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全反射率膜厚量测仪

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全反射率膜厚量测仪相关的耗材

  • 2inch 超光滑超高反射率(>99.99%) 反射镜
    环形激光陀螺仪组件或某些科学应用中的所谓超级镜需要具有极低损耗(即吸收和散射)的镀膜光学元件。这些反射镜还具有 R 99.998% 和总损耗 10 ppm 的最大反射率。筱晓使用德国改进的 IBS 机器,能够在超抛光基材上生产涂层。机器和环境的清洁度在专用的超净室中保持,并在此进行广泛的基材预处理和后处理。用于检查程序的测量设备,例如白光轮廓仪和高分辨率显微镜(高达 x 1000)已经到位。定制的腔衰荡设置允许以最多四位小数的精度确定反射并参考损耗。位于耶拿的弗劳恩霍夫应用光学和精密工程研究所测量了我们当前生产的 633 nm 超级镜的总背散射(TSB,如 ISO 13696 中所述),并达到了 TSB = 1.1 ppm 的值。 15 ppm 的典型吸收和剩余透射率合计相当于至少 99.998% 的反射率。对于更长的波长,甚至可以达到 99.999%,这非常接近 R = 100% 的完美激光镜。结果已通过我们的内部腔衰荡设置和散射测量得到证实。对于上述值,使用表面粗糙度 1 ? rms 的超抛光基板是必不可少的。用白光轮廓仪检查它们的质量。下面是一些测量值:Scatter TSBAbsorptionReflection CRDHR 532 nm?/?0°4.9 ppm1) (int. ARS)10.2 ppm 2) 99.997% 2) (T~5 ppm)HR 633 nm?/?0°1.1 ppm 1) 99.998% (T~5 ppm)HR 1064 nm?/?0°( 1 ppm) 3) 2 ppm 4) 99.999% (T~5 ppm)HR 2940 nm?/?0°24 ±12 ppm6)99.994% 5) (T=36 ppm)1) Measured at IOF Jena 2) Measured at LZH 3) Calculated from surface roughness 4) Measured at ILT Aachen 5) measured by customer 6) 1-R-T工作波长1650nm反射率>99.99%技术参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(?)50.8(-0.1 mm)厚度(t)9.5 mm (±0.1 mm)边缘厚度9.5 mm平行度5?Guaranteed RoughnessFlatnessAvailabilityPremiumRMS0.2 nm*(2?)λ/20?12.7-25 mm always 2,000 pcs.on stock (various radii and plane)superpolishedRMS0.1 nm*(1?)λ/10on request* Tested with Zygo NewView 9000 within sample length 3- 1000 um光学参数正面(S2)光学参数背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 ?e20测试区 ?e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004我们的测试方案:测试曲线AR(0°,1600-1700nm)0.25%HR(0°,1600-1700nm)99.99%, T(0°,1650nm)~0.002% (Low Loss)定制产品提供参数示例产品特点● 非常高的反射率(在可见光和近红外光谱范围内R 99.99%• R 99.999% 在• 1000 – 1600 nm 之间的几个波长处得到证实)● 中心波长可以定制(起订量:6片)● 所有用于 CRD 实验的反射镜都带有背面增透膜● 平面和球形弯曲熔融石英基材● 优质抛光,RMS 粗糙度:≤ 1.5 ?产品应用● 激光陀螺● CRD 腔衰荡系统设计● 光通道诊断订购信息CRD- □□□□-☆-▽□□□□: 尺寸126: 直径:12.7X厚度6.35mm*****256: 直径:25.4X厚度6.35mm508:直径:50.8X厚度8mm其他☆ : 反射率39:> 99.9%49:> 99.99%▽: Operation Wavelength Range760: 760nm980: 980nm1064: 1064nm1512: 1512nm2000: 2000nm2327: 2327nm
  • 极端环境衰减全反射附件
    极端环境衰减全反射附件是全球唯一的为极端环境使用而设计制造的ATR附件,它可以耐受250摄氏度的高温和800帕斯卡高压的测量环境并兼具方便更换清洗ATR晶体的功能。极端环境衰减全反射附件的特点让广大用户随意更换ATR晶体而不必购买安装支架。极端环境衰减全反射附件特点采用独一无二的45度ZnSe单内反射元件,与另外两个光学镜片底座组合而用,用于光束进入样品和返回仪器探测器,ATR附件这种设计最大程度地减少光束能量损失,平均透过率可达百分之八十五以上。ATR附件采用了Kalrez垫片密封,从根本上消除了环氧树脂密封带来的问题。垫片不会与样品发生任何反应,从而避免了光谱曲线出现假峰或能量消退等问题。采用双控制器配置,方便抽样的自主管理和监测。可选方案:1.不带加热和加压功能的液体流动盒(使用平面顶板或液体流经);2.加热范围为0-200摄氏度的液体盒;3.非加热液体流动盒;4.Ge或ZnS晶体用于衰减全反射,ATR附件,衰减全反射附件。极端环境衰减全反射附件可选FTIR光谱仪反射组件(PartNo. #9000 )ATR附件 该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有附件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR附件配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统.组合型HATR Part No #9110 衰减全反射附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 组合型水平ATR附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 衰减全反射附件提供了一个1.6mm的样品接口,配备了专门设计的组合秘诀珠,冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.
