红外衍射分析测试仪

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门，节约桌面空间，适合每一台办公桌，有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率，让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×10^7CPS，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门，可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧

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仪器说明: Innov-x Terra作为一款航天军用X射线衍射仪（XRD），现已被广泛应用于地质矿产、石油化工、医药、材料、水泥、刑侦、环境、考古、海关等领域，主要为晶体物质提供物相分析、晶体结构分析、晶胞参数分析、应力分析等。全球首款真正意义上的便携式XRD。 标配清单：1.便携式X 射线衍射仪Terra主机1台；2.嵌入式Linux操作系统1套；3.XRD数据分析软件Xpowder1套；4.粉末数据库1套；5.航空运输胶箱1个；6.电源适配器1个；7.主机锂电池4个；8.制样系统1套；9.滤筛1套；10.工具包1套；11.螺丝刀1个；12.样品匙1个；13.螺丝8个；14.窗口膜2套；15.标准样品（石英）1瓶；16.开机钥匙2把；17.U盘(内含用户手册,软件等)1个；18.快速操作指南1份； 19.校准证明1张。 技术参数:外形尺寸485X392X192mm重量14.5Kg色彩黑黄色相间环境工作温度-20℃ ～35℃环境湿度0～75%供电系统100～240V,50/60 Hz内存容量40GB激发源低功率X射线陶瓷管,稳定性高,辐射低,使用寿命长靶材Cu或Co靶二选一,也可根据用户选择其他靶材探测器二维能量敏、位敏的CCD面探测器,收集整个劳厄斑的信息,增大了数据收集量 同步进行XRD和XRF分析,XRF信息有助于XRD分析冷却系统采用了Peltier恒温冷却系统,控测器在-45℃下工作,保证仪器的检测精度,和不受外界温度的影响射线管电压,电流电压30kv,电流300uA电池现场使用:可使用电池独立工作4～6小时壳体材料Terra使用工业级的高强度高分子材料做外箱,整机密封性好,防水防尘防震样品振动系统(NASA专利)替代了传统台式机的测角仪系统,可以获得待测样品全方位衍射信息便携性仪器小型化,占地小,重量轻,无需专业的实验室,无需水循环冷却系统,维护方便,成本低自动化无测角仪系统,仪器使用做样品振动系统(NASA专利),样品制备更加简单,无需专业人员操作,自动化程度更高快速检测全谱显示而非步进扫描,普通样品3分钟即可完成分析制样制样简单样品无需制片、压片、刮片,只需得到150um的颗粒即可样品振动技术完全消除检测过程中晶体的择优取向,间接地增大了焦斑面积,使样品室内所有的样品都参加衍射,提高了统计量衍射几何透射衍射技术光路距离XRD光管产生的X射线光束与样品之间的光路距离50px,可以有效地降低X光束的散射能量的耗散从而保持有效的光束强度一键式按钮一键式按钮:无需复杂的参数设置,点击Start即可测试操作界面无需专门的操作软件,连接网络后在IE界面即可操控仪器数据重现性及再现性同一个样品,不同的人检测或者同一个人检测不同次数,数据完全一致超长使用寿命由于功率很小,因而阳极靶材的质量衰减比常规大功率XRD的靶材衰减要弱得多,理论寿命可达无限,实际使用测试达8-10年,远远长于常规大功率XRD的光管使用寿命(3-5年)数据输出文件可采用TXT, plv等格式输出数据传输采用无线wifi、USB传输数据辐射安全警示具有明显的射线开启警示灯、警示标签,以及软件内的警示提醒辐射安全根据NCPR(美国辐射防护委员会)标准,在美国每年的全身辐射受照量的允许值是50mSv/年,手足等表皮组织的年辐射受照量的允许值是50Rem/年辐射量正确使用X射线衍射仪TERRA仪器,辐射能级0.5 mRem/Hr,所吸收的辐射每年小于1.5Rem,远远低于安全值,X射线衍射仪TERRA是非常安全的辐射安全认证辐射全球最低, 美国原厂辐射报告.国家计量研究所报告

GR13-0608刻线衍射光栅其它通用分析 特性闪耀波长范围从750到1600 nm在闪耀波长下光栅效率高达60%到80%低鬼影：小于主反射的0.5%反射铝膜钠钙玻璃基底，300到1200槽/mm使用刻线的基底材料生产Thorlabs提供用于近红外区域的刻线衍射光栅。这些光栅在闪耀波长附近具有相对尖锐的效率峰值，并且由刻线的基底材料生产。我们提供不同闪耀角的光栅，满足需要重点考虑效率的多种光谱学和分析应用。需要更多信息请点击上方光栅教程标签。我们还提供全息光栅，它们不会产生鬼影效应，但是效率更低。欲了解不同光栅类型的差异，请点击上方光栅指南标签。请注意，这些光栅是裸露的铝层，而且没有保护膜层。但是可以定制MgF2或金膜来保护光栅的铝膜表面。金膜在红外波段的性能更好，而MgF2膜提供最佳保护性能；详情请联系我们。安装座和转接件Thorlabs提供多种安装座和转接件，以确保精确稳定地安装和对准方形光学元件。Thorlabs所有的光栅都可以直接安装在KM100C右手系或KM100CL左手系矩形光学元件调整架上。Thorlabs还提供三种可调光栅安装转接件，用于将光栅安装在Thorlabs任意Ø 1英寸光学调整架中，包括POLARIS-K1E超稳定光学调整架。注意光栅很容易被潮湿、指纹、气溶胶或任意摩擦材料的轻微接触而损伤。光栅只能在必要时才拿取，而且只能通过边缘夹持。应佩戴橡胶手套或类似的防护套，以防止手指上的油污接触光栅表面。清洁时只能使用净化的干燥空气或氮气吹扫光栅，其它任何操作都是不允许的。溶剂很可能会损伤光栅表面。Thorlabs有一个洁净室设施，用于将光栅组装到机械装置内。如果您的应用需要将光栅集成到一个子装配系统中，请联系我们了解我们详细的装配能力。Thorlabs 刻线衍射光栅，MIR反射式

