手持台式两用均质器

[align=center][b][color=#330000]手持x荧光光谱仪构成以及各各部件的详细技术参数（绝对干货啊)[/color][/b][/align][align=center][b][color=#330000]作者隔壁老王 137-1514-1057相互学习交流[/color][/b][/align][b][color=#ff6666]一手持机各核心部件如下[/color][/b]探测器（一般有美国的两家公司提供amptek moxtek）[img=,352,274]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707011559_01_3239116_3.png[/img][img=,284,227]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707011605_01_3239116_3.png[/img][img=,332,192]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707011610_01_3239116_3.png[/img] 图一探测器外观 图二探测器接口 图三探测器接口定义探测器在上电之后一般经过40sec 探测器的内会通过半导体制冷器件将温度降低到-35度市面100%的手持XRF一般首次开机都要初始化60sec的原因。注意：探测器含有铍。吸入铍尘会导致肺部疾病。参考铍材料安全数据表（MSDS）。铍窗容易损坏。不要碰铍窗表面有任何东西，包括棉签或软刷。 当探测器提供高压（高压）时，要注意避免突然断电会造成探测器不可逆损坏。[align=center]I探测器常见问题[/align][align=left]1 震动跌落引起探测器内部件晶体损坏， 这是我们遇到最多的问题。。所以大家在使用仪器千万要注意轻拿轻放。[/align][align=left]2探测器解析度升高无法通过初始化。一般6MM硅pin的测器的的解析度不能高于190 12MM 不能高于230[/align][align=left]3探测器老化引起探测器内制冷温度不能达到设定值-35度。[/align][align=left][img=,364,319]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/07/201707011633_01_3239116_3.png[/img][/align] 当检测器工作时，信号将看起来像锯齿形斜面（如图所示）。X射线能量包含在斜坡的斜坡上。如果没有脉冲输入探测将自动复位，使斜坡回到顶部。这称为重置事件。在复位事件没有信号（这就算是仪器的live time 小于测试时间的原因）[b][color=#ff6666]光管 ( moxtek)[/color][/b][color=#ff6666][b]市面上的机器尼通伊诺斯应用的都是美国moxtek公司的微型射线光早器用的40KV的 4W的功率现在最新的50KV 的管子[/b][/color][color=#ff6666][b]光管作为手持机最贵重的部件是有使用寿命的。早器的光管一般可应用5000小时光管，随着技术的更新现在的光管基本[/b][/color][color=#ff6666][b]可应该10000小时。（一个样品的测试时间一般在20秒）[/b][/color][color=#ff6666][b]高压的常见故障为[/b][/color][color=#ff6666][b]1计数率不稳定造成测试结果波动大[/b][/color][color=#ff6666][b]2 光管计数率太低低含量的样品无法激发测试结果偏差大[/b][/color][b]3高压故障引起设置电流跟监控电流不一致4高压断路造成高压开启设备上电保护自动断电[/b]pcb idpp（光谱信号处理板 ） psm（电源分配提供板） 电机 过滤片 组成常见问题[color=#ff0000] 仪器初始化失败[/color]一般会有提示信息 开机听马达是否有归位声音 如果没有电路板问题1为光管老化仪器 计数率误差超过设定值的50%2探测器的的解析度误差 大于3% 3 探测器损坏 （大问题啊） 4 探测器老化制冷温度达不[color=#ff0000]为什么有些元素在测试结果中显示超标，但经过光谱分析后可以直观地判断[/color][align=center]该元素并未超标？[/align][align=left]在测试过程中某些元素会受到其邻近元素的干扰，比如铬（Cr）会受到锰（Mn）和铁（Fe）；镉（Cd）会受到银（Ag）和锡（Sn）；溴（Br）会受到硒[/align][align=left]（Se）和砷（As）的影响，导致系统作出误判断，这时需要通过查看光谱来直观地判断被测元素是否被干扰了。