红外拔剑水平测量仪

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红外拔剑水平测量仪相关的厂商

  • 昆山赛万腾测量仪器有限公司是一家从事三坐标测量机、影像测量仪生产及销售的资深企业,行业经验30年,市场遍布全球。 团队主要成员涉足计量行业二十余年,同中国三坐标测量行业一起成长,经过多年的不懈努力积累了丰富的行业经验,依托科学严谨的管理体系,配备完善的生产手段和检测条件,测量仪器在出厂前都经过了严格的循环检测以确保每一台仪器应用稳定。可广泛应用于航空航天、国防军工、模具制造、电子、塑胶、精密零部件加工、汽车及零配件生产等行业。 公司十分注重科技创新和新产品研发,根据国际市场发展趋势研发的各类新产品,始终领先于同行业的同类产品。公司自创立之日起即与德国专业公司进行设计、品质管理、生产、人才培训等方面的密切合作,为公司长远的发展奠定了坚实的基础。 赛万腾决心在任何情况下都只生产和销售高品质、性能卓越的测量仪器。
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  • 东莞忠仪测量仪器有限公司是一家集自主研发,代理销售,技术培训,信息咨询及维修服务於一体的高科技企业。公司与多家零售商和代理商建立了长期稳定的合作关系。為国内的生產加工企业和厂家提供质量可靠的各类仪器设备和专业维修服务,自成立以来凭著良好的信誉、优良的產品品质、热情周到的售后服务赢得了广泛客户的信赖与支持。经长期努力以来,公司集累了一批具有良好素质和专业技术丰富的维修及销售工程师,能及时為您提供最优惠快捷的专业服务。公司主要经营项目如下:1.日本东京光电子(TOE)激光镭射测径仪。2.日本尼康(Nikon)工业测量仪器:投影仪、工具显微镜、工业自动影像仪、高度计,3.日本三丰(Mitutoyo)系列:三坐标、投影仪、工具显微镜、表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪,三丰镭射测定机系列,。4.日本三丰(Mitutoyo)小量具系列:表盘、数显及游标卡尺、分厘卡、厚薄计、杠桿量表、深度规、高度规、高度仪、伸缩规、形状类测针等。5.日本东京精密(ACCRETECH)表面粗糙度仪、真圆度测定机、轮廓度测量仪、形状类测针等。6.瑞士(Trimos)/(TESR)系列各类精密量具,一维/二维精密测高仪,精密长度测长仪. 三维三坐标测量仪,投影仪等等及其它种类精密量测仪器。7.日本AIKOR数显推拉力计系列、手动荷重仪系列(HF-2S)、自动曲线荷重仪系列(1305VR)、硬度计系列的销售和维修、荷重元换新及维修。8.万濠(Rational)万濠投影机、万濠影像量测仪、金像显微镜。9.专业研发量具数据采集管理软件。10.各类进口/国产仪器升级,年度保养,专业维修服务。 本公司销售仪器广泛应用於电子、航空、五金、塑胶、橡胶、模具、硅橡胶按键、油墨涂料等行业,我们不但為客户提供优质的仪器设备,还将通过做好从销售到售后服务的每一个环节来让客户感受到我们细致入微的服务。 公司宗旨:诚信 协作 务实 迅速.
