴扫描将伪影从背景曲率中消除 精确的特征仪表统计功能CD(临界尺寸)测量出众的精确且精密纳米测量在提高效率的同时，也为重复性与再现性研究带来高的分辨率和低的仪表西格玛值。* 精密的纳米测量媒介和基体亚纳米粗糙度测量凭借行业超低噪声和创新的True Non-ContactTM模式，XE-Wafer在最平滑的媒介和基体样品上实现最精确的粗糙度测量。精确的角度测量Z轴扫描正交性的高精度校正让角度测量时精确度小于0.1度。沟槽测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的腐蚀细节。精确的硅通孔化学机械研磨轮廓测量借助低系统噪声和平滑轮廓扫描功能，Park Systems实现了前所未有的硅通孔化学机械研磨(TSV CMP)轮廓测量。 Park NX-Wafer特点全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件，Park NX-Wafer让全自动图形识别和对准成为可能。自动测量控制自动化软件让NX-Wafer的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化，为您提供多位置分析。真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于高强度Z轴扫描系统，XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力，而非相互排斥力。 因此，在真正非接触模式下，探针与样品间的距离可以保持在几纳米，从而盖上原子力显微镜的图像质量，保证探针针尖的锋利度，延长使用寿命。 解耦的柔性XY轴与Z轴扫描器Z轴扫描器与XY轴扫描器完全解耦。XY轴扫描器在水平面移动样品，而Z轴扫描器则在垂直方向移动探针。该设置可实现平滑的XY轴测量，让平面外移动降到超低。此外，XY轴扫描的正交性和线性也极为出色。行业超低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面，Park推出行业本底噪声超低（ 0.5A）的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时，在如下情况下测量系统噪声： 0 nm x 0 nm扫描范围，停在一个点 0.5增益，接触模式 256 x 256像素选项高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能，自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据，自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能，成功率高达99%，高于传统的真空技术。设备前端模块(EFEM)实现自动晶体处理您可以为NX-Wafer加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证XE-Wafer用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。 长距离移动平台，助力化学机械研磨轮廓扫描该平台带有专有的用户界面，可支持自动化学机械研磨轮廓扫描和分析。平面外运动(OPM)在样品为5 mm时小于2 nm；10 mm时小于5 nm；50 mm时小于100 nm离子化系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡，便可以稳定地离子化带电物体，且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

Queensgate生产高速、高精度的压电式平台和皮米级分辨率的电容式传感器，用于最苛刻的纳米定位应用。专门从事要求高性能、高负载和高速的定制解决方案，通常适用于要求很高的环境。提供OP400物镜定位器和NanoScan SP纳米定位平台系列产品。最佳步进稳定及定位性能高通量筛选和分析是生物和材料科学成像的支柱。因此，OP400和SP系列的设计考虑到了速度，产品在全行程范围内可提供快速性能以及市场上较快的步进整定时间。这意味着高分辨率的长距离z–stacking在速度上迈入了新的领域。高速扫描会导致振荡，进而影响图像质量和z-stacking，甚至对纳米定位系统造成损坏。Queensgate产品具有高谐振频率；与Queensgate专有的数字控制技术结合，系统可以在没有振荡风险的情况下以同类最佳速度运行。有了Queengate的专业技术，不再需要由于系统不稳定或牺牲z-stack采集速度，而舍弃每个stack开始的图像。速度不会影响性能。SP系列有 400nm 和 600nm 行程范围可选，拥有同级较短行程产品相当或更优越的性能。OP400的线性度是典型压电式物镜定位器的两倍，同时具有良好的线性度和可重复性。这两种产品在实验中都具有极高的轴向分辨率，提供亚纳米分辨率。生物科学家认为，显微镜z轴的机械分辨率显然会高于其成像技术的光学分辨率。根据不同的分析方法，可检测或成像低至0.7nm的形态变化，是半导体或冶金样品表面检测的理想选择。这一系列操作都是通过集成的超灵敏电容式传感器实现的，无论移动速度或系统温度如何，传感器都能提供最高的定位灵敏度。轻松集成，助力实验成功尽管纳米定位设备的性能在市场上有很大优势，但相对于其系统的其他组件来说，用户几乎不需要校准这些纳米设备。产品的最高速度设置可与重达500g的物镜兼容，并为专业物镜提供二次校准。Queensgate的NPC控制器系列可完成其余工作。用户有理由相信Queensgate能够提供适合其实验需求且开箱即用的产品。 OP400和SP系列不仅易于设置，而且能够与各类显微镜兼容。OP400可兼容任何螺纹尺寸的显微镜鼻轮和物镜，包括32mm宽视场系统。NanoScan SP系列与所有的Prior Scientific倒置步进、直线电机平台兼容，也可兼容尼康，奥林巴斯和其他主流显微镜制造商的电动平台，以及东海希多和Okolabs的培养箱。此外，系统还可用于增强Prior的硬件PureFocus 850快速自动对焦系统的性能，为长时间延时实验提供 +/- 50nm 的聚焦稳定性。应用 共聚焦，超分辨，电生理，形貌测量等要求样品绝对稳定性的显微镜应用。

