红外扫描成份分析仪

坚固耐用、体积小巧的Thermo Scientific™ Gemini™ 分析仪可满足公安、安检及现场应急人员严苛要求，从而帮助操作人员快速、安全和充满自信地执行任务。配置文件在进入危险区前，通过设置“配置文件”（Profiles），用户可以根据需要分析的物质情况和自身的知识和经验来定制扫描参数。这样可确保操作人员一到达现场即可准备好开始取样。灵活的输入操作人员可使用触摸键盘或电阻式触摸屏轻松地操纵各项功能，即使是佩戴了防护手套。除了拉曼扫描延迟，可调激光功率和其他内置安全功能之外，Gemini 还引入了业界首个傅立叶变换红外扫描延迟，该功能是通过自动的ATR 旋钮实现的。小身材，大智慧Gemini 分析仪使操作人员能迅速地切换分析技术。并且，没有因为减轻重量而删减分析性能，操作人员能比以往更快速地获得可靠的分析信息。双重技术：补充性和验证性拉曼和FTIR 是极有针对性的可靠识别方法，各有优点和局限。将两者结合到单台分析仪上后，操作人员可充分发挥各项技术的优势，从而实现更广泛的化学品识别范围。 清晰的分析结果以Thermo Scientific™ FirstDefender™ 和TruDefender™ 产品系列的性能和可靠性为基础，Gemini分析仪提供了精确并带有颜色代码的分析结果，该结果无需用户解读并提供了第一手的物质应急处置概述。根据这些结果，操作人员可充满信心地迅速开展工作。

GaiaChem近红外高光谱分析仪整合了近红外成像光谱仪和高分辨率近红外光谱相机，采用推扫成像技术，可同时对大量的样品进行光谱和影像的测 量，也可对不同形状的样品进行光谱和影像的测量，提供待测样品的详细的光谱及影像信息以供研究人员进行化学成分、成分品质等的分析。 GaiaChem近红外高光谱分析仪是一个完整的影像光谱工作站，使用者只需要将待检样品放置在标准的样品台上，通过ChemaDAQ软件进行扫描控制，即可实时的进行光谱和影像信息的获取和保存。 GaiaChem近红外高光谱分析仪提供测试的样品的大小从10mm到100mm，可获得30&mu m-300&mu m的空间分辨率；光谱测量范围为：970nm-2500nm（900nm-1700nm），光谱分辨率可达10nm（6nm）。主要应用领域：◆ 农业科学研究，食品品质分析◆ 生命科学研究，脂肪含量分析◆ 医药科学研究，药品品质分析◆ 物质成分鉴别 主要技术规格参数表　GaiaChem-SWIRGaiaChem-NIR操作模式高速推扫型高光谱仪光谱范围(nm)970-2500900-1700光谱分辨率(nm)106光谱通道数256空间像素数(pixels/line)320空间分辨率(&mu m)30-300扫描范围(mm)10-100最大样品尺寸(mm)100× 100× 40(W× L× T)样品扫描速度100 hyperspectral line images/ s (max), corresponding to -3 mm/s with 30 micron pixel -30 mm/s with 300 micron pixel 样品扫描时间(s, 典型)3-10(@320× 320空间像素，256个光谱通道)光源 SPECIM&rsquo s diffused line illumination unit 数据格式 BIL file format, Evince and ENVI compatible 仪器校正光谱校正在出厂时已完成；反射光谱强度校正在每次样品测量时自动完成（比照仪器内部的标准反射板）应用实例：◆ 药品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的不同原料配比的药片的高光谱影像及光谱信息如下图所示，光谱范围为：1000-2500nm，伪彩表示了不同成分的影像信息，可获得256个通道的光谱信息，空间影像信息覆盖了320*430像素，整个采样时间仅需要6秒。 ◆ 农产品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的种子的高光谱影像及光谱信息如下图所示，光谱范围为：1000-2500nm，整个采样时间仅需要11秒。 由于农产品通常都有一定水分含量，在1000-2500nm范围内光源的热效应会造成水分的丢失，所以在这个范围内进行光谱测量时，测量时间显得尤为重要，必须要在尽可能短的时间内进行。GaiaChem在设计上充分考虑到这个因素的影响，通常一个样品的测试时间为十几秒，甚至几秒钟内即可完成，大大降低了光源烘干效应对样品的影响。 GaiaChem近红外高光谱分析仪信号采集及分析软件 ChemaDAQ软件为GaiaChem近红外高光谱分析仪标准的信号采集软件，可进行高光谱影像及光谱数据的采集和简单处理，数据存储格式可被多种第三方专业的数据分析软件调用，如ENVI和Evince数据分析软件，可进行3D图像分析等。

2015年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-s，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上增加了散射近场光学成像和光谱功能（s-SNOM）。实现了同一平台兼具AFM-IR和s-SNOM两种技术。仪器的空间分辨率达到10nm，广泛用于各种聚合物、有机无机复合材料、生物样本、半导体、等离子体、纳米天线等。纳米红外&散射近场光学成像和光谱系统(nanoIR2-s)AFM-IR &s-SNOM l AFM-IR 消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移l s-SNOM使用金属镀层AFM探针代替传统光纤探针来增强和散射样品纳米区域内的光辐射，空间分辨率由AFM针尖的曲率半径决定l 专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度l 最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可l 简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择l 基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：l 纳米热分析模块（nanoTA, SThM）l 洛仑兹接触共振模块（LCR）l 导电原子力显微镜镜（CAFM）l 开尔文电势显微镜（KPFM）l 磁力显微镜（MFM）l 静电力显微镜（EFM）10纳米空间分辨率化学成像和光谱石墨烯等离子体 高分辨率成像 石墨烯表面等离子体的近场相位和振幅成像；优于10nm的光学成像PTFE的nano FTIR光谱显示相干分子振动时域图（上图）,和相应的近场光谱（下左图）。pNTP分子层的近场光谱（图下右）。

产品概述　　SupNIR-1520TM便携式近红外分析仪，也是纺织品纤维成分快速分析仪，采用近红外光谱分析技术进行纺织品成分含量检测，可解决现有方法检测周期长，检测成本高，破坏样品等问题。该仪器简化检验过程，分析准确度高，可用于现场和实验室纺织品成分快速检测。　　SupNIR-1520TM采用全息镀金凹面光栅扫描和高灵敏探测技术，基于光学漫反射方式进行样品分析。仪器可通过外接电脑或者独立工作实现样品分析，不仅可进行定性判别，同时还可进行定量分析，是纺织品检验检测的好帮手。　　仪器配备简洁明了的RIMP分析操作软件，该软件全中文显示、操作简单，将仪器控制、模型维护和数据管理高度集成。该软件支持业内主流化学计量学技术，包括用于定量分析的PLS偏最小二乘回归方法、ANN人工神经网络方法及用于定性分析的SIMCA方法、聚类分析法等。用户可自由地扩展仪器分析功能。RIMP通过数据库实现数据存储、查询、统计和报告，可供用户定制所需要的报表格式输出分析报表，并且支持近红外分析的组网应用。产品特点　　快速　　光学接触式检测，数秒钟内得出检测数据结果；　　无损　　布样无需预处理，样品无损；不使用化学试剂；　　方便　　便携式设计，方便现场和实验室检测；　　仪器一键操作，简单易用。产品获奖自主创新金奖

来自英国OPUS INSTRUMENT公司的Apollo(阿波罗）Apollo(阿波罗）是世界上新一代采用红外短波反射扫描成像技术的专业分析仪器，被广泛用于各种材料的鉴定和分析。www.ast-bj.com我们的用户：英国国家美术馆，荷兰国立博物馆，美国大都会博物馆，古根海姆博物馆, 俄罗斯赫米蒂奇博物馆洛杉矶盖蒂博物馆，日耳曼国家博物馆，美国印第安纳波利斯艺术博物馆Infrared Reflectography红外反射成像技术：“一种非破坏性的无损检测技术，它利用红外线穿透研究对象表层（颜料或漆层），对表层下面的详细纹理细节进行成像，从而获得有关这些研究对象的原始信息。用红外反射扫描成像进行检测，通常会发现研究对象一些在损坏、填充和修饰的细节变化，是一种广泛应用的红外成像技术。Apollo(阿波罗)是红外反射成像的新标准。 在世界闻名的Osiris扫描系统的基础上，Apollo（阿波罗）使用先进的内部扫描机构和红外面阵列传感器生成高质量，高对比度，分辨率达到5100×5100的红外反射图像，其图像清晰度和细节展现无与伦比。拍摄大画幅壁画和油画，唐卡作品，图像不需要后期繁琐软件处理。 Apollo红外反射成像扫描系统可以用于研究绘画作品的各个方面。不仅可以研究绘画作品的底稿，素描草图和笔迹变化（经过修改或颜料遮盖的原来笔画再现），识别后期修复及补色的微观变化，并且当使用我们提供的滤光片套装时，可以在不同红外波段对底色和颜料进行透射分析。如果您想采集到用于艺术品保护和修复等应用高对比度和高分辨率的红外图像，Apollo（阿波罗）是非常适合您的红外反射成像系统。Apollo无以伦比的优势在于：1. 可以拍摄高达26 Megapixel的图像图片，分辨率5100×5100，传感器像素间距20um微米2. 新款软件控制系统，提供柱状图分析，可以捕捉更多光线暗处的细节。3. 采用卓越的红外面阵列成像传感器，可进行大画幅作品的扫描，提供成像预览，节省您的分析时间。4. 快速捕捉画面，拍摄整幅画作需要5-15分钟5. 先进的冷却系统，减少了成像噪音，提供更高质量的画面。6. 16位图像输出格式可选TIFF和 PNG格式，方便在任何终端设备上进行对比分析。7. 拍摄图像自动拼接功能，解决研究人员后期图像处理的困扰，非常实用。8. 体积紧凑，方便携带，可装入航空旅行箱。

微区X射线荧光光谱分析技术是对不均匀样品、不规则样品、甚至小件样品和包裹物进行高灵敏度的、非破坏性的元素分析方法。M4 TORNADO采用了技术，为各种用户提供了佳的分析性能和方便的操控性。 采用多导毛细管聚焦镜，照射光斑小，空间分辨率高。 涡轮增速X-Y-Z样品台，借助放大倍数可变的摄像系统获得的样品影像，可在“飞行中”进行元素分布分析。 通过可选的双X射线光管和多6个滤光片进行灵活的激发。 使用XFlash探测器高速地获取样品图谱，另外，使用多个探测器可以进一步提高测量速度。 基于无标样分析法准确定量分析块状样品，准确分析多层膜样品。 具有便捷进样功能的可抽真空的样品室行业应用：1.地球科学（岩心、岩石、沉淀物、微体化石、年轮等多元素分布成像、行扫描与相序分析。）2.司法鉴定、法医及痕量分析（弹孔射击残留物GSR分析等）3.艺术与考古(对文物进行颜料、色料的成分分析，修复文物)4.生命科学（植入材料扩散材料分析，生物体内的生物矿化，水凝胶质检，树木横断面/叶子/树根年轮）5.材料科学（三元梯度薄膜分析，锂电池正极材料异物分析，水泥钢材腐蚀检验）6.环境科学(土壤重金属、污水污泥重金属分析、空气和城市废物)7.质量控制与故障分析仪（电子和电子部件元素分析，ROHS分析）

Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire NIR，搭载有685nm和784nm两个固态激光器作为近红外波段激发光源，仪器可选配PI模块用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像），也可选配CCD模块，用于传统化学发光成像。同时，仪器还可选配Q模块，加配520nm通道激光器，升级为Sapphire NIR-Q，用于总蛋白染色成像和绿色荧光通道成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时扫描，也可逐通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire NIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。通过选配CCD模块、PI模块和Q模块，仪器应用范围将拓展到化学发光成像、可见光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像）以及总蛋白染色成像等。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

