偏振相关损耗测量仪

片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C一、产品概述：片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C采用数字液晶显示，是通过GB1409中的Q表法测试固体/液体绝缘材料介电常数及介质损耗因数的分析仪器。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低值，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为精确。可直读介电常数及介质损耗结果，免去人工计算的繁琐。片型材料介电常数介质损耗测量仪（自动介损测试仪）-ZJD-C经过新升级可通过上位机软件查看测试曲线，北京中航时代检测仪器是代替进口设备的北京中航时代仪器产品。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。产地北京房山。二、技术特性：DDS数字合成信号：50KHz-160MHz；信号源频率覆盖比：1600:1；信号源频率精度：6位有效数3×10-5 ±1个字；Q测量范围/Q分辨率：1-1000自动/手动量程；4位有效数,分辨率0.1；Q测量工作误差：5%；电感测量范围/分辨率：1nH-140mH 4位有效数,分辨率0.1nH；电感测量误差：5%；调谐电容：主电容17-240pF；电容直接测量范围：1pF～25nF；调谐电容误差/分辨率：±1pF或1% / 0.1pF；谐振点搜索：自动扫描；Q合格预置范围：5-1000声光提示；Q量程切换：自动/手动；LCD显示参数：F，L，C，Q，Lt，Ct波段等；新增功能：自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；新增功能：大电容值直接测量显示功能，测量值可达25nF；消耗功率：约25W；净重：约7kg；外型尺寸：（宽×高×深）mm：380×132×280。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法；GB/T1693-2007硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法；ASTM D150-11实心电绝缘材料的交流损耗特性和电容率（介电常数）的标准试验方法；GBT5594.4-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法； 三、产品特点：1、双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2、双测试要素输入 - 北京中航时代检测仪器测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3、双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4、自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5、全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6、DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7、计算机自动修正技术和测试回路优化—使测试回路 残余电感减至低值，彻底根除 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。8、新增功能：电感测试时，仪器自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能。大大提高了在电感值（特别是小电感值）测量时的精度。此技术只有北京中航时代仪器生产的Q表有。9、新增功能：大电容值直接测量显示功能，电容值直接测量值可达25nF（配100uH电感时）。大电容值测量一个按键搞定。此技术只有北京中航时代检测仪器生产的Q表有。四、工作环境：1、环境温度：0℃～+40℃；2、相对湿度：80％；3、电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。五、配置清单：主机一台电感九只夹具一套液体杯一个电源线一根数据线一根说明书一份合格证一份保修卡一张六、适用单位：可以用于科研机关，学校，例如一些科研院所，大专院校或计量测试部门的实验室需要用介电常数仪对绝缘材料的介质损耗角正切tanδ及介电常数进行测试；北京中航时代检测仪器同时也适用于工厂或单位，例如一些工厂对无机非金属新材料性能的应用进行研究，另外在电力、电工、化工等领域，如：电厂、电业局实验所、变压器厂、电容器厂、绝缘材料厂、炼油厂等单位对固体及液体绝缘材料的介质损耗和相对介电常数ε的质量检测等等。七、试验步骤：1、按照Q表的操作规程调整仪器，选定测量频率，测定C1和Q1的值。2、将试样放入测试电极中，并调节电容器C，使电路谐振，达到最大Q值记下调谐电容量C2和Q2的值。3、将试样从测试电极中取出，调节C或测试电极的距离，使电路重新谐振，记下C、或测试电极的校正电容值与Q值，北京中航时代检测仪器并根据测试值计算出损耗角tanδ与介电常数ε。4、其他高频测试仪器按其说明书进行操作，北京中航时代检测仪器通过测试值计算出损耗角tanδ和介电常数ε。八、试验条件：1、试样表面应清洁、平滑，无裂纹、气泡和杂质等，试样表面应用蘸有无水乙醇的布擦洗。2、试样应在标准实验室温度及湿度下至少调节24h。3、当试样处理有特殊要求时，可按其产品标准规定的进行。九、测试意义：1、介电常数——北京中航时代检测仪器绝缘材料通常以两种不同方式来使用，即（1）用于固定电学网络部件，同时让其彼此以及与地面绝缘；（2）用于起到某一电容器的电介质作用。在第一种应用中，通常要求固定的电容尽可能小，同时具有可接受且一致的机械，化学和耐热性能。因此要求电容率具有一个低值。在第二种应用中，要求电容率具有一个高值，以使得电容器能够在外型上能尽可能小。有时使用电容率的中间值来评估在导体边缘或末端的应力，以将交流电晕降至最小。2、交流损耗——对于这两种场合（作为电学绝缘材料和作为电容器电介质），交流损耗通常必须是比较小的，以减小材料的加热，同时将其对网络剩余部分的影响降至最小。在高频率应用场合，特别要求损耗指数具有一个低值，因为对于某一给定的损耗指数，电介质损耗直接随着频率而增大。在某些电介质结构中，例如试验用终止衬套和电缆所用的电介质，通常电导增加可获得损耗增大，这有时引入其来控制电压梯度。在比较具有近似相同电容率的材料时或者在材料电容率基本保持恒定的条件下使用任何材料时，这可能有助于考虑耗散因子，功率因子，相位角或损耗角。3、相关性——北京中航时代检测仪器当获得适当的相关性数据时，耗散因子或功率因子有助于显示某一材料在其它方面的特征，例如电介质击穿，湿分含量，固化程度和任何原因导致的破坏。然而，由于热老化导致的破坏将不会影响耗散因子，除非材料随后暴露在湿分中。当耗散因子的初始值非常重要的，耗散因子随着老化发生的变化通常是及其显著的。十、典型用户：沧州大化集团中国计量大学河南平煤神马聚碳材料有限责任公司温州市鹿城区科学技术局东莞初创应用材料有限公司北京航空航天大学中国科学技术大学惠州市杜科新材料有限公司宁波东烁新材料科技有限公司云南能投硅材科技发展有限公司天津科技大学十一、相关产品：ZJC-50kV电压击穿试验仪ZST-212体积表面电阻率测试仪ZJD-C介电常数介质损耗测试仪ZDH-20KV耐电弧试验仪LDQ-5漏电起痕试验仪XRW-300HB热变形维卡温度测定仪XNR-400H熔体流动速率测定仪JF-6氧指数测定仪CZF-5水平垂直燃烧试验机WDW-50KN材料电子拉力试验机

介质损耗因数测量仪 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。介质损耗因数测量仪 作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。介质损耗因数测量仪 技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。7．其他a．消耗功率：约25W；b．净重：约7kg；c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。 测试注意事项 a．本仪器应水平安放； b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟； c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调； d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差； e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫； f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。 影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关 测量方法的选择： 测量电容率和介质损耗因数的方法可分成两种:零点指示法和谐振法。1 零点指示法适用于频率不超过50 MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法 也就是在接人试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥(也就是互感藕合比例臂电桥)和并联 T型网络。变压器电桥的优点:采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极 它没有其他网络的缺点。2 谐振法适用于10 kHz一几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。 注:典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和侧量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。 特点： ◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。 ◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角(tanδ)和介电常数(ε)变化的测试。 ◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的(tanδ)和(ε)的误差较小。 ◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。 ◎ Q值量程自动/手动量程控制。 ◎ DPLL合成发生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz测试信号。独立信号 源输出口，所以本机又是一台合成信号源。 ◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。 介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好 概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。 主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 使用方法高频Q表是多用途的阻抗测量仪器，为了提高测量精度，除了使Q表测试回路本身残余参量尽可能地小，使耦合回路的频响尽可能地好之外，还要掌握正确的测试方法和残余参数修正方法。1．测试注意事项a．本仪器应水平安放；b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部一公分以上，必要时可用低损耗的绝缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。2．高频线圈的Q值测量（基本测量法） 原始包装：请保留所有的原始包装材料，如果机器必须回厂维修，请用原来的包装材料包装。并请先与制造厂的维修中心联络。送修时，请务必将全部的附件一起送回，请注明故障现象和原因。另外，请在包装上注明“易碎品”请小心搬运。 安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。 注意事项: 1、该仪器初始的包装材料需小心保存，安装需由本公司的专业技术人员进行操作。2、若仪器由于任何原因必须返修，必须将其装入原纸箱中以防运输途中损坏。3、在开机前，操作者要首先熟悉操作方法。 电性能检测仪器：介电强度测试仪、体积表面电阻率测试仪、介电常数介质损耗测试仪、漏电起痕试验仪、耐电弧试验仪；塑料橡胶性能检测仪器：无转子硫化仪、门尼粘度试验机、热变形维卡温度测定仪、简支梁冲击试验机、毛细管流变仪、橡胶塑料滑动摩擦试验机物理性能检测仪器：氧指数测定仪、水平垂直燃烧试验机、熔体流动速率测定仪、低温脆性测试仪力学性能试验机：试验机北广其他检测海绵仪器：海绵泡沫压陷硬度测试仪、海绵泡沫落球回弹测试仪、海绵泡沫压缩变形试验仪另外我公司有：环境测试仪器、生物制药测试仪器、动物行为测试仪、环境监测试验仪

介质损耗因数测量仪哪些因素会影响电容器的介质损耗角正切值在电力电容器中，电导损耗、电介质损耗以及介质的极化损耗等参数，都和电力电容器tanδ有很大关系。②电介质损耗包括固体介质损耗以及液体浸渍剂的损耗；①电导损耗主要取决于电容器内部的金属导体，如连接片、内熔丝和放电电阻等，以及相互连接锡焊处的接触电阻；③介质的极化损耗主要包括介质内部杂质离子的极化损耗。综上所述，电力电容器的介质损耗基本上是由原材料决定的；电导损耗与设计参数选择有一定关系；电容器制造过程的质量控制，会直接影响电力电容器的tanδ。技术参数：1．Q值测量a．Q值测量范围：2～1023。b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。c．标称误差 频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）： 固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2% 工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH3．电容测量：1~205 主电容调节范围：18～220pF 准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1% 注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明4. 信号源频率覆盖范围 频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz, CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。6．B-测试仪正常工作条件a. 环境温度：0℃～+40℃；b．相对湿度：80％；c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。介质损耗因数测量仪影响介电性能的因素 下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。1频率 因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的 。r和 tans几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。 电容率和介质损耗因数的变化是由于介质极化和电导而产生，重要的变化是极性分子引起的偶极子极化和材料的不均匀性导致的界面极化所引起的.2温度 损耗指数在一个频率下可以出现一个大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数大值位置。3湿度 极化的程度随水分的吸收量或电介质材料表面水膜的形成而增加，其结果使电容率、介质损耗因数和直流电导率增大。因此试验前和试验时对环境湿度进行控制是必不可少的. 注:湿度的显著影响常常发生在 1MHz以下及微波频率范围内4电场强度 存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。 在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关介质损耗因数测量仪 介质损耗因数测量仪 主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。介质损耗因数测量仪安全注意事项：开机之前，敬请仔细阅读本 使用指南，以防止出现对操作人员的意外伤害或对仪器的损坏等的事件。操作前，请阅读“安装与设置”，保证对仪器各部件的正确安装与连接。在*次操作前，务必请有操作经验的人员进行指导，防止误操作造成意外事件的发生。电击危险： 确保在安装或维修该仪器之前使所有导线断电，防止在带电情况下，对人员或设备造成伤害。影响的介质损耗的以下四点主要因数（1）频率的影响：温度不变时，在低频范围内，总损耗几乎与频率无关；在高频区，介损值很大，所以在高频条件下应采用介损很小的介质。（2）温度的影响：温度对介损的影响较大，在低温区介损随温度升高而增大，在某温度处达到峰值，温度继续升高时介损值反而减小，温度继续升高，介损减小至一定值后会出现拐点急剧增大，易导致介质击穿。（3）湿度的影响：电介质吸湿后，漏电阻减小，泄漏电流增加，介损值明显增大。（4）电场强度的影响：如果介质内部有气泡或气隙，当外加电压升高到一定值时，气泡或气隙中会出现游离放电，介质损耗值会显著升高。