如果在光谱图中被测元素没有峰值而相邻元[/align][align=left]素有较明显的峰值并且被测元素超标值并不大的话，则可以直观地判断该被测元素并未超标。[/align][align=left][color=#ff0000]3 为什么在测试结果中出现测量值时，IEC（国际电工委员会）认为该测量值不可靠，所以将测量值隐藏，只显示3倍的测量误差值，并在前面加上测量值时，IEC（国际电工委员会）认为该测量值不可靠，所以将测量值隐藏，只显示3倍的测量误差值，并在前面加上号。如出现如下数值：30±47（注意由于XRF测量是一种所谓的统计学上的测量，其测量误差会受到测试时间、样品是否均质、样品表面是否平整、样品厚度等因素的影响，甚至测量误差会大于测量值），3倍的测量误差=147，所以把测量值30隐藏，将147显示出来，如下图：所以，遇到“”号的情况可作以下处理：1.当“”号后的数值小于不合格限时（如Pb、Br、Hg、Cr为1000ppm；Cd为100ppm），可直接判为合格；2.当“”号后的数值大于不合格限时，建议将测试时间延长到180秒以上，如结果仍然有“”号，此时可以理解成样品中的元素低于仪器的最低检测限，导致测量误差非常大，所以不管“”号后的数值是多少，也可以判为合格。未完待续[color=#2e3033][img]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/09/201709091205_01_3239116_3.png[/img][/color][color=#2e3033] [b] 手持式pk 台式机[/b][/color][color=#2e3033][b] 手持机代表厂商 伊诺斯 热电 牛津（被日立收购）[/b][/color][color=#2e3033][b] 台式机 国内 天瑞 3v 德普 善时 华唯[/b][/color][color=#2e3033][b]软件对比（经验系数vsFP基本参数法）[/b][/color][color=#2e3033][b]现在国内台机普及应用的是经验系数几乎就是傻瓜机 有标样了建一个了强度跟浓度的方程你测的样品跟你建立曲线所用的标样必须一致，才可以abs pvc [/b][/color][color=#2e3033][b]金属 各基材的的建立一堆的曲线。 一旦测试的样品跟建立的曲线的样品不一样测试结果就会偏差很大。 这就是为买机器测样测的准，后期天天找售后调的原因。[/b][/color][color=#2e3033][b]国外几乎全部应用FP基本参数法 特点是仪器再出厂时做常用的纯素标定， 通过数建模基体效应，散射等参数 测试元素时通过扣除背景 扣除其他元素的 得到精确的谱峰强度。跟纯元素的强度进行对比。得到含量信息，再通过标样样进行二次校准。这样到客户测试基本不需要进行校准曲线。客户来料随便变换测试结果也不会有很大的偏差。[/b][/color][color=#2e3033][b]经验系数再测客户给定了准确含量，建立曲线后要比FP法测的准确。 但是客户的样品发生变化比如之前测pvc 现在测abs 测试结果就好有很大的偏差[/b][/color][color=#2e3033][b]机器要内置很多曲线。测试前要选择曲线。 FP法测试不需要选择曲线客户后期使用成本低操作简单并且现在国外的机器都内置了经验系数法让客户自己建立曲线。[/b][/color][color=#2e3033][b] 硬件对比 [/b][/color][color=#2e3033][b]探测器 都用的是 amtek moxtek 的探测器。 这个没啥区别。国内造不出来大家都用国外的。[/b][/color][color=#2e3033][b]光管 [/b][/color][color=#2e3033][b]随着XRF理论和计算机软件技术的发展，FP法和理论系数法越来越走向实用化。很多人在具体应用时疑惑到底什么情况下用EC法或经验系数法好，什么情况下用FP法或理论系数法好。就此一点，我根据自己的测试经验做一些讨论分享。EC法和经验系数法优点：1、简单直接；2、在标样充足且待测样比较规范的情况下测量精度很高。缺点：1、需要大量标样，且元素需要覆盖面广，在缺少标样或标样元素没有覆盖所有待测元素的情况下，误差很大甚至不能测。2、待测样需要与标样组成成分接近，且形状要规范光滑，否则会带来很大误差。3、元素荧光强度与浓度曲线关系很复杂，导致做出来的工作曲线“很难看”，适用范围窄，一旦待测样与标样基体差异较大 结果误差很大。