裂隙灯显微镜，是进行眼科检查必不可少的仪器。显微镜由照明系统和双目显微镜组成，它不仅能使表浅的病变观察得十分清楚，而且可以调节焦点和光源宽窄，做成“光学切面”，使深部组织的病变也能清楚地显现。 S4型裂隙灯显微镜属于手持款式，用于小动物眼科检查时，操作非常灵活。 配备了四种大小的光斑直径，在明室和暗室均可使用； 光学系统设计合理，眼部光学切面清晰，亮度高，重量轻，携带方便，操作简单； 标配200W像素的数码相机，可连接电脑进行图像采集； 可选配500W像素的相机，带软件，可连接到电脑进行图像处理。 适用于大鼠、小鼠、兔子、猴子、比格犬等多种动物；主要技术参数： 总放大倍数：10x 目镜、16x 目镜、1x 物镜（10x 16x 物镜可选） 屈光度补偿：±5D 瞳距：45-70mm 裂隙宽度：0-10mm，连续可调 工作距离：78mm 光斑直径：φ0.1，φ1，φ3，φ10mm 裂隙高度：φ0.2，φ0.3，φ5，φ10mm 滤光片：隔热片，无赤片，钴兰片 照明旋转角度：水平圆周±30° 净重：750g 电源；7.4V 680mAh（锂电池），工作时间：充满电4小时 光源：白色LED 输入电压：220V/50Hz 请关注玉研仪器的更多相关产品。如对产品细节和价格感兴趣，敬请来电咨询！

? 自动化工业级原子力显微镜，带来线上晶片检查和测量Park Systems推出业内噪声最低的全自动化工业级原子力显微镜——XE-Wafer。该自动化原子力显微镜系统旨在为全天候生产线上的亚米级晶体（尺寸200 mm和300 mm）提供线上高分辨率表面粗糙度、沟槽宽度、深度和角度测量。借助True Non-Contact™ 模式，即便是在结构柔软的样品，例如光刻胶沟槽表面，XE-Wafer可以实现无损测量。? 现有问题目前，硬盘和半导体业的工艺工程师使用成本高昂的聚焦离子束(FIB)/扫瞄式电子显微镜(SEM)获取纳米级的表面粗糙度、侧壁角度和高度。不幸的是，FIB/SEM会破坏样品，且速度慢，成本高昂。? 解决方案NX-Wafer原子力显微镜实现全自动化的在线200 mm & 300 mm晶体表面粗糙度、深度和角度测量，且速度快、精度高、成本低。? 益处NX-Wafer让无损线上成像成为可能，并实现多位置的直接可重复高分辨率测量。更高的精确度和线宽粗糙度监控能力让工艺工程师得以制造性能更高的仪器，且成本显著低于FIB/SEM。? 应用l 串扰消除实现无伪影测量 独特的解耦XY轴扫描系统提供平滑的扫描平台 平滑的线性XY轴扫描将伪影从背景曲率中消除 精确的特征特亮和行业领先的仪表统计功能 卓越的工具匹配l CD(临界尺寸)测量出众的精确且精密纳米测量在提高效率的同时，也为重复性与再现性研究带来最高的分辨率和最低的仪表西格玛值。l 精密的纳米测量媒介和基体亚纳米粗糙度测量凭借行业最低的噪声和创新的True Non-ContactTM模式，XE-Wafer在最平滑的媒介和基体样品上实现最精确的粗糙度测量。l 精确的角度测量Z轴扫描正交性的高精度校正让角度测量时精确度小于0.1度。l 沟槽测量独有的True Non-Contact模式能够线上无损测量小至45 nm的腐蚀细节。l 精确的硅通孔化学机械研磨轮廓测量借助低系统噪声和平滑轮廓扫描功能，Park Systems实现了前所未有的硅通孔化学机械研磨(TSV CMP)轮廓测量。? Park NX-Wafer特点l 全自动图形识别借助强大的高分辨率数字CCD镜头和图形识别软件，Park NX-Wafer让全自动图形识别和对准成为可能。l 自动测量控制自动化软件让NX-Wafer的操作不费吹灰之力。测量程序针对悬臂调谐、扫描速率、增益和点参数进行优化，为您提供多位置分析。l 真正非接触模式和更长的探针使用寿命得益于专利的高强度Z轴扫描系统，XE系列原子力显微镜让真正非接触模式成为可能。真正非接触模式借助了原子间的相互吸引力，而非相互排斥力。因此，在真正非接触模式下，探针与样品间的距离可以保持在几纳米，从而盖上原子力显微镜的图像质量，保证探针尖端的锋利度，延长使用寿命。l 解耦的柔性XY轴与Z轴扫描器Z轴扫描器与XY轴扫描器完全解耦。XY轴扫描器在水平面移动样品，而Z轴扫描器则在垂直方向移动探针。该设置可实现平滑的XY轴测量，让平面外移动降到最低。此外，XY轴扫描的正交性和线性也极为出色。l 行业最低的本底噪声为了检测最小的样品特征和成像最平的表面，Park推出行业本底噪声最低（）的显微镜。本底噪声是在“零扫描”情况下确定的。当悬臂与样品表面接触时，在如下情况下测量系统噪声： 0 nm x 0 nm扫描范围，停在一个点 0.5增益，接触模式256 x 256像素l 选项高通量自动化自动探针更换(ATX)借助自动探针更换功能，自动测量程序能够无缝衔接。该系统会根据参考图形测量数据，自动校正悬臂的位置和优化测量设定。创新的磁性探针更换功能，成功率高达99%，高于传统的真空技术。设备前端模块(EFEM)实现自动晶体处理您可以为NX-Wafer加装自动晶片装卸器(EFEM或FOUP或其他)。高精度无损晶片装卸机械臂能够百分百保证XE-Wafer用户享受到快速且稳定的自动化晶片测量服务。长距离移动平台，助力化学机械研磨轮廓扫描该平台带有专有的用户界面，可支持自动化学机械研磨轮廓扫描和分析。平面外运动(OPM)在样品为5 mm时小于2 nm；10 mm时小于5 nm；50 mm时小于100 nm离子化系统离子化系统可有效地消除静电电荷。由于系统随时可生产和位置正离子和负离子之间的理想平衡，便可以稳定地离子化带电物体，且不会污染周边区域。它也可以消除样品处理过程中意外生成的静电电荷。

