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涂层镀层膜厚测试仪

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涂层镀层膜厚测试仪相关的仪器

  • 涂层镀层检测仪 天研 电泳层膜厚仪是一款测量磁性金属材料表面涂镀层覆盖层物体厚度的专业无损检测仪器。采用磁性测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如:钢、铁)上非磁性覆层的厚度(镀锌、铬、锢、珐琅、橡胶、粉末、油漆、电泳、搪瓷、喷塑、涂料、防腐防火涂层等),本仪器结构精密牢固,重复性好,性能犹佳,使用简单,携带便捷。  应用领域:广泛地应用于涂装行业、制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。  涂层镀层检测仪 天研 电泳层膜厚仪仪器特点  l 操作简单,测试速度快,灵敏度好,测量精度高  l 采用合金探头,坚硬耐用,精准  l 具有两种测量方式:连续测量和单次测量  l 设有四个统计功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)  l 大容量存储,可分10组存储,每组200个,共可存贮2000个数据  l 存储数据存看删除功能  l 三种校准方式:零点校准、两点校准、多点校准  l 上下限报警功能(单次测量模式下可设置)  l 操作过程有蜂鸣声标示(单次测量模式下)  l 自动识别铁基和非铁基底材  l 公英制转换μm/Mil  l 阳光模式(强光下使用)  l 中英文双语言版本  l 2.3寸大彩屏大字号显示  l 手动/自动关机功能  技术参数  A、测量范围:0-6000μm  B、使用环境:温度:0℃-60℃,湿度:20%RH—90%RH,无强磁场环境下使用  C、最薄基体:0.4mm  D、测量精度:±3%H+2μm  E、分辨率:0.1μm /1μm(100μm以下为0.1μm,100μ以上为1μm)  F、最小基体面积Φ16mm  G、最小曲率:凸5mm 凹25mm  H、外形尺寸:130mm*70mm*24mm  I、重量:100g  J、电源:三节(7号)碱性电池
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  • X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪X射线荧光镀层测厚及材料分析仪系列测量方向产品型号应用范围检测器射线管基本滤片准值器数量/尺寸(mm)C型开槽从下往上XUL一款适合电镀厂测量镀层厚度的性价比高的仪器,它配备了一个固定的准值器和滤,射线管出射点稍大,非常适合测量点在1mm以上的应用。对于测量典型电镀层厚度的应用,如Cr/Ni/Cu等,非常合适。PC标准11(Φ0.3)是XULM多用途的镀层厚度测量仪。无论是薄的还是厚的镀层(如50nm Au或100um Sn)都通过选择好的高压滤片组合很好的测量。微聚焦管可以达到在很短的测量距离内小到100um的测量点大小。高达数kcps的计数率可以被比例接收器接收到。PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XAN110/120专门为分析金合金开发的划算的仪器。比较XAN而言,只有一个固定的准直器和固定的滤片,特别适合贵金属分析。XAN 110配备比例接收器,适于几种合金元素的简单分析。XAN120配备了半导体接收器,更可以应用于多元素的复杂分析。PC(XAN 110)PC(XAN 120)标准11(Φ0.3XAN110)1(Φ1XAN120)否XAN分析专用仪器,测量方赂从下到上。用途广泛。测量室全封闭,可以使作大准直器分析,高计数康可也可被硅漂移探测器处理。激发和辐射检测方式与XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物质衡量分析的理想仪器。PINSDD微聚焦3/64(Φ0.2-Φ2)否从上往下测量XDL适合镀层厚度测量的耐用仪器,即使大测量距离也可以测量(DCM,范围0-80mm)配备一个固定的准值器和固定的滤片。适合测量点在1mm以上的应用;跟XUL类似。可选 用自动测量的可编程工作台。PC标准11(Φ0.3)是XDLM比XDL适用面更广,配备微聚焦管,4个可切换的准直器和3个基本滤片。测量头与XULM想似;适合于测量小的结构如接插件触点或印刷线路板,也可以测量大的工作(DCM,范围0-80mm)PC微聚焦34(0.05*0.05-Φ0.3)是XDAL与XDLM类似但配备了半导体接收器。这样就可能可以分析元素和测量超薄层(基于良好的信噪比)。比较适合测量结构较大的样品。PIN微聚焦34(Φ0.1-Φ0.6)是XDC-SDD适合于全部应用的高端机型。根据测量点大小和光谱组成,激发方式灵活多样。配备了硅漂移接收器,即使强度高达100kcps的信号也可以在不损失分辨率的情况下处理。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ0.3)否SDV-U专用微观分析的测量仪器。根据X射线光学部件的不同,可以分析小到100um或更小的结构。强度很高所以精度也非常好。即使很薄的镀层,测量不确定性小于1nm也是可能的。仅适于测量表面平整或接近平整的样品。SDD微聚焦4多毛细管系统是XDV-Vacuum具备综合测量能力的通用高端机型。与XDV-XDD相当。但可外配备了可抽真空的测量室,这样就使得分析从原子序数Z=11(Na)开始的轻元素成为可能。高精度的马达驱动的XYZ平台和视频摄像头可以精确定位样品位置和测量细小部件。SDD微聚焦64(Φ0.1-Φ3)否在线测量X-RAY 4000用于生产过程中薄膜,金属带或穿孔带的连续测量。测量头可以装配与样品传送方向的直角的位置。操作方便,启动迅速。数据接口可集成到质量管理或控制系统X-RAY54000用于生产线上连续测量的法兰式测量头。测量带状物,薄膜或玻璃的金属元素。在空气和真空都可以测量。提供水冷版本仪器。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途:由于能量色散X射线荧光光谱法可以分析材料成分和测量薄镀层及镀层系统,因而应用广泛 在电子和半导体产业里,测量触点上薄金,铂和镍层厚度或痕量分析。在钟表和珠宝行业或采矿精炼工业中,精确分析贵金属合金组分。在质量管控和来料检验中,需要确保产品或零部件完全满足材料设计规范。如在太阳能光伏电池产业中,光伏薄膜的成分组成和厚度大小决定了光伏电池的效率。在电镀行业中,则需要测量大批量部件的厚度。对于电子产品的生产者和采购者,检验产品是否符合《限制在电子电气产品中使用有害物质的指令》(ROHS指令)也是十分关键的。在玩具工业中,也需要有可靠的有害物质检测手段对于以上测量应用,菲希尔的FISCHERSCOPE X-射线光变仪都能完美胜任。 X射线荧光镀层测厚仪,涂层镀层测厚仪用途领域:1、钟表,首饰,眼镜 2、汽车及紧固件 3、卫浴五金4、连接器5、化学药水6、通信7、半导体封装测试8、电子元器件 9、PCB(线路板)
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  • 台式机孔面铜测试仪 MMS PC2 BUFISCHERSCOPE MMS PC2 BU用途:高级台式仪器,用于涂层厚度测量和材料测试,具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口。 特征:1、中文触摸屏;2、高解像度之轻触式彩色液晶显示屏幕;3、拥有多种不同测量方法集于一身;4、通过利用有特定应用性的测量探头及相关的组件卡;5、此测量系统可根据所需之方法而运作;6、设有1000个应用程式可以储存最多1百万个读数;7、具备各种统计的功能如SPC控制图表等;8、具RS232接口,USB接口及网络卡接口;9、标准接口方便连接PS2键盘,PS2滑鼠,电脑。 技术参数 :插入式模块 SR_SCOPE MMS PC1、该模块应用电阻法的测量原理,2、可连接带有19针连接器的探头。 面铜测量探头PROBE ERCU N1、4点式探头,采用接触式微电阻方法;2、测量PCB上裸铜箔的厚度;3、不受中间层或背面铜箔的影响。4、只能与带有插拔式的SR-ScopeMMS和MMS 7/8型号的联接板