一、 用途：SpectraScan-R是一套专用于离体（ex-situ）根系VIS-NIR波段光谱扫描成像分析的仪器系统，完整植物根系取土后可直接进行可见光近红外高光谱扫描成像分析，还可以进一步经过洗根后扫描成像然后通过专业软件进行根系分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，还可以分析新生根系、根系水分分布、根系生化结构二维时空分布成像等，甚至可以通过高光谱技术二维成像分析根系土壤基质有机碳、水分含量等时空动态变化。功能强大，操作简单，软件可分析植物根系的形态，色彩、分级伸展分析及根系的整体结构分布等等。可广泛应用于植物根系动态、植物表型分析、植物胁迫、土壤生态修复、湿地监测等领域。 二、 原理：SpectraScan-R根系分析系统利用高质量RGB图形扫描仪及高光谱成像系统，获取高分辨率植物根系可见光图像及高分辨率光谱数据，然后通过专业分析软件对根系形态结构、光谱特征、生化组成等进行分析。扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统，并且在扫面板上预留了双光源校准区域。扫描时，扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品，这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响，有效地保证了获取的图像质量。 WinRHIZO软件可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。针对获取的图像，利用插入加密狗解密的软件，同时配合厂家针对扫描仪配置的Scanner.cal校准文件，对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数；利用软件的色彩等级分析功能、高光谱成像分析，还可以对根系RGB、近红外光谱进行分析，从而进行根系存活数量、水分、根系生长和营养状况、土壤基质等方面进行分析研究；利用软件的高级分析功能，还可以对完整的植物根系图像进行根系连接分析（研究根系分支角度、连通性等形态特征）、根系拓扑分析（研究根系连接数量、路径长度）和根系分级伸展分析（记录根系整体等级分布情况）。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。 三、 组成：1、 图像扑捉系统：经过厂家调试的标准根系扫描设备，匹配专门的光源、具有永久校正特点、根系固定装置等2、 高光谱成像分析单元，对根系及土壤基质进行高光谱成像3、 根系分析系统：基本版 /标准版 /专业版WinRHIZO分析软件4、 电脑（最低配置：Pentium III / 64 MB内存 / 17"显示器）用户自备 光谱扫描设备类型及区别见下表：STD4800LA2400**VIS-NIRNIR描述RGB高质量高速扫描仪RGB多功能、高速扫描面积大的扫描仪400-1000nm波段高光谱扫描成像900-1700nm近红外波段高光谱扫描成像可否在野外使用NNYY是否需要电脑操作YYY分辨率DPI（点/英寸）48002400512x512，或1024x，可选配更高分辨率640x扫描速度较快快330fps670fps最大扫描面积cm21.6x2830x43可局部或任意大小完整根系是否可对土壤基质扫描YY是否适合WinFoliaYY是否适合 WinRHIZOYY是否适合 WinSEEDLEYY是否适合 WinDENDROYY**WinRhizo Pro版本包括蓝色背景板 四、 基本技术指标：1、不同版本WinRhizo主要技术指标：整体参数基本版标准版专业版拟南芥版*总长YesYesYesYes平均直径YesYesYesYes总面积YesYesYesYes总体积YesYesYesYes根尖、分叉和交叠计数YesYesYesYes根直径等级分布参数长度NoYesYesYes面积NoYesYesYes体积NoYesYesYes根尖计数NoYesYesYes* 拟南芥版具有专业版所有功能，另外还可针对拟南芥类植物的细小、交叉根系进行测量 2、VIS-NIR光谱扫描成像分析：1) 高光谱扫描成像分析波段：400-1000nm（标配），可选配900-1700nm或1000-2500nm短波红外波段2) 智能一体式高光谱扫描成像技术（标配），内置自动推扫系统、取景器相机等，高度便携，集光谱成像数据采集、可视化数据处理、触摸屏与控制键等于一体，采用图形用户界面（GUI）3) 高光谱分析软件采用SAM算法及Savitzky-Golay滤波器技术，可创建类别或分级模型并建立App直接导入高光谱成像仪使用，建议同时选配ENVI软件4) 取景器相机分辨率5Mpix，高光谱成像空间分辨率512x512（标配），可选配1024x或其它分辨率高光谱成像分析5) 4.3”触摸屏、13操作键（标配）6) 光谱分辨率7nm（标配），波段数204（标配）7) 标配视野31度，成像距离15cm至无穷远，1m距离成像视野55x55cm8) 具备默认模式、自动筛选模式、客户定义APP模式及自动时间间隔记录模式9) 根系RGB颜色分析（专业版RGB扫描分析软件）：根的长度、面积、体积、根尖计数、根系存活数量等研究（对根系或者根系附着菌种颜色进行分类，如健康根、浅程度受害根、重程度受害根等，软件可计算每种颜色根系的总长、总表面积、总体积、总根尖数量；每种颜色根系的平均长度、平均表面积、平均直径等）10) 根系连接（link）分析（专业版RGB扫描分析软件）：用于根系分支角度、连通性等形态研究（与拓扑和发育分析最大的区别是，link分析可以针对非完整根系！软件给出的结果有分析对象的根系平均直径、平均长度、平均表面积、每个分叉角度的平均值；分叉的总数量；每个分叉的长度、表面积、平均直径、角度、级别等）11) 根系拓扑（Topology）分析（专业版RGB扫描分析软件）：连接数量、路径长度等研究（需要根系完整）（必须是要完整的根系扫描图像。软件可计算主根的长度、所有次级根的总长度、平均长度、平均直径、平均表面积；每一级分叉的下级总分叉数量；每一级分叉的总数量等）12) 根系发育（Development）分析：记录根系整体等级分布情况（可通过专业版分析软件需要要完整的根系扫描图像。软件可计算每一个分级根系总长、总表面积，平均长度、平均直径、平均表面积等） 五、 产地：客户定制集成技术

PSC公司成立于2004年，2年后其首款产品植物根系X-光扫描成像分析系统RootViz FS面世，并于今年6月获得2006年度美国R&D 100大奖。RootViz FS是在美国能源部创新项目资助下研发成功的一套新型、高效率、高精度、非破坏性的测量系统，用于对盆栽植物的根系进行原位成像分析，可以拍摄根系的立体X-光照片。是继根视系统后植物根系研究领域最激动人心的发明。美国R&D 100大奖被称为"发明界的奥斯卡奖"，RootViz FS刚一面世即获此大奖，足见其影响力之大。这套系统是植物根系研究领域继根视（rhizotron）系统（如加拿大Regent WinRHIZO根系分析系统）后最激动人心的发明。根视系统需要将根取出清洗后，借助扫描仪进行分析，这个过程往往会折断植物的根尖等脆弱部分，而且属于离体分析，不能进行动态监测。而植物根系X-光扫描分析系统是非破坏性的原位分析系统，可以全方位分析植物根系所有部分（包括根尖等），并且可以在植物生长的不同阶段对根系的生长进行长期动态监测。这套系统非常适合于研究植物根系对胁迫的动态响应。根系X-光成像的特性* 高分辨率的X-光立体成像* 进行长期动态监测* 获得原位根系角度信息* 完全可控条件下的生理、病理实验* 大规模快速筛选根系突变株根系X-光扫描成像系统的主要技术参数* X-射线发生器: 25KeV@800uA* X-射线数码相机: 2002 x 2054 CMOS；GdOs Scintillator* 精确的三维调节工作台* 速度：平面图25株/h；立体图15株/h* 范围：最大根长0.6 m；最大高度2.1 m* 分辨率：2002× 2054像素

InGaAs短波红外（SWIR）线扫描相机：SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台，产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列（FPA）和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等，速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 GL2048R通过Medium Camera Link® 接口将SD-OCT成像扫描速率提升到145 klps，而GL2048L是在base Camera Link® 提供76 klps的扫描速率。这些相机分辨率高、稳定性好。相机结构紧凑机身纤薄，它的特点是2048像素InGaAs阵列，像素间距10um，孔径高度210um。在短波红外（SWIR）波长范围0.99到1.65um之间提供高光谱分辨率。具有优越的稳定性、可重复性和长期工作寿命，可用于医学和工业机器视觉。 特点1024 x 1像素阵列，10um像素间距 0.99-1.65um高量子效率 带快照曝光的固态FPA 用于控制曝光和行周期 线扫描0.1到76 klps或10到145 klps以上 高增益时动态范围大于1200:1 四种增益/满井选项 通过CC1外部触发 封装机身129cm3 OEM尺寸35cm3 低功耗3.3W@6-12V 12位base或medium CameraLink® 接口应用 OCT：1.04、1.31、1.55um 强光谱的高分辨率光谱学 硅晶圆或IC显微 运动物体的SWIR机器视觉 热MV成像150oC 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

InGaAs短波红外（SWIR）线扫描相机：SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台，产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列（FPA）和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等，速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 SU1024-LDH2是一款高速1024像素线扫描InGaAs相机，扫描速率可达91911 lps。这一特点可用于1.04μm谱域光学相干层析成像（SD-OCT），瞬间捕获视网膜、神经头和脉络的细致3D体图像。对于1.31μm SD-OCT，基于二极管阵列的OCT系统可为多普勒或偏振灵敏OCT应用提供优越的相位稳定性。LDH2提供12位传输率将数字图像传到Base Camera Link® 接口卡中，最大动态范围可超过2300:1。可选两种像素孔径高度：500μm高度方便SD-OCT系统对准；25μm方形像素，用于高时间分辨机器视觉或PS-OCT。 特点12位对1024像素速率达91911 lpsintegrate-while-read采集 波长响应范围0.8μm~1.7μm，在1.05μm和1.31μm量子效应曲线平坦14位base CameraLink® 兼容输出和控制 高动态范围和量子效率 易于安装到光谱仪 易于安装到光谱仪或MV系统 可选配C和F接口透镜的转接件 应用 SD-OCT 0.8-1.7μm波长范围用于燃烧研究和分子振动带的超快吸收和发光光谱学 用于超高速检测、材料分类筛选的机器视觉、连续过程检测 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

InGaAs短波红外（SWIR）线扫描相机：SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台，产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列（FPA）和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等，速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 SU1024-LDM是一款用于机器视觉的紧凑型高速1024像素线扫描相机，用于通过硅片的高分辨率成像，在IC或太阳能电池进行下一步加工前找到未对准、闭塞或破裂等问题，速率可达45956 lps。LDM提供14位传输率将数字图像传到Base Camera Link® 接口卡中，最大动态范围可超过4500:1。25um孔径相机具有高空间和时间分辨率；可选500um像素高度，它牺牲时间分辨率增加光照成像时的灵敏度。 特点 高动态范围和量子效率 integrate-while-read快照采集 预定义行扫描速率80-45956 lps用户可编程设置 波长响应范围0.8μm~1.7μm 1024 x 25-μm像素间距，孔径高度25或50μm 14位base CameraLink® 兼容输出和控制 易于安装到光学元件和MV系统 可选配C和F接口透镜的转接件应用 检测抛光的硅片晶圆 用于超高速检测、材料分类筛选的机器视觉、连续过程检测，比如食品和农产品筛选 0.8-1.7μm波长范围用于燃烧研究和分子振动带的超快吸收和发光光谱学 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