刻划衍射光栅，其它通用分析GR25-0303特性闪耀波长300 nm闪耀波长下具有高光栅效率：60% - 80%低重影：小于主反射的0.5%铝反射膜钠钙玻璃基底，300或1200 Grooves/mm由带刻划的基底制成Thorlabs提供用于300 nm左右的紫外刻划衍射光栅。这些光栅在300 nm闪耀波长下具有相对明显的效率峰值，并且由带刻划的基底制成。我们提供具有不同闪耀角的光栅，以满足高效率为主要需求的多种光谱学和分析应用。更多信息请点击上方光栅教程标签。我们还提供全息光栅，它们不会产生重影效应，但是效率变低。欲了解不同光栅类型的差异，请点击上方光栅指南标签。请注意，Thorlabs 刻划衍射光栅，反射式，紫外上的铝膜是裸露的，没有镀保护层。但是可以定制MgF2或金膜来保护光栅的铝膜表面。金膜在红外波段具有高性能，而MgF2膜可提供最佳保护；详情请联系我们。安装座和转接件Thorlabs提供多种安装座和转接件，用于精确且稳定地安装和对准方形光学元件。Thorlabs所有的光栅都可以直接安装到KM100C右手系或KM100CL左手系矩形光学元件调整架上。光栅还可通过可调光栅安装转接件安装，这款转接件可安装最高60 mm的光栅和矩形反射镜，并且兼容Thorlabs的前装式无螺纹Ø 1英寸光学调整架，包括POLARIS-K1超稳定光学调整架。注意光栅很容易因潮湿、指纹、气溶胶或与任何粗糙材料的轻微接触而损坏。只有在必要时才可拿取光栅，且只能通过边缘夹持。应佩戴橡胶手套或类似的防护套，以防止手指上的油污接触光栅表面。清洁时只能使用净化的干燥空气或氮气吹扫光栅，请勿进行任何其他操作。溶剂很可能会损伤光栅表面。Thorlabs使用洁净室设备将光栅组装到机械装置内。如果您的应用需要将光栅集成到子装配或装置中，请联系我们了解我们详细的装配技术。

FRINGE CLASS桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE CLASS是公司自主研发的一款多功能粉末衍射分析仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有操作简便、精度高、检测速度快等特点，为材料研究、生物医药、矿物、塑料制品、半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势θ-2θ联动测角系统专利新型θ-2θ耦合联动测角系统，单轴驱动机构，精约简省，立志非凡。内置水循环冷却系统FRINGE CLASS内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE CLASS桌面式XRD可安装于车载实验室平台。正比计数探测器正比计数探测器，计数吞吐量≥500KCPS，经典之作。应用场景生物医药陶瓷、水泥地质勘探研究与教育金属化合物化学与催化剂规格参数测角仪θ-2θ联动立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得FRINGE CLASS桌面式XRD可安装于车载实验室平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 1000W散热方式FRINGE CLASS内置水循环冷却系统，无需额外增加冷水机，软件可实时显示X射线管中水温、流量、流速等信息探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧

贝克曼库尔特新一代LS 13 320 XR将激光衍射粒度分析提升到了一个更高的水平，升级版PIDS专利技术（专利号：4953978；5104221）、优化的132枚检测器，保证了仪器分辨率更高，结果更准确，再现性更好。您不仅可以测量粒径范围更宽的颗粒，而且可以更快地检测到颗粒粒径间极细微的差异。PIDS技术，真正实现10nm粒径测量；新型的干、湿进样模块，即插即用，满足不同的分析要求，灵活便利；直观的软件和触摸屏设计，大大简化了仪器的操作，仅需点击几次便可获得所需数据。LS 13 320 XR将为您带来测量的新体验！贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR主要特点： - 优于ISO 13 320技术标准。 - 符合FDA的21 CFR Part 11标准。 - 检测器数量更多，高达132枚独立物理位置检测器，对应高达136个真实数据通道，能够清晰区分不同粒度等级间散射光强谱图差异，确保不缺漏丝毫信息，快速、准确的真实粒度测量。 - 专利设计的X型对数排布检测器阵列，可以准确记录散射光强信号，不管单峰、多峰，准确分析粒度分布。 - 全自动运算分析功能，多峰自动检测，无需事先猜测峰型，无需选择分析模型，提供客观的唯 一报告。 - 升级版PIDS技术提供创新的高分辨率纳米粒度分析功能，真正实现10nm下限峰值测量。 - PIDS技术不仅可以直接检测小至10 nm的颗粒，而且还可以直接检测纳米级的多峰分布。 - 纳米分析功能与微米分析功能合二为一，功能强大，真正10nm的测量可使其作为独立的高分辨率纳米粒度分析仪使用。 - 新一代固体激光光源，无需预热，7万小时以上开机使用寿命 。 - 并行式信号采集与传输，确保信号保持高信噪比、无时差、高通量。 - 多波长和偏振光分析技术令粒度分布在宽动态范围内的准确性分析获得高度保障。 - 多种自动化样品分散系统，'即插即用'，数秒即可完成切换，高效便利。 - 新一代触摸屏设计ADAPT分析软件，操作更直观，无需操作经验，简单三步完成测量，直观醒目的导航轮，仅需一步实现数据显示与导出。 - ADAPT软件自动对测量结果标准绿色或红色，自动合格/不合格管理，实现直接质控。 - 软件配有强大的光学参数数据库，具有创新的Zero-Time即时光学模型系统，只需一秒即可建立新的光学模型，提供客观准确的分析报告。 - 仪器配有自检诊断功能，测试过程中随时显示测量情况。 贝克曼库尔特激光衍射粒度分析仪LS 13 320 XR技术参数： - 粒径范围：10纳米-3500微米 （峰值） - 主光路激光光源：光纤连接的固体激光器 - 检测器：132枚独立物理角度检测器 - 真实分析通道：136个 - 多波长测量：475nm、613nm、785nm及900nm - 光学理论模型：全程Mie理论；Fraunhofer理论 - 准确性误差：小于+/- 0.5% - 重现性误差：小于+/- 0.5% *本产品仅用于科研，不用于临床诊断。

