自动超声扫描显微镜

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自动超声扫描显微镜相关的厂商

  • 400-878-6829
    帕克(Park)公司的创始人是世界上第一台原子力显微镜发明组的一员,1986年研制了世界首台商用原子力显微镜,一直致力于原子力显微镜技术的开发与应用,帕克(Park)在原子力显微镜的发展过程中一直占有重要的一席之地。本公司作为纳米显微镜和计量技术领域的领导革新者,一直致力于新兴技术的开发。我们的总部遍及中国大陆,宝岛台湾,韩国,美国,日本,新加坡和德国等地,我们为研究领域和工业界提供世界上最精确,最高效的原子力显微镜。我们的团队正在坚持不懈的努力,力求满足全球科学家和工程师们的需求。随着全球显微镜市场的迅速增长,我们将持续创新,不断开发新的系统和功能,确保我们的产品始终得到最有效最快捷的使用!Park产品主要有以下特点: 1.非接触工作模式:全球唯一一家真实实现非接触式测量模式的原子力显微镜厂家,非接触模式使原子力针尖磨损大大降低,延长了探针寿命,提高了测量图像的重复性; 2.高端平板扫描器:所有产品型号均采用的高端平板扫描器,远远优于传统的管式扫描器 3.全球最高的测量精度:Z轴精度可达0.02nm; 4.智能扫描Smartscan:仪器操作极其简单,可实现自动扫描,对操作者无特殊要求,并且有中文操作界面; 5.简单的换针方式:换针非常方便,采用磁拖直接吸上即可,不需调整激光光斑; 6.Park拥有全球最广泛的工作模式:可用于光学,电学,热学,力学,磁学,电化学等方面的研究与测试。
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  • 原FEI公司,2016年被赛默飞世尔科技收购,成为赛默飞材料与结构分析(MSD) 电镜事业部,是显微镜和微量分析解决方案的创新者和供应商。 我们提供扫描电子显微镜SEM,透射电子显微镜TEM和双束-扫描电子显微镜DualBeam?FIB-SEM,结合先进的软件套件,运用最广泛的样本类型,通过将高分辨率成像与物理、元素、化学和电学分析相结合,使客户的问题变成有效可用的数据。更多信息可在公司官网上找到:http://thermofisher.com/EM 或扫描二维码,关注我们的微信公众号
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  • 全国免费销售咨询热线:400-630-7761公司官网:https://www.leica-microsystems.com.cn/徕卡显微系统(Leica Microsystems)是德国著名的光学制造企业。具有160年显微镜制造历史,现主要生产显微镜, 用户遍布世界各地。早期的“Leitz”显微镜和照相机深受用户爱戴, 到1990年徕卡全部产品统一改为“Leica”商标。徕卡公司是目前同业中唯一的集显微镜、图像采集产品、图像分析软件三位一体的显微镜生产企业。公历史及荣誉产品1847年 成立光学研究所 1849年 生产出第一台工业用显微镜 1872年 发明并生产出第一台偏光显微镜 1876年 生产出第一台荧光显微镜 1881年 生产出第一台商用扫描电镜 1887年 生产出第10,000台 1907年 生产出第100,000台 1911年 世界上第一台135照相机 1921年 第一台光学经纬仪 1996年 第一台立体荧光组合 2003年 美国宇航局将徕卡的全自动显微镜随卫星送入太空,实现地面遥控 2005年推出创新的激光显微切割系统:卓越的宽带共聚焦系统。内置活细胞工作站: 2006年组织病理学网络解决方案:徕卡显微系统公司第三次获得“Innovationspreis”(德国商业创新奖): 2007年 徕卡 TCS STED 光学显微镜的超分辨率显微技术超越了极限。 