CAMTEK 自动光学检验AOI设备 CMOS图像传感器检查Camtek CMOS图像传感器制造商提供了大量环境系统与不妥协的检测能力。我们的先进解决方案强加的独特挑战CIS应用程序,如像素尺寸小型化和复杂的生产过程,是基于我们长期积累的经验在这个市场。功能• Sub-resolution检测™ • 动态范围扩展器和双照明• 黑场和明亮的场• 先进的低对比度缺陷算法• 细晶片和改造晶片处理• 验证:在线和离线技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器 产品 头鹰头鹰年代 先进的2 d表面缺陷检验和计量系统,实现高容量生产前2 d检查解决方案和post-bumped晶片,探针标记检查,OQc等等。 EagleT-i设计的速度和准确性,Camtek EagleT-i是一个 快的和 精确的2 d检查工具在市场上。 CAMTEK 自动光学检验AOI设备 MEMSCamtek检验和计量解决方案的微电子机械系统(MEMS)结合多种技术解决MEMS的2 d和3 d挑战的行业。我们独特的灵活平台支持MEMS产业广泛的应用程序。各种处理配置和特殊的发展可以支持各种晶片大小和类型。功能• 整片2 d检查和计量• 表面相关缺陷检查• 各种处理解决方案(薄和泰科晶圆和更多)• 高分辨率的2 d和3 d测量• 多个照明配置各种功能的检查• 灵活的检测环境定制的应用程序技术• 先进的缺陷检测和计量处理引擎• 高分辨率三维共焦传感器• 剪辑 产品
留言咨询