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便携式射线荧光镀层

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便携式射线荧光镀层相关的论坛

  • X射线荧光镀层测厚仪

    诚招全国各地仪器经销商、代理商,我司专业生产X射线荧光光谱仪、X射线衍射仪、拉曼光谱仪、在线监测X射线光谱仪;应用:金属镀层测厚、矿石、油品、煤炭、大气烟气重金属在线监测、医药毒品检测、三元催化、三元锂电等。相关代理商留言联系。

  • [求助]有没有使用便携式X射线荧光光谱仪的同行?

    领导安排我调研便携式X射线荧光光谱仪的情况,就是手持式、象吹风机的那一种(目的是购买),本人无此方面的经验,希望有这方面使用经验的同志能给些建议啊,最好是厂家或者最终用户能给出宝贵的使用经验,谢谢。

  • 【求助】实验室便携式X射线仪器

    想求购实验室便携式X射线仪器,用于X射线对动物的毒性作用研究。要求:仪器有剂量率,能够设定一定剂量的X射线。如有,请联系我。或者有同行的朋友告诉我下,你们实验室用的什么仪器。谢谢。

  • 【原创大赛】便携式X射线荧光光谱仪测定不锈钢样品中的常见金属元素

    便携式X射线荧光光谱仪测定不锈钢样品中的常见金属元素吴敏,1 王俊鹏 2(1.江苏天瑞仪器股份有限公司,江苏 昆山 215300)摘 要:由于不同型号的不锈钢具有不同的抗腐蚀能力及其它物理特性,为保证在不同环境下使用合适性能的不锈钢产品,需要对不锈钢进行成分分析。本文采用便携式X荧光光谱分析仪,利用经验系数法建立了不锈钢中常见的Ti,V,Cr,Mn,Fe,Co,Ni,Cu,Mo九个元素的定量分析方法。实验证明,使用便携式能量色散X射线荧光光谱仪对不锈钢中个主要元素进行含量分析并对样品牌号好进行快速分析是一种对样品快速分析的测试方法,值得在实际分析中推广。关键词:便携式X荧光光谱仪;经验系数法;不锈钢样品;Portable X-ray Fluorescence Spectrometer Determination of the Common Metallic Elements in Steel SamplesWU Min1 WANG JunPeng1(1.Jiangsu Skyray Instrument Co., Ltd., Kunshan, Jiangsu 215347,China) Abstract:Different types of stainless steel with corrosion resistance and other physical characteristics, in order to ensure appropriate performance of stainless steelproducts used in different contexts, the need for stainless steel components analysis.Using portable X-ray fluorescence spectrometer, using the empirical coefficient method of stainless steel, Ti, V and Cr, Mn and Fe, Co., Ni and Cu, Mo nine elementsof quantitative analysis methods. The experiments show that the use of portableenergy dispersive X-ray fluorescence spectrometer on the main elements ofstainless steel content of the sample grades and good conduct rapid analysis of arapid sample analysis test method, and worthy of promotion in the actual analysis.Key words: Portable X-ray fluorescence spectrometer; empirical coefficient method;stainless steel samples;

  • 【原创】便携式X荧光光谱仪的辐射剂量率的测定

    便携式X荧光光谱仪(EDX P-930 手持式土壤分析仪)的辐射剂量率测定摘要:本文旨在通过对手持式X荧光光谱仪的辐射剂量率测定,消除检测人员对辐射的恐慌心理和正确做好相关的辐射防护。一、测试对象:EDX P-930手持式土壤分析仪 该仪器主要用于土壤,沉积物以及淤泥等中重金属元素的快速测试分析。属不需样品前处理的非破坏性分析,能在极短的时间内完成快速分析和现场直接测定。其测试原理是:元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,通过测出荧光X射线的能量,就可以知道元素的种类,且荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系。 EDX P-930手持式土壤分析仪激发源为40KV/50uA-银靶端窗一体化微型X光管。

  • 【讨论】荧光测镀层

    大家来讨论下现在市场上大部分仪器测镀层时的厚度大概多少,我今天刚碰到个问题,我们家用的仪器今天测试ABS为基材的镀层时,单独测ABS材料时X射线竟能把ABS材料击穿,射线打到下面的铜底板,铜峰很高。。。。。那个ABS材料怎么说也有几个毫米。。。。有知道的发表下看法下,谢谢。

  • 关于解决双镀层测厚的仪器

    各位大神 我想问下 铝基材料表面镀层铜,再在铜上镀层银,现在想测银镀层的厚度,最好是铜层厚度也可以测,用什么仪器来实现:样品条件:1 ,产品很大--X荧光测厚仪可以实现但是 样品大放不到仪器里 2,必须是无损的,产品镀层不能破坏。 3,最好是便携式的, 有谁有这方面的解决办法可以推荐,谢谢。