InGaAs短波红外（SWIR）线扫描相机：SU1024-LDH、SU1024-LDH2、SU1024-LDM、GL2048 Sensors Unlimited基于专利技术的InGaAs平台，产品包括SWIR相机、1维和2维焦平面阵列（FPA）和扩展波长响应的InGaAs成像探头等。线扫描相机可用于高速OCT成像和机器视觉等，速度快、动态范围和量子效率高、设计紧凑、性价比高。 SU1024-LDH线性数字高速InGaAs相机对于1024像素的传输速率超过46000 lps，用于谱域OCT、NIR光谱学和机器视觉。该相机将提供14位数字捕获到base Camera Link® 接口卡，使用线性阵列的LC串联，特点是双扫描、integrate-while-read采集、低噪声、提供这些应用的高动态范围要求。这些相机可选500μm高像素，方便在SD-OCT系统中对准；也可选25μm方形像素，用于高时间分辨机器视觉或PS-OCT。特点波长响应范围：0.8μm~1.7μm25μm像素间距，孔径高度25μm或500μm1024像素阵列对于1024像素超过46000lpsintegrate-while-read采集14位base CameraLink® 兼容输出和控制 高动态范围和量子效率 易于安装到光谱仪可选配C接口、F接口或FD接口透镜的转接件 应用 OCT 机器视觉、连续过程检测800-1700nm波段分子振动带高速光谱学远程通信光纤和波导对准 杭州谱镭光电技术有限公司(HangzhouSPL Photonics Co.,Ltd)是一家专业的光电类科研仪器代理商，致力于服务国内科研院所、高等院校实验室、企业研发部门等。我们代理的产品涉及光电子、激光、光通讯、物理、化学、材料、环保、食品、农业和生物等领域，可广泛应用于教学、科研及产品开发。 我们主要代理的产品有：微型光纤光谱仪、中红外光谱仪、积分球及系统、光谱仪附件、飞秒/皮秒光纤激光器、KHz皮秒固体激光器、超窄线宽光纤激光器、超连续宽带激光器、He-Ne激光器、激光器附件及激光测量仪器、光学元器件、精密机械位移调整架、光纤、光学仪器、光源和太赫兹元器件、高性能大口径瞬态（脉冲）激光波前畸变检测干涉仪（用于流场、波前等分析）、高性能光滑表面缺陷分析仪、大口径近红外平行光管、Semrock公司的高品质生物用滤波片以及Meos公司的光学教学仪器等。 拉曼激光器，量子级联激光器，微型光谱仪，光机械，Oceanoptics，Thorlabs 。。。热线电话： / 传真：+86571 8807 7926网址： /邮箱：

Sapphire 激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器可搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。本产品型号为Sapphire RGB，搭载有488nm、520nm和658nm/685nm（选配）三个固态激光器作为RGB可见荧光波段激发光源，仪器可选配PI模块用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像），也可选配CCD模块，用于传统化学发光成像。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时扫描，也可逐通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGB激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块，用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块，仪器可用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像）。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

Sapphire FL 从分子检测到活体成像是专为应用灵活性研发的终极激光扫描成像系统。基于定制化、用户可自主更换的激光器和滤光片模块，Sapphire FL可轻松满足客户多样化、深入的科研需求。Sapphire FL具有定制化的、用户可自主更换的光学模块，5-1000μm的扫描分辨率，-1.0 至+6 mm的Z轴扫描功能，用于活体成像的5个麻醉输出端口以及化学发光检测模块等。 产品特点应用灵活，兼容多种样本类型：高分辨率成像、超大样品仓设计，支持从分子检测到活体成像样品类型。 定制化，可升级，颠覆传统设计理念：可根据需求选择合适的模块。可轻松替换激光器及滤光片，兼容更多种类的荧光染料。可升级化学发光模块配置。 超宽动态范围（EDR）模式分辨细微表达差异：可将动态范围扩展至24bit，在保证强信号不过饱和的前提下，极大提高同时获取强弱信号的能力。 高灵敏荧光检测：支持常规荧光染料的飞克级检测灵度。助力客户获取高质量的定量数据。 应用Sapphire FL激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片，活体成像等等。仪器支持近红外荧光，可见光，磷屏成像（放射性同位素自显影成像），同时可升级化学发光模块。

前言CoreScanner芯体密度X-光扫描成像与元素分析系统结合了X-射线荧光分析(X-ray Fluorescence)、数字X-射线密度成像（digital x-ray micro radiography）和高分辨率数字光学成像技术，实现多种样芯的非接触式测量，用于土壤、土芯、海洋或湖底的沉积物、岩石、洞穴堆积物（如钟乳石），泥炭块、岩芯等的密度和元素分析。可测量的元素有Al、Si、S、Cl、K、Ca、Cr、Mn、Fe、Cu、Zn、As、Hg、Pb等，其中许多可测至痕量水平以下，对灵敏度和分辨率要求较高的研究尤其适合。系统可应用于土壤分析，环境污染调查、地质勘探、海洋研究等领域。 原理土壤元素分析系统采用XRF、数字X-射线密度成像和高分辨率数字光学成像技术，非破坏性测量，获得样品高分辨率的数码图像，然后利用系统软件对所得图像信息进行分析。系统特点l 结合了XRF、数字X-射线密度成像、数字光学成像技术l X射线荧光分析，提供Al以上的多种元素的浓度数据（Al – U）l 数字X射线密度成像用于样品的高级分析l 可扫描分析土芯等样品l 实现多种元素同时检测l XRF灵敏度达PPM级l 检测效率高，10分钟即可完成1米样品的扫描分析l 稳定，可靠，重现性好l 灵敏度和精确度高l 非接触式分析，不破坏样品l 可超负荷工作，每年可工作几千小时系统组成u X-射线发生器u X-射线管u X-射线安全防护系统u X-光束准直仪u X-射线成像检测系统u XRF元素分析仪u 光学摄像头u 机动样品台及样芯固定装置u U-型样品槽u 2台工作站u 软件及驱动u X-光箔u UPS（不间断电源）u 设备冷却装置技术指标1. 测量原理：X-射线荧光分析、数字X-射线成像技术、高分辨率光学成像技术。2. 分辨率：X-射线：2 扁平光管光束0.2x20mm，其中0.2对应沉积物的长度方向。2 X-射线荧光光束：常规分辨率0.2mm，最高分辨率0.1mm（需定制）2 X-射线成像分析，最高分辨率20μm3. X-射线发生器功率：60 kV，55 mA，最大功率3.3 kW4. X-射线管：铬管或钼管，最大功率2.2 kW（铬管）和3.0 kW（钼管），质保寿命为2000h，期望寿命为3000~5000h。5. X-射线检测器：用于X-射线数字密度成像，含有1000个感应元件，每个感应元件拍摄20μm宽的样品图像，动态范围达数十倍，样品最大成像厚度60mm。6. SDD硅漂移检测器：电子冷却，用于XRF检测，可以记录Al – U的任何元素的标识辐射，5.9 keV时，能量分辨率大约140 eV。单次扫描即可完成所有元素的检测。7. 增强型光学成像单元：3x16bit数字RGB彩色CCD光学摄像头和光学图像信息采集软件，采用正交偏振滤光片技术和眩光降低技术，可以获得非常高的图像质量。摄像头光学分辨率为50μm，以两种模式扫描，快速模式（分辨率200μm）和高分辨率模式（分辨率50μm），扫描图像宽约100mm。8. X-射线防护装置：测量过程中，打开仪器时，X-射线自动关闭。9. 样品台：自动样品台长1800mm，最小步进20μm，温度稳定时重现性好。10. 样品槽：样品槽带手动调节装置，可在据样品横截面中心线的五个不同的固定位置调整。五个位置是：中心，距中心10mm (左和右)，距中心20mm (左和右)。11. 样品大小和形状：2 有效测量长度最长1750mm , 宽度120mm2 劈开的、水平放置的沉积物样品，最大外径可达120mm2 厚板状沉积物样品，厚度1-60mm, 宽度120mm2 U形样品槽2 木材生长锥样品、平板样品或圆盘样品，厚度1-60mm, 宽度120mm2 洞穴堆积物（如钟乳石）样品，厚度1-50mm, 宽度120mm12. 工作站：负责扫描控制及数据处理软件。包括Core Scanner Navigator（扫描控制软件）、Qspec（XRF光谱分析和元素浓度计算软件）、ReDiCore（数据显示软件）及所有其他硬件驱动程序。13. 冷却装置：冷却水泵14. 电源：230v/50Hz/三相，建议配UPS（选配）15. 规格：4500×820×1570mm16. 重量：800kg 深海沉积物样芯，从上到下曲线代表元素的浓度变化：Fe, Ca, K, Si, Al 应用案例一英国海洋中心和南安普顿大学地球化学领域科研人员，将土壤元素分析系统应用于东部地中海沉积泥的研究分析。 应用案例二法国格勒诺布尔阿尔卑斯大学的Kévin Jacq等利用SPECIM高光谱成像技术与CoreScanner样芯元素扫描分析技术对法国布尔吉湖底沉积物样芯进行了分析研究，结果发表于2019年《Science of the Total Environment》（High-resolution prediction of organic matter concentration with hyperspectral imaging on a sediment core）。有机物（OM）含量常用于海洋湖泊沉积分析，以重建不同年代的碳通量等，550 °C 烧失量法（Loss on ignition，LOI）被广泛用于古气候相关研究，但LOI具有费时、费力、对样本有损坏、空间分辨率低（0.5-1cm）等缺点。为建立可靠、准确的模型，以进行高通量、快速、无损、高空间分辨率沉积物样芯成分分析，作者综合运用SPECIM高光谱成像技术、XRF CORESCANNER元素扫描分析技术，并以传统LOI550烧失量法作为参照，对54 cm长沉积样芯进行了分析研究。SWIR短波红外高光谱（1000-2500nm）可以在15分钟内完成样品扫描分析，空间分辨率200 μm。XRF CoreScanner分辨率为 200 μm，采用康普顿（非相干，incoherent）和瑞利（相干，coherent）散射数据的比值（inc/coh）作为有机物的表征量。结果表明，LOI550 参考值与XRF inc/coh 比值及高光谱值均具备显著的相关性，高光谱成像技术可以高通量、非损伤、高空间分辨率分析沉积样芯有机物含量分布。该方法还可转用于自然界的其它样芯分析，如钟乳石、土壤、冰芯、树芯，并可用于推断古环境，古气候，土壤健康和污染等。 产地瑞典选配技术方案l SisuCHEMA高光谱成像分析系统l SisuSCS单样芯高光谱成像扫描分析系统l SisuROCK多样芯高通量高光谱成像扫描分析系统l SpectraScan高光谱成像扫描分析系统部分参考文献列表1) Croudace, I. W., Teasdale, P. A. & Cundy, A. B. 200-year industrial archaeological record preserved in an Isle of Man saltmarsh sediment sequence: Geochemical and radiochronological evidence. Quaternary International 514, 195–203 (2019).2) Ladlow, C., Woodruff, J. D., Cook, T. L., Baranes, H. & Kanamaru, K. A fluvially derived flood deposit dating to the Kamikaze typhoons near Nagasaki, Japan. Nat Hazards 99, 827–841 (2019).3) Gregory, B. R. B., Patterson, R. T., Reinhardt, E. G., Galloway, J. M. & Roe, H. M. An evaluation of methodologies for calibrating Itrax X-ray fluorescence counts with ICP-MS concentration data for discrete sediment samples. Chemical Geology 521, 12–27 (2019).4) López Pérez, A. E., Rey, D., Martins, V., Plaza-Morlote, M. & Rubio, B. Application of multivariate statistical analyses to Itrax core scanner data for the identification of deep-marine sedimentary facies: A case study in the Galician Continental Margin. Quaternary International 514, 152–160 (2019).5) Gopi, K. et al. 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Isotopic and elemental profiling to trace the geographic origins of farmed and wild-caught Asian seabass (Lates calcarifer). Aquaculture 502, 56–62 (2019).11) Peti, L., Gadd, P. S., Hopkins, J. L. & Augustinus, P. C. Itrax μ‐XRF core scanning for rapid tephrostratigraphic analysis: a case study from the Auckland Volcanic Field maar lakes. J. Quaternary Sci. 35, 54–65 (2020).12) Jones, G., Adamopoulos, S., Liziniewicz, M. & Lindeberg, J. Nondestructive Wood Density Testing in Downy Birch and Silver Birch Genetics Field Trial, Southern Sweden. 9.13) Jones, A. F., Turner, J. N., Daly, J. S., Francus, P. & Edwards, R. J. Signal-to-noise ratios, instrument parameters and repeatability of Itrax XRF core scan measurements of floodplain sediments. Quaternary International 514, 44–54 (2019).14) Peti, L. & Augustinus, P. C. Stratigraphy and sedimentology of the Orakei maar lake sediment sequence (Auckland Volcanic Field, New Zealand). Sci. Dril. 25, 47–56 (2019).15) Gregory, B. R. 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Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统是新一代基于激光光源的扫描成像系统，通过其无与伦比的灵敏度、超高的分辨率、宽广的动态范围为客户提供高质量数据。仪器搭载四个固态激光器作为激发光源，国际首创融合PMT、APD和CCD三种检测器于一体，不仅能够进行高灵敏度宽动态范围的RGB荧光成像、近红外NIR荧光成像、磷屏成像（放射性同位素自显影成像），还可进行传统的化学发光成像、凝胶成像和可见光成像等。 产品特点● 强大的多重荧光检测，可同时进行四通道扫描● 宽广的动态范围，动态范围≥6OD● 高分辨率，分辨率可达10微米● 化学发光成像，fg级检测灵敏度● 直观友好的软件操作界面，易于使用● 强大的分析软件，轻松高效地分析多种实验数据 应用Sapphire RGBNIR激光扫描成像系统广泛适用于多种分子生物学实验的结果分析，如荧光Western、In-Cell Western、In-Gel Western、近红外荧光EMSA、蛋白芯片、核酸芯片、二维电泳、DNA凝胶、考马斯亮蓝染色凝胶、荧光组织切片等等。仪器可搭配CCD模块，用于化学发光成像和可见光成像。通过选配PI模块，仪器可用于磷屏成像（放射性同位素自显影成像）。 Sapphire激光扫描成像系统信息由Azure Biosystems（中国）公司为您提供。如您想了解更多Sapphire激光扫描成像系统相关报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