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  • INSIGHT 镀层分析仪使用微聚焦X射线管将X射线源的大部分射线收集并汇聚成微束斑,照射在样品位置,从而获得良好的空间分辨率及很强的荧光信号,通过能谱探头及后续的数据处理器等采集、处理并评价样品被辐照后产生的荧光信号,得出样品的成分信息。它可实现更复杂应用的快速测量和精准分析,是对不均匀或形状不规则的未知样品以及微观物体进行元素分析的理想方法。INSIGHT 镀层分析仪是一款上照式镀层分析仪,具有外观紧凑、节约空间、易于操作、分析快速、检测精准等特点,被广泛应用于常规和复杂镀层结构的样品进行元素分析和厚度检测,尤其是对不均匀、不规则,甚至微小件等形态的样品,确保客户获得可靠、可重复结果以满足数百种应用,包括:珠宝首饰、小零件、连接器镀层、普通电路板等。使用优势多准直器多准直器可选或多种准直器组合由软件自动切换,可灵活应对不同尺寸的零件。一键式测量配备直观而智能的分析软件,操作简单,任何人无需培训都可以测试样品,仅仅需要点击“开始测试”,数十秒即可获得检测结果啦。自动对焦高低大小样品可快速清晰对焦,视频图像可放大、含十字线、自动聚焦。超大测量室仪器壳体的开槽设计(C型槽)使得测量空间宽大,样品放置便捷,可以测量如印刷线路板类大而平整的物品,也可以放置形状复杂的大样品。无损检测X射线荧光是无损分析过程,不留任何痕迹,即使是对敏感性材料,其测量也是非常安全的。高性能进口探测器选用适合于多元素镀层的大面积Si-PIN探测器,比起传统的封气正比计数器,Si-PIN具有更佳分辨率、更低的背景噪声(最高 S/N 比)长期稳定性以及更长的使用寿命。可编程自动位移样品台可选配固定或电动型自动平台,并且可编程以适应广泛的零件尺寸和测试量。固定样品台足以对易于定位检测面积的电路板上一个或几个位置进行点检。用户可以使用固定样品台手动定位样品,但是对于具有复杂设计和极小特征的电路板,在电动样品台上的处理效果会更好,这种样品台可提供更好的精确度来进行微调。此外,INSIGHT还允许创建、保存和调用多点程序,以便对多个部件进行自动化测试。可编程 XY 载物台与内置模式识别软件相结合,使大容量样品测试既高效又一致。应用场景普通PCB行业PCB表面处理工艺,常见的是热风整平、有机涂覆OSP、化学镀镍/浸金、浸银、浸锡和电镀镍金等工艺。晓INSIGHT可对不同形状的PCB镀层厚度与成分进行快速、高效、无损和准确的分析。珠宝首饰电镀工艺能起到保护首饰金属表面的作用,又可使金属首饰表面更加美观。不同国家首饰电镀标准不同,目前我国执行的标准为《贵金属覆盖层饰品 电镀通用技术条件 QB T 4188-2011》,为满足市场质量要求,确保符合行业规范,晓INSIGHT适用于不同形状的珠宝首饰的单镀层和多镀层厚度和成分检测。电子元器件镀层技术和电子元件的发展互相协同,随着社会发展节奏的加快,对电子元件的性能要求逐渐提高,镀层技术也显得尤为重要。为保证电子产品稳定可靠,对电子元件的镀层进行检测筛选是一个重要环节。常见的电子元件镀层有锡-银(Sn-Ag)镀层、锡-铋(Sn-Bi)镀层、锡-铜(Sn-Cu)镀层、预镀镍-钯-金(Ni-Pd-Au)等。通用小零件和小结构随着科技的快速发展,各个行业中零件都趋于小型化,镀层工艺作为小零件的重要表面处理方法,分为挂镀、滚镀、接连镀和刷镀等方法。规格参数特点自上而下的测量结构,XYZ测量平台,Muti-FP多层算法元素范围Na(钠)—Fm(镄) 分析层数5层(4层+基材)每层可分析10种元素,成分分析最多可分析25种元素X射线管50 W(50kV,1mA)微聚焦钨钯射线管(靶材可选配)探测器Si-PIN大面积探测器准直器φ0.05-φ1可选,多准可选相机高分辨率CMOS彩色摄像头,500万像素手动样品XY平台移动范围:100 x 150 mm可编程XY平台(可选配)Z轴移动范围150 mm样品仓尺寸564×540×150mm(L×W×H)外形尺寸664×761×757mm(L×W×H)重量120KG电源AC 220V±5V 50Hz(各地区配置稍有不同) 额定功率150W
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  • YT-211涂层测厚仪概述无接口涡流探头,检测非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。YT-211涂层测厚仪主要功能● 全中文菜单;● 可储存500个测量值;● 数据删除功能;● 可设置界限;● 对界限外的测量值能自动报警;● 电源欠压指示;● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警;● 电压提示,自动关机;● 大屏幕LCD背光显示,可调节对比度;● 两点校准,能提高精度。技术参数项目Leeb211测头类型N1 (不可拔插)工作原理涡流感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±(3%H+1)二点校准±测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm(主机)重量150g标准配置主机、标准试片、基体、N1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头产品展示
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  •   便携式涂层测厚仪是一种广泛应用于工业领域的测量设备,用于测量材料表面涂层的厚度。这种仪器在许多行业中都发挥着重要的作用,如汽车制造、航空航天、船舶建造等。随着科技的不断进步,该仪器的性能和精度也在不断提高,为工业生产提供了更加可靠和高效的测量手段。  在现代工业生产中,便携式涂层测厚仪的应用范围越来越广泛。例如,在汽车制造过程中,该仪器可以用于测量汽车车身涂层的厚度,以确保涂层的质量和均匀性。在航空航天领域,该仪器可以用于测量飞机和航天器的涂层厚度,以确保其防腐和耐久性。在船舶建造中,该仪器则可以用于测量船体涂层的厚度,以确保船体的防水和防腐性能。概述无接口磁性探头,检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢、铁、合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等)本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护配备的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。主要功能● 全中文菜单;● 可储存500个测量值;● 数据删除功能;● 可设置界限;● 对界限外的测量值能自动报警;● 电源欠压指示;● 手动和自动两种关机方式。● 可设置上下界限超差报警;● 电压提示,自动关机;● 大屏幕LCD背光显示,可调节对比度;● 两点校准,能提高精度。技术参数项目Leeb210测头类型F1 (不可拔插)工作原理磁感应测量范围0~1250μm低限分辨率0.1μm示值误差一点校准±(3%H+1)二点校准±[(1~3%)H+1]测试条件最小曲率半径mm凸1.5mm、凹9mm最小面积直径mmΦ7基本临界厚度mm0.5mm工作环境温度0~40℃湿度20%~90%电源AAA碱性电池两节电压3VPC通讯无工作时间100小时外壳材质塑料外壳外形尺寸115×68×25mm(主机)重量150g标准配置主机、标准试片、基体、F1探头、碱性电池可选配件标准试片、探头工作原理● 本仪器采用了磁性原理的测厚方法,可测量磁性金属基体( 如铁、钴、镍 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)。A、磁性法(F型测头):当测头与覆盖层接触时,测头和磁性金属基体构成一闭合磁路,由于非磁性覆盖层的存在,使磁路磁阻变化,通过其磁阻的改变量可测出覆盖层的厚度。测量步骤A)将测头置于开放空间,按一下开机键开机,检查电池电压。说明1:当电池符号满格显示,表示电池电压正常;电池电量小于2格时,请立即更换电池,以保证测量的准确性。 2:长期不用时应将电池取出。开机时正常情况下,开机显示界面如下图所示: “铁基体”——F型测头,测试对象为铁性基体 “A”——上次关机前的最后一次测量模式 “数值”——上次关机前的最后一次测量值B)选择适当的校准方法进行标准仪器。C)测量方法:握住滑套将测头与测试面垂直地接触,随着一声蜂鸣声,屏幕显示测量值,提起侧头可进行下次测量。D)关机:按开关机键,或者大约5分钟后仪器自动关机。 注:如果开机仪器自动测试,请按‘校零’键.并进行五试片校准。说明: 1. 如果在测量中测头没有与待测面垂直接触,可能会显示一个误差较大的测值,可以按清除键清除该值; 2.测量三次或多次后,仪器可自动对测量数据进行统计即:平均值、偏差、测量次数、最大测量值、最小测量值。
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  • 概述  双用涂镀层测厚仪采用磁性和电涡流两种测量方法,可检测磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度(如钢铁合金和硬磁性钢上的铝、铬、铜、锌、锡、橡胶、油漆等),以及非磁性金属基体上非导电的绝缘覆盖层的厚度(如铝、铜、锌、锡上的橡胶、塑料、油漆、氧化膜等)。  涂层测厚仪应用在电镀、防腐、航天、航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。既可用于实验室,也可用于工程现场。配置不同的探头,适用于不同场合。它是检测行业重要的仪器。  双用涂镀层测厚仪主要功能  ● 具有两种测量方式:连续测量和单次测量方式   ● 具有两种工作方式:直接和成组方式   ● 具有自动统计功能:平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、测试次数(NO.)、标准偏差(S.DEV)   ● 可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正   ● 存储功能:可存4 个校正工件可保存。分2类工件,每类26组,每组15个,共1560个测值   ● 删除功能:对测量中出现的单个可疑数据进行删除,也可删除存储区内的数据,以便进行新的测量   ● 设置限界:对限界外的测量值能自动报警   ● 具有电源欠压指示功能,操作过程有蜂鸣声提示,自动关机方式。