X射线衍射分析软件XROCK简介： XROCK衍射分析软件是针对粘土和全岩石油地质工作人员设计，用于对矿物、全岩，粘土，伊利石结晶度和白云石有序度等地质样品的衍射数据进行分析的，满足SYT 5163-2018 沉积岩中黏土矿物和常见非黏土矿物X射线衍射分析方法标准的要求。 在石油及地质行业衍射谱图解释虽然有标准的详细指导仍然比较繁琐，如果是批量样品将是个巨大的工作量。在保证分析质量的前提下如何快速完成任务就需要XROCK分析软件的帮助。xrock基本实现了谱图处理的主要功能。 可以打开几十种谱图文件格式，甚至可以导入未知格式文件，平移缩放，背底，光滑，寻峰，积分，拟合，去除Ka2等功能，有PDF数据库可以物相检索。XRock开发了符合石油地质行业标准SYT 5163-2018的多个功能模块。主要功能： 全岩分析模块 粘土分析模块 伊利石结晶度分析模块 白云石有序度分析模块 快速全谱拟合矿物成分分析模块软件特点： 功能模块严格执行有关标准 软件算法思路清晰 主观见解在软件上自由体现 软件操作自动化辅助 软件操作简单化，用鼠标即可完成 大幅缩减谱图解释时间，消除谱图解释工作量软件安装环境：winXP,win7，win10

仪器简介：Miniflex 600系列是世界上体积最小、 重量最轻的便携式X射线衍射仪。主要特点：台式X射线衍射仪MiniFlex600，外型小巧方便，具有近于高端分析仪器的测试性能，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域，是一种适用于大专院校学生实验及研究的X射线衍射仪,特别适合于野外作业进行材料结构解析；Miniflex600系列也是一种适用于工厂生产现场质量管理检查，劳动保护、环境污染测量的X射线衍射仪；Miniflex600系列是世界上体积最小、重量最轻的便携式X射线衍射仪。* 打破以往X射线分析仪器常规，以小型化和高效能的完美组合刷新了X射线行业的基准；* 外箱采用具有高度安全性的完全密封设计，使仪器移动、安装均能简单自如完成，可充分调整光学系统；* 安装后接入电源即可开始使用，操作简单，初学者也能轻松自如；* 具有超高性价比的MiniFlex 600，为您开创轻松自由的X射线新时代。 技术参数1. 最小最轻的X射线衍射仪。主机宽约560mm，高700mm，深395mm；重量约80kg。2. 功率600W，强度大大提高（上一代产品MiniFlexII最大功率450W）。3. 测角仪精度高、放置样品方便。4. 测角仪配程序式可变狭缝，改善低角度P/B，提高高角度强度。5. 安全设计，放置样品时自动关闭X射线。6. 软件丰富7. 附件可配：计数端单色器，扣除K&beta 、荧光X射线，提高P/B比旋转样品台隔绝空气。水蒸气样品台六样品自动交换器高速一维阵列探测器D/teX Ultra2主要的应用软件有：1. 多重记录2. 定性分析3. 定量分析4. ICDD数据库管理5. 环境粉尘专用定量软件

仪器简介：XRD-DSC是同时得到温度变化过程中的XRD物相变化信息及DSC差值扫描热量信息的产品。 这类产品是理学公司独有的衍射仪和差热分析仪的组合产品。主要特点：可对固体反応過程进行方便分析。包括，各種有機、無機化合物的相变化；融解、結晶化、脱水及其它化学反応的变化。 2. 可对熱分析中测试困难的，如物相转换及化学变化过程中，生成物的有無、最終生成物結晶性的確認，进行测量。 3. 可在X線衍射测量的同时，测量化学変化的温度、吸熱/放热的区別及热量。 4. 选件包括，低温、水蒸汽气氛装置。*价格范围仅供参考，实际价格与配置等若干因素有关。如有需要，请向当地销售咨询。我们讲竭尽全力为您制定完善的解决方案。

仪器简介：AL-Y3000型衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。●硬件系统和软件系统的完美结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要●高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果●高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度●程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：●未知样品中一种和多种物相鉴定●混合样品中已知相定量分析●晶体结构解析●非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）●材料表面膜分析●金属材料织构、应力分析技术参数： X射线衍射仪可以分析天然或是人工合成的无机或是有机材料，广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。●基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装●金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率●封闭正比计数器，耐用免维护●硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上●丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要●模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件光学系统转换 不需要拆卸索拉狭缝体，就可以单独更换索拉狭缝结构。由于这一特点，不需要重新调整仪器，就可以实现聚焦光学系统和平行光学系统的转换。 早前聚焦法光学系统和平行光束法光学系统分别需要配置弯曲晶体单色器和平面晶体单色器，光学系统的转换需要对光学系统重新校正。采用本系统只要将单色器的晶体旋转90°、更换狭缝结构，就可以实现光学系统的转换。数据处理软件包括以下功能 基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Ka1、a2剥离、衍射线条指标化等）；●无标准样品快速定量分析●晶粒尺寸测量●晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）●宏观应力测量和微观应力计算；●多重绘图的二维和三维显示；●衍射峰图群聚分析；●衍射数据半峰宽校正曲线；●衍射数据角度偏差校正曲线；●基于Rietveld常规定量分析；●使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析；●使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析； AL-3000型衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有超强的分析能力 高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性极大地提高，实现即插即用。不需要对光路进行校准，只要在软件中选定相应的附件就可以实现特殊目的测量。多功能样品架 随着材料研究的深入，越来越多的板材、块状材料及基体上的膜也要求用X射线衍射仪进行性能分析。在测角仪上安装多功能样品架可以进行织构、宏观应力、薄膜面内结构等测试，每一种测试功能都有相应的计算软件。●碾轧板（铝、铁、铜板等）织构测量及评价●金属、陶瓷等材料残余应力测量●薄膜样品晶体优先方位的评价●大分子化合物取向测量●金属、非金属基体上的多层膜、氧化膜、氮化膜分析 织构使材料呈现各向异性，利用织构改善和提高材料的性能、充分发挥材料性能的潜力，是材料科学研究的重要工作之一。虽然检测材料织构方法很多，但是最广泛应用的还是X射线衍射技术。