  • 反射率测定标准品 | L1281920
    产品特点:反射率测定标准品珀金埃尔默提供一系列的反射率测定标准品,以便在乳品测定中能确保系统优化运行。多种校准或未校准的反射率标准品的不同组合可供选择,以提供最佳筛选结果。订货信息:反射率测定标准品产品描述部件编号99% 反射率聚合物 60mm,8 mm x 58 mm,未校准L128192099% 反射率聚合物 100mm,8 mm x 98 mm,未校准L128192199% 反射率标准品 60mm,8 mm x 58 mm,已校准L128192299% 反射率标准品 100mm,8 mm x 98 mm,已校准L128192350% 反射率标准品 60mm,8 mm x 58 mm,已校准L128192450% 反射率标准品 100 mm,8 mm x 98 mm,已校准L1281925反射率标准品 60 mm,8 mm x 58 mm,已校准,每套 4 件L1281926反射率标准品 100mm,8 mm x 98 mm,已校准,每套 4 件L1281927反射率横坐标标准品 60mm,8 mm x 58 mm,已校准,L1281928反射率横坐标标准品 100mm,8 mm x 98 mm,已校准,L1281929反射率标准品重新校准服务,标准品重新校准12 个月之后推荐该服务L1281930
  • 超光滑超高反射率(>99.99%) 反射镜 1742nm
    环形激光陀螺仪组件或某些科学应用中的所谓超级镜需要具有极低损耗(即吸收和散射)的镀膜光学元件。这些反射镜还具有 R 99.998% 和总损耗 10 ppm 的最大反射率。筱晓使用德国改进的 IBS 机器,能够在超抛光基材上生产涂层。机器和环境的清洁度在专用的超净室中保持,并在此进行广泛的基材预处理和后处理。用于检查程序的测量设备,例如白光轮廓仪和高分辨率显微镜(高达 x 1000)已经到位。定制的腔衰荡设置允许以最多四位小数的精度确定反射并参考损耗。中心波长1742nm技术参数位于耶拿的弗劳恩霍夫应用光学和精密工程研究所测量了我们当前生产的 633 nm 超级镜的总背散射(TSB,如 ISO 13696 中所述),并达到了 TSB = 1.1 ppm 的值。 15 ppm 的典型吸收和剩余透射率合计相当于至少 99.998% 的反射率。对于更长的波长,甚至可以达到 99.999%,这非常接近 R = 100% 的完美激光镜。 结果已通过我们的内部腔衰荡设置和散射测量得到证实。对于上述值,使用表面粗糙度 1 ? rms 的超抛光基板是必不可少的。用白光轮廓仪检查它们的质量。下面是一些测量值:Scatter TSBAbsorptionReflection CRDHR 532 nm?/?0°4.9 ppm1) (int. ARS)10.2 ppm 2) 99.997% 2) (T~5 ppm)HR 633 nm?/?0°1.1 ppm 1) 99.998% (T~5 ppm)HR 1064 nm?/?0°( 1 ppm) 3) 2 ppm 4) 99.999% (T~5 ppm)HR 2940 nm?/?0°24 ±12 ppm6)99.994% 5) (T=36 ppm)1) Measured at IOF Jena 2) Measured at LZH 3) Calculated from surface roughness 4) Measured at ILT Aachen 5) measured by customer 6) 1-R-T 特点• 非常高的反射率(在可见光和近红外光谱范围内R 99.99%• R 99.999% 在1000 – 1600 nm 之间的几个波长处得到证实)• 中心波长可以定制(起订量:6片)• 所有用于 CRD 实验的反射镜都带有背面增透膜• 平面和球形弯曲熔融石英基材• 优质抛光,RMS 粗糙度:≤ 1.5 ?产品应用● 激光陀螺●CRD 腔衰荡系统设计● 光通道诊断 参数材质红外级熔融石英 Infrasil形状圆形直径(?)12.7,25.4 mm ,50.8(-0.1 mm)厚度(t)6.35 mm (±0.1 mm)边缘厚度6.35 mm平行度5?Guaranteed RoughnessFlatnessAvailabilityPremiumRMS0.2 nm*(2?)入/20?12.7-25 mmalways 2,000 pcs.on stock(various radii and plane)superpolishedRMS0.1 nm*(1?)入/10on request* Tested with Zygo NewView 9000 within sample length 3- 1000 um 光学参数 正面(S2)光学参数 背面(S1)形状凹面形状平面曲率半径1,000 mm (±1 %)倒角0.3 mm (±0.1 mm)倒角0.3 mm (±0.1 mm)测试区 ?e20测试区 ?e20曲面容差3/0.2(0.2) [L/10 @546.1nm]曲面容差3/-(0.2) [L/10 reg. @546.1nm]清洁度5/2x0.04 L1x0.004清洁度5/2x0.04 L1x0.004
  • 海洋光学高镜面反射率标准板STAN-SSH
    STAN- SSH高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层,光涂层,机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。STAN-SSL 在200-800 nm波长范围内提供~85-90%反射率,在800-2500nm波长范围内提供~85-98%反射率。有两种款式的STAN-SSH,STAN-SSH 型和NIST溯源的STAN-SSH-NIST型 。NIST型STAN-SSH-NIST是按照一 个NIST校准(NIST号为NIST38060S, s/n 99G16)250-2500 nm精度大概为 0.1% 。与STAN-SSH-NIST一起交货给用户的还有一个校准说明书,一个做为波长函数的反射率值数据表,和一张磁盘,磁盘中的数据可以转到海洋光学光谱 仪操作软件上。 建议用户定期标定STAN-SSH-NIST 。STAN-SSH感光底层直径为1.25" ,安置在一个坚硬的 1.5" x 0.75" 大小的蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。