随着技术的发展和需求的更迭升级，目前市面上各种样品逐渐变得复杂且多样，这要求显微镜具备高景深观测功能，检测人员在面对复杂的样品时，也能快速对焦，浏览全局。面对市场的需求，麦克奥迪作为国内知名的显微镜品牌，其自研自产的Easyzoom系列产品是性能极高的超景深3D显微镜，在半导体、汽车金属、化工、材料等行业的样品检测和数据分析方面具备诸多优势：🔺 Easyzoom超景深3D显微镜NO.13D效果的超景深观察 Easyzoom能提供微观领域的超景深观测,即全面的三维观测。面对更大的样品，只需要按下显微镜上的超景深按钮即可提高景深，实现全面观测。方便快捷的3D软件也可以快速测量出样品的长、宽、高、体积等三维数据，让检测人员不再拘泥于繁琐的测量步骤，最大程度上提高观察和测量的时效性。🔺 3D效果的超景深观察 NO.2无缝切换高低倍率使用Easyzoom，它只需一个变焦镜头就可实现50倍到5800倍之间连续变化，不管是从低倍率切换到高倍率，还是由高倍率切换至低倍率，都无需重新查找焦点，依然能清晰成像。🔺 单镜体实现50~5800 倍的放大 NO.3多角度旋转实现全景观察Easyzoom可在150度范围内轻松地旋转和倾斜，能灵活地对大部分难于观察的样品进行大范围多角度的图像捕捉。检测人员可以从不同的方向探索，揭秘样品中隐藏的细节。🔺 150 度范围内倾斜NO.4将碰撞样品的风险概率将至最低如果在使用显微镜时，镜头和样本距离太近，物镜可能会碰撞样品，从而造成损坏。Easyzoom提供大景深和长工作距离物镜的多种选择，即使是大型、不规则样品也能进行检测，造成损失的几率较小。🔺 避免碰撞样品的长工作距离NO.5"HDR"一键完成清晰观察由于样品的材质、表面状况或使用的照明方法等的不同，呈现的结果可能也会有所差异。Easyzoom的"HDR"（高动态范围）功能，利用变换曝光拍摄的多张图片进行合成，可修正样品表面的亮度问题，减少光晕，打造清晰影像。🔺 高速图像采集与处理 NO.6超高的真彩色再现性能Easyzoom采用先进的镜头生产工艺和镀膜技术，让检测人员最大程度体验样品的真色彩。半复消色差物镜也更好地提升了分辨率和真色彩的再现。这是传统显微镜不具备的功能。🔺 真彩色再现NO.7快速创建报表检测的最后，Easyzoom系统中的所有数据和分析都可以快速集成到报告生成器中。这些报告可以自动捕获包括日期、时间、镜头、放大率和各种测量数据，使检测人员等待结果的时间大大缩短。🔺 报表创建 NO.8行业应用Easyzoom超景深3D显微镜是麦克奥迪光学的代表作品之一，由于它的超长距离的景深，高低倍率无缝切换，3D测量、超高清成像等功能，被广泛应用于半导体、汽车金属、化工、材料、电子传输和医疗等行业的观察与测量中，让企业产品的检测效率获得较大的提升，给各行各业带去了极大的便利。🔺 行业应用近年来，随着国内需求带动技术和制造设备领域持续突破,我国在光学显微镜领域取得不少进展，麦克奥迪Easyzoom超景深3D显微镜应运而生，仅一台显微镜产品，集所有的观察、记录、测量和报告功能于一体，其功能之强大、操作之便捷，大大节约了样品检测的时间和空间，也让检测效果更精准更全面，是目前市场用途最广泛的数码产品之一。

