搜索
我要推广仪器
下载APP
首页
选仪器
耗材配件
找厂商
行业应用
新品首发
资讯
社区
资料
网络讲堂
仪课通
仪器直聘
市场调研
当前位置:
仪器信息网
>
行业主题
>
>
电子元器件
仪器信息网电子元器件专题为您提供2024年最新电子元器件价格报价、厂家品牌的相关信息, 包括电子元器件参数、型号等,不管是国产,还是进口品牌的电子元器件您都可以在这里找到。 除此之外,仪器信息网还免费为您整合电子元器件相关的耗材配件、试剂标物,还有电子元器件相关的最新资讯、资料,以及电子元器件相关的解决方案。
电子元器件相关的方案
可程式恒温恒湿试验箱可为电子元器件做哪些方面的试验
可程式恒温恒湿试验箱用以电子器件电气元器件等样品纤维材料的物态变化,测验其原材料承担温湿度性能及其在热涨冷缩里的化学反应或物理学损害,能够确定产品品质,从高精密IC到重型机械设备元器件,无疑是各个领域产品检测不可缺少的环境试验箱。 在电子元器件与整个设备安装设备前,应尽可能清除初期无效的元器件,对元器件进行分类。依据世界各国筛分工作经验,根据合理筛分,可让电子器件总设备故障率减少1-2个量级。因而,不论是军用产品或是民用产品,挑选全是确保稳定性的重要途径。可程式恒温恒湿试验箱是电子元件自然环境可靠性测试的不二之选。
电子元器件检测实验室专业测试仪器设备解决方案
在电子电路中,除了接触最多的电子元器件( 例如电阻,电感,电容,二极管,三极管,集成电路等) 以外,还有其他常用电子元器件,如电声器件,开关及接插件等。电子元器件的检测是家电维修的一项基本功,安防行业很多工程维护维修技术也实际是来自于家电的维护维修技术,或是借鉴或同质。如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。Delta德尔塔仪器专业为电子元器件的检测提供整套测试仪器,我们可以各类电子、电器制造厂商提供一下检验测试项目的专业仪器设备:集成电路测试:成品测试、老化筛选、失效分析等;破坏性物理分析:外部目检、X射线检查、粒子噪声(PIND)试验、密封性试验、内部气体成分分析、内部目检、内引线键合强度、扫描电镜、芯片剪切强度;可靠性寿命和老化筛选:老化筛选试验、稳态寿命试验、加速寿命试验、可靠性强化试验;环境试验:正弦振动、随机振动、机械冲击、碰撞(或连续冲击)、恒定加速度、跌落、出点动态监测、温度-振动-湿热三应力试验、高低温低气压、温度循环、热冲击、耐湿、高压蒸煮、盐雾或循环盐雾、霉菌、淋雨、气体腐蚀、沙尘、热真空、强加速稳态湿热(HAST);物理性试验:物理尺寸、耐溶剂性、引出端强度、可焊性、耐焊接热、封盖扭矩、镀层厚度、阻燃性试验。电子元器件测试仪器应用测试产品类型:半导体集成电路、混合集成电路、微波电路及组件、半导体分立器件、真空电子器件、光电子器件、通用元件、机电元件及组件、特种元件、外壳、电子功能材料及专用设备等。诸如安规继电器、电动器热保护器、压缩机用电动机热保护器、压力敏感电自动控制器、定时器和定时开关、电动水阀、温度敏感控制器、热断路器、电动用起动继电器、湿度敏感控制器、安规电容器、陶瓷电容器、贴片电容、交流电动机电容器、微波炉电容器、电磁炉用高压电容器、小型熔断器、电磁发热线圈盘、高压变压器、高压熔断器等元器件进行各项指标合格性测试。
电子元器件整机外罩水蒸气透过率测试方法
电子元器件对周围水蒸气含量要求严格,因此用于其外壳的整机外罩应具有很高的阻湿性,防止电子元器件出现老化等质量问题。本文利用Labthink兰光自主研发制造的C390H水蒸气透过率测试系统对整机外罩样品进行水蒸气透过率测试,通过详细介绍设备测试方法、测试原理及试验过程,为相关电子器件生产企业严控外壳阻湿性提供有效的监控方案。
元器件电工电子产品的模拟短持续时间的脉冲作用
本标准规定了元器件、设备和其他电工电子产品的正弦拍频振动试验方法,因为这些元器件、设备和其他电工电子产品在使用中会经受到诸如地震、爆炸现象或机器振动所引起的短持续时间的脉冲和振荡力的作用。
电子元器件高温高湿储存测试方法
属气候模拟箱,适用于检测各种产品、各种材料或电器、仪器、仪表、电子元器件的在高温、低温或湿热环境下的可靠性、适应性指标的设备。
模块化检漏仪应用于电子元器件检漏系统
上海伯东某生产氦气检漏系统公司, 其研发的小型氦检漏系统内部集成伯东 Pfeiffer 检漏模块 ASI 35 用于电子元器件检漏. 真空模式下, 漏率 5x10-7 mbar l/s.