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  • 东莞市正盛测量仪器有限公司位于模具制造之都广东东莞长安。公司主要专营德国ITP测针 精密测量仪器及配件,机床设备及配件,电子产品及配件,仪器耗材等产品,致力于为客户提供测量仪器方便专业的咨询,力求成为客户可信赖的伙伴。
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红外拔剑水平测量仪相关的仪器

  • ET100 发射率测量仪采用积分球反射方法设计,内置积分球、红外光源、微型控制处理器等,采用电池供电、触摸屏显示,具有使用方便、准确性高等优点。进行测量时,只需将仪器对准物体表面,扣动扳机后,自动进行反射率测量,测量完成后,会在显示屏上显示测量结果,同时将测量的反射率数据自动存储在SD卡内,可供用户后续处理和分析数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。ET 100发射率测量仪可以测量20度和60度2个入射角,6个光谱波段的反射率和波段总发射率。ET 100发射率测量仪可以实现在实验室以及野外现场精确地测量和研究材料表面的光学特征——反射率、发射率等参数。应用领域 航空工业 涂层领域 太阳能领域优化太阳能利用性能 节能建筑 光学材料质量控制主要特点 测量2个入射角、1.5~21μm之间6个非连续波段的反射系数 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便 测量标准和60°入射角的定向热发射比 计算半球热发射比技术参数 ET100 便携式红外发射率测量仪 符合标准 ASTM E408 测量参数 定向半球反射比(DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 总发射比 波段 6个波段:1.5~2、2~3.5、3~4、4~5、5~10.5、10.5~21μm 入射角 20°&60°法线入射 样品表面 任何表面,6”半径凸面,12”半径凹面 测量时间 10秒/次;90秒预热 IR源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计,测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境:-25~70℃;操作环境:0~40℃,非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg,含电池
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  • ET10 高精度便携式发射率测量仪,可测量任何不透明材料的发射率;获得测量红外测温成像技术的重要参数—--红外发射率。当物体的物理化学性质没有发生变化时,不同温度下的反射率与波长是不变的,所以物质在500 °K高温下的发射率数据可以由室温下测得的反射率数据计算出来,ET10主要用于测量不透明样品的发射率。进行测量时,将仪器对准测量样品表面,按下扳机即可记录数据,测量一次的时间只需要7秒钟。随机配备镜面金质标样,并可提供NIST可溯源标定。ET10主要特点 利用两个探测器同时测量3~5、8~12 微米2个波段的发射系数 对于不透明物体:Emissivity = 1- reflectance 软件简单易用,具有强大的测量和数据处理功能 液晶触摸屏PDA图文操作界面 可同时提供十种设备运行信息 NIST标准 快速、便携 电池操作非常方便应 用 为红外相机提供发射率参数 提高温度测量精度技术参数ET10 便携式红外发射率测量仪 测量参数 定向半球反射比 (DHR) 测量方法 波段范围内积分总反射比 输出参数 发射率 波段 2个波段:3~5、8~12μm 入射角 20°法线入射 样品表面: 任何表面,6” 半径凸面,12” 半径凹面 测量时间 10秒/次;90秒预热 IR 源 铬铝钴合金 测量探头 模块化设计,测量头可更换 操作界面 触摸式液晶屏软件界面 工作环境 储存环境: -25~70℃; 操作环境:0~40℃,非冷凝 供电 两块可充电镍氢电池 重量 2.1Kg,含电池
