三坐标成像测量系统

三坐标测量仪配件侧头 17806282711合作、共赢！美国热电：直读光谱仪ARL8860、XRF、XRD ICP、电镜、电子能谱仪德国徕卡：金相显微镜、体视显微镜、电镜制样设备英斯特朗：疲劳试验机、万能试验机； 摆锤冲击试验机、落锤冲击试验机东京精密：圆度仪、轮廓仪、粗糙度仪、三坐标美国法如：激光跟踪仪、关节臂及扫描 日本奥林巴斯手持光谱仪 德国帕马斯颗粒计数器租赁检测：便携式三坐标、激光跟踪仪、3D扫描仪为客户提供专业的检测服务，帮客户挖掘新的赢利空间！上海澳信检测技术有限公司青岛澳信仪器有限公司青岛澳信质量技术服务有限公司联系地址：青岛市城阳区山河路702号上海地址：上海浦东新区川沙路1098号新美测（青岛）测试科技有限公司提供测试服务：静态力学测试主要包括拉伸、压缩、弯曲、剪切等；动态疲劳测试主要包括：拉拉疲劳、拉压疲劳、压压疲劳、裂纹扩展速率等

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Gilder SEM载网英国Gilder制造，又称finder grids载网。外径3.05mm，厚度18微米。你需要将载网上的样本定位时，这种坐标载网恰好满足你的要求。我们这里向您介绍常用的两种型号，SEMF2和SEMF3型。Type SEMF2：普通载网上呈菱形分布57个小方块，每个小方块分别以1-57数字标识，一目了然。每个区域又被细分为4份，这样整个载网上就有228块被定位了的区域。Overall Diameter:10 mmOverall Thickness:~50 μmMaterial:Copper, Nickel or GoldType SEMF3：普通载网上分出25个区域，用数字、字母标识坐标。通过载网圆周非对称特性标记整个载网坐标方向。Overall Diameter:10 mmOverall Thickness:~50 μmMaterial:Copper, Nickel or Gold 货号产品名称规格80102-CuSEMF2,Copper坐标铜网10/vial80102-NiSEMF2,Nickel坐标镍网10/vial80102-AuSEMF2,Gold坐标金网5/vial80103-CuSEMF3,Copper坐标铜网10/vial80103-NiSEMF3,Nickel坐标镍网10/vial80103-AuSEMF3,Gold坐标金网5/vial

坐标普通碳支持膜的载网是带标记的，方便您找到需要观察的样品。F1坐标载网和F2坐标载网是不同规格标记（F1坐标网见图1，F2坐标网见图2）。图1 F1坐标图2 F2坐标 碳膜为两层支持膜结构，可以采用不同规格的载网做载体。从空间结构来讲，从下到上依次为载网，方华膜和碳膜，如下图它是在一层有机方华膜上再覆盖一层碳膜。由于碳层具有较强的导电以及导热性，弥补了无碳方华膜的荷电效应以及热效应，增强了膜整体的稳定性，适合大多数纳米材料和生物样品的一般形貌观察。普通碳支持膜是针对常规检测20-50nm尺度样品的理想产品，是初次使用或筛查样品的最基本选择。如下图是纳米材料和生物样品在中低倍下的TEM照片，图像清晰，背底影响较小。支持膜的厚度，由对样品提供的承载强度和自身产生的背底干扰共同决定。如果膜厚度大，对样品的承载能力强，但会导致背底噪音增强；如果膜厚度小，图像质量高，但容易引起支持膜破裂。膜总厚度：10-20 nm产品编号产品名称规格/数量间距肋宽孔径BZ10021F1b100目F1坐标碳支持膜50枚/盒25040210BZ10021F1a100目F1坐标碳支持膜100枚/盒25040210

英国Gilder制造，又称finder grids载网。外径3.05mm，厚度18微米。F1F2F3 l F1型坐标载网：粗的栅条分割出小的区域，每小区域内是细栅条组成的6个孔，每一区域对应一个编码。l F2型坐标载网：粗的栅条分割出小的区域，每小区域内是细栅条组成的9个孔，每一区域对应一个字母编码。l F3型坐标载网：322个载网孔，每个位置均可以由数字(2-20)和字母（A-T）来标注。 订购信息：（如需金材质，请来电说明）货号产品描述规格间距 μ孔距μ栅条宽 μG200F1-Cu200目坐标载网 100/瓶12510035-12G200F2-Cu200目坐标载网100/瓶12510625-12G200HF3-Cu200目坐标载网25/瓶125备注：我公司提供坐标载网的各种膜（方华膜；纯碳膜，方华+碳膜）类产品，有不同的膜厚度可以选择，质量可靠，均来自Gilder。

200目石棉微坐标铜网

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德国蔡司三坐标测针 M3/M5牙 直杆型 球径：6.0mm 总长：68.0 ML：55.0mm 测针规格齐全 亲们，因测针规格超多，需要其它规格的客户，请 联系客服，感谢有您的一路支持！！！

