农用薄膜厚度测试仪

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    公司简介 济南三泉中石实验仪器有限公司(注册品牌:Sumspring三泉中石),是一家专注于包装材料检测仪器研发和销售的高科技创新企业,公司成立于2007年,专注于为质检药检系统、食品行业、药品行业、包装印刷行业、胶黏剂行业、家电行业等提供一流包装材料科学试验仪器和全面质量控制解决方案。 Sumspring三泉中石技术团队一直自主研发、创新、生产,仪器除满足国内使用之外,更是兼顾ISO、ASTM、TAPPI等多种国际标准规范要求。公司拥有独立的进出口权,产品出口全球25个国家和地区。多项新技术、新发明获得专利证书,拥有完全的自主知识产权。同时,顺利通过ISO 9001:2008质量体系认证,并获得软件著作权等多项权威认证。济南三泉中石实验仪器有限公司实验室 Sumspring实验室拥有专业技术服务人员,配有自主研发的40余台先进的仪器设备、测试附件工具等,不但能够客观、公正为客户提供准确、可靠的检测数据,还为各院校、科研单位、大中企业建立了学习交流、实习平台。 10年的发展,三泉中石一直秉承着与客户共赢的经营理念,不断提升产品质量和服务水平。我们为生产企业建立产品质量风险管控体系,帮助政府监管部门完善相关标准法规。我们还关注国际先进的包装检验方法,致力于将其引进到中国,帮助国内企业和政府部门更好的提升产品质量和管理水平。为中国的食品药品包装质量安全做出贡献。三泉中石Sumspring 主要产品介绍:1、 薄膜软包装检测仪器:济南三泉中石薄膜复合包装检测仪器包针对薄膜复合包包装行业研发生产,适用于各种包装袋的密封性、拉伸、剥离强度、热封强度、厚度、摩擦系数、抗冲击、穿刺、耐撕裂等指标检测,相关产品:薄膜拉伸强度试验仪、智能电子拉力试验机、智能密封仪 (正压)、密封性测试仪、多通道密封检漏仪、热封试验仪、摩擦系数仪、摩擦系数/剥离试验仪、撕裂度测试仪(埃莱门多夫法)、智能摆锤冲击仪(薄膜)、薄膜摆锤冲击试验机、自由落镖冲击试验仪、测厚仪、金属镀层测厚仪、包装耐压强度测试仪、热收缩性试验仪、提袋疲劳试验机、口红折断力测试仪、圆盘剥离试验机、迁移池。2、药包材玻璃瓶检测仪器:药包材检测仪器包含了针对药品包装、药用玻璃瓶、塑料瓶、铝箔、预灌封、注射器、注射针等产品进行穿刺力、破裂强度、开启力、连接力、滑动性、耐内压力、偏光应力等物理性能测试仪器,相关产品:微泄漏密封性测试仪(真空/压力衰减)、微泄漏密封性测试仪(压力衰减)、微泄漏密封性测试仪(真空衰减)、高压放电法密封性测试仪、密封性测试仪 (负压)、智能密封仪(色水法/微生物侵入)、安瓿瓶折断力测试仪、玻璃瓶垂直载荷测试仪、玻璃瓶耐内压测试仪(双工位)、玻璃瓶耐内压力试验机、玻璃瓶抗冲击试验仪、玻璃瓶耐热冲击试验仪、壁厚测厚仪、智能偏光应力仪、偏光应力仪、医药包装撕拉力测试仪、自动旋盖测力仪、自动扭力测试仪、瓶盖扭矩仪、电子轴偏差测量仪、热封试验仪、落球中击试验机(硬片)、全自动耐破强度测试仪(药用铝箔)、铝箔针孔度测试仪、涂层连续性测试仪、玻璃耐碱测试装置、输液袋渗透性试验仪、穿刺力测试仪、医用针管韧性测试仪、医用针管刚性测试仪、鲁尔圆锥接头综合测试仪。3、卫生用品纸张纸板检测仪器:纸张纸板检测仪器包含了针对纸张纸板厚度、耐破强度、边压强度、平压强度、粘合强度、空箱抗压等检测项目的仪器,通过以上测试,可以了解到纸箱的性能,为企业包装设计提供可靠数据依据。相关产品:纸尿裤吸收性能测试仪、吸收速度测试仪、背胶剥离强度测试仪、柔软度测试仪、纸张柔软度测试仪、自动吸水倍率测试仪、纸尿裤渗透性测试仪、掉粉率测定仪、球型耐破试验机、纸箱抗压试验机、自动型耐破强度试验机(纸板)、卧式抗张强度试验机、纸张撕裂度测定仪、纸张吸水率测定仪、微电脑弯曲挺度测试仪、剥离/抗张测试仪、电子压缩试验仪、白度测定仪、定量取样器、可勃吸收性测定仪、尘埃度测试仪、暗箱式紫外分析仪、摩擦试验机、纸杯杯身挺度测试仪(双探头)。4、胶粘制品检测仪器:贴膏剂胶粘制品检测仪器包含了针对压敏胶粘带,不干胶标签,医用胶带 ,药典贴膏剂等产品进行滚球法初粘性,高温持黏力,180度剥离强度,厚度,拉伸强度,黏着力等粘性测试项目的检测仪器。相关产品:PC型电子拉力试验机、贴膏剂黏着力测试仪、180°剥离强度试验机、持粘性测试仪、持粘力测试仪(胶带)、恒温持粘性测试仪、初粘性测试仪、环形初粘性测试仪、胶粘带压滚机(电子压辊试验机)、阻水性测试仪。