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  • FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层产品介绍: FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层在涂层厚度测量方面获得最大的灵活性,同时满足最高的精度和准确度要求:它们将磁感应测量法和涡流测试法结合在一个仪器中,所以你可以在不更换仪器的情况下测量钢铁和有色金属上的涂层厚度。DUALSCOPE H FMP150还有磁性方法,这允许你测量有色金属或绝缘体上的镀镍厚度。 FMP100 AND H FMP150 涂镀层测厚仪 双镀层是质量保证中zuixian进的测厚仪。例如,您可以使用这些手持仪器来测量漆膜厚度。您甚至可以轻松而精确地测量CDC涂层。这些仪器配有触摸屏和Windows&trade CE操作系统,操作速度快且直观。由于内存大,它们可以处理数千个测量任务的数千个测量值。 各种统计和分析函数可用于评价测量结果。它们的另一个优势是我们的专li工厂诊断图(FDD),该评估选项使过程可视化,并提供了生产变量(如厚度)分布的图形概述。产品特征:探头种类很多,包括许多特殊的探头,用于精确执行各种厚度测量任务根据DIN EN ISO 2178的磁感应测量方法和根据DIN EN ISO 2360的涡流测量方法,具有最大的灵活性;DUALSCOPE H FMP150还有磁性测量方法涂层厚度测量规范包括 IMO PSPC, SSPC-PA2, QUALANOD或QUALICOAT自动识别探头和基材在高分辨率的图形触摸屏上详细显示测量模式和检验计划广泛的评估和统计功能,支持图形显示选项大内存,可用于数千个不同校准的测量应用程序Windows CE操作系统通过图形用户界面和用户定义的文件和文件夹结构,用户可以直观地操作可选:Fischer数据中心软件可创建单独的检验计划USB接口可连接PC和打印机产品应用:应用磁性钢铁上的非磁性涂镀层 非磁性金属上的绝缘涂层钢铁上的双涂层(油漆/热浸镀锌涂层)(重防腐行业,Zn70微米),其中油漆和锌层是同时测量和分别显示的DUALSCOPE H FMP150:钢铁表面的厚金属镀层和保护性涂层;有色金属或绝缘材料上的镀镍层技术参数:DUALSCOPE FMP100非铁金属上的油漆、阳极氧化层、瓷漆或塑料涂层铝上的阳极氧化层钢或铁上的仪器、 瓷漆或塑料涂层钢或铁上的非铁金属镀层数据储存统计计算打印口/RS232 接口USB interface无线传输可更换插入式智慧型探头测量范围(μm) [mils]FD10双功能探头测量参数:磁感应:测量范围:0~1500μΜ(0~60 mils)测量精度:0~50 μΜ:0.2 μΜ 50~1500μΜ: 1 %。涡 流:测量范围:0~1200μΜ(0~48 mils)测量精度:0~100 μΜ:0.5 μΜ,100~1200μΜ: 0.5 %电源:交流电或电池重量[g]:395规格:(170 x 89 x 40)
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  • 概述云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业的仪器。满足JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪。云唐YT-LT100多功能覆层涂镀层测厚仪主要功能● 可使用各种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、N400等)进行测量;● 三种校准方法:一点校准、二点校准、基本校准;● 显示分辨率:0.1μm (1250um以下,1250um以上是1um); ● 最小测量面积:最小测量面积:10*8mm;● 最小曲率:凸5mm,凹25mm;● 设有四个统计功能:最大值(MAX)、最小值(MIN)、平均值(MEA)、测量次数(No)● 设五个统计量,存储800个数据。技术参数项目LT100-3使用环境温度0~40℃电源5V电池外型尺寸150×80×30mm重量300g测量范围F1、N1、F1/90F1、N1,0-1250μm。F1/90,0-1250umF400、N4000-400umF3/N30-3000umF100-10000um测量误差F1、N1、F1/90(2%H+1)二点校准精度1%F400、N400(2%H+0.7)二点校准精度1%F10(2%H+10)二点校准精度1%标准配置1、主机 1台2、探头(F1或N1) 1支3、基体 1块4、标准片 5片5、5V碱性电池 2节6、使用说明书 1本可选配1、其他型号探头 选配2、打印机 1台3、通讯电缆 1条4、软件光碟 1张探头参数探头F400F1F1/90F10N400N1测量原理磁性涡流测量范围(μm)0~4000~15000~12500~10mm0~4000~1500测量精度μm一点校准±(1~3%H+0.7)±(3%H+1)±(3%H+10)±(3%H+1)±(3%H+1.5)二点校准±(1~3%H+0.7)±(1~3%H+1)±(1~3%H+10)±(1~3%H+1)±(1~3%H+1.5)低限分辨率0.10.110.10.1最小曲率半径(mm)(凸)11.5平直101.53最小面积直径(mm)¢ 3¢ 7¢ 40¢ 4¢ 5基本临界厚度(mm)0.20.520.30.3探头选择参考基体与覆盖层有机材料等非磁性覆盖层(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m覆盖层厚度不超过100µ m覆盖层厚度超过100µ m磁性金属如 铁、钢 等被测面积的直径大于30mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mmF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF1 型测头 0~1500µ mF10 型测头 0~10mm被测面积的直径小于30mmF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ mF400 型测头 0~400µ mF400 型测头 0~400µ mF1 型测头 0~1500µ m有色金属如铜 、铝 、黄铜 、锌 、锡 等被测面积的直径大于5mmN1 型测头 0~1500µ m仅用于铜上镀铬N1 型测头 0~40µ m非金属基体塑料、印刷线路被测面积的直径大于7mm--CN02 型测头10~200µ m
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  • 智能识别、非接触单独测量金属镀层上的涂层厚度,最终膜厚数据自动不含镀层厚度对于带有含镀层的金属基材,由于普通测厚仪在测量时磁力线受镀层干扰,磁性干膜测厚仪无法精准测量镀层上的涂层厚度。另外受到底材表面粗糙度、测量曲面或边角时磁感线容易变形等因素影响,干膜测厚仪并不能适用于有镀层,或测量曲面、细小部位的涂层厚度;瑞士涂魔师ATO非接触测厚技术可以智能识别并非接触单独测量金属镀层上的涂层厚度,最终膜厚数据自动不含镀层厚度。涂魔师的测量精度不受镀层厚度影响,也不限金属基材和涂层材质,碳纤维、玻璃、陶瓷、橡胶等所有基材也能精准测厚。涂魔师ATO非接触无损测厚典型案例测试情况样品客户提供两种带有镀层的钢板涂层颜色分别为红色和白色测试需求非接触测量油漆干膜厚度,测试数据不能包含镀层厚度;1、面漆膜厚;2、面漆+底漆总膜厚;测试仪器涂魔师Flex非接触膜厚分析仪测试一:白色样品 面漆+底漆总膜厚样品编号干膜数据涂魔师 重复性测试涂魔师与干膜数据差异(客户提供)标准偏差平均值样品 A20 微米0.2200样品 B25微米0.325.30.3二:红色样品 面漆+底漆总膜厚样品编号干膜数据涂魔师 重复性测试涂魔师与干膜数据差异(客户提供)标准偏差平均值样品 A20 微米0.1200样品 B25微米0.125.70.7对比总结在本次测试中,涂魔师对同一个测试点进行重复性测试,可见:1、标准偏差≤0.3微米;2、涂魔师与客户提供的干膜数据差异≤0.7微米;3、从各测试点的平均值来看,涂魔师能识别样品上不同测试点的膜厚差异;与传统金属接触式测厚仪相比,涂魔师非接触膜厚分析仪具有以下优势:1. 在湿膜状态下实时快速精确测出干膜厚度,精度高达0.5微米;2. 高精度测量曲面、弯角、边缘部位膜厚,不受工件表面形状限制,如弹簧、螺钉等;3. 高精度,精度比干膜测厚仪更好;4. 一键快速测试、允许产品摇晃倾斜、测量距离和角度无需严格限制;5. 多种基材材质(玻璃、碳纤维、MDF、橡胶、金属等)和涂层类型(粉末涂料、水性涂料、含金属涂层、润滑油、粘胶剂等)都适用,并且无需更换测量探头,一机通用;6. 提供手持式Flex和在线式Inline等多款机型,满足在生产线上不间断连续测厚,数据实时存档与反馈,有助于提高工件涂装质量;综述传统的干膜测厚仪只能测烘干后涂层厚度,无法测试未干涂层得干膜厚度,涂装工人只能等待漫长的干燥时间才能获得膜厚情况,存在严重的滞后性问题;而涂魔师能在涂料未烘干状态下快速测出干膜膜厚,即使细小部位、边角、曲面等难测区域也能精准测出涂层厚度,为涂装人员提供可靠稳定的膜厚真实数据,避免人为的测量误差。通过对膜厚数据进行采集与分析异常膜厚数据,涂装人员能快速判断是否喷涂设备出现问题,从而提高喷涂工艺稳定性,有效减少涂装质量缺陷,杜绝返工。资料申请和咨询翁开尔公司作为涂魔师中国区总代理商,拥有近80多年的行业服务经验,我们能够在产品应用及选择上给您提供建议,如果您希望获得进一步的技术咨询或产品资料,欢迎与我们联系【400-6808-138】。