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  • 中红外FROG超短脉冲测量仪所属类别: ? 光学/激光测量设备 ? 超短激光脉冲测量系统 所属品牌: 产品简介 中红外FROG超短脉冲测量仪 中红外FROG超短脉冲测量仪,能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围,最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率,动态范围达到75dB。 红外超短脉冲测量仪,超快脉冲测量仪,超短脉冲测量仪,FROGScan,频率分辨光学快门,FROG,飞秒激光脉冲测量,Grenouille 中红外FROG超短脉冲测量仪,能够覆盖传统超短脉冲测量仪无法测量的2000nm-3400nm中红外波长范围,最短测量脉宽12fs,并拥有高分辨率,动态范围达到75dB。 中红外FROG超短脉冲测量仪可以通过自由更换SHG晶体及光谱仪拓展探测范围,大幅降低多波段超短脉冲测量的采购成本 应用: 1. 改善激光系统2. 测量脉冲啁啾计算色散补偿量3. 实时测量数皮秒啁啾短脉冲4. 实时测量脉宽低至12fs的脉冲5. 测量其它FROG系统无法测量的复杂脉冲 工作原理: 将待测脉冲经分束器分为两束,一束作为探测光,另一束作为光开关,并且让作为开关的光射入到高速、高精度光延迟线,引入一个时间延迟τ,然后再让两束光聚焦在一块SHG二倍频晶体,产生相互作用。脉冲重叠区域的SHG信号光谱通过海洋光学USB4000或USB2000+光谱仪进行展开,用CCD进行测量,得到相互作用的光强随频率和时间延迟变化的空间图形,称为FROG迹线。利用脉冲迭代算法从FROG迹线中恢复脉冲的振幅和相位分布。 产品特点: 1. 实时测量系统,使用高度精确,高速的机械光学延迟,比其它光延迟线快至少10倍。2.因为集成一个16位数据接收器,具有比同类产品更高的动态范围,可以测量高度规整的脉冲和高阶相位畸变。3. F脉冲测量系统可以通过灵活更换SHG晶体和光谱仪测量波长范围450nm-3400nm和12fs到数十皮秒脉宽范围的脉冲。4.可同时测量脉冲长度与带宽。4.和配套的软件VideoFROGScan,使用的专利PCGP算法还原脉冲,这一算法是SHG FROG还原的最稳健算法,并且VideoFROGScan包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性。 VideoFROG Scan Software 多功能数据采集,处理和显示软件。 超快激光脉冲测量系统中,软件和硬件装置同样重要。VideoFROG Scan是最佳的实时FROG脉冲测量软件,包含所有实时脉冲测量和分析所需的特性,允许FROG Scan直接接入到用户的实验中。VideoFROGscan虽然操作简单,但包含极其强大的功能,能够很容易测量复杂脉冲。 软件特色: 1.VideoFROG Scan软件不仅控制硬件,还为用户独特的应用提供信息摘要,使用户能够很容易的控制和评估测量过程。VideoFROG scan的概括面板提供了这些特性的显示,并且便捷的选项界面能够获得更多信息。通过鼠标点击显示主菜单上的提示框和帮助说明,将提供每一个您想知道的条目。2.使用弹出窗口,可以很容易聚焦到最相关问题的信息。利用这一功能您也可以定制显示布局。您可以将它们移动到前面,重新排列,调整大小和最小化。平面图向您提供完整的控制结果显示的方式。3.软件可以显示瞬时脉冲波形的同时显示脉冲频谱,您还可以还可以聚焦在监视的瞬时光谱中感兴趣的区域,或仅简单的监控脉冲统计。4.选项式用户界面使软件操纵简单明了。您可以更容易注意到当前您所需的信息,不同的部分为您提供您的激光器工作的独特视图,无论是脉宽,脉冲波形,谱形,谱宽,视场,或FROG迹线。指针放在显示脉冲上可以得到监视运行中的数据分析。缩放控制可以让您选择需要看到布局中任意区域。 相关产品 FROG 超短脉冲测量分析仪 光延迟线 自相关仪 自相关仪
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红外拔剑水平测量仪相关的资讯

  • 滨松近红外绝对量子产率测量仪亮相2018先进材料研究国际研讨会
    2018先进材料研究国际研讨会于2018年8月2日至8月5日在中国上海市举行,此次会议由中国材料研究学会、北京理工大学、东华大学和应用物理化学国家重点实验室(陕西应用物理化学研究所)联合主办。研讨会旨在推动中外材料科学与技术科学的发展,扩大中外学者在科学研究层面的合作水平,同时为国内材料研究工作者和博士生提供有关综述和展望近年来新材料最新进展和科研成果的平台。会议现场滨松中国展台滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS C13534亮相了本次会议。绝对法是一种快速而准确测定量子效率的方法,该方法具有低能源消费与高环境保护的特点,所以被广泛应用于先进材料研究。滨松近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS是采用绝对法测量光致发光材料量子产率(PLQY)的集成化全新产品,通过集成光源、分光系统、积分球以及探测器于一体,大大提高了空间利用率,产品的软件操作自动化,让用户可以简单、便捷地使用产品。其可以测量薄膜、粉末以及液体样品,包含样品的激发光谱、发射光谱、量子产率、色度参数、EEM谱。在前代产品的基础上,Quantaurus-QY PLUS C13534增加了可扩展近红外探测器通道以及可扩展外接光源的接口。