  • 便携式X 射线衍射录井技术在江汉地区的应用

    便携式X 射线衍射录井技术在江汉地区的应用

    近年来,由于石油钻井新工艺技术如PDC 钻头的应用,由井底返出的岩屑十分细碎,甚至成粉末状,使得多种不同的岩屑常常难于辨识,同时随着老油区勘探程度高,构造复杂等特点常常有一些复杂岩屑难以快速识别。此外,近几年页岩油气逐渐成为研究的热点,页岩的矿物成分十分复杂,矿物组成对页岩的岩石力学性质、储层特性及气的吸附能力均有一定影响。有机质和脆性物质含量高的页岩,脆性较强,容易在外力的作用下形成裂缝,有利于天然油气的渗流。页岩的矿物组成在一定程度上影响着裂缝的发育程度,从而影响页岩的产能。录井技术作为油气勘探开发中最基本的技术,常规的录井技术已不能满足页岩油气等的需求,需针对特殊钻井工艺条件下油气藏的特点,研究开发配套的综合录井技术,准确进行复杂情况下录井的综合评价。针对这些问题,江汉录井引进了便携式X 射线衍射仪,再结合其它录井技术,开展了复杂情况下岩性的快速识别,同时对页岩元素及矿物检测,定性、定量分析页岩中矿物成分与物质含量,均取得了良好的效果。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/05/201605161447_593521_2840658_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2016/05/201605161447_593520_2840658_3.bmp

  • 【原创大赛】金属电镀层确认的一些常用方法

    【原创大赛】金属电镀层确认的一些常用方法

    金属电镀层确认的一些常用方法 金属电镀层一般是为提高金属零件在使用环境中的抗蚀性能;装饰零件的外表,使其光亮美观;提高零件的工作性能,如硬度、耐磨性、导电性、电磁性、耐热性等等。那做为实验室一员,一般对接收的样品如何去判断是否有镀层及镀层是什么呢,根据工作的关系个人总结了以下本实验室常用的方法,仅供参考!一.单一镀层1.X射线荧光光谱仪(XRF)法:这个一般适用于0.1um以上镀层。主要是根据基材和镀层的成分对比,看出镀层的成分。案例a:确认样品表面是否电镀金,根据谱图显示样品基材是黄铜,表面镀金。同时可以看出镀层非常薄,因为已经测试到基材元素,不放大谱图很难看到金的峰。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061129_559449_2042772_3.png 案例b:根据谱图显示样品基材是碳钢,表面镀锌。同时可以看出镀层比较厚。约几十微米。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061129_559450_2042772_3.png2. X射线能谱仪(EDS)法:这个一般适用于0.1um以上镀层。一般有二种模式,直接测试表面和金相制样后测试截面。 案例a:直接测试,这种需要知道基材是什么然后才可以判断表面镀层成分。客户告知样品为一含氟工作电极表面有镀层,根据谱图可以看出样品基材是一含氟电极表面镀铂。同时可以看出镀层比较薄,因为已经测试到基材元素。对于镀层大于0.3um一般不会出现这种情况,直接显示镀层含量一般在90%以上(不考虑空气中的碳和氧)。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061130_559451_2042772_3.png案例b:金相制样后EDS线扫描测试,这种不需要知道基材是什么即可以判断表面镀层成分。根据谱图看出样品基材是钢表面镀镍。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061130_559452_2042772_3.png3.X射线光电子能谱仪(XPS)法,这个适用于表面10nm以上的镀层,分析下线比较低。谱图是表面溅射10nm后的XPS谱图,根据谱图可以看出样品表面镀铬.(不考虑空气中的碳和氧).http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061130_559453_2042772_3.png二.复合镀层1. X射线荧光光谱仪(XRF)法:这个一般适用于0.1um~几十um复合镀层。主要需要客户告知镀层的电镀情况,即第一层镀什么,第二层镀什么,同时镀层不能太厚,太厚时需要慢慢打磨镀层然后能XRF确认。如何客户不告知每一层具体成分的话,只有自己根据经验判断。 案例a:客户声称样品基材是锌合金表面电镀铜然后在镀锡,根据谱图显示样品基材是是锌合金表面电镀铜然后在镀锡。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559454_2042772_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559455_2042772_3.pnghttp://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559456_2042772_3.png 2. X射线能谱仪(EDS)法:这个一般适用于0.3um以上镀层。金相制样后测试截面。案例:金相制样后EDS线扫描测试,根据谱图看出样品基材是铜表面镀镍后在镀铬。http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/08/201508061132_559457_2042772_3.png3.X射线光电子能谱仪(XPS)法,这个适用于表面10nm以上的镀层,分析总厚度小于2μm。如果大于2μm就可以建议用其他方法测试了。因为大于2μm分析时间就比较长,成本比较高。按照一分钟溅射10nm,2μm的镀层就需要3个多小时了。还不算分析时间。案例:样品为一太阳镜表面膜层深度剖析。根据测

  • 关于X射线荧光光谱仪的详细介绍

    关于X射线荧光光谱仪的详细介绍: X射线荧光光谱仪分析的元素范围广,从4Be到92U均可测定;  X射线荧光光谱仪简单,相互干扰少,样品不必分离,分析方法比较简便,分析浓度范围较宽,从常量到微量都可分析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差,分析样品不被破坏,分析快速,准确,便于自动化。  X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪,分辨率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器,它们不需要液氮冷却。近年来,采用电致冷的半导体探测器,高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、放射性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。  X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点。能分析F(9)~U(92)之间所有元素。样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业样品。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析,并能给出半定量结果,结果准确度对某些样品可以接近定量水平,分析时间短。