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金;电镀液中金属离子含量;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用注:基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用,所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时,可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块,则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。可选择的Super WinFTM软件(订货号602-950)提供了以下的附加功能:可随意创建测量应用可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度快速的频谱分析以决定合金成分技术参数:1.Fischerscope X-RAY XUL-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从下至上;3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.视准器组:圆直径为0.3;在附加费用的基础上可选择0.05X0.3mm长方形视准器5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)510 mm×455 mm×580 mm,重量大约为45kg;6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×380mm)带向上回转箱门;7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行.8.试件查看用标准的彩色摄像机;9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点,尤其对于测量各种不同几何外形的小工件,例如螺丝、螺母、螺栓或各种各样的电连接器。在绝大多数情况下,被测试工件的表面可直接放置于测量台上,这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合,XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地适应于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金和电镀液中金属离子含量;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XULM-XYm是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从下至上;3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.视准器组:圆直径为0.1/0.2;正方形0.05X0..05mm;长方形0.03X0.2mm5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)480 mm×375 mm×580 mm,重量大约为45kg;6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)240 mm×360 mm×460mm)带向上回转箱门;7.手动X-Y工作台(平面板:360 mm宽×240 mm深),带50 mm的X方向和50 mm的Y方向运行,8.试件查看用标准的彩色摄像机;9.测量开始/结束按钮,及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XUL设计为X-射线管和探测器系统位于测量台下部。因此测量方向从下往上。这也就提供了一个重要的优点,尤其对于测量各种不同几何外形的小工件,或各种各样的线路板、引线框架以及电连接器的微小部位测量。在绝大多数情况下,被测试工件的表面可直接放置于测量台上,这就避免了在从上往下测量系统中需要的测量距离调整。测试点会自动地调整在正确的距离上。这就加快了测量的过程并且避免了由于工件定位不佳可能造成的测量误差。- FISCHE是唯一一家实现了这种设计的X-射线荧光镀层厚度测试仪器的制造厂商。与WinFTM V.6 软件及校样标准块Gold Assay配合,XUL 作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分,可以完美地适应于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。XULM使用了高能量的X射线管,即便是测量微小面积时也能有很强的X射线照射到被测样品上,以保证测量的精确度。
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  • 荧光镀层测厚仪 涂层膜厚仪 镀层生产厂家仪器简介 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层0.005um检出限小测量面积0.002mm2深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。 XTU系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。 搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,以及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。 检测78种元素镀层0.005um检出限小测量面积0.002mm2深凹槽可达90mm。 外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都没有难度,让操作人员轻松自如。 项 目参 数测量元素范围Cl(17)-U(92)涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm;准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦放大倍数光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪,天瑞镀层测厚仪
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  • 多功能涂镀层测厚仪FischerScope MMSFISCHERSCOPE-MMS PC2 台式涂镀层测厚仪|德国菲希尔fischer台式涂镀层测厚仪FISCHERSCOPE MMS PC2简介:高级台式设备,用于通用的涂层厚度测量和材料测试,具有彩色触摸屏、可进行个性化配置并带有各种设备接口典型应用领域:电镀层以及钢铁上的涂料制造。 铝上的阳极氧化膜(PERMASCOPE模块)纳米涂层(防指纹)、太阳能电池涂层(玻璃上的CdTe镀层)、接插件上的金镀层、焊盘上的铅锡合金镀层以及、光阻层、油和蜡涂层(BETASCOPE模块)测量线路板上的面铜和孔铜(SIGMASCOPE模块)测量薄板或多层线路板表面铜层厚度,不会受反面铜层影响(SR-SCOPE模块)印刷线路板生产中铜上的阻焊层厚度(PERMASCOPE模块)汽车工业中活塞表面的石墨涂层或制动盘上的防腐涂层(PERMASCOPE模块)汽车行业中活塞表面的含铁涂层(NICKELSCOPE模块)奥氏体钢或双相钢中的铁素体含量(PERMASCOPE模块)非铁磁性金属,如铜、铝、钛的电导率(SIGMASCOPE模块)特点:只需使用一台仪器就可以完成涂镀层厚度测量以及材料测试!坚实且极为通用的台式多功能测量系统,具有保存数据和处理测量数据的功能.便于用户操作的宽大高分辨率 LCD 触摸屏,基于Windows CE设计。.众多不同的嵌入式测量模块,可进行大量不同的设备配置以满足客户要求。 模块化设计允许在任何时候进行仪器升级。根据应用可以安装相似或不同的测量模块嵌入式模块 BETASCOPE SIGMASCOPE PHASCOPE DUPLEX NICKELSCOPE SR-SCOPE 和 PERMASCOPE采用了各种物理测试原理,详情参见产品说明.可连接多达八个测量探头各种不同的探头,用于被测样品不同的几何形状和厚度范围随仪器附送计算机端软件FISCHER DataCenter,其拥有以下功能:传输保存测量值,全面的统计性和图形化评估,轻松生成并打印检验报告无锡骏展仪器有限责任公司为客户提供方守合同、快速售前(演示设备、引进更新技术)销售(选购、满足客户对客户的要求)、售后服务、设备维修、维修问题等)当客户需要时,我们专业的工作人员可以到客户现场,提供急需的服务。
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  • 涂层厚度CATc 400-860-5168转1766