使用提示使用海洋光学的光谱仪时,STAN-SSH限于200-1100 nm设置高反射率基准时可使用STAN-SSH虽然STAN-SSH的铝膜由一层外涂层保护着,用户还是应该在使用时备加小心,以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表 面,以避免污染和破坏。清理STAN-SSH表面时,先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土,然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜 头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。只要操作正确,溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。裸露的金属层非常干净精密,不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏,用户在操作STAN-SSH时一定要非常小心,以延长它的使用寿命。STAN-HOLDER 反射比标准固定器STAN-HOLDER是一个用来在测量时将标准固定的附件,使用方便。STAN-SSL镜面反射技术指标底层尺寸:1.25" 外直径 x 0.25" 高架子尺寸:1.5"外直径 x 0.75" 高 反射物:镜面的熔融石英,带有保护外套反射率:~5.4% (200-950 nm)~4.0% (950-2500 nm)
  • λ/10 超低反射率窗口片
    λ/10 超低反射率窗口片反射率Nd:YAG 和 Yb:YAG 波长选项采用表面质量10-5 的基片TECHSPEC® λ/10 超低反射率窗口片采用在设计波长下反射率低于0.1% 的增透膜。这些窗口片采用λ/10 表面平整度和 10-5 表面质量的高品质熔融石英基片,以最大程度地降低散射。这些窗口片具有超低反射率和高损伤阈值,特别适合集成到激光系统,从而基本上消除表面反射。TECHSPEC λ/10 超低反射率窗口片提供 266nm 至 1064nm 的激光 V 型镀膜,以便与Nd:YAG 和 Yb:YAG 激光源兼容。提供 12.7mm 到 50.8mm 的英制直径尺寸。通用规格入射角 (°):0平行度(弧分):有效孔径(%):90基底:Fused Silica表面平整度:λ/10表面质量:10-5产品信息涂层Dia. (mm)厚度(mm)DWL(nm)产品编码Laser Ultra V-Coat (266nm)38.106.35266#11-224Laser Ultra V-Coat (532nm)12.706.35532#11-259Laser Ultra V-Coat (532nm)19.106.35532#11-261Laser Ultra V-Coat (532nm)25.406.35532#11-262Laser Ultra V-Coat (532nm)38.106.35532#11-264Laser Ultra V-Coat (532nm)50.809.53532#11-266Laser Ultra V-Coat (1064nm)12.706.351064#11-275Laser Ultra V-Coat (1064nm)19.106.351064#11-277Laser Ultra V-Coat (1064nm)25.406.351064#11-278Laser Ultra V-Coat (1064nm)38.106.351064#11-280Laser Ultra V-Coat (1064nm)50.809.531064#11-282
  • Altechna 可变反射率镜
    可变反射率镜材料UVFS直径公差+0/-0.1 mm厚度公差±0.1 mm通光孔径90%表面质量20-10 S-D表面平整度保护性倒角Paralellism错误涂层S1 / S2VRM/AR激光损伤阈值报告www.altechna.com/lidt为了具有更好的光束质量,即在不稳定的谐振器中,可以使用可变反射镜。 高强度的激光束需要使用具有高损伤阈值的部件。 介电涂层最适合于满足这些要求。 Altechna提供介质涂层的可变反射镜,设计用于波长范围从266到2500 nm。1)改善光束形状和质量2)变量/本地定义的反射3)zui高可用中心反射值Rr(zui大)= 35%4)可定制设计(基板形状,楔形,AR涂层)Altechna计量实验室应用以下产品检验:目视检查 - 根据MIL 13830和ISO 10110标准进行表面质量评估尺寸 - 测量几何尺寸,如直径,厚度等反射(分光光度计,激光)*平坦度(干涉仪)平行度(测角仪,干涉仪)*(...)使用的设备反射率R0基底材料高斯阶k半径,wm波长,nm产品编号15 ±0.5%UVFS22 mm10641-OS-2-0254-5-[3H15-VRM]20 ±0.5%UVFS22 mm10641-OS-2-0254-5-[3H20-VRM]25 ±0.5%UVFS22 mm10641-OS-2-0254-5-[3H25-VRM]30 ±0.5%UVFS22 mm10641-OS-2-0254-5-[3H30-VRM]35 ±0.5%UVFS22 mm10641-OS-2-0254-5-[3H35-VRM]定制你可以根据您的需求定制这个产品。如果您没有找到适合您的应用,请与我们联系,以便定制解决方案。
  • NIRS 99 % 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备 | 6.7450.070
    NIRS 99 % 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,直径 1 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard process, 1 inch diameter订货号: 6.7450.070NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,探针直径为 1 英寸
  • 衰减全反射探头