  • 【第三届原创参赛】便携式直读光谱仪与手持XRF荧光光谱仪的对比

    【第三届原创参赛】便携式直读光谱仪与手持XRF荧光光谱仪的对比

    [size=4][font=宋体]经常有人问道手持XRF光谱仪与便携式移动直读光谱仪有什么不同,两者之间如何选择呢下面我在原理与应用方面总结了一下。[/font][/size][size=4][font=宋体]便携式移动光谱仪的应用领域与手持XRF光谱仪是不同的,手持XRF光谱仪检测的固体样品直读光谱仪都可以检测,但直读光谱仪器能检测的样品手持XRF光谱仪不一定能检测,如钢铁中的C P S N ,在检测精度方面手持XRF光谱仪检测限在100ppm—500ppm,直读的检测线是小于100ppm,原理方面直读光谱仪原理是[/font][/size][size=4][font=宋体]样品经过电弧或火花放电激发成原子蒸汽,蒸汽中原子或离子被激发后从基态跃迁到激发态经10[sup]-8[/sup]秒后从激发态又跃迁到基态,产生发射光谱,每种元素发射光谱谱线强度正比于样品中该元素含量,[/font][/size][size=4][font=宋体]通过检测发射光谱强度的能量大小来分析各元素的含量。[/font][/size][size=4][font=宋体]XRF[/font][/size][size=4][font=宋体]光谱仪原理是元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁,同时发射出具有一定特殊性波长的X射线,统称为X射线荧光,根据莫斯莱定律,只要测出荧光X射线的波长,就可以得知元素的种类,这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系,据此,也可以进行元素定量分析。[/font][/size][size=4][font=宋体]应用领域X射线荧光光谱仪具有重现性好,测量速度快,灵敏度高的特点,样品可以是固体、粉末、熔融片,液体等,分析对象适用于炼钢、有色金属、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行业。可以对各种形状样品定性分析和半定量分析,并能给出半定量结果,分析时间短,对样品表面无损害。[/font][/size][size=4][font=宋体]直读光谱仪应用领域是炉前化验分析, 来料检测,成品检测 , 混料识别等领域,是金属成份分析的专用仪器,此外还有商检、质检等部门 ,直读光谱仪在钢铁行业炉前快速分析占有绝大部分市场,是钢铁行业必不可少的一款元素分析仪器,广泛应用于铁基、铝基、铜基、镍基、锌基、钛基、镁基、分析精度可以达到PPM级,可以分析钢铁中的C P S N 等元素。[/font][/size][size=4][font=宋体]在应用方面也需有些人还是不理解,举个例子来说如果是做废旧金属回收,是用便携式直读光谱仪呢还是用手持XRF呢?其实在废旧金属回收这一块两款仪器都可以,手持XRF二十几万 ,便携式移动直读三四十万,如果你只是筛选废旧金属的一个牌号归类,其实手持XRF就可以做了,就没必要去买直读了,在举个例子如果你是铸铁行业检测精度有要求,需要检测C 元素那就得选择直读光谱了,手持XRF就做不了。下面是移动直读光谱仪与手持XRF的图片。[/font][/size][size=4][font=宋体][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/09/201009101709_242973_2122568_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/09/201009101709_242974_2122568_3.jpg[/img][/font][/size][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/09/201009101709_242975_2122568_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/09/201009101710_242976_2122568_3.jpg[/img][img]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2010/09/201009101710_242977_2122568_3.jpg[/img]