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  • 郑州锦农科技有限公司是一家专业从事测土配方施肥等农业实用技术研究,农用检测仪器研发生产、销售服务、技术咨询、农技推广的综合性高科技企业,并通过ISO9001:2008质量管理体系认证。公司集仪器研制、方法研究、试剂开发、技术应用于一体,销售与服务业务并举,并与国内多家专业机构建立了良好合作,在测土配方施肥技术研究、应用、推广、服务上有一整套完善的技术体系。公司的宗旨是“锦农科技,全心为农;立足土肥,服务三农。”多年来致力于“打造农业实用仪器技术第一品牌!”其目的是将先进、科学、实用的农业检测仪器和技术推广到农业各个领域,更好地为农业生产和国家粮食安全服务。公司基于我国农业科技不发达、实用型农业技术难以在基层推广应用的现状,从实际出发,立足于农业增产、农民增收,依托河南农业大学、省农科院雄厚的科研实力,走产学研结合、科工贸一体化的发展道路,取得了丰硕的成果,自主研发了一系列实用型农业技术及农用测试仪器和设备,并申报多项国家专利。目前主要产品有土壤养分速测仪、土壤肥料主要养分检测仪、全项目土壤肥料速测仪、肥料养分专用检测仪、全项目土壤肥料养分检测仪、测土配方施肥综合仪、植物病害快速诊断仪、植物营养诊断仪、农药残留检测仪、重金属检测仪、食品安全综合检测仪等仪器设备;锦农牌速测试剂、无磷活性炭、优质甲亚胺-H等检测试剂;频振式杀虫灯、太阳能杀虫灯、虫情测报灯植保设备;高效叶面肥、土壤改良剂等系列。其他服务业务主要有:1.提供测土配方施肥以及相关的专业技术培训;2.提供测土配方施肥实验室各种配件、设备;3.提供农业项目综合开发技术;4.土壤、肥料、植物样品测试;5.田间试验指导、数据统计分析;6.代理国内常用实验仪器设备及试剂;7.代办筹建各种实验室;8.农业相关技术咨询。所有产品及服务质量保证,价格优惠。欢迎咨询! 单 位:郑州锦农科技有限公司 电 话:0371-63603930 86055630 Q Q:2543987310(业务)183783709(检测技术)E-mail: 2543987310@qq.com网 址:www.zzjnkj.com,www.hnjnkj.com地 址:郑州市金水区丰乐五金机电城28-1-12
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  • 山东省潍坊瑞格测试仪器有限公司成立于2008年3月,是一家专业生产和销售分析检测仪器设备的高科技公司,总注册资金100万元,现有员工35人,其中工程技术人员14人,高级职称技术人员3人。公司积极引进国内外的先进技术,目前,我们开发的PRT系列农药残毒速测仪,采用国内先进技术,具有新颖的操作界面、精准的测量装置及池位自动识别功能等优点,已领先于国内同行业; FT系列土壤粉碎机是我公司具有多项技术专利的产品,其中FT-2000\FT-3000型粉碎机上运用的特殊除尘装置解决了普通粉碎机在粉碎土样时粉尘飞扬的情况,可有效地保护实验室环境和操作人员的身体健康,产品在全国23个省土肥站测土配方施肥项目仪器采购中中标,得到广大用户的好评,与国内同类产品相比优势明显;行星式球磨机系列产品主要应用于环境监测和土壤污染治理实验室以及土肥检测中的微量元素检测,具有效率高、无样品污染、噪音低等优点;针对测土配方施肥项目我们成功开发出土壤养分速测仪、土壤水分测试仪等一系列产品,解决了农民在农业生产中的实际问题;另外我公司成功开发出氮吹仪系列产品和实验室器皿消毒清洗机等产品,为实验室的玻璃器皿清洗问题提供更加优化的清洗方案。我公司有较强的开发与技术合作能力,主要致力于各类化验、检测设备的研究与开发,并且与国家重点科研院校建有长期合作关系,并聘请多位行业内著名学者、专家担任公司的技术顾问。公司与山东大学控制科学与工程学院签署产学研合作协议,依托高校的技术优势,结合我公司的社会资源共同开发相关产品,服务社会。
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农用薄膜厚度测试仪相关的仪器

