全谱直读数字检测器

未按仪器要求做好检测器的吹扫工作。解决办法及建议：目前全谱直读的ICP检测器主要有CCD和CID两种，两种检测器都需要将检测器制冷到-40左右进行读数，目的是减少暗电流的背景干扰，正因为检测器在如此低的温度下工作，因此，做好检测器的维护非常重要。有如下建议。（1）打开冷却循环水之前要尽量用氩气或氮气吹扫检测器半小时，将检测器表面的空气吹扫掉，同时保证吹扫氩气不能含水。（2）关闭冷却循环水后，不能马上关闭氩气，否则空气趁虚而入，在冷的检测器表面凝结，损坏检测器。（3）如果因氩气用完而熄火，则要注意，此时检测器没有氩气的保护，需要立刻关闭冷却循环水，并尽快换上新的氩气，并用大量氩气吹扫检测器直至少1个小时，达到保护检测器的目的。

CID-电荷注入式固体检测器； SCD-分段式电荷耦合固体检测器； CCD-电荷耦合固体检测器； HDD-高动态范围(光电倍增管)检测器。 新型台式、便携式全谱直读光谱仪器 随着微电子技术的发展，固体检测元件的使用和高配置计算机的引入，发射光谱直读仪器的全谱技术进入全新的发展阶段。国外已有很多厂家推出新型的全谱直读光谱仪，除了已经开发的采用中阶梯光栅分光系统与面阵式固体检测器的全谱光谱仪外，采用特制全息光栅与线阵式固体检测器相结合，也可达到全谱直读的目的，而且使光谱仪器从结构上和体积上发生了很大变化，出现了新型的全谱直读光谱仪、小型台式或便携式的全谱直读仪器，可用于现场分析的光谱仪。给发射光谱仪器的研制开拓了一个崭新的发展前景。 传统的直读光谱仪器，一直采用光电倍增管（PMT）作为检测器，它是单一的检测元件，检测一条谱线需要一个PMT检测器，设置为一个独立通道。由于其光电性能和体积上的局限性，限制了发射光谱仪器向全谱直读和小型高效化的发展。CCD、CID等固体检测器，作为光电元件具有暗电流小，灵敏度高，有较高的信噪比，很高的量子效率，接近理想器件的理论极限值。且是个超小型和大规模集成的元件，可以制成线阵式或面阵式的检测器，能同时记录成千上万条谱线，并大大缩短了分光系统的焦距，使直读光谱仪的多元素同时测定功能大为提高，而仪器体积又可大为缩小，正在成为PMT器件的换代产品。 由中阶梯光栅与棱镜色散系统产生的二维光谱，在焦平面上形成点状光谱，适合于采用CCD、CID一类面阵式检测器，兼具光电法与摄谱法的优点，从而能最大限度地获取光谱信息，便于进行光谱干扰和谱线强度空间分布同时测量，有利于多谱图校正技术的采用，有效的消除光谱干扰，提高选择性和灵敏度。而且仪器的体积结构更为紧凑。因此，采用新型检测器研制新一代光谱仪器已成为各大光谱仪器厂家的发展方向。 传统的直读光谱仪器是采用衍射光栅，将不同波长的光色散并成像在各个出射狭缝上，光电检测器则安装于出射狭缝后面。为了使光谱仪能装上尽可能多的检测器，仪器的分光系统必须将谱线尽量分开，也就是说单色器的焦距要足够长。即使采用高刻线光栅的情况下，也需0.5m至1.0m长的焦距，才有满意的分辨率和装上足够多的检测器。所有这些光学器件均需精确定位，误差不得超过几个微米；并且要求整个系统有很高的机械稳定性和热稳定性。由于振动和温度湿度等环境因素的变化，导致光学元件的微小形变，将使光路偏离定位，造成测量结果的波动。为减少这类影响，通常将光学系统安置在一块长度至少0.5m以上的刚性合金基座上，且整个单色系统必须恒温恒湿。这就是传统光谱仪器庞大而笨重，使用条件要求高的原因。而且，由于传统的光谱仪是使用多个独立的光电倍增管和电路对被分析样品中的元素进行测定，分析一 个元素至少要预先设置一个通道。如果增加分析元素或改变分析材料类型就需要另外安装更多的硬件，而光室中机构及部件又影响了谱线的精确定位，就需要重新调整狭缝和反射镜。既增加投资又花费时间，很受限制。 采用CCD等固体检测器作为光谱仪的检测器，则光的接收方式不同，仪器的结构发生了重大变化：当分光系统仍采用传统的全息衍射光栅分光，检测器采用线阵式CCD固体检 测元件，光线经光栅色散后聚焦在探测单元的硅片表面，检测器将光信号转换成电信号，便可经计算机进行快速高效处理得出分析结果。此时检测器是由上万个像素构成的线阵式CCD元件，每个像素仅为几个微米宽、面积只有十几个平方微米的检测单元，对应于每个元素分析谱线的检测单元象素可以做得很小，检测单元相隔也可以做得很近，组成的CCD板也很小，因此分光系统的焦距也就可以大为缩短，要达到通常的分辨率，单色器的焦距只要15-30cm即可。这样分光室便大大缩小。而且从根本上改变了传统光谱仪的机械定位方式。谱线与探测像素之间的定位是通过软件实现，外界因素引起的谱线漂移，可通过软件的峰值和寻找功能自动进行校正，并获得精确的测量结果。 由于一个CCD板可同时记录几千条谱线，在测定多种基体、多个元素时，不用增加任何硬件，仅用电路补偿，在扫描图中找到新增加的元素，就可进行分析。由于光室很 小，所以无需真空泵，用充氩或氮气就可以满足如碳、磷、硫等紫外波长区元素的分析。使用CCD可以做全谱接收，而不会出现传统光谱仪常遇到的位阻问题，离得很近的 谱线也能同时使用，也无需选择二级或更高谱级的谱线进行测量。这就极大地减小了仪器的体积和重量，使光谱仪器可以向全谱和小型轻便化发展。 国际上已有几个厂家采用这种新技术（例如德国斯派克等公司），推出了新型台式以及便携式手提直读光谱仪，具有全谱直读功能，轻便实用，可以满足生产现场分析的需要。 这些新型台式及便携式直读光谱仪均采用光栅分光－CCD检测器系统，光谱焦距仅在15 ～17cm，小型、轻便，具有全谱直读的分析功能，其性能不亚于传统的实验室直读光谱仪器。这些仪器均具有：使用简单，操作容易，无需设置调整，无需用户校准，样品不需处理，稳定可靠，使用成本低便于携带等特点。具有可直接显示分析结果和金属类型、对／错鉴别，快速分类、黑色以及有色金属近似定量分析和等级鉴别，利用预置的通用或特别工作曲线，可作单基体或多基体分析，可以按照具体样品和用户的要求进一步制作工作曲线，以满足特殊工艺或材质的要求等功能。作为料场合金牌号鉴别、废旧金属分类、冶金生产过程中质量控制和金属材料等级鉴别的一种有效工具。可以携带到需要做可靠的金属鉴别或金属分类的任何地方，适合于现场金属分析 。是一种全新概念的金属分析仪。利用 CCD 光学技术和现代微电子元 件推出的小型化全谱直读仪器，或便携式的现场光谱分析仪，提供性能价格比最好的金属光谱分析仪器，将是解决冶金、机械等行业中金属材料现场分析的理想工具。也 是发射光谱分析仪器向多功能、高实用化的发展前景

