电子探针射线显微分析仪

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53种矿物 该载物台包含53种精选的矿物和化合物（可提供分析数据），每种材料的晶粒内部和晶粒间具有高度的同质性，并且在真空、大气环境和电子束中性能稳定。有些人工合成的材料同质性更高。标准样矿物载物台都内置有法拉第筒（FC）。所有53种矿物材料均装在一个直径25mm、厚4mm的无磁不锈钢盘上，其具有理想的最大导电率和高真空兼容性。 1.钠长石NaAlSi3O828.硬玉NaAlSi2O62.贵榴石Fe3Al2Si3O1229.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti,Si6Al2O22(OH)23.硬石膏CaSO430.白铁矿FeS24.磷灰石Ca5(PO4)3F31.辉钼矿MoS25.重晶石BaSO432.独居石(Ce,La,Y,Th)PO46.蓝锥矿BaTiSi3O933.黑曜石Na,K,Al,Fe silicate glass7.黑云母K(Fe,Mg)3AlSi3O10(OH)234.橄榄石(MgFe)2SiO48.铯榴石CsSi2AlO635.斜长岩(Ca,Na)Al(Al,Si)Si2O89.溴碘化铊TlBr 42%, TlI 58%36.镍黄铁矿(Fe,Ni)9S810.钙蔷薇辉石(Mn,Ca)SiO337.红榴石Mg3Al2Si3O1211.方解石CaCO338.石英SiO212.锡石SnO239.蔷薇辉石MnSiO313.天青石SrSO440.金红石TiO214.赤铜矿Cu2O41.透长石KAlSi3O815.绿泥石Mg6AlSi3O10(OH)842.闪锌矿ZnS16.铬透辉石(Mg,Cr)CaSi2O643.锂辉石LiAlSi2O617.氧化铬FeCr2O444.辉锑矿Sb2S318.辰砂HgS45.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl19.方钴矿CoAs346.硅锌矿(ZnMn)2SiO420.赤铅矿PbCrO447.方晶锆石ZrO221.透辉石MgCaSi2O648.砷化镓GaAs22.白云石MgCa(CO3)249.氮化硼BN23.萤石CaF250.硒化铋Bi2Se324.方铅矿PbS51.钇铝石榴石Y3Al5O1225.赤铁矿Fe2O352.硅化镍Ni2Si26.磁铁矿Fe3O453.碲化锑Sb2Te327.方镁石MgO 44种金属 1.铍Be 12.铁Fe 23.钌Ru 34.钨W2.氮化硼BN 13.钴Co 24.铑Rh 35.铼Re3.碳C 14.镍Ni 25.钯Pd 36.锇Os4.镁Mg 15.铜Cu 26.银Ag 37.铱Ir5.铝Al 16.锌Zn 27.镉Cd 38.铂Pt6.硅Si 17.锗Ge 28.铟In 39.金Au7.钪Sc 18.砷化镓GaAs 29.锡Sn 40.溴碘化铊Tl(Br,I)8.钛Ti 19.硒Se 30.锑Sb 41.铅Pb9.钒V 20.锆Zr 31.碲Te 42.铋Bi10.铬Cr 21.铌Nb 32.铪Hf 43.钍Th11.锰Mn 22.钼Mo 33.钽Ta 44.铀U该载物台包含41种金属元素标准样和3种硬度超过金属的化合物，共计44种不同元素材料，适用于WDS、EDS和微探针仪器等。最初标准样是44种纯金属，后来由于硼、镓、铊在稳定性和制备方面的问题，我们开发了这几种金属的化合物。我们没有将这几种材料从载物台上去掉，而是保留了"44种金属"的特征。多年来，一直受到广大显微分析人士的赞赏和认可。 所有元素纯度不低于99％，多数甚至超过“99.99％”。我们可以为您提供具体的纯度列表。那些可用于现代“无窗”EDS系统和未被列入微量分析标准样的轻质元素，也包含在此产品中并内置法拉第筒。所有44种元素均装在一个直径25mm、厚4mm的不锈钢载物台上。该产品还可分割为3个直径12.5mm的不锈钢载物台，每个也内置有法拉第筒，适于连接到SEM载台。 能谱检测标样X射线能谱仪标样的主要功能：1.便于用户可以更好地对比和检验各个能譜厂家产品的优劣，有利于用户的订货和仪器的验收。2.有利于用户对正在使用中的能谱仪进行统一的仪器自检，及时了解仪器的状态，有利于分析测试参数的及时调整。因此，每个实验室自备一套能谱仪性能检验的标样十分必要。