    衰减全反射探头筱晓光子供应衰减全反射探头,基于硫化物(CIR,1.5-6.0μm)和银化物(PIR,4.0-18.0μm)光纤开发而成。该系列衰减全反射探头具有如下特点:近红外/中红外透过率高、流动液体测量无盲区、恶劣工业环境工作稳定、使用所有光谱仪/自动化过程控制接口。衰减全反射探头应用广泛,包括:实时在线监控、过程分析技术、远程聚合控制、结晶过程监测。ATR-ProbeSpecificationProbe typeDiamond ATRZnSe ATRCubic Zirconium ATRTransmission range5.2-17μm+3.2-4.5μm3.2-17μm1.5-6.5μm600-47500px-1+2300-77500px-1600-77500px-11550-166250px-1Fiber typePIR-900/1000(AgCl:AgBr)PIR-900/1000(AgCl:AgBr)CIR-500/550(As-S-glass)Temperature range-150°C/+140°C-150°C/+140°C-150°C/+90°CPressure200Bar10Bar100BarTotal length1.5m, options: 1 to 5mShaft length230mm, options: 100 to 500mmShaft diameter12mm, 6.3mm, options: 3mmShaft materialHastelloy C22Length of legs300mm, options: 100 to 500mmProtective tube materialLiquid tight SS-conduit, KOPEX-tubeMinimal bending radiu130mmInput/output connectorLong SMA, options: any other typeCompatible process interfaceCeramat-FOS or SensoGate-FOS
  • 能谱ATRS-01万能衰减全反射附件
    天津能谱科技自主研发的ATRS-01万能衰减全反射附件样品无需前处理,简化了样品的制作过程,被广泛应用于各种固体和液体样品测试,如塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。ATRS-01主要采用ZnSe晶体,具有硬度好透过率高可以满足各种常规样品的测试,同时可配合我公司生产iCAN 9傅立叶红外光谱仪进行使用,更方便快捷。衰减全反射技术 (ATR)是目前比较广泛的采样技术。ATR可以进行原位定性或定量测试,样品基本不需要制备,直接将样品放在ATR晶体上就可以进行测试。因此可以大大加快测试速度、提高测试效率。  ATR的工作原理是红外光束进入折光指数较高的晶体中红外光束从晶体表面反射回来,但同时在样品中有一个衰减波区域,这部分红外光束有部分被样品吸收而反射出来到达检测器以获得样品的红外光谱的信息。全反射现象不完全是在两种介质的界面上进行,部分光束要进入到样品介质一段距离后才反射回来,透入到样品介质的光束,在样品的透光区,反射光能几乎等于入射光能,而在样品的吸收区,则有部分入射光被吸收。“全反射"是衰减的,其衰减程度与样品的吸收系数的大小有关。因此扫描整个中红外区即可得到一个非常类似于透光光谱的红外光谱,一般称为ATR光谱。衰减全反射中谱带的强度除了取决于样品本身的吸收性质以外,还和光线在样品表面反射的次数以及穿透样品的深度有关,一般来说,穿透越深,吸收越强。
  • 980nm单模光纤反射镜
    光纤全反射镜用于掺铒光纤放大器的实例。其中,将一个光纤后向反射器置于一根掺饵光纤的末端,将光朝着入射光的方向反射回光纤中。用一个环形器直接将输入光和放大输出光导入其合适的光路中,这样一来信号光可以两次通过增益光纤,更有效吸收利用了放大器的增益。后向反射器的另一个实际应用为构建可调后向反射器,如图2 所示。下游后向反射器的反馈信号会引起一些器件的不稳定,如激光二极管等。通过采用一个可调后向反射器,就可以确定器件对后向反射的灵敏度。可调衰减器可以让用户对器件引入标准反射。通过分析后向反射效应,用户可以计算器件的噪声水平、误码率、失真等参数。图1.采用后向反射器和一个环形器的全光纤放大器工作波长980nm反射率>99.5%技术参数参数单位数值工作波长 (λc)nm980/1060/1310/1550/2000带宽nm±10典型插入损耗dB0.8最大插入损耗dB1.0反射率%>99.5Max. PDL at 23°C, λcdB0.2最大操作功率 (CW)mW300最大拉伸力N5挂光纤类型SMF-28e Fiber or Specify操作温度℃-5 to +70存储温度℃-40 to +85产品特点● 温度误差小● 反射率高● 长期可靠性高通用参数单位 ( mm )产品应用● 光纤电流传感器● 光纤网络测试和分析● 光纤传感
  • 经认证的NIRS 99%反射率标准板6.7450.030
    经认证的 NIRS 99% 反射率标准板,用于实验室探针订货号: 6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板,用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer
  • 多重衰减全反射附件
    多重衰减全反射附件是 一种高效率的红外傅立叶变换光谱仪多重ATR附件,不需要频繁准直校正,特别适合日常使用。多重衰减全反射附件包括组合式平/槽顶板(每个都配有80x10x4mm 45度ZnSe 梯形ATR元件)、平板夹具、挥发物盖子、 清除剂组件。多重衰减全反射附件特点顶板非常容易取掉,因而非常方便快速清洗 以及与其他部件交换使用。多重ATR附件顶板采用针式固定方法,不仅保证重复操作精度,而且确保使用的方便性和分析精度。还有多种选项,ATR衰减全反射材料就有ZnS,Ge,Si,KRS-5,AMTIR和CdTe等选择,入射角有30,45和60度等选择。配备了100ml和500ml流经顶板和较高温度环境使用的配件包。可选: FTIR光谱仪反射组件(PartNo. #9000 )多重衰减全反射附件该反射组件包括镜ATR附件、镜面反射和漫反射所有组件, 用于FTIR光谱仪的反射配件.组成如下:货号1075水平ATR系统配备45度ZnSe顶板,顶板夹,挥发物盖子和粉末压片.货号6000高性能漫反射系统带有大小品杯、KBr粉末、样品漏洞、玛瑙砂浆/碓、骆驼毛画笔等.货号7200 30度镜面反射系统. 组合型HATR Part No #9110 多重ATR附件组合化学已经成为制药,生物科技,高分子科学和有机合成的必备技术. 傅立叶变换红外光谱仪FTIR由于可以给出固态反应衬底的结构性信息而成为分析过程的重要工具.我们推出的MIRacle 多重衰减全反射附件可以让用户免于样品准备的繁琐而在一秒钟之内获得结果. 多重ATR附件提供了一个1.6mm的样品接口,配备了专门设计的组合秘诀珠,冠和别针专门装备的组合珠冠和别针.