介电常数介质损耗因数测量仪谐振点频率自动搜索功能的使用如果你对电感元件无法确定它的数值时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振频率点。步骤如下：a. 把元件接以接线柱上；b. 主调电容调到约中间位上；c. 按一下频率搜索按键，显示屏左下部显示“SWEEP””，仪器就进入搜索状态。仪器从最低工作频率一直搜索到最高工作频率，如果你的元件谐振点在频率覆盖区间内，搜索结束后，将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。 8．谐振点电容自动搜索功能的使用如果你想在已知的频率找出被测量器件的谐振频率点时，你就可用该功能来帮你寻找出它的谐振 点。步骤如下：a．把元件接以接线柱上； b．频率设置为所需的频率；c．按一下电容搜索按键，仪器就进入电容搜索状态，仪器从最小电容一直搜索到最大电容，如果你的元件谐振点在电容覆盖区间内，搜索结束后，主电容将会自动停在元件的谐振频率点附近。如果临时要退出搜索状态，可再按一次搜索键，仪器会退出搜索操作。介电常数介质损耗因数测量仪频率调谐开关的使用。A/C的频率调谐采用了数码开关，它能辨别使用者的要求，来调节频率变化的速率(频率变化值／ 档)。在你快速调节该开关时，频率变化速率也加快，当你缓慢调节开关时，频率变化速率也慢下来。 因此在调谐时接近所需的频率时，应放缓调节速度，当你调节的频率超出工作频段的频率时，仪器会自动选择低一个或高一个频段工作。介电常数介质损耗因数测量仪先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使 用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是专供测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。1. 使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器； b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。介电常数介质损耗因数测量仪产品的交收检验1. 检验环境要求a．环境温度：20℃±2℃，相对湿度50％； b．供电电源：220V±10V，50Hz±1Hz； c．被检设备要预热30分钟以上。2. 检验设备要求a. 设备应在计量后的有效使用期内；b. 检验设备应按仪器规定预热。3. Q值指示检验a. 检验设备：BQG-2标准线圈一套；b. 把标准Q值线圈接入A/C表电感接线柱上； c．选择标准Q值线圈所规定的检定频率；d．A/C Q表的Q值读数的相对误差应符合二.1.C条中的固有误差之规定。4．调谐电容器准确度检验a. 测试时如发现干扰，应断开内部信号源；b. 设备连接如图六所示，连接线应尽量短，尽可能减小分布电容；介电常数介质损耗因数测量仪a. 从后面板的频率监测端用BNC电缆连至频率计数器输入端； c．频率计数器技术要求测量范围：10Hz-1000MHz； 测量误差：1×10-6；测量灵敏度：30mV。d. 测试线要求：高频电缆SYV-50-3；e. Q表频率指示值与频率计数器读数值间的误差应符合二.4条的规定。 附：贴片元件测试夹具使用方法当采用我公司生产的A/C Q表及配上相应的贴片元件测试夹具时可对贴片电容及贴片电感进行电容量、电感量及Q值、tgδ值的测量，测量时只要将测试夹具接入相应的Lx或Cx接线柱内，然后按说明 书中“3”高频线圈电感值的测量及“5”电容器电容量的测量方法进行测量。注意：因贴片元件尺寸较小，规格又不尽相同，因此放入夹具时应保持尽量居中并保证接触良好。 在测量小电感时，为了测试值的正确性，测得的读数应减去仪器的测试回路的剩余电感值， A约26nH，C约7nH（包括测试夹具）。

点胶纸介质损耗测试测量仪Ce=边缘现象或边缘电容，Cg=每个电极外表面的接地电容，CL=连接导线之间的电容，CLg=接地导线的电容，CLc=导线和电极之间的电容。只有要求的电容Cv是与外部环境无关，所有其它电容都在一定程度上取决于其它目标的接近度。有必要在两个可能的测量条件之间进行区分，以确定不期望电容的影响。当一个测量电极接地时，情况经常是这样的，所述的所有电容与要求的Cv并联，除了接地电极的接地电容及其导线之外。如果Cv放入一个试验箱之内，同时试验箱墙壁具有保护定位，连接到试验箱的导线也受到保护，则接地电容可以不再出现，此时在a-a'处的电容看起来只包括Cv和Ce。对于某一给定电极布置，当电介质为空气时，可以计算得出边缘电容Ce，同时该计算值具有适当的精度。当某一样本放置在电极之间时，边缘电容值可能发生变化，此时要求使用一个边缘电容修正值，该修正值可见表1给出的信息。在许多条件下，已经获得了经验性修正值，这些修正值见表1所示（表1适用于薄电极场合，例如箔片）。在日常工作中，当佳精度不作要求时，很方便使用无屏蔽的两电极系统，同时进行适当的修正。因为面积（同时因此Cv）以直径平方级增大时，然而周长（同时因此Ce）随着直径线性增大时，由于忽略边缘修正导致的电容率百分比误差随着样本直径增大而减小。然而，为进行精确得测量，有必要使用受保护的电极。点胶纸介质损耗测试测量仪l 信号源: DDS数字合成信号，频率范围10KHZ-70MHZ；l 信号源频率精度3×10-5 ±1个字,6位有效数；l Q值测量范围：1～1000；l Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；l 电感测量范围：1nH～8.4H 自身残余电感和测试引线电感的自动扣除功能；l 电容直接测量范围：1pF～2.5uF；l 主电容调节范围：30～540pF；l 准确度 150pF以下±1pF；150pF以上±1%； l 合格指示预置功能范围：5～1000；l 环境温度：0℃～+40℃；点胶纸介质损耗测试测量仪D374 固体电绝缘材料厚度的标准试验方法D618 试验用塑料调节规程D1082 云母耗散因子和电容率（介电常数）试验方法D1531 用液体位移法测定相对电容率（介电常数）与耗散因子的试验方法D1711 电绝缘相关术语D5032 用饱和甘油溶液方式维持恒定相对湿度的规程E104 用水溶液保持相对恒定湿度的标准实施规程E197 室温之上和之下试验用罩壳和服役元件规程（1981年取消）5点胶纸介质损耗测试测量仪 样本几何形状——为测定某一材料的电容率和耗散因子，薄板样本。圆柱形样本也可以使用，但是通常具有较低的精度。电容率大不确定度来源是样本尺寸测定，特别是样本厚度测定。因此，厚度应足够大以允许其测量值具有要求的精度。选择的厚度将取决于样本生产的方法和可能的点到点变化。对于1%精度，厚度为1.5mm(0.06in)通常是足够的，尽管对于较大的精度，要求使用一个较厚的样本。当使用箔片或刚性电极时，另一误差源是电极和样本之间的不可以避免的间隙。对于薄样本，电容率误差可大至25%。类似误差在耗散因子中也会产生，尽管当箔片电极涂覆了一种油脂时，两种误差不可能具有相同的大小。为在薄样本上获得较精确的测量值，使用液体置换方法（6.3.3）。该方法降低了或*消除了样本的电极需求。厚度必须进行测定，测量时，在电学测量所用的样本区域上进行系统性地分布测量，厚度测量值均匀性应在±1%的平均厚度之内。如果样本整个区域将被电极覆盖，同时如果已知材料密度，可通过称量法来测定平均厚度。样本直径选择应使得能提供一个具有要求精度的样本电容测量值。采用受到良好保护和遮蔽的装置，将没有困难测量电容为10pF，分辨率为1/1000的样本。如果将要测试一个低电容率的厚样本，则可能将需要直径大于等于100mm，以获得要求的电容精度。在测量较小值的耗散因子时，关键点是电极的串联电阻应不会有助于产生相当大的扩散因子，同时测量网络没有大电容的电阻应与样本进行并联连接。这些观点的*点是偏好厚样本；第二点建议大区域的薄样本。测微计电极方法（6.3.2）可用于消除串联电阻的影响。使用一个受保护样本固定架（图8）来将外部电容降至低。6.4 真空电容计算——可以较精确计算电容所用的实际形状为平坦平行板和同轴圆筒，电容计算用公式见表1所示。这些公式以测量电极之间的均匀电场，同时在边缘没有边缘现象为基础。以此为基础计算的电容也就是熟知的电极之间静电容。点胶纸介质损耗测试测量仪接触式电极——某一样本与其自带电极（电极材料为以下所列材料之一）一起供应是可以接受的，对于两终端测量，电极应延伸到样本边缘或小于样本。在后一种场合，两种电极在规格上等效或不等效是可以接受的。如果电极尺寸等效，但是小于样本，样本边缘必须越过电极延伸至少2倍的样本厚度。这三个电极规格的选择将取决于电极应用的方便性，同时取决于所采用的测量类型。在电极延伸到样本边缘的场合，边缘修正值（见表1）是小的，而对于不等效电极，边缘修正值是大的。当电极延伸到样本边缘，这些边缘必须是锐利的。如果根本是使用附着的电极，当采用一个测微计电极系统时，必须使用这类电极。当等效规格电极小于所用样本时，难于将它们置于中心，除非样本是半透明的或者采用了一种对准工装。对于三终端测量，保护电极宽度应至少为两倍的样本厚度（6,7）。间隙宽度应尽可能小（可以为0.5mm）。对于在较高频率下的耗散因子测量，该类型电极可能不满足要求，因为其串联电阻。使用测微计电极来进行测量。

超宽带偏振态测量仪美国Meadowlark Optics公司在精密偏振控制和测量方面一直保持长期优势和信誉，超宽带偏振测量仪（Broad Wavelength Polarimeter）结合了Meadowlark Optics公司的液晶可变相位延迟器技术和偏振技术，具有超宽带、高精度及无运动部件等特点。液晶偏振态测量仪因为没有旋转的波片、马达或其它运动部件，不存在磨损问题和由于机械运动而导入振动源的问题，可以大大提高偏振态测量的精度与一致性。Keyword:偏振态测量仪，Polarimeter，Liquid Crystal Polarimeter，液晶偏振态测量仪，SOP，DOP，偏振度，偏振态，偏振态测定仪系统，偏振态测量系统，偏振测量仪，LCPM，偏振分析仪，偏振态分析仪Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪可直接通过计算机的USB接口进行控制，为测量的速率和便捷性提供了保障，这款偏振测量仪在计算机的控制下每秒的测量10次可量化偏振态的斯托克斯（Stokes）参数，同时将偏振态图形化地显示成庞加球（Poincaré Sphere）、偏振椭圆（Polarization Ellipse）或者运行图；Meadowlark Optics的偏振测量仪控制软件采用独特算法，其提供了高精度和多功能校正；可以说Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪是一套便携精密和紧凑（小体积）的偏振态测量系统。 邦加球：偏振椭圆：运行图：Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪的偏振度测量精度≤1%，斯托克斯矢量的分辨率为0.001，工作频率为10Hz，波长的校正精度为±3nm，在保证测量精度的情况下可对光功率为1μW的光波实现偏振态的测量；由于液晶材料对温度比较敏感，为了保证PMI工作的稳定性，该超宽带偏振测量仪配有温度控制选项，以实现实时实地的恒温状态。Meadowlark Optics超宽带偏振测量仪有可见光（450-1100nm）和近红外（900-1700nm）两种版本，及光纤耦合和自由光路两种不同配置。优势：超宽带（450-1100nm和900-1700nm可选）无运动部件偏振度测量精度≤1%斯托克斯矢量分辨率0.001偏振态跟踪LabVIEW VI程序库简易化操作界面光纤和自由光路输入方式可选可测量功率为1μW的光波偏振态规格：订购信息：可选配件：尺寸：

