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电子探针射线微区分析仪

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电子探针射线微区分析仪相关的耗材

  • AFM探针/原子力显微镜探针/磁性探针(MESP)
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  • 原子力显微镜探针/高分辨/智能成像探针/SNL-10
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  • 原子力显微镜探针/afm探针/生物样品/细胞成像/MLCT
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  • 原子力显微镜探针/afm探针/磁力显微镜/MESP-V2
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  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/氮化硅探针
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  • 原子力显微镜探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/OTESPA-R3
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  • 原子力显微镜探针/afm探针/表面电势测量/PFQNE-AL
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  • 原子力显微镜探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/VTESPA-300
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  • afm探针/原子力显微镜探针/力学测量/杨氏模量/ DNISP-HS
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  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/导电探针
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PICUnmountedPt/ Ir Coated Tips, 0.2N/m 13kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020
  • 原子力探针/afm探针/轻敲模式/轻敲探针/形貌表征/RTESPA-300
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  • 原子力探针高分辨/智能成像探针/ SCANASYST-FLUID+/液下环境
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/导电原子力/导电探针/SCM-PIT-V2
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力显微镜探针/力学测量/杨氏模量/RTESPA-150
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • afm探针高分辨/智能成像探针/SCANASYST-AIR/大气环境
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/原子力显微镜探针(DNISP)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm)DNISPUnmountedDiamond Tip, 100 - 300N/m, 35 - 65kHz140
  • 原子力显微镜探针/生物样品/细胞成像/DNP-10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 布鲁克 AFM探针/原子力显微镜探针/NP-O10
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) NP-O10UnmountedTipless, 4 Cantilevers, 0.06-0.58N/m, Au Reflective Coating10 NA
  • afm探针/生物样品/细胞力学/ SCANASYST-FLUID
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • AFM探针/原子力探针/导电探针(DDESP-10)