  • 【资料】 X射线荧光分析野外工作方法和应用

    无论国内外,X射线荧光分析方法最先得到重视和应用的都是地质行业。这主要是因为野外工作环境比较恶劣的地质勘查和矿产资源评价工作,需要一种轻便、机动而又能及时取得元素成分和含量数据的手段。X射线荧光分析方法基本满足了这一要求。因此,X射线荧光分析方法的研究和推广应用受到第一线地质工作者的关注。从20世纪70年代开始,便携式X射线荧光仪在地质行业就得到较为广泛的应用,并取得很好的成果。 使用便携式X射线荧光仪,在野外一般不需要特别加工样品就能直接对岩石露头、探槽、浅井、剥土、采矿工作面、刻槽取样线、钻孔岩心等地质工程取样点直接测量目标元素的X射线荧光强度,对目标元素进行定性、定量或半定量分析,从而及时发现和验证异常,评定岩矿品位、矿化地段、矿层厚度,划分矿化异常与非异常的界线、划分矿区与非矿区的界线,为进一步指导找矿勘探和矿产的资源评价提供有力的支撑资料。 便携式X射线荧光仪进行野外找矿方法可以分为直接找矿和间接找矿。所谓直接找矿就是使用便携式X射线荧光仪在野外现场直接测量目标元素(目标矿种)的X射线荧光强度,来确定目标元素的矿化异常的方法。所谓间接找矿就是因为受到X射线荧光仪自身探测线和激发源的能量所影响,不能对目标元素直接测量,而是通过测量与目标元素有共生关系的其他元素或者元素组合的X射线荧光强度来间接寻找目标元素(目标矿种)的方法。例如:我们最常用的X射线荧光找金矿方法,由于金元素的克拉克值丰度远远小于X射线荧光仪自身探测线,加之金元素的K系特征X射线Kα1的能量为68.79kev,而我们目前使用的激发源的能量-( Pu能量为11.6KeV--21.7KeV, Am能量为59.5KeV和26.4KeV)远小于68.79kev,它不能激发金元素的K系特征X射线。所以我们只能根据金元素在元素周期表上属于IB族,在这一族中铜、银。按其地球化学特性分类,金属于亲铜元素组和亲银元素组。相应的元素有铜、锌、铅、砷、硒、铋、汞、银、锡、锑、碲、镉、铟等。由于金与亲铜元素组和亲银元素组的地球化学性质相近,在自然界中常以硫化物或复杂硫化物的形式存在,与亲铜元素和亲银元素共生或伴生一起。在金矿床的地球化学晕中,基本上都会有铜、砷、银等亲铜元素和亲银元素的异常晕出现。所以,可以将它们作为勘察金矿床的良好指示。我们可以单独测量一种元素或测量多种元素组合的特征X射线强度来矿化圈定异常,从而达到间接找寻金矿床的目的。有关便用携式X射线荧光仪间接找寻金矿床的应用实例在相关文献中也多有报道。 近年来,随着测量技术和研究水平的不断提高,人们已经注意和初步掌握了利用元素共生关系和共生元素含量比值的变化规律。对野外X射线荧光测量结果的利用不但可以根据不同元素的共生关系来圈定矿化异常,而且可以根据多元素之间的比例关系及其变化特点,结合其他地质条件来判断矿化异常的在平面和剖面范围内的变化趋势,来提高事半功倍的野外找矿效果。要完成这些任务就需要X射线荧光分析工作者、物探工作者和地质工作者的相互结合和共同努力,才能使X射线荧光分析方法的应用和研究水平达到一个新的高度。 野外工作方法 1.在进行野外现场X射线荧光分析工作之前,首先要对测区的基本地质情况有一个基本的了解(包括基本岩石类型及其分布情况、地质构造的发育及分布、矿化蚀变类型、不同元素及元素组合分布特点等等)。在此基础上,再根据地质学基础理论知识,并结合已经掌握的基本地质情况综合考虑,来确定野外现场X射线荧光分析元素及元素组合的种类。 2.仪器工作性能检查和工作状态的调节荧光仪工作性能的好坏,将直接决定最终工作的成败。所以开展工作前,必须保证所使用的X射线荧光仪工作性能稳定正常。并按仪器操作说明书完成测试参数的设置准备工作(完成各种目标元素微分谱的测量、并根据所测目标元素的微分谱来对目标元素的测量道址进行设置等)。 3.工作区测网的布置 与其他物化探方法一样,X射线荧光现场测量也按一定的网度进行工作。由于X射线荧光方法具有现场快速、低成本和X射线穿透深度和作用范围较小的特点,一般都要求加密测网。按常用的计算方法,以成图比例尺分母的1/100(单位是米)为线距的基础上再加密一倍。例如作1 :10000的测量,一般线距为100米,而X射线荧光方法取线距为50米。点距在外围找矿时取5米,异常点加密到1米。详查工作取线距5米—10米,点距0.2米—0.5米.在需要作圈定矿化边界和元素定量(或近似定量)测定时,常采用加密测量,取点距5-10厘米。必要时作多线测量,取线距10厘米。类似于刻槽取样。 具体的测网密度布置,在不同的地质找矿、地质勘探阶段,在不同地区,不同的地质条件下可以不同。均可以按照放射性物探方法或其他物化探方法测网布置要求的基础上进行必要的加密即可。 4.测点上X射线荧光的测量工作 为了保证测量数据的可靠性,所选测点应具有一定的代表性,在测点上除了完成必须的地质工作和其他的测量方法所需的工作外。X射线荧光测量方法有两种:一是直接在所选测点上将探测器放置平稳后进行直接测量,但测量前必须对测量位置的岩石表面进行必要的清理,保证测点表面是新鲜的和较为平整的。以保证整个测量过程中探测器的源样距的一致性。二是用随仪器配置的碎样加工工具,采集有代表性的测点样品进行粉碎到一定粒度后,将样品放在样品杯中放置于探测器的探测窗口上进行测量。这种方法可以提高被测样品的测量精度和数据的可信度。 5.测量数据的整理和相应图件的编制 为了保证测量数据的精确度和准确度,减少统计误差带来的影响。和其他物化探分析方法、放射性测量方法一样必须对测量所获取数据资料进行审核以减少测量误差,保证数据的可信度。提高地质异常解释评价的质量。 根据不同的工作目的,和其他物化探方法、放射性测量方法一样,X射线荧光测量数据可以编绘成各种相应的地质图件。如X射线荧光测量等值线图、X射线荧光强度频率分布直方图、各种勘探工程的X射线荧光测量剖面图等等。野外X射线荧光测量数据的分析和处理方法根据野外地质找矿工作的不同勘查阶段的应用可有所不同,使用便携式X射线荧光仪,基本上可以完成元素的定性、半定量、准定量工作。 X射线荧光分析方法是一种轻便、快速、低成本的分析方法。它可以现场、短期内取得大量分析数据,其成果也具有更好的代表性。虽然测量数据有一定的误差(受野外现场测量条件的影响),只能达到半定量、近似定量(准定量)分析的水平,但是大量测量数据及其分布特点却能真实地反映测量对象在平面或剖面的图像和变化细节,结合其它工作方法进行综合分析,能大幅度提高研究工作的速度和加快地质勘查工作的进程发挥更好的作用。