偏振测量仪PAX5710-T系列由USB接口TXP5004机箱、 PAX5710系列模块和外置偏振探头组成。该系统配置了笔记本电脑，并包括所有连接探头和电脑的接线。测量波长范围可以通过添加模块和探头方便地进行扩展。另外，Thorlabs还提供光纤耦合形式的偏振测量仪PAX5720系列，该系列的探头内置。 应用：自由空间或光纤光偏振测量消光比测量偏振度测量作为PMD5000系统中偏振测量单元琼斯（Jones）和米勒（Mueller）矩阵测量 指标：输入功率范围：-60dBm~10dBm方位角精度：0.25o椭率角精度：0.25o归一化Stokes参数精度：S1,S2,S30.005偏振度精度：± 0.5%波长范围：VIS系列: 400-700nmIR1系列: 700-1000nmIR2系列: 1000-1350nmIR3系列: 1300-1700nm最大测量速率：333次/秒光纤输入接口：FC/PC（或根据客户要求）自由空间输入：&Phi 3mm，发散角3mrad模拟界面：输出：S1,S2,S3,功率/dBm，DOP（Stokes矢量）输入：触发数字界面：输出：S1,S2,S3,功率,方位角,椭率,功率比,相位差热机时间：15min工作温度范围：5-40oC 消光比测试仪基于旋转偏振器技术的消光比测量仪。该台式设备提供了快速而简便的测量保偏光纤消光比的方法，可用于保偏光纤的调节等。 应用：保偏光纤消光比测量保偏光纤到连接器的调节保偏光纤到光源的调节 指标：波长范围800-1700 nm最大消光比40 dBER精度*0.5 dBER分辨率0.1 dB角度精度*0.5° 角度分辨率0.1° 动态范围&dagger 50 dB (-40 ～ +10 dBm)工作温度5 to 40 ° C输入电压100V, 115V, 230V +15%/-10%所有参数在23 ± 5° C 、相对湿度 45 ± 15%有效* 输入功率 -30 dBm&dagger 动态范围依赖特定波长 OZ optics公司消光比测试仪特点：测量达40dB消光比内置RS232接口宽波长范围：400-1000nmVIS，850-1650nmIRER分辨率 0.01dB，角度分辨率0.3oER测量准确读1dB，角度准确度0.5o测量达2W连续光功率便携式设计记录模式，可连续测量连接头可换低成本，CE认证应用：光通讯器件制造自动调节质量控制和测量产品开发器件或系统故障排除 标准产品指标1： 型号ER-100-IRER-100-1290/1650-ER=40ER-100-VIS波长范围850-1650nm1290-1650nm400-700nm600-1000nm 2消光比范围30dB 850-1290nm35dB 1290-1650nm40dB 1290-1650nm30dB动态范围47dB40dB消光比准确度± 1dB消光比分辨率0.01dB角度准确度3± 0.5o角度分辨率0.3o刷新频率（ER）2.7Hz刷新频率（相对功率）650Hz输入功率450uW~1.0mW通讯接口RS232电源5通用50/60 Hz 110/220V AC/DC适配器尺寸65 x 90 x 184 mm重量0.48 kg工作温度-10° ~ 50° C存放温度-30° ~ 60° C存放湿度90%1.测试条件，1550nm线形偏振光源，热机30min，温度23± 2° C2.根据所选择的400-700nm或600-1000nm接头3.高精度的FC连接头4.无衰减器，带衰减器可进行高功率测量，其波长需要指定。5.标准设备为北美供电标准，其他需单独购买

SK010PA-IR偏振测量仪 ----高精度全自动保偏光纤偏振态测量系统SK010PA是一款通用型偏振分析仪，该偏振分析仪通常用于对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。可实时对四个斯托克斯参数进行测量以获取光路偏振状态（SOP），并显示在庞加莱球面上。在保偏光纤的评估和偏振对准中具有巨大优势。设备结构紧凑，即插即用，可轻松集成到现有客制系统中进行快速校准和测量，软件操作简单、功能强大。在激光束耦合到保偏光纤的偏振对准应用中，SK010PA偏振分析仪提供优化光源入射偏振方向与光纤偏振轴对齐程序，并测量该过程产生的消光比（PER）。上述过程通过连续测量出射偏振状态期间，并使光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转，保证出射偏振态尽可能接近庞加莱球面圆心。此外，SK010PA还可用于对准和量化延迟光学器件，如带有1/4波片的光纤准直器等。光纤偏振态测量仪产品特性：确定偏振状态 （SOP），包括所有四个斯托克斯参数、PER（偏振消光比）、偏振度 （DOP）、椭圆度等。USB 2.0 供电设备（控制、数据传输和电源）在庞加莱球面上显示SOP或偏振椭圆用于保偏光纤评估和偏振对准的特殊程序与用于自由光束应用的微型工作台系统、导轨或笼式系统兼容，包括兼容光纤应用的 FC APC 适配器光纤偏振态测量仪应用领域：耦合保偏光纤偏振对准 理想情况下，保偏光纤能保持耦合到光纤中的光的线性偏振态，然而在实际中，保偏光纤会在很小程度上影响偏振态，如温度、机械应力导致的弯曲和扭转等，这会使光纤出口处出现轻微的椭圆偏振。如下图所示。 SK010PA偏振测量仪提供将光源的入射偏振方向与光纤的偏振轴对齐以及测量由此产生的偏振消光比（PER） 的程序。保偏单模光纤在两种垂直的原理状态下引导耦合辐射，即光纤偏振轴（也称为慢轴和快轴）如下左图所示。 光纤耦合辐射的偏振消光比PER是耦合到光纤两个偏振轴的光功率电平之间的比值。偏振分析仪用于通过旋转光源的输入偏振轴来优化光源偏振轴与光纤偏振轴的偏振对准，见下右图。对于两个偏振轴，传播速度不同。当线偏振辐射没有精确耦合到这些状态之一时，辐射会分成两个垂直分量，分别耦合到光纤的偏振轴上。在光纤出口处，传播速度的差异会导致相移，这也取决于光纤的长度。如果该相移小于激光源的相干长度，则辐射会重新组合为椭圆偏振态。如果激光源的相干长度小于相移，则新出现的辐射部分去偏振。偏振分析仪支持两种情况的调整。SK010PA所测的SOP可在庞加莱球上可视化展示，如下图所示。在该图中，线性 SOP 位于球体的赤道上，圆极化状态位于球体的两极。偏振维持光缆输出端的预期偏振态可能会略微偏离赤道。该表示法中的倾斜角即为椭圆度 η，偏振维持光缆的偏振维持性由椭圆度 η 来表征。圆的半径表示对准的质量，对齐良好的保偏光纤状态为数据圆会收敛到一个点，即圆的中心，通常也位于庞加莱球的赤道上。测量过程分为如下两步：1、初始对准的测量 该过程首先在温度改变或小心弯曲光纤时记录出口极化状态，以引起出口极化波动。然后，一个圆圈自动拟合到数据点上，并显示平均值和PER（min）。在所示示例中，庞加莱球面上的圆具有较大的半径。2、通过反馈进行实时调整，并对优化后的对准进行测量在连续测量出射偏振态期间，光纤轴相对于激光源的偏振轴旋转。当出射偏振态尽可能接近庞加莱球面的圆心时，达到接近对准。颜色编码的对数条形图有助于找到min距离。然后进行第二次测量，揭示光纤优化偏振对准的参数。自由光路测量 偏振分析仪也可以用来在自由光束的应用中设置并定义一个的明确的偏振状态。对于这类测量，激光光轴与偏振分析仪的对准是必不可少的。偏振测量仪与微工作台、使用四连杆连接的40mm笼系统或轨道系统等兼容。1/4波片调整SK0101PA偏振分析仪可用于校准和量化延迟光学器件，例如集成四分之一波片的光纤准直器。对于这些准直器，通过旋转四分之一波片来调整输出偏振。到达极值时设置圆偏振光，右旋圆偏振光位于北极，左旋偏振光位于南极。光纤偏振态测量仪技术参数：光纤偏振态测量仪配置选项：光纤偏振态测量仪交付标准：SK010PA红外线USB连接线用于 FC-APC FC-PC 光纤连接器的适配器后装式适配器 PA-AP-M4操作软件： SKPolarizationAnalyzer for WINDOWS7， WINDOWS 10， WINDOWS Vista/XP （32/64 bit）DLL更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

高速率微型偏振测量仪PolSNAP是一款紧凑的偏振测量仪，来自Hinds Instruments 公 司，数据采集速率为每秒2000个样本，从而得以每秒快速确 定4个Stokes矢量。光学系统，驱动电子和检测电子都集成在 一起，因此它很容易进入你的光学设置，这样你就可以确定 你的光源或光学的偏振，对激光进行质量控制，或确定你的 光学的偏振保持能力。该偏振测量仪生成所有四个Stokes参 数，并以三种不同的方式图形化地显示它们。重复度降低到 0.06%，精度在1%以内。特点 ：⚫ 内部光学系统，驱动电路和检测电路 ⚫ 无额外控制器件 ⚫ 小尺寸-手掌大小 ⚫ USB直连 ⚫ 采样速率：2000 samples/s应用：⚫ 自由空间和光纤偏振测量 ⚫ 偏振度和偏振测量的状态 ⚫ 光学组件对齐 ⚫ 光纤偏振测量 ⚫ 激光偏振状态

YG9000自动抗干扰精密介质损耗测量仪简介 YG9000自动抗干扰精密介质损耗测量仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。主要技术指标准确度： Cx: ±（读数×1%+1pF） tgδ: ±（读数×1%+0.00040）抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度电容量范围： 内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV 外施高压： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV 分辨率： zui高0.001pF，4位有效数字tgδ范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围：10μA～5A内施高压： 设定电压范围：0.5～10kV zui大输出电流：200mA 升降压方式： 连续平滑调节 电压精度： ±(1.5%×读数+10V) 电压分辨率： 1V 试验频率： 45、50、55、60、65Hz单频 45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频 频率精度： ±0.01Hz外施高压： 正接线时zui大试验电流1A，工频或变频40-70Hz 反接线时zui大试验电流10kV/1A，工频或变频40-70HzCVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A测量时间： 约40s，与测量方式有关输入电源： 180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电计算机接口： 标准RS232接口打印机： 炜煌A7热敏微型打印机环境温度： -10℃～50℃相对湿度： 90%特点高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能以短路方式高速切断输出。低压保护：误接380V、电源波动或突然断电，启动保护，不会引起过电压。接地保护：仪器接地不良使外壳带危险电压时，启动接地保护。C V T：高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限，不会损坏设备防误操作：两级电源开关；电压、电流实时监示；多次按键确认；接线端子高/低压分明；缓速升压，可迅速降压，声光报警。抗震性能：仪器采用独特抗震设计，可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。高压电缆：为耐高压绝缘导线，可拖地使用。