200目石棉微坐标铜网

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这些盖玻片都由纯白玻璃制造，表面刻蚀了永久栅格。它有2种型式可选：l 方形刻蚀坐标盖玻片2号厚度的盖玻片有520个带标记的方格，每个方格的大小是600 x 600μm方便细胞或染色体的展开 l 圆形刻蚀坐标盖玻片25mm直径。厚度2号的盖玻片有1-200个方格，每个方格500um宽可以放入六孔板适合活细胞的生长观察 订购信息：货号产品名称规格72264-18刻蚀坐标盖玻片18 x 18 mm 25/盒 72264-23 刻蚀坐标盖玻片23 x 23 mm 25/盒72265-12刻蚀坐标盖玻片12 mm Diameter25/盒72265-25刻蚀坐标盖玻片25mm Diameter25/盒72265-50刻蚀坐标盖玻片25mm Photo-Etched German Glass 25/盒

l 帮助研究者准确定位玻片上某一特定位置区域。l 75 x 25 mm 玻片上精确刻蚀出多个1mm2的方格，每个方格又以0.1mm间隔细分，每个特定区域都有字母和数字坐标定位。 订购信息：货号产品名称规格72266-01罗文斯坐标玻片Micro-Slide Field Finder, 75 x 25 mm1片

100目Gilder坐标铜网

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200目Maxtaform Style H2坐标镍网

Maxtaform Style H6坐标镍网

三维测量用探头，因具有测量装在活动部的Z向端部的触针和该活动部的坐标的测量构件，该活动部具有由空气轴承构成的能沿Z坐标方向移动的滑动部，能以低测量压力高精度地进行非球面透镜等的复杂曲面的形状测定、表面光洁度、级差方面等形状测定。

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LED光电测量系统配件是一款进口的满足LED电光参数和性能测量的系统，它可以测量LED, OLED,激光等任何发光光源的光电参数和特性,可快速而准确地测量各种发光光源辐射，光度学，色度以及效率参数。为了测量各种光源，孚光精仪公司为LED光电测量系统配件提供各种类型的灯具，光采样选项和电探针附件。这种齐全的附件配备，使得这套LED光谱分析系统能够适合世界上任何商业标准封装或作为实验样品的各种发光器件的测量，使用积分球可以更为有效地收集光辐射，而不受光发射角的分布影响。其它光采样附件也可配置，以满足标准测量的要求，能够适应外部光源测量的需要，融入最好的输出功率等级和精度的测量工具，也可根据用户的要求提供定制系统，更可以根据用户已有的仪器提供定制服务。LED光电测量系统配件参数发射光谱 Emission Spectrum辐射通量 Radiant Flux (W)辐照度 Irradiance (W/cm2)亮度 Luminance (Cd/m2)色度坐标Chromaticity Coordinates（x,y)色纯度 Color Purity主波长 Dominant Wavelength峰值波长 Peak Wavelength发光效率Luminous Efficiency (Cd/A)外部量子效率 External Quantum EfficiencyLED光电测量系统配件软件*能够把所有重要参数测量结果展现到一个屏上，这个独具特色能够帮助用户更好地全面监测发光。×控制采集点血和光谱数据，精确控制测量样品的供电, (具有外部源仪表接口，用户能以所需电压或电流范围扫描测试）×集合所有电学和光谱参数，用户还能获得“外部量子效率”和“发光效率”之类的重要指标；*实时测量发光器件OLED测量系统配件规格组成：光谱仪，光纤，积分球，样品台，仪表，数据接口，软件光谱范围：200-850nm或 350-1000nm探测器：2048像素Si CCD阵列采光周期： 1毫秒--65秒光谱分辨率：1.5nm(FHWM)电压源 测量范围：±5μV - ±200V电流源测量范围：±10pA - ±1A电源要求：110/230VAC,系统尺寸：320x360x180mm系统重量：9.8kg

Pelcotec™ SFG12 坐标硅片Pelcotec™ SFG12坐标硅片最近推出的新品，主要用于电子显微镜领域。硅片12.5X12.5mm大小，平整、导电；在1x1mm面积上分割成144个区域，每个区域都有字母数字标记。采用激光刻蚀工艺，保证了产品的精确度，是目前样本承载和SEM定位实验的理想选择。 特征：l 表面平整，而与之相似用途的铜网是有高度差的l 较低的背景信号l 大区域上精细刻度-带刻度的SEM样品台不可与之比拟l 可用于EDX分析l 图案肉眼可见l 低倍放大下可得到大概尺寸l 适合安装到大部分样品台l 适合SEM、FIB、XPS/ESCA、Auger 和LM领域订购信息：货号产品描述规格TP21480Pelcotec™ SFG12 Finder Grid Substrate坐标硅片个