徕卡显微系统公司新成立生物系统部门:推出电子显微镜样本制备的三种新产品 2008年徕卡显微系统公司成为总部设于德国海德堡的欧洲分子生物学实验室 (EMBL) 高级培训中心的创始合作伙伴。徕卡 TCS SP5 X 超连续谱共聚焦显微镜荣获2008年度《科学家》杂志十大创新奖。徕卡显微系统公司凭借 FusionOptics 融合光学技术赢得 PRODEX 奖项,该技术能够形成高分辨率、更大景深、3D效果更佳的图像。推出让神经外科医生看得更清楚、更详细的徕卡 M720 OH5 小巧的神经外科显微镜, 2009年新一代光学显微镜取得独家许可证:Max Planck Innovation 为徕卡显微系统的全新 GSDIM(紧随基态淬灭显微技术的单分子返回)超分辨率技术颁发独家许可证。 2010年远程医疗服务概念奖:徕卡显微系统公司在年度互联世界大会上获得 M2M 价值链金奖,Axeda Corporation 被誉为徕卡获得此奖项的一大助力。Kavo Dental 和徕卡显微系统在牙科显微镜领域开展合作。Frost & Sullivan 公司颁发组织诊断奖:徕卡生物系统公司获得研究和咨询公司 Frost & Sullivan 颁发的北美组织诊断产品战略奖。 2011年学习、分享、贡献。 科学实验室 (Science Lab) 正式上线:徕卡生物系统(努斯洛赫)公司荣获2011年度卓越制造 (MX) 奖:徕卡生物系统公司获得2011年度“客户导向”类别的卓越制造奖。 2012年徕卡显微系统公司总部荣获2012年度卓越制造奖:位于德国韦茨拉尔的徕卡显微系统运营部门由于采用看板管理体系而荣获“物流和运营管理”卓越制造奖。徕卡 GSD 超分辨率显微镜获得三项大奖:《R&D》杂志为卓越技术创新颁发的百大科技研发奖、相关的三项“编辑选择奖”之一、美国杂志《今日显微镜》(Microscopy Today) 颁发的2012度十大创新奖。 2013年徕卡 SR GSD 3D 超分辨率显微镜获奖徕卡生物系统公司和徕卡显微系统公司巩固在巴西的市场地位:收购合作超过25年的经销商 Aotec,推动公司在拉丁美洲的发展。 2014年超分辨率显微镜之父斯特凡黑尔 (Stefan Hell) 荣获诺贝尔奖:斯特凡黑尔因研制出超分辨率荧光显微镜而荣获诺贝尔化学奖。 他与徕卡显微系统公司合作,将该原理转化为第一款商用 STED 显微镜。徕卡 TCS SP8 STED 3X 荣获两大奖项:《科学家》杂志十大创新奖和《R&D》杂志百大科技研发奖均将超分辨率显微镜评定为改变生命科学家工作方式的创新成果之一。日本宇宙航空研究开发机构的宇航员若田光一 (Koichi Wakata) 使用徕卡 DMI6000 B 研究用倒置显微镜在国际空间站进行了活细胞实验。 2015年首台结合光刺激的高压冷冻仪是一项非常精确的技术徕卡显微系统公司收购光学相干断层扫描 (OCT) 公司 Bioptigen: 2016年徕卡显微系统公司独家获得了哥伦比亚大学 SCAPE 生命科学应用显微技术许可证,同时独家获得了伦敦帝国理工学院 (Imperial College) 的斜面显微镜 (OPM) 许可证。徕卡 EZ4 W 教育用体视显微镜获得世界教具联合会 (Worlddidac) 大奖:新的图像注入技术可引导外科医生进行手术:CaptiView 技术可将来自图像导航手术 (IGS) 软件的图像注入显微镜目镜。 2017年全新 SP8 DIVE 系统的推出,徕卡显微系统公司提供了世界上首个可调光谱解决方案,可实现多色、多光子深层组织成像。 徕卡的 DMi8 S 成像解决方案将速度提高了5倍,并将可视区域扩大了1万倍。为获得超分辨率和纳米显微成像而添加的 Infinity TIRF 模块能够以单分子分辨率同时进行多色成像, 由此开启宽视场成像的新篇章。 