YG9000自动抗干扰精密介质损耗测量仪简介 YG9000自动抗干扰精密介质损耗测量仪用于现场抗干扰介损测量，或试验室精密介损测量。仪器为一体化结构，内置介损电桥、变频电源、试验变压器和标准电容器等。采用变频抗干扰和傅立叶变换数字滤波技术，全自动智能化测量，强干扰下测量数据非常稳定。测量结果由大屏幕液晶显示，自带微型打印机可打印输出。主要技术指标准确度： Cx: ±（读数×1%+1pF） tgδ: ±（读数×1%+0.00040）抗干扰指标：变频抗干扰，在200%干扰下仍能达到上述准确度电容量范围： 内施高压： 3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV 外施高压： 3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV 分辨率： 最gao0.001pF，4位有效数字tgδ范围： 不限，分辨率0.001%，电容、电感、电阻三种试品自动识别。试验电流范围：10μA～5A内施高压： 设定电压范围：0.5～10kV 最da输出电流：200mA 升降压方式： 连续平滑调节 电压精度： ±(1.5%×读数+10V) 电压分辨率： 1V 试验频率： 45、50、55、60、65Hz单频 45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自动双变频 频率精度： ±0.01Hz外施高压： 正接线时最da试验电流1A，工频或变频40-70Hz 反接线时最da试验电流10kV/1A，工频或变频40-70HzCVT自激法低压输出：输出电压3～50V，输出电流3～30A测量时间： 约40s，与测量方式有关输入电源： 180V～270VAC，50Hz/60Hz±1%，市电或发电机供电计算机接口： 标准RS232接口打印机： 炜煌A7热敏微型打印机环境温度： -10℃～50℃相对湿度： 90%特点高压保护：试品短路、击穿或高压电流波动，能以短路方式高速切断输出。低压保护：误接380V、电源波动或突然断电，启动保护，不会引起过电压。接地保护：仪器接地不良使外壳带危险电压时，启动接地保护。C V T：高压电压和电流、低压电压和电流四个保护限，不会损坏设备防误操作：两级电源开关；电压、电流实时监示；多次按键确认；接线端子高/低压分明；缓速升压，可迅速降压，声光报警。抗震性能：仪器采用独特抗震设计，可耐受强烈长途运输震动、颠簸而不会损坏。高压电缆：为耐高压绝缘导线，可拖地使用。

高精度紫外波段偏振态测量（斯托克斯参数测量）系统（180nm-200nm）深紫外偏振态测量仪 光刻机偏振态测量仪 193nm偏振态测量仪Hinds公司长期以来致力于偏振态测量研究，在紫外波长（180nm-200nm）范围内基于双PEM（光弹调制器）的偏振测量系统为量化光的斯托克斯参数提供无与伦比的精度与灵敏度。该科研级高精度stokes测量系统可实现每秒超100组标准化斯托克斯参数集获取。一次测量生成4个斯托克斯参数。该系统在光学元件表征、光学系统光束输出表征、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面具有广泛的应用。该系统采用了Hinds公司自研光弹性调制器(PEM)技术，提供了目前超高水平的偏振测量。此外，PEM提供高速操作，根据所需波长在37至100khz之间调制。PEM光弹调制器基于谐振调制，该系统能够提供完整的斯托克斯测量没有移动部件，因此在精度和重复性方面高出市面现有偏振态测量系统一个数量级。本系统可根据用户使用需求定制波长，除可见光外可实现紫外波段光的偏振态及完整斯托克斯参数测量。 深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品参数（波长范围：180nm-200nm）：斯托克斯参数准确误差：1%斯托克斯参数灵敏度：0.0005重复率：3σ≤0.01（波长范围：200nm-400nm）：斯托克斯参数准确误差：0.5%斯托克斯参数灵敏度：0.0005重复率：3σ≤0.0035深紫外斯托克斯偏振态测量仪产品应用QC测试和测量表征材料医药开发和质量控制光学旋转电信设备制造业SOP、DOP测量天文测量自由空间和光纤的选择测量光谱应用更多详情请联系昊量光电/欢迎直接联系昊量光电关于昊量光电：上海昊量光电设备有限公司是光电产品专业代理商，产品包括各类激光器、光电调制器、光学测量设备、光学元件等，涉及应用涵盖了材料加工、光通讯、生物医疗、科学研究、国防、量子光学、生物显微、物联传感、激光制造等；可为客户提供完整的设备安装，培训，硬件开发，软件开发，系统集成等服务。

ERM100 应用测量保偏(PM)光纤的消光比(ER)保偏光纤与接头插销对准保偏光纤与激光光源对准ERM100是基于旋转偏光技术的消光比测量仪。这款台式装置可以快速简单地测量保偏光纤的消光比。它方便易用，可以用于需要对准保偏光纤的多种应用中。如何工作ERM100消光比测量仪包含一个旋转偏振片，和后面一个可以产生光电流的探测器。一般来说，光电流在时间上将是直流偏置的正弦函数。通过同时分析直流偏置和调制深度，消光比测量仪可以确定线偏振的程度，从而获得消光比。优点这款台式仪器简单易用，是任何保偏光纤的对准应用测量装置。通过前面板的一系列按钮和LCD显示屏，可以进行快速调节和测量。任何保偏对准任务均可以有效完成。ERM100是工厂校准的，可以测量消光比，偏心角和功率。它也可以通过USB连接电脑进行控制。设备包含LabVIEW&trade ，LabWindows&trade /CVI&trade ，MSVC和Borland C的驱动。ERM100配备FC/PC接头。需要其他类型的接头请联系技术支持。发货信息每个单元包括测量仪，USB电缆，包含LabVIEW&trade 和LabWINDOWS&trade CVI驱动程序套装的软件CD，和操作手册。应用：保偏对准 ERM100消光比测量仪可用于对准保偏光纤的光轴。保偏光纤的入射光必须是线偏振的，并且平行于光纤的主光轴的方向耦合，以保持线偏振。ERM100提供了一种便利的方式来实现这种对准。根据光源，光纤对准有以下两种不同的方法。宽带光源（SLED）由于这些光源的波长相关双折射特性，只需变化耦合角，直到找到具有最大消光比的最优角。窄带光源（激光二极管）对于窄带光源，波长相关的双折射特性可忽略不计。为了得到保偏光纤消光比的可靠值，必须分析偏振态的快轴和慢轴之间的所有相移。所以测量过程中，在调节耦合角的同时，可以对光纤施加应力（应力双折射）。对于最优角，最大消光比值应该稳定，并且与光纤上的应力无关。典型应用线偏振光进入保偏光纤的最佳耦合接头插销的最佳对准制作尾纤（激光二极管到保偏光纤的对准）窄带光源的消光比测量Thorlabs消光比测量仪，ERM100偏振仪

Sch?fter+Kirchhoff公司成立于50年前，主要进行高质量投影和望远镜的专业光学设计。基于生产和开发能力，Sch?fter+Kirchhoff公司在激光测量和光电传感领域建立了良好的声誉。目前，Sch?fter+Kirchhoff主要有三个主要的产品线，包括线扫描相机系统，激光器以及光纤光学器件。 激光、光速整形准直耦合器件和系统激光二极管和激光器线阵扫描相机 偏正态测量仪SK010PA-… SK010PA系列偏振分析仪是一款通用型的偏振分析设备系列，它可以用来对自由空间光路和保偏光纤光路进行偏振分析与测试。适用于保偏光纤耦合，波片调整，偏振测试等应用。 主要特点：测量消光比（PER）测量偏振度（DOP）测量偏振态（SOP）实时显示偏振状态以及线性极化部分的摆动轴USB2.0接口用于通信和供电可以调节相干光源的高低测量结果可以记录和保存 可以校准极化零相位，也可以重置到出厂设置 支持LabVIEW VI-library 和 DLL 二次开发兼容microbench自由空间光路应用含FC－APC配置，适用光纤光路 主要参数：功率范围：0.01-50mW精度：η：0.4o，?：0.4o，消光比（PER）精度：0.5dB偏振度（DOP）精度：5%偏振态（SOP）精度：±0.2°在邦加球上自由空间光斑尺寸：max.4mm 采样速率：15Hz光纤适配器：FC-APC（标准），FC-PC，DIN AVIO，ST可选传感器尺寸：2.85x2.85mm2尺寸：40x70x82（wxlxh） 分析软件SKPolarimeter

PAX1000VIS偏振仪测量仪，高动态范围三种型号可选PAX1000VIS(/M): 400 - 700 nmPAX1000IR1(/M): 600 - 1080 nmPAX1000IR2(/M): 900 - 1700 nm通过配件转换自由空间与光纤耦合输入最 da测量速率：100 Samples/s，通过USB 2.0供电400 Samples/s，通过附带的DS15电源供电直观的软件，用户可调节显示界面和测量设置Thorlabs的PAX1000系列偏振测量仪能够测量准直单色光的偏振态(SOP)。三种型号覆盖可见光到近红外波长范围。每种偏振测量仪都有一个1/4"-20(M6)和两个8-32(M4)螺孔，用于安装接杆。它们都附带一个电源和一根符合当地区域使用的电源线。下方提供其他电源。产品型号 - 英制现货 / 发货日PAX1000VIS偏振测量仪，自由空间和光纤耦合，400 - 700 nm，英制螺纹2 WeeksPAX1000IR1偏振测量仪，自由空间和光纤耦合，600 - 1080 nm，英制螺纹2 WeeksPAX1000IR2偏振测量仪，自由空间和光纤耦合，900 - 1700 nm，英制螺纹2 Weeks产品型号 - 公制现货 / 发货日PAX1000VIS/M偏振测量仪，自由空间和光纤耦合，400 - 700 nm，公制螺纹2 WeeksPAX1000IR1/M偏振测量仪，自由空间和光纤耦合，600 - 1080 nm，公制螺纹2 WeeksPAX1000IR2/M偏振测量仪，自由空间和光纤耦合，900 - 1700 nm，公制螺纹2 Weeks

天津瑞利光电科技有限公司优势经销美国Meadowlark Optics偏振态测量仪D4010 产品范围：美国Meadowlark Optics偏振器件、Meadowlark Optics可调谐液晶波片、Meadowlark Optics可控光衰减器、Meadowlark Optics、Meadowlark Optics偏振旋转器、Meadowlark Optics偏振态测量仪、Meadowlark Optics滤波器、Meadowlark Optics液晶快门 品牌介绍：Meadowlark Optics 公司拥有二十多年的高质量偏振器件的生产制造经验，服务于从科研实验室到工业生产过程的各类应用领域，从光学元件的准直到光学相位延迟的测量。Meadowlark液晶型可变光衰减器可以通过计算机对通过的光功率进行连续调节。其主要原理是利用两个偏振片和一个液晶型可调相位延迟器来实现对光功率的连续可调的。 主要型号：D4010、D3060HV、B1010、LVT-100、GPM-100-UNC、GPM-150-UNC、GPM-200-UNC、LVR-100-UV 天津瑞利光电科技有限公司于2016年成立，坐落于渤海之滨天津，地理位置得天独厚，交通运输便利，进出口贸易发达。凭借着欧洲的采购中心，我们始终为客户提供欧美工业技术、高新科技等发达国的光电设备、光学仪器、机电设备及配件、电气成套设备、工业自动化控制设备产品，同时拥有多个品牌的授权经销和代理权。