各位好，那位朋友能告知ICP全谱直读和分段扫描的区别，对样品检测有什么影响吗？

最新型号的全谱直读光谱仪性能比较厂商及仪器型号光学系统全谱检测方式TJA IRIS AdvantageTM系列(全谱直读ICP、DCP仪器)中阶梯光栅—石英棱镜刻线：54.5条／mm，焦距381mm波长范围：　165—300nmC I D二维阵列，面积：28×28mm检测单元：512×512个感光点(262，144)BAIRD One Spark(全谱直读Spark仪器)中阶梯光栅-石英棱镜C I D二维阵列，260，000个感光点P-E Optima 3000系列(全谱直读ICP仪器)中阶梯光栅—光栅、棱镜双色散刻线：79条／mm，波长范围：　165—782nmS C D 面阵检测器，面积：13×19mm检测单元：235区段，6000个感光点有5000条谱线可供选用VARIAN VISTA CCD(全谱直读ICP仪器)中阶梯光栅-CaF2棱镜刻线：94.7条／mm，焦距：0.4m波长范围：　167—785nmC C D二维检测器，具有图象匹配技术检测单元：70，000个感光点，SPECTRO CIROSCCD(全谱直读ICP仪器)全息光栅，120—800nmC C D线阵式检测器可分析10，000条谱线SPECTROLABJ RCCD Spark(台式金属分析仪)全息光栅，175—550nmC C D线阵式检测器HILGER ASSURE Spark(台式全谱光谱仪)全息光栅，焦距200mm波长范围：170—410nm[t