2018年LIGHTNING 从以前不可见或不可探测的精细结构和细节中提取有价值的图像信息,将传统共焦范围以内和衍射极限以外的成像能力扩展到120纳米。SP8 FALCON(快速寿命对比)系统的寿命对比记录速度比以前的解决方案快10倍。 细胞培养实验室的日常工作实现数字化PAULA(个人自动化实验室助手)有助于加快执行日常细胞培养工作并将结果标准化快速获取阵列断层扫描的高质量连续切片ARTOS 3D ,标志着超薄切片机切片质量和速度的新水平。随着 PROvido 多学科显微镜的推出,徕卡显微系统公司在广泛的外科应用中增强了术中成像能力。 2019年实现 3D 生物学相关样本宽视场成像THUNDER 成像系统使用户能够实时清晰地看到生物学相关模型(例如模式生物、组织切片和 3D 细胞培养物)厚样本内部深处的微小细节。 2020年STELLARIS是一个经彻底重新设计的共聚焦显微镜平台,可与所有徕卡模块(包括FLIM、STED、 DLS和CRS)结合使用。术中光学相干断层扫描(OCT)成像系统EnFocus 2021年Aivia以显微镜中的自动图像分析推动研究工作,强大的人工智能(AI)引导式图像分析与可视化解决方案相结合,助力数据驱动的科学探索。Cell DIVE超多标组织成像分析整体解决方案是基于抗体标记的超多标平台,适用于癌症研究。Emspira 3数码显微镜——启发灵感的简单检查方法该系统荣获2022年红点产品设计大奖, 不仅采用创新的模块化设计,而且提供广泛的配件和照明选项。2022年Mica——徕卡创新推出的多模态显微成像分析中枢,让所有生命科学研究人员都能理解空间环境LAS X Coral Cryo:基于插值的三维目标定位,沿着x轴和y轴对切片进行多层扫描(z-stack)。这些标记可在所有相关窗口中交互式移动具有高精度共聚焦三维目标定位功能的Coral Cryo工作流程解决方案 徕卡很自豪能成为丹纳赫的一员:丹纳赫是全球科学与技术的创新者,我们与丹纳赫在生物技术、诊断和生命科学领域的其他业务共同释放尖端科学和技术的变革潜力,每天改善数十亿人的生活。
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自动超声扫描显微镜相关的仪器

  • AFM5500M II全自动扫描探针显微镜除了配置高精度平板扫描器和各种测量自动化功能,还有两种共享坐标样品台功能。通过多种设备的关联解析,实现了单个设备无法实现的多维缺陷评价和故障解析。主要特点1. AFM自动化测量&bull 通过自动化控制大大提高效率,自动探针安装,自动光轴调整,自动参数优化;&bull 排除人为操作失误导致的测量误差,一键自动测量/处理/分析(提高整体测试效率) 2. 可靠性排除机械原因造成的误差大范围水平扫描采用管型扫描器的原子力显微镜,针对扫描器圆弧运动所产生的曲面,通常通过软件校正方式获得平面数据。但是,用软件校正方式不能完全消除扫描器圆弧运动的影响,图片上经常发生扭曲效果。AFM5500M搭载了全新研发的水平扫描器,可实现不受圆弧运动影响的准确测试。 样品 :硅片上的非晶硅薄膜高精角度测量普通的原子力显微镜所采用的扫描器,在竖直伸缩的时候,会发生弯曲(crosstalk)。这是图像在水平方向产生形貌误差的直接原因。AFM5500M中搭载的全新扫描器,在竖直方向上不会发生弯曲(crosstalk) ,可以得到水平方向没有扭曲影响的正确图像。样品 : 太阳能电池(由于其晶体取向具有对称结构)* 使用AFM5100N(开环控制)时 3. 利用探针评价功能进行探针尖端直径管理4. SIS模式可有效提高数据可靠性 SIS(Sampling Intelligent Scan)样品智能扫描模式只有在需要测量样品形貌和物性信息时才靠近测量点,自动控制探针位置,完全消除对测量不利的水平力,可测量吸附力较大或粗糙的样品,同时可大幅降低对探针的磨损和对样品的损伤,有效提高数据的可靠性。