补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，一般情况下都期望耗损因子低些好。概念：电介质在外电场作用下，其内部会有发热现象，这说明有部分电能已转化为热能耗散掉，电介质在电场作用下，在单位时间内因发热而消耗的能量称为电介质的损耗功率，或简称介质损耗（diclectric loss）。介质损耗是应用于交流电场中电介质的重要品质指标之一。介质损耗不但消耗了电能，而且使元件发热影响其正常工作。如果介电损耗较大，甚至会引起介质的过热而绝缘破坏，所以从这种意义上讲，介质损耗越小越好。形式各种不同形式的损耗是综合起作用的。由于介质损耗的原因是多方面的，所以介质损耗的形式也是多种多样的。介电损耗主要有以下形式：1）漏导损耗实际使用中的绝缘材料都不是完善的理想的电介质，在外电场的作用下，总有一些带电粒子会发生移动而引起微弱的电流，这种微小电流称为漏导电流，漏导电流流经介质时使介质发热而损耗了电能。这种因电导而引起的介质损耗称为“漏导损耗”。由于实阿的电介质总存在一些缺陷，或多或少存在一些带电粒子或空位，因此介质不论在直流电场或交变电场作用下都会发生漏导损耗。2）极化损耗在介质发生缓慢极化时（松弛极化、空间电荷极化等），带电粒子在电场力的影响下因克服热运动而引起的能量损耗。　　一些介质在电场极化时也会产生损耗，这种损耗一般称极化损耗。位移极化从建立极化到其稳定所需时间很短（约为10-16～10-12s），这在无线电频率（5×1012Hz 以下）范围均可认为是极短的，因此基本上不消耗能量。其他缓慢极化（例如松弛极化、空间电荷极化等）在外电场作用下，需经过较长时间（10-10s或更长）才达到稳定状态，因此会引起能量的损耗。若外加频率较低，介质中所有的极化都能完全跟上外电场变化，则不产生极化损耗。若外加频率较高时，介质中的极化跟不上外电场变化，于是产生极化损耗。电离损耗

特点：优化的测试电路设计使残值更小◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前国内高的160MHz。1 双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。2 双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。3 双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。4 自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。5 全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。6 DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。7 计算机自动修正技术和测试回路优化 —使测试回路 残余电感减至低，彻底 Q 读数值在不同频率时要加以修正的困惑。标准配置：高配Q表 一只 试验电极 一只 （c类）电感 一套（9只）电源线 一条说明书 一份合格证 一份保修卡 一份为什么介电常数越大，绝缘能力越强？因为物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数。所以理论上来说，介电常数越大，绝缘性能就越好。注：这个性质不是绝对成立的。对于绝缘性不太好的材料(就是说不击穿的情况下,也可以有一定的导电性)和绝缘性很好的材料比较,这个结论是成立的。但对于两个绝缘体就不一定了。介电常数反映的是材料中电子的局域(local)特性,导电性是电子的全局(global)特征.不是一回事情的。补充：电介质经常是绝缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。对于时变电磁场，物质的介电常数和频率相关，通常称为介电系数。介电常数又叫介质常数，介电系数或电容率，它是表示绝缘能力特性的一个系数介电常数,用于衡量绝缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以绝缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的极化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两极板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同一种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同介质损耗：绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。在交变电场作用下，电介质内流过的电流相量和电压相量之间的夹角（功率因数角Φ）的余角δ称为介质损耗角。

产品名称：介电常数测试仪产品型号：LJD-B、LJD-C、QS-37符合标准：GB/T1409、GB/T5594产品用途：固体、液体绝缘材料的介电常数及介质损耗测试适用材料：橡胶塑料薄膜、陶瓷玻璃、绝缘材料、高分子材料等测试范围：10KHZ-70MHZ、100KHZ-160MHZ主要配置：主机Q表、夹具、电感组成测试项目：介电常数、介质损耗、介质损耗因数、介质损耗角正切值使用人群：科研所、教学、质量监督局、军工单位等付款方式：全款发货产品品牌：中航鼎力产品货期：1-3个工作日产品类别：电性能检测仪器GB/T1409—2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法anddielectricdissipationfatorofelectricalinsulatingmaterials（IEC60250:1969，MOD）中华人民共和国质量监督检验检疫总局GB/T1409测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下电容率和介质损耗因数的推荐方法本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。 下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的zui新版本。凡是不注日期的引用文件，其zui新版本适用于本标准。3、术语和定义3.1ε r … … … … … … … … … … … （1）εr——相对电容率 Co——真空中电容器的电极电容。在一个测量系统中，绝缘材料的电容率是在该系统中绝缘材料的相对电容率εr与真空电气常数εr的乘积。 … … … … … … … … … … … （2）3.2δ3.3tanδ3.4ε' ' r3.5εrεr——复相对电容率；ε' r、εr——相对电容率；注：有损耗的电容器在任何给定的频率下能用电容Cs和电阻Rs的串联电路表示，或用电容CP和电阻RP（或电导CP）并联电路表示。 Cs——串联电容；1）有些用“损耗角正切”来表示“介质损耗因数”，因为损耗的测量结果是用损耗角的正切来报告的。RP——并联电阻。串联元件与并联元件之间，成立下列关系： 式（9）、（10）、（11）中：Cs、Rs、CP、RP、tanδ同式（7）、（8）。假如测量电路依据串联元件来产生结果，且tanδ太大而在式（9）中不能被忽略，则在计算电容率前必须先计算并联电容。4、电气绝缘材料的性能和用途电介质一般被用在两个不同的方面：用作电容器介质。下面分别讨论频率、温度、湿度和电气强度对介电性能的影响。因为只有少数材料如石英玻璃、聚苯乙烯或聚乙烯在很宽的频率范围内它们的εr和tanδ几乎是恒定的，且被用作工程电介质材料，然而一般的电介质材料必须在所使用的频率下测量其介质损耗因数和电容率。4.2.2温度4.2.3湿度注：湿度的显著影响常常发生在1MHz以下及微波频率范围内。存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数值的大小和位置也随此而变。5、试样和电极5.1.1试样的几何形状在测定电容率需要较高精度时，的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的精确度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，zui好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。5.1.2电极系统电极可选用5.1.3中任意一种。如果不用保护环，而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出。5.1.2.2试样上不加电极平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表3给出。5.1.2.2.1空气填充测微计电极5.1.2.2.2流体排出法试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计。在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电极系统可加上保护电极。保护电极的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电极和主电极之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表1给出了近似计算公式。这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。5.1.3构成电极的材料用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。烧熔金属电极适用于玻璃、云母和陶瓷等材料，银是普遍使用的，但是在高温或高湿下，zui好采用金。锌或铜电极可以喷镀在试样上，它们能直接在粗糙的表面上成膜。这种电极还能喷在布上，因为它们不穿透非常小的孔眼。假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。5.1.3.6导电漆要使用刷漆法做到边缘界限分明的电极较困难，但使用压板或压敏材料遮框喷漆可克服此局限。但在极高的频率下，因银漆电极的电导率会非常低，此时则不能使用。一般不推荐使用石墨，但是有时候也可采用，特别是在较低的频率下。石墨的电阻会引起损耗的显著增大，若采用石墨悬浮液制成电极，则石墨还会穿透试样。5.1.4.1板状试样a）不加电极，测量时快而方便，并可避免由于试样和电极间的不良接触而引起的误差。… … … … … … … … … … … （12）△εr——相对电容率的偏差；h——试样厚度； 若试样上加电极，且试样放在有固定距离Sh的两个电极之间，这时式中：εr——试样浸入所用流体的相对电容率，对于在空气中的测量则εr等于1。5.1.4.2管状试样高电容率的管状试样，其内电极和外电极可以伸展到管状试样的全部长度上，可以不用保护电极。对于非常准确的测量，在厚度的测量能达到足够的精度时，可采用试样上不加电极的系统。对于相对电容率εr不超过10的管状试样，方便的电极是用金属箔、汞或沉积金属膜。相对电容率在10以上的管状试样，应采用沉积金属膜电极；瓷管上可采用烧熔金属电极。电极可像带材一样包覆在管状试样的全部圆周或部分圆周上。5.2.1试验池的设计满足上述要求的试验池见图2?图4。电极是不锈钢的，用硼硅酸盐玻璃或石英玻璃作绝缘，图2和图3所示的试验池也可用作电阻率的测定，1EC 60247:1978对此已详细叙述。5.2.2试验池的准备试验池应全部拆开，彻底地清洗各部件，用瑢剂回流的方法或放在未使用溶剂中搅动反复洗涤方法均可去除各部件上的溶剂并放在清洁的烘箱中，在110℃左右的温度下烘干30min。在上述各步骤中，各部件可用干净的钩针或钳子巧妙地处理，以使试验池有效的内表面不与手接触。注2:采用溶剂时，有些溶剂特别是苯、四氧化碳、甲苯、二甲苯是有毒的，所以要注意防火及毒性对人体的影响，此外，氧化物溶剂受光作用会分解。当需要高精度测定液体电介质的相对电容率时，应首先用一种已知相对电容率的校正液体（如苯）来测定“电极常数' 。 … … … … … … … … … … … （14）Cc——电极常数；Cn——充有校正液体时电极装置的电容；从C。和Cc的差值可求得校正电容Cg并按照公式式中：Co——空气中电极装置的电容；Cx——电极装置充有被试液体时的电容；假如Co、Cn和Cx值是在εn是已知的某一相同温度下测定的，则可求得zui高精度的εx值。6、测置方法的选择6.1零点指示法适用于频率不超过50MHz时的测量。测量电容率和介质损耗因数可用替代法；也就是在接入试样和不接试样两种状态下，调节回路的一个臂使电桥平衡。通常回路采用西林电桥、变压器电桥（也就是互感耦合比例臂电桥）和并联T型网络。变压器电桥的优点：采用保护电极不需任何外加附件或过多操作，就可采用保护电极；它没有其他网络的缺点。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。 7.1试样的制备应精确地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。条件处理应按相关规范规定进行。电气测量按本标准或所使用的仪器（电桥）制造商推荐的标准及相应的方法进行。8、结果试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C' x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为：式中：C' x——没有保护电极时试样的电容；Co——法向极间电容；必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。8.2介质损耗因数tanδ8.3精度要求在较低频率下，电容的测量精度能达±（0.1%土0.02pF），介质损耗因数的测量精度能达±（2%±0.00005）。在较高频率下，其误差增大，电容的测量精度为±（0.5%±0，1PF），介质损耗因数的测量精度为±（2%±0.0002）。对表面加有电极的试样的电容，若采用测微计电极测量时，只要试样直径比测微计电极足够小，则只需要进行极间法向电容的修正。采用其他的一些方法来测量两电极试样时，边缘电容和对地电容的计算将带来一些误差，因为它们的误差都可达到试样电容的2%?40%。根据目前有关这些电容资料，计算边缘电容的误差为10%，计算对地电容的误差为因此带来总的误差是百分之几十到百分之几。当电极不接地时，对地电容误差可大大减小。9、试验报告绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样日期（并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况）；电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型；试验时的温度和相对湿度以及试样的温度；施加的频率；介质损耗因数tanδ（平均值）；相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。（1）（单位：皮法和厘米）边缘电容的校正（3） a）电极直径=试样直径 b）上下电极相等，但比试样小 表1（续）极间法向电容（2）（单位：皮法和厘米）c）电极直径=试样直径 其中：ε1 是试样相对电容率的近似值，并且a≤h 试样的相对电容率：C' x——电极之间被测的电容；Ig——常用对数。试样电容符号定义’CP——试样的并联电容Cr——在距离为r时，测微计电极的标定电容h——试样厚度CP=△C+Cor2.取去试样后减少测微计电极间的距离来替代试样电容试样直径至少比测微计电极的直径小2r。在计算电容率时必须采用试样的真实厚度h和面积A。当试样与电极的直径同样大小时，仅存在一个微小的误差（因电极边缘电场畸变引起0.2%?0.5%的误差），因而可以避免空气电容的两次计算。试样直径等于测微计电极直径，施于试样上的电极的厚度为零。相对电容率介质损耗因数符号意义1.测微计电极（在空气中）若ho 调到一个新值h' o，而△C=0时tanδx= tanδc +Mεr△tanδ C1——装有试样时的电容Co——所考虑的区域上的真空电容，其值为εo?A/h0ε1——在试验温度下的流体相对电容率（对空气而言εr ＝1. 00)△tanδ——试样插入时，损耗因数的增加量tanδx试样的损耗因数的计算值d3——外电极的内直径 h0——平行平板间距M——h0 /h—1注；在二流体法的公式中，脚注1和2分别表示种和第二种流体。 3. 圆柱形电极——流体排出法（用于tanδ小于0.1时） 6——微调电容器；7——接检测器；8——接到电路上；9——可调电极（B）。图1 用于固体介质测量的测微计——电容器装置 1——把柄；5——棚硅酸盐或石英垫圈；6——硼硅酸盐或石英垫圈。 1——温度计插孔；3——过剩液体溢流的两个出口。 2——1mm厚的金属板；4——1mm或2mm的间隙；span "="" style="margin: 0px padding: 0px line-height: initial "5——温度计插孔