针对目前很多厂家宣称的全谱直读ICP，我想问个问题只用一只光电倍增管检测器如何能实现全谱直读？PS：我始终觉得不能

[em09502]全谱直读是以检测器来定义的吗，是CID,CCD,SCD，还是什么的？有什么参数直接判断下？

今天根据要求改了几个测量谱线，一般都一主二辅，这是想到多加几条辅助线，ICP需要多出一些数据，是不是就增加了单个样品的测试时间？既然是全谱直读，而且发射也是无选择性、只要能量达到了且满足能级要求该发射的还是会发射，所以只是你选择出哪个谱线的数据，而不是加重了负担，因为它已经都读了？？？没有系统的学过光谱知识，希望板块多出些仪器内部检测光路、检测器等检测原理的帖子，真心感谢了！

可能的原因： 未按仪器要求做好检测器的吹扫工作。　　　　解决办法及建议： 目前全谱直读的ICP检测器主要有CCD和CID两种，两种检测器都需要将检测器制冷到-40左右进行读数，目的是减少暗电流的背景干扰，正因为检测器在如此低的温度下工作，因此，做好检测器的维护非常重要。 有如下建议。　　　　1. 打开冷却循环水之前要尽量用氩气或氮气吹扫检测器半小时，将检测器表面的空气吹扫掉，同时保证吹扫氩气不能含水。　　　　2. 关闭冷却循环水后，不能马上关闭氩气，否则空气趁虚而入，在冷的检测器表面凝结，损坏检测器。　　　　3 如果因氩气用完而熄火， 则要注意， 此时检测器没有氩气的保护，需要立刻关闭冷却循环水，并尽快换上新的氩气，并用大量氩气吹扫检测器直至少1个小时，达到保护检测器的目的。

可能的原因： 未按仪器要求做好检测器的吹扫工作。　　　　解决办法及建议： 目前全谱直读的ICP检测器主要有CCD和CID两种，两种检测器都需要将检测器制冷到-40左右进行读数，目的是减少暗电流的背景干扰，正因为检测器在如此低的温度下工作，因此，做好检测器的维护非常重要。 有如下建议。　　　　1. 打开冷却循环水之前要尽量用氩气或氮气吹扫检测器半小时，将检测器表面的空气吹扫掉，同时保证吹扫氩气不能含水。　　　　2. 关闭冷却循环水后，不能马上关闭氩气，否则空气趁虚而入，在冷的检测器表面凝结，损坏检测器。　　　　3 如果因氩气用完而熄火， 则要注意， 此时检测器没有氩气的保护，需要立刻关闭冷却循环水，并尽快换上新的氩气，并用大量氩气吹扫检测器直至少1个小时，达到保护检测器的目的。