5. 支持机械物性/电磁物性等广泛的物性测量扫描探针显微镜是一种不仅可以测量形貌,还支持各种物性检测的显微镜。AFM5500MⅡ支持可同时获取弹性模量、形变、吸附力和摩擦力等各种机械物性的SIS-ACCESS/SIS-QuantiMech功能、以及导电性、压电分布和表面电位等各种电磁物性测量。6. 新的表面电位势测量模式 AM-KFM/FM-KFM(可用于定量和灵敏度等不同场景)除调幅开尔文力显微镜(AM-KFM)外,AFM5500MⅡ还新增了调频开尔文力显微镜(FM-KFM)。FM-KFM与AM-KFM相比,信号主要来自于探针的尖端,电位检测灵敏度更高,在电位的定量分析上更胜一筹。AM-KFM适用于单一材料间的电位和功函数对比等,FM-KFM适用于测量需要进行精细周期结构和海岛结构量化的复合材料,两种模式通过点击即可自由切换。7. 使用AFM、SEM、CSI等不同显微镜观察同一位置,实现多维度解析通过SEM、AFM、CSI等进行样品的同一位置测试,可以对目标视野进行多维度解析,实现数据的参照对比。日立高新可以提供特有的SEM/AFM/CSI同视野观察,实现联动分析。使用共享样品台进行坐标联动,或通过全新的AFM标记功能,可以在AFM、SEM、CSI之间快速、轻松地锁定同一视野,进一步扩大了联动分析的应用范围。
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  • 超声扫描显微镜 400-860-5168转5919
    1.产品概述:PVA TePla 超声扫描显微镜SAM Premium系列结合了声学显微镜和光学显微镜。它使超声扫描平台与倒置光学显微镜或反射式光学显微镜相结合。SAM Premium系列所使用的技术是以融合了生产和研究技术的核心平台为基础。SAM Premium系列旗下各个系统均具有高产量、高灵活性和宽广的扫描范围等特性。此外,各系统还可以根据客户的要求进行扩展,并用于多样化的应用。2.产品优势:高频和换能器技术:高频和换能器技术可支持各类特定研究和工业应用,其中高频范围可高达400 MHz,并提供5 MHz和400 MHz之间的可选择频率范围。此外,每个换能器都配备了门的自动对焦功能。其特征在于,该系统可通过特殊的音爆高频单元升到1000MHz的声学成像。一直以来,PVA TePla致力于为企业客户及科研单位提供无损检测设备,满足客户要求。目,我们的SAM系列应用于工业域及多个高科技行业,如半导体行业、电子/电气行业等等。3.产品工艺:X和Y方向的扫描范围可以单独自定义,可选择以下扫描范围配置: 250µ m x 250µ m到320mm x 320mm250µ m x 250µ m到502mm x 502mm如HiSA(高速扫描轴)、或动态穿透式扫描等,可实现高性能扫描成像结果。HiSA(高速扫描轴)跟随样品弓形,具有动态聚焦功能。动态穿透式扫描可在25MHz至100MHz的频率范围内使用。
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  • n主要用途:测试被测半导体或者材料领域产品的内部缺陷,如空洞、分层、裂缝、异物等;n优势简介:超声扫描显微镜在失效分析中的优势简介- 液体浸入式扫描超声显微镜,带转动,旋转,倾斜工作台- 主要用于金属零部件检测- 非破坏性、无损检测材料或IC芯片内部结构- 可分层扫描、多层扫描- 噪声低,成像质量高- 可用于测量HIC内部缺陷的位置与尺寸大小 (Hydro Induced Crack)- 可显示材料内部的三维图像- 定制系统:可根据需要定制液体池,扫描范围等- 可检测各种缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞等)n产品特色SAM-SPICA是一款主要用于金属材料缺陷检测高性能声学显微镜,可以对金属材料,塑封集成电路IC、IGBT大功率模组,各型电容、以及铜基板器件进行无损检测,分析器件内部之分层、裂缝、空洞等缺陷。