标准成像真正的非接触模式AFM接触模式AFM侧向力显微镜（LFM)相位成像轻敲式AAFM电性能导电AFMI-V谱线扫描开尔文探针显微镜（SKPM/KPM)高电压SKPM扫描电容显微镜（SCM)扫描电阻显微镜（SSRM)扫描隧道显微镜 （STM)扫描隧道光谱 （STS)时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)磁性能磁力显微镜 （MFM)可调外加磁场MFM 化学性能扫描电化学池显微镜（SECCM)扫描电化学显微镜 （SECM)电化学显微镜(EC-STM和EC-AFM)功能化探针的化学力显微镜热性能扫描热感显微镜(SThM)光学性能探针增强拉曼光谱 (TERS)时间分辨的光电流测绘 （Tr-PCM)介电/压电性能静电力显微镜 （EFM)动态接触式静电力显微镜（DC-EFM)压电力显微镜 （PFM)高电压PFM机械性能Pinpoint纳米力学映射力调制显微镜 （FMM)纳米压痕纳米刻蚀高电压纳米刻蚀纳米操纵压电力显微镜 （PFM)力测量力－距离（F-D)光谱力－体积成像热噪声法标定弹性系数

Mageye 磁光手持显微镜 灵敏的磁光磁场传感器使常规 USB 显微镜能够看到磁场, Mageye 也是一台真正的磁场相机，用于拍摄不同磁化样品上的杂散磁场的高分辨率图像。USB 接口允许系统在几乎所有环境中均可使用。此外，与软件的集成创造了多种评估可能性。产品应用:质量控制（如磁条卡、磁编码器、焊缝、磁带录音带、操纵序列号，以及偶极和多极磁铁 取证（例如，恢复和分析底盘和武器上的序列号）地质学（矿物和陨石研究）功能性：在磁光传感器中使用法拉第效应使用线性偏振光 (LED) 的内部区域照明根据局部施加的磁场旋转磁光传感器中光的偏振平面局部分析使用第二个偏振滤光片改变强度使用高分辨率数码相机（显微镜相机）记录磁光图像产品参数:磁场的直接可视化分析磁性材料的极性、均匀性、分布和磁化特性磁场范围 0.01 至 130kA/m（0.1 至 1,600 Oe）传感器尺寸：max 8x8mmUSB 2.0 接口便携式和使用方便

IPM Scope手持式数字显微镜是一款价格合理的便携式数码显微镜。它集一台数码照相机、精密光学部件及 LED 照明于一体。该便携显微镜功能强大，能放大40-140倍，通过USB端口连接电脑，可在电脑屏幕查看放大图像，可以标签、标记、时间和测量尺度定义您的图像。通过升级视频软件，可获取捕捉即时影像和昆虫运动时序的能力。 IPM Scope手持式数字显微镜功能特性40 x 及 140 x 放大率在电脑屏幕查看放大图像包括软件，您可以以标签、标记、时间和测量尺度定义您的图像将静态图像存档或通过电邮发送需要将电脑进行连接操作，包括软件视频软件升级，具有捕捉即时影像和昆虫运动时序的能力 IPM Scope手持式数字显微镜订货指南订货号2860 IPM Scope手持式显微镜 订货号2860V 视频软件（升级版） 订货号2860UV IPM Scope紫外版 订货号2860MP IPM Scope-Mega Pixel 订货号2860HS 塑料马蹄形-3维图像装置 订货号2860MAC Mac版本软件

仪器由主机和控制系统、专用工具、操作软件及附件组成。主要用于化学、材料科学（纳米材料、高分子、聚合物、半导体等）、生命科学以及相关领域的研究工作，对各种材料、化工产品、生物制品、非金属矿及深加工产品等进行观测，并对其表面形貌进行分析。扫描隧道显微镜功能：恒流模式、恒高模式、I(Z)谱、I(V)谱原子力显微镜功能：形貌成像、相位成像、磁力显微镜、静电力显微镜、扩展电阻成像、开尔文探针显微镜、力－距离曲线、振幅－距离曲线、I(V)谱刻蚀功能：力刻蚀、电流刻蚀、矢量刻蚀

仪器简介：瑞士Nanosurf公司，全球知名的专业研发扫描探针显微镜制造商和技术服务供应商，在扫描探针显微镜领域有超过15年的研发经验，一直致力于新型扫描探针显微镜的创新性研发和制造。目前已推出新一代低噪音-快速扫描-超高稳定性的AFM 和大扫描范围Nanite AFM系统。瑞士Nanosurf公司承诺提供最高品质的服务和客户支持，同时还提供纳米技术的OEM 客户定制，外包等业务。easyScan 2原子力显微镜是瑞士Nanosurf公司在原有easyScan原子力显微镜基础上更新而来，增进了该原子力显微镜的便携性，精确性和可靠性，有更强的抗干扰能力。目前easyScan 系列原子力显微镜已经在50多个国家销售了近2000台。是工业质量控制，纳米材料研发者的完美工具。技术参数：easyScan2 AFM原子力显微镜： 1. 两种可供选择的原子力显微镜扫描头 (1) 大扫描范围 最大扫描范围：X和Y方向110um x 110um xy轴分辨率： 1.7nm 最大扫描范围： Z方向20um z轴分辨率： 0.34nm Z噪音标准（RMS）： 0.4nm(2) 高分辨率 最大扫描范围：X和Y方向10um*10um xy轴分辨率：0.15nm 最大扫描范围：Z方向1.8um z轴分辨率：0.027nm Z噪音标准（RMS）：0.07nm 扫描速度：1800个数据点/秒 传感半径： 15nm 典型负载： 10nN 扫描仪质量：350g 反馈回路宽带：3kHz 自动进场范围：5mm 没有使用危险的高电压2. 电子控制器 数据采集时，可以和任何标准计算计串行端口连接 三个轴都有16位的数据收集与控制系统 轴输出电压：+12V 扫描速度：1-20分/框 1024样品/直线 动态频率范围：15-300KHz 动态频率分辨率：15-300KHz 外部电源 功率消耗量25VA 电子控制器质量2.5kg 3. 软件 软件在Windows 操作系统上运行 测量数据可以实现可视化 不同的窗体的扫描数据可以被同时显示 线观察，点观察，三维观察 在线数学计算功能（减，平均值等等） 类似于粗糙度（Ra，Rq）、顶点剖面、厚度、距离和几何分析的数据分析 可以实现多数据输出 定制显示器、工作场所 安装非常简便主要特点： easyScan2 AFM原子力显微镜：允许快速的、在原位无破坏性的、高分辨率的处理控制。 自动激光对准芯片技术，无需人工手动调节。设计小巧、紧凑；使用简便、舒适 。所有的功能可以在一台计算机上进行 。独立的；适合大、小形状各异的样品 。样品自动进场 。与标准计算机串行端口连接（不需要接口卡） 。特殊的扫描仪设计，确保低震动灵敏度 。