坚固耐用、体积小巧的Thermo Scientific™ Gemini™ 分析仪可满足公安、安检及现场应急人员严苛要求，从而帮助操作人员快速、安全和充满自信地执行任务。配置文件在进入危险区前，通过设置“配置文件”（Profiles），用户可以根据需要分析的物质情况和自身的知识和经验来定制扫描参数。这样可确保操作人员一到达现场即可准备好开始取样。灵活的输入操作人员可使用触摸键盘或电阻式触摸屏轻松地操纵各项功能，即使是佩戴了防护手套。除了拉曼扫描延迟，可调激光功率和其他内置安全功能之外，Gemini 还引入了业界首个傅立叶变换红外扫描延迟，该功能是通过自动的ATR 旋钮实现的。小身材，大智慧Gemini 分析仪使操作人员能迅速地切换分析技术。并且，没有因为减轻重量而删减分析性能，操作人员能比以往更快速地获得可靠的分析信息。双重技术：补充性和验证性拉曼和FTIR 是极有针对性的可靠识别方法，各有优点和局限。将两者结合到单台分析仪上后，操作人员可充分发挥各项技术的优势，从而实现更广泛的化学品识别范围。 清晰的分析结果以Thermo Scientific™ FirstDefender™ 和TruDefender™ 产品系列的性能和可靠性为基础，Gemini分析仪提供了精确并带有颜色代码的分析结果，该结果无需用户解读并提供了第一手的物质应急处置概述。根据这些结果，操作人员可充满信心地迅速开展工作。

Geotek公司介绍：英国Geotek公司是世界上畅销的岩心（岩芯）设备MSCL（Multi Sensor Core Logger岩心（岩芯）综合测试系统，又称多参数岩心（岩芯）扫描仪）的设计者和制造商。世界上几乎每个从事岩心（岩芯）研究工作的实验室（科学研究、工程勘探、石油钻探等）都安装了MSCL，用户超过220个。MSCL性能非常稳定可靠、结实耐用，既适合实验室也适合于野外，已经广泛用于全球各国的岩心（岩芯）库、地质重点实验室、野外临时实验室、海上调查船、深海钻探船和工程船等。Geotek是科学家们用的最多的岩心（岩芯）分析设备。地球上有岩心（岩芯）的地方就有Geotek产品。If a core is worth taking, it' s worth logging....岩心（岩芯）宝贵，数据无价。岩心（岩芯）盒岩心（岩芯）图像矿物成分和元素扫描仪BoxScanBOXSCAN是英国GEOTEK公司生产的专门为岩心（岩芯）库研发的快速多岩心（岩芯）扫描的综合测试系统。BOXSCAN岩心（岩芯）盒岩心（岩芯）图像矿物成分和元素扫描仪专门测量剖开岩心（岩芯），功能强大，该扫描系统是把盒装岩心（岩芯）放置在测量区上静止不动，传感器阵列沿岩心（岩芯）移动进行测量。BOXSCAN可集成下列传感器：1、手持式XRF2、高清光学表面扫描、紫外光成像3、可见光近红外地物光谱4、点状磁化率BOXSCAN各个传感器：一、手持式XRF传感器：OlympusVantaXRF二、高清彩色线性扫描成像子系统（Colour line scan camera imaging system）三、可见光近红外光地物光谱仪（Vis/NIR Spectrometer）四、磁化率Magnetic susceptibility (MS)

结石成分红外光谱分析仪（JP-AJS30）产品简介：检测方法的变革，由手工压片检测变革为结石样品直接检测无需制样，真正意义的新生代结石检测技术变革。全新ATR结石红外光谱自动分析系统能超快速的进行人体泌尿结石成分检测，检测过程不引入传统溴化钾缓冲剂保持结石样品不受污染，检测完成后结石样品可回收再利用。采用天然纯金刚石晶体测试平台，耐磨损耐酸碱腐蚀，保证设备长久耐用。光谱响应范围广，可测定含有水份潮湿结石样品，结石测量区域可选点测试，检测点可为数微米，检测灵敏度高。不需要传统检测样品压片前处理，避免了传统压片法结石样品与溴化钾混合比例不当所导致的光谱图检出困难，样品直接顶压ATR测试平台进行检测，使整个检测过程变得简捷，节省了相关操作技术人员的培养成本，无耗材检测进一步降低结石成分分析项目成本，更有助于人体结石成分分析在临床上的推广和应用。工作原理：结石成分红外光谱分析仪是利用干涉仪干涉调频的工作原理，把光源发出的光经迈克尔逊干涉仪变成干涉光，再让干涉光照射样品，接收器接收到带有样品信息的干涉光，再由计算机软件经傅立叶变换即可获得样品的光谱图。技术特点：1. 患者结石样品直接在ATR晶体平台进行压接分析，不需要额外压片设备辅助制样。2. 测试过程不再使用光谱纯溴化钾耗材，降低分析成本，同时避免引入干扰成份，对分析结果准确性产生影响。3. 降低检测过程制样技术难度，无需进行样品制备，无破坏性，对样品的大小、形状没有特殊要求，将样品直接在ATR晶体平台进行压接分析，即可采集数据，单个结石样品检测分析全过程用时3～5分钟,实现检测报告立等可取的快捷性。4. 无耗材使用,积极响应国家号召降低医用耗材使用成本。5. 清洗快速、便捷，只需移除样品，清洁晶体表面,可实现大批量结石样品连续快速检测分析出报告。6. 可以实现原位测试、实时跟踪，方便结石样本取样实时分析，避免储存，处理过程引入杂质干扰测试结果准确性。7. 在厚样品或强吸收样品分析方面表现出色——非常适用于诸如黑色,红色,深棕色等难分析结石样品检测分析。8. 检测灵敏度高，测量区域小,监测点可为数微米,ATR部件顶部压力机构将待测结石样品与ATR晶体平台充分有效接触保证样品信号检出能力和测试准确性，保证测试结果准确性和重复性。9. 杰出的光路设计，先进的核心光学部件镀膜技术和坚固耐用的单晶片金刚石（钻石）组合应用，可获得质量优质的红外谱图。10. 实时监控：实时在线监控所有光学部件(干涉仪、光源、检测器、分束器)，实时给出主要元器件的电流、电压、温度值，指示出故障问题并指导使用者如何解决故障问题。保证仪器始终处于最佳工作状态，测量谱图更准确可靠。11. 光源：进口高能量、高效率、长寿命光源；带自动休眠功能，提高光源寿命；12. 防潮技术：(1) 密封干燥的光学仓，特殊处理的防潮窗口设计，可以有效抵御外部溶剂和水汽；(2) 分腔式设计，保证各腔体不相互影响，保证腔体密封干燥；(3) 可选择多通道吹扫方式；(4) 易于更换的不锈钢盒装干燥剂；集成的湿度指示剂；(5) 配置湿度软件自动数字显示装置，自动提醒更换干燥剂13. 高稳定的光学系统：光学台一体化设计，整体模具成型，主要部件一次定位，无需后期调整，大幅提高仪器的机械稳定性和长期可靠性。　　14. 高性能的电子系统：最新的24位A/D转换技术，配合原装进口红外检测器，确保数据真实可靠、实时采集和高速传输。15. 高精度的光学系统：一体成型的镀金角镜，角镜匹配一致性好，反射面加大，保证了更高的光通量和高反射率；角镜各面垂直精度高，免粘接不会受到环境温度影响，最大程度提高仪器的稳定性。16. 智能化的保护系统：密闭型干涉仪设计，湿度状况快捷识别，减轻了操作人员对仪器维护的工作量，通过明显的颜色变化提醒用户及时更换干燥剂，解决红外使用过程中最大的隐患。无需开盖便可自行更换干燥剂。17. 多样化的配件选择：附件更换和实验安装过程简单，超大样品仓可方便扩展其它红外附件，如ATR附件、气体池、液体池、偏振附件等。产品参数：光谱范围：7800-350cm-1；分辨率：优于 1cm-1 ；检测器：原装进口红外检测器；分束器：KBr基片镀锗，具有防潮涂层；扫描速度：电脑控制下选择相应的扫描速度；光源：长寿命高强度空气冷却红外光源；信噪比：30000：1 （P-P值，4cm-1 ，1分钟背景及样品扫描）；电源：AC220V/50Hz；外形尺寸：450mm×350mm×210mm；重量：25 kg；数据传输接口：USB 2.0；支持系统：Windows 7、Windows 10。配置清单：