为满足这一需求，我们特研制了这一组合。 15种稀土金属及氟化物晶体 1.钇金属Y 6.钐金属Sm 11.钬金属Ho2.氟化镧LaF3 7.氟化铕EuF3 12.铒金属Er3.氟化铈CeF3 8.钆金属Gd 13.铥金属Tm4.氟化镨PrF3 9.铽金属Tb 14.镱金属Yb5.氟化钕NdF3 10.镝金属Dy 15.氟化镥LuF3SPI Supplies的十五种稀土元素标准样装载于一个直径1" (25mm)、高6mm的圆盘中，此载物台是UHV兼容的，并且可以适用于任何UHV系统。载物台经过碳镀覆，保证了金属或氟化物晶粒与导电地面之间的导电性。就象其它SPI标准样载物台一样，其也具有一个用于精确测量射束电流的法拉第杯(FC)。 该产品有直径0.5"(12.5mm)的型号。 15种稀土“五磷酸盐”晶体 我们现为X射线能谱仪（EDS）及波谱仪（WDS）微量分析系统提供一种独特的新型载物台，它是SPI现有优质微量分析标准样中又一个“专利”产品。该载物台含有15种稀土“五磷酸盐”，化学式均为ReP5O14，其使此15种不同的稀土元素都适用于EDS、WDS及备用的微探针仪器中。正如其他微量分析标准样一样，该标准材料也被装载于不锈钢载物台上与超高真空环境相兼容，且其表面镀有轻度碳层可以导电。我们也提供未经镀碳的载物台，但此时单独的标准样本就要装载于填充有导电树脂的铜块儿中。 特征：与其他替代产品一样, 这些稀土标准样也具有同样的化学式ReP5O14，其中稀土元素处于标准样常用浓度范围。如同其他精致标准样一样，在干燥环境中其抛光表面非常稳定，可以防止退化。组成该标准样的15种晶体化合物均获得中国微量分析协会（CMAS）的认证，作为一种有证参考物质（CRM）也达到了CMAS参考物质的标准。每一稀土(ReP5O14) 的实际尺寸都在0.5mm级，个别制造难度较大的稀土其尺寸可能只有0.2mm。尽管如此，他们均匀性相当好，而且CRM级别的经特殊合成用于微量分析应用。该标准样采用其他SPI微量分析标准样常用的格式：为便于识别和方便用于显微镜和微探针，每个有证参考物质（CRM）都内置法拉第筒并在背面用电子束刻有标识。该标识可是“普通”模式，也可是“镜像”标签模式。我们认为这种形式的标准样比纯金属、氧化物粉末、一些稀土元素（REE）或某些稀土（REE）卤化物在性能上要好很多。而个别纯稀土（REE）金属甚至根本不能使用，因为正常实验室中的水分就会使其迅速氧化，即使储藏于干燥器中也无法避免。稀土（REE）氧化物通常以微粒粉末形式存在，即使很短时间内其熔融物也不稳定。一些含量较低的稀土元素（REE）不能满足现实中样本分析的要求。这就是ReP5O14系列中15种样本受到多数EPMA实验室青睐的原因，也是我们相信该系列是客户最佳选择的理由。曾经使用过这种最新SPI微量分析标准样的客户告诉我们，此种标准样使分析师的分析过程更快捷、全面。因此，尽管这一新型稀土标准载物台在价格上高于最初稀土标准样，但综合考虑ReP5O14标准晶体化合物提供的卓越品质，我们相信它绝对物有所值。所购买的产品均附送一份详尽的手册，列明各种成分。每个标准样都附带一张照片及该物质的X射线光谱。查看每个标准样文件时，请注意一下我们更新的Spiffy Manuals?，即由我们制作的15稀土“五磷酸盐”标准样。我们保存了每个标准样的Acrobat PDF文档，以便您随时需要随时拷贝。 15种标准ReP5O14晶体化合物及其化学式组成如下： 稀土化合物组成 元素ReP5O14 Re2O3P2O5RePO1.镧LaP5O14 31.3168.5226.7029.9043.232.铈CeP5O14 31.6268.2927.0029.8043.113.鐠PrP5O14 31.7368.2827.1029.8043.114.钕NdP5O14 32.1967.8327.6029.6042.825.钐SmP5O14 32.9367.1428.4029.3042.376.铕EuP5O14 33.2366.9128.7029.2042.247.钆GdP5O14 33.7066.9129.3029.2042.188.铽TbP5O14 33.9666.0029.5028.8041.669.镝DyP5O14 34.4365.5430.0028.6041.3710.钬HoP5O14 34.5965.3130.2028.5041.2011.