  • 农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪(CHY-C2A型号)采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术特征:严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果系统由微电脑控制,搭配液晶显示器、菜单式界面和PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看标准的RS232接口,便于系统与电脑的外部连接和数据传输支持LystemTM实验室数据共享系统,统一管理试验结果和试验报告 执行标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817农用薄膜厚度测试仪 锂电池隔膜测厚仪 台式膜厚仪技术指标:负荷量程:0~2 mm(常规)     0~6 mm;12 mm (可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重:32kg仪器配置:标准配置:主机、标准量块一件选购件:专业软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机以上信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!
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  • 薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,严格按照标准方法进行测量,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。产品特点◎ 微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。◎ 严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。◎ 测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。◎ 支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。◎ 系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。◎ 实时显示测量结果的Z大值、Z小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。◎ 配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。◎ 系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。◎ 标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪测试原理CHY-CA薄膜测厚仪采用机械接触式测量原理,截取一定尺寸的式样;通过控制面板按钮,调节测量头降落于式样之上;依靠两个接触面产生的压力和两接触面积通过传感器测得的数值测量材料的厚度。 应用领域薄膜、薄片、隔膜:适用于薄膜、薄片、隔膜的厚度测试纸张、纸板:适用于纸张、纸板的厚度测试箔片、硅片:适用于箔片、硅片的厚度测试金属片:适用于金属片的厚度测试纺织材料:适用于纺织材料的厚度测试固体电绝缘体:适用于固体电绝缘体的厚度测试无纺布材料:适用于无纺布材料的厚度测试,如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试量程扩展至5mm, 10mm:适用于无纺布材料的厚度测试,如尿不湿、卫生巾片材的厚度测试曲面测量头:满足特殊要求的厚度测试薄膜测厚仪 CHY-CA 纸张厚度测试仪 膜厚仪 厚度仪技术参数测试范围:0 ~ 2 mm(常规)、0 ~ 6 mm、10 mm(可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制进样步距:0 ~ 1000 mm进样速度:0.1 ~ 99.9 mm/s电源:AC 220V 50Hz外形尺寸:400mm (L)×310 mm (W)×460mm (H)净重:32 kg测试标准该仪器符合多项国家和国标标准:ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672 、GB/T 451.3、 GB/T 6547、 ASTM D374、ASTM D1777TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817。 售后服务承诺三月内只换不修,一年质保,终身提供。快速处理,1小时内响应问题,1个工作日出解决方案。 体系荣誉资质ISO9001:2008质量体系认证、计量合格确认证书、CE认证、软件著作权、产品实用新型、外观设计。实力铸造品牌三大研发中心,两条独立生产线,一个综合体验式实验室。赛成自2007年创立至今,全球用户累计成交产品破万台,完善四大产品体系,50多种产品。
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  • 【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】ITO薄膜是一种n型半导体材料,具有高的导电率、高的可见光透过率、高的机械硬度和良好的化学稳定性。它是液晶显示器(LCD)、等离子显示器(PDP)、电致发光显示器 (EL/OLED)、触摸屏(TouchPanel)、太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料。ITO薄膜是一种很薄的金属薄膜,在透明导电薄膜方面得到普遍的应用,具有广阔的前景。但薄膜的厚度是否均匀直接关系到企业的生产成本控制,所以对ITO薄膜厚度的高精度测量,是企业必须重视的检测项目之一。Labthink兰光研发生产的CHY-C2A测厚仪,采用机械接触式测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。设备分辨率高达0.1微米,配置的自动进样系统,使用户可自行设置进样步距、测量点数和进样速度,大大提高了薄膜厚度测试效率。 技术特征: 负荷量程:0~2 mm(常规)     0~6 mm;12 mm (可选)分辨率:0.1 μm测量速度:10 次/min (可调)测量压力:17.5±1 KPa(薄膜);50±1 KPa(纸张)接触面积:50 mm2(薄膜);200 mm2(纸张)     注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制电源:220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz外形尺寸:461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)净重:32kg 以上【ITO薄膜测厚仪 电池薄膜厚度测定仪 接触式薄膜厚度测试仪】信息由济南兰光机电技术有限公司发布,如欲了解更详细信息,欢迎致电0531-85068566垂询!
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农用薄膜厚度测试仪相关的资讯

