X射线荧光光谱仪测定浮法玻璃渗锡量
将熔窑中流出的玻璃液引流到锡槽中,理想的情况是玻璃经平面成型抛光,从而制得高质量低成本的浮法玻璃。然而在生产过程中锡离子也进入玻璃下表面即玻璃渗锡,成为浮法玻璃的固有缺陷。渗锡后玻璃的光散射及渗锡层和玻璃块体的折射率差异增大,且玻璃透光率也降低。经热处理后的玻璃表面2价锡被氧化成4价锡从而引起区域体积变化,形成玻璃缺陷。所以渗锡量是浮法玻璃渗锡过程的一个重要控制参数,通过波长色散X射线荧光光谱仪(WDXRF)建立校准曲线可以测定不同规格类型的浮法工艺玻璃,X射线荧光光谱法可以直接测定玻璃表面的锡层并得到对应的强度信息,进而算出较为通俗的厚度计量单位(ug/cm2),适用于玻璃表面的锡层厚度分析,从而达到快速控制生产的目的。