可扩展的近红外通道可以将量子产率的测量范围扩展至300-1650nm,覆盖市面上发光材料量子效率测量需求波段。与普通双通道探测器不同,滨松的双通道探测器测量结果通过算法拟合,结合JCSS级别的校准技术,可以让双通道结果无缝接合,得到稳定结果。产品的外接光源扩展接口可外接激光器以及高能氙灯等光源,可以轻松测量低量子产率以及上转换发光的材料,满足客户对于低发光效率以及上转换材料的测量需求。滨松近红外绝对量子产率测量仪 Quantaurus-QY PLUS C13534产品涉及领域广泛,包括荧光粉、量子点、有机电致发光材料、金属有机框架材料、PV敏化染料电池片、荧光探针、钙钛矿材料、上转换材料、AIE材料等。凭借优秀的性能以及滨松高效优质的技术支持和产品服务,近红外绝对量子产率测量仪Quantaurus-QY PLUS在研讨会期间受到了与会专家学者的高度关注。
  • 【新品主推】粮食水分测量仪的应用与发展趋势
    点击此处可了解更多产品详情:粮食水分测量仪  随着科技的不断发展,粮食水分测量仪在农业生产中得到了广泛的应用。该仪器利用物理和化学方法,快速准确地测量粮食的水分含量,为农业生产提供了重要的参考依据。    一、粮食水分测量仪的原理    粮食水分测量仪的原理主要基于电学和近红外原理。电学方法主要利用粮食的导电性与其含水量的关系,通过测量粮食的电导率或介电常数来推算其水分含量。近红外原理则是利用近红外光谱技术,通过分析粮食对特定波长光线的吸收和反射特性,来推断其水分含量。    二、电学方法原理    电学方法中,常用的有电阻式和电容式两种。电阻式水分测量仪利用粮食的导电性,通过测量电阻值与水分含量的关系来推算水分。电容式水分测量仪则是利用粮食的介电常数与其含水量的关系,通过测量电容值来推算水分。    三、近红外原理    近红外光谱技术是利用粮食中水分子对近红外光线的吸收特性来推断水分。该技术具有非破坏性、快速准确等优点,但也存在着对样品颜色、颗粒大小等因素敏感的问题。为提高测量的准确性和稳定性,常采用光谱预处理、多元回归等方法进行校正和优化。    四、粮食水分测量仪的应用与发展趋势    粮食水分测量仪在农业生产、粮食储存和加工等领域有着广泛的应用。通过准确测量粮食的水分含量,可以指导农业生产和储粮工作,避免因水分过高导致霉变或水分过低影响口感等问题。未来随着科技的不断进步和应用需求的提高,粮食水分测量仪将向着更加智能化、高精度、快速响应等方向发展。同时,随着物联网技术的普及,粮食水分测量仪将与智能农业系统相结合,实现远程监控和智能化管理,进一步提高农业生产效率和管理水平。    五、结论    粮食水分测量仪作为一种快速、准确的测量方法,对于农业生产具有重要意义。了解其工作原理和应用特点,有助于更好地选择和使用适合的水分测量仪,为农业生产提供科学依据。未来随着技术的不断创新和发展,相信粮食水分测量仪在农业生产和科研领域将发挥更大的作用,为实现农业现代化作出积极贡献。【新品主推】粮食水分测量仪的应用与发展趋势
  • 新型冰雪粒径测量仪和硬度测量仪助力“科技冬奥”
    高山滑雪最高时速达248km/h,滑雪赛道也需要“塑胶跑道”“更快,更高,更强”是奥林匹克的口号,充分反映了奥林匹克运动所倡导的不断进取、永不满足的奋斗精神。奥运会纪录的频频打破,不但有运动员的刻苦训练,教练员的辛勤指导,科技尤其是对于运动场地的科技提升也扮演了重要的角色。就拿大家熟悉的田径运动场而言,最初的跑道是煤渣跑道(相信很多70后、80后的老伙伴们都跑过吧),后来改成了人工合成的塑胶跑道,与煤渣跑道相比,其弹性好,吸震能力好,为运动员的发挥和成绩的提高提供了物质基础。在1968年的墨西哥奥运会上,在首次使用的塑胶跑道赛场上创造了诸多的奥林匹克纪录。2022年中国北京即将举行冬季奥林匹克运动会,中国提出了“科技冬奥”的概念,中国冰雪运动必须走科技创新之路。高山滑雪比赛是冬季奥运会的重要组成部分,被誉为“冬奥会皇冠上的明珠“。高山滑雪的观赏性强,危险性大,比赛时运动员最高时速可达到248km/h。高山滑雪比赛均采用冰状雪赛道。什么是冰状雪?所谓冰状雪,是指滑雪场的雪质形态,其表面有一层薄的硬冰壳,用于减小赛道表面对于滑雪板的摩擦力。可以说冰状雪赛道就是高山滑雪项目的塑胶跑道,其制作的质量对提高运动员的成绩及滑雪的舒适感,保护运动员的身体,延长运动寿命有着十分重要的作用。看似简单的冰状雪赛道,制作起来却大有讲究。冰状雪的制作过程十分复杂,目前采用的是向雪地内部注水的方案。但是注水的强度和注水的时间把握需要根据不同的赛道地点以及当时注水时的气温进行相应的调节,以保证冰状雪赛道既有一定的强度,又有足够的弹性,使得运动员能够在高速的高山滑雪比赛中舒畅的进行滑降、回转等比赛项目。与田径场塑胶跑道不同的是,每次比赛每一个运动员在进行高山滑雪比赛时,由于技术动作的需要,都或多或少的会对冰状雪的赛道产生一定损伤,为了保证比赛的公平性,前后出发的滑雪运动员的赛道雪质状态需要保证一致,因此冰状雪赛道还需要有一定的厚度以及均匀性。