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。Doped Diamond这个系列的探针在针尖的一侧涂有可导电的金刚石涂层。由于金刚石的硬度很高,所以涂层也很耐磨。这类探针的典型应用包括:扫描扩散电阻显微镜 (SSRM),扫描电容显微镜 (SCM),和隧道/导电原子力显微镜。 NameMountDescriptionPack SizeTip Radius (nm) DDESP-10UnmountedDoped DLC Coated Tips, 42N/m, 320kHz, Al Reflective Coating1035
  • afm探针/轻敲模式/软样品/相位成像/RFESPA-75
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。
  • 原子力探针/轻敲模式/软样品/相位成像/OLTESPA-R3
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  • 原子力探针/力学测量/杨氏模量/RTESPA-525
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  • 布鲁克 AFM探针SCM-PIT
    AFM配件,原子力探针,AFM探针,原子力探针针尖,显微镜探针针尖,原子力针尖,原子力显微镜探针针尖,接触探针,纳米压痕探针,氮化硅探针,硅探针,热探针,超尖探针,电子探针,显微镜针尖,原子力显微镜针尖,轻巧模式探针,AFM针尖,接触式探针,磁性探针,导电探针,显微镜探针,探针,布鲁克探针,原子力探针,BRUKER PROBE,AFM PROBE,BRUKER探针,原子力显微镜探针,AFM探针,VEECO探针作为一家能够提供AFM/SPM仪器和AFM/SPM探针的企业,布鲁克公司深刻理解每个单独的组件对于一整套性能AFM系统的价值。布鲁克公司以的生产工艺,专业的AFM领域背景,得天独厚的生产装备,赋予探针制造众多的优势,确保在应用领域中提供完整的AFM解决方案。布鲁克AFM探针制造优势:*Class100级别的无尘室*的设计、制造工序及制造工具*探针设计团队与AFM设备研发团队通力合作,配合紧密*训练有素的生产团队,制造出各种型号的探针*的质量管理体系,确保探针性能行业在实验中,用户所得到的数据取决于探针的质量及探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制,的质量测试,和AFM领域的专业背景。所以用户尽可放心,我们的探针不仅为您当前的应用提供所需的结果,同时也能为将来的研究提供参考数据。NameMount DescriptionPack SizeTip Radius (nm) SCM-PIT UnmountedPt/ Ir Coated Tips, 2.8N/m 75kHz, Pt/Ir Reflective Coating1020
  • X射线能谱标样
    53种矿物 该载物台包含53种精选的矿物和化合物(可提供分析数据),每种材料的晶粒内部和晶粒间具有高度的同质性,并且在真空、大气环境和电子束中性能稳定。有些人工合成的材料同质性更高。标准样矿物载物台都内置有法拉第筒(FC)。所有53种矿物材料均装在一个直径25mm、厚4mm的无磁不锈钢盘上,其具有理想的最大导电率和高真空兼容性。 1.钠长石NaAlSi3O828.硬玉NaAlSi2O62.贵榴石Fe3Al2Si3O1229.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti,Si6Al2O22(OH)23.硬石膏CaSO430.白铁矿FeS24.磷灰石Ca5(PO4)3F31.辉钼矿MoS25.重晶石BaSO432.独居石(Ce,La,Y,Th)PO46.蓝锥矿BaTiSi3O933.黑曜石Na,K,Al,Fe silicate glass7.黑云母K(Fe,Mg)3AlSi3O10(OH)234.橄榄石(MgFe)2SiO48.铯榴石CsSi2AlO635.斜长岩(Ca,Na)Al(Al,Si)Si2O89.溴碘化铊TlBr 42%, TlI 58%36.镍黄铁矿(Fe,Ni)9S810.钙蔷薇辉石(Mn,Ca)SiO337.红榴石Mg3Al2Si3O1211.方解石CaCO338.石英SiO212.锡石SnO239.蔷薇辉石MnSiO313.天青石SrSO440.金红石TiO214.赤铜矿Cu2O41.透长石KAlSi3O815.绿泥石Mg6AlSi3O10(OH)842.闪锌矿ZnS16.铬透辉石(Mg,Cr)CaSi2O643.锂辉石LiAlSi2O617.氧化铬FeCr2O444.辉锑矿Sb2S318.辰砂HgS45.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl19.