  • 扫描电镜测试法:我国首个光学功能薄膜微观结构厚度测试标准正式实施
    近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。(文末附下载链接)该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》详细内容标准下载链接:https://www.instrument.com.cn/download/shtml/1198352.shtml
  • 操作薄膜厚度测量仪时,有哪些步骤是容易被忽视的
    在精密制造与材料科学的广阔领域中,薄膜厚度测量仪作为一种关键的检测工具,其准确性与操作规范性直接影响到产品质量与科研结果的可靠性。然而,在实际操作过程中,一些看似微不足道的步骤往往容易被忽视,这些被忽视的细节正是影响测量精度与效率的关键因素。本文将从几个关键方面出发,探讨操作薄膜厚度测量仪时容易被忽视的步骤。一、前期准备:环境检查与设备校准的疏忽1.1 环境条件未充分评估在进行薄膜厚度测量之前,对测量环境的温湿度、振动源及电磁干扰等因素的评估往往被轻视。这些环境因素的变化可能直接导致测量结果的偏差。因此,应确保测量环境符合仪器说明书的要求,如温度控制在一定范围内,避免强磁场干扰等。1.2 设备校准的忽视校准是确保测量准确性的基础。但很多时候,操作者可能因为时间紧迫或认为仪器“看起来很准”而跳过校准步骤。实际上,即使是最精密的仪器,在使用一段时间后也会因磨损、老化等原因产生偏差。因此,定期按照厂家提供的校准程序进行校准,是保障测量精度的必要环节。 二、操作过程中的细节遗漏2.1 样品处理不当薄膜样品的表面状态(如清洁度、平整度)对测量结果有直接影响。若样品表面存在油污、灰尘或凹凸不平,会导致测量探头与样品接触不良,从而影响测量精度。因此,在测量前应对样品进行彻底清洁和平整处理。2.2 测量位置的随机性为确保测量结果的代表性,应在薄膜的不同位置进行多次测量并取平均值。然而,实际操作中,操作者可能仅选择一两个看似“典型”的位置进行测量,这样的做法无疑增加了结果的偶然误差。正确的做法是在薄膜上均匀分布多个测量点,并进行统计分析。2.3 参数设置不合理薄膜厚度测量仪通常具有多种测量模式和参数设置选项,如测量速度、测量范围、灵敏度等。这些参数的设置应根据薄膜的材质、厚度及测量要求进行调整。若参数设置不当,不仅会影响测量精度,还可能损坏仪器或样品。因此,在测量前,应仔细阅读仪器说明书,合理设置各项参数。三、后期处理与数据分析的疏忽3.1 数据记录的不完整在测量过程中,详细记录每一次测量的数据、环境条件及仪器状态是至关重要的。但实际操作中,操作者可能因疏忽而遗漏某些关键信息,导致后续数据分析时无法追溯或验证。因此,应建立规范的数据记录制度,确保信息的完整性和可追溯性。3.2 数据分析的片面性数据分析不仅仅是计算平均值或标准差那么简单。