仪器简介：外延片PL谱扫描成像仪用于快速在线检测发光二极管外延片的质量，主要用于发光二极管外延片和芯片生产线．生成高分辨率的图谱和测定薄膜厚度等。本仪器为外延片生产工艺优化控制提供快速可靠的数据反馈．为高效高质量生产提供可靠保证。本成像仪现已成功应用于多条LED外延片生产线上。逐点扫描检测计算机分析计算外延片的积分光强，主波长，峰值波长，光谱半宽等参数以绘图形式显示分布和数据截面分布囤，显示单点光谱显示各个参数的统计结果显示选择范围的各项统计参数可进行局部扫描，并对扫描结果进行去孤立点和去边处理采用白光反射谱测量薄膜厚度并以绘图形式显示分布和数据配备离线数据处理软件本成像仪可靠。结构紧凑。全部检测和数据处理由计算机自动完成。采用用户友好的窗口界面，操作简便。用户仅需最小的培训就可使用。另外可根据不同外延片，选配不同的激光器。技术参数：1 、光致发光样品腔 10x M-Plan镜头颜色修正，波长范围：350-1800nm 工作距离：30.5mm, 20mm FL, z轴可调 系统空间分辨率：10微米(1微米选配) 镜子带孔洞作为激光束及PL信号的通道 Iris光圈用于激光束的调整 可变ND过滤器用于激光能量的控制(99% to 2%) 10毫米孔洞PL信号校准镜头 马达控制的XY台，最大速度30毫米/秒，1微米扫描分辨率 2 & 4外延晶片样品盘 包括高分辨控制器和电缆 2、IG512近红外光谱仪，900-1700nm, 512像素, InGaAs阵列 25um x 500um像素尺寸，14bits, 2.5MHz数字转换器, f/4, 40mm FL 探测范围：900nm全谱，300gr/mm, 1um blaze grating 包括SMA905, 400um多模光纤，1米长 3、EPP2000-VIS(350-1150nm)用于紫外-可见光，衍射光栅光谱仪 f/4, symX-Czerny-turner类型 分辨率：1.6nm (50um狭缝，@600gr/mm grating) 包括2048像素CCD探测器，12bit数字转换器 600gr/mm grating 接口：USB-2&平行 SMA905光纤光学输入，0.22NA，400um多模光纤，1米长主要特点：仪器特点 高品质及中等价位的PL扫描系统(高性价比)； 波长范围宽广(UV-VIS-NIR, 350nm to 2.2um)； 噪声低，高PL信号探测； 设计紧凑，易于调谐； 各种激发激光源可选； 易于发现峰及FWHM；

小动物低温荧光断层扫描成像系统适用于各种研究领域：药物传递、神经生物学、癌症生物学、免疫学、纳米医学等领域研究。可以对细胞簇、孤立器官甚至整个动物进行高分辨率可视化。整体动物连续切片且实时荧光成像也是全球首台，它基于带有现成荧光成像、重建和分析的连续切片，可从 2D 图像提供全面的 3D 荧光和 3D 解剖图像。其他常用的成像方式只能聚焦于亚细胞结构或生成全身或特定区域的低分辨率图像。除了生成 3D 图像外，还可以进行选择性地识别和转移高价值样本切片以进行额外的组织学和成像。弥补MRI和CT的分辨率不足，更好的确定肿瘤位置和大小。冷冻成像的过程中，成像的信噪比会大幅度降低，成像质量和分辨率会大大提升，对于荧光探针的示踪可以做一个很好的补充。特点：1. 整体动物连续切片2. 整体动物3D成像及体内器官成像3. 荧光探针体内定位及定量分析4. 肿瘤位置和大小定位

纺织品纤维成分近红外光谱分析仪符合标准：FZ/T 01144-201FZ/T 01150-2019概述： 纺织品纤维成分近红外光谱分析仪适用于纺织品定性定量检测，设备具备无损、快速、节源、环保、定性、定量兼备等特点。 无损：利用近红外光以透射或漫反射方式直接照射被测样品。近红外光具有一定的穿透力，对样品不具有破坏性。快速：最快可实现单张谱图毫秒级扫描，配合近红外光谱分析模型，可实现定性鉴别以及多组分性质的同时分析。节源：无需消耗品，实现“零”成本检测，同时实现多组分指标同时分析，大幅度节约检测成本，降低检测劳动强度。环保：直接获得表征样品内在品质近红外谱图，无需前处理，避免有毒、有害、高腐蚀性化学试剂使用，杜绝“二次污染”。定性、定量兼备：依托化学计量学建立的定性、定量近红外光谱分析模型实现预测分析，可实现对多种性质组分指标的同时预测分析。技术参数：1、 波长范围：1000nm-2500nm2、 分辨率：1nm、2nm、4nm、8nm、16nm可调3、 波长准确性：≤0.5nm4、 波长重复性：≤0.04nm5、 杂散光：0.1%；6、 信噪比：3000:17、 分析时间：22秒8、 检测指标：定性与定量分析同步完成。9、 分光原理：AOTF(声光可调)，分光部分无机械振动部件，确保仪器光谱稳定可靠。下照试光路设计，样品无接触设计。全自动校准，无需手动校准。10、 检测器：InGaAs高灵敏度铟镓砷检测器。噪声水平5E-511、 光源：5V、5W光源设计，光源寿命10000小时，光源更 换方便，无需专业培训。12、 工作方式：下照试光路设计，样品无接触设计。漫反射检测方式。13、 样品杯：可旋转样品杯设计，同时兼容粉粹样品和整块样品。14、 操控及软件系统：仪器内置计算机。WIN7操作系统、内存4G\固态硬盘64G.自带USB接口与无线网卡，可以实现全部联网功能，数据传输与保存，仪器自我状态诊断，远程操控等操作。15、 数据建模与分析软件：内置电脑包含市场化学计量学建模与分析软件，建模和数据处理软件融为一体，操作简便。软件终生免费升级。软件可完全反控硬件部分，自我诊断并及时提示故障状态。16、 仪器工作环境要求：温度范围：5℃～35℃；湿度范围 5%～85％；17、 产品尺寸：280*220*210mm（L*W*H）。18、 产品重量：6KG。