方钴矿CoAs346.硅锌矿(ZnMn)2SiO420.赤铅矿PbCrO447.方晶锆石ZrO221.透辉石MgCaSi2O648.砷化镓GaAs22.白云石MgCa(CO3)249.氮化硼BN23.萤石CaF250.硒化铋Bi2Se324.方铅矿PbS51.钇铝石榴石Y3Al5O1225.赤铁矿Fe2O352.硅化镍Ni2Si26.磁铁矿Fe3O453.碲化锑Sb2Te327.方镁石MgO 44种金属 1.铍Be 12.铁Fe 23.钌Ru 34.钨W2.氮化硼BN 13.钴Co 24.铑Rh 35.铼Re3.碳C 14.镍Ni 25.钯Pd 36.锇Os4.镁Mg 15.铜Cu 26.银Ag 37.铱Ir5.铝Al 16.锌Zn 27.镉Cd 38.铂Pt6.硅Si 17.锗Ge 28.铟In 39.金Au7.钪Sc 18.砷化镓GaAs 29.锡Sn 40.溴碘化铊Tl(Br,I)8.钛Ti 19.硒Se 30.锑Sb 41.铅Pb9.钒V 20.锆Zr 31.碲Te 42.铋Bi10.铬Cr 21.铌Nb 32.铪Hf 43.钍Th11.锰Mn 22.钼Mo 33.钽Ta 44.铀U该载物台包含41种金属元素标准样和3种硬度超过金属的化合物,共计44种不同元素材料,适用于WDS、EDS和微探针仪器等。最初标准样是44种纯金属,后来由于硼、镓、铊在稳定性和制备方面的问题,我们开发了这几种金属的化合物。我们没有将这几种材料从载物台上去掉,而是保留了"44种金属"的特征。多年来,一直受到广大显微分析人士的赞赏和认可。 所有元素纯度不低于99%,多数甚至超过“99.99%”。我们可以为您提供具体的纯度列表。那些可用于现代“无窗”EDS系统和未被列入微量分析标准样的轻质元素,也包含在此产品中并内置法拉第筒。所有44种元素均装在一个直径25mm、厚4mm的不锈钢载物台上。该产品还可分割为3个直径12.5mm的不锈钢载物台,每个也内置有法拉第筒,适于连接到SEM载台。 能谱检测标样X射线能谱仪标样的主要功能:1.便于用户可以更好地对比和检验各个能譜厂家产品的优劣,有利于用户的订货和仪器的验收。2.有利于用户对正在使用中的能谱仪进行统一的仪器自检,及时了解仪器的状态,有利于分析测试参数的及时调整。因此,每个实验室自备一套能谱仪性能检验的标样十分必要。为满足这一需求,我们特研制了这一组合。 15种稀土金属及氟化物晶体 1.钇金属Y 6.钐金属Sm 11.钬金属Ho2.氟化镧LaF3 7.氟化铕EuF3 12.铒金属Er3.氟化铈CeF3 8.钆金属Gd 13.铥金属Tm4.氟化镨PrF3 9.铽金属Tb 14.镱金属Yb5.氟化钕NdF3 10.镝金属Dy 15.氟化镥LuF3SPI Supplies的十五种稀土元素标准样装载于一个直径1" (25mm)、高6mm的圆盘中,此载物台是UHV兼容的,并且可以适用于任何UHV系统。载物台经过碳镀覆,保证了金属或氟化物晶粒与导电地面之间的导电性。就象其它SPI标准样载物台一样,其也具有一个用于精确测量射束电流的法拉第杯(FC)。 该产品有直径0.5"(12.5mm)的型号。 15种稀土“五磷酸盐”晶体 我们现为X射线能谱仪(EDS)及波谱仪(WDS)微量分析系统提供一种独特的新型载物台,它是SPI现有优质微量分析标准样中又一个“专利”产品。该载物台含有15种稀土“五磷酸盐”,化学式均为ReP5O14,其使此15种不同的稀土元素都适用于EDS、WDS及备用的微探针仪器中。正如其他微量分析标准样一样,该标准材料也被装载于不锈钢载物台上与超高真空环境相兼容,且其表面镀有轻度碳层可以导电。我们也提供未经镀碳的载物台,但此时单独的标准样本就要装载于填充有导电树脂的铜块儿中。 特征:与其他替代产品一样, 这些稀土标准样也具有同样的化学式ReP5O14,其中稀土元素处于标准样常用浓度范围。如同其他精致标准样一样,在干燥环境中其抛光表面非常稳定,可以防止退化。组成该标准样的15种晶体化合物均获得中国微量分析协会(CMAS)的认证,作为一种有证参考物质(CRM)也达到了CMAS参考物质的标准。每一稀土(ReP5O14) 的实际尺寸都在0.5mm级,个别制造难度较大的稀土其尺寸可能只有0.2mm。尽管如此,他们均匀性相当好,而且CRM级别的经特殊合成用于微量分析应用。该标准样采用其他SPI微量分析标准样常用的格式:为便于识别和方便用于显微镜和微探针,每个有证参考物质(CRM)都内置法拉第筒并在背面用电子束刻有标识。该标识可是“普通”模式,也可是“镜像”标签模式。我们认为这种形式的标准样比纯金属、氧化物粉末、一些稀土元素(REE)或某些稀土(REE)卤化物在性能上要好很多。而个别纯稀土(REE)金属甚至根本不能使用,因为正常实验室中的水分就会使其迅速氧化,即使储藏于干燥器中也无法避免。稀土(REE)氧化物通常以微粒粉末形式存在,即使很短时间内其熔融物也不稳定。一些含量较低的稀土元素(REE)不能满足现实中样本分析的要求。这就是ReP5O14系列中15种样本受到多数EPMA实验室青睐的原因,也是我们相信该系列是客户最佳选择的理由。