它还需要结合测量目的、样品特性及实验条件等多方面因素进行综合考量。然而,在实际操作中,操作者可能仅关注测量结果是否达标,而忽视了数据背后的深层含义和潜在规律。因此,在数据分析阶段,应采用多种方法(如统计分析、图形表示等)对数据进行全面剖析,以揭示其内在规律和趋势。结语操作薄膜厚度测量仪时,每一个步骤都至关重要,任何细节的忽视都可能对测量结果产生不可忽视的影响。因此,操作者应时刻保持严谨的态度和细致的观察力,严格按照操作规程进行操作,确保测量结果的准确性和可靠性。同时,随着科技的进步和测量技术的不断发展,我们也应不断学习新知识、掌握新技能,以更好地应对日益复杂的测量任务和挑战。
  • 高光谱成像技术在薄膜厚度检测中的应用
    研究背景在薄膜和涂层行业中,厚度是非常重要的质量参数,厚度和均匀性指标严重影响着薄膜的性能。目前,薄膜厚度检测常用的是X射线技术和光谱学技术,在线应用时,通常是将单点式光谱仪安装在横向扫描平台上,得到的是一个“之”字形的检测轨迹(如下图左),因此只能检测薄膜部分区域的厚度。SPECIM FX系列行扫描(推扫式成像)高光谱相机可以克服上述缺点。在每条线扫描数据中,光谱数据能覆盖薄膜的整个宽度(如上图右),并且有很高的空间分辨率。 实验过程 为了验证高光谱成像技术在膜厚度测量上的应用,芬兰Specim 公司使用高光谱相机SPECIM FX17(935nm-1700nm))测量了4 种薄膜样品的厚度,薄膜样品的标称厚度为17 μm,20 μm,20 μm和23 μm. 使用镜面几何的方法,并仔细检查干涉图形,根据相长干涉之间的光谱位置及距离,可以推导出薄膜的厚度值。通过镜面反射的方式测量得到的光谱干涉图,可以转化为厚度图使用 Matlab 将光谱干涉图转换为厚度热图,通过SPECIM FX17相机采集的光谱数据,计算的平均厚度为18.4 μm、20.05 μm、21.7 μm 和 23.9 μm,标准偏差分别为0.12 μm、0.076 μm、0.34 μm和0.183 μm。当测量薄膜时,没有拉伸薄膜,因此测量值略高于标称值。此外,在过程中同时检测到了薄膜上的缺陷,如下图所示,两个缺陷可能是外部压力造成的压痕。结论SPECIM FX17高光谱相机每秒可采集多达数千条线图像,同时可以对薄膜进行100%全覆盖在线检测,显著提高了台式检测系统的检测速度,提高质量的一致性并减少浪费。与单点式光谱仪相比,高光谱成像将显著提高薄膜效率和涂层质量控制系统,同时也无X射线辐射风险。 理论上,SPECIM FX10可以测量1.5 μm到30 μm的厚度,而SPECIM FX17则适用于4 μm 到90 μm的厚度。如需了解更多详情,请参考:工业高光谱相机-SPECIM FX:https://www.instrument.com.cn/netshow/C265811.htm