  • 【原创】能量色散X射线荧光光谱(电源)

    能量色散X射线荧光光谱开关电源能量色散X射线荧光光谱采取脉冲高度剖析器将不同能量的脉冲离开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具备高分别率的光谱仪,分别率较低的便携式光谱仪,和介于两者之间的台式光谱仪。高分别率光谱仪通常采取液氮冷却的半导体探测器,如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分别便携式光谱仪经常采取反比计数器或闪耀计数器为探测器,它们不须要液氮冷却。近年来,采取电致冷的半导体探测器,高分别率谱仪已不必液氮冷却。同步辐射光激起X射线荧光光谱、质子激起X射线荧光光谱、喷射性同位素激起X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采取的是能量色散方法。编纂本段非色散谱仪  非色散谱仪不是采取将不同能量的谱线分别开来,而是通过抉择激起、抉择滤波和抉择探测等方法使测量剖析线而消除其余能量谱线的搅扰,因而个别只实用于测量一些简朴和组成基础固定的样品。假如n1n2,则介质1相关于介质2为光密介质,介质2相关于介质1为光疏介质。关于X射线,个别固体与空气相比都是光疏介质。所以,假如介质1是空气,那么α1α2(图2。20右图),即折射线会倾向界面。假如α1足够小,并使α2=0,此时的掠射角α1称为临界角α临界。当α1α临界时,界面就象镜子一样将入射线整个反射回介质1中,这就是全反射景象。X射线荧光光谱法有如下特征:剖析的元素规模广,从4Be到92U均可测定;   荧光X射线谱线简朴,互相搅扰少,样品不必分别,剖析方法对比简便;   剖析浓度规模较宽,从常量到微量都可剖析。重元素的检测限可达ppm量级,轻元素稍差。待续。。。。。非色散?不是很理解。楼主,你有示意图来介绍一下吗。

  • X射线荧光光谱仪(XRF)、镀层测厚仪专利技术转让,设备OEM

    X荧光光谱仪(XRF)整套技术,含多道分析、电气控制、机械结构和分析软件。可用于成分分析、矿物分析、贵金属分析和镀层测厚分析等。先进独特的光谱处理分析算法(导数法寻峰、卡尔曼滤波重叠峰分离等)和X荧光基体校正方法(FP法)、经验系数法等。详细资料请查看本网站链接[url]http://bbs.instrument.com.cn/topic/2709541[/url]已经和国内多家仪器商家建立合作关系,都已量产销售。联系:邮箱midstone[email=oych1128@126.com]@126.com[/email],腾讯号码 2-6-0-6-6-4-5-6, 手机1-3-9-2656-3756本人不常在线,最好手机短信联系

  • 【分享】X射线产品(SFT/SEA)教料

    =总 论=◆ 1:什么是X射线◆ 2:关于X射线的安全问题◆ 3:关于X射线衍射装置(XRD)和萤光X射线装置(XRF) ◆ 4:关于萤光X射线装置(XRF) ◆ 5:SII产品的概况(过去与现在)◆ 6:关于能量分散方式和波长分散方式的不同点◆ 7:敝公司X射线装置的特长=分论SFT=◆ 8:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的装置构成◆ 9:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的应用领域◆ 10:用萤光X射线进行镀层厚度测定的原理◆ 11:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的主要客户◆ 12:为什么要进行镀层厚度测定(品质管理) ◆ 13:SFT(萤光X射线镀层厚度测定仪)的竞争和市场状况=分论SEA=◆ 14:SEA(萤光X射线仪)的装置构成◆ 15:SEA(萤光X射线仪)产品系列的主要应用 (测定例)◆ 16:用萤光X射线进行组成(浓度)分析的原理◆ 17:SEA(萤光X射线仪)的竞争状况

  • 牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪

    牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪,[color=#333333]牛津仪器是一家世界领先的高科技[/color][color=#333333]系统设备供应商。设计制造的设备可以在原子和分子层面,制造、分析和操控物质,并广泛应用于研究和工业领域为客户提供完美的解决方案。牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪。X射线荧光镀层测厚仪快速可靠的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析,低成本、高效率.牛冿 OXFORD X-strata 920特别适合:PCB行业,电镀行业等做精密无损测试。可测镀金,银,铜,锡,及稀有金属等。[/color][color=#333333][/color][color=#333333]牛津仪器X-Strata 920镀层测厚仪工作性能[/color][color=#333333]1.测量元素范围:钛Ti22---铀U92;2.测量5层(4层镀层+底材层)镀层,同时分析15种元素,自动修正X射线重叠谱线;3.测量精度高、稳定性好,测量结果精确至μin;4.快速无损测量,测量时间短,10秒内得出测量结果;5.可分析固体、溶液;定性、半定量和定量分析;6.进行贵金属检测,如Au karat评价;7.材料鉴别和分类检测,材料和合金元素分析,元素光谱定性分析;8.强大的数据统计、处理功能:平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图,数据分组、X-bar/R图表、直方图;9.结果输出:直接打印或一键导出到PDF、Excel文件;报告包含数据、图像、统计图表、客户信息等;10.测量位置预览功能;高分辨率彩色CCD样品观察系统,标准光学放大倍数为30倍;11.激光对焦和自动对焦功能;单击鼠标,Z轴自动扫描,镭射聚焦;12.拥有NIST认证的标准片;提供全球服务及技术支持。安全性:1.简单用户界面只向日常操作员设定有限的授权2.主管人员可进行系统维护3.系统自动生成操作员的使用记录4.自动锁定功能防止未授权的操作5.Z轴保护传感器6.安全防射线光闸7.样品室门开闭传感器8.X射线锁9.X射线警示灯10.紧急停止按钮11.前面板安全钮和后面板安全锁八、仪器配置:1.X-Strata920测试主机2.联想ThinkCentre计算机(原IBM)------Windows7中文版、SmartLink FP分析软件包3.17吋戴尔Dell液晶显示器4.佳能Canon彩色喷墨打印机[/color][color=#333333][/color]