  • 衰减全反射和漫反射附件
    IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料:详情请联系吴小姐:15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件,可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中,通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正,零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住,该附件即随时可用,无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体,半流体,和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点,它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好,从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳,挥发物品盖,清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声,通量和污染情况的检查,当附件插入时或得到指令时,系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法,样品位置都能被自动优化Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架,2个大容量样品杯和2个微量样品杯,25个金属镀层研磨垫,25个金属镀层带支架的研磨杵,和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理,能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,HATR附件及其序列号就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体,光路都能够被自动优化Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436
  • 衰减全反射和漫反射附件
    IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料:详情请联系吴小姐:15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件,可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中,通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正,零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住,该附件即随时可用,无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体,半流体,和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点,它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好,从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳,挥发物品盖,清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声,通量和污染情况的检查,当附件插入时或得到指令时,系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法,样品位置都能被自动优化Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架,2个大容量样品杯和2个微量样品杯,25个金属镀层研磨垫,25个金属镀层带支架的研磨杵,和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理,能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,HATR附件及其序列号就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体,光路都能够被自动优化Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436
  • 衰减全反射和漫反射附件
    IR衰减全反射和漫反射附件的详细资料:详情请联系吴小姐:15080317079衰减全反射和漫反射附件满足您所有采样需要通用衰减全反射 (UATR) 附件适用于Spectrum 400/100/One/65 分光计通用ATR是一款优秀的附件,可用于固体和液体的分析。UATR的压力臂通过让金刚石晶体与样品良好接触来产生高质量谱图。压力臂使指示器保证结果的高度可重复性。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 旦附件放置到样品仓中,通用ATR模块及其序列号和ATR晶体类型(1, 3, 或9反射)就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 自动优化&mdash &mdash 根据顶板的不同自动优化光学器件。仅限于Spectrum 400/100/OneØ 零校正,零设置&mdash &mdash 旦Spectrum 100样品仓锁住,该附件即随时可用,无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件一旦安装完毕就成为了设备的组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂挥发物盖(仅限于9反射UATR)金刚石/硒化 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250050配备3反射 顶 板 和压力臂 L1250051配备9反射 顶 板 和压力臂 L1250052金刚石/KRS-5 UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250053Ge/Ge UATR配备1反射 顶 板 和压力臂 L1250054注意:UATR附件需.Spectrum v.6及以上版本支持UATR附件用备用/替换件顶板和耗材UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250240UATR &ndash 3反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250241UATR &ndash 9反射 金刚石顶板&ndash ZnSe 1 L1250242UATR &ndash 1反射 金刚石顶板&ndash KRS-5 1 L1250046UATR &ndash 1反射Ge/Ge顶板 1 L1250048UATR 0.5mm套管 1 L1202049UATR 6.0mm ATR套管 1 L1202050UATR 锥形套管 1 L1201980UATR 3.0mm样品定位板 1 L1202023UATR 7.0mm样品定位板 1 L1202024Miracle ATR附件单反射ATR附件用来分析高吸收固体,半流体,和液体样品。小型圆形晶体是采样板构造的最大特点,它能实现对微量(5&mu L及以上)样品的可靠分析。固体材料能够和晶体接触良好,从而保证了高质量、可重复的谱图。附件还配备有千分尺控制的压缩钳,挥发物品盖,清洁工具和一系列的晶体材料。Miracle单反射ATR金刚石适用于Spectrum RX/BX L1272239ZNSE适用于Spectrum RX/BX L1272107ZNSE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272126GE适用于Spectrum 400/100/One/65 L1272127ZNSE适用于Spectrum GX L1272103GE适用于Spectrum GX L1272104漫反射附件是不透明样品和强散射样品测量的理想选择。