等离子体发射光谱仪分类与“全谱直读”一词陆文伟上海交通大学分析测试中心, 上海　200030摘　要　本文从仪器结构原理上讨论了当前国内在新型等离子体发射光谱仪分类命名上的问题。指出“全谱直读”一词用于仪器分类的不严谨性。提仪使用固态检测器等离子体发射光谱仪作为分类词。主题词　等离子体发射光谱仪 中阶梯光栅 固态检测器 全谱直读中图分类号:O657131 　　文献标识码:B 　　文章编号:100020593 (2002) 0220348202　收稿日期:2000208205 ,修订日期:2000212212　作者简介:陆文伟,1951 年生,上海交通大学分析测试中心高级工程师　　早期国外把等离子体发射光谱仪( ICP2OES) 仪器分成同时型(Simultanous) 和顺序型(Sequential) 二类。国内把色散系统区分为多色器(Polychromator) 、单色器(Monochromator) ,仪器则从检测器来区分,命名为多通道型(多道) ,顺序型(单道扫描) 仪器[ 1 ,2 ] 。其仪器的分类命名与仪器功能,仪器结构基本一致,与国外的仪器分类也一致。ICP2OES 仪器在其发展期间,又有N + 1 的单道与多道结合型仪器出现,以及有入射狭逢能沿罗兰圈光学平面移动,完成1～2 nm 内扫描,能获得谱图的多道仪器出现,但总体上仍没动摇仪器的原始分类。1991 年新的中阶梯光栅固态检测器ICP2OES 仪器问世,新的仪器把中阶梯光栅等光学元件形成的二维谱图投影到平面固态检测器的感光点上,使仪器同时具有同时型和顺序型仪器的功能,这样形成了新一类的仪器。从它的信号检出来看,它与同时型仪器很接近,故有的国外文献仍把它简单归为同时型(Simultaneous) 仪器。但更多的是从仪器的硬件结构上出发,采用中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪“Echelle grating solid state detector ICP2OES”的命名。1993 年该类仪器进入中国市场,国内仪器广告上出现“全谱直读”一新名词。随着该类仪器的推广使用,该名词逐渐渗入期刊杂志,教科书,学术界,甚至作为仪器分类词出现在《现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程》[ 3 ]中。纵观国外涉及到中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的期刊杂志,书籍和文献均未使用到该词或与之意思相近的词。甚至各仪器厂家的英文样本中也无该词出现。实际上“全谱直读”是中文广告词,它不严谨,并含糊地影射二方面意思:11 光谱谱线的全部覆盖性和全部可利用性 21 全部谱线的总体信号同时采集读出。从中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪的光谱范围(英文常采用Wavelength coverage range) 来看,一般仪器都在160～800 nm 左右。如有的仪器在167～782 nm ,有的在165～800 nm ,有的在175～900 nm ,有的在165～1 000 nm ,有的是在122～466 nm 基础上另加590 ,670 ,766 nm 的额外单个检测器。有的在超纯Ar 装置下短波段区扩展至134nm ,其长波段区能扩展至1 050 nm。很明显所有此类仪器的光谱范围目前离“全谱”还是有距离的,而且仪器厂家还在扩大其光谱范围。再说此类仪器的“光谱范围”,实际上更确切的意思是指可利用的分析谱线波长跨度范围!实际上中阶梯光栅和棱镜所形成的二维光谱图在目前固态检测器芯片匹配过程中,高级次光谱区可以说是波长连续的,不同级次的光谱波长区甚至重迭。而低级次光谱区级次与级次之间的波长区并不衔接,最大可以有20 nm 以上的间隙,其间隙随着级数增大而变小,严格地说也就是仪器的光谱不连续性存在,尽管对有用谱线影响并不太大。另外中阶梯光栅多色器系统产生的二维谱图闪烁区与检测器芯片匹配的边缘效应,固态检测器的分段或分个处理,都会造成使用全部谱线的困难,甚至发生有用谱线的丢失。大面积的固态检测器芯片可望用于光谱仪,光谱级次间波长区的连续性会进一步改善,其波长区复盖也会增大。但仪器制造成本及芯片因光谱级次间波长过多重叠显得利用效率不高,都会形成其发展的阻力。从仪器可利用谱线上看,目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还只能是多谱线同时分析仪器。当然它可利用的谱线要比以前多道发射光谱仪器的谱线(最多六十多条) 多得多。如目前仪器有6 000 多条的,有2 万7 千条的,有在2 万4 千条的基础上再可由使用者在仪器波长区任意定址添加的等等。但这与“全谱”给人的含糊概念,与数十万以上的全部谱线概念相差甚远。就是从全部可利用谱线讲,该类仪器在定量分析时也不等于纪录全部谱线。有的仪器是在定性分析时能纪录所有覆盖谱线。“全谱直读”一词还常常被沿伸到一次曝光像摄谱仪一样工作。直读一词(Direct reading) 出现在摄谱仪之后、光电倍© 1995-2005 Tsinghua Tongfang Optical Disc Co., Ltd. All rights reserved.增管用于发射光谱仪之时。是相对摄片2读片过程变成一步而言。多道发射光谱仪采用该词较多。目前中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪还没有完全达到全部谱线的总体信号同时采集读出的水平。有的仪器分检测器读出,有的仪器分波长区读出,有的仪器分波长区检测器再加几个单个波长检测器读出。固态检测器的曝光与摄片又不同,固态检测器比照相底片更灵活,为了适应样品分析元素高低浓度大小信号的要求,固态检测器灵活处理,有的分区曝光,有的分级扫描曝光,有的级中分二段控制曝光,有的检测器分子阵列(Subarray) 控制曝光,有的从其检测器机理出发分每个感光点(Pixel) 控制曝光。“全谱直读”给人是含糊的印象,不能正确反映仪器的特点。当前新的仪器还在不断涌现,有分级扫描式中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,有新的多个固态检测器在罗兰圈排列使用的仪器,从检测器硬件结构分类,它们都能方便地归入中阶梯光栅固态检测器等离子体发射光谱仪,或固态检测器等离子体发射光谱仪类别里。而“全谱直读”则明显不能适应。新名词会受到实践和事实的考验。国外文献中名词也有变化的,如电感耦合等离子体原子发射光谱仪的ICP2AES 英文缩写名词,因AES 含义面广,易与俄歇电子光谱[ 4 ]混淆,现在逐渐被ICP2OES 取代。切入实际的名词才会在发展中生存。参考文献　[ 1 ] 　化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱方法通则,中华人民共和国国家标准GB10725289.　[ 2 ] 　发射光谱仪检定规程,中华人民共和国国家计量检定规程J TG768294.　[ 3 ] 　感耦等离子体原子发射光谱方法通则 感耦等离子体原子发射光谱仪检定规程,1997. (第一版) 科学技术文献出版社,现代分析仪器分析方法通则及计量检定规程.　[ 4 ] 　英汉仪器仪表词汇,科学出版社,1987 (第一版) .