铒ErP5O14 34.7665.0830.4028.4041.0412.铥TmP5O14 34.7264.8530.4028.3040.8713.镱YbP5O14 35.0764.3930.8028.1040.5614.镥LuP5O14 36.0564.1631.7028.0040.5115.钇YP5O14 24.1375.8519.0033.1047.88贮藏条件 W我们建议将所有暂时不用的SPI Supplies人造微量分析标准样保存在干燥器中。随着时间的推移，有些元素会被侵蚀或氧化，虽然被侵蚀或氧化的过程会渐渐变缓。 59种金属/矿物组合 1.铍Be 16.锌Zn 31.碲Te 45.橄榄石(MgFe)2SiO42.氮化硼B 17.锗Ge 32.氟化钡BaF2 46.透辉石MgCaSi2O63.碳C 18.砷化镓GaAs 33.铪Hf 47.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti9Si6Al2O22(OH)24.镁Mg 19.硒Se 34.钽Ta 48.黑云母K(Mg,Fe)3AlSi3O10(OH)25.铝Al 20.锆Zr 35.钨W 49.硬玉NaAlSi2O66.硅Si 21.铌Nb 36.铼Re 50.透长石KAlSi3O87.钪Sc 22.钼Mo 37.锇Os 51.黑曜石Na, K, Al, Fe silicate glass8.钛Ti 23.钌Ru 38.铱Ir 52.锂辉石LiAlSi2O69.钒V 24.铑Rh 39.铂Pt 53.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl10.铬Cr 25.钯Pd 40.金Au 54.天青石SrSO411.锰Mn 26.银Ag 41.方铅矿PbS 55.铯榴石CsAlSi2O612.铁Fe 27.镉Cd 42.铋Bi 56.独居石(Ce,La,Th)PO413.钴Co 28.磷化铟InP 43.钍Th 57.辰砂HgS14.镍Ni 29.锡Sn 44.铀U 58.方解石CaCO315.铜Cu 30.锑Sb 59.磷灰石Ca5(PO4)3F内含59种惰性或高稳定性金属、矿物或化合物，既有合成物，也有纯品。每个载物台都附有一张简明图表，指明各标准样和套件的具体位置。通过电子束蚀刻的独有标签既方便用户识别，又方便样本批量生产。载物台高4mm，直径25mm，台体为不锈钢框架结构，内置标准法拉第筒。有时用户要求我们提供不含法拉第筒的载物台，为了降低一下产品的价格。其实，由于该产品已实现批量生产，其成本较低。如果我们单独制做一个特殊的、不含法拉第筒的载物台，其成本反而会更高。当然，我们愿意满足每一位用户的需求，但如果订量少于10个的话，不含法拉第筒的载物台绝对不会比含法拉第筒的价格低。 注意：目前也有带12.52mm中心孔的25mm圆盘载物台，以满足扫描电镜载台的需要。

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显微分光光度计配件是专业为地质,地球科学,刑事科学、物证鉴定而设计的显微光谱仪和显微光度计。显微分光光度计配件特点采用与显微镜结合的结构，获取超高分辨率的显微图像和光谱，是替代高光谱技术的理想光谱仪器。显微分光光度计配件可与各种带有相机接口/摄像镜筒的显微镜连接,采用先进的二极管阵列式分光光度计，检测波长范围从紫外，可见到近红外， 可选择分辨率和灵敏度，也可使用光电倍增管连接在摄像镜筒上的分光部件，可以同时连接光谱分析仪和摄像头，也可选择所需规格的测量光栏放在分光部件上， 作分析测量使用。显微分光光度计配件应用刑侦鉴定：测量纤维-毛毯，服装，家具，绳索，毛发等涂料：汽车油漆，刮擦层，美术颜料等文件-纸张，钱币，墨水，墨粉，印泥等炸药-胶带等化妆品-唇膏，指甲油等各种物证显微分析测量技术(依据各显微镜的配置)透射光明场和偏光方法反射光明场，暗场，偏光照明系统要求遵循DIN/ISO7404/5标准卤素灯照明系统需连接稳压电源照明系统光路开关和滤光片切换装置由马达自动控制配备一波长546nm波长干涉滤光片和中性衰减滤光片测试原理光电倍增管点测量：手动选择感兴趣的区间，测量反射光并与反射标准相比较。根据仪器配置的不同，测试场的大小可通过固定光圈或可调光圈选定。背景照明可使仪器达到最佳状态。电控单元提供了106的动态范围，可自动检测到次生光和暗流。各种测量功能通过自动检查仪器设置参数,来对仪器进行校准不间断显示测量结果，实时观所测量信号变化可通过点击鼠标或外部触发提取某一单一数据，进 而进行统计评估可对样品的不同组分,对每一组分实时进行10通道测量，然后得到每一组分的相对百分比数值当偏光样品在旋转载物台旋转至某一角度时,得 到其光强度最大值和最小值计算机(最低配置) 主频1GHz的P4处理器,内存256MB,17"监视器,MicrosoftWINDOWS操作系