欧盟RoHS指令系列讲座(一)——手机中电子元器件样品的前处理方法(含图片)
RoHS 代表了"Restriction of Hazardous Substances".(限制有害物质)。它是欧共体的指令在输入欧洲的电子元器件中限制使用6种有害的物质。指令将在2006年7月1日生效。 随着生活的发展,手机已经成为了生活中不可或缺的必备品,而且手机市场上更新换代产品也非常的迅速。对于手机中的电路板,电池,液晶屏幕,键盘,液晶屏的发射板都属于按照欧盟RoHS指令需要检测的部分。 德国Fritsch公司的作为RoHS的先驱者,已于2004年6月开始在部分手机生产商中推荐使用了德国Fritsch公司的研磨机/球磨机系列产品,并获得了非常满意的效果。 本文给出了德国Fritsch公司协助手机生产商使用德国Fritsch公司的系列研磨机/球磨机,对手机中的电子元器件,包括:手机中的电路板,电池,液晶屏幕,键盘,液晶屏的发射板等样品粉碎前后的对比图片。 如果您需要详细的手机电子元器件样品前处理实验方法及说明性的研磨测试报告,欢迎您来电话与北京飞驰科学仪器有限公司取得联系。
高低温试验箱对火箭元器件做可靠性检测方案
在所有可靠性测试中,温度和湿度是影响航天火箭元器件和元器件最严重的气候环境,是火箭环境适应性设计和验证的基础和依据。其中,火箭多个系统存在电子元器件,实践表明,火箭电子元器件的质量和可靠性是影响航天运载火箭高可靠性的关键因素之一。实现元器件的高可靠性是航天事业发展的需要。为了适应国防现代化,火箭设备和系统的复杂性不断提高,使用的元器件数量也在增加。根据可靠性理论,构成系统的元器件越多,元器件的可靠性就越低。
EPMA分析电子元器件用电解铜箔表面微缺陷
在5G电子和新能源领域,铜箔是重要的基础材料之一。本文使用岛津电子探针EPMA分析了电子元器件用电解铜箔表面微小缺陷,测试到腐蚀性元素S、氧化腐蚀产物O及微量元素Al,微观形貌显示有点腐蚀特征。结果显示,岛津电子探针在微量元素解析和超轻元素测试的灵敏度方面有着独特的优势。
电子元器件高低温循环测试方法
高低温循环测试(又名高低温循环试验、高低温试验等)主要是针对于电工、电子产品,以及其原器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验。
LUMiFrac在电器元器件焊接强度测量中的应用
本文选取了4种PP箔上的微芯片来进行试验,由于PP箔非常软,容易变形,因此需要先对样品预处理,在样品背后粘结铝制支撑板,支撑板的作用是阻止样品变形,以得到真实的强度结果。验证LUMiFrac在微型电器元器件焊接强度测量中的应用。
引脚元器件共面性测试仪
本仪器采用强大的测量软件,能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓和表面形状,1、元器件共面性测试、引脚移位检测、引脚高度错误检测、引脚面积测量、直径、角度、不规则面积测量、手轮可调节光栅、非刺眼型光源、高精度XZ轴测距、SPC过程统计
inTEST 热流仪半导体元器件高低温测试
半导体器件 semiconductor device, 是导电性介于良导电体与绝缘体之间, 利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件, 可用来产生, 控制, 接收, 变换, 放大信号和进行能量转换.