X轴和Y轴均是新型高速线性伺服电机,扫描速度快,同时经久耐用。能对器件作多种扫描模式,如点扫描(A-)、纵剖扫描(B-)、横剖扫描(C-)、多层横剖扫描(X-)等。n主要参数 - 超声波测量探头频率范围 : 1-500MHz - A/D 换能器:500MHz 取样频率, 1GHz带宽 - XY方向扫描速度:1000mm/s - XY方向重复定位精度:±0.5μm - 其余参数都可以定制n产品应用金属方向:Steel, Nonferrous Metal Materials, Founding Materials, Forging, Weld Zone半导体材料方向 : ITO Target, Wafer, Pipe, Plate, Bar, complex Material, Piston test, Flaw detection in Planting, Car Engine, Weld zone
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自动超声扫描显微镜相关的资讯

  • 中国电科超声扫描显微镜填补国内空白
    近日,中国半导体行业协会、中国电子材料行业协会、中国电子专用设备工业协会、中国电子报共同评选出“第四届(2009年度)中国半导体创新产品和技术”36个项目。中国电子科技集团公司第45研究所研发的SSJ-100超声扫描显微镜荣获此奖项。   SSJ-100超声扫描显微镜是一种离线的检测分析设备,在失效分析、工艺过程开发、关键生产工序的监控及小批量产品检测方面有很大的优势,填补了国内空白,并且在各类超声图像的构建与分析、超声发射接收装置、聚焦承片装置等多方面拥有相关专利及自主知识产权的核心技术。该产品可用于各类半导体器件封装如QFN、BGA、FlipChip、CSP、MCM等内部损伤及不连续性等各种缺陷的无损检测及可视化分析,并可用于MEMS的内部无损检测、制造工艺分析以及陶瓷、玻璃、金属、塑料等各种材料的特征、特性分析。相对于X射线的无损检测,超声扫描显微镜可以完整反映器件内部粘接层、填充层、结合层等各方面的内部缺陷,作为无损检测的新一代技术,它拥有不可替代的优势。它以良好的技术支持切实为用户解决问题,在与国外同类产品的竞标中获得了用户的认可,受到了众多用户的好评。该产品不但在技术上成为用户产品生产的可靠保障,而且真正降低了国内用户的生产成本。
  • 360万!清华大学激光共聚焦显微镜和超声扫描显微镜采购项目
    项目编号:清设招第2022123号项目名称:清华大学激光共聚焦显微镜预算金额:160.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量是否允许进口产品投标01激光共聚焦显微镜1套是设备用途介绍 :高精度表面分析,用于微观形貌、微观结构的表征;厚胶光刻显影工艺、刻蚀释放工艺、厚金属剥离工艺等3D形貌观测分析、断层扫描成像分析等,非接触式、无损、快速成像。简要技术指标 :1)具备8英寸及以下基片上3D形貌观测分析、断层扫描成像分析等,非接触式、无损、快速成像和测量功能;2)3D观测方式:共焦光路系统,光源:反射激光和反射LED光源,激光共聚焦模式、彩色成像模式、彩色光学DIC成像,具备光学测量及成像模块,3D观测方式具有白光;明场、暗场及共聚焦;单色共聚焦或多色真彩共聚焦观察方式;3)成像图像X/Y平面分辨率≤0.12µm、Z轴显示分辨率精度≤0.006μm;4)5x,10x,20x,50x,100x均为激光专用复消色差物镜。