【NCHV-A探针】bruker原子力显微镜探针概述一组硅探针。数量为10用于TappingMode成像的Bruker'sValueLine蚀刻硅探针TM在空气中的非接触模式，具有反射涂层。这种探头也可以不使用铝反射涂层作为模型 NCHVO规格:几何■矩形 齿顶圆角半径nm尺寸：8 频率赫兹尺寸:320最小:270最大:400 弹簧常量Nm尺寸:40最小:20最大:75 长度pm尺寸:117最小:115最大:120 宽度pm尺寸：33最小:28最大:38 悬臂梁背面的铝反射涂层使激光信号增加了2.5倍。对于一般成像，通常不需要有反射涂层。反光涂层推荐用于薄悬臂梁、反光非常强的样品和机器视觉应用。几何形状:矩形悬臂梁数量：1悬臂厚度Nom:3.5um悬臂厚度RNG:2.8~4.2um背面涂层:反光铝

显微岩相分析仪配件特别为岩相学和地球化学分析而设计，非常适合岩相学分析检测，特别是煤炭质量分析检测，显微岩相分析仪配件在全球的石化，地球化学和岩相学实验室广泛使用。显微岩相分析仪配件应用煤续排列 － 使用反射光方法, 观察其镜质体和丝质体含沥青煤的特性 — 利用落射荧光技术进行分析油母岩的分析 — 以透射光和落射紫外荧光方法百分比含量测定 — 用显微图像设备对样品进行相成分,得知其成分比例无定形材料的评估 — 显微镜下观察其古生物样品，研究其藻类和其植物部分煤岩组份族组成的判断 — 分析含沥青的煤和无烟煤显微岩相分析仪配件介绍在研究和分析煤的起源，形成和使用领域过程中，岩相分析被公认为 是非常重要的。在分析和测试单一煤样品过程中, 我们很容易得知煤的等级，煤岩组分，微石类型组成和矿物分布的重要信息。但对于一个混合煤的样品进行分析和测试, 则离不开对样品进行反射率分析和测试此一有力的方法，此一分析方法不仅可以得到煤样的化学性质，还可以区分不同混合类型的壳质组，丝质组和微惰性煤各部分 所占的比例。国际煤岩相学委员会(ICCP)已制定了相关的命名法和分析方法。在ISO/DIN标准第7404项中，比较了显微分光光度计测试和分析后得到的数据和标准样品的数据, 确认此分析方法的准确性。另一方面, 可同时结合热变指数(TAI)或孢色值(SPI)的测试方法, 可补充其它方面的实验数据。依据DIN/ISO标准进行数据采集处理的分析模式, 使用直方图表达被测量组分的含量和其它组分的相对含量。显微岩相分析仪对煤炭质量分析图样

使用BudgetSensors的AFM探针，能够最大程度扽保证您获得客观真实的检测结果。BudgetSensors?探针由单晶硅做的，适用于目前大部分的商业AFM显微镜（VEECO, DI Nanoscope, AsylumResearch, Agilent/Molecular Imaging, PSI, JEOL,…）。针尖半径10nm应用：轻敲模式（间接接触）常规：旋转单片硅探针，对称针尖；支架尺寸：3.4×1.6×0.3 mm（可选在这种产品支架背上有调节凹槽）；包被：30nm铝膜包被，加强信号反射。此款完全取代Bruker的MPP-11120-10。ValueRangeResonant Freq.300 kHz+/-100 kHzForce Constant40 N/m20 - 75 N/mLength125 μm+/-10 μmMean Width30 μm+/-5 μmThickness4 μm+/-1 μmTip Height17 μm+/-2 μmTip Set Back15 μm+/-5 μmTip Radius10 nm (Tap 300 300AL 300GD) 25nm (Electri-Tap 300) 15nm (Tap300DLC) Also see individual probes.Half Cone Angle20°-25° along cantilever axis 25°-30° from side 10°-at the apex 订购信息：货号产品名称规格TAP300AL-G-10Silicon AFM Probes, Tap 300 AL -G, Aluminum Reflex Coating AFM探针10/BX 更多AFM探针产品请直接联系海德公司。