该漫反射附件为药品、食品、肥皂粉末、煤炭、泥土、纸片、镀有涂层的表面、泡沫塑料和催化剂等不透明和强散射固体样品的分析提供了方便灵敏的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,漫反射附件及其序列号就能立即被识别出来Ø 系统适应性检查&mdash &mdash 包括噪声,通量和污染情况的检查,当附件插入时或得到指令时,系统就会随即启动进行检查Ø 自动优化&mdash &mdash 对于粉末、硅碳板或金刚石杵等的所有采样方法,样品位置都能被自动优化Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作。Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分配备多功能样品支架,2个大容量样品杯和2个微量样品杯,25个金属镀层研磨垫,25个金属镀层带支架的研磨杵,和一瓶30g KBr粉末。用于 Spectrum 400/100/One L1200351漫反射附件耗材大容量杯 1 L1201654微量杯 1 L1201655多功能样品支架 1 L1201865金属镀层研磨垫 100 L1275106金属镀层研磨杵 100 L1275105硅碳磨研磨垫 100 L1271021金刚石研磨杵 100 L1275102水平ATR附件PerkinElmer水平ATR (HATR)附件基于衰减全反射原理,能为各种常规透射技术难以检测的固体、液体和糊剂样品的分析提供快速可靠的方法。特色和优势Ø 自动识别&mdash &mdash 当附件放入样品仓时,HATR附件及其序列号就能立即被识别出来,并且系统适应性检查会随即启动Ø 自动优化&mdash &mdash 无论是何种种类的晶体,光路都能够被自动优化Ø 零校正,零设置&mdash &mdash 旦样品仓锁住,该附件就随时可用,无需任何校正操作Ø 集成化&mdash &mdash 插件模块设计意味着该附件安装之后就成为了设备的一个组成部分Ø 标准情况下配备有带压力传感器的压力臂(仅限于平顶板型)与配备ZnSe 45° 晶体、粉末压片机和挥发物盖的平顶板一起提供。适用于 Spectrum 400/100/One L1200351HATR附件配备有 ZnSe平顶板和压力臂 L1200311HATR附件配备有 ZnSe槽型顶板 L1200312HATR附件用备用/替换件顶板和耗材HATR ZnSe 45° 平板 1 L1200313HATR ZnSe 45° 槽形板 1 L1200314HATR Ge 45° 平板 1 L1200333HATR Ge 45° 槽形板 1 L1200334HATR 压力臂套件 1 L1200321粉末压片机 1 L1201944挥发物盖 1 L1205436
  • THz衰减全反射(ATR)棱镜
    Tydex公司专业订制生产THz光学镜片,可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等,同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。太赫兹棱镜THz ATR Prisms我们可以提供以下规格的棱镜:- 传统(直角)棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射(ATR)棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收,用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况,研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应:光在光密介质n0和和吸收介质(有较小的折射率n)界面,以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时,反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数(尤其是棱镜角度)会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差,mm±0.2角度公差,mm±30表面平整度,scr(斑)/dig(坑)80/50表面精确度,mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度,Ra2.5
  • NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备 | 6.7450.080
    NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,探针直径为 0.5 英寸NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 0.5 inch probe diameter订货号: 6.7450.080
  • 瑞士万通 NIRS XDS 的反射率标准板支架 | 6.7410.000
    NIRS XDS 的反射率标准板支架NIRS XDS tray for reflection standard订货号: 6.7410.000在将单色仪与样品模块进行校正时需要一个反射率标准板。固定校正标准板时需要一个支架,将标准板定位于其中。 反射率标准板和所属支架用于:● NIRS XDS MultiVial Analyzer(订货号:29211210)● NIRS XDS MasterLab Analyzer(订货号:2.921.1310)
  • 瑞士万通 NIRS 反射率标准板,7 件套 | 6.7450.010
    NIRS 反射率标准板,7 件套NIRS reflection standard, set of 7订货号: 6.7450.010由六个反射率标准板和一个波长标准板组成的套装,用于在稳定环境中校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。
  • NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备 | 6.7450.090
    NIRS 99% 反射率和波长标准板,用于工艺进程设备,1 英寸直径,45° 度倾斜NIRS 99% reflection and wavelength standard for process instrument, 1 inch diameter, 45° bevel订货号: 6.7450.090
  • THz衰减全反射(ATR)棱镜
    Tydex公司专业订制生产THz光学镜片,可以提供太赫兹专用离轴抛物镜、滤波片、偏振片、窗片、透镜、棱镜、波片、分束片、反射镜和菲涅尔透镜等,同时还提供太赫兹衰减器、太赫兹宽带相位变换器。 太赫兹棱镜THz ATR PrismsDownload THz Prisms Datasheet (PDF, 33 KB)我们可以提供以下规格的棱镜:- 传统(直角)棱镜。这类产品主要用于光学设计- 衰减全反射(ATR)棱镜。这类棱镜用于分析那些难以用常规透射方法来分析的材料。由于特殊材料菲涅尔反射和对光的强烈吸收,用吸收光谱来分析此类材料几乎是不可能的。对于这种情况,研究这类吸收材料最适用的方法就是衰减全反射。这个方法基于此效应效应:光在光密介质n0和和吸收介质(有较小的折射率n)界面,以大于全反射临界角θc=arcsin(n/n0)入射时,反射效率会因为倏逝波与被测材料表面等离子体相耦合而衰减。此反射效率依赖于入射角、偏振方向和被测材料的折射率。正确的选择棱镜参数(尤其是棱镜角度)会获得好的ATR光谱。在THz光谱内使用衰减全内反射方法可以研究材料在102-104cm-1(1um-100um:没引入2π)光谱范围内的吸收效率。常规参数材料高阻硅 HRSi尺寸公差,mm±0.2角度公差,mm±30表面平整度,scr(斑)/dig(坑)80/50表面精确度,mm±0.01相对于理想平面抛光面的表面平整度,Ra2.5 Prisms are manufactured upon request. For price quotation and delivery please fill in our Request form.The finished parts of different dimensions are available from stock and supplied within a week.