曾经使用过这种最新SPI微量分析标准样的客户告诉我们,此种标准样使分析师的分析过程更快捷、全面。因此,尽管这一新型稀土标准载物台在价格上高于最初稀土标准样,但综合考虑ReP5O14标准晶体化合物提供的卓越品质,我们相信它绝对物有所值。所购买的产品均附送一份详尽的手册,列明各种成分。每个标准样都附带一张照片及该物质的X射线光谱。查看每个标准样文件时,请注意一下我们更新的Spiffy Manuals?,即由我们制作的15稀土“五磷酸盐”标准样。我们保存了每个标准样的Acrobat PDF文档,以便您随时需要随时拷贝。 15种标准ReP5O14晶体化合物及其化学式组成如下: 稀土化合物组成 元素ReP5O14 Re2O3P2O5RePO1.镧LaP5O14 31.3168.5226.7029.9043.232.铈CeP5O14 31.6268.2927.0029.8043.113.鐠PrP5O14 31.7368.2827.1029.8043.114.钕NdP5O14 32.1967.8327.6029.6042.825.钐SmP5O14 32.9367.1428.4029.3042.376.铕EuP5O14 33.2366.9128.7029.2042.247.钆GdP5O14 33.7066.9129.3029.2042.188.铽TbP5O14 33.9666.0029.5028.8041.669.镝DyP5O14 34.4365.5430.0028.6041.3710.钬HoP5O14 34.5965.3130.2028.5041.2011.铒ErP5O14 34.7665.0830.4028.4041.0412.铥TmP5O14 34.7264.8530.4028.3040.8713.镱YbP5O14 35.0764.3930.8028.1040.5614.镥LuP5O14 36.0564.1631.7028.0040.5115.钇YP5O14 24.1375.8519.0033.1047.88贮藏条件 W我们建议将所有暂时不用的SPI Supplies人造微量分析标准样保存在干燥器中。随着时间的推移,有些元素会被侵蚀或氧化,虽然被侵蚀或氧化的过程会渐渐变缓。 59种金属/矿物组合 1.铍Be 16.锌Zn 31.碲Te 45.橄榄石(MgFe)2SiO42.氮化硼B 17.锗Ge 32.氟化钡BaF2 46.透辉石MgCaSi2O63.碳C 18.砷化镓GaAs 33.铪Hf 47.羟钛角闪石Ca2Na(MgFe)4Ti9Si6Al2O22(OH)24.镁Mg 19.硒Se 34.钽Ta 48.黑云母K(Mg,Fe)3AlSi3O10(OH)25.铝Al 20.锆Zr 35.钨W 49.硬玉NaAlSi2O66.硅Si 21.铌Nb 36.铼Re 50.透长石KAlSi3O87.钪Sc 22.钼Mo 37.锇Os 51.黑曜石Na, K, Al, Fe silicate glass8.钛Ti 23.钌Ru 38.铱Ir 52.锂辉石LiAlSi2O69.钒V 24.铑Rh 39.铂Pt 53.紫钠闪石Na4AlBeSi4O12Cl10.铬Cr 25.钯Pd 40.金Au 54.天青石SrSO411.锰Mn 26.银Ag 41.方铅矿PbS 55.铯榴石CsAlSi2O612.铁Fe 27.镉Cd 42.铋Bi 56.独居石(Ce,La,Th)PO413.钴Co 28.磷化铟InP 43.钍Th 57.辰砂HgS14.镍Ni 29.锡Sn 44.铀U 58.方解石CaCO315.铜Cu 30.锑Sb 59.磷灰石Ca5(PO4)3F内含59种惰性或高稳定性金属、矿物或化合物,既有合成物,也有纯品。每个载物台都附有一张简明图表,指明各标准样和套件的具体位置。通过电子束蚀刻的独有标签既方便用户识别,又方便样本批量生产。载物台高4mm,直径25mm,台体为不锈钢框架结构,内置标准法拉第筒。有时用户要求我们提供不含法拉第筒的载物台,为了降低一下产品的价格。其实,由于该产品已实现批量生产,其成本较低。如果我们单独制做一个特殊的、不含法拉第筒的载物台,其成本反而会更高。当然,我们愿意满足每一位用户的需求,但如果订量少于10个的话,不含法拉第筒的载物台绝对不会比含法拉第筒的价格低。 注意:目前也有带12.52mm中心孔的25mm圆盘载物台,以满足扫描电镜载台的需要。
  • X射线探测器 X射线探测器
    X射线探测器是一种位置灵敏性的探测器 (Position sensitive detector, PSD), 非常适合各种X射线衍射仪探测器的使用。X射线探测器具有专利技术的X射线衍射仪探测器使用坚固的blade anode技术,而不是基于传统微光子技术,它不需要维护,不受X射线束的影响。X射线探测器特点先前的PSD探测器基于fragile wire anode technology,这种技术的探测器噪音较大,而且很容易被较强的X射线损坏。为了克服这个问题,法国Inel公司投入大量人力研发了这种PSD新型X射线探测器,使用钢合金替代原有材料,使得X射线探测器非常坚固而且不易被损伤。PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。 这款PSDX射线衍射仪探测器可用于粉末,固体和液体的实时X射线实验。X射线探测器,X射线衍射仪探测器弧形设计,具有110度,120度和90度的弧度共用户选择。该X射线探测器,X射线衍射仪探测器全固化设计制造,代替了传统的机械扫描装置。