布鲁克Bruker原子力显微镜探针AFM探针 智能成像模式 空气中—ScanAsyst Air ScanAsyst Air，是空气中智能成像模式ScanAsyst 专用探针，仅适用于具有Scansyst成像的AFM。其中包含：Dimension Icon,Multimode8,Bioscope Catalyst,Bioscope Resolve. ScanAsyst 利用一种专门的曲线采集方法和复杂的算法，对图像质量进行持续的监测，并能自动地对参数进行适当的调整。因此：- 无论用户的专业技术水平如何，图像自动优化都能更快获取更一致的结果。- 可直接控制力的强弱，调到超低力，从而保护易碎样品和针尖不受损坏。 实现了悬臂调节的消除，定位调整，获得最大优化让液态成像变得简单。 氮化硅单悬臂探针，所有ScanAsyst针尖都有2度的悬臂弯曲。详细规格： 延展阅读：关于布鲁克：布鲁克公司以先进的生产工艺，专业的AFM领域背景，得天独厚的生产装备，赋予探针制造众多的优势，确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。 布鲁克AFM探针制造中心独特优势：*Class100级别的无尘室*先进的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作，配合紧密*训练有素的生产团队，制造出各种型号的探针*全面的质量管理体系，确保探针性能 在实验中，用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制，全面的质量测试，和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心，我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。 原子力显微镜AFM探针: 探针的工作模式：主要分为：扫描(接触)模式和轻敲模式探针的结构：悬臂梁+针尖探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。制作工艺：半导体工艺制作 指标：探针的指标主要分三个部分，分别对应了基片，微悬臂梁，和针尖三个部分。1. 基片，就是基片的长，宽，高，各种探针的基片尺寸是基本一致的。2. 悬臂梁，分为矩形梁和三角形悬臂梁，他们的长宽厚的几何尺寸决定了悬臂梁的弹性系数和共振频率。而弹性常数K是探针的很重要的一个参数，一般来说，接触模式的探针的弹性常数小于1N/m。轻敲模式的探针的悬臂梁弹性系数从几个N/m到几十个N/m。常用的RTESP的弹性常数是40N/m。3. 针尖，针尖的的几何形状是一个四面体。指标主要有，曲率半径(Tip Radius)，探针高度（Tip Height），对应于四面体的指标，前角（Front Angel），后角（Back Angel），侧角（Side Angel），还有一个是Tip Set Back，对应的是针尖离悬臂梁最末端的水平距离。材质：1. 轻敲探针：一般是单晶硅，型号如RTESP；2. 接触模式探针：材质是SiN，而新型号的SNL接触探针，悬臂梁是SiN，而针尖则Si（曲率半径2nm左右），这种探针可以提供接触模式下的分辨率图；3. 功能探针：如磁力探针（MESP），导电探针，则是在普通的硅探针的基础上再镀上相应的材料。MESP的镀层是Co/Cr，SCM-PIT的镀层是Pt。常用探针型号介绍： 常用探针型号介绍1. 轻敲模式，RTESPA-300，TESP，FESP2. 接触模式，SNL，NP，3. 智能扫描模式：Scanasyst air,ScanAsyst-fluid,ScanAsyst-Fluid+4. 磁力显微镜，MESP-V2,MESP-RC-V25. 静电力显微镜，导电AFM，等电学测量模式，DDESP，SCM-PIT，SCM-PIC等。6. 其他特殊功能探针。如金刚石探针，大长径比探针。