    紧凑型 Calotest 可快速测定涂层的厚度。CATc 广泛用于分析厚度介于 0.1 μm 和50 μm 之间的涂层。简单的球压坑法可快速准确地检查所有类型涂层(无论是单层还是多层膜)的厚度。通常包括 CVD、PVD、等离子喷涂涂层、阳极氧化层、化学镀层和电镀层、聚合物、油漆和清漆。轴转速:10 rpm 到 3000 rpm磨损时间范围:1 秒至 10000 秒标准球直径:10、15、20、25.4、30 mm国际标准:ISO 1071, VDI 3198 andISO 26423:2009
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  • 涂层测厚仪 400-860-5168转4379
    涂层测厚仪可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。  涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点,是控制和保证产品质量必-不可少的检测仪器,广泛地应用在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。  涂层测厚仪测厚方法  磁性测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为:钢\铁\银\镍。此种方法测量精度高。  涡流测厚法适用导电金属上的非导电层厚度测量,此种方法较磁性测厚法精度低。  超声波测厚法国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的,国外个别厂家有这样的仪器,适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。   电解测厚法此方法有别于以上三种,不属于无损检测,需要破坏涂镀层,一般精度也不高,测量起来较其他几种麻烦。  放射测厚法此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上),适用于一些特殊场合。  选型方法  用户可以根据测量的需要选用不同的测厚仪,磁性测厚仪和涡流测厚仪一般测量的厚度适用0-5毫米,这类仪器又分探头与主机一体型,探头与主机分离型,前者操作便捷,后者适用于测非平面的外形。更厚的致密材质材料要用超声波测厚仪来测,测量的厚度可以达到0.7-250毫米。电解法测厚仪适合测量很细的线上面电镀的金,银等金属的厚度。  技术原理  磁吸力测量原理永-久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸力大小与处于这两者之间的距离成一定比例关系,这个距离就是覆层的厚度。利用这一原理制成测厚仪,只要覆层与基材的导磁率之差足够大,就可进行测量。鉴于大多数工业品采用结构钢和热轧冷轧钢板冲压成型,所以磁性测厚仪应用最-广。测厚仪基本结构由磁钢,接力簧,标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。新型的产品可以自动完成这一记录过程。不同的型号有不同的量程与适用场合。这种仪器的特点是操作简便、坚固耐用、不用电源,测量前无须校准,价格也较低,很适合车间做现场质量控制。  磁感应测量原理采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专-利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。磁性原理测厚仪可应用来精确测量钢铁表面的油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀层,以及化工石油待业的各种防腐涂层。  电涡流测量原理高频交流信号在测头线圈中产生电磁场,测头靠近导体时,就在其中形成涡流。测头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻抗也愈大。这个反馈作用量表征了测头与导电基体之间距离的大小,也就是导电基体上非导电覆层厚度的大小。由于这类测头专门测量非铁磁金属基材上的覆层厚度,所以通常称之为非磁性测头。非磁性测头采用高频材料做线圈铁芯,例如铂镍合金或其它新材料。与磁感应原理比较,主要区别是测头不同,信号的频率不同,信号的大小、标度关系不同。采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所有导电体上的非导电体覆层均可测量,如航天航空器表面、车辆、家电、铝合金门窗及其它铝制品表面的漆,塑料涂层及阳极氧化膜。覆层材料有一定的导电性,通过校准同样也可测量,但要求两者的导电率之比至少相差3-5倍(如铜上镀铬)。虽然钢铁基体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原理测量较为合适激光测厚仪的测量原理使用两个激光传感器安装在被测物(纸张)上下方,将传感器固定在稳定的支架上,确保两个传感器的激光能对在同一点上。随着被测物的移动传感器就开始对其表面进行采样,分别测量出目标上下表面分别与上下成对的激光位移传感器距离,测量值通过串口传输到计算机,再通过我们在计算机上的测厚软件进行处理,得到目标的厚度值。激光测厚仪的出现,大大提高了纸张等片材涂层测量的精度,尤其是在自动化生产线上,得到广泛应用。
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  • 涂镀层测厚仪 K6-C 400-860-5168转4433
    涂镀层测厚仪 K6-C产品介绍:产品概述1 、钢产品上的电镀(锌 、铬 、镍、镉 、银 、锡等) 涂层; 2 、有色金属产品上的电镀(锌 、铬 、镍、镉 、银 、锡等) 涂层;3 、钢产品上的油漆 、 清漆 、搪瓷 、粉末、胶黏料和其它非导电涂层; 4 、 黑色金属和有色金属上的阳极氧化物、磷化物和其它非导电涂层;5 、 特殊的非导电涂层和厚金属涂层,电镀层;6 、 管道和圆柱形产品内表面的涂层;7 、 印刷电路板上的铜箔;8 、 非导电材料制成的产品上的可导电非铁磁性材料薄板和电镀层;9 、 两层涂层; 10 、混凝土保护层和确定混凝土中钢筋的位置; 11 、大型的玻璃钢和碳纤维增强塑料产品(单侧或两侧可进入),制造和交付使用过程中的壁厚测 量;12 、喷砂或喷丸处理后沟槽深度的测量和表面粗糙度的评估;13 、气候条件控制(空气湿度、空气和金属表面温度、露点温度以及确定 TΔ参数)。 功能特色1 、2.4 英寸 TFT 彩色液晶屏显示,内置锂电池; 2 、符合人体工程学的防震设计,边角带有橡胶保护,防止跌落损坏; 3 、 多功能快捷按键,可根据设备的工作模式调整其用途,操作界面友好直观;4 、 附加模式和设备设置;5 、 可扩展的符合人体工程学的耐磨小型传感器; 6 、 支持具有多种校准特性的传感器( PH3 系列探头最多六种,NF-G 探头最多四种 ,FG 探 头最多两种)。 7 、 可设置涂层厚度上、下限值 ,超出范围自动报警。8 、 测量结果统计功能,显示测量次数 、涂层厚度平均值 、最大值 、最小值和方差。 9 、多种测量模式可选,单点测量 、连续测量和扫描测量,可分析 一段长度范围内的涂层厚度均 匀度(基于所选的传感器)。 10 、 测量数据可存储在主机中,也可与计算机相连,通过软件导出至计算机。
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  • 标智GM280表面涂层厚度测试仪分体式测厚仪非磁性铁基测厚仪
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  • 简单介绍:MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪,把电涡流测厚仪和涂镀层测厚仪结合在一起。用户可以根据现场需要,任意选择铁磁性测厚探头或者涡流测厚探头来测量磁性金属或者非磁性金属上的涂层厚度。该型号涂层测厚仪既可以测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。也可以方便测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度,如铜、铝、锌、锡等金属上的油漆、橡胶、塑料、氧化膜等。详情介绍:MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪功能特点:●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪采用了磁性和电涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。