DX-2700BH多功能衍射仪　　组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

该系统结合了θ - θ型x射线衍射仪和DSC，可以在相同的温度和气氛下同时测量DSC和XRD。同时得到有关相变温度和能量的信息及相变前后的晶体状态。

组合式多功能X射线衍射仪和高分辨率X射线衍射仪广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。广泛应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。DX系列衍射仪是为材料研究和工业产品分析设计的，是常规分析与特殊目的测量相结合的完善产品。　　硬件系统和软件系统的紧密结合，满足不同应用领域学者、科研者的需要　　高精度的衍射角度测量系统，获取更准确的测量结果　　高稳定性的X射线发生器控制系统，得到更稳定的重复测量精度　　各种功能附件满足不同测试目的需要　　程序化操作、一体化结构设计，操作简便、仪器外型更美观X射线衍射仪是揭示材料晶体结构和化学信息的一种通用性测试仪器：　　未知样品中一种和多种物相鉴定　　混合样品中已知相定量分析　　晶体结构解析（Rietveld结构分析）　　非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下）　　薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度　　微区样品的分析　　金属材料织构、应力分析完善的品质与卓越性能的结合　　DX系列衍射仪除了基本功能外，可快速配置各种附件，具有很强的分析能力　　高精度的机械加工，使附件安装位置的重现性大大地提高，软件自动识别相应附件，不需要对光路进行校准，附件安装实现即插即用，最简单的操作就可满足特殊目的测量的需要。高性能与实用的紧密结合　　基于θ-θ几何光学设计，便于样品的制备和各种附件的安装　　金属陶瓷X射线管的应用，极大提高衍射仪运行功率　　封闭正比计数器，耐用免维护　　硅漂移探测器具有优越的角度分辨率和能量分辨率，测量速度提高3倍以上　　丰富的衍射仪附件，满足不同分析目的需要　　衍射仪各种功能附件自动识别　　模块化设计或称即插即用组件，操作人员不需要校正光学系统，就能正确使用衍射仪相应附件数据处理软件包括以下功能　　基本数据处理功能（寻峰、平滑、背景扣除、峰形拟合、峰形放大、谱图对比、Kα1、α2剥离、衍射线条指标化等）　　无标准样品快速定量分析　　晶粒尺寸测量　　晶体结构分析（晶胞参数测量和精修）　　　　　　　　　　　　宏观应力测量和微观应力计算　　多重绘图的二维和三维显示　　衍射峰图群聚分析　　衍射数据半峰宽校正曲线　　衍射数据角度偏差校正曲线　　基于Rietveld常规定量分析　　使用ICDD数据库或是用户数据库进行物相定性分析　　使用ICDD数据库或是ICSD数据库进行定量分析

X射线衍射晶体衍射仪集所有常规应用于一身的桌面型设计高精度测角仪设计集成在主机内的计算机及屏幕DIFFRAC.SUITE仪器控制、数据采集及分析软件精准的探测器技术 在小型化设计的同时，D2 PHASER又是如何实现她的高性能？首先，D2 PHASER得益于特别设计的的θ/θ高精度测角仪，该技术得到了zhuan利保护。传统衍射仪的所有组成部分，包括标准化的陶瓷X光管、探测器、多功能计算机的主机、屏幕、鼠标、键盘，以及水冷，现在都可以集中在70x61x60cm这样一个空间内。同时，在如此狭小的空间内，D2 PHSAER仍可选配最大6位的自动进样器。其次，D2 PHASER配备了du一无二的DIFFRAC.SUITE软件，无论是在研究领域，还是在工业领域，都可以非常方便地实现数据的采集与分析。最后，也是整台仪器的点睛之笔，D2 PHASER可以配备林克斯一维阵列探测器TM。这个在布鲁克D8系列衍射仪上，被无数次证明其强大性能的高速探测器，现在被原封不动地移植到了D2 PHASER身上，使得这台小型衍射仪在性能和价格上达到了一个完美的结合。上述所有设计理念成就了D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型X射线衍射仪，其性能甚至在一定程度上超越了大型衍射仪，同时她还具有大型衍射仪所不具备的特点：可以很方便的搬运、不需要庞大的基础设施，wei一需要的是一个电源插孔！定性定量分析（包括无标样定量分析）结晶度测定物相特性分析（包括：晶胞参数、晶粒大小、微观应力等）结构精修及粉末衍射解结构工业标准尺寸(. 51.5 mm)、适合不同应用的样品架D2 PHASER – 衍射小巨人！梦想成真－多晶样品的定性、定量分析、晶粒大小测定、甚至结构精修和解结构工作都可以通过D2 PHASER这样一台性能优异的桌面型衍射仪来实现了。布鲁克D2 PHASER开启了现代衍射仪的另一扇大门，她可以快速、简便、高质量地完成多晶样品B-B衍射几何下的所有工作。D2 PHASER不仅仅拥有超强的分析能力，同时也非常的灵活，适合测试各种各样的样品。因为不同的材料特性需要采用不同的制样方法，所以D2 PHASER除了配备常规的标准粉末样品架外，还可以提供各种特殊应用样品架：包括适用于微量样品的零背景样品架，粘土样品专用样品架，过滤样品架，以及适合环境敏感样品的密封样品架等等。林克斯SSD-160高速探测器使D2 PHASER如此与众不同的一个主要因素就是布鲁克公司的林克斯SSD-160一维阵列探测器。由160个子探测器组成的林克斯SSD-160探测器，比传统闪烁计数器可以提高强度150倍以上，配备了SSD-160林克斯探测器的 D2 PHASER完全可以媲美高端常规衍射仪。除了强度方面的强大性能，林克斯SSD-160还有非常好的去荧光能力。即使是测量强荧光样品，林克SSD-160斯探测器提供的数据也展示了非常好的信噪比。