简介： C2共聚焦显微镜系统主要包含了作为实验室核心设备的新一代尼康共聚焦仪器。它超常的稳定性和操作便利性以及卓越的光学性能使其广受称赞。C2以其强大的数据采集功能和种类繁多的图像分析能力而成为完美的新型显微镜工具，或者说成为了尼康成像系统家族中新的一员。C2采用了尼康专利所有的NIS-Elements成像软件，它完美的集成了图像获取和数据分析功能，在业界享有很高的声誉，赢得了用户的信赖。NIS-Elements使得C2具有和A1高级共聚焦显微镜系统相同的操作便利性，有效增强了C2的可用性、功能性，并拥有了更为广泛的分析能力。 主要特点： &bull 图像质量 尼康卓绝的光学系统和经受时间考验的高性能光学设计可在最长的工作距离上提供最明亮且最清晰的图像。 高效扫描头和探测器 C2适合市场上所有采用最小扫描头的尼康显微镜。C2采用高精度镜头和理想的光学圆形针孔，可实现无噪点、高对比度且高质量的共 聚焦成像。通过32通道同时获取C2的光谱探测器可实现高速成像。由于许多精确校正光谱数据方面的创新，在实现真实色彩荧光光谱 成像的同时，保证信号损失被降到最低。 高性能光学系统 CFI复消色差S系统通过在较宽的波长范围（从紫外线至红外线）内的色差校正，这些高NA物镜非常适合共聚焦成像。尼康专用纳 米水晶镀膜技术的使用增强了透射性能。 CFI复消色差TIRF系列这些物镜具有引以为傲的NA 1.49（使用标准盖玻片和液浸油），是最高分辨率的尼康物镜。温度校正环可 在23° C范围内对成像画质进行温度校正。 高清晰透射DIC图像 C2可同时处理3通道荧光或3通道+透射DIC观察。将高质量DIC图像和荧光图像进行叠加可有助于定位荧光标记等图像分析。 &bull 高性能 尼康著名的成像软件NIS-Elements可实现所有尼康软件设备和周边设备的直观操作。具备适合该级别非常多的 分析功能，C2全面支持常规的实验室研究活动。 多模式性能 所有尼康硬件均有与顶级共聚焦系统A1相同的软件控制在一个软件包内完全（同时）控制所有硬件（及软件模块）！您可在一个 软件包中进行全部共聚焦、宽视场、TIRF、光活化获取、处理、分析和显示。 &bull 操作灵活 C2可结合正置、倒置、生理学和宏观成像显微镜，并配备组合多种顶尖实验系统的配件。所以一切均可由 NIS-Elements软件控制。 多模式成像系统TIRF/光活化C2 TIRF激光照明模块和光活化模块经过集成，以实现极高信噪比的单分子成像以及光活化和光转换银光蛋白的荧光特性变化成像。 宏观共聚焦显微镜系统AZ-C2 由于视图的高清晰宽视场（大于1cm，采用前所未有的高信噪比），AZ-C2可在单张照片上实现完整样本（例如胚胎等）的成像。 组合了低倍率和高倍率物镜、光学变焦和共聚焦扫描变焦功能，以实现宏观至微观的连续成像。另外，AZ-C2可供体内完整样 本的深层成像。 规格： 激光* 兼容激光 固定激光：405nm、440(445)nm、488nm561(594)nm、 638(640)nmAr激光(457nm/488nm/514nm)、HeNe水平（543nm） 激光单元 3激光模块（AOM或手动调制），4激光模块（AOTF调制） 探测器 标准探测器 荧光探测器：3通道PMT,透射探测器：1通道PMT 光谱探测器（可选） 通道数：32，波长分辨率：2.5nm/5nm/10nm,与之前模块C1si-Ready兼容 扫描头 扫描参数 采用3通道荧光探测器： 像素尺寸：最大2048x2048像素 扫描速度：1fps（512x512像素，单向），最快23fps(512x32像素，双向，4倍变焦） 采用光谱探测器： 像素尺寸：最大1024x1024像素 扫描速度：0.5fps（512x512像素，单向），最快6fps（64x64像素，单向） 扫描模式 X-Y、XY旋转、变焦、ROL、XYZ时间序列、行、激励、多点、图像拼接（大图）针孔 圆形，6种尺寸 兼容显微镜 ECLIPSE Ti-E/Ti-U倒置显微镜，ECLIPSE 90i/80i正置显微镜， ECLIPSE FN1固定载物台显微镜，AZ100多功能变焦显微镜 软件 NIS-Elements C 主要功能 显示/图像处理/分析 2D/3D/4D分析、时间序列分析、 3D容积显示/正交、空间滤波器、图像拼接、 多点时间序列、光谱解混、 实时解混、虚拟滤波器、去卷积、AVI图像文件输出 应用：FRAP、FLIP、FRET、光活化、共定位 *兼容激光和可用波长因所用激光单元而异