  • 【转帖】便携全反射X射线荧光分析仪

    转录 请自己 google 搜索 便携全反射X射线荧光分析仪 全反射X射线荧光分析仪 等文章全反射X荧儿(TXRF)分析技术是十多年前才发展起来的多元素同时分析技术,它突出的优点是检出限低(pg、ng/mL 级以下)、用样量少(Μl、ng级)、准确高度(可用内标法)、简便、快速,而且要进行无损分析,成为一种不可替代的全亲的元素分析方法。国际上每两年召开一次TXRF分析技术国际讨论会。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段,在原子谱仪领域内处于领先地位。从整个分析领域看,与质谱仪中的ICP-MS和GDMS、原子吸收谱仪中的ETAAS和EAAS以及中子活化分析NAA等方法相比较,TXRF分析在检出限低、定量性好、用样量少、快速、简便、经济、多元素同时分析等方面有着综合优势。在X荧光谱仪范围内,能谱仪(XRF)和波谱仪(WXRF)在最低检出限、定量性、简便性、准确性、经济性等方面,都明显比TXRF差。在表面分析领域内,尤其在微电子工业的大面积硅片表面质量控制中,TXRF已在国际上得到广泛应用。1. TXRF分析仪工作原理:TXRF利用全反射技术,会使样品荧光的杂散本底比XRF降低约四个量级,从而大大提高了能量分辨率和灵敏率,避免了XRF和WXRF测量中通常遇到的木底增强或减北效应,大大缩减了定量分析的工作量和工作时间,同时提高了测量的精确度。测量系统的最低探测限(MDL)可由公式计算: (2)这里, 是木底计数率,t为测量计数时间,M为被测量元素质量,l代表被测量元素产生的特征峰净计数率,S=I/M就是系统灵敏度,由公式可以看出,提高灵敏底、降低木底计数率、增加计数时间是降低MDL的有效办法。木氏低、灵敏度高正是TXRF方法的长处,因而MDL很低。

  • 汽车和航空业锌镍镀层检测用什么光谱仪好?

    锌镍(ZnNi)是一种高性能的镀层,它通常用于汽车、航空航天和国防工业的部件,如燃料线,紧固件,同轴电缆,连接器,和用于与铝连接钢组件。锌镍镀层具有高电导率和优异的耐蚀性能,即使在恶劣的环境中也表现很好。它作为一个屏障,防止基材被腐蚀。锌镍镀层的性能取决于其厚度和组成(通常为10-15%镍和90-85%锌)。控制镀层的厚度和成分能确保镀件满足其功能要求,而且运行成本最小化。[align=center][img=手持式X射线荧光光谱仪,650,506]http://www.yidekeyi.com/UploadFiles/FCK/2016-02/6359138516297462114281240.jpg[/img][/align][b]德国斯派克手持式X射线荧光光谱仪[/b]可以为铁上锌镍镀层检测提供精确和可重复的结果。[b][url=http://www.yidekeyi.com/]手持式光谱仪[/url][/b]的易用性和耐用性使其成为理想的工具,用于在车间对零部件的进货检验,以及对工艺和质量控制。校准软件的通用性也可实现镀液分析(单一和多元素),保证了镀液成分的快速监测。分析结果几秒钟内在[b]手持式X射线荧光[url=http://www.yidekeyi.com/fxyq.html]光谱仪[/url][/b]的屏幕上显示,现场即可判定一个部件是否合格或是否需要修改电镀工艺,大大提高生产力,并节约了成本。

  • x射线荧光镀层测厚仪辐射问题

    x射线荧光镀层测厚仪辐射问题

    这是仪器图,测试的时候不是全封闭的[img=,533,539]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110131602365972_6501_5389116_3.png!w533x539.jpg[/img]下面这块是空着的[img=,690,656]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2021/10/202110131603259158_972_5389116_3.png!w690x656.jpg[/img]这是原理图,如此相当于X射线照射的时候是在没有挡住的那个地方每次测的时候一个样品三个点,需要人手工挪动,测试时间又很短,一个点15s,也离不了仪器多远好担心辐射问题[img]https://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09509.gif[/img]