钙离子成像系统配件是测量显微镜下的生物样本中荧光强度的变化仪器高速钙成像系统,兼具高灵敏度和高速度的优势钙离子成像系统配件有单探测器和双探测器两种配置，分别对应于单发射和双发射实验，并且为比例测量提供特殊的双激发模式。钙成像系统特别适合： 测量或双发射实验 高灵敏度或高速实验 FRET测 无缝对接荧光和电生理学的实验 是测量荧光强度变化的高速钙成像系统，可用于钙离子浓度测,钙离子成像.钙离子成像系统配件基本配置包括可编程控制光源(用于安装到显微镜上)取景器（用于选择测量区域）荧光探测器（基于光电二极管技术）控制单元（具有信号处理功能）对于采集速度大于1KHz的实验，可使用光电倍增管替代光电二极管以满足高速测量的要求，但是这仅适用于单发射钙离子成像系统配件配置方案单通道荧光测光系统配置光源（多色光源rome V）取景器（配带相机和显示器）取景器显微镜适配器探测器配带控制单元一个或多个双发射滤波片立方体一个或多个双发滤波片组件钙离子成像系统配件特色取景器控制测量区域测量区域的大小和位置可通过取景器的视场自由定位视频可视化调节测量区域同时进行样品荧光测量和红光可视化测量区域重叠显示在样品的发射图像上光电二极管探测---高灵敏度且承受过度曝光具有超高灵敏度和极低噪音，量子效率高达97％耐用不怕过度曝光最大采集速率高达1KHz，使用光电倍增管可获得更高的速度控制单元带有荧光探测模块---简化数据采集钙离子成像系统配件应用 测量分子内离子浓度（钙离子，镁离子，钾离子，PH等） FR ET测量 单波长染料 不需要空间分辨率的所有荧光测量

FTIRATR成像升级针对Spotlight系统的详细资料： 详情请联系吴小姐：15080317079 ATR成像升级适用于Spotlight系统 L1860319 推荐用于能方便地对厚度达10mm的样品成像的Spotlight400或 400N。大型精确校准晶体能对400&mu m的区域进行采样，让您能快速获取关于样品的更多信息。 特色和优势 Ø 高质量光学和机械组件带来最佳性能 Ø 校准工具提高操作速度，改善数据质量 Ø 最大区域尺寸能让您从ATR样品中获得更多信息 Ø 灵活的成像区域尺寸实现高效的数据采集 Ø 综合软件助手指导操作流程，将错误减到最少 Ø 强大的软件数据处理功能可快速提取ATR图像信息 ATR成像附件供应品 备用锗晶体 1 L1860317 ATR成像样品支持配件 10 L1860318 微型ATR目镜升级套件 本套件可升级Spotlight 400和无ATR 目镜的显微镜系统，使之具备微型ATR 功能。它包括一个由卡塞格林系统、支座和带支座的锗微型ATR晶体组成的ATR目镜。它的范围是5,500 &ndash 600cm-1。我们还提供一个备用锗晶体和支架。另有一个工作范围为7,800 &ndash 800cm-1的硅晶体备选。 微型ATR物镜升级 用于Spotlight 400系统 L1860334 微型ATR物镜 用于AutoIMAGE系统 L1860275 微型ATR物镜 用于Multiscope系统 L1860298 备选/备用带支架硅晶体 L1860269 备用带支架锗晶体 L1860268 微量采样工具 PerkinElmer为您精心选择了一系列工具和产品，为您的红外显微分光样品制备工作提供便利。 微量采样套件 N1870151 包括: 解剖镊子 N9302610 辊式刮刀 N9302619 微型标本镊子 N9302609 直微型探针 N9302605 铝制探针手柄 N9302622 针手钳 N9302603 显微镜供应品 13mm采样盘 支架L1861634 13mm采样盘 支架L1860409 包括金制反光镜 基本显微镜载玻片 N9302600 光学优质玻璃,1 x 3英寸,厚度1mm 适用于可见观察(每盒72片) 低辐射显微镜载玻片 L1272249 带红外反射镀层的光学优质玻璃1 x 3英寸,厚度1mm 适用于可见观察和红外反射测量(每盒25片) 金刚石压缩池 L1272282 该池由两个包含一对金刚石窗片的哈氏合金板构成，能将样品压缩至理想的厚度供透射测量使用。它的螺旋式压缩系统能产生一个无旋转的均匀压力作用于整个样品，大透明光阑是进行大量进样的理想选择。适用于MultiScope.，AutoIMAGE系统和Spotlight 系统。 晶体压缩池 N1870185 本仪器用于压平软质材料和保持样品扁平，与盐窗片有光学接触。它可与厚度为1和2mm、外径为13mm的窗片配套使用。随产品附带两个KBr窗片(2mm厚)。该池可以在不转动(从而不会划损)窗片的情况下施加压力。适用于MultiScope.，AutoIMAGE系统和Spotlight 系统。 红外窗片 红外窗片使您能够用显微镜对微量样品进行红外分析。所有窗片直径为 13mm。有如下材料的红外晶体供您选择。 氟化钡 13 x 1mm N9302611 氟化钡 13 x 2mm N9302612 氯化钠 13 x 2mm N9302614 溴化钾 13 x 2mm N9302615