检测器作为光谱仪的核心部件，其技术的发展进步往往引领着光谱仪的发展。电荷耦合元件(CCD)技术的应用是光电直读光谱仪的一个技术发展方向，采用CCD将会降低光电直读光谱仪的生产成本及减小仪器体积。其次CCD最大的优点是全谱，可以很方便地增加检测元素的种类。此外，CCD具有良好稳定性和较长的使用寿命，CCD型光电直读光谱仪可以实现激发样品时自动完成波长校准，不再需要定期进行校准，采用CCD技术可实现模块化、易于校准、抗振动。和传统的光电倍增管(PMT)技术相比，CCD发展较晚，作为新型检测器件，还存在一定的局限性。首先CCD没法如PMT那样每个通道都做优化。其次，CCD在应用中为了降低暗电流需要降温，这与光学系统需要恒温相矛盾。CCD目前还无法应用一些高速采样技术，因而在痕量元素分析方面性能不及PMT。CCD的信噪比不如PMT，其次如何保证多块CCD的一致性，以及处理多块CCD之间的接收空白区，也是一个问题。此外，当前CCD技术已经可以满足中端分析应用水平，但在短波元素分析、低含量元素分析、短期分析精度和长期精度方面和PMT还是有差距。虽然目前CCD还有一些不足之处，但是大家认为CCD在光电直读光谱仪中的应用是值得期待的。PMT到现在已经发展60多年了，是一种经典成熟的技术。而CCD技术正处于飞速的发展变化之中，可以预期CMOS(互补金属氧化物半导体)技术很快会应用于CCD当中，这些技术的不断发展会促使CCD发展到更高的水平。近些年CCD器件发展已经相当成熟，能够满足一般的分析要求，针对细分市场，各种特殊用途的CCD不断产生。CCD与PMT结合是目前解决全谱检测并满足微量和痕量分析的最优选择，但同时满足两种类型检测器的采样控制和系统的完美结合目前仍然是该类仪器的制造难点。

本公司最近新购一台PE7300DV型号的ICP-OES,刚用10天就不出峰了,厂家工程师来检查怀疑氩气中水分超标,吹扫检测器后检测器结霜冻坏了,悲剧啊,检测器一套二十几万了! 我不明白,我们用的是高纯液氩,管路较长,从液氩瓶到仪器约50米,送气过程中可能有冷凝造成水分偏高,但也不能10天就坏了!不知那位老师能指点一下,我没听说那家公司的全谱ICP-OES的检测器这么容易坏的啊!只要是全谱ICP-OES都要一直开机并用氩气不停吹扫检测器的,很少听说有损坏的?氩气中水分要保持在多少范围才行?我们已采购一台氩气纯化器,纯化后水分约1.5PPM(露点-74度),不知大家使用中遇到这样的情况吗?