经验系数法可以进行校正，但校正的前提是基于前面两点基础上的。FP法和理论系数法优点：1、在标样不够或标样元素没有覆盖所有待测元素情况下，只能选择FP法或理论系数法；2、FP法可以做到对待测样形状、表面粗糙度不敏感，在待测样不规范或不方便制样的情况下用FP法要好。3、将FP法或理论系数法与工作曲线结合起来，校正后的工作曲线线性很好。缺点：1、FP法或理论系数法模型复杂，牵涉到的物理量太多，在具体应用时需要较复杂的模型配置，对于普通用户来讲很难 掌握，而一旦在哪个环节出错，可能导致最后的分析结果很大误差。2、FP法或理论系数法的测试准确度比在理想条件下（指有足够标样、标样元素覆盖所有待测元素、待测样规范）的[/b][/color][color=#2e3033][b]EC法或经验系数法要稍差。尤其是对于微量元素，FP法或理论系数法的相对误差往往可能超过1%.[/b][/color][color=#2e3033][b]这也就是为台式机用经验系数法测rhos 样品测试效果好但是测全元素却测不会的原因，台式机的优势也只能在rhos方面，测合金矿石土壤就要不是和理想[/b][/color][color=#2e3033][b]因为你不可能做太多的曲线一但测试的样品跟你校正的样品不一样测试结果就要很大的不确定。[/b][/color][color=#2e3033][b]测试对比 [/b][/color][color=#2e3033][b]1所有的台式机开机都需要预热因为台式机高压在刚开机时灯丝没有充分预热不预热高压不稳定造成测试数据波动大数据测试误差大[/b][/color][color=#2e3033][b]所有每次开机都需要预热大概30分钟，测试样品时间一般在180秒。[/b][/color][color=#2e3033][b]手持机的高压不需要预热开机过程1分钟时间就可以稳定激发。测试时10--180秒[/b][/color][color=#2e3033]硬件对比 [/color][color=#2e3033][b][color=#2e3033]光管 [/color] [/b][/color][color=#2e3033][b] 操作易用性对比[/b][/color][color=#2e3033][b] 维护成本对比[/b][/color][align=center][color=#2e3033]原名innocx 现在被小日本奥林巴斯收购 国内最大的代理商为莱雷科技[/color][/align][align=center][color=#ff0000]高价回收伊诺斯 （AHALA OMGA DETAL 系列分析仪 艾克icheckx ）维修（加软件 换探测器 光管 电路维修）[/color][/align][align=center][color=#ff0000]谢生13715141057[/color][/align][align=center][color=#ff0000][img=,472,576]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2018/08/201808181750282379_5760_3239116_3.png!w472x576.jpg[/img][/color][/align][align=center][color=#ff0000]高价回收伊诺斯 （AHALA OMGA DETAL 系列分析仪 艾克icheckx ）维修（加软件 换探测器 光管 电路维修）[/color][/align][align=center][color=#ff0000]王生13715141057[/color][/align][align=center][/align][align=center][color=#ff0000]手持机选购各大厂家对[/color][/align][align=center][color=#ff0000][/color][/align][align=center][color=#ff0000][/color][/align][align=center][color=#ff0000][/color][/align][align=center][color=#ff0000][/color][/align][align=center][color=#ff0000][/color][/align][align=center][color=#ff0000][/color][/align][align=left][color=#ff0000][/color][/align][align=center][color=#ff0000][/color][/align]