Bruker原子力显微镜-Dimension FastScan扫描探针显微镜（Scanning probe microscopes，SPMs）是用于测量样品表面/界面性质的一类高分辨的探针型显微镜，根据其成像原理和操作模式的差异，主要分为原子力显微镜（atomic force microscopes，AFMs）和扫描隧道显微镜（scanning tunneling microscopes，STMs）等。SPM仪器的探针由压电陶瓷驱动，在物体表面作精确的扫描。探针距离样品表面的距离控制在一定的范围内，进行扫描工作，最终以纳米级分辨率获得样品表面的结构信息。传统的分析仪器，往往通过间接或计算的方法来推算样品的表面结构，但是SPM可以实时的获得样品表面真实的结构特征。因此SPM技术的出现，帮助人们首次获得了原子在平整表面排布的高分辨的真实图像。除此之外，AFM在常温常压大气下以及在液体环境下均可成像，实验操作中无需对样品进行任何特殊处理，就可以在微米级到埃米级的扫描范围内完成高精度表面测量，并且提供真正的三维形貌图。

一、便携金相显微镜BJ-X(手持式金相显微镜/现场金相显微镜）仪器的主要用途 便携金相显微镜是适用于现场多种大型工件的金相检查、失效分析的显微镜，它不用切割取样，可直接在工件上打磨、抛 光，从而保证工件的完整性。显微镜底座带有磁力吸座，直接吸附在工件上观察组织的现场金相检验。便携式金相显微镜适用于航空制造、机械制造、车辆制造、锅炉及压力容器的制造及检验、石油化工、铁路、造船、电厂、电站、设备安装、大型模具、安全检测、质量监督、理化试验室等行业。还可广泛的应用在工厂、实验室进行铸件质量的鉴定、原材料检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。二、便携金相显微镜BJ-X(手持式金相显微镜/现场金相显微镜）仪器特点 1.小型精密光学结构，图像清晰稳定 2.放大倍数100×—400X/ 500×，消色差金相物镜/平场消色差金相物镜3.BJ-300X配三孔转换器4.6V，15W卤素灯照明，选配充电锂电池 5.齿轮式XY轴移动平台，保证横向不自行下划6.专用机械通断磁力底座，适合各种工件表面7.快速制样，电解抛光仅需10分钟完成抛光和浸蚀8.BX-300D可连接数码相机 9.BX-300C含视频成像系统及金相分析软件名 称参数规格BJ-XBJ-200XBJ-300X观察镜筒单目观察筒，垂直观察√√/单目观察筒，垂直观察，附摄影通道，配C接口//√目镜WF10X（视场φ18mm） √√√WF12.5X（视场φ16mm）◎√√物镜消色差物镜：10X/0.25；PL40X/0.65√//平场消色差物镜：PL10X/0.25；PL20X/0.40；PL40X/0.65◎√√转换器三孔物镜转换器，声响定位//√调焦系统粗调调焦范围：25mm√√/分离式粗微动调焦机构,调焦范围：30mm,微动调焦格值:4μm//√移动台双层机械移动台，XY移动范围：25*25mm/√√磁力底座专用机械通断磁力底座，适合各种工件表面/√√光源便携式LED光源√√√非球面聚光镜，6V/20W卤素灯，有调光器/◎◎微型调速磨光机可调转速5000～37000rpm，配打磨头和羊毛抛光轮，可选充电式◎◎◎电解抛光机0～30VDC，0～2A，阴极抛光笔，阳极夹◎◎◎电脑拍照系统CK-300彩色数字摄像系统，USB连接电脑，最大像素2048*1536（具体功能及参数见CK-300摄像机介绍）◎◎◎数码相机拍照1X数码相机专用接口，适配各种类型单反数码相机或卡片相机◎◎◎手提箱便携式铝合金包装箱√√√可选购镜头1、目镜： WF15X、 WF16X、WF20X2、物镜：平场消色差物镜：PL4X；PL5X； PLL50X； PLL60X ；PLL80X；PL100X（油）；PL100X（干镜）注： ‘√’是标准配置，‘/’表示不具备，‘◎’表示可选购