  • 可变角原位25次衰减全反射ATR
    可变角原位25次衰减全反射ATRFT-IR或色散仪高灵敏度ATR检测特点入射光30°-60°可调25次反射适用于FT-IR或色散仪样品架配两个引脚标准 3” x 2” 样品架盘多种晶体可选可互换样品架(固体,液体,凝胶)25次反射 ATR可变入射光25次反射ATR (P/N GS11000)是一款竖直方向的ATR晶体附件,入射光在30度-60度快速简单可调。通过调整样品架及晶体装置到适宜的位置,架体后方保持与刻度板设定角度相符。标准晶体架(P/N GS11001)用于固体样品,可选配液体架(P/N GS11003)及凝胶架(P/N GS11002)。为测量25次反射需保证样品覆盖梯形晶体正反两面。KRS-5是标配的ATR附件晶体,可选配一系列其他晶体如:ZnSe, Ge 及Si 以扩展样品操作能力及附件研究范围。四块反射镜通过调整角度及倾斜度反射、收集晶体的红外光。附件配备标准的3” x 2”架盘适配于市面上仪器的样品室,另外底座一角配备了支撑脚。支撑脚高度可调,保证附件在样品室内的平稳。支撑脚可通过翼形螺母锁住应用? 固体? 液体? 凝胶? 涂层及薄膜多深度研究订购信息GS11000入射光可调25次反射ATR附件含固体架及45度角KRS-5 晶体可选配件GS11001 25次反射ATR固体架GS11002 25次反射ATR凝胶架GS11003 25次反射ATR液体架耗材GS11004 KRS-5晶体 (45°)GS11006 Ge晶体(45°)GS11009 Si晶体(45°)GS11014 ZnSe晶体(45°)GS11008 PTFE垫圈液体架用(1大、1小,5套)
  • 漫反射率测定标准品 | PELA9058
    订货信息:漫反射率测定标准品产品描述部件编号99% 漫反射标准品,2英寸,已校准PELA90582%,50%,75%,99%漫反射标准品组件,2英寸,已校准PELA90112%,5%,10%,20%,40%,60%,80%,99%,漫反射标准品组件,2英寸,已校准PELA9013漫反射标准品组件,2 英寸,已校准,颜色:R,G,B 和 YPELA9018漫反射标准品组件,2英寸,已校准,颜色:O,P,C 和 VPELA9019可调支架L6020329
  • 经认证的 NIRS 99% 反射率标准板,用于实验室探针 | 6.7450.030
    经认证的 NIRS 99% 反射率标准板,用于实验室探针Certified NIRS 99% reflection standard for laboratory sensors订货号:6.7450.030经认证的 99% 反射率标准板,用于校正 NIRS XDS SmartProbe Analyzer
  • 瑞士万通 NIRS 反射率标准板,2 件套 | 6.7450.000
    NIRS 反射率标准板,2 件套NIRS reflection standard, set of 2订货号:6.7450.000波长标准板和 80% 反射率标准板套装,用于校正 NIRS XDS MasterLab Analyzer、NIRS XDS RCA Analyzer、NIRS XDS MultiVial Analyzer、NIRS XDS SmartProbe Analyzer、NIRS XDS Interactance OptiProbe Analyzer 和 NIRS DS2500 Analyzer。
  • 变反射率镜脉冲Nd: YAG激光器
    变反射率镜脉冲Nd: YAG激光器(Pulsed Nd: YAG Laser with Variable Reflectivity Mirror)LS-2132U, LS-2134ULS-2132U, LS-2134U是我们可靠的LS-2132, LS-2134激光器的增强版,其特点为增加了变反射率镜(VRM)提供的改进性能并且坚固耐用,稳定性高,操作界面友好。规格:LS-2132ULS-2134U能量, mJ1064 nm170260532 nm110160355 nm4055266 nm3050213 nm46脉冲时间(FWHM), ns1064 nm5-67-8532 nm4-56-7355 nm4-55-7266 nm4-55-6213 nm4-55-6脉冲重复率, Hz15光束发散度, mrad≤0.7≤0.8光束直径, mm≤5.0≤6.0Jitter, ns±1.0指向稳定性, mrad0.1能量稳定性(RMS), %1064 nm2.0尺寸长x宽x高, mm激光头646x150x113电源391x364x192致冷系统391x364x192远程控制105x175电源单相 220 ±20V, 50-60 Hz, 750 W
  • 高斯反射镜
    高斯反射镜是一种可变反射率反射镜,也是一种梯度反射率镜,Gaussian mirror, 这种高斯反射镜可以有效改善激光光束质量。高斯反射镜和变反射率镜的反射率是位置的函数,镜片反射率随着镜片上位置不同而不同。高斯反射镜能够在不稳腔中提供更加的激光模式,控制实现基模振荡而消除高阶模。高斯反射镜和梯度反射率镜能够改善输出激光的光束质量,特别是在低放大倍率情况下这种光束质量的改变更为明显。高斯反射镜提供的锥形反射率分布可以减少光场分布中的振荡,从而减少高功率激光应用中的光学损伤。高斯反射镜和变反射率镜典型的反射率分布是镜片中心的反射率最大,反射率从镜片中心到边缘依次按函数关系减低。 高斯反射镜和梯度反射率镜参数变反射率镜材料:熔炉石英,UVFS或BK7梯度反射率镜类型:平/平镜片, PCV, PCX高斯反射镜直径:19.05mm +0.0, -0.15 mm变反射率镜厚度:6 mm +/-0.1 mm梯度反射率镜平整度:&lambda /10高斯反射镜光洁度:20-10 scratch & dig变反射率镜平行度:梯度反射率镜净孔径:90%变反射率镜镀膜损伤阈值:10 J/cm2 @ 1064 nm for 10 ns pulses高斯反射镜,变反射率镜,梯度反射率镜询问服务:请直接在如下的询问栏里填写您的要求,然后复制后Email给我们,您会收到及时的报价回复。Material 材料Dimensions, mm尺寸Thickness, mm厚度Type类型PCXPCVFlat/FlatMeniscusRadius of Curvature, mm曲率半径Center wavelength, nm中心波长Wedge 倒角Ro, % 中心反射率Wm, mmGaussian order, k高斯级数Quantity
  • STD-M 标准铝镜/反射镜