&bull 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件SmartLab Guidance，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。 技术参数&bull 1、X射线发生器功率为3KW、新型9KW转靶&bull 2、测角仪为水平测角仪&bull 3、测角仪最小步进为1/10000度，最高精度测角仪（双光学编码、直接轴上定位）（理学专利）&bull 4、测角仪配程序式可变狭缝&bull 5、自动识别所有光学组件、样品台（理学专利）&bull 6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）&bull 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)&bull 8、多用途薄膜测试组件&bull 9、微区测试组件、CBO-F微区光学组件&bull 10、In-Plane测试组件（理学独有）&bull 11、入射端Ka1光学组件&bull 12、高速探测器D/teX-Ultra（能量分辨率20%以下）&bull 13、二维面探PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器，可以接收直射X射线)&bull 14、智能的测量分析软件SmartLab Guidance（专利）&bull 主要特点智能X射线衍射仪SmartLab系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品主要的应用有：1. 粉末样品的物相定性与定量分析2. 计算结晶化度、晶粒大小3. 确定晶系、晶粒大小与畸变4. Rietveld定量分析5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构7. 小角散射与纳米材料粒径分布8. 微区样品的分析

简介QC3 高分辨率X射线衍射仪是Jordan Valley公司推出的半导体生产质量控制设备的最新机型，专注于化合物半导体产业中的生产监控需求。Jordan Valley公司质量控制型(QC)设备已经有三十余年的历史，并在全球被广泛应用于Si, GaAs, InP, GaN, 及其他常见的半导体衬底或外延层材料的测试和生产控制。QC3实现了高分辨率X射线衍射测试技术的部分或完全自动化，并可根据客户产品的具体需求，度身设计专用的自动化控制程序和质量控制参数。 QC3可依需要配置自动化机械手臂，实现半导体晶圆片的自动化装载，在生产线上执行测试流程的全自动化。QC3也可以提供一次性同时放置多个小尺寸晶圆片。样品盘上可以同时放置20片2英寸晶圆片，或者5片4英寸晶圆片。控制软件可以将自动化测试菜单程序添加给同一批次的不同晶圆片，并依次针对样品盘上所有的晶圆片执行测试菜单，有效减少人工操作及干预，提高测试效率。 产品特色及优势&bull 专注于半导体材料的高分辨率X射线衍射，未因兼顾其他X射线测试技术而降低高分辨率 的要求。&bull 与前期质量控制型设备相比，提高了X射线强度。在相同测试速度的情况下，可提高测试精度。在相同测试精度的条件下，将提高测试速度。&bull 降低了设备及附件的购置和维护成本。&bull 更低的运行成本。&bull XRGProtect&trade 可以有效延长X射线光管的使用寿命。&bull 环保的绿色工作模式，待机时有效降低能耗。&bull 可依据客户需求，选择性地配置自动化装卸晶圆片用机械手臂，具备多片批次式同时测试的功能，提高生产测试效率。&bull 操作简便，无需专业人才操作。&bull 完全自动化准直、测量晶圆片，数据分析自动化&bull 工业界领先的RADS衍射数据自动化拟合软件已经被客户广泛使用并获得肯定。&bull 测试和分析的数据结果可以进行自动化远程报告。&bull 可依客户需要的格式自动创建测试数据报告。