●具有温度补偿功能: 配有科电“锁相环”技术●具有屏幕翻转功能: 可以手动选择翻转显示测量数据●显示方式:2.4寸TFT高清彩屏,320*240像素,大号数字显示●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪测量速度:根据不同的应用场合客户可以选择单次测量和连续测量两种测量速度●可采用三种方法对仪器进行校准,并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正●具有存储功能:可以存储超过1万个测量点●具有删除功能:可以删除存储组中的一个可疑数据,也可以删除所有的存储数据,以便进行新的测量●设置限界:对限界外的测量值能自动报警●显示语言:内置中文、英文●测量单位:公制、英制可转换●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪具有无线通信功能:蓝牙2.0,可以与电脑和打印机进行无线通信●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪具有电源欠压指示功能●操作过程有蜂鸣声提示●MC-3000S/FN1.2两用涂层测厚仪设有两种关机方式:手动关机方式和自动关机方式●V型槽:人性的V型槽结构方便测量各种尺寸管道外表面的涂层●大平底:专用的大平底探头结构使仪器测量更加稳定,重复性更高●防滑垫:**设计的防滑垫配合机壳背面的防滑纹理使客户长时间操作也不易疲劳,体现了科电客户至上的一贯理念测量范围F1.2:0-1.25mm,N1.2:0-1.25mm测量模式精简模式、监控模式、统计模式、*小值捕捉测量原理磁感应和电涡流显示精度0~100μm: 0.1μm 100~999μm: 1μm 1mm~1.25mm: 0.01mm探头连接方式分体式导线连接(不可更换)使用温度相对湿度:≤90% ; 温度:-10℃~+40℃温度补偿配有科电“锁相环”技术语言内置中文、英文测量速度根据不同的应用场合客户可以选择单次测量和连续测量两种测量速度电源两节五号(AA)电池主机尺寸150mm(L)*68mm(W)*33mm(H)重量220g(含电池)
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  • 性能优势:下照式设计:快速方便的定位各种形状的样品,满足一切测试所需。无损变焦检测:拥有手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm。微聚焦射线装置:可测试各微小的部件,小检测面积可达0.002mm2。高效率的接收器:在检测0.01mm2以下的样品时,几秒钟也可达到稳定性。精密微型滑轨:精密的手动移动平台,快速定位所需检测的样品。EFP先进算法软件:可检测单镀层,多镀层,多元合金,甚至对于同种元素在不同层的厚度检测也能分析,包括轻金属镀层,非金属镀层,达克罗,Nip镀层测试,包括Ni与P的比例也均可检测。准直器和滤光片:多种准直器和滤光片电动切换,满足各种测试方式的应用。新一代高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率。防护装置:恒压恒流快门式光闸,拥有高压电源紧急自锁功能,带给您更安全的防护。引线框架测厚仪 技术参数:测量元素范围:CI(17)-U(92)涂镀层分析范围:Li(3)-U(92)分析软件:EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素和有机物厚度也可分析测试程式添加:1862条测试程式免费提供,也可编辑新程式软件操作:人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误X射线装置:升压发射一体高分子聚合式W靶微聚焦加强型射线管接收器:日本东芝正比计数管,窗口面积≥150mm2射线准直系统:垂直光路交换装置搭配黄金准直器视频观测光路系统:垂直光路交换装置搭载100mm变焦镜头测样读取开启方式:恒压恒流快门式光闸滤光片:铝、空、镍准直器:?0.05mm;?0.1mm;?0.2mm;?0.5mm;四准直器任选一种近测距光斑扩散度:10%小测量面积:约0.002mm2测量距离:具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异形样品,变焦距离0-30mm样品观察:1/2.5彩色CCD,全局快门,有效像素:1280*960,变焦功能对焦方式:高敏感镜头(无需增加其他辅助传感器),手动对焦放大倍数:光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸:500mm*360mm样品可放置区域:480mm*320mm*205mm(C型开槽设计,特殊测试时可以超出区域放置样品)外部尺寸:540mm*430mm*475mm移动方式:高精密XY手动滑轨可移动范围:40mm*50mm电源:交流220V 50HZ 功耗:大120W(不包括计算机)冷却系统:对流通道过滤式风冷保养升级模块:软硬件模块化环境要求:使用时温度:10℃-40℃ 存储和运输时温度:0℃-50℃ 空气相对湿度:≤80%重量:约45KG随机标准片:十二元素片、Ni/Fe、Au/Ni/Cu其他附件:电脑一套、喷墨打印机、附件箱PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪XTU 系列测厚仪虽然结构紧凑,但是都有大容量的开槽设计样品腔,即使超过样品腔尺寸的工件也可以测试。搭配微聚焦射线管和先进的光路设计,及变焦算法装置,可测试极微小和异形样品。检测78种元素镀层· 0.005um检出限· 小测量面积0.002mm2· 深凹槽可达90mm。外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,PCB板材膜厚仪电镀层测厚仪应用领域 线路板、引线框架及电子元器件接插件检测 镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析 手表、精密仪表制造行业 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB 汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测 卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS) 电镀液的金属阳离子检测 项 目参 数测量元素范围Cl(17)-U(92)涂镀层分析范围各种元素及有机物分析软件EFP,可同时分析23层镀层,24种元素,不同层有相同元素也可分析软件操作人性化封闭软件,自动提示校正和步骤,避免操作错误X射线装置W靶微聚焦加强型射线管准直器? 0.05 mm 0.1 mm 0.2 mm 0.5 mm;准直器任意选择一种近测距光斑扩散度10%测量距离具有距离补偿功能,可改变测量距离,能测量凹凸异型样品,变焦距离0-30mm(特殊要求可以升级到90mm)样品观察1/2.5彩色CCD,变焦功能对焦方式高敏感镜头,手动对焦放大倍数光学38-46X,数字放大40-200倍样品台尺寸500mm*360mm移动方式高精密XY手动滑轨可移动范围50mm*50mm随机标准片十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um其它附件联想电脑一套、喷墨打印机、附件箱 无损天瑞X荧光光谱镀层膜厚检测仪,天瑞镀层测厚仪
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  • 涂镀层测厚仪 TM-3基本介绍 TM-3涂镀层测厚仪 是使用涡流法来实现涂镀层的厚度测量。该设备主要用于局部测量电镀涂层的厚度,例如钢上的锌,镉或铬,以及钛等上的银或铜等。该设备具有10000点的测量记录点,用于连接PC的USB接口,结果的选择平均模式以及从设备的键盘和个人计算机编程多达25个近似标度的可能性。此外,该涂镀层测厚仪还提供专门的转换器,可以测量一般测厚仪难以测量的物件(测量孔,管等)。 性能特点 能够记录多达25个近似标度;可调节屏幕背光;选择性平均模式自动报警信号系统(ASB);电源:内置电池;自动关闭模式;订购不同配置的转换器的可能性;技术参数测量厚度范围: 从0到100um(铁磁或非铁磁基底上,取决于型号)读数精度: 1,0.1,0.01 - 在编程时设置测量误差: 在读数的3%以内屏幕类型: 图形LCD,可调节背光和对比度屏幕尺寸(高x宽): 21 x 56mm记忆结果: 10,000个结果与PC通信: USB接口电源: 内置电池2000 mAh,2.4V工作时间: 不少于15个小时自动关机: 在90秒内工作温度范围:从-10 C到+50 C.电子单元的尺寸(高x宽x高): 170mm x 80mm x 40mm转换器的尺寸(长x高): 11mm x 60mm 重量: 230g 我司为俄罗斯KROPUS的所有产品在大中华地区的总代理。
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  • 科电检测仪器公司成立于2002年,属于国家认证批准的高新技术企业,是中国铃先的检测仪器生产制造商。公司集研发、生产、销售和服务为一体,专业提供上等的检测仪器与全面的技术解决方案。总部坐落于山东省济宁市,公司厂区占地面积18800多平方米。公司技术力量雄厚,拥有完善的生产工艺、精湛的技术开发及生产实力。科电公司多年来始终坚持“用心制造、成就精品”的产品开发目标,秉承“科学管理、精心制造、优质服务、追求卓越”的质量方针,全面建立质量管理体系,经过10年的不懈努力,目前已发展壮大成为资产过亿、员工上百,并拥有3家控股公司及多家办事处的企业,产品涉及超声检测、涂装检测、埋地管线检测、红外检测、气体检测等多个领域的高科技产业型经济实体。公司目前生产产品有:HCH系列超声波测厚仪、MC系列涂镀层测厚仪、MCW涡流测厚仪、FJ系列埋地管线检测仪、DJ系列电火花检漏仪、TM系列红外线测温仪、YD系列里氏硬度计等。“科技成就未来、用心制造精品”,科电公司将与时俱进,为民族工业品牌走向世界而不懈奋斗!