    STD-M 标准铝镜 标准反射镜是用于反射率测量的标准镜面反射参考物。复享科技的STD-M标准反射镜采用高反的Al材料热蒸发而成,能够提供紫外-可见-近红外(200-2500 nm)宽光谱谱段大于95%的高反射率。高反射率表面复享标准高镜面反射率标准板可以用来测量感光底层,光涂层,机加金属和半导体材料等材料的反射率,表面具有高镜面反射率值的物体的参照。 250nm-800nm 波长处反射率为~85%-90%。800-2500nm 反射率为~85%-98%。镜面表面有保护膜铝镜表面为镜面反射,镜面的熔融石英镀膜防止铝镜表面氧化。使用注意事项*设置高反射率基准时可使用STD-M*STD-M铝膜由一层熔融石英镀膜保护着,用户还是应该在使用时备加小心,以保证标准面不被破坏。不要用手或者物体碰表面,以避免污染和破坏。清理STD-M表面时,先用高压气体吹掉表面的污垢和尘土,然后用牵引清洁法除去表面的指纹和固定残留物。牵引清洁法是用镜头纸沾丙酮或酒精慢慢的的拉过镜头的表面。然后单向在镜面拖动,之后自然晾干即可。一般不需擦拭。 溶剂均匀挥发后不会在镜头表面留下拖尾或污点。*裸露的金属层非常干净精密,不能用此方法清理。指印和污垢会对它产生永久破坏,用户在操作STD-M时一定要非常小心,以延长它的使用寿命。更多促销信息:http://www.ideaoptics.com/Products/PContent.aspx?pd=STD-M产品特点1、镜面的熔融石英镀膜放置轻微刮擦,耐高温,性能稳定,避免铝和空气氧化;2、高反射率铝镜;3、外壳铝材料,蓝色阳极氧化铝盒并拧上盖作为保护。典型图片STD-M 标准反射镜反射率图谱更多信息访问:http://www.ideaoptics.com产品性能产品参数项目值波段:200-2500 nm外壳:镜面的熔融石英镀膜;高稳定性外壳铝材料;蓝色阳极氧化铝壳并拧上盖过为保护;直径:内径30 mm,外径40 mm;重量:33.5 g反射率:250-800 nm,80%-90%;800-2500 nm,85%-98%;
  • 镜头焦距测试图(36扇形星)反射率TE120_A
    镜头焦距测试图(36扇形星)反射率TE120_ATE120测试图被设计用于:相机镜头调整检测后焦距使用低透射滤光片和低水平照明以确保相机在光圈打开的位置没有过度调节。a)光学聚焦:调整变焦镜头的焦距到最大焦距。b)后焦距(镜头):通过调节机械地调节镜头螺丝调整焦距到最短焦距,然后交替优化a)。c)后焦距(拾取管):如果焦点在不同信道的最大和最短焦距变化,个别的拾取管必须机械的调整光轴。1、选择白色通信道。设置光学聚焦在最大焦距。调节W-通道拾取管的最短焦距和发射焦点达到最佳聚焦。必要时交替优化调节光学聚焦。2、调整红色和蓝色拾取管的不变焦距和最短焦距,直到最佳聚焦的实现。图像对焦(对焦调整)通过后焦距的调整得以在全焦段(放大)和恒定的距离对象。扇形星的外直径是一个分辨率测试图,这个扇形星的分辨率是50.5线,即0.65MHz(625线)或0.64MHz(525线)。这个扇形星有一个不确定的部分直接是为直径的1%。The TE120 test chart is designed foradjustment of camera lenseschecking back focal distancechecking resolutionestablishing cushion and barrel distortionWith the aid of a low transmission filter and by means of low level lighting make sure that the camera is not over modulated with the aperture in the open position.a)Optical focus: Adjust focus of zoom lens at greatest focal length.b)Back focal distance (lens): Adjust focus at shortest focal length by regulating lens mechanically with adjustment screw and optimize alternatively with a).c)Back focal distance (pick-up tubes): If focus varies from channel to channel between greatest and shortest focal length, the individual pick-up tubes must be adjusted mechanically in the optical axis.1.Select white channel. Set optical focus at greatest focal length. With shortest focal length and divergent focus adjust the pick-up tube in W-channel until optimum focus is achieved. If necessary optimize by alternating with optical focus adjustment.2.With unchanged optical focus adjustment and shortest focal length adjust the red and blue pick- up tube until optimum focus is achieved. Image focus (focus adjustment) is maintained at all focal lengths (zoom-in) and constant distance from object by means of back focal distance adjustment.At the outer diameter of the sector star there is a resolution of the sector star there is a resolution of 50.5 lines, i.e. 0.65 MHz (625 lines) or 0.64 MHz (525 lines). The unresolved center of the star has a diameter of 1% of the outer diameter.1、厂家货源正品官方直售,公司生产周期短,出厂严格检测,货品品质保障,可通过国家计量院计量。2、关于尺码机身和包装尺寸为手动测量,由于测量工具和测量方法不同的因素,会存在1cm误差,但是不用影响运输和使用。3、关于颜色本店产品都是实拍图片,但是由于不同显示器分辨不同以及色温和对比度差异有所不同。4、关于客服可以通过阿里旺旺随时联系我们,如果旺旺回复不及时也可以拨打我们的热线电话 沈工:13361561390 (技术与销售一体,直达客户需求)5、关于售后我们将提供完整的售后服务,包括15天退货,正品保证,交期保障等等。6、关于发货本店根据货物及客户需求,尽可能选择快捷方便的物流运输服务,一般情况发顺丰快递!
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