最近做用710-Es全谱直读等离子发射光谱仪检测电解质和电解液中的金属离子杂质含量，在检测过程中，遇到的主要问题是，钙，镁和钠的标准曲线总是校正不了，这个问题全是因为标液没有配好吗？容易污染？是否还有其他问题，或者我应该怎么去避免这些问题。还有就是我现在刚开始接触ICP，还不是很熟悉，在做ICP时，有什么要注意的，我现在有个课题，是关于方法的改进，可以提高金属离子的准确度，我应该从哪几方面着手，我应该查阅什么资料？？？

CID-电荷注入式固体检测器； SCD-分段式电荷耦合固体检测器； CCD-电荷耦合固体检测器； HDD-高动态范围(光电倍增管)检测器。 新型台式、便携式全谱直读光谱仪器 随着微电子技术的发展，固体检测元件的使用和高配置计算机的引入，发射光谱直读仪器的全谱技术进入全新的发展阶段。国外已有很多厂家推出新型的全谱直读光谱仪，除了已经开发的采用中阶梯光栅分光系统与面阵式固体检测器的全谱光谱仪外，采用特制全息光栅与线阵式固体检测器相结合，也可达到全谱直读的目的，而且使光谱仪器从结构上和体积上发生了很大变化，出现了新型的全谱直读光谱仪、小型台式或便携式的全谱直读仪器，可用于现场分析的光谱仪。给发射光谱仪器的研制开拓了一个崭新的发展前景。 传统的直读光谱仪器，一直采用光电倍增管（PMT）作为检测器，它是单一的检测元件，检测一条谱线需要一个PMT检测器，设置为一个独立通道。由于其光电性能和体积上的局限性，限制了发射光谱仪器向全谱直读和小型高效化的发展。CCD、CID等固体检测器，作为光电元件具有暗电流小，灵敏度高，有较高的信噪比，很高的量子效率，接近理想器件的理论极限值。且是个超小型和大规模集成的元件，可以制成线阵式或面阵式的检测器，能同时记录成千上万条谱线，并大大缩短了分光系统的焦距，使直读光谱仪的多元素同时测定功能大为提高，而仪器体积又可大为缩小，正在成为PMT器件的换代产品。 由中阶梯光栅与棱镜色散系统产生的二维光谱，在焦平面上形成点状光谱，适合于采用CCD、CID一类面阵式检测器，兼具光电法与摄谱法的优点，从而能最大限度地获取光谱信息，便于进行光谱干扰和谱线强度空间分布同时测量，有利于多谱图校正技术的采用，有效的消除光谱干扰，提高选择性和灵敏度。而且仪器的体积结构更为紧凑。因此，采用新型检测器研制新一代光谱仪器已成为各大光谱仪器厂家的发展方向。 传统的直读光谱仪器是采用衍射光栅，将不同波长的光色散并成像在各个出射狭缝上，光电检测器则安装于出射狭缝后面。为了使光谱仪能装上尽可能多的检测器，仪器的分光系统必须将谱线尽量分开，也就是说单色器的焦距要足够长。即使采用高刻线光栅的情况下，也需0.5m至1.0m长的焦距，才有满意的分辨率和装上足够多的检测器。所有这些光学器件均需精确定位，误差不得超过几个微米；并且要求整个系统有很高的机械稳定性和热稳定性。由于振动和温度湿度等环境因素的变化，导致光学元件的微小形变，将使光路偏离定位，造成测量结果的波动。为减少这类影响，通常将光学系统安置在一块长度至少0.5m以上的刚性合金基座上，且整个单色系统必须恒温恒湿。这就是传统光谱仪器庞大而笨重，使用条件要求高的原因。而且，由于传统的光谱仪是使用多个独立的光电倍增管和电路对被分析样品中的元素进行测定，分析一 个元素至少要预先设置一个通道。如果增加分析元素或改变分析材料类型就需要另外安装更多的硬件，而光室中机构及部件又影响了谱线的精确定位，就需要重新调整狭缝和反射镜。既增加投资又花费时间，很受限制。 采用CCD等固体检测器作为光谱仪的检测器，则光的接收方式不同，仪器的结构发生了重大变化：当分光系统仍采用传统的全息衍射光栅分光，检测器采用线阵式CCD固体检 测元件，光线经光栅色散后聚焦在探测单元的硅片表面，检测器将光信号转换成电信号，便可经计算机进行快速高效处理得出分析结果。此时检测器是由上万个像素构成的线阵式CCD元件，每个像素仅为几个微米宽、面积只有十几个平方微米的检测单元，对应于每个元素分析谱线的检测单元象素可以做得很小，检测单元相隔也可以做得很近，组成的CCD板也很小，因此分光系统的焦距也就可以大为缩短，要达到通常的分辨率，单色器的焦距只要15-30cm即可。这样分光室便大大缩小。而且从根本上改变了传统光谱仪的机械定位方式。谱线与探测像素之间的定位是通过软件实现，外界因素引起的谱线漂移，可通过软件的峰值和寻找功能自动进行校正，并获得精确的测量结果。 由于一个CCD板可同时记录几千条谱线，在测定多种基体、多个元素时，不用增加任何硬件，仅用电路补偿，在扫描图中找到新增加的元素，就可进行分析。由于光室很 小，所以无需真空泵，用充氩或氮气就可以满足如碳、磷、硫等紫外波长区元素的分析。使用CCD可以做全谱接收，而不会出现传统光谱仪常遇到的位阻问题，离得很近的 谱线也能同时使用，也无需选择二级或更高谱级的谱线进行测量。这就极大地减小了仪器的体积和重量，使光谱仪器可以向全谱和小型轻便化发展。 国际上已有几个厂家采用这种新技术（例如德国斯派克等公司），推出了新型台式以及便携式手提直读光谱仪，具有全谱直读功能，轻便实用，可以满足生产现场分析的需要。 这些新型台式及便携式直读光谱仪均采用光栅分光－CCD检测器系统，光谱焦距仅在15 ～17cm，小型、轻便，具有全谱直读的分析功能，其性能不亚于传统的实验室直读光谱仪器。这些仪器均具有：使用简单，操作容易，无需设置调整，无需用户校准，样品不需处理，稳定可靠，使用成本低便于携带等特点。具有可直接显示分析结果和金属类型、对／错鉴别，快速分类、黑色以及有色金属近似定量分析和等级鉴别，利用预置的通用或特别工作曲线，可作单基体或多基体分析，可以按照具体样品和用户的要求进一步制作工作曲线，以满足特殊工艺或材质的要求等功能。作为料场合金牌号鉴别、废旧金属分类、冶金生产过程中质量控制和金属材料等级鉴别的一种有效工具。可以携带到需要做可靠的金属鉴别或金属分类的任何地方，适合于现场金属分析 。是一种全新概念的金属分析仪。利用 CCD 光学技术和现代微电子元 件推出的小型化全谱直读仪器，或便携式的现场光谱分析仪，提供性能价格比最好的金属光谱分析仪器，将是解决冶金、机械等行业中金属材料现场分析的理想工具。也 是发射光谱分析仪器向多功能、高实用化的发展前景