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  • 涂层测厚仪 400-860-5168转4379
    涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:0~5000um,是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操 作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻 且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。  应用范围:  仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。  工作原理 :  涂层测厚仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回 路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂镀层厚度。  二、涂层测厚仪产品性能  1、测量范围:  0~5000um  2、测量误差:  3%±1um   3、最小示值:  1um  4、显示方式: 4位液晶数字显示  5、主要功能:  (1).测量:   单探头全量程测厚  (2).存储、删除: 可存入测量数据600个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。  (3).读:  读出已存入的测量数据  (4).统计: 设有三个统计量,平均值最大值最小值  (5).校准: 可进行系统校准  (6).电量: 具有欠压显示功能  (7).打印: 可打印测量值,选配微型打印机  (8).关机: 具有自动关机和手动关机两种方法   6、电源:     两节1.5v电池  7、功耗:    最大功耗100mw  8、外形尽寸:  51mm*126mm*27mm  9、重量:      160g(含电池)  10、使用环境温度: 0℃~+40℃ 相对湿度:不大于90%  11、基体最小厚度: 0.5mm  12、基体最小平面的直径: 7mm  13、最小曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm  14、欠电压指示: 右上角显示" *临界厚度小:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度 三、涂层测厚仪配置单  1、涂镀层测厚仪 一台  2、七号电池 二节  3、探头 一支  4、标准样片 一盒  5、小铝箱 一个  6、说明书、合格证 一套  选配件:  1、打印机及通讯打印连线 1套  2、微机通讯软件 1盘  3、内防腐探头
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  • 涂层厚测定仪 400-860-5168转4379
    涂层厚测定仪(镀层测厚仪)测量范围:0~5000um,是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、数字显示、示值稳定、功耗低、操 作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻 且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准,其性能达到当代国际同类仪器的先进水平。  应用范围:  仪器采用磁性测厚法,可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。  工作原理 :  涂层厚测定仪采用电磁感应法测量涂镀层的厚度。位于部件表面的探头产生一个闭合的磁回路,随着探头与铁磁性材料间的距离的改变,该磁回 路将不同程度的改变,引起磁阻及探头线圈电感的变化。利用这一原理可以精确地测量探头与铁磁性材料间的距离,即涂镀层厚度。  二、产品性能  1、测量范围:  0~5000um   2、测量误差:  3%±1um  3、最小示值:  1um  4、显示方式: 4位液晶数字显示  5、主要功能:  (1).测量:   单探头全量程测厚  (2).存储、删除: 可存入测量数据600个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。  (3).读:  读出已存入的测量数据  (4).统计: 设有三个统计量,平均值最大值最小值  (5).校准: 可进行系统校准  (6).电量: 具有欠压显示功能  (7).打印: 可打印测量值,选配微型打印机  (8).关机: 具有自动关机和手动关机两种方法  6、电源:     两节1.5v电池  7、功耗:    最大功耗100mw  8、外形尽寸:  51mm*126mm*27mm  9、重量:      160g(含电池)  10、使用环境温度: 0℃~+40℃ 相对湿度:不大于90%  11、基体最小厚度: 0.5mm  12、基体最小平面的直径: 7mm  13、最小曲率半径: 凸:1.5mm 凹:6mm  14、欠电压指示: 右上角显示" *临界厚度小:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度三、MC-2000C型涂层测厚仪配置单  1、涂镀层测厚仪 一台  2、七号电池 二节  3、探头 一支  4、标准样片 一盒  5、小铝箱 一个  6、说明书、合格证 一套  选配件:  1、打印机及通讯打印连线 1套  2、微机通讯软件 1盘  3、内防腐探头
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  • 货期&价格请与咨询客服为准!谢谢! 1. Ux-720新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。 2. 采用了FlexFP-Multi技术,无论是生产过程中的质量控制,还是来料检验和材料性能检验中的随机抽检和全检,我们都会提供友好的体验和满足检测的需求。 3. Ux-720微移动平台和高清CCD搭配,旋钮调节设计在壳体外部,观察移动位置简单方便。 4. X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提高了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。 5. Ux-720镀层测厚仪采用了华唯最新专利技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。 6. 样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全高于国标GBZ115-2002要求。 7. 软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。 测厚技术:X射线荧光测厚技术测试样品种类:金属镀层,合金镀层测量下限:0.003um测量上限:30-50um(以材料元素判定)测量层数:10层测量用时:30-120秒探测器类型:Si-PIN电制冷 探测器分辨率:145eV高压范围:0-50Kv,50WX光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;光管靶材:Mo靶;滤光片:专用3种自动切换;CCD观察:260万像素微移动范围:XY15mm输入电压:AC220V,50/60Hz测试环境:非真空条件数据通讯:USB2.0模式准直器:Ø 1mm,Ø 2mm,Ø 4mm软件方法:FlexFP-Mult工作区:开放工作区 自定义标准配件:样品固定支架1支窗口支撑薄膜:100张保险管:3支计算机主机:品牌+双核显示屏:19寸液晶打印机:喷墨打印机 可选配件:可升级为SDD探测器 可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存。
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  • 涂层测厚仪 400-860-5168转2014
    仪器简介:产 品 介 绍: 订购编号:20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途:广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合,多功能、耐用的设计,专为适应恶劣的工作环境而制造,典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。技术参数:应用范围: 磁性基材上的非磁性涂层,例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层,例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法:磁感应或涡流式 ●测量精度:1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率:0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸);25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准:磁感应遵守ASTM B499 & B530;DIN 50981;ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259;DIN 50984;ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量:12,400条读数 ●低铁和无铁层厚度:12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量:14.9X7.94X3.02 CM;重量:260克(含电池) ●单位:英制和公制,可转换 ●电池:9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,高值,低值,由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口:RS-232串行输出端口 ●显示:1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区:密封膜。基本-9键;增强-16键 ●扫描特征:在指定扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值) ●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国主要特点:品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □性价比优势:同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头:配备有世界上的检测探头 □测量精度:1%或± 0.1&mu m依照参考标准片,分辨率:0.1&mu m □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)(涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一,我们是牛津测厚仪中国一级代理,专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测 厚仪行情、涂层测厚仪参数、涂层测厚仪应用、涂层测厚仪维修、涂层测厚仪保养、涂层测厚仪报价、涂层测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题)
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能。频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的产品。能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离,见背面)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金,包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标,用于快速产品选择。完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估。报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从上至下;3.X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.单个0.3mm直径(12 mils)的标准视准器,在附加费用的基础上可选择0.05×0.3 mm(2×12 mil)带槽视准器;或直径0.1mm 或直径0.2mm;或0.4X0.4mm方形。5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs);6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门;7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件。7.从X-射线头部(X-射线管,成比例的反射接收器及视准器)至测试件平面支承板有三种可选择的固定距离。需要的设定距离(见背面)必须在定货时明确(标准设定:中间位置)8.试件查看用彩色摄像机9.带有LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体主要特点:FISCHERSCOPE XDL-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。XDL-B 的特色是独特的距离修正方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别。对于XDL-B 带测量距离固定的X-射线头,这一特性提供了能在复杂几何外形的测试工件和不同测量距离上实现简便测量的可能性。特别针对微波腔体之类样品的底部镀层厚度进行测量。