电子及电子元器件耐盐雾腐蚀的试验方法
1目的确定元件耐盐雾腐蚀的能力。盐雾腐蚀试验结果与其他介质(包括海洋大气及海水)腐蚀结果之间很少有直接关系。但是,如果现场使用与实验室盐雾试验的累积数据表明的确存在相关关系(例如铝合金),则盐雾试验可以为某些试验样品在海上及沿海地区的使用性能提供有用的数据。这些样品所用金属应相同或性质极为相近或具有防护层。盐雾试验可以用来评定金属或非金属防护层的质量和均匀性。试验如果试验前试验箱(室)已停止使用五天以上,则应空箱测试24h,以便在确定温度与沉降率符合试验要求后才开始试验。当工作空间的温度稳定在(35士2) C时即可喷雾。试验应连续进行,试验时间由有关标准从2.4中选取。喷雾期间,每24h至少测量一次盐雾沉降率和收集液的pH值。
氦质谱检漏仪电子元件检漏
电子元器件又称电子元件是各类机械设备,仪器仪表的重要组成部分。常见的电子元器件类型包含:电阻、电容器、机电元件、连接器、半导体器件、光电器件、传感器、集成电路等等。上海伯东 Pfeiffer 氦质谱检漏仪现已大量应用于电子元器件生产企业,本文主要介绍电子元器件领域光子型探测器和光探测器的检漏方法。
电子元器件防静电气泡袋水蒸气透过率测试方法
用于包装电子元件的防静电气泡袋应具有良好的防潮作用,因此需严格控制气泡袋的阻湿性。本文利用W3/031水蒸气透过率测试仪对防静电气泡袋样品进行水蒸气透过率测试,并详述了设备适用范围、测试原理及试验过程,从而为企业有效验证防静电气泡袋对外界湿气的阻隔性提供参考。
电子计步器件的高低温湿热试验方案
计步器件是一种计量工具,用以计算热量或能量消耗,在GBT2423.3-2016标准下,也有对电子计步器件的生活环境测试方法,下面我们就来看看这其中的高低温湿热试验箱的测试标准是怎样的。 电子计步器件的高低温湿热实验,需要使用有关实验设备去完成,高低温湿热试验箱内便是其中一种,该设备能做持续高温、超低温、湿热试验,符合实际电子计步器件的环境试验规定。
高低温循环交变试验箱在电子行业是做什么用的
高低温循环交变试验箱在电子行业的应用广泛,主要用于电子元器件测试、电子产品可靠性测试和新能源电池测试。这种设备可以提高产品质量和可靠性,降低生产成本,推动产业发展。
电子电工高温低温试验方法可程式高低温试验箱
高低温交变湿热试验箱属气候模拟箱,适用于检测各种产品、各种材料或电器、仪器、仪表、电子元器件的在高温、低温或湿热环境下的可靠性、适应性指标的设备。
飞纳电镜和离子研磨仪在元器件封装失效分析的案例分享
器件焊线连接芯片和引脚,连接芯片一端,一般为第一焊点(DB 代称),另一端连接金属框架引脚(WB 代称),这两处的焊接性能是封装失效分析重点关注的部分,下面就以此案例,分享一些器件封装失效分析的小知识,小编抛砖引玉,大家相互交流学习。
应用分享 | 异形器件的失效分析测试方案之原位XPS+AES
失效分析(Failure Analysis)是探究元器件失效根源的重要手段,旨在为元器件设计、工艺、制造等流程提供改进方向,从而提升产品良率和可靠性。
岛津电子探针专有特色晶体测试电子电气材料中的卤素溴
卤素溴是电子电气产品及元器件中作为阻燃剂的一种广泛应用的元素,其特征X射线与材质中的元素铝容易产生峰位的干扰。本文讨论了这种元素之间信号的相互影响给测试结果带来的假象和误差,以及解析、确认及排除干扰的方法,以获得较为准确的测试结果。
充氮烘箱电子元器件耐老化试验