1、仪器简介差示扫描量热法（DSC）这项技术一直被广泛应用。差示扫描量热仪既是一种例行的质量测试工具，也是一个研究工具。测量的是与材料内部热转变相关的温度、热流的关系。我公司的仪器为热流型差示扫描量热仪，具有重复性好、准确度高的特点，特别适合用于比热的精确测量。该设备易于校准，使用难度低，快速可靠，应用范围非常广，特别是在材料的研发、性能检测与质量控制上。材料的特性，如玻璃化转变温度、冷结晶、相转变、熔融、结晶、产品稳定性、固化/交联、氧化诱导期等，都是差示扫描量热仪的研究领域。我公司有多种类型差示扫描量热仪，客户根据实验参数以及实验需求选择不同的型号。差示扫描量热仪应用范围有: 高分子材料的固化反应温度和热效应、物质相变温度及其热效应测定、高聚物材料的结晶、熔融温度及其热效应测定、高聚物材料的玻璃化转变温度等。不同型号的仪器，测试不同的指标。2、产品特点：2.1全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及更好的基线稳定性仪器主控芯片；2.2仪器可采用双向控制（主机控制、软件控制），界面友好，操作简便；2.3采用 Cortex-M3 内核 ARM 控制器，运算处理速度更快，温度控制更加精准；2.4采用 USB 双向通讯，操作更便捷,采用 7 寸 24bit 色全彩 LCD 触摸屏，界面更友好；2.5采用专业合金传感器，更抗腐蚀，抗氧化；2.6支持中/英文切换。 2.7原始数据保存，分析，分析之后数据保存。 2.8超高灵敏度，源自于更平的基线和更好的信噪比. 2.9支持温度校准，调入基线，多点校准. 2.10试验进行中，可查看实时数据。 2.11支持时间/温度，(热流率 dH/dt)/温度切换。 2.12智能软件可自动记录 DSC 曲线进行数据处理、打印实验报表. 2.13数据支持导出 txt,excel,bmp 图片格式 2.14支持曲线分析，平滑，放大，缩放功能。 2.15支持多曲线打开，便于实验的重复性比较。3、仪器参数：3.1 全新的炉体结构，更好的解析度和分辨率以及基线稳定性；3.2 仪器下位机数据实时传输，界面友好，操作简便。DSCDSC-214DSC-204DSC-404DSC-214HDSC-404HDSC量程0～±600mW温度范围RT~600℃-40℃~-600℃-150℃~-600℃RT~600℃（带降温扫描）-150℃~600℃（带降温扫描）升温速率0.1~100℃/min温度精确度±0.01℃温度准确度0.001℃温度波动±0.01℃温度重复性±0.1℃DSC精确度0.001mWDSC解析度0.001mW工作电源AC220V/50Hz或定制控温方式升温、恒温、降温（全程序自动控制）程序控制可实现六段升温恒温控制，特殊参数可定制曲线扫描升温扫描、降温扫描、曲线扫描气氛控制两路自动切换（仪器自动切换）气体流量0-300mL/min（可定制其它量程）气体压力≤0.55MPa显示方式24bit色7寸LCD触摸屏显示数据接口标准USB接口参数标准配有标准物质（锡），用户可自行矫正温度和热焓仪器热电偶三组热电偶，一组测试样品温度，一组测试内部环境温度，一组炉体过热自检传感器软 件带有温度多点校正功能设备尺寸500*500*300（mm）（长宽高）备注所有技术指标可根据用户需求调整作为现代仪器分析方法的一个重要分支，热分析方法在许多领域中获得了越来越广泛的应用。在经历了一百多年的发展之后，热分析方法已经逐渐发展成为与色谱法、光谱法、质谱法、波谱法等仪器分析方法并驾齐驱的一类重要的分析手段。热分析方法除了可以用来广泛地研究物质的各种转变(如玻璃化转变、固相转变等)和反应(如氧化、分解、还原、交联、成环等反应)之外，还可以被用来确定物质的成分、判断物质的种类、测量热物性参数(如热膨胀系数、比热容、热扩散系数)等。迄今为止，热分析方法已在矿物、金属、石油、食品、医药、化工等与材料相关的领域中获得了广泛的应用。热分析是研究物质的物理过程与化学反应的一种重要的实验技术。这种技术是建立在物质的平衡状态热力学和非平衡状态热力学以及不可逆过程热力学和动力学的理论基础之上的，该方法主要通过精确测定物质的宏观性质如质量、热量、体积等随温度的连续变化关系来研究物质所发生的物理变化和化学变化过程。根据所测量性质的不同，各种热分析技术之间也存在着不同程度的差异，通常根据其测量的性质来对每一种热分析技术进行分类。我国于2008年5月发布并于2008年11月开始实施的国家标准《热分析术语》(GB/T6425—2008)对热分析技术的定义为：“在程序控制温度和一定气氛下，测量物质的某种物理性质与温度或时间关系的一类技术。”由该定义可见，由于所测量的物理性质(如质量、热效应、体积等)多种多样，因此衍生出了不同的热分析技术。根据所测定的物理性质不同, 国际热分析与量热协会(International Confederation for Thermal Analysis and Calorimetry,ICTAC)将现有的热分析技术划分为9类17种，如表1.1所示。表1.1 热分析技术分类物理性质分析技术名称简称物理性质分析技术名称简称质量热重法TGA尺寸热膨胀法DIL等压质量变化测定力学特性热机械分析TMA逸出气体检测EGD动态热机械分析DMA逸出气体分析EGA声学特性热发声法放射热分析热声学法热微粒分析光学特性热光学法温度加热曲线测定电学特性热电学法差热分析DTA磁学特性热磁学法焓差示扫描量热法DSC本章仅对热分析技术的定义和分类进行简要介绍，详细内容见第2章。1.2 热分析技术的特点如前所述，热分析技术主要被用来研究在一定气氛和程序控温作用下，物质的物理性质与温度或时间的变化关系。与其他分析方法相比，热分析技术具有如下特点。1.2.1 热分析技术的优势概括来说，热分析技术的优势主要表现在以下10个方面。1.2.1.1对样品的要求不高，实验时样品用量较少对于大多数固态和液态的物质而言，根据实验需要不做或稍做处理即可进行热分析实验。另外，与其他常规分析方法相比，热分析实验需要的样品量一般较少。随着仪器技术的发展，热分析实验所需要的样品量越来越少。例如,与早期仪器相比, 当前的热重仪可以用来检测质量低至0.1 mg 的样品随温度变化而发生的质量变化， 而几十纳克的样品也可以用来进行量热实验。微量量热实验所需样品的量更少, 如通过微量差示扫描量热实验可用来测定质量体积浓度为1×10-5gML-1的溶液中的相转变行为。与传统分析方法相比, 使用热分析技术分析较少的样品能更真实地反映某些材料的热学特性。例如, 在加热过程中较大试样量存在试样内部与表面之间的温度差。当试样发生分解时，分解产物尤其是气体产物存在一个从内层向外层的扩散过程，在热分析技术中使用较少的试样量则可以更加方便地避免这种影响。图1.1为不同样品质量的低密度线性聚乙烯(LLDPE)的DSC实验曲2°。图1.1表明，在相同的加热速率下，样品的质量对LLDPE熔融峰的形状和位置均产生了不同程度的影响，这种差异是由于样品内部的温度梯度引起的。需要特别指出的是，有时为了与样品的真实加热处理工艺相近，分析时会有意地加入更多的样品量，这样可以更加真实地反映试样在真实环境中的热行为。使用热机械分析仪研究材料在不同温度下的机械性质时，通常需要使用具有规则形状的样品。例如，在ASTM E831-14标准中要求进行静态热机械分析实验时试样的长度应为2~10mm，且平行截面的端部的尺寸误差应在±25μm之内，横向尺寸不得超过10mm，这种尺寸要求仍远低于其他材料试验机对样品的要求。1.2.1.2 灵敏度高作为分析仪器的一个重要分支, 热分析技术具有灵敏度高的特点。一般来说, 灵敏度与仪器待测量的测量范围呈负和关的关系。灵敏度越高, 其量程越窄, 反之亦然。在进行实验时, 应根据研究目的选择具有合适的灵敏度的仪器。例如, 对于热重仪而言, 其灵敏度最高可达0.1μg,但天平的最大称质量一般不超过1g。虽然微量差示扫描量热仪的量热精度最高可达0.02μW, 但共温度范围一般不超过150℃。一些灵敏度高的等温量热仪的温度稳定性最高可达±10-4℃。用于静态热机械分析仪和动态热机械分析仪的力学测量精度最高可达0.001N，而位移的测量精度则可达0.1μm。对于常规热分析仪而言， 其主要采用热电偶测量温度，测温精度一般为±0.1℃。1.2.1.3 可以连续记录所测量的物理量在所选择的实验条件下随温度或时间变化的曲线与通过其他的光学、电学等分析方法测量材料的热性质不同, 通过热分析技术可得到试样的物理性质(如质量、热流、尺寸等)随温度(或时间)的连续变化曲线。由实验得到的曲线可以更加真实地反映材料的物理性质随温度(或时间)的连续变化情况，而通过传统的采用不同温度下等温测量的间歇式实验方法则容易遗漏材料的性质在温度变化过程中的一些重要信息。图1.2为硬脂醇与棕榈酸混合物的DSC加热和冷却曲线。图中硬脂醇的加热曲线仅显示一个吸热峰，起始温度为58.1℃，对应于其从单斜有序的γ相到α旋转相的固-固转变与熔融转变的重叠过程。然而, 硬脂醇的冷却曲线却显示了两个放热峰。第一个放热过程的起始温度为57.8℃，该过程对应于从熔融态到α旋转相的转变过程。该过程的过冷度可以忽略不计，而从γ相到α相的固-固转变则显示出5℃的过冷度。这充分表明通过DSC曲线可以实时记录下物质在温度发生变化时所经历的结构转变过程。1.2.1.4通过温度调制技术可以测量同时发生的两个转变20世纪90年代初，英国学者 M. Reading 最先提出温度调制技术。该技术最早应用于差示扫描量热仪，即温度调制差示扫描量热法(Temperature-Modulated Differential Scanning Calorimetry，TMDSC)。使用该技术可以对两个同时发生的转变进行测量。现在这种技术也可应用于热重分析法和静态热机械分析法中。这两种方法中的温度调制技术与TMDSC有很大的差别，将在本书的相关章节中进行详细的阐述。1.2.1.5 测量温度范围宽当前可以用热分析技术测量最低为8K的极低温下热性质(如比热、热流、热扩散系数、热膨胀系数等)的变化。在高温测量方面，通过一些特殊用途的热分析仪可以测量高达2800℃ 的温度变化。也就是说, 热分析技术可以用来测量-265~2800 ℃范围内的热性质的变化。显然，仅通过一台热分析仪器很难测量如此宽广的温度范围内的性质变化, 研究人员通常通过缩小仪器的工作温度范围来提高仪器的测量精度。例如，高灵敏度的微量差示扫描量热仪的温度测量范围一般为-10~130℃。此外，用来研究高温下材料热分解的热重-差热分析仪或热重-差示扫描量热仪的量热精度也远低于单一功能的差示扫描量热仪。1.2.1.6 温度控制方式灵活多样热分析技术可以在程序控制温度和一定气氛下测量材料的物理性质随温度或时间的变化。在实验过程中，如果试样发生了至少一个从特定的温度(甚至环境温度)到其他指定温度的变化，则在指定温度下进行的等温实验属于热分析的范畴。如果实验仅在室温环境下进行，则该类实验不属于热分析。温度变化(temperature altcration)意味着可以实现预先设定的温度(程序温度)或样品控制温度的任何温度随时间的变化关系。其中,样品控制的温度变化是指利用来自样品的性质变化的反馈信息来控制样品所承受的温度的一种技术。其中，程序控制温度的变化方式主要分为以下几种：①线性升/降温，如图1.3(a)和图1.3(b)所示；②线性升/降温至某一温度后等温，如图1.3(c)和图 1.3(d)所示 ③在某一温度下进行等温实验，如图1.3(e)所示；④步阶升/降温，如图1.3(f)和图1.3(g)所示；⑤)循环升/降温，如图1.3(h)所示；⑥以上几种方式的组合，如图1.3(i)所示。需要说明的是, 以上这些温度变化过程可以通过仪器的控制软件实时记录下来, 这是热分析技术有别于其他分析方法的主要优势之一。1.2.1.7 可以在较短的时间内测量材料的物理性质随时间或温度的变化对于热分析技术而言， 完成一次实验所需时间的长短取决于具体的温度控制程序。日前商品化的热分析仪器的最快升温和降温速率各有不同。例如, 热重仪可以实现的瞬时最快升温速率可以达到2000℃min-1, 最快线性加热速率为 500℃min-1。梅特勒-托利多公司的闪速差示扫描量热仪(Flash DSC)的最快升温速率可以达到 24000000℃min-1，与此相对应，对于一台比较稳定的热分析仪器而言，可以很容易实现低于1℃min-1的温度变化速率。实验时采用的温度变化程序取决于具体的实验需要。对于较慢的温度变化速率而言，其耗时很长。除非特殊的实验需要，在热分析技术的实际应用中很少采用低至2℃min-1的温度变化速率。微量量热法属于例外的情形。对于微量量热法而言, 由于实验时所用的试样(大多为溶液)量较大，因此所采用的加热/降温速率大多十分缓慢。