OLYMPUS 小型台式X射线衍射仪型号:BTXIII赢洲科技（上海）有限公司：仪景通中国区授权一级代理商，仪景通中国区指定售服中心地址：上海市闵行区春东路508号2幢408室BTXIII小型台式XRD分析仪世界上首一款由电池供电的商用便携式XRD分析仪的换代产品：TERRA II分析仪，配备有防风防雨、坚固耐用的外壳，使用电池供电，可长达6个小时持续工作，因此可在野外环境对矿物进行检测分析，为用户快速提供矿物主要成分和次要成分的信息。TERRA II分析仪提供一些性能强大的功能，是一款可以替代传统XRD仪器、重量很轻、便于携带，且几乎无需维护的分析仪。配备有一个独特的小样品托架，只需15 mg样品就可以完成分析无需外接电源、压缩气体、水冷装置、二次冷水机组，或外置变压器，即可进行操作，因此可以保持较低的拥有成本通过无线连通性能，可以将分析仪与您的设备连接起来分析仪所使用的SwiftMin软件简洁直观，具有以下特性：单屏控制面板显示多种数据、预先设置校准程序、轻松导出数据，以及自动数据传输，从而简化了用户的工作流程.速度和灵敏度的提高有助于用户迅速做出决策TERRA II分析仪将性能强大、简洁直观的软件与经过改进的X射线探测器结合在一起使用，不仅提高了灵敏度，加快了分析进程，而且可以获得更可靠的结果。更新后的X射线探测器硬件，运行速度更快，分析密度更高，进而可以获得更低的检出限（LOD）。SwiftMin自动矿物相辨别（ID）和定量软件可以直接在XRD分析仪上实时提供数据，因此用户可以迅速及时、充满信心地做出决策.仅需执行几个简单的步骤，就可运行一次检测：1.制备样品。首先，将样品研磨成粉末状。样品制备非常容易，就是使用工具敲碎被测材料。用于制备样品的工具配件随分析仪附送，这些工具可使样品的采集和制备工作易如反掌。2.筛滤样品。使样品通过筛子或者使用便携式研磨器，获得更细的粉末状样品。仪景通XRD分析仪只需将样品研磨成150微米的粉末即可。3. 振动样品。使用小铲将样品放入到振动样品托架上。这个独特的样品托架可以确保样品不受择优定向效应的影响。4.开始检测。按下分析仪上的开始采集按钮，开始检测。在分析样品的过程中，可以将XRD分析仪连接到笔记本电脑、平板电脑、智能手机或其他具有无线连通性能的设备，实时观察X射线衍射图案。还可以对设置进行调整，以在一段预先设定的时间后自动传输数据，或者在按下停止按钮时传输数据。5.查看结果。现在就可以使用衍射图案制作报告了。在制作报告之前，还可以对结果进行编辑。轻松完成样品的制备工作传统的XRD仪器要求将大批量的样品研磨成粉末，再碾压成小球状，以确保晶粒具有足够的随机定向性。相比之下，TERRA II分析仪可以使用小型振动样品托架使样品舱中的所有颗粒进行对流，从而可确保数据几乎不受定向效应的影响。因此，仪器只需要15毫克的样品就可以获得优质的检测结果，而且操作人员使用随仪器附送的样品工具包可以轻松地制备样品。常见应用仪景通XRD分析仪可广泛应用于：矿物勘探采矿及矿物加工工艺油井勘探录井石化检修维护水泥制造地质研究安保系统（爆炸物）催化剂质量控制药物

OLYMPUS 小型台式X射线衍射仪型号:BTXIII赢洲科技（上海）有限公司：仪景通中国区授权一级代理商，仪景通中国区指定售服中心地址：上海市闵行区春东路508号2幢408室BTXIII小型台式XRD分析仪世界上首一款由电池供电的商用便携式XRD分析仪的换代产品：TERRA II分析仪，配备有防风防雨、坚固耐用的外壳，使用电池供电，可长达6个小时持续工作，因此可在野外环境对矿物进行检测分析，为用户快速提供矿物主要成分和次要成分的信息。TERRA II分析仪提供一些性能强大的功能，是一款可以替代传统XRD仪器、重量很轻、便于携带，且几乎无需维护的分析仪。配备有一个独特的小样品托架，只需15 mg样品就可以完成分析无需外接电源、压缩气体、水冷装置、二次冷水机组，或外置变压器，即可进行操作，因此可以保持较低的拥有成本通过无线连通性能，可以将分析仪与您的设备连接起来分析仪所使用的SwiftMin软件简洁直观，具有以下特性：单屏控制面板显示多种数据、预先设置校准程序、轻松导出数据，以及自动数据传输，从而简化了用户的工作流程.速度和灵敏度的提高有助于用户迅速做出决策TERRA II分析仪将性能强大、简洁直观的软件与经过改进的X射线探测器结合在一起使用，不仅提高了灵敏度，加快了分析进程，而且可以获得更可靠的结果。更新后的X射线探测器硬件，运行速度更快，分析密度更高，进而可以获得更低的检出限（LOD）。SwiftMin自动矿物相辨别（ID）和定量软件可以直接在XRD分析仪上实时提供数据，因此用户可以迅速及时、充满信心地做出决策.仅需执行几个简单的步骤，就可运行一次检测：1.制备样品。首先，将样品研磨成粉末状。样品制备非常容易，就是使用工具敲碎被测材料。用于制备样品的工具配件随分析仪附送，这些工具可使样品的采集和制备工作易如反掌。2.筛滤样品。使样品通过筛子或者使用便携式研磨器，获得更细的粉末状样品。仪景通XRD分析仪只需将样品研磨成150微米的粉末即可。3. 振动样品。使用小铲将样品放入到振动样品托架上。这个独特的样品托架可以确保样品不受择优定向效应的影响。4.开始检测。按下分析仪上的开始采集按钮，开始检测。在分析样品的过程中，可以将XRD分析仪连接到笔记本电脑、平板电脑、智能手机或其他具有无线连通性能的设备，实时观察X射线衍射图案。还可以对设置进行调整，以在一段预先设定的时间后自动传输数据，或者在按下停止按钮时传输数据。5.查看结果。现在就可以使用衍射图案制作报告了。在制作报告之前，还可以对结果进行编辑。轻松完成样品的制备工作传统的XRD仪器要求将大批量的样品研磨成粉末，再碾压成小球状，以确保晶粒具有足够的随机定向性。相比之下，TERRA II分析仪可以使用小型振动样品托架使样品舱中的所有颗粒进行对流，从而可确保数据几乎不受定向效应的影响。因此，仪器只需要15毫克的样品就可以获得优质的检测结果，而且操作人员使用随仪器附送的样品工具包可以轻松地制备样品。常见应用仪景通XRD分析仪可广泛应用于：矿物勘探采矿及矿物加工工艺油井勘探录井石化检修维护水泥制造地质研究安保系统（爆炸物）催化剂质量控制药物