合同履行期限:交货时间:合同签订后180日内本项目( 不接受 )联合体投标。项目编号:清设招第2022125号项目名称:清华大学超声扫描显微镜预算金额:200.0000000 万元(人民币)采购需求:包号名称数量是否允许进口产品投标01超声扫描显微镜1套是设备用途介绍 :利用材料内部组织因密度不同而对超声波声阻抗、超声波吸收与反射程度产生差异的特点,实现对材料内部缺陷的定性分析,在半导体封装及材料等行业中具有广泛的应用。对器件内部的结构、夹杂物、裂纹、分层、空洞等进行检测,是提供高分辨率无损检测的重要手段。简要技术指标 :1)最大扫描速率≥610mm/s;2)扫描精度:可设置最小扫描步进≤5μm,最大扫描步进≥500μm。合同履行期限:交货时间:合同签订后180日内本项目( 不接受 )联合体投标。
  • 新型扫描隧道显微镜助力材料超快动力学研究
    扫描隧道显微镜 (STM) 基于量子隧穿效应能够以亚埃的纵向精度和真实原子分辨率对样品表面成像。无论是金属还是半导体,甚至到衬底上沉积的有机分子材料,均可直接可视化测量。然而,STM 的时间分辨率仅限于亚毫秒范围,不利于材料超快动力学的研究。 为了克服上述障碍,日本筑波大学的研究人员开发了一种新型 STM 系统,它采用基于激光的泵浦探针方法将时间分辨率从皮秒提高到数十飞秒(ACS Photonics,doi:10.1021/acsphotonics.2c00995)。该系统可以将极短时间尺度内发生的物理现象可视化,例如相变期间原子的重排或电子的快速激发。中红外电场驱动的扫描隧道显微镜系统示意图光泵浦探针法一般经常被用于一些超快现象测试。泵浦激光脉冲首先激发样品,然后经过一段时间延迟后,探测激光脉冲撞击样品并测量其透射率或反射率。测量的时间分辨率仅受激光脉冲持续时间的限制。研究人员将这种方法与电场驱动的 STM 相结合,后者使用载波包络相位控制的光源产生近场,从而在 STM 尖端和样品之间施加瞬时电场,从而捕捉到非平衡状态下的超快动力学现象。团队强调,他们的新型STM显微镜可广泛应用于包括太阳能电池或纳米级电子设备在内的各种各样的材料研究。该研究的主要负责人Hidemi Shigekawa 表示,在凝聚态物质中,动力学通常不是空间均匀的,而是受到原子缺陷等局部结构的强烈影响,这些结构可以在很短的时间内发生变化。在实验中,他们将经过一个近红外 (NIR) 波长范围和 8.1 fs 脉冲宽度的啁啾脉冲放大器后的光束分离,其中一束光束被转换为中红外 (MIR)。 NIR 光束通过一个光学延迟级,并与 MIR 光束以同轴排列,用于泵浦探针测量。它们被聚焦在容纳样品的超高真空室中的 STM 尖端顶点上。为了验证系统性能,研究人员使用 NIR 脉冲光作为激发,MIR 光作为探针进行了时间分辨 STM 测量。碲化钼作为被观察的样品,这是一种过渡金属二硫化物,它具有重要的非平衡动力学。实验结果显示,MIR 电场驱动显微镜(具有高于 30 fs 的增强时间分辨率)在 0 到 1 ps 的时间范围内成功可视化了样品中的光诱导超快非平衡动力学。观察结果与载波动力学相关的能带结构的变化一致。STM 系统还解析了具有原子分辨率的快照图像,可以跟随激发的影响。正如团队主要成员Yusuke Arashida 在新闻稿提到的那样,“虽然我们新型STM的放大倍数不以为奇,但却是在时间分辨率上的一重大进步”。

自动超声扫描显微镜相关的方案

  • 扫描电子显微镜图像系统改造方法