研制新型冰状雪测量仪器,保障赛道质量既然冰状雪赛道有如此多的要求,那么过去是如何判断冰状雪赛道的雪质的呢?主要是采用人工判断的方法,即找一些有经验的裁判员用探针安装在电钻上进行触探工作,通过触探工作反馈的手感判断冰状雪赛道的建造质量。这种带有一定“盲盒”性质的判断工作往往会显得很不透明,也不利于这项运动的推广。助力2022北京冬奥会,依托科技部国家重点研发计划“科技冬奥”重点专项2020的“不同气候条件下冰状雪赛道制作关键技术”项目,中国科学院南京天文光学技术研究所南极团队和中国气象科学研究院共同合作研发了用于判断冰状雪赛道质量的冰雪粒径测量仪和冰雪硬度测量仪,其目的在于将冰状雪质量的人工主观判断,变成清晰可见的客观物理数据,通过对这些物理数据的科学分析,结合有经验的运动员的滑雪体验,掌握不同地点,不同天气条件下冰状雪赛道的制作方法。主要有如下两种仪器:冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪。积雪颗粒的形状及大小是影响雪的力学性质的主要因素,不同大小雪粒之间在自然状态下空隙不断变小,雪中含有的空气降低,使得雪粒间的化学键合力增强,从而影响雪的硬度。那么如何测量积雪的颗粒呢,科研人员采用漫散射原理:近红外光经过粗糙的表面会被无规律的向各个方向反射,会造成光强度减弱,光减弱的大小跟表面的粗糙相关,而积雪表面的粗糙程度是由粒径决定的。通过测量光减弱的比例间接的测量出冰雪的颗粒大小。冰雪粒径自动测量仪测量注水雪样雪的硬度测试是反映冰雪强度的重要指标之一,冰雪硬度测量仪的原理是通过电机带动滑轨驱动探头打入冰状雪赛道内部,并读取探头受到的反作用力的大小来判断冰雪的硬度条件。该方法的好处是可以做到基本无损的对赛道进行冰雪硬度的测量,不影响赛道的后续使用,并且可以通过读取力和冰状雪深度的曲线了解冰状雪赛道的均匀性。针对高山滑雪的赛场坡度较陡,人工攀爬十分困难,科研人员在仪器的便携性上做了特殊的设计,设计了一款折叠式的硬度测量仪,方便携带,可以从坡顶沿雪道一直测量到坡底,实现了仪器的“就地展开”和“指哪测哪”的功能。冰雪硬度测量仪现场工作照片2020年11月-2021年3月,抓住冬奥会举办前的最后一个冬季的机遇,在冬奥会举办地北京延庆、河北张家口以及黑龙江哈尔滨亚布力冬季体育训练基地对不同气候条件、不同注水强度的冰状雪赛道,使用研制的冰雪粒径自动测量仪和冰雪硬度自动测量仪进行了粒径及冰雪硬度测试,获得了不同深度冰雪粒径的变化图以及不同深度的冰雪硬度的曲线图。冰状雪赛道压强-深度关系图该项目的首席科学家,中科院西北研究院冰冻圈科学国家重点实验室副主任王飞腾研究员认为“雪粒径及硬度计等新型冰雪仪器的研究,将过去以人工经验为主的冰状雪赛道状态判断变为了客观、清晰的科学指标,为冰状雪赛道制作标准的透明化提供了参考依据”。项目攻关团队的带头人,国际冰冻圈科学协会副主席,中国气象科学研究院丁明虎研究员认为“雪粒径和硬度计的设计充分考虑了不同于自然雪的人工造雪的特殊情况,仪器在项目工作中表现优异,性能稳定,可靠性高。”未来将在南极天文台发挥作用冰雪强度、硬度的测量不仅可以应用于滑雪相关的体育运动中,在未来的极地工程建设上也能发挥作用。遥远的南极虽然不是适合人类居住的地方,但是却有着良好的天文观测条件。根据2020年在 Nature 上发表的一篇文章,证明昆仑站所在的冰穹A地区的光学天文观测条件优于已知的其他任何地面台址。这项研究成果确认了昆仑站有珍贵的天文观测台址资源,为我国进一步开展南极天文研究奠定了科学的基础。但是如何在南极地区安装大型望远镜又有很多实际的困难,其中之一就是普通的大型望远镜的基墩都是直接安装在地球的基岩上,这样基墩比较扎实稳固,能保证望远镜在观测时不会因为地基不稳产生晃动,但是冰穹A地区的冰大约有4000m那么厚,相当于1500层楼房那么高,如果再想将望远镜基墩打入基岩显然难以做到。那么大型望远镜如何能够平稳的伫立在南极浮动的冰盖上呢?这就需要科学家们对冰穹A地区的冰雪进行特殊的加固处理,使其能够满足基墩的设计要求。在加固处理完后,我们的雪粒径和硬度测量仪就可以对加固后的冰雪强度进行测量,通过科学的数据检验其是否能够满足南极大型望远镜的需求。

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  • 【求助】水平测量仪测量精度如何选择?请熟悉的朋友发表看法

    10.某运转设备的安装水平度允许偏差为纵向0.01/1000,横向0.02/1000,可以使用一台精度为( a c d )的水平仪测量。A.0.02/1000 B.0.20/1000 C.0.05/1000 D.0.01/1000 E.0.15/1000为什么可以选择低于允许偏差的精度水平测量仪,这样测出的精度应该是不符合要求的啊!哪位知道,帮我解答下!3Q

  • 目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别?