多功能X射线衍射/反射仪多功能X射线衍射/反射仪提供科研开发工作所需的各种X射线测试解决方案简介 Jordan Valley公司zui新设计的Delta-X是多功能的X射线衍射设备，可灵活应用于材料科学研究、工艺开发、与生产质量控制。Delta-X衍射仪的光源台和探测台的光学元件可以全自动化调控，并采用水平式样品台。Delta-X衍射仪可以在常规衍射模式、高分辨率衍射模式、X射线反射模式之间灵活切换。光学配置的切换完全在菜单式程序控制下由计算机完成，无需手动操作。自动化切换和准直不需要专门人员和操作设备，并确保每次切换都能达到zui佳的光学准直状态。 常规的样品测量可以通过Delta-X衍射仪，实现部分、乃至完全的自动化运行，自动化测量程序可以依客户需求进行专门定制。也可采用完全的手动模式操作Delta-X衍射仪，以便发展新测量方法，研究新材料体系。 数据分析或拟合可以作为测量程序的一部分，可实现完全自动化，也可依据需要单独进行数据分析。 依半导体生产线的需求，将RADS和REFS拟合软件以自动化模式运行，允许在没有用户干扰的情况下自动完成常规性的数据分析，并直接完成数据拟合和结果输出。RADS和REFS也可以单独安装，以便进行更详细的数据分析。 Delta-X 衍射仪的主要特点和优势n 自动化进行样品准直、测试、和数据分析n 客户可以自行设定测量的自动化程度n 300mm的欧拉环支架(Eulerian Cradle)设计，高精度的样品定位和扫描n 300mm的晶片水平式放置，且可以完整mappingn 100o的Chi轴倾转范围、无限制范围的Phi轴旋转空间，可实现极图和残余应力测试n 智能化的光学配置切换和准直。依测量需要，自动选择光学配置并实施光学准直n 工业界先的设备控制软件和数据分析软件n 高分辨率测角仪，以保证精密且准确的测量n 高强度的光源台设计和光学元件组合，以实现快速测量n 多方面广泛的测试技术和测量参数n 由拥有超过30年的高分辨率X射线衍射经验的世jie级专家设计、制造，具有全球客户经验。

SHINE便携式X射线衍射仪（地球化学版）是浪声科学专为矿物现场物相分析而研制的一款便携式X射线衍射设备。其融合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，可快速对矿物样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有测试速度快、价格低、精准度高等优点。SHINE在X射线束穿过样品的位置处使用透射几何技术，微聚焦X射线管发射X射线束通过准直器照射在样品池中的粉末颗粒，独特的振动系统使得粉末颗粒更多的晶面暴露在X射线束下，在满足布拉格定律时发生衍射现象从而在CCD上采集衍射图谱。样品池中的样品量固定不变，因此样品密度的变化不会影响分辨率。这个特点对于低密度材料尤其重要，如：药物样品，与基于反射几何技术的仪器相比，仪器在穿透性能固定的情况下可以获得更高的分辨率。使用优势便携式仪器采用防水防尘箱一体机设计，无任何机械移动部件，轻便小巧，方便携带，可自由进行实验室/野外现场科学研究。集成性XRD与XRF 技术集成，在每次检测中，能够同时采集XRD和XRF的X射线光子数据，提供物质成分、物相及结构信息，从而促进检测结果更加精准。简便性仪器一键式操作，无需校正，自动检测。实时显示全谱衍射图，自动进行物相分析，一键生成定量结果。制样简单单次分析仅需要20毫克左右的样品即可获得优质的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。数据传输仪器通过USB, 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。良好的环境适应性专为地质考察而研制，仪器可防雾、防尘、防震动，能适应恶劣的使用环境。安全性专业的多重防护辐射处理，测量时仪器全方位无任何辐射泄漏。应用场景地质勘探/追踪矿床矿物研究/品位分析锂矿石、铍矿石品位分析等尾矿回收再利用矿物冶炼/制造钛白粉、萤石等规格参数XRD分辨率0.2°@2θ FWHMXRD范围5-55°2θ探测器2000 X 256像素，2维3级Pelter制冷CCDX射线管靶材集束微焦斑X射线管，Cu 或 Co、Cr、Fe、Ni、Mo、Ag、W 靶(可根据检测样品选配)X射线管电压50kV最大，0-50kV可调节X射线管功率40W最大，0-40W可调节XRF能量分辨率127eV@8keV样品颗粒大小样品颗粒150um (100目筛)散热方式水冷样品量约20mg工作温度 -10°C-35°C重量15KG电源锂离子电池或电源适配器尺寸50×40×18.8cm（L×W×H）CrystalX分析软件语言中文、英语等多国语言

技术参数 1、X射线发生器功率为3KW 2、测角仪为水平测角仪3、测角仪半径300mm4、测角仪配程序式可变狭缝 5、最小步径0.0001度6、CBO交叉光路，提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路（带Mirror）（理学专利）7、高速探测器D/teX Ultra250（0维，1维模式）8、半导体阵列2维探测器HyPix400(0维、1维、2维模式)7、搭载从控制测量到分析结果的SmartLab Studio II软件包 8、视频观察系统9、丰富的各种附件 主要特点 1、SmartLab家族中的最新成员SmartLab SE。2、使用SmartLab Studio II软件，可以一键式得到从选择条件、测量、到分析、结果报告的所有结果，不需要任何经验，就可以得到高质量的分析结果。3、智能X射线衍射仪SmartLabSE系列，可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。 4、可以分析的材料包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料 5、可以分析的材料状态包括：粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品 主要的应用有： 1. 粉末样品的物相定性与定量分析 2. 计算结晶化度、晶粒大小 3. 确定晶系、晶粒大小与畸变 4. Rietveld定量分析 5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 6.小角散射与纳米材料粒径分布 7. 微区样品的分析 仪器介绍 智能X射线衍射仪SmartLab SE系列，是当今世界最高性能的多功能的X射线衍射仪，它采用了理学独创的CBO交叉光学系统、智能的测量分析SmartLab Studio II软件，一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