  • 像散校正及X射线分析标样 602-15 TEM能谱标样
    用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘,可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明,但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。
  • 像散校正及X射线分析标样 602-15 TEM能谱标样
    用于监控X射线探头的性能。含5个直径3mm的锰圆盘,可像载网一样放于TEM样品座内。圆盘对电子束不透明,但可通过镁峰检查能谱仪的分辨率。
  • 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针
    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
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    IR近红外反射附件(NIRA)和NIR探针的详细资料: 详情请联系吴小姐:15080317079 近红外反射附件(NIRA)和NIR探针 Spectrum 400/100N/One NTS用近红外反射附件(NIRA) PerkinElmer的近红外反射附件(NIRA)及相关的一系列附件尤其适合用于分析片剂、粉末、固体颗粒和气泡材料等样品,以及玻璃小瓶中、凝胶剂和粘稠液体中的样品。 对于Spectrum 400系列,有一款附件可以安装在设备的右侧,这样样品仓就能空出来留作其他用途。 特色和优势 Ø 适用于不同容器中的各种样品 Ø 设计精巧,集成化,零校准,零设置。一旦连接好了样品仓,该附件就成为了整个系统的一部分,能随时使用 Ø 可重复性更强,操作简单 Ø 水平样品台,方便采样定位 Ø 大采集角和大光斑尺寸,保证最佳采样效果 Ø 集成了性能高、稳定性好的InGaAs检测系统标准 Ø 各种能用于不纯固体或液体样品的可选附件 Ø 速拆控制杆配合自动参数设置让您在几秒钟内就能实现附件的拆卸和更换 与标准附件套件一起提供,套件中包括样品定位器,标准样和样品处理工具。 近红外反射附件 (NIRA) 右手安装型只适用于Spectrum 400 L125401N 近红外反射附件 (NIRA) 安装样品仓的用于Spectrum 400/100N/One NTS L1240050 近红外反射附件 (NIRA)右手安装的只适用于Spectrum 100 L125403L NIRA的附件和耗材 RHS NIRA用固体旋转样品支架 1 L1250042 固体旋转样品架适用于样品仓NIRA 1 L1240053 NIRA穿透反射液体采样附件启动器套件1 L1185153 备用玻璃样品盘适用于NIRA固体旋转样品架 5 L1181257 高性能样品盘适用于NIRA固体旋转样品架1 L1185305 一次性4mL带盖玻璃小瓶15mm x 45mm 100 L9001029 NIRA Spectralon校准 1 L1245028 NIR远程固体采样系统 专为远程固体或粉末采样设计,工作范围可达10m。它包含手柄用户界面和液晶显示器,让用户能够持续地进行远程操作,从而提高工作效率。该设计不仅实现了快速清洁,而且即使在危险环境中也不会导致触电事故。适用于Spectrum 400和Spectrum 100N. 特色和优势 Ø 包含高性能触发光纤探针,便于固体或粉末采样 Ø Spectrum软件光纤采样接口自动识别 Ø 手柄用户界面和液晶显示屏实现持续远程操作 Ø 危险环境中也不会导致触电事故。无电气接口 Ø 光学扫描场深更大,改善了对较厚玻璃容器内的样品的测量效果 Ø 光斑尺寸更大(-6mm),改善了对颗粒粗杂质多的样品的测量效果 Ø 配备保护盖和探针保护套,背景采集符合Spectralon标准 Ø 模块化,可拓展,智能化&mdash 与其他Spectrum 400和100高级采样选项相同。附件更换简单,完全的即插即用操作 Ø 探针尖端装有蓝宝石窗片,坚固耐用,易清洁 远程固体采样系统2m L1250030 远程固体采样系统3m L1250037 远程固体采样系统5m L1250031 远程固体采样系统10m L1250032
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