    随着中国市场的科技技术日新月异,制造业对产品的精度要求越来越高,人为测量已无法满足客户要求,大家都开始借助仪器测量。目前市面上对于尺寸的测量主要是有二次元及三次元等。那么这些测量仪的区别在哪儿呢?目前市面的二次元测量仪、三次元测量仪、测量投影仪与五次元一键式测量仪的区别??? 现在市场的影像尺寸测量仪,有三次元测量仪、二次元测量仪和测量投影仪。而二次元测量仪跟测量投影仪难以区别,都是光学检测仪器,在结构和原 理上二次元测量仪通常是连接PC电脑上同时连同软件一起进行操作,精度在0.002MM以内,测量投影仪内部是自带微型电脑的,因此不需要再连接电脑,但在精度上却没有二次元测量仪那么精准,影像测量仪精度一般只能达0.01MM以内。三次元测量仪是在二次元测量的基础上加一个超声测量或红外测量探头,用于测量被测物体的厚度以及盲孔深度等,这些往往二次元测量仪无法测量,但三次元测量仪也有一定的缺陷:Ø 测高探头采用接触法测量,无法测量部分表面不 能接触的物体;Ø 探头工作时,需频繁移动座标,检测速度慢;Ø 因探头有一定大小,因些无法测量过小内径的盲孔;Ø 探头因采用接触法测量,而接触面有一 定宽度,当检测凹凸不平表面时,测量值会有较大误差,同时一般测量范围都较小。 光纤同轴位移传感器以非接触方式测量高度和厚度,解决了过去三角测距方式中无法克服的误差问题,因此开发出可以同轴共焦非接触式一键测量的3D轮廓测量设备成为亟待解决的热点问题。 针对现有技术的上述不足,提供五次元测量设备及其测量计算方法,具有可以非接触检测、更高分辨率、检测速率更快、一键式测量、更高精度等优点。五次元测量仪通过采用大理石做为检测平台和基座,可获得更高的稳定性;内置软件的自动分析,可一键式测量,只需按一个启动键,既可完成尺寸测量,使用方便;采有非接触式光谱共焦测量具有快速、高精度、可测微小孔、非接触等优点,可测量Z轴高度,解决测高探头接触对部分产品造成损伤的问题;大市场光学系统可一次拍取整个工件图像,可使检测精度更高,速度更快。并且可以概据客户需要,进行自动化扩展,配合机械手自动上下料,完全可做到无人化,并可进行 SPC 过程统计。为客户提供高精度检测的同时,概据 SPC 统计数据,实时对生产数据调整, 提高产品质量,节约成本。

  • 【原创】OUM-智能Ⅱ型近红外纸张定量水分测量仪

    在造纸行业中,定量水分测量仪是纸张生产过程中监测及控制系统的眼睛,红外定量水分测量仪是一种用于造纸生产线上进行在线连续动态检测纸张定量、水分的专用仪表。仪表采用一个传感器同时测量纸张定量水分两个参数,克服了传统的同位素测量仪对周围环境造成放射性污染,危害人体健康的缺点。仪表传感器采用多光束测量技术,测量面积大,克服了色差变化,环境因素变化对测量精度的影响,从而保证了测量结果的准确性。仪器采用红外线测量原理,不受静电影响。信号全数字化处理,仪器采用进口器件,优化设计,从而进一步保证了工作的稳定性和可靠性。另外,仪表具有四十五种标定曲线存储功能,使得使用更加方便。方便的标准物理量标定,提高了仪表测量的准确性。同时,仪表还具有自检功能和超限报警功能,使用和维护更加方便。仪表配有0~10mA, 4~20mA标准输出接口,还配有国际标准的RS485标准串行输出接口。便于与控制系统及其它记录设备连接。一、仪表结构仪表分为传感器和信号处理两大部分。传感器分为发射探头和接收探头。探头安装于造纸生产线上,主要完成测量光信号的生成、光电信号的转换及信号放大。信号处理单元安装于控制室或其它便于观察的地方,主要完成将探头接收到的数据信号处理,以数字方式显示出被测纸张的定量、水分值。同时,输出信号给控制系统。 