高温充氮烘箱,箱内风道采用双循环系统,不锈钢多翼式离心风轮及循环风道组成,置于箱体背部的电加热器热量通过侧面风道向前排出,经过干燥物后再被背部的离心风轮吸入,形成合理的风道,能使热空气充分对流,使箱内温度大限度达到均匀。提高了空气流量加热的能力,大幅改善了干燥箱的温度均匀性。适合电机、通讯、五金、化工、运动器材、印刷、制药、鞋业、汽车零配件等工业之烘烤、干燥、预热回火、老化等用途。
电池/电子元器件测试的高低温(湿热)环境试验箱
为了保证整批部件的可靠性,满足整机的要求,在使用条件下,有必要将早期可能出现故障的部件拆除。宏展针对电池的可靠性试验和滥用测试提供了具有安全特性的试验箱,每一台环境试验箱的设计都考虑了安全性,针对不同危险级别为试验箱针对性的设计了安全性能。
电子元器件恒温试验方法高低温恒温恒湿试验箱
恒温试验箱是一种用于对物体进行恒温条件下的测试和实验的设备。主要用于工业、科研、医药等领域。它能够精确控制试验箱内的温度,使其保持在设定的恒定温度范围内。
电子产品温湿度循环测试方法高低温试验箱
高低温交变湿热试验箱属气候模拟箱,适用于检测各种产品、各种材料或电器、仪器、仪表、电子元器件的在高温、低温或湿热环境下的可靠性、适应性指标的设备。
电子产品高温低温可靠性测试方法高低温环境试验箱
高低温交变湿热试验箱属气候模拟箱,适用于检测各种产品、各种材料或电器、仪器、仪表、电子元器件的在高温、低温或湿热环境下的可靠性、适应性指标的设备。
电子零配件高低温测试方法冷热冲击试验箱
适用于金属、塑料、橡胶、电子机电产品、航空航天、能源材料、医疗化工等材料行业模拟试件在周围大气温度急剧变化条件下的适应性试验及对电子元器件的安全性测试提供可靠性试验
电工电子产品环境可靠性试验方法高温低温试验箱
确定电子元器件、设备在低温条件下能否正常启动和工作。在低温作用后是否有机械损坏和电参数的变化及保持性能的能力,以及在低温储存条件下保持性能的能力,主要是要电参数发生变化、材料变脆,润滑性能下降及尺寸发生变化等。
冷热冲击试验箱测试电子元器件方法
实际上冷热冲击试验箱作为进行冷热冲击试验的一种工具,应用在产品研制的不同阶段时的目的是不同的:1、工程研制阶段可用于发现产品的设计和工艺缺陷;2、产品定型或设计鉴定和批产阶段验收决策提供依据;3、作为环境应力筛选应用时,目的是剔除产品的早期故障。
相关专题
半导体材料、器件与设备
滨松“微型化”光电元器件产品专题
第六届电子显微学网络会议来袭
电子显微镜导购专刊
2016年全国电子显微学学术年会
2023年第十四届光电子产业博览会
赛多利斯称重新纪元盛大开启
iCEM2016第二届电镜网络会议
2019年全国电子显微学学术年会
2018年全国电子显微学学术年会
厂商最新方案
相关厂商
电子元器件现货代理分销
深圳市安芯易电子有限公司
东莞市科牌电子科技有限公司
河南锐天电子技术有限公司
上海幂方电子科技有限公司
深圳市航智精密电子有限公司
湖南纳昇电子科技有限公司
杭州代越电子科技有限公司
芬德电子
深圳市天宏测电子科技有限公司
相关资料
电子元器件知识-电容
电子元器件测试方案
电子元器件识别
电子课件——电子元器件失效分析技术与案例
电子课件——电子元器件识别(含图片)
电子元器件【PPT】课件
电子元器件失效分析
电子元器件识别(含图片)课件
电子元器件环境应力筛选
GB/T1772电子元器件失效率试验方法