    扫描电子显微镜是观察物质微观表面形貌的主要工具,它主要由真空系统、电子光学系统、图像系统和控制系统组成。现代扫描电子显微镜图像显示系统和控制系统都已经实现PC控制下的数字化,同时增加了图像处理功能,能够容易的与通用软件相结合,方便编辑报告、论文和信息传送。对于早期模拟图像系统和专用计算机控制的数字图像系统的扫描电子显微镜可以通过外接计算机图像采集系统实现模拟图像数字化,或图像系统数字化。什么是模拟图像数字化?就是将获取的图像模拟信号经过模数转换器(ADC)变成数据输入到计算机中存储、显示和处理。根据这种原理制成的图像系统,就是我们常说的被动式图像系统。其优点:采集卡电路简单,价格便宜。缺点:安装、调试困难,因为它需要和扫描电子显微镜的扫描系统同步,所以要改变原扫描电子显微镜内部电路,稍不小心就会造成事故,给扫描电子显微镜带来硬伤。另外,由于不能和扫描电子显微镜扫描真正同步,采集到的图像变形,最为明显的是圆变为椭圆,同时不能实时处理,只有将采集到的图像存储以后进行处理,才可以输出。什么是图像系统数字化?用数字扫描系统替代模拟扫描系统,由此获取的图像信号数据,完全对应电子束扫描点上的样品信息,图像显示分辨率对应电子束在样品上扫描过的行和列的点数,图像扫描和图像显示全数字化。需要说明的是现代数字扫描电子显微镜自定义分辨率值为:1024×1024,这是一个最佳值(从采集速度和分辨率两方面考虑),这和被动式图像系统所谓的图像分辨率不是一个概念。我们称这样的系统为主动式图像系统,国外升级扫描电子显微镜也是采用此种方法。其优点:图像质量高,速度快,不会产生图像变形等问题,安装简单,因为所有扫描电子显微镜都预留有外部图像控制接口,当外部控制信号到来时,内部扫描部分自动被旁路,显示部分被消隐,不需要改变任何内部电路结构。缺点:采集卡电路复杂,成本高。 综述,以上介绍了两种扫描电子显微镜改造图像系统的方法,最主要的区别在于是“被动式图像系统”还是“主动式图像系统”上,其中主动式图像系统是近年来国际上普遍使用的,因为被动式图像系统是一种早期图像数字化过渡产品,所谓的图像分辨率实质上是模拟信号取样点数,并非数字图像分辨率,像质较差,而主动式图像系统标称的分辨率才真正是数字图像分辨率,可以有效提高图像质量。
  • 新型扫描探针显微镜(SPM)和扫描电子显微镜(SEM)关联成像技术介绍
    LiteScope™ 是一种独特的扫描探针显微镜(SPM)。 它设计用于轻松集成到各种扫描电子显微镜(SEM)中。 组合互补的SPM和SEM技术使其能够利用两者的优势。使用LiteScope™ 及其可更换探针系列,可以轻松进行复杂的样品分析,包括表面形貌,机械性能,电性能,化学成分,磁性能等的表征。
  • 显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度测试对比
    显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度是颗粒物清洁度测试两种主要的测试方法,关于两种测试手段的争论目前还在继续,本文主要简单介绍显微镜法清洁度测试与扫描式清洁度测试对比

自动超声扫描显微镜相关的资料

自动超声扫描显微镜相关的论坛

  • 举报抄袭:扫描电子显微镜原理与应用

    参赛帖子:扫描电子显微镜原理与应用http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20150712/5872315/其中50%以上文字内容是抄袭的已发表作品,被抄袭作品《扫描电子显微镜在植物分类学中的应用》-唐晓山、陈燕http://www.docin.com/p-286838250.html第二部分:SEM在植物分类上的应用

  • 【原创】扫描探针显微镜的1234