发射探头234mm×153mm×266mm传感器结构尺寸: 接收探头232mm×153mm×144mm信号处理单元结构尺寸: 356mm×160mm×400mm二、定量水分测量仪性能指标:★、测量范围:纸页定量10~500g/㎡★、定量测量精度Q: 10g/㎡≤纸页定量100g/㎡ Q ≤±0.5g 100 g/㎡≤纸页定量500g/㎡ Q ≤±1%★、水分测量精度Q′:纸页定量200 g/㎡ Q′≤±0.2% 200 g/㎡≤纸页定量500g/㎡ Q′≤±0.5%★、测量响应时间:t≤50ms★、输出接口配置: 0 ~10mA、 4~ 20mA标准输出信号标准RS485串行通信接口三、仪器适用范围:★、环境要求:环境温度 ≤ 55℃ 环境湿度 ≤ 80%★、工作电压:~220V±10% 50Hz (最好使用稳压电源)★、消耗功率:30W四、仪器配置 发射探头主机:传感器 接收探头信号处理单元 附件:通信电缆(长度根据厂家使用要求而定)电源电缆导纸辊(为防止打断纸页而特殊设计)精密净化交流稳压电源(选配)部分标准件(紧固件)轴流风机(两台)输出配置:标准接口0~10mA 或 4~20mA 标准RS485串行接口五、安装要求将传感器的发射探头与接收探头分别安装在纸张的两侧,发射头和接收头之间的距离为10~15mm,发射探头和接收探头的相对位置不能改变,否则,应对仪表重新标定。六、仪器特点1、仪器电气性能特点:仪器内部所使用的电子元件,都是经过严格老化处理及筛选,其它光学零件终身无需调校。这样使得仪器能长期稳定的工作,使用户使用成本极低。仪器探头为铸铝外壳,其密封性能良好,可安装于恶劣的生产现场。2、仪器可组成检测系统该仪器是一种智能仪器,可提供准确的测量信号,其探头也可作为最基本的测量单元构成一个检测系统。检测系统将探头输出的测量信号通过计算机显示出被测纸页水分的变化情况,系统可将各测量点的数据贮存、打印。3、本仪器安装方便,成本低,并克服了传统的同位素测量仪对周围环境造成放射性污染,危害人体健康的缺点。所以,被广泛应用于造纸行业。七、计算机远程实时动态监控系统该系统将红外线定量水分测量仪输出的定量、水分信号及生产过程中的其它参数传输给计算机。计算机采集这些参数,经过专用程序处理,并将这些参数变化曲线按时间顺序在计算机上显示出来,并能将显示值与曲线存贮起来,以备调用。这样,管理人员办公室可通过计算机随时了解生产过程中的纸张定量、水分变化情况及整个纸机的生产状况,更加方便地指导生产,使产品的产量、质量得以提高。

红外拔剑水平测量仪相关的耗材

  • 硅片厚度测量仪配件
    硅片TTV厚度测试仪配件是采用红外干涉技术的测量仪,能够精确给出衬底厚度和厚度变化 (TTV),也能实时给出超薄晶圆的厚度(掩膜过程中的晶圆),非常适合晶圆的研磨、蚀刻、沉淀等应用。 硅片厚度测量仪配件采用的这种红外干涉技术具有独特优势,诸 多材料例如,Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃,石英以及其他聚合物在红外光束下都是透明的,非常容易测量,标准的测量空间分辨率可达50微米,更小的测量点也可以做到。硅片厚度测量仪配件采用非接触式测量方法,对晶圆的厚度和表面形貌进行测量,可广泛用于:MEMS, 晶圆,电子器件,膜厚,激光打标雕刻等工序或器件的测量,专业为掩膜,划线的晶圆,粘到蓝宝石或玻璃衬底上的晶圆等各种晶圆的厚度测量而设计,同时,硅片厚度测试仪还适合50-300mm 直径的晶圆的表面形貌测量。硅片厚度测试仪配件具有探针系统配件,使用该探针系统后,硅片TTV厚度测试仪可以高精度地测量图案化晶圆,带保护膜的晶圆, 键合晶圆和带凸点晶圆(植球晶圆),wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。 硅片TTV厚度测试仪配件直接而精确地测量晶圆衬底厚度和厚度变化TTV,同时该硅片厚度测量仪能够测量晶圆薄膜厚度,硅膜厚度(membrane thickness) 和凸点厚度(wafer pump height).,沟槽深度 (trench depth)。
  • 在线水分测量仪配件