农用薄膜厚度测试仪相关的方案

农用薄膜厚度测试仪相关的资料

农用薄膜厚度测试仪相关的试剂

农用薄膜厚度测试仪相关的论坛

  • 【原创】测量薄膜厚度和光学常数的方法

    摘要: 借助于不同的色散公式, 运用改进的单纯形法拟合分光光度计测得的透过率光谱曲线, 来获得薄膜的光学常数和厚度。用科契公式分别对电子束蒸发的T i O 2和反应磁控溅射的S i3 N 4,以及用德鲁特公式对电子束蒸发制备的I T O薄膜进行了测试, 结果表明测得的光学常数和厚度, 与已知的光学常数以及台阶仪测得的结果具有很好的一致性。这种方法不仅简便, 而且不需要输人任何初始值, 具有全局优化的能力, 对厚度较薄的薄膜也可行。采用不同的色散公式可以获得各种不同薄膜的光学常数和厚度, 这在光学薄膜、 微电子和微光机电系统中具有实际的应用价值。

  • 霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例

    样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3样品薄膜厚度: 60 - 100 nm样品尺寸: 10 * 10 mm实验内容: 载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻 实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS [url=http://www.hakuto-vacuum.cn/product-list.php?sid=131][color=#0000ff]霍尔效应测试仪[/color][/url]测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla[color=#ff0000]* 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准.[/color][b][color=#000000]样品 ITO1 测试结果:[/color][color=#000000]I-V 测量结果[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-nano.jpg[/img][/color][/b][color=#000000][b]VdP 测量结果[/b][/color][color=#000000] 测量头类型: RT Head 磁场: 9677G 厚度: 80nm[img=霍尔效应测试仪 ITO 薄膜]http://www.hakuto-vacuum.cn/hakuto_upfile/images/ITO-vdp.jpg[/img][/color][b]部分测试结论:[/b]1. 得到的电阻值彼此相容.2. 所有的IV 曲线都是线性的3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的.4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的. ...[color=#ff0000]* 鉴于信息保密, 更详细的霍尔效应测试案例欢迎联络上海伯东[/color]

  • 【求助】测量薄膜厚度

    我现在需要测量ITO薄膜的厚度,透明的薄膜,大概200纳米左右。用椭偏仪行不行?是不是还需要薄膜的折射率?希望各位大侠指导一下[em61] [em09]

农用薄膜厚度测试仪相关的耗材

  • 薄膜厚度测量系统配件
    薄膜厚度测量系统配件是一种模块化设计的薄膜厚度测量仪,可灵活扩展成精密的薄膜测量仪器,可在此基础上衍生出多种基于白光反射光谱技术的薄膜厚度测试仪,比如标准吸收/透过率,反射率的测量,薄膜的测量,薄膜温度和厚度的测量。薄膜厚度测量系统配件:核心模块----光谱仪;外壳模块----各种精密精美的仪器外壳;工作面积模块----测量工作区域;光纤模块----根据不同测量任务配备各种光纤附件;测量室-/环境罩---给测量带去超净工作区域。薄膜厚度测量仪核心模块---光谱仪孚光精仪提供多种光谱仪类型,不同光谱范围和光源,满足各种测量应用
  • 高精度膜厚仪|薄膜测厚仪A3-SR光学薄膜厚度测量(卤素灯)
    目标应用: 半导体薄膜(光刻胶) 玻璃减反膜测量 蓝宝石薄膜(光刻胶) ITO薄膜 太阳能薄膜玻璃 各种衬底上的各种膜厚 卷对卷柔性涂布 颜色测量 车灯镀膜厚度 其他需要测量膜厚的场合 阳极氧化厚度产品型号A3-SR-100 产品尺寸 W270*D217*(H90+H140)测试支架(配手动150X150毫米测量平台和硅片托盘)测试方式可见光,反射 波长范围380-1050纳米光源钨卤素灯(寿命10000小时) 光路和传感器光纤式(FILBER )+进口光谱仪 入射角0 度 (垂直入射) (0 DEGREE) 参考光样品硅片光斑大小LIGHT SPOTAbout 1 mm(标配,可以根据用户要求配置)样品大小SAMPLE SIZE150mm,配150X150毫米行程的工作台和6英寸硅片托盘 膜厚测量性能指标(THICKNESS SPECIFICATION):产品型号A3-SR-100厚度测量 1Thickness15 nm - 100 um 折射率 1(厚度要求)N 100nm and up准确性 2 Accuracy 2 nm 或0. 5%精度 3precision0.1 nm1表内为典型数值, 实际上材料和待测结构也会影响性能2 使用硅片上的二氧化硅测量,实际上材料和待测结构也会影响性能3 使用硅片上的二氧化硅(500纳米)测量30次得出的1阶标准均方差,每次测量小于1秒.
  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
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