一、简介：QS37a型绝缘纸介电常数介质损耗测定仪是本公司推出的新一代绝缘纸介电常数介质损耗测试仪,主要用于测量高压工业绝缘介质损耗角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路,主要可以测量各种绝缘材料在工频高压下的介质损耗（tgδ）和电容量（C）及介电常数(ε)。二、符合标准：GB/T1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法.GB/T5654-2007液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量.三、仪器特点1、桥体内附电位跟踪器及指零仪，外围接线极少。2、电桥采用接触电阻小，机械寿命长的十进开关，保证测量的稳定性。3、仪器具有双屏蔽，能有效防止外部电磁场的干扰。4、仪器内部电阻及电容元件经特殊老化处理，使仪器技术性能稳定可靠。5、仪器内置100pF标准电容器及5000V数字式高压测试电源。四、技术指标：1、测量范围及误差本电桥的环境温度为20±5℃，相对湿度为30%-80%条件下，应满足下列表中的技术指示要求。在Cn=100 pF、R4=3183.2（Ω）时：测量项目测量范围测量误差电容量Cx40pF—20000pF±0.5% Cx±2pF介损损耗tgδ0-1±1.5% tgδx±0.0001在Cn=100 pF、R4=318.3（Ω）时：测量项目测量范围测量误差电容量Cx4pF—2000pF±0.5% Cx±3pF介损损耗tgδ0-0.1±1.5% tgδx±0.0001 RY2A型固体绝缘材料测试电极一、简介：本电极适用于固体电工绝缘材料如绝缘漆、树脂和胶、浸渍纤制品、层压制品、云母及其制品、塑料、电缆料、薄膜复合制品、陶瓷和玻璃等的相对介电系数（ε）与介质损耗角正切值（tgδ）的测试。本电极主要用于频率在工频50Hz下测量试品的相对介电系数（ε）和介质损耗角正切值（tgδ）。本电极的设计主要是参照国标GB1409。本电极采用的是三电极式结构，能有效的消除表面漏电流的影响，使测量电极下的电场趋于均匀电场。二、主要技术指标：环境温度：20±5℃相对湿度：65±5%高低压电极之间距离：0~5mm可调百分表示值误差：0.01mm测量极直径：50mm（表面积19.6cm2）空极tgδ：≤3×10-5zui高测试电压：2000V体积：Ф210mm H180mm重量：6kgRY2型固体绝缘材料测试电极一、概述RY2型固体绝缘材料测试电极制造成平板型带保护电极的三端式电容器，可以在加压、加温及抽真空条件下，配以高压电容电桥在工频电压下对各类固体绝缘材料（如聚苯乙烯，聚丙烯，电容纸等）的试品作介质损耗因数（tgδ），相对介电常数（ε）的测量。配上高阻计还可测试体积电阻率（Pv）.二、主要性能参数高压电极直径与表面积：￠98mm(75.43cm2)测量电极直径与表面积：￠50 mm(19.6 cm2)电极材料 ：不锈钢1Cr13Ni9Ti电极工作面：精面面磨电极间距：不大于6mm电极加热功率：约2*500瓦电极高温度：200°C(配上FY120B型温控仪，精度0.1°)加热时间： 30分钟电极压力：0~~1.0Mpa连续可调醉大测量电压：2000V，50Hz真空度：电极可抽真空至3*10-2 Mpa尺寸重量： 长*宽*高400 mm*300 mm*400 mm，重量：15Kg测量液体： FY120B型液体电极控温仪一、简介：FY120B型液体电极控温仪是新一代的绝缘油测量电极的控温智能化装置，可与国际通用的圆柱型绝缘油电极配套使用。保证绝缘油在规定时间内到达所需温度，并能恒定较长时间，以便通过高压电桥对绝缘油进行介质损耗因素(tg)、相对介电常数(r)进行精密测量。本产品温度显示采用内外温同时显示，加热控制采用两片单片机分别对内、外加热器进行加热控制。控制过程采用PID模糊逻辑控制，能彻底消除电网电压、环境温度变化等的影响，具有控温超调量小、控温速度快的优点。温度设置采用数字键盘输入方式，保证工作的安全、可靠。二、使用条件：1.环境温度：0～40℃2.相对湿度：30～85%3.工作电压：220V10%，50HZ 4.测温范围：0～199.9℃，误差1+0.1℃5.控温范围：室温～199.9℃，稳定度（1+0.1）℃6.由室温加热至控温值：不大于45min7.加热功率: 1000W（包括内、外加热器）RY1型绝缘油介损测量电极（油杯）一、简介：RY1型绝缘油介损测量电极（俗称：油杯）是用于对各种电缆油，变压器油，电容器油等液体绝缘材料的介质损耗因数（tgδ）,相对介电常数(εr)和直流电阻率(p)的精密测量。 RY1型绝缘油介损测量电极在原理和结构上参考了IEC标准，与在我国广泛应用的瑞士Tettex2930性能指标相似。本产品是一种带有屏蔽保护极，极间距离为2mm圆柱形空气电容器.它能有效地压抑和消除杂散电容影响,提高测量精度.当和本厂产品FY104型或FY120型测温控温以及加热器配合使用时还能十分方便地没量在规定温度(室温~150oC范围内)的介质损耗因数和介电常数。二、主要技术指标：(1)两极空间距离：2mm(2)空杯电容量：60±2pF(3)醉大测量电压：工频2000V(4)空杯tgδ：≤5×10-5(5)液体容量：约40mm3(6)电极材料：不锈钢(7)重量：约10kg配置清单：序号项目单位/数量备注1QS37a高压电容电桥台/1 标配 2RY2A型固体测试电极台/13连接线、电源线套/14说明书、保修卡、合格证套/15RY2型固体加压、加温、真空条件下测试电极套/1 选配 6FY120B型液体电极控温仪台/17RY1型绝缘液体介损测量电极（油杯）只/1

塑料损耗指数测试仪 足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的方法塑料损耗指数测试仪~GDAT—A~ VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。 塑料损耗指数测试仪~GDAT—A~ 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 技术参数：1．Q值测量范围：1—1023；2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：1nH—140mH；4．电容直接测量范围：1pF～25nF；5．主电容调节范围：17pF—240pF6．准确度?150pF以下±1pF；150pF以上±1%7．信号源频率覆盖范围100kHz—160MHz；8．合格指示预置功能范围：5～10009．环境温度：0℃～+40℃；10．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。11.信号源:100KHZ-160MHZ12.提供厂家授权书原件及产品彩页。13.电感组LKI-1，分别有0.05uH?、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。14.?介质损耗测试夹具：A:4位数显式调节微杆；B:极片尺寸：Φ50mm?或Φ38mm（二选一）；C:夹具损耗正切值≤4×10－4?（1MHz）。15.液体杯直径48mm?深度7mm,可与S916下极片互换使用。16.夹具工作特性极片尺寸：??Φ50mm/Φ38mm可选；极片间距可调范围：≥15mm 夹具插头间距：25mm±0.01mm 夹具损耗正切值：≤4×10－4?（1MHz）；测微杆分辨率：≤0.001mm。17.配置：主机 一台电感 一套夹具 一套 主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至 低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。 电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 维修1．新购仪器的检查新购的仪器 能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 试验步骤1 试样的制备 试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。 应精确地测量厚度，使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。2 条件处理 条件处理应按相关规范规定进行。3 测量 电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。 在 1 MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统(见图 1所示)，当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。 试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。

高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。【依据标准】GB/T 16491、GB/T 1040、GB/T 8808、GB/T 13022、GB/T 2790、GB/T 2791、GB/T 2792、GB/T 16825、GB/T 17200、GB/T 3923.1、GB/T 528、GB/T 2611、GB/T 6344、GB/T 20310、GB/T 3690、GB/T 4944、GB/T 3686、GB/T 529、GB/T 6344、GB/T 10654、HG/T 2580、JC/T 777、QB/T 2171、HG/T 2538、CNS 11888、JIS K6854、PSTC-7、ISO 37、AS 1180.2、BS EN 1979、BSEN ISO 1421、BS EN ISO 1798、BS EN ISO 9163、DIN EN ISO 1798、GOST 18299、DIN 53357、ISO 2285、ISO 34-1、ISO 34-2、BS 903、BS 5131、DIN EN 12803、DIN EN 12995、DIN53507-A、DIN53339、ASTM D3574、ASTM D6644、ASTM D5035、ASTM D2061、ASTM D1445、ASTM D2290、ASTM D412、ASTM D3759/D3759M功能介绍1.自动停机：试样破坏后，移动横梁自动停止移动（或自动返回初始位置、2.自动换档：根据试验力大小自动切换到适当的量程，以确保测量数据的准确性3.条件模块：试验条件和试样原始数据可以建立自己的标准模块的形式存储；方便用户的调用和查看，节省试验时间4.自动变速：试验过程的位移速度或加载速度可按预先编制、设定的程序自动完成也可手动改变5.自动程制：根据试验要求，用户可方便的建立自己的试验模板（方法、，便于二次调用，可实现试验加载速度、应力、应变的闭环试验控制6.自动保存：试验结束，试验数据和曲线计算机自动保存，杜绝因忘记存盘而引起的数据丢失7.测试过程：试验过程及测量、显示、分析等均由微机完成8.批量试验：对相同参数的试样，一次设定后可顺次完成一批试验9.试验软件：中文Windows用户界面，操作简便10.显示方式：数据与曲线随试验过程动态显示11.曲线遍历：试验完成后，可对曲线进行放大再分析，用鼠标查到试验曲线上各点对应的数据12.试验报告：可根据用户要求进行编辑打印13.限位保护：具有程控和机械两级限位保护14.过载保护：当负荷超过额定值3～5%时，自动停机15.报告显示：自动和人工两种模式求取各种试验结果，自动形成报表，使数据分析过程变的简单，便于用户16.添加试验方法：用户可跟据试验要求，添加试验方法