X射线残余应力分析仪，应力测定仪，应力测试仪 主要技术参数:采用瑞士DECTRIS公司的线阵MYTHEN2 R探测器。速度快，线性好。★测量方法：侧倾固定ψ法，摆动法，残奥测定，织构测定。定峰方法：交相关法，半高宽法，抛物线法，重心法。仪器精度：采用还原铁粉作为标准试样。 使用Cr靶Kα辐射，铁粉（211）晶面，衍射角2θ测定误差在±0.015°以内；铁粉应力测量值应稳定达到在±10MPa以内。★测角仪型式：θ-θ扫描ψ测角仪★２θ扫描范围：120°～170°；２θ扫描***小步距：0.01°２θ扫描每步计数时间：0.1S～20Sψ角范围：0°～ 65°ψ角摆动角度：0°～±6°X射线管电压：15～30kV,连续可调X射线管电流：3～10mA,连续可调X射线管靶材：Cr, Co, Cu, 其中Cr靶为常备，其余供选购。衍射几何：聚焦法准直管直径：提供产生直径分别为?1、? 1.5、? 3、? 4.5、? 6mm X光斑的准直管。测角仪重量：10 kg***简装置总重量：45 kg供电要求：AC 220V±10%，1000W，50Hz

Xstress3000X射线衍射法应力分析仪能快速检测齿轮、轴承、轧辊、曲轴、凸轮轴、压力容器管道以及其它一些零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等处理过程中产生的残余应力。　Xstress3000X射线衍射法应力分析仪进行长途运输前，要安装角形支架，可以防止x射线管套在运输途中受震而移位。在重新使用x射线应力仪前，请务必先拆除这个角形支架，否则会烧损伺服电机。在联接高压电缆时，注意高压管头不要粘有杂物（如果有必要，可以用酒精擦拭高压管头，在联接主机前，一定要保证管头干燥。）。平时，不要用手触摸白色陶瓷部分和前端金属头，拆下电缆后，要即时安装上黑色保护套。应力分析仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠，不需要水冷，方便安装和移动使用，系统超高灵敏度，适合测量的材料范围广，配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力，便携方便，可在实验室和野外现场测量。用户可在测量中的任何状态下访问所有测量和测量数据。既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。嵌入微软处理器和通讯连接，把主单元与计算机用一根电缆连接上，就可进行其它扩展应用。主要特点：具有自动校准功能，方便操作自动对焦功能，可以根据物体距离自动调节激光定位：保证了测量的准确性设备重量轻，方便携带测角仪有效的避免了探臂式结构的干扰现象

桌面式X射线衍射仪在X射线光束通过索拉狭缝、发散狭缝照射在样品上，样品台位于测角仪中心，基于反射几何θs-θd，X射线光束在满足布拉格定律时，在特定的方向上发生衍射现象，经过防散射狭缝、索拉狭缝、接收狭缝到达X射线探测器上，最终经过数据处理系统在分析软件上展现出采集的衍射图谱。FRINGE EV是公司自主研发的一款桌面式X射线衍射仪器，其融合XRD和计算机软件等多项技术，可快速对粉末、块状或薄膜等形态的样品进行主要物相定性、定量分析、晶体结构分析、材料结构分析及结晶度测定，具有精度高、准确度高、稳定性好、应用范围广、操作简便和智能化等特点，为材料研究、大学及研究院所、建筑材料、金属、矿物、塑料制品、医药品和半导体等众多领域提供高精度的分析。使用优势空气弹簧大橱窗升降门空气弹簧大橱窗升降门，节约桌面空间，适合每一台办公桌，有效提高空间利用率。桌面式千瓦级功率FRINGE EV拥有强悍的KW级功率，让他成为桌面式XRD领域无与伦比的收割机。适合所有人的XRDCrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX软件 吧。安全性具有在测试过程中自动切断保护装置、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能。集成式索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性，从而使得界FRINGE桌面式XRD可安装于车载实验室平台。DPPC探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器），计数吞吐量≥1×10^7CPS，无需使用二级单色仪，DPPC探测器在提供衍射数据的同时提供能量色散光谱数据。规格参数测角仪θ/θ立式测角仪、衍射圆半径 150mm2θ角度范围-3° - +150°2θ角度精度全谱范围内＜±0.02°偏差分辨率0.04°2θ 半峰宽FWHM索拉狭缝集成式索拉狭缝，无任何运动可调部件，增加测角系统的可靠性平台X光管金属陶瓷 X 射线管，焦点：1 x 10 mm，默认配置Cu靶，可选配 Co、Cr、Mo靶高压发生器功率标配1200W，最大支持1600W仪器尺寸580 x 450x 680mm（L×W×H）重量120KG电源220V±10V，50Hz，整机功率 最大值2000W散热方式FRINGE EV使用外置水循环冷却系统，强力冷却澎湃动力探测器DPPC探测器（数字脉冲处理计数探测器）接口紧凑的家用墙插插头提供电源，USB接口连接PC用于控制XRD气源提供2路气源接口，可用于原位分析或气氛保护安全性FRINGE EV具有空气弹簧大橱窗升降门，可无死角观察原位分析过程，并可有效屏蔽X射线，具有在测试过程中自动切断的保护、安全联动锁装置，样品舱关闭后属于全封闭性能，操作界面有样品舱关闭提示功能云端服务功能配套使用可同步的移动端APP服务，用于支持衍射数据卡片化管理，并支持接入知识管理系统CrystalX软件CrystalX在获得衍射数据后，自动进行物相分析，并给出物相各组分百分比，大大降低了使用人员的要求，无需手动检索，无需扣背景，无需平滑，无需手动寻峰，仅仅需要点击“开始测试”，其它交给CrystalX 软件 吧