一、产品介绍JC-XSP-1倒置生物显微镜配置长工作距离平场消色差物镜、大视野目镜与可调节聚光镜。产品结构紧凑，操作部位设计合理，使观察者在操作仪器过程中感到轻松、舒适。产品适合于对细胞组织，透明液态组织的显微观察，也可对培养皿中的培养组织进行动态显微观察。可应用于科研院所、高等院校、医疗卫生、检验检疫、农牧乳业等部门 二、产品参数技术规格目镜大视野 WF10X(视场数Φ20mm)对中望远镜长工作距离平场消色差物镜物镜 PLL 10X0.25 工作距离：8.8 mm，盖玻片厚度：1.2mm.PLL 25X0.40 工作距离：4.8 mm，盖玻片厚度：1.2mm.PLL 40X0.60 工作距离：3.3 mm，盖玻片厚度：1.2mm.相衬物镜PLL 10X0.25 PHP 工作距离：8.8 mm，盖玻片厚度：1.2mm.目镜筒三目镜, 30?倾斜调焦机构粗微动同轴调焦,带锁紧和限位装置,微动格值:2μm.转换器四孔(内向式滚珠内定位)载物台双层机械移动载物台，移动范围：纵向30mm，横向75mm。培养皿托板一内槽尺寸：Ф68mm培养皿托板二内槽尺寸：34mm（宽）X77.5mm（长），可适配圆形培养皿Ф68.5mm聚光系统插板式相衬聚光镜工作距离30mm。照明系统6V20W卤素灯，亮度可调滤色片磨砂玻璃，蓝、绿滤色片选配件 目镜16X（Φ11mm），20X(Φ11mm)相衬物镜25X、40X长工作距离相衬聚光镜 工作距离：50mm (注：所配相衬物镜为：PLL10X/0.25 PHP2， PLL25X/0.40 PHP2， PLL40X/0.60 PHP2) CCD接头CCD0.5X、1X、0.5X带分划摄像仪USB输出：300/500/1000万像素 三、产品特点观察系统铰链式观察筒:双目观察筒，单视度可调，镜筒30度倾斜，舒适美观。三木观察筒，可连接摄影，摄像装置。目镜：WF10X大视野平场目镜，市场范围ф20mm，提供了宽阔平坦的观察空间。移动式机械载物台双层机械移动载物台，移动范围：纵向30mm,横向75mm。配备三种不同规格的培养皿托板，适用于不同培养皿的观察需求

多功能原子力显微镜-AFM利用微悬臂下方的探针和样品表面距离缩小到纳米级，探针和样品表面的分子间作用力使得悬臂受力形变。探针针尖和样品之间的作用力与距离有强烈的依赖关系，即可以通过检测悬臂受力的弯曲程度,从而获得样品表面形貌信息。不同于电子显微镜只能提供二维图像，多功能原子力显微镜-AFM能提供真实的三维表面图。同时,AFM不需要对样品的任何特殊处理,如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。第三，电子显微镜需要运行在高真空条件下,原子力显微镜在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子,电池材料，甚至活的生物组织。利用微悬臂探针结构对导体、半导体、绝缘品等固体材料进行三维样貌表征,纵向噪音水平低至0.03nm(开环)，可实现样品表面单个原子层结构形貌图像绘制。AFM最大的特点是可以测量表面原子之间的力,AFM可测量的最小力的量级为10-14-10-16N。多功能原子力显微镜-AFM还可以测量表面的弹性,塑性、硬度、黏着力等性质,AFM还可以在真空,大气或溶液下工作,在材料研究中获得了广泛的研究。多功能原子力显微镜-AFM由本公司自主研发,稳定性强，可拓展性良好，提供定制服务 可拓展横向力显微镜 静电力显微镜 磁力显微镜 扫描开尔文探针显微镜 刻蚀和纳米操作等。该产品作为高速、高精度物质形貌表征工具,可以为高端科研与企业生产研发提供更多的选择与助力。 具体产品介绍详见下图：

便携式金相显微镜又名现场金相显微镜。由于其进行检测时不会破坏工件，能保证工件的完整性，从而广泛适用于航空、机械、车辆、、冶金、轧辊、锅炉及压力容器的制造及检验，石油化工、铁路、造船、电厂、设备安装、大型模具、检测、质量监督、理化试验室等行业应用。还可应用在工厂、实验室进行铸件质量的鉴定、原材料检验或对材料处理后金相组织的研究分析等工作。YG20是一系列新型用于现场观察、分析的金相显微镜。● 采用标准195光学系统，配置平场消色差金相物镜；● 视野范围大，视场背景均匀，成像分辨率高、质量清晰，眼点高，观察更舒适；● 采用3W高还原真彩LED光源，支持适配器、充电宝、手机（反充）、车载供电等设备供电；● 采用粗微动同轴调焦机构，满足国家对金相显微镜所制定的行业标准，两级差速手轮，实现对目标的快速和精准对焦功能；● 摄像头可与观察筒同时观察，通过智能手机、平板电脑等智能设备同步成像；● 可选配数码摄像装置（工业相机）、金相评级软件，亦可升级更多其他附件，以适应更多工况条件使用；● 适用场合∶工厂检测检验、野外金属观察、锅炉表面检测，教学实验教室等；● 应用范围:金属、矿产、陶瓷、电子等。光学系统有限远色差校正光学系统放大倍数范围100×～1000×目镜10×大视野、高眼点平场目镜，视场数Φ18（单位：mm）物镜长工作距离平场金相物镜10×长工作距离平场金相物镜20×长工作距离平场金相物镜50×长工作距离平场金相物镜100×（干镜）（选配）观察筒目镜观察筒与摄像头同时观察物镜转换器单孔/三孔转换器可选粗微调焦装置粗微同轴调焦，粗调行程30mm，微调每圈0.2mm，格值2µ m，粗调带松紧调节XY移动台带开关磁力底座，三层机械移动台，吸力达125KG光源电气3W真彩LED，适配器、充电宝、手机（反充）、车载供电等设备供电摄像接口可调C-MOUNT适配器接口数码摄像系统可配置摄像装置（CMOS相机、WIFI相机）及软件系统数码照相装置可配置CANON、NIKON、OLYMPUS等多种数码相机金相分析系统普及型显微软件、专业金相分析评级软件等（选配）便携式磨抛机手持式磨抛机，带电池（选配）