  • XRD、XRF看过来!10月14日马尔文X射线技术培训(纳米、多晶、涂层镀层、半导体薄膜测量)

    XRD、XRF看过来!10月14日马尔文X射线技术培训(纳米、多晶、涂层镀层、半导体薄膜测量)

    [font=&][color=#000000]马尔文帕纳科联合仪器信息网将于10月14日举办微观丈量“膜”力无限——X 射线分析技术应用于薄膜测量主题活动,特邀高校资深应用专家及马尔文帕纳科技术专家分享薄膜表征技术与应用干货,全面展示马尔文帕纳科针对薄膜材料测量的解决方案。此外,活动直播间还特别设置了答疑及抽奖多轮福利环节。[/color][/font][b][color=#006600]点击报名 [url=https://www.instrument.com.cn/webinar/meetings/malvernpanalytical2022/]微观丈量 膜力无限——马尔文帕纳科 X 射线分析技术应用于薄膜测量_网络讲堂_仪器信息网 (instrument.com.cn)[/url][/color][/b][font=&][color=#000000][b]背景介绍:[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]薄膜,通常是指形成于基底之上、厚度在一微米或几微米以下的固态材料。薄膜材料广泛应用于不同的工业领域,譬如半导体、光学器件、汽车、新能源等诸多行业。沉积工艺是决定薄膜成分和结构的关键,最终影响薄膜的物性;对薄膜成分、厚度、微结构、取向等关键参数进行测量可以为薄膜沉积工艺的调整和优化提供依据,改善薄膜材料性能。[/color][/font][font=&][color=#000000][/color][/font][font=&][color=#000000][b]活动日程:[/b][/color][/font][table][tr][td=1,1,99]时间[/td][td=1,1,280]环节[/td][td=1,1,256]报告人[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:00-14:10[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]开场致词,公司介绍与薄膜应用概述[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]程伟,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 先进材料行业销售经理[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:10-14:50[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]朱京涛,[/color][color=#000000]同济大学 教授[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]14:50-15:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第一轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制马尔文帕纳科公仔一对[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:00-15:30[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]多晶薄膜应力和织构分析[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]王林,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRD产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:30-15:40[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第二轮抽奖[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]定制午睡枕[/color][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]15:40-16:25[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线衍射及X射线荧光分析技术在半导体薄膜领域的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]钟明光,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 亚太区半导体销售经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:25-16:35[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑、课程评价有礼[/color][/td][td=1,1,261]电脑包、公仔1对[/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:35-16:55[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000][b]X射线荧光光谱在涂层镀层分析中的应用[/b][/color][/td][td=1,1,261][b][color=#000000]熊佳星,[/color][color=#000000]马尔文帕纳科 中国区XRF产品经理[/color][/b][/td][/tr][tr][td=1,1,99][color=#000000]16:55-17:00[/color][/td][td=1,1,280][color=#000000]答疑 & 第三轮抽奖&结束语[/color][/td][td=1,1,261][color=#000000]倍思车载无线充电器[/color][/td][/tr][/table][img=,690,335]https://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2022/10/202210091517508512_6104_5138539_3.png!w690x335.jpg[/img][b][/b][font=&][color=#000000][b]重要内容抢先看:[/b][/color][/font][font=&][color=#000000]【同济大学,朱景涛教授】将分享[b]X衍射仪在纳米多层薄膜表征中的应用[/b],主要采用掠入射X射线反射、X射线衍射、X射线面内散射等测试方法,表征周期、非周期、梯度多层膜,以及膜层厚度、界面宽度、薄膜均匀性、结晶特性、粗糙度等信息;[/color][/font][color=#000000]【马尔文帕纳科中国区,XRD产品经理 王林】将分享X射线衍射法测量[b]多晶薄膜的残余应力和织构分析方法[/b];【马尔文帕纳科亚太区,半导体销售经理 钟明光】将展示马尔文帕纳科在[b]半导体薄膜领域[/b]的专业分析解决方案;【马尔文帕纳科中国区,XRF产品经理 熊佳星】将分享X射线荧光光谱在[b]涂层镀层无损分析[/b]中的应用。[b][color=#336666]专题页面:[url=https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html][font=宋体]https://www.instrument.com.cn/topic/malvernpanalytical.html[/font][/url][/color][/b][/color]

  • 求推荐进口X射线荧光光谱仪

    公司想买台进口的X射线荧光光谱仪,便携式的和台式的都可以推荐。公司主要是环保行业,做危险污染物的处置,购买的设备主要用于测试: 1.水处理车间的生化进水、生化出水、调节池的水,主要是重金属,如As Hg Cr Pb Zn Ni Cd Cu 六价铬等;2.填埋场的固化块或者外来样的等浸出毒性指标:As Hg Cr Pb Zn Ni Cd Cu 六价铬 硫 氯离子等。请各位大侠知道的给予推荐。谢谢大家!