我们用的是瓦里安ICP-OES全谱直读光谱，不知道是怎么回事，遇到了一个这样的问题，在测样品的时候，突然检测器的第四检测区域信号溢出，无法检测，不知道是怎么回事（炬管能点着火），在做测试的时候，暗电流扫描都无法通过。不知道用那位朋友知道或者遇见过，发表一下，互相学习一下~~~~谢谢各积极参与~~~~

全谱直读光谱仪（FMC）一款高性价比的全谱直读光谱仪德国原装进口，采用现代最先进的CCD数码技术，实现了分析光谱的全谱直读。可以广泛适用于铝基、铜基、锌基、镁基等金属样品的成分分析。专注于有色金属样品成份的快速分析，性价比最高的有色金属成份分析仪。产品亮点•独特的喷射电极(Jet—Stream)技术可提高对不规则样品分析的精度•高分辨率的多CCD光学系统，更好的实现谱峰分离•“空气”冲洗式光学装置可降低高昂的用气成本•高再现性确保分析结果可靠•坚固耐用的设计使仪器适用于任何恶劣环境•紧凑的结构设计，节省了占用空间•快速便捷的操作•简单易用且灵活的软件•高回报率为用户的投入带来高价值•巧妙设计的全开放式火花台便于检测各种形状样品技术参数焦距400mm高度680mmCCD像素分辨率6PM宽度410mm光栅刻线数2400条/mm长度640mm波长分析范围185nm-800nm重量60KG色散0.9nm/mm(1级)电源110/230v(50/60Hz)保险丝16A慢熔保险丝[color=#