宏观结构不均勾性的介质损耗工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗大的一相和损耗小的一相之间。表征：电介质在恒定电场作用下，介质损耗的功率为　　W=U2/R=（Ed）2S/ρd=σE2Sd定义单位体积的介质损耗为介质损耗率为ω=σE2在交变电场作用下，电位移D与电场强度E均变为复数矢量，此时介电常数也变成复数，其虚部就表示了电介质中能量损耗的大小。D，E，J之间的相位关系图D，E，J之间的相位关系图如图所示，从电路观点来看，电介质中的电流密度为J=dD/dt=d（εE）/dt=Jτ+iJe式中Jτ与E同相位。称为有功电流密度，导致能量损耗；Je，相比较E超前90°，称为无功电流密度。定义tanδ=Jτ/Je=ε〞/εˊ式中，δ称为损耗角，tanδ称为损耗角正切值。损耗角正切表示为获得给定的存储电荷要消耗的能量的大小，是电介质作为绝缘材料使用时的重要评价参数。为了减少介质损耗，希望材料具有较小的介电常数和更小的损耗角正切。损耗因素的倒数Q=（tanδ）-1在高频绝缘应用条件下称为电介质的品质因素，希望它的值要高。工程材料：离子晶体的损耗，离子晶体的介质损耗与其结构的紧密程度有关。紧密结构的晶体离子都排列很有规则，键强度比较大，如α-Al2O3、镁橄榄石晶体等，在外电场作用下很难发生离子松弛极化，只有电子式和离子式的位移极化，所以无极化损耗，仅有的一点损耗是由漏导引起的（包括本质电导和少量杂质引起的杂质电导）。这类晶体的介质损耗功率与频率无关，损耗角正切随频率的升高而降低。因此，以这类晶体为主晶相的陶瓷往往用在高频场合。如刚玉瓷、滑石瓷、金红石瓷、镁橄榄石瓷等

陶瓷材料的损耗陶瓷材料的介质损耗主要来源于电导损耗、松弛质点的极化损耗和结构损耗。此外，表面气孔吸附水分、油污及灰尘等造成的表面电导也会引起较大的损耗。在结构紧密的陶瓷中，介质损耗主要来源于玻璃相。为了改善某些陶瓷的工艺性能，往往在配方中引人此易熔物质（如黏土），形成玻璃相，这样就使损耗增大。如滑石瓷、尖晶石瓷随黏土含量增大，介质损耗也增大。因面一般高频瓷，如氧化铝瓷、金红石等很少含有玻璃相。大多数电陶瓷的离子松弛极化损耗较大，主要的原因是：主晶相结构松散，生成了缺固济体、多品型转变等。高分子材料的损耗高分子聚合物电介质按单体单元偶极矩的大小可分为极性和非极性两类。一般地，偶极矩在0~0.5D（德拜）范围内的是非极性高聚物；偶极矩在0.5D以上的是极性高聚物。非极性高聚物具有较低的介电常数和介质损耗，其介电常数约为2，介质损耗小于10-4；极性高聚物则具有较高的介电常数和介质损耗，并且极性愈大，这两个值愈高。高聚物的交联通常能阻碍极性基团的取向，因此热固性高聚物的介电常数和介质损耗均随交联度的提高而下降。酚醛树脂就是典型的例子，虽然这种高聚物的极性很强，但只要固化比较完全，它的介质损耗就不高。相反，支化使分子链间作用力减弱，分子链活动能力增强，介电常数和介质损耗均增大。高聚物的凝聚态结构及力学状态对介电性景响也很大。结品能抑制链段上偶极矩的取向极化，因此高聚物的介质损耗随结晶度升高而下降。当高聚物结晶度大于70%时，链段上的偶极的极化有时完全被抑制，介电性能可降至低值，同样的道理，非晶态高聚物在玻璃态下比在高弹态下具有更低的介质损耗。此外，高聚物中的增塑利、杂质等对介电性能也有很大景响。介质损耗（dielectric loss ）指的是绝缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质极化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。

高精度偏振态测量（斯托克斯量测量）系统紫外~近红外 高精度斯托克斯量测量系统 利用光弹调制器技术，Hinds公司的科研级高精度偏振态量测量系统可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度（Stokes parameter sensitivity: 0.0001）。速度上，也可以从一秒钟10组（40个）斯托克斯量提升到100组（400个斯托克斯量）。波段上，除了可见光波段，该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用斯托克斯测量系统，偏振测量系统，偏振测量仪，椭偏仪，偏振态测量仪，偏振分析仪，偏振态分析仪利用光弹调制器技术，Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪可以获得比一般偏振测量一高出一个数量级的精度（Stokes parameter sensitivity: 0.0001）。速度上，Hinds 公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪也可以从一秒钟10组（40个）斯托克斯量提升到每秒100组（400个斯托克斯量）。波段上，Hinds公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪除了可将光波段，该套测量系统还可以用在紫外/深紫外/近红外及中远红外系统的使用总的来说，Hinds公司的科研级高精度斯托克斯量测量系统/高精度偏振测量系统/高精度偏振态测量仪为有高精度，高速度需求的偏振态测量需求提供了全套解决方案。产品参数：1. Wavelength Range: 400 – 700 nm 可拓展到深紫外至 中远红外 （130 nm to 18 um）2. Stokes parameter accuracy: better than 1%3. Stokes parameter sensitivity: 0.00014. Fiber compatible options available5. 探测强度：皮瓦 产品应用：1. 质检测量2. 材料测量3. SOP and DOP4. 天文探测5. 光纤偏振态探测

液体介电常数介质损耗测试仪 足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的方法液体介电常数介质损耗测试仪 VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。 液体介电常数介质损耗测试仪 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。 技术参数：1．Q值测量范围：1—1023；2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：1nH—140mH；4．电容直接测量范围：1pF～25nF；5．主电容调节范围：17pF—240pF6．准确度?150pF以下±1pF；150pF以上±1%7．信号源频率覆盖范围100kHz—160MHz；8．合格指示预置功能范围：5～10009．环境温度：0℃～+40℃；10．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。11.信号源:100KHZ-160MHZ12.提供厂家授权书原件及产品彩页。13.电感组LKI-1，分别有0.05uH?、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。14.?介质损耗测试夹具：A:4位数显式调节微杆；B:极片尺寸：Φ50mm?或Φ38mm（二选一）；C:夹具损耗正切值≤4×10－4?（1MHz）。15.液体杯直径48mm?深度7mm,可与S916下极片互换使用。16.夹具工作特性极片尺寸：??Φ50mm/Φ38mm可选；极片间距可调范围：≥15mm 夹具插头间距：25mm±0.01mm 夹具损耗正切值：≤4×10－4?（1MHz）；测微杆分辨率：≤0.001mm。17.配置：主机 一台电感 一套夹具 一套 主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至 低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。 电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 维修1．新购仪器的检查新购的仪器 能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。 试验步骤1 试样的制备 试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。 应精确地测量厚度，使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。2 条件处理 条件处理应按相关规范规定进行。3 测量 电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。 在 1 MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统(见图 1所示)，当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。 试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。北广精仪公司简介北广精仪公司是一家专业从事检测仪器，自动化设备生产的高新科技企业公司，“精细其表，精湛于内”是北广精仪一惯秉承的原则。其先进的设计风格，卓越的制造技术和完善的服务体系，为科研机构、大专院校，企业和质量检测机构提供的产品和优质的服务。北广公司保持以发展与中国测试产业相适应的应用技术为主线，通过与产业界协调发展的方式提高本公司的竞争实力和技术含量。与此同时，本公司自成立以来，坚持走"研发生产"相结合的道路，借助国家工业研究院的理论知识和强劲的科研实力，在消化、吸收国际先进生产技术的基础上，大胆创新、锐意改革、努力创造，开发出具有中国特色的新产品，为提高中国的科研及产品质量作出了应有的贡献。经营理念： 一、诚信待户 顾客至上 全心全意为顾客考虑，使顾客能切身感受到人性化的仪器。 二、检测 保质保量 检测是我们的责任 保质保量是我们对客户的郑重承诺 三、技术 创新理念 储备的开发人才，引进世界技术，采用先进的设计理念，打造最精良的检测仪器。 北广产品广泛应用于国防、大专院校以及检测所等行业，本公司以技术的创新为企业的发展方向，以新型实用的产品引导客户的需求北广公司所供产品严格按照国家标准生产制造，严谨的制造环节确保每一台出厂仪器质量和性能的卓越，服务优质，质优价廉 确保您的放心 ！

硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的方法硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 VFD显示 采用新颖的大屏幕VFD点阵显示器，在严冬和盛夏都能清晰显示。全中文操作菜单，操作提示各种警告信息，直观明了，不需查阅说明书即可操作。打印 仪器附有微型打印机，以中文方式打印输出测量结果及状态。RS232 仪器具有RS232接口，与计算机连接便于数据的统计和处理及保存。可选购与计算机通信应用程序。硫化橡胶介电常数介质损耗测试仪 电介质的用途 电介质一般被用在两个不同的方面:用作电气回路元件的支撑，并且使元件对地绝缘及元件之间相互绝缘 用作电容器介质。技术参数：1．Q值测量范围：1—1023；2．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档；3．电感测量范围：1nH—140mH；4．电容直接测量范围：1pF～25nF；5．主电容调节范围：17pF—240pF6．准确度?150pF以下±1pF；150pF以上±1%7．信号源频率覆盖范围100kHz—160MHz；8．合格指示预置功能范围：5～10009．环境温度：0℃～+40℃；10．消耗功率：约25W；电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。11.信号源:100KHZ-160MHZ12.提供厂家授权书原件及产品彩页。13.电感组LKI-1，分别有0.05uH?、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十个电感组成。14.?介质损耗测试夹具：A:4位数显式调节微杆；B:极片尺寸：Φ50mm?或Φ38mm（二选一）；C:夹具损耗正切值≤4×10－4?（1MHz）。15.液体杯直径48mm?深度7mm,可与S916下极片互换使用。16.夹具工作特性极片尺寸：??Φ50mm/Φ38mm可选；极片间距可调范围：≥15mm 夹具插头间距：25mm±0.01mm 夹具损耗正切值：≤4×10－4?（1MHz）；测微杆分辨率：≤0.001mm。17.配置：主机 一台电感 一套夹具 一套主要技术特性：介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至 低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。 低频电桥 一般为高压电桥，这不仅是由于灵敏度的缘故，也因为在低频下正是高电压技术特别对电介质损耗关注的问题。电容臂和测量臂两者的阻抗大小在数量级上相差很多，结果，绝大部分电压都施加在电容Cx和 C}上，使电压分配不平衡 上面给出的电桥平衡条件只是当低压元件对高压元件屏蔽时才成立。同时，屏蔽必须接地，以保证平衡稳定。如图A. 2所示。屏蔽与使用被保护的电容 C、和 C、是一致的，这个保护对于Ch来说是必不可少的。 由于选择不同的接地方法，实际上形成了两类电桥。电极系统 1 加到试样上的电极 电极可选用 5.1.3中任意一种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电极难以对齐时，其中一个电极应比另一个电极大些。已经加有电极的试样应放置在两个金属电极之间，这两个金属电极要比试样上的电极稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电极结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出. 对于介质损耗因数的测量，这种类型的电极在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电极系统也要求试样厚度均匀2 试样上不加电极 表面电导率很低的试样可以不加电极而将试样插人电极系统中测量，在这个电极系统中，试样的一侧或两侧有一个充满空气或液体的间隙。 平板电极或圆柱形电极结构的电容计算公式由表 3给出。 下面两种型式的电极装置特别合适2.1 空气填充测微计电极 当试样插人和不插人时，电容都能调节到同一个值 ，不需进行测量系统的电气校正就能测定电容率。电极系统中可包括保护电极.2.2 流体排出法 在电容率近似等于试样的电容率，而介质损耗因数可以忽略的一种液体内进行测量，这种测量与试样厚度测量的精度关系不大。当相继采用两种流体时，试样厚度和电极系统的尺寸可以从计算公式中消去 试样为与试验池电极直径相同的圆片，或对测微计电极来说，试样可以比电极小到足以使边缘效应忽略不计 在测微计电极中，为了忽略边缘效应，试样直径约比测微计电极直径小两倍的试样厚度。 维修1．新购仪器的检查新购的仪器 能先用LKI-1电感组，将各个电感在各个不同频率测试Q值，把测试的情况，例使用的电感号、测试频率Q读数、电容读数等多次测得数及测试环境条件逐一详细记录，并把记录保存起来，以供以后维修时作参考。LKI-1电感组是测试时作辅助电感用的，不能把这些电感当作高精度的标准电感看待。随着测试环境条件不同，测得电感器Q值和分布电容可能略有不同。2．使用和保养高频Q表是比较精密的阻抗测量仪器，在合理使用和注意保养情况下，才能保证长期稳定和较高的测试精度。a．熟悉本说明书，正确地使用仪器；b．使仪器经常保持清洁、干燥；c．本仪器保用期为18个月，如发现机械故障或失去准确度，可以原封送回本厂，免费修理。试验步骤1 试样的制备 试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。 应精确地测量厚度，使偏差在士(0. 2%士。.005 mm)以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。2 条件处理 条件处理应按相关规范规定进行。3 测量 电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。 在 1 MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统(见图 1所示)，当用变电抗法测量时，应提供一个固定微调电容器。试验报告 试验报告中应给出下列相关内容: 绝缘材料的型号名称及种类、供货形式、取样方法、试样的形状及尺寸和取样 日期(并注明试样厚度和试样在与电极接触的表面进行处理的情况) 试样条件处理的方法和处理时间 电极装置类型，若有加在试样上的电极应注明其类型 测量仪器 试验时的温度和相对湿度以及试样的温度 施加的电压 施加的频率 相对电容率ε(平均值) 介质损耗因数 tans(平均值) 试验 日期 相对电容率和介质损耗因数值以及由它们计算得到的值如损耗指数和损耗角，必要时，应给出与温度和频率的关系。

偏振态测量仪校准套装仅使用液晶可变波片技术的宽带宽、高测量精度的偏振态测量仪！ 美国Meadowlark Optics公司在精密偏振控制和测量方面一直保持长期的优势和信誉，超宽带偏振测量仪（Broad Wavelength Polarimeter）结合了Meadowlark Optics公司液晶可变相位延迟器技术和偏振技术，具有超宽带、高精度及无运动部件等特点。液晶偏振态测量仪因为没有旋转的波片、马达或其它运动部件，不存在磨损问题和由于机械运动而导入振动源的问题，可以大大提高偏振态测量的精度与一致性。偏振态测量仪，Polarimeter，Liquid Crystal Polarimeter，液晶偏振态测量仪，SOP，DOP，偏振度，偏振态，偏振态测定仪系统，偏振态测量系统，偏振测量仪，LCPM，偏振分析仪，偏振态分析仪 美国Meadowlark Optics公司的偏振态测量仪校准套装可产生6个本征偏振态：0,90，+45，-45deg的线偏振、左旋圆偏振及右旋圆偏振。这些本征偏振态是由分别封装在下图黑色外壳里面的精密二向色性线偏振片和封装在蓝色外壳中的精密四分之一波片产生，这些外壳都是由数控机床加工以保证其角精度小于1角分。在磁铁提供夹持力的同时，外壳上面的销子以准运动方式配合V型槽和扁平槽，这样的机械结构有利于简单快速的索引本征偏振态；外壳上的箭头标明了偏振片的偏振方向及波片的快轴，以便于使用。偏振态测量仪的可用波长范围为450-1700nm。 同时，Meadowlark付费提供用于偏振态测量仪和偏振态测量仪校准套装的本征态波片，这样可保证终端用户在任何波长实时实地对偏振测量仪实现校准。 Meadowlark Optics在精密偏振态控制和测量方面一直保持长期的优势和良好的信誉，Meadowlark Optics的便携型超宽带偏振测量仪（Broad Wavelength Polarimeter）运用了Meadowlark Optics公司液晶可变相位延迟器/波片技术和偏振技术，具有宽带、高精度、高可靠性及无运动部件等特点。由于Meadowlark Optics的超宽带液晶偏振态测量仪没有采用旋转波片、马达或其它运动部件，因此不存在磨损问题和由于机械运动而导入振动源的问题，可以大大提高偏振态测量的精度与一致性。 Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪可直接通过计算机的USB接口进行控制，提供了测量的速率和便捷性，Meadowlark Optics超宽带偏振测量仪在计算机的控制下每秒的测量10次可量化偏振态的斯托克斯（Stokes）参数，同时将偏振态图形化地显示成邦加球（Poincaré Sphere）、偏振椭圆（Polarization Ellipse）或者运行图；Meadowlark Optics的偏振测量仪控制软件采用独特算法，其提供了高精度和多功能校正；可以说Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪是一套简便紧凑和精密的偏振态测量系统。Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪的偏振度测量精度≤1%，斯托克斯矢量的分辨率为0.001，测量频率为10Hz，波长的校正精度为±3nm，在保证测量精度的情况下可对光功率为1μW的光波实现偏振态的测量；由于液晶材料对温度比较敏感，为了保证Meadowlark Optics的超宽带偏振测量仪配有温度控制选项，可以实现实时实地的恒温状态。Meadowlark Optics超宽带偏振测量仪有可见光（450-1100nm）和近红外（900-1700nm）两种版本，及光纤耦合和自由光路两种不同配置。 优势：超宽带（450-1100nm和900-1700nm可选）无运动部件偏振度测量精度≤1%斯托克斯矢量分辨率0.001偏振态跟踪LabVIEW VI程序库图形化操作界面光纤和自由光路版本可测量功率为1μW的光束偏振态规格：订购信息：可选配件：本征态校准套装尺寸：

漆膜介质损耗因数测试仪HRJD-A谐振法适用于10kHz〜 几百MHz的频率范围内的测量。该方法为替代法测量，常用的是变电抗法。但该方法不适合采用保护电极。介电常数测试仪按测试频率要求，需要配置不同量的电感器。　　例如：在1MHz测试频率时，要配250μH电感器，在50MHz测试频率时，要配0.1μH电感器等。　　高频介质样品(选购件)：　　在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。　　该样品由人工蓝宝石、石英玻璃、氧化铝陶瓷、聚四氟乙烯、环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。注：典型的电桥和电路示例见附录。附录中所举的例子自然是不全面的，叙述电桥和测量方法报导见有关文献和该种仪器的原理说明书。漆膜介质损耗因数测试仪HRJD-A试样的制备试样应从固体材料上截取，为了满足要求，应按相关的标准方法的要求来制备。漆膜介质损耗因数测试仪HRJD-A应地测量厚度，使偏差在±（0.2%土0.005mm）以内，测量点应均匀地分布在试样表面。必要时，应测其有效面积。漆膜介质损耗因数测试仪HRJD-A相对电容率εr试样加有保护电极时其相对电容率εr可按公式（1）计算，没有保护电极时试样的被测电容C'x包括了一个微小的边缘电容Ce，其相对电容率为： ……………………………（17）式中：εr——相对电容率；C'x——没有保护电极时试样的电容；Ce——边缘电容 Co——法向极间电容；Co和Ce能从表1计算得来。必要时应对试样的对地电容、开关触头之间的电容及等值串联和并联电容之间的差值进行校正。测微计电极间或不接触电极间被测试样的相对电容率可按表2、表3中相应的公式计算得来。漆膜介质损耗因数测试仪HRJD-A基本原理是采用高频谐振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机控制仪器，测量核心采用了频率数字锁定、标准频率测试点自动设定、谐振点自动搜索、Q值量程自动转换、数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至较低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量时更为准确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。

产品介绍：DZ5001是一款测量介质损耗和介电常数的测量仪器，采用高频谐振法，测量准确度高，大电容显示，具有操作简单，液晶显示，测试精度高等优势。测试原理：介电常数测试仪通常采用高频谐振法，并利用平行板电容器来测量物质的电容值。测试过程中，两个平行金属板之间填充了被测物质。当加上电压时，电子会在两个板之间移动，导致电容值发生变化，这个变化取决于介质材料的介电常数。应用范围：DZ5001介电常数测试仪是用于测量介质损耗和介电常数是各种金属氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等绝缘材料，通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。性能优势：仪器自动扣除残余电感和测试引线电感。大幅提高测量精度。大电容值直接测量显示。数显微测量装置，直接读值。符合的测量标准：1、 GBT 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法。2、ASTM-D150-介电常数测试方法。3、GB9622.9-88/SJT 11043-1996 电子玻璃高频介质损耗和介电常数的测试方法。技术参数：信号源范围DDS数字合成信号10KHZ-100MHZ信号源频率覆盖比7000:1信号源频率精度6位有效数3×10-5 ±1个字 采样精度12BIT 高精度的AD采样，保证了Q值的稳定性，以及低介质损耗材料测试时候的稳定性Q测量范围1-1000自动/手动量程Q分辨率4位有效数，分辨率0.1Q测量工作误差5%电感测量范围 4位有效数,分辨率0.1nH ：1nH-140mH分辨率0.1nH电感测量误差3%调谐电容主电容17-240pF (一体镀银成型，精度高)电容自动搜索是(带步进马达)电容直接测量范围1pF～25nF调谐电容误差 ±1 pF或1%分辨率 0.1pF谐振点搜索自动扫描Q合格预置范围5-1000声光提示Q量程切换自动/手动LCD显示参数F，L，C，Q，Lt，Ct，Er ,Tn等自身残余电感和测试引线电感有