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  • 仪器简介:适用于Windows2000或选择适用于Windows XP的真Win32位程序带在线帮助功能频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使应用的校准简单化画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;计算机生成的刻度化的瞄准十字星,并有X-射线光束大小指示器(光束的大小取决于测量的距离)图形化的用户界面,测试件的图像显示可插入于测试报告中对试件与视准器之间的距离进行视觉控制的校正(DCM方法)范围可达80mm(3.2〞)测量模式用于:单、双及三层镀层系统 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度 和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金,包括金的开数分析的特殊功能。对电镀溶液的分析能力可达包含一或二种阳离子的电镀液。可通过RS-232接口或使用网络环境控制命令设定数据的输出和输入以实现系统的远程控制。通过使用可选择的带合成条形码读入器的键盘实现产品选择。可编程的应用项图标,用于快速产品选择。完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估。报告生成,数据输出语言可选择:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,及中文菜单中的某些选择项可授权使用技术参数:1.Fischerscope X-RAY XDL是采用根据技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568的X-射线荧光测试方法;2.原始射线从上至下;3.微聚焦X-射线管高压设定可调节至最佳的应用:50kV,40kV或30kV;4.标准视准器组:圆形0.1/0.2/0.3和长方形0.05X0.3mm;5.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)650 mm×570 mm×740 mm(26〞×22〞×29〞),重量大约为105kg(120lbs);6.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)300 mm×460 mm×500 mm(12〞×18〞×20〞)带向上回转箱门;7.嵌入式固定的测试件支承板,需要时可移去以适用于大件的超出尺寸的测试工件;8.电机驱动的144mm(5.7〞)X-射线头部(X-射线管,比例接收器及视准器)的Z轴运行;9.试件查看用彩色摄像机10.测量开始/结束按钮,X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。主要特点:FISCHERSCOPE XDLM-C4 是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。微聚焦X-射线管以及电机带动的有4个不同尺寸视准器组成的视准器组使得XDLM-C4成为测量大批量生产部件的理想测量仪器,例如螺丝,螺母和螺栓。可选择的钴接收器有效地解决铜上镀镍的测量应用问题XDLM的特色是独特的距离修正测量方法。DCM方法(距离控制测量)自动地修正在不同的测量距离上光谱强度的差别,简便了测量复杂几何外形的测试工件和在不同测量距离上的测量。与WinFTM V.6软件及校样标准块Gold Assay结合,XDLM作为FISCHERSCOPE GOLDLINE ASSAY的一部分, 完美地适用于快速,非破坏性和精确的测量珠宝及贵金属中金的成分。
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  • 仪器简介:适用于Windows2000的真Win32位程序带在线帮助功能;频谱库中允许创建从元素钛至铀的任何一种新的应用;能通过“应用工具箱”(由一个带所有应用参数的软盘和校准标准块组成)使校准简单化;画中画测试件查看和数据显示,带快速移动焦距功能放大试件图像;十字星瞄准并带度量网格,以及测试点尺寸指示;测试工件的视频图像可用BMP文件形式保存;XYZ运行编程功能:随机单点,第1点、最后1点及等分的中间点,鼠标左键点选功能,鼠标右键的使用相当于操纵杆;测量模式用于:单、双及三层镀层系统双元及三元合金镀层的分析和厚度测量双层镀层,其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析(两层的厚度和合金成分都能被测量)能分析多达四种金属成分的合金并具分析金的K数的特殊功能。能分析含一到二种金属离子的电镀溶液;频谱显示可自由选择颜色;并可同时显示前台和背景的频谱以便比较;频谱可储存和打印;可使用定义的文件名进行应用文件的管理(应用文件包含应用名,数据表示方式,打印形式定义,输出模板设定及记事本);用户可定义的报告编辑器,并自动插入测试工件的显示图像,及一些小的图片,如公司标识,图表,数据排列,字体选择;可以WinWordTM形式保存;单个的应用可连接至任意数量的应用文件(此种连接大大减少了所需要的校准及初始化步骤);使用条形码标签及可选的条形码读入键盘可自动选择应用;可选择数据进行统计评估;通过RS232串行口进行在线或离线的数据输出;可通过RS232串行口或在网络环境下的指令文件进行远程控制;可编程的应用项图标,用于快速应用项选择完整的统计功能,SPC图,标准的概率图和矩形图评估语言:英语,德语,法语,意大利语,西班牙语,中文及日文(需要特殊的Windows版本);可自由定义“短目录”以锁住某些重要的系统功能;技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568;2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件;3.测量箱外部尺寸:(高×宽×深)720 mm×660 mm×950 mm,重量大约为135kg;4.带槽箱体的内部尺寸:(高×宽×深)160 mm×560 mm×530 mm,带向上回转箱门;5.原始射线从上至下;6.高性能的X-射线管,高压及电流设定可调节至最佳的应用,高压设定:50kV,40kV或30kV;阳极电流:连续可调至0.8mA;7.原生电子过滤器:Ni和Be;8.4个对焦平面用于凹槽,腔体的测量,并可达到90mm;9.标准视准器组件Ⅰ有以下组成:0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.05x0.05mm(2x2 mil)方形 0.03x0.2mm(1x8mil)带槽;在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅱ(取代组件Ⅰ)有以下组成:0.1mm(4mil) 0.2mm(8mil) 0.3mm(12mil)圆形 0.05x0.3mm(2x12mil)带槽;在附加费用上可选的标准视准器组件Ⅲ(取代组件Ⅰ)有以下组成:0.2mm(8mil) 圆形 0.05x0.05mm(2x2mil) 0.025X0.025mm(2X2mils)方型;0.03mmX0.2mm(1.2X8mil)带槽;注:当测量PC印板,电脑接插件,引线框架等小工件时,推荐使用视准器组件Ⅰ10.自动的X-射线光束十字星校准。该特性在测量极小工件时非常有用;11.充氙气的比例计数器,频谱处理时,内部采用4096通道的ADC,对外显示为256通道;12.快速编程,高精确度,电机带动的XY工作台运行范围:型号XDVM-T7.1:X=175mm(7.0〃), Y=175mm(7.0〃)型号XDVM-T7: X=250mm(10.0〃), Y=250mm(10.0〃)13.工作台的控制可通过鼠标点选或操作杆14.工作台面板可自动移出至工件放置位置;定位容易;15.电机驱动及高度(Z-轴)可编程的X-射线头部(X-射线管,比例计数器及视准器组件);Z-轴运行=145mm(5.9〞);16.高分辨率的彩色摄像头用于测试工件的定位及查看;可选择的双重放大率X40/X80,带十字星及度量网格以及测试点尺寸指示;17.测量箱键盘适合于最常用的测量功能和程序选择,操纵杆控制X-Y工作台,钥匙控制X-射线头的缓慢或快速的上下移动,LED状态指示灯。主要特点:FISCHERSCOPE XDVM-W是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。它杰出的特性包括:2组可切换的各带4个视准器的视准器组,大的开槽的测量箱体确保工件放置简便,精确的可编程的直流电机驱动的X-Y工作台快速和无振动移动以及原始射线从上往下设计为在Z-轴可移动的X-射线发生和接受装置。这个特性使得该系统非常适合于测量大批量生产的部件,例如螺丝,连接器插针或大的线路板。按动按钮就可根据预设的测试点定位进行自动测量,并可自动的进行评估报告输出。
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  • 镀层测厚仪 400-860-5168转2014
    仪器简介:产 品 介 绍: 订购编号:20706 CMI233(单探头) / 20707 CMI233(双探头) 用途:广泛应用于喷涂电镀、涂料涂装、汽车、石化管道、造船、电器、防腐等行业中的表面涂层及各种薄膜厚度的测量 CMI 200型测厚仪是高科技电子技术和软件的佳组合,多功能、耐用的设计,专为适应恶劣的工作环境而制造,典型应用于表面处理工业。 CMI 200以经济的价格为您提供对涂镀层厚度的准确、高效的监控。 (涂层测厚仪/涂镀层测厚仪是本公司主打销售产品之一,我们是牛津测厚仪中国一级代理,专业提供涂层测厚仪品牌、涂层测厚仪行情、测厚仪参数、测厚仪应用、测厚仪维修、测厚仪保养、测厚仪报价、测厚仪售后服务等涂层测厚仪各种问题) (涂层测厚仪,镀层测厚仪,漆膜测厚仪,薄膜测厚仪,测厚仪,涡流测厚仪,油漆测厚仪,磁感应涂层测厚仪)技术参数:应用范围: 磁性基材上的非磁性涂层,例如钢或铁上的锌、铬、镉、锡、铜、聚四氟乙烯、环氧树脂、油漆、粉末涂料等涂层 导电基材上的非导电性涂层,例如铜或铝上的阳极电镀、油漆、珐琅/瓷釉、粉末涂料、环氧化物等涂层。 ●测量方法:磁感应或涡流式 ●测量精度:1%± 0.1&mu m依照参考标准片 ●测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) ●分辨率:0.1&mu m ●小曲率半径 5mm(凸);25mm(凹) ●小测量面积 &phi 20mm ●小基体厚度 0.35mm ●适用标准:磁感应遵守ASTM B499 & B530;DIN 50981;ISO 2178 and BS 5411 PART9&11有关规定。涡流式遵守ASTM B244 & B259;DIN 50984;ISO 2360 and BS 5411 PART3有关规定 ●存储量:12,400条读数 ●低铁和无铁层厚度:12 mils(305&mu m) ●尺寸及重量:14.9X7.94X3.02 CM;重量:260克(含电池) ●单位:英制和公制,可转换 ●电池:9伏干电池或充电电池 ●统计数据显示:读取次数,平均值,标准差,高值,低值,由打印机或连续输出支持的直方图和CPK图 ●接口:RS-232串行输出端口 ●显示:1/2英寸背光液晶显示屏 ●键区:密封膜。基本-9键;增强-16键 ●扫描特征:在指定扫描时间内自动平均读数(或可提供实际高低值) ●品牌及产地:英国牛津仪器;产地:美国主要特点:品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □性价比优势:同类进口产品中具有很高的价格性能比 □探头:配备有世界上的检测探头 □测量精度:1%或± 0.1&mu m依照参考标准片,分辨率:0.1&mu m □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
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