炉前分析用光电直读光谱仪,用于检测铝合金中Fe、Si、Cu、Ca、Mg、Mn、Zn、V、Ti、Pb、As、Cd几种元素含量，想知道配置PMT及CCD检测器哪种比较合适？

数字式电导检测器与模拟式电导检测器的区别,包括各种技术指标

我单位最近要采购一台利曼公司的“FOUNDR-MASTER全谱直读光谱仪”，我拿不太准，因为以前也没听说过，不过价格较低，另外也是德国出品，个人觉得质量应该可以吧！不过它是CCD检测器，不知稳定性如何呢？我要的是铁基和铝基两个基体，价格40万多，是不是很便宜啊！请各位大侠帮忙！谢了。

[b][color=#cc0000]有些厂家的CCD检测器直读光谱仪的价格降到了十几万。[/color][color=#cc0000]为什么CCD检测器的直读光谱仪价格会那么低？[/color][color=#cc0000]是成本确实降低了？还是不惜本钱抢占市场？[/color][/b]

直读光谱检测器 CCD CMOS及PMT为啥进口高端基本都采用PMT(光电倍增管)？为啥斯派克的高端机型LAB S换成CMOS了，MAX也换成 CCD+CMOS为啥GNR的全型号都采用CMOS，是不是可以理解GNR 技术特别NB

新品: ARL easySpark 1160全谱直读火花光谱仪 发布时间：2016.4.11　　ARL easySpark 1160在对各类金属材料进行分析，例如铁和钢、铝及其合金、青铜和黄铜等含有元素时，在发挥CCD技术的同时，保持了分析性能的良好。除此之外，ARL easySpark 1160可协助解决与特殊工艺或质量相关的问题，或者协助特殊领域开发新的合金成分。　　(1)光源　　对直读光谱仪来讲，至关重要的是光源。 ARL easySpark 1160采用的激发源和火花台能满足难激发样品的测试，同时可以保证仪器长时间连续工作的稳定性和可靠性。　　(2)光学系统　　ARL easySpark 1160的光学系统在CCD平场检测技术上的创新：超大入射窗口、多光栅/CCD技术、紫外增强型CCD以及最高的像素密度，确保了包括N149谱线在内的全谱覆盖以及顶级分辨率。　　(3)测试精度　　ARL easySpark 1160光谱仪采用全光路、全波长的氩气吹扫，精确至0.1摄氏度的光室恒温，充分发挥CCD检测性能的恒温冷却，高标准的火花台安全监控以及专利设计的火花台吹扫气流。详见http://www.instrument.com.cn/news/20160414/188730.shtml

直读光谱仪用PMT做检测器好还是CCD好？

作为德国WAS直读光谱仪的销售已经有两年的时间了，也经历了不少次“血雨腥风”的大战，目前也在国内市场占有了一席之地。但是仍然有很多问题在困扰着我。CCD检测器与光电倍增管，那个强哪个弱。。。。。作为厂家的销售我自然是提出了很多CCD的优势，升级不需要改动硬件，不受通道数数影响，价格适中。受温度的影响较小，任意选择曲线。当然当客户问道CCD的缺点时我也直言不讳：测量高纯金属时数值不如高端的光电倍增管好。但是那样的机器怎么说也要9万美元以上。很多朋友后来从性价比考虑都选择了我的机器。毕竟拿直读来做研究的单位太少了。而且个人发现，现在很多大公司都有CCD的机器，但是都没有给客户推荐，比如ARL，斯派克，OBLF。他们还依然在卖他们的光电倍增管机器，为什么？如果CCD的机器不好他们为什么还要生产？以上言语只代表我个人观点，没有推销的意思，只是希望大家拿出来讨论讨论！[em04]

感觉直读和全谱很矛盾，是否全谱直读只是广告语言？全谱：1、横坐标的波长范围---测试样品的波长在这个范围；2、横坐标的分辨率高；3、纵坐标的信号识别好；同时保证检出限和宽的线性范围；4、纵坐标的噪声低；包括火炬噪声、分光元件噪声、电子起伏噪声；直读：一次测出全部波长区间的数据如果设计考虑全谱，分辨率和信号识别是个矛盾当然全谱和直读也是矛盾。或者，放弃分辨率或信号识别能力？那就不是全谱了