常用的加热/降温速率一般为0.1~1℃min-1，有时还会采用更低的加热/降温速率，如每小时几摄氏度的温度变化速率。1.2.1.8 可以灵活地选择和改变实验气氛对于大多数物质而言，与试样接触的气氛十分重要，使用热分析技术可以比较方便地研究试样在不同的实验气氛下的物理性质随温度或时间的变化信息。气氛一般可以分为静态气氛和动态气氛两种。静态气氛主要指三种类型：①常压气氛，即实验时不通入其他的气体； 高压或低压气氛，即在试样周围充填静态的气氛气体；③真空气氛。动态气氛主要可以分为：①氧化性气氛，如氧气；②还原性气氛，如H2、CH4、CO、C2H4、C2H2等；③惰性气氛，如N2、Ar、He、CO2等；④腐蚀性气氛，如SO2、SO3、NH3、NO2、N2O、HCI、Cl2、Br2等；⑤其他反应性气氛，即在实验时根据需要通入可能与试样或产物发生化学反应的气体。需要说明的是，对于有些过程而言，在③中所列的惰性气氛是相对的，例如，对于大多数物质而言，CO2是惰性气体；而对于一些氧化物如CaO等而言，在一定温度下会与CO2发生反应生成CaCO3。再如，N2在高温下会与一些金属发生反应而形成氮化物。因此，在实际实验中选择实验气氛时，气氛的反应活性应引起足够的重视。实验时，应根据实际需要来灵活选择实验气氛。在现代化的大多数商品化的仪器中，可以通过仪器的控制软件十分灵活地在设定的温度或时间下切换气氛种类及流量。例如，对于一个试样的热分析实验而言，可以在一台配置了质量流量计的仪器上通过其控制软件来方便地实现以下的实验条件：(1)在N2气氛流速为50mLmin-1下，以10℃min-1的加热速率由室温升温至600℃；(2)在等温 30 min 后氮气流速由50mL min-1增加至 100mLmin-1，继续等温30 min (3)以5℃min-1的加热速率升温至800℃，等温30min；(4)实验气氛由N2切换为 70%N2+30%O2(流速为50mLmin-1), 继续等温60min (5)实验气氛再切换至N2，流速为100mLmin-1，等温30min；(6)以10℃min-1的加热速率升温至1000℃.等温30min。1.2.1.9 可以相对方便地得到转变或分解的动力学参数在热分析技术中，通过改变加热/降温速率(一般为3~5个速率)测量材料的物理性质随温度或时间的变化，根据相应的动力学模型可以得到相应的动力学参数(如指前因子A、活化能E。、反应级数或机理函数)。对于等温实验而言，一般通过测量材料在不同温度下(一般为3~5个等温温度)的实验曲线来得到动力学参数。在本书的相关章节中将详细阐述相关的动力学分析方法。1.2.1.10 方便与其他实验方法联用在现代分析方法中，仅通过一种方法得到的信息是有限的，并且实验操作也十分繁琐和耗时，样品的消耗量也较大。另外, 在对由多种方法进行独立实验所得到的结果进行对比时也很难得到相对一致的结论。例如，对试样在高温时分解得到的气体产物进行实时分析时，如果把高温的分解产物富集后再用光谱、色谱或质谱的方法对其进行分析, 由于温度的急剧变化会引起部分产物发生冷凝或进一步的反应, 在此基础上得到的分析结果往往不能反映气体产物的真实信息。如果采用热分析技术与光谱、色谱或质谱等技术进行联用的方法, 则可以实时地对分解产物的浓度和种类变化进行在线分析。图1.4 为由 TG/MS方法得到的CaC2O4H2O在氩气氛下的热分解行为的实验曲线。由该图可见，在110~150℃范围内，在热重曲线上出现了一个约5%的失重过程，图中的MS曲线显示第一阶段中的质量损失是由于H2O(m/z(荷质比)=18)引起的。在第二阶段中主要检测到了一氧化碳(m/z=28)和较少量的二氧化碳(m/z=44)，而在第三阶段中则主要检测到了二氧化碳和少量的一氧化碳。当在氧气中(图1.5)而不是在氩气中加热CaC2O4H2O时，在分解的第二步所对应的过程结束时的质量下降非常明显。这可以归因于CO部分氧化成了二氧化碳，当这一步反应开始时通常会加快第二步的反应速率，由此就会导致在氩气中二氧化碳的量也比一氧化碳的量高。 表1.2中列出了目前可以实现的热分析联用方法，在本书第10章中将阐述这些方法的工作原理及应用领域。表1.2 常用的热分析联用方法联用方式联用方法简称备注同时联用技术热重-差热分析TG-DTATG-DTA和TG-DSC又称同步热分析法，简称STA热重-差示扫描量热法TG-DSC差热分析-热机械分析法DTA-TMA热重-差热分析-热机械分析法TG-DTA-TMA差热分析-X射线衍射联用法DTA-XRD差热分析-热膨胀联用法DTA-DIL显微差示扫描量热法OM-DSC差示扫描量热仪和光学显微镜联用仪，用于物质的结构形态研究光照差示扫描量热法Photo-DSC也称光量热计差示扫描量热-红外光谱联用法DSC-IR差示扫描量热-拉曼光谱联用法DSC-Raman动态热机械-介电分析联用法DMA-DEA由动态热机械分析仪和介电分析仪两个主要部分组成，并由相应的配件和软件连接动态热机械-流变联用法DMA-Rheo串接联用法热重/质谱联用法TG/MS同步热分析/质谱联用法STA/MS热重-红外光谱联用法TG/IR同步热分析/红外光谱联用法STA/IR热重/红外光谱/质谱联用发TG/IR/MS同步热分析/红外光谱/质谱联用法STA/IR/MS间接联用法热重/气相色谱联用法TG/GC同步热分析/气相色谱联用法STA/GC热重/气相色谱/质谱联用法TG/GC/MS同步热分析/气相色谱/质谱联用法STA/GC/MS复合联用法热重/（红外光谱-质谱联用法）TG/(IR-MS)同步热分析/（红外光谱-质谱联用法）STA/(IR-MS)热重/[红外光谱-（气相色谱/质谱联用法）]TG/[IR-(GC/MS)]同步热分析/[红外光谱-（气相色谱/质谱联用法）]STA/[IR-(GC/MS)]注：①间歇联用法可以看做串接联用法中的一种，由于其分析对象为某一温度或时间下的气体产物，且其分析时间较长，故单独将其列为一种联用方法②由于同步热分析目前以一种独立的仪器形式存在，STA与质谱和红外光谱的联用形式通堂归于串接式联用法。1.2.2 热分析方法的局限性以上列举了热分析技术相对其他分析方法的优势，然而热分析技术作为一种唯象的宏观性质测量技术，其本身还存在着一定的局限性。在应用该类方法时，使用者必须清醒地认识到这些局限性，以免在方法选用和数据分析时误入歧途。一般来说，热分析方法主要存在着以下局限性。1.2.2.1 方法缺乏特异性由热分析技术得到的实验曲线一般不具有特异性。例如，在使用差热分析法分析试样的热分解过程时，若一个试样在分解过程中同时伴随着吸热和放热两个相反的热过程，则在最终得到的DTA曲线上有时会只呈现出一个吸热或放热过程，曲线的形状取决于这两个吸热和放热过程的热量的大小。如果吸热过程的热量大于放热过程的热量，则DTA曲线最终会表现为吸热峰，反之放热峰。如果这两个相反的过程不同步，但温度相近，得到的DTA曲线会发生变形，呈现不对称的“肩峰”现象。一般通过改变实验条件或与其他方法联用来克服热分析技术的这一局限性。1.2.2.2 影响因素众多如前所述，在测量材料的物理性质时，在实验中可以改变温度和气氛等实验条件。然而，在实际的实验中，温度的变化方式(加热速率和加热方式)和实验气氛(包括气体种类和流速)等均会对试样在不同温度或时间时的性质变化产生不同程度的影响。此外，试样的状态(如尺寸、形状、规整度等)和用量也对实验曲线有不同程度的影响。值得注意的是，除了以上几种因素之外，在实验时采用的仪器结构类型、热分析技术种类(如热重法、差热分析、热机械分析等)以及不同的操作人员等因素均会给实验结果带来不同程度的影响。客观地说，热分析技术的这些影响因素给数据分析和具体应用带来了不少麻烦。但是任何事物都具有两面性，热分析技术的这些影响因素恰恰反映了其自身的灵活性和多样性,实验时可以通过改变实验条件来分析这些因素对实验结果的影响程度, 从而可以深入探讨试样在不同条件下物理性质的变化, 使研究者对试样在不同温度或时间下的性质变化规律有更深入的理解，获得试样在不同的温度下与性质相关的更多信息。例如，很多非等温热分析动力学方法主要通过获取三条以上不同的加热/降温曲线，并由此得到转变或分解过程的动力学信息。1.2.2.3曲线解析复杂如上所述，热分析实验受到实验条件(主要包括温度程序、实验气氛、制样等)、仪器结构等的影响，由此得到的曲线之间的差异也很大。在实验结束后对曲线进行解析时，应充分考虑以上影响因素，对于所得到的曲线进行合理的解析。在本书的相关章节中，将结合实例对曲线的解析方法进行阐述。1.3 热分析仪器的组成当前的商品化热分析仪主要由仪器主机(主要包括程序温度控制系统、炉体、支持器组件、气氛控制系统、物理量测定系统)、辅助设备(主要包括自动进样器、湿度发生器、压力控制装置、光照、冷却装置、压片密封装置等)、仪器控制、数据采集及处理组成。热分析仪的结构框图如图1.6所示。在本书第5章中将详细介绍热分析仪器的每一组成部分及其功能。1.4 热分析技术的应用领域热分析技术自问世至今已有一百多年的历史，在过去的一百多年中，经过几代人的努力，目前热分析仪器已经日趋成熟，其在各个领域的应用也逐渐日益扩大并向更深层次发展。现在热分析技术从最初应用于黏土、矿物以及金属合金领域至今已经扩展到几乎所有与材料相关的领域。在所有学科门类中，热分析技术在历史学(主要为科技考古领域)、理学、工学、农学、医学等学科中有广泛的应用。在一级学科中，热分析技术已经在考古学、物理学、化学、地理学、地质学、生物学、力学、材料科学工程、冶金工程、动力工程及工程热物理、建筑学、化学工程与技术、石油与天然气工程、纺织科学与工程、环境科学与工程、生物医学工程、食品科学与工程、生物工程、安全科学与工程、公安技术、作物学、畜牧学、水产、草学、林学、药学、中药学、军事装备学等学科中得到了不同程度的应用，当前热分析技术应用较多的是物理学、化学、生物学、地质学、环境科学与工程、化学工程学等学科中与材料相关的石油、冶金、矿物、土壤、纤维、塑料、橡胶、食品、生物化学、物理化学等领域。1.5 热分析技术的发展前景展望未来热分析仪器的发展将主要在以下几个方面有所突破。1.5.1提高仪器的准确度灵敏度以及稳定性提高仪器的灵敏度和稳定性是热分析仪器研发人员多年来一直努力的目标, 随着电子技术和自动化技术的发展，这些性能指标还有进一步提升的空问。1.5.2 扩展仪器功能对于任何一种商品化的分析仪器而言，在实际的应用过程中应结合实际的需求来对仪器的功能进行拓展。对于绝大多数热分析仪器而言，主要从以下几个方面来拓展其功能：(1)在不影响灵敏度的前提下拓宽温度范围；(2)可实现超快的加热/降温速率、温度调制、热惯性小的快速等温实验：(3)配置自动进样装置来提高仪器的利用率；(4)开发适用于仪器的光照装置、温度控制装置、高压实验装置、真空实验装置、电磁场装置等特殊用途的实验附件。1.5.3加强并推广与其他分析方法的联用目前，热分析仪已经实现了与红外光谱、质谱、气相色谱、气相色谱/质谱联用仪、拉曼光谱、显微镜、X射线衍射仪等技术的联用。由于联用时连接部件的不完善以及成本和应用领域等多方面的限制，联用技术自20世纪五六十年代出现以来，直到近二十年才开始快速发展。由于这类方法的功能较常规仪器强大，因此其有着十分远大的发展前景。1.5.4 拓展软件功能随着计算机的硬件和软件的飞速发展,实验数据的记录和分析显得越来越方便。随着热分析技术在不同领域的应用不断深入，人们对热分析的数据处埋的要求尤其是动力学方法对软件的要求越来越高。日前虽然存在一些商品化的动力学分析软件，但由于动力学方法本身的复杂性和快速发展，一款成型的商品软件很难满足大多数的要求，这就要求商品化的动力学软件具有较为强大的功能并且可以及时地反映出动力学的最新发展情况。1.5.5 开发可以满足特殊领域需求的新型热分析仪为了满足一些特殊的测试需求，近年来不断出现新型的热分析仪，如Mettler Toledo 公司推出的一种可以实现每分钟几百万摄氏度加热速率的闪速差示扫描量热仪。这些仪器有的已经实现商品化, 有的仅限于实验室使用, 使用这些新型仪器完成的科研论文在一些学术期刊中经常可以见到。1.5.6 在不影响仪器性能的前提下减小仪器的体积、节约成本、提升产品的竞争力美国 TA 仪器公司于2010年推出了Discovery系列热分析仪器，仪器的电路部分适用于热重分析仪、热重-差热分析仪、差示扫描量热仪、静态热机械分析仪和动态力学热分析仪，可以实现几台仪器共用一种控制单元，这样对于需要购买多台仪器的用户降低了成本，提升了仪器的竞争力。TA公司的这种方法代表了今后分析仪器的一种发展趋势。随着科学研究的进一步发展，热分析技术有望在一些较新的领域中发挥其独特的作用。我们有充分的理由相信，在全球热分析工作者的共同努力下，热分析技术将继续保持现有的高速发展势头，其在各领域中将得到更加广泛和深入的应用。