    在线水分测量仪配件是德国高灵敏度水分测定仪,它采用德国高灵敏度光学水分传感器,非常适合测量粉末,颗粒,浆料,糊状物,膏剂等多种材料在内的多种样品的水分含量。在线水分测量仪配件特色直接测量样品,测量速度快,测量精度高,测量可靠性强,全面超越目前现存的NIR光谱或微波传感水分含量传感器产品,具有德国专利的光学水分传感器清洗技术,完全清洁光学传感器探头,解决了直接测量的光学传感器污染难题。在线水分测量仪配件特点直接深入样品非接触式光学测量LED显示技术确保长寿命高精度光学探头在线测量德国全固态设计结构,超级耐用无需耗材,使用成本低无需样品准备,直接测量,节省时间无需售后服务在线水分测量仪配件参数测量原理:近红外反射测量范围:0-90%水分含量测量精度:+/-0.1%测量时间:2秒测量距离:10-300mm 或者侵入式测量测量点尺寸:高达10cm光源:红外LED光源收集器:光电二极管工作温度要求:5-45摄氏度工作电力要求:24VDC, 0.2A,信号输出:0...10V或4...20mA外壳材料:IP65外形尺寸:300x200x160mm重量:2.8kg
  • 测量仪性能指标
    产品特点:测量仪性能指标主要行业/应用测量详细信息* 制药行业 * 食品安全 * 生物农业 * 环境 * 水质* 酸碱水平 * 相关离子的电极电位值(mV) * G4383A 是只包括 3200P 测量仪的套装 * G4391A 的基本套装包括电极、电极支 架和缓冲剂 * G4392A 的组件包括三复合电极、电极 支架和缓冲剂* 环境 * 石油化工 * 食品安全 * 生物学 * 电导率 * 电阻率 * 总溶解固体(TDS) * 盐度 * 当前溶液温度值* G4384A 是只包括 3200C 测量仪的套装 * G4393A 的套装包括 3200C 测量仪、电 极和电极支架 * 环境 * 污水处理 * 自来水水源监测 * 食品安全 * 水产养殖 * 饮料生产 * 生物农业 * 科学研究* 溶解氧浓度 * 水溶液氧的饱和度 * G4385A 是只包括 3200D 测量仪的套装 * G4395A 的套装包括 3200D 测量仪、电 极和电极支架 * 食品安全 * 生物农业 * 石油化工 * 环境保护 * 科学研究 * 疾病控制*电极电位值(mV) * pX 值和离子浓度 * G4396A 是只包括 3200I测量仪的套装 * 为 G4396A 的套装包括 3200I 测量仪、 pH 电极、电极支架和缓冲剂 * 为 G4397A 的 氟 离 子 测 定 套 装 包 括 3200I 测量仪、氟离子电极、电极支架 和缓冲剂* 水质 * 疾病控制 * 环境保护 * 生物农业 * 科学研究* 可同时测量 pH/pX、离子浓度、离子 电极电位(mV)、电导率、总溶解固 体量、盐度、溶解氧量和温度 * G4378A 是只包括 3200M 测量仪的套装 * G4398A 的套装包括 3200M 测量仪、电 极、电极支架和缓冲剂 测量仪性能指标安捷伦提供了不同测量仪以满足您最具挑战性的应用。测量仪性能指标优势3200P3200C3200D3200I3200M 温度:-5.0-110.0 °C 可在很宽的温度范围内使用 测量模式:连续/定时读取/自动锁定采用一台测量仪即可进行多种方式测量点阵式液晶显示屏 快速获得实验结果 易于初学者使用数字操作键简便的操作适合于各种熟练程度的实验操作人员3200P3200I3200M 缓冲液可自动识别 可选用 NIST 和 GB 标准缓冲液 高阻抗:3 x 1012?可从众多类型电极中选择适合测定您样品的电极溶解氧 测定的准确度:±0.10 mg/L 精确测量和优异的温度补偿功能实现了卓越的溶解氧测定准 确度3200I3200M 为 H+、Ag+、Na+ 和 K+ 提供离子测量模式 NH 、 2 4+ Cl-、F-、NO 、 3- BF 、 4- CN-、Cu +、Pb2+ 和 Ca2+易于更换电极(或离子选择电极),实现多种离子灵活地分析 不同单位之间可以自由转换自动优化测量并保证结果准确离子浓度测量模式:直接读取模式、“标准”添加模式、样品 添加模式和 GRAN 作图添加模式操作方便
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