    1.功能扫描隧道显微镜STM 原子力显微镜AFM自动进针功能 真三维图形处理功能深度和宽度定标功能自动保存扫描参数WINDOWS 9X操作系统的控制软件2.特点整机自动化自动记录参数图象数据定标配图象处理软件3.技术指标分辨率 横向:≥0.1nm 纵向:≥0.01nm;扫描范围 3μm×3μm;18μm×18μm;扫描频率 1Hz~100Hz步进电机及丝杠控制 10nm精度光栅扫描旋转角度 0~360º样品台大小 10x10x10mmD/A精度:16bit,32通道;A/D精度:16bit,10通道偏置电压 0~10V隧道电流预置 0.5nA~10nA图像分辨率 512×512灰度等级 256计算机 优于P42.0G/256M/40G4.整套仪器的其他附件、连接电缆、软件确保仪器正常操作和日常维护,满足基本功能和以上技术参数。

自动超声扫描显微镜相关的耗材

  • 扫描电子显微镜配件
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg扫描电子显微镜配件规格系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 台式扫描电子显微镜配件
    台式扫描电子显微镜配件是为客户提供的欧洲最高性价比扫描电镜,完全改变了动辄百万人民币的电镜价格,它为用户提供低价亚微米和纳米尺度的电子显微镜工具。台式扫描电子显微镜配件特点:具有传统显微镜20倍的分辨率,提供高分辨率成像,非常适合科研人员,工程师获取高质量的亚微米分辨率图像,非常容易使用,用户接受培训10分钟即可独立操作,非常适合材料科学,微电子等领域获取高分辨率图像。台式扫描电子显微镜配件参数放大倍数:24-24000X图像分辨率:高达2048x2048像素空间分辨率:高达30nm样品加载:小于30秒自动样品控制功能超低能耗总重量:55kg台式扫描电子显微镜配件构成系统主要部件:成像模块,17' ' 触摸屏显示器,旋转手柄,真空泵,USB接口驱动光学放大:固定24X放大电学放大:120-24000X可调光学探测:彩色CCD相机电学探测:高灵敏度背散射探测器图像输出格式:JPEG,TIFF, BMP,图像分辨率:456 x 456, 684 x 684, 1024 x 1024 and 2048 x 2048可选数据存储:优盘样品台:计算机控制电动XY台样品容纳大小:直径25mm ,高度30mm样品加载时间:光学成像5s , 电学成像30s减震桌要求:120x75cm 尺寸以上的减震桌
  • 高分辨率扫描探针显微镜配件
    高分辨率扫描探针显微镜配件是欧盟革命性的高分辨率扫描探针显微镜,SPM显微镜, 它具有目前世界上最为紧凑的机构构成,同时可作为扫描探针显微镜和原子力显微镜使用。高分辨率扫描探针显微镜配件有不同类型的纳米定位平台,包括各种扫描位移台,以确保用户大面积扫描样品,扫描探针显微镜具有最佳的多功能性,可提供EFM, MFM, STM, Phase Imaging, CAFM, KPM 等诸多模式供用户使用。 高分辨率扫描探针显微镜配件特色双光学样品观察(正置和倒置)扫描尺度高达 250 μm全自动样品拾取X-Y 扫描尺寸100 x 100μm (高压模式) 10 x 10 μm (低压模式)高电压模式闭环分辨率: 2 nm高电压模式开环分辨率: 0.2 nm闭环线性: 0.1%.Z 方向扫描尺寸:10 μm (高压模式)1 μm (l低压模式)分辨率: 0.16 nm (高压模式), 0.02 nm (低压模式)高分辨率扫描探针显微镜配件特色 适合样品大小: 可容纳不同结构的直径最高达到30mm的样品。扫描探针显微镜控制系统: 数字控制器和模拟反馈系统,具有高分辨率和低噪音的特点。扫描探针显微镜,SPM显微镜采集软多窗口应用的基于Windows 系统开发的软件,控制所有的硬件工作。
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