整粒玉米成分分析仪仪器介绍CropScan 1000B整粒玉米成分分析仪是 一款近红外透射分析仪，用来测量整粒玉米的蛋白质 油分 淀粉 水分的含量以及重量 。CropScan 1000B.使用的是选配的测试重量模块 。技术参数扫描范围：720nm-1100nm测量成分：蛋白质 水分 淀粉 油以及可以选配测重模块扫描速度：2-4秒控制：LCD显示 和内置电脑键盘外部连接： RS232串联接口 USB存储器 提供了一个上传数据到PC或者下载校准方法。重量尺寸：12kg 330W x300Dx400H产品特点快速： 只需1分钟即可获得检测参数功能性强 ：只用一台设备即可快速分析玉米或者玉米种子成分含量操作简单：近红外分析仪进行分析检测，无需配备特殊的专业人员结果可靠：二极管阵列光学，不受振荡影响结果准确：分析结果准确，高质量单色器可全面分析检测产品的红外光谱适应性强：采用NIR技术，用PLS定标系统可随时独立地改进或开发新的定标。无论检测的样品量还是样品种类多少，应用实验室可随时提供支持，满足客户需求

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GaiaChem近红外高光谱分析仪整合了近红外成像光谱仪和高分辨率近红外光谱相机，采用推扫成像技术，可同时对大量的样品进行光谱和影像的测 量，也可对不同形状的样品进行光谱和影像的测量，提供待测样品的详细的光谱及影像信息以供研究人员进行化学成分、成分品质等的分析。 GaiaChem近红外高光谱分析仪是一个完整的影像光谱工作站，使用者只需要将待检样品放置在标准的样品台上，通过ChemaDAQ软件进行扫描控制，即可实时的进行光谱和影像信息的获取和保存。 GaiaChem近红外高光谱分析仪提供测试的样品的大小从10mm到100mm，可获得30&mu m-300&mu m的空间分辨率；光谱测量范围为：970nm-2500nm（900nm-1700nm），光谱分辨率可达10nm（6nm）。主要应用领域：◆ 农业科学研究，食品品质分析◆ 生命科学研究，脂肪含量分析◆ 医药科学研究，药品品质分析◆ 物质成分鉴别 主要技术规格参数表　GaiaChem-SWIRGaiaChem-NIR操作模式高速推扫型高光谱仪光谱范围(nm)970-2500900-1700光谱分辨率(nm)106光谱通道数256空间像素数(pixels/line)320空间分辨率(&mu m)30-300扫描范围(mm)10-100最大样品尺寸(mm)100× 100× 40(W× L× T)样品扫描速度100 hyperspectral line images/ s (max), corresponding to -3 mm/s with 30 micron pixel -30 mm/s with 300 micron pixel 样品扫描时间(s, 典型)3-10(@320× 320空间像素，256个光谱通道)光源 SPECIM&rsquo s diffused line illumination unit 数据格式 BIL file format, Evince and ENVI compatible 仪器校正光谱校正在出厂时已完成；反射光谱强度校正在每次样品测量时自动完成（比照仪器内部的标准反射板）应用实例：◆ 药品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的不同原料配比的药片的高光谱影像及光谱信息如下图所示，光谱范围为：1000-2500nm，伪彩表示了不同成分的影像信息，可获得256个通道的光谱信息，空间影像信息覆盖了320*430像素，整个采样时间仅需要6秒。 ◆ 农产品高光谱分析 通过GaiaChem测量得到的种子的高光谱影像及光谱信息如下图所示，光谱范围为：1000-2500nm，整个采样时间仅需要11秒。 由于农产品通常都有一定水分含量，在1000-2500nm范围内光源的热效应会造成水分的丢失，所以在这个范围内进行光谱测量时，测量时间显得尤为重要，必须要在尽可能短的时间内进行。GaiaChem在设计上充分考虑到这个因素的影响，通常一个样品的测试时间为十几秒，甚至几秒钟内即可完成，大大降低了光源烘干效应对样品的影响。 GaiaChem近红外高光谱分析仪信号采集及分析软件 ChemaDAQ软件为GaiaChem近红外高光谱分析仪标准的信号采集软件，可进行高光谱影像及光谱数据的采集和简单处理，数据存储格式可被多种第三方专业的数据分析软件调用，如ENVI和Evince数据分析软件，可进行3D图像分析等。

纳米红外光谱系统（nanoIR系列）是美国Anasys仪器公司于2010年研发的基于原子力显微镜（AFM）的材料表征工具。其采用独有专利的光热诱导共振技术（PTIR，也称AFM-IR），使红外光谱的空间分辨率突破了光学衍射极限，提高至10纳米级别。在得到微区形貌，表面物理性能的基础上，进一步帮助研究人员全面解析样品表面纳米尺度的化学信息。Anasys开创了纳米红外化学解析的新领域，由于超高空间分辨率的红外光谱采集和化学成分成像，被公认为近十来年光谱领域最大的技术进步。该技术曾荣获2010年度美国R&D100大奖。2016年Anasys发布了最新一代产品nanoIR2-FS，在广受欢迎的第二代纳米红外光谱系统的基础上实现快速扫描功能，光谱采集速度3s/光谱；专利的轻敲模式纳米红外将空间分辨率提高至10nm以上，并大大提高红外成像速度，并使得较软的生物材料等软物质的化学成像实现质的飞跃。快速扫描纳米红外光谱(nanoIR2-FS) —纳米尺度红外光谱解决方案 NanoIR系列包含有一个原子力显微镜用于探测形貌及成像，除此之外，采用一个可调脉冲激光源照射样品，利用AFM针尖在纳米尺度下探测辐射吸收，获得纳米尺度红外光谱，特定波长下的扫描成像图为用户提供超高分辨率的组分分布。NanoIR应用广泛，如聚合物共混物、薄至单层的薄膜、界面和表面、电纺纤维、细胞、细菌、淀粉质物质、半导体表面有机污染物等。主要特点：消除分析化学研究人员的担忧--与FTIR光谱完全吻合，没有吸收峰的任何偏移基于专利保护的脉冲共振增强技术：实现单分子层超薄样品化学分析专利技术实现智能的光路优化调整，无需担心光路偏差拖延你的实验进度最准确的定性微区化学表征，得到美国国家标准局NIST, 橡树岭国家实验室等美国权威机构的认可简单易用的操作，被三十多位企业用户和近百位学术界所选择基于DI传承的多功能AFM实现纳米热学，力学，电学和磁学测量：纳米热分析模块（nanoTA, SThM）洛仑兹接触共振模块（LCR）导电原子力显微镜镜（CAFM）开尔文电势显微镜（KPFM）磁力显微镜（MFM）静电力显微镜（EFM） AFM-IR技术: 图1 工作原理nanoIR2-FS使用连续可调脉冲红外光源从侧面照射样品。样品吸收特定波长的辐射波，产生热量引发样品快速热膨胀，从而使AFM微悬臂产生共振震荡。震荡波以铃流的形式衰减。用傅里叶变换对铃流信号进行分析，获得振动的振幅和频率。通过建立微悬臂的振幅与光源波长的关系可得到局部吸收光谱(见图1)。AFM-IR光谱与传统FTIR光谱高度吻合，可使用传统的FTIR数据库进行分析（见图2）。 图2 聚苯乙烯的nanoIR谱图与FTIR谱图的对比 典型应用案例：金基底上自组装的PEG单分子层的纳米化学研究图3左上图为AFM形貌图，右上图为在1340cm-1下的红外吸收化学成像，可观察到几十纳米分辨率的化学组分分布。 下图为AFM-IR光谱。 图3 金基底上自组装的PEG单分子层的纳米化学研究 高分子共混物的化学组分研究利用纳米红外AFM-IR对高抗冲聚丙烯共聚物（HIPP）三种不同微区组分进行成分鉴定和定量分析，1378cm-1处红外成像 （图4 c）显示橡胶粒子的硬核区域具有更强的红外吸收，表明其主要成分是聚丙烯，这是第一次获得聚丙烯是一些HIPP体系中橡胶粒子硬核的主要成分的直接证据。利用AFM-IR光谱和FTIR光谱的高度一致性，使用常规FTIR用标准的乙丙共聚、共混标样制作工作曲线，利用AFM-IR光谱对三种不同微区的组分进行定量分析。Analysis of Nanodomain Composition in High-Impact Polypropylene by Atomic Force Microscopy-Infrared. Anal. Chem. 2016, 88, 4926?4930 图4高抗冲聚丙烯共聚物（HIPP）三种不同微区组分的研究a HIPP结构示意图，b AFM形貌图, c 1378cm-1处红外成像, d 三个不同微区的AFM-IR光谱, e 利用FTIR制作定量分析的工作曲线, f 利用AFM-IR光谱和e工作曲线计算得到三个微区PE的含量

近红外谷物分析仪澳大利亚NI近红外谷物分析仪，型号CROPSCAN3000B ,近红外谷物分析仪1.主机内置并可以脱离计算机独立完成常规的分析检测、定标校准、数据储存等功能。2.仪器需采用专业的NTAS技术软件，具有光谱采集，光谱数据预处理，建立.bin格式定标等功能 3. 大的液晶显示器160mmx260mm便于操作和观察测试结果，触摸屏控制，自动进行模型选择和成分测量，系统内置STM系统，具有异常值剔除功能。澳大利亚NI近红外谷物分析仪，型号CROPSCAN3000B ,近红外谷物分析仪1.支持.CSV格式的数据出处，以及支持.bin格式的定标文件，便于转移至其它近红外分析仪中。定标算法：PLS偏最小二乘法。移动扫描次数可以进行设置，设置范围1-30 2.支持多种样品模块，可适应各种整粒谷物样品的分析3.无可移动部件的光学系统4.探测器：Si二极管阵列检测器5.像素：38位6.扫描模式：透射采样7.支持RS232以及USB端口进行数据以及定标模型的传输。8.光谱范围：720 nm -1100nm；9.光程自动马达调节，根据模型的不同，自动优先选择8,16,24,30mm光程。自动光程选择，扩展了测量样品的范围。同时满足样品池外部口径采取广口设计，便于均匀采样。10.统具有小麦、大麦、玉米、大豆、燕麦、油菜籽等模型，分析蛋白质含量，水分，油分等11. 重量：12kg 尺寸大小：400×400×330mm

一、全自动根系扫描分析仪用途：IN-GX02根系分析系统是一套用于洗根后专业根系分析系统，还可以用于根盒培养植物的根系表型分析，可以分析根系长度、直径、面积、体积、根尖记数等，功能强大，操作简单，软件可分析植物根系的形态分析及根系的整体结构分布等，广泛运用于根系形态和构造研究。二、全自动根系扫描分析仪原理：IN-GX02根系分析系统利用高质量图形扫描仪获取高分辨率植物根系彩色图像或黑白图像，该扫描仪在扫描面板下方和上盖中安装有专门的双光源照明系统，并且在扫面板上预留了双光源校准区域。此外，还配备有不同尺寸的专用、高透明度根系放置盘。扫描时，扫面板下的光源和上盖板中的光源同时扫过高透明度根盘中的根系样品，这样可以避免根系扫描时容易产生的阴影和不均匀等现象的影响，有效地保证了获取的图像质量。本软根系分析软件可以读取TIFF，JPEG标准格式的图像。针对获取的图像，利用插入加密狗解密的软件，对扫描获得的高质量根系图像进行分析。采用非统计学方法测量计算出交叉重叠部分根系长度、直径、面积、体积、根尖等基本的形态学参数。从而满足研究者针对植物根系不同类别和层次的研究。三、全自动根系扫描分析仪技术指标：1、配光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪。根系反射稿幅面为355.6mm×215.9mm，透扫幅面为320.0mm×203.2mm，最小像素尺寸0.005mm×0.0026 mm。2、可分析测量：（1）根总长；（2）分支频率；（3）根平均直径；（4）根直径中值；（5）最大直径；（6）根总面积；（7）总投影面积；（8）根总体积；（9）根尖计数；（10）分叉计数；（11）交叠计数；（12）根直径等级分布参数；（13）可不等间距地自定义分段直径，自动测量各直径段长度、投影面积、表面积、体积 等，及其分布参数。（14）能进行根系的颜色分析，确定出根系存活数量，输出不同颜色根系的直径、长度、投影面积、表面积、体积。（15）能进行根系的拓扑分析，自动确定根的连接数、关系角等，还能单独地自动分析主根或任意一支侧根的长度、面积、体积等，可单独显示标记根系的任意直径段相应各参数（可不等间距地自定义）。（16）能进行根的分叉裁剪、合并、连接等修正，修正操作能回退，以快速获得100%正确的结果。（17）能用盒维数法自动测根系分形维数。可分析根瘤菌体积在根系中的占比，以客观确定根瘤菌体贡献量。（18）大批量的全自动根系分析，批量保存，对各分析结果图可编辑修正。（19）能做根系生物量分布的大批量自动化估算。（20）向地角分析、水平角分析、主根提取分析特性。（21）各分析图像、分布图、结果数据可保存，并输出至Excel表，可输出分析标记图。（22）仪器有云平台支持，可将分析数据保存到云端随时随地查看。四、全自动根系扫描分析仪图像扑捉系统参数扫描元件: 6线交替微透镜CCD最大幅面: A4接口类型: USB2.0光学分辨率(dpi): 6400x9600dpi最大分辨率12800×12800dpi最小像素尺寸≥0.005mm×0.0026 mm扫描光源白色冷阴极荧光灯CCFL、色彩位数48位扫描范围216×297mm扫描速度反射稿、A4、300dpi：单色11秒，彩色14秒胶片扫描、35mm，2400dpi：正片：47秒，负片：44秒五、全自动根系扫描分析仪标准配置1、植物根系分析系统软件U盘及软件锁1套2、光学分辨率4800×9600、A4加长的双光源彩色扫描仪1台3、根系成像盘3个六、全自动根系扫描分析仪其他1、本产品需使用电脑，推荐选配：品牌电脑（酷睿i5九代以上CPU / 16G内存/ 21.5”彩显/无线网卡，4个以上USB2.0口，运行环境Windows 10完整专业版或旗舰版）。2、可选配A3幅面双光源彩色扫描仪。反射稿扫描幅面305mm × 431.8mm，根系透扫幅面304.8mm × 406.4 mm。