  • 【原创大赛】银饰品表面镀层分析

    【原创大赛】银饰品表面镀层分析

    [align=center][b]银饰品表面镀层分析[/b][/align][align=center]黄成(南京质检NQI)[/align] 银饰品由于其款式丰富,克服了其它贵重珠宝首饰高价格的缺点,价格适中,能够紧跟流行时尚,款式精美,精工细作,受到越来越多的消费者的欢迎。但由于银是一种比较活泼的贵金属,在空气中极易氧化变色,因而越来越多的银饰品通过对其表面进行处理,来达到缓解其氧化变色的目的。 目前,为了使银饰品表面呈现的光泽比纯银饰品更光亮,拥有更好的反光效果,在佩戴过程中不易氧化,通常会采用电镀的方法在其表面镀上一层金属镀层。本文主要通过化学分析,对表面含有镀层的银饰品进行破坏性检测,分析其镀层的主要成分。 在对样品进行破坏性检测之前,先通过X射线荧光光谱法定性分析样品成分,如图一所示。从图一中可以看出,通过X射线荧光光谱法,可以很明显的看到该样品中含有锑(Sb)的荧光光谱,说明样品中含有锑,但X射线荧光光谱法并不能够明确表明锑是最后电镀在纯银的表面,还是存在于纯银中。通过查阅资料,在所有的银矿中,硫锑银矿又称“深红银矿”,常见于铅锌银热液矿床中,往往为热液过程最后形成的矿物,是炼银的[url=https://baike.baidu.com/item/%E7%9F%BF%E7%89%A9%E5%8E%9F%E6%96%99][color=windowtext]矿物原料[/color][/url]之一。这说明,存在含锑的银矿,而在银料提纯过程中,是否会发生锑并没有完全被分离,仍有微量的锑存在?[img=,625,504]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708251453_01_3048281_3.png[/img] 在实验室中,通过对大量银饰品的分析过程中,经常能够发现银饰品中含有锑,为了进一步判断锑是电镀在纯银饰品的表面,起增加银饰品的光亮度,防止其氧化的作用,还是银料中本身就含有的。而在对其成品进行破坏性分析的过程中,并不能准确判断出锑的存在位置。本文通过同一类银饰品的成品和半成品的进行化学检测对比,简单说明了锑的存在位置。 按照GB/T 21198.5的标准流程,对改银饰品的成品和半成品进行处理,并通过电感耦合等离子体光谱仪进行分析,得到该银饰品的分析数据。图二和图三是该银饰品的成品与半成品的ICP-AES分析数据图。从图二中可以看出,在对成品样品进行ICP分析时,和空白试样进行对比,样品能够明显的检测出锑,存在很明显的峰强度。而再对半成品样品进行分析时,和空白试样进行对比,并没有峰强度。图二和图三的分析结果表明,锑(Sb)是在饰品加工完成后,再在表面电镀上的,其目的是增加其银饰品的表面光亮度、防止其氧化。[img=,690,303]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708251454_01_3048281_3.png[/img][img=,690,299]http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/08/201708251455_01_3048281_3.png[/img] 最后,通过对该类银饰品的成品和半成品的进行分析,可以简单判断出锑(Sb)是在半成品的加工完成后,电镀在其表面上,增加银饰品的表面光亮度,防止其在佩戴过程中被氧化,大大提高了银饰品的美观程度和实用程度。

  • 【求助】请教关于钢材镀层的相关RoHS要求,谢谢

    请教: 最近在以EDXRF仪器检测电镀产品时,测出Pb含量在同一零件上不同测点有300~2800PPM不等, (方法:定性半定量 样本:SUM24L快削钢镀Ni 4~6um 表面以酒精擦拭,每个零件测三点),为什么会有如此大之差距,相关对比测试也做过,还是找不到问题所在. 请问: 1.RoHS法规对有电镀层的钢合金件要求Pb含量是多少? (1000?or3500?) 2.X射线是否会穿透镀层感应至基体材料?(曾做过一个试验---取两段原材料SUM24L测其Pb为2800PPM,单独化学镀镍5um,再测带镀层的这两支料Pb为200PPM,是否可以证明X射线未穿透镀层?) 麻烦您指点,期盼回复.谢谢!

  • 转让【原创】二手X射线荧光元素分析仪

    [font=&][size=18px]出售一台日本进口二手荧光元素分析仪 光谱仪,型号为:SEA6000VX,还有一台日本日立品牌 X射线镀层测厚仪 FT110A,有意者请站短获取联系信息,成色如图实物拍摄[/size][/font]

  • 土壤重金属 便携式XRF检测标准

    2016年6月的时候,环保部发布的环保项目承担单位征集中有一个标准是《土壤和沉积物 重金属元素的测定 便携式X射线荧光光谱法》,求问最后的承担单位是哪家?

  • 如何采购便携式土壤重金属分析仪?

    “便携式土壤重金属分析仪” 即便携式X射线荧光测定仪(简称便携式XRF),该仪器在地质矿山、金属与合金分析、玩具及消费品、考古等方面有着广泛的应用,生产销售此类仪器的厂家众多。环保部根据国家重金属污染综合防治“十二五”规划,下达了主要污染物减排专项资金——重金属防控区监测能力建设方案,首次把便携式XRF列入了能力建设的采购名录。作为一种开展土壤、固废重金属快速筛检分析的新仪器,环保部门此前无采购或应用的经历,如何才能保证采购到性价比好的仪器呢? “欲知仪器谁家行,擂台比武见分晓”。敬请链接http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20130707/4836620/index_1.shtml“便携式XRF比武招标记”。

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