原子力-倒置显微镜联用系统 原子力-倒置显微镜联用系统，适用于所有对光学显微镜和原子力显微镜联用能力感兴趣的客户。这套系统包括一个通用的FlexAFM倒置光学显微镜样品台，一个显微镜特定的样品适配器，针对不同的显微镜（例如，Zeiss或者Olympus），和FlexAFM照明修正光学器件。原子力-倒置显微镜联用系统主要特点是： &bull 针对Zeiss Axiovert/Axio Observer, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti, 和 Leica DMI 系列显微镜的连接适配器。其他型号倒置光学显微镜可根据型号定制。 &bull 直观的操作，由于原子力图像和倒置光学显微镜的光学视场有着相同的方位。 &bull 悬垂臂在光学视场中的对中是通过原子力显微镜扫描头在X和Y方向上的独立运动，原子力扫描轴和光学图像轴有1mm平行的距离。 &bull 对准芯片技术，消除了更换悬垂臂后在光学图像中从新进行悬垂臂对中的需要。 &bull 样品定位在X和Y方向有12mm行程。 &bull 样品座可适应显微镜载物片和培养皿。 &bull 可能使用高数值孔径透镜与盖玻片底培养皿结合。 应用 倒置光学显微镜和AFM成像联用，提供了独特的机会使光学数据（例如相对比或者荧光数据）可以和高分辨率形貌图像和力学数据结合，这些数据只有AFM能提供。由于FlexAFM的开放式光路设计结构，光线能通过FlexAFM几乎不受妨碍，并且悬垂臂支架SA特殊的SureAlign&trade 光学设计使FlexAFM在液体测试环境中操作变得简单方便，无需再进行激光的对中。与倒置光学显微镜选件联用后，FlexAFM因而变成了在生理学环境中细胞成像和描述特征的理想装置。在这个例子中，活的Rat-2纤维原细胞被成像。 FlexAFM和倒置光学显微镜联用的应用当然不限于生命科学。下面的样品被展示，有涂层的玻璃样品被分析通过光学显微镜和原子力显微镜。AFM提供了更高分辨率数据在观测的区域上，并解释了在光学显微镜里看到结构的本性。它也能用于涂层厚度测定。 皮氏培养皿里德细胞图像：（左）倒置光学显微镜的相对比图，通过一个FlexAFM装置和倒置光学显微镜选件，显示活的Rat-2纤维原细胞和AFM悬垂臂在细胞培养基里。（右）在相同装置下细胞的AFM图像，显示了Rat-2细胞骨架的细节，这是容易辨别的穿过这些细胞的细胞膜。AFM图像尺寸：70 &mu m × 60 &mu m。 有涂层玻璃的相对比（上方）和AFM图像（下方）。在光学显微镜中观测到的是相似纹理的结构（例如椭圆形内部）相对应的涂层中的孔洞，作为例证通过AFM测量。他们提供一个一流的方法测定涂层的厚度，这个例子等于40nm。AFM图像尺寸：90 &mu m × 35 &mu m。 原子力显微镜与传统光学显微镜联用技术： &bull 针对Zeiss Axiovert/Axio Observer, Olympus IX2, Nikon Eclipse Ti, 和 Leica DMI 系列显微镜的连接适配器。其他型号倒置光学显微镜可根据型号定制。 &bull 直观的操作，由于原子力图像和倒置光学显微镜的光学视场有着相同的方位。 &bull 悬垂臂在光学视场中的对中是通过原子力显微镜扫描头在X和Y方向上的独立运动，原子力扫描轴和光学图像轴有1mm平行的距离。 &bull 对准芯片技术，消除了更换悬垂臂后在光学图像中从新进行悬垂臂对中的需要。 &bull 样品定位在X和Y方向有12mm行程。 &bull 样品座可适应显微镜载物片和皮氏培养皿。 &bull 可能使用高数值孔径透镜与盖玻片底培养皿结合。 倒置光学显微镜要求 &bull 一个10× 和/或 20× 透镜。 &bull 一个长焦距聚光器（65mm焦距或更长）。 &bull 无倒置光学显微镜样品台（替换成FlexAFM倒置光学显微